JP2570123B2 - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置に関し、特
にワイヤーボンディングによって電気的に接続を行う薄
型半導体装置に関する。
にワイヤーボンディングによって電気的に接続を行う薄
型半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体装置において、半導体素子
と外部電極とを電気的に接合させる方法は、TAB方
式、ワイヤーボンディング方式等がある。TAB方式に
よる場合は、半導体素子上に設けられたバンプとTAB
テープのインナーリードを接合することで導通を実現さ
せている。ワイヤーボンディング方式による半導体装置
には、図5、図6に示すものがある。図5においてTA
Bテープ7は、デバイスホールの片側をIC固定用接着
材層9を介して、シート8で覆われている。半導体素子
1は、デバイスホールの中央にダイボンディングされ、
Auワイヤー2でワイヤーボンディングされている。ま
た、TABテープ7には、導体パターン固定接着層10
導体パターン15を有している。そして、移送成型法に
より、樹脂封止されている。さらに別の例である図6に
おいて、TABテープ7は凹型に成型されており、凹部
は中央に半導体素子1を固着し、Auワイヤー2でワイ
ヤーボンディングされている。封止樹脂3は凹部及びそ
の周辺をポッティング法により樹脂封止している。
と外部電極とを電気的に接合させる方法は、TAB方
式、ワイヤーボンディング方式等がある。TAB方式に
よる場合は、半導体素子上に設けられたバンプとTAB
テープのインナーリードを接合することで導通を実現さ
せている。ワイヤーボンディング方式による半導体装置
には、図5、図6に示すものがある。図5においてTA
Bテープ7は、デバイスホールの片側をIC固定用接着
材層9を介して、シート8で覆われている。半導体素子
1は、デバイスホールの中央にダイボンディングされ、
Auワイヤー2でワイヤーボンディングされている。ま
た、TABテープ7には、導体パターン固定接着層10
導体パターン15を有している。そして、移送成型法に
より、樹脂封止されている。さらに別の例である図6に
おいて、TABテープ7は凹型に成型されており、凹部
は中央に半導体素子1を固着し、Auワイヤー2でワイ
ヤーボンディングされている。封止樹脂3は凹部及びそ
の周辺をポッティング法により樹脂封止している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来のTAB方式
による半導体装置では、半導体素子上、あるいはインナ
ーリード部に、バンプを形成しなければならず、そのた
めには、高度な技術が必要であり、高価な設備を導入し
なければならない。図5、図6に示すワイヤーボンディ
ング方式による半導体装置は、技術的に容易で、高価な
設備も必要としない。しかし、図5に示す半導体装置で
は、移送成型法により樹脂封止を行っており、その封止
樹脂には、成型完了後、成型用金型から封止樹脂が離型
しやすい様にワックス等の離型材が添加されている。そ
のため封止樹脂と半導体素子、Auワイヤー、外部電極
との密着力が低下し、耐湿性試験において短時間で腐食
がおきやすい。また図6に示す半導体装置では凹部を熱
プレスによって成型しており、TABテープの導体パタ
ーンの近傍まで熱プレスにより凹形に成型される為、導
体パターンの位置精度を一定の範囲内に保つのが困難で
ある。また、熱プレスにより凹形に成型されたTABテ
ープの底面は、わん曲した形状になりやすく、ダイボン
ディング、ワイヤーボンディング性が劣化しやすいとい
う欠点を有している。
による半導体装置では、半導体素子上、あるいはインナ
ーリード部に、バンプを形成しなければならず、そのた
めには、高度な技術が必要であり、高価な設備を導入し
なければならない。図5、図6に示すワイヤーボンディ
ング方式による半導体装置は、技術的に容易で、高価な
設備も必要としない。しかし、図5に示す半導体装置で
は、移送成型法により樹脂封止を行っており、その封止
樹脂には、成型完了後、成型用金型から封止樹脂が離型
しやすい様にワックス等の離型材が添加されている。そ
のため封止樹脂と半導体素子、Auワイヤー、外部電極
との密着力が低下し、耐湿性試験において短時間で腐食
がおきやすい。また図6に示す半導体装置では凹部を熱
プレスによって成型しており、TABテープの導体パタ
ーンの近傍まで熱プレスにより凹形に成型される為、導
体パターンの位置精度を一定の範囲内に保つのが困難で
ある。また、熱プレスにより凹形に成型されたTABテ
ープの底面は、わん曲した形状になりやすく、ダイボン
ディング、ワイヤーボンディング性が劣化しやすいとい
う欠点を有している。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
有機系絶縁性基板上に搭載された半導体素子と、前記有
機系絶縁性基板に貼付され、TABテープを主構成部材
とする外部電極と、前記半導体素子の電極部と前記外部
電極とをボンディングするAuワイヤーとを含む半導体
装置であって、少なくとも前記半導体素子と前記Auワ
イヤーとがスクリーン印刷樹脂部材で樹脂封止されてい
ることを特徴とするものである。また、有機系絶縁性基
板の表面に絶縁ペーストを塗付し、Pdメッキ付TAB
テープを貼り付け、また半導体素子をボンディングし、
次いで半導体素子の電極部とPdメッキ付一層TABの
導体パターンとをAuワイヤーでボンディングし、これ
をスクリーン印刷によって樹脂封止することを特徴とす
る上記の半導体装置の製造方法である。
有機系絶縁性基板上に搭載された半導体素子と、前記有
機系絶縁性基板に貼付され、TABテープを主構成部材
とする外部電極と、前記半導体素子の電極部と前記外部
電極とをボンディングするAuワイヤーとを含む半導体
装置であって、少なくとも前記半導体素子と前記Auワ
イヤーとがスクリーン印刷樹脂部材で樹脂封止されてい
ることを特徴とするものである。また、有機系絶縁性基
板の表面に絶縁ペーストを塗付し、Pdメッキ付TAB
テープを貼り付け、また半導体素子をボンディングし、
次いで半導体素子の電極部とPdメッキ付一層TABの
導体パターンとをAuワイヤーでボンディングし、これ
をスクリーン印刷によって樹脂封止することを特徴とす
る上記の半導体装置の製造方法である。
【0005】
【作用】本発明においては、有機系絶縁性基板上に搭載
された半導体基板と有機系絶縁性基板に貼付されTAB
テープを主構成部材とする外部電極と半導体基板と外部
電極とをボンディングするAuワイヤーとを含む半導体
装置で、少なくとも前記半導体素子と前記ワイヤーとが
スクリーン印刷樹脂部材で樹脂封止されているもので、
薄型にでき、また、離型剤の添加を必要とせず、封止樹
脂と半導体素子、ワイヤー、リードとの密着力が低下す
ることもないので、高密着となり、高い耐湿性をえるこ
とができるものである。具体的には、半導体素子と半導
体素子を固着するための、絶縁ペーストを塗布した有機
系絶縁性基板に、半導体素子を囲む様に固着された、パ
ラジウムメッキ付一層TABと、Auワイヤーボンディ
ングにより電気的に接続された、半導体素子とパラジウ
ムメッキ付一層TABをスクリーン印刷法により、樹脂
封止した樹脂成型部材を備えているので、薄型にでき、
また、離型剤の添加を必要とせず、封止樹脂と半導体素
子、Auワイヤー、リードとの密着力が低下することも
ないので、高密着となり、高い耐湿性をえることができ
るものである。
された半導体基板と有機系絶縁性基板に貼付されTAB
テープを主構成部材とする外部電極と半導体基板と外部
電極とをボンディングするAuワイヤーとを含む半導体
装置で、少なくとも前記半導体素子と前記ワイヤーとが
スクリーン印刷樹脂部材で樹脂封止されているもので、
薄型にでき、また、離型剤の添加を必要とせず、封止樹
脂と半導体素子、ワイヤー、リードとの密着力が低下す
ることもないので、高密着となり、高い耐湿性をえるこ
とができるものである。具体的には、半導体素子と半導
体素子を固着するための、絶縁ペーストを塗布した有機
系絶縁性基板に、半導体素子を囲む様に固着された、パ
ラジウムメッキ付一層TABと、Auワイヤーボンディ
ングにより電気的に接続された、半導体素子とパラジウ
ムメッキ付一層TABをスクリーン印刷法により、樹脂
封止した樹脂成型部材を備えているので、薄型にでき、
また、離型剤の添加を必要とせず、封止樹脂と半導体素
子、Auワイヤー、リードとの密着力が低下することも
ないので、高密着となり、高い耐湿性をえることができ
るものである。
【0006】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。図1は、本発明の一実施例の半導体装置の断
面図である。また図2は本発明の一実施例の半導体装置
の製造過程を示す概略図であり、製造過程順に説明す
る。まず、図2(a)の様に、エポキシ系で主に一液性
の樹脂を、絶縁ペースト6として有機系絶縁性基板5の
表面に一定の高さに塗布する。塗布はスクリーン印刷法
で行う。次に図2(b)の様に、絶縁ペースト6を塗布
した有機系絶縁性基板5に、Pdメッキ付TABテープ
4を貼り付ける。その後図2(c)の様に半導体素子1
を絶縁ペースト6に塗布した有機系絶縁性基板5の中央
にボンディングさせる。この状態の半完成品の半導体装
置を約120℃の恒温に保たれたベーク炉に3時間入れ
て、半導体素子と、Pdメッキ付TABテープ4とガラ
エポ基板を固着させる。続いて、図2(d)の様にAu
ワイヤーで、半導体素子1の電極部とPdメッキ付一層
TAB4の導体パターンをワイヤーボンディングする。
説明する。図1は、本発明の一実施例の半導体装置の断
面図である。また図2は本発明の一実施例の半導体装置
の製造過程を示す概略図であり、製造過程順に説明す
る。まず、図2(a)の様に、エポキシ系で主に一液性
の樹脂を、絶縁ペースト6として有機系絶縁性基板5の
表面に一定の高さに塗布する。塗布はスクリーン印刷法
で行う。次に図2(b)の様に、絶縁ペースト6を塗布
した有機系絶縁性基板5に、Pdメッキ付TABテープ
4を貼り付ける。その後図2(c)の様に半導体素子1
を絶縁ペースト6に塗布した有機系絶縁性基板5の中央
にボンディングさせる。この状態の半完成品の半導体装
置を約120℃の恒温に保たれたベーク炉に3時間入れ
て、半導体素子と、Pdメッキ付TABテープ4とガラ
エポ基板を固着させる。続いて、図2(d)の様にAu
ワイヤーで、半導体素子1の電極部とPdメッキ付一層
TAB4の導体パターンをワイヤーボンディングする。
【0007】最後に、図2(e)の様に有機性絶縁性基
板5より上方をスクリーン印刷法により、主に、一液性
エポキシ樹脂である封止樹脂3を印刷し、95℃の恒温
に保たれたベーク炉に10時間入れて、封止樹脂3を固
着させる。ここで有機系絶縁基板5の厚さは200μ
m、絶縁ペーストの厚さは30μm、Pdメッキ付一層
TABテープ厚は70μm、封止樹脂厚は300μmで
半導体装置の全体厚は600μmになる。図3は、スク
リーン印刷法による樹脂封止の概略図である。ここで
は、封止樹脂3を用いてボンディング済の半完成品の半
導体装置について説明する。ボンディング済半完成品の
半導体装置をテーブル16にセットし、バキュームで固
定する。次にエポキシ系の一液性樹脂13をスクリーン
上にのせ、スキージ11を強く下方に押しながら、右か
ら左に移動させる。この時、樹脂13がスクリーンメッ
シュ12を必要量通過して半完成品の半導体装置を封止
する。スクリーン17は、樹脂で作られており、スクリ
ーンの厚さの分だけ樹脂13を塗布する。図4は、本発
明の第2の実施例の半導体装置の断面図である。ここで
は絶縁ペースト6を塗布した有機系絶縁基板5にパラジ
ウムメッキ付リードフレーム18を貼り付けている。
板5より上方をスクリーン印刷法により、主に、一液性
エポキシ樹脂である封止樹脂3を印刷し、95℃の恒温
に保たれたベーク炉に10時間入れて、封止樹脂3を固
着させる。ここで有機系絶縁基板5の厚さは200μ
m、絶縁ペーストの厚さは30μm、Pdメッキ付一層
TABテープ厚は70μm、封止樹脂厚は300μmで
半導体装置の全体厚は600μmになる。図3は、スク
リーン印刷法による樹脂封止の概略図である。ここで
は、封止樹脂3を用いてボンディング済の半完成品の半
導体装置について説明する。ボンディング済半完成品の
半導体装置をテーブル16にセットし、バキュームで固
定する。次にエポキシ系の一液性樹脂13をスクリーン
上にのせ、スキージ11を強く下方に押しながら、右か
ら左に移動させる。この時、樹脂13がスクリーンメッ
シュ12を必要量通過して半完成品の半導体装置を封止
する。スクリーン17は、樹脂で作られており、スクリ
ーンの厚さの分だけ樹脂13を塗布する。図4は、本発
明の第2の実施例の半導体装置の断面図である。ここで
は絶縁ペースト6を塗布した有機系絶縁基板5にパラジ
ウムメッキ付リードフレーム18を貼り付けている。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体装
置によれば、ワイヤーボンディングにより接続を行うに
もかかわらず薄型にできる。また、樹脂封止はスクリー
ン印刷法によって行うので、離型剤の添加を必要とせ
ず、封止樹脂と半導体素子、Auワイヤー、リードとの
密着力が低下することはないので、高密着となり、高い
耐湿性を得ることができる。さらに、TABテープを熱
プレス等で成形する必要がないので、ダイボンィング、
ワイヤーボンィング性が安定して実現できるという効果
を奏するものである。
置によれば、ワイヤーボンディングにより接続を行うに
もかかわらず薄型にできる。また、樹脂封止はスクリー
ン印刷法によって行うので、離型剤の添加を必要とせ
ず、封止樹脂と半導体素子、Auワイヤー、リードとの
密着力が低下することはないので、高密着となり、高い
耐湿性を得ることができる。さらに、TABテープを熱
プレス等で成形する必要がないので、ダイボンィング、
ワイヤーボンィング性が安定して実現できるという効果
を奏するものである。
【図1】本発明の一実施例の断面図
【図2】本発明の一実施例の半導体装置の製造過程を示
す概略図
す概略図
【図3】スクリーン印刷法による樹脂封止の概略図
【図4】本発明の第2の実施例の断面図
【図5】従来の半導体装置の例を示す図
【図6】従来の半導体装置の例を示す図
1 半導体素子 2 Auワイヤー 3 封止樹脂 4 パラジウムメッキ付一層TABテープ 5 有機系絶縁基板 6 絶縁ペースト 7 TABテープ 8 シート 9 IC固定接着層 10 導体パターン固定接着層 11 スキージ 12 スクリーンメッシュ 13 樹脂 14 吸着穴 15 導体パターン 16 テーブル
Claims (2)
- 【請求項1】有機系絶縁性基板上に搭載された半導体素
子と、前記有機系絶縁性基板に貼付され、TABテープ
を主構成部材とする外部電極と、前記半導体素子の電極
部と前記外部電極とをボンディングするAuワイヤーと
を含む半導体装置であって、少なくとも前記半導体素子
と前記Auワイヤーとがスクリーン印刷樹脂部材で樹脂
封止されていることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】有機系絶縁性基板の表面に絶縁ペーストを
塗付し、Pdメッキ付TABテープを貼り付け、また半
導体素子をボンディングし、次いで半導体素子の電極部
とPdメッキ付一層TABの導体パターンとをAuワイ
ヤーでボンディングし、これをスクリーン印刷によって
樹脂封止することを特徴とする請求項1に記載の半導体
装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5195544A JP2570123B2 (ja) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | 半導体装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5195544A JP2570123B2 (ja) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | 半導体装置及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0729931A JPH0729931A (ja) | 1995-01-31 |
JP2570123B2 true JP2570123B2 (ja) | 1997-01-08 |
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ID=16342869
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5195544A Expired - Fee Related JP2570123B2 (ja) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | 半導体装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2570123B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2666788B2 (ja) * | 1995-10-19 | 1997-10-22 | 日本電気株式会社 | チップサイズ半導体装置の製造方法 |
-
1993
- 1993-07-13 JP JP5195544A patent/JP2570123B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0729931A (ja) | 1995-01-31 |
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