JP2656762B2 - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents
半導体装置およびその製造方法Info
- Publication number
- JP2656762B2 JP2656762B2 JP7251550A JP25155095A JP2656762B2 JP 2656762 B2 JP2656762 B2 JP 2656762B2 JP 7251550 A JP7251550 A JP 7251550A JP 25155095 A JP25155095 A JP 25155095A JP 2656762 B2 JP2656762 B2 JP 2656762B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pellet
- bonding
- resin tape
- island
- wire
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4899—Auxiliary members for wire connectors, e.g. flow-barriers, reinforcing structures, spacers, alignment aids
- H01L2224/48996—Auxiliary members for wire connectors, e.g. flow-barriers, reinforcing structures, spacers, alignment aids being formed on an item to be connected not being a semiconductor or solid-state body
- H01L2224/48997—Reinforcing structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85001—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector involving a temporary auxiliary member not forming part of the bonding apparatus, e.g. removable or sacrificial coating, film or substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85009—Pre-treatment of the connector or the bonding area
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85909—Post-treatment of the connector or wire bonding area
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85909—Post-treatment of the connector or wire bonding area
- H01L2224/8592—Applying permanent coating, e.g. protective coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85909—Post-treatment of the connector or wire bonding area
- H01L2224/85951—Forming additional members, e.g. for reinforcing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85986—Specific sequence of steps, e.g. repetition of manufacturing steps, time sequence
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01004—Beryllium [Be]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置およびそ
の製造方法に関し、特にボンディングワイヤでボンディ
ングされた樹脂封止型の半導体装置およびその製造方法
に関する。
の製造方法に関し、特にボンディングワイヤでボンディ
ングされた樹脂封止型の半導体装置およびその製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体装置の一例が特開平4−2
13844号公報に開示されている。この半導体装置
は、図4および図5に示すように、結線されたボンディ
ングワイヤ4のリード3側先端部を樹脂テープリード接
着層6の塗布された樹脂テープ5で押え固定する。この
ように構成することによって、樹脂テープ5によりリー
ド3のボンディング部を保護する為リード3の面とボン
ディングワイヤ4との剥離と、封入樹脂10の封止が完
了する迄の間のリード3の変形を防止できるというもの
である。
13844号公報に開示されている。この半導体装置
は、図4および図5に示すように、結線されたボンディ
ングワイヤ4のリード3側先端部を樹脂テープリード接
着層6の塗布された樹脂テープ5で押え固定する。この
ように構成することによって、樹脂テープ5によりリー
ド3のボンディング部を保護する為リード3の面とボン
ディングワイヤ4との剥離と、封入樹脂10の封止が完
了する迄の間のリード3の変形を防止できるというもの
である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体装置
では、接着層を介して樹脂テープでボンディングワイヤ
の結線部を固定しているので、樹脂封止時に外力によっ
て樹脂テープからボンディングワイヤが抜けるという欠
点がある。
では、接着層を介して樹脂テープでボンディングワイヤ
の結線部を固定しているので、樹脂封止時に外力によっ
て樹脂テープからボンディングワイヤが抜けるという欠
点がある。
【0004】また、ボンディングワイヤを樹脂テープが
押さえる面積が限られているので接着強度を高めること
が難かしいという欠点もある。
押さえる面積が限られているので接着強度を高めること
が難かしいという欠点もある。
【0005】本発明の目的は、樹脂テープとボンディン
グワイヤの接着強度が高く、樹脂テープからボンディン
グワイヤが抜けることがない接続信頼性の高い半導体装
置およびその製造方法を提供することにある。
グワイヤの接着強度が高く、樹脂テープからボンディン
グワイヤが抜けることがない接続信頼性の高い半導体装
置およびその製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
アイランドと、このアイランド上に搭載されたペレット
と、前記アイランドの周囲に配置された複数のリード
と、前記ペレットと前記複数のリードとを接続するボン
ディングワイヤと、熱によって溶解させてその中にこの
ボンディングワイヤの先端部をとり込む樹脂テープと、
この樹脂テープを前記複数のリードに接着する樹脂テー
プリード接着層と前記ペレットを前記アイランドに接着
するペレット接着層とを有することを特徴とする。
アイランドと、このアイランド上に搭載されたペレット
と、前記アイランドの周囲に配置された複数のリード
と、前記ペレットと前記複数のリードとを接続するボン
ディングワイヤと、熱によって溶解させてその中にこの
ボンディングワイヤの先端部をとり込む樹脂テープと、
この樹脂テープを前記複数のリードに接着する樹脂テー
プリード接着層と前記ペレットを前記アイランドに接着
するペレット接着層とを有することを特徴とする。
【0007】本発明の半導体装置の製造方法は、ワイヤ
固定用基板上にペレットを載置しこのペレットにボンデ
ィングワイヤをボンディングする工程と、このボンディ
ングワイヤの周囲の前記ワイヤ固定用基板上に樹脂テー
プを載置する工程と、前記ワイヤ固定用基板に熱を加え
て前記樹脂テープを溶解し前記ボンディングワイヤの端
部をとり込み固定する工程と、吸引アームにて前記ペレ
ットと溶解された前記樹脂テープを前記ワイヤ固定用基
板から剥離する工程と、剥離した前記ペレットと前記溶
解された樹脂テープをそれぞれペレット接着層が形成さ
れた前記アイランドと樹脂テープリード接着層が形成さ
れた前記複数のリードと位置合わせさせる工程と、前記
アイランドに前記ペレットを、前記複数のリードに前記
溶解された樹脂テープをそれぞれ前記ペレット接着層と
前記樹脂テープリード接着層を介して接着する工程とを
含むことを特徴とする。
固定用基板上にペレットを載置しこのペレットにボンデ
ィングワイヤをボンディングする工程と、このボンディ
ングワイヤの周囲の前記ワイヤ固定用基板上に樹脂テー
プを載置する工程と、前記ワイヤ固定用基板に熱を加え
て前記樹脂テープを溶解し前記ボンディングワイヤの端
部をとり込み固定する工程と、吸引アームにて前記ペレ
ットと溶解された前記樹脂テープを前記ワイヤ固定用基
板から剥離する工程と、剥離した前記ペレットと前記溶
解された樹脂テープをそれぞれペレット接着層が形成さ
れた前記アイランドと樹脂テープリード接着層が形成さ
れた前記複数のリードと位置合わせさせる工程と、前記
アイランドに前記ペレットを、前記複数のリードに前記
溶解された樹脂テープをそれぞれ前記ペレット接着層と
前記樹脂テープリード接着層を介して接着する工程とを
含むことを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態について
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
【0009】図1は本発明の実施の形態の半導体装置の
一例の要部斜視図、図2は本発明の実施の形態の半導体
装置の一例の断面図である。本発明の実施の形態の半導
体装置の一例は、図1および図2に示すように、アイラ
ンド1と、アイランド1上に搭載されたペレット2と、
アイランド1の周囲に配置された複数のリード3と、ペ
レット2とリード3を接続するボンディングワイヤ4と
熱によって溶解させてその中にボンディングワイヤ4の
先端部を取り込む樹脂テープ5と、この樹脂テープ5を
リード3に接着する樹脂テープリード接着層6と前記ペ
レット2をアイランド1に接着するペレット接着層9と
を有して構成されている。
一例の要部斜視図、図2は本発明の実施の形態の半導体
装置の一例の断面図である。本発明の実施の形態の半導
体装置の一例は、図1および図2に示すように、アイラ
ンド1と、アイランド1上に搭載されたペレット2と、
アイランド1の周囲に配置された複数のリード3と、ペ
レット2とリード3を接続するボンディングワイヤ4と
熱によって溶解させてその中にボンディングワイヤ4の
先端部を取り込む樹脂テープ5と、この樹脂テープ5を
リード3に接着する樹脂テープリード接着層6と前記ペ
レット2をアイランド1に接着するペレット接着層9と
を有して構成されている。
【0010】図3(a)〜(f)は本発明の実施の形態
の半導体装置の製造方法の一例を説明する工程順に示し
た断面図である。本発明の実施の形態の半導体装置の製
造方法の一例は、まず、図3(a)に示すように、ワイ
ヤ固定用基板7上にペレット2を載置しペレット2にボ
ンディングワイヤ4にてボンディングを実施する。次
に、図3(b)に示すように、ボンディングワイヤ4の
周囲のワイヤ固定用基板7上に樹脂テープ5を載置す
る。次に、図3(c)に示すように、ワイヤ固定用基板
7に熱を加えて樹脂テープ5を溶解しボンディングワイ
ヤ4の端部をとり込み固定する。次に、図3(d)に示
すように、吸着アーム8にてペレット2と溶解された樹
脂テープ5をワイヤ固定用基板7から剥離する。次に、
図3(e)に示すようにペレット接着層9が形成された
アイランド1上にペレット2を、樹脂テープリード接着
層6が形成された複数のリード3上に溶解された樹脂テ
ープ5をそれぞれ位置合わせさせる。次に、図3(f)
に示すように、アイランド1にペレット2を、複数のリ
ード3に溶解された樹脂テープ5をそれぞれペレット接
着層9と樹脂テープリード接着層6を介して接着する。
の半導体装置の製造方法の一例を説明する工程順に示し
た断面図である。本発明の実施の形態の半導体装置の製
造方法の一例は、まず、図3(a)に示すように、ワイ
ヤ固定用基板7上にペレット2を載置しペレット2にボ
ンディングワイヤ4にてボンディングを実施する。次
に、図3(b)に示すように、ボンディングワイヤ4の
周囲のワイヤ固定用基板7上に樹脂テープ5を載置す
る。次に、図3(c)に示すように、ワイヤ固定用基板
7に熱を加えて樹脂テープ5を溶解しボンディングワイ
ヤ4の端部をとり込み固定する。次に、図3(d)に示
すように、吸着アーム8にてペレット2と溶解された樹
脂テープ5をワイヤ固定用基板7から剥離する。次に、
図3(e)に示すようにペレット接着層9が形成された
アイランド1上にペレット2を、樹脂テープリード接着
層6が形成された複数のリード3上に溶解された樹脂テ
ープ5をそれぞれ位置合わせさせる。次に、図3(f)
に示すように、アイランド1にペレット2を、複数のリ
ード3に溶解された樹脂テープ5をそれぞれペレット接
着層9と樹脂テープリード接着層6を介して接着する。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、溶解した
樹脂テープでボンディングワイヤの端部をとり込むこと
により固定し、かつ樹脂テープの面積を自由に変えるこ
とを可能にしたので、接着力が向上し、ボンディングワ
イヤ抜けを防止できるという効果がある。
樹脂テープでボンディングワイヤの端部をとり込むこと
により固定し、かつ樹脂テープの面積を自由に変えるこ
とを可能にしたので、接着力が向上し、ボンディングワ
イヤ抜けを防止できるという効果がある。
【図1】本発明の実施の形態の半導体装置の一例の要部
斜視図である。
斜視図である。
【図2】本発明の実施の形態の半導体装置の一例の断面
図である。
図である。
【図3】(a)〜(f)は本発明の実施の形態の半導体
装置の製造方法の一例を説明する工程順に示した断面図
である。
装置の製造方法の一例を説明する工程順に示した断面図
である。
【図4】従来の半導体装置の一例の要部斜視図である。
【図5】従来の半導体装置の一例の断面図である。
1 アイランド 2 ペレット 3 リード 4 ボンディングワイヤ 5 樹脂テープ 6 樹脂テープリード接着層 7 ワイヤ固定用基板 8 吸着アーム 9 ペレット接着層 10 封入樹脂
Claims (2)
- 【請求項1】 アイランドと、このアイランド上に搭載
されたペレットと、前記アイランドの周囲に配置された
複数のリードと、前記ペレットと前記複数のリードとを
接続するボンディングワイヤと、熱によって溶解させて
その中にこのボンディングワイヤの先端部をとり込む樹
脂テープと、この樹脂テープを前記複数のリードに接着
する樹脂テープリード接着層と前記ペレットを前記アイ
ランドに接着するペレット接着層とを有することを特徴
とする半導体装置。 - 【請求項2】 ワイヤ固定用基板上にペレットを載置し
このペレットにボンディングワイヤをボンディングする
工程と、このボンディングワイヤの周囲の前記ワイヤ固
定用基板上に樹脂テープを載置する工程と、前記ワイヤ
固定用基板に熱を加えて前記樹脂テープを溶解し前記ボ
ンディングワイヤの端部をとり込み固定する工程と、吸
引アームにて前記ペレットと溶解された前記樹脂テープ
を前記ワイヤ固定用基板から剥離する工程と、剥離した
前記ペレットと前記溶解された樹脂テープをそれぞれペ
レット接着層が形成された前記アイランドと樹脂テープ
リード接着層が形成された前記複数のリードと位置合わ
せさせる工程と、前記アイランドに前記ペレットを、前
記複数のリードに前記溶解された樹脂テープをそれぞれ
前記ペレット接着層と前記樹脂テープリード接着層を介
して接着する工程とを含むことを特徴とする半導体装置
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7251550A JP2656762B2 (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 半導体装置およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7251550A JP2656762B2 (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 半導体装置およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0997863A JPH0997863A (ja) | 1997-04-08 |
JP2656762B2 true JP2656762B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=17224502
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7251550A Expired - Lifetime JP2656762B2 (ja) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 半導体装置およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2656762B2 (ja) |
-
1995
- 1995-09-28 JP JP7251550A patent/JP2656762B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0997863A (ja) | 1997-04-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI379367B (en) | Chip packaging method and structure thereof | |
JPH1012773A (ja) | 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 | |
JP2000003988A (ja) | リードフレームおよび半導体装置 | |
JPH01303730A (ja) | 半導体素子の実装構造とその製造方法 | |
JPH0722454A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2656762B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2716405B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2634249B2 (ja) | 半導体集積回路モジュール | |
KR100220244B1 (ko) | 솔더 범프를 이용한 스택 패키지 | |
JP2589520B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
JP3959898B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
JP2788011B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH0430563A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2944591B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP3145892B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JP2927066B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
KR100348862B1 (ko) | 반도체 패키지 제조방법 | |
KR100489115B1 (ko) | 반도체패키지 및 그 제조 방법 | |
JP2752950B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP3020093B2 (ja) | ボンディング方法 | |
JP3930949B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH01231333A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3548671B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP3115432B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH09181223A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970506 |