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JP2013078757A - Substrate processing apparatus and substrate processing method - Google Patents

Substrate processing apparatus and substrate processing method Download PDF

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JP2013078757A
JP2013078757A JP2012188085A JP2012188085A JP2013078757A JP 2013078757 A JP2013078757 A JP 2013078757A JP 2012188085 A JP2012188085 A JP 2012188085A JP 2012188085 A JP2012188085 A JP 2012188085A JP 2013078757 A JP2013078757 A JP 2013078757A
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JP
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ink
substrate processing
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substrate
stage
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JP2012188085A
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Japanese (ja)
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Chul Ho Park
鉄 鎬 朴
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Semes Co Ltd
Original Assignee
Semes Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing apparatus and a substrate processing method for forming a line on the substrate and solidifying the same.SOLUTION: The substrate processing apparatus 100 includes: a stage 1100 for placing the substrate S; a discharge unit 1200 discharging ink I and forming a plurality of lines on the substrate S placed on the stage 1100; a solidifying unit 1400 for solidifying the discharged ink I; and a transferring unit 1500 moving the stage 1100 or moving the discharge unit 1200 and solidifying unit 1400.

Description

本発明は基板処理装置及び基板処理方法に関し、より詳細には直接書込み方式の印刷工程を遂行する基板処理装置及び基板処理方法に関する。   The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method, and more particularly to a substrate processing apparatus and a substrate processing method for performing a direct writing printing process.

近年、印刷回路基板(PCB:printed circuit board)や平板ディスプレイ(FPD:flat panel display)等に入る回路配線の製造において、徐々に直接書込み方式の印刷工程が従来の写真蝕刻工程(photolithography)に代わって用いられてきている。   In recent years, in the manufacture of circuit wiring that enters a printed circuit board (PCB), a flat panel display (FPD), etc., the direct writing printing process gradually replaces the conventional photolithographic process. Have been used.

直接書込み方式の印刷工程は、基板に回路配線を直接書込み方式によって行うので、その工程が非常に簡単であり、基板処理率(substrate throughput)が優れることのみでなく、写真蝕刻工程と異なり化学薬剤の利用を最小化することができるので、環境汚染の防止の側面でも非常に有利である長所を有する。その一方で、インクの厚さを微細に調節することが容易でなく、その活用が制限的であった。   Since the direct writing method prints the circuit wiring on the substrate by the direct writing method, the process is very simple and not only has a high substrate throughput but also a chemical agent unlike the photo etching step. Therefore, the present invention has an advantage that it is very advantageous in terms of prevention of environmental pollution. On the other hand, it is not easy to finely adjust the thickness of the ink, and its utilization is limited.

最近では電気油圧(electrohydraulic)方式を利用してインクを微細な厚さの液柱の形状に制御することによって、既存の印刷回路基板や平板ディスプレイの製造には勿論、今後は半導体素子の製造にも直接書込み方式の印刷工程が活用されることと予想されている。   Recently, the electrohydraulic method is used to control the ink into the shape of a liquid column with a fine thickness, so that it can be used not only for the manufacture of existing printed circuit boards and flat panel displays, but also for the manufacture of semiconductor devices in the future. It is also expected that a direct writing printing process will be used.

韓国登録特許第10−1000715号公報Korean Registered Patent No. 10-100715

本発明の一課題は基板の上にラインを形成することと共にこれを固形化させる基板処理装置及び基板処理方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus and a substrate processing method for forming a line on a substrate and solidifying the line.

本発明が解決しようとする課題は、上述した課題に限定されることではない。言及されなかった課題は、本明細書及び添付された図面から本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に明確に理解できる。   The problem to be solved by the present invention is not limited to the problem described above. Problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art to which the present invention pertains from the present specification and the accompanying drawings.

本発明は、基板処理装置を提供する。   The present invention provides a substrate processing apparatus.

本発明による基板処理装置は、基板が載置されるステージと、インクを吐出して前記ステージに載置された基板に複数のラインを形成する吐出ユニットと、前記吐出されたインクを固形化させる固形化ユニットと、前記ステージを移動させるか、或いは前記吐出ユニットと前記固形化ユニットを移動させる移送ユニットと、を含む。   A substrate processing apparatus according to the present invention includes a stage on which a substrate is placed, an ejection unit that ejects ink to form a plurality of lines on the substrate placed on the stage, and solidifies the ejected ink. A solidification unit; and a transfer unit that moves the stage or moves the discharge unit and the solidification unit.

前記吐出ユニットと前記固形化ユニットは、前記ステージの上方において、移動方向に沿って一列に配置され得る。   The discharge unit and the solidification unit may be arranged in a line along the movement direction above the stage.

前記固形化ユニットは、光を照射する光照射部材を包含できる。また、前記光照射部材は、複数であり、前記複数の光照射部材は、各々前記複数のラインに一対一に対応するように前記光を照射することができる。   The solidification unit may include a light irradiation member that emits light. Moreover, the said light irradiation member is plurality, and the said several light irradiation member can irradiate the said light so that it may respond | correspond to the said several line one to one, respectively.

前記光照射部材は、前記複数のラインが形成される領域の幅に対応する幅を有するスリット形態に提供され、前記複数のラインが形成される領域に前記光を照射することができる。   The light irradiation member is provided in a slit shape having a width corresponding to a width of a region where the plurality of lines are formed, and can irradiate the region where the plurality of lines are formed with the light.

前記光照射部材は、鉛直下方から前記移動する方向に所定の角度だけ傾くように前記光を照射することができる。   The said light irradiation member can irradiate the said light so that only a predetermined angle may incline in the said moving direction from the perpendicular downward direction.

前記光照射部材は、レーザー又は紫外線を照射することができる。また、前記固形化ユニットは、熱を発生させる発熱部材を包含できる。   The said light irradiation member can irradiate a laser or an ultraviolet-ray. The solidification unit may include a heat generating member that generates heat.

前記固形化ユニットは、高温のガスを又は高温のガスを噴射する噴射部材を包含できる。また、前記吐出ユニットは、各々前記インクを吐出する複数のノズルを包含できる。   The solidification unit may include an injection member that injects high-temperature gas or high-temperature gas. The ejection unit may include a plurality of nozzles that eject the ink.

前記基板処理装置は、前記吐出ユニットへ高電圧を印加する電源ユニットを含み、前記複数のノズルは、微細針棒の形態に提供され、前記高電圧によって電気油圧式に前記インクを液柱形態に吐出することができる。   The substrate processing apparatus includes a power supply unit that applies a high voltage to the discharge unit, and the plurality of nozzles are provided in the form of fine needle bars, and the high voltage causes the ink to form a liquid column. It can be discharged.

前記基板処理装置は、前記ステージを回転させる回転ユニットをさらに包含できる。また、前記インクは、伝導性インクであり得る。   The substrate processing apparatus may further include a rotation unit that rotates the stage. The ink may be a conductive ink.

本発明は基板処理方法を提供する。   The present invention provides a substrate processing method.

本発明による基板処理方法の一実施形態は、ステージに基板が載置される段階と、吐出ユニットが前記ステージの上部で水平方向に移動し、インクを吐出して前記載置された基板の上に複数の第1ラインを形成する段階と、固形化ユニットが前記吐出ユニットを従って後行し、前記吐出されたインクを固形化させる段階と、を含む。   One embodiment of the substrate processing method according to the present invention includes a step of placing a substrate on a stage, and a discharge unit that moves horizontally above the stage to discharge ink and discharge the ink over the substrate placed above. Forming a plurality of first lines, and a solidifying unit following the discharge unit to solidify the discharged ink.

前記固形化させる段階で、前記吐出されたインクに光を照射して前記インクを固形化させ得る。   In the solidifying step, the discharged ink may be irradiated with light to solidify the ink.

前記固形化させる段階で、前記複数の第1ラインに一対一に対応するように前記光を照射することができる。   In the solidifying step, the light can be irradiated so as to correspond one-to-one to the plurality of first lines.

前記固形化させる段階で、前記複数の第1ラインの幅に対応する領域に前記光を照射することができる。   In the solidifying step, the light can be irradiated to a region corresponding to the width of the plurality of first lines.

前記固形化させる段階で、鉛直下方から前記移動方向に所定の角度だけ傾くように前記光を照射することができる。   In the solidification step, the light can be irradiated so as to be inclined at a predetermined angle in the moving direction from vertically below.

前記基板処理方法は、前記吐出ユニットへ高電圧を印加する段階をさらに含み、前記第1ラインを形成する段階で、前記吐出ユニットに含まれる微細針棒形態の複数のノズルが前記高電圧によって電気油圧式に前記インクを液柱形態に吐出することができる。   The substrate processing method further includes a step of applying a high voltage to the discharge unit, and in the step of forming the first line, a plurality of fine needle bar-shaped nozzles included in the discharge unit are electrically connected by the high voltage. The ink can be ejected hydraulically in the form of a liquid column.

前記基板処理方法は、前記ステージを90度回転させる段階と、前記吐出ユニットが前記ステージの上部で前記水平方向に移動し、前記インクを吐出して前記基板の上に前記形成された複数の第1ラインと垂直になる複数の第2ラインを形成する段階と、前記固形化ユニットが前記吐出ユニットを従って後行し、前記複数の第2ラインを形成するインクを固形化させる段階と、をさらに包含できる。   The substrate processing method includes a step of rotating the stage by 90 degrees, and a plurality of second units formed on the substrate by discharging the ink by moving the discharge unit in the horizontal direction above the stage. Further comprising: forming a plurality of second lines perpendicular to one line; and solidifying the solidification unit following the discharge unit to solidify the ink forming the plurality of second lines. Can be included.

本発明によれば、基板の上にラインを直接書込み(direct write)方式で印刷することによって、基板処理率が向上され、化学薬剤の使用量を画期的に減少できる。   According to the present invention, the substrate processing rate is improved by printing a line directly on the substrate using the direct write method, and the amount of chemical agent used can be significantly reduced.

本発明によれば、単一の工程でラインが形成され、吐出ユニットに続く固形化ユニットがこれを固形化させることによって、別の固形化段階が無くても速やかに基板を処理できる。   According to the present invention, a line is formed in a single process, and the solidification unit subsequent to the discharge unit solidifies this, so that the substrate can be processed quickly even without another solidification step.

本発明によれば、ライン形成と概ね同時に固形化が遂行されるので、その間の遅延時間を最小化して自然乾燥等によって回路配線の密度等に偏差が発生することを防止して回路配線の品質が向上される。   According to the present invention, the solidification is performed almost simultaneously with the line formation. Therefore, the delay time is minimized to prevent the circuit wiring density and the like from deviating from the density of the circuit wiring due to natural drying or the like. Is improved.

本発明の効果が上述した効果に限定されることではなく、言及されなかった効果は本明細書及び添付された図面から本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に明確に理解できる。   The effects of the present invention are not limited to the effects described above, and effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art to which the present invention belongs from the present specification and the accompanying drawings.

基板処理装置の一実施形態の構成図である。It is a block diagram of one Embodiment of a substrate processing apparatus. 図1の吐出ユニットの斜視図である。It is a perspective view of the discharge unit of FIG. 図2の吐出ユニットの動作図である。It is an operation | movement diagram of the discharge unit of FIG. 図1の固形化ユニットの一実施形態の斜視図である。It is a perspective view of one Embodiment of the solidification unit of FIG. 図4の固形化ユニットの背面図である。It is a rear view of the solidification unit of FIG. 図4の固形化ユニットの動作図である。It is an operation | movement figure of the solidification unit of FIG. 図1の固形化ユニットの他の実施形態の斜視図である。It is a perspective view of other embodiment of the solidification unit of FIG. 図7の固形化ユニットの背面図である。It is a rear view of the solidification unit of FIG. 図1の固形化ユニットの動作図である。It is an operation | movement figure of the solidification unit of FIG. 図1の固形化ユニットの動作図である。It is an operation | movement figure of the solidification unit of FIG. 基板処理方法の一実施形態のフローチャートである。It is a flowchart of one Embodiment of a substrate processing method. 図11の基板処理方法の動作図である。FIG. 12 is an operation diagram of the substrate processing method of FIG. 11. 図11の基板処理方法の動作図である。FIG. 12 is an operation diagram of the substrate processing method of FIG. 11. 図11の基板処理方法の後続段階の動作図である。FIG. 12 is an operation diagram of a subsequent stage of the substrate processing method of FIG. 11. 図11の基板処理方法の後続段階の動作図である。FIG. 12 is an operation diagram of a subsequent stage of the substrate processing method of FIG. 11.

本明細書で使用される用語と添付された図面は本発明を容易に説明するためのものであるので、本発明が用語と図面とによって限定されるものではない。   The terminology used in the present specification and the accompanying drawings are for explaining the present invention easily, and the present invention is not limited by the terms and the drawings.

本発明に利用される技術の中で本発明の思想と密接な関連がない公知の技術に関する詳細な説明は省略する。   Detailed descriptions of known techniques that are not closely related to the concept of the present invention will be omitted.

以下では本発明による基板処理装置100に関して説明する。   Hereinafter, the substrate processing apparatus 100 according to the present invention will be described.

基板処理装置100は、直接書込み方式を遂行して基板Sにパターンを直接書き込む。基板処理装置100は、印刷回路基板、ガラス基板を含む平板ディスプレイに使用される透明基板は勿論、その他にも半導体素子の製造に利用される多様なウエハー等を処理できる。例えば、基板処理装置100は、ガラス基板の上に伝導(電気伝導)性インクをライン形態に書き込んで平板ディスプレイの透明電極配線を形成できる。   The substrate processing apparatus 100 directly writes a pattern on the substrate S by performing a direct writing method. The substrate processing apparatus 100 can process not only a transparent substrate used for a flat display including a printed circuit board and a glass substrate, but also various wafers used for manufacturing semiconductor elements. For example, the substrate processing apparatus 100 can form transparent electrode wiring of a flat panel display by writing conductive (electrically conductive) ink on a glass substrate in a line form.

以下では、本発明による基板処理装置100の一実施形態に関して説明する。   Hereinafter, an embodiment of the substrate processing apparatus 100 according to the present invention will be described.

図1は、基板処理装置100の一実施形態の構成図である。図1を参照すれば、基板処理装置100は、ステージ1100、吐出ユニット1200、固形化ユニット1400、及び移送ユニット1500を包含できる。   FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of a substrate processing apparatus 100. Referring to FIG. 1, the substrate processing apparatus 100 may include a stage 1100, a discharge unit 1200, a solidification unit 1400, and a transfer unit 1500.

ステージ1100は、基板Sを支持する。基板Sは、外部から搬送されてステージ1100に載置され、安着され得る。   The stage 1100 supports the substrate S. The substrate S can be transported from the outside, placed on the stage 1100, and seated.

ステージ1100は、その上面が基板Sと同一又は同様の形状に提供され、その面積は基板Sより大きく提供され得る。例えば、平板ディスプレイの製造に利用されるガラス基板を処理する場合には、ステージ1100は処理されるガラス基板より大きい面積を有する四角形で提供され得る。   The upper surface of the stage 1100 may be provided in the same or similar shape as the substrate S, and the area thereof may be provided larger than that of the substrate S. For example, when processing a glass substrate used to manufacture a flat panel display, the stage 1100 may be provided as a quadrangle having a larger area than the glass substrate to be processed.

吐出ユニット1200はインクIを吐出する。ここで、インクIは伝導性インクであり得る。インクIの種類及び成分は本発明が使用される工程にしたがって適切に変更できる。   The ejection unit 1200 ejects ink I. Here, the ink I may be a conductive ink. The type and components of the ink I can be appropriately changed according to the process in which the present invention is used.

吐出ユニット1200は、ステージ1100の上部に配置される。吐出ユニット1200は、ステージ1100に載置された基板Sの上面にインクIを吐出することができる。   The discharge unit 1200 is disposed on the upper part of the stage 1100. The discharge unit 1200 can discharge the ink I onto the upper surface of the substrate S placed on the stage 1100.

吐出ユニット1200は、水平方向に移動することができる。吐出ユニット1200がステージ1100の上部で水平方向に移動しながら、インクIを吐出すれば、ステージ1100に載置された基板Sの上面に移動方向に沿ってラインが形成され得る。ラインは各種回路配線であり得る。例えば、伝導性インクで形成されたラインは平板ディスプレイの透明電極配線であり得る。   The discharge unit 1200 can move in the horizontal direction. If the ink I is discharged while the discharge unit 1200 moves in the horizontal direction above the stage 1100, a line can be formed along the movement direction on the upper surface of the substrate S placed on the stage 1100. Lines can be various circuit wiring. For example, a line formed of conductive ink may be a transparent electrode wiring of a flat panel display.

吐出ユニット1200は、多様な方式にしたがってインクIを吐出することができる。例えば、吐出ユニット1200は、連続ジェッティング(CJ:continuous jetting)方式、ピエゾインクジェット(Piezo inkjet)、熱インクジェット(thermal inkjet)等のDOD(drop on demand)タイプのインクジェット方式、又は電気油圧(electrohydrodynamic)方式にインクIを吐出することができる。但し、以下では説明を簡単にするために電気油圧方式の吐出ユニット1200を中心に説明する。勿論、吐出ユニット1200が電気油圧方式に限定されないので、吐出ユニット1200は上述した例やその他の方式にインクIを吐出することができる。   The discharge unit 1200 can discharge the ink I according to various methods. For example, the discharge unit 1200 may be a continuous jetting (CJ) method, a piezo ink jet, a DOD (drop on demand) type ink jet method such as a thermal ink jet, or an electrohydraulic dynamic. Ink I can be discharged in a system. However, in the following, in order to simplify the description, the electrohydraulic discharge unit 1200 will be mainly described. Of course, since the discharge unit 1200 is not limited to the electrohydraulic method, the discharge unit 1200 can discharge the ink I in the above-described examples and other methods.

図2は、図1の吐出ユニット1200の斜視図である。   FIG. 2 is a perspective view of the discharge unit 1200 of FIG.

図2を参照すれば、吐出ユニット1200は、本体1210及びノズル1220を包含できる。   Referring to FIG. 2, the discharge unit 1200 may include a main body 1210 and a nozzle 1220.

本体1210は、ステージ1100の上方に配置される。本体1210は、移送ユニット1500に結合されて移送ユニット1500によって水平方向に移動することができる。本体1210は、移動方向(たとえば、図1のX方向とする。)に対して垂直方向(たとえば、図1のY方向とする。)の幅がステージ1100の幅又はステージ1100に載置された基板Sの幅と同一であるか、或いは略同一に提供され得る。   The main body 1210 is disposed above the stage 1100. The main body 1210 is coupled to the transfer unit 1500 and can be moved in the horizontal direction by the transfer unit 1500. The main body 1210 is placed on the stage 1100 or the stage 1100 with a width in the direction perpendicular to the moving direction (eg, the X direction in FIG. 1) (eg, the Y direction in FIG. 1). The width of the substrate S may be the same as or substantially the same.

本体1210にはインク供給ユニット1250からインクIが供給され得る。インク供給ユニット1250は、基板処理装置100の一構成要素として提供されるか、或いは外部装置として提供され得る。   Ink I can be supplied to the main body 1210 from the ink supply unit 1250. The ink supply unit 1250 may be provided as a component of the substrate processing apparatus 100 or may be provided as an external device.

インク供給ユニット1250は、インク貯蔵槽1253、ポンプ1252及び供給ライン1251を包含できる。インク貯蔵槽1253にはインクIが貯蔵される。供給ライン1251は、インク貯蔵槽1253と本体1210とを連結する。ポンプ1252は、供給ライン1251の上に設置されて供給ライン1251を通じてインク貯蔵槽1253から本体1210に供給されるインクIの流量を調節することができる。本体1210は、その内部に空間を有するタンク(tank)の形態で提供され得る。インク供給ユニット1250から供給されるインクIは、本体1210の内部空間に貯蔵されてノズル1220へ提供され得る。   The ink supply unit 1250 can include an ink storage tank 1253, a pump 1252, and a supply line 1251. Ink I is stored in the ink storage tank 1253. The supply line 1251 connects the ink storage tank 1253 and the main body 1210. The pump 1252 is installed on the supply line 1251 and can adjust the flow rate of the ink I supplied from the ink storage tank 1253 to the main body 1210 through the supply line 1251. The main body 1210 may be provided in the form of a tank having a space therein. The ink I supplied from the ink supply unit 1250 may be stored in the internal space of the main body 1210 and provided to the nozzle 1220.

ノズル1220は、インクIを吐出する。ノズル1220はインク供給ユニット1250から本体1210に供給されたインクIを吐出することができる。   The nozzle 1220 ejects ink I. The nozzle 1220 can eject the ink I supplied from the ink supply unit 1250 to the main body 1210.

ノズル1220は、本体1210の下面に設置され、ステージ1100に載置された基板Sの上面にインクIを吐出する。本体1210が移動し、ノズル1220がインクIを吐出すれば、基板Sの上面に吐出されたインクIによってラインが形成され得る。   The nozzle 1220 is installed on the lower surface of the main body 1210 and ejects ink I onto the upper surface of the substrate S placed on the stage 1100. If the main body 1210 moves and the nozzle 1220 ejects ink I, a line can be formed by the ink I ejected on the upper surface of the substrate S.

ノズル1220は、1つ又は複数であり得る。複数のノズル1220は本体1210の下面において、移動方向(たとえば、図1のX方向とする。)に対して垂直な方向(たとえば、図1のY方向とする。)に沿って一定な間隔に連設され得る。このような構造に配置された複数のノズル1220を有する吐出ユニット1200は基板Sの上面に複数のラインを形成できる。   There may be one or more nozzles 1220. The plurality of nozzles 1220 are arranged at regular intervals along a direction (for example, the Y direction in FIG. 1) perpendicular to the moving direction (for example, the X direction in FIG. 1) on the lower surface of the main body 1210. Can be connected in series. A discharge unit 1200 having a plurality of nozzles 1220 arranged in such a structure can form a plurality of lines on the upper surface of the substrate S.

電気油圧方式でインクIを吐出する場合に、基板処理装置100は電源ユニット1300をさらに包含できる。   When the ink I is ejected by the electrohydraulic method, the substrate processing apparatus 100 can further include a power supply unit 1300.

図3は図2の吐出ユニット1200の動作図である。   FIG. 3 is an operation diagram of the discharge unit 1200 of FIG.

図3を参照すれば、電源ユニット1300は高電圧を発生させる。電源ユニット1300は、その一端が本体1210に連結され、他端がステージ1100に連結され得る。電源ユニット1300は、本体1210へ高電圧を印加することができる。また、電源ユニット1300は、ステージ1100へ負電圧を印加するか、又はステージ1100を接地することができる。ここで、ステージ1100は、伝導性を有する材質、例えば金属材料で提供され得る。これによって、本体1210とステージ1100との間に高電圧による電場が形成され得る。   Referring to FIG. 3, the power supply unit 1300 generates a high voltage. The power supply unit 1300 may have one end connected to the main body 1210 and the other end connected to the stage 1100. The power supply unit 1300 can apply a high voltage to the main body 1210. The power supply unit 1300 can apply a negative voltage to the stage 1100 or ground the stage 1100. Here, the stage 1100 may be provided with a conductive material, for example, a metal material. Accordingly, an electric field due to a high voltage can be formed between the main body 1210 and the stage 1100.

ノズル1220は、微細な内径の貫通ホールが中空されるチューブ構造の中空ニードル形態に提供され得る。貫通ホールは、上下方向の内径が一定に維持される円筒形態に提供されるか、又はノズル1220の上部から下部に行くほど、その内径が小さくなる円錐形態や半球形態に提供され得る。   The nozzle 1220 may be provided in the form of a hollow needle having a tube structure in which a through hole having a fine inner diameter is hollow. The through hole may be provided in a cylindrical shape in which the inner diameter in the vertical direction is kept constant, or may be provided in a conical shape or a hemispherical shape in which the inner diameter decreases from the top to the bottom of the nozzle 1220.

ノズル1220には本体1210を通じて高電圧が印加され得る。ここで、本体1210とノズル1220とは通電性が優れる材質で提供され得る。例えば、本体1210とノズル1220とは金属材料であり得る。   A high voltage may be applied to the nozzle 1220 through the main body 1210. Here, the main body 1210 and the nozzle 1220 may be provided with a material having excellent electrical conductivity. For example, the body 1210 and the nozzle 1220 can be metallic materials.

ノズル1220へ高電圧が印加されれば、ノズル1220を通じて吐出されるインクIが高電圧によって荷電され得る。インクIが高電圧によって荷電されれば、インクIの粒子の間の電荷の反発力が作用してノズル1220の先端で上部から下部へ行くほど、内径が小さくなる円錐形態の液滴に吐出される。円錐形態の液滴に吐出されるインクIに電場が作用すれば、円錐の下部領域のインクIが微細な直径を有する液柱形態を安定的に維持し、基板Sの上に提供される。これによって、吐出ユニット1200は微細な直径を有する液柱形態にインクIを吐出して基板Sの上面に微細な厚さにラインを形成できる。   If a high voltage is applied to the nozzle 1220, the ink I ejected through the nozzle 1220 can be charged by the high voltage. If the ink I is charged by a high voltage, the repulsive force of the charge between the particles of the ink I acts, and the ink 12 is ejected into a conical droplet having a smaller inner diameter from the top to the bottom at the tip of the nozzle 1220. The If an electric field acts on the ink I ejected onto the conical droplet, the ink I in the lower region of the cone stably maintains a liquid column shape having a fine diameter and is provided on the substrate S. As a result, the discharge unit 1200 can discharge the ink I in the form of a liquid column having a fine diameter and form a line with a fine thickness on the upper surface of the substrate S.

電源ユニット1300は、本体1210へ印加する高電圧の電圧を調節することができる。電圧の大きさが大きくなれば、電場が強くなって液柱の直径がさらに小さくなり、反対に電圧が小さくなれば、直径がさらに大きくなり得る。一方、電圧の大きさが臨界値を超過すれば、荷電されたインクIで電荷の間の反発力が大きくなってノズル1220はインクIをマイクロ粒子又はナノ粒子の単位に電気噴射(electrospray)できる。高電圧は、ノズル1220と基板Sとの間の距離に比例して大きくなるように調整され、好ましくは0.1〜50,000V/CM程度の電圧である。   The power supply unit 1300 can adjust a high voltage applied to the main body 1210. If the magnitude of the voltage is increased, the electric field becomes stronger and the diameter of the liquid column is further reduced. Conversely, if the voltage is reduced, the diameter can be further increased. On the other hand, if the magnitude of the voltage exceeds a critical value, the repulsive force between the charges is increased in the charged ink I, and the nozzle 1220 can electrospray the ink I into units of microparticles or nanoparticles. . The high voltage is adjusted so as to increase in proportion to the distance between the nozzle 1220 and the substrate S, and is preferably about 0.1 to 50,000 V / CM.

固形化ユニット1400は、インクIを固形化させ得る。固形化とは、インクIから溶剤を乾燥させてインクIを固体化処理して基板Sの上に固定させることを意味する。このような固形化は、インクIを乾燥させるか、或いは焼結(sintering)させることを全て含む包括的な概念として解釈されなければならない。   The solidification unit 1400 can solidify the ink I. Solidification means that the solvent is dried from the ink I to solidify the ink I and fix it on the substrate S. Such solidification should be interpreted as a comprehensive concept that includes all drying or sintering of ink I.

インクIは、固形化される速度や温度等にしたがってその内部パーティクル(particle)のアレイ(array)が変化され得る。例えば、固形化が緩やかに進行する場合にはパーティクルの内部に空隙が形成されず、パーティクルが均一な密度に配置される。反面、固形化が速やかに進行する場合には内部パーティクルが不規則に配置され、パーティクルの内部に空隙が形成されて空隙率(porosity)が高くなり、固形化されるインクIにおい場所的に密度偏差が発生する。特に、伝導性インクの場合には、内部空隙が抵抗値として作用するので、固形化が速やかに進行すれば、伝導性インクで形成される回路配線の性能が低下する問題が発生しうる。   The ink I may change its array of particles according to the solidification speed, temperature, and the like. For example, when solidification progresses slowly, voids are not formed inside the particles, and the particles are arranged at a uniform density. On the other hand, when solidification proceeds rapidly, the internal particles are irregularly arranged, voids are formed inside the particles, the porosity is increased, and the density of the solidified ink I is locally increased. Deviation occurs. In particular, in the case of conductive ink, the internal gap acts as a resistance value, so that if the solidification progresses rapidly, there may be a problem that the performance of the circuit wiring formed of the conductive ink deteriorates.

固形化ユニット1400は、ステージ1100の上方に配置される。固形化ユニット1400は、移動方向に沿って吐出ユニット1200と一列に離隔されて配置され得る。この時、移動方向の前方に吐出ユニット1200が配置され、後方に固形化ユニット1400が配置され得る。   The solidification unit 1400 is disposed above the stage 1100. The solidification unit 1400 may be arranged to be separated from the discharge unit 1200 in a line along the moving direction. At this time, the discharge unit 1200 may be disposed in front of the moving direction, and the solidification unit 1400 may be disposed behind.

固形化ユニット1400は、吐出ユニット1200と同一の方向に移動することができる。固形化ユニット1400は、吐出ユニット1200の後方に配置されるので、吐出ユニット1200に対して後行して移動することができる。固形化ユニット1400は、吐出ユニット1200に対して後行しながら、吐出ユニット1200が吐出したインクIを固形化させ得る。   The solidification unit 1400 can move in the same direction as the discharge unit 1200. Since the solidification unit 1400 is disposed behind the discharge unit 1200, the solidification unit 1400 can move behind the discharge unit 1200. The solidification unit 1400 can solidify the ink I ejected by the ejection unit 1200 while following the ejection unit 1200.

固形化ユニット1400は、多様な方式にしたがってインクIを固形化することができる。例えば、固形化ユニット1400は、ヒーターのように熱を発生させる発熱部材を有し得る。ヒーターは、基板Sに吐出されたインクIへ熱を加える。加熱されたインクIは、その溶媒が蒸発して固形化され得る。他の例では、固形化ユニット1400は、ノズルのように高温の非溶解噴霧又は高温のガスを噴射する噴射部材を有し得る。噴射部材は、外部から高温の非溶解噴霧や高温のガスが供給されて基板Sへ吐出されたインクIに向けてこれを噴射するか、又は外部から非溶解噴霧やガスが供給され、これを加熱して基板Sへ吐出されたインクIに向けて噴射することができる。これによって、インクIに熱が伝達されてその溶媒が蒸発してインクIが固形化され得る。ここで、温度の範囲は、5〜250℃であり、1atmにおける沸点からこの温度より50℃高い温度までが好適である。その他に、固形化ユニット1400は光を照射してインクIを固形化させ得る。以下では説明を簡単にするために光を照射する方式の固形化ユニット1400を中心に説明する。勿論、固形化ユニット1400が光を照射する方式に限定されないので、固形化ユニット1400は上述した例やその他の方式によってインクIを固形化させ得る。   The solidification unit 1400 can solidify the ink I according to various methods. For example, the solidification unit 1400 may have a heat generating member that generates heat, such as a heater. The heater applies heat to the ink I ejected onto the substrate S. The heated ink I can be solidified by evaporation of its solvent. In another example, the solidification unit 1400 may include an injection member that injects a high-temperature non-dissolved spray or a high-temperature gas, such as a nozzle. The spray member sprays the ink I discharged from the outside toward the ink I supplied with the high-temperature non-dissolved spray or the high-temperature gas, or is supplied with the non-dissolved spray or the gas from the outside. The ink I can be ejected toward the ink I heated and discharged onto the substrate S. As a result, heat is transferred to the ink I, the solvent is evaporated, and the ink I can be solidified. Here, the temperature range is 5 to 250 ° C., and the boiling point at 1 atm to a temperature higher by 50 ° C. than this temperature is suitable. In addition, the solidification unit 1400 may irradiate light to solidify the ink I. Hereinafter, in order to simplify the description, the solidification unit 1400 that irradiates light will be mainly described. Of course, since the solidification unit 1400 is not limited to the method of irradiating light, the solidification unit 1400 can solidify the ink I by the above-described example or other methods.

図4は図1の固形化ユニット1400の一実施形態の斜視図であり、図5は図4の固形化ユニット1400の背面図である。   4 is a perspective view of an embodiment of the solidification unit 1400 of FIG. 1, and FIG. 5 is a rear view of the solidification unit 1400 of FIG.

一実施形態によれば、固形化ユニット1400は本体1410及び光照射部材1420aを包含できる。   According to one embodiment, the solidification unit 1400 may include a main body 1410 and a light irradiation member 1420a.

図1、図4及び図5を参照すれば、本体1410はステージ1100の上方に配置される。本体1410は、移動方向に沿って吐出ユニット1200の本体1210の後方に所定の間隔だけ離隔されて配置され得る。本体1410は、移送ユニット1500に結合されて移送ユニット1500によって水平方向に移動することができる。ここで、本体1410の移動方向は本体1210の移動方向と同一であり得る。これによって、本体1410は本体1210に従って後行することができる。   Referring to FIGS. 1, 4, and 5, the main body 1410 is disposed above the stage 1100. The main body 1410 may be disposed at a predetermined distance behind the main body 1210 of the discharge unit 1200 along the moving direction. The main body 1410 is coupled to the transfer unit 1500 and can be moved in the horizontal direction by the transfer unit 1500. Here, the moving direction of the main body 1410 may be the same as the moving direction of the main body 1210. This allows the main body 1410 to be followed according to the main body 1210.

本体1410は、移動方向(たとえば、図1のX方向とする。)に対して垂直方向(たとえば、図1のY方向とする。)の幅がステージ1100又はステージ1100に載置された基板Sの幅と同一であるか、或いは略同一に提供され得る。本体1410の幅は本体1210の幅と同一であり得る。   The main body 1410 has a width in the direction (for example, the Y direction in FIG. 1) perpendicular to the moving direction (for example, the X direction in FIG. 1), or the substrate S placed on the stage 1100. Can be provided with the same or substantially the same width. The width of the body 1410 can be the same as the width of the body 1210.

光照射部材1420aは、光を照射する。ここで、光は、レーザー(laser)又は紫外線(UV:ultraviolet)であり得る。光照射部材1420aは、本体1410の下面に設置され、ステージ1100に載置された基板Sに向かって光を照射することができる。   The light irradiation member 1420a emits light. Here, the light may be a laser or ultraviolet (UV). The light irradiation member 1420 a is installed on the lower surface of the main body 1410 and can irradiate light toward the substrate S placed on the stage 1100.

基板Sの上面に吐出されたインクIに光が照射されれば、インクIの溶媒が蒸発してインクIが焼結され得る。具体的に、インクIにレーザー等の光が照射されれば、インクIに熱が伝達される。伝導(電気伝導および熱伝導)性インクの場合には、光から熱が伝達されて溶剤が蒸発され、シルバー(silver)等のようなメタルパーティクル(metal particle)で提供される溶質が焼結され得る。メタルパーティクルは光から伝達された熱によって高温状態になって一時的に溶けて液相になった後、互いに固まりながら固体化される。したがって、光を利用して固形化を遂行すれば、比較的均一な密度のラインを形成することができる。   If the ink I discharged on the upper surface of the substrate S is irradiated with light, the solvent of the ink I evaporates and the ink I can be sintered. Specifically, when the ink I is irradiated with light such as a laser, heat is transmitted to the ink I. In the case of conductive (electrical conduction and thermal conduction) ink, heat is transferred from light to evaporate the solvent, and the solute provided in metal particles such as silver is sintered. obtain. The metal particles are heated to a high temperature by the heat transmitted from the light, temporarily melted into a liquid phase, and then solidified while solidifying. Therefore, if solidification is performed using light, a line having a relatively uniform density can be formed.

光照射部材1420aは複数であり得る。複数の光照射部材1420aは本体1410の下面において、移動方向に対して垂直になる方向に沿って一定の間隔で連設され得る。ここで、光照射部材1420aの間の離隔間隔は、吐出ユニット1200における複数のノズル1220の間の離隔間隔と同一であり得る。また、複数の光照射部材1420aの各々は複数のノズル1220の各々と一対一対応するように配置され得る。例えば、上側から見る時、光照射部材1420aとノズル1220との各々は移動方向に沿う同一な直線上に位置するように設置され得る。これによって、ノズル1220の移動経路と光照射部材1420aとの移動経路は一対一に重畳され得る。   There may be a plurality of light irradiation members 1420a. The plurality of light irradiating members 1420a can be arranged on the lower surface of the main body 1410 at regular intervals along a direction perpendicular to the moving direction. Here, the separation interval between the light irradiation members 1420 a may be the same as the separation interval between the plurality of nozzles 1220 in the discharge unit 1200. In addition, each of the plurality of light irradiation members 1420a may be arranged to have a one-to-one correspondence with each of the plurality of nozzles 1220. For example, when viewed from above, each of the light irradiation member 1420a and the nozzle 1220 may be installed on the same straight line along the moving direction. As a result, the movement path of the nozzle 1220 and the movement path of the light irradiation member 1420a can be superimposed one-to-one.

図6は図4の固形化ユニット1400の動作図である。   FIG. 6 is an operation diagram of the solidification unit 1400 of FIG.

図6を参照すれば、複数の光照射部材1420は複数のノズル1220によって、吐出されたインクIが形成する複数のラインの各々に一対一に光を照射することができる。光が複数のラインに一対一に対応されて照射されれば、各々のラインを形成するインクIが照射される光によって、エネルギーが伝達されて乾燥又は焼結されて固形化され得る。このような方式によれば、光はラインの上のみに照射され、基板Sの表面では直接照射されないので、基板S又は吐出されたインクIにしたがって形成されたライン以外に基板Sに形成された他のパターンが光によって損傷されることを防止できる。   Referring to FIG. 6, the plurality of light irradiating members 1420 can irradiate the plurality of lines formed by the ejected ink I on a one-to-one basis by the plurality of nozzles 1220. If light is irradiated corresponding to a plurality of lines on a one-to-one basis, energy is transmitted by the light irradiated with the ink I that forms each line, and it can be dried or sintered to be solidified. According to such a system, since light is irradiated only on the line and not directly on the surface of the substrate S, the light is formed on the substrate S other than the line formed according to the substrate S or the ejected ink I. Other patterns can be prevented from being damaged by light.

図7は図1の固形化ユニット1400の他の実施形態の斜視図であり、図8は図7の固形化ユニット1400の背面図である。   7 is a perspective view of another embodiment of the solidification unit 1400 of FIG. 1, and FIG. 8 is a rear view of the solidification unit 1400 of FIG.

他の実施形態によれば、固形化ユニット1400にはスリットタイプの光照射部材1420が提供され得る。   According to another embodiment, the solidification unit 1400 may be provided with a slit-type light irradiation member 1420.

図7及び図8を参照すれば、光照射部材1420は、本体1410の下面において、移動方向(たとえば、図1のX方向とする。)に垂直になる方向(たとえば、図1のY方向とする。)に沿って延長されるスリット形態に提供され得る。スリットタイプの光照射部材1420はそのスリット全体面を通じて光を照射することができる。   Referring to FIGS. 7 and 8, the light irradiation member 1420 has a direction (for example, the Y direction in FIG. 1) perpendicular to the moving direction (for example, the X direction in FIG. 1) on the lower surface of the main body 1410. Can be provided in the form of a slit extending along. The slit-type light irradiation member 1420 can irradiate light through the entire slit surface.

このようなスリットは、その幅が本体1410の幅と概ね同一であり得る。又はスリットの幅は複数のノズル1220の幅に対応するように提供され得る。即ち、光照射部材1420の幅は、複数のノズル1220の中で最外殻ノズル1220の2つの間隔に対応するように提供され得る。これによって、光照射部材1420は、基板S上における複数のラインが形成される領域全体に光を照射して、基板Sに形成された全てのラインを形成するインクIを固形化することができる。   Such a slit may have a width that is substantially the same as the width of the body 1410. Alternatively, the width of the slit can be provided to correspond to the width of the plurality of nozzles 1220. That is, the width of the light irradiation member 1420 may be provided so as to correspond to two intervals of the outermost nozzle 1220 among the plurality of nozzles 1220. As a result, the light irradiation member 1420 can irradiate the entire region where a plurality of lines are formed on the substrate S, and solidify the ink I forming all the lines formed on the substrate S. .

但し、本実施形態では、スリットタイプの光照射部材1420は、必ず1つだけ提供されなければならないことではなく、複数提供されることもあり得る。例えば、図7及び図8に図示された本体1410には、図示された光照射部材1420の長さの1/2の長さを有するスリットタイプの光照射部材1420が2つ設置され得る。   However, in the present embodiment, only one slit-type light irradiation member 1420 is not necessarily provided, and a plurality of slit-type light irradiation members 1420 may be provided. For example, in the main body 1410 illustrated in FIGS. 7 and 8, two slit type light irradiation members 1420 having a length ½ of the length of the light irradiation member 1420 illustrated may be installed.

一方、固形化ユニット1400は鉛直下方又は鉛直下方から移動方向の前方に向かって傾くように光を照射することができる。   On the other hand, the solidification unit 1400 can irradiate light so as to incline toward the front in the moving direction from vertically downward or vertically downward.

図9及び図10は図1の固形化ユニット1400の動作図である。   9 and 10 are operation diagrams of the solidification unit 1400 of FIG.

図9を参照すれば、光照射部材1420は鉛直下方に光を照射することができる。これによって、基板Sの上に吐出されたインクIが光の照射を受けて固形化され得る。   Referring to FIG. 9, the light irradiation member 1420 can irradiate light vertically downward. As a result, the ink I ejected onto the substrate S can be solidified by receiving light irradiation.

図10を参照すれば、光照射部材1420は鉛直下方から前方に所定の角度だけ傾くように光を照射することができる。この場合には鉛直下方に光を照射する場合に比べて、インクIが吐出された始点から光が照射されてインクIが固形化される始点までの時間間隔が鉛直下方に光を照射する場合に比べて短縮され得る。   Referring to FIG. 10, the light irradiating member 1420 can irradiate light so as to be inclined at a predetermined angle from the vertically lower side to the front side. In this case, as compared with the case where light is irradiated vertically downward, the time interval from the start point where ink I is ejected to the start point where ink I is solidified is irradiated vertically downward. Can be shortened compared to

また、固形化ユニット1400には光照射部材1420が光を照射する方向を調節する照射方向調節部材がさらに包含され得る。照射方向調節部材は、光照射部材1420の方向を調整して光が照射される方向を鉛直下方から移動方向の前方又は後方に傾くように調節することができる。   The solidification unit 1400 may further include an irradiation direction adjusting member that adjusts the direction in which the light irradiation member 1420 emits light. The irradiation direction adjusting member can adjust the direction of the light irradiation member 1420 to adjust the direction of light irradiation so that the light is tilted forward or backward in the moving direction from vertically below.

このように固形化ユニット1400が光を照射する角度はインクIの種類、吐出ユニット1200と固形化ユニット1400との間の間隔等の多様な工程条件を考慮して決定され得る。   Thus, the angle at which the solidification unit 1400 irradiates light can be determined in consideration of various process conditions such as the type of the ink I and the interval between the ejection unit 1200 and the solidification unit 1400.

移送ユニット1500は、吐出ユニット1200及び固形化ユニット1400を水平方向に移動させ得る。移送ユニット1500は移送機1510及び移送フレーム1520を包含できる。移送フレーム1520は、ステージ1100の上部に水平方向に延伸されるように設置され得る。移送機1510は、移送フレーム1520に結合され、移送フレーム1520にしたがって移動することができる。移送機1510には吐出ユニット1200と固形化ユニット1400とが所定の間隔に離隔されて移送方向に沿って一列に結合され得る。これによって、吐出ユニット1200と固形化ユニット1400とは移送ユニット1500によってステージ1100の上方で水平方向に移動することができる。   The transfer unit 1500 can move the discharge unit 1200 and the solidification unit 1400 in the horizontal direction. The transfer unit 1500 can include a transfer machine 1510 and a transfer frame 1520. The transfer frame 1520 may be installed on the top of the stage 1100 so as to extend in the horizontal direction. The transfer machine 1510 is coupled to the transfer frame 1520 and can move according to the transfer frame 1520. A discharge unit 1200 and a solidification unit 1400 may be separated from the transfer unit 1510 at a predetermined interval and coupled in a line along the transfer direction. Accordingly, the discharge unit 1200 and the solidification unit 1400 can be moved in the horizontal direction above the stage 1100 by the transfer unit 1500.

以上では、移送ユニット1500が吐出ユニット1200及び固形化ユニット1400を移動させることと説明したが、これと反対に移送ユニット1500がステージ1100を移動させることも可能である。移送ユニット1500がステージ1100を移動させれば、ステージ1100に載置された基板Sは吐出ユニット1200及び固形化ユニット1400に対して水平方向に相対的に移動することができる。場合によっては、移送ユニット1500は基板Sのみを移動させ得る。   In the above, it has been described that the transfer unit 1500 moves the discharge unit 1200 and the solidification unit 1400, but the transfer unit 1500 can also move the stage 1100 on the contrary. When the transfer unit 1500 moves the stage 1100, the substrate S placed on the stage 1100 can move relative to the discharge unit 1200 and the solidification unit 1400 in the horizontal direction. In some cases, the transfer unit 1500 can move only the substrate S.

このように、基板処理装置100は、移送ユニット1500が吐出ユニット1200及び固形化ユニット1400を移動させるか、又はステージ1100や基板Sを移動させながら、基板Sの上にはインクIが吐出しこれを固形化させて移動方向に沿ってラインを形成できる。   As described above, in the substrate processing apparatus 100, the ink I is discharged onto the substrate S while the transfer unit 1500 moves the discharge unit 1200 and the solidification unit 1400 or moves the stage 1100 and the substrate S. Can be solidified to form a line along the moving direction.

基板処理装置100は、回転部材1150をさらに包含できる。回転部材1150は、ステージ1100を回転させ得る。例えば、回転部材1150は回転軸及びモーターを包含できる。モーターは回転力を発生させ、回転軸はその一端がステージ1100に結合され他端がモーターに連結されてモーターの回転力によってステージ1100を回転させ得る。ステージ1100が回転すれば、基板Sが回転することができる。このように、基板Sが回転すれば、吐出ユニット1200と固形化ユニット1400とがその回転角度によってラインを形成できる。   The substrate processing apparatus 100 can further include a rotating member 1150. The rotating member 1150 can rotate the stage 1100. For example, the rotating member 1150 can include a rotating shaft and a motor. The motor generates a rotational force, and one end of the rotational shaft is coupled to the stage 1100 and the other end is connected to the motor, so that the stage 1100 can be rotated by the rotational force of the motor. If the stage 1100 rotates, the substrate S can rotate. Thus, if the substrate S rotates, the discharge unit 1200 and the solidification unit 1400 can form a line depending on the rotation angle.

例えば、基板処理装置100が基板Sの上に移動方向に沿って第1ラインを形成した後、回転部材1150がステージ1100を90度回転させれば、基板処理装置100は基板S上に第1ラインと垂直になる方向に第2ラインを形成できる。これによって、基板Sには格子形態のパターンが形成され得る。ここで、平板ディスプレイの場合には第1ラインはソース電極配線に該当し、第2ラインはゲート電極配線に該当することができる。   For example, if the rotation member 1150 rotates the stage 1100 by 90 degrees after the substrate processing apparatus 100 forms the first line along the moving direction on the substrate S, the substrate processing apparatus 100 is placed on the substrate S. The second line can be formed in a direction perpendicular to the line. As a result, a lattice pattern can be formed on the substrate S. Here, in the case of a flat panel display, the first line may correspond to the source electrode wiring, and the second line may correspond to the gate electrode wiring.

また、回転部材1150は、ステージ1100を回転させる代わりに移送ユニット1500や、吐出ユニット1200及び固形化ユニット1400を回転させることもあり得る。移送ユニット1500や、吐出ユニット1200及び固形化ユニット1400が回転する場合にも、基板処理装置100は、基板Sに回転角度によってラインを形成できる。   Further, the rotating member 1150 may rotate the transfer unit 1500, the discharge unit 1200, and the solidification unit 1400 instead of rotating the stage 1100. Even when the transfer unit 1500, the discharge unit 1200, and the solidification unit 1400 rotate, the substrate processing apparatus 100 can form a line on the substrate S according to the rotation angle.

基板処理装置100は、制御器をさらに包含できる。制御器は、基板処理装置100の構成要素を制御することができる。例えば、制御器は移送ユニット1500の移動を制御することができる。その他に、制御器は、電源ユニット1300が印加する電圧の大きさを調節することができる。その他に、制御器は吐出ユニット1200の流量を調節するか、又は固形化ユニット1400の光照射部材1420の光照射の可否を制御することができる。その他に、制御器は回転部材1150を制御してステージ1100を回転させ得る。   The substrate processing apparatus 100 may further include a controller. The controller can control the components of the substrate processing apparatus 100. For example, the controller can control the movement of the transfer unit 1500. In addition, the controller can adjust the magnitude of the voltage applied by the power supply unit 1300. In addition, the controller can adjust the flow rate of the discharge unit 1200 or can control the light irradiation of the light irradiation member 1420 of the solidification unit 1400. In addition, the controller can control the rotating member 1150 to rotate the stage 1100.

このような制御器は、ハードウェア、ソフトウェア、又はこれらの組み合わせを利用してコンピューター又はこれと同様な装置で具現され得る。   Such a controller may be implemented by a computer or a similar device using hardware, software, or a combination thereof.

制御器は、ハードウェア的にASICs(application specific integrated circuits)、DSPs(digital signal processors)、DSPDs(digital signal processing devices)、PLDs(programmable logic devices)、FPGAs(field programmable gate arrays)、プロセッサー(processors)、マイクロコントローラ(micro−controllers)、マイクロプロセッサー(microprocessors)やこれらと同様な制御機能を遂行する電気的な装置で具現され得る。   Controller, hardware manner ASICs (application specific integrated circuits), DSPs (digital signal processors), DSPDs (digital signal processing devices), PLDs (programmable logic devices), FPGAs (field programmable gate arrays), processor (pwrsupplies) Further, the present invention may be implemented by microcontrollers, microprocessors, and electrical devices that perform similar control functions.

又、制御器は、ソフトウェア的に1つ以上のプログラム言語で作成されたソフトウェアコード又はソフトウェアアプリケーションによって具現され得る。ソフトウェアは、ハードウェア的に具現された制御部によって実行され得る。尚、ソフトウェアは、サーバー等の外部機器から上述したコンピューターなどのハードウェア的な構成へ送信されることによってインストールされ得る。   The controller may be implemented by software code or software application created in one or more programming languages in terms of software. The software can be executed by a control unit embodied in hardware. The software can be installed by being transmitted from an external device such as a server to a hardware configuration such as the computer described above.

以下では本発明による基板処理方法に関して、上述した基板処理装置100を利用して説明する。但し、これは説明を簡単にするためのものに過ぎないので、基板処理方法は上述した基板処理装置100の以外にもこれと同一又は同様な他の装置を利用して遂行され得る。また、本発明による基板処理方法はこれを遂行するコード又はプログラムの形態にコンピューター読出し可能である記録媒体に格納され得る。   Hereinafter, a substrate processing method according to the present invention will be described using the substrate processing apparatus 100 described above. However, since this is merely for the sake of simplicity, the substrate processing method may be performed using another apparatus that is the same as or similar to the substrate processing apparatus 100 described above. In addition, the substrate processing method according to the present invention may be stored in a computer-readable recording medium in the form of a code or program for performing the method.

以下では基板処理方法の一実施形態に関して説明する。図11は基板処理方法の一実施形態のフローチャートである。   Hereinafter, an embodiment of the substrate processing method will be described. FIG. 11 is a flowchart of an embodiment of the substrate processing method.

基板処理方法の一実施形態は、ステージ1100に基板Sを載置する段階(S110)、インクIを吐出する段階(S120)、及びインクIを固形化させる段階(S130)を包含できる。以下では各段階に関して説明する。   One embodiment of the substrate processing method may include placing the substrate S on the stage 1100 (S110), ejecting the ink I (S120), and solidifying the ink I (S130). Hereinafter, each stage will be described.

図12及び図13は図11の基板処理方法の動作図である。   12 and 13 are operation diagrams of the substrate processing method of FIG.

図12を参照すれば、基板Sは外部から移送されてステージ1100の上に載置される(S110)。例えば、基板Sは外部のロボット、ローラー、その他の多様な基板S移送手段によって移送され得る。   Referring to FIG. 12, the substrate S is transferred from the outside and placed on the stage 1100 (S110). For example, the substrate S may be transferred by an external robot, a roller, or other various substrate S transfer means.

図13を参照すれば、基板Sがステージ1100の上に載置されれば、吐出ユニット1200が基板Sの上へインクIを吐出する(S120)。吐出ユニット1200は移送ユニット1500によって水平方向に移動し、基板Sの上面にインクIを吐出することができる。これによって、基板Sの上面には移送方向に沿うラインが形成され得る。   Referring to FIG. 13, when the substrate S is placed on the stage 1100, the discharge unit 1200 discharges the ink I onto the substrate S (S120). The ejection unit 1200 is moved in the horizontal direction by the transfer unit 1500 and can eject the ink I onto the upper surface of the substrate S. Thereby, a line along the transfer direction can be formed on the upper surface of the substrate S.

再び図13を参照すれば、固形化ユニット1400はインクIを固形化させ得る(S130)。固形化ユニット1400は、移送ユニット1500によって、吐出ユニット1200と同一の方向に移動することができる。固形化ユニット1400は、移動方向の吐出ユニット1200の後方に配置されるので、吐出ユニット1200を後行することができる。固形化ユニット1400は、吐出されたインクIによって形成されたラインに光を照射することができる。光照射部材1420は、複数のラインの各々に一対一対応方式に光を照射することができる。又は、光照射部材1420は、複数のラインが形成される領域の幅に対応する領域に光を照射することができる。   Referring to FIG. 13 again, the solidification unit 1400 may solidify the ink I (S130). The solidification unit 1400 can be moved in the same direction as the discharge unit 1200 by the transfer unit 1500. Since the solidification unit 1400 is disposed behind the discharge unit 1200 in the moving direction, the discharge unit 1200 can be followed. The solidification unit 1400 can irradiate light to the line formed by the ejected ink I. The light irradiation member 1420 can irradiate light to each of the plurality of lines in a one-to-one correspondence manner. Alternatively, the light irradiation member 1420 can irradiate light to a region corresponding to the width of a region where a plurality of lines are formed.

インクIへ光が照射されれば、インクIの溶媒が乾燥されるか、或いはインクIが焼結されて固形化され得る。ここで、固形化ユニット1400は、吐出ユニット1200にしたがって後行しながら、所定の時間間隔を置き、吐出されたインクIを固形化させ得る。これによって、インクIが吐出された始点から固形化される始点まで時間間隔が短いので、インクIが自然に乾燥するか、或いは基板Sに加えられる外部の力によって基板Sの上に吐出されたインクIが揺動する現象が防止されてインクIが均一に固形化され得る。インクIが均一に固形化されれば、インクIのラインにしたがう回路配線の品質が向上され得る。また、インクIを吐出する過程の以後に別にこれを固形化させる工程を経る代わりに1つの工程内で基板SへインクIを吐出し、これを固形化させることによって、工程が単純化されて基板処理率が向上され得る。   When the ink I is irradiated with light, the solvent of the ink I can be dried, or the ink I can be sintered and solidified. Here, the solidification unit 1400 can solidify the ejected ink I at a predetermined time interval while following in accordance with the ejection unit 1200. As a result, the time interval from the starting point where the ink I is discharged to the starting point where the ink I is solidified is short, so that the ink I is naturally dried or discharged onto the substrate S by an external force applied to the substrate S. The phenomenon that the ink I swings is prevented, and the ink I can be solidified uniformly. If the ink I is solidified uniformly, the quality of the circuit wiring according to the line of the ink I can be improved. Further, the process is simplified by ejecting the ink I onto the substrate S in one process and solidifying it instead of performing the process of solidifying the ink I after the process of ejecting the ink I. The substrate processing rate can be improved.

一方、本実施形態の基板処理方法では、以上のようにラインが形成された後、基板Sを回転させる段階(S140)及び回転された基板Sに段階S120及びS130を経て形成されたライン(以下、第1ラインと称する。)と異なる方向にライン(以下、第2ラインと称する。)を形成する段階(S150)をさらに遂行できる。   On the other hand, in the substrate processing method according to the present embodiment, after the line is formed as described above, the step of rotating the substrate S (S140) and the line formed on the rotated substrate S through steps S120 and S130 (hereinafter referred to as the step S120). The step (S150) of forming a line (hereinafter referred to as a second line) in a direction different from that of the first line can be further performed.

図14及び図15は、図11の基板処理方法の後続段階の動作図である。   14 and 15 are operation diagrams of subsequent stages of the substrate processing method of FIG.

図14を参照すれば、第1ラインが形成された後、回転部材1150はステージ1100を回転させ得る(S140)。例えば、ステージ1100は90度回転され得る。ステージ1100が回転されれば、移送ユニット1500の移動方向と基板Sに形成された第1ラインは上部から見る時、互に直角を成し得る。   Referring to FIG. 14, after the first line is formed, the rotating member 1150 may rotate the stage 1100 (S140). For example, the stage 1100 can be rotated 90 degrees. If the stage 1100 is rotated, the moving direction of the transfer unit 1500 and the first line formed on the substrate S may be perpendicular to each other when viewed from above.

図15を参照すれば、基板Sが回転されれば、基板処理装置100は基板Sに第2ラインを形成できる。例えば、基板Sが90度回転された場合には第1ラインと垂直になる方向に第2ラインを形成できる。基板処理装置100は上述した段階S120と段階S130と同様の方式で基板Sの上にインクIを吐出し、固形化させて第2ラインを形成できる。   Referring to FIG. 15, if the substrate S is rotated, the substrate processing apparatus 100 can form the second line on the substrate S. For example, when the substrate S is rotated 90 degrees, the second line can be formed in a direction perpendicular to the first line. The substrate processing apparatus 100 can eject the ink I onto the substrate S in the same manner as the above-described steps S120 and S130 and solidify the ink I to form a second line.

これによって、基板Sの上に互に垂直になる第1ラインと第2ラインとを形成できる。例えば、平板ディスプレイの場合には、このような過程を経て互に垂直になる方向の2つの透明電極配線を製造することができる。ここで、第1ラインと第2ラインとの中で1つはゲート電極であり、その他の1つはソース電極であり得る。   Accordingly, the first line and the second line that are perpendicular to each other can be formed on the substrate S. For example, in the case of a flat panel display, two transparent electrode wirings in a direction perpendicular to each other can be manufactured through such a process. Here, one of the first line and the second line may be a gate electrode, and the other one may be a source electrode.

以上で言及された本発明の実施形態は本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に本発明に対する理解を助けるために記載されたことであるので、本発明が上述した実施形態によって限定されることではない。   The embodiments of the present invention mentioned above are described in order to help those who have ordinary knowledge in the technical field to which the present invention belongs to understand the present invention. Therefore, the present invention is limited by the above-described embodiments. Not to be done.

したがって、本発明は上述した実施形態及びその構成要素を選択的に組み合わすか、公知の技術を加えて具現でき、さらに本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で修正、置換及び変更が加えて修正形態、変形形態の全てを含む。   Therefore, the present invention can be implemented by selectively combining the above-described embodiments and their constituent elements, or by adding known techniques, and further, modifications, substitutions and changes are made without departing from the technical idea of the present invention. All modifications and variations are included.

また、本発明の保護範囲は下の特許請求の範囲によって解釈されなければならないし、それと均等な範囲内にある発明は全て権利範囲に含まれることとして解釈されなければならない。   Moreover, the protection scope of the present invention must be construed by the following claims, and all inventions within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of rights.

100 基板処理装置、
1100 ステージ、
1150 回転部材、
1200 吐出ユニット、
1250 インキ供給ユニット、
1300 電源ユニット、
1400 固形化ユニット、
1420 光照射部材、
1500 移送ユニット、
S 基板、
I インク。
100 substrate processing apparatus,
1100 stage,
1150 rotating member,
1200 discharge unit,
1250 ink supply unit,
1300 power supply unit,
1400 solidification unit,
1420 light irradiation member,
1500 transfer unit,
S substrate,
I ink.

Claims (20)

基板が載置されるステージと、
インクを吐出して前記ステージに載置された基板に複数のラインを形成する吐出ユニットと、
前記吐出されたインクを固形化させる固形化ユニットと、
前記ステージを移動させるか、又は前記吐出ユニットと前記固形化ユニットとを移動させる移送ユニットと、を含む基板処理装置。
A stage on which the substrate is placed;
A discharge unit that discharges ink to form a plurality of lines on a substrate placed on the stage; and
A solidification unit for solidifying the ejected ink;
A substrate processing apparatus comprising: a transfer unit that moves the stage or moves the discharge unit and the solidification unit.
前記固形化ユニットは、光を照射する光照射部材を含む請求項1に記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the solidification unit includes a light irradiation member that emits light. 前記光照射部材は、複数であり、
前記複数の光照射部材は、各々前記複数のラインに一対一に対応するように前記光を照射する請求項2に記載の基板処理装置。
The light irradiation member is plural,
The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein each of the plurality of light irradiation members irradiates the light so as to correspond to the plurality of lines on a one-to-one basis.
前記光照射部材は、前記複数のラインが形成される領域の幅に対応する幅を有するスリット形態に提供され、前記複数のラインが形成される領域に前記光を照射する請求項2に記載の基板処理装置。   The said light irradiation member is provided in the slit form which has a width | variety corresponding to the width | variety of the area | region in which the said some line is formed, The said light is irradiated to the area | region in which the said several line is formed. Substrate processing equipment. 前記光照射部材は、鉛直下方から前記移動する方向に所定の角度だけ傾くように前記光を照射する請求項2乃至請求項4のいずれかに記載の基板処理装置。   5. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the light irradiation member irradiates the light so that the light irradiation member is inclined at a predetermined angle in the moving direction from vertically below. 前記光照射部材は、レーザー又は紫外線を照射する請求項2乃至請求項4のいずれかに記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the light irradiation member irradiates a laser or ultraviolet light. 前記吐出ユニットと前記固形化ユニットとは、前記ステージの上方において、移動方向に沿って一列に配置される請求項1に記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the discharge unit and the solidification unit are arranged in a line along a movement direction above the stage. 前記固形化ユニットは、熱を発生させる発熱部材を含む請求項1に記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the solidification unit includes a heat generating member that generates heat. 前記固形化ユニットは、高温の非溶解噴霧又は高温のガスを噴射する噴射部材を含む請求項1に記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the solidification unit includes an injection member that injects high-temperature non-dissolved spray or high-temperature gas. 前記吐出ユニットは、各々前記インクを吐出する複数のノズルを含む請求項1乃至請求項4及び請求項7乃至請求項9のいずれかに記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the discharge unit includes a plurality of nozzles that discharge the ink. 前記吐出ユニットへ高電圧を印加する電源ユニットを含み、
前記複数のノズルは、微細針棒の形態に提供され、前記高電圧によって電気油圧式に前記インクを液柱形態に吐出する請求項10に記載の基板処理装置。
Including a power supply unit for applying a high voltage to the discharge unit;
The substrate processing apparatus according to claim 10, wherein the plurality of nozzles are provided in the form of a fine needle bar, and discharge the ink in a liquid column form in an electrohydraulic manner by the high voltage.
前記ステージを回転させる回転ユニットをさらに含む請求項1乃至請求項4及び請求項7乃至請求項9のいずれかに記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a rotation unit that rotates the stage. 前記インクは、伝導性インクである請求項1乃至請求項4及び請求項7乃至請求項9のいずれかに記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the ink is a conductive ink. ステージに基板を載置する段階と、
吐出ユニットが前記ステージの上方で水平方向に移動し、インクを吐出して前記載置された基板の上に複数の第1ラインを形成する段階と、
固形化ユニットが前記吐出ユニットにしたがって後行し、前記吐出されたインクを固形化させる段階と、を含む基板処理方法。
Placing the substrate on the stage; and
A step in which the discharge unit moves horizontally above the stage to discharge the ink to form a plurality of first lines on the previously placed substrate;
A substrate processing method comprising: a solidification unit following the discharge unit to solidify the discharged ink.
前記固形化させる段階で、前記吐出されたインクに光を照射して前記インクを固形化させる請求項14に記載の基板処理方法。   The substrate processing method according to claim 14, wherein in the solidifying step, the discharged ink is irradiated with light to solidify the ink. 前記固形化させる段階で、前記複数の第1ラインに一対一に対応するように前記光を照射する請求項15に記載の基板処理方法。   The substrate processing method according to claim 15, wherein in the solidifying step, the light is irradiated so as to correspond one-to-one to the plurality of first lines. 前記固形化させる段階で、前記複数の第1ラインの幅に対応する領域に前記光を照射する請求項15に記載の基板処理方法。   The substrate processing method according to claim 15, wherein, in the solidifying step, the light is irradiated to a region corresponding to a width of the plurality of first lines. 前記固形化させる段階で、鉛直下方から前記移動する方向に所定の角度だけ傾くように前記光を照射する請求項15乃至請求項17のいずれかに記載の基板処理方法。   The substrate processing method according to claim 15, wherein in the solidifying step, the light is irradiated so as to be inclined at a predetermined angle in the moving direction from vertically below. 前記吐出ユニットへ高電圧を印加する段階をさらに含み、
前記第1ラインを形成する段階で、前記吐出ユニットに含まれる微細針棒形態の複数のノズルが前記高電圧によって電気油圧式に前記インクを液柱形態に吐出する請求項14乃至請求項17のいずれかに記載の基板処理方法。
Further comprising applying a high voltage to the discharge unit;
18. The method according to claim 14, wherein in forming the first line, a plurality of fine needle bar-shaped nozzles included in the discharge unit discharge the ink into a liquid column form electrohydraulicly by the high voltage. The substrate processing method according to any one of the above.
前記ステージを90度回転させる段階と、
前記吐出ユニットが前記ステージの上部で前記水平方向に移動し、前記インクを吐出して前記基板の上に前記形成された複数の第1ラインと垂直になる複数の第2ラインを形成する段階と、
前記固形化ユニットが前記吐出ユニットにしたがって後行し、前記複数の第2ラインを形成するインクを固形化させる段階と、をさらに含む請求項14乃至請求項17のいずれかに記載の基板処理方法。
Rotating the stage 90 degrees;
The ejection unit moves in the horizontal direction above the stage and ejects the ink to form a plurality of second lines perpendicular to the plurality of first lines formed on the substrate; ,
The substrate processing method according to claim 14, further comprising: solidifying the ink that forms the plurality of second lines by the solidification unit following the discharge unit. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101599040B1 (en) * 2014-07-28 2016-03-14 순천향대학교 산학협력단 Repair apparatus using electro hydro dynamic inkjet
KR101599037B1 (en) * 2014-07-28 2016-03-14 순천향대학교 산학협력단 Repair apparatus using electro hydro dynamic inkjet
KR20170058182A (en) * 2015-11-18 2017-05-26 (주)쎄미시스코 Light Sintering Apparatus Having Inclined Feeding Part for Fume Removal
KR20170058180A (en) * 2015-11-18 2017-05-26 (주)쎄미시스코 Light Sintering Apparatus for Protecting Damage to Substrate
KR102643743B1 (en) 2021-10-27 2024-03-06 한국생산기술연구원 Pattern forming apparatus using laser and inkjet and the method thereof

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004057928A (en) * 2002-07-29 2004-02-26 Pioneer Electronic Corp Injection coating device for pattern forming material and injection coating method of pattern forming material
JP2006082345A (en) * 2004-09-15 2006-03-30 Sharp Corp Fluid ejector and method of ejecting fluid
JP2007273533A (en) * 2006-03-30 2007-10-18 Sumitomo Heavy Ind Ltd Method and device for forming conductive pattern
JP2011005404A (en) * 2009-06-25 2011-01-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Wiring forming device, wiring forming method and wiring forming material
JP2011071156A (en) * 2009-09-24 2011-04-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Method of forming electrode and electrode forming device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060032857A (en) * 2004-10-13 2006-04-18 삼성전자주식회사 How to adjust the head position of inkjet printing device and inkjet printing device
KR20070073394A (en) * 2006-01-05 2007-07-10 삼성전자주식회사 Inkjet printing system and manufacturing method of display device using same
KR20090080324A (en) * 2008-01-21 2009-07-24 엘지전자 주식회사 Printing and Curing Systems and Their Methods
KR101045367B1 (en) * 2009-03-20 2011-06-30 주식회사 나래나노텍 Drying apparatus of ink ejected from inkjet head, drying system and inkjet printing apparatus having same

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004057928A (en) * 2002-07-29 2004-02-26 Pioneer Electronic Corp Injection coating device for pattern forming material and injection coating method of pattern forming material
JP2006082345A (en) * 2004-09-15 2006-03-30 Sharp Corp Fluid ejector and method of ejecting fluid
JP2007273533A (en) * 2006-03-30 2007-10-18 Sumitomo Heavy Ind Ltd Method and device for forming conductive pattern
JP2011005404A (en) * 2009-06-25 2011-01-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Wiring forming device, wiring forming method and wiring forming material
JP2011071156A (en) * 2009-09-24 2011-04-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Method of forming electrode and electrode forming device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101565250B1 (en) 2013-07-19 2015-11-02 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Pattern forming apparatus and pattern forming method

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