JP2655072B2 - 高周波信号発生器の温度試験装置 - Google Patents
高周波信号発生器の温度試験装置Info
- Publication number
- JP2655072B2 JP2655072B2 JP5652494A JP5652494A JP2655072B2 JP 2655072 B2 JP2655072 B2 JP 2655072B2 JP 5652494 A JP5652494 A JP 5652494A JP 5652494 A JP5652494 A JP 5652494A JP 2655072 B2 JP2655072 B2 JP 2655072B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coaxial cable
- frequency signal
- temperature test
- magnitude
- signal generator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、温度試験装置に関し、
特に高周波信号発生器の発生する高周波信号の大きさの
温度による変化量を測定する温度試験装置に関する。
特に高周波信号発生器の発生する高周波信号の大きさの
温度による変化量を測定する温度試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】高周波信号発生器は、その電気的動作状
態が温度に依存する特性を持てば、出力される高周波信
号の大きさはその温度毎に変化する。高周波信号発生器
の発生する高周波信号の大きさの温度による変化量を測
定することを目的とした温度試験装置がある。
態が温度に依存する特性を持てば、出力される高周波信
号の大きさはその温度毎に変化する。高周波信号発生器
の発生する高周波信号の大きさの温度による変化量を測
定することを目的とした温度試験装置がある。
【０００３】図２は、従来の温度試験装置の一例を示す
ブロック図である。温度試験槽１内部へ被試験体５とな
る高周波信号発生器が設置され、その高周波信号発生器
の出力端子６へは高周波信号が出力される。被試験体出
力端子６の高周波信号を温度試験槽外へ取り出すため、
信号取り出し用同軸ケーブル２が準備され、一端が被試
験体出力端子６に接続され、他端は温度試験槽１の外へ
引き出される。この他端側へ検波器１０が接続され、そ
の出力が表示部１２によって表示される。ここで検波器
１０は、一般に温度に依存しやすい特性を有するため、
温度検槽外部で一定の温度環境下に設置しておく必要が
ある。
ブロック図である。温度試験槽１内部へ被試験体５とな
る高周波信号発生器が設置され、その高周波信号発生器
の出力端子６へは高周波信号が出力される。被試験体出
力端子６の高周波信号を温度試験槽外へ取り出すため、
信号取り出し用同軸ケーブル２が準備され、一端が被試
験体出力端子６に接続され、他端は温度試験槽１の外へ
引き出される。この他端側へ検波器１０が接続され、そ
の出力が表示部１２によって表示される。ここで検波器
１０は、一般に温度に依存しやすい特性を有するため、
温度検槽外部で一定の温度環境下に設置しておく必要が
ある。
【０００４】温度試験槽１内部に設置された高周波信号
発生器５は、温度試験槽１により作られる温度環境下に
より、被試験体出力端子６に出力される高周波信号の大
きさに変化を生じる。この被試験体出力端子６の高周波
信号は、信号取り出し用同軸ケーブル２によって温度試
験槽外へ取り出され、その先に接続された検波器１０で
高周波信号が直流信号となり、表示部１２でその直流信
号を校正した値が高周波信号の大きさとして表示され
る。
発生器５は、温度試験槽１により作られる温度環境下に
より、被試験体出力端子６に出力される高周波信号の大
きさに変化を生じる。この被試験体出力端子６の高周波
信号は、信号取り出し用同軸ケーブル２によって温度試
験槽外へ取り出され、その先に接続された検波器１０で
高周波信号が直流信号となり、表示部１２でその直流信
号を校正した値が高周波信号の大きさとして表示され
る。
【０００５】これらの動作により、温度試験槽の設定す
る温度毎に表示部で示される信号の大きさを読むこと
で、被試験体の高周波信号発生器の発生する高周波信号
の大きさの温度による変化量を測定することが可能とな
る。
る温度毎に表示部で示される信号の大きさを読むこと
で、被試験体の高周波信号発生器の発生する高周波信号
の大きさの温度による変化量を測定することが可能とな
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この従来の温度試験装
置では、温度試験槽内部の高周波信号発生器と温度試験
槽外部の検波器の接続に信号取り出し用同軸ケーブルを
用いるため、被試験体出力端子での高周波信号の大きさ
を知るには、この同軸ケーブルを高周波信号が通過する
ことで生じる損失量を、表示部で示される測定値に対し
補正する必要がある。
置では、温度試験槽内部の高周波信号発生器と温度試験
槽外部の検波器の接続に信号取り出し用同軸ケーブルを
用いるため、被試験体出力端子での高周波信号の大きさ
を知るには、この同軸ケーブルを高周波信号が通過する
ことで生じる損失量を、表示部で示される測定値に対し
補正する必要がある。
【０００７】また、この同軸ケーブルは高周波信号発生
器と同様に温度試験槽内部に設置されることから、温度
によっても損失量が変化するので、温度毎にその補正の
ために損失量を補正値としてあらかじめ測定しておく必
要がある。併せて、高周波信号発生器の発生する高周波
信号の周波数毎にも損失量を測定しなければならず、準
備する補正値の数が膨大になり、補正値の取得が非常に
困難であった。
器と同様に温度試験槽内部に設置されることから、温度
によっても損失量が変化するので、温度毎にその補正の
ために損失量を補正値としてあらかじめ測定しておく必
要がある。併せて、高周波信号発生器の発生する高周波
信号の周波数毎にも損失量を測定しなければならず、準
備する補正値の数が膨大になり、補正値の取得が非常に
困難であった。
【０００８】更に、この信号取り出し用同軸ケーブルは
温度試験に繰り返して使用する中で、その経時的変化に
より、一度得た補正値の再現性が失われている問題もあ
った。
温度試験に繰り返して使用する中で、その経時的変化に
より、一度得た補正値の再現性が失われている問題もあ
った。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、信号取
り出し用同軸ケーブルについての損失量を補正値として
あらかじめ取得することを必要とせず、測定毎にリアル
タイムで信号取り出し用同軸ケーブルで生じる損失量を
検出し、補正を行い、高周波信号発生器が出力端子に出
力する高周波信号の大きさを、温度毎に測定できる温度
試験装置を提供することにある。
り出し用同軸ケーブルについての損失量を補正値として
あらかじめ取得することを必要とせず、測定毎にリアル
タイムで信号取り出し用同軸ケーブルで生じる損失量を
検出し、補正を行い、高周波信号発生器が出力端子に出
力する高周波信号の大きさを、温度毎に測定できる温度
試験装置を提供することにある。
【００１０】このため本発明の温度試験装置では従来の
温度試験装置に加えて、信号取り出し用の第１の同軸ケ
ーブルに温度試験槽外部で接続される、分岐回路と、こ
の分岐回路の一端に接続され、再び温度試験槽内部に設
置され、他端が温度試験槽外部に取り出される、第１の
同軸ケーブルと同一材質，同一構造，同一径、同一長に
構成される第２の同軸ケーブルと、この同軸ケーブル他
端および前記分岐回路の他端にそれぞれ接続される一対
の第１および第２の検波器、およびこれらの検波器で得
られた信号の大きさから高周波信号発生器の出力する高
周波信号の大きさを計算する演算部と、この計算結果を
出力する表示部とを備えている。
温度試験装置に加えて、信号取り出し用の第１の同軸ケ
ーブルに温度試験槽外部で接続される、分岐回路と、こ
の分岐回路の一端に接続され、再び温度試験槽内部に設
置され、他端が温度試験槽外部に取り出される、第１の
同軸ケーブルと同一材質，同一構造，同一径、同一長に
構成される第２の同軸ケーブルと、この同軸ケーブル他
端および前記分岐回路の他端にそれぞれ接続される一対
の第１および第２の検波器、およびこれらの検波器で得
られた信号の大きさから高周波信号発生器の出力する高
周波信号の大きさを計算する演算部と、この計算結果を
出力する表示部とを備えている。
【００１１】
【作用】第１の検波器の出力と第２の検波器の出力との
差から、第２の同軸ケーブルの損失量が求まる。第１の
同軸ケーブルと第２の同軸ケーブルとは、同一材質，同
一構造，同一径，同一長に構成されているので温度試験
槽内で与えられる損失量は同じ値となる。したがって、
第１の同軸ケーブルの損失量がわかる。これにより、高
周波信号発生器の発生する高周波信号の大きさを求め、
表示することができる。
差から、第２の同軸ケーブルの損失量が求まる。第１の
同軸ケーブルと第２の同軸ケーブルとは、同一材質，同
一構造，同一径，同一長に構成されているので温度試験
槽内で与えられる損失量は同じ値となる。したがって、
第１の同軸ケーブルの損失量がわかる。これにより、高
周波信号発生器の発生する高周波信号の大きさを求め、
表示することができる。
【００１２】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１３】図１は本発明の一実施例の温度試験装置の
ブロック図である。この温度試験装置は、試験を行う温
度試験範囲の温度環境を得ることのできる温度試験槽１
を備えている。被試験体５である高周波信号発生器は、
温度試験槽１の内部へ設置される。高周波信号発生器５
で発生する高周波信号は、被試験体出力端子６に出力さ
れる。この高周波信号を温度試験槽１の外部へ取り出す
ために、温度試験槽１内に信号取り出し用同軸ケーブル
２が設けられ、一端は被試験体出力端子６に接続され、
他端は温度試験槽１外部に設置されている分岐回路４の
分岐回路入力端子７に接続される。分岐回路４は、入力
端子７に入力された信号を、出力端子８ａ，８ｂに分岐
する構成を有している。
ブロック図である。この温度試験装置は、試験を行う温
度試験範囲の温度環境を得ることのできる温度試験槽１
を備えている。被試験体５である高周波信号発生器は、
温度試験槽１の内部へ設置される。高周波信号発生器５
で発生する高周波信号は、被試験体出力端子６に出力さ
れる。この高周波信号を温度試験槽１の外部へ取り出す
ために、温度試験槽１内に信号取り出し用同軸ケーブル
２が設けられ、一端は被試験体出力端子６に接続され、
他端は温度試験槽１外部に設置されている分岐回路４の
分岐回路入力端子７に接続される。分岐回路４は、入力
端子７に入力された信号を、出力端子８ａ，８ｂに分岐
する構成を有している。
【００１４】温度試験槽１内には、更に、損失量測定用
同軸ケーブル３が設置される。この同軸ケーブル３は、
信号取り出し用同軸ケーブル２と同一材質，同一構造，
同一径，同一長である。この同軸ケーブル３の一端は、
分岐回路４の出力端子８ｂに接続され、他端は温度試験
槽１の外部の損失量測定信号取り出し端子９に接続され
る。
同軸ケーブル３が設置される。この同軸ケーブル３は、
信号取り出し用同軸ケーブル２と同一材質，同一構造，
同一径，同一長である。この同軸ケーブル３の一端は、
分岐回路４の出力端子８ｂに接続され、他端は温度試験
槽１の外部の損失量測定信号取り出し端子９に接続され
る。
【００１５】分岐回路４の出力端子８ａへは検波器１０
ａが接続され、また損失量測定信号取り出し端子９へは
検波器１０ｂが接続される。検波器は、高周波信号を検
波して高周波信号の大きさを表す直流信号に変換する。
ａが接続され、また損失量測定信号取り出し端子９へは
検波器１０ｂが接続される。検波器は、高周波信号を検
波して高周波信号の大きさを表す直流信号に変換する。
【００１６】各検波器１０ａ，１０ｂの出力端子は、演
算部１１に接続され、演算部１１は表示部１２に接続さ
れる。演算部１１は、検波器１０ａ，１０ｂの出力する
直流信号より、高周波信号発生器５の出力端子６に出力
された高周波信号の大きさを表す直流信号を演算する。
表示部１２は、その直流信号を表示する。
算部１１に接続され、演算部１１は表示部１２に接続さ
れる。演算部１１は、検波器１０ａ，１０ｂの出力する
直流信号より、高周波信号発生器５の出力端子６に出力
された高周波信号の大きさを表す直流信号を演算する。
表示部１２は、その直流信号を表示する。
【００１７】前述したように、信号取り出し用同軸ケー
ブル２と、損失量測定用同軸ケーブル３とは、同一材
質，同一構造，同一径，同一長のものを用い、さらに、
これら両同軸ケーブルの使用繰り返し回数を同一にす
る。これは、これら両同軸ケーブルにおいて、同一の条
件で同一の損失量が生じるようにするためである。
ブル２と、損失量測定用同軸ケーブル３とは、同一材
質，同一構造，同一径，同一長のものを用い、さらに、
これら両同軸ケーブルの使用繰り返し回数を同一にす
る。これは、これら両同軸ケーブルにおいて、同一の条
件で同一の損失量が生じるようにするためである。
【００１８】以上のような構成の温度試験装置におい
て、被試験体出力端子６に出力された高周波信号は、信
号取り出し用同軸ケーブル２において、温度試験槽１に
より設定された任意の温度条件下で示す損失を与えら
れ、更に分岐回路４で分岐され２つの出力端子８ａ，８
ｂに至る。本実施例においては、被試験体出力端子６の
高周波信号の大きさをＰ6 ，分岐回路出力端子８ａでの
高周波信号の大きさをＰa，信号取り出し用同軸ケーブ
ル２で生じる損失量をＬ2 ，また分岐回路４では、損失
が生じなく、完全に信号が２分岐されるものとすれば、
デシベル表示で、 Ｐa ＝Ｐ6 −Ｌ2 −３ の関係が成り立つ。３デシベルの減衰は、分岐回路４に
よる２分岐に基因するものである。分岐回路出力端子８
ｂでの高周波信号発生器の大きさは、Ｐa に同じであ
る。
て、被試験体出力端子６に出力された高周波信号は、信
号取り出し用同軸ケーブル２において、温度試験槽１に
より設定された任意の温度条件下で示す損失を与えら
れ、更に分岐回路４で分岐され２つの出力端子８ａ，８
ｂに至る。本実施例においては、被試験体出力端子６の
高周波信号の大きさをＰ6 ，分岐回路出力端子８ａでの
高周波信号の大きさをＰa，信号取り出し用同軸ケーブ
ル２で生じる損失量をＬ2 ，また分岐回路４では、損失
が生じなく、完全に信号が２分岐されるものとすれば、
デシベル表示で、 Ｐa ＝Ｐ6 −Ｌ2 −３ の関係が成り立つ。３デシベルの減衰は、分岐回路４に
よる２分岐に基因するものである。分岐回路出力端子８
ｂでの高周波信号発生器の大きさは、Ｐa に同じであ
る。
【００１９】また、損失量測定用同軸ケーブル３で生じ
る損失量をＬ3 ，損失量測定信号取り出し端子９での高
周波信号の大きさをＰ9 とすると、デシベル表示で Ｐ9 ＝Ｐa −Ｌ3 ＝Ｐ6 −Ｌ2 −３−Ｌ3 となる。
る損失量をＬ3 ，損失量測定信号取り出し端子９での高
周波信号の大きさをＰ9 とすると、デシベル表示で Ｐ9 ＝Ｐa −Ｌ3 ＝Ｐ6 −Ｌ2 −３−Ｌ3 となる。
【００２０】これらの条件に加え、信号取り出し用同軸
ケーブル２と損失量測定用同軸ケーブル３は同一材質，
同一構造，同一径，同一長であることから、その使用さ
れる温度環境の変化による機械的伸張や収縮による歪が
同一条件で発生することになり、結果として、電気的な
損失量も同様に変化し、同じ値をとることになる。した
がって信号取り出し用同軸ケーブル２で生じる損失量Ｌ
2 と、損失量測定同軸ケーブル３で生じる損失量Ｌ
3 は、常に温度試験槽１内部に設置されることから、そ
の温度環境が変化しても相対的に等しくなり、分岐回路
出力端子８ａでの高周波信号の大きさＰa と、損失量測
定信号取り出し端子９での高周波信号の大きさＰ9 の差
が、信号取り出し用同軸ケーブル２で生じる損失量Ｌ2
となる。すなわち、 Ｐa −Ｐ9 ＝Ｌ3 （＝Ｌ2 ） である。
ケーブル２と損失量測定用同軸ケーブル３は同一材質，
同一構造，同一径，同一長であることから、その使用さ
れる温度環境の変化による機械的伸張や収縮による歪が
同一条件で発生することになり、結果として、電気的な
損失量も同様に変化し、同じ値をとることになる。した
がって信号取り出し用同軸ケーブル２で生じる損失量Ｌ
2 と、損失量測定同軸ケーブル３で生じる損失量Ｌ
3 は、常に温度試験槽１内部に設置されることから、そ
の温度環境が変化しても相対的に等しくなり、分岐回路
出力端子８ａでの高周波信号の大きさＰa と、損失量測
定信号取り出し端子９での高周波信号の大きさＰ9 の差
が、信号取り出し用同軸ケーブル２で生じる損失量Ｌ2
となる。すなわち、 Ｐa −Ｐ9 ＝Ｌ3 （＝Ｌ2 ） である。
【００２１】検波器１０ａには、分岐回路出力端子８ａ
での高周波信号が入力され、一方、検波器１０ｂには、
損失量測定信号取り出し端子９での高周波信号が入力さ
れる。検波器１０ａは、分岐回路出力端子８ａの高周波
信号を検波して、高周波信号の大きさＰa に基づく直流
信号を得る。また検波器１０ｂは、損失量測定信号取り
出し端子９の高周波信号を検波して、高周波信号の大き
さＰ6 に基づく直流信号を得る。これら検波器１０ａ，
１０ｂからの直流信号は、演算部１１に供給される。
での高周波信号が入力され、一方、検波器１０ｂには、
損失量測定信号取り出し端子９での高周波信号が入力さ
れる。検波器１０ａは、分岐回路出力端子８ａの高周波
信号を検波して、高周波信号の大きさＰa に基づく直流
信号を得る。また検波器１０ｂは、損失量測定信号取り
出し端子９の高周波信号を検波して、高周波信号の大き
さＰ6 に基づく直流信号を得る。これら検波器１０ａ，
１０ｂからの直流信号は、演算部１１に供給される。
【００２２】演算部１１では、供給された直流信号を用
いて、以下の式に相当する計算を行う。
いて、以下の式に相当する計算を行う。
【００２３】Ｐa ＋（Ｐa −Ｐ9 ）＋３ この演算により、被試験体出力端子６の高周波信号の大
きさＰ6 が求まる。
きさＰ6 が求まる。
【００２４】この演算部１１の出力は表示部１２に送ら
れ、測定者に対し、被試験体出力端子６の高周波信号の
大きさＰ6 が表示される。表示部１２で表示される高周
波信号の大きさは、信号取り出し用同軸ケーブル２で生
じる損失量が補正されている。
れ、測定者に対し、被試験体出力端子６の高周波信号の
大きさＰ6 が表示される。表示部１２で表示される高周
波信号の大きさは、信号取り出し用同軸ケーブル２で生
じる損失量が補正されている。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、分岐回路
と損失用測定用同軸ケーブルと、一対の検波器と、演算
部と、表示部を設けたので、信号取り出し用同軸ケーブ
ルで生じる温度毎の損失量を、損失量測定用同軸ケーブ
ルで生じる損失量で知ることができる。
と損失用測定用同軸ケーブルと、一対の検波器と、演算
部と、表示部を設けたので、信号取り出し用同軸ケーブ
ルで生じる温度毎の損失量を、損失量測定用同軸ケーブ
ルで生じる損失量で知ることができる。
【００２６】また、検波器で得られた信号から演算部で
被試験体出力端子での高周波信号の大きさを求め、表示
部に表示できるようにしたので、従来の温度試験装置で
行っていた信号取り出し用ケーブルの温度毎および周波
数毎での補正を行うための損失量の測定、および温度試
験の条件毎やその測定する周波数毎に測定値に対し、測
定者が前もって取得した補正値を基に補正を行いながら
測定を行う必要がなくなるという結果を有する。
被試験体出力端子での高周波信号の大きさを求め、表示
部に表示できるようにしたので、従来の温度試験装置で
行っていた信号取り出し用ケーブルの温度毎および周波
数毎での補正を行うための損失量の測定、および温度試
験の条件毎やその測定する周波数毎に測定値に対し、測
定者が前もって取得した補正値を基に補正を行いながら
測定を行う必要がなくなるという結果を有する。
【００２７】また、信号取り出し用ケーブルを繰り返し
て使用することによるあらかじめ測定しておいた補正値
の再現性が失われてくる問題についても、信号取り出し
用同軸ケーブルと、損失量測定ケーブルの使用繰り返し
回数を同一にすることで、経時変化も同一に起きるた
め、損失量を補正して測定を行うことが可能になる。
て使用することによるあらかじめ測定しておいた補正値
の再現性が失われてくる問題についても、信号取り出し
用同軸ケーブルと、損失量測定ケーブルの使用繰り返し
回数を同一にすることで、経時変化も同一に起きるた
め、損失量を補正して測定を行うことが可能になる。
【図１】本発明の実施例に係る温度試験装置のブロック
図である。
図である。
【図２】従来の温度試験装置のブロック図である。
１ 温度試験槽 ２ 信号取り出し用同軸ケーブル ３ 損失量測定用同軸ケーブル ４ 分岐回路 ５ 被試験体（高周波信号発生器） ６ 被試験体出力端子 ７ 分岐回路入力端子 ８，８ａ，８ｂ 分岐回路出力端子 ９ 損失量測定信号取り出し端子 １０，１０ａ，１０ｂ 検波器 １１ 演算部 １２ 表示部
Claims (3)
- 【請求項１】高周波信号発生器の発生する高周波信号の
大きさの温度による変化量を測定する温度試験装置にお
いて、 被試験体となる高周波信号発生器が設置され、内部温度
を任意に変化させることが可能な温度試験槽と、 この温度試験槽内に設置され、前記高周波信号発生器の
発生する高周波信号を温度試験槽外部へ出力する第１の
同軸ケーブルと、 この第１の同軸ケーブルから出力された高周波信号を温
度試験槽外部で第１の出力端子と第２の出力端子に２分
岐する分岐回路と、 前記温度試験槽内に設置され、前記分岐回路の第１の出
力端子に一端が接続され、他端が前記温度試験槽の外部
に取り出される、前記第１の同軸ケーブルと同一材質，
同一構造，同一径，同一長で構成される第２の同軸ケー
ブルと、 前記分岐回路の第２の出力端子に接続される第１の検波
器と、 前記第２の同軸ケーブルの前記他端に接続される第２の
検波器と、 前記第１および第２の検波器で得られた直流信号から高
周波信号発生器の出力する高周波信号の大きさを計算す
る演算部と、 この演算部の計算結果を出力する表示部とを備えること
を特徴とする温度試験装置。 - 【請求項２】前記第１の同軸ケーブルは、信号取り出し
用同軸ケーブルであり、前記第２の同軸ケーブルは、損
失量測定用同軸ケーブルであり、前記演算器は、前記第
１の検波器の直流信号の大きさから前記第２の検波器の
直流信号の大きさを減算して、前記損失量測定用同軸ケ
ーブルの損失量を求め、この損失量は、前記信号取り出
し用同軸ケーブルの損失量に等しいとして、前記高周波
信号発生器の出力する高周波信号の大きさを計算するこ
とを特徴とする請求項１記載の温度試験装置。 - 【請求項３】前記信号取り出し用同軸ケーブルと前記損
失量測定用同軸ケーブルとは、使用繰り返し回数を同一
にすることを特徴とする請求項２記載の温度試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5652494A JP2655072B2 (ja) | 1994-03-28 | 1994-03-28 | 高周波信号発生器の温度試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5652494A JP2655072B2 (ja) | 1994-03-28 | 1994-03-28 | 高周波信号発生器の温度試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07260856A JPH07260856A (ja) | 1995-10-13 |
| JP2655072B2 true JP2655072B2 (ja) | 1997-09-17 |
Family
ID=13029509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5652494A Expired - Fee Related JP2655072B2 (ja) | 1994-03-28 | 1994-03-28 | 高周波信号発生器の温度試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2655072B2 (ja) |
-
1994
- 1994-03-28 JP JP5652494A patent/JP2655072B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07260856A (ja) | 1995-10-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1889279B1 (en) | System and method for analyzing power flow in semiconductor plasma generation systems | |
| JPH11326413A (ja) | ネットワ―ク・アナライザにおける測定誤差補正方法 | |
| CN106771897A (zh) | 一种gis特高频局部放电信号衰减测试系统及方法 | |
| JP2006250931A (ja) | 長いテストケーブルを避けるためのｒｆケーブルテスト用の代替テスト方法 | |
| US7034546B2 (en) | Method and apparatus for measuring insertion loss of a conductor | |
| EP0216941A1 (en) | Apparatus for analysing two-channel transmission/reflection characteristics | |
| US20100010761A1 (en) | Method and device for monitoring a system | |
| US20080238441A1 (en) | Vector Network Analyzer-Noise Figure Measurement | |
| US5063353A (en) | Method for accurate measurement of transmission line impedance by correcting gross impedance for the "dribble-up" effect | |
| US6571187B1 (en) | Method for calibrating two port high frequency measurements | |
| JP2655072B2 (ja) | 高周波信号発生器の温度試験装置 | |
| JPH0779294B2 (ja) | 通信ケーブルの故障位置探知方法 | |
| US6442239B1 (en) | Telephone line longitudinal balance tester and method | |
| JP2017151027A (ja) | 平衡度推定装置およびその方法 | |
| CN215953739U (zh) | 用于电流法传导骚扰测量系统的准确性核查装置 | |
| CN108333486A (zh) | 基于标准传感器的超高频局部放电监测装置的校准方法 | |
| JP3087969B2 (ja) | 部分放電測定方法 | |
| JP3965701B2 (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
| KR100508711B1 (ko) | 전력케이블에서의 부분방전 발생위치 추정시스템 | |
| CN109490663B (zh) | 一种晶体谐振器测试系统及校准方法 | |
| JP3236770B2 (ja) | Ｃｖケーブル線路の部分放電測定方法 | |
| Thalayasingam et al. | Novel vector non-linear measurement system for intermodulation measurements | |
| JP4478879B2 (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
| KR102353314B1 (ko) | 광데이터링크 시스템을 이용한 hemp 측정 방법 및 장치, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 및 컴퓨터 프로그램 | |
| JPH0572255A (ja) | ケーブルの部分放電測定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |