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JP2023138347A - Mounting device and mounting method - Google Patents

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JP2023138347A
JP2023138347A JP2023016968A JP2023016968A JP2023138347A JP 2023138347 A JP2023138347 A JP 2023138347A JP 2023016968 A JP2023016968 A JP 2023016968A JP 2023016968 A JP2023016968 A JP 2023016968A JP 2023138347 A JP2023138347 A JP 2023138347A
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Japan
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mounting
electronic component
mounting surface
gas
nozzle
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JP2023016968A
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Japanese (ja)
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聡史 大河原
Satoshi Ogawara
洋祐 羽根
Yosuke Hane
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Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
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Publication date
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Priority to KR1020230032442A priority patent/KR102741810B1/en
Priority to TW112109302A priority patent/TW202338962A/en
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  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
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Abstract

To provide a mounting device and a mounting method that can reduce differences in bonding strength between electronic components.SOLUTION: A mounting device 1 according to an embodiment includes a mounting device 30 that mounts an electronic component 2 on a substrate 3 by aligning a mounting surface 2a of the electronic component 2 and a mounting surface 3a of the substrate 3, and a gas supply device 60 that includes a spraying portion 610 that can be inserted between the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3, which are arranged facing each other before mounting the electronic component 2 on the substrate 3, and sprays gas containing active species generated by plasma toward the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3 from the spraying portion 610 in a direction perpendicular to each of the mounting surfaces 2a and 3a.SELECTED DRAWING: Figure 7

Description

本発明は、実装装置及び実装方法に関する。 The present invention relates to a mounting apparatus and a mounting method.

半導体チップなどの電子部品を、ウェーハやトレイからピックアップし、基板の上に搬送し、基板に押し付けて実装することが行われている。 Electronic components such as semiconductor chips are picked up from wafers or trays, transported onto a substrate, and mounted by pressing them against the substrate.

ここで、電子部品を、基板に直接接合を行う、いわゆるダイレクトボンディングにおいては、基板又は電子部品の接合面を清浄化し、活性化させた上で、互いを接触させることにより接合している。例えば、特許文献1に示すように、減圧されたチャンバ内において、基板又は電子部品に対して、反応性イオンエッチングやN又はOラジカルの照射を行うことにより、基板又は電子部品の実装面を活性化させる親水化処理を行っている。なお、以下の説明では、このような親水化を活性化と表現する場合がある。 Here, in so-called direct bonding, in which electronic components are directly bonded to a substrate, the bonding surfaces of the substrate or electronic components are cleaned and activated, and then they are bonded by bringing them into contact with each other. For example, as shown in Patent Document 1, by performing reactive ion etching or irradiation with N 2 or O 2 radicals on the board or electronic component in a reduced pressure chamber, the mounting surface of the board or electronic component is removed. Hydrophilic treatment is performed to activate the In addition, in the following description, such hydrophilization may be expressed as activation.

特開2020-68379号公報Japanese Patent Application Publication No. 2020-68379

例えば、基板や電子部品を親水化するために付与される水酸基は接合強度に影響する。しかし、接合面に一旦付与された水酸基は、時間の経過と共に脱離などによって減少する。上記のような従来技術においては、親水化装置において基板を親水化し、ウェーハがウェーハシートに個片化して貼り付けられた状態やトレイに載置された状態の電子部品を複数一括で親水化処理してから、それぞれをボンディング装置まで搬送し、電子部品を1つずつ基板へ実装する。すると、水酸基を付与してから電子部品を基板へ実装するまでの時間が、電子部品毎に相違することになる。このため、一旦付与した水酸基の量が電子部品毎に異なることになり、電子部品毎に接合強度に差が発生してしまう。特に、ボンディング装置において、ウェーハシートやトレイからの供給のはじめの電子部品と終わりの電子部品とでは、水酸基付与から接合までに大きな時間差が生じることになり、電子部品の接合強度も大きく変わってしまう。このような状況は、親水化をもたらす活性化すべてにおいて同様である。 For example, hydroxyl groups added to make substrates and electronic components hydrophilic affect bonding strength. However, the hydroxyl groups once attached to the bonding surface decrease over time due to desorption, etc. In the conventional technology described above, the substrate is made hydrophilic in a hydrophilic device, and the wafer is individually attached to a wafer sheet or electronic components placed on a tray are subjected to hydrophilic treatment at once. Then, each is transported to a bonding device, and the electronic components are mounted on the board one by one. As a result, the time required from providing the hydroxyl group to mounting the electronic component on the substrate differs depending on the electronic component. For this reason, the amount of hydroxyl groups once applied differs from electronic component to electronic component, resulting in a difference in bonding strength between electronic components. In particular, in bonding equipment, there is a large time difference between the first electronic component and the last electronic component supplied from a wafer sheet or tray, from the addition of hydroxyl groups to the time of bonding, resulting in a large difference in the bonding strength of the electronic components. . This situation is similar for all activations that result in hydrophilization.

本発明の実施形態は、電子部品毎の接合強度の差を低減できる実装装置及び実装方法を提供することを目的とする。 Embodiments of the present invention aim to provide a mounting apparatus and a mounting method that can reduce differences in bonding strength between electronic components.

上記の目的を達成するために、実施形態の実装装置は、電子部品の実装面と基板の実装面とを合わせることにより、前記電子部品を前記基板に搭載する搭載装置と、前記電子部品の前記基板への搭載の前に、対向配置された前記電子部品の実装面と前記基板の実装面との間に挿入可能な吹付部を有し、プラズマにより生成された活性種を含むガスを、前記吹付部から前記電子部品の実装面と前記基板の実装面のそれぞれに向けて、各実装面に垂直な方向に吹き付けるガス供給装置と、を有する。 In order to achieve the above object, the mounting apparatus of the embodiment includes a mounting apparatus that mounts the electronic component on the board by aligning the mounting surface of the electronic component with the mounting surface of the board; Before mounting on the board, a blowing section is provided that can be inserted between the mounting surface of the electronic component and the mounting surface of the board, which are arranged to face each other, and a gas containing active species generated by plasma is supplied to the board. A gas supply device is provided that sprays a gas from a spraying unit toward each of the mounting surface of the electronic component and the mounting surface of the substrate in a direction perpendicular to each mounting surface.

実施形態の実装方法は、対向配置された電子部品の実装面と基板の実装面との間にノズルを挿入し、プラズマにより生成された活性種を含むガスを、前記ノズルから前記電子部品の実装面と前記基板の実装面のそれぞれに向けて、各実装面に垂直な方向に吹き付け、前記電子部品の実装面と前記基板の実装面とを合わせることにより、前記電子部品を前記基板に搭載する。 In the mounting method of the embodiment, a nozzle is inserted between the mounting surface of the electronic component and the mounting surface of the board, which are arranged to face each other, and a gas containing active species generated by plasma is supplied from the nozzle to the mounting surface of the electronic component. The electronic component is mounted on the board by spraying in a direction perpendicular to each mounting surface toward each of the mounting surfaces of the electronic component and the mounting surface of the board, and aligning the mounting surface of the electronic component with the mounting surface of the board. .

本発明の実施形態では、電子部品毎の接合強度の差を低減できる。 In embodiments of the present invention, differences in bonding strength between electronic components can be reduced.

実施形態の実装装置を示す正面図である。It is a front view showing a mounting device of an embodiment. 実施形態の実装装置を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a mounting apparatus according to an embodiment. 図1のA-A断面図であり、電子部品と基板が対向配置された状態を示す図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1, showing a state in which an electronic component and a board are placed facing each other. 図1のA-A断面図であり、電子部品と基板の実装面を撮像するために、撮像部がボンディングヘッドと基板ステージ間に進入している状態を示す図である。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 1, showing a state in which the imaging section has entered between the bonding head and the substrate stage in order to image the mounting surface of the electronic component and the board. 図1のA-A断面図であり、電子部品と基板の実装面にガスを吹き付けるために、吹付部がボンディングヘッドと基板ステージ間に進入している状態を示す図である。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 1, showing a state in which the spraying section has entered between the bonding head and the substrate stage in order to spray gas onto the mounting surface of the electronic component and the substrate. 図1のA-A断面図であり、ボンディングヘッドに保持された電子部品を基板上に搭載している状態を示す図である。2 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 1, showing a state in which electronic components held by a bonding head are mounted on a substrate. FIG. ガス供給装置の構成を示す一部透視側面図である。FIG. 2 is a partially transparent side view showing the configuration of the gas supply device. 実施形態による実装手順を示すフローチャートである。It is a flowchart showing the implementation procedure according to the embodiment. ガス流路及び電極を電子部品側と基板側とに別々とした変形例を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a modification in which gas flow paths and electrodes are provided separately on the electronic component side and the substrate side. 吹付部に電極を設けた変形例を示す説明図である。It is an explanatory view showing a modification in which an electrode is provided in the spray section. エアカーテンを用いた変形例を示す説明図である。It is an explanatory view showing a modification using an air curtain. ノズルが無い吹付部の変形例を示す側面図(A)、平面図(B)である。It is a side view (A) and a top view (B) which show the modification of the spray part without a nozzle. 実装面との距離が可変の吹付部の変形例を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a modification of the spraying section whose distance from the mounting surface is variable.

本発明の実施の形態(以下、本実施形態と呼ぶ)について、図面を参照して具体的に説明する。なお、図面は模式図であって、各部のサイズ、比率等は、理解を容易にするために誇張している部分を含んでいる。 An embodiment of the present invention (hereinafter referred to as the present embodiment) will be specifically described with reference to the drawings. Note that the drawings are schematic diagrams, and the sizes, proportions, etc. of each part include parts that are exaggerated for easy understanding.

[概要]
図1~図3に示すように、本実施形態の実装装置1は、電子部品2の供給装置10、ピックアップ装置20、搭載装置30、基板ステージ40、検出装置50、ガス供給装置60及び制御装置70を有する。実装装置1は、電子部品2を、供給装置10からピックアップ装置20によってピックアップして反転させて、搭載装置30に受け渡し、搭載装置30によって基板ステージ40に支持された基板3に搭載することにより実装する。この搭載の前に、位置決めして対向配置された電子部品2と基板3のそれぞれの実装面に、ガス供給装置60によって、プラズマにより生成された活性種を含むガスを吹き付ける。
[overview]
As shown in FIGS. 1 to 3, the mounting apparatus 1 of this embodiment includes a supply device 10 for electronic components 2, a pickup device 20, a mounting device 30, a substrate stage 40, a detection device 50, a gas supply device 60, and a control device. It has 70. The mounting device 1 picks up an electronic component 2 from a supply device 10 with a pickup device 20, inverts it, delivers it to a mounting device 30, and mounts it on a substrate 3 supported by a substrate stage 40 by the mounting device 30. do. Before this mounting, a gas containing active species generated by plasma is sprayed by the gas supply device 60 onto the respective mounting surfaces of the electronic component 2 and the substrate 3, which are positioned and arranged to face each other.

電子部品2は、例えば、矩形状の薄小片部品である。本実施形態では、電子部品2は、ウェーハを個片に分割した半導体チップである。半導体チップは、表裏のうち一面に半導体素子として機能する機能面を有する。この電子部品2の機能面は、電極部と絶縁部を同一面内に含み、基板3の実装面3aに実装される実装面2aである(図3参照)。基板3は、例えば、電子部品2が搭載される複数の領域が、マトリクス(行列)状に設けられた板体である。各領域は、導電部と絶縁部を同一面内に含み、電子部品2の実装面2aが実装される実装面3aである。 The electronic component 2 is, for example, a rectangular thin piece component. In this embodiment, the electronic component 2 is a semiconductor chip obtained by dividing a wafer into individual pieces. A semiconductor chip has a functional surface that functions as a semiconductor element on one of the front and back sides. The functional surface of this electronic component 2 is a mounting surface 2a that includes an electrode portion and an insulating portion within the same plane and is mounted on a mounting surface 3a of a substrate 3 (see FIG. 3). The substrate 3 is, for example, a plate body in which a plurality of areas on which the electronic components 2 are mounted are provided in a matrix. Each region includes a conductive part and an insulating part in the same plane, and is a mounting surface 3a on which the mounting surface 2a of the electronic component 2 is mounted.

[供給装置]
供給装置10は、電子部品2をピックアップ装置20へと供給する装置である。供給装置10は、ピックアップ対象の電子部品2を供給位置P1に移動させる。供給位置P1とは、ピックアップ装置20が、ピックアップ対象となる電子部品2をピックアップする位置である。供給装置10は、複数の電子部品2が貼り付けられたシート11を支持する供給ステージ12、供給ステージ12を移動させるステージ移動機構13を備える。このステージ移動機構13としては、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構によって、レール上をスライダが移動するリニアガイドを用いることができる。供給装置10は、ステージ移動機構13によって、供給ステージ12にシート11を介して支持される複数の電子部品2のうち、ピックアップ対象の電子部品2を供給位置P1に移動させる。
[Feeding device]
The supply device 10 is a device that supplies the electronic component 2 to the pickup device 20. The supply device 10 moves the electronic component 2 to be picked up to the supply position P1. The supply position P1 is a position where the pickup device 20 picks up the electronic component 2 to be picked up. The supply device 10 includes a supply stage 12 that supports a sheet 11 to which a plurality of electronic components 2 are attached, and a stage movement mechanism 13 that moves the supply stage 12. As this stage moving mechanism 13, for example, a linear guide in which a slider moves on a rail by a ball screw mechanism driven by a servo motor can be used. The supply device 10 uses the stage moving mechanism 13 to move the electronic component 2 to be picked up from among the plurality of electronic components 2 supported by the supply stage 12 via the sheet 11 to the supply position P1.

電子部品2が貼り付けられるシート11は、ここでは、図示しないウェーハリングに貼り付けられた粘着性を有するウェーハシートである。シート11上にはウェーハを個片化した複数の電子部品2がマトリクス(行列)状に配置されている。本実施形態では、電子部品2は、実装面2aが上方に露出したフェイスアップ状態で配置されているものとする。 The sheet 11 to which the electronic component 2 is attached is here an adhesive wafer sheet attached to a wafer ring (not shown). On the sheet 11, a plurality of electronic components 2 obtained by dividing a wafer into individual pieces are arranged in a matrix. In this embodiment, it is assumed that the electronic component 2 is placed face-up with the mounting surface 2a exposed upward.

供給ステージ12は、シート11が貼り付けられたウェーハリングを水平に支持する台である。つまり、供給ステージ12は、電子部品2が貼り付けられたシート11を、ウェーハリングを介して支持する。供給ステージ12は、ステージ移動機構13によって、水平方向に移動可能に設けられている。シート11は、供給ステージ12とともにステージ移動機構13に水平に支持されているため、シート11及び当該シート11に載せられた電子部品2もまた、水平方向に移動可能に設けられている。また、供給ステージ12は、シート11に代えて、複数の電子部品2が載置されているトレイを支持することも可能である。したがって、このトレイに載置される電子部品2も、ピックアップ対象となる電子部品2を供給位置P1に位置付けることができる。 The supply stage 12 is a table that horizontally supports the wafer ring to which the sheet 11 is attached. That is, the supply stage 12 supports the sheet 11 to which the electronic component 2 is attached via the wafer ring. The supply stage 12 is provided so as to be movable in the horizontal direction by a stage moving mechanism 13. Since the sheet 11 is supported horizontally by the stage moving mechanism 13 together with the supply stage 12, the sheet 11 and the electronic component 2 placed on the sheet 11 are also provided so as to be movable in the horizontal direction. Further, instead of the sheet 11, the supply stage 12 can also support a tray on which a plurality of electronic components 2 are placed. Therefore, the electronic component 2 to be picked up can also be placed on this tray at the supply position P1.

なお、図1に示すように、水平方向のうち、供給装置10と搭載装置30が並ぶ方向をX軸方向、X軸に直交する方向をY軸方向という。また、シート11の平面に直交する方向をZ軸方向または上下方向とする。但し、これらの方向は実装装置1の設置方向を限定するものではない。 As shown in FIG. 1, in the horizontal direction, the direction in which the supply device 10 and the mounting device 30 are lined up is called the X-axis direction, and the direction perpendicular to the X-axis is called the Y-axis direction. Further, the direction perpendicular to the plane of the sheet 11 is defined as the Z-axis direction or the up-down direction. However, these directions do not limit the installation direction of the mounting apparatus 1.

[ピックアップ装置]
ピックアップ装置20は、供給装置10から電子部品2をピックアップし、ピックアップした電子部品2を搭載装置30に受け渡す装置である。このピックアップ装置20は、ピックアップノズル21と、移動機構22と、反転機構23と、突き上げ機構24とを備える。
[Pickup device]
The pickup device 20 is a device that picks up the electronic component 2 from the supply device 10 and delivers the picked-up electronic component 2 to the mounting device 30. This pickup device 20 includes a pickup nozzle 21, a moving mechanism 22, a reversing mechanism 23, and a pushing up mechanism 24.

(ピックアップノズル)
ピックアップノズル21は、電子部品2を吸引して保持し、また吸引を解除して電子部品2を解放する機構である。ピックアップノズル21は、ノズル孔を備える。ノズル孔は、ピックアップノズル21の先端の吸着面に開口する。ノズル孔は真空ポンプ等を含む負圧発生回路(図示せず)と連通しており、当該回路が負圧を発生させることによって、ピックアップノズル21の吸着面に電子部品2を吸引して保持する。また、負圧を解除することで吸着面から電子部品2の保持状態を解除する。
(Pickup nozzle)
The pickup nozzle 21 is a mechanism that sucks and holds the electronic component 2 and releases the electronic component 2 by releasing the suction. The pickup nozzle 21 includes a nozzle hole. The nozzle hole opens at the suction surface at the tip of the pickup nozzle 21. The nozzle hole communicates with a negative pressure generation circuit (not shown) including a vacuum pump, etc., and by generating negative pressure, the electronic component 2 is attracted and held on the suction surface of the pickup nozzle 21. . Further, by releasing the negative pressure, the holding state of the electronic component 2 from the suction surface is released.

移動機構22は、図1及び図2に示すように、供給位置P1と受け渡し位置P2との間でピックアップノズル21を往復移動させ、また、供給位置P1及び受け渡し位置P2でピックアップノズル21を昇降させる機構である。なお、受け渡し位置P2とは、ピックアップ装置20が、供給位置P1でピックアップした電子部品2を後述する受取部として機能するボンディングヘッド31に受け渡す位置である。供給位置P1及び受け渡し位置P2は、主にXY方向の位置を意味し、必ずしもZ軸方向の位置を意味するものではない。 As shown in FIGS. 1 and 2, the moving mechanism 22 reciprocates the pickup nozzle 21 between the supply position P1 and the delivery position P2, and also raises and lowers the pickup nozzle 21 between the supply position P1 and the delivery position P2. It is a mechanism. Note that the delivery position P2 is a position where the pickup device 20 delivers the electronic component 2 picked up at the supply position P1 to a bonding head 31 functioning as a receiving section, which will be described later. The supply position P1 and the delivery position P2 mainly mean positions in the XY direction, and do not necessarily mean positions in the Z-axis direction.

(移動機構)
移動機構22は、ピックアップノズル21が取り付けられたアーム22aを有し、アーム22aを移動させることにより、ピックアップノズル21を移動させる。移動機構22は、スライド機構22b、昇降機構22fを備える。スライド機構22bは、ピックアップノズル21が取り付けられたアーム22aを移動させることにより、ピックアップノズル21を供給位置P1と受け渡し位置P2との間で往復移動させる。ここでは、スライド機構22bは、X軸方向と平行に延び、支持フレーム22cに固定されたレール22dと、レール22d上を走行するスライダ22eとを有する。スライダ22eは、図示はしないが、回転モータにより駆動されるボールねじ、リニアモータ等により駆動される。
(Moving mechanism)
The moving mechanism 22 has an arm 22a to which the pickup nozzle 21 is attached, and moves the pickup nozzle 21 by moving the arm 22a. The moving mechanism 22 includes a slide mechanism 22b and a lifting mechanism 22f. The slide mechanism 22b moves the pickup nozzle 21 back and forth between the supply position P1 and the delivery position P2 by moving the arm 22a to which the pickup nozzle 21 is attached. Here, the slide mechanism 22b includes a rail 22d that extends parallel to the X-axis direction and is fixed to a support frame 22c, and a slider 22e that runs on the rail 22d. Although not shown, the slider 22e is driven by a ball screw driven by a rotary motor, a linear motor, or the like.

昇降機構22fは、ピックアップノズル21が取り付けられたアーム22aを移動させることにより、ピックアップノズル21を上下方向に移動させる。具体的には、昇降機構22fは、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構によって、レール上をスライダが移動するリニアガイドを用いることができる。すなわち、サーボモータの駆動により、ピックアップノズル21がZ軸方向に沿って昇降する。 The lifting mechanism 22f moves the pickup nozzle 21 in the vertical direction by moving the arm 22a to which the pickup nozzle 21 is attached. Specifically, the elevating mechanism 22f can use a linear guide in which a slider moves on a rail by a ball screw mechanism driven by a servo motor. That is, the pickup nozzle 21 moves up and down along the Z-axis direction by driving the servo motor.

(反転機構)
反転機構23は、ピックアップノズル21と移動機構22の間に設けられている。反転機構23は、ここでは、ピックアップノズル21の向きを変更するモータ等の駆動源、ボールベアリング等の回転ガイドを含んでなるアクチュエータである。向きを変更するとは、上下方向に0°~180°回転させることである。
(Reversing mechanism)
The reversing mechanism 23 is provided between the pickup nozzle 21 and the moving mechanism 22. The reversing mechanism 23 is an actuator that includes a drive source such as a motor that changes the direction of the pickup nozzle 21, and a rotation guide such as a ball bearing. Changing the direction means rotating it vertically from 0° to 180°.

(突き上げ機構)
突き上げ機構24は、供給装置10のシート11の下方に設けられている。突き上げ機構24は、突き上げ体24a、バックアップ体24b及び図示しない駆動機構を有する。突き上げ体24aは、複数のブロックからなる部材である。バックアップ体24bは、突き上げ体24aが、長さ方向がZ軸方向に平行になるように設けられている。駆動機構は、バックアップ体24bに設けられ、突き上げ体24aのブロックをその内部から進出またはその内部へと退避させる。この進出または退避は、上下方向に行われる。この駆動機構は、例えば、上下方向のレールにガイドされて移動するスライダと、スライダを駆動するエアシリンダやカム機構を含む。
(Pushing up mechanism)
The push-up mechanism 24 is provided below the sheet 11 of the supply device 10. The push-up mechanism 24 includes a push-up body 24a, a backup body 24b, and a drive mechanism (not shown). The push-up body 24a is a member consisting of a plurality of blocks. The backup body 24b is provided such that the push-up body 24a has a length direction parallel to the Z-axis direction. The drive mechanism is provided in the backup body 24b, and advances or retracts the block of the push-up body 24a from inside the backup body 24b. This advance or retreat is performed in the vertical direction. This drive mechanism includes, for example, a slider that moves while being guided by vertical rails, and an air cylinder and a cam mechanism that drive the slider.

[搭載装置]
搭載装置30は、ピックアップ装置20から受け取った電子部品2を実装位置P3まで搬送し、基板3に搭載することにより実装する装置である。実装位置P3とは、電子部品2を基板3に実装する位置である。搭載装置30は、ボンディングヘッド31、ヘッド移動機構32、基板ステージ40を有する。
[Installed equipment]
The mounting device 30 is a device that carries the electronic component 2 received from the pickup device 20 to the mounting position P3, and mounts the electronic component 2 on the board 3. The mounting position P3 is a position where the electronic component 2 is mounted on the board 3. The mounting device 30 includes a bonding head 31, a head moving mechanism 32, and a substrate stage 40.

(ボンディングヘッド)
ボンディングヘッド31は、受け渡し位置P2でピックアップノズル21から電子部品2を受け取る受取部としての機能を有し、また当該電子部品2を実装位置P3で基板3に実装する装置である。ボンディングヘッド31は、電子部品2を保持し、また実装後は保持状態を解除して電子部品2を解放する。
(bonding head)
The bonding head 31 is a device that has a function as a receiving section that receives the electronic component 2 from the pickup nozzle 21 at the delivery position P2, and also mounts the electronic component 2 on the substrate 3 at the mounting position P3. The bonding head 31 holds the electronic component 2, and releases the holding state to release the electronic component 2 after mounting.

具体的には、ボンディングヘッド31は、ノズル31aを備える。ノズル31aは、電子部品2を保持し、また保持状態を解除して電子部品2を解放する。ノズル31aは、ノズル孔を備える。ノズル孔は、ノズル31aの先端の吸着面に開口する。ノズル孔は真空ポンプ等を含む負圧発生回路(図示せず)と連通しており、当該回路が負圧を発生させることによって、ノズル31aの吸着面に電子部品2を吸引して保持する。また、負圧を解除することで吸着面から電子部品2の保持状態を解除する。 Specifically, the bonding head 31 includes a nozzle 31a. The nozzle 31a holds the electronic component 2 and releases the electronic component 2 by releasing the holding state. The nozzle 31a includes a nozzle hole. The nozzle hole opens at the suction surface at the tip of the nozzle 31a. The nozzle hole communicates with a negative pressure generation circuit (not shown) including a vacuum pump, etc., and the circuit generates negative pressure to attract and hold the electronic component 2 on the suction surface of the nozzle 31a. Further, by releasing the negative pressure, the holding state of the electronic component 2 from the suction surface is released.

(ヘッド移動機構)
ヘッド移動機構32は、ボンディングヘッド31を、受け渡し位置P2と実装位置P3との間で往復移動させ、また、受け渡し位置P2及び実装位置P3で昇降させる機構である。本実施形態のヘッド移動機構32は、基板3の実装面3aに対して電子部品2の実装面2aを位置決めする位置決め機構として機能する。具体的には、ヘッド移動機構32は、スライド機構321、昇降機構322を備える。
(Head movement mechanism)
The head moving mechanism 32 is a mechanism that moves the bonding head 31 back and forth between the delivery position P2 and the mounting position P3, and also raises and lowers the bonding head 31 between the delivery position P2 and the mounting position P3. The head moving mechanism 32 of this embodiment functions as a positioning mechanism that positions the mounting surface 2a of the electronic component 2 with respect to the mounting surface 3a of the board 3. Specifically, the head moving mechanism 32 includes a slide mechanism 321 and a lifting mechanism 322.

スライド機構321は、ボンディングヘッド31を受け渡し位置P2と実装位置P3との間で往復移動させる。ここでは、スライド機構321は、X軸方向と平行に延び、支持フレーム321aに固定された2本のレール321bと、レール321b上を走行するスライダ321cとを有する。スライダ321cは、図示はしないが、回転モータにより駆動されるボールねじ、リニアモータ等により駆動される。 The slide mechanism 321 reciprocates the bonding head 31 between the transfer position P2 and the mounting position P3. Here, the slide mechanism 321 includes two rails 321b that extend parallel to the X-axis direction and are fixed to a support frame 321a, and a slider 321c that runs on the rails 321b. Although not shown, the slider 321c is driven by a ball screw driven by a rotary motor, a linear motor, or the like.

なお、図示はしないが、スライド機構321は、ボンディングヘッド31をY軸方向にスライド移動させるスライド機構を有している。このスライド機構も、Y軸方向のレールとレールを走行するスライダによって構成できる。スライダは、回転モータにより駆動されるボールねじ、リニアモータ等により駆動される。昇降機構322は、ボンディングヘッド31を上下方向に移動させる。具体的には、昇降機構322は、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構によって、レール上をスライダが移動するリニアガイドを用いることができる。すなわち、サーボモータの駆動により、ボンディングヘッド31がZ軸方向に沿って昇降する。 Although not shown, the slide mechanism 321 includes a slide mechanism that slides the bonding head 31 in the Y-axis direction. This slide mechanism can also be configured by a rail in the Y-axis direction and a slider running on the rail. The slider is driven by a ball screw driven by a rotary motor, a linear motor, or the like. The elevating mechanism 322 moves the bonding head 31 in the vertical direction. Specifically, the elevating mechanism 322 can use a linear guide in which a slider moves on a rail by a ball screw mechanism driven by a servo motor. That is, the bonding head 31 moves up and down along the Z-axis direction by driving the servo motor.

[基板ステージ]
基板ステージ40は、電子部品2を実装するための基板3を支持する台である。基板ステージ40は、ステージ移動機構41に設けられている。ステージ移動機構41は、基板ステージ40をXY平面上でスライド移動させ、基板3における電子部品2の実装予定位置を実装位置P3に位置付ける移動機構である。ステージ移動機構41は、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構によって、レール上をスライダが移動するリニアガイドを用いることができる。
[Substrate stage]
The board stage 40 is a stand that supports the board 3 on which the electronic component 2 is mounted. The substrate stage 40 is provided on a stage moving mechanism 41. The stage moving mechanism 41 is a moving mechanism that slides the board stage 40 on the XY plane and positions the scheduled mounting position of the electronic component 2 on the board 3 at the mounting position P3. The stage moving mechanism 41 can use, for example, a linear guide in which a slider moves on a rail by a ball screw mechanism driven by a servo motor.

[検出装置]
検出装置50は、実装位置P3において、実装前の電子部品2の実装面2aの位置及び基板3の実装面3aの位置を検出する(図3、図4参照)。本実施形態の検出装置50は、実装位置P3において、電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aとを撮像する撮像部50aを有する。また、検出装置50は、図示はしないが、撮像部50aにより撮像された画像を処理して、実装面2a、3aのアライメントマークの形状を抽出する画像処理部、実装面2a、3aのアライメントマークの重心、角等の点を検出することにより、両者の位置関係を認識する位置認識部を有する。この位置関係に基づいて、搭載装置30は基板3の実装面3aに対して電子部品2の実装面2aの位置を合わせてから実装する。所定の位置の検出は、撮像部50aが有する回路によって行っても、後述する制御装置70が行ってもよい。制御装置70が行う場合、検出装置50の機能の一部を、制御装置70が担う。
[Detection device]
The detection device 50 detects the position of the mounting surface 2a of the electronic component 2 before mounting and the position of the mounting surface 3a of the board 3 at the mounting position P3 (see FIGS. 3 and 4). The detection device 50 of this embodiment includes an imaging unit 50a that images the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the board 3 at the mounting position P3. Although not shown, the detection device 50 also includes an image processing unit that processes an image captured by the imaging unit 50a to extract the shapes of the alignment marks on the mounting surfaces 2a and 3a, and an image processing unit that processes the image captured by the imaging unit 50a to extract the shapes of the alignment marks on the mounting surfaces 2a and 3a. It has a position recognition unit that recognizes the positional relationship between the two by detecting points such as the center of gravity and corners of the two. Based on this positional relationship, the mounting device 30 aligns the mounting surface 2a of the electronic component 2 with the mounting surface 3a of the board 3 before mounting. Detection of the predetermined position may be performed by a circuit included in the imaging unit 50a, or may be performed by the control device 70 described later. When the control device 70 performs the detection, the control device 70 takes charge of a part of the function of the detection device 50.

本実施形態の撮像部50aは、電子部品2と基板3を同時に撮像可能な上下二視野カメラである。撮像部50aは、電子部品2の実装前に、ボンディングヘッド31と基板ステージ40との間に進入し(図4参照)、ボンディングヘッド31による実装の際には、ボンディングヘッド31と非干渉となる位置に退避する(図3参照)。なお、撮像部50aは、電子部品2と基板3を個別に撮像するカメラであってもよい。 The imaging unit 50a of this embodiment is a two-view camera capable of simultaneously capturing images of the electronic component 2 and the board 3. The imaging unit 50a enters between the bonding head 31 and the substrate stage 40 before mounting the electronic component 2 (see FIG. 4), and does not interfere with the bonding head 31 during mounting by the bonding head 31. (See Figure 3). Note that the imaging unit 50a may be a camera that separately images the electronic component 2 and the board 3.

[ガス供給装置]
ガス供給装置60は、図7に示すように、大気圧中でプラズマを発生させる、いわゆる大気圧プラズマのプラズマ発生装置である。ガス供給装置60は、吹付部610、胴部620、供給部630、電極部640、電源650、アーム660を有する。なお、図7における吹付部610、胴部620は透視図である。上記のように、電子部品2の実装面2a及び基板3の実装面3aに大気圧プラズマ中に生成された活性種を吹付部610から吹き付けて、その表面を清浄化、活性化させる。実装面2a、3aに対する活性種の吹き付けは、ガスの吹き出しとともに行われる。ガスは、Ar、Heなどの希ガスの他、N、O、HO(水蒸気)などを用いることができる。
[Gas supply device]
As shown in FIG. 7, the gas supply device 60 is a so-called atmospheric pressure plasma plasma generation device that generates plasma at atmospheric pressure. The gas supply device 60 includes a blowing section 610, a body section 620, a supply section 630, an electrode section 640, a power source 650, and an arm 660. Note that the spray section 610 and the body section 620 in FIG. 7 are perspective views. As described above, active species generated in atmospheric pressure plasma are sprayed from the spray section 610 onto the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3 to clean and activate the surfaces. The active species is sprayed onto the mounting surfaces 2a, 3a while blowing out the gas. As the gas, in addition to rare gases such as Ar and He, N 2 , O 2 , H 2 O (water vapor), and the like can be used.

(吹付部)
吹付部610は、上下方向に延びた直線状の管であり、上方は実装面2aに垂直な方向に延びた第1のノズル611、下方は実装面3aに垂直な方向に延びた第2のノズル612を構成する。第1のノズル611の先端は開口611aとなっていて、実装面2aに対向する。第2のノズル612の先端は開口612aとなっていて、実装面3aに対向する。第1のノズル611の断面又は開口611aの形状、第2のノズル612の断面又は開口611aの形状は、実装面2a、3aに合わせた矩形であってもよいし、円形であってもよい。なお、実装面2a、実装面3aに対する処理を同等とする観点から、第1のノズル611と第2のノズル612の長さ、開口611aと実装面2aの距離と開口612aと実装面3aの距離が等しくなるように設定されている。このように構成することにより、後述する電極部640によって生成されるプラズマのプラズマ領域Zから、開口611a、612aの距離が等しくなり、活性種の供給量を揃えることが可能となる。さらには、開口611a、612aと実装面2a、3aとの距離が等しいことから、実装面2a、3aに供給される活性種の供給量を揃えることが可能となる。
(Spraying section)
The spraying section 610 is a linear tube extending in the vertical direction, with a first nozzle 611 extending in the direction perpendicular to the mounting surface 2a at the top and a second nozzle 611 extending in the direction perpendicular to the mounting surface 3a at the bottom. A nozzle 612 is configured. The tip of the first nozzle 611 is an opening 611a, and faces the mounting surface 2a. The tip of the second nozzle 612 is an opening 612a, which faces the mounting surface 3a. The cross section or the shape of the opening 611a of the first nozzle 611 and the cross section or the shape of the opening 611a of the second nozzle 612 may be rectangular or circular to match the mounting surfaces 2a and 3a. In addition, from the viewpoint of equalizing the processing on the mounting surfaces 2a and 3a, the lengths of the first nozzle 611 and the second nozzle 612, the distance between the opening 611a and the mounting surface 2a, and the distance between the opening 612a and the mounting surface 3a are set to be equal. With this configuration, the distances of the openings 611a and 612a from a plasma region Z of plasma generated by an electrode section 640, which will be described later, are equalized, making it possible to equalize the supply amount of active species. Furthermore, since the distances between the openings 611a, 612a and the mounting surfaces 2a, 3a are equal, it is possible to equalize the amounts of active species supplied to the mounting surfaces 2a, 3a.

(胴部)
胴部620は、内部にガスの流路(以下、ガス流路Rとする)が構成された管状の部材である。胴部620は、例えば、ガラス又はアルミナにより形成されている。また、胴部620は、ガスにプラズマを発生させるための放電が生じる放電管でもある。なお、本実施形態においては、胴部620は、軸方向が実装面2a、3aと平行な方向である。
(torso)
The body portion 620 is a tubular member in which a gas flow path (hereinafter referred to as gas flow path R) is formed. The body portion 620 is made of glass or alumina, for example. Further, the body portion 620 is also a discharge tube in which a discharge is generated to generate plasma in the gas. In this embodiment, the axial direction of the body portion 620 is parallel to the mounting surfaces 2a and 3a.

プラズマが発生する領域であるプラズマ領域Zは、放電によりガスが電離して、イオン、電子、活性種(ラジカル)などの生成物が生成される領域である。ここでいう活性種とは、不対電子を持つ分子や原子のことである。このように、プラズマ領域Zは、生成物の生成源となる領域である。 The plasma region Z, which is a region where plasma is generated, is a region where gas is ionized by discharge and products such as ions, electrons, and active species (radicals) are generated. The active species here refers to molecules or atoms with unpaired electrons. In this way, the plasma region Z is a region that serves as a generation source of products.

胴部620の一端に、上記の吹付部610が接続されている。胴部620内のプラズマ領域Zにおいて生成された生成物は、吹付部610の第1のノズル611から実装面2aに吹き付けられ、第2のノズル612から実装面3aに吹き付けられる。なお、プラズマ領域Zにおいてはイオン、電子も発生する。イオン、電子が実装面2a、3aに到達すると、実装面2a、3aにダメージを与えることになる。プラズマ領域Zにおいて発生したイオン、電子は、活性種よりも寿命が短いため、第1のノズル611の611a、第2のノズル612の開口612aに達するまでの間に消失する。また、胴部620から吹付部610で上下に分かれ、この分岐の部分で直角に折れ曲がる流路となっており、イオン、電子は、この分岐点の流路壁面に衝突しても消失する。このため、実装面2a、3aには、ガスとともに活性種のみが吹き付けられる。 The above-mentioned spray section 610 is connected to one end of the body section 620. The products generated in the plasma region Z within the body section 620 are sprayed from the first nozzle 611 of the spray section 610 onto the mounting surface 2a, and from the second nozzle 612 onto the mounting surface 3a. Note that ions and electrons are also generated in the plasma region Z. When ions and electrons reach the mounting surfaces 2a and 3a, they will damage the mounting surfaces 2a and 3a. Ions and electrons generated in the plasma region Z have shorter lifetimes than active species, and therefore disappear before reaching 611a of the first nozzle 611 and the opening 612a of the second nozzle 612. Further, the flow path is divided into upper and lower sections from the body section 620 at the spray section 610, and is bent at a right angle at this branching point, and ions and electrons disappear even if they collide with the wall surface of the flow path at this branch point. Therefore, only active species are blown onto the mounting surfaces 2a, 3a along with the gas.

吹付部610は、胴部620と連続的に構成されていても、胴部620に着脱可能に設けられ、交換できるように構成されていてもよい。また、胴部620には、吹付部610と反対側に、ガスの導入口620aが設けられている。 The spraying section 610 may be configured to be continuous with the body section 620, or may be configured to be detachably attached to the body section 620 so that it can be replaced. Further, the body portion 620 is provided with a gas inlet 620a on the side opposite to the blowing portion 610.

(供給部)
供給部630は、胴部620内のガス流路Rにガスを供給する装置である。ガスとしては、上記のように、放電によりプラズマ化するガスであればよい。供給部630は、ガス源631、減圧弁632、調節部633を有する。ガス源631は、ガスを貯留したボンベである。減圧弁632は、ガスの圧力を低下させる弁、つまりレギュレータである。調節部633は、ガスの流量を調整する装置である。調節部633は、流体の流量を計測する質量流量計と、流量を制御する電磁弁を有するマスフローコントローラ(MFC)により構成される。
(Supply Department)
The supply section 630 is a device that supplies gas to the gas flow path R within the body section 620. The gas may be any gas that turns into plasma due to discharge, as described above. The supply section 630 includes a gas source 631, a pressure reducing valve 632, and an adjustment section 633. The gas source 631 is a cylinder that stores gas. The pressure reducing valve 632 is a valve that reduces the pressure of gas, that is, a regulator. The adjustment unit 633 is a device that adjusts the flow rate of gas. The adjustment unit 633 includes a mass flow meter that measures the flow rate of fluid and a mass flow controller (MFC) that has a solenoid valve that controls the flow rate.

ガス源631は、配管によって減圧弁632、調節部633に接続され、配管は胴部620の導入口620aに接続されている。つまり、ガス源631からのガスは、胴部620内に導入されてガス流となる。胴部620の導入口620aと配管との間の隙間は気密に封止されている。 The gas source 631 is connected to a pressure reducing valve 632 and a regulating section 633 through piping, and the piping is connected to an inlet 620a of the body section 620. That is, gas from the gas source 631 is introduced into the body 620 and becomes a gas stream. The gap between the inlet 620a of the body 620 and the pipe is hermetically sealed.

(電極部)
電極部640は、電圧が印加されることにより、ガス流路R内のガスにプラズマを発生させる。つまり、電極部640は、電圧の印加によりガス流路Rに放電を生じさせて、ガスを電離させる。電極部640は、第1の電極640a、第2の電極640bを有する。第1の電極640a、第2の電極640bは、胴部620を挟んで対向する位置に配置された導電性の部材である。第1の電極640a、第2の電極640bは、例えば、NiめっきされたSUSにより形成されている。この第1の電極640a、第2の電極640bに挟まれたガス流路Rが、プラズマ領域Zの中心となる。
(electrode part)
The electrode section 640 generates plasma in the gas within the gas flow path R when a voltage is applied thereto. That is, the electrode section 640 causes discharge to occur in the gas flow path R by applying a voltage, and ionizes the gas. The electrode section 640 has a first electrode 640a and a second electrode 640b. The first electrode 640a and the second electrode 640b are electrically conductive members arranged at opposite positions with the body 620 interposed therebetween. The first electrode 640a and the second electrode 640b are formed of, for example, Ni-plated SUS. The gas flow path R sandwiched between the first electrode 640a and the second electrode 640b becomes the center of the plasma region Z.

(電源)
電源650は、第1の電極640a、第2の電極640bに電圧を印加する。電源650としては、例えば、プラズマ生成用の高周波電源又はパルス波電源を用いる。なお、本実施形態では、第2の電極640bが接地側となっている。
(power supply)
A power source 650 applies voltage to the first electrode 640a and the second electrode 640b. As the power source 650, for example, a high frequency power source or a pulse wave power source for plasma generation is used. Note that in this embodiment, the second electrode 640b is on the ground side.

(アーム)
アーム660は、図2、図7に示すように、先端に胴部620が設けられ、吹付部610の第1のノズル611の開口611a、第2のノズル612の開口612aを、位置決めされた実装面2a、3aの間の位置と、実装面2a、3aから退避する位置との間で揺動させる移動機構である。このアーム660によって、第1のノズル611は実装面2aの直下に、第2のノズル612は実装面3aの直上に位置決めされる。
(arm)
As shown in FIGS. 2 and 7, the arm 660 is provided with a body 620 at its tip, and the opening 611a of the first nozzle 611 and the opening 612a of the second nozzle 612 of the spraying section 610 are mounted This is a moving mechanism that swings between a position between the surfaces 2a and 3a and a position retracted from the mounting surfaces 2a and 3a. This arm 660 positions the first nozzle 611 directly below the mounting surface 2a and the second nozzle 612 directly above the mounting surface 3a.

[制御装置]
制御装置70は、供給装置10、ピックアップ装置20、搭載装置30、基板ステージ40、検出装置50、ガス供給装置60の起動、停止、速度、動作タイミング等を制御する。制御装置70は、実装装置1の各種の機能を実現するべく、プログラムを実行するプロセッサ、プログラムや動作条件などの各種情報を記憶するメモリ、各要素を駆動する駆動回路等を有する。また、制御装置70には、オペレータが制御に必要な指示や情報を入力する入力装置、装置の状態を確認するための出力装置が接続されている。
[Control device]
The control device 70 controls starting, stopping, speed, operation timing, etc. of the supply device 10, pickup device 20, mounting device 30, substrate stage 40, detection device 50, and gas supply device 60. The control device 70 includes a processor that executes programs, a memory that stores various information such as programs and operating conditions, and a drive circuit that drives each element, in order to realize various functions of the mounting device 1. Further, connected to the control device 70 are an input device through which an operator inputs instructions and information necessary for control, and an output device through which the operator confirms the status of the device.

[動作]
以上のような実装装置1において、ピックアップ装置20により供給装置10から電子部品2をピックアップし、当該電子部品2を搭載装置30に受け渡し、搭載装置30において電子部品2を基板3に実装する手順を、上記の図1~図4、図7に加えて、図5、図6及び図8のフローチャートを参照して説明する。本実施形態では、実装の直前に、ガス供給装置60から実装面2a、3aに活性種を吹き付けることによる表面の清浄化や活性化を行う。
[motion]
In the mounting apparatus 1 as described above, the pickup apparatus 20 picks up the electronic component 2 from the supply apparatus 10, transfers the electronic component 2 to the mounting apparatus 30, and the mounting apparatus 30 mounts the electronic component 2 on the board 3. , will be explained with reference to the flowcharts of FIGS. 5, 6 and 8 in addition to the above-described FIGS. 1 to 4 and 7. In this embodiment, immediately before mounting, the surfaces are cleaned and activated by spraying active species onto the mounting surfaces 2a and 3a from the gas supply device 60.

まず、ピックアップ装置20によって、ピックアップノズル21を突き上げ体24aが位置する供給位置P1に移動させ、ピックアップノズル21の先端と突き上げ体24aを対向させる。一方、供給装置10は、供給ステージ12を移動させ、供給位置P1にピックアップ対象の電子部品2を位置させる。この後、ピックアップノズル21が降下して、電子部品2に接近して行く。このとき、突き上げ体24aは上昇して突き上げ基準位置で待機させておく。 First, the pickup device 20 moves the pickup nozzle 21 to the supply position P1 where the push-up body 24a is located, and the tip of the pickup nozzle 21 and the push-up body 24a are made to face each other. On the other hand, the supply device 10 moves the supply stage 12 and positions the electronic component 2 to be picked up at the supply position P1. After this, the pickup nozzle 21 descends and approaches the electronic component 2. At this time, the push-up body 24a rises and waits at the push-up reference position.

ピックアップノズル21が接触基準位置まで下降して停止する。このとき、電子部品2はピックアップノズル21と突き上げ体24aによって挟持される。そして、ピックアップノズル21が停止した状態で、ノズル孔からの排気によって吸引を開始する。この状態で、突き上げ体24aが上昇するとともに、これと同期してピックアップノズル21が上昇して、あらかじめ設定された所定量上昇すると突き上げ体24aは停止する。そして、さらに上昇するピックアップノズル21によって吸引された電子部品2が、シート11から引き剥がされることにより、ピックアップされる。 The pickup nozzle 21 descends to the contact reference position and stops. At this time, the electronic component 2 is held between the pickup nozzle 21 and the push-up body 24a. Then, with the pickup nozzle 21 stopped, suction is started by exhausting air from the nozzle hole. In this state, the push-up body 24a rises, and the pickup nozzle 21 rises in synchronization with this, and when the pick-up nozzle 21 rises by a preset amount, the push-up body 24a stops. Then, the electronic component 2 sucked by the pickup nozzle 21 that rises further is peeled off from the sheet 11 and picked up.

ピックアップ装置20は、反転機構23によって、ピックアップノズル21を反転させる。ピックアップ装置20は、移動機構22によって、受け渡し位置P2にピックアップした電子部品2を移動させる。受け渡し位置P2では、搭載装置30のボンディングヘッド31が待機しており、反転したピックアップノズル21に保持された電子部品2と対向する。ピックアップノズル21に向けてボンディングヘッド31を下降させ、ボンディングヘッド31で電子部品2を吸引して保持した後、ピックアップノズル21が負圧を解除することにより、ボンディングヘッド31へと電子部品2を受け渡す。この後、ボンディングヘッド31は、ピックアップノズル21から離間するように上昇、実装位置P3へと移動する。 The pickup device 20 uses a reversing mechanism 23 to reverse the pickup nozzle 21 . The pickup device 20 uses the moving mechanism 22 to move the picked up electronic component 2 to the delivery position P2. At the delivery position P2, the bonding head 31 of the mounting device 30 is on standby and faces the electronic component 2 held by the inverted pickup nozzle 21. After the bonding head 31 is lowered toward the pickup nozzle 21 and the electronic component 2 is sucked and held by the bonding head 31, the pickup nozzle 21 releases the negative pressure to receive the electronic component 2 into the bonding head 31. hand over. Thereafter, the bonding head 31 rises and moves away from the pickup nozzle 21 to the mounting position P3.

このように、電子部品2が実装位置P3に移動して、図3に示すように、電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aとが対向する(ステップS101)。次に、図4に示すように、ボンディングヘッド31と基板3との間に上下二視野カメラである撮像部50aを矢印で示すように進出させ、上方に位置する電子部品2の実装面2aのアライメントマークと、下方に位置する基板3の実装面3aのアライメントマークとを撮像し、実装面2a、3aの位置を検出する(ステップS102)。検出された位置に従って、ボンディングヘッド31は、電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aとの位置決めを行う(ステップS103)。撮像部50aは、図5に矢印で示すように、実装面2a、3aの間から退避する。 In this way, the electronic component 2 moves to the mounting position P3, and as shown in FIG. 3, the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the board 3 face each other (step S101). Next, as shown in FIG. 4, the imaging unit 50a, which is a two-view camera for upper and lower positions, is advanced between the bonding head 31 and the substrate 3 as shown by the arrow, and the mounting surface 2a of the electronic component 2 located above is The alignment mark and the alignment mark on the mounting surface 3a of the substrate 3 located below are imaged to detect the positions of the mounting surfaces 2a and 3a (step S102). According to the detected position, the bonding head 31 positions the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3 (step S103). The imaging unit 50a is retracted from between the mounting surfaces 2a and 3a, as shown by the arrow in FIG.

位置決めの後、図5に示すように、アーム660が胴部620を揺動させて、吹付部610の第1のノズル611の開口611a、第2のノズル612の開口612aを、位置決めされた実装面2a、3aの間の位置に移動させる(ステップS104)。そして、供給部630からのガスを、導入口620aから胴部620内に導入し、電源650により、電極部640に電圧を印加する。すると、胴部620内のガス流路Rに放電が生じて、ガスが電離する。つまり、プラズマが発生する。 After positioning, as shown in FIG. 5, the arm 660 swings the body 620 to open the opening 611a of the first nozzle 611 and the opening 612a of the second nozzle 612 of the spraying section 610 in the positioned mounting It is moved to a position between surfaces 2a and 3a (step S104). Then, gas from the supply section 630 is introduced into the body section 620 through the introduction port 620a, and a voltage is applied to the electrode section 640 by the power source 650. Then, a discharge occurs in the gas flow path R within the body portion 620, and the gas is ionized. In other words, plasma is generated.

このプラズマが発生したプラズマ領域Zにおいて、大気との反応によりイオン、電子、活性種等の生成物が生成される。これらの生成物のうち、イオン、電子は吹付部610内で消失し、活性種がガス流とともに第1のノズル611の開口611a、第2のノズル612の開口612aから、図7に示すように、実装面2a、3aに対して垂直方向に吹き付けられる(ステップS105)。このため、実装前の実装面2a、3aが清浄化されたり、水酸基が付与されたりして親水化(活性化)される。そして、アーム660が胴部620を揺動させて、吹付部610を実装面2a、3aの間の位置から、実装に影響の無い位置に退避させる(ステップS106)。 In the plasma region Z where this plasma is generated, products such as ions, electrons, and active species are generated by reaction with the atmosphere. Among these products, ions and electrons disappear in the spraying section 610, and active species are released together with the gas flow from the opening 611a of the first nozzle 611 and the opening 612a of the second nozzle 612, as shown in FIG. , is sprayed in a direction perpendicular to the mounting surfaces 2a and 3a (step S105). For this reason, the mounting surfaces 2a and 3a before mounting are cleaned or hydroxyl groups are added to make them hydrophilic (activated). Then, the arm 660 swings the body section 620 to retract the spray section 610 from the position between the mounting surfaces 2a and 3a to a position that does not affect the mounting (step S106).

その後、図6の矢印に示すように、昇降機構322によりボンディングヘッド31を下降させ、清浄化、親水化した電子部品2の実装面2aを、清浄化、親水化した基板3の実装面3aに接触させて合わせることで、電子部品2を基板3に搭載して実装する(ステップS107)。実装後のボンディングヘッド31は、当該電子部品2の保持を解除し、次の電子部品2を受け取るために受け渡し位置P2に戻る。 Thereafter, as shown by the arrow in FIG. 6, the bonding head 31 is lowered by the lifting mechanism 322, and the cleaned and hydrophilized mounting surface 2a of the electronic component 2 is placed on the cleaned and hydrophilized mounting surface 3a of the substrate 3. By bringing them into contact and aligning them, the electronic component 2 is mounted and mounted on the board 3 (step S107). After mounting, the bonding head 31 releases the holding of the electronic component 2 and returns to the delivery position P2 to receive the next electronic component 2.

[効果]
(1)本実施形態の実装装置1は、電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aとを接触させて合わせることにより、電子部品2を基板3に搭載する搭載装置30と、電子部品2の基板3への搭載の前に、対向配置された電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aとの間に挿入可能な吹付部610を有し、プラズマにより生成された活性種を含むガスを、吹付部610から電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aのそれぞれに向けて、各実装面2a、3aに垂直な方向に吹き付けるガス供給装置60と、を有する。
[effect]
(1) The mounting apparatus 1 of this embodiment includes a mounting apparatus 30 that mounts the electronic component 2 on the board 3 by bringing the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the board 3 into contact with each other, and Before mounting the component 2 on the board 3, a spray part 610 that can be inserted between the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the board 3, which are arranged opposite to each other, is used to spray active particles generated by plasma. a gas supply device 60 that sprays a gas containing seeds from a spraying section 610 toward each of the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3 in a direction perpendicular to each mounting surface 2a, 3a. .

また、本実施形態の実装方法は、対向配置された電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aとの間に吹付部610を挿入し、プラズマにより生成された活性種を含むガスを、吹付部610から電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aのそれぞれに向けて、各実装面2a、3aに垂直な方向に吹き付け、電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aと接触させて合わせることにより、電子部品2を基板3に搭載する、 Furthermore, in the mounting method of the present embodiment, a blowing section 610 is inserted between the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3, which are arranged to face each other, and a gas containing active species generated by plasma is applied. , from the spray section 610 toward the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the board 3 in a direction perpendicular to each mounting surface 2a, 3a, thereby mounting the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the board 3. Mounting the electronic component 2 on the substrate 3 by bringing it into contact with the surface 3a.

複数の電子部品2や、電子部品2が載置される基板3を一括で活性化処理した後で1つ1つ実装する場合には、はじめに行われる実装と、最後に行われる実装との間に、複数の電子部品2を実装するための時間がかかる。つまり、実装が進むにしたがって、電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aの活性化の状態が低下することになり、電子部品2と基板3との接合強度が低下してしまう。本実施形態での実装では、上記のように、電子部品2と基板3が実装前に対向配置された状態で、すなわち実装直前の状態で、実装面2a、3aを1つ1つ活性化処理できるため、各電子部品2において、活性化後に実装するまでの時間に差が生じ難くなり、電子部品2毎の接合強度の差を低減できる。 When mounting multiple electronic components 2 or the substrate 3 on which the electronic components 2 are mounted one by one after activating them one by one, there is a difference between the first mounting and the last mounting. Moreover, it takes time to mount the plurality of electronic components 2. That is, as the mounting progresses, the activation state of the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3 decreases, and the bonding strength between the electronic component 2 and the substrate 3 decreases. In the mounting in this embodiment, as described above, the mounting surfaces 2a and 3a are activated one by one with the electronic component 2 and the board 3 facing each other before mounting, that is, immediately before mounting. Therefore, differences in the time from activation to mounting are less likely to occur in each electronic component 2, and differences in bonding strength between the electronic components 2 can be reduced.

(2)吹付部610は、電子部品2の実装面2aに垂直な方向に延びた第1のノズル611と、基板3の実装面3aに垂直な方向に延びた第2のノズル612と、を有する。このため、実装面2a、3aに吹き付けられるガス流を、実装面2a、3aに対して垂直にすることができる。 (2) The spray section 610 includes a first nozzle 611 extending in a direction perpendicular to the mounting surface 2a of the electronic component 2 and a second nozzle 612 extending in a direction perpendicular to the mounting surface 3a of the board 3. have Therefore, the gas flow blown onto the mounting surfaces 2a, 3a can be made perpendicular to the mounting surfaces 2a, 3a.

吹付部610は、実装面2a、3aに垂直な方向から吹き付けるので、実装面2a、3aにおけるそれぞれの面内の活性化処理にばらつきが生じ難い。実装面2a、3aに対して横または傾斜した方向から吹き付ける場合には、吹付部610の吹き出し位置から、実装面2a、3aの面内に対する吹き付け位置に相違が生じる。つまり、実装面2a、3aの面内において、吹付部610から近い部分と遠い部分が生じる。これによって、実装面2a、3aの吹付部610に近い部分と遠い部分では、活性種の到達する量に差が生じ、清浄化、活性化の状態に差がつくことになる。しかし、本実施形態のように、実装面2a、3aに垂直な方向から吹き付けることにより、吹き出し位置から吹き付け位置までの距離が実装面2a、3a内で均一となる。これにより、実装面2a、3aの面内において、吹付部610から近い部分と遠い部分が生じない。したがって、実装面2a、3aの面内において均等に活性種が供給され、清浄化、活性化の処理が均等に行われ、十分な接合強度を得ることができる。 Since the spray unit 610 sprays from a direction perpendicular to the mounting surfaces 2a and 3a, variations in the activation process within the mounting surfaces 2a and 3a are unlikely to occur. When spraying from a direction horizontally or obliquely to the mounting surfaces 2a, 3a, a difference occurs between the blowing position of the blowing section 610 and the spraying position within the mounting surfaces 2a, 3a. That is, within the planes of the mounting surfaces 2a and 3a, there are parts close to and parts far from the spraying section 610. As a result, a difference occurs in the amount of active species reaching parts of the mounting surfaces 2a and 3a near and far from the spraying section 610, resulting in a difference in the state of cleaning and activation. However, as in this embodiment, by spraying from a direction perpendicular to the mounting surfaces 2a, 3a, the distance from the blowing position to the spraying position becomes uniform within the mounting surfaces 2a, 3a. As a result, within the mounting surfaces 2a and 3a, there are no portions near and far from the spray section 610. Therefore, active species are evenly supplied within the mounting surfaces 2a and 3a, cleaning and activation processes are performed evenly, and sufficient bonding strength can be obtained.

(3)第1のノズル611の先端の開口611aと第2のノズル612の先端の開口612aとは、電極部640との距離が等しい。このため、電極部640によるプラズマ領域Zから、開口611a、612aまでの距離が等しくなり、活性種の供給量を実装面2aと実装面3aとで同等にすることができる。したがって、実装面2a、3aの清浄化、活性化の処理を同等にでき、十分な接合強度を得ることができる。 (3) The opening 611a at the tip of the first nozzle 611 and the opening 612a at the tip of the second nozzle 612 are at the same distance from the electrode section 640. Therefore, the distances from the plasma region Z formed by the electrode section 640 to the openings 611a and 612a are equal, and the amount of active species supplied can be made equal to the mounting surface 2a and the mounting surface 3a. Therefore, the cleaning and activation processes of the mounting surfaces 2a and 3a can be performed equally, and sufficient bonding strength can be obtained.

(4)吹付部610からガスを吹き付ける前に、対向配置された電子部品2の実装面2aと基板3の実装面3aとを位置決めするヘッド移動機構32を有する。このため、実装直前に行われる位置決め後に、活性化処理を行うことができるので、活性化処理か実装までの時間を極力短くして、活性種の失活を抑制し、活性種の供給量の減少を抑えて接合強度の低下を防ぐことができる。 (4) The head moving mechanism 32 is provided to position the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting surface 3a of the substrate 3, which are arranged to face each other, before spraying gas from the spraying section 610. Therefore, activation processing can be performed after positioning, which is performed immediately before mounting, so the time between activation processing and mounting can be minimized, suppressing deactivation of active species, and reducing the amount of active species supplied. It is possible to suppress the decrease and prevent a decrease in bonding strength.

[変形例]
本発明は、上記の実施形態には限定されない。上記の実施形態と基本的な構成は同様として、以下のような変形例も適用可能である。
(1)図9(A)に示すように、ガス供給装置60が、第1のノズル611へ連通した第1のガス流路R1と、第2のノズル612へ連通した第2のガス流路R2とを有し、電極部640が、第1のガス流路R1、第2のガス流路R2のそれぞれに設けられていてもよい。例えば、調節部633によってガス流量を個別に制御可能な第1の胴部621、第2の胴部622を設け、それぞれに第1の電極部641、第2の電極部642を設けてもよい。これにより、電子部品2と基板3とで活性化し易さが異なる場合に、印加する電力を変えたり、ガス流量、ガスの供給時間を変えることによって、清浄化、活性化の状態をそれぞれで調整することができる。
[Modified example]
The invention is not limited to the embodiments described above. Although the basic configuration is the same as that of the above embodiment, the following modifications are also applicable.
(1) As shown in FIG. 9(A), the gas supply device 60 has a first gas flow path R1 communicating with the first nozzle 611 and a second gas flow path communicating with the second nozzle 612. R2, and the electrode section 640 may be provided in each of the first gas flow path R1 and the second gas flow path R2. For example, a first body part 621 and a second body part 622 whose gas flow rates can be individually controlled by the adjustment part 633 may be provided, and a first electrode part 641 and a second electrode part 642 may be provided respectively. . As a result, if the ease of activation differs between the electronic component 2 and the board 3, the cleaning and activation states can be adjusted individually by changing the applied power, gas flow rate, and gas supply time. can do.

なお、第1のノズル611、第2のノズル612の長さ、開口611aと実装面2aの距離、開口612aと実装面3aの距離を変えることによっても、活性化の程度を調整できる。また、吹付部610を移動させて、実装面2a、3aに対する吹き付け位置を変えることにより、面内処理の均一性を図ってもよい。 Note that the degree of activation can also be adjusted by changing the lengths of the first nozzle 611 and the second nozzle 612, the distance between the opening 611a and the mounting surface 2a, and the distance between the opening 612a and the mounting surface 3a. Furthermore, uniformity of in-plane processing may be achieved by moving the spraying section 610 and changing the spraying position on the mounting surfaces 2a, 3a.

また、図9(B)に示すように、第1の胴部621、第2の胴部622を相反する方向に配置してもよい。これにより、ガスの配管経路や電極の配線回りなどを配置することが容易となる。なお、配管・配線の配置が容易となれば良く、必ずしも相反する方向とする必要はない。 Further, as shown in FIG. 9(B), the first body portion 621 and the second body portion 622 may be arranged in opposite directions. This makes it easy to arrange gas piping routes, electrode wiring, and the like. Note that it is only necessary that the piping and wiring be arranged easily, and the directions do not necessarily have to be opposite to each other.

(2)図10に示すように、吹付部610の第1のノズル611、第2のノズル612のそれぞれに、第1の電極部641、第2の電極部642を設けてもよい。これにより、プラズマ領域Zを実装面2a、3aに近づけることができ、発生してから実装面2a、3aに吹き付けられるまでの活性種の減少を抑えて、より効率良く吹き付けることができる。 (2) As shown in FIG. 10, the first nozzle 611 and the second nozzle 612 of the spray section 610 may be provided with a first electrode section 641 and a second electrode section 642, respectively. Thereby, the plasma region Z can be brought closer to the mounting surfaces 2a, 3a, suppressing the decrease in active species from generation to the time when they are sprayed onto the mounting surfaces 2a, 3a, and spraying can be performed more efficiently.

(3)図11に示すように、吹付部610が吹き付けるガスの周囲に、ガスを流通させることによりガスカーテンを生じさせる筒部680が設けられていてもよい。つまり、吹付部610を囲う筒部680を設け、この筒部680内に図示しないガス供給装置から、空気、N、Ar、Heなどを流す。ガス中の活性種の濃度は、エアカーテンによって囲まれると、活性種が外に逃げ難くなり濃度が高まるので、活性種を実装面2a、3aに対して効率良く吹き付けることができる。また、概ね、ガス流路Rの中心軸側が高く、外周側が低いが、外周側の活性種が増強されるため、実装面2a、3aに対して吹き付けられる活性種の面内分布が均一となる。なお、ここでいうガスカーテンを生じさせるためのガスとは、上記で例示したように、活性種とともに吹き付けられるガスと反応しても問題のないガスを言う。 (3) As shown in FIG. 11, a cylindrical part 680 may be provided around the gas sprayed by the spray part 610 to generate a gas curtain by circulating the gas. That is, a cylindrical part 680 surrounding the spray part 610 is provided, and air, N2 , Ar, He, etc. are flowed into the cylindrical part 680 from a gas supply device (not shown). When surrounded by an air curtain, the concentration of active species in the gas increases as it becomes difficult for the active species to escape to the outside, so that the active species can be efficiently sprayed onto the mounting surfaces 2a and 3a. In addition, although the central axis side of the gas flow path R is generally higher and the outer circumferential side is lower, the active species on the outer circumferential side are enhanced, so that the in-plane distribution of the active species sprayed onto the mounting surfaces 2a and 3a becomes uniform. . Note that the gas for generating the gas curtain here refers to a gas that does not cause any problem even if it reacts with the gas sprayed together with the active species, as exemplified above.

(4)吹付部610は、吹き付け対象となる面に垂直に吹き付ける構成であればよい。このため、吹付部610は、垂直に伸びるノズルを有していなくてもよい。例えば、図12(A)の側面図、(B)の平面図に示すように、吹付部610の胴部の上下の面に、実装面2a、3aに向かう開口611a、612aが設けられていてもよい。 (4) The spray section 610 may be configured to spray perpendicularly to the surface to be sprayed. Therefore, the spray section 610 does not need to have a vertically extending nozzle. For example, as shown in the side view of FIG. 12A and the plan view of FIG. Good too.

(5)吹付部610は、実装面2a、3aとの距離を可変に設けられていてもよい。例えば、図13に示すように、第1の胴部621、第2の胴部622が、それぞれ図示しない駆動機構によって上下動することにより、開口611aと実装面2aとの距離、開口612aと実装面3aとの距離が変えられる構成としてもよい。 (5) The spray section 610 may be provided at a variable distance from the mounting surfaces 2a, 3a. For example, as shown in FIG. 13, the first body part 621 and the second body part 622 are moved up and down by a drive mechanism (not shown), thereby changing the distance between the opening 611a and the mounting surface 2a, and the distance between the opening 612a and the mounting surface 2a. A configuration may be adopted in which the distance to the surface 3a can be changed.

[他の実施形態]
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、上記実施形態を全て又はいずれかを組み合わせた形態も包含する。さらに、これらの実施形態を発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができ、その変形も本発明に含まれる。
[Other embodiments]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, but also includes forms in which all or any of the above-described embodiments are combined. Furthermore, various omissions, substitutions, and changes can be made to these embodiments without departing from the scope of the invention, and such modifications are also included in the present invention.

1 実装装置
2 電子部品
2a 実装面
3 基板
3a 実装面
10 供給装置
11 シート
12 供給ステージ
13 ステージ移動機構
20 ピックアップ装置
21 ピックアップノズル
22 移動機構
22a アーム
22b スライド機構
22c 支持フレーム
22d レール
22e スライダ
22f 昇降機構
23 反転機構
24 突き上げ機構
24a 突き上げ体
24b バックアップ体
30 搭載装置
31 ボンディングヘッド
31a ノズル
32 ヘッド移動機構
40 基板ステージ
41 ステージ移動機構
50 検出装置
50a 撮像部
60 ガス供給装置
70 制御装置
321 スライド機構
321a 支持フレーム
321b レール
321c スライダ
322 昇降機構
610 吹付部
611 第1のノズル
611a 開口
612 第2のノズル
612a 開口
620 胴部
620a 導入口
621 第1の胴部
622 第2の胴部
630 供給部
631 ガス源
632 減圧弁
633 調節部
640 電極部
640a 第1の電極
640b 第2の電極
641 第1の電極部
642 第2の電極部
650 電源
660 アーム
680 筒部

1 Mounting device 2 Electronic component 2a Mounting surface 3 Board 3a Mounting surface 10 Supply device 11 Sheet 12 Supply stage 13 Stage movement mechanism 20 Pickup device 21 Pickup nozzle 22 Movement mechanism 22a Arm 22b Slide mechanism 22c Support frame 22d Rail 22e Slider 22f Lifting mechanism 23 Reversing mechanism 24 Pushing up mechanism 24a Pushing up body 24b Backup body 30 Mounting device 31 Bonding head 31a Nozzle 32 Head moving mechanism 40 Substrate stage 41 Stage moving mechanism 50 Detecting device 50a Imaging section 60 Gas supply device 70 Control device 321 Slide mechanism 321a Support frame 321b Rail 321c Slider 322 Lifting mechanism 610 Spray section 611 First nozzle 611a Opening 612 Second nozzle 612a Opening 620 Body section 620a Inlet 621 First body section 622 Second body section 630 Supply section 631 Gas source 632 Depressurization Valve 633 Adjustment part 640 Electrode part 640a First electrode 640b Second electrode 641 First electrode part 642 Second electrode part 650 Power supply 660 Arm 680 Cylindrical part

Claims (8)

電子部品の実装面と基板の実装面とを合わせることにより、前記電子部品を前記基板に搭載する搭載装置と、
前記電子部品の前記基板への搭載の前に、対向配置された前記電子部品の実装面と前記基板の実装面との間に挿入可能な吹付部を有し、プラズマにより生成された活性種を含むガスを、前記吹付部から前記電子部品の実装面と前記基板の実装面のそれぞれに向けて、各実装面に垂直な方向に吹き付けるガス供給装置と、
を有することを特徴とする実装装置。
a mounting device that mounts the electronic component on the board by aligning the mounting surface of the electronic component with the mounting surface of the board;
Before mounting the electronic component on the substrate, a spraying section is provided that can be inserted between the mounting surface of the electronic component and the mounting surface of the substrate, which are arranged to face each other, and the active species generated by plasma is sprayed. a gas supply device that sprays a gas containing gas from the spraying section toward each of the mounting surface of the electronic component and the mounting surface of the substrate in a direction perpendicular to each mounting surface;
A mounting device characterized by having:
前記吹付部は、
前記電子部品の実装面に垂直な方向に延びた第1のノズルと、
前記基板の実装面に垂直な方向に延びた第2のノズルと、
を有することを特徴とする請求項1記載の実装装置。
The spraying section is
a first nozzle extending in a direction perpendicular to the mounting surface of the electronic component;
a second nozzle extending in a direction perpendicular to the mounting surface of the substrate;
The mounting apparatus according to claim 1, characterized in that it has:
前記第1のノズル及び前記第2のノズルには、電圧を印加することにより前記ガスにプラズマを発生させる電極部が設けられていることを特徴とする請求項2記載の実装装置。 3. The mounting apparatus according to claim 2, wherein the first nozzle and the second nozzle are provided with electrode portions that generate plasma in the gas by applying a voltage. 前記吹付部は、内部に前記ガスの流路が形成された管状の胴部を有し、
前記胴部には、電圧を印加することにより前記ガスにプラズマを発生させる電極部が設けられていることを特徴とする請求項1記載の実装装置。
The blowing section has a tubular body in which the gas flow path is formed,
2. The mounting apparatus according to claim 1, wherein the body part is provided with an electrode part that generates plasma in the gas by applying a voltage.
前記ガス供給装置は、
前記第1のノズルへ連通した第1のガス流路と、
前記第2のノズルへ連通した第2のガス流路と、
を有し、
電圧を印加することにより前記ガスにプラズマを発生させる電極部が、前記第1のガス流路と前記第2のガス流路のそれぞれに設けられていることを特徴とする請求項2記載の実装装置。
The gas supply device includes:
a first gas flow path communicating with the first nozzle;
a second gas flow path communicating with the second nozzle;
has
The mounting according to claim 2, wherein an electrode portion that generates plasma in the gas by applying a voltage is provided in each of the first gas flow path and the second gas flow path. Device.
ガスを流通させることにより、前記吹付部が吹き付ける前記ガスの周囲にガスカーテンを生じさせる筒部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の実装装置。 2. The mounting apparatus according to claim 1, further comprising a cylindrical part that causes gas to flow and thereby creates a gas curtain around the gas sprayed by the spraying part. 前記ガスは、N、O、Ar、He、HOの少なくとも一種を含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の実装装置。 7. The mounting apparatus according to claim 1, wherein the gas contains at least one of N2 , O2 , Ar, He, and H2O . 対向配置された電子部品の実装面と基板の実装面との間にノズルを挿入し、
プラズマにより生成された活性種を含むガスを、前記ノズルから前記電子部品の実装面と前記基板の実装面のそれぞれに向けて、各実装面に垂直な方向に吹き付け、
前記電子部品の実装面と前記基板の実装面とを合わせることにより、前記電子部品を前記基板に搭載する、
ことを特徴とする実装方法。
Insert a nozzle between the mounting surface of the electronic component and the mounting surface of the board, which are arranged opposite to each other,
Spraying a gas containing active species generated by plasma from the nozzle toward each of the mounting surface of the electronic component and the mounting surface of the substrate in a direction perpendicular to each mounting surface,
mounting the electronic component on the board by aligning the mounting surface of the electronic component with the mounting surface of the board;
An implementation method characterized by:
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