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JP2019155481A - 切削装置 - Google Patents

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JP2019155481A JP2018040628A JP2018040628A JP2019155481A JP 2019155481 A JP2019155481 A JP 2019155481A JP 2018040628 A JP2018040628 A JP 2018040628A JP 2018040628 A JP2018040628 A JP 2018040628A JP 2019155481 A JP2019155481 A JP 2019155481A
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諭 宮田
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靖博 三浦
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Abstract

【課題】チョッパーカットセットアップ時に切削溝の長さ測定時間を短縮する。【解決手段】ブレード直径認識手段8を備え、直径認識手段8は、確認用被加工物W1を保持する確認テーブル80と、ブレード613を確認用被加工物W1に切り込ませ切削溝M1を形成したときの切削手段61のZ軸方向位置Z1を記憶する溝形成記憶手段81と、形成した切削溝M1を上方から撮像可能なカメラ85と、カメラ85が撮像した撮像画G1のY方向1列のピクセルの輝度値平均値が所定輝度値より小さいピクセルを切削溝と判断しX方向にカウントし切削溝M1の長さとする溝長測定手段83と、算出手段84とを備え、算出手段84は、切削溝M1の長さM1dと、確認テーブル80の保持面800aの高さ位置Z3と、切削溝M1形成時に溝形成記憶手段81が記憶した切削手段61のZ軸方向位置Z1と、を用いてブレード613の直径2r1を算出する切削装置1である。【選択図】図6

Description

本発明は、切削ブレードで被加工物を切削する切削装置に関する。
半導体ウエーハ等の被加工物を回転する切削ブレードで切削する切削装置は、実際の切削を行う前に、例えば、切削ブレードの先端が板状ワークを保持する保持テーブルの上面に接触するときの切削ブレードの高さ位置を認識するセットアップを実施して、セットアップで認識した保持テーブルの保持面の高さ位置を基準として切削ブレードの切込み位置を決めてから、実際の板状ワークの切削を行っている。
セットアップは、上記のような切削ブレードの先端を保持テーブルの上面に接触させる接触セットアップと、切削ブレードの先端を認識する光センサ等により行う非接触セットアップと、保持テーブルが保持した板状ワークに切削ブレードを切り込ませて形成した長尺状の切削溝の長さを測定してセットアップを行うチョッパーカットセットアップとがある。
チョッパーカットセットアップでは、実際の加工用の保持テーブルとは別の切削溝を確認するための確認テーブルを用いて、確認テーブルに確認用の被加工物を保持させ、確認用の被加工物に形成された切削溝をカメラで撮像する。そして、形成した撮像画を用いて測定した切削溝の長さと、該被加工物に切削ブレードを切り込ませた際のスピンドル軸心から確認テーブルが保持した被加工物の上面までの距離とから切削ブレードの半径を計算し、切削ブレードの先端が保持テーブルの上面に接触する切削ブレードの高さを認識(算出)している(例えば、特許文献1、2参照)。
特開2002−059365号公報 特開2013−041972号公報
チョッパーカットセットアップでは、切削溝の長さを測定するために切削溝を撮像した撮像画を2値化して、撮像画中の黒色で表現されたピクセルをX軸方向にカウントして切削溝の長さを測定している。このように、画像を2値化処理して正確に切削溝を表現するためには確認用の被加工物の上面が汚れていない方が良い。そのため、被加工物に切削溝を形成した後、被加工物の表面を洗浄および乾燥する必要が有り、切削溝の形成から撮像までに時間を要していた。また、洗浄が不十分であったら、切削屑により2値化処理によって黒く表現されるおそれがあり、結果、切削溝が実際より長く表現されてしまう場合がある。また、実際の加工用の保持テーブルに保持されている板状ワークの切削において発生した切削屑が、確認テーブルに保持されている被加工物に飛び移ってしまっている場合にも、切削屑が2値化処理によって黒く表現され、切削溝が実際より長く表現されてしまう場合がある。このような事態が生じるのを防ぐために、切削屑が付着しないように確認用の被加工物の上面を洗浄する必要や確認用の被加工物の上面をカバーして切削屑が付着しないようにする必要がある。このように、チョッパーカットセットアップにおいては、2値化処理及び表面洗浄処理等を実施することで、切削溝の長さの測定に時間が掛かるという問題がある。
また、切削ブレードの厚みが厚いと切削屑の発生が多く確認用の被加工物の上面が汚れやすい。その為、撮像画に撮像された切削溝の長さを、2値化処理を行って測定するためには十分に被切削面を洗浄する必要があり切削溝の長さ測定に時間がかかるという問題がある。
よって、チョッパーカットセットアップでは切削溝の長さ測定に掛かる時間を短縮するという課題がある。
上記課題を解決するための本発明は、被加工物を保持する保持面を有する保持テーブルと、切削ブレードを先端に装着したスピンドルを回転自在に支持し該保持テーブルが保持した被加工物を該切削ブレードで切削する切削手段と、該切削手段と該保持テーブルとを相対的に切削送り方向のX軸方向に移動させるX軸移動手段と、該保持面に対して直交する方向のZ軸方向に該切削手段と該保持テーブルとを相対的に移動させるZ軸移動手段と、該切削ブレードの直径を認識する直径認識手段と、を備えた切削装置であって、該直径認識手段は、該保持テーブルに隣接し該切削ブレードを切り込ませる確認用被加工物を保持する確認テーブルと、該確認テーブルの上方から該切削ブレードを該Z軸方向における該確認テーブルに接近する方向に所定量移動させ該確認テーブルが保持した確認用被加工物に切り込ませ長尺状の切削溝を形成したときの該切削手段のZ軸方向位置を記憶する溝形成記憶手段と、該確認用被加工物に形成した該切削溝を上方から撮像可能なカメラと、該カメラが撮像した撮像画の該X軸方向に水平方向において直交するY軸方向の1列中に並んだ全てのピクセルの輝度値の平均値が所定の輝度値より小さいと該列のピクセルを切削溝として判断してX軸方向にカウントし該切削溝の長さとする溝長測定手段と、算出手段とを備え、該算出手段は、該溝長測定手段で測定された該切削溝の長さと、確認用被加工物を保持する該確認テーブルの保持面の高さ位置と、該確認用被加工物に該切削溝を形成したときに溝形成記憶手段が記憶した該切削手段のZ軸方向位置と、を用いて該切削ブレードの直径を算出する切削装置である。
前記直径認識手段は、前記カメラが撮像した撮像画を2値化した画像中の黒いピクセルを前記切削溝として判断してX軸方向に並ぶ該黒いピクセルをカウントして該切削溝の長さとする第2の溝長測定手段と、前記スピンドルに装着した前記切削ブレードの厚みを少なくとも設定する設定手段と、該設定手段に設定された該切削ブレードの厚みに応じて前記溝長測定手段と該第2の溝長測定手段とを切り換える切換手段とを更に備え、該切削ブレードの厚みに応じて該切換手段で該溝長測定手段と該第2の溝長測定手段とを切り換えて該切削溝の長さを測定可能とすると好ましい。
本発明に係る切削装置は、切削ブレードの直径を認識する直径認識手段を備えており、直径認識手段は、保持テーブルに隣接し切削ブレードを切り込ませる確認用被加工物を保持する確認テーブルと、確認テーブルの上方から切削ブレードをZ軸方向における確認テーブルに接近する方向に所定量移動させ確認テーブルが保持した確認用被加工物に切り込ませ長尺状の切削溝を形成したときの第1の切削手段のZ軸方向位置を記憶する溝形成記憶手段と、溝形成記憶手段により確認用被加工物に形成した切削溝を上方から撮像可能なカメラと、カメラが撮像した撮像画のY軸方向に並んだ全てのピクセル(1列を構成するピクセル)の輝度値の平均値を算出し、さらに、その平均化作業をX軸方向において実施し、平均化させた列ごとの輝度値のうち予め設定した所定の輝度値より小さい(暗い)輝度値である列のピクセルは切削溝として判断してX軸方向にカウントし切削溝の長さとする溝長測定手段と、算出手段とを備えており、チョッパーカットセットアップを行う際に、切削溝の座標位置の検出や撮像画の2値化処理を行わずとも、切削溝の長さを素早く測定することができ、また、2値化処理を行わなくても済むことで、切削屑が付着しないように確認用被加工物の上面をカバーしたり確認用被加工物の上面を十分に洗浄したりする必要が無くなる。そして、算出手段によって、測定された切削溝の長さと、確認用被加工物を保持する確認テーブルの保持面の高さ位置と、確認用被加工物に切削溝を形成したときに溝形成記憶手段が記憶した切削手段のZ軸方向位置と、を用いて切削ブレードの直径を算出することができるため、チョッパーカットセットアップを素早く完了させることが可能となる。
直径認識手段は、カメラが撮像した撮像画を2値化した画像中の黒いピクセルを切削溝として判断してX軸方向に並ぶ黒いピクセルをカウントして切削溝の長さとする第2の溝長測定手段と、スピンドルに装着した切削ブレードの厚みを少なくとも設定する設定手段と、設定手段に設定された切削ブレードの厚みに応じて溝長測定手段と第2の溝長測定手段とを切り換える切換手段とを更に備え、切換手段で溝長測定手段と第2の溝長測定手段とを切り換えて切削溝の長さを測定可能とする、即ち、切削ブレードが厚い切削ブレードである場合には、溝長測定手段で2値化処理を行わずに切削溝の長さを素早く測定し、切削ブレードが薄い切削ブレードである場合には、第2の溝長測定手段で2値化処理を行い切削溝の長さを正確に測定することで、切削ブレードの厚みに応じて、算出手段による切削ブレードの直径の算出精度を求められる許容範囲内に収まるようにしつつ、チョッパーカットセットアップを行うことが可能となる。
切削装置の一例を示す斜視図である。 確認テーブルで吸引保持された確認用被加工物を第1の切削手段の下方に位置づけた状態を示す側面図である。 確認テーブルで吸引保持された確認用被加工物に切削ブレードを切り込ませ切削溝を形成している状態を示す側面図である。 図4(A)は、切削ブレードにより形成された切削溝を示す側面図である。図4(B)は、切削ブレードにより形成された切削溝を示す平面図である。 切削溝が形成された確認用被加工物を上方からカメラで撮像する状態を示す側面図である。 厚いブレードで形成された切削溝が写った撮像画がモニターの画面上に表示された状態を模式的に示す説明図である。 算出手段による切削ブレードの直径の算出を説明する説明図である。 第2の溝長測定手段等を更に備える直径認識手段の構成例を示す説明図である。 薄いブレードで形成された切削溝が写った撮像画がモニターの画面上に表示された状態を模式的に示す説明図である。
本発明に係る図1に示す切削装置1は、保持テーブル30に保持された被加工物Wを回転する切削ブレード613を備えた第1の切削手段61又は第2の切削手段62によって切削することができる装置である。
被加工物Wは、例えば、円形板状の半導体ウエーハであり、被加工物Wの表面Waには、ストリートSにより区画された格子状の領域に各々デバイスDが形成されている。被加工物Wの裏面Wbには、図示しないダイシングテープが貼着されている。
切削装置1の基台10上には、第1の切削手段61と保持テーブル30とを相対的に切削送り方向のX軸方向に移動させるX軸移動手段13が配設されている。X軸移動手段13は、X軸方向の軸心を有するボールネジ130と、ボールネジ130と平行に配設された一対のガイドレール131と、ボールネジ130を回動させるモータ132と、内部のナットがボールネジ130に螺合し底部がガイドレール131に摺接する可動板133とから構成される。そして、モータ132がボールネジ130を回動させると、これに伴い可動板133がガイドレール131にガイドされてX軸方向に移動し、可動板133上に配設された保持テーブル30が可動板133の移動に伴いX軸方向に移動することで、保持テーブル30に保持された被加工物Wが切削送りされる。
被加工物Wを保持する保持テーブル30は、例えば、その外形が円盤状であり、被加工物Wを吸着するポーラス部材からなる吸着部300と、吸着部300を支持する枠体301とを備えており、吸着部300の露出面であり枠体301と面一の水平な保持面300a上で被加工物Wを吸引保持する。保持テーブル30は、保持テーブル30の底面側に配設された回転手段32によりZ軸方向の軸心周りに回転可能である。
基台10上の後方側には、門型コラム14が保持テーブル30の移動経路上を跨ぐように立設されている。門型コラム14の前面には、例えば、X軸方向とZ軸方向とに直交するY軸方向に第1の切削手段61を往復移動させる第1のY軸移動手段15が配設されている。
第1のY軸移動手段15は、例えば、Y軸方向の軸心を有するボールネジ150と、ボールネジ150と平行に配設された一対のガイドレール151と、ボールネジ150の+Y方向側の一端に連結された図示しないモータと、内部のナットがボールネジ150に螺合し側部がガイドレール151に摺接する可動板153とを備えている。そして、図示しないモータがボールネジ150を回動させると、これに伴い可動板153がガイドレール151にガイドされてY軸方向に移動し、可動板153上に第1のZ軸移動手段17を介して配設された第1の切削手段61がY軸方向に割り出し送りされる。
第1のZ軸移動手段17は、保持テーブル30の保持面300aに対して直交する方向のZ軸方向に第1の切削手段61と保持テーブル30とを相対的に移動させることができ、Z軸方向の軸心を有するボールネジ170と、ボールネジ170と平行に配設された一対のガイドレール171と、ボールネジ170に連結されたモータ172と、第1の切削手段61を支持し内部のナットがボールネジ170に螺合し側部がガイドレール171に摺接する支持部材173とを備えている。
モータ172がボールネジ170を回動させると、支持部材173が一対のガイドレール171にガイドされてZ軸方向に移動し、これに伴い、第1の切削手段61がZ軸方向に移動する。
例えば、可動板153上にはガイドレール171に沿ってZ軸方向に延在する図示しないスケールが形成されており、支持部材173には支持部材173と共に移動する読み取り部が配設されている。読み取り部は、例えば、スケールに形成された目盛りの反射光を読み取る光学式のものであり、読み取ったスケールの目盛りから第1の切削手段61のZ軸方向における高さ位置を測定できる。
第1の切削手段61は、軸方向がY軸方向であるスピンドル610と、支持部材173の下端側に固定されスピンドル610を回転可能に支持するハウジング611と、スピンドル610を回転させる図示しないモータと、スピンドル610の先端に装着されている切削ブレード613とを備えており、モータがスピンドル610を回転駆動することに伴い切削ブレード613が回転する。
切削ブレード613は、外形が環状のワッシャー型の切削ブレードであり、ダイヤモンド砥粒が適宜のバインダーで固定されたものである。切削ブレード613のブレード厚みは例えば500μmとなっており、切削ブレード613は、被加工物Wの外周部分のエッジトリミング等を行うのに適した厚めのブレードである。切削ブレード613は、図2に示す着脱フランジ613a及び固定ナット613bによってスピンドル610の先端に固定されている。なお、切削ブレード613は、例えばアルミニウムからなる台金(ハブ)と台金から径方向外側に向かって突出するように形成された切り刃とを備えるハブブレードであってもよい。
図1に示す門型コラム14の前面には、例えば、Y軸方向に第2の切削手段62を往復移動させる第2のY軸移動手段16が配設されている。
第2のY軸移動手段16は、例えば、Y軸方向の軸心を有するボールネジ160と、ボールネジ160と平行に配設された一対のガイドレール151と、ボールネジ160に連結されたモータ162と、内部のナットがボールネジ160に螺合し側部がガイドレール161に摺接する可動板163とを備えている。そして、モータ162がボールネジ160を回動させると、これに伴い可動板163がガイドレール151にガイドされてY軸方向に移動し、可動板163上に第2のZ軸移動手段18を介して配設された第2の切削手段62がY軸方向に割り出し送りされる。
第2のZ軸移動手段18は、Z軸方向に第2の切削手段62と保持テーブル30とを相対的に移動させることができ、Z軸方向の軸心を有するボールネジ180と、ボールネジ180と平行に配設された一対のガイドレール181と、ボールネジ180に連結されたモータ182と、第2の切削手段62を支持し内部のナットがボールネジ180に螺合し側部がガイドレール181に摺接する支持部材183とを備えている。そして、モータ182がボールネジ180を回動させると、支持部材183が一対のガイドレール181にガイドされてZ軸方向に移動し、これに伴い、第2の切削手段62がZ軸方向に移動する。
第2の切削手段62は、第1の切削手段61とY軸方向において対向するように配設されている。上記第1の切削手段61と第2の切削手段62とは同様に構成されているため、第2の切削手段62の説明については省略する。
切削装置1は、切削ブレード613の直径を認識する直径認識手段8を備えている。直径認識手段8は、保持テーブル30に隣接し切削ブレード613を切り込ませる確認用被加工物W1を保持する確認テーブル80と、確認テーブル80の上方から切削ブレード613をZ軸方向における確認テーブル80に接近する方向に所定量移動させ確認テーブル80が保持した確認用被加工物W1に切り込ませ長尺状の切削溝を形成したときの第1の切削手段61のZ軸方向位置を記憶する溝形成記憶手段81と、溝形成記憶手段81により確認用被加工物W1に形成した切削溝を上方から撮像可能なカメラ85と、カメラ85が撮像した撮像画から切削溝の長さを測定する溝長測定手段83と、切削ブレード613の直径を算出する算出手段84とを備えている。
確認テーブル80は、可動板133上に保持テーブル30に隣接して配設されており、例えば、その外形が矩形状であり、確認用被加工物W1を吸着するポーラス部材からなる吸着部800と、吸着部800を支持する枠体801とを備える。吸着部800はコンプレッサー及び真空発生装置等からなる吸引源809に連通している。確認テーブル80の上面は、確認用被加工物W1を吸引保持する水平な保持面800aとなり、保持面800aの高さ位置は、例えば、保持テーブル30の保持面300aの高さ位置と略同一となっている。
図1、2に示す確認テーブル80に吸引保持される確認用被加工物W1は、例えば、外形が矩形状でその上面W1a及び下面W1bが平行で平坦な薄板状に形成されている。確認用被加工物W1は、ダミーウエーハであり、被加工物Wと略同一の厚みTに形成されている。なお、確認用被加工物W1は、被加工物Wと同じ材質で形成されてもよいし、異なる材質で形成されてもよい。
図1に示すように、カメラ85は、例えばハウジング611の側面に配設されており、カメラ85の下方に位置づけられた確認用被加工物W1を上方から撮像可能となっている。例えば、切削装置1はモニターBを備えており、カメラ85により形成された撮像画がモニターBに表示可能となっている。
カメラ85は、保持テーブル30に保持されている被加工物WのストリートSを検出する図示しないアライメント手段に電気的に接続されている。アライメント手段は、カメラ85により被加工物Wを表面Wa側から撮像した画像に基づき、パターンマッチング等の画像処理を行い、被加工物Wの表面WaのストリートSのY軸方向における位置を検出することができる。
被加工物Wに所望の切削加工(例えば、被加工物Wの外周部分のエッジトリミング)を施すためには、被加工物Wに対する切込み深さを制御する必要がある。そこで、被加工物Wに対する切削を行う前にチョッパーカットセットアップを行うことにより、切削ブレード613の直径を算出して、切削ブレード613の切込み深さの精度を確保する。
以下に、切削装置1においてチョッパーカットセットアップを行う場合の、切削装置1の動作について説明する。なお、本実施形態においては、例えば、第1の切削手段61の切削ブレード613により被加工物Wの切削(エッジトリミング)が複数回行われたことで切削ブレード613に磨耗が生じた後、さらに被加工物Wのエッジトリミングを実施するにあたって行うチョッパーカットセットアップを想定している。
まず、図1に示す確認用被加工物W1が、確認テーブル80の保持面800a上に搬送され載置される。そして、吸引源809が作動して生み出された吸引力が保持面800aに伝達され、図2に示すように、確認用被加工物W1が確認テーブル80によって吸引保持される。確認テーブル80の保持面800aの高さ位置Z3は既知であり、確認用被加工物W1の厚みTも既知であるため、保持面800aの高さ位置Z3よりも+Z方向に厚みT分だけ高い位置である確認用被加工物W1の上面W1aの高さ位置Z2も既知となる。したがって、原点高さ位置Z0に第1の切削手段61が位置した状態におけるスピンドル610の軸中心から確認用被加工物W1の上面W1aまでの距離は予め認識されている。
次いで、確認用被加工物W1を保持した確認テーブル80が、図1に示すX軸移動手段13によって−X方向へ送られて、切削ブレード613の下方に位置づけられた後停止する。また、図示しないモータがスピンドル610を回転させることに伴い、切削ブレード613が−Y方向側(紙面手前側)から見て時計回り方向に回転する。
図1に示す第1のZ軸移動手段17が、原点高さ位置Z0に位置し回転している状態の第1の切削手段61を−Z方向に所定量降下させて、確認テーブル80が保持する確認用被加工物W1に切削ブレード613を切り込ませる。その結果、図3に示す確認用被加工物W1の上面W1aに確認用被加工物W1を横断しない長尺状の切削溝M1が形成される。この状態における第1の切削手段61のZ軸方向位置Z1(スピンドル610の軸心の高さ位置Z1)は、図1に示す可動板153上に配設された図示しないスケールの目盛りを読み取り部が読み取ることで測定され、該読み取り部から測定信号が溝形成記憶手段81に送られて、溝形成記憶手段81が該Z軸方向位置Z1を記憶する。
なお、溝形成記憶手段81が、図1に示す第1のZ軸移動手段17のモータ172に供給される駆動パルスのパルス数をカウントすることにより、第1の切削手段61の−Z方向への移動量を測定して、第1の切削手段61のZ軸方向位置Z1を検出して記憶するようにしてもよい。
次いで、第1のZ軸移動手段17が第1の切削手段61を+Z方向へ移動させて、切削ブレード613を確認用被加工物W1から離間させることで、図4(A)、(B)に示すように切削溝M1が形成された確認用被加工物W1が上方から撮像可能な状態になる。
次に、図5に示すように、例えば、カメラ85の撮像領域内に確認用被加工物W1の上面W1a全体がおさまるように、確認テーブル80がカメラ85の下方に位置付けられる。カメラ85は、例えば、確認テーブル80上の確認用被加工物W1に光を照射する光源850と、ビームスプリッターやレンズ等から構成され確認用被加工物W1からの反射光を捕らえる光学系851と、光学系851で結像された被写体像を光電変換して画像情報を出力するCCD等の撮像素子852とを備えている。撮像素子852は、例えば、200万画素程度の画素数を備えており、1画素(1ピクセル)のサイズは10μm角となっている。
カメラ85により確認用被加工物W1の上面W1aの撮像が行われる。即ち、光源850が確認用被加工物W1に光を照射し、確認用被加工物W1からの反射光が光学系851を介して撮像素子852に結像し、撮像素子852が結像した像の画像情報をモニターBに送る。
図6は、モニターBの所定解像度の画面上に表示された撮像画G1を模式的に表す説明図である。撮像画G1中の各正方形格子は、例えば、輝度値が0〜255の階調でサイズが10μm角である1ピクセルを示している。撮像画G1中において、左斜線で塗られていない領域は確認用被加工物W1の上面W1aを示しており、左斜線塗りで示す領域は切削溝M1を示している。なお、画面中において、切削溝M1を表示するピクセルB11の輝度値(暗さ)は、確認用被加工物W1の上面W1aを表示するピクセルB12の輝度値よりも小さくなっており、また、図6において二点鎖線の丸枠内に一部を拡大して示す切削溝M1の両端を表すピクセルB13(左斜線で全面が塗り潰されていないピクセルB13)は、その輝度値が、左斜線で塗りつぶされたピクセルB11の輝度値よりも大きく、かつ、ピクセルB12の輝度値よりも小さくなっている。よって、切削溝M1は確認用被加工物W1の上面W1aよりも撮像画G1中に暗く表示されている。
次に、図5に示す溝長測定手段83が、図6に示す撮像画G1中のX軸方向に水平方向において直交するY軸方向に列状に並ぶピクセルの輝度値を平均化させる。即ち、Y軸方向一列中の全ピクセルの輝度値の平均値を算出する。さらに、その平均化作業をX軸方向に並ぶ各列において実施する。その結果、グラフF1に示すように、平均化した輝度値を縦軸、X軸方向のピクセル位置を横軸としたグラフを形成する。その後、予め設定した閾値(所定の輝度値)よりY軸方向1列中の全ピクセルの輝度値の平均値が小さい列をX軸方向にカウントして切削溝長さM1dとする。図6において二点鎖線の丸枠内に一部を拡大して示す切削溝M1の−X方向側端の一列は、輝度値の平均値が閾値よりも小さいのでそのピクセルは切削溝M1とカウントし、図6において二点鎖線の丸枠内に一部を拡大して示す切削溝M1の+X方向側端の一列は、輝度値の平均値が閾値よりも大きいのでそのピクセルは切削溝M1とカウントしない。
なお、図6に示すように、切削溝M1の実際の長さと溝長測定手段83が測定した切削溝M1の長さM1dとに僅かな差が生じる場合があるが、その差は最大での20μm未満であるため、後述する算出手段84による切削ブレード613の直径の算出において影響を及ぼすことがない無視できる程度の差である。
次に、図7に示すように、算出手段84が、溝長測定手段83により測定された切削溝M1の長さM1dと、確認用被加工物W1を保持する確認テーブル80の保持面800aの高さ位置Z3と、確認用被加工物W1に切削溝M1を形成したときに溝形成記憶手段81が記憶した第1の切削手段61のZ軸方向位置Z1と、を用いて切削ブレード613の直径を算出する。まず、保持面800aの高さ位置Z3と確認用被加工物W1の厚みTとから、確認用被加工物W1の上面W1aの高さ位置Z2を算出する。さらに、確認用被加工物W1の上面W1aの高さ位置Z2から溝形成記憶手段81が記憶した第1の切削手段61のZ軸方向位置Z1までの距離h1を算出する。
そして、算出手段84は、次の計算式により、切削ブレード613の直径2r1を算出する。なお、切削ブレード613の直径2r1は、切削ブレード613の半径r1を二倍したものである。
r1=(1/2×M1d)+h1・・・・・・・・・・・・(式1)
2r1=2(1/4×M1d+h11/2・・・・・・・・・(式2)
ここで、式(1)はピタゴラスの定理を用いたものであり、式(2)は式(1)を変形したものである。
このように切削ブレード613の直径2r1が算出されることで、第1の切削手段61の切削ブレード613による被加工物Wの切削(例えば、エッジトリミング)のための切削装置1のセットアップをすることができる。
上記のように、本発明に係る切削装置1は、切削ブレード613の直径を認識する直径認識手段8を備えており、直径認識手段8は、保持テーブル30に隣接し切削ブレード613を切り込ませる確認用被加工物W1を保持する確認テーブル80と、確認テーブル80の上方から切削ブレード613をZ軸方向における確認テーブル80に接近する方向に所定量移動させ確認テーブル80が保持した確認用被加工物W1に切り込ませ長尺状の切削溝M1を形成したときの第1の切削手段61のZ軸方向位置Z1を記憶する溝形成記憶手段81と、溝形成記憶手段81により確認用被加工物W1に形成した切削溝M1を上方から撮像可能なカメラ85と、カメラ85が撮像した撮像画G1のY軸方向に並んだ全てのピクセル(1列を構成するピクセル)の輝度値の平均値を算出し、さらに、その平均化作業をX軸方向において実施し、X軸方向において平均化させた列ごとの輝度値のうち予め設定した輝度値より小さい(暗い)輝度値である列のピクセルは切削溝M1として判断してX軸方向にカウントし切削溝M1の長さM1dとする溝長測定手段83と、算出手段84とを備えており、チョッパーカットセットアップを行う際に、切削溝M1の座標位置の検出や撮像画G1の2値化処理を行わずとも、切削溝M1の長さM1dを素早く測定することができ、また、2値化処理を行わなくても済むことで、切削屑が付着しないように確認用被加工物W1の上面W1aをカバーしたり確認用被加工物W1の上面W1aを十分に洗浄したりする必要が無くなる。そして、算出手段84によって、測定された切削溝M1の長さM1dと、確認用被加工物W1を保持する確認テーブル80の保持面800aの高さ位置Z3と、確認用被加工物W1に切削溝M1を形成したときに溝形成記憶手段81が記憶した第1の切削手段61のZ軸方向位置Z1と、を用いて切削ブレード613の直径2r1を算出することができるため、チョッパーカットセットアップを素早く完了させることが可能となる。
なお、例えば、切削ブレード613のブレード厚みが300〜500μmであり、ピクセル1つのサイズ(10μm)よりも大きいものであることで、算出手段84による切削ブレード613の直径2r1の算出精度を、セットアップ後に切削ブレード613によって施す加工条件(例えば、被加工物Wの外周部分のエッジトリミング等)に必要なレベルで維持しつつ、チョッパーカットセットアップを素早く完了させることが可能となる。
本発明に係る切削装置1は上記実施形態に限定されるものではなく、また、添付図面に図示されている切削装置1の各構成等についても、これに限定されず、本発明の効果を発揮できる範囲内で適宜変更可能である。
例えば、直径認識手段は、図1に示す確認テーブル80と、溝形成記憶手段81と、カメラ85と、溝長測定手段83と、算出手段84とに加えて、図8に示すカメラ85が撮像した撮像画を2値化した画像中の黒いピクセルを切削溝として判断してX軸方向に並ぶ黒いピクセルをカウントして切削溝の長さとする第2の溝長測定手段87と、スピンドル610に装着した切削ブレード613の厚みを少なくとも設定する設定手段88と、設定手段88に設定された切削ブレードの厚みに応じて溝長測定手段83と第2の溝長測定手段87とを切り換える切換手段89とを更に備えた直径認識手段8Aであってもよい。図8は、カメラ85と、溝長測定手段83と、算出手段84と、第2の溝長測定手段87と、設定手段88と、切換手段89との構成を示す説明図である。
直径認識手段8Aを備えた切削装置1においてチョッパーカットセットアップを行う場合の切削装置1の動作について、以下に説明する。切削装置1の第1の切削手段61には、厚みが15μmから40μmの薄い切削ブレードが備えられており、例えば、切削ブレードにより被加工物Wの切削(フルカット又はハーフカット)が複数回行われたことで切削ブレードに磨耗が生じた後、さらに被加工物Wの切削を実施するにあたって行うチョッパーカットセットアップを想定している。
まず、先に説明したチョッパーカットセットアップと同様に、確認用被加工物W1に第1の切削手段61の切削ブレードによる切削溝の形成、溝形成記憶手段81による第1の切削手段61のZ軸方向位置の記憶、及びカメラ85による確認用被加工物W1の上面W1aの撮像、及びカメラ85により形成された撮像画についての画像情報のモニターBへの送出が行われる。
例えば、作業者が、切削装置1のチョッパーカットセットアップを完了させた後に設定手段88に少なくとも切削ブレードの厚みを15μmと入力して設定する。なお、合わせて、被加工物Wに実際に施す所望の加工の条件(例えば、フルカット又はハーフカット)を設定手段88に入力して設定してもよい。そして、設定手段88から切換手段89に該入力情報が送られる。
切換手段89は、切削ブレードは厚みが15μmと薄いものであるとの情報、及び加工条件がフルカットまたはハーフカットの切断加工であるとの情報から、直径認識手段8Aを第2の溝長測定手段87が動作する状態に切り換える。
図9は、厚み15μmの切削ブレードにより形成された切削溝M2が写っておりモニターBの画面上に表示された撮像画G2を模式的に表す説明図である。左斜線で塗られていない領域は確認用被加工物W1の上面W1aを示しており、左斜線塗りで示す領域は切削溝M2を示している。切削溝M2を表示するピクセルB14の輝度値及び二点鎖線の丸枠内に一部を拡大して示す切削溝M2の両端を表すピクセルB15の輝度値は、確認用被加工物W1の上面W1aを表示するピクセルB12の輝度値よりも小さくなっており、ピクセルB14の輝度値はピクセルB15の輝度値よりも小さくなっている。よって、切削溝M2は確認用被加工物W1の上面W1aよりも撮像画G2中で暗く表示されている。
次に、第2の溝長測定手段87の2値化処理部870によって、該撮像画が所定のスライスレベル(閾値)で2値化されることで2値化画像が形成され、モニターBの画面上に2値化画像が表示される。すなわち、2値化処理部870は、例えば、1ピクセルの輝度が階調0〜255で表示されている撮像画G2を、閾値より輝度値の小さいピクセルを0として黒色のピクセルに変換し、閾値より輝度値の大きいピクセルを255として白色のピクセルに変換することで、撮像画G2を2値化した画像に変換する。その後、第2の溝長測定手段87は、2値化した画像中の黒いピクセルを切削溝M2として判断して長さを測定する。即ち、任意のY軸座標位置における黒色のピクセルのX軸方向の総和をカウントし、この総和を切削溝M2の長さM2dとして認識する。図9において二点鎖線の丸枠内に一部を拡大して示す切削溝M2の−X方向側端のピクセルは、輝度値が閾値よりも小さいのでそのピクセルは切削溝M2とカウントし、図9において二点鎖線の丸枠内に一部を拡大して示す切削溝M2の+X方向側端のピクセルは、輝度値が閾値よりも大きいのでそのピクセルは切削溝M2とカウントしない。
なお、図9に示すように、切削溝M2の実際の長さと第2の溝長測定手段87が測定した切削溝M2の長さM2dとに僅かな差が生じる場合があるが、その差は最大での20μm未満であるため、後述する算出手段84による厚み15μmの切削ブレードの直径の算出において影響を及ぼすことがない無視できる程度の差となる。
算出手段84が、溝長測定手段83により測定された図9に示す切削溝M2の長さM2dと、確認用被加工物W1を保持する確認テーブル80の保持面800aの高さ位置と、確認用被加工物W1に切削溝M2を形成したときに溝形成記憶手段81が記憶した第1の切削手段61のZ軸方向位置と、を用いて前記と同様に厚み15μmの切削ブレードの直径を算出することで、厚み15μmの切削ブレードを備える第1の切削手段61によって被加工物Wをフルカットするための切削装置1のセットアップをすることができる。
直径認識手段8Aは、カメラ85が撮像した撮像画G2を2値化した画像中の黒いピクセルを切削溝M2として判断してX軸方向にカウントして切削溝M2の長さM2dとする第2の溝長測定手段87と、スピンドル610に装着した切削ブレード613の厚みを少なくとも設定する設定手段88と、設定手段88に設定された切削ブレード613の厚みに応じて溝長測定手段83と第2の溝長測定手段87とを切り換える切換手段89とを更に備え、切換手段89で溝長測定手段83と第2の溝長測定手段87とを切り換えて切削溝M2の長さを測定可能とする、即ち、切削ブレード613が厚い切削ブレード(刃厚が例えば500μm)である場合には、溝長測定手段83で2値化処理を行わずに切削溝の長さを素早く測定し、切削ブレード613が薄い切削ブレードである場合(刃厚が例えば15μm)には、第2の溝長測定手段87で2値化処理を行い切削溝M2の長さを正確に測定することで、切削ブレード613の厚みに応じて、算出手段84による切削ブレード613の直径の算出精度を求められる許容範囲内に収まるようにしつつ、チョッパーカットセットアップを行うことが可能となる。
W:被加工物 Wa:被加工物の表面 Wb:被加工物の裏面 S:ストリート D:デバイス
1:切削装置 10:基台 14:門型コラム
30:保持テーブル 300:吸着部 300a:保持面 301:枠体
13:X軸移動手段 130:ボールネジ 131:ガイドレール 132:モータ
133:可動板
15:第1のY軸移動手段 150:ボールネジ 151:ガイドレール 153:可動板
17:第1のZ軸移動手段 170:ボールネジ 171:ガイドレール 172:モータ 173:支持部材
16:第2のY軸移動手段 18:第2のZ軸移動手段
61:第1の切削手段 610:スピンドル 611:ハウジング 613:切削ブレード 62:第2の切削手段
W1:確認用被加工物 W1a:確認用被加工物の上面 W1b:確認用被加工物の下面 M1:切削溝
8:直径認識手段 80:確認テーブル 800:吸着部 800a:保持面 801:枠体 809:吸引源 81:溝形成記憶手段 83:溝長測定手段 84:算出手段 85:カメラ B:モニター G1:撮像画
8A:直径認識手段 87:第2の溝長測定手段 88:設定手段 89:切換手段 G2:撮像画

Claims (2)

  1. 被加工物を保持する保持面を有する保持テーブルと、切削ブレードを先端に装着したスピンドルを回転自在に支持し該保持テーブルが保持した被加工物を該切削ブレードで切削する切削手段と、該切削手段と該保持テーブルとを相対的に切削送り方向のX軸方向に移動させるX軸移動手段と、該保持面に対して直交する方向のZ軸方向に該切削手段と該保持テーブルとを相対的に移動させるZ軸移動手段と、該切削ブレードの直径を認識する直径認識手段と、を備えた切削装置であって、
    該直径認識手段は、
    該保持テーブルに隣接し該切削ブレードを切り込ませる確認用被加工物を保持する確認テーブルと、該確認テーブルの上方から該切削ブレードを該Z軸方向における該確認テーブルに接近する方向に所定量移動させ該確認テーブルが保持した確認用被加工物に切り込ませ長尺状の切削溝を形成したときの該切削手段のZ軸方向位置を記憶する溝形成記憶手段と、該溝形成記憶手段により確認用被加工物に形成した該切削溝を上方から撮像可能なカメラと、該カメラが撮像した撮像画の該X軸方向に水平方向において直交するY軸方向の1列中に並んだ全てのピクセルの輝度値の平均値が所定の輝度値より小さいと該列のピクセルを切削溝として判断してX軸方向にカウントし該切削溝の長さとする溝長測定手段と、算出手段とを備え、
    該算出手段は、該溝長測定手段で測定された該切削溝の長さと、確認用被加工物を保持する該確認テーブルの保持面の高さ位置と、該確認用被加工物に該切削溝を形成したときに溝形成記憶手段が記憶した該切削手段のZ軸方向位置と、を用いて該切削ブレードの直径を算出する切削装置。
  2. 前記直径認識手段は、前記カメラが撮像した撮像画を2値化した画像中の黒いピクセルを前記切削溝として判断してX軸方向に並ぶ該黒いピクセルをカウントして該切削溝の長さとする第2の溝長測定手段と、前記スピンドルに装着した前記切削ブレードの厚みを少なくとも設定する設定手段と、該設定手段に設定された該切削ブレードの厚みに応じて前記溝長測定手段と該第2の溝長測定手段とを切り換える切換手段とを更に備え、該切削ブレードの厚みに応じて該切換手段で該溝長測定手段と該第2の溝長測定手段とを切り換えて該切削溝の長さを測定可能な請求項1記載の切削装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021084165A (ja) * 2019-11-27 2021-06-03 株式会社ディスコ 加工装置
JP2022047256A (ja) * 2020-09-11 2022-03-24 株式会社ササキコーポレーション 農作業機
WO2023209904A1 (ja) * 2022-04-27 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 ダイシング装置、半導体チップの製造方法および半導体チップ

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102609695B1 (ko) * 2022-12-02 2023-12-05 (주)대영엔씨디 절단 깊이 및 거리측정이 가능하며 분진 흡입기를 구비한 건식 도로 및 건물 바닥 절단장치 및 이를 이용한 도로 및 건물 바닥 절단방법

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007298376A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Sharp Corp 境界の位置決定装置、境界の位置を決定する方法、当該装置としてコンピュータを機能させるためのプログラム、および記録媒体
JP2011061069A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法
JP2013041972A (ja) * 2011-08-15 2013-02-28 Disco Abrasive Syst Ltd 切削方法
JP2016213342A (ja) * 2015-05-11 2016-12-15 株式会社ディスコ 切削ブレードの外径サイズ検出方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007298376A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Sharp Corp 境界の位置決定装置、境界の位置を決定する方法、当該装置としてコンピュータを機能させるためのプログラム、および記録媒体
JP2011061069A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法
JP2013041972A (ja) * 2011-08-15 2013-02-28 Disco Abrasive Syst Ltd 切削方法
JP2016213342A (ja) * 2015-05-11 2016-12-15 株式会社ディスコ 切削ブレードの外径サイズ検出方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021084165A (ja) * 2019-11-27 2021-06-03 株式会社ディスコ 加工装置
JP7393926B2 (ja) 2019-11-27 2023-12-07 株式会社ディスコ 加工装置
JP2022047256A (ja) * 2020-09-11 2022-03-24 株式会社ササキコーポレーション 農作業機
JP7370070B2 (ja) 2020-09-11 2023-10-27 株式会社ササキコーポレーション 農作業機
WO2023209904A1 (ja) * 2022-04-27 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 ダイシング装置、半導体チップの製造方法および半導体チップ
WO2023210090A1 (ja) * 2022-04-27 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 ダイシング装置、半導体チップの製造方法および半導体チップ

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