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JP2008058853A - 表示装置及びその製造方法 - Google Patents

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徹雄 三並
Yukito Iida
幸人 飯田
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勝秀 内野
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Abstract

【課題】電源配線を低抵抗化して画素の輝度差を抑制する。
【解決手段】画素アレイ部1とこれを駆動する駆動部とがパネル0に形成されている。画素アレイ部1は、行状の走査線と列状の信号線と両者が交差する部分に配された行列状の画素とを有する。駆動部は走査線を介して各画素を線順次駆動するスキャナ部4,5と、線順次駆動に合わせて信号線に映像信号を供給する信号部とを含み、画素アレイ部1に映像を表示する。画素アレイ部1を駆動する為にパネル0に形成された電源配線の一部が、上層12と下層11とで多層配線化されている。スキャナ部は、画素アレイ部1に対して電圧レベルが線順次駆動に合わせて切り換わる電源電圧を供給するドライブスキャナ5を含んでおり、多層配線化された電源配線はドライブスキャナ5に対して電源電圧を供給する。
【選択図】図6

Description

本発明は発光素子を画素に用いたアクティブマトリクス型の表示装置及びその製造方法に関する。より詳しくは、表示装置を構成するパネルに形成される電源配線の改善技術に関する。
発光素子として有機ELデバイスを用いた平面自発光型の表示装置の開発が近年盛んになっている。有機ELデバイスは有機薄膜に電界をかけると発光する現象を利用したデバイスである。有機ELデバイスは印加電圧が10V以下で駆動するため低消費電力である。また有機ELデバイスは自ら光を発する自発光素子であるため、照明部材を必要とせず軽量化及び薄型化が容易である。さらに有機ELデバイスの応答速度は数μs程度と非常に高速であるので、動画表示時の残像が発生しない。
有機ELデバイスを画素に用いた平面自発光型の表示装置の中でも、とりわけ駆動素子として薄膜トランジスタを各画素に集積形成したアクティブマトリクス型の表示装置の開発が盛んである。アクティブマトリクス型平面自発光表示装置は、例えば以下の特許文献1ないし5に記載されている。
特開2003−255856 特開2003−271095 特開2004−133240 特開2004−029791 特開2004−093682
従来の表示装置は、基本的に画素アレイ部とこれを駆動する駆動部の少なくとも一部とが、1枚のパネルに形成されており、いわゆるフラットディスプレイとなっている。画素アレイ部は、行状の走査線と、列状の信号線と、両者が交差する部分に配された行列状の画素とを有する。駆動部は走査線を介して各画素を線順次駆動するスキャナ部と、線順次駆動に合わせて信号線に映像信号を供給する信号部とを含み、以って画素アレイ部に映像を表示する。このパネルには、画素アレイ部を駆動するために電源配線が形成されている。この電源配線はパネル上の画素アレイ部を給電すると共に、同じパネル上のスキャナ部にも給電している。場合によっては、このスキャナ部から画素アレイ部に給電する事もある。
しかしながら、従来の電源配線はある程度抵抗成分があるため、パネルの外部接続用に設けた端子(パッド)に近い部位から遠く離れた部位まで、電源配線に沿って電圧降下が生じ、パネルの接続端子に近い側にある画素の発光素子と、接続端子から遠い側にある画素の発光素子とで、輝度差が生じるという問題があった。電源配線の抵抗成分に起因する電圧降下を防ぐためには、電源配線のパタン幅を可能な限り太くして、抵抗成分を下げることが必要である。しかしながらパネルの周辺領域に配されたスキャナ部の電源配線を太くすると、その分スキャナ部の占める回路面積自体が広くなり、パネルの中央領域に配された画素アレイ部の占有面積を圧迫することになり問題である。
上述した従来の技術の課題に鑑み、本発明は電源配線を低抵抗化して画素の輝度差を抑制すると共に、画素アレイ部の面積を圧迫することの無い電源配線レイアウトを提供することを目的とする。かかる目的を達成するために以下の手段を講じた。即ち本発明は、画素アレイ部とこれを駆動する駆動部の少なくとも一部とがパネルに形成されており、前記画素アレイ部は、行状の走査線と、列状の信号線と、両者が交差する部分に配された行列状の画素とを有し、前記駆動部は該走査線を介して各画素を線順次駆動するスキャナ部と、該線順次駆動に合わせて該信号線に映像信号を供給する信号部とを含み、以って該画素アレイ部に映像を表示する表示装置であって、前記画素アレイ部を駆動する為に前記パネルに形成された電源配線の少なくとも一部が、少なくとも上下二層で多層配線化されていることを特徴とする。
好ましくは、前記スキャナ部に電源電圧を供給するための電源配線が多層配線化されている。この場合前記スキャナ部は、該画素アレイ部に対して電圧レベルが該線順次駆動に合わせて切り換わる電源電圧を供給するドライブスキャナを含んでおり、前記多層配線化された電源配線は該ドライブスキャナに対して電源電圧を供給する。又前記パネルは、その中央領域に該画素アレイ部が配され、その周辺領域に該駆動部が配され、前記電源配線はその下層が該駆動部内に形成され、その上層が該駆動部の上方で周辺領域に延設されている。又前記上層と下層は絶縁膜で互いに隔てられているとともに該絶縁膜に形成されたコンタクトホールを通じて上層と下層が互いに導通しており、前記コンタクトホールは、該パネルに形成された該電源配線の端子の近傍部分と、これから最も遠い部分の二箇所にのみ形成されている。
本発明によれば、画素アレイ部を駆動するためにパネルに形成された電源配線の少なくとも一部が、上下二層で多層配線化されている。これにより、電源配線の入力パッドの近傍から遠く離れた部位まで電源電圧の降下を防ぐことが出来る。特に多層化された電源配線は、その下層が駆動部内に限定して形成される一方、その上層は駆動部の上方で周辺領域に広く延設されている。かかる構成により、駆動部内に配された電源配線の幅を拡大することなく、低抵抗化を図ることが可能である。かかる構成により、パネルの中央領域に配された画素アレイ部の面積を圧迫することなく、パネルの周辺領域を利用して電源配線の低抵抗化が可能になる。
以下図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明にする。図1は本発明にかかる表示装置の全体構成を示すブロック図である。図示する様に本表示装置は、画素アレイ部1とこれを駆動する駆動部とからなる。画素アレイ部1は、行状の走査線WSと、列状の信号線SLと、両者が交差する部分に配された行列状の画素2と、画素2の各行に対応して配された駆動線DSとを備えている。駆動部は、各走査線WSに順次制御信号を供給して画素2を行単位で線順次走査するライトスキャナ4と、この線順次走査に合わせて各駆動線DSに高電位と低電位で切換わる電源電圧を供給するドライブスキャナ5と、この線順次走査に合わせて列状の信号線SLに映像信号となる信号電位と基準電位を供給する水平セレクタ3とを備えている。ここでライトスキャナ4とドライブスキャナ5がスキャナ部を構成し、水平セレクタ3が信号部を構成している。
個々の画素2は、サンプリング用トランジスタTr1と駆動用トランジスタTrdと保持容量Csと補助容量Csubと発光素子ELとで構成されている。個々の発光素子ELはRGB三原色のいずれかの色で発光するようになっている。赤色発光素子を備えた画素(RED)と緑色発光素子を備えた画素(GREEN)と青色発光素子を備えた素子(BLUE)とで画素トリオを構成している。この画素トリオを画素アレイ部1上でマトリクス状に配列することによりカラー表示が出来る。
図2は、図1に示した表示装置に含まれる画素2の具体的な構成及び結線関係を示す回路図である。図示する様に、この画素2は、有機ELデバイスなどで代表される発光素子ELと、サンプリング用トランジスタTr1と、駆動用トランジスタTrdと、保持容量Csとを含む。サンプリング用トランジスタTr1はそのゲートが対応する走査線WSに接続し、そのソース及びドレインの一方が対応する信号線SLに接続し、他方が駆動用トランジスタ(ドライブトランジスタ)TrdのゲートGに接続する。ドライブトランジスタTrdは、そのソースSが発光素子ELに接続し、ドレインが対応する駆動線DSに接続している。発光素子ELのカソードは接地電位Vcathに接続している。なおこの接地配線は全ての画素2に対して共通に配線されている。保持容量(画素容量)Csは、ドライブトランジスタTrdのソースSとゲートGとの間に接続している。加えて発光素子ELと並列に補助容量Csubが接続されている。この補助容量Csubは必要に応じ付加されたもので、保持容量Csに対する映像信号Vsigの入力ゲインを高める機能を有する。
図3は、図2に示した画素2の動作説明に供するタイミングチャートである。時間軸を共通にして、走査線WSの電位変化、駆動線DSの電位変化及び信号線SLの電位変化(映像信号Vsigの電位変化)を表してある。またこれらの電位変化と並行に、ドライブトランジスタTrdのゲートG及びソースSの変化も表してある。
このタイミングチャートは、画素2の動作の遷移に合わせて期間を(0)〜(7)まで便宜的に区切ってある。まず発光期間(0)では、駆動線DSが高電位VccHにあり、ドライブトランジスタTrdが駆動電流Idsを発光素子ELに供給している。駆動電流Idsは高電位VccHにある駆動線DSからドライブトランジスタTrdを介して発光素子ELを通り、共通接地配線Vcathに流れ込んでいる。
続いて期間(1)に入ると、駆動線DSを高電位VccHから低電位VccLに切換える。これにより駆動線DSはVccLまで放電され、さらにドライブトランジスタTrdのソース電位はVccLに近い電位まで遷移する。駆動線DSの配線容量が大きい場合は比較的早いタイミングで駆動線DSを高電位VccHから低電位VccLに切換えると良い。
次に期間(2)に進むと、走査線WSを低レベルから高レベルに切換えることで、サンプリングトランジスタTr1が導通状態になる。このとき信号線SLは基準電位Vrefにある。よってドライブトランジスタTrdのゲート電位は導通したサンプリングトランジスタTr1を通じて信号線SLの基準電位Vrefとなる。これと同時にドライブトランジスタTrdのソース電位は即座に低電位VccLに固定される。以上によりドライブトランジスタTrdのソース電位が映像信号線SLの基準電位Vrefより十分低い電位VccLに初期化(リセット)される。具体的にはドライブトランジスタTrdのゲート‐ソース間電圧Vgs(ゲート電位とソース電位の差)がドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthより大きくなるように、駆動線DSの低電位VccLを設定する。
次にVthキャンセル期間(3)に進むと、駆動線DSが低電位VssLから高電位VccHに遷移し、ドライブトランジスタTrdのソース電位が上昇を開始する。やがてドライブトランジスタTrdのゲート‐ソース間電圧Vgsが閾電圧Vthとなったところで電流がカットオフする。このようにしてドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthに相当する電圧が保持容量(画素容量)Csに書き込まれる。これが閾電圧補正動作である。このとき電流が専ら保持容量Cs側に流れ、発光素子EL側には流れないようにするため、発光素子ELがカットオフとなるように共通接地配線Vcathの電位を設定しておく。
期間(4)に進むと、走査線WSが低電位側に遷移し、サンプリングトランジスタTr1が一端オフ状態になる。このときドライブトランジスタTrdのゲートGはフローティングになるが、ゲート‐ソース間電圧VgsはドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthに等しいためカットオフ状態であり、ドレイン電流Idsは流れない。
続いて期間(5)に進むと、信号線SLの電位が基準電位Vrefからサンプリング電位(信号電位)Vinに遷移する。これにより次のサンプリング動作及び移動度補正動作(信号書込み及び移動度μキャンセル)の準備が完了する。
信号書込み/移動度μキャンセル期間(6)に入ると、走査線WSが高電位側に遷移してサンプリングトランジスタTr1がオン状態となる。従ってドライブトランジスタTrdのゲート電位は信号電位Vinとなる。ここで発光素子ELは始めカットオフ状態(ハイインピーダンス状態)にあるため、ドライブトランジスタTrdのドレイン‐ソース間電流Idsは発光素子容量及び補助容量Csubに流れ込み、充電を開始する。したがってドライブトランジスタTrdのソース電位は上昇を開始し、やがてドライブトランジスタTrdのゲート‐ソース間電圧VgsはVin+Vth−ΔVとなる。このようにして、信号電位Vinのサンプリングと補正量ΔVの調整が同時に行われる。Vinが高いほどIdsは大きくなり、ΔVの絶対値も大きくなる。したがって発光輝度レベルに応じた移動度補正が行われる。Vinを一定とした場合、ドライブトランジスタTrdの移動度μが大きいほどΔVの絶対値が大きくなる。換言すると移動度μが大きいほど負帰還量ΔVが大きくなるので、画素ごとの移動度μのばらつきを取り除くことが出来る。
最後に発光期間(7)になると、走査線WSが低電位側に遷移し、サンプリングトランジスタTr1はオフ状態となる。これによりドライブトランジスタTrdのゲートGは信号線SLから切り離される。同時にドレイン電流Idsが発光素子ELを流れ始める。これにより発光素子ELのアノード電位は駆動電流Idsに応じて上昇する。発光素子ELのアノード電位の上昇は、即ちドライブトランジスタTrdのソース電位の上昇に他ならない。ドライブトランジスタTrdのソース電位が上昇すると、保持容量Csのブートストラップ動作により、ドライブトランジスタTrdのゲート電位も連動して上昇する。ゲート電位の上昇量はソース電位の上昇量に等しくなる。ゆえに発光期間(7)中ドライブトランジスタTrdのゲート‐ソース間電圧VgsはVin+Vth−ΔVで一定に保持される。
図4は、図1に示した表示装置のパネル構成を示す模式的なブロック図である。図示するように表示装置はパネル0に形成されている。このパネル0はその中央領域に画素アレイ部1を含むと共に、これを囲む周辺領域に少なくとも駆動部の一部が集積形成されている。図示の例では、パネル0の左右周辺領域にスキャナ部を構成するライトスキャナ4及びドライブスキャナ5が配されている。信号部を構成する水平セレクタはパネル0の外部に配されている。但し本発明はこれに限られるものではなく、水平セレクタもパネル0の周辺領域に配することが出来る。
ライトスキャナ4は画素アレイ部1の走査線WSに接続する一方、ドライブスキャナ5は同じく画素アレイ部1の駆動線DSに接続している。ドライブスキャナ5は各駆動線DSに対応して多段接続されたシフトレジスタ(図示せず)と各段に対応した出力バッファ51とで構成されている。出力バッファ51はシフトレジスタ側から供給される線順次信号に応じて順次動作し、駆動線DSに対して高電位VccHと低電位VccLとで切換わる電源電圧を供給している。図示する様にこの出力バッファ51はインバータの直列接続からなり、入力側がシフトレジスタの出力段に接続する一方、インバータの出力側は対応する駆動線DSに接続している。出力バッファ51の電源ライン側には電源配線11を介して外部からVccHが印加されている。一方出力バッファ51の接地ライン側には同じく外部から供給される低電位VccLが印加されている。
この参考例は電源配線11が単層構造であり、パネル0の入力端子(PAD)からドライブスキャナ5の内部に延設されている。可能な限り電源配線11の幅を広げることで低抵抗化を図っている。しかしながら電源配線11の抵抗成分により、VccHの低下が避けられず、画素間で輝度差が生じるという問題がある。
図5は、図4に示した単層電源配線11の問題点を表した模式図である。前述したように、2個のトランジスタと1個の画素容量で構成した画素回路を駆動するために、駆動線DSにVccHとVccLで切換るパルス状の電源電圧を印加する必要がある。高電位VccHはパッド(PAD)から配線11を通してドライブスキャナ5の出力バッファの電源ラインに接続される。この出力バッファの出力端子が画素アレイ部1側の駆動線DSに接続されている。ここでPADから出力バッファの電源ラインに至るまでの配線抵抗の影響により、PADからの距離が遠い出力バッファ段ほど、電源ラインに印加される電圧VccHが低くなる為、輝度ムラが生じてしまう。例えば図示のようにPADからA点及びB点までの配線抵抗をそれぞれ1Ω、4Ωとし、この電源配線11に100mAの電流が流れたとすると、A点での電圧降下は0.1V、B点での電圧降下は0.4Vとなり、0.3Vの差が生じる。この差により例えばA点に対応した画素行とB点に対応した画素行では10cd/mの輝度差が生じる。また出力バッファの各段の電源ラインに印加される電圧が異なるため、A点とB点で動作点がずれ、高電位VccHとVccLを切換えるタイミングがずれてしまうという問題がある。
図6は、本発明にかかる表示装置の第1実施形態を示す模式的な平面図である。理解を容易にするため、図4に示した参考例と対応する部分には対応する参照番号を付してある。本実施形態は、2個のトランジスタと1個の画素容量Csで発光素子ELを駆動する画素回路に対して、駆動線DSを通じパルス状の電源電圧を出力するドライブスキャナ5のバッファの高電位側電源ラインを、多層配線化してその抵抗値を下げている。図示する様に、このドライブスキャナ5の出力バッファを給電する電源配線は、下層配線11と上層配線12の多層構造となっている。下層配線11と上層配線12は絶縁膜で互いに絶縁されている。互いに絶縁膜で隔てられた下層配線11と上層配線12は本実施形態の場合9個の層間コンタクト13を介して互いに電気的に接続している。下層配線11は図5に示した参考例と同じように、パネル0の外部接続用PADからドライブスキャナ5の内部を通って延設されている。これに対し上層配線12はドライブスキャナ5の上方を覆うように、パネル0の周辺領域に延設されている。
図7は、本発明にかかる表示装置の第2実施形態を示す模式的な平面図である。理解を容易にするため、図6に示した第1実施形態と対応する部分には対応する参照番号を付してある。異なる点は、上層配線12が、中央領域にある画素アレイ部1を囲むように、パネル0の周辺領域全体にわたって延設されていることである。これにより、下層配線11と上層配線12からなる電源配線を一層低抵抗化することが出来る。
図8は、本発明にかかる表示装置の第3実施形態を示す模式的な平面図である。理解を容易にするため、図7に示した第2実施形態と対応する部分には対応する参照番号を付してある。異なる点は、下層配線11と上層配線12を電気的に接続する層間コンタクト13を二箇所に限っていることである。即ち一方の層間コンタクト13は入力PADの近傍に配する一方、他方の層間コンタクト13はPADから最も遠く離れた部位に配されている。このように層間コンタクト13を配することで、パッドに最も近い部分とパッドから遠く離れた部分での抵抗値変化を抑えることが出来る。
図9は、図6に示した第1実施形態の効果を説明するための模式図である。下層配線11のPADからA点及びB点までの配線抵抗値をそれぞれ1Ω、4Ωとする。上層配線12のPADからA点、B点までの配線抵抗値をそれぞれ5Ω、20Ωとする。下層配線11と上層配線12の多層配線からなる電源配線のトータルの抵抗値は、A点とB点でそれぞれ、0.83Ω、3.3Ωとなる。この多層電源配線に100mAの電流が流れたとすると、電源配線が単層の場合には、A点での電圧降下は0.1V、B点での電圧降下は0.4Vとなり、0.3Vの差が生じる。一方、図示のように電源配線を上下2層化した場合、A点での電圧降下は0.083V、B点での電圧降下は0.33Vとなり、0.25Vの差が生じる。よって電圧降下を18%改善することが出来る。
本発明の特徴は、電源電位の入力端PADから最も遠いドライブスキャナ5の出力バッファへの電源配線を多層化し、以ってドライブスキャナ5の出力バッファ各段の電圧降下の差を縮小させる点にある。よって図8に示した第3実施形態のように、入力端PADとこのPADから最も遠いドライブスキャナ5の出力バッファに、層間コンタクト13を設けるようにしても良い。
図10は、図6〜図8に示した本発明の実施形態にかかる画素回路の断面構造を模式的に表しており、画素の製造プロセスを示している。このプロセスは、まずガラスなどの基板(図示せず)の上にトランジスタのゲート電極及びゲート配線(走査線)を金属Moで形成する。その上を2層のゲート絶縁膜SiO/SiNで被覆する。その上にトランジスタの素子領域となる多結晶シリコン薄膜poly‐Siをパタニング形成する。これを層間絶縁膜で被覆した後、その上に1層目の配線を金属Alでパタニング形成する。この金属配線は信号線や電源ラインVccとなるものである。この配線を層間絶縁膜PLNRで被覆した後、その上に発光素子ELのアノード電極ANODEを蒸着などで形成する。その上に発光層となる有機EL材料を蒸着した後、カソード電極CTHODEを形成する。さらにその上に絶縁膜や保護膜を被覆する。
パネルの周辺領域に形成される電源配線は、パネルの中央領域に配される画素アレイ部と同時に作成される。したがって、電源配線は図10で説明した製造プロセス中で作成されることになる。図11は、図10に示した製造プロセスで形成された電源配線を示しており、特に単相構造の場合である。図示する様に、単相構造の電源配線は金属アルミニウムAlで形成されており、図10に示した信号線などと同じプロセスで作成できる。
図12は、本発明にしたがって多層化された電源配線の製造プロセスを示す模式図である。この多層化された電源配線も、図10に示した画素回路側の製造プロセスを利用して同時に形成することが出来る。図示する様に、多層化された電源配線は、下層配線11と上層配線12を層間コンタクト13で接続した構成となっている。下層配線11は信号線などと同じく1層目の金属アルミニウムでパタニングされている。一方上層配線12は層間絶縁膜PLNRの上にパタニングされており、1層目の金属アルミニウムの成膜プロセスと同じ技術で形成することが出来る。上層配線12と下層配線11は層間絶縁膜PLNRに形成した層間コンタクト13で互いに電気的に接続することが可能である。これに代えて上層配線12は図10に示した発光素子のアノードANODE製造プロセスを用いて形成することも出来る。この場合には、上層配線12は例えばアノード電極ANODEと同じく銀で形成することが出来る。
以上説明したように、本発明にかかる表示装置は、基本的に画素アレイ部1とこれを駆動する駆動部の少なくとも一部とがパネル0に形成されている。画素アレイ部1は、行状の走査線WSと列状の信号線SLと両者が交差する部分に配された行列状の画素2とを有する。これに対し駆動部は、走査線WSを介して各画素2を線順次駆動するスキャナ部と、この線順次駆動に合わせて信号線SLに映像信号を供給する信号部とを含む。かかる構成により、画素アレイ部1に映像を表示する。本発明の特徴事項として、画素アレイ部1を駆動するためにパネル0に形成された電源配線の少なくとも一部が上下2層で多層配線化されている。即ち電源配線は下層配線11と上層配線12の多層構造となっている。特に実施形態では、スキャナ部に電源電圧VccHを供給するための電源配線が下層配線11と上層配線12で多層配線化されている。より具体的には、スキャナ部は画素アレイ部1に対して電圧レベルが線順次駆動に合わせてVccHとVccLで切換る電源電圧を供給するドライブスキャナ5を含んでいる。多層配線化された電源配線は、このドライブスキャナ5に対して電源電圧VccHを供給している。
パネル0は、その中央領域に画素アレイ部1が配され、その周辺領域に駆動部が配されている。多層化された電源配線は、その下層配線11が駆動部内に形成されている一方、上層配線12は駆動部の上方で周辺領域に延設されている。この場合、上層配線12と下層配線11は層間絶縁膜で互いに隔てられていると共に、この絶縁膜に形成されたコンタクト13を通じて下層配線11と上層配線12が互いに電気的に導通している。一実施形態ではこのコンタクトホール13はパネル0に形成された電源配線の端子PADの近傍と、このPADから最も遠い部分の二箇所にのみ形成されている。
上述した第1〜第3実施形態は、いずれもドライブスキャナ5を給電する電源配線を上下二層化したものである。このドライブスキャナ5は画素アレイ部1側の駆動線に対してVccHとVccLで切換る電源電圧を供給している。但し本発明はこのようにパスル状の電源電圧を供給するドライブスキャナ5に限られるものではなく、制御信号のみを出力するスキャナに対しても、その電源配線を多層化することで効果が得られる。即ち電源配線を多層化することで配線パタンの幅をその分縮小でき、これにより電源配線のパネル上に占める占有面積を少なく出来る。よって画素アレイ部1の面積を圧迫することなく、電源配線の低抵抗化が可能になる。以下制御信号のみを出力するスキャナに本発明を適用した第4実施形態について説明する。
図13は、第4実施形態にかかる表示装置を示すブロック図である。図示する様に、本表示装置は基本的に画素アレイ部1と、スキャナ部及び信号部を含む駆動部とで構成されている。画素アレイ部1は、行状に配された走査線WS、走査線AZ1、走査線AZ2及び走査線DSと、列状に配された信号線SLと、これらの走査線WS,AZ1,AZ2,DS及び信号線SLに接続した行列状の画素回路2と、各画素回路2の動作に必要な第1電位Vss1,第2電位Vss2及び第3電位Vccを供給する複数の電源線とからなる。信号部は水平セレクタ3からなり、信号線SLに映像信号を供給する。スキャナ部は、ライトスキャナ4、ドライブスキャナ5、第一補正用スキャナ71及び第二補正用スキャナ72からなり、それぞれ走査線WS、走査線DS、走査線AZ1及び走査線AZ2に制御信号を供給して順次行毎に画素回路2を走査する。
画素回路2は、サンプリングトランジスタTr1と、ドライブトランジスタTrdと、第1スイッチングトランジスタTr2と、第2スイッチングトランジスタTr3と、第3スイッチングトランジスタTr4と、画素容量Csと、発光素子ELとを含む。サンプリングトランジスタTr1は、所定のサンプリング期間に走査線WSから供給される制御信号に応じ導通して信号線SLから供給された映像信号の信号電位を画素容量Csにサンプリングする。画素容量Csは、サンプリングされた映像信号の信号電位に応じてドライブトランジスタTrdのゲートGに入力電圧Vgsを印加する。ドライブトランジスタTrdは、入力電圧Vgsに応じた出力電流Idsを発光素子ELに供給する。発光素子ELは、所定の発光期間中ドライブトランジスタTrdから供給される出力電流Idsにより映像信号の信号電位に応じた輝度で発光する。
第1スイッチングトランジスタTr2は、サンプリング期間に先立ち走査線AZ1から供給される制御信号に応じ導通してドライブトランジスタTrdのゲートGを第1電位Vss1に設定する。第2スイッチングトランジスタTr3は、サンプリング期間に先立ち走査線AZ2から供給される制御信号に応じ導通してドライブトランジスタTrdのソースSを第2電位Vss2に設定する。第3スイッチングトランジスタTr4は、サンプリング期間に先立ち走査線DSから供給される制御信号に応じ導通してドライブトランジスタTrdを第3電位Vccに接続し、以ってドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthに相当する電圧を画素容量Csに保持させて閾電圧Vthの影響を補正する。さらにこの第3スイッチングトランジスタTr4は、発光期間に再び走査線DSから供給される制御信号に応じ導通してドライブトランジスタTrdを第3電位Vccに接続して出力電流Idsを発光素子ELに流す。
以上の説明から明らかな様に、本画素回路2は、5個のトランジスタTr1ないしTr4及びTrdと1個の画素容量Csと1個の発光素子ELとで構成されている。トランジスタTr1〜Tr3とTrdはNチャネル型のポリシリコンTFTである。トランジスタTr4のみPチャネル型のポリシリコンTFTである。但し本発明はこれに限られるものではなく、Nチャネル型とPチャネル型のTFTを適宜混在させることが出来る。発光素子ELは例えばアノード及びカソードを備えたダイオード型の有機ELデバイスである。但し本発明はこれに限られるものではなく、発光素子は一般的に電流駆動で発光する全てのデバイスを含む。
図14は、図13に示したドライブスキャナ5の出力バッファを1段分示した模式図である。図示する様に、ドライブスキャナ5の出力バッファは、シフトレジスタSRから出力されるシフト信号に応じ順次制御信号DSを走査線DSに出力する。この出力バッファは多段接続されたインバータからなる。シフトレジスタSR側の入力バッファは所定の接地電位Vssと電源電位Vcc´との間に接続されている。出力側のインバータは電源ラインVccと接地ラインVssとの間に接続されている。この出力側バッファの出力ノードは、対応する制御線DSに接続されている。かかる構成においても、制御信号DSを安定的に出力するため、ドライブスキャナ5の出力段に配された電源配線Vccは可能な限り低抵抗化することが望ましい。単純に低抵抗化を図ると電源配線Vccの幅が広がり、その分画素アレイ部の占有面積を圧迫することになる。そこで本発明にしたがって電源配線Vccを多層化することで、幅寸法は広げなくてすむ。
以下参考のため、図13に示した画素回路2の動作を詳細に説明する。図15は、図13に示した画像表示装置から画素回路2の部分のみを取り出した模式図である。理解を容易にするため、サンプリングトランジスタTr1によってサンプリングされる映像信号の信号電位Vsigや、ドライブトランジスタTrdの入力電圧Vgs及び出力電流Ids、さらには発光素子ELが有する容量成分Coledなどを書き加えてある。以下図15に基づいて、本発明にかかる画素回路2の動作を説明する。
図16は、図15に示した画素回路のタイミングチャートである。図16を参照して、図15に示した本発明にかかる画素回路の動作を具体的に説明する。図16は、時間軸Tに沿って各走査線WS,AZ1,AZ2及びDSに印加される制御信号の波形を表してある。表記を簡略化する為、制御信号も対応する走査線の符号と同じ符号で表してある。トランジスタTr1,Tr2,Tr3はNチャネル型なので、走査線WS,AZ1,AZ2がそれぞれハイレベルの時オンし、ローレベルの時オフする。一方トランジスタTr4はPチャネル型なので、走査線DSがハイレベルの時オフし、ローレベルの時オンする。なおこのタイミングチャートは、各制御信号WS,AZ1,AZ2,DSの波形と共に、ドライブトランジスタTrdのゲートGの電位変化及びソースSの電位変化も表してある。
図16のタイミングチャートではタイミングT1〜T8までを1フィールド(1f)としてある。1フィールドの間に画素アレイの各行が一回順次走査される。タイミングチャートは、1行分の画素に印加される各制御信号WS,AZ1,AZ2,DSの波形を表してある。
当該フィールドが始まる前のタイミングT0で、全ての制御線号WS,AZ1,AZ2,DSがローレベルにある。したがってNチャネル型のトランジスタTr1,Tr2,Tr3はオフ状態にある一方、Pチャネル型のトランジスタTr4のみオン状態である。したがってドライブトランジスタTrdはオン状態のトランジスタTr4を介して電源Vccに接続しているので、所定の入力電圧Vgsに応じて出力電流Idsを発光素子ELに供給している。したがってタイミングT0で発光素子ELは発光している。この時ドライブトランジスタTrdに印加される入力電圧Vgsは、ゲート電位(G)とソース電位(S)の差で表される。
当該フィールドが始まるタイミングT1で、制御信号DSがローレベルからハイレベルに切り替わる。これによりトランジスタTr4がオフし、ドライブトランジスタTrdは電源Vccから切り離されるので、発光が停止し非発光期間に入る。したがってタイミングT1に入ると、全てのトランジスタTr1〜Tr4がオフ状態になる。
タイミングT1のあとタイミングT21で制御信号AZ2が立上り、スイッチングトランジスタTr3がオンする。これにより、ドライブトランジスタTrdのソース(S)は所定の電位Vss2に初期化される。続いてタイミングT22で制御信号AZ1が立ち上がり、スイッチングトランジスタTr2がオンする。これによりドライブトランジスタTrdのゲート電位(G)が所定の電位Vss1に初期化される。この結果、ドライブトランジスタTrdのゲートGが基準電位Vss1に接続し、ソースSが基準電位Vss2に接続される。ここでVss1−Vss2>Vthを満たしており、Vss1−Vss2=Vgs>Vthとする事で、その後タイミングT3で行われるVth補正の準備を行う。換言すると期間T21‐T3は、ドライブトランジスタTrdのリセット期間に相当する。また、発光素子ELの閾電圧をVthELとすると、VthEL>Vss2に設定されている。これにより、発光素子ELにはマイナスバイアスが印加され、いわゆる逆バイアス状態となる。この逆バイアス状態は、後で行うVth補正動作及び移動度補正動作を正常に行うために必要である。
タイミングT3では制御信号AZ2をローレベルにした後、制御信号DSをローレベルにしている。これによりトランジスタTr3がオフする一方トランジスタTr4がオンする。この結果ドレイン電流Idsが画素容量Csに流れ込み、Vth補正動作を開始する。この時ドライブトランジスタTrdのゲートGはVss1に保持されており、ドライブトランジスタTrdがカットオフするまで電流Idsが流れる。カットオフするとドライブトランジスタTrdのソース電位(S)はVss1−Vthとなる。ドレイン電流がカットオフした後のタイミングT4で制御信号DSを再びハイレベルに戻し、スイッチングトランジスタTr4をオフする。さらに制御信号AZ1もローレベルに戻し、スイッチングトランジスタTr2もオフする。この結果、画素容量CsにVthが保持固定される。この様にタイミングT3‐T4はドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthを検出する期間である。ここでは、この検出期間T3‐T4をVth補正期間と呼んでいる。
この様にVth補正を行った後タイミングT5で制御信号WSをハイレベルに切り替え、サンプリングトランジスタTr1をオンして映像信号の信号電位Vsigを画素容量Csに書き込む。発光素子ELの等価容量Coledに比べて画素容量Csは充分に小さい。この結果、映像信号の信号電位Vsigのほとんど大部分が画素容量Csに書き込まれる。正確には、Vss1に対する。Vsigの差分Vsig−Vss1が画素容量Csに書き込まれる。したがってドライブトランジスタTrdのゲートGとソースS間の電圧Vgsは、先に検出保持されたVthと今回サンプリングされたVsig−Vss1を加えたレベル(Vsig−Vss1+Vth)となる。以降説明簡易化の為Vss1=0Vとすると、ゲート/ソース間電圧Vgsは図16のタイミングチャートに示すようにVsig+Vthとなる。かかる映像信号の信号電位Vsigのサンプリングは制御信号WSがローレベルに戻るタイミングT7まで行われる。すなわちタイミングT5‐T7がサンプリング期間に相当する。
サンプリング期間の終了するタイミングT7より前のタイミングT6で制御信号DSがローレベルとなりスイッチングトランジスタTr4がオンする。これによりドライブトランジスタTrdが電源Vccに接続されるので、画素回路は非発光期間から発光期間に進む。この様にサンプリングトランジスタTr1がまだオン状態で且つスイッチングトランジスタTr4がオン状態に入った期間T6‐T7で、ドライブトランジスタTrdの移動度補正を行う。即ち本発明では、サンプリング期間の後部分と発光期間の先頭部分とが重なる期間T6‐T7で移動度補正を行っている。なお、この移動度補正を行う発光期間の先頭では、発光素子ELは実際には逆バイアス状態にあるので発光する事はない。この移動度補正期間T6‐T7では、ドライブトランジスタTrdのゲートGが映像信号の信号電位Vsigのレベルに固定された状態で、ドライブトランジスタTrdにドレイン電流Idsが流れる。ここでVss1−Vth<VthELと設定しておく事で、発光素子ELは逆バイアス状態におかれる為、ダイオード特性ではなく単純な容量特性を示すようになる。よってドライブトランジスタTrdに流れる電流Idsは画素容量Csと発光素子ELの等価容量Coledの両者を結合した容量C=Cs+Coledに書き込まれていく。これによりドライブトランジスタTrdのソース電位(S)は上昇していく。図16のタイミングチャートではこの上昇分をΔVで表してある。この上昇分ΔVは結局画素容量Csに保持されたゲート/ソース間電圧Vgsから差し引かれる事になるので、負帰還をかけた事になる。この様にドライブトランジスタTrdの出力電流Idsを同じくドライブトランジスタTrdの入力電圧Vgsに負帰還する事で、移動度μを補正する事が可能である。なお負帰還量ΔVは移動度補正期間T6‐T7の時間幅tを調整する事で最適化可能である。この目的で制御信号WSの立下りに傾斜が付けられている。
タイミングT7では制御信号WSがローレベルとなりサンプリングトランジスタTr1がオフする。この結果ドライブトランジスタTrdのゲートGは信号線SLから切り離される。映像信号の信号電位Vsigの印加が解除されるので、ドライブトランジスタTrdのゲート電位(G)は上昇可能となり、ソース電位(S)と共に上昇していく。その間画素容量Csに保持されたゲート/ソース間電圧Vgsは(Vsig−ΔV+Vth)の値を維持する。ソース電位(S)の上昇に伴い、発光素子ELの逆バイアス状態は解消されるので、出力電流Idsの流入により発光素子ELは実際に発光を開始する。この時のドレイン電流Ids対ゲート電圧Vgsの関係は、先のトランジスタ特性式1のVgsにVsig−ΔV+Vthを代入する事で、以下の式2のように与えられる。
Ids=kμ(Vgs−Vth)=kμ(Vsig−ΔV)・・・式2
上記式2において、k=(1/2)(W/L)Coxである。この特性式2からVthの項がキャンセルされており、発光素子ELに供給される出力電流IdsはドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthに依存しない事が分かる。基本的にドレイン電流Idsは映像信号の信号電位Vsigによって決まる。換言すると、発光素子ELは映像信号の信号電位Vsigに応じた輝度で発光する事になる。その際Vsigは負帰還量ΔVで補正されている。この補正量ΔVは丁度特性式2の係数部に位置する移動度μの効果を打ち消すように働く。したがって、ドレイン電流Idsは実質的に映像信号の信号電位Vsigのみに依存する事になる。
最後にタイミングT8に至ると制御信号DSがハイレベルとなってスイッチングトランジスタTr4がオフし、発光が終了すると共に当該フィールドが終わる。この後次のフィールドに移って再びVth補正動作、信号電位のサンプリング動作、移動度補正動作及び発光動作が繰り返される事になる。
図17は、移動度補正期間T6‐T7における画素回路2の状態を示す回路図である。図示するように、移動度補正期間T6‐T7では、サンプリングトランジスタTr1及びスイッチングトランジスタTr4がオンしている一方、残りのスイッチングトランジスタTr2及びTr3がオフしている。この状態でドライブトランジスタTr4のソース電位(S)はVss1−Vthである。このソース電位(S)は発光素子ELのアノード電位でもある。前述したようにVss1−Vth<VthELと設定しておく事で、発光素子ELは逆バイアス状態におかれ、ダイオード特性ではなく単純な容量特性を示す事になる。よってドライブトランジスタTrdに流れる電流Idsは画素容量Csと発光素子ELの等価容量Coledとの合成容量C=Cs+Coledに流れ込む事になる。換言すると、ドレイン電流Idsの一部が画素容量Csに負帰還され、移動度の補正が行われる。
図18は上述したトランジスタ特性式2をグラフ化したものであり、縦軸にIdsを取り横軸にVsigを取ってある。このグラフの下方に特性式2も合わせて示してある。図18のグラフは、画素1と画素2を比較した状態で特性カーブを描いてある。画素1のドライブトランジスタの移動度μは相対的に大きい。逆に画素2に含まれるドライブトランジスタの移動度μは相対的に小さい。この様にドライブトランジスタをポリシリコン薄膜トランジスタなどで構成した場合、画素間で移動度μがばらつく事は避けられない。例えば両画素1,2に同レベルの映像信号の信号電位Vsigを書き込んだ場合、何ら移動度の補正を行わないと、移動度μの大きい画素1に流れる出力電流Ids1´は、移動度μの小さい画素2に流れる出力電流Ids2´に比べて大きな差が生じてしまう。この様に移動度μのばらつきに起因して出力電流Idsの間に大きな差が生じるので、スジムラが発生し画面のユニフォーミティを損なう事になる。
そこで本発明では出力電流を入力電圧側に負帰還させる事で移動度のばらつきをキャンセルしている。先のトランジスタ特性式1から明らかなように、移動度が大きいとドレイン電流Idsが大きくなる。したがって負帰還量ΔVは移動度が大きいほど大きくなる。図18のグラフに示すように、移動度μの大きな画素1の負帰還量ΔV1は移動度の小さな画素2の負帰還量ΔV2に比べて大きい。したがって、移動度μが大きいほど負帰還が大きくかかる事となって、ばらつきを抑制する事が可能である。図示するように、移動度μの大きな画素1でΔV1の補正をかけると、出力電流はIds1´からIds1まで大きく下降する。一方移動度μの小さな画素2の補正量ΔV2は小さいので、出力電流Ids2´はIds2までそれ程大きく下降しない。結果的に、Ids1とIds2は略等しくなり、移動度のばらつきがキャンセルされる。この移動度のばらつきのキャンセルは黒レベルから白レベルまでVsigの全範囲で行われるので、画面のユニフォーミティは極めて高くなる。以上をまとめると、移動度の異なる画素1と2があった場合、移動度の大きい画素1の補正量ΔV1は移動度の小さい画素2の補正量ΔV2に対して小さくなる。つまり移動度が大きいほどΔVが大きくIdsの減少値は大きくなる。これにより移動度の異なる画素電流値は均一化され、移動度のばらつきを補正する事ができる。
以下参考の為、上述した移動度補正の数値解析を行う。図17に示したように、トランジスタTr1及びTr4がオンした状態で、ドライブトランジスタTrdのソース電位を変数Vに取って解析を行う。ドライブトランジスタTrdのソース電位(S)をVとすると、ドライブトランジスタTrdを流れるドレイン電流Idsは以下の式3に示す通りである。
Figure 2008058853
またドレイン電流Idsと容量C(=Cs+Coled)の関係により、以下の式4に示す様にIds=dQ/dt=CdV/dtが成り立つ。
Figure 2008058853
式4に式3を代入して両辺積分する。ここで、ソース電圧V初期状態は−Vthであり、移動度ばらつき補正時間(T6‐T7)をtとする。この微分方程式を解くと、移動度補正時間tに対する画素電流が以下の数式5のように与えられる。
Figure 2008058853
本発明にかかる表示装置の全体構成を示すブロック図である。 図1に示した表示装置に含まれる画素回路の構成を示す回路図である。 図2に示した画素回路の動作説明に供するタイミングチャートである。 参考例にかかる表示装置を示す模式的な平面図である。 参考例の動作説明に供する模式的な平面図である。 本発明にかかる表示装置の第1実施形態を示す模式的な平面図である。 同じく第2実施形態を示す模式的な平面図である。 同じく第3実施形態を示す模式的な平面図である。 第1実施形態の動作説明に供する模式的な平面図である。 本発明にかかる表示装置の製造方法の説明に供する断面図である。 同じく本発明にかかる表示装置の製造方法の説明に供する模式図である。 同じく本発明にかかる表示装置の製造方法の説明に供する模式図である。 本発明にかかる表示装置の第4実施形態を示すブロック図である。 第4実施形態の要部を示す一部平面図である。 第4実施形態の動作説明に供する回路図である。 同じく第4実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。 同じく第4実施形態の動作説明に供する回路図である。 同じく第4実施形態の動作説明に供するグラフである。
符号の説明
0・・・パネル、1・・・画素アレイ部、2・・・画素、3・・・水平セレクタ、4・・・ライトスキャナ、5・・・ドライブスキャナ、11・・・下層配線、12・・・上層配線、13・・・層間コンタクト

Claims (6)

  1. 画素アレイ部とこれを駆動する駆動部の少なくとも一部とがパネルに形成されており、
    前記画素アレイ部は、行状の走査線と、列状の信号線と、両者が交差する部分に配された行列状の画素とを有し、
    前記駆動部は該走査線を介して各画素を線順次駆動するスキャナ部と、該線順次駆動に合わせて該信号線に映像信号を供給する信号部とを含み、以って該画素アレイ部に映像を表示する表示装置であって、
    前記画素アレイ部を駆動する為に前記パネルに形成された電源配線の少なくとも一部が、少なくとも上下二層で多層配線化されていることを特徴とする表示装置。
  2. 前記スキャナ部に電源電圧を供給するための電源配線が多層配線化されていることを特徴とする請求項1記載の表示装置。
  3. 前記スキャナ部は、該画素アレイ部に対して電圧レベルが該線順次駆動に合わせて切り換わる電源電圧を供給するドライブスキャナを含んでおり、前記多層配線化された電源配線は該ドライブスキャナに対して電源電圧を供給することを特徴とする請求項2記載の表示装置。
  4. 前記パネルは、その中央領域に該画素アレイ部が配され、その周辺領域に該駆動部が配され、前記電源配線はその下層が該駆動部内に形成され、その上層が該駆動部の上方で周辺領域に延設されていることを特徴とする請求項1記載の表示装置。
  5. 前記上層と下層は絶縁膜で互いに隔てられているとともに該絶縁膜に形成されたコンタクトホールを通じて上層と下層が互いに導通しており、
    前記コンタクトホールは、該パネルに形成された該電源配線の端子の近傍部分と、これから最も遠い部分の二箇所にのみ形成されていることを特徴とする請求項4記載の表示装置。
  6. 画素アレイ部とこれを駆動する駆動部の少なくとも一部とがパネルに形成されており、
    前記画素アレイ部は、行状の走査線と、列状の信号線と、両者が交差する部分に配された行列状の画素とを有し、
    前記駆動部は該走査線を介して各画素を線順次駆動するスキャナ部と、該線順次駆動に合わせて該信号線に映像信号を供給する信号部とを含み、以って該画素アレイ部に映像を表示する表示装置の製造方法であって、
    前記画素アレイ部を駆動する為に前記パネルに電源配線を形成するとともに、
    該電源配線の少なくとも一部を、上下二層で多層配線化することを特徴とする表示装置の製造方法。
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