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JP2010032748A - 電気光学装置および電気光学装置の製造方法 - Google Patents

電気光学装置および電気光学装置の製造方法 Download PDF

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JP2010032748A JP2008194500A JP2008194500A JP2010032748A JP 2010032748 A JP2010032748 A JP 2010032748A JP 2008194500 A JP2008194500 A JP 2008194500A JP 2008194500 A JP2008194500 A JP 2008194500A JP 2010032748 A JP2010032748 A JP 2010032748A
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智和 梅野
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Abstract

【課題】凹凸が形成された反射面上において存在する液晶層の厚さが、凹凸の形状に応じて異なることになる。従って、液晶層を通過する光に凹凸に応じた光路差が生じ、この結果、液晶層のリタデーションに起因する色づきが発生する。
【解決手段】反射層18によって覆われた凹部17Sが形成された反射表示領域Rは、光回折現象を呈する所謂回折光学素子(DOE)が組み込まれた領域として機能することから、光を乱反射する領域となり表示の視角特性を改善させることができる。このとき、光回折現象を呈する凹部17Sの平坦面と垂直方向への深さは、液晶層40の厚さDDに比較して小さい値であることから、凹部17Sが形成されている領域はおおよそ平坦とみなせる状態になる。この結果、この領域に存在する液晶層40の厚さは実質的にほぼ一定になる。従って、液晶層のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制される。
【選択図】図3

Description

本発明は、電気光学装置および電気光学装置の製造方法に関する。
電気光学装置として、一対の基板に挟持された液晶層を有し、2つの電極間に生ずる電界によって液晶層の光変調を行う液晶表示装置が、種々の電子機器に用いられている。特に、一対の基板の一方の基板上で反射する光を変調する反射型、もしくは、この反射型と一対の基板を透過する光を変調する透過型との両方の表示機能を有する半透過反射型、の液晶表示装置が、自然光や照明光などの外光を利用する反射表示部分を備えることから、低消費電力の液晶表示装置として、携帯電話などに多用されている。
このような反射型や半透過反射型の液晶表示装置において、自然光や照明光などの外光の反射を利用して表示内容を視認する場合、外光の光量が少ないと反射表示部分の視認性が低下する。そこで、従来から、反射表示部分における外光の反射面に凹凸を形成し、反射光を散乱させることによって視野角などの視角特性を改善し、視認性の低下を抑制する技術が提案されている。
例えば特許文献1には、基板上に形成した感光性樹脂膜の露光現像を行うことで凹凸部を形成し、凹凸部の表面を含む基板表面に反射電極を形成する技術が開示されている。また、特許文献2には、反射電極上に低屈折率材料からなるテクスチャ構造体(凹凸部)を設け、その上に高屈折率材料からなる光の反射膜を形成する技術開示されている。
特開2003−215317号公報 特開2000−2875号公報
しかしながら、特許文献1に開示された技術では、凹凸が形成された反射面上において存在する液晶層の厚さが、凹凸の形状に応じて異なることになる。従って、液晶層を通過する光に凹凸に応じた光路差が生じ、この結果、液晶層のリタデーションに起因する色づきが発生することがあった。
これに対して、特許文献2に開示された技術では、凹凸を形成するテクスチャ構造体の上に、光反射膜を形成することで、反射膜上において存在する液晶層の厚さが凹凸の形状に応じて異なる、ということが発生しないようにしている。従って、液晶層を通過する光に凹凸に応じた光路差が生じる虞がなく、この結果、液晶層のリタデーションに起因する色づきが発生しない。しかしながら、特許文献2に開示された技術は、反射電極上にテクスチャ構造体を形成するための膜を別途設ける必要があり、製造工程が複雑かつ多くなるという課題があった。
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。
[適用例1]一対の基板に挟持された液晶層を有し、2つの電極間に生ずる電界によって前記液晶層の光変調を行う電気光学装置であって、前記一対の基板のうちの一方の基板には、前記2つの電極のうち少なくとも一方の電極が形成される平坦面を有する平坦化層が形成され、前記平坦化層の平坦面に、光回折現象を生じる深さを有する凹部が形成されていることを特徴とする。
この構成によれば、凹部は光回折現象を生じる所謂回折光学素子として機能することから、凹部が形成された領域は、光を乱反射する領域になり、表示の視角特性を改善させることができる。このとき、光回折現象を呈する凹部は平坦面に形成されていること、また平坦面に対して垂直方向への凹部の深さは、液晶層の厚さに比較して小さい値であることから、凹部が形成されている領域はおおよそ平坦とみなせる状態になる。この結果、この領域に存在する液晶層の厚さは実質的にほぼ一定になる。従って、液晶層のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制される。また、平坦化層へ凹部を形成することで光を散乱させることができるので、製造工程が複雑にならずに済むという利点を有する。
[適用例2]上記電気光学装置であって、前記凹部は、前記平坦面において光散乱特性に応じたランダムなパターン形状を呈するように形成されていることを特徴とする。
こうすれば、ランダムなパターン形状に応じて光散乱特性を変更することができるので、例えば液晶表示装置の使用者の要求に応じた光散乱特性を有する反射型の表示部を提供することが可能である。
[適用例3]上記電気光学装置であって、前記平坦化層の平坦面には、前記パターン形状を呈する前記凹部の形成領域に、光を反射する反射層が形成されていることを特徴とする。
こうすれば、凹部が形成されている領域は、確実に光を反射する反射領域となる。従って反射領域は、ほぼ平坦な面の中に光を乱反射する回折光学素子として機能する凹部を有することになるので、反射光を適切に散乱する反射部として機能することができる。従って液晶層の視角特性が改善される。
[適用例4]上記電気光学装置であって、前記反射層は前記一方の電極の少なくとも一部であることを特徴とする。
この構成によれば、反射層が一方の電極として機能する。従って、反射層上に一方の電極を重ねて形成する必要がないので、形成される電極の厚さに起因する液晶層の厚さバラツキが抑制される。従って、液晶層における光路差が抑制されるので、液晶層のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制される。
[適用例5]上記電気光学装置であって、前記一方の電極は、光透過性を有する透明材料で形成され、前記反射層は、前記平坦化層の平坦面において前記一方の電極が形成された領域の少なくとも一部に形成されていることを特徴とする。
この構成によれば、凹部が形成されている領域は反射層が形成された光の反射領域となり、凹部が形成されていない領域は一方の電極が透明であることから光の透過領域となる。この結果、反射領域と透過領域とが同じ平坦面上に形成されるため、これらの領域間での液晶層の厚さは反射層の厚さ分のみの差で済むので凡そ同じになる。従って、これらの領域間において液晶層のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制された半透過型の表示装置が得られる。
[適用例6]上記電気光学装置の製造方法であって、前記平坦化層の平坦面を覆うレジスト膜を形成する工程と、前記形成されたレジスト膜をエッチングする工程と、前記エッチングされたレジスト膜をマスクとしてドライエッチング処理を行い、前記凹部を形成する工程と、を備えたことを特徴とする。
この方法によれば、ドライエッチングによって可視光の波長に対して回折効果を生じる好ましい形状の凹部を形成することができるので、回折光学素子を容易に形成することができる。また、レジスト膜のエッチングパターンを変更すれば、凹部のパターンを容易に変更(カスタマイズ)することができる。この結果、エッチングパターンに応じて光散乱特性を変更することができるので、例えば液晶表示装置の使用者の要求に応じた光散乱特性を有する反射型の表示部を提供することが可能である。
[適用例7]上記電気光学装置の製造方法であって、前記凹部を形成する工程は、前記一方の電極に前記電界を発生させる電圧を供給する電極端子を覆う絶縁層を同時に除去する工程であることを特徴とする。
この方法によれば、電極端子と一方の電極との電気的な接続のために必要な絶縁層の除去と同時に凹部を形成するので、エッチング工程が増加することなく、回折光学素子を形成することができる。
以下、本発明を実施例に基づいて説明する。なお、以降の説明において用いる図面は、説明のために誇張して図示している場合もあり、必ずしも実際の大きさや長さを示すものでないことは言うまでもない。
図1は、本発明の一実施例となる電気光学装置としての液晶表示装置100について模式的に示した説明図である。液晶表示装置100は、一対の基板としての基板10と基板30とが、図示しない液晶層を封止状態で挟んで、同じく図示しないシール材によって貼り合わされた構造を有している。
一方の基板10は、その外周部分に、走査駆動回路120とデータ駆動回路110とが、ガラスや石英あるいは樹脂などの透光性を有する平板上(図面表面側)に形成されたものである。また、走査駆動回路120からは走査線121が、データ駆動回路110からはデータ線111が、図1に示したように配線されている。そして、各画素に対応して走査線121とデータ線111の交点付近にそれぞれ形成された図示しない薄膜トランジスタに対して供給され、走査線121によって供給される電圧によって薄膜トランジスタのオン・オフが制御される。さらに、薄膜トランジスタがオンしたとき、データ線111によって供給される電圧が、画素毎に設けられた1つの電極に導通印加されるように構成されている。
他方の基板30は、光変調を行う画素に対応する領域部分を光透過領域とし、その他の領域部分が遮光領域となるように、金属膜などの所定の遮光層が、ガラスや石英または樹脂などの透光性を有する平板上(図面裏側)に形成されている。光透過領域には、所定の波長を透過するフィルタ層が形成されている。従って、画素間が遮光層によって遮光されフィルタ層によって特定される波長を有する光を、画素領域から射出する。また、総ての光透過領域を覆うように1つの電極が設けられている。
そして、液晶表示装置100は、基板10と基板30とを、各画素において基板10側に設けられた1つの電極(以降「画素電極」と称す)と、基板30側に設けられた1つの電極(以降「共通電極」と称す)とが、液晶層を挟んでそれぞれ対向するように貼り合わせて構成されている。従って、各画素において、薄膜トランジスタのオンによって、データ線111によって供給される電圧と共通電極の電圧との差分電圧が、各画素に対応する液晶層に印加され、差分電圧に応じた光変調を行うように構成されている。
なお、以降の説明において、基板10と基板30との混同を避けるために、基板10を素子基板10、基板30を対向基板30と呼称することにする。
次に、液晶表示装置100について、その画素構成を図2および図3を用いて詳しく説明する。図2は1つの画素に関する構成を示した平面図で、素子基板10を対向基板30側から、対向基板30を透視状態で図示している。また、図3はその構成の部分的な断面図である。なお、本実施例の液晶表示装置100は、素子基板10に対して対向基板30側と反対側に設けられた照明手段からの光を透過する透過表示領域と、対向基板30側から入射する太陽光などの外光を反射する反射表示領域とが、それぞれの画素領域に設けられた、所謂半透過反射型の液晶表示装置である。
図2に示したように、走査線121とデータ線111との交点付近には、データ線111の配線が延伸して形成されたソース電極20sと、チャネル領域が形成された半導体層20aと、走査線121が兼ねるゲート電極20gと、ドレイン電極20dと、からなる薄膜トランジスタ20が形成されている。そして、ドレイン電極20dは、コンタクトホールCH1によって、画素電極11と結線されている。従って、走査線121すなわちゲート電極20gに供給される電圧によって、薄膜トランジスタ20がオンすると、データ線111に供給された電圧が、液晶層に電界を発生させる電圧を供給する電極端子としてのドレイン電極20dを介して画素電極11に印加される。
画素電極11は導電性を有する透光性の材料(例えばITO)で形成されている。一方、図中ハッチングで示した図面下側の領域部分は、画素電極11と平面的に重なる領域を有する光反射領域13が形成されている。従って、画素電極11の領域のうち、光反射領域13が形成されていない他の領域部分12は、光が透過する領域である。この結果、画素領域は、図示するように、内部に設けられた照明手段からの光を透過する透過表示領域Tと、太陽光などの外光を反射する反射表示領域Rと、を有することになる。
なお、画素電極11は、本実施例では、素子基板10と対向基板30との貼り合わせ精度を考慮して、対向基板30に形成された光透過領域(つまり画素領域)に相当する領域よりも小さくならないように形成されている。また、コンタクトホールCH1がその光透過領域に露出しないように構成されている。
次に、図3を用いて画素の断面構成について説明する。図3は、図2におけるB−B断面を示した模式断面図である。図示するように、液晶表示装置100は、素子基板10と対向基板30とによって液晶層40を狭持した構成を有している。
素子基板10は、本実施例ではガラス材料からなる平板14に対して、液晶層40側の面に、走査線121(ゲート電極20g)、ゲート絶縁層15、半導体層20a、データ線111(ソース電極20s)、ドレイン電極20d、層間絶縁膜16、平坦化層17、反射層18、画素電極11、配向膜19が順次形成されたものである。
走査線121(ゲート電極20g)、データ線111(ソース電極20s)、およびドレイン電極20dは、金属材料(例えばアルミニウム)によって形成されている。また、ゲート絶縁層15は例えば酸化ケイ素が、半導体層20aは、アモルファスシリコンやポリシリコン等の半導体が、層間絶縁膜16は例えば窒化ケイ素が、それぞれ用いられて形成されている。
平坦化層17は、透光性を有する樹脂(例えばポジ型あるいはネガ型の感光性を有するアクリル樹脂や、UV硬化型樹脂)が用いられて形成される。なお、形成される平坦化層17の層厚は、例えば1μm〜3μm程度である。そして、平坦化層17の液晶層40側に位置する平坦面には、画素領域のうち前述した反射表示領域Rに対応する領域部分に凹部17Sが形成されている。凹部17Sの形成方法については後述する。
そして、反射表示領域Rには、凹部17Sの形状に沿って反射層18が形成されている。反射層18は、例えばアルミニウムやアルミニウムと銅、あるいはアルミニウムとネオジムの合金などの材料が用いられる。そして、反射層18を覆うとともに、画素領域に相当する領域に渡って、透光性を有する材料(例えばITO)からなる画素電極11が形成されている。画素電極11は、コンタクトホールCH1によってドレイン電極20dと電気的に接続されている。
配向膜19は、画素電極11の液晶層40に接する側であって、少なくとも画素電極11を覆うように形成されている。配向膜19は、例えばポリイミド樹脂からなる。
一方、対向基板30は、本実施例ではガラス材料からなる平板31に対して、液晶層40側の面に、遮光層32、フィルタ層33、共通電極34、配向膜35が順次形成されたものである。
フィルタ層33は、例えばアクリル樹脂等からなり、画素で表示する色に対応する色材を含有している。共通電極34は、透光性材料(例えばITO)からなり、遮光層32とフィルタ層33とを覆うベタ電極として形成されている。配向膜35は、共通電極34の液晶層40に接する側であって、共通電極34を覆うように形成されている。配向膜35は、例えばポリイミド樹脂からなる。
このように構成された素子基板10と対向基板30とが、液晶層40を挟んで貼り合わされ、さらに、それぞれの基板の液晶層と反対側の面に偏光板44と偏光板45が貼り付けられて液晶表示装置100が形成される。形成された液晶表示装置100は、フィルタ層33が形成された画素領域において、対向基板30側から素子基板10側に透過する光を変調して画像を表示する透過表示領域Tと、対向基板30側から素子基板10側に入射する外光を変調して画像を表示する反射表示領域Rとを有することになる。
本実施例の液晶表示装置100は、素子基板10と対向基板30とによって挟まれた液晶層40の厚さDDが、前述した特許文献1に開示されたような凹凸と異なり、凹部17Sが形成された反射表示領域Rについて、液晶層40における光路差が生じ難い。この結果、液晶層40のリタデーションに起因する反射光の色づきの発生が抑制されることになる。
それでは、液晶層40における光路差が生じ難い反射表示領域Rの形成工程について、図4を用いて説明する。図4は、素子基板10において、凹部17Sおよび反射層18の形成工程を説明する工程図である。以降、工程順を示す図4(a)から図4(d)の順序で説明する。
まず、図4(a)は、平板14上に平坦面17Fを有する平坦化層17までが形成された状態を示す工程図である。平坦化層17には、ドレイン電極20dと平面的に重なる位置に、絶縁層としての層間絶縁膜16が露出するコンタクトホールCH1aが、平坦化層17の露光および現像工程によって形成されている。薄膜トランジスタ20、ゲート絶縁層15、層間絶縁膜16、平坦化層17の形成方法については、前述の特許文献1などにおいて開示されている周知の製造方法で形成することができる。従って、ここでは、これらの製造方法についての説明を省略する。
次に、図4(b)に示したように、平坦化層17の平坦面17Fに、コンタクトホールCH1bと所定の領域部分50Sが現像除去されたレジスト膜50を形成する。もとより、この工程は、レジスト材を例えばスピンコート法によって塗布した後、マスクを用いて露光し、その後現像して、層間絶縁膜16が露出するコンタクトホールCH1bと所定の領域部分50Sとに存在するレジスト材を除去するのである。
用いられるマスクには、露光部分が除去されるポジ型レジストを用いる場合、現像除去する領域部分50Sに対応する開口部が、所定のパターン形状を呈するように形成されている。このパターン形状の一例を図5に示した。図5(a)は、反射表示領域Rに相当するマスク位置に形成されたパターン形状の一部を示したものであり、図中白抜き部が開口部であり、図中網掛け部が遮光部である。
図示するように、開口部は、一つの方形を単位開口部とし、これが平面的に複数ランダムに配置されて形成されたものである。後述するが、このように開口部がランダムに形成されたマスクを用いることによって、反射表示領域Rにおける平坦化層17の表面に、反射散乱特性のよい反射層を形成することができるのである。また、マスクを変更することによってレジスト材のエッチングパターンを変更すれば、凹部の形成パターンを容易に変更(カスタマイズ)することも可能である。この結果、形成されるパターン形状に応じて光散乱特性を変更することができるので、例えば液晶表示装置の使用者の要求に応じた光散乱特性を有する反射型の表示部を提供することが可能である。なお、本実施例では、単位開口部は正方形であって、一辺の長さWは良好な反射散乱特性が得られる寸法に設定される。ちなみに、本実施例では長さWは2μmを越えない寸法に設定されている。
図5(b)は、図5(a)のパターン形状の開口部と遮光部との関係を反転したものである。このように開口部が反転して形成されたマスクを用いることも可能である。もとより、非露光部分を除去するネガ型レジストを用いる場合は、このパターン形状を用いればよい。
ここで、レジスト膜50は、少なくとも平坦化層17の材料に対するエッチングレートよりも早く、平坦化層17に対して選択的にエッチングできる材料のレジストを用いて形成することが好ましい。こうすれば、レジスト膜50の現像時において、領域部分50Sの除去後にさらに平坦化層17がエッチングされることが抑制されるので、以降の工程において平坦面17Fに形成する凹部の深さを適切に制御することができるからである。
図4に戻り、次に図4(c)に示したように、平坦化層17および層間絶縁膜16をエッチング処理する。具体的には、図4(b)に示したレジスト膜50をマスクとして用いて、ドライエッチングによって平坦化層17および層間絶縁膜16をエッチング処理する。こうすれば、エッチング工程の増加を抑制することができる。
ドライエッチングは周知のように、イオンをターゲットにぶつけてエッチングするなど一定方向にエッチングする異方性エッチングが可能である。この結果、凡そレジスト膜50に形成された開口部のパターン形状通りで一定の深さを呈する凹部17Sが、エッチング処理によって平坦化層17に形成される。もとより、凡そレジスト膜50に形成された開口部のパターン形状通りで一定の深さを呈する凹部17Sが形成できるエッチング方法であれば、その他の方法(例えば、異方性ウエットエッチング、レーザーエッチングなど)を用いてもよい。
凹部17Sは平坦化層17において、平坦面17Fから後述する所定の深さDSまでエッチングされて形成される。このとき、層間絶縁膜16は、凹部17Sが深さDSに到達する以前にエッチング除去されるように所定の厚さで形成されている。従って、層間絶縁膜16の除去後、ドレイン電極20dが暫くドライエッチングされることになるが、ドレイン電極20dは金属材料であることからエッチング量は極少量であり、機能上の問題は生じない。
ドライエッチングによって形成される凹部17Sの底面は、通常コーナーダレが無い凡そ平坦形状を呈する。従って、平坦面17Fと凹部17Sの底面とで光が反射するようにすれば、凹部17Sに入射した光が底面で反射して戻ってきたときの光と、平坦面17Fで反射する光とが干渉する。このとき、凹部17Sの底面で反射した光は、平坦面17Fと凹部17Sの底面との距離差すなわち凹部17Sの深さDSに応じた位相ずれが生じている。その結果、周知のように凹部17Sが形成された領域部分において、反射する光の光軸が曲がる光の回折現象が起こることになる。
そこで、本実施例では、図4(d)に示したように、凹部17Sが形成された領域すなわち前述した所定のパターン形状の形成領域に反射層18を形成する。具体的には、反射層18は、凹部17Sがランダムな所定のパターンで形成された反射表示領域Rに、マスク蒸着によって形成される。この結果、凹部17Sが形成された領域部分すなわち反射表示領域R部分には、光の回折現象を起こす所謂回折光学素子(DOE:Diffractive Optical Element)が形成される。なお、形成される反射層18の厚さは、液晶層40の厚さの変化(減少)を抑制するために、光の反射機能を呈するのに必要な最小厚さであることが好ましい(例えば、10nm〜100nm程度)。以降、図中二点鎖線で示したように画素電極11が形成され、図3に示した素子基板10の形成状態となるのである。
ここで、形成される凹部17Sの所定の深さDSについて補足説明する。前述するように、深さDSは、凹部17Sにおいて反射した光と、平坦面17Fにおいて反射する光とが干渉し、反射する光の光軸が曲がる光の回折現象を起こす条件を満たす深さである。このような回折現象を起こす深さとして、例えば、前述の特許文献2に開示されているように、式(1)の条件を満たす深さhが知られている。
n×h=λ/4 …(1)
ここで、nは液晶層の屈折率、λは入射光の波長である。
液晶表示装置100では、入射光は通常可視光であることから、凡そ波長400nm〜800nmの光が用いられる。また、液晶層の屈折率nは、液晶材料に依存した値を有する。例えば、一例としてn=1、λ=400nmの場合であれば式(1)から求まる深さはh=100nmとなる。ちなみに、本実施例では、深さDSを100nmとして形成するものとした。
従って、反射層18の形成後において、反射層18には、この凹部17Sの深さ100nmに倣って凡そ100nmの段差が形成される。この結果、凹部17Sが形成された領域には、所定のパターン形状PTを有する反射層18が形成されるのである。
ところで、液晶層40の厚さDDは、例えばμmオーダー(例えば1μm〜5μm程度)に設定されることが多い。これに比較して、凹部17Sが形成された反射表示領域Rにおける反射層18の段差は、式(1)から求まる値が凡そ100nm(=0.1μm)オーダーであることから、ほぼ液晶層40の厚さの1/10以下となる。従って、液晶層40を通過する光に光路差が生じにくく、この結果、液晶層40のリタデーションに起因する反射光の色づきの発生が抑制されることになるのである。
上述するように、本実施例の液晶表示装置100によれば、反射層18によって覆われた凹部17Sが形成された反射表示領域Rは、光回折現象を呈する所謂回折光学素子(DOE)が組み込まれた領域として機能することから、光を乱反射する領域となり表示の視角特性を改善させることができる。このとき、光回折現象を呈する凹部17Sの平坦面と垂直方向への深さDSは、液晶層40の厚さDDに比較して小さい値であることから、凹部17Sが形成されている領域はおおよそ平坦とみなせる状態になる。この結果、この領域に存在する液晶層40の厚さは実質的にほぼ一定になる。従って、液晶層のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制されるのである。また、上述した特許文献2のように構造体を別途設けることなく、平坦化層へ凹部を形成することで光を散乱させることができるので、製造工程が複雑にならずに済むという利点を有する。
以上、本発明の実施の形態について実施例により説明したが、本発明はこうした実施例に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得ることは勿論である。以下、変形例をあげて説明する。
(第1変形例)
上記実施例では、図3に示したように、画素領域において反射層18を覆うように画素電極11を形成する構成とした。このため、液晶層40の厚さDDは、詳しくは透過表示領域Tと反射表示領域Rとで反射層18の厚さ分異なることになる。従って、透過表示領域Tと反射表示領域Rとで液晶層40のリタデーションが異なることになり、例えば、透過表示領域Tと反射表示領域Rとで表示色に色ずれが生ずるという不具合が発生する虞がある。
ところで、上記実施例において説明したように、反射層18はアルミニウムなどの金属材料で形成されるので、反射層18は導電性を有することになる。そこで、本変形例として、反射層18を画素電極11の少なくとも一部として利用する構成としてもよい。こうすれば、画素領域において反射層18と画素電極11とが重なる領域を抑制することができるので、液晶層40の厚さDDは透過表示領域Tと反射表示領域Rとで略同じ厚さとすることが可能となる。
図6は、本変形例を適用した一例となる素子基板10の構成を示した説明図である。図6(a)は、上記実施例の半透過型の液晶表示装置100に適用した場合、図6(b)は、液晶表示装置100が反射型の場合に適用した場合を示している。
まず図6(a)に示すように、半透過型の場合は、画素電極11を、反射層18の端部において、電気的な接続ができる最小の領域範囲に留めた重なり部11Cを形成する。この結果、重なり部11C以外の殆どの反射表示領域Rにおいては、平坦化層17上の高さが反射層18の厚さ分のみとなる。従って、平坦化層17上の高さが画素電極11の厚さ分の透過表示領域Tに対して、反射表示領域Rにおける平坦化層17上の高さを、凡そ同じとすることができるのである。
例えば、画素電極11の厚さが100nm前後で形成されている場合は、反射層18の厚さを100nmとすればよい。なお、反射層18は、前述したように凹部17Sに形成されることから、反射層18の厚さは、凹部の形状に倣って反射層18に形成される範囲で、画素電極11の厚さに最も近い値を選択することが好ましい。
あるいは、図6(b)に示したように、液晶表示装置100が、画素領域総て反射表示領域Rとなる反射型である場合は、画素電極11を反射層18で形成することとしてもよい。もとより、この場合は凹部17Sは画素領域全体に形成されることは言うまでもない。また、コンタクトホールCH1において、反射層18がドレイン電極20dと電気的な接続をとるように形成することとして差し支えない。
図示するように、反射型の場合は、画素電極11として反射層18を画素領域全体に形成することができるので、画素領域においてほぼ液晶層40の厚さが実質的にほぼ一定となる。この結果、液晶層のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制される。
(第2変形例)
上記実施例では、液晶表示装置100は、素子基板10に形成した画素電極11と、対向基板30に形成した共通電極34との間に電界を印加する縦電界方式(例えば、TN方式(Twisted Nematic)方式、VA(Vertical Alignment)方式、ECB(Electrically Controlled Birefringence)方式など)であるものとして説明したが、これに限らず、液晶層40に対して素子基板10に平行な方向の電界を発生させて液晶分子の配向制御を行う横電界方式(例えば、FFS(Fringe-Field Switching)方式やIPS(In-Plane Switching)方式など)としてもよい。
例えば、IPS方式とした場合について、図7を用いて説明する。図7は、素子基板10についての概略構成を示した説明図であり、上記実施例と異なる構成に関する部分のみを示している。なお、対向基板30については、共通電極34が形成されないことを除いて他の構成は同じである。従ってここでは説明を省略する。
図示するように、素子基板10には、平板14上に共通配線60が形成されている。そして、ゲート絶縁層15および層間絶縁膜16に設けられたコンタクトホールCH2を介して、この共通配線60と電気的に接続された共通電極34Kが、平坦化層17の平坦面17F上に形成されている。一方、画素電極11Gは、層間絶縁膜16に設けられたコンタクトホールCH1を介して、ドレイン電極20dと電気的に接続され、同じく平坦化層17の平坦面17F上に形成されている。従って、画素電極11Gと共通電極34Kとの間には、図示したように平坦面17Fに沿った方向の電界(横電界)が発生するIPS方式の液晶表示装置を構成する基板となる。なお、画素電極11Gおよび共通電極34Kは、アルミニウムなどの金属材料で形成され、画素領域と平面的に重ならないように配置されている。
このようなIPS方式の液晶表示装置を構成する基板において、本変形例では、画素領域のうち、反射表示領域Rに相当する領域に、上記実施例と同様に所定パターン形状を有する凹部17Sをドライエッチングによって形成する。そして、上記実施例と同様に反射表示領域Rに相当する領域において、形成された凹部17Sを覆うように反射層18を形成するのである。この結果、反射表示領域Rに回折光学素子(DOE)が組み込まれたことになる。
このように構成することによって、反射表示領域Rにおける平坦化層17上の高さは、透過表示領域Tに対して、反射層18の厚さ分のみの違いで済む。従って、前述するように液晶層40の厚さDDを、透過表示領域Tと反射表示領域Rとで略同じ厚さとすることが可能となる。この結果、液晶層40のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制されるのである。このように、IPS方式の液晶表示装置においても、回折光学素子によって反射散乱特性が良く、かつ液晶層40のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制された表示装置を提供することができる。
次に、FFS方式とした場合について、図8および図9を用いて説明する。図8は、素子基板10についての断面方向における概略構成を示した説明図であり、図9は素子基板10について画素領域方向つまり平面方向における概略構成を示した説明図である。なお、図8では、図7同様、上記実施例と異なる構成に関する部分のみを示している。また、対向基板30についても、共通電極34が形成されないことを除いて他の構成は同じであるので、ここでは説明を省略する。
図8に示すように、素子基板10には、平板14上に共通配線60が形成されている。そして、この共通配線60とコンタクトホールCH2を介して電気的に接続された共通電極61が、平坦化層17上において画素領域よりも大きいベタ電極で形成されている。一方、画素電極11Fは、コンタクトホールCH1を介して、ドレイン電極20dと電気的に接続され、平坦化層17上に形成された窒化シリコンなどからなる絶縁層17aの表面17aF上に形成されている。表面17aFも平坦化層17上に形成されるため、実質的に平坦面となる。
本変形例では、画素電極11Fは反射層18の機能を兼用するものとした。そして、画素電極11Fは図9に示すように、複数のスリット状の開口部を有し、画素領域において共通電極61と平面的に重なるように形成されている。この結果、図8に示すように、素子基板10は、画素電極11F(反射層18)と共通電極61との間には横電界(図では、作図の関係で、矢印で示したように斜め方向の電界として図示)が発生するFFS方式の液晶表示装置を構成する基板となる。なお、画素電極11Fは、反射層18と同じであることからアルミニウムなどの金属材料で形成され、共通電極61は透光性を有する材料で形成されている。
このようなFFS方式の液晶表示装置を構成する基板において、本変形例では、画素領域において、少なくとも画素電極11Fに形成されたスリット状の開口部間の電極部分に相当する絶縁層17aの表面17aFの領域に、上記実施例と同様に所定パターン形状を有する凹部17Sをドライエッチングによって形成する。そして、上記実施例と同様に凹部17Sが形成された電極部分について、形成された凹部17Sを覆うようにスリット状の開口部が形成された画素電極11Fを形成するのである。この結果、図9に示すように、スリット状の開口部間の電極部分は反射表示領域Rに、スリット状の開口部分が透過表示領域Tとなる。
このように構成することによって、反射表示領域Rにおける絶縁層17a上の高さは、透過表示領域Tに対して、最大で画素電極11の厚さ分のみの違いで済む。従って、前述するように液晶層40の厚さDDを、透過表示領域Tと反射表示領域Rとで略同じ厚さとすることが可能となる。この結果、液晶層40のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制されるのである。このように、FFS方式の液晶表示装置においても、反射回折光学素子によって反射散乱特性の良く、かつ液晶層のリタデーションに起因する色づきなど光学特性のズレが抑制された表示装置を提供することができる。
なお、FFS方式の液晶表示装置では、画素電極11F上においても液晶層40が電界応答して光変調を行う場合があり、画素電極11F上も光変調を行う画素として機能する。従って、上記実施例の液晶表示装置100では、画素領域を2分して、一方を反射表示領域Rに、他方を透過表示領域Tに構成したが、本変形例では、画素電極11Fの領域を反射表示領域とすることによって、画素領域内において、反射表示領域Rと透過表示領域Tとを分散配置させることができるのである。この結果、透過表示の場合であっても、反射表示の場合であっても、どちらの場合においても画素領域の全体で表示を行うことができるという効果を奏する。
(その他の変形例)
上記実施例では、平坦化層17の平坦面17Fに凹部17Sを形成したのち、反射層18を形成することとして説明したが、必ずしもこれに限らず、反射層18を形成しないこととしてもよい。例えば、平坦化層17の材料が液晶層40に対して高い屈折率を有する材料であった場合は、平坦化層17は反射機能を有することになる。このような場合は、反射層18を必ずしも形成する必要はない。
また、上記実施例では、エッチング工程の増加を抑制するため、平坦化層17に凹部17Sを形成するドライエッチング処理を、ドレイン電極20dを露出させるための層間絶縁膜16のエッチング処理と同時に行うこととしたが、必ずしもこれに限るものでないことは勿論である。例えば、上記第2変形例におけるIPS方式の液晶表示装置であれば、共通配線60を露出するためのエッチング処理と同時に行うこととしてもよい。もとより、平坦化層17に凹部17Sを形成するドライエッチング処理を単独で行っても差し支えない。
また、上記第2変形例において、IPS方式の液晶表示装置の場合、画素領域において、画素電極11Gと共通電極34Kとが、平坦化層17上に櫛歯形状に形成され、平坦面17F上で互いの櫛歯形状が噛み合うように配置形成される場合がある。このような場合は、噛み合う櫛歯形状間において、透過表示領域Tと反射表示領域Rとが交互に配置されるように反射層18を形成することが好ましい。あるいは、櫛歯形状間において、透過表示領域Tと反射表示領域Rとが櫛歯形状の長手方向に配置されるように反射層18を形成することが好ましい。こうすれば、上記第2変形例にて説明したFFS方式の液晶表示装置と同様に、画素領域内において、反射表示領域Rと透過表示領域Tとを分散配置させることができるのである。従って、透過表示の場合、あるいは反射表示の場合の、どちらの場合においても、画素領域の全体で表示を行うことができるという効果を奏する。
本発明の一実施例となる液晶表示装置について模式的に示した説明図。 1つの画素に関する構成を示した平面図。 1つの画素の構成についての部分断面図。 素子基板において、凹部と反射層の形成工程を説明する工程図で、(a)から(d)の順で工程順を示す。 (a)、(b)ともに、凹部を形成するためのマスクパターン形状の一例を示すパターン図。 (a)、(b)ともに、第1変形例の一例となる素子基板構成を示した説明図。 第2変形例で、素子基板についての概略構成を示した説明図。 第2変形例で、素子基板について断面方向から見た概略構成を示す説明図。 第2変形例で、素子基板について平面方向から見た概略構成を示す説明図。
符号の説明
10…素子基板、11…画素電極、11C…重なり部、11F…画素電極、11G…画素電極、12…領域部分、13…光反射領域、14…平板、15…ゲート絶縁層、16…層間絶縁膜、17…平坦化層、17F…平坦面、17S…凹部、18…反射層、19…配向膜、20…薄膜トランジスタ、20a…半導体層、20d…ドレイン電極、20g…ゲート電極、20s…ソース電極、30…対向基板、31…平板、32…遮光層、33…フィルタ層、34…共通電極、34K…共通電極、35…配向膜、40…液晶層、44…偏光板、45…偏光板、50…レジスト膜、50S…領域部分、60…共通配線、61…共通電極、100…液晶表示装置、110…データ駆動回路、111…データ線、120…走査駆動回路、121…走査線。

Claims (7)

  1. 一対の基板に挟持された液晶層を有し、2つの電極間に生ずる電界によって前記液晶層の光変調を行う電気光学装置であって、
    前記一対の基板のうちの一方の基板には、前記2つの電極のうち少なくとも一方の電極が形成される平坦面を有する平坦化層が形成され、
    前記平坦化層の平坦面に、光回折現象を生じる深さを有する凹部が形成されていることを特徴とする電気光学装置。
  2. 請求項1に記載の電気光学装置であって、
    前記凹部は、前記平坦化層の平坦面において光散乱特性に応じたランダムなパターン形状を呈するように形成されていることを特徴とする電気光学装置。
  3. 請求項1または2に記載の電気光学装置であって、
    前記平坦化層の平坦面には、前記パターン形状を呈する前記凹部の形成領域に、光を反射する反射層が形成されていることを特徴とする電気光学装置。
  4. 請求項3に記載の電気光学装置であって、
    前記反射層は前記一方の電極の少なくとも一部であることを特徴とする電気光学装置。
  5. 請求項3に記載の電気光学装置であって、
    前記一方の電極は、光透過性を有する透明材料で形成され、
    前記反射層は、前記平坦化層の平坦面において前記一方の電極が形成された領域の少なくとも一部に形成されていることを特徴とする電気光学装置。
  6. 請求項1ないし5のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法であって、
    前記平坦化層の平坦面を覆うレジスト膜を形成する工程と、
    前記形成されたレジスト膜をエッチングする工程と、
    前記エッチングされたレジスト膜をマスクとしてドライエッチング処理を行い、前記凹部を形成する工程と、
    を備えたことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  7. 請求項6に記載の電気光学装置の製造方法であって、
    前記凹部を形成する工程は、前記一方の電極に前記電界を発生させる電圧を供給する電極端子を覆う絶縁層を同時に除去する工程であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
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