[go: up one dir, main page]

JP2714247B2 - マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置 - Google Patents

マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置

Info

Publication number
JP2714247B2
JP2714247B2 JP2292712A JP29271290A JP2714247B2 JP 2714247 B2 JP2714247 B2 JP 2714247B2 JP 2292712 A JP2292712 A JP 2292712A JP 29271290 A JP29271290 A JP 29271290A JP 2714247 B2 JP2714247 B2 JP 2714247B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microwave
film
forming
shaped member
band
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2292712A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04164317A (ja
Inventor
政史 佐野
正博 金井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2292712A priority Critical patent/JP2714247B2/ja
Publication of JPH04164317A publication Critical patent/JPH04164317A/ja
Priority to US08/295,487 priority patent/US5397395A/en
Priority to US08/351,949 priority patent/US5523126A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2714247B2 publication Critical patent/JP2714247B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
    • C23C16/511Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using microwave discharges
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/54Apparatus specially adapted for continuous coating
    • C23C16/545Apparatus specially adapted for continuous coating for coating elongated substrates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、大面積に亘って均一なマイクロ波プラズマ
を生起させ、これにより引き起されるプラズマ反応によ
り、原料ガスを分解、励起させることによって大面積の
機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置に関す
る。
更に詳しくは、前記原料ガスの利用効率を飛躍的に高
め、且つ高速で均一性の良い機能性堆積膜を大面積に亘
って連続的に形成することが出来る方法及び装置であっ
て、具体的には光起電力素子等の大面積薄膜半導体デバ
イスの量産化を低コストで実現させ得るものである。
〔従来技術の説明〕
近年、全世界的に電力需要が急激に増大し、そうした
需要をまかなうべく電力生産が活発化するに及んで環境
汚染の問題が深刻化して来ている。
因に、火力発電に代替する発電方式として期待され、
すでに実用期に入ってきている原子力発電においては、
チエルノブイリ原子力発電所事故に代表されるように重
大な放射能汚染が人体に被害を与えると共に自然環境を
侵す事態が発生し、原子力発電の今後の普及が危ぶま
れ、現実に原子力発電所の新設を禁止する法令を定めた
国さえ出て来ている。
また、火力発電にしても増大する電力需要をまかなう
上から石炭、石油に代表される化石燃料の使用量は増加
の一途をたどり、それにつれて排出される二酸化炭素の
量が増大し、大気中の二酸化炭素等の温室効果ガス濃度
を上昇させ、地球温暖化現象を招き、地球の年平均気温
は確実に上昇の一途をたどっており、IEA(Internation
al Energy Agency)では2005年までに二酸化炭素の排出
量を20%削減することを提言している。こうした背景の
ある一方、開発途上国における人口増加、そして、それ
に伴う電力需要の増大は必至であり、先進諸国における
今後更なる生活様式のエレクトロニクス化の促進による
人口一人当りの電力消費量の増大と相まって、電力供給
問題は地球規模で検討されねばならない状況になってき
ている。
このような状況下で、太陽光を利用する太陽電池によ
る発電方式は、前述した放射能汚染や地球温暖化等の問
題を惹起することはなく、また、太陽光は地球上至ると
ころに降り注いでいるためエネルギー源の偏在が少な
く、さらには、複雑な大型の設備を必要とせず比較的高
い発電効率が得られる等、今後の電力需要の増大に対し
ても、環境破壊を引き起こすことなく対応できるクリー
ンな発電方式として注目を集め、実用化に向けて様々な
研究開発がなされている。ところで、太陽電池を用いる
発電方式については、それを電力需要を賄うものとして
確立させるためには、使用する太陽電池が、光電変換効
率が充分に高く、特性安定性に優れたものであり、且つ
大量生産し得るものであることが基本的に要求される。
因に、一般的な家庭において必要な電力を賄うには、
一世帯あたり3kW程度の出力の太陽電池が必要とされる
ところ、その太陽電池の光電変換効率が例えば10%程度
であるとすると、必要な出力を得るための前記太陽電池
の面積は30程度となる。そして、例えば十万世帯の家庭
において必要な電力を供給するには3,000,000m2といっ
た面積の太陽電池が必要となる。
こうしたことから、容易に入手できるシラン等の気体
状の原料ガスを使用し、これをグロー放電分解して、ガ
ラスや金属シート等の比較的安価な基板上にアルモルフ
アスシリコン等の半導体薄膜を堆積させることにより作
製できる太陽電池が、量産性に富み、単結晶シリコン等
を用いて作製される太陽電池に比較して低コストで生産
ができる可能性があるとして注目され、その製造方法に
ついて各種の提案がなされている。
太陽電池を用いる発電方式にあっては、単位モジユー
ルを直列又は並列に接続し、ユニツト化して所望の電
流、電圧を得る形式が採用されることが多く、各モジュ
ールにおいては断線やシヨートが生起しないことが要求
される。加えて、各モジユール間の出力電圧や出力電流
のばらつきのないことが重要である。こうしたことか
ら、少なくとも単位モジユールを作製する段階でその最
大の特性決定要素である半導体層そのものの特性均一性
確保されていることが要求される。そして、モジユール
設計をし易くし、且つモジユール組立工程の簡略化でき
るようにする観点から大面積に亘って特性均一性の優れ
た半導体堆積膜が提供されることが太陽電池の量産性を
高め、生産コストの大幅な低減を達成せしめるについて
要求される。
太陽電池については、その重要な構成要素たる半導体
層は、いわゆるpn接合、pin接合等の半導体接合がなさ
れている。それらの半導体接合は、導電型の異なる半導
体層を順次積層したり、一導電型の半導体層中に異なる
導電型のドーパントをイオン打込み法等によって打込ん
だり、熱拡散によって拡散させたりすることにより達成
される。
この点を、前述した注目されているアモルフアスシリ
コン等の薄膜半導体を用いた太陽電池についてみると、
その作製においては、ホスフイン(PH3)、ジボラン(B
2H6)等のドーパントとなる元素を含む原料ガスを主原
料ガスであるシラン等に混合してグロー放電分解するこ
とにより所望の導電型を有する半導体膜が得られ、所望
の基板上にこれらの半導体膜を順次積層形成することに
よって容易に半導体接合が達成できることが知られてい
る。そしてこのことから、アモルフアスシリコン系の太
陽電池を作製するについて、その各々の半導体層形成用
の独立した成膜室を設け、該成膜室にて各々の半導体層
の形成を行う方法が提案されている。
因に米国特許4,400,409号特許明細書には、ロール・
ツー・ロール(Roll to Roll)方式を採用した連続プラ
ズマCVD装置が開示されている。この装置によれば、複
数のグロー放電領域を設け、所望の幅の十分に長い可撓
性の基板を、該基板が前記各グロー放電領域を順次貫通
する経路に沿って配置し、前記各グロー放電領域におい
て必要とされる導電型の半導体層を堆積形成しつつ、前
記基板をその長手方向に連続的に搬送せしめることによ
って、半導体接合を有する素子を連続形成することがで
きるとされている。なお、該明細書においては、各半導
体層形成時に用いるドーパントガスが他のグロー放電領
域へ拡散、混入するのを防止するにはガスゲートが用い
られている。具体的には、前記各グロー放電領域同志
を、スリツト状の分離通路によって相互に分離し、さら
に該分離通路に例えばAr,H2等の掃気用ガスの流れを形
成させる手段が採用されている。こうしたことからこの
ロール・ツー・ロール方式は、半導体素子の量産に適す
る方式であると言えよう。しかしながら、前記各半導体
層の形成は、RF(ラジオ周波数)を用いたプラズマCVD
法によって行われるところ、連続的に形成される膜の特
性を維持しつつその膜堆積速度の向上を図るにはおのず
と限界がある。即ち、例えば膜厚が高々5000Åの半導体
層を形成する場合であっても相当長尺で、大面積にわた
って常時所定のプラズマを生起し、且つ該プラズマを均
一に維持する必要がある。ところが、そのようにするに
ついては可成りの熟練を必要とし、その為に関係する種
々のプラズマパラメーターを一般化するのは困難であ
る。また、用いる成膜用原料ガスの分解効率及び利用効
率は高くはなく、生産コストを引き上げる要因の一つと
もなっている。
また他に、特開昭61−288074号公報には、改良された
ロール・ツー・ロール方式を用いた堆積膜形成装置が開
示されている。この装置においては、反応容器内に設置
されたフレキシブルな連続シート状基板の一部にホロ様
たるみ部を形成し、この中に前記反応容器とは異なる活
性化空間にて生成された活性種及び必要に応じて他の原
料ガスを導入し熱エネルギーにより化学的相互作用をせ
しめ、前記ホロ様たるみ部を形成しているシート状基板
の内面に堆積膜を形成することを特徴としている。この
ようにホロ様たるみ部の内面に堆積を行うことにより、
装置のコンパクト化が可能となる。さらに、あらかじめ
活性化された活性種を用いるので、従来の堆積膜形成装
置に比較して成膜速度を早めることができる。
ところが、この装置はあくまで熱エネルギーの存在下
での化学的相互作用による堆積膜形成反応を利用したも
のであり、更なる成膜速度の向上を図るには、活性種の
導入量及び熱エネルギーの供給量を増やすことが必要で
あるが、熱エネルギーを大量且つ均一に供給する方法
や、反応性の高い活性種を大量に発生させて反応空間に
ロスなく導入する方法にも限界がある。
一方、最近注目されているのが、マイクロ波を用いた
プラズマプロセスである。マイクロ波は周波数帯が短い
ため従来のRFを用いた場合よりもエネルギー密度を高め
ることが可能であり、プラズマを効率良く発生させ、持
続させることに適している。
例えば、米国特許第4,517,223号明細書及び同第4,50
4,518号明細書には、低圧下でのマイクロ波グロー放電
プラズマ内で小面積の基体上に薄膜を堆積形成させる方
法が開示されているが、該方法によれば、低圧下でのプ
ロセス故、膜特性の低下の原因となる活性種のポリマリ
ゼーシヨンを防ぎ高品質の堆積膜が得られるばかりでな
く、プラズマ中でのポリシラン等の粉末の発生を抑え、
且つ、堆積速度の飛躍的向上が図れるとされてはいるも
のの、大面積に亘って均一な堆積膜形成を行うにあたっ
ての具体的開示はなされていない。
一方、米国特許第4,729,341号明細書には、一対の放
射型導波管アプリケーターを用いた高パワープロセスに
よって、大面積の円筒形基体上に光導電性半導体薄膜を
堆積形成させる低圧マイクロ波プラズマCVD法及び装置
が開示されているが、大面積基体としては円筒形の基
体、即ち、電子写真用光受容体としてのドラムに限られ
ており、大面積且つ長尺の基体への適用はなされていな
い。また、堆積膜の製造工程はバツチ式であって、一回
の仕込みで形成される堆積膜の量は限られており、大面
積の基板上に大量に堆積膜を連続して形成する方法に関
する開示はない。
又、従来このようなマイクロ波プラズマCVD装置は、
装置内にマイクロ波エネルギーを導入するためのマイク
ロ波導入窓に堆積膜が付着し、堆積膜形成装置内に導入
されるマイクロ波エネルギーが経時的に変化し、再現性
の低下を招いていた。さらに、再現性を向上させるため
に、前記マイクロ波導入窓の定期的な補修作業を必要と
し、そのため堆積膜のコスト高を招いていた。
又更に、前記のようにマイクロ波導入窓に堆積膜が付
着すると、該マイクロ波導入窓はそれ自体のマイクロ波
の吸収及びプラズマのふく射熱により昇温するため、前
記堆積膜も同時に昇温するところとなる。堆積膜の厚さ
が薄い場合は、前記マイクロ波の吸収量もそれ程大きく
なく、問題は少ないが、堆積膜の厚さが厚くなるに従っ
て前記吸収量も加速度的に増加することとなる。その結
果、マイクロ波導入窓に堆積した膜もかなりの高温とな
り、例えば結晶化などの相転移を生じる場合がある。こ
のような状態になると、マイクロ波導入窓上の堆積膜に
よるマイクロ波の吸収は大きく変化し、放電状態が不安
定になると同時に極端な場合にはマイクロ波導入窓が破
損してしまうという事態を生じる場合も少なくない。こ
のようなマイクロ波導入窓の破損は堆積膜の製造それ事
態に大きなダメージを与えるものであり、極めて影響力
の大きい問題点の1つである。
ところで、マイクロ波を用いたプラズマはマイクロ波
の波長が短いためエネルギーの不均一性が生じやすく、
大面積化に対しては、解決されねばならない問題点が種
々残されている。
例えば、マイクロ波エネルギーの均一化に対する有効
な手段として遅波回路の利用があるが、該遅波回路には
マイクロ波アプリケーターの横方向への距離の増加に伴
いプラズマへのマイクロ波結合の急激な低下が生じると
いった独特の問題点を有している。そこで、この問題点
を解決する手段として、被処理体と遅波回路との距離を
変える基体の表面近傍でのエネルギー密度を均一にする
方法が試みられている。例えば、米国特許第3,814,983
号明細書及び同第4,521,717号明細書には、そうした方
法が開示されている。そして前者においては、基体に対
してある角度に遅波回路を傾斜させる必要性があること
が記載されているが、プラズマに対するマイクロ波エネ
ルギーの伝達効率は満足のゆくものではない。また、後
者にあっては、基体とは平行な面内に、非平行に2つの
遅波回路を設けることが開示されている。即ち、マイク
ロ波アプリケーターの中央に垂直な平面同志が、被処理
基板に平行な面内で、且つ基板の移動方向に対して直角
な直線上で互いに交わるように配置することが望ましい
こと、そして2つのアプリケーター間の干渉を避けるた
め、アプリケーター同志を導波管のクロスバーの半分の
長さだけ基体の移動方向に対して横にずらして配設する
ことのそれぞれが開示されている。また、プラズマの均
一性(即ち、エネルギーの均一性)を保持するようにす
るについての提案がいくつかなされている。それらの提
案は、例えばジヤーナル・オブ・バキユーム・テクノロ
ジイー(Journal of Vacuum Science Technology)B−
4(1986年1月〜2月)295頁−298頁および同誌のB−
4(1986年1月〜2月)126頁−130頁に記載された報告
に見られる。これらの報告によれば、マイクロ波プラズ
マ・デイスク・ソース(MPDS)と呼ばれるマイクロ波リ
アクタが提案されている。即ち、プラズマは円板状ある
いはタブレツト状の形をなしていて、その直径はマイク
ロ波周波数の関数となっているとしている。そしてそれ
ら報告は次のような内容を開示している。即ち、まず、
プラズマ・デイスク・ソースをマイクロ波周波数によっ
て変化させることができるという点にある。ところが、
2.45GHzで作動できるように設計したマイクロ波プラズ
マ・デイスク・ソースにおいては、プラズマの閉じ込め
直径はたかだか10cm程度であり、プラズマ体積にしても
せいぜい118cm3程度であって、大面積化とは到底言えな
い。また、前記報告は、915MHzという低い周波数で作動
するように設計したシステムでは、周波数を低くするこ
とで約40cmのプラズマ直径、及び2000cm3のプラズマ体
積が与えられるとしている。前記報告は更に、より低い
周波数、例えば、400MHzで作動させることにより1mを超
える直径まで放電を拡大できるとしている。ところがこ
の内容を達成する装置となると極めて高価な特定のもの
が要求される。
即ち、マイクロ波の周波数を低くすることで、プラズ
マの大面積化は達成できるが、このような周波数域での
高出力のマイクロ波電源は一般化されてはなく、入手困
難であり、もし入手出来得たとしても極めて高価であ
る。そしてまた、周波数可変式の高出力のマイクロ波電
源は更に入手困難である。
同様に、マイクロ波を用いて高密度プラズマを効率的
に生成する手段として、空胴共振器の周囲に電磁石を配
置し、ECR(電子サイクロトロン共鳴)条件を成立させ
る方法が特開昭55−141729号公報及び特開昭57−133636
号公報等により提案されており、また学会等ではこの高
密度プラズマを利用して各種の半導体薄膜が形成される
ことが多数報告されており、すでにこの種のマイクロ波
ECRプラズマCVD装置が市販されるに至っている。
ところが、これらのECRを用いた方法においては、プ
ラズマの制御に磁石を用いているため、マイクロ波の波
長に起因するプラズマの不均一性に、更に、磁界分布の
不均一性も加わって、大面積の基板上に均一な堆積膜を
形成するのは技術的に困難とされている。また、大面積
化のため装置を大型化する場合には、おのずと用いる電
磁石も大型化し、それに伴う重量及びスペースの増大、
また、発熱対策や大電流の直流安定化電源の必要性等実
用化に対しては解決されねばならない問題が種々残され
ている。
更に、形成される堆積膜についても、その特性は従来
のRFプラズマCVD法にて形成されるものと比較して同等
と言えるレベルには至っておらず、また、ECR条件の成
立する空間で形成される堆積膜とECR条件外のいわゆる
発散磁界空間で形成される堆積膜とでは特性及び堆積速
度が極端に異なるため、特に高品質、均一性が強く要求
される半導体デバイスの作製に適している方法とは言え
ない。
前述の米国特許第4,517,223号明細書及び同第4,729,3
41号明細書では、高密度のプラズマを得るについては、
非常に低い圧力を維持する必要性があることが開示され
ている。即ち、堆積速度を早めたり、ガス利用効率を高
めるためには低圧下でのプロセスが必要不可欠であると
している。しかしながら、高堆積速度、高ガス利用効
率、高パワー密度及び低圧の関係を維持するには、前述
の特許に開示された遅波回路及び電子サイクロトロン共
鳴法のいずれをしても十分とは言えないものである。
従って、上述したマイクロ波手段の持つ種々の問題点
を解決した新規なマイクロ波プラズマプロセスの早期提
供が望まれている。
ところで、薄膜半導体は前述した太陽電池用の用途の
他にも、液晶デイスプレイの画素を駆動するための薄膜
トランジスタ(TFT)や密着型イメージセンサー用の光
電変換素子及びスイツチング素子等大面積又は長尺であ
ることが必要な薄膜半導体デバイス作製用にも好適に用
いられ、前記画像入出力装置用のキーコンポーネントと
して一部実用化されているが、高品質で均一性良く高速
で大面積化できる新規な堆積膜形成法の提供によって、
更に広く一般に普及されるようになることが期待されて
いる。
〔発明の目的〕
本発明は、上述のごとき従来の薄膜半導体デバイス形
成方法及び装置における諸問題を克服して、大面積に亘
って均一に、且つ高速で機能性堆積膜を形成する新規な
方法及び装置を提供することを目的とするものである。
本発明の他の目的は、帯状部材上に連続して機能性堆
積膜を形成する方法及び装置を提供することにある。
本発明の更なる目的は、堆積膜形成用の原料ガスの利
用効率を飛躍的に高めると共に、薄膜半導体デバイスの
量産化を低コストで実現し得る方法及び装置を提供する
ことにある。
本発明の更に別の目的は、大面積、大容積に亘ってほ
ぼ均一なマイクロ波プラズマを生起させる方法及び装置
を提供することにある。
本発明の更に別の目的は、マイクロ波導入窓に関係す
る問題点を解決し、長時間にわたって安定な状態でマイ
クロ波プラズマを生起させる方法及び装置を提供するこ
とにある。
本発明の更に別の目的は、マイクロ波を長時間導入し
てもマイクロ波導入窓が破損することのないマイクロ波
導入方法及び装置を提供することにある。
本発明の更に別の目的は、比較的幅広で長尺の基板上
に連続して安定性良く、高効率で高い光電変換効率の光
起電力素子を形成するための新規な方法及び装置を提供
するものである。
〔発明の構成・効果〕
本発明者らは、従来の薄膜半導体デバイス形成装置に
おける上述の諸問題を解決し、前記本発明の目的を達成
すべく鋭意研究を重ねたところ、帯状部材を湾曲開始端
形成用の支持・搬送用ローラー湾曲部形成用の支持・搬
送用リング、及び湾曲終了端形成用の支持・搬送用ロー
ラーを介し、前記支持・搬送用ローラー同志の間には隙
間を残して湾曲させ、前記帯状部材を側壁とした柱状の
成膜室を形成し、前記成膜室の両端面にはマイクロ波エ
ネルギーをマイクロ波の進行方向に対して平行な方向に
放射させるようにしたマイクロ波アプリケーター手段を
対向して一対配設し、更に、前記成膜室内にマイクロ波
エネルギーを導入するマイクロ波導入窓の表面に隣接し
た可動式の誘電体製シートを配設し、更に、前記成膜室
内に堆積膜形成用の原料ガスを導入し、前記一対の支持
・搬送用ローラー同志の間に残された間隙より排気して
前記成膜室内の圧力を所定の減圧下に保持し、前記マイ
クロ波アプリケーター手段よりマイクロ波エネルギーを
前記側壁とほぼ平行に放射せしめたところ、前記成膜室
内において前記帯状部材の幅方向にほぼ均一なマイクロ
波プラズマを生起し得るという知見を得た。
本発明は、上述の知見に基づき更に検討を重ねた結果
完成に至ったものであり、下述するところを骨子とする
マイクロ波プラズマCVD法による大面積の機能性堆積膜
を連続的に形成する方向及び装置を包含する。
本発明の方法は、次のとおりのものである。即ち、長
手方向に帯状部材を連続的に移動せしめながら、その中
途で前記移動する帯状部材を側壁とする柱状の成膜空間
を形成し、該成膜空間内にガス供給手段を介して堆積膜
形成用原料ガスを導入し、同時に、誘電体製マイクロ波
導入窓及び前記マイクロ導入窓の表面に隣接した可動式
の誘電体製のシートを連続的に移動せしめながらマイク
ロ波エネルギーを導入し、該マイクロ波エネルギーをマ
イクロ波の進行方向に対して平行な方向に放射させるよ
うにしたマイクロ波アプリケーター手段より、該マイク
ロ波エネルギーを放射させてマイクロ波プラスマを前記
成膜空間内で生起せしめ、該マイクロ波プラズマに曝さ
れる前記側壁を構成し連続的に移動する前記帯状部材の
表面上に堆積膜を形成せしめることを特徴とするマイク
ロ波プラズマCVD法により大面積の機能性堆積膜を連続
的に形成する方法である。
本発明の方法においては、前記移動する帯状部材はそ
の中途において、湾曲開始端形成手段と湾曲終了端形成
手段とを用いて、前記湾曲開始端形成手段と前記湾曲終
了端形成手段との間に前記帯状部材の長手方向に間隙を
残して該帯状部材を湾曲させて前記成膜空間の側壁を成
すようにされる。
そして、前記帯状部材を側壁として形成される柱状の
成膜空間の両端面のうち、片側又は両側に配設される、
少なくとも1つ以上の前記マイクロ波アプリケーター手
段を介して、前記マイクロ波エネルギーを前記成膜空間
内に放射させるようにする。
また、前記マイクロ波アプリケーター手段は前記端面
に垂直方向に配設し、前記マイクロ波エネルギーを前記
側壁と平行な方向に放射させるようにする。
本発明の方法においては、前記マイクロ波エネルギー
は前記マイクロ波アプリケーター手段の先端部分に設け
られた誘電体製マイクロ波導入窓及び前記マイクロ波導
入窓の表面に隣接した可動式の誘電体製のシートを介し
て放射させるようにする。
そして、前記マイクロ波導入窓にて前記マイクロ波ア
プリケーター手段と前記成膜空間との気密を保持させる
ようにする。また、前記マイクロ波アプリケーター手段
を、前記両端面において互いに対向して配設させる場合
には、一方のマイクロ波アプリケーター手段より放射さ
れるマイクロ波エネルギーが他方のマイクロ波アプリケ
ーター手段にて受信されないように配置する。
本発明の方法において、前記柱状の成膜空間内に放射
されたマイクロ波エネルギーは、前記成膜空間外へ漏洩
しないようにする。
また、前記成膜空間内に導入された堆積膜形成用原料
ガスは、前記湾曲開始端形成手段と前記湾曲終了端形成
手段との間で前記帯状部材の長手方向に残された間隙よ
り排気するようにする。
本発明の方法において、前記帯状部材の少なくとも一
方の面には導電処理を施すようにする。
更には、本発明の装置は、連続して移動する帯状部材
上にマイクロ波プラズマCVD法により機能性堆積膜を連
続的に形成する装置であって、前記帯状部材をその長手
方向に連続的に移動させながら、その中途で湾曲させる
ための湾曲部形成手段を介して、前記帯状部材を側壁に
して形成され、その内部を実質的に真空に保持し得る柱
状の成膜室を有し、前記成膜室内にマイクロ波プラズマ
を生起させるための、マイクロ波エネルギーをマイクロ
波の進行方向に対して平行な方向に放射させるようにし
たマイクロ波アプリケーター手段と、前記成膜室内にマ
イクロ波プラズマを生起させるためのマイクロ波エネル
ギーを導入するマイクロ波導入窓の表面に隣接した可動
式の誘電体製のシートを連続的に移動させる手段と、前
記成膜室内を排気する排気手段と、前記成膜室内に堆積
膜形成用原料ガスを導入するための手段と、前記帯状部
材を加熱及び/又は冷却するための温度制御手段とを備
えていて、前記帯状部材の前記マイクロ波プラズマに曝
される側の表面上に、連続して堆積膜を形成するように
したことを特徴とする機能性堆積膜の連続形成装置であ
る。
本発明の装置において、前記湾曲部形成手段は、少な
くとも一組以上の、湾曲開始端形成手段と湾曲終了端形
成手段とで構成され、前記湾曲開始端形成手段と前記湾
曲終了端形成手段とを、前記帯状部材の長手方向に間隙
を残して配設される。
なお、前記湾曲部形成手段は、少なくとも一対の支持
・搬送用ローラーと支持・搬送用リングとで構成され、
前記一対の支持・搬送用ローラーは前記帯状部材の長手
方向に間隙を残して平行に配設される。
本発明の装置において、前記帯状部材を側壁として形
成される柱状の成膜室の両端面のうち片側又は両側に、
少なくとも1つ以上の前記マイクロ波アプリケーター手
段を配設される。
そして、前記マイクロ波アプリケーター手段は、前記
端面に垂直方向に配設される。
本発明装置において、前記マイクロ波アプリケーター
手段の先端部分には、前記成膜室と前記マイクロ波アプ
リケーター手段との気密分離を行い。且つ、前記マイク
ロ波アプリケーターから放射されるマイクロ波エネルギ
ーを前記成膜室内へ透過せしめる誘電体製マイクロ波導
入窓が配設される。
本発明の装置において、前記誘電体製マイクロ波導入
窓の表面に隣接して可動式のマイクロ波エネルギー透過
性誘電体製のシートが配設される。
本発明の装置において、前記帯状部材の少なくとも一
方の面には、導電性処理が施される。
本発明の装置において、前記マイクロ波アプリケータ
ー手段には方形及び/又は楕円導波管を介してマイクロ
波エネルギーが伝送される。
そして、前記マイクロ波アプリケーター手段を前記成
膜室の両端面において互いに対向し配設させる場合に
は、前記マイクロ波アプリケーター手段に接続される前
記方形及び/又は楕円導波管の長辺を含む面同志、長軸
を含む面同志、又は長辺を含む面と長軸を含む面同志が
互いに平行とならないよう配設される。
また、前記方形及び/又は楕円導波管の長辺を含む面
及び/又は長軸を含む面と、前記一対の支持搬送用ロー
ラーの中心軸を含む面とのなす角度が垂直とならないよ
う配設される。
以下、本発明者らが本発明を完成させるにあたり行っ
た実験について詳しく説明する。
〔実験〕
本発明の装置を用いて、帯状部材上に機能性堆積膜を
均一に形成するための、マイクロ波プラズマの生起条件
について種々実験を行ったので、以下に詳述する。
実験例1 本実験例においては、後述する装置例2で示す装置を
用い、また、後述する製造例1で説明する手順でマイク
ロ波プラズマを生起させ、一対の導波管111,112の取り
付け角度の違いによるマイクロ波プラズマの安定性及び
マイクロ波の成膜室外への漏洩度等について検討を行っ
た。
第6図に方形導波管111,112の取り付け角度の説明用
の模式的断面概略図を示した。
実線で示した方形導波管111と点線で示した方形導波
管とは成膜室116の両端面に対向して配設されたマイク
ロ波アプリケーター(不図示)に接続されており、例え
ば、方形導波管111は図面手前側、方形導波管112は奥側
に配設されている。Oは湾曲形状の中心であり、A−
A′は支持・搬送用ローラー102と103との中心軸を含む
面を表しており、これに垂直な面をH−H′とする。そ
して、方形導波管111の長辺を含む面に平行な面B−
B′とH−H′とのなす角度をθとし、これを方形導波
管111の取り付け角度とする。また、方形導波管112の長
辺を含む面に平行な面C−C′とH−H′とのなす角度
をθ2とし、これを方形導波管112の取り付け角度とす
る。ここで、方形導波管111,112の取り付け角度θ1,θ
2が各々180°を超える場合には、180°以下の場合のH
−H′に対する対称位置となる故、その配置関係は180
°以下の場合と同等である。勿論、θ1とθ2とは相互に
入れ替えても、対向している故、やはり配置関係は同等
である。
本発明において、支持・搬送用ローラー102,103とで
限定される帯状部材の湾曲端間距離を間隙Lと定義す
る。
第1表に示すマイクロ波プラズマ放電条件にて、第2
表に示す種々のθ1,θ2の組み合わせ条件におけるマイ
クロ波プラズマの安定性等について実験、評価を行っ
た。
なお、マイクロ波の漏洩度は支持・搬送用ローラー10
2,103の間隙部分より5cm程度離れた場所にマイクロ波検
知器を設けて評価を行った。
評価結果は第2表に示すとおりであった。
これらの結果から、マイクロ波アプリケーターへの方
形導波管の取り付け角度を変えることによって、マイク
ロ波プラズマの安定性及びマイクロ波の成膜室外への漏
洩度が大きく変化することが判った。具体的には、θ1
及び/又はθ2が0°の場合には、マイクロ波の漏れ量
が最も大きく、放電状態も不安定であり、15°程度では
マイクロ波の漏れ量が小さくはなるものの、放電状態は
不安定である。また、30°以上では、マイクロ波の漏れ
は無くなり放電状態は安定した。ただし、θ1とθ2とが
なす角度が0°又は180°すなわち、方形導波管の長辺
を含む面が互いに平行な配置となる場合には、マイクロ
波の漏れ量にかかわらず、発振異常による電源ノイズが
大きくなり、放電が不安定になる。なお、この放電実験
においては誘電体シート117(118)を各々5mm/minの移
送速度で移送しながら帯状部材101を静止させた場合及
び1.2m/minの搬送スピードで搬送させた場合とで行った
が、両者において放電の安定性については特に差異は認
められなかった。
更に、マイクロ波プラズマ放電条件のうち、原料ガス
の種類及び流量、マイクロ波電力、湾曲形状の内直径、
成膜室内圧、誘電体シートの移送速度等種々変化させた
場合においても方形導波管の配置に起因するマイクロ波
の漏れ量及び放電安定性等について特に差異は認められ
なかった。
実験例2 本実験例においては、実験例1と同様、装置例2で示
した装置を用い、第6図で示した支持・搬送用ローラー
102,103の間隙Lを変化させたときのマイクロ波プラズ
マの安定性及び膜厚分布への影響等について検討を行っ
た。
間隙Lについては第3表に示した範囲で種々変化させ
て各々約10分間の放電を行った。その他のマイクロ波プ
ラズマ放電条件については第1表に示したのと同様と
し、方形導波管の取り付け角度θ1,θ2は共に45°に配
置した。ただし、成膜室圧力の変化は、排気ポンプの能
力は特に調整せず、間隙Lを大きくすることによってコ
ンダクタンスが大きくなったために生じたものである。
なお、帯状部材101の表面温度が250℃となるように温度
制御機構106a〜eを動作させ、帯状部材の搬送速度は35
cm/minとした。また、誘電体シートの移送速度は3cm/mi
nとした。
第3表に、放電状態、膜厚分布等を評価した結果を示
した。
なお、放電状態は目視にて、膜厚分布については、針
ステップ式膜厚計にて帯状部材の幅方向について10点ず
つ、長手方向には20ごとに測定し、その分布を評価し
た。
これらの結果から、排気ポンプの能力調整は行われ
ず、間隙Lを変化させることによって、成膜室内の圧力
が変化し、それにともない形成される堆積膜の膜厚分布
が、特に帯状部材の幅方向について顕著に変化すること
が判った。また、方形導波管の取り付け角度を実験例1
においてマイクロ波の漏れが起こらなかった配置にして
も、間隙Lを大きくしすぎた場合には、やはりマイクロ
波漏れが生ずることが判った。そして、間隙Lからのマ
イクロ波漏れが少なくなるのは間隙Lの寸法をマイクロ
波の波長の好ましくは1/2波長以下、より好ましくは1/4
波長以下としたときであった。なお、帯状部材の長手方
向での膜厚分布は、帯状部材を搬送している限りほぼ良
好であった。
作製した試料の中で堆積速度が速く、膜厚分布が良好
であった試料4の堆積速度は約100Å/secであった。ま
た、用いた原料ガスの総流量に対して、帯状部材上に堆
積された膜の量より計算される原料ガス利用効率は56%
であった。
更に、マイクロ波プラズマ放電条件のうち、マイクロ
波電力、湾曲形状の内直径等について種々変化させた場
合において、膜厚分布及び放電安定性は若干の変化があ
るものの、間隙Lの大きさに起因する本質的な問題の解
決手段とはなり得なかった。
実験例3 本実験例においては、実験例1と同様、装置例2で示
した装置を用い、形成される湾曲形状の内直径を変化さ
せたときのマイクロ波プラズマの安定性、膜厚分布等に
ついて検討を行った。湾曲形状の内直径については第4
表に示した範囲で種々変化させた以外は、第1表に示し
たマイクロ波プラズマ放電条件と同様とし、また、方形
導波管の取り付け角度θ1、θ2は共に45°に配置した。
なお、放電時間は各々10分間とし、帯状部材の表面温度
は実験例2同様250℃とした。また、帯状部材の搬送速
度は35cm/minとした。
第4表に、放電状態、膜厚分布等を評価した結果を示
した。
なお、放電状態は目視にて、膜厚分布については、針
ステツプ式膜厚計にて帯状部材の幅方向について10点ず
つ、長手方向には20cmごとに測定し、その分布を評価し
た。
これらの結果から、他の放電条件は変えず、湾曲形状
の内直径を変化させることによって、放電状態が変わ
り、形成される堆積膜の膜厚分布が、特に帯状部材の幅
方向について顕著に変化することが判った。なお、帯状
部材長手方向での膜厚分布は、帯状部材を搬送している
限りほぼ良好であった。
更に、マイクロ波プラズマ放電条件のうち、マイクロ
波電力、成膜室内の圧力等について種々変化させた場合
においても、それぞれのパラメータ変化によって、膜厚
分布及び放電安定性が影響を受けることが判った。
実験例4 本実験例においては、実験例1と同様、装置例2で示
した装置を用い、成膜室内の圧力は一定とし、原料ガス
流量、マイクロ波電力を種々変化させたときのマイクロ
波プラズマの安定性等について検討を行った。成膜室圧
力、原料ガス流量については、第5表に示した範囲で種
々変化させた以外は、第1表に示したマイクロ波プラズ
マ放電条件と同様とし、また、方形導波管の取り付け角
度θ1、θ2は共に60°、60°に配置した。
第5表に、放電状態を評価した結果を示した。ここ
で、◎は放電安定、○は、微小のチラツキはあるが、ほ
ぼ放電安定、△はややチラツキはあるが使用可能なレベ
ルで放電安定の状態を表している。いずれの場合におい
ても、マイクロ波電力を下げたり、成膜室圧力を下げた
り、原料ガスとしてのH2の流量を増やしたりした場合に
は放電が不安定となるか、放電が生起しなくなるほぼ限
界値を表している。従って、逆にマイクロ波電力を上げ
たり、成膜室圧力を上げたり、原料ガスとしてのSiH4
流量を増やしたりした場合には放電はより安定な状態と
なることが判った。なお、この放電実験においては帯状
部材101を静止させた場合及び1.2m/minの搬送スピード
で搬送させた場合とで行ったが、両者においての放電の
安定性については特に差異は認められなかった。
実験例5 本実験例においては、実験例1と同様、装置例2で示
した装置を用い、帯状部材の幅寸法を変えたときの、マ
イクロ波プラズマの安定性及び膜厚分布への影響等につ
いて検討を行った。
帯状部材の幅寸法については第6表に示した範囲で種
々変化させて、各々10分間の放電を行った。その他のマ
イクロ波プラズマ放電条件については第1表に示したの
と同様とし、方形導波管の種類はEIAJ、WRI−32に変
え、取り付け角度θ1、θ2は共に60°、60°となるよう
配置した。そして、帯状部材の表面温度は実験例2と同
様250℃とし、搬送速度は50cm/minとした。
なお、試料No.15〜17についてはマイクロ波アプリケ
ーターは片側のみ、資料No.18〜21については対向して
一対配設した。
第6表に放電状態、膜厚分布等を評価した結果を示し
た。評価方法は実験例2と同様とした。
これらの結果から、帯状部材の幅寸法が変わることに
より、マイクロ波プラズマの安定性及び膜厚分布が変化
することが判った。そして、片側からのマイクロ波電力
の供給のみではマイクロ波プラズマの安定性が欠けた
り、膜厚分布が大きくなる場合においても、マイクロ波
アプリケーターを対向して一対設けることによっていず
れも改善されることが判った。
また、マイクロ波プラズマ放電条件のうち、原料ガス
の種類及び流量、マイクロ波電力、成膜室内圧等種々変
化させた場合においては、それぞれのパラメーター変化
によってマイクロ波プラズマの安定性及び膜厚分布が影
響を受けることが判った。
実験例6 本実施例においては、実験例1と同様、装置例2で示
した装置を用い、誘電体製シートの材質及び誘電体製シ
ートの有無について、それぞれ9回ずつマイクロ波プラ
ズマの安定性について検討を行なった。
誘電体シートの材質及び有無については第7−1表に
示した範囲で種々変化させて各々約8時間の放電を行な
った。その他のマイクロ波プラズマ放電条件は第1表に
示したのと同様とし、誘電体シートの移送速度は誘電体
シートの材質に合わせ適宜決定した。又方形導波管の取
り付け角度θ1,θ2は共に45°に配置した。なお帯状部
材101の表面温度が250℃となるように温度制御機構106a
〜eを動作させ帯状部材の搬送速度は35cm/minとした。
第7−1表に放電状態の結果を示した。
なお、放電状態は目視にて行なった。
これらの結果から、誘電体製シートとしては、材質の
比誘電率及び誘電体損失角の積は小さい方がよく、ま
た、誘電体製シートを使用した時の方が使用しない場合
と比べ長時間安定に放電を維持できることがわかった。
実験例7 本実施例においては、実験例1と同様、装置例2で示
した装置を用い、誘電体製シートの移送速度を変化させ
たときのマイクロ波プラズマの安定性及び膜厚分布への
影響等について検討を行なった。
移送速度については、第7−2表に示した範囲で種々
変化させて各々約8時間の放電を行なった。その他のマ
イクロプラズマ角度放電条件は第1表に示したのと同様
とし、方形導波管の取り付け角度θ1,θ2は共に45°に
配置した。なお帯状部材101の表面温度が250℃となるよ
うに温度制御機構106a〜eを動作させ帯状部材の搬送速
度は35cm/minとした。
第7−2表に放電状態、膜厚分布等を評価した結果を
示した。
なお、放電状態は目視にて、膜厚分布については、針
ステツプ式膜厚計にて帯状部材の幅方向について10点ず
つ長手方向には20ごとに測定し、その分布を評価した。
これらの結果から、誘電体製シートの移送速度が変わ
ることにより、マイクロ波プラズマの安定性及び膜厚分
布が変化することが判った。誘電体シート上への堆積膜
の膜厚を調べたところ、堆積膜厚が25μm以下となるよ
うな移送速度にすることにより、膜厚分布等改善される
ことが判った。
実験結果の概要 本発明の方法及び装置において、マイクロ波プラズマ
の安定性、均一性等は、例えばマイクロ波アプリケータ
ーの形状及びそれに接続される導波管の種類及び配置、
成膜時の成膜室内の圧力、マイクロ波電力、マイクロ波
プラズマの閉じ込めの程度、誘電体シートの移送速度放
電空間の体積及び形状等種々のパラメーターが複雑にか
らみ合って維持されているので、単一のパラメーターの
みで最適条件を求めるのは困難であるが、本実験結果よ
り、おおよそ次のような傾向及び条件範囲が判った。
成膜室の圧力に関しては、好ましくは1.5mTorr乃至10
0mTorr、より好ましくは3mTorr乃至50mTorrであること
が判った。マイクロ波電力に関しては、好ましくは250
×2W乃至3000×2W、より好ましくは300×2W乃至1000×2
Wであることが判った。湾曲形状の内直径に関しては、
好ましくは7cm乃至45cm、より好ましくは8cm乃至35cmで
あることが判った。また、誘電体シートの移送速度は、
誘電体シートへの堆積膜厚が25μm以下となるよう適宜
決定することが望ましいことが判った。また、帯状部材
の幅に関しては対向する一対のマイクロ波アプリケータ
ーを用いた場合には、好ましくは60cm程度、より好まし
くは50cm程度で幅方向の均一性が得られることが判っ
た。
また、マイクロ波プラズマ領域からのマイクロ波の漏
れ量が大きくなるとマイクロ波プラズマの安定性を欠く
ことが判り、帯状部材の湾曲端同志の間隙Lは好ましく
はマイクロ波の1/2波長以下、より好ましくは1/4波長以
下に設定されることが望ましいことが判った。
以下、前述の〔実験〕により判明した事実をもとに本
発明の方法について更に詳しく説明する。
本発明の方法において、前記移動する帯状部材の中途
において、湾曲開始端形成手段と湾曲終了端形成手段と
を用いて前記帯状部材を湾曲させて形成される柱状の成
膜空間の側壁の大部分は、前記移動する帯状部材で形成
されるが、前記湾曲開始端形成手段と前記湾曲終了端形
成手段との間には前記帯状部材の長手方向に間隙が残さ
れるようにする。
そして、本発明の方法において、前記柱状の成膜空間
内にてマイクロ波プラズマを均一に生起させ閉じ込める
には、前記帯状部材にて形成される側壁と平行な方向
に、前記成膜空間の両端面のうち片側又は両側よりマイ
クロ波エネルギーを放射させ、前記成膜空間内にマイク
ロ波エネルギーを閉じ込めるようにする。
前記帯状部材の幅が比較的狭い場合には、片側からマ
イクロ波エネルギーを放射させるだけでも前記成膜空間
内に生起するマイクロ波プラズマの均一性は保たれる
が、前記帯状部材の幅が、例えばマイクロ波の波長の1
波長を超えるような場合には、両側からマイクロ波エネ
ルギーを放射させるのが、マイクロ波プラズマの均一性
を保つ上で好ましい。
勿論、前記成膜空間内で生起するマイクロ波プラズマ
の均一性は、前記成膜空間内にマイクロ波エネルギーが
十分に伝送される必要があり、前記柱状の成膜空間はい
わゆる導波管に類する構造とされるのが望ましい。その
ためにはまず、前記帯状部材は導電性の材料で構成され
ることが好ましいが、少なくともその片面が導電処理を
施されたものであっても良い。
また、本発明の方法において、前記移動する帯状部材
を前記湾曲開始端形成手段と湾曲終了端形成手段とを用
いて湾曲させて形成される柱状の成膜空間の両端面の形
成としては、前記成膜空間内に放射されたマイクロ波エ
ネルギーがほぼ均一に前記成膜空間内に伝送されるよう
にされるのが好ましく、円形状、楕円形状、方形状、多
角形状に類似する形であってほぼ対称な形で比較的滑ら
かな湾曲形状であることが望ましい。勿論、前記湾曲開
始端形成手段と前記湾曲終了端形成手段との間に前記帯
状部材の長手方向に残された間隙部分においては、前記
端面形状は不連続となる場合がある。
更には、本発明の方法において、前記成膜空間内での
マイクロ波エネルギーの伝送を効率良く行うとともに、
マイクロ波プラズマを安定して生起、維持、制御するた
めには、前記マイクロ波アプリケーター手段中でのマイ
クロ波の伝送モードは単一モードであることが望まし
い。具体的にはTE10モード、TE11モード、eH1モード、T
M11モード、TM01モード等を挙げることができるが、好
ましくはTE10モード、TE11モード、eH1モードが用いら
れる。これらの伝送モードは単一でも、複数組み合わせ
て用いられても良い。また、前記マイクロ波アプリケー
ター手段へは上述の伝送モードが伝送可能な導波管を介
してマイクロ波エネルギーが伝送される。更に、前記マ
イクロ波エネルギーは、前記マイクロ波アプリケーター
手段の先端部分に設けられた気密性を有するマイクロ波
導入窓を介して前記成膜空間内へ放射される。
本発明の方法において、前記成膜空間には前記湾曲開
始端形成手段と湾曲終了端形成手段との間に間隙が残さ
れていて、該間隙から前記原料ガスが排気され、前記成
膜空間内が所定の減圧状態に保持されるようにするが、
前記間隙の寸法は十分な排気コンダクタンスが得られる
と同時に、前記成膜空間内に放射されたマイクロ波エネ
ルギーが前記成膜空間外へ漏洩しないように特別配慮さ
れる必要がある。
具体的には、マイクロ波アプリケーター手段中を進行
するマイクロ波の電界方向と、前記湾曲開始端形成手段
としての支持・搬送用ローラーの中心軸と前記湾曲終了
端形成手段としての支持・搬送用ローラーの中心軸とを
含む面とが互いに平行とならないように前記マイクロ波
アプリケーター手段を配設するようにする。
そして、複数個の前記マイクロ波アプリケーター手段
を介して前記成膜空間内にマイクロ波エネルギーを放射
させる場合には、各々のマイクロ波アプリケーター手段
について前述のごとく配慮される必要がある。
更に、前記湾曲開始端形成手段と湾曲終了端形成手段
との間に残された間隙の、前記帯状部材の長手方向の開
口幅の最大寸法はマイクロ波の波長の好ましくは1/2波
長以下、より好ましくは1/4波長以下とするのが望まし
い。
本発明の方法において、複数個の前記マイクロ波アプ
リケーター手段を互いに対向させて配設させる場合に
は、一方のマイクロ波アプリケーター手段より放射され
たマイクロ波エネルギーを、他方のマイクロ波アプリケ
ーター手段が受信し、受信されたマイクロ波エネルギー
が前記他方のマイクロ波アプリケーター手段に接続され
ているマイクロ波電源にまで達して、該マイクロ波電源
に損傷を与えたり、マイクロ波の発振に異常を生ぜしめ
る等の悪影響を及ぼすことのないように特別配慮される
必要がある。具体的には、前記マイクロ波アプリケータ
ー手段中を進行するマイクロ波の電界方向同志が互いに
平行とならないように前記マイクロ波アプリケーターを
配設するようにする。
本発明の方法において、前記成膜空間の両端面のうち
片側のみからマイクロ波エネルギーを放射させる場合に
は、他方の端面からのマイクロ波エネルギーの漏洩がな
いようにすることが必要であり、前記端面を導電性部材
で密封したり、穴径が用いるマイクロ波の波長の好まし
くは1/2波長以下、より好ましくは1/4波長以下の金網、
パンチングボードなどで覆うことが望ましい。
本発明の方法において、前記成膜空間内に放射された
マイクロ波エネルギーは、前記成膜空間内に導入される
原料ガスの種類にもよるが、前記成膜空間内の圧力に強
い相関を持ちながら、且つ、前記マイクロ波アプリケー
ターに設けられたマイクロ波導入窓からの距離の増大と
共に著しく減少する傾向を示す。また、前記マイクロ波
導入窓に略密着した誘電体シートの移送速度にも著しく
影響され、誘電体シート上への堆積膜厚の増大と共に著
しく減少する傾向を示す。従って、比較的幅広の帯状部
材を用いた場合において、幅方向に対して均一なマイク
ロ波プラズマを生起させるには、前記成膜空間内の圧力
を十分に低く保持し、前記成膜空間の両端面より、少な
くとも一対以上のマイクロ波アプリケーター手段を介し
て、かつ誘電体シートの移送速度を十分に速く保持し、
マイクロ波エネルギーを前記成膜空間内に放射させるの
が望ましい。
本発明の方法において、前記マイクロ波アプリケータ
ー手段は放射するマイクロ波エネルギーの進行方向が、
前記帯状部材で形成される成膜空間の側壁に対してほぼ
平行となるように、前記成膜空間の端面に対して垂直に
配設するのが望ましい。また、前記マイクロ波アプリケ
ーター手段は前記側壁からほぼ等距離の位置に配設させ
るのが望ましいが、前記側壁の湾曲形状が非対称である
場合等においては特に配設される位置は制限されること
はない。勿論、複数のマイクロ波アプリケーター手段が
対向して配設される場合においてもそれらの中心軸は同
一線上にあっても、なくても良い。
本発明の方法において、前記帯状部材にて形成される
湾曲形状は、その中で生起されるマイクロ波プラズマの
安定性、均一性を保つ上で常に一定の形状が保たれるこ
とが好ましく、前記帯状部材は前記湾曲開始端形成手段
及び前記湾曲終了端形成手段によってシワ、たるみ、横
ずれ等が生ぜぬように支持されるのが望ましい。そし
て、前記湾曲開始端形成手段及び前記湾曲終了端形成手
段に加えて、湾曲形状を保持するための支持手段を設け
ても良い。具体的には前記湾曲した帯状部材の内側又は
外側に所望の湾曲形状を連続的に保持するための支持手
段を設ければ良い。前記湾曲した帯状部材の内側に前記
支持手段を設ける場合には、堆積膜の形成される面に対
して接触する部分をできるだけ少なくするように配慮す
る。例えば、前記帯状部材の両端部分に前記支持手段を
設けるのが好ましい。
前記帯状部材としては、前記湾曲形状を連続的に形成
できる柔軟性を有するものを用い、湾曲開始端、湾曲終
了端及び中途の湾曲部分においては滑らかな形状を形成
させることが望ましい。
前記成膜空間内にガス供給手段により導入された堆積
膜形成用原料ガスは、効率よく前記成膜外に排気され前
記成膜空間内は前記マイクロ波プラズマが均一に生起さ
れる程度の圧力に保たれるようにする。
前記柱状の成膜空間内にマイクロ波プラズマを均一に
安定して生起、維持させるためには、前記成膜空間の形
状及び容積、前記成膜空間内に導入する原料ガスの種類
及び流量、前記成膜空間内の圧力、誘電体シートの移送
速度、前記成膜空間内へ放射されるマイクロ波エネルギ
ー量、及びマイクロ波の整合等について各々最適な条件
があるものの、これらのパラメーターは相互に有機的に
結びついており、一概に定義されるものではなく、適宜
好ましい条件を設定するのが望ましい。
即ち、本発明の方法によれば、帯状部材を側壁とした
成膜空間を形成し、且つ、該成膜空間の側壁を構成する
前記帯状部材を連続的に移動せしめると共に、前記成膜
空間の側壁を構成する帯状部材の幅方向に対してほぼ均
一にマイクロ波エネルギーを放射せしめるようにマイク
ロ波アプリケーター手段及び誘電体シート移送速度手段
を配置し、マイクロ波プラズマの生起・維持条件を調整
・最適化することによって、大面積の機能性堆積膜を連
続して、均一性良く形成することができる。
本発明の方法が従来の堆積膜形成方法から客観的に区
別される点は、成膜空間を柱状とし、その側壁が連続的
に移動しつつも、構造材としての機能を果たし、且つ、
堆積膜形成用の基板又は支持体をも兼ねる、また、マイ
クロ波エネルギー導入部への堆積膜の低減により、より
安定したマイクロ波プラズマの生起・維持を行うように
した点にある。
ここで、構造材としての機能とは、特に、成膜用の雰
囲気空間すなわち成膜空間と成膜用には関与しない雰囲
気空間とを物理的、化学的に隔離する機能であって、具
体的には、例えば、ガス組成及びその状態の異なる雰囲
気を形成したり、ガスの流れる方向を制限したり、更に
は、圧力差の異なる雰囲気を形成したりする機能を意味
するものである。
即ち、本発明の方法は、前記帯状部材を湾曲させて柱
状の成膜空間の側壁を形成し、他の残された壁面、すな
わち両端面及び前記側壁の一部に残された間隙のうちの
いずれかの箇所より、堆積膜形成用の原料ガス及びマイ
クロ波エネルギーを前記成膜空間内に供給し、また、排
気させることによって、マイクロ波プラズマを前記成膜
空間内に閉じ込め、前記側壁を構成する帯状部材上に機
能性堆積膜を形成せしめるものであり、前記帯状部材そ
のものが成膜空間を成膜用には関与しない外部雰囲気空
間から隔離するための構造材としての重要な機能を果た
しているとともに、堆積膜形成用の基板又は支持体とし
て用いることができる。
従って、前記帯状部材を側壁として構成される成膜空
間の外部の雰囲気は、前記成膜空間内とは、ガス組成及
びその状態、圧力等について相当異なる状態となってい
る。
一方、従来の堆積膜形成方法においては堆積膜形成用
の基板又は支持体は、堆積膜を形成するための成膜空間
内に配設され、専ら、該成膜空間にて生成する例えば堆
積膜形成用の前駆体等を堆積させる部材としてのみ機能
するものであり、本発明の方法におけるように前記成膜
空間を構成する構造材として機能させるものではない。
また、従来法であるRFプラズマCVD法、スパツタリン
グ法等においては、前記堆積膜形成用の基板又は支持体
は放電の生起、維持のための電極を兼ねることはあるが
プラズマの閉じ込めは不十分であり、成膜用には関与し
ない外部雰囲気空間との隔離は不十分であって、構造材
として機能しているとは言い難い。
一方、本発明の方法は、機能性堆積膜形成用の基板又
は支持体として機能し得る帯状部材を前記成膜空間の側
壁として用い、前記構造材としての機能を発揮せしめる
と共に、前記帯状部材上への機能性堆積膜の連続形成を
も可能にするものである。
本発明の方法において、前記帯状部材を用いて柱状空
間の側壁を形成し、該柱状空間内にマイクロ波エネルギ
ーを前記帯状部材の幅方向にほぼ均一に放射させて、前
記柱状空間内にマイクロ波を閉じ込めかつ誘電体シート
を適宜移送することによりマイクロ波導入部でのマイク
ロ波エネルギーの消費をおさえることによって、マイク
ロ波エネルギーは効率良く前記柱状空間内で消費され
て、均一なマイクロ波プラズマが生起され、形成される
堆積膜の均一性も高まる。更には、前記マイクロ波プラ
ズマに曝される側壁を構成する帯状部材を絶えず連続的
に移動させ、前記成膜空間外へ排出させることによっ
て、前記帯状部材上に、その移動方向に対して均一性の
高い堆積膜を形成することができる。
本発明の方法においては、前記帯状部材で成膜空間を
形成し、該成膜空間内でのみ堆積膜を形成せしめるよう
に、前記成膜空間外におけるガス組成及びその状態は前
記成膜空間内とは異なるように条件設定する。例えば、
前記成膜空間外のガス組成については、堆積膜形成には
直接関与しないようなガス雰囲気としても良いし、前記
成膜空間から排出される原料ガスを含んだ雰囲気であっ
ても良い。また、前記成膜空間内にはマイクロ波プラズ
マが閉じ込められているのは勿論であるが、前記成膜空
間の外部には前記マイクロ波プラズマが漏洩しないよう
にすることが、プラズマの安定性、再現性の向上や不要
な箇所への膜堆積を防ぐ上でも有効である。具体的には
前記成膜空間の内外で圧力差をつけたり、電離断面積の
小さいいわゆる不活性ガス、H2ガス等の雰囲気を形成し
たり、あるいは、積極的に前記成膜空間内からマイクロ
波の漏洩が起こらないような手段を設けることが有効で
ある。マイクロ波の漏洩防止手段としては、前記成膜空
間の内外を結ぶ間隙部分を導電性部材で密封したり、穴
径が好ましくは用いるマイクロ波の1/2波長以下、より
好ましくは1/4波長以下の金網、パンチングボードで覆
っても良く、また、前記成膜空間の内外を結ぶ間隙の最
大寸法がマイクロ波の波長の好ましくは1/2波長以下、
より好ましくは1/4波長以下とするのが望ましい。ま
た、前記成膜空間の外での圧力を前記成膜空間内の圧力
に比較して非常に低く設定するか又は逆に高く設定する
ことによっても、前記成膜空間外でマイクロ波プラズマ
が生起しないような条件設定ができる。
このように、前記帯状部材に成膜空間を構成する構造
材としての機能をもたせかつマイクロ波エネルギー導入
部への堆積膜の低減により、より安定したマイクロ波プ
ラズマの生起・維持を行うことに、本発明の方法の特徴
があり、従来の堆積膜形成方法とは区別され、更に多大
な効果をもたらす。
以下、本発明のマイクロ波プラズマCVD装置の構成及
び特徴点について更に詳細に順を追って記載する。
本発明の装置によれば、マイクロ波プラズマ領域を移
動しつつある帯状部材で閉じ込められていることによ
り、前記マイクロ波プラズマ領域内で生成した堆積膜形
成に寄与する前駆体を高い収率で基板上に捕獲し、更に
は堆積膜を連続して帯状部材上に形成できるため、堆積
膜形成用原料ガスの利用効率を飛躍的に高めることがで
きる。
更には、本発明のマイクロ波アプリケーター手段及び
誘電体シート移送手段を用いて、前記成膜空間内に均一
なマイクロ波プラズマが生起されるため、前記帯状部材
の幅方向に形成される堆積膜の均一性が優れているのは
勿論のこと、前記帯状部材を前記マイクロ波アプリケー
ター手段の長手方向に対してほぼ垂直方向に連続的に搬
送することにより、前記帯状基体の長手方向に形成され
る堆積膜の均一性にも優れたものとなる。
また、本発明の装置によれば、連続して安定に均一性
良く放電が維持できるため、長尺の帯状部材上に連続し
て、安定した特性の機能性堆積膜を堆積形成でき、界面
特性の優れた積層デバイスを作製することができる。
本発明の装置において、前記帯状部材を構造材として
機能させるにあたり、前記成膜室の外部は大気であって
も良いが、前記成膜室内への大気の流入によって、形成
される機能性堆積膜の特性に影響を及ぼす場合には適宜
の大気流入防止手段を設ければ良い。具体的にはOリン
グ、ガスケツト、ヘリコフレツクス、磁性流体等を用い
た機械的封止構造とするか、又は、形成される堆積膜の
特性に影響が少ないかあるいは効果的な希釈ガス雰囲
気、又は適宜の真空雰囲気を形成するための隔離容器を
周囲に配設することが望ましい。前記機械的封止構造と
する場合には、前記帯状部材が連続的に移動しながら封
止状態を維持できるように特別配慮される必要がある。
本発明の装置と他の複数の堆積膜形成手段を連結させ
て、前記帯状部材上に連続して堆積膜を積層させる場合
には、ガスゲート手段等を用いて各装置を連結させるの
が望ましい。また、本発明の装置のみを複数連結させる
場合には、各装置において成膜室は独立した成膜雰囲気
となっているため、前記隔離容器は単一でも良いし、各
々の装置に設けても良い。
本発明の装置において、前記成膜室の外部の圧力は減
圧状態でも加圧状態でも良いが、前記成膜室内との圧力
差によって前記帯状部材が大きく変形するような場合に
は適宜の補助構造材を前記成膜室内に配設すれば良い。
該補助構造材としては、前記成膜室の側壁とほぼ同一の
形状を、適宜の強度を有する金属、セラミツクス又は強
化樹脂等で構成される線材、薄板等で形成したものであ
ることが望ましい。また、該補助構造材の前記マイクロ
波プラズマに曝されない側の面に対向する前記帯状部材
上は、実質的に該補助構造材の影となる故堆積膜の形成
はほとんどされないので前記補助構造材の前記帯状部材
上への投影面積は可能な限り小さくなるように設計され
るのが望ましい。
また、該補助構造材を前記帯状部材に密着させ、且つ
前記帯状部材の搬送速度に同期させて回転又は移動させ
ることにより、前記補助構造材上に施されたメツシユパ
ターン等を前記帯状部材上に形成させることもできる。
本発明の方法及び装置において好適に用いられる帯状
部材の材質としては、マイクロ波プラズマCVD法による
機能性堆積膜形成時に必要とされる温度において変形、
歪みが少なく、所望の強度を有し、また、導電性を有す
るものであることが好ましく、具体的にはステンレスス
チール、アルミニウム及びその合金、鉄及びその合金、
銅及びその合金等の金属の薄板及びその複合体、及びそ
れらの表面に異種材質の金属薄膜及び/またはSiO2、Si
3N4、Al2O3、AlN等の絶縁性薄膜をスパツタ法、蒸着
法、鍍金法等により表面コーテイング処理を行ったも
の。又、ポリイミド、ポリアミド、ポリエチレンテレフ
タレート、エポキシ等の耐熱性樹脂性シート又はこれら
とガラスフアイバ、カーボンフアイバー、ホウ素フアイ
バー、金属繊維等との複合体の表面に金属単体または合
金、及び透明導電性酸化物(TCO)等を鍍金、蒸着、ス
パツタ、塗布等の方法で導電性処理を行ったものが挙げ
られる。
また、前記帯状部材の厚さとしては、前記搬送手段に
よる搬送時に形成される湾曲形状が維持される強度を発
揮する範囲内であれば、コスト、収納スペース等を考慮
して可能な限り薄い方が望ましい。具体的には、好まし
くは0.01mm乃至5mm、より好ましくは0.02mm乃至2mm、最
適には0.05mm乃至1mmであることが望ましいが、比較的
金属等の薄板を用いた方が厚さを薄くしても所望の強度
が得られやすい。
また、前記帯状部材の幅寸法については、前記マイク
ロ波アプリケーター手段を用いた場合において、その長
手方向に対するマイクロ波プラズマの均一性が保たれ、
且つ、前記湾曲形状が維持される程度であることが好ま
しく、具体的には好ましくは5cm乃至100cm、より好まし
くは10cm乃至80cmであることが望ましい。
更に、前記帯状部材の長さについては、特に制限され
ることはなく、ロール状に巻き取られる程度の長さであ
っても良く、長尺のものを溶接等によって更に長尺化し
たものであっても良い。
本発明の装置において、前記帯状部材を連続的に湾曲
させながら支持・搬送する手段としては、搬送時に前記
帯状部材がたるみ、シワ、横ズレ等を生ずることなく、
その湾曲した形状を一定に保つことが必要である。例え
ば、所望の湾曲形状を有する支持・搬送用リングを少な
くとも一対設け、該支持・搬送用リングにて前記帯状部
材の好ましくは両端を支持し、またその形状に沿わせて
湾曲させ、更に前記帯状部材の長手方向に設けられた少
なくとも一対の湾曲開始端形成手段及び湾曲終了端形成
手段としての支持・搬送用ローラーにて絞り込み、ほぼ
柱状に湾曲させ、更に前記支持・搬送用リング及び支持
・搬送用ローラーの少なくとも一方に駆動力を与えて、
湾曲形状を維持しつつ前記帯状部材をその長手方向に搬
送せしめる。なお、前記支持・搬送用リングにて前記帯
状部材を支持・搬送する方法としては単なる滑り摩擦の
みによっても良いし、あるいは前記帯状部材にスプロケ
ツト穴等の加工を施し、又前記支持・搬送用リングにつ
いてもその周囲に鋸刃状の突起を設けたいわゆるギア状
のものも用いたりしても良い。
前記支持・搬送用リングの形状については、湾曲形状
を形成するにあたり、好ましくは円形状であることが望
ましいが、楕円状、方形状、多角形状であっても連続的
に一定してその形状を保つ機構を有するものであれば特
に支障はない。搬送速度を一定に保つことが、前記湾曲
形状にたるみ、シワ、横ズレ等を生ぜしめることなく搬
送する上で重要なポイントとなる。従って、前記支持・
搬送機構には前記帯状部材の搬送速度の検出機構及びそ
れによるフイードバツクのかけられた搬送速度調整機構
が設けられることが望ましい。また、これらの機構は半
導体デバイスを作製する上での膜厚制御に対しても多大
な効果をもたらす。
また、前記支持・搬送用リングはその目的上プラズマ
に曝される程度の差はあれ、マイクロ波プラズマ領域内
に配設されることとなる。従って、マイクロ波プラズマ
に対して耐え得る材質、すなわち耐熱性、耐腐食性等に
優れたものであることが望ましく、又、その表面には堆
積膜が付着し、長時間の堆積操作時には該付着膜が剥
離、飛散し、形成しつつある堆積膜上に付着して、堆積
膜のピンホール等の欠陥発生の原因となり、結果的には
作製される半導体デバイスの特性悪化や歩留り低下の原
因となるので、前記堆積膜の付着係数が低い材質もしく
は付着しても相当の膜厚まで強い付着力を保持し得る材
質及び表面形状のもので構成されることが望ましい。具
体的材質としては、ステンレススチール、ニツケル、チ
タン、バナジウム、タングステン、モリブデン、ニオブ
及びその合金を用いて加工されたもの、またはその表面
にアルミナ、石英、マグネシア、ジルコニア、窒化ケイ
素、窒化ホウ素、窒化アルミニウム等のセラミツクス材
料を溶射法、蒸着法、スパツタ法、イオンプレーテイン
グ法、CVD法等によりコーテイング処理したもの、また
は前記セラミツクス材料の単体もしくは複合体で成形加
工したもの等を挙げることができる。また、表面形状と
しては鏡面加工、凹凸加工等堆積される膜の応力等を考
慮して適宜選択される。
前記支持・搬送用リングに付着した堆積膜は剥離、飛
散等が発生する以前に除去されることが好ましく、真空
中にてドライエツチング又は分解後ウエツトエツチン
グ、ビーズブラスト等の化学的、物理的手法によって除
去されることが望ましい。
前記支持・搬送用ローラーは、前記支持・搬送用リン
グに比較して前記帯状部材に接触する面積は大きく設計
されるので、前記帯状部材との熱交換率は大きい。従っ
て、該支持・搬送用ローラーで前記帯状部材の温度が極
端に上昇又は低下することのないように適宜温度調整が
なされる機構を有するものであることが望ましい。しか
るに、少なくとも一対以上設けられる支持・搬送用ロー
ラーの設定温度が異なるということもあり得る。更に、
前記支持・搬送用ローラーには前記帯状部材の搬送張力
検出機構が内蔵されることも搬送速度を一定に保持する
上で効果的である。
更に、前記支持・搬送用ローラーには前記帯状部材の
搬送時のたわみ、ねじれ、横ずれ等を防ぐためにクラウ
ン機構が設けられることが好ましい。
本発明において形成される湾曲形状は、前記アプリケ
ーター手段の先端部分を一部包含するように柱状に形成
される。
前記帯状部材を側壁として形成される柱状の成膜室の
両端面の形状としては、ほぼ円形状、楕円状、方形状、
多角形状等であって、且つ前記マイクロ波アプリケータ
ー手段が配設される位置は、ほぼ前記形状の中心付近で
あることが、前記成膜室内に均一にマイクロ波プラズマ
を生起せしめ、形成される堆積膜の均一性を高める上で
望ましい。また、前記湾曲部分の端面の内径はマイクロ
波の伝送モード及びマイクロ波プラズマ領域の体積を決
定し、実質的には前記帯状部材が搬送中に前記マイクロ
波プラズマ領域に曝される時間と相関して形成される堆
積膜の膜厚が決定され、且つ、前記帯状部材の幅寸法と
相関して前記成膜室の内表面積に対する前記側壁の面積
比が決まり堆積膜形成用原料ガスの利用効率が決定され
る。そして、前記マイクロ波プラズマ領域において、安
定したマイクロ波プラズマを維持するためのマイクロ波
電力密度(W/cm3)は用いられる原料ガスの種類及び流
量、圧力、マイクロ波アプリケーター及び誘電体シート
のマイクロ波の放射、伝達能力、及びマイクロ波プラズ
マ領域の絶対体積等の相関によって決まり、一概に定義
することは困難である。
前記帯状部材を太陽電池用の基板として用いる場合に
は、該帯状部材が金属等の電気導電性である場合には直
接電流取り出し用の電極としても良いし、合成樹脂等の
電気絶縁性である場合には堆積膜の形成される側の表面
にAl、Ag、Pt、Au、Ni、Ti、Mo、W、Fe、V、Cr、Cu、
ステンレス、真ちゅう、ニクロム、SnO2、In2O3、ZnO、
SnO2−In2O3(ITO)等のいわゆる金属単体又は合金、及
び透明導電性酸化物(TCO)を鍍金、蒸着、スパツタ等
の方法であらかじめ表面処理を行って電流取り出し用の
電極を形成しておくことが望ましい。
勿論、前記帯状部材が金属等の電気導電性のものであ
っても、長波長光の基板表面上での反射率を向上させた
り、基板材質と堆積膜との間での構成元素の相互拡散を
防止したり短絡防止用の干渉層とする等の目的で異種の
金属層等を前記基板上の堆積膜が形成される側に設けて
も良い。又、前記帯状部材が比較的透明であって、該帯
状部材の側から光入射を行う層構成の太陽電池とする場
合には前記透明導電性酸化物や金属薄膜等の導電性薄膜
をあらかじめ堆積形成しておくことが望ましい。
また、前記帯状部材の表面性としてはいわゆる平滑面
であっても、微小の凹凸面であっても良い。
微小の凹凸面とする場合にはその凹凸形状は球状、円
錐状、角錐状等であって、且つその最大高さ(Rmax)は
好ましくは500Å乃至5000Åとすることにより、該表面
での光反射が乱反射となり、該表面での反射光の光路長
の増大をもたらす。
前記マイクロ波導入窓は前記マイクロ波アプリケータ
ー手段の先端部分に設けられ、前記成膜室内の真空雰囲
気と前記マイクロ波アプリケーター手段の設置されてい
る外気とを分離し、その内外間に存在している圧力差に
耐え得るような構造に設計される。具体的には、そのマ
イクロ波の進行方向に対する断面形状が好ましくは円
形、方形、楕円形の平板、ベルジヤー状、ダブレツト
状、円錐状とされるのが望ましい。
また、前記マイクロ波導入窓のマイクロ波の進行方向
に対する厚さは、ここでのマイクロ波の反射が最少に抑
えられるように、用いる材質の誘電率を考慮して、設計
されるのが望ましく、例えば平板状であるならばマイク
ロ波の波長の1/2波長にほぼ等しくされるのが好まし
い。更に、その材質としては、マイクロ波アプリケータ
ー手段から放射されるマイクロ波エネルギーを最小の損
失で前記成膜室内へ透過させることができ、また、前記
成膜室内への大気の流入が生じない気密性の優れたもの
が好ましく、具体的には石英、アルミナ、窒化ケイ素、
ベリリア、マグネシア、ジルコニア、窒化ホウ素、炭化
ケイ素等のガラス又はフアインセラミツクス等が挙げら
れる。
また、前記マイクロ波導入窓はマイクロ波エネルギー
及び/又はプラズマエネルギーによる加熱によって熱劣
化(ヒビ割れ、破壊)等を起こすことを防止するため均
一に冷却されることが好ましい。
具体的な冷却手段としては、前記マイクロ波導入窓の
大気側の面に向けて吹きつけられる冷却空気流であって
もよいし、前記マイクロ波アプリケーター手段そのもの
を冷却空気、水、オイル、フレオン等の冷却媒体にて冷
却し、前記マイクロ波アプリケーター手段に接する部分
を介して前記マイクロ波導入窓を冷却しても良い。前記
マイクロ波導入窓を十分に低い温度まで冷却すること
で、比較的高いパワーのマイクロ波エネルギーを前記成
膜室内へ導入しても、発生する熱によって前記マイクロ
波導入窓にひび割れ等の破壊を生じさせることなく、高
電子密度のプラズマを生起することができる。
本発明の装置における誘電体シート移送手段は、前記
マイクロ波導入窓に略密着して設置され、前記マイクロ
波導入窓上に本来堆積するべき堆積膜を誘電体シート上
に堆積、移送することにより、前記マイクロ波アプリケ
ーター手段より成膜室内へ放射されるマイクロ波エネル
ギーを最小の損失で前記成膜室内へ透過させることがで
き、長時間にわたって、高電子密度のプラズマを均一に
かつ安定に維持することができる。
前記誘電体シートの材質としては、マイクロ波の吸
収、反射が最少に抑えられるように用いる材質の比誘電
率及び、誘電体損失角を考慮して設計されるのが望まし
く、材質の耐熱性については、高温においても安定であ
る方が望ましい。具体的には、酸化アルミニウム、酸化
ケイ素などを主成分としてセラミツクペーパー、又は、
各種金属酸化物をガラス繊維などに含浸させたもの、又
はポリイミド、テフロン、又は、ガラス繊維などを前記
ポリマー等でコートしたもの又はポリイミドをテフロン
等でコートしたものなどが適している。誘電体シートの
寸法は、前記マイクロ波導入窓を完全におおうことので
きる形のものであれば、特に限定されるものではなく、
使用するマイクロ波導入窓及びマイクロ波プラズマCVD
装置の構成によって適宜決定される。誘電体シートの厚
さとしては薄すぎるとひっぱりなどに対する機械的強度
が弱く、厚すぎると容易に曲げることができないことか
ら、0.1mm〜1.3mmの範囲とすることが望ましいものであ
る。
誘電体シートは、マイクロ波導入窓の表面との間にな
るべくすき間がなく密着した状態で移送されるのが望ま
しい。密着性が悪くすき間が大きい場合には、該すき間
部分でマイクロ波エネルギーの吸収が生じ、放電状態が
変化する原因となる。前記すき間の許容範囲としては、
0.5mm以下とするのが望ましい。上記のような理由から
誘電体シート移送ユニツトの構成は十分な精度を有して
いる必要があり、又マイクロ波導入窓と接する側の誘電
体シート面は研磨仕上げとするなどの処理を施すのが好
ましい。
誘電体シートの移送速度は、形成される堆積膜の堆積
速度または、誘電体シートの耐熱温度等によって適宜設
定されるべきであるが、誘電体シート上の堆積膜厚が25
μm以下でかつ耐熱温度以下となるよう移送速度を設定
することが望ましい。
本発明の装置におけるマイクロ波アプリケーター手段
は、マイクロ波電源より供給されるマイクロ波エネルギ
ーを前記成膜室内に放射して、前記ガス導入手段から導
入される堆積膜形成用原料ガスをプラズマ化し維持させ
ることができる構造を有するものである。
具体的には、マイクロ波伝送用導波管の先端部分に前
記マイクロ波導入窓を、気密保持が可能な状態に取り付
けたものが好ましく用いられる。そして前記マイクロ波
アプリケーター手段は前記マイクロ波伝送用導波管と同
一規格のものであっても良いし、他の規格のものであっ
ても良い。また、前記マイクロ波アプリケーター手段中
でのマイクロ波の伝送モードは、前記成膜室内でのマイ
クロ波エネルギーの伝送を効率良く行わせしめ、且つ、
マイクロ波プラズマを安定して生起・維持・制御せしめ
る上で、単一モードとなるように前記マイクロ波アプリ
ケーターの寸法・形状等が設計されるのが望ましい。但
し、複数モードが伝送されるようなものであっても、使
用する原料ガス、圧力、マイクロ波電力等のマイクロ波
プラズマ生起条件を適宜選択することによって使用する
こともできる。単一モードとなるように設計される場合
の伝送モードとしては、例えばTE10モード、TE11モー
ド、eH1モード、TM11モード、TM01モード等を挙げるこ
とができるが、好ましくはTE10モード、TE11モード、eH
1モードが選択される。そして、前記マイクロ波アプリ
ケーター手段には、上述の伝送モードが伝送可能な導波
管が接続され、好ましくは該導波管中の伝送モードと前
記マイクロ波アプリケーター手段中の伝送モードとは一
致させるのが望ましい。前記導波管の種類としては、使
用されるマイクロ波の周波数帯(バンド)及びモードに
よって適宜選択され、少なくともそのカットオフ周波数
は使用される周波数よりも小さいものであることが好ま
しく、具体的にはJIS、EIAJ、IEC、JAN等の規格の方形
導波管、円形導波管、又は楕円導波管等の他、2.45GHz
のマイクロ波用の自社規格として、方形の断面の内径で
幅96mm×高さ27mmのもの等を挙げることができる。
本発明の装置において、マイクロ波電源より供給され
るマイクロ波エネルギーは、前記マイクロ波アプリケー
ター手段を介して効率良く前記成膜室内へ放射されるた
め、いわゆるマイクロ波アプリケーターに起因する反射
波に関する問題は回避しやすく、マイクロ波回路におい
てはスリースタブチユーナー又はE−Hチユーナー等の
マイクロ波整合回路を用いなくとも比較的安定した放電
を維持することが可能であるが、放電開始前や放電開始
後でも異常放電等により強い反射波を生ずるような場合
にはマイクロ波電源の保護のために前記マイクロ波整合
回路を設けることが望ましい。
本発明の装置において、前記成膜室には前記湾曲開始
端形成手段と湾曲終了端形成手段との間に間隙が残され
ていて、該間隙から前記原料ガスを排気し、前記成膜室
内が所定の減圧状態に保持されるようにするが、前記間
隙の寸法は十分な排気コンダクタンスが得られると同時
に、前記成膜室内に放射されたマイクロ波エネルギーが
前記成膜室外へ漏洩しないように設計される必要があ
る。
具体的には、マイクロ波アプリケーター手段中を進行
するマイクロ波の電界方向と、前記湾曲開始端形成手段
としての支持・搬送用ローラーの中心軸と前記湾曲終了
端形成手段としての支持・搬送用ローラーの中心軸とを
含む面とが互いに平行とならないように前記マイクロ波
アプリケーター手段を配設する。すなわち、前記マイク
ロ波アプリケーター手段に接続される前記導波管の長辺
又は長軸を含む面と前記一対の支持・搬送用ローラーの
中心軸を含む面とが平行とならないように、前記導波管
を配設させる。
そして、複数個の前記マイクロ波アプリケーター手段
を介して前記成膜室内にマイクロ波エネルギーを放射さ
せる場合には、各々のマイクロ波アプリケーター手段に
ついて前述のごとく配設されることが必要である。
更に、前記湾曲開始端形成手段と湾曲終了端形成手段
との間に残された間隙の、前記帯状部材の長手方向の開
口幅の最大寸法は該間隙からのマイクロ波エネルギーの
漏洩を防止する上で、マイクロ波の波長の好ましくは1/
2波長以下、より好ましくは1/4波長以下とするのが望ま
しい。
本発明の装置において、複数個の前記マイクロ波アプ
リケーター手段を互いに対向させて配設させる場合に
は、一方のマイクロ波アプリケーター手段より放射され
たマイクロ波エネルギーを、他方のマイクロ波アプリケ
ーター手段が受信し、受信されたマイクロ波エネルギー
が前記他方のマイクロ波アプリケーター手段に接続され
ているマイクロ波電源にまで達して、該マイクロ波電源
に損傷を与えたり、マイクロ波の発振に異常を生ぜしめ
る等の悪影響を及ぼすことのないように配置する必要が
ある。
具体的には、前記マイクロ波アプリケーター手段中を
進行するマイクロ波の電界方向同志が互いに平行となら
ないように前記マイクロ波アプリケーター手段を配設す
る。すなわち、前記マイクロ波アプリケーター手段に接
続される前記導波管の長辺又は長軸を含む面とが互いに
平行とならないように前記導波管を配設する。
本発明の方法において、前記成膜室の両端面のうち片
側のみからマイクロ波エネルギーを放射させる場合に
は、他方の端面からのマイクロ波エネルギーの漏洩がな
いようにすることが必要であり、前記端面を導電性部材
で密封したり、穴径が用いるマイクロ波の波長の好まし
くは1/2波長以下、より好ましくは1/4波長以下の金網、
パンチングボードなどで覆うことが望ましい。
本発明の装置において前記成膜室及び/又は隔離容器
を他の成膜手段を有する真空容器と真空雰囲気を分離独
立させ、且つ、前記帯状部材をそれらの中を貫通させて
連続的に搬送するにはガスゲート手段が好適に用いられ
る。本発明の装置において前記成膜室及び/又は隔離容
器内は修正パツシエン曲線の最小値付近の動作に必要な
程度の低圧に保たれるのが望ましいため、前記成膜室及
び/又は隔離容器に接続される他の真空容器内の圧力と
しては少なくともその圧力にほぼ等しいか又はそれより
も高い圧力となるケースが多い。従って、前記ガスゲー
ト手段の能力としては前記各容器間に生じる圧力差によ
って、相互に使用している堆積膜形成用原料ガスを拡散
させない能力を有することが必要である。従って、その
基本概念は米国特許第4,438,723号に開示されているガ
スゲート手段を採用することができるが、更にその能力
は改善される必要がある。具体的には、最大106倍程度
の圧力差に耐え得ることが必要であり、排気ポンプとし
ては排気能力の大きい油拡散ポンプ、ターボ分子ポン
プ、メカニカルブースターポンプ等が好適に用いられ
る。また、ガスゲートの断面形状としてはスリツト状又
はこれに類似する形状であり、その全長及び用いる排気
ポンプの排気能力等と合わせて、一般のコンダクタンス
計算式を用いてそれらの寸法が計算、設計される。更
に、分離能力を高めるためにゲートガスを併用すること
が好ましく、例えばAr、He、Ne、Kr、Xe、Rn等の希ガス
又はH2等の堆積膜形成用希釈ガスが挙げられる。ゲート
ガス流量としてはガスゲート全体のコンダクタンス及び
用いる排気ポンプの能力等によって適宜決定されるが、
概ね第10図(a)、(b)に示したような圧力勾配を形
成するようにすれば良い。第10図(a)において、ガス
ゲートのほぼ中央部に圧力の最大となるポイントがある
ため、ゲートガスはガスゲート中央部から両サイドの真
空容器側へ流れ、第10図(b)においてはガスゲートの
ほぼ中央部に圧力の最小となるポイントがあるため、両
サイドの容器から流れ込む堆積膜形成用原料ガスと共に
ゲートガスもガスゲート中央部から排気される。従って
両者の場合において両サイドの容器間での相互のガス拡
散を最小限に抑えることができる。実際には、質量分析
計を用いて拡散してくるガス量を測定したり、堆積膜の
組成分析を行うことによって最適条件を決定する。
本発明の装置において、前記ガスゲート手段によっ
て、前記隔離容器と接続される他の真空容器中に配設さ
れる堆積膜形成手段としては、RFプラズマCVD法、スパ
ツタリング法及び反応性スパツタリング法、イオンプレ
ーテイング法、光CVD法、熱CVD法、MOCVD法、MBE法そし
てHR−CVD法等いわゆる機能性堆積膜形成用に用いられ
る方法を実現するための手段を挙げることができる。そ
して、勿論本発明のマイクロ波プラズマCVD法及び類似
のマイクロ波プラズマCVD法の手段を接続することも可
能であり、所望の半導体デバイス作製のため適宜手段を
選択し、前記ガスゲート手段を用いて接続される。
本発明の装置において用いられるマイクロ波電源から
供給されるマイクロ波周波数は、好ましくは民生用に用
いられている2.45GHzが挙げられるが、他の周波数帯の
ものであっても比較的入手し易いものであれば用いるこ
とができる。また、安定した放電を得るには発振様式は
いわゆる連続発振であることが望ましく、そのリツプル
幅が、使用出力領域において、好ましくは30%以内、よ
り好ましくは10%以内であることが望ましい。
本発明の装置において、前記成膜室及び/又は隔離容
器を大気に曝すことなく連続して堆積膜形成を行うこと
は、形成される堆積膜の特性安定上、不純物の混入を防
止できるため有効である。ところが、用いられる帯状部
材の長さは有限であることから、これを溶接等の処理に
より接続する操作を行うことが必要である。具体的に
は、前記帯状部材の収納された容器(送り出し側及び巻
き取り側)に近接して、そのような処理室を設ければ良
い。
以下、図面を用いて具体的処理方法について説明す
る。
第9図(その1)(I)図乃至第9(その4)(X)
図は、前記帯状部材処理室の概略及び帯状部材等の成膜
時の作動を説明するための模式図を示した。
第9図において、901aは帯状部材の送り出し側に設け
られた帯状部材処理室(A)、901bは帯状基体の巻き取
り側に設けられた帯状部材処理室(B)であり、その内
部にはバイトン製ローラー907a,907b,切断刃908a,908b,
溶接治具909a,909bが収納されている。
即ち、第9図(その1)(I)は、通常成膜時の状態
であり、帯状部材902が図中矢印方向に移動していて、
ローラー907a、切断刃908a、及び溶接治具909aは帯状部
材902に接触していない。910は帯状部材収納容器(不図
示)との接続手段(ガスゲート)、911は真空容器(不
図示)との接続手段(ガスゲート)である。
第9図(その1)(II)は、1巻の帯状部材への成膜
工程が終了した後、新しい帯状部材と交換するための第
1工程を示している。まず、帯状部材902を停止させ、
ローラー907aを図中点線で示した位置から矢印方向へ移
動させ帯状部材902及び帯状部材処理室901aの壁と密着
させる。この状態で帯状部材収納容器と成膜室とは気密
分離される。次に、切断刃908aを図中矢印方向に動作さ
せ帯状部材902を切断する。この切断刃908aは機械的、
電気的、熱的に帯状部材902を切断できるもののうちの
いずれかにより構成される。
第9図(その1)(III)では、切断分離された帯状
部材903が帯状部材収納容器側へ巻き取られる様子を示
している。
上述した切断及び巻き取り工程は帯状部材収納容器内
は真空状態又は大気圧リーク状態のいずれかで行われて
も良い。
第9図(その2)(IV)では、新しい帯状部材904が
送り込まれ、帯状部材902と接続される工程を示してい
る。帯状部材904と902とはその端部が接せられ溶接治具
909aにて溶接接続される。
第9図(その2)(V)では帯状部材収納容器(不図
示)内を真空排気し、十分成膜室との圧力差が少なくな
った後、ローラー907aを帯状部材902及び帯状部材処理
室(A)901aの壁から離し、帯状部材902,904を巻き取
っている状態を示している。
次に、帯状部材の巻き取り側での動作を説明する。
第9図(その3)(VI)は、通常成膜時の状態である
が、各治具は第9図(その1)(I)で説明したのとほ
ぼ対称に配置されている。
第9図(その3)(VII)は、1巻の帯状部材への成
膜工程が終了した後、これを取り出し、次の成膜工程処
理された帯状部材を巻き取るための空ボビンと交換する
ための工程を示している。
まず、帯状部材902を停止させ、ローラー907bを図中
点線で示した位置から矢印方向へ移動させ、帯状部材90
2及び帯状部材処理室901bの壁と密着させる。この状態
で帯状部材収納容器と成膜室とは気密分離される。次
に、切断刃908bを図中矢印方向に動作させ、帯状部材90
2を切断する。この切断刃908bは機械的、電気的、熱的
に帯状基体902を切断できるもののうちいずれかにより
構成される。
第9図(その3)(VIII)では、切断分離された成膜
工程終了後の帯状部材905が帯状部材収納容器側へ巻き
取られる様子を示している。
上述した切断及び巻き取り工程は帯状部材収納容器内
は真空状態又は大気圧リーク状態のいずれかで行われて
も良い。
第9図(その4)(IX)では、新しい巻き取りボビン
に取り付けられている予備巻き取り用帯状部材906が送
り込まれ、帯状部材902と接続される工程を示してい
る。予備巻き取り用帯状部材906と帯状部材902とはその
端部が接せられ、溶接治具909bにて溶接接続される。
第9図(その4)(X)では、帯状部材収納容器(不
図示)内を真空排気し、十分成膜室との圧力差が少なく
なった後、ローラー907bを帯状部材902及び帯状部材処
理室(B)901bの壁から離し、帯状部材902,906を巻き
取っている状態を示している。
本発明の方法及び装置において連続形成される機能性
堆積膜としては非晶質、結晶質を問わず、Si,Ge,C等い
わゆるIV族半導体薄膜、SiGe,SiC,SiSn等いわゆるIV族
合金半導体薄膜、GaAs,GaP,GaSb,InP,InAs等いわゆるII
I−V族化合物半導体薄膜、及びZnSe,ZnS,ZnTe,CdS,CdS
e,CdTe等いわゆるII−VI族化合物半導体薄膜等が挙げら
れる。
本発明の方法及び装置において用いられる前記機能性
堆積膜形成用原料ガスとしては、上述した各種半導体薄
膜の構成元素の水素化物、ハロゲン化物、有機金属化合
物等で前記成膜室内へ好ましくは気体状態で導入できる
ものが選ばれ使用される。
勿論、これらの原料化合物は1種のみならず、2種以
上混合して使用することもできる。又、これらの原料化
合物はHe,Ne,Ar,Kr,Xe,Rn等の希ガス、及びH2,HF,HCl等
の希釈ガスと混合して導入されても良い。
また、連続形成される前記半導体薄膜は価電子制御及
び禁制帯幅制御を行うことができる。具体的には価電子
制御剤又は禁制帯幅制御剤となる元素を含む原料化合物
を単独で、又は前記堆積膜形成用原料ガス又は前記希釈
ガスに混合して前記成膜室内へ導入してやれば良い。
前記堆積膜形成用原料ガス等は、前記帯状部材で形成
される柱状の成膜室内に配設されたその先端部に単一又
は複数のガス放出孔を有するガス導入管より、前記柱状
の成膜室内に均一に放出され、マイクロ波エネルギーに
よりプラズマ化され、マイクロ波プラズマ領域を形成す
る。前記ガス導入管を構成する材質としてはマイクロ波
プラズマ中で損傷を受けることのないものが好適に用い
られる。具体的にステンレススチール、ニツケル、チタ
ン、タングステン、バナジウム、ニクロム等耐熱性金属
及びこれらの金属上にアルミナ、窒化ケイ素等のセラミ
ツクスを溶射処理等したものが挙げられる。
本発明の装置において、前記ガス導入管より、前記柱
状の成膜室内に導入された堆積膜形成用原料ガスはその
一部又は全部が分解して堆積膜形成用の前駆体を発生
し、堆積膜形成が行われるが、未分解の原料ガス、又は
分解によって異種の組成のガスとなったものはすみやか
に前記柱状の成膜室外に排気される必要がある。ただ
し、排気孔面積を必要以上に大きくすると、該排気孔よ
りのマイクロ波エネルギーの漏れが生じ、プラズマの不
安定性の原因となったり他の電子機器、人体等への悪影
響を及ぼすこととなる。従って、本発明の装置において
は、該排気孔は、前記帯状部材の湾曲開始端と湾曲終了
端との間隙とし、その間隔はマイクロ波の漏洩防止上、
使用されるマイクロ波の波長の好ましくは1/2波長以
下、より好ましくは1/4波長以下であることが望まし
い。
〔装置例〕
以下、図面を用いて本発明の具体的装置例を挙げて説
明するが、本発明はこれらの装置によって何ら限定され
るものではない。
装置例1 第1図に本発明のマイクロ波プラズマCVD装置の模式
的透視概略図を示した。
101は帯状部材であり、支持・搬送用ローラー102、10
3及び支持・搬送用リング104、105によって円柱状に湾
曲した形状を保ちながら、図中矢印(→)方向に搬送さ
れ成膜室116を連続的に形成する。106a乃至106eは帯状
部材101を加熱又は冷却するための温度制御機構であ
り、各々独立に温度制御がなされる。
本装置例において、マイクロ波アプリケーター107、1
08は一対対向して設けられており、その先端部分にはマ
イクロ波導入窓109、110が各々設けられていて、該マイ
クロ波導入窓表面に誘電体シート117、118が各々設けら
れている。また、方形導波管111,112が、各々支持・搬
送用ローラーの中心軸を含む面に対してその長辺を含む
面が垂直とならぬよう、且つ、お互いに長辺を含む面が
平行とならぬように配設されている。なお、第1図にお
いて、説明のためにマイクロ波アプリケーター107及び
誘電体シート117は支持・搬送用リング104から切り離し
た状態を示してあるが、堆積膜形成時には、図中矢印方
向に配設される。
113はガス導入管、114は排気管であり、不図示の排気
ポンプに接続されている。115a,115bは隔離通路であ
り、本発明の装置を他の成膜手段を含む容器等との接続
を行うときに設けられる。
支持・搬送用ローラー102、103には、搬送送度検出機
構、張力検出調整機構(いずれも不図示)が内蔵され、
帯状部材101の搬送送度を一定に保つとともに、その湾
曲形状が一定に保たれる。
導波管111、112には不図示のマイクロ波電源が接続さ
れている。
第2−1図にマイクロ波アプリケーター手段107,108
を具体的に説明するための断面模式図及び誘電体シート
移送ユニツトの断面模式図を示した。
200はマイクロ波アプリケーターであり、図中左側矢
印方向から不図示のマイクロ波電源より方形導波管208
を介してマイクロ波が伝送される。
201,202はマイクロ波導入窓であり、メタルシール212
及び固定用リング206を用いて、内筒204、外筒205に固
定されており、真空シールがされている。また内筒204
と外筒205との間には冷却媒体209が流れるようになって
おり、一方の端はOリング210でシールされていて、マ
イクロ波アプリケーター200全体を均一に冷却するよう
になっている。冷却媒体209としては、水、フレオン、
オイル、冷却空気等が好ましく用いられる。マイクロ波
導入窓201にはマイクロ波整合用円板203a,203bが固定さ
れている。外筒205には溝211の加工されたチヨークフラ
ンジ207が接続されている。また、213,214は冷却空気の
導入孔、及び/又は排出孔であり、アプリケーター内部
を冷却するために用いられる。
215は誘電体シートであり、誘電体シート供給ローラ2
16から誘電体シートガイドローラ218、219を介してマイ
クロ波導入窓202に略密着した状態を維持しつつ誘電体
シート巻き取りローラ217に巻き取られる。
第2−2図に誘電体シート移送ユニツトの模式的透視
概略図を示した。
215は誘電体シートであり、マイクロ波導入窓202の表
面に略密着し、該窓をおおうような状態で前記マイクロ
波導入窓上に設置されている。216は前記誘電体シート
の供給ローラであり、217は該シートの巻き取りローラ
である。218、219はともに前記誘電体シートがマイクロ
波導入窓202に略密着して状態を維持しつつ円滑な状態
で移送されるように誘電体シートをガイドするためのガ
イドローラーである。221は成膜空間外に設置された駆
動用モータ(図示せず)からの回転力を前記誘電体シー
ト巻き取りローラー217に伝達し、該誘電体シート巻き
取りローラーを回転させるためのギヤ部材である。220
は上記各部材を保持するためのシヤーシ部材である。
本装置例において、内筒204の内側の形状は円筒状で
あり、その内直径及びマイクロ波の進行方向の長さは導
波管としての機能を果たすように設計される。すなわ
ち、その内直径は、カツトオフ周波数が用いるマイクロ
波の周波数よりも小さく、且つ、複数モードが立たない
範囲で可能な限り大きく、また、長さについては好まし
くはその内部において定在波がたたないような長さに設
計されるのが望ましい。勿論、前記内筒204の内側の形
状は角柱状であっても良い。
装置例2 本装置例では、装置例1で示した装置を隔離容器中に
配設した場合を挙げることができる。
隔離容器の形状としては、装置例1で示した各構成治
具を内蔵できるものであれば、特に制限はないが、立方
体状、直方体状の他円筒状等のものが好適に用いられ
る。また、成膜室116と隔離容器との間に残された空間
には補助ガス導入管が設けられ、該空間での放電防止用
の圧力調整用の希ガス、H2ガス等が導入される。また、
前記空間は成膜室116の排気用ポンプで同時に排気され
ても良く、また、独立の排気ポンプが接続されていても
良い。
装置例3 本装置例では、装置例1において、マイクロ波アプリ
ケーターの形状を角柱状にした以外は同様の構成のもの
を挙げることができる。角柱状のマイクロ波アプリケー
ターの断面寸法は、用いる導波管の寸法と同じでも良い
し、異なっていても良い。また、用いるマイクロ波の周
波数に対して、複数モードが立たない範囲で可能な限り
大きくするのが望ましい。
装置例4 本装置例では、装置例2において、装置例3で用いた
角柱状のマイクロ波アプリケーター手段を用いた以外は
同様の構成としたものを挙げることができる。
装置例5,6 本装置例では、装置例1及び2において、円筒状マイ
クロ波アプリケーター手段のかわりに、楕円柱状マイク
ロ波アプリケーター手段を用いた以外は同様の構成とし
たものを挙げることができる。
装置例7 本装置例では、第3図に示したごとく、装置例2で示
した堆積膜形成用のマイクロ波プラズマCVD装置に帯状
部材101の送り出し及び巻き取り用の真空容器301及び30
2をガスゲート321及び322を用いて接続した装置を挙げ
ることができる。
300は隔離容器、303は帯状部材の送り出し用ボビン、
304は帯状部材の巻き取り用ボビンであり、図中矢印方
向に帯状部材が搬送される。もちろんこれは逆転させて
搬送することもできる。また、真空容器301、302中には
帯状部材の表面保護用に用いられる合紙の巻き取り、及
び送り込み手段を配設しても良い。前記合紙の材質とし
ては、耐熱性樹脂であるポリイミド系、テフロン系及び
グラスウール等が好ましく用いられる。306、307は張力
調整及び帯状部材の位置出しを兼ねた搬送用ローラーで
ある。312、313は帯状部材の予備加熱又は冷却用に用い
られる温度調整機構である。307、308、309は排気量調
整用のスロツトルバルブ、310、311、320は排気管であ
り、それぞれ不図示の排気ポンプに接続されている。31
4、315は圧力計、また、316、317はゲートガス導入管、
318、319はゲートガス排気管であり、不図示の排気ポン
プによりゲートガス及び/又は堆積膜形成用原料ガスが
排気される。
装置例8 本装置例では、第4図に示したごとく、装置例7で示
した装置に、更に2台のマイクロ波プラズマCVD法によ
る堆積膜形成装置の内蔵された隔離容器300−a、300−
bを両側に接続して、積層型デバイスを作製できるよう
に構成したものを挙げることができる。
図中a及びbの符号をつけたものは、基本的には隔離
容器300中で用いられたものと同様の効果を有する機構
である。
401、402、403、404は各々ガスゲート、405、406、40
7、408は各々ゲートガス導入管、409、410、411、412は
各々ゲートガス排気管である。
装置例9,10 装置例7及び8においてマイクロ波アプリケーター20
0を装置例3又は4で用いた角柱状のマイクロ波アプリ
ケーターに変えた以外は同様の構成としたものを挙げる
ことができる。
装置例11,12 装置例7及び8においてマイクロ波アプリケーターを
装置例5又は6で用いた楕円柱状のマイクロ波アプリケ
ーターに変えた以外は同様の構成としたものを挙げるこ
とができる。
装置例13 本装置例では第5図に示したごとく、装置例7で示し
た装置に、更に2台の従来法であるRFプラズマCVD装置
を両側に接続して、積層型デバイスを作製できるように
構成したものを挙げることができる。
ここで、501、502は真空容器、503、504はRF印加用カ
ソード電極、505、506はガス導入管兼ヒーター、507、5
08は基板加熱用ハロゲンランプ、509、510はアノード電
極、511、512は排気管である。
装置例14,15 本装置例では、装置例1及び2で示した装置におい
て、比較的幅の狭い帯状部材を用いた場合として、マイ
クロ波アプリケーターを成膜室の片側一方の端面のみに
配設したものを挙げることができる。ただし、この場合
にはもう一方の端面にはマイクロ波漏洩防止用の金網、
パンチングボード、金属薄板等が設けられる。
その他の装置例 例えば、装置例8において、堆積膜形成用の隔離容器
300、300−a、300−bで上述した種々の形状のマイク
ロ波アプリケーターを組み合わせて取り付けた装置。
また、装置例8で示した装置を2連又は3連接続した
装置、及び前述のRFプラズマCVD法による堆積膜形成手
段を混在させて接続した装置等を挙げることができる。
また、装置例1又は2で示した装置において、成膜室
の両端面に2対又はそれ以上のマイクロ波アプリケータ
ーを配設し、より大きなマイクロ波プラズマ領域を形成
させ、帯状部材の搬送送度は変えず、比較的厚膜の機能
性堆積膜を形成できるようにした装置等を挙げることが
できる。
本発明の方法及び装置によって好適に製造される半導
体デバイスの一例として太陽電池が挙げられる。その層
構成として、典型的な例を模式的に示す図を第8図
(A)乃至(D)に示す。
第8図(A)に示す例は、支持体801上に下部電極80
2、n型半導体層803、i型半導体層804、p型半導体層8
05、透明電極806及び集電電極807をこの順に堆積形成し
た光起電力素子800である。なお、本光起電力素子では
透明電極806の側より光の入射が行われることを前提と
している。
第8図(B)に示す例は、透光性の支持体801上に透
明電極806、p型半導体層805、i型半導体層804、n型
半導体層803及び下部電極802をこの順に堆積形成した光
起電力素子800′である。本光起電力素子では透光性の
支持体801の側より光の入射が行われることを前提とし
ている。
第8図(C)に示す例は、バンドギヤツプ及び/又は
層厚の異なる2種の半導体層をi層として用いたpin接
合型光起電力素子811、812を2素子積層して構成された
いわゆるタンデム型光起電力素子813である。801は支持
体であり、下部電極802、n型半導体層803、i型半導体
層804、p型半導体層805,n型半導体層808、i型半導体
層809、p型半導体層810、透明電極806及び集電電極807
がこの順に積層形成され、本光起電力素子では透明電極
806の側より光の入射が行われることを前提としてい
る。
第8図(D)に示す例は、バンドギヤツプ及び/又は
層厚の異なる3種の半導体層をi層として用いたpin接
合型光起電力素子820、821、823を3素子積層して構成
された、いわゆるトリプル型光起電力素子824である。8
01は支持体であり、下部電極802、n型半導体層803、i
型半導体層804、p型半導体層805,n型半導体層814、i
型半導体層815、p型半導体層816、n型半導体層817、
i型半導体層818、p型半導体層819、透明電極806及び
集電電極807がこの順に積層形成され、本光起電力素子
では透明電極806の側より光の入射が行われることを前
提としている。
なお、いずれの光起電力素子においてもn型半導体層
とp型半導体層とは目的に応じて各層の積層順を入れ変
えて使用することもできる。
以下、これらの光起電力素子の構成について説明す
る。
支持体 本発明において用いられる支持体801は、フレキシブ
ルであって湾曲形状を形成し得る材質のものが好適に用
いられ、導電性のものであっても、また電気絶縁性のも
のであってもよい。さらには、それらは透光性のもので
あっても、また非透光性のものであってもよいが、支持
体801の側より光入射が行われる場合には、もちろん透
光性であることが必要である。
具体的には、本発明において用いられる前記帯状部材
を挙げることでき、該帯状部材を用いることにより、作
製される太陽電池の軽量化、強度向上、運搬スペースの
低減等が図れる。
電極 本発明の光起電力素子においては、当該素子の構成形
態により適宜の電極が選択使用される。それらの電極と
しては、下部電極、上部電極(透明電極)、集電電極を
挙げることができる。(ただし、ここでいう上部電極と
は光の入射側に設けられたものを示し、下部電極とは半
導体層を挟んで上部電極に対向して設けられたものを示
すこととする。) これらの電極について以下に詳しく説明する。
(I)下部電極 本発明において用いられる下部電極802としては、上
述した支持体801の材料が透光性であるか否かによっ
て、光起電力発生用の光を照射する面が異なる故(たと
えば支持体801が金属等の非透光性の材料である場合に
は、第8図(A)で示したごとく透明電極806側から光
起電力発生用の光を照射する。)、その設置される場所
が異なる。
具体的には、第8図(A)、(C)及び(D)のよう
な層構成の場合には支持体801とn型半導体層803との間
に設けられる。しかし、支持体801が導電性である場合
には、該支持体が下部電極を兼ねることができる。ただ
し、支持体801が導電性であってもシート抵抗値が高い
場合には、電流取り出し用の低抵抗の電極として、ある
いは支持体面での反射率を高め入射光の有効利用を図る
目的で電極802を設置してもよい。
第8図(B)の場合には透光性の支持体801が用いら
れており、支持体801の側から光が入射されるので、電
流取り出し及び当該電極での光反射用の目的で、下部電
極802が支持体801と対向して半導体層を挟んで設けられ
ている。
また、支持体801として電気絶縁性のものを用いる場
合には電流取り出し用の電極として、支持体801とn型
半導体層803との間に下部電極802が設けられる。
電極材料としては、Ag、Au、Pt、Ni、Cr、Cu、Al、T
i、Zn、Mo、W等の金属又はこれらの合金が挙げられ、
これ等の金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパ
ツタリング等で形成する。また、形成された金属薄膜は
光起電力素子の出力に対して抵抗成分とならぬように配
慮されねばならず、シート抵抗値として好ましくは50Ω
以下、より好ましくは10Ω以下であることが望ましい。
下部電極802とn型半導体層803との間に、図中には示
されてはいないが、導電性酸化亜鉛等の拡散防止層を設
けても良い。該拡散防止層の効果としては電極802を構
成する金属元素がn型半導体層中へ拡散するのを防止す
るのみならず、若干の抵抗値をもたらせることで半導体
層を挟んで設けられた下部電極802と透明電極806との間
にピンホール等の欠陥で発生するシヨートを防止するこ
と、及び薄膜による多重干渉を発生させ入射された光を
光起電力素子内に閉じ込める等の効果を挙げることがで
きる。
(II)上部電極(透明電極) 本発明において用いられる透明電極806としては太陽
や白色蛍光灯等からの光を半導体層内に効率良く吸収さ
せるために光の透過率が85%以上であることが望まし
く、さらに、電気的には光起電力素子の出力に対して抵
抗成分とならぬようにシート抵抗値は100Ω以下である
ことが望ましい。このような特性を備えた材料としてSn
O2、In2O3、ZnO、CdO、Cd2SnO4、ITO(In2O3+SnO2)な
どの金属酸化物や、Au、Al、Cu等の金属を極めて薄く半
透明状に成膜した金属薄膜等が挙げられる。透明電極は
第8図(A)、(C)、(D)においてはp型半導体層
805層の上に積層され、第8図(B)においては基板801
の上に積層されるものであるため、互いの密着性の良い
ものを選ぶことが必要である。これらの作製方法として
は、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム加熱蒸着法、スパツタ
リング法、スプレー法等を用いることができ所望に応じ
て適宜選択される。
(III)集電電極 本発明において用いられる集電電極807は、透明電極8
06の表面抵抗値を低減させる目的で透明電極806上に設
けられる。電極材料としてはAg、Cr、Ni、Al、Ag、Au、
Ti、Pt、Cu、Mo、W等の金属またはこれらの合金の薄膜
が挙げられる。これらの薄膜は積層させて用いることが
できる。また、半導体層への光入射光量が十分に確保さ
れるよう、その形状及び面積が適宜設計される。
例えば、その形状は光起電力素子の受光面に対して一
様に広がり、且つ受光面積に対してその面積は好ましく
は15%以下、より好ましくは10%以下であることが望ま
しい。
また、シート抵抗値としては、好ましくは50Ω以下、
より好ましくは10Ω以下であることが望ましい。
i型半導体層 本発明によって作製される光起電力素子において好適
に用いられるi型半導体層を構成する半導体材料として
は、A−Si:H、A−Si:F、A−Si:H:F、A−SiC:H、A
−SiC:F、A−SiC:H:F、A−SiGe:H、A−SiGe:F、A−
SiGe:H:F、poly−Si:H、poly−Si:F、poly−Si:H:F等い
わゆるIV族及びIV族合金系半導体材料の他、II−VI族及
びIII−V族のいわゆる化合物半導体材料等が挙げられ
る。
p型半導体層及びn型半導体層 本発明によって作製される光起電力素子において好適
に用いられるp型又はn型半導体層を構成する半導体材
料としては、前述したi型半導体層を構成する半導体材
料に価電子制御剤をドーピングすることによって得られ
る。
〔製造例〕
以下、本発明のマイクロ波プラズマCVD装置を用いて
の具体的製造例を示すが、本発明はこれらの製造例によ
って何ら限定されるものではない。
製造例1 装置例7で示した連続式マイクロ波プラズマCVD装置
(第3図)を用い、アモルフアスシリコン膜の連続堆積
を行った。
まず、基板送り出し機構を有する真空容器301に、十
分に脱脂、洗浄を行ったSUS430BA製帯状基板(幅45cm×
長200m×厚さ0.25mm)の巻きつけられたボビン303をセ
ツトし、該基板101をガスゲート321及び隔離容器300中
の搬送機構を介して、更にガスゲート322を介し、基板
巻き取り機構を有する真空容器302まで通し、たるみの
ない程度に張力調整を行った。
そこで、各真空容器301、302及び隔離容器300を不図
示のロータリポンプで荒引きし、次いで不図示のメカニ
カルブースターポンプを起動させ10-3Torr付近まで真空
引きした後、更に温度制御機構106a、106bを用いて、帯
状部材の表面温度を250℃に保持しつつ、不図示の油拡
散ポンプ(バリアン製HS−32)にて5×10-6Torr以下ま
で真空引きした。
なお、マイクロ波アプリケーターの形状、湾曲形状及
び誘電体シートの移送条件等の条件を第8表に示した。
十分に脱ガスが行われた時点で、ガス導入管(不図
示)より、SiH4450sccm、SiF45sccm、H2130sccmを導入
し、前記油拡散ポンプに取り付けられたスロツトルバル
ブの開度を調整して隔離容器300内の圧力を5mTorrに保
持した。圧力が安定したところで、不図示の2.45GHz仕
様のマイクロ波電源より、実効パワーで)0.85kW×2の
マイクロ波を対向して一対設けられたアプリケーター10
7、108より成膜室内に放射させた。直ちに、導入された
原料ガスはプラズマ化し、プラズマ領域を形成し、該プ
ラズマ領域は支持・搬送用ローラー102、103の間隙より
隔離容器側に漏れ出ることはなかった。また、マイクロ
波の漏れも検出されなかった。
そこで、支持・搬送用ローラー102、103及び支持・搬
送用リング104、105(いずれも駆動機構は不図示)を起
動し、前記基板101の搬送スピードが)6m/minとなるよ
うに制御した。
なお、ガスゲート321、322にはゲートガス導入管31
6、317よりゲートガスとしてH2ガスを50sccm流し、排気
孔318、318より不図示の油拡散ポンプで排気し、ガスゲ
ート内圧は1mTorrとなるように制御した。
搬送を開始してから30分間、連続して堆積膜の形成を
行った。なお、長尺の基板を用いているため、本製造例
の終了後、引き続き他の堆積膜の形成を実施し、すべて
の堆積終了後、基板を冷却して取り出し、本製造例にお
いて形成された基板上の堆積膜膜厚分布を幅方向及び長
手方向について測定したところ4%以内に納まってお
り、堆積速度は平均125Å/secであった。また、その一
部を切り出し、FT−IR(パーキン・エルマー社製1720
X)を用いた反射法により赤外吸収スペクトルを測定し
たところ、2000cm-1及び630cm-1に吸収が認められA−S
i:H:F膜に特有の吸収パターンであった。更に、RHEED
(JEM−100SX、日本電子製)により膜の結晶性を評価し
たところ、ハローで、非晶質であることが判った。ま
た、金属中水素分析計(EMGA−1100、堀場製作所製)を
用いて膜中水素量を定量したところ19±2atomic%であ
った。
製造例2 製造例1において実施した堆積膜形成工程にひき続
き、用いた原料ガスの導入を止め、隔離容器300の内圧
を5×10-6Torr以下まで真空引きした後、ガス導入管
(不図示)より、SiH4130sccm、GeH480sccm、SiF43scc
m、H2100sccmを導入し、内圧を10mTorrに保持し、マイ
クロ波電力を0.5kW×2とし、搬送速度を30cm×minとし
た以外は同様の堆積膜形成条件でアモルフアスシリコン
ゲルマニウム膜の連続堆積を行った。
本製造例及び他の製造例終了後、基板を冷却して取り
出し、本製造例において形成された堆積膜の膜厚分布を
幅方向及び長手方向について測定したところ、4%以内
に納まっており、堆積速度は平均49Å/secであった。
また、その一部を切り出し、FT−IR(パーキン・エル
マー社製1720X)を用い反射法により赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、2000cm-1,1880cm-1及び630cm-1
吸収が認められ、A−SiGe:H:F膜に特有の吸収パターン
があった。更に、RHEED(JEM−100SX、日本電子製)に
より膜の結晶性を評価したところ、ハローで、非晶質で
あることが判った。また、金属中水素分析計(EMGA−11
00、堀場製作所製)を用いて膜中水素量を定量したとこ
ろ14±2atomic%であった。
製造例3 製造例1において実施した堆積膜形成工程にひき続
き、用いた原料ガスの導入を止め、隔離容器300の内圧
を5×10-6Torr以下まで真空引きした後、ガス導入管
(不図示)より、SiH4140sccm、CH420sccm、SiF45scc
m、H2300sccmを導入し、内圧を22mTorrに保持し、マイ
クロ波電力を1.1kW×2とした以外は同様の堆積膜形成
条件でアモルフアスシリコンカーバイド膜の連続堆積を
行った。
本製造例及び他の製造例終了後、基板を冷却して取り
出し、本製造例において形成された堆積膜の膜厚分布を
幅方向及び長手方向について測定したところ、5%以内
に納まっており、堆積速度は平均42Å/secであった。
また、その一部を切り出し、FT−IR(パーキン・エル
マー社製1720X)を用い、反射法により赤外吸収スペク
トルを測定したところ、2080cm-1,1250cm-1、960cm-1
777cm-1及び660cm-1に吸収が認められ、A−SiC:H:F膜
に特有の吸収パターンであった。更に、RHEED(JEM−10
0SX、日本電子製)により膜の結晶性を評価したとこ
ろ、ハローで、非晶質であることが判った。また、金属
中水素分析計(EMGA−1100、堀場製作所製)を用いて膜
中水素量を定量したところ12±2atomic%であった。
製造例4 製造例1において実施した堆積膜形成工程にひき続
き、用いた原料ガスの導入を止め、隔離容器300の内圧
を5×10-6Torr以下まで真空引きした後、ガス導入管
(不図示)より、SiH4240sccm、BF3(3000ppm、H2
釈)40sccm、SiF425scmm、H2600sccmを導入し、内圧を7
mTorrに保持し、マイクロ波電力を1.2kW×2とした以外
は同様の堆積膜形成条件でp型の微結晶シリコン膜の連
続堆積を行った。
本製造例及び他の製造例終了後、基板を冷却して取り
出し、本製造例において形成された堆積膜の膜厚分布を
幅方向及び長手方向について測定したところ、5%以内
に納まっており、堆積速度は平均60Å/secであった。
また、その一部を切り出し、FT−IR(パーキン・エル
マー社製1720X)を用い反射法により赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、2100cm-1及び630cm-1に吸収が認
められ、μC−Si:H:F膜に特有の吸収パターンであっ
た。更に、RHEED(JEM−100SX、日本電子製)により膜
の結晶性を評価したところ、リング状で、無配向の多結
晶質であることが判った。また、金属中水素分析計(EM
GA−1100、堀場製作ところ製)を用いて膜中水素量を定
量したところ3±1atomic%であった。
製造例5 製造例1において実施した堆積膜形成工程にひき続
き、用いた原料ガスの導入を止め、隔離容器300の内圧
を5×10-6Torr以下まで真空引きした後、ガス導入管
(不図示)より、SiH4320sccm、PH3(1%H2希釈)27sc
cm、SiF45sccm、H250sccmを導入し、内圧を8mTorrに保
持し、マイクロ波電力を0.8kW×2とした以外は同様の
堆積膜形成条件でn型のアモルフアスシリコン膜の連続
堆積を行った。
本製造例及び他の製造例終了後、基板を冷却して取り
出し、本製造例において形成された堆積膜の膜厚分布を
幅方向及び長手方向について測定したところ、5%以内
に納まっており、堆積速度は平均86Å/secであった。
また、その一部を切り出し、FT−IR(パーキン・エル
マー社製1720X)を用い反射法により赤外吸収スペクト
ルを測定したところ、2000cm-1及び630cm-1に吸収が認
められ、A−Si:H:F膜に特有の吸収パターンであった。
更に、RHEED(JEM−100SX、日本電子製)により膜の結
晶性を評価したところ、ハローで、非晶質であることが
判った。また、金属中水素分析計(EMGA−1100、堀場製
作所製)を用いて膜中水素量を定量したところ21±1ato
mic%であった。
製造例6 製造例1において、SUS430BA製帯状基板のかわりに、
PET(ポリエチレンテレフタレート)製帯状基板(幅45c
m×長さ100m×厚さ0.9mm)を用い、基板表面温度を210
℃とした以外は、全く同様の操作にてアモルフアシリコ
ン膜の連続堆積を行った。
基板を冷却後取り出し、まず、膜厚分布を幅方向及び
長手方向について測定したところ5%以内に納まってお
り、堆積速度は平均120Å/secであった。また、その一
部を切り出し、FT−IR(パーキン・エルマー社製1720
X)を用い、リフアレンス透過法により赤外吸収スペク
トルを測定したところ、2000cm-1及び630cm-1に吸収が
認められ、A−Si:H:F膜に特有の吸収パターンであっ
た。また、2000cm-1付近のSi−Hに帰属される吸収から
膜中水素量を定量したところ、24±2atomic%であっ
た。
更に、RHEED(JEM−100SX、日本電子製)により膜の
結晶性を評価したところ、ハローで、非晶質であること
が判った。
また、他の20箇所の部分をランダムに切り出し、それ
ぞれについてAl製くし型ギヤツプ電極(幅250μm、長
さ5mm)を抵抗加熱蒸着法にて蒸着し、AM−1光(100mw
/cm2)照射下での光電流値、及び暗中での暗電流値をHP
4140Bを用いて測定し、明導電率σp(S/cm)、及び暗導
電率σd(S/cm)を求めたところ、それぞれ(6.0±0.
5)×10-5S/cm及び(1.5±0.5)×10-11S/cmの範囲内に
納まっていた。
製造例7 本製造例においては、第7図の断面模式図に示す層構
成のシヨツトキー接合型ダイオードを第3図に示す装置
を用いて、作製した。
ここで、701は基板、702は下部電極、703はn+型半導
体層、704はノンドープの半導体層、705は金属層、70
6、707は電流取り出し用端子である。
まず、製造例1で用いたのと同様のSUS430BA製帯状基
板を連続スパツタ装置にセツトし、Cr(99.98%)電極
をターゲツトとして用いて、1300ÅのCr薄膜を堆積し、
下部電極702を形成した。
ひき続き、該帯状部材を装置例7で示した第3図の連
続堆積膜形成装置の真空容器301中の送り出し用ボビン3
03にセツトし、Cr薄膜の堆積された面を下側に向けた状
態で隔離容器300を介して、真空容器302中の巻き取り用
ボビン304にその端部を巻きつけ、たるみのないよう張
力調整を行った。
なお、本製造例における基板の湾曲形状及びマイクロ
波アプリケーター等の条件は第8表に示したのと同様と
した。
その後、不図示の排気ポンプにて、各真空容器の排気
管309、310、311を介して、製造例1と同様の荒引き、
高真空引き操作を行った。この時、帯状部材の表面温度
は250℃となるよう、温度制御機構106a、106bにより制
御した。
十分に脱ガスが行われた時点で、ガス導入管(不図
示)より、SiH4300sccm、SiF44sccm、PH3/H2(1%H2
希釈)55sccm、H240sccmを導入し、スロツトルバルブ70
9の開度を調整して、隔離容器300の内力を8mTorrに保持
し、圧力が安定したところで、直ちに不図示のマイクロ
波電源より0.8kW×2のマイクロ波を一対のマイクロ波
アプリケーター107、108より放射させた。プラズマが生
起したと同時に搬送を開始し、60cm/minの搬送スピード
で図中左側から右側方向へ搬送しつつ5分間の堆積操作
を行った。これにより、n+半導体層703としてのn+A−S
i:H:F膜が下部電極702上に形成された。
なお、この間ガスゲート321、322にはゲートガスとし
てH2を50sccm流し、排気孔318より不図示の排気ポンプ
で排気し、ガスゲート内圧は1.5mTorrとなるように制御
した。
マイクロ波の供給及び原料ガスの導入を止め、また、
帯状部材の搬送を止めてから隔離容器300の内圧を5×1
0-6Torr以下まで真空引きした後、再びガス導入管よ
り、SiH4320sccm、SiF46sccm、H260sccmを導入し、スロ
ツトルバルブ309の開度を調整して、隔離容器300の内圧
を6mTorrに保持し、圧力が安定したところで、直ちに不
図示のマイクロ波電源より0.7kW×2のマイクロ波を一
対のマイクロ波アプリケーター107、108より放射させ
た。プラズマが生起したのと同時に搬送を開始し、60cm
/minの搬送スピードで図中右側から左側方向へ逆転搬送
しつつ、5.5分間の堆積操作を行った。これにより、n+
A−Si:H:F膜上にノンドープの半導体層704としてのA
−Si:H:F膜が積層形成された。
すべての堆積操作終了後、マイクロ波の供給、原料ガ
スの供給を止め、基板の搬送を止め、十分に隔離容器30
0内の残留ガスの排気を行い、基板を冷却後取り出し
た。
該基板の10箇所をランダムにφ5mmのパーマロイ製マ
スクを密着させ、金属層705としてのAu薄膜を電子ビー
ム蒸着法にて80Å蒸着した。続いて、ワイヤボンダーに
て電流取り出し用端子706、707をボンデイングし、HP41
40Bを用いてダイオード特性を評価した。
その結果、ダイオード因子n=1.2±0.05、±1Vでの
整流比約6桁と良好なダイオード特性を示した。
製造例8 本製造例においては、第8図(A)の断面模式図に示
す層構成のpin型光起電力素子を第4図に示す装置を用
いて作製した。
該光起電力素子は、基板801上に下部電極802、n型半
導体層803、i型半導体層804、p型半導体層805、透明
電極806及び集電電極807をこの順に堆積形成した光起電
力素子800である。なお、本光起電力素子では透明電極8
06の側より光の入射が行われることを前提としている。
まず、製造例6で用いたのと同様のPET製帯状基板を
連続スパツタ装置にセツトし、Ag(99.99%)電極をタ
ーゲツトとして用いて1000ÅのAg薄膜を、また連続して
ZnO(99.999%)電極をターゲツトとして用いて1.2μm
のZnO薄膜をスパツタ蒸着し、下部電極802を形成した。
ひき続き、該下部電極802の形成された帯状基板を第
4図で示した連続堆積膜形成装置に、製造例7で行った
のと同様の容量でセツトした。この時の隔離容器300内
における基板の湾曲形状及び誘電体シート移送条件等の
条件を第9表に示す。
また、隔離容器300−a、300−bにおいては、第10表
に示す堆積膜形成条件でn型A−Si:H:F膜及びp+型μc
−Si:H:F膜の形成を行った。
まず、各々の成膜室内でマイクロ波プラズマを生起さ
せ、放電等が安定したところで帯状部材101を搬送スピ
ード55cm/minで図中左側から右側方向へ搬送させ、連続
して、n、i、p型半導体層を積層形成した。
帯状部材101の全長に亘って半導体層を積層形成した
後、冷却後取り出し、更に、連続モジユール化装置にて
35cm×70cmの太陽電池モジユールを連続作製した。
作製した太陽電池モジユールについて、AM1.5(100mW
/cm2)光照射下にて特性評価を行ったところ、光電変換
効率で8.3%以上が得られ、更にモジユール間の特性の
バラツキは5%以内に納まっていた。
またAM1.5(100mW/cm2)光の500時間連続照射後の光
電変換効率の初期値に対する変化率を測定したところ10
%以内に納まった。
これらのモジユールを接続して3kWの電力供給システ
ムを作製することができた。
製造例9 本製造例では、製造例8で作製したpin型光起電力素
子において、i型半導体層としてのA−Si:H:F膜のかわ
りにA−SiGe:H:F膜を用いた例を示す。
A−SiGe:H:F膜の形成は、搬送速度を52cm/min、帯状
部材の表面温度を200℃とした以外は製造例2で行った
のと同様の操作及び方法で行い、他の半導体層及びモジ
ユール化工程は製造例8と同様の操作及び方法で行い、
太陽電池モジユールを作製した。
作製した太陽電池モジユールについて、AM1.5(100mW
/cm2)光照射下にて特性評価を行ったところ、光電変換
効率で7.3%以上が得られ、更にモジユール間の特性の
バラツキは5%以内に納まっていた。
また、AM1.5(100mW/cm2)光の500時間連続照射後の
光電変換効率の初期値に対する変化率を測定したところ
10%以内に納まった。これらのモジユールを接続して3k
Wの電力供給システムを作製することができた。
製造例10 本製造例では、製造例8で作製したpin型光起電力素
子において、i型半導体層としてのA−Si:H:F膜のかわ
りにA−SiC:H:F膜を用いた例を示す。
A−SiC:H:F膜の形成は、搬送速度を48cm/min、帯状
部材の表面温度を220℃とした以外は製造例3で行った
のと同様の操作方法で行い、他の半導体層及びモジユー
ル化工程は製造例8と同様の操作及び方法で行い、太陽
電池モジユールを作製した。
作製した太陽電池モジユールについて、AM1.5(100mW
/cm2)光照射下にて特性評価を行ったところ、光電変換
効率で6.4%以上が得られ、更にモジユール間の特性の
バラツキは5%以内に納まっていた。
また、AM1.5(100mW/cm2)光の500時間連続照射後の
光電変換効率の初期値に対する変化率を測定したところ
10%以内に納まった。
これらのモジユールを接続して3kWの電力供給システ
ムを作製することができた。
製造例11 本製造例では、第11図(C)に示す層構成の光起電力
素子を作製した。作製にあたっては、第4図に示す装置
において隔離容器300−a、300、300−bと同様の構成
の隔離容器を300−a′、300′、300−b′をこの順で
ガスゲートを介して接続させた装置(不図示)を用い
た。
なお、帯状部材としては製造例1で用いたのと同様の
材質及び処理を行ったものを用い、下部セルは製造例9
で、上部セルは製造例8で作製したのと同様の層構成と
し、各半導体層の堆積膜作製条件は第11表に示した。モ
ジユール化工程は製造例8と同様の操作及び方法で行
い、太陽電池モジユールを作製した。
作製した太陽電池モジユールについて、AM1.5(100mW
/cm2)光照射下にて特性評価を行ったところ、光電変換
効率で10.3%以上が得られ、更にモジユール間の特性の
バラツキは5%以内に納まっていた。
また、AM1.5(100mW/cm2)光の500時間連続照射後の
光電変換効率の初期値に対する変化率を測定したところ
9%以内に納まった。
これらのモジユールを接続して3kWの電力供給システ
ムを作製することができた。
製造例12 本製造例では、第11図(C)に示す層構成の光起電力
素子を作製した。作製にあたっては、第4図に示す装置
において隔離容器300−a、300、300−bと同様の構成
の隔離容器を300−a′、300′、300−b′をこの順で
ガスゲートを介して接続させた装置(不図示)を用い
た。
なお、帯状部材としては製造例1で用いたのと同様の
材質及び処理を行ったものを用い、下部セルは製造例8
で、上部セルは製造例10で作製したのと同様の層構成と
し、各半導体層の堆積膜作製条件は第12表に示した。モ
ジユール化工程は製造例8と同様の操作及び方法で行
い、太陽電池モジユールを作製した。
作製した太陽電池モジユールについて、AM1.5(100mW
/cm2)光照射下にて特性評価を行ったところ、光電変換
効率で10.2%以上が得られ、更にモジユール間の特性の
バラツキは5%以内に納まっていた。
また、AM1.5(100mW/cm2)光の500時間連続照射後の
光電変換効率の初期値に対する変化率を測定したところ
9%以内に納まった。
これらのモジユールを接続して3kWの電力供給システ
ムを作製することができた。
製造例13 本製造例では、第11図(D)に示す層構成の光起電力
素子を作製した。作製にあたっては、第4図に示す装置
において隔離容器300−a、300、300−bと同様の構成
の隔離容器を300−a′、300′、300−b′をこの順で
ガスゲートを介して接続させた装置(不図示)を用い
た。
なお、帯状部材としては製造例1で用いたのと同様の
材質及び処理を行ったものを用い、下部セルは製造例9
で、中間セルは製造例8、上部セルは製造例10で作製し
たのと同様の層構成とし、各半導体層の堆積膜作製条件
は第13表に示した。モジユール化工程は製造例8と同様
の操作及び方法で行い、太陽電池モジユールを作製し
た。
作製した太陽電池モジユールについて、AM1.5(100mW
/cm2)光照射下にて特性評価を行ったところ、光電変換
効率で10.4%以上が得られ、更にモジユール間の特性の
バラツキは5%以内に納まっていた。
また、AM1.5(100mW/cm2)光の500時間連続照射後の
光電変換効率の初期値に対する変化率を測定したところ
8.5%以内に納まった。
これらのモジユールを接続して3kWの電力供給システ
ムを作製することができた。
〔発明の効果の概要〕
本発明の方法によれば、成膜空間の側壁を構成する帯
状部材を連続的に移動せしめると共に、前記成膜空間の
側壁を構成する帯状部材の幅方向、且つマイクロ波の進
行方向に対して平行な方向にマイクロ波エネルギーを放
射せしめるマイクロ波アプリケーター手段と前記マイク
ロ波エネルギーを導入するマイクロ波導入窓の表面に隣
接した可動式の誘電体製シートを連続的に移動させる手
段とを具備させ、前記成膜空間内にマイクロ波プラズマ
を閉じ込めることによって、大面積の機能性堆積膜を長
時間連続して、均一性良く形成することができる。
本発明の方法及び装置により、マイクロ波プラズマを
前記成膜空間内に閉じ込めることにより、マイクロ波プ
ラズマの安定性、再現性が向上すると共に堆積膜形成用
原料ガスの利用効率を飛躍的に高めることができる。更
に、前記帯状部材を連続して搬送させることによって、
湾曲の形状、長さ、及び搬送スピードを種々変化させる
ことによって任意の膜厚の堆積膜を大面積に亘り均一性
より、長時間連続して堆積形成できる。
本発明の方法及び装置によれば、比較的幅広で、且つ
長尺の帯状部材の表面上に長時間連続して均一性良く機
能性堆積膜を形成できる。従って、特に大面積太陽電池
の量産機として好適に用いることができる。
また、放電を止めることなく、連続して堆積膜が形成
できるため、積層型デバイス等を作製するときには良好
な界面特性が得られる。
また、低圧下での堆積膜形成が可能となり、ボリシラ
シ粉の発生を抑えられ、また、活性種のポリマリゼーシ
ヨン等も抑えられるので欠陥の減少、及び膜特性の向
上、膜特性の安定性の向上等が図れる。
従って、稼動率、歩留りの向上が図れ、安価で高効率
の太陽電池を量産化することが可能となる。
更に、本発明の方法及び装置によって作製された太陽
電池は光電変換効率が高く、且つ、長期に亘って特性劣
化の少ないものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のマイクロ波プラズマCVD装置の模式
的概略図である。第2−1図は、本発明のマイクロ波ア
プリケーター手段及び誘電体製シート移送手段の概略図
である。又、第2−2図は本発明の誘電製シート移送手
段の概略図である。第3図乃至第5図は夫々本発明の連
続式マイクロ波プラズマCVD装置の一例の全体概略図で
ある。第6図は本発明における方形導波管の取り付け角
度を説明するための断面模式図である。第7図は本発明
において作製されたシヨツトキー接合型ダイオードの断
面模式図である。第8図(A)乃至第8図(D)は、本
発明において作製されたpin型光起電力素子(シング
ル、タンデム、トリプル)の断面模式図である。第9図
は、帯状部材の処理方法を説明するための図である。第
10図は本発明におけるガスゲート手段の圧力勾配を模式
的に示した図である。 第1図乃至第9図について、 101…帯状部材、102,103…搬送用ローラー、104,105…
搬送用リング、106a〜e…温度制御機構、107,108…マ
イクロ波アプリケーター、109,110…マイクロ波導入
窓、111,112…方形導波管、113…ガス導入管、114…排
気管、115a,b…隔離通路、116…成膜室、117,118…誘電
体シート、200…マイクロ波アプリケーター、201,202…
マイクロ波導入窓、203a,b…マイクロ波整合用円板、20
4…内筒、205…外筒、206…固定用リング、207…チョー
クフランジ、208…方形導波管、209…冷却媒体、210…
Oリング、211…溝、212…メタルシール、213,214…冷
却空気導入・排出孔、215…誘電体シート、216…誘電体
シート供給ローラー、217…誘電体シート巻き取りロー
ラー、218,219…誘電体シートガイドローラー、220…シ
ヤーシ部材、221…ギヤ部材、301,302,501,502…真空容
器、303…送り出し用ボビン、304…巻き取り用ボビン、
305,306…搬送用ローラー、307,308,309…スロツトルバ
ルブ、310,311,318,319,320…排気孔、312,313…温度調
整機構、314,315…圧力計、316,317,405,406,407,408…
ゲートガス導入管、321,322,401,402,403,404…ガスゲ
ート、409,410,411,412…ゲートガス排気管、503,504…
カソード電極、505,506…ガス導入管、507,508…ハロゲ
ンランプ、509,510…アノード電極、511,512…排気管、
701,801…支持体、702,802…下部電極、703,803,808,81
4,817…n型半導体層、704,804,809,815,818…i型半導
体層、705…金属層、706,707…電流取り出し用端子、80
0,800′,811,812,820,821,823…pin接合型光起電力素
子、805,810,816,819…p型半導体層、806…上部電極、
807…集電電極、813…タンデム型光起電力素子、824…
トリプル型光起電力素子、901a…帯状部材処理室
(A)、901b…帯状部材処理室(B)、902,903,904,90
5,906…帯状部材、907a,907b…ローラー、908a,908b…
切断刃、909a,909b…溶接治具、910,911,912,913…接続
手段。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−288074(JP,A) 特開 昭62−294181(JP,A) 特開 昭59−100516(JP,A) 特開 昭59−68925(JP,A) 特開 昭61−263120(JP,A) 特開 昭63−114973(JP,A)

Claims (18)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】長手方向に帯状部材を連続的に移動せしめ
    ながら、その中途で前記移動する帯状部材を側壁とする
    柱状の成膜空間を形成し、該成膜空間内にガス供給手段
    を介して堆積膜形成用原料ガスを導入し、同時に誘電体
    製マイクロ波導入窓及び前記マイクロ波導入窓の表面に
    隣接した可動式の誘電体製のシートを連続的に移動せし
    めながらマイクロ波エネルギーを導入し、該マイクロ波
    エネルギーをマイクロ波の進行方向に対して平行な方向
    に放射させるようにしたマイクロ波アプリケーター手段
    より、該マイクロ波エネルギーを放射させてマイクロ波
    プラスマを前記成膜空間内で生起せしめ、該マイクロ波
    プラズマに曝される前記側壁を構成し連続的に移動する
    前記帯状部材の表面上に堆積膜を形成せしめることを特
    徴とするマイクロ波プラズマCVD法により大面積の機能
    性堆積膜を連続的に形成する方法。
  2. 【請求項2】前記移動する帯状部材の中途において、湾
    曲開始端形成手段と湾曲終了端形成手段とを用いて、前
    記湾曲開始端形成手段と前記湾曲終了端形成手段との間
    に前記帯状部材の長手方向に間隙を残して該帯状部材を
    湾曲させて前記成膜空間の側壁を形成する請求項1に記
    載の大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法。
  3. 【請求項3】前記帯状部材を側壁として形成される柱状
    の成膜空間の両端面のうち、片側又は両側に配設され
    る、少なくとも1つ以上の前記マイクロ波アプリケータ
    ー手段を介して、前記マイクロ波エネルギーを前記成膜
    空間内に放射させる請求項1に記載の大面積の機能性堆
    積膜を連続的に形成する方法。
  4. 【請求項4】前記マイクロ波アプリケーター手段を前記
    端面に垂直方向に配設し、前記マイクロ波エネルギーを
    前記側壁と平行な方向に放射させる請求項3に記載の大
    面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法。
  5. 【請求項5】前記誘電体製マイクロ波導入窓にて、前記
    マイクロ波アプリケーター手段と前記成膜空間との気密
    を保持させるようにする請求項1に記載の大面積の機能
    性堆積膜を連続的に形成する方法。
  6. 【請求項6】前記マイクロ波アプリケーター手段を、前
    記両端面において互いに対向して配設させる場合には、
    一方のマイクロ波アプリケーター手段より放射されるマ
    イクロ波エネルギーが他方のマイクロ波アプリケーター
    手段にて受信されないように配置する請求項3に記載の
    大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法。
  7. 【請求項7】前記柱状の成膜空間内に放射されたマイク
    ロ波エネルギーが、前記成膜空間外へ漏洩しないように
    する請求項1に記載の大面積の機能性堆積膜を連続的に
    形成する方法。
  8. 【請求項8】前記成膜空間内に導入された堆積膜形成用
    原料ガスを、前記湾曲開始端形成手段と前記湾曲終了端
    形成手段との間で前記帯状部材の長手方向に残された間
    隙より排気するようにする請求項1に記載の大面積の機
    能性堆積膜を連続的に形成する方法。
  9. 【請求項9】前記帯状部材の少なくとも一方の面には導
    電処理を施すようにする請求項1に記載の大面積の機能
    性堆積膜を連続的に形成する方法。
  10. 【請求項10】連続して移動する帯状部材上にマイクロ
    波プラズマCVD法により機能性堆積膜を連続的に形成す
    る装置であって、前記帯状部材をその長手方向に連続的
    に移動させながら、その中途で湾曲させるための湾曲部
    形成手段を介して、前記帯状部材を側壁にして形成さ
    れ、その内部を実質的に真空に保持し得る柱状の成膜室
    を有し、前記成膜室内にマイクロ波プラズマを生起させ
    るための、マイクロ波エネルギーをマイルロ波の進行方
    向に対して平行な方向に放射させるようにしたマイクロ
    波アプリケーター手段と、前記成膜室内にマイクロ波プ
    ラズマを生起させるための、マイクロ波エネルギーを導
    入するマイクロ波導入窓の表面に隣接した可動式の誘電
    体製のシートを連続的に移動させる手段と、前記成膜室
    内を排気する排気手段と、前記成膜室内に堆積膜形成用
    原料ガスを導入するための手段と、前記帯状部材を加熱
    及び/又は冷却するための温度制御手段とを備えてい
    て、前記帯状部材の前記マイクロ波プラズマに曝される
    側の表面上に、連続して堆積膜を形成するようにしたこ
    とを特徴とする機能性堆積膜の連続形成装置。
  11. 【請求項11】前記湾曲部形成手段を、少なくとも一組
    以上の湾曲開始端形成手段と湾曲終了端形成手段とで構
    成し、前記湾曲開始端形成手段と前記湾曲終了端形成手
    段とを、前記帯状部材の長手方向に間隙を残して配設す
    る請求項10に記載の機能性堆積膜の連続形成装置。
  12. 【請求項12】前記湾曲部形成手段が、少なくとも一対
    の支持・搬送用ローラーと支持・搬送用リングとで構成
    され、前記一対の支持・搬送用ローラーは前記帯状部材
    の長手方向に間隙を残して平行に配設されている請求項
    11に記載の機能性堆積膜の連続形成装置。
  13. 【請求項13】前記帯状部材を側壁として形成される柱
    状の成膜室の両端面のうち片側又は両側に、少なくとも
    1つ以上の前記マイクロ波アプリケーター手段を配設す
    る請求項10に記載の機能性堆積膜の連続形成装置。
  14. 【請求項14】前記マイクロ波アプリケーター手段を前
    記端面に垂直方向に配設する請求項13に記載の機能性堆
    積膜の連続形成装置。
  15. 【請求項15】前記帯状部材の少なくとも一方の面に導
    電性処理が施される請求項10に記載の機能性堆積膜の連
    続形成装置。
  16. 【請求項16】前記マイクロ波アプリケーター手段には
    方形及び/又は楕円導波管を介してマイクロ波エネルギ
    ーが伝送される請求項13に記載の機能性堆積膜の連続形
    成装置。
  17. 【請求項17】前記マイクロ波アプリケーター手段を前
    記成膜室の両端面において互いに対向して配設される場
    合には、前記マイクロ波アプリケーター手段に接続され
    る前記方形及び/又は楕円導波管の長辺を含む面同志、
    長軸を含む面同志、又は長辺を含む面と長軸を含む面同
    志が互いに平行とならないよう配設する請求項16に記載
    の機能性堆積膜の連続形成装置。
  18. 【請求項18】前記方形及び/又は楕円導波管の長辺を
    含む面及び/又は長軸を含む面と、前記一対の支持搬送
    用ローラーの中心軸を含む面とのなす角度が垂直となら
    ないよう配設する請求項17に記載の機能性堆積膜の連続
    形成装置。
JP2292712A 1990-10-29 1990-10-29 マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置 Expired - Fee Related JP2714247B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2292712A JP2714247B2 (ja) 1990-10-29 1990-10-29 マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
US08/295,487 US5397395A (en) 1990-10-29 1994-08-25 Method of continuously forming a large area functional deposited film by microwave PCVD and apparatus for the same
US08/351,949 US5523126A (en) 1990-10-29 1994-12-08 Method of continuously forming a large area functional deposited film by microwave PCVD

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2292712A JP2714247B2 (ja) 1990-10-29 1990-10-29 マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04164317A JPH04164317A (ja) 1992-06-10
JP2714247B2 true JP2714247B2 (ja) 1998-02-16

Family

ID=17785337

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2292712A Expired - Fee Related JP2714247B2 (ja) 1990-10-29 1990-10-29 マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置

Country Status (2)

Country Link
US (2) US5397395A (ja)
JP (1) JP2714247B2 (ja)

Families Citing this family (337)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69030140T2 (de) * 1989-06-28 1997-09-04 Canon Kk Verfahren und Anordnung zur kontinuierlichen Bildung einer durch Mikrowellen-Plasma-CVD niedergeschlagenen grossflächigen Dünnschicht
US5747208A (en) * 1992-12-28 1998-05-05 Minolta Co., Ltd. Method of using photosensitive member comprising thick photosensitive layer having a specified mobility
JP2858444B2 (ja) * 1993-10-18 1999-02-17 キヤノン株式会社 光起電力素子及びその製造法
JP2771472B2 (ja) * 1994-05-16 1998-07-02 松下電器産業株式会社 半導体装置の製造方法
JP3332700B2 (ja) * 1995-12-22 2002-10-07 キヤノン株式会社 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置
JP3555797B2 (ja) * 1996-03-11 2004-08-18 富士写真フイルム株式会社 成膜装置および成膜方法
KR100296692B1 (ko) 1996-09-10 2001-10-24 사토 도리 플라즈마cvd장치
JP2000501573A (ja) * 1996-09-24 2000-02-08 フュージョン システムズ コーポレイション サファイヤダウンストリームプラズマアッシャーにおける弗素援助型剥離及び残留物除去
US6159300A (en) 1996-12-17 2000-12-12 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus for forming non-single-crystal semiconductor thin film, method for forming non-single-crystal semiconductor thin film, and method for producing photovoltaic device
DE69720964T2 (de) * 1997-05-21 2004-02-12 Schneider (Europe) Gmbh Führungsdraht mit Druckanzeige und Verfahren zur Herstellung eines solchen Führungsdrahtes
US6054018A (en) * 1998-08-28 2000-04-25 Wisconsin Alumni Research Foundation Outside chamber sealing roller system for surface treatment gas reactors
US6082292A (en) * 1999-01-05 2000-07-04 Wisconsin Alumni Research Foundation Sealing roller system for surface treatment gas reactors
US6186090B1 (en) * 1999-03-04 2001-02-13 Energy Conversion Devices, Inc. Apparatus for the simultaneous deposition by physical vapor deposition and chemical vapor deposition and method therefor
JP3989205B2 (ja) * 2000-08-31 2007-10-10 松下電器産業株式会社 Cvd膜の形成方法
US20020073740A1 (en) * 2000-12-20 2002-06-20 Dawes Steven B. Fluorine doping a soot preform
WO2003012161A1 (en) * 2001-08-01 2003-02-13 Danieli Technology, Inc. Metal vapor coating
EP1361437A1 (en) * 2002-05-07 2003-11-12 Centre National De La Recherche Scientifique (Cnrs) A novel biological cancer marker and methods for determining the cancerous or non-cancerous phenotype of cells
US7494904B2 (en) * 2002-05-08 2009-02-24 Btu International, Inc. Plasma-assisted doping
US7432470B2 (en) 2002-05-08 2008-10-07 Btu International, Inc. Surface cleaning and sterilization
CN1278874C (zh) * 2002-05-08 2006-10-11 雷恩哈德库兹两合公司 装饰三维的大的塑料物体的方法
US7560657B2 (en) * 2002-05-08 2009-07-14 Btu International Inc. Plasma-assisted processing in a manufacturing line
US7498066B2 (en) * 2002-05-08 2009-03-03 Btu International Inc. Plasma-assisted enhanced coating
US7497922B2 (en) * 2002-05-08 2009-03-03 Btu International, Inc. Plasma-assisted gas production
US7465362B2 (en) * 2002-05-08 2008-12-16 Btu International, Inc. Plasma-assisted nitrogen surface-treatment
US20060062930A1 (en) * 2002-05-08 2006-03-23 Devendra Kumar Plasma-assisted carburizing
BR0309810A (pt) * 2002-05-08 2007-04-10 Dana Corp sistemas e método de tratamento da exaustão de motor e veìculo móvel
US7638727B2 (en) 2002-05-08 2009-12-29 Btu International Inc. Plasma-assisted heat treatment
US7445817B2 (en) * 2002-05-08 2008-11-04 Btu International Inc. Plasma-assisted formation of carbon structures
US7189940B2 (en) 2002-12-04 2007-03-13 Btu International Inc. Plasma-assisted melting
JP2010165879A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Fujifilm Corp スクライブ加工装置、及びスクライブ加工方法
US9394608B2 (en) 2009-04-06 2016-07-19 Asm America, Inc. Semiconductor processing reactor and components thereof
US8802201B2 (en) 2009-08-14 2014-08-12 Asm America, Inc. Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species
DK2590802T3 (da) * 2010-07-09 2014-10-06 Vito Nv Fremgangsmåde og indretning til plasmabehandling med atmosfærisk tryk
KR20160148721A (ko) * 2011-06-03 2016-12-26 가부시키가이샤 와콤 Cvd 장치, 및 cvd 막의 제조 방법
US9312155B2 (en) 2011-06-06 2016-04-12 Asm Japan K.K. High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules
US10854498B2 (en) 2011-07-15 2020-12-01 Asm Ip Holding B.V. Wafer-supporting device and method for producing same
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9017481B1 (en) 2011-10-28 2015-04-28 Asm America, Inc. Process feed management for semiconductor substrate processing
TWI442587B (zh) * 2011-11-11 2014-06-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 外殼面板及使用該外殼面板的電子設備
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
CN103046026B (zh) * 2012-12-25 2014-12-31 王奉瑾 采用光加热的cvd设备
US20160376700A1 (en) 2013-02-01 2016-12-29 Asm Ip Holding B.V. System for treatment of deposition reactor
US10683571B2 (en) 2014-02-25 2020-06-16 Asm Ip Holding B.V. Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same
US10167557B2 (en) 2014-03-18 2019-01-01 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same
US11015245B2 (en) 2014-03-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
FR3019708B1 (fr) * 2014-04-04 2016-05-06 Hydromecanique & Frottement Procede et dispositif pour generer un plasma excite par une energie micro-onde dans le domaine de la resonnance cyclonique electronique (rce), pour realiser un traitement de surface ou revetement autour d'un element filiforme.
US10858737B2 (en) 2014-07-28 2020-12-08 Asm Ip Holding B.V. Showerhead assembly and components thereof
US9890456B2 (en) 2014-08-21 2018-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method and system for in situ formation of gas-phase compounds
JP6233262B2 (ja) * 2014-09-30 2017-11-22 住友金属鉱山株式会社 長尺フィルムの搬送および冷却用ロール、ならびに該ロールを搭載した長尺フィルムの処理装置
US9657845B2 (en) 2014-10-07 2017-05-23 Asm Ip Holding B.V. Variable conductance gas distribution apparatus and method
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10600673B2 (en) 2015-07-07 2020-03-24 Asm Ip Holding B.V. Magnetic susceptor to baseplate seal
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US10322384B2 (en) * 2015-11-09 2019-06-18 Asm Ip Holding B.V. Counter flow mixer for process chamber
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
CN105489975A (zh) * 2016-02-02 2016-04-13 中国科学院电子学研究所 一种微波输出窗及其制造方法
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10865475B2 (en) 2016-04-21 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides and silicides
US10190213B2 (en) 2016-04-21 2019-01-29 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides
US10032628B2 (en) 2016-05-02 2018-07-24 Asm Ip Holding B.V. Source/drain performance through conformal solid state doping
US10367080B2 (en) 2016-05-02 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a germanium oxynitride film
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US10714385B2 (en) 2016-07-19 2020-07-14 Asm Ip Holding B.V. Selective deposition of tungsten
KR102532607B1 (ko) 2016-07-28 2023-05-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US10643826B2 (en) 2016-10-26 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for thermally calibrating reaction chambers
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10643904B2 (en) 2016-11-01 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10229833B2 (en) 2016-11-01 2019-03-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10134757B2 (en) 2016-11-07 2018-11-20 Asm Ip Holding B.V. Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method
KR102546317B1 (ko) 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
TWI655312B (zh) 2016-12-14 2019-04-01 荷蘭商Asm知識產權私人控股有限公司 基板處理設備
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
KR102700194B1 (ko) 2016-12-19 2024-08-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US10867788B2 (en) 2016-12-28 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en) 2017-01-10 2022-07-19 Asm Ip Holding B.V. Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US10655221B2 (en) 2017-02-09 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10529563B2 (en) 2017-03-29 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
USD876504S1 (en) 2017-04-03 2020-02-25 Asm Ip Holding B.V. Exhaust flow control ring for semiconductor deposition apparatus
KR102457289B1 (ko) 2017-04-25 2022-10-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10892156B2 (en) 2017-05-08 2021-01-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US12040200B2 (en) 2017-06-20 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
US10685834B2 (en) 2017-07-05 2020-06-16 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11018002B2 (en) 2017-07-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10541333B2 (en) 2017-07-19 2020-01-21 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US11139191B2 (en) 2017-08-09 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US10249524B2 (en) 2017-08-09 2019-04-02 Asm Ip Holding B.V. Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly
USD900036S1 (en) 2017-08-24 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Heater electrical connector and adapter
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
US11056344B2 (en) 2017-08-30 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method
KR102491945B1 (ko) 2017-08-30 2023-01-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
KR102401446B1 (ko) 2017-08-31 2022-05-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR102630301B1 (ko) 2017-09-21 2024-01-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치
US10844484B2 (en) 2017-09-22 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en) 2017-10-05 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10319588B2 (en) 2017-10-10 2019-06-11 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition
US10923344B2 (en) 2017-10-30 2021-02-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
KR102443047B1 (ko) 2017-11-16 2022-09-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US10910262B2 (en) 2017-11-16 2021-02-02 Asm Ip Holding B.V. Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure
US11022879B2 (en) 2017-11-24 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
CN111344522B (zh) 2017-11-27 2022-04-12 阿斯莫Ip控股公司 包括洁净迷你环境的装置
KR102597978B1 (ko) 2017-11-27 2023-11-06 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배치 퍼니스와 함께 사용하기 위한 웨이퍼 카세트를 보관하기 위한 보관 장치
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
CN111630203A (zh) 2018-01-19 2020-09-04 Asm Ip私人控股有限公司 通过等离子体辅助沉积来沉积间隙填充层的方法
TWI852426B (zh) 2018-01-19 2024-08-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 沈積方法
USD903477S1 (en) 2018-01-24 2020-12-01 Asm Ip Holdings B.V. Metal clamp
US11018047B2 (en) 2018-01-25 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Hybrid lift pin
USD880437S1 (en) 2018-02-01 2020-04-07 Asm Ip Holding B.V. Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
JP7124098B2 (ja) 2018-02-14 2022-08-23 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 周期的堆積プロセスにより基材上にルテニウム含有膜を堆積させる方法
US10731249B2 (en) 2018-02-15 2020-08-04 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10658181B2 (en) 2018-02-20 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en) 2018-03-16 2021-09-07 Asm Ip Holding B.V. Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US11088002B2 (en) 2018-03-29 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate rack and a substrate processing system and method
KR102501472B1 (ko) 2018-03-30 2023-02-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
TWI811348B (zh) 2018-05-08 2023-08-11 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構
US12025484B2 (en) 2018-05-08 2024-07-02 Asm Ip Holding B.V. Thin film forming method
TW202349473A (zh) 2018-05-11 2023-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於基板上形成摻雜金屬碳化物薄膜之方法及相關半導體元件結構
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
TWI840362B (zh) 2018-06-04 2024-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 水氣降低的晶圓處置腔室
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
US11499222B2 (en) 2018-06-27 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material
US11492703B2 (en) 2018-06-27 2022-11-08 Asm Ip Holding B.V. Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
KR102686758B1 (ko) 2018-06-29 2024-07-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10767789B2 (en) 2018-07-16 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components
US11053591B2 (en) 2018-08-06 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Multi-port gas injection system and reactor system including same
US10883175B2 (en) 2018-08-09 2021-01-05 Asm Ip Holding B.V. Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein
US10829852B2 (en) 2018-08-16 2020-11-10 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution device for a wafer processing apparatus
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
KR102707956B1 (ko) 2018-09-11 2024-09-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US11049751B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Asm Ip Holding B.V. Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
CN110970344B (zh) 2018-10-01 2024-10-25 Asmip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
US10847365B2 (en) 2018-10-11 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD
US10811256B2 (en) 2018-10-16 2020-10-20 Asm Ip Holding B.V. Method for etching a carbon-containing feature
KR102605121B1 (ko) 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en) 2018-10-24 2022-04-12 Asm Ip Holding B.V. Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR102748291B1 (ko) 2018-11-02 2024-12-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en) 2018-11-07 2021-06-08 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US10847366B2 (en) 2018-11-16 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10559458B1 (en) 2018-11-26 2020-02-11 Asm Ip Holding B.V. Method of forming oxynitride film
US12040199B2 (en) 2018-11-28 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
TW202037745A (zh) 2018-12-14 2020-10-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統
TWI819180B (zh) 2019-01-17 2023-10-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR102727227B1 (ko) 2019-01-22 2024-11-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN111524788B (zh) 2019-02-01 2023-11-24 Asm Ip私人控股有限公司 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
TWI838458B (zh) 2019-02-20 2024-04-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於3d nand應用中之插塞填充沉積之設備及方法
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
TWI845607B (zh) 2019-02-20 2024-06-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備
KR102638425B1 (ko) 2019-02-20 2024-02-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 내에 형성된 오목부를 충진하기 위한 방법 및 장치
TWI842826B (zh) 2019-02-22 2024-05-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備及處理基材之方法
KR20200108242A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
US11742198B2 (en) 2019-03-08 2023-08-29 Asm Ip Holding B.V. Structure including SiOCN layer and method of forming same
KR20200108243A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200116033A (ko) 2019-03-28 2020-10-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도어 개방기 및 이를 구비한 기판 처리 장치
KR20200116855A (ko) 2019-04-01 2020-10-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
US11447864B2 (en) 2019-04-19 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130118A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR20200130121A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR20200130652A (ko) 2019-05-10 2020-11-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP7612342B2 (ja) 2019-05-16 2025-01-14 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
JP7598201B2 (ja) 2019-05-16 2024-12-11 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD935572S1 (en) 2019-05-24 2021-11-09 Asm Ip Holding B.V. Gas channel plate
USD922229S1 (en) 2019-06-05 2021-06-15 Asm Ip Holding B.V. Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141002A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
USD931978S1 (en) 2019-06-27 2021-09-28 Asm Ip Holding B.V. Showerhead vacuum transport
KR20210005515A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP7499079B2 (ja) 2019-07-09 2024-06-13 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh) 2019-07-10 2021-01-12 Asm Ip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko) 2019-07-16 2021-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210010820A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
KR20210010816A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
KR20210010817A (ko) 2019-07-19 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법
TWI839544B (zh) 2019-07-19 2024-04-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法
TWI851767B (zh) 2019-07-29 2024-08-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法
CN112309899A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309900A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
KR20210015655A (ko) 2019-07-30 2021-02-10 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 방법
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
CN118422165A (zh) 2019-08-05 2024-08-02 Asm Ip私人控股有限公司 用于化学源容器的液位传感器
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
JP2021031769A (ja) 2019-08-21 2021-03-01 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
USD930782S1 (en) 2019-08-22 2021-09-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210024420A (ko) 2019-08-23 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
KR20210029090A (ko) 2019-09-04 2021-03-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR102733104B1 (ko) 2019-09-05 2024-11-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
KR20210042810A (ko) 2019-10-08 2021-04-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
TWI846953B (zh) 2019-10-08 2024-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理裝置
KR20210043460A (ko) 2019-10-10 2021-04-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체
US12009241B2 (en) 2019-10-14 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette
TWI834919B (zh) 2019-10-16 2024-03-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR20210047808A (ko) 2019-10-21 2021-04-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
KR20210050453A (ko) 2019-10-25 2021-05-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko) 2019-11-05 2021-05-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR20210062561A (ko) 2019-11-20 2021-05-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
US11450529B2 (en) 2019-11-26 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface
CN112951697A (zh) 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885693A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP7527928B2 (ja) 2019-12-02 2024-08-05 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11885013B2 (en) 2019-12-17 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming vanadium nitride layer and structure including the vanadium nitride layer
US11527403B2 (en) 2019-12-19 2022-12-13 Asm Ip Holding B.V. Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures
TW202140135A (zh) 2020-01-06 2021-11-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氣體供應總成以及閥板總成
TW202142733A (zh) 2020-01-06 2021-11-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 反應器系統、抬升銷、及處理方法
US11993847B2 (en) 2020-01-08 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Injector
KR20210093163A (ko) 2020-01-16 2021-07-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고 종횡비 피처를 형성하는 방법
KR102675856B1 (ko) 2020-01-20 2024-06-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
KR102667792B1 (ko) 2020-02-03 2024-05-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 또는 인듐 층을 포함하는 구조체를 형성하는 방법
KR20210100010A (ko) 2020-02-04 2021-08-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
KR20210103956A (ko) 2020-02-13 2021-08-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 수광 장치를 포함하는 기판 처리 장치 및 수광 장치의 교정 방법
US11781243B2 (en) 2020-02-17 2023-10-10 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon
TW202203344A (zh) 2020-02-28 2022-01-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 專用於零件清潔的系統
KR20210116249A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 록아웃 태그아웃 어셈블리 및 시스템 그리고 이의 사용 방법
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
CN113394086A (zh) 2020-03-12 2021-09-14 Asm Ip私人控股有限公司 用于制造具有目标拓扑轮廓的层结构的方法
US12173404B2 (en) 2020-03-17 2024-12-24 Asm Ip Holding B.V. Method of depositing epitaxial material, structure formed using the method, and system for performing the method
KR102755229B1 (ko) 2020-04-02 2025-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TW202146689A (zh) 2020-04-03 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法
TW202145344A (zh) 2020-04-08 2021-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
KR20210128343A (ko) 2020-04-15 2021-10-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
US11996289B2 (en) 2020-04-16 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
CN113555279A (zh) 2020-04-24 2021-10-26 Asm Ip私人控股有限公司 形成含氮化钒的层的方法及包含其的结构
TW202146831A (zh) 2020-04-24 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 垂直批式熔爐總成、及用於冷卻垂直批式熔爐之方法
JP2021172585A (ja) 2020-04-24 2021-11-01 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー バナジウム化合物を安定化するための方法および装置
KR20210134226A (ko) 2020-04-29 2021-11-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
JP2021177545A (ja) 2020-05-04 2021-11-11 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基板を処理するための基板処理システム
KR20210137395A (ko) 2020-05-07 2021-11-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 불소계 라디칼을 이용하여 반응 챔버의 인시츄 식각을 수행하기 위한 장치 및 방법
KR20210141379A (ko) 2020-05-13 2021-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
TW202146699A (zh) 2020-05-15 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成矽鍺層之方法、半導體結構、半導體裝置、形成沉積層之方法、及沉積系統
KR20210143653A (ko) 2020-05-19 2021-11-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210145078A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
KR102702526B1 (ko) 2020-05-22 2024-09-03 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 과산화수소를 사용하여 박막을 증착하기 위한 장치
TW202201602A (zh) 2020-05-29 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202212620A (zh) 2020-06-02 2022-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法
TW202218133A (zh) 2020-06-24 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
CN113871296A (zh) 2020-06-30 2021-12-31 Asm Ip私人控股有限公司 衬底处理方法
KR102707957B1 (ko) 2020-07-08 2024-09-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
KR20220010438A (ko) 2020-07-17 2022-01-25 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토리소그래피에 사용하기 위한 구조체 및 방법
TW202204662A (zh) 2020-07-20 2022-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
KR20220021863A (ko) 2020-08-14 2022-02-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
US12040177B2 (en) 2020-08-18 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes
TW202228863A (zh) 2020-08-25 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 清潔基板的方法、選擇性沉積的方法、及反應器系統
KR20220027026A (ko) 2020-08-26 2022-03-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 금속 실리콘 산화물 및 금속 실리콘 산질화물 층을 형성하기 위한 방법 및 시스템
TW202229601A (zh) 2020-08-27 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成圖案化結構的方法、操控機械特性的方法、裝置結構、及基板處理系統
TW202217045A (zh) 2020-09-10 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 沉積間隙填充流體之方法及相關系統和裝置
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
KR20220036866A (ko) 2020-09-16 2022-03-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 산화물 증착 방법
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
TW202218049A (zh) 2020-09-25 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
US12009224B2 (en) 2020-09-29 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and method for etching metal nitrides
KR20220045900A (ko) 2020-10-06 2022-04-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치
CN114293174A (zh) 2020-10-07 2022-04-08 Asm Ip私人控股有限公司 气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备
TW202229613A (zh) 2020-10-14 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 於階梯式結構上沉積材料的方法
KR20220050048A (ko) 2020-10-15 2022-04-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자의 제조 방법, 및 ether-cat을 사용하는 기판 처리 장치
KR20220053482A (ko) 2020-10-22 2022-04-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202229620A (zh) 2020-11-12 2022-08-01 特文特大學 沉積系統、用於控制反應條件之方法、沉積方法
TW202229795A (zh) 2020-11-23 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 具注入器之基板處理設備
TW202235649A (zh) 2020-11-24 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 填充間隙之方法與相關之系統及裝置
KR20220076343A (ko) 2020-11-30 2022-06-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터
TW202233884A (zh) 2020-12-14 2022-09-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成臨限電壓控制用之結構的方法
US11946137B2 (en) 2020-12-16 2024-04-02 Asm Ip Holding B.V. Runout and wobble measurement fixtures
TW202242184A (zh) 2020-12-22 2022-11-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 前驅物膠囊、前驅物容器、氣相沉積總成、及將固態前驅物裝載至前驅物容器中之方法
TW202231903A (zh) 2020-12-22 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
TW202226899A (zh) 2020-12-22 2022-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 具匹配器的電漿處理裝置
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD1023959S1 (en) 2021-05-11 2024-04-23 Asm Ip Holding B.V. Electrode for substrate processing apparatus
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate
USD1060598S1 (en) 2021-12-03 2025-02-04 Asm Ip Holding B.V. Split showerhead cover
CN114530359B (zh) * 2022-02-22 2023-04-18 电子科技大学 一种同轴多通道悬置微带线慢波结构行波管

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3814983A (en) * 1972-02-07 1974-06-04 C Weissfloch Apparatus and method for plasma generation and material treatment with electromagnetic radiation
JPS55141729A (en) * 1979-04-21 1980-11-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Ion-shower device
US4265932A (en) * 1979-08-02 1981-05-05 Hughes Aircraft Company Mobile transparent window apparatus and method for photochemical vapor deposition
JPS57133636A (en) * 1981-02-13 1982-08-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Film forming device utilizing plasma at low temperature
DE3147986C2 (de) * 1981-12-04 1992-02-27 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Vorrichtung zur Erzeugung eines Mikrowellenplasmas für die Behandlung von Substraten, insbesondere zur Plasmapolymerisation von Monomeren
US4517223A (en) * 1982-09-24 1985-05-14 Sovonics Solar Systems Method of making amorphous semiconductor alloys and devices using microwave energy
US4504518A (en) * 1982-09-24 1985-03-12 Energy Conversion Devices, Inc. Method of making amorphous semiconductor alloys and devices using microwave energy
JP2520589B2 (ja) * 1985-06-17 1996-07-31 キヤノン株式会社 Cvd法による堆積膜形成方法
US4729341A (en) * 1985-09-18 1988-03-08 Energy Conversion Devices, Inc. Method and apparatus for making electrophotographic devices
JPS63114973A (ja) * 1986-10-31 1988-05-19 Canon Inc マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜の形成装置
JPH0676664B2 (ja) * 1986-12-09 1994-09-28 キヤノン株式会社 マイクロ波プラズマcvd法による機能性堆積膜の形成装置
JPH01297141A (ja) * 1988-05-25 1989-11-30 Canon Inc マイクロ波プラズマ処理装置
US5016565A (en) * 1988-09-01 1991-05-21 Canon Kabushiki Kaisha Microwave plasma chemical vapor deposition apparatus for forming functional deposited film with means for stabilizing plasma discharge
JPH02141578A (ja) * 1988-11-24 1990-05-30 Canon Inc 堆積膜形成装置
JPH02148715A (ja) * 1988-11-29 1990-06-07 Canon Inc 半導体デバイスの連続形成装置
JPH02175878A (ja) * 1988-12-28 1990-07-09 Canon Inc 改良されたマイクロ波導入窓を有するマイクロ波プラズマcvd装置
JP2722114B2 (ja) * 1989-06-28 1998-03-04 キヤノン株式会社 マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
US5114770A (en) * 1989-06-28 1992-05-19 Canon Kabushiki Kaisha Method for continuously forming functional deposited films with a large area by a microwave plasma cvd method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04164317A (ja) 1992-06-10
US5397395A (en) 1995-03-14
US5523126A (en) 1996-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2714247B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JP2824808B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する装置
US5714010A (en) Process for continuously forming a large area functional deposited film by a microwave PCVD method and an apparatus suitable for practicing the same
JP2810532B2 (ja) 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置
JP3101330B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法による大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JP2722114B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
US20090266704A1 (en) Sputtering Method and Sputtering Apparatus, and Electronic Device Manufacturing Method
JP2722115B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JP3262899B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JP2810533B2 (ja) 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置
JP2810529B2 (ja) 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置
JP3255903B2 (ja) 堆積膜形成方法および堆積膜形成装置
JP2962840B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JP3181121B2 (ja) 堆積膜形成方法
JP2819031B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JP3235896B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積 膜を連続的に形成する方法及び装置
JP2810531B2 (ja) 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置
JP3554314B2 (ja) 堆積膜形成方法
JP2819030B2 (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JPH06216039A (ja) マイクロ波プラズマcvd装置
JPH0330421A (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JPH0372083A (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積膜を連続的に形成する方法及び装置
JPH06244118A (ja) マイクロ波プラズマcvd法により大面積の機能性堆積 膜を連続的に形成する方法及び装置
JP2000101115A (ja) 光起電力素子の製造方法
JPH05190461A (ja) 機能性堆積膜の連続形成方法および装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees