JP2008542696A - 静電容量の測定回路 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
図1は、本発明による静電容量計測回路を示す。
図2aは、計測静電容量のスイッチングの方法を示す。
図2bは、図2aの計測静電容量のスイッチングのタイミングダイアグラムを示す。
図3は、オフセットを差し引く方法を供する静電容量計測回路を示す。
図4は、計測すべき静電容量をその帰還回路内に含む静電容量計測回路を示す。
図5は、計測すべき静電容量をその入力回路内に有する静電容量計測回路を示す。
図6は、差分構造による静電容量計測回路を示す。
図7aは、デルタ・シグマ変調器の回路ダイアグラムを示す。
図7bは、図7aのデルタ・シグマ変調器の信号波形を示す。
図8は、デルタ・シグマ変調器の動作モードに関する基本的な回路ダイアグラムを示す。
図9は、スイッチドキャパシタンス技術によるデルタ・シグマ変調器を示す。
Qint=Qmeas−(Qoff+Qfb)
Cfb>(Cmeas−Coff)
Cmeas>Cfb
Claims (12)
- 演算増幅器(102)と、前記演算増幅器(102)の入力端子に接続される第1のキャパシタ(104)と、前記演算増幅器の帰還回路内の第2のキャパシタ(106)とからなるデルタ・シグマ変調器と、
前記第1のキャパシタ(104)に接続される基準信号源(114)とを備え、
前記第1および第2のキャパシタ(104)(106)が計測されるべき静電容量を示すことを特徴とする、静電容量計測回路。 - クロック的に動作し、第1のクロックにおいて前記第1のキャパシタ(104)が前記基準信号源(114)に接続され、第2クロックにおいて前記演算増幅器(102)の入力端子に接続される、請求項1に記載の静電容量計測回路。
- 前記第1のキャパシタ(104)は、第1の端子で前記基準信号源(114)に接続され、その第2の端子で前記演算増幅器(102)の入力端子に接続される、請求項1または2に記載の静電容量計測回路。
- 前記第1のキャパシタ(104)は、第1の端子でグランドに接続され、その第2の端子で前記基準信号源(114)または前記演算増幅器(102)の入力端子に接続される、請求項1または2に記載の静電容量計測回路。
- 前記基準信号源(114)が基準電圧を供給するように実施される、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の静電容量計測回路。
- 正および負の平衡信号を供給するための前記デルタ・シグマ変調器の平衡信号源が、前記演算増幅器(102)の入力端子に接続され、さらに正および負の平衡電圧(114)(120)に接続される平衡キャパシタを備える、請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の静電容量計測回路。
- 正および負の平衡信号を供給するための前記デルタ・シグマ変調器の前記平衡信号源が、前記演算増幅器(102)の入力端子に接続され、さらに正および負の平衡電圧(114)(120)に接続される平衡キャパシタ(108)とを備え、
前記基準電圧源が、基準電圧を供給するために実施され、
前記正の平衡電圧(114)と前記負の平衡電圧(120)および前記基準電圧の絶対値が同一である、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の静電容量計測回路。 - 計測されるべき静電容量に一定のオフセット静電容量を与えるために、前記演算増幅器(102)の入力端子に接続されるオフセット信号源を含む、請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の静電容量計測回路。
- 前記オフセット信号源は、前記演算増幅器(102)の入力端子に接続され、さらにオフセット電圧を供給するためにオフセット信号源(120)に接続されるオフセットキャパシタ(150)を含む、請求項8に記載の静電容量計測回路。
- 前記演算増幅器(102)の入力端子に接続され、さらにオフセット電圧を供給するために前記オフセット電圧源(120)に接続されるオフセットキャパシタ(150)を有するオフセット信号源を含み、
前記基準信号源(114)は、基準電圧を供給するように実施され、
前記オフセット電圧(120)および前記基準電圧が同じ大きさで極性が異なることを特徴とする、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の静電容量計測回路。 - 前記オフセットキャパシタ(150)が、計測されるべき静電容量の不変部の近傍15%の範囲内の静電容量を示し、前記計測されるべき静電容量が前記不変部と時間変動部とからなる、請求項10に記載の静電容量計測回路。
- 差動出力を有する演算増幅器(200)と、その第1の端子で前記演算増幅器(200)の反転入力端子に接続され、その第2の端子で前記演算増幅器(200)の非反転入力端子に接続されるキャパシタ(208)とからなる差動構成のデルタ・シグマ変調器と、
前記キャパシタ(208)の第1の端子に接続される第1の基準信号源(224a)および前記キャパシタの第2の端子に接続される第2の基準信号源(224b)とを含み、
前記キャパシタが計測されるべき静電容量を示すことを特徴とする、静電容量計測回路。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005024098.4 | 2005-05-25 | ||
DE102005024098 | 2005-05-25 | ||
DE102005038875A DE102005038875A1 (de) | 2005-05-25 | 2005-08-17 | Kapazitätsmessschaltung |
DE102005038875.2 | 2005-08-17 | ||
PCT/EP2006/004989 WO2006125639A1 (de) | 2005-05-25 | 2006-05-24 | Kapazitätsmessschaltung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008542696A true JP2008542696A (ja) | 2008-11-27 |
JP4832512B2 JP4832512B2 (ja) | 2011-12-07 |
Family
ID=36716930
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008512768A Expired - Fee Related JP4832512B2 (ja) | 2005-05-25 | 2006-05-24 | 静電容量の測定回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8054089B2 (ja) |
EP (1) | EP1872144B1 (ja) |
JP (1) | JP4832512B2 (ja) |
DE (1) | DE102005038875A1 (ja) |
WO (1) | WO2006125639A1 (ja) |
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Publication number | Publication date |
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US20080191713A1 (en) | 2008-08-14 |
DE102005038875A1 (de) | 2006-11-30 |
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EP1872144B1 (de) | 2016-05-04 |
WO2006125639A1 (de) | 2006-11-30 |
JP4832512B2 (ja) | 2011-12-07 |
EP1872144A1 (de) | 2008-01-02 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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