[go: up one dir, main page]

JP2013167001A - Vacuum deposition system and vacuum deposition method - Google Patents

Vacuum deposition system and vacuum deposition method Download PDF

Info

Publication number
JP2013167001A
JP2013167001A JP2012031531A JP2012031531A JP2013167001A JP 2013167001 A JP2013167001 A JP 2013167001A JP 2012031531 A JP2012031531 A JP 2012031531A JP 2012031531 A JP2012031531 A JP 2012031531A JP 2013167001 A JP2013167001 A JP 2013167001A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum
line
chamber
workpiece
vacuum deposition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012031531A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masa Wakabayashi
雅 若林
Noboru Kato
昇 加藤
Yasuaki Ishizawa
泰明 石澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2012031531A priority Critical patent/JP2013167001A/en
Priority to KR1020130004240A priority patent/KR20130094734A/en
Priority to TW102103292A priority patent/TW201339335A/en
Priority to CN2013100461982A priority patent/CN103255375A/en
Publication of JP2013167001A publication Critical patent/JP2013167001A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/164Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using vacuum deposition

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

【課題】真空搬送チャンバと真空蒸着チャンバとを直列に配置する真空蒸着システムにおいて、材料損失を低減できるシステム及び方法を提供する。
【解決手段】ワークWを水平に搬送する真空搬送チャンバHA1〜HA3、HB1〜HB4とワークに蒸着材料を蒸着する真空蒸着チャンバCA、CB、CCとを交互に直列に配置し、複数の真空蒸着チャンバを有するラインLA、LBで構成される真空蒸着システム100において、ラインを互いに並行してN(Nは2以上)ラインを設け、真空蒸着チャンバはそれぞれのNラインに跨って設けられたNライン真空蒸着チャンバであり、Nライン真空蒸着チャンバは、ライン毎にワークを蒸着させる蒸着位置を有し、Nラインのうち第1のラインで第1のワークを蒸着中に、第1のラインとは異なる他のラインで第2のワークを下流側の真空搬送チャンバに搬出し、第3のワークを上流側の真空搬送チャンバから搬入する。
【選択図】図1
A system and method for reducing material loss in a vacuum deposition system in which a vacuum transfer chamber and a vacuum deposition chamber are arranged in series are provided.
Vacuum conveying chambers HA1 to HA3, HB1 to HB4 for horizontally conveying a workpiece W and vacuum deposition chambers CA, CB, and CC for depositing a deposition material on the workpiece are alternately arranged in series to form a plurality of vacuum depositions. In the vacuum deposition system 100 composed of lines LA and LB having chambers, N (N is 2 or more) lines are provided in parallel with each other, and the vacuum deposition chamber is provided with N lines straddling the N lines. The N-line vacuum deposition chamber has a deposition position for depositing a work for each line, and the first line is the first line during the deposition of the first work among the N lines. The second workpiece is carried out to the downstream vacuum transfer chamber on another different line, and the third workpiece is carried from the upstream vacuum transfer chamber.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、直列に配置された複数の真空蒸着チャンバと前記直列上で各装着チャンバ間を蒸着するワークを搬送する真空搬送チャンバとを有する真空蒸着システム及び真空蒸着方法に係わり、特に蒸着法による製造に好適な真空蒸着システム及び真空蒸着方法に関する。   The present invention relates to a vacuum vapor deposition system and a vacuum vapor deposition method having a plurality of vacuum vapor deposition chambers arranged in series and a vacuum conveyance chamber for conveying a workpiece for vapor deposition between the mounting chambers in series. The present invention relates to a vacuum deposition system and a vacuum deposition method suitable for manufacturing.

真空基板などのワークに有機ELなどを蒸着する真空蒸着法がある。一般的な真空蒸着法では、安定した蒸着を持続させるために、蒸発源から材料蒸発速度を一定に保つように制御する必要がある。抵抗加熱や誘導加熱などの方法を用いて蒸着材料を加熱し物理蒸着(PVC)を行なう場合、蒸発速度の安定には一定の時間が必要となり、材料蒸発速度を一定に保ち常時蒸発させる必要がある。そのために、真空蒸着チャンバにワークを1枚ずつ入れて処理していると、ワークの蒸着後にワークを真空蒸着チャンバから搬出し、新たなワークを搬入する間の蒸発源から蒸発する材料は蒸着工程になんら寄与せず、そのまま材料損失となっていた。   There is a vacuum deposition method in which organic EL or the like is deposited on a workpiece such as a vacuum substrate. In a general vacuum deposition method, in order to maintain stable deposition, it is necessary to control the material evaporation rate from the evaporation source so as to be kept constant. When physical vapor deposition (PVC) is performed by heating the vapor deposition material using a method such as resistance heating or induction heating, a certain amount of time is required to stabilize the evaporation rate, and it is necessary to constantly evaporate while keeping the material evaporation rate constant. is there. For this reason, when the workpieces are put into the vacuum deposition chamber one by one and processed, the material that evaporates from the evaporation source while the workpiece is unloaded after the workpiece is deposited and the new workpiece is loaded is the deposition process. It was a material loss as it was.

この材料損失を低減する課題を解決とする方法としては特許文献1がある。特許文献1には、真空搬送チャンバの周囲に真空蒸着チャンバを設けるクラスタ形式の真空蒸着システムにおいて、前記真空蒸着チャンバに2枚のワークを交互に搬入し、搬出し、蒸着する方法が開示されている。   As a method for solving the problem of reducing the material loss, there is Patent Document 1. Patent Document 1 discloses a method of carrying in, carrying out, and depositing two workpieces alternately in the vacuum deposition chamber in a cluster type vacuum deposition system in which a vacuum deposition chamber is provided around a vacuum transfer chamber. Yes.

特開2008−227477号公報JP 2008-227477 A

しかしながら、図1に示すように真空搬送チャンバと真空蒸着チャンバとを直列に配置する真空蒸着システムにおいても、ワークの搬入時における材料損失の低減が望まれている。   However, even in a vacuum deposition system in which a vacuum transfer chamber and a vacuum deposition chamber are arranged in series as shown in FIG. 1, it is desired to reduce material loss when a workpiece is loaded.

従って、本発明の目的は、真空搬送チャンバと真空蒸着チャンバとを直列に配置する真空蒸着システムにおいて、材料損失を低減できる経済性のよい真空蒸着システム及び真空蒸着方法を提供することである。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an economical vacuum deposition system and a vacuum deposition method that can reduce material loss in a vacuum deposition system in which a vacuum transfer chamber and a vacuum deposition chamber are arranged in series.

本発明は、上記目的を達成するために、少なくとも以下の特徴を有する。
本発明は、ワークを水平に搬送する真空搬送チャンバと前記ワークに蒸着材料を蒸着する真空蒸着チャンバとを交互に直列に配置し、複数の前記真空蒸着チャンを有するラインで構成される真空蒸着システムにおいて、前記ラインを互いに並行してN(Nは2以上)ラインを設け、前記真空蒸着チャンバはそれぞれの前記Nラインに跨って設けられたNライン真空蒸着チャンバであり、前記Nライン真空蒸着チャンバは、ライン毎にワークを蒸着させる蒸着位置を有し、前記Nラインのうち第1のラインで第1の前記ワークを蒸着中に、前記第1のラインとは異なる他のラインで第2のワークを下流側の前記真空搬送チャンバに搬出し、第3のワークを上流側の前記真空搬送チャンバから搬入することを第1の特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention has at least the following features.
The present invention provides a vacuum deposition system comprising a plurality of vacuum deposition chambers in which vacuum conveyance chambers for horizontally conveying a workpiece and vacuum deposition chambers for depositing a deposition material on the workpiece are alternately arranged in series. The N lines (N is 2 or more) are provided in parallel with each other, and the vacuum deposition chamber is an N line vacuum deposition chamber provided across the N lines, and the N line vacuum deposition chamber Has a deposition position for depositing a workpiece for each line, and during the deposition of the first workpiece on the first line among the N lines, the second on another line different from the first line. The first feature is that the work is carried out to the vacuum transfer chamber on the downstream side, and the third work is carried in from the vacuum transfer chamber on the upstream side.

また、本発明は、ワークを水平に搬送する真空搬送チャンバと前記ワークに蒸着材料を蒸着する真空蒸着チャンバとを交互に直列に配置し、複数の前記真空蒸着チャンを有するラインを互いに並行してN(Nは2以上)ラインを有し、前記真空蒸着チャンバはそれぞれの前記Nラインに跨って設けられたNライン真空蒸着チャンバで前記ワークを蒸着する真空蒸着方法において、前記Nラインのうち第1のラインで第1の前記ワークを蒸着中に、前記第1のラインとは異なる他のラインで第2のワークを下流側の前記真空搬送チャンバに搬出し、第3のワークを上流側の前記真空搬送チャンバから搬入することを第2の特徴とする。   In the present invention, a vacuum transfer chamber for horizontally transferring a workpiece and a vacuum evaporation chamber for depositing a deposition material on the workpiece are alternately arranged in series, and a plurality of lines having the vacuum deposition chambers are arranged in parallel with each other. N (N is 2 or more) lines, wherein the vacuum deposition chamber deposits the workpiece in an N line vacuum deposition chamber provided across the N lines. During the deposition of the first workpiece on one line, the second workpiece is carried out to the vacuum transfer chamber on the downstream side in another line different from the first line, and the third workpiece is placed on the upstream side. Carrying in from the said vacuum conveyance chamber makes it 2nd characteristic.

さらに、前記Nは2であり、前記他のラインは第2のラインであってもよい。
また、前記真空搬送チャンバは、前記ワークの搬送方向に前後に伸縮する多段直動軸を有するフィード機構を有していてもよい。
Further, N may be 2, and the other line may be a second line.
The vacuum transfer chamber may have a feed mechanism having a multistage linear motion shaft that expands and contracts back and forth in the transfer direction of the workpiece.

さらに、上流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ或いはロード室から前記ワークを搬出し、下流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ又はアンロード室へ前記ワークを搬入してもよい。
また、前記搬入又は前記搬出は、蒸着位置の上方に設けられ前記蒸着位置と搬入出位置との間を昇降する受渡機構を介して行ってもよい。
Furthermore, the work may be carried out from the upstream N line vacuum vapor deposition chamber or load chamber, and the work may be carried into the downstream N line vacuum vapor deposition chamber or unload chamber.
The carry-in or carry-out may be performed via a delivery mechanism that is provided above the vapor deposition position and moves up and down between the vapor deposition position and the carry-in / out position.

さらに、前記Nライン真空蒸着チャンバは、前記蒸着位置から下部の領域において蒸発源を2次元移動させる蒸発源駆動手段を有してもよい。
また、前記真空搬送チャンバの真空部は、前記蒸着位置より高い位置に設けられ、前記Nライン真空蒸着チャンバは前記真空搬送チャンバの真空部の下側に突き出た構造を有してもよい。
Further, the N-line vacuum deposition chamber may have evaporation source driving means for moving the evaporation source two-dimensionally in a region below the deposition position.
Further, the vacuum part of the vacuum transfer chamber may be provided at a position higher than the vapor deposition position, and the N line vacuum vapor deposition chamber may have a structure protruding below the vacuum part of the vacuum transfer chamber.

さらに、前記真空搬送チャンバは各々前記Nラインに跨って設けられたNライン真空搬送チャンバであり、前記Nライン真空搬送チャンバは前記フィード機構を前記Nライン間を移動させる手段、又は1台の水平多関節型の搬送ロボットを有していてもよい。
また、前記真空搬送チャンバは、前記ワークのみ又は前記ワークを保持するワーク搬送体或いはマスクと一体になった前記ワークを搬送してもよい。
Further, each of the vacuum transfer chambers is an N-line vacuum transfer chamber provided across the N lines, and the N-line vacuum transfer chamber is a means for moving the feed mechanism between the N lines, or a single horizontal line. An articulated transfer robot may be included.
The vacuum transfer chamber may transfer only the workpiece or the workpiece integrated with a workpiece transfer body or mask that holds the workpiece.

本発明によれば、真空搬送チャンバと真空蒸着チャンバとを直列に配置する真空蒸着システムにおいて、材料損失を低減できる経済性のよい真空蒸着システム及び真空蒸着方法を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, in the vacuum evaporation system which arrange | positions a vacuum conveyance chamber and a vacuum evaporation chamber in series, the economical vacuum evaporation system and vacuum evaporation method which can reduce material loss can be provided.

本発明の実施形態における真空蒸着システムを示す図である。It is a figure which shows the vacuum evaporation system in embodiment of this invention. 真空蒸着チャンバと真空搬送チャンバの構造を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of a vacuum evaporation chamber and a vacuum conveyance chamber. 真空搬送チャンバ内のフィード機構の説明図である。It is explanatory drawing of the feed mechanism in a vacuum conveyance chamber. 蒸発源を2つのラインに跨って移動し、2つのラインのワークを蒸着する蒸発源駆動手段の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the evaporation source drive means which moves an evaporation source across two lines, and vapor-deposits the workpiece | work of two lines. 2つのラインに跨って行う蒸着処理フロー及び蒸発源の動作フローを示す図である。It is a figure which shows the vapor deposition processing flow performed across two lines, and the operation | movement flow of an evaporation source. 蒸発源の動作を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically operation | movement of an evaporation source.

本発明の実施形態を図1から図6を用いて説明する。図1は、本発明の実施形態における真空蒸着システム100を示す。真空蒸着システム100は、2つの並行ラインLA、LBと、全体を管理し各部を制御する制御装置40と、を有する。真空蒸着システム100は、両ラインに跨る3つの真空蒸着チャンバCA、CB、CCと、各ラインにワークWを搬入するロード室IA、IBと、各ラインから処理済のワークWを搬出するアンロード室EA、EBと、を有する。また、真空蒸着システム100は、各真空蒸着チャンバC(代表して示すときはCのみを記す)間を、或いはロード室IA、IB又はアンロード室EA、EBと該当する真空蒸着チャンバCとの間を、ワークWを搬送する後述するフィード機構を有する真空搬送チャンバHA1乃至HA4及びHB1乃至HA4(代表して示すときはKAのみを記す)を有する。矢印KAは、各フィード機構のワークWの搬送範囲を示す。例えば、矢印KA1は、真空搬送チャンバHA1のフィード機構の搬送範囲を示す。なお、各ラインのロード室IA、IB及びアンロード室EA、EBに示す小さな矢印は、ワークWの搬送方向を示す。即ち、左側が上流側、右側が下流側となる。   An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows a vacuum deposition system 100 in an embodiment of the present invention. The vacuum deposition system 100 includes two parallel lines LA and LB, and a control device 40 that manages the whole and controls each unit. The vacuum deposition system 100 includes three vacuum deposition chambers CA, CB, and CC that straddle both lines, load chambers IA and IB that carry workpieces W into the respective lines, and unload that carries processed workpieces W from the respective lines. And chambers EA and EB. Further, the vacuum deposition system 100 is provided between each vacuum deposition chamber C (only C is shown as a representative), or between the load chambers IA and IB or the unload chambers EA and EB and the corresponding vacuum deposition chamber C. There are vacuum transfer chambers HA1 to HA4 and HB1 to HA4 (represented only as KA when representatively shown) having feed mechanisms (to be described later) for transferring the workpiece W. An arrow KA indicates the conveyance range of the workpiece W of each feed mechanism. For example, the arrow KA1 indicates the transport range of the feed mechanism of the vacuum transport chamber HA1. In addition, the small arrow shown to load chamber IA, IB and unload chamber EA, EB of each line shows the conveyance direction of the workpiece | work W. FIG. That is, the left side is the upstream side and the right side is the downstream side.

このような構成によって、本実施形態は、ワークWの下面を一様に蒸着する装置を構成できる。各真空蒸着チャンバCの間で同一蒸着材料を蒸着してもよいし、異なった蒸着材料を蒸着してもよい。また、各真空蒸着チャンバCの数は、3に限らず複数であればよい。
また、ロード室又はアンロード室の代わりに、前工程又は後工程を接続してもよい。
With this configuration, this embodiment can configure an apparatus for uniformly depositing the lower surface of the workpiece W. The same deposition material may be deposited between the vacuum deposition chambers C, or different deposition materials may be deposited. Further, the number of vacuum deposition chambers C is not limited to three but may be plural.
Further, a pre-process or a post-process may be connected instead of the load chamber or the unload chamber.

図2は、真空蒸着チャンバCと真空搬送チャンバH(代表して示すときはHのみを記す)の構造を示す側面図で、ラインLAのHA2、CB及びHA3を矢印Dの方向からみた矢視図である。基本的には真空蒸着チャンバCと真空搬送チャンバHの各構造は同一なので、各構造には場所示すCB、HA2、HA3などを示す符号は示さない。   FIG. 2 is a side view showing the structure of the vacuum deposition chamber C and the vacuum transfer chamber H (only H is shown as a representative), and is a view of HA2, CB and HA3 of the line LA as seen from the direction of the arrow D. FIG. Basically, the structures of the vacuum deposition chamber C and the vacuum transfer chamber H are the same, and therefore, the reference numerals indicating the locations of CB, HA2, HA3, etc. are not shown in each structure.

真空蒸着チャンバCは、大別してフィード機構Fとの間でワークWの受け渡しをする受渡部2と、ワークWに蒸着材料を蒸着する蒸着部1とを有する。また、真空蒸着チャンバCは、真空蒸着チャンバ内を所定の真空度の保つクライオポンプ9と、真空搬送チャンバHとの間に設けられたゲート弁10を有する。ゲート弁は、必ずしもすべての真空搬送チャンバHに設ける必要はない。少なくとも、各ラインLA、LBにおいて関係するゲート弁がすべて大気開放状態とならないように設ければよい。例えば、最上流側及び最下流側の真空搬送チャンバ又はロード室或いはアンロード室の搬入出口にゲート弁を設けてもよい。なお、ワークWは、中央部に蒸着するための開口部を有するワーク搬送体4に保持されて搬送される。勿論、直接ワークを搬送してもよい。その場合は、蒸着面とは反対側の面を保持することが望ましい。   The vacuum deposition chamber C is roughly divided into a delivery unit 2 that delivers a workpiece W to and from the feed mechanism F, and a deposition unit 1 that deposits a deposition material on the workpiece W. Further, the vacuum deposition chamber C includes a gate valve 10 provided between the cryopump 9 that maintains a predetermined degree of vacuum in the vacuum deposition chamber and the vacuum transfer chamber H. The gate valve is not necessarily provided in every vacuum transfer chamber H. At least the gate valves related to the lines LA and LB may be provided so as not to be open to the atmosphere. For example, a gate valve may be provided at the loading / unloading port of the vacuum transfer chamber or load chamber or unload chamber on the most upstream side and the most downstream side. In addition, the workpiece | work W is hold | maintained and conveyed by the workpiece conveyance body 4 which has the opening part for vapor deposition in a center part. Of course, you may convey a workpiece | work directly. In that case, it is desirable to hold the surface opposite to the vapor deposition surface.

受渡部2には、上流のフィード機構Fからワーク搬送体4を受渡位置UPで受け取り、破線で示す蒸着位置JPまで移動し、蒸着後元の受渡位置UPまで戻り、下流側のフィード機構Fにワーク搬送体4を渡す受渡機構20を有する。図2に示す受渡機構20はラインLA用であるが、紙面裏側には同一構造を有するラインLB用の受渡機構20が存在する。   The delivery unit 2 receives the workpiece carrier 4 from the upstream feed mechanism F at the delivery position UP, moves to the vapor deposition position JP indicated by the broken line, returns to the original delivery position UP after vapor deposition, and returns to the downstream feed mechanism F. A delivery mechanism 20 for delivering the workpiece carrier 4 is provided. The delivery mechanism 20 shown in FIG. 2 is for the line LA, but there is a delivery mechanism 20 for the line LB having the same structure on the back side of the sheet.

受渡機構20は、ワーク搬送体4と同様に蒸着側に開口部を有する受渡体21と、受渡体21の四隅部(図2では2隅のみ示す)に先端が固定され、真空蒸着チャンバCの上部の真空シール25を介して設けられた鞘23内を移動する支持棒22とを有する。受渡体21は、相対する2辺(図2では1辺のみ記す)の中央部に先端が固定されたボールねじ軸25bによって昇降する。このとき、ボールねじ軸25bは、モータの駆動を図示しない磁性流体シールで伝動されたナット25nによって駆動され、鞘24内を移動する。   The delivery mechanism 20 has a delivery body 21 having an opening on the vapor deposition side, like the work transport body 4, and four tips of the delivery body 21 (only two corners are shown in FIG. 2). And a support rod 22 that moves in a sheath 23 provided through an upper vacuum seal 25. The delivery body 21 is moved up and down by a ball screw shaft 25b whose tip is fixed at the center of two opposite sides (only one side is shown in FIG. 2). At this time, the ball screw shaft 25b is driven by a nut 25n that is driven by a magnetic fluid seal (not shown) to drive the motor, and moves within the sheath 24.

次に、蒸着部1を説明する前に、真空搬送チャンバH内のフィード機構Fを図3を用いて図2と共に説明する。図3(a)はフィード機構Fが全く延びていない中立の状態を示し、図3(b)はフィード機構FがワークWの搬送方向に最も右側に移動し伸びた状態を示す。左側にも図3(b)と同様に移動し伸びる。
フィード機構Fは、移動ベース31bと、移動ベース31b上にワークWの搬送方向に平行に設けられた2本の軌道軸32(図3では紙面側の1本のみ示す)と、各軌道軸の両端部から所定位置X離れた駆動軸32上を移動する合計4個の直動軸受け33(図3では図示された軌道軸の2個のみを示す)とで構成された一段の直動軸を備え、直動軸受け33を上段の移動ベース31bに固定することで多段の直動軸を有する。なお、最上段直動軸のワーク搬送体4を載置する部分をテーブル34といい、固定ベース31aは真空搬送チャンバHの底部に固定されている。
Next, before describing the vapor deposition section 1, the feed mechanism F in the vacuum transfer chamber H will be described with reference to FIG. 3A shows a neutral state in which the feed mechanism F is not extended at all, and FIG. 3B shows a state in which the feed mechanism F has moved to the rightmost side in the conveyance direction of the workpiece W and extended. The left side also moves and extends in the same manner as in FIG.
The feed mechanism F includes a moving base 31b, two orbital shafts 32 (only one on the paper side shown in FIG. 3) provided in parallel with the moving direction of the workpiece W on the moving base 31b, A one-stage linear motion shaft composed of a total of four linear motion bearings 33 (only two of the track shafts shown in FIG. 3 are shown) moving on a drive shaft 32 that is a predetermined position X away from both ends. The linear motion bearing 33 is fixed to the upper movement base 31b to have a multi-stage linear motion shaft. A portion on which the workpiece transfer body 4 of the uppermost linear motion shaft is placed is called a table 34, and the fixed base 31 a is fixed to the bottom of the vacuum transfer chamber H.

このように構成されたフィード機構Fの各段の直動軸受け33を右側に移動させ伸びた状態が図3(b)となり、最も縮んだ状態が図3(a)となり、各真空搬送チャンバHのフィード機構はワークWを図1に示す矢印KAの範囲を搬送できる。   FIG. 3B shows a state in which the linear motion bearings 33 of the respective stages of the feed mechanism F configured as described above are moved to the right side, and FIG. 3B shows the most contracted state. FIG. The feed mechanism can transport the workpiece W within the range of the arrow KA shown in FIG.

図2において、真空搬送チャンバHと真空蒸着チャンバCとの搬送方向における中心距離、即ち片側のワーク搬送距離はKA/2である。図3の固定ベース31a及び移動ベース31bの長さLをL=KA/2とし、且つ、直動軸受け33がテーブル34を支える幅をL/2としたとき、軌道軸32と直動軸受け33からなる直動ガイド35の一軸分の片側移動量XはL/4と等しい。フィード機構Fの必要な片側ストロークは搬送距離KA/2=L以上あればよいから、必要な直動ガイド35の数は4軸である。また、ゲートバルブ10が各チャンバ間に存在することや各チャンバの内壁と機構部にいくらかの間隙が必要であることを考慮し、固定ベース31aおよび移動ベース31bの長さLをL=2/5KAとし、直動軸受け33がテーブル34を支える幅をL/2とすればX=L/4=1/10KAであり、搬送距離がKA/2であるから、直動ガイド35は5段重ねすればよい。
なお、図2においては、図の複雑さを回避するために3段アームのフィード機構Fを示している。フィード機構Fの具体的な駆動は、例えば、移動ベース31bの各段とテーブル34が最下段の移動ベース31bが移動すれば、各段が等距離移動するようにリンク機構を配す。更に固定ベース31aにボールねじを設置し、チャンバの外部からモータ等の回転駆動を導入しボールねじに伝動する。ボールねじのナットを最下段の移動ベース31bに固定することで、各移動ベース31b及びテーブル34が等速移動できる。結果、絶対的なテーブル34の移動距離は、最下段の移動ベース31bの移動距離Xに対し、移動ベース31bの数Nに応じてそれぞれ(N+1)倍になる。
In FIG. 2, the center distance in the transfer direction between the vacuum transfer chamber H and the vacuum deposition chamber C, that is, the work transfer distance on one side is KA / 2. When the length L of the fixed base 31a and the moving base 31b in FIG. 3 is L = KA / 2, and the width of the linear motion bearing 33 supporting the table 34 is L / 2, the track shaft 32 and the linear motion bearing 33 The one-side movement amount X for one axis of the linear motion guide 35 is equal to L / 4. Since the necessary one-side stroke of the feed mechanism F only needs to be equal to or longer than the transport distance KA / 2 = L, the number of necessary linear motion guides 35 is four. Considering that the gate valve 10 exists between the chambers and that some gap is required between the inner wall and the mechanism of each chamber, the length L of the fixed base 31a and the moving base 31b is set to L = 2 / If the width of the linear motion bearing 33 supporting the table 34 is L / 2, then X = L / 4 = 1/10 KA and the transport distance is KA / 2. do it.
FIG. 2 shows a three-stage arm feed mechanism F in order to avoid the complexity of the drawing. The feed mechanism F is specifically driven by, for example, arranging a link mechanism so that each stage of the moving base 31b and the table 34 move the same distance if the lowermost moving base 31b moves. Further, a ball screw is installed on the fixed base 31a, and a rotational drive such as a motor is introduced from the outside of the chamber to be transmitted to the ball screw. By fixing the ball screw nut to the lowermost moving base 31b, each moving base 31b and the table 34 can move at a constant speed. As a result, the absolute movement distance of the table 34 is (N + 1) times greater than the movement distance X of the lowermost movement base 31b according to the number N of movement bases 31b.

次に、図2に戻り、蒸着部1を説明する。蒸着部1は、移動する蒸発源71に各種ユーティリティーを供給するための配線・配管等を真空中に露出することなく接続するための2リンクの中空アーム機構51と、蒸着位置JPに設けられた防着板11とを有する。中空アーム機構51の移動端側は大気ボックス51kに接続し、固定側は真空シール51sを介して真空蒸着チャンバCの底壁に固定されている。蒸発源71は大気ボックス51kに固定されている。大気ボックス51k、2リンク51a、51bの互いの接続部は回転可能に真空シールされており、それ等の内部は大気雰囲気となっている。そこで、蒸発源71に必要な給電線や信号線等、配管類は真空雰囲気から隔離されており、蒸着に悪影響を与える配線や樹脂配管からのアウトガスが真空中に放出することを防止でき、信頼性の高い蒸着ができる。   Next, returning to FIG. 2, the vapor deposition section 1 will be described. The vapor deposition section 1 is provided at a vapor deposition position JP with a two-link hollow arm mechanism 51 for connecting wiring / piping and the like for supplying various utilities to the moving evaporation source 71 without being exposed in vacuum. And an adhesion preventing plate 11. The moving end side of the hollow arm mechanism 51 is connected to the atmospheric box 51k, and the fixed side is fixed to the bottom wall of the vacuum deposition chamber C via a vacuum seal 51s. The evaporation source 71 is fixed to the atmospheric box 51k. The connecting portions of the atmospheric box 51k and the two links 51a and 51b are vacuum-sealed so as to be rotatable, and the inside of them is an atmospheric atmosphere. Therefore, the piping such as a power supply line and a signal line necessary for the evaporation source 71 is isolated from the vacuum atmosphere, and it is possible to prevent the outgas from the wiring and the resin piping that adversely affect the vapor deposition from being released into the vacuum. Highly vapor deposition can be performed.

図2に示すように、真空搬送チャンバHの真空部Hpを蒸着位置JPより高い位置に設け、しかも受渡部2にワークを蒸着位置との間を昇降できる受渡機構20を儲け、受渡部2の搬送方向の長さを短くしている。その結果、真空蒸着チャンバCの搬送方向の長さを短くできると共に、フィード機構Fのストロークを短くでき、真空搬送チャンバHの搬送方向の長さを短くできる。なお、真空搬送チャンバHには、図示しないクライオポンプなどの付属物を有する場合もあり、その部分は、真空蒸着チャンバCの蒸着部1間などの蒸着位置JPより低い位置に設けることもできる。   As shown in FIG. 2, the vacuum part Hp of the vacuum transfer chamber H is provided at a position higher than the deposition position JP, and a delivery mechanism 20 that can move the workpiece up and down from the deposition position is provided in the delivery part 2. The length in the transport direction is shortened. As a result, the length of the vacuum deposition chamber C in the transport direction can be shortened, the stroke of the feed mechanism F can be shortened, and the length of the vacuum transport chamber H in the transport direction can be shortened. The vacuum transfer chamber H may have an accessory such as a cryopump (not shown), and the portion may be provided at a position lower than the deposition position JP, such as between the deposition sections 1 of the vacuum deposition chamber C.

一方、蒸着部1においては、蒸着位置JPの下側に存在する蒸発源71が2次元に移動する領域を真空搬送チャンバHの下部に突き出た突出構造としている。その結果、蒸着しないときの待機領域を突出構造に設けることできる。本実施形態では、クライオポンプ9も真空搬送チャンバHの下部にも設けている。   On the other hand, in the vapor deposition part 1, the area | region where the evaporation source 71 which exists under the vapor deposition position JP moves two-dimensionally is made into the protrusion structure which protruded to the lower part of the vacuum conveyance chamber H. FIG. As a result, it is possible to provide the projecting structure with a standby region when no vapor deposition is performed. In the present embodiment, the cryopump 9 is also provided below the vacuum transfer chamber H.

これらの結果、本実施形態によれば、図1に示す真空蒸着システム100のラインLA、LBのライン長を短くできる。   As a result, according to the present embodiment, the line lengths of the lines LA and LB of the vacuum deposition system 100 shown in FIG. 1 can be shortened.

図4は、蒸発源71のラインLA、LBに跨って移動し、2つのラインLA、LBのワークWを蒸着する蒸発源駆動手段の構造を示す図である。図4(a)はチャンバCをワークWの蒸着面から俯瞰した平面断面図であり、図4(b)は図4(a)の下側から内部が見えるように切断した正面断面図である。蒸発源駆動手段は、蒸発源及び配線配管部72をラインLA、LB間を移動させるABライン間移動手段60と、蒸発源71をラインLA、LB内を走査させるライン内走査手段80を有する。   FIG. 4 is a diagram showing the structure of the evaporation source driving means that moves across the lines LA and LB of the evaporation source 71 and deposits the workpieces W of the two lines LA and LB. 4A is a plan cross-sectional view of the chamber C viewed from the vapor deposition surface of the workpiece W, and FIG. 4B is a front cross-sectional view cut so that the inside can be seen from the lower side of FIG. . The evaporation source driving means includes an AB interline moving means 60 for moving the evaporation source and wiring piping section 72 between the lines LA and LB, and an in-line scanning means 80 for scanning the evaporation source 71 within the lines LA and LB.

まず、ABライン間移動手段60を説明する。ABライン間移動手段60は蒸発源71を搭載する大気ボックス51kを図4(a)に示す上下に移動し、ワークWAまたはWBが存在する蒸着走査ラインに移動する役目を有する。   First, the AB line moving means 60 will be described. The AB line moving means 60 has a function of moving the atmospheric box 51k on which the evaporation source 71 is mounted up and down as shown in FIG. 4A to move to the vapor deposition scanning line where the workpiece WA or WB is present.

上記役目を果たすために、ABライン間移動手段60は、チャンバ底部1aに固定されたABライン間移動直動ガイド61により支えられるABライン間移動テーブル62と、前記ABライン間移動テーブルをAB間で移動させるために回転運動を直線運動に変換するためのローラピニオン65p及びラック65rからなるローラ式ラック&ピニオン65と、前記ピニオンに駆動を伝達させるためのABライン間駆動伝動部64と、前記駆動伝動部にチャンバCの外部、即ち大気側から回転運動を導入する駆動導入部63とを有する。ローラピニオン65pが回転することにより、ラック65rが固定されたABライン間移動テーブル62がABライン間移動直動ガイド61の案内により直線移動する。   In order to fulfill the above-mentioned role, the AB line moving means 60 includes an AB line moving table 62 supported by an AB line moving linear guide 61 fixed to the chamber bottom 1a, and the AB line moving table between the AB lines. The roller-type rack and pinion 65 including a roller pinion 65p and a rack 65r for converting the rotational motion into a linear motion for movement in the above-described manner, the AB-line inter-line drive transmission unit 64 for transmitting the drive to the pinion, The drive transmission section has a drive introduction section 63 for introducing rotational motion from the outside of the chamber C, that is, from the atmosphere side. As the roller pinion 65p rotates, the AB line moving table 62 to which the rack 65r is fixed moves linearly as guided by the AB line moving linear guide 61.

ABライン間移動モータ63mは、発熱及び真空蒸着チャンバC内での発塵を抑えるために真空蒸着チャンバの外部に設置されている。それ故、ABライン間駆動モータ63mの回転を真空雰囲気中のABライン間駆動伝動部64に伝え、且つ真空をシールできる磁性流体シール63sと前記磁性流体シールとABライン間駆動モータ63mとを連結し、且つ組立時のミスアライメントや偏角を吸収するカップリング63cとが必要である。また、ABライン間駆動伝動部64は、磁性流体シール63sとピニオン軸64sとを連結し、且つ組立時のミスアライメントや偏角を吸収するカップリング64cとローラピニオン65pの回転軸であるところのピニオン軸64sを支える軸受け64bからなる。   The AB line moving motor 63m is installed outside the vacuum deposition chamber in order to suppress heat generation and dust generation in the vacuum deposition chamber C. Therefore, the rotation of the AB line drive motor 63m is transmitted to the AB line drive transmission section 64 in a vacuum atmosphere, and the magnetic fluid seal 63s capable of sealing the vacuum is connected to the magnetic fluid seal and the AB line drive motor 63m. In addition, a coupling 63c that absorbs misalignment and declination during assembly is required. The AB line drive transmission unit 64 connects the magnetic fluid seal 63s and the pinion shaft 64s, and is a rotating shaft of the coupling 64c and the roller pinion 65p that absorbs misalignment and declination during assembly. The bearing 64b supports the pinion shaft 64s.

一方ライン内走査手段80は、チャンバCの内部に設置される。
ライン内走査手段80は、大気ボックス51kを直線案内するためのABライン間移動テーブル62上に設置されたライン内走査直動ガイド81と、大気ボックス51kの内部の大気雰囲気に設置されたライン内駆動モータ82m、真空用回転シールである磁性流体シール82s及び前記ライン内駆動モータと前記磁性流体シールとを連結し、且つ組立時のミスアライメントや偏角を吸収するカップリング82cからなるライン内駆動導入部82と、回転運動から直線運動に変換するためのローラピニオン83pとラック83rからなるローラ式ラック&ピニオン83とを有する。
On the other hand, the in-line scanning means 80 is installed inside the chamber C.
The in-line scanning means 80 includes an in-line scanning linear motion guide 81 installed on the AB inter-line movement table 62 for linearly guiding the atmospheric box 51k, and an in-line installed in the atmospheric atmosphere inside the atmospheric box 51k. An in-line drive comprising a drive motor 82m, a magnetic fluid seal 82s that is a rotary seal for vacuum, and a coupling 82c that connects the in-line drive motor and the magnetic fluid seal and absorbs misalignment and declination during assembly. It has an introduction part 82, a roller pinion 83p for converting from a rotational motion to a linear motion, and a roller rack and pinion 83 comprising a rack 83r.

ライン内走査手段80のローラピニオン83pとラック83rの回転運動を直線運動に変換による移動関係はABライン間移動手段60の場合とは相対的に逆の関係であり、ラック83rはABライン間移動テーブルに固定され、ローラピニオン83pが回転し移動する。即ち大気ボックス51k及び蒸発源71は、ライン内駆動導入部82を抱えたままライン内走査直動ガイド81に案内されて自走することにより走査する。   The movement relationship by converting the rotational movement of the roller pinion 83p and the rack 83r of the in-line scanning means 80 into a linear movement is relatively opposite to that of the AB line moving means 60, and the rack 83r moves between the AB lines. The roller pinion 83p rotates and moves while being fixed to the table. In other words, the atmospheric box 51k and the evaporation source 71 are scanned by being guided by the in-line scanning linear motion guide 81 while holding the in-line drive introducing portion 82, and moving by themselves.

以上の実施形態では2ラインを有する場合を説明した。たとえば、図4(a)において、移動方向にチャンバを拡張し、ABライン間移動テーブル62のストロークに合わせ、ABライン間駆動導入部63とABライン間駆動伝動部64、及びローラピニオン65pを一式としたものを適当な位置に追加することにより、3以上のラインに跨る真空蒸着チャンバを構成することができる。   In the above embodiment, the case of having two lines has been described. For example, in FIG. 4A, the chamber is expanded in the moving direction, and the AB line drive introducing portion 63, the AB line drive transmission portion 64, and the roller pinion 65p are set in accordance with the stroke of the AB line moving table 62. By adding the above to an appropriate position, a vacuum deposition chamber extending over three or more lines can be configured.

次に、実施形態おける蒸着処理フローを図5を用いて説明する。図5は、ラインLA、LBに跨って行う蒸着処理フロー及び蒸発源71の動作フローを示す。図6はこのときの蒸発源71の動作を模式的に示す図である。図6における2リンクの中空アーム機構51の実線又は破線は、ラインLA、LBの右端又は左端における姿勢を示す。
以下に説明する各ラインの構成する各真空蒸着チャンバC及び各真空搬送チャンバHの処理又は動作は、各ライン単位で同期して行なわれる。
Next, the vapor deposition processing flow in the embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 shows an evaporation process flow performed across the lines LA and LB and an operation flow of the evaporation source 71. FIG. 6 is a diagram schematically showing the operation of the evaporation source 71 at this time. The solid line or broken line of the two-link hollow arm mechanism 51 in FIG. 6 indicates the posture at the right end or the left end of the lines LA and LB.
The processing or operation of each vacuum vapor deposition chamber C and each vacuum transfer chamber H constituting each line described below is performed in synchronism with each line.

図5に示す蒸着処理フローは、蒸発源71がラインLBのワークWBの蒸着を終了し、LBラインの左端に行き、ラインLAでは各真空蒸着チャンバの蒸着位置JPに既にワークWAがセットされ待機している状態(AS0、BS0、JS0)から示す。
まず、蒸発源71は、図6の矢印J1に示すように、ラインLBの左端からラインLAの左端に移動する。このとき、ラインLBでは、ワークWBを受渡位置UPに上昇させ(BS1)、下流側の真空搬送チャンバHへの搬出を開始する。蒸発源71は、ラインLAの左端に移動後、ラインLAのワークWAの下面を左から右に移動し(図6の矢印J2)、再び左端に戻る(図6の矢印J3)。この蒸発源71の動作を一回乃至数回行うことに伴い、ラインLAではワークWAが蒸着される(AS1)。
In the vapor deposition processing flow shown in FIG. 5, the evaporation source 71 finishes vapor deposition of the work WB in the line LB, goes to the left end of the LB line, and in the line LA, the work WA is already set at the vapor deposition position JP of each vacuum vapor deposition chamber and is on standby. It is shown from the state (AS0, BS0, JS0) that is in progress.
First, the evaporation source 71 moves from the left end of the line LB to the left end of the line LA as indicated by an arrow J1 in FIG. At this time, on the line LB, the work WB is raised to the delivery position UP (BS1), and unloading to the downstream vacuum transfer chamber H is started. After moving to the left end of the line LA, the evaporation source 71 moves the lower surface of the work WA on the line LA from the left to the right (arrow J2 in FIG. 6) and returns to the left end again (arrow J3 in FIG. 6). As the operation of the evaporation source 71 is performed once to several times, the workpiece WA is deposited on the line LA (AS1).

一方、ラインLBでは、前述のBS1後も、ラインLAの蒸着中にワークWBの搬出動作を継続する。即ち、下流側のフィード機構Fにより真空蒸着チャンバCから下流側の真空搬送チャンバHにワークWBを搬出する(BS2)。その後、上流側のフィード機構Fにより上流側の真空搬送チャンバHから真空蒸着チャンバCの受渡位置UPに新たなワークWBを搬入する(BS3)。そして、場合によっては位置決め等の動作を行った後(BS4)、蒸着位置JPまで降下し新たなワークWBをセットし、ラインLAの蒸着が終了するまで待機する(BS5)。   On the other hand, in the line LB, the work WB unloading operation is continued during the deposition of the line LA even after the BS1 described above. That is, the work WB is unloaded from the vacuum deposition chamber C to the downstream vacuum transfer chamber H by the downstream feed mechanism F (BS2). Thereafter, a new workpiece WB is carried from the upstream side vacuum transfer chamber H to the delivery position UP of the vacuum deposition chamber C by the upstream side feed mechanism F (BS3). Then, in some cases, after performing an operation such as positioning (BS4), the robot descends to the deposition position JP, sets a new work WB, and waits until the deposition of the line LA is completed (BS5).

次に、ラインLAで蒸着が終了すると、蒸発源71は、図6の矢印J4に示すように、ラインLAの左端からラインLBの左端移動し(JS3)、その後、ステップJS2と同様に、図6の矢印J5、J6に示すように、ラインLBのワークBの下面を一回乃至数回往復し(JS4)、ワークWBを蒸着する(BS6)。この間、ラインLAでは、ラインLBのステップBS1からBS5に示した処理を、ステップAS2からAS6で行なう。
その後は、上述したステップを繰り返す。
Next, when the vapor deposition is completed in the line LA, the evaporation source 71 moves from the left end of the line LA to the left end of the line LB (JS3) as shown by an arrow J4 in FIG. As indicated by arrows J5 and J6, the bottom surface of the work B in the line LB is reciprocated once to several times (JS4) to deposit the work WB (BS6). During this time, in the line LA, the processing shown in steps BS1 to BS5 of the line LB is performed in steps AS2 to AS6.
Thereafter, the above steps are repeated.

また、以上の説明では、ABライン間の移動を左端側で行ったが、二点鎖線で示す矢印J7、J8に示すように、右端側で行ってもよい。さらに、ワークの下面の走査を一回乃至数回往復させたが、往復させずに、矢印J1、J2、J8、J6又はJ4、J5、J8、J3のループによる片方向走査を1回又は複数回行ってもよい。   In the above description, the movement between the AB lines is performed on the left end side, but may be performed on the right end side as indicated by arrows J7 and J8 indicated by two-dot chain lines. Further, the scanning of the lower surface of the workpiece was reciprocated once to several times, but without reciprocating, one or more one-way scannings by a loop of arrows J1, J2, J8, J6 or J4, J5, J8, J3 were performed. You may go round.

以上説明した本実施形態によれば、各真空蒸着チャンバにおいて、一方のラインでワークを蒸着している間に、他方のラインの蒸着したワークを搬出、新たなワークを搬入することで、蒸着工程になんら寄与せずに損失となっていた材料を低減できる蒸着ライン又は真空蒸着方法を提供できる。   According to the present embodiment described above, in each vacuum deposition chamber, while the work is deposited on one line, the work deposited on the other line is carried out, and a new work is carried on, thereby the deposition process. Therefore, it is possible to provide a vapor deposition line or a vacuum vapor deposition method capable of reducing the material that has been lost without contributing to the above.

また、以上説明した本実施形態によれば、独立した2つの単ラインで構成された蒸着ライン比較して、各真空蒸着チャンバにおいて、一方のラインでワークを蒸着している間に、他方のラインの蒸着したワークを搬出、新たなワークを搬入することで、処理していない時間を短縮でき、スループットの高い蒸着ライン又は真空蒸着方法を提供できる。   In addition, according to the present embodiment described above, in comparison with the vapor deposition line constituted by two independent single lines, in each vacuum vapor deposition chamber, while the workpiece is vapor deposited on one line, the other line is By unloading the vapor-deposited workpiece and loading a new workpiece, it is possible to shorten the time during which the workpiece is not processed, and to provide a high-throughput vapor deposition line or vacuum vapor deposition method.

以上実施形態では、マスクを用いずワーク面に一様に蒸着したが、蒸着位置に下側にマスクを設け、パターン蒸着してもよい。この場合は、マスクとワークを相対的に移動させてアライメントする機構を設けてもよい。例えば、以上説明した実施形態では、受渡機構を相対的に移動させてアライメント行なってもよい。また、マスクとワークを一体にして搬送して蒸着させてもよい。   In the above embodiment, the mask is not used, but the vapor deposition is uniformly performed on the work surface. However, the mask may be provided on the lower side at the vapor deposition position to perform pattern vapor deposition. In this case, a mechanism for aligning the mask and the workpiece relatively may be provided. For example, in the embodiment described above, alignment may be performed by relatively moving the delivery mechanism. Alternatively, the mask and the workpiece may be conveyed and vapor deposited.

また、以上実施形態では、フィード機構をライン毎に設けたが、真空搬送チャンバも真空蒸着チャンバと同様に、2つのラインに跨って設け、1台のフィード機構をライン間で移動、共有させてもよい。   In the above embodiment, the feed mechanism is provided for each line. However, the vacuum transfer chamber is also provided across two lines similarly to the vacuum deposition chamber, and one feed mechanism is moved and shared between the lines. Also good.

さらに、真空搬送チャンバを真空蒸着チャンバと同様に、2つのラインに跨って設け、その中心に2つのラインのワークの搬入出を行う1台の水平多関節型の搬送ロボットをフィード機構の代わりに設けてよい。   Furthermore, a vacuum transfer chamber is provided across two lines in the same way as the vacuum evaporation chamber, and a single horizontal articulated transfer robot that carries in and out the workpieces in the two lines at the center is used instead of the feed mechanism. May be provided.

1:蒸着部 2:受渡部
4:ワーク搬送体 9:クライオポンプ
10:ゲート弁 11:防着板
20:受渡機構 40:制御装置
51:2リンクの中空アーム機構 60:ABライン間移動手段
71:蒸発源 80:ライン内移動手段
100:真空蒸着システム C、CA、CB、CC:真空蒸着チャンバ
EA、EB:アンロード室 F:フィード機構
H、HA1乃至HA3、HB1乃至HB4:真空搬送チャンバ
IA、IB:ロード室 W:ワーク
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1: Deposition part 2: Delivery part 4: Work conveyance body 9: Cryo pump 10: Gate valve 11: Deposit board 20: Delivery mechanism 40: Control apparatus 51: Two-link hollow arm mechanism 60: AB line moving means 71 : Evaporation source 80: In-line moving means 100: Vacuum deposition system C, CA, CB, CC: Vacuum deposition chamber EA, EB: Unload chamber F: Feed mechanism
H, HA1 to HA3, HB1 to HB4: Vacuum transfer chamber IA, IB: Load chamber W: Workpiece

Claims (14)

ワークを水平に搬送する真空搬送チャンバと前記ワークに蒸着材料を蒸着する真空蒸着チャンバとを交互に直列に配置し、複数の前記真空蒸着チャンを有するラインで構成される真空蒸着システムにおいて、
前記ラインを互いに並行してN(Nは2以上)ラインを設け、前記真空蒸着チャンバはそれぞれの前記Nラインに跨って設けられたNライン真空蒸着チャンバであり、前記Nライン真空蒸着チャンバは、ライン毎にワークを蒸着させる蒸着位置を有し、前記Nラインのうち第1のラインで第1の前記ワークを蒸着中に、前記第1のラインとは異なる他のラインで第2のワークを下流側の前記真空搬送チャンバに搬出し、第3のワークを上流側の前記真空搬送チャンバから搬入することを特徴とする真空蒸着システム。
In a vacuum deposition system comprising a plurality of vacuum deposition chambers, wherein a vacuum conveyance chamber for horizontally conveying a workpiece and a vacuum deposition chamber for depositing a deposition material on the workpiece are alternately arranged in series.
N lines (N is 2 or more) are provided in parallel with the lines, and the vacuum deposition chamber is an N line vacuum deposition chamber provided across the N lines, and the N line vacuum deposition chamber is There is a deposition position for depositing a workpiece for each line, and during the deposition of the first workpiece on the first line of the N lines, the second workpiece on another line different from the first line. A vacuum deposition system, wherein the third workpiece is carried out from the vacuum transfer chamber on the upstream side and carried out to the vacuum transfer chamber on the downstream side.
前記Nは2であり、前記他のラインは第2のラインであることを特徴とする請求項1に記載の真空蒸着システム。   The vacuum deposition system according to claim 1, wherein the N is 2 and the other line is a second line. 前記真空搬送チャンバは、前記ワークの搬送方向に前後に伸縮する多段直動軸を有するフィード機構を有し、上流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ或いはロード室から前記ワークを搬出し、下流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ又はアンロード室へ前記ワークを搬入することを特徴とする請求項1又は2に記載の真空蒸着システム。   The vacuum transfer chamber has a feed mechanism having a multistage linear motion shaft that expands and contracts in the forward and backward directions in the workpiece transfer direction, and unloads the workpiece from the upstream N-line vacuum deposition chamber or load chamber. The vacuum deposition system according to claim 1, wherein the work is carried into the N line vacuum deposition chamber or the unload chamber. 前記Nライン真空蒸着チャンバは、前記蒸着位置の上方に前記ワークの受け渡しをする受渡機構を有し、前記受渡機構は前記ワークを昇降させる昇降手段を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の真空蒸着システム。   The N-line vacuum deposition chamber has a delivery mechanism for delivering the workpiece above the deposition position, and the delivery mechanism has lifting means for raising and lowering the workpiece. The vacuum deposition system described. 前記Nライン真空蒸着チャンバは、前記蒸着位置から下部の領域において蒸発源を2次元上に移動させる蒸発源駆動手段を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の真空蒸着システム。   The vacuum deposition system according to claim 1 or 2, wherein the N-line vacuum deposition chamber has evaporation source driving means for moving the evaporation source two-dimensionally in a region below the deposition position. 前記真空搬送チャンバの真空部は、前記蒸着位置より高い位置に設けられ、前記Nライン真空蒸着チャンバは前記真空搬送チャンバの真空部の下側に突き出た構造を有することを特徴とする請求項5に記載の真空蒸着システム。   The vacuum unit of the vacuum transfer chamber is provided at a position higher than the deposition position, and the N-line vacuum deposition chamber has a structure protruding below the vacuum unit of the vacuum transfer chamber. The vacuum deposition system described in 1. 前記真空搬送チャンバは各々前記Nラインに跨って設けられたNライン真空搬送チャンバであり、前記Nライン真空搬送チャンバは前記フィード機構を前記Nライン間を移動させる手段を有することを特徴とする請求項3に記載の真空蒸着システム。   Each of the vacuum transfer chambers is an N-line vacuum transfer chamber provided across the N lines, and the N-line vacuum transfer chamber has means for moving the feed mechanism between the N lines. Item 4. The vacuum evaporation system according to Item 3. 前記真空搬送チャンバは各々前記Nラインに跨って設けられたNライン真空搬送チャンバであり、前記Nライン真空搬送チャンバは1台の水平多関節型の搬送ロボットを有し、前記搬送ロボットは、上流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ或いはロード室から前記ワークを搬出し、下流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ又はアンロード室へ前記ワークを搬入することを特徴とする請求項1又は2に記載の真空蒸着システム。   Each of the vacuum transfer chambers is an N-line vacuum transfer chamber provided across the N line, the N-line vacuum transfer chamber has one horizontal articulated transfer robot, and the transfer robot 3. The work according to claim 1, wherein the workpiece is unloaded from the N line vacuum deposition chamber or load chamber on the side, and the work is loaded into the N line vacuum deposition chamber or unload chamber on the downstream side. Vacuum deposition system. 前記真空搬送チャンバは、前記ワークのみ又は前記ワークを保持するワーク搬送体或いはマスクと一体になった前記ワークを搬送することを特徴とする請求項1又は2に記載の真空蒸着システム。   The vacuum deposition system according to claim 1, wherein the vacuum transfer chamber transfers only the work or the work integrated with a work transfer body or a mask that holds the work. ワークを水平に搬送する真空搬送チャンバと前記ワークに蒸着材料を蒸着する真空蒸着チャンバとを交互に直列に配置し、複数の前記真空蒸着チャンを有するラインを互いに並行してN(Nは2以上)ライン有し、前記Nラインの前記真空蒸着チャンバに跨って設けられたそれぞれのNライン真空蒸着チャンバで前記ワークを蒸着する真空蒸着方法において、
前記Nラインのうち第1のラインで第1の前記ワークを蒸着中に、前記第1のラインとは異なる他のラインで第2のワークを下流側の前記真空搬送チャンバに搬出し、第3のワークを上流側の前記真空搬送チャンバから搬入することを特徴とする真空蒸着方法。
A vacuum transfer chamber for transferring a workpiece horizontally and a vacuum evaporation chamber for depositing a deposition material on the workpiece are alternately arranged in series, and a line having a plurality of the vacuum evaporation chambers is arranged in parallel with each other. In the vacuum deposition method of depositing the workpiece in each N line vacuum deposition chamber provided across the vacuum deposition chamber of the N line,
During the deposition of the first workpiece on the first line among the N lines, the second workpiece is carried out to the vacuum transfer chamber on the downstream side by another line different from the first line, and a third The work is carried in from the vacuum transfer chamber on the upstream side.
前記Nは2であり、前記他のラインは第2のラインであることを特徴とする請求項10に記載の真空蒸着方法。   The vacuum deposition method according to claim 10, wherein the N is 2 and the other line is a second line. 上流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ或いはロード室から前記ワークを搬出し、下流側の前記Nライン真空蒸着チャンバ又はアンロード室へ前記ワークを搬入することを特徴とする請求項10又は11に記載の真空蒸着方法。   12. The work according to claim 10, wherein the work is unloaded from the N-line vacuum deposition chamber or load chamber on the upstream side, and the work is loaded into the N-line vacuum deposition chamber or unload chamber on the downstream side. Vacuum deposition method. 前記搬入又は前記搬出は、蒸着位置の上方に設けられ前記蒸着位置と搬入出位置との間を昇降する受渡機構を介して行われることを特徴とする請求項10又は11に記載の真空蒸着方法。   The vacuum deposition method according to claim 10 or 11, wherein the carry-in or carry-out is performed via a delivery mechanism that is provided above the vapor deposition position and moves up and down between the vapor deposition position and the carry-in / out position. . 前記真空搬送チャンバは、前記ワークのみ又は前記ワークを保持するワーク搬送体或いはマスクと一体になった前記ワークを搬送することを特徴とする請求項10又は11に記載の真空蒸着方法。   The vacuum deposition method according to claim 10 or 11, wherein the vacuum transfer chamber transfers only the workpiece or the workpiece integrated with a workpiece transfer body or a mask that holds the workpiece.
JP2012031531A 2012-02-16 2012-02-16 Vacuum deposition system and vacuum deposition method Pending JP2013167001A (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012031531A JP2013167001A (en) 2012-02-16 2012-02-16 Vacuum deposition system and vacuum deposition method
KR1020130004240A KR20130094734A (en) 2012-02-16 2013-01-15 Vacuum deposition system and method
TW102103292A TW201339335A (en) 2012-02-16 2013-01-29 Vacuum evaporation system and vacuum evaporation method
CN2013100461982A CN103255375A (en) 2012-02-16 2013-02-05 Vacuum deposition system and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012031531A JP2013167001A (en) 2012-02-16 2012-02-16 Vacuum deposition system and vacuum deposition method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013167001A true JP2013167001A (en) 2013-08-29

Family

ID=48959575

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012031531A Pending JP2013167001A (en) 2012-02-16 2012-02-16 Vacuum deposition system and vacuum deposition method

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2013167001A (en)
KR (1) KR20130094734A (en)
CN (1) CN103255375A (en)
TW (1) TW201339335A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111139446A (en) * 2018-11-05 2020-05-12 肇庆市前沿真空设备有限公司 Vacuum coating production line
CN111139445A (en) * 2018-11-05 2020-05-12 肇庆市前沿真空设备有限公司 A vacuum coating production line
CN115483359A (en) * 2022-09-19 2022-12-16 浙江合特光电有限公司 Perovskite thin film deposition process

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101920333B1 (en) * 2013-12-10 2018-11-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Evaporation source for organic material, deposition apparatus for depositing organic material in a vacuum chamber, and method for evaporating an organic material
CN105420682B (en) * 2015-03-30 2018-11-13 郭信生 A kind of high throughput deposition device
CN107254673B (en) 2017-06-12 2019-07-19 京东方科技集团股份有限公司 Evaporation system and evaporation method of evaporation system
CN108456866A (en) * 2018-01-22 2018-08-28 信利(惠州)智能显示有限公司 Evaporation coating method and evaporated device
JP7324593B2 (en) * 2019-03-05 2023-08-10 キヤノントッキ株式会社 Mechanism for introducing utility line into vacuum chamber, deposition equipment, deposition system
KR102407505B1 (en) * 2020-04-29 2022-06-13 주식회사 선익시스템 Deposition apparatus and in-line deposition system
KR102699846B1 (en) * 2020-11-30 2024-08-27 캐논 톡키 가부시키가이샤 Film forming apparatus

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05217920A (en) * 1991-11-18 1993-08-27 Fuji Electric Co Ltd Ecr plasma processor
JP2000120675A (en) * 1998-10-14 2000-04-25 Koyo Seiko Co Ltd Multistage type linear motion bearing device
JP2006344675A (en) * 2005-06-07 2006-12-21 Dainippon Printing Co Ltd Positioning method and device of substrate
JP2010080228A (en) * 2008-09-25 2010-04-08 Hitachi High-Technologies Corp Organic el device manufacturing device, film forming device, and device and method for replacing shadow mask
TW201145639A (en) * 2010-06-10 2011-12-16 Snu Precision Co Ltd Film deposition apparatus and film deposition system including the same

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101667630A (en) * 2008-09-04 2010-03-10 株式会社日立高新技术 Organic EL apparatus manufacturing installation and production method thereof as well as film-forming device and film-forming method
KR101097737B1 (en) * 2009-03-31 2011-12-22 에스엔유 프리시젼 주식회사 Apparatus for depositing film and method for depositing film and system for depositing film

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05217920A (en) * 1991-11-18 1993-08-27 Fuji Electric Co Ltd Ecr plasma processor
JP2000120675A (en) * 1998-10-14 2000-04-25 Koyo Seiko Co Ltd Multistage type linear motion bearing device
JP2006344675A (en) * 2005-06-07 2006-12-21 Dainippon Printing Co Ltd Positioning method and device of substrate
JP2010080228A (en) * 2008-09-25 2010-04-08 Hitachi High-Technologies Corp Organic el device manufacturing device, film forming device, and device and method for replacing shadow mask
TW201145639A (en) * 2010-06-10 2011-12-16 Snu Precision Co Ltd Film deposition apparatus and film deposition system including the same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111139446A (en) * 2018-11-05 2020-05-12 肇庆市前沿真空设备有限公司 Vacuum coating production line
CN111139445A (en) * 2018-11-05 2020-05-12 肇庆市前沿真空设备有限公司 A vacuum coating production line
CN115483359A (en) * 2022-09-19 2022-12-16 浙江合特光电有限公司 Perovskite thin film deposition process

Also Published As

Publication number Publication date
TW201339335A (en) 2013-10-01
KR20130094734A (en) 2013-08-26
CN103255375A (en) 2013-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013167001A (en) Vacuum deposition system and vacuum deposition method
JP5139253B2 (en) Vacuum processing device and vacuum transfer device
KR101708420B1 (en) Depositing system for substrate and depositing method using the same
JP5945553B2 (en) Coating apparatus and coating method
JP4980978B2 (en) Substrate processing equipment
JP5173699B2 (en) Organic EL device manufacturing equipment
KR100991609B1 (en) Container conveying system
CN114730727A (en) Substrate conveying device and substrate processing system
KR102394121B1 (en) Travel robot for driving substrate transfer robot in chamber
WO2013077322A1 (en) Work transfer system
JP2014031547A (en) Vapor deposition device and vapor deposition method
JP7188973B2 (en) Film forming apparatus, manufacturing system, organic EL panel manufacturing system, film forming method, and organic EL element manufacturing method
JP5277015B2 (en) Organic EL device manufacturing apparatus, film forming apparatus, and shadow mask exchange apparatus
JP5260212B2 (en) Deposition equipment
JP2017119560A (en) Carrying device
JP2008028035A (en) Semiconductor-manufacturing apparatus
KR20070090419A (en) Board Transfer Robot
WO2014017307A1 (en) Vapor-deposition device
JP2008028036A (en) Apparatus for manufacturing semiconductor
JP2011233938A (en) Vacuum processing apparatus and substrate transfer method using the same
JP2004152882A (en) Transfer device and processing apparatus provided therewith
CN103255376A (en) Film forming device and substrate conveying apparatus therefor
KR101700608B1 (en) Substrate treatment system
JP2013157475A (en) Film forming device
KR101225212B1 (en) Oled manufacturing apparatus and method of the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140917

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150416

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150428

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20151027