JP2011258308A - 光ディスク記録装置、光ディスクへのデータ記録方法、半導体集積回路、及び光ディスク - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、を生成し、記録パルスに基づいて光ディスクへデータを記録する方法であり、第3の記録パワーを、マークの形成に必要なパワーの下限未満で、かつその下限の半値以上の範囲に収める。
【選択図】図1
Description
第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせを含む記録パルス、
を生成し、その記録パルスに基づいて光ディスクにデータを記録する。この光ディスク記録装置及びそのデータ記録方法は特に、多層構成の光ディスク(以下、多層ディスクという)へデータを記録する場合、第1の記録パワーに対する第2の記録パワーの比率を記録層ごとに決定する。ここで、更に好ましくは、その光ディスク記録装置に搭載された半導体集積回路がその決定を行う。その決定により、記録層ごとに放熱条件が異なっていても、全ての記録層でマークの歪みが十分に抑えられる。例えば、多層ディスクでは一般に、ヘッドから最も遠い記録層が最も厚い反射層に近いので、他の記録層と比べて熱が逃げやすい。それ故、好ましくは、ヘッドから最も遠い記録層では他の記録層より、第1の記録パワーに対する第2の記録パワーの比が高い。それにより、ヘッドから最も遠い記録層に、特に長マークを形成する場合、マークに対応する記録パルスの部分でレベルが高く維持される。その結果、マークを形成すべき記録トラックの部分では、照射されるレーザ光のパワーが高く維持され、放熱量の増大に伴う蓄熱量の低減が相殺される。こうして、他の記録層に形成される長マークと同じ形状/サイズの長マークが確実に形成される。
複数の記録層、及び、
記録層ごとに設定された第1の記録パワーに対する第2の記録パワーの比、を表すデータが記録された領域、を有する。ここで、本発明による上記の光ディスク記録装置が光ディスクにそのデータを記録しても良い。更に好ましくは、本発明による上記の光ディスク記録装置が本発明によるこの光ディスクにデータを記録するとき、その光ディスクから第1の記録パワーに対する第2の記録パワーの比を予め読み出す。それにより、レーザ光のパワーが更に速やかに調節される。
第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせを含む記録パルス、
を生成し、その記録パルスに基づいて光ディスクへデータを記録する。この光ディスク記録装置及びそのデータ記録方法は特に、同一の光ディスクに対して異なる線速度でデータを記録する場合、第1の記録パワーに対する第2の記録パワーの比率を線速度ごとに決定する。ここで、更に好ましくは、その光ディスク記録装置に搭載された半導体集積回路がその決定を行う。その決定により、線速度ごとに光ディスクに対する加熱条件(特に、レーザ光による加熱領域の移動速度と記録層での伝熱速度との間の関係)が変化しても、全ての線速度でマークの歪みが十分に抑えられる。好ましくは、光ディスクの線速度が高いほど、第1の記録パワーに対する第2の記録パワーの比が高い。それにより、高い線速度で、特に長マークを形成する場合、マークに対応する記録パルスの部分でレベルが高く維持される。その結果、マークを形成すべき記録トラックの部分では、照射されるレーザ光のパワーが高く維持され、線速度の上昇に伴う伝熱速度の相対的な低下が相殺される。それ故、線速度が低いときに形成される長マークと同じ形状/サイズの長マークが確実に形成される。
第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、
を生成し、その記録パルスに基づいて光ディスクへデータを記録する。この光ディスク記録装置及びそのデータ記録方法は特に、第3の記録パワーを、マークの形成に必要なパワーの下限未満で、かつその下限の半値以上の範囲に収める。ここで、更に好ましくは、その光ディスク記録装置に搭載された半導体集積回路が第3の記録パワーをその範囲に収める。好ましくは、線速度が光ディスクに固有の最適値より低い場合、第3の記録パワーがその範囲に収められる。それにより、マークに歪みを与えることなく、第1の記録パワーの下げ幅が線速度の低減に伴う下げ幅より増大する。その結果、高い記録品質を維持したまま、更なる省電力化が実現可能である。
第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、
を生成し、その記録パルスに基づいて光ディスクへデータを記録する。この光ディスク記録装置及びそのデータ記録方法は特に、多層ディスクへデータを記録する場合、第1の記録パワーに対する第3の記録パワーの比率を記録層ごとに決定する。ここで、更に好ましくは、その光ディスク記録装置に搭載された半導体集積回路がその決定を行う。その決定により、記録層ごとに放熱条件が異なっていても、全ての記録層でマークの歪みが十分に抑えられる。好ましくは、ヘッドから最も遠い記録層では他の記録層より、第1の記録パワーに対する第3の記録パワーの比が高い。それにより、ヘッドから最も遠い記録層では他の記録層より、スペースを形成すべき記録トラックの部分に照射されるレーザ光のパワーが高いので、放熱量の増大に伴う余熱量の低減が相殺される。その結果、スペースに与えられた余熱がマークの拡張を適度に抑制するので、特に最短マークの形状/サイズが、他の記録層に形成される最短マークの形状/サイズと確実に等しい。
複数の記録層、及び、
記録層ごとに設定された第1の記録パワーに対する第3の記録パワーの比、を表すデータが記録された領域、を有する。ここで、本発明による上記の光ディスク記録装置が光ディスクにそのデータを記録しても良い。更に好ましくは、本発明による上記の光ディスク記録装置が本発明によるこの光ディスクにデータを記録するとき、その光ディスクから第1の記録パワーに対する第3の記録パワーの比を予め読み出す。それにより、レーザ光のパワーが更に速やかに調節される。
第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、
を生成し、その記録パルスに基づいて光ディスクへデータを記録する。この光ディスク記録装置及びそのデータ記録方法は特に、同一の光ディスクに対して異なる線速度でデータを記録する場合、第1の記録パワーに対する第3の記録パワーの比率を線速度ごとに決定する。ここで、更に好ましくは、その光ディスク記録装置に搭載された半導体集積回路がその決定を行う。その決定により、線速度ごとに光ディスクに対する加熱条件(特に、レーザ光による加熱領域の移動速度と記録層での伝熱速度との間の関係)が変化しても、全ての線速度でマークの歪みが十分に抑えられる。好ましくは、光ディスクの線速度が高いほど、第1の記録パワーに対する第3の記録パワーの比が低い。すなわち、高い線速度では、スペースを形成すべき記録トラックの部分に照射されるレーザ光のパワーが低く維持される。その結果、スペースに与えられた余熱とマークに与えられた熱との間のコントラストが高いので、特に最短マークの形状/サイズが、低い線速度で形成されるときの形状/サイズと確実に等しい。
図3は、本発明の実施形態による光ディスク記録再生装置の構成を示す。後述される実施形態1〜4ではこの光ディスク記録再生装置1000が共通に利用される。光ディスク記録再生装置1000は、記録パワー設定部1、記録データ生成部2、記録パルス生成部4、モータ10、ヘッド7、及び読み出し部30を有する。好ましくは、記録パワー設定部1、記録データ生成部2、記録パルス生成部4、及び読み出し部30が一つの半導体集積回路40に統合されている。
例えば、上記の光ディスク記録再生装置1000が基板200に最も近い(すなわち最深の)記録層202と中間の記録層205とのいずれか(図2参照)にデータを記録する場合に、本発明の実施形態1による光ディスクへのデータ記録方法が利用される。
まず、記録パルス101に含まれている先頭パルス107と中間パルス109との組み合わせ(図1参照)に従ったパワーでレーザ光が最深の記録層202と中間の記録層205との両方に照射された。次に、読み出し部30(図3参照)が、そのレーザ光で照射された記録層202、205の各部分を再生パワーのレーザ光で走査し、その反射光からデータを再生した。図4は、読み出し部30の波形測定部18(図3参照)により測定された等化再生信号の波形とマークの形状との間の関係を示す。最深の記録層202から得られた等化再生信号では、図4の(a)に示されているように、パルス400の幅が正しい値8Tであり、パルス400の全体が平坦で、かつ正しいレベル401に維持されていた。このことから、最深の記録層202では、記録トラック403の上に形成された長マーク402が、長さ方向で一様に適正な幅に維持されて歪みを含まず、かつ正しい位置にエッジを持つことがわかった(図4の(b)参照)。一方、中間の記録層205から得られた等化再生信号では、図4の(c)に示されているように、パルス幅8Tのパルス404の後半部が傾斜し、そのレベルが正しい値405から大きく外れていた。このことから、中間の記録層205では、記録トラック407の上に形成された長マーク406の後半部が肥大化していること、特にマークの幅が過大であり、かつエッジ位置が後に外れていることがわかった。
例えば、上記の光ディスク記録再生装置1000が記録速度(データ記録時の光ディスク9の線速度)を通常の値(光ディスク9に固有の最適値(例えば標準速))、又はそれより高い値(例えば2倍速)のいずれかに設定してデータを中間の記録層205(図2参照)に記録する場合に、本発明の実施形態2による光ディスクへのデータ記録方法が利用される。ここで、光ディスク記録再生装置1000は、光ディスク9に記録されたデータを通常の速度(例えば標準速)で再生する。
好ましくは、上記の光ディスク記録再生装置1000がノートPC等の携帯情報機器に搭載される場合に、本発明の実施形態3による光ディスクへのデータ記録方法が利用される。その場合、光ディスク記録再生装置1000は携帯情報機器の動作状態(AC電源への接続の有無、電池の残量、処理中のタスクの量/優先順位等)に応じ、記録速度を設定する。特に、消費電力を抑える必要がある場合は一般に、記録速度が光ディスク9に固有の最適値より低く設定される。それにより、レーザの消費電力(特に第1の記録パワー)が抑えられる。
例えば、上記の光ディスク記録再生装置1000が記録速度を通常の値(光ディスク9に固有の最適値(例えば標準速))より高い値(例えば2倍速)に設定してデータを記録層208(図2参照)に記録する場合に、本発明の実施形態4による光ディスクへのデータ記録方法が利用される。ここで、光ディスク記録再生装置1000は、光ディスク9に記録されたデータを通常の速度(例えば標準速)で再生する。
まず、記録パルス701に含まれている先頭パルス706とスペースパルス711との組み合わせに従ったパワーでレーザ光が記録層208に照射され、そのレーザ光で照射された記録層208の領域からデータが再生された。そのとき、読み出し部30の波形測定部18(図3参照)により測定された等化再生信号の波形とマークの形状との間の関係を、図8の(a)、(b)に示す。記録層208から得られた等化再生信号ではパルス800の振幅が小さく、目標レベル801に達していなかった(図8の(a)参照)。このことから、記録層208では記録トラック802の上に形成された最短マーク803が適正な幅に達していないことがわかった(図8の(b)参照)。次に、記録パルス702に含まれている先頭パルス713とスペースパルス718との組み合わせに従ったパワーでレーザ光が記録層208に照射され、そのレーザ光で照射された記録層208の領域からデータが再生された。そのとき、読み出し部30の波形測定部18により測定された等化再生信号の波形とマークの形状との間の関係を、図8の(c)、(d)に示す。記録層208から得られた等化再生信号ではパルス805の振幅が大きく、目標レベル806に達していた(図8の(c)参照)。このことから、記録層208では記録トラック807の上に形成された最短マーク808が適正な幅に達していることがわかった(図8の(d)参照)。
本発明の上記の実施形態では、光ディスク記録再生装置1000の記録速度が標準速と2倍速との二種類で可変である。その他に、記録速度が4倍速以上に高く、逆に1/2倍速以下に低く設定されても良い。
Claims (9)
- 第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、を生成し、前記記録パルスに基づいて光ディスクへデータを記録する方法であり、
前記第3の記録パワーを、マークの形成に必要なパワーの下限未満で、かつその下限の半値以上の範囲に収める、光ディスクへのデータ記録方法。 - 前記光ディスクの線速度が前記光ディスクに固有の最適値より低い場合、前記第3の記録パワーが前記範囲に収められる、請求項1に記載の、光ディスクへのデータ記録方法。
- 前記光ディスクが前記記録層を複数含む場合、前記第3の記録パワーが前記記録層ごとに決定される、請求項1に記載の、光ディスクへのデータ記録方法。
- 前記記録パルスが、前記先頭パルス、前記中間パルス、及び、それに続くラストパルスの組み合わせ、を含む、請求項1に記載の、光ディスクへのデータ記録方法。
- 前記記録パルスが末尾に冷却パルスを含む、請求項1に記載の、光ディスクへのデータ記録方法。
- 前記第3の記録パワーを表すデータを前記光ディスクに記録するステップ、を有する、請求項1に記載の、光ディスクへのデータ記録方法。
- 第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、を生成し、前記記録パルスに基づいてデータを記録する光ディスク記録装置であり、
前記第3の記録パワーを、マークの形成に必要なパワーの下限未満で、かつその下限の半値以上の範囲に収める、光ディスク記録装置。 - 第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、を生成し、前記記録パルスに基づいてデータを記録する光ディスク記録装置、に搭載される半導体集積回路であり、
前記第3の記録パワーを、マークの形成に必要なパワーの下限未満で、かつその下限の半値以上の範囲に収める、半導体集積回路。 - 第1の記録パワーに対応する先頭パルスと、それに続く、第2の記録パワーに対応する中間パルスと、の組み合わせ、及び、第3の記録パワーに対応するスペースパルス、を含む記録パルス、を生成し、前記記録パルスに基づいてデータを記録する光ディスク記録装置、によりデータが記録される光ディスクであり、
マークの形成に必要なパワーの下限未満で、かつその下限の半値以上の範囲に設定された前記第3の記録パワー、を表すデータが記録された領域、を有する光ディスク。
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