JP2738306B2 - 差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路 - Google Patents
差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路Info
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- JP2738306B2 JP2738306B2 JP6214834A JP21483494A JP2738306B2 JP 2738306 B2 JP2738306 B2 JP 2738306B2 JP 6214834 A JP6214834 A JP 6214834A JP 21483494 A JP21483494 A JP 21483494A JP 2738306 B2 JP2738306 B2 JP 2738306B2
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- mos transistor
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Description
M(SRAM)で用いられる差動型センスアンプに関す
るものである。
縮小とセンスアンプの高性能化が有効である。ビット線
振幅は小振幅であるほど遅延時間が短縮されるが、小振
幅化とともにセンスアンプの動作が悪化する問題があ
る。これを解決するために、高速SRAMではバイポー
ラのセンスアンプが多用されている。
してIEEE Jornal ofSolid−Sta
te Circuits,vol.26,No.4,A
pr.,1991,pp.525−pp.536に記載
の従来の高性能電流センスアンプの構成例を、図3に示
す。このセンスアンプは、ビット線BLの電流差をpM
OSラッチ回路31によりYセレクタ回路32を介して
データ線DL,DLバーに伝え、この電流差をカレント
ミラー回路33により、電圧に変換して読みだしを行う
構成になっている。
pMOSラッチ回路31はビット線負荷30を介して接
続されているだけなので、常にDC電流が流れている。
さらにこのセンスアンプではカレントミラー回路33を
用いているために、nMOSFETのN1、N2、N
3、N4が常にDC電流を消費してしまう。
性能電流センスアンプはDC電流を消費してしまう欠点
があった。
性能センスアンプに関する。
をたすきがけにしたCMOSインバータ対と、前記イン
バータ対とグランドとの間におかれセンス時にオンとな
るMOSトランジスタと、前記インバータ対のそれぞれ
の出力をセンス開始前にグランドレベルで等電位にする
ためのMOSトランジスタと、前記CMOSインバータ
対を構成するPMOSトランジスタのソースにセンス開
始後にオンとなり電流を供給する差動配線対をセレクト
するMOSトランジスタを接続したことを特徴とするセ
ンスアンプである。
ット線対を前記センスアンプ内のセレクタの入力に接続
した構成となる。
のチップ内の長い配線を小振幅で駆動し、前記センスア
ンプでCMOSレベルに増幅する。
構成例を示す回路図である。
源電圧VDDにチャージする。ワード線2により読み出
すメモリセルを選択すると、ビット線対3が開き始め
る。この間センスアンプのYセレクト4はすべてオフと
なっており、また読みだしデータ線対5はプルダウンn
MOS6によりグランドレベルにイコライズされる。こ
の期間はYセレクト4はすべてオフになっているのでセ
ンスアンプには、DC電流は流れない。
点でセンスアンプの電源スイッチnMOS7をオンに、
プルダウンnMOS6をオフに、Yセレクト4を1つだ
けオンにするとビット線の電位差に従って読みだしデー
タ線対5のいずれかがhighレベルとなり読みだし動
作が完了する。センスが終了するとCMOSインバータ
の特性により電流は自動的にカットされる。
るpMOSがYセレクトMOS4を介して負荷やMOS
1に接続されており、センス開始前にはYセレクトMO
S4はオフなのでDC電流は流れない。またセンス終了
後はCMOSインバータの特性により電流は自動的にカ
ットされる。
速センス動作が行われる。
明する。
送回路の構成例を示す回路図である。
負荷pMOS11によりVDDにチャージする。バスの
ドライバ回路は、CMOSインバータ12とセレクタn
MOS13からなっており、セレクトされたドライバ回
路が半クロック間、長い伝送線10の電荷を引き抜く。
たところでセンスアンプの電源スイッチnMOS17を
オンに、プルダウンnMOS16をオフにセレクタnM
OSをオンにすると長い伝送線対10の電位差に従って
読みだしデータ線対15のいずれかがhighレベルと
なり読みだし動作が完了する。
能となり、低電力データ伝送ができる。
いることができる。
ンプはDC電流を消費しない構成となっており、その分
低電力化ができる。
す回路図である。
例を示す回路図である。
である。
Claims (3)
- 【請求項1】互いの入出力をたすきがけにしたCMOS
インバータ対と、前記インバータ対とグランドとの間に
おかれセンス時にオンとなるnMOSトランジスタと、
前記インバータ対のそれぞれの出力をセンス開始前にグ
ランドレベルで等電位にするためのnMOSトランジス
タと、前記CMOSインバータ対を構成するpMOSト
ランジスタのソースに、センス開始後にオンとなり、負
荷pMOSトランジスタにより電源電圧レベルに充電さ
れる差動配線対をセレクトするpMOSトランジスタを
接続したことを特徴とする差動型センスアンプ。 - 【請求項2】メモリセルアレイのビット線対を請求項1
のセンスアンプ内のセレクトMOSトランジスタの入力
に接続したスタティックRAM。 - 【請求項3】チップ内の長い配線を小振幅で駆動し、請
求項1のセンスアンプによりCMOSレベルに増幅する
ことを特徴とするデータ伝送回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6214834A JP2738306B2 (ja) | 1994-09-08 | 1994-09-08 | 差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6214834A JP2738306B2 (ja) | 1994-09-08 | 1994-09-08 | 差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0877780A JPH0877780A (ja) | 1996-03-22 |
JP2738306B2 true JP2738306B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=16662314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6214834A Expired - Lifetime JP2738306B2 (ja) | 1994-09-08 | 1994-09-08 | 差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2738306B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5668765A (en) * | 1996-06-06 | 1997-09-16 | Philips Electronics North America Corporation | Charge transfer sense amplifier |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06119784A (ja) * | 1992-10-07 | 1994-04-28 | Hitachi Ltd | センスアンプとそれを用いたsramとマイクロプロセッサ |
-
1994
- 1994-09-08 JP JP6214834A patent/JP2738306B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0877780A (ja) | 1996-03-22 |
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