JP2001351239A - 光ディスクのデータ記録再生方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マルチパルスを用いた従来の光ディスクの記
録方法は、記録レートを上げることおよびパワー制御が
困難であり、記録補償パラメータが多かった。 【解決手段】 最短マーク１０８の記録においては単一
パルスの記録パルスを用い、長マーク１２５の記録は前
半パルスと後半パルスの２段パルスを用いる。全てのマ
ーク長の再生波形の前端エッジ位置が適正化するように
記録パルスの前端エッジの位置１１５および１１８を直
前スペースの長さと自己マークの長さとの関係により決
定し、全てのマーク長さの記録パルスの後端エッジの位
置を記録クロックのエッジと一定の相対的な位置関係を
満たす位置に固定した上で、最短マークの再生波形の後
端エッジ位置１１２が適正化するように最短マークの記
録パルス１０１のパワー１２２を決定し、長マークの再
生波形の後端エッジ位置１２３が適正化するようにマー
ク長毎に後半パルス１０４のパワー１２４を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、マークエッジ記録
方式を用いた書き換え可能な光ディスクのデータ記録再
生方法およびデータ記録再生方法における記録パルスの
波形（ライトストラテジ）および記録補償パラメータの
調整方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】書き換え可能な光ディスク規格としてＤ
ＶＤ−ＲＡＭがある。光ディスク片面容量が２．６ＧＢ
のＤＶＤ−ＲＡＭは既に実用化されており、容量を４．
７ＧＢに増大させたＤＶＤ−ＲＡＭは現在開発中であ
る。ＤＶＤ−ＲＡＭ−４．７ＧＢで採用されている相変
化型の光ディスクへの記録方法を図１６を用いて説明す
る。

【０００３】図１６（ａ）は記録するディジタルデータ
の一例としてデータ９００を示し、データ９００は、１
１Ｔ（Ｔは記録クロック周期）のＨｉレベル信号９０１
と、７ＴのＬｏレベル信号９０２と、３ＴのＨｉレベル
信号９０３とを含む。図１６（ｂ）はデータ９００に対
応したレーザ光の記録パルス９１０の波形を示す。図１
６（ｃ）は記録パルス９１０に対応して光ディスクの記
録トラック９３４に形成されるアモルファスのマーク９
３１および９３２、結晶のスペース９３３の記録状態を
示す。

【０００４】データ９００に対応したマーク９３１およ
びスペース９３３を記録するために、記録パルス９１０
として、記録トラック９３４のマーク形成部に対して、
ピークパワー９２４のファーストパルス９１１、ピーク
パワー９２４と第３バイアスパワー９２３とで２分の１
Ｔ毎に交代するマルチパルス９１２、ピークパワー９２
４のラストパルス９１３、第２バイアスパワー９２２の
クーリングパルス９１４をレーザ光照射する。また、ス
ペース９３３に対して、第１バイアスパワー９２１をレ
ーザ光照射する。このような記録パルス９１０の波形
を、一般に“ライトストラテジ”と呼ぶ。光ディスクへ
の記録で適正なマーク形状を実現するために、光ディス
ク毎に、前述の４種類のパワーと各パルスの時間条件が
個別に定義されている。更に、マークの再生波形のエッ
ジの位置を最適化するために、記録パルスの各エッジの
位置の時間条件をマークとスペースとのパターン毎に適
応制御する（参考文献：特許第２６７９５９６号）。図
１７Ａおよび図１７ＢにＤＶＤ−ＲＡＭ−４．７ＧＢの
記録補償条件としてファーストパルス開始位置テーブル
およびラストパルス終了位置テーブルを示す。すなわ
ち、図１６（ｃ）に示されるマーク９３１を記録するた
めのファーストパルス９１１の開始位置として、直前の
スペースの長さとマーク自己の長さとの関係で４×４＝
１６種類、ラストパルス９１３の終了位置として、マー
ク自己の長さと直後スペースの長さとの関係で４×４＝
１６種類の時間条件がそれぞれ定められている。これら
の条件を求める手続きを、一般に“記録補償”と呼ぶ。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記従来のＤＶＤ−Ｒ
ＡＭのライトストラテジは、１パルスが記録クロック周
期の半分の幅のマルチパルス９１２を使用している。光
ディスクのアクセス速度を更に高速にする要望のため、
記録クロックの周波数を高くすることが考えられる。こ
の場合、記録クロック周期が反比例して小さくなり、記
録用のレーザ光の立ち上がり特性が極めて高速でなけれ
ば正確なマルチパルス９１２を発生することが容易では
ない。極端に高速なレーザ駆動回路を必要とする光ディ
スク装置は、部品コストを抑えることが困難であるとい
う第１の課題があった。

【０００６】また、記録中のレーザパワーを、マークの
形成毎に検出して制御する場合に、記録パルス９１０中
に、高速スイッチングする上記マルチパルス９１２があ
るとレーザ光のパワーモニター波形がマルチパルス９１
２部分で大きく変動し、処理回路が複雑になるという第
２の課題があった。

【０００７】また、光ディスクの容量を増大するという
要望のために、より小さいマークを高密度に記録するこ
とが考えられる。マークエッジ記録方式を用いて更なる
高密度記録を行った場合、最短マークの再生信号の振幅
が他の長いマークより極めて小さくなってノイズに埋も
れた場合、光ディスクの再生エラーを招きかねないとい
う第３の課題があった。

【０００８】また、再生信号のエッジの位置を適正化す
るために、記録パルス９１０のエッジの位置だけを変化
させたのでは、記録補償が出来たとしても記録パワーに
偏りが生じてマーク形状が歪む場合がある。特に、マー
クの前後端の大きさが異なる場合、マークの再生信号の
前後端の振幅がアンバランスとなり、再生信号をディジ
タル化するときにエラーを招きかねない。エラーを低減
する目的で多値検出手段を用いたとしても、マーク形状
歪みが原因で十分な効果が得られないという第４の課題
があった。

【０００９】更に、記録補償条件のパラメータが多いと
いうことは、記録補償の手順が複雑で時間がかかること
になり、光ディスク装置に自動記録補償手段を内蔵した
場合に、全パラメータを求めるための時間の短縮が困難
であるという第５の課題があった。

【００１０】本発明は、上述の第１〜第５の課題を解決
するものであり、マークエッジ記録方式において、記録
クロック周期より細い幅のマルチパルスが不要で、最短
マークの再生信号の振幅を増大させ、長マークの再生信
号の形状歪みを低減させ、記録補償パラメータを従来の
方法より削減できる記録パルスの調整方法およびライト
ストラテジと、それを用いた書き換え可能な光ディスク
へのデータの記録再生方法を提供することを目的とす
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクにマ
ークを記録するための記録パルスを調整する方法は、
（ａ） 最短マークを記録するための第１記録パルスを
調整するステップと、（ｂ） 長マークを記録するため
の第２記録パルスを調整するステップとを包含し、上記
第１記録パルスは第１パワーを有する単一パルスであ
り、上記第２記録パルスは、第２パワーを有する前半パ
ルスと第３パワーを有する後半パルスとを含む２段パル
スであり、上記ステップ（ａ）は、（ａ１） 上記第１
記録パルスの後端エッジの位置を、記録クロックの第１
エッジと所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定す
るステップと、（ａ２） 上記最短マークの再生波形の
後端エッジの位置が適正化するように上記第１パワーを
決定するステップと、（ａ３）上記最短マークの上記再
生波形の前端エッジの位置が適正化するように、上記第
１記録パルスの前端エッジの位置を上記最短マーク直前
のスペースの長さに基づいて決定するステップとを包含
し、上記ステップ（ｂ）は、（ｂ１） 上記前半パルス
の後端エッジの位置を上記記録クロックの第２エッジと
上記所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定するス
テップと、（ｂ２） 上記後半パルスの後端エッジの位
置を上記記録クロックの第３エッジと上記所定の相対的
な位置関係を満たす位置に固定するステップと、（ｂ
３） 上記第２パワーを決定するステップと、（ｂ４）
上記長マークの再生波形の後端エッジの位置が適正化
するように上記第３パワーを決定するステップと、（ｂ
５） 上記長マークの再生波形の前端エッジの位置が適
正化するように、上記前半パルスの前端エッジの位置を
上記長マーク直前のスペースの長さと上記長マークの長
さとに基づいて決定するステップとを包含し、そのこと
により上記目的が達成される。

【００１２】上記第１パワーと上記第１記録パルスの上
記前端エッジの位置との組み合わせは、上記最短マーク
の上記再生波形の上記前端エッジの位置と上記後端エッ
ジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、上記最
短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせに
設定されてもよい。

【００１３】上記第２パワーと上記第３パワーと上記前
半パルスの上記前端エッジの位置との組み合わせは、上
記長マークの上記再生波形の上記前端エッジの位置と上
記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの
内、上記長マークの再生振幅が実質的に平坦となる組み
合わせに設定されてもよい。

【００１４】上記第１パワーと上記第２パワーとが同じ
大きさであってもよい 上記後半パルスの上記後端エッジの位置は、上記前半パ
ルスの上記後端エッジの位置から所定のクロック周期後
ろの位置に固定されてもよい。

【００１５】本発明の光ディスクにマークを記録する方
法は、上述の記録パルスを調整する方法を用いて光ディ
スクにマークを記録する方法であって、上記ステップ
（ａ）に従って少なくとも調整された上記第１記録パル
スに基づいて上記最短マークを記録するステップと、上
記ステップ（ｂ）に従って少なくとも調整された上記第
２記録パルスに基づいて上記長マークを記録するステッ
プとを包含し、そのことにより上記目的が達成される。

【００１６】本発明の光ディスクにマークを記録する方
法は、（ａ） 後端エッジの位置とパワーとが固定され
た単一パルスである、最短マークを記録するための第１
記録パルスの前端エッジを上記最短マーク直前のスペー
スの長さに基づいて調整するステップと、（ｂ） 上記
ステップ（ａ）で調整された上記第１記録パルスを用い
て上記最短マークを記録するステップと、（ｃ） 互い
に異なるパワーを有する前半パルスと後半パルスとを含
む２段パルスであり、上記前半パルスおよび上記後半パ
ルスそれぞれの後端エッジの位置とパワーとが固定され
た、所定の長さの長マークを記録するための第２記録パ
ルスの前端エッジを上記長マーク直前のスペースの長さ
に基づいて調整するステップと、（ｄ） 上記ステップ
（ｃ）で調整された上記第２記録パルスを用いて上記長
マークを記録するステップとを包含し、そのことにより
上記目的が達成される。

【００１７】本発明の光ディスクにマークとスペースと
を記録するための記録パルスを調整する方法は、（ａ）
最短マークを記録するための第１記録パルスを調整す
るステップと、（ｂ） 長マークを記録するための第２
記録パルスを調整するステップと、（ｃ） マーク間の
スペースを記録するための第３記録パルスを調整するス
テップとを包含し、上記第１記録パルスは第１パワーを
有する単一パルスであり、上記第２記録パルスは、第２
パワーを有する前半パルスと第３パワーを有する後半パ
ルスとを含む２段パルスであり、上記第３記録パルスは
第４パワーを有する単一パルスであり、上記ステップ
（ａ）は、（ａ１） 上記第１記録パルスの後端エッジ
の位置を、記録クロックの第１エッジと所定の相対的な
位置関係を満たす位置に固定するステップと、（ａ２）
上記最短マークの再生波形の後端エッジの位置が適正
化するように上記第１パワーを決定するステップと、
（ａ３） 上記最短マークの上記再生波形の前端エッジ
の位置が適正化するように、上記第１記録パルスの前端
エッジの位置を決定するステップとを包含し、上記ステ
ップ（ｂ）は、（ｂ１） 上記前半パルスの後端エッジ
の位置を上記記録クロックの第２エッジと上記所定の相
対的な位置関係を満たす位置に固定するステップと、
（ｂ２） 上記第２パワーを決定するステップと、（ｂ
３） 上記長マークの再生波形の後端エッジの位置が適
正化するように、上記後半パルスの後端エッジの位置と
上記第３パワーとを上記長マークの長さに基づいて決定
するステップと、（ｂ４） 上記長マークの再生波形の
前端エッジの位置が適正化するように、上記前半パルス
の前端エッジの位置を上記長マークの長さに基づいて決
定するステップとを包含し、上記ステップ（ｃ）は、
（ｃ１） マーク間の熱干渉によるマークの再生波形の
エッジの位置変動が無くなるように、上記第４パワーを
上記スペースの長さに基づいて決定するステップを包含
し、そのことにより上記目的が達成される。

【００１８】上記第１パワーと上記第１記録パルスの上
記前端エッジの位置との組み合わせは、上記最短マーク
の上記再生波形の上記前端エッジの位置と上記後端エッ
ジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、上記最
短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせに
設定されてもよい。

【００１９】上記第２パワーと上記第３パワーと上記前
半パルスの上記前端エッジの位置との組み合わせは、上
記長マークの上記再生波形の上記前端エッジの位置と上
記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの
内、上記長マークの再生振幅が実質的に平坦となる組み
合わせに設定されてもよい。

【００２０】上記第１パワーと上記第２パワーとが同じ
大きさであってもよい。

【００２１】本発明の光ディスクにマークを記録する方
法は、上述の記録パルスを調整する方法を用いて光ディ
スクにマークを記録する方法であって、上記ステップ
（ａ）に従って少なくとも調整された上記第１記録パル
スに基づいて上記最短マークを記録するステップと、上
記ステップ（ｂ）に従って少なくとも調整された上記第
２記録パルスに基づいて上記長マークを記録するステッ
プと、上記ステップ（ｃ）に従って少なくとも調整され
た上記第３記録パルスに基づいて上記スペースを記録す
るステップとを包含し、そのことにより上記目的が達成
される。

【００２２】本発明の光ディスクにマーク間のスペース
を記録する方法は、（ａ） マーク間の熱干渉によるマ
ークの再生波形のエッジの位置変動が無くなるように、
スペースを記録するための単一パルスである記録パルス
のパワーを上記スペースの長さに基づいて調整するステ
ップと、（ｂ） 上記ステップ（ａ）で調整された上記
記録パルスを用いて上記スペースを記録するステップと
を包含し、そのことにより上記目的が達成される。

【００２３】

【発明の実施の形態】図３は本発明の実施の形態として
説明する光ディスク９の記録再生装置１０００を示す図
である。記録再生装置１０００は、後述する実施の形態
１〜３において共通に使用するものとする。

【００２４】まず、各部の説明をする。図３に示すよう
に、記録再生装置１０００は、記録再生装置１０００の
動作基準時間軸となる記録クロック１を生成する記録ク
ロック生成手段２０と、光ディスク９に記録したい情報
を記録データ３として生成する記録データ生成手段２
と、記録補償条件５を調整する記録補償条件調整手段２
１と、記録データ３からレーザ（図示せず）を駆動する
ための記録パルス６を生成する記録補償手段４と、記録
パルス６に基づいてレーザを駆動し、強度変調されたレ
ーザビーム８を光ディスク９に照射してデータを記録す
るヘッド７と、光ディスク９を回転させるモータ１０と
を備える。

【００２５】記録クロック１は、記録データ生成手段２
および記録補償手段４へ出力される。記録データ３の形
態は、クロック単位のＰＷＭ信号であり、本発明の実施
の形態においては、ランレングス制限が最小３Ｔ（Ｔは
記録クロック周期）最大１１Ｔの変調データとするがそ
れに制限されない。記録補償条件調整手段２１は、記録
データ３のＨｉレベル信号期間を光ディスク上でマーク
に対応させ、Ｌｏレベル信号期間をスペースに対応させ
て記録するための、マークおよびスペース毎のパワーと
パルスの位置のパラメータを記録補償条件５として調整
し、決定する。記録補償手段４は、記録クロック１、記
録データ３および記録補償条件５を受け取り、記録パル
ス６をヘッド６へ出力する。記録クロック生成手段２０
および記録補償条件調整手段２１は記録再生装置１００
０外部に設けられてもよい。

【００２６】光ディスク９は、スパイラル状の記録トラ
ックを形成した基材に相変化膜等が成膜された形態であ
り、レーザビーム８の照射熱によりマークおよびスペー
スを形成して、データを書き込み可能な、または書き換
え可能な光ディスクである。

【００２７】記録再生装置１０００は、ヘッド７からの
再生信号１１の高域で減衰した周波数特性を補正し、ア
ナログの等化再生信号１３を出力するイコライザ１２
と、等化再生信号１３をスライスレベルで２値化し、デ
ィジタルの２値化パルス１５を出力する２値化手段１４
と、２値化パルス１５の立ち上がりまたは立ち下がりエ
ッジを検出してエッジからエッジの間隔を測定し、時間
測定結果１７を出力するパルス間隔測定手段１６と、等
化再生信号１３の大きさや波形の対象性などの振幅情報
を測定し、振幅測定結果１９を出力する振幅測定手段１
８とをさらに備える。時間測定結果１７および振幅測定
結果１９は、記録補償条件調整手段２１に入力され、マ
ークおよびスペース毎のパワーとパルスの位置のパラメ
ータおよびライトストラテジの調整するためのデータと
して用いられる。

【００２８】再生時には、ヘッド７は再生用パワーのレ
ーザビーム８を光ディスク９に照射し、光ディスク９上
に記録されたマークおよびスペースからの反射光をディ
テクタ（図示せず）で光電変換し、再生信号１１として
出力する。イコライザ１２は、例えば、トランスバーサ
ルフィルタとベッセルローパスフィルタとの組み合わせ
による標準イコライザや、振幅リミッタと標準イコライ
ザとを組み合わせた非線形イコライザなどでもよい。

【００２９】２値化手段１４は、例えば、出力の２値化
パルスの積分値が一定になるようにスライスレベルを制
御したデューティーフィードバック２値化回路や、パー
シャルレスポンス法による多値検出の２値化回路などで
もよい。パルス間隔測定手段１６は、例えば、タイムイ
ンタバルアナライザや、記録再生装置１０００専用のＬ
ＳＩ回路などでもよい。振幅測定手段１８は、例えば、
オシロスコープや、記録再生装置１０００専用のＬＳＩ
回路などでもよい。

【００３０】記録再生装置１０００を用いて本願発明の
光ディスクのデータ記録再生方法を実施するものとす
る。後述する記録パルスのエッジの位置やパワー値を記
録補償条件５として記録補償手段４に設定することで、
光ディスク９にマークを記録する。マークの再生信号波
形は等化再生信号１３として出力され、振幅測定手段１
８で観測される。マークの再生信号のエッジは２値化パ
ルス１５として出力され、パルス間隔測定手段１６で観
測される。なお、以下の説明で、長さ３Ｔのマークのこ
とを３Ｔｍ、長さ４Ｔのスペースのことを４Ｔｓという
ように略記するものとする。

【００３１】（実施の形態１）図１は本発明の実施の形
態１として説明する光ディスクのデータ記録再生方法
と、データ記録再生方法における記録パルスの波形（ラ
イトストラテジ）および記録補償パラメータの調整方法
を示す図である。

【００３２】図１において、縦の点線は時間単位を表
し、１目盛りが記録クロックの１周期Ｔに対応する。上
より、図１（ａ）はＨｉレベル信号１００をマークに、
Ｌｏレベル信号１４３、１４４および１４５をスペース
に割り当てた記録データである。これは図３の記録再生
装置１０００における記録データ３の波形を示してい
る。図１（ａ）に示す記録データは、３Ｔｍの最短マー
ク１０８の直前スペースが３Ｔｓである場合、４Ｔｓで
ある場合、直前スペースの長さが５Ｔｓ以上である場合
の記録データのＨｉレベル信号１００をそれぞれ連ねた
形態となっている。

【００３３】図１（ｂ）は長さ３ＴのＨｉレベル信号１
００に対応した記録パルス１０１、１０１’および１０
１”と、Ｌｏレベル信号１４３、１４４および１４５に
対応した記録パルス１６３、１６４および１６５を示
し、縦軸はレーザパワーを示す。これは図３の記録再生
装置１０００における、記録パルス６によって変調され
たレーザビーム８の強度と等価である。

【００３４】図１（ｃ）はレーザビーム８によって光デ
ィスク９のトラック１５０に記録されたマーク１０８と
スペース１５３、１５４および１５５の模式図である。
図１（ｃ）に示す網掛け部分がマーク１０８で、相変化
膜のアモルファス状態に対応し、その他の部分はスペー
ス１５３、１５４および１５５で、相変化膜の結晶状態
に対応する。

【００３５】図１（ｄ）に示す実線曲線は、マーク１０
８、スペース１５３、１５４および１５５を再生したと
きの波形で、図３の等化再生信号１３に相当する。図１
（ｄ）に示す上下点線は、再生される信号振幅レンジを
表し、中央の一点鎖線は２値化するときのスライスレベ
ル１１０を表す。以下同様に図１（ｅ）〜図１（ｈ）
は、４Ｔｍの長マーク１２５を記録再生した時の、また
図１（ｉ）〜図１（ｌ）は５Ｔｍ以上の長マーク１２９
を記録再生したときの、記録データ、記録パルス、記録
マーク、等化再生信号をそれぞれ表す。以下、本実施の
形態の記録再生方法について順に説明する。

【００３６】＜第１の要件＞図１（ａ）に示す長さ３Ｔ
のＨｉレベル信号１００に対応する最短マーク１０８を
記録するために、１個の最短マーク１０８当り図１
（ｂ）に示す単一パルスである記録パルス１０１、１０
１’または１０１”を１つ照射する。

【００３７】＜第２の要件＞最短マーク１０８以外の長
マーク、例えば図１（ｅ）に示す長さ４ＴのＨｉレベル
信号１０２に対応する長マーク１２５を記録するため
に、１個の長マーク１２５当り図１（ｆ）に示す２段パ
ルスである記録パルス１７１、１７１’または１７１”
を１つ照射する。記録パルス１７１は前半パルス１０３
と後半パルス１０４とを含み、記録パルス１７１’は前
半パルス１０３’と後半パルス１０４とを含み、記録パ
ルス１７１”は前半パルス１０３”と後半パルス１０４
とを含む。

【００３８】マークの長さが５Ｔｍ以上の長マーク、例
えば図１（ｉ）に示す長さ５ＴのＨｉレベル信号１０５
に対応する長マーク１２９を記録するためにも同様に、
１個の長マーク１２９当り図１（ｊ）に示す２段パルス
である記録パルス１７２、１７２’または１７２”を１
つ照射する。記録パルス１７２は前半パルス１０６と後
半パルス１０７とを含み、記録パルス１７２’は前半パ
ルス１０６’と後半パルス１０７とを含み、記録パルス
１７２”は前半パルス１０６”と後半パルス１０７とを
含む。

【００３９】ここで、マークの再生波形のエッジを定義
する。マークの再生波形の前端エッジとは、図３に示す
２値化パルス１５の立ち上がりエッジのことで、図１
（ｄ）に示す本実施の形態では、最短マーク１０８を再
生したときの等化再生信号１０９とスライスレベル１１
０との交点１１１を指す。マークの再生波形の後端エッ
ジとは、２値化パルス１５の立ち下がりエッジのこと
で、図１（ｄ）に示す本実施の形態では、最短マーク１
０８を再生したときの交点１１２を指す。

【００４０】また、マークの再生波形のエッジの位置が
適正であるという意味について述べる。マークの再生波
形のエッジは上記定義によるもので、適正位置とは、す
べてのエッジ間隔がクロック単位の整数倍になることを
意味する。例えば、図１においては、縦の点線上に、ち
ょうどマークの再生波形のエッジの位置が重なっている
状態を指す。マークの再生波形のエッジの位置が適正で
ある場合、２値化パルス１５の波形は、記録データの波
形（例えば図１（ａ）に示す記録データの波形）と等し
くなる。

【００４１】なお、マークの再生波形のエッジの適正化
のためには、記録されたマーク形状自体のエッジの位置
が必ずしもクロック単位になっている必要はなく、再生
された２値化パルス信号のエッジの位置が結果的に正し
い位置になればよい。例えば、長さ３ＴのＨｉレベル信
号１００の前端エッジと後端エッジとの間隔と、交点１
１１と交点１１２との間隔とが等しくなればよい（交点
１１１と交点１１２との間隔の長さが３Ｔとなる）。

【００４２】＜第３の要件＞マークの再生波形の前端エ
ッジの位置を適正化するために、記録パルスの前端エッ
ジの位置をマーク直前のスペースの長さとマーク自己の
長さとの関係で決定する。例えば、３Ｔｍに対応する記
録パルス１０１”、１０１’および１０１の前端エッジ
の位置は、図１（ｂ）に示すように、形成するマーク直
前のスペースが３Ｔｓの記録パルス１０１”は位置１１
３、直前のスペースが４Ｔｓの記録パルス１０１’ は
位置１１４、長さが５Ｔｓ以上の直前のスペースの記録
パルス１０１は位置１１５のように異なる位置に決定す
る。

【００４３】マーク直前のスペースが短いとき、手前の
マークの記録熱がスペースを通じて伝導し、形成するマ
ークの温度を変化させてしまうため、形成するマークの
前端エッジを変動させてしまう現象が起きる。これを一
般に熱干渉と呼ぶ。熱干渉を相殺して、マークの再生波
形の前端エッジの位置を適正化するために、形成するマ
ーク直前のスペースの長さによって記録パルスの前端エ
ッジの位置を変化させる。

【００４４】同様に、４Ｔｍを記録するときも、記録パ
ルス１７１” 、１７１’ および１７１の前端エッジの
位置を、形成するマーク直前のスペースの長さが異なる
毎に、図１（ｆ）に示す位置１１６、１１７および１１
８の様に異なる値とする。同様に、マークの長さが５Ｔ
ｍ以上のマークを記録するときも、記録パルス１７２、
１７２’および１７２”の前端エッジの位置を、直前の
スペースの長さが異なる毎に、図１（ｊ）に示す位置１
１９、１２０および１２１の様に異なる値とする。

【００４５】更に、マークが３Ｔｍ、４Ｔｍ、５Ｔｍと
変化したとき、直前スペースの長さが同じであっても、
記録パルスの前端エッジの位置を変化させる。マーク自
己の長さが短いとき、形成されるマークサイズが小さく
周囲に熱が放熱されやすいので急冷となり、反対に、マ
ーク自己の長さが長いときは、マーク後半部分も連続し
て記録しているので放熱が悪く徐冷となる。

【００４６】従って、記録されるマーク自己の長さの違
いによって、記録パルスの前端エッジの位置が同じでも
形成されるマークの前端エッジの位置（例えば図１
（ｃ）に示す位置１０８’）が異なる現象が起きる。こ
れをマークの長さに依存した熱非線形とよぶ。熱非線形
を相殺して、マークの再生波形の前端エッジの位置を適
正化するために、形成するマーク直前のスペースの長さ
が同じ３Ｔの時でも、形成するマークが３Ｔｍの時は図
１（ｂ）に示す位置１１３、４Ｔｍの時は図１（ｆ）に
示す位置１１６、マークの長さが５Ｔｍ以上の時は図１
（ｊ）に示す位置１１９の様に、記録パルスの前端エッ
ジの位置をそれぞれ変化させる。

【００４７】結果として、マークの再生波形の前端エッ
ジを適正化するための、記録パルスの前端エッジの位置
の条件は、図４Ａに示す通り、直前のスペースの長さと
マーク自己の長さとの関係で決定される２次元のパラメ
ータとなる。図４Ａに示す表に記した番号は、図１に示
す各部の位置を示す参照符号に対応している。なお、表
に示す各参照符号に対応する各部の位置同士において
は、必ずしも直前のスペースとマークを形成するために
照射される記録パルスの前端エッジとの間隔が異なる値
になるとは限らず、光ディスクの記録膜特性やイコライ
ザ特性に依存していくつかの位置が同一値になる場合も
ある。

【００４８】＜第４の要件＞全てのマークの長さに対応
する記録パルスのそれぞれの後端エッジの位置を、それ
ぞれ対応する記録クロックのエッジと一定の相対的な位
置関係を満たす位置に固定する。図１に示す例では、全
ての記録パルスのそれぞれの後端エッジの位置は、それ
ぞれ記録クロックの対応するエッジと一致させる。

【００４９】＜第５の要件＞最短マーク１０８の再生波
形の後端エッジの位置（例えば交点１１２）を適正化す
るために、単一パルスである記録パルス１０１のパワー
を変化させる。その方法を、図５を用いて説明する。図
５は、最短マーク１０８を記録するときに、記録パルス
１０１のパワー１２２と前端エッジの位置１１５とを４
種類の条件で変化させたときの、マーク１０８の形状と
その等化再生信号１０９との関係を示す。図５に示す記
録条件５００、５０１、５０２および５０３において、
上段は記録パルス１０１の波形を、中段は記録トラック
１５０と最短マーク１０８の形状を、下段は等化再生信
号１０９の波形をそれぞれ示す。

【００５０】図５の記録条件５００と記録条件５０１を
比較すると、記録条件５００はパワー１２２が大きく、
相対的に記録条件５０１はパワー１２２が小さい。パワ
ー１２２を大から小へ変化させると形成される最短マー
ク１０８の幅が細くなり、再生信号のレベルが下がる方
向に変化する。この比較例では、一点鎖線で示したスラ
イスレベル１１０で見た等化再生信号１０９のエッジ間
隔（交点１１１および１１２間の幅）が、記録パルス１
０１の幅と等しくなる記録条件５０１が適正な記録パワ
ーである。

【００５１】また、図５の記録条件５０２と記録条件５
０３とを比較すると、記録条件５０２はパワー１２２が
大きく、相対的に記録条件５０３はパワー１２２が小さ
い。パワー１２２を小から大へ変化させると形成される
最短マーク１０８の幅が太くなり、等化再生信号１０９
のレベルが上がる方向に変化する。この比較例では、ス
ライスレベル１１０で見た等化再生信号１０９のエッジ
間隔が記録パルス１０１の幅と等しくなる記録条件５０
２が適正なパワーである。即ち、最短マーク１０８の記
録パルスの単一パルスによる記録方法では、パワーを変
化させることによってマークの再生波形のエッジの位置
を制御することが可能である。

【００５２】更に、記録条件５０１と記録条件５０２と
を比較すると、記録条件５０１はパワー１２２が小さく
記録パルス１０１の前端エッジの位置１１５は手前にあ
る。相対的に、記録条件５０２はパワー１２２が大きく
記録パルス１０１の前端エッジの位置１１５は後ろにあ
る。記録条件５０１と記録条件５０２とにおけるマーク
１０８の形状は幅と長さがそれぞれ異なるが、上述のよ
うに等化再生信号１０９は共に適正な最短マーク１０８
の再生波形のエッジの位置となっている。しかし、記録
条件５０２の方がトラック１５０に占める最短マーク１
０８の面積比率が大きいため、記録条件５０１と比べて
等化再生信号１０９の再生振幅５０９が大きくなる。同
じ再生波形のエッジの位置を実現できても、等化再生信
号１０９の再生振幅５０９が大きいと、エッジの立ち上
がりが急峻になり等化再生信号１０９の時間軸変動（ジ
ッター）が少ない。最短マーク１０８は、再生振幅５０
９が他の長マーク（例えば長マーク１２５）に比べて小
さくなり、十分な品質が得られにくい傾向がある。

【００５３】従って、最短マーク１０８を記録するため
の記録パルス１０１のパワー１２２および前端エッジの
位置１１５は、（図５の記録条件５０１と５０２のよう
に）最短マーク１０８の再生波形のエッジ（すなわち交
点１１１および１１２の位置）の位置が適正化する複数
の組み合わせが存在する中、再生振幅５０９が最大とな
る条件を選択するのが好ましい。図１（ｂ）における３
Ｔｍの記録パワー１２２と前端エッジの位置１１３、１
１４および１１５の組み合わせは、上記説明のように再
生波形のエッジの位置（すなわち交点１１１および１１
２の位置）が適正で、かつ、再生振幅５０９が最大とな
る条件を選択したものである。

【００５４】＜第６の要件＞長マークの再生波形の後端
エッジの位置を適正化するために、長マークの長さ毎に
記録パルスの後半パルスのパワーを変化させる。その方
法を図６を用いて説明する。図６は記録条件６５０、６
５１、６５２および６５３における、長さ１１Ｔｍの長
マーク６０８を記録する時の記録データの長さ１１Ｔｍ
のＨｉレベル信号６３０、記録パルス６０５、長マーク
６０８の形状および等化再生信号６２５の関係を示す。
図６に示す記録条件６５０、６５１、６５２および６５
３において、上段は記録パルス６０５の波形を、中段は
記録トラック１５０と長マーク６０８の形状を、下段は
等化再生信号６２５の波形をそれぞれ示す。記録パルス
６０５は前半パルス６１５と後半パルス６００とを含
む。

【００５５】記録条件６５０では、後半パルス６００の
パワー６０１が小さいために、形成される長マーク６０
８の後端６０２が細く短くなり、長マーク６０８の再生
波形の後端エッジの位置６０３が適正位置より手前にき
てしまう。

【００５６】また、記録条件６５１では、後半パルス６
００のパワー６０１が大きいために、形成される長マー
ク６０８の後端６０６が蓄熱作用で太く長くなり、長マ
ーク６０８の等化再生信号６２５の再生波形の後端エッ
ジの位置６０７が適正位置より後ろにきてしまう。

【００５７】一方、記録条件６５２では、後半パルス６
００のパワー６０１が適正な値のために、形成される長
マーク６０８の後端６１０が長マーク６０８の前端６１
１と同じ幅で且つ適正な長さになり、長マーク６０８の
等化再生信号６２５の再生波形の後端エッジの位置６１
２も適正位置となる。即ち、記録パルス６０５を前半パ
ルス６１５と後半パルス６００で構成した記録方法で
は、後半パルス６００のパワー６０１を変化させること
によって長マーク６０８の等化再生信号６２５の再生波
形の後端エッジの位置を制御することが可能となる。

【００５８】更に、記録条件６５３では、後半パルス６
００のパワー６０１が適正値あるが、前半パルス６１５
のパワー６１７の値が記録条件６５２に示す適正なパワ
ー６１７の値より低いので、前端エッジの位置６２０を
記録条件６５２に示す適正なエッジの位置６１９より時
間的に手前に調節することにより、等化再生信号６２５
の再生波形の前端エッジの位置６２３と後端エッジの位
置６１２とを共に適正化している。

【００５９】しかし、長マーク６０８の前端６２１およ
び後端６２２の間で熱アンバランスが生じ、前端６２１
と後端６２２との幅が異なり、結果的に長マーク６０８
の等化再生信号６２５の再生波形が平坦とならずに傾
く。等化再生信号６２５の本来平坦な部分が傾く（歪
む）と、等化再生信号６２５を２値化する時に、性能を
向上するために、パーシャルレスポンス法などの多値判
別方法を用いたとしても、期待する性能が得られず、エ
ラーが生じ得るという不具合が発生する。

【００６０】従って、長マークを記録するときに、前半
パルスのパワーおよび前半パルスの前端エッジの位置
と、後半パルスのパワーおよび後端エッジの位置は、
（図６の記録条件６５２と記録条件６５３に示す記録条
件のように）長マークの再生波形のエッジの位置が適正
化する複数の組み合わせが存在する中で、長マークの前
後端の再生振幅が同一となる（すなわち再生波形が平坦
となる）条件を選択することが好ましい。

【００６１】再び図１を参照して、４Ｔｍの長マーク１
２５を記録するときも同様に、図１（ｈ）における等化
再生信号１８０の波形の後端エッジの位置１２３が適正
化するように、図１（ｆ）における後半パルス１０４の
パワー１２４を決定する。長さが５Ｔｍ以上の長マーク
１２９を記録するときも同様に、図１（ｌ）における等
化再生信号１８１の波形の後端エッジの位置１３０が適
正化するように、図１（ｊ）における後半パルス１０７
のパワー１２８を決定する。このとき、記録パルス１７
１の前半パルス１０３、１０３’および１０３”のパワ
ー１２６が、記録パルス１７２の前半パルス１０６、１
０６’および１０６”のパワー１２７と異なる値となっ
ても良い。また、記録パルス１７２の後半パルス１０７
のパワー１２８が、記録パルス１７１の後半パルス１０
４のパワー１２４と異なる値となっても良い。

【００６２】長マークの再生波形の後端エッジの位置を
適正化するための記録パルスの後半パルスのパワーは、
長マークの長さ毎に異なるパラメータとなる。長マーク
の前半パルスのパワーを、最短マークの単一パルスのパ
ワーと同一にした場合の、各マークの自己の長さ毎のパ
ワー条件を図４Ｂに示す。図４Ｂに示す表に記した番号
は、図１に示す各パルスのパワーに対応している。な
お、マークの長さ毎の前半パルスのパワーの最適値は必
ずしも同一であるとは限らず、光ディスクの記録膜特性
やイコライザ特性に依存してマークの長さ毎に値が異な
る場合もある。

【００６３】以上、第１から第６の要件を満たした記録
再生方法によって、最短マーク１０８から最長マーク６
０８までの全てのマークが光ディスク上に記録され、適
正化されたマークの再生波形のエッジの位置が達成され
る。なお、上記第１から第６の要件は、単に説明順であ
って、実施順序が入れ替わっても良い。

【００６４】本実施の形態における光ディスクのデータ
記録再生方法は、長マークを記録するために従来方式の
マルチパルスのような記録クロック周期より短いパルス
を使用しない。また、長マークの再生波形の再生振幅を
平坦にすることができ、また、最短マークの振幅を最大
化することができる。

【００６５】更に、本実施の形態では、記録パルスの後
半パルスのパワーの調整による長マークの再生波形の後
端エッジの位置の調整方法を採用している。このため、
最短マークを記録するための記録パルスの後端エッジの
位置条件は１個だけである（すなわち固定される）。ま
た、長マークを記録するための記録パルスの前半パルス
の後端エッジの位置条件および後半パルスの後端エッジ
の位置条件もそれぞれ１個だけである（すなわち固定さ
れる）。これにより、従来の記録方法と比べて、記録波
形（ライトストラテジ）が簡略化した上に、大幅に記録
補償パラメータを少なくすることが可能となった。

【００６６】図１、図５、図６、図９、図１０、図１１
および図１２を参照して、マークおよびスペースのテス
ト記録において記録補償条件を最短の手順で求める方法
とデータ記録再生方法とを説明する。図９、図１０、図
１１および図１２は、記録補償条件を最短の手順で求め
る方法とデータ記録再生方法を示すフローチャートであ
る。

【００６７】図１および図９を参照して、最短マーク１
０８を記録するための記録パルス１０１について説明す
る。記録パルス１０１の後端エッジの位置１９０を、記
録クロックのエッジと所定の相対的な位置関係を満たす
位置に固定する（Ｓ１００１）。次に、最短マーク１０
８の再生波形の後端エッジの位置（すなわち交点１１
２）が適正化するように記録パルス１０１のパワー１２
２を決定する（Ｓ１００２）。次に、最短マーク１０８
の再生波形の前端エッジの位置（すなわち交点１１１）
が適正化するように、記録パルス１０１の前端エッジの
位置１１５を最短マーク１０８直前のスペースの長さ
（例えば５Ｔ）に基づいて決定する（Ｓ１００３）。記
録パルス１０１の前端エッジの位置１１５は、直前のス
ペースの長さが異なる毎に異なる値に調整され得る。

【００６８】なお、図５を参照して説明したように、記
録パルス１０１のパワー１２２は、再生振幅５０９が最
大となる値に決定されることが望ましい。

【００６９】図１および図１０を参照して、長マーク１
２９記録するための記録パルス１７２について説明す
る。２段パルスである記録パルス１７２の前半パルス１
０６の後端エッジの位置１９１を記録クロックのエッジ
と所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定する（Ｓ
１１０１）。次に、記録パルス１７２の後半パルス１０
７の後端エッジの位置１９２を記録クロックのエッジと
所定の相対的な位置関係を満たす位置に固定する（Ｓ１
１０２）。例えば、ｎＴｍ（ｎは４以上の整数）の長マ
ークを記録するための記録パルスにおける後半パルスの
後端エッジの位置は、前半パルスの後端エッジの位置か
ら（ｎ−３）Ｔの長さ分後ろに固定される。

【００７０】次に、前半パルス１０６のパワー１２７を
決定する（Ｓ１１０３）。パワー１２７は記録パルス１
０１のパワー１２２と等しい値に決定されてもよい。次
に、長マーク１２９の再生波形の後端エッジの位置（す
なわち交点１３０）が適正化するように後半パルス１０
７のパワー１２８を決定する（Ｓ１１０４）。なお、図
６を参照して説明したように長マークの再生振幅の平坦
性を満たすために、図１に示すパワー１２２、パワー１
２６およびパワー１２７が互いに異なる値となってもよ
く、また、パワー１２４およびパワー１２８が互いに異
なる値となってもよい。

【００７１】次に、長マーク１２９の再生波形の前端エ
ッジの位置（すなわち交点１３１）が適正化するよう
に、前半パルス１０６の前端エッジの位置１２１を長マ
ーク１２９直前のスペースの長さ（例えば５Ｔ）と長マ
ーク１２９の長さ（例えば５Ｔ）とに基づいて決定する
（Ｓ１１０５）。図１に示す記録パルス１０１、１７１
および１７２は記録するマークの長さがそれぞれ異なる
ので、前端エッジの位置１１５、１１８および１２１の
それぞれの後端エッジからの長さは、直前のスペースの
長さが同一であっても異なる位置に設定され得る。

【００７２】様々なマークの長さとスペースの長さとの
組み合わせについて、図９および図１０に示す手順を繰
り返し実行することにより、全ての最短マークおよび長
マークの記録補償条件が最短の手順で決定される。図９
および図１０に示すステップの順番は一例であり、この
順番に限定されない。以上はテスト記録において記録補
償条件を最短の手順で求める方法である。

【００７３】次に、図１、図１１および図１２を参照し
て、決定された記録補償条件を用いてユーザデータを記
録する方法について説明する。記録補償条件決定後にお
いて、図１に示すマークを記録するための記録パルスと
しての記録パルス１０１の後端エッジ位置１９０および
パワー１２２は固定された値となる。ユーザデータ記録
時の記録パルス１０１の前端エッジの位置１１５の調整
は、図４Ａに示したような記録補償条件から適切な位置
の値を選択することにより行う（Ｓ１２０１）。このよ
うにして調整した記録パルス１０１を用いて最短マーク
１０８を光ディスクに記録することができる（Ｓ１２０
２）。

【００７４】記録補償条件決定後における、図１に示す
マークを記録するための記録パルスとしての例えば記録
パルス１７２において、前半パルス１０６および後半パ
ルス１０７それぞれの後端エッジの位置１９１および１
９２とパワー１２７および１２８とが固定された値とな
る。ユーザデータ記録時の記録パルス１７２の前端エッ
ジの位置１２１の調整は、図４Ａに示したような記録補
償条件から適切な位置の値を選択することにより行う
（Ｓ１３０１）。このように調整した記録パルス１７２
を用いて長マーク１２９を光ディスクに記録することが
できる（Ｓ１３０２）。

【００７５】このように、本実施の形態では、記録補償
条件決定後のユーザデータ記録時において、所定の記録
パルスの選択されて変更される要素は前端エッジの位置
の１つのみであり、データ処理が容易であるので、デー
タ記録動作を高速化させることができる。

【００７６】（実施の形態２）図２は本発明の実施の形
態２として説明する光ディスクのデータ記録再生方法
と、データ記録再生方法における記録パルスのライトス
トラテジおよび記録補償パラメータの調整方法を示す図
である。図２に示す方法において、図１に示す実施の形
態１と同じ部分には同一の参照符号を付して詳細な説明
を省略する。

【００７７】図２（ａ）〜（ｄ）は３Ｔｍの最短マーク
を記録再生した時の記録データ、記録パルス、記録マー
クおよび等化再生信号をそれぞれ示す。図２（ｅ）〜
（ｈ）は４Ｔｍの長マーク１２５を記録再生した時の記
録データ、記録パルス、記録マークおよび等化再生信号
をそれぞれ示す。図２（ｉ）〜（ｌ）は５Ｔｍ以上の長
マーク１２９を記録再生したときの記録データ、記録パ
ルス、記録マーク、等化再生信号をそれぞれ示す。

【００７８】以下、本発明の実施の形態２の記録再生方
法とライトストラテジおよび記録補償パラメータの調整
方法について説明する。

【００７９】＜第１の要件＞図２（ａ）に示す長さ３Ｔ
のＨｉレベル信号２００に対応する最短マーク１０８を
記録するために、１個の最短マーク１０８当り図２
（ｂ）に示す単一パルスである記録パルス２０１を１つ
照射する。

【００８０】＜第２の要件＞最短マーク１０８以外の長
マーク、例えば図２（ｅ）に示す長さ４ＴのＨｉレベル
信号２０２に対応する長マーク１２５を記録するため
に、１個の長マーク１２５当り図２（ｆ）に示す２段パ
ルスである記録パルス２４１を１つ照射する。記録パル
ス２４１は、前半パルス２０３と後半パルス２０４とを
含む。

【００８１】マークの長さが５Ｔｍ以上の長マーク、例
えば図２（ｉ）に示す長さ５ＴのＨｉレベル信号２０５
に対応する長マーク１２９を記録するために、１個の長
マーク１２９当り図２（ｊ）に示す２段パルスである記
録パルス２４２を１つ照射する。記録パルス２４２は、
前半パルス２０６と後半パルス２０７とを含む。

【００８２】＜第３の要件＞マーク間の熱干渉によるマ
ークの再生波形のエッジ変動が無くなるように、マーク
間（すなわちスペース）を記録する記録パルスのパワー
をスペースの長さ毎に変える。スペース部の記録パワー
を下げることでマーク間熱干渉を防止し、マークのエッ
ジの位置を適正化する方法を図７を用いて説明する。図
７は、８Ｔｍの記録パルス波形のパワーと、形成される
マークの関係を３種類図示したものである。

【００８３】図７（ａ）は、８Ｔｍの長マーク７０８と
５Ｔｓのスペースとを記録する場合の記録パルス７１１
および１４５を示す。図７（ｂ）は、光ディスク上に記
録された長マーク７０８とスペース７５５を示す。この
場合、マーク間スペースが５Ｔｓと大きいので、熱干渉
が起こらずに、長マーク７０８の後端エッジ７０１は適
正位置に形成されている。

【００８４】図７（ｃ）は、８Ｔｍの長マーク７０９お
よび７１０と３Ｔｓのスペースとを記録する場合の記録
パルスを示す。この場合、マーク間スペースが３Ｔｓと
小さいため、熱干渉が起こる。図７（ｄ）に示すように
長マーク７０９の後端エッジ７０２は、次に記録される
長マーク７１０の前端エッジ７０３の熱干渉のため徐冷
となり、アモルファスが形成されにくい。よって、後端
エッジ７０２が時間的手前に移動する。また、長マーク
７１０の前端エッジ７０３は、先に記録された長マーク
７０９の後端エッジ７０２の熱干渉の予熱効果でより高
温に達し、アモルファス形成が促進される。よって、前
端エッジ７０３が時間的手前に移動する。

【００８５】一方、図７（ｅ）は、熱干渉を防止するた
めに、マーク間スペースが小さい時にスペースを記録す
るためのパワー２６０を下げた時の記録パルス７１１お
よび２１３を示す。３Ｔｓの形成において記録パルス２
１３のパワー２６０を記録パルス１６５および１６３の
パワーより下げて照射したので、スペースが短い時でも
マーク間の熱干渉が相殺されて、図７（ｆ）に示すよう
に長マーク７０８の後端エッジ７０５と前端エッジ７０
６は、それぞれ適正位置となる。

【００８６】図２（ａ）および図２（ｂ）を参照して、
Ｌｏレベル信号２０８に対応する熱干渉が発生しない長
さ５Ｔ以上のスペース１５５を記録する時の記録パルス
２０９のパワー２６２に対し、Ｌｏレベル信号２１０に
対応する長さ４Ｔのスペース１５４を記録するための記
録パルス２１１のパワー２６１をパワー２６２より小さ
く設定する。これにより、パワー２６１がパワー２６２
と等しい場合に少し発生するマーク間の熱干渉の影響を
なくすることができる。

【００８７】Ｌｏレベル信号２１２に対応する長さ３Ｔ
のスペース１５３を記録するための記録パルス２１３の
パワー２６０をパワー２６１より更に小さく設定する。
これにより、パワー２６０がパワー２６２と等しい場合
に大きく発生するマーク間の熱干渉の影響をなくするこ
とができる。

【００８８】すなわち、スペースを記録する記録パルス
のパワーをスペースの長さ毎に決定し、マーク間熱干渉
の影響をなくする。なお、スペースの長さ毎の記録パル
スの記録パワーは、スペースの前後のマークの長さに依
らず一定とする。

【００８９】＜第４の要件＞スペースの長さ毎に記録パ
ルスのパワーを決定した上で、マークの再生波形の前端
エッジの位置が適正化するように、マークを記録するた
めの記録パルスの前端エッジの位置をマークの長さ毎に
決定する。

【００９０】図２において、３Ｔｍの最短マーク１０８
の再生波形の前端エッジの位置（すなわち等化再生信号
２５０とスライスレベル１１０との交点２１４）が適正
化するように、記録パルス２０１の前端エッジの位置２
１５を決定する。４Ｔｍの長マーク１２５の再生波形の
前端エッジの位置（すなわち等化再生信号２５１とスラ
イスレベル１１０との交点２１６）が適正化するよう
に、記録パルス２４１の前半パルス２０３の前端エッジ
の位置２１７を決定する。５Ｔｍ以上の長マークの再生
波形の前端エッジの位置（すなわち等化再生信号２５２
とスライスレベル１１０との交点２１８）が適正化する
ように、記録パルス２４２の前半パルス２０６の前端エ
ッジの位置２１９を決定する。

【００９１】＜第５の要件＞上記と同様に、スペースの
長さ毎に記録パルスのパワーを決定した上で、マークの
再生波形の後端エッジの位置が適正化するように記録パ
ルスの後端エッジの位置をマークの長さ毎に決定する。

【００９２】図２において、３Ｔｍの最短マーク１０８
の再生波形の後端エッジの位置（すなわち等化再生信号
２５０とスライスレベル１１０との交点２２０）が適正
化するように、記録パルス２０１の後端エッジ２２１を
決定する。４Ｔｍの長マーク１２５の再生波形の後端エ
ッジの位置（すなわち等化再生信号２５１とスライスレ
ベル１１０との交点２２２）が適正化するように、記録
パルス２４１の後半パルス２０４の後端エッジの位置２
２３を決定する。５Ｔｍ以上の長マーク１２９の再生波
形の後端エッジの位置（すなわち等化再生信号２５２と
スライスレベル１１０との交点２２４）が適正化するよ
うに、記録パルス２４２の後半パルス２０７の後端エッ
ジの位置２２５を決定する。

【００９３】記録パルスのエッジの位置条件を図４Ｃに
示す。図４Ｃに示す表に記した番号は、図２に示す各部
の位置を示す参照符号に対応している。なお、表に示す
各参照符号に対応する各部の位置同士は必ずしも異なる
値であるとは限らず、光ディスクの記録膜特性やイコラ
イザ特性に依存して、いくつかの位置が同一値になる場
合もある。

【００９４】なお、実施の形態１と同様に、本実施の形
態においても最短マークを記録するための単一パルスの
パワーおよび前端エッジの位置と後端エッジの位置は、
最短マークの再生波形のエッジの位置が適正化する複数
の組み合わせが存在する中、再生振幅が最大となる条件
を選択するのが好ましい。

【００９５】また、長マークを記録するときに、前半パ
ルスのパワーおよび前端エッジの位置と、後半パルスの
パワーおよび後端エッジの位置とは、長マークの再生波
形のエッジの位置が適正化する複数の組み合わせが存在
する中で、長マークの前後端の再生振幅が同一となる
（すなわち再生波形が平坦となる）条件を選択すること
が好ましい。

【００９６】図２において、記録パルス２４１の前半パ
ルス２０３のパワー２２７および記録パルス２４２の前
半パルス２０６のパワー２２８を、記録パルス２０１の
パワー２２６と同一にし、記録パルス２４１の後半パル
ス２０４のパワー２２９および記録パルス２４２の後半
パルス２０７のパワー２３０をマークの長さによらず一
定にした場合の、記録パルスのパワー条件を図４Ｄに示
す。また、スペースの長さ毎の記録パルスのパワー条件
も示す。図４Ｄに示す表に記した番号は、図２に示す各
部のパワーを示す参照符号に対応している。

【００９７】以上説明してきたように、第１から第５の
要件を満たした記録再生方法によって、最短マークから
最長マークまでの全てのマークが光ディスク上に記録さ
れ、適正化されたマークの再生波形のエッジの位置が達
成される。なお、上記第１から第５の要件は、単に説明
順であって、実施順序が入れ替わっても良い。

【００９８】本実施の形態における光ディスクの記録再
生方法は、長マークを記録するために従来方式のように
記録クロック周期より短いパルスを使用しない。また、
スペースを記録する記録パルスのパワーを制御してマー
ク間熱干渉の影響を無くしたので、記録パルスの前端エ
ッジおよび後端エッジの位置条件はマーク自己の長さ毎
の１次元パラメータとなった。更に、長マークの再生波
形の前後端の振幅を揃えたり、最短マークの再生波形の
振幅を最大化することができる。即ち、従来の記録方法
と比べて、記録パルスの波形（ライトストラテジ）が簡
略化した上に、大幅に記録補償パラメータを少なくする
ことが可能となった。

【００９９】図２、図７、図１３、図１４および図１５
を参照して、マークおよびスペースのテスト記録におい
て記録補償条件を最短の手順で求める方法とデータ記録
再生方法とを説明する。図１３、図１４および図１５
は、記録補償条件を最短の手順で求める方法とデータ記
録再生方法を示すフローチャートである。

【０１００】図２および図１３を参照して、最短マーク
１０８を記録するための記録パルス２０１について説明
する。記録パルス２０１の後端エッジの位置２２１を、
記録クロックのエッジと所定の相対的な位置関係を満た
す位置に固定する（Ｓ１４０１）。次に、最短マーク１
０８の再生波形の後端エッジの位置（すなわち交点２２
０）が適正化するように記録パルス２０１のパワー２２
６を決定する（Ｓ１４０２）。次に最短マーク１０８の
再生波形の前端エッジの位置（すなわち交点２１４）が
適正化するように、記録パルス２０１の前端エッジの位
置２１５を決定する（Ｓ１４０３）。次に、マーク間の
熱干渉によるマークの再生波形のエッジの位置変動が無
くなるように、スペース１５３、１５４および１５５を
記録するための記録パルス２１３、２１１および２０９
のパワーを各スペース１５３、１５４および１５５の長
さに基づいて決定する（Ｓ１４０４）。これにより、最
短マーク１０８直前のスペースの長さが異なっても、記
録パルス２０１の前端エッジ位置２１５の値を変更する
ことなく、最短マーク１０８の再生波形の前後端エッジ
の位置（すなわち交点２１４および２２０）を適正化す
ることができる。

【０１０１】図２および図１４を参照して、長マーク１
２９を記録するための記録パルス２４２について説明す
る。前半パルス２０６の後端エッジの位置２９１を記録
クロックのエッジと所定の相対的な位置関係を満たす位
置に固定する（Ｓ１５０１）。次に、前半パルス２０６
のパワー２２８を決定する（Ｓ１５０２）。パワー２２
８は、記録パルス２０１のパワー２２６と等しい値に決
定されてもよい。

【０１０２】次に、長マーク１２９の再生波形の後端エ
ッジの位置（すなわち交点２２４）が適正化するように
（例えば長マーク１２９の再生振幅の平坦性を満たすた
めに）、後半パルス２０７の後端エッジの位置２２５と
パワー２３０とを、長マーク１２９の長さに基づいて決
定する（Ｓ１５０３）。例えば、ｎＴｍ（ｎは４以上の
整数）の長マークを記録するための記録パルスにおける
後半パルスの後端エッジの位置は、前半パルスの後端エ
ッジの位置から（ｎ−３）Ｔの長さ分後ろに固定され、
この固定位置はさらに微調整され得る。

【０１０３】次に、長マーク１２９の再生波形の前端エ
ッジの位置（すなわち交点２１８）が適正化するよう
に、前半パルス２０６の前端エッジの位置２１９を長マ
ーク１２９の長さに基づいて決定する（Ｓ１５０４）。
次に、マーク間の熱干渉によるマークの再生波形のエッ
ジの位置変動が無くなるように、スペースを記録するた
めの記録パルスのパワーを、スペースの長さに基づいて
決定するスペース１５３、１５４および１５５を記録す
るための記録パルス２１３、２１１および２０９のパワ
ーを各スペース１５３、１５４および１５５の長さに基
づいて決定する（Ｓ１５０５）。Ｓ１５０５はＳ１４０
４と共通で有り得る。

【０１０４】様々なマークの長さとスペースの長さとの
組み合わせについて、図１３および図１４に示す手順を
繰り返し実行することにより、全ての最短マークおよび
長マークおよびスペースの記録補償条件が最短の手順で
決定される。図１３および図１４に示すステップの順番
は一例であり、この順番に限定されない。以上はテスト
記録において記録補償条件を最短の手順で求める方法で
ある。

【０１０５】次に、図２および図１５を参照して、決定
された記録補償条件を用いてユーザデータを記録する方
法について説明する。記録補償条件決定後における、図
２に示すマークを記録するための記録パルスとしての例
えば記録パルス２０１の前端エッジ位置２１５、後端エ
ッジ位置２２１およびパワー２２６は固定された値とな
る。ユーザデータ記録時のスペースを記録するための記
録パルスのパワーの調整は、図４Ｄに示したような記録
補償条件から適切なパワーの値を選択することにより行
う（Ｓ１６０１）。このように調整した記録パルス２０
９、２１１および２１３を用いてスペース１５５、１５
４および１５３を光ディスクに記録することができる
（Ｓ１６０２）。

【０１０６】このように、本実施の形態では、記録補償
条件決定後のユーザデータ記録時において、記録パルス
照射前後の条件に応じて選択または変更される記録パル
スの要素が無く、データ処理が容易であるので、データ
記録動作を高速化させることができる。

【０１０７】（実施の形態３）図８は、本発明の実施の
形態３として説明する光ディスクのデータ記録再生方法
およびデータ記録再生方法における記録パルスの波形
（ライトストラテジ）の調整方法を示す図である。図８
（ａ）は、実施の形態１または実施の形態２と同様の記
録方法による長マークおよび最短マークを記録するため
の記録パルス８１０および８１７を示す。図８（ｂ）
は、上記記録パルス８１０および８１７により記録され
る長マーク８０３および最短マーク８００を示す。本発
明の記録再生方法における記録パルスは、以下に説明す
る予熱パルスおよび冷却パルスを付加した状態でも実施
可能で効果を発揮する。

【０１０８】図８（ｃ）は、スペース８１２を形成する
ための記録パルス８０１の終了位置に予熱パルス８０２
を付加した実施形態を示す。予熱パルス８０２が最短マ
ーク８２１の前端部８００の温度上昇を助けるので、前
端部８００にアモルファスが形成されやすくなる。

【０１０９】図８（ｄ）は、スペース８１２を形成する
ための記録パルス８０４の開始位置に冷却パルス８０５
を付加した実施形態を示す。冷却パルス８０５が長マー
ク８２０の後端部８０３の冷却速度を高めるので、後端
部８０３にアモルファスが形成されやすくなる。

【０１１０】図８（ｅ）は、スペース８１２を形成する
ための記録パルス８０６の両端位置に予熱パルス８０５
と冷却パルス８０２の両方を付加した実施形態を示す。
両パルスにより、より一層、前端部８００および後端部
８０３でのアモルファス化が容易となる。

【０１１１】本発明の記録再生方法における記録パルス
のライトストラテジおよび記録補償パラメータの調整方
法は、記録再生装置の製品出荷前に実施されてもよく、
また、ユーザによる記録再生装置の使用毎に実施されて
もよい。

【０１１２】

【発明の効果】本発明の光ディスクのデータ記録再生方
法は、幅細のマルチパルスを用いないため、記録レート
の高速化と記録中のパワー制御が容易である。また、高
密度記録における最短マークの振幅を最大化し、長マー
クの歪みを低減できる。しかも、従来よりパラメータが
少ないライトストラテジと記録補償が実現可能となっ
た。従って、本発明は、ディジタルビデオレコーダなど
の高速高密度を要求される光ディスクシステムに最適で
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１における光ディスクのデ
ータ記録再生方法を示す図

【図２】本発明の実施の形態２における光ディスクのデ
ータ記録再生方法を示す図

【図３】本発明の実施の形態における光ディスクのデー
タ記録再生装置を示す図

【図４Ａ】本発明の実施の形態における光ディスクのデ
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図

【図４Ｂ】本発明の実施の形態における光ディスクのデ
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図

【図４Ｃ】本発明の実施の形態における光ディスクのデ
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図

【図４Ｄ】本発明の実施の形態における光ディスクのデ
ータ記録再生方法の記録補償条件を示す図

【図５】本発明の実施の形態１における最短マークの記
録再生方法を示す図

【図６】本発明の実施の形態１における長マークの記録
再生方法を示す図

【図７】本発明の実施の形態２におけるマーク間の熱干
渉を制御する記録方法を示す図

【図８】本発明の実施の形態３における光ディスクのデ
ータ記録再生方法を示す図

【図９】本発明の実施の形態１における光ディスクのデ
ータ記録再生方法を示すフローチャート

【図１０】本発明の実施の形態１における光ディスクの
データ記録再生方法を示すフローチャート

【図１１】本発明の実施の形態１における光ディスクの
データ記録再生方法を示すフローチャート

【図１２】本発明の実施の形態１における光ディスクの
データ記録再生方法を示すフローチャート

【図１３】本発明の実施の形態２における光ディスクの
データ記録再生方法を示すフローチャート

【図１４】本発明の実施の形態２における光ディスクの
データ記録再生方法を示すフローチャート

【図１５】本発明の実施の形態２における光ディスクの
データ記録再生方法を示すフローチャート

【図１６】従来のデータ記録方法を示す図

【図１７Ａ】従来の光ディスクのデータ記録再生方法の
記録補償条件を示す図

【図１７Ｂ】従来の光ディスクのデータ記録再生方法の
記録補償条件を示す図

【符号の説明】

１０１ 単一パルス １０３ 前半パルス １０４ 後半パルス １０８ 最短マーク １１１ マークの再生波形の前端エッジ １１２ マークの再生波形の後端エッジ １１５ 単一パルスの前端エッジ １１８ 前半パルスの前端エッジ １２２ 単一パルスのパワー １２４ 後半パルスのパワー １２５ 長マーク １２６ 前半パルスのパワー

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB05 CC02 DD03 DD05 EE02 FF21 KK04 KK05 5D119 AA23 AA24 BA01 BB04 DA02 HA47 HA48 HA49 HA50 HA60

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクにマークを記録するための記
   録パルスを調整する方法であって、 （ａ） 最短マークを記録するための第１記録パルスを
   調整するステップと、 （ｂ） 長マークを記録するための第２記録パルスを調
   整するステップとを包含し、 前記第１記録パルスは第１パワーを有する単一パルスで
   あり、 前記第２記録パルスは、第２パワーを有する前半パルス
   と第３パワーを有する後半パルスとを含む２段パルスで
   あり、 前記ステップ（ａ）は、 （ａ１） 前記第１記録パルスの後端エッジの位置を、
   記録クロックの第１エッジと所定の相対的な位置関係を
   満たす位置に固定するステップと、 （ａ２） 前記最短マークの再生波形の後端エッジの位
   置が適正化するように前記第１パワーを決定するステッ
   プと、 （ａ３） 前記最短マークの前記再生波形の前端エッジ
   の位置が適正化するように、前記第１記録パルスの前端
   エッジの位置を前記最短マーク直前のスペースの長さに
   基づいて決定するステップとを包含し、 前記ステップ（ｂ）は、 （ｂ１） 前記前半パルスの後端エッジの位置を前記記
   録クロックの第２エッジと前記所定の相対的な位置関係
   を満たす位置に固定するステップと、 （ｂ２） 前記後半パルスの後端エッジの位置を前記記
   録クロックの第３エッジと前記所定の相対的な位置関係
   を満たす位置に固定するステップと、 （ｂ３） 前記第２パワーを決定するステップと、 （ｂ４） 前記長マークの再生波形の後端エッジの位置
   が適正化するように前記第３パワーを決定するステップ
   と、 （ｂ５） 前記長マークの再生波形の前端エッジの位置
   が適正化するように、前記前半パルスの前端エッジの位
   置を前記長マーク直前のスペースの長さと前記長マーク
   の長さとに基づいて決定するステップとを包含する、方
   法。
2. 【請求項２】 前記第１パワーと前記第１記録パルスの
   前記前端エッジの位置との組み合わせは、前記最短マー
   クの前記再生波形の前記前端エッジの位置と前記後端エ
   ッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、前記
   最短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせ
   に設定される、請求項１に記載の記録パルスを調整する
   方法。
3. 【請求項３】 前記第２パワーと前記第３パワーと前記
   前半パルスの前記前端エッジの位置との組み合わせは、
   前記長マークの前記再生波形の前記前端エッジの位置と
   前記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合わせ
   の内、前記長マークの再生振幅が実質的に平坦となる組
   み合わせに設定される、請求項１に記載の記録パルスを
   調整する方法。
4. 【請求項４】 前記第１パワーと前記第２パワーとが同
   じ大きさである、請求項１に記載の記録パルスを調整す
   る方法。
5. 【請求項５】 前記後半パルスの前記後端エッジの位置
   は、前記前半パルスの前記後端エッジの位置から所定の
   クロック周期後ろの位置に固定される、請求項１に記載
   の記録パルスを調整する方法。
6. 【請求項６】 請求項１に記載の記録パルスを調整する
   方法を用いて光ディスクにマークを記録する方法であっ
   て、 前記ステップ（ａ）に従って少なくとも調整された前記
   第１記録パルスに基づいて前記最短マークを記録するス
   テップと、 前記ステップ（ｂ）に従って少なくとも調整された前記
   第２記録パルスに基づいて前記長マークを記録するステ
   ップとを包含する光ディスクにマークを記録する方法。
7. 【請求項７】 光ディスクにマークを記録する方法であ
   って、 （ａ） 後端エッジの位置とパワーとが固定された単一
   パルスである、最短マークを記録するための第１記録パ
   ルスの前端エッジを前記最短マーク直前のスペースの長
   さに基づいて調整するステップと、 （ｂ） 前記ステップ（ａ）で調整された前記第１記録
   パルスを用いて前記最短マークを記録するステップと、 （ｃ） 互いに異なるパワーを有する前半パルスと後半
   パルスとを含む２段パルスであり、前記前半パルスおよ
   び前記後半パルスそれぞれの後端エッジの位置とパワー
   とが固定された、所定の長さの長マークを記録するため
   の第２記録パルスの前端エッジを前記長マーク直前のス
   ペースの長さに基づいて調整するステップと、 （ｄ） 前記ステップ（ｃ）で調整された前記第２記録
   パルスを用いて前記長マークを記録するステップと、 を包含する、方法。
8. 【請求項８】 光ディスクにマークとスペースとを記録
   するための記録パルスを調整する方法であって、 （ａ） 最短マークを記録するための第１記録パルスを
   調整するステップと、 （ｂ） 長マークを記録するための第２記録パルスを調
   整するステップと、 （ｃ） マーク間のスペースを記録するための第３記録
   パルスを調整するステップとを包含し、 前記第１記録パルスは第１パワーを有する単一パルスで
   あり、 前記第２記録パルスは、第２パワーを有する前半パルス
   と第３パワーを有する後半パルスとを含む２段パルスで
   あり、 前記第３記録パルスは第４パワーを有する単一パルスで
   あり、 前記ステップ（ａ）は、 （ａ１） 前記第１記録パルスの後端エッジの位置を、
   記録クロックの第１エッジと所定の相対的な位置関係を
   満たす位置に固定するステップと、 （ａ２） 前記最短マークの再生波形の後端エッジの位
   置が適正化するように前記第１パワーを決定するステッ
   プと、 （ａ３） 前記最短マークの前記再生波形の前端エッジ
   の位置が適正化するように、前記第１記録パルスの前端
   エッジの位置を決定するステップとを包含し、 前記ステップ（ｂ）は、 （ｂ１） 前記前半パルスの後端エッジの位置を前記記
   録クロックの第２エッジと前記所定の相対的な位置関係
   を満たす位置に固定するステップと、 （ｂ２） 前記第２パワーを決定するステップと、 （ｂ３） 前記長マークの再生波形の後端エッジの位置
   が適正化するように、前記後半パルスの後端エッジの位
   置と前記第３パワーとを前記長マークの長さに基づいて
   決定するステップと、 （ｂ４） 前記長マークの再生波形の前端エッジの位置
   が適正化するように、前記前半パルスの前端エッジの位
   置を前記長マークの長さに基づいて決定するステップと
   を包含し、 前記ステップ（ｃ）は、 （ｃ１） マーク間の熱干渉によるマークの再生波形の
   エッジの位置変動が無くなるように、前記第４パワーを
   前記スペースの長さに基づいて決定するステップを包含
   する、方法。
9. 【請求項９】 前記第１パワーと前記第１記録パルスの
   前記前端エッジの位置との組み合わせは、前記最短マー
   クの前記再生波形の前記前端エッジの位置と前記後端エ
   ッジの位置とが適正化する複数の組み合わせの内、前記
   最短マークの再生振幅が実質的に最大となる組み合わせ
   に設定される、請求項８に記載の記録パルスを調整する
   方法。
10. 【請求項１０】 前記第２パワーと前記第３パワーと前
    記前半パルスの前記前端エッジの位置との組み合わせ
    は、前記長マークの前記再生波形の前記前端エッジの位
    置と前記後端エッジの位置とが適正化する複数の組み合
    わせの内、前記長マークの再生振幅が実質的に平坦とな
    る組み合わせに設定される、請求項８に記載の記録パル
    スを調整する方法。
11. 【請求項１１】 前記第１パワーと前記第２パワーとが
    同じ大きさである、請求項８に記載の記録パルスを調整
    する方法。
12. 【請求項１２】 請求項８に記載の記録パルスを調整す
    る方法を用いて光ディスクにマークを記録する方法であ
    って、 前記ステップ（ａ）に従って少なくとも調整された前記
    第１記録パルスに基づいて前記最短マークを記録するス
    テップと、 前記ステップ（ｂ）に従って少なくとも調整された前記
    第２記録パルスに基づいて前記長マークを記録するステ
    ップと、 前記ステップ（ｃ）に従って少なくとも調整された前記
    第３記録パルスに基づいて前記スペースを記録するステ
    ップとを包含する光ディスクにマークを記録する方法。
13. 【請求項１３】 光ディスクにマーク間のスペースを記
    録する方法であって、 （ａ） マーク間の熱干渉によるマークの再生波形のエ
    ッジの位置変動が無くなるように、スペースを記録する
    ための単一パルスである記録パルスのパワーを前記スペ
    ースの長さに基づいて調整するステップと、 （ｂ） 前記ステップ（ａ）で調整された前記記録パル
    スを用いて前記スペースを記録するステップと を包含する、方法。