JP2007327986A - 反射防止積層体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明は、透明基材の少なくとも片面に、少なくとも低屈折率層を積層した反射防止積層体において、該低屈折率層が低屈折率下層と低屈折率上層との2層構造からなることを特徴とする反射防止積層体である。低屈折率下層により反射率を下げ、低屈折率上層により低屈折率下層の表面を平滑化し、耐擦傷性を向上することが可能となる。2層構造にすることにより、低反射率かつ耐擦傷性の向上を両立することが可能となる。また、前記低屈折率下層の屈折率が前記低屈折率上層の屈折率よりも0.03〜0.30低いことを特徴とし、また前記低屈折率下層と前記低屈折率上層との厚み比が、d上層/d下層=0.2〜1.5の範囲にあることを特徴とする反射防止積層体である。
【選択図】 なし
Description
本発明の反射防止積層体は、透明基材の少なくとも片面に、少なくとも低屈折率層を積層してなり、前記低屈折率層は低屈折率下層と低屈折率上層の2層構造からなることを特徴とする。
また、透明基材は上記の有機高分子から選ばれる1種または2種以上の混合物、または重合体からなるものでもよく、複数の層を積層させたものであってもよい。
なお、本発明における表面粗さの算術平均粗さRaの計算は、JIS−B0601の定義に準じ、原子間力顕微鏡などによって測定される微小領域、微小スケールにおける表面粗さのことである。
ATOゾルとシリカバインダーとを、60重量部と40重量部の割合になるように組み合わせて調液し、固形分換算で15%になるように、イソプロピルアルコールで希釈させ、高屈折率層のコーティング剤を作製した。表面にUV硬化樹脂ハードコート(HC)層5μmを設けた、80μm厚のトリアセチルセルロース(TAC)フィルムにマイクログラビア法を用いて、コーティング剤を膜厚200nmで塗布し、120℃オーブンで5分間加熱硬化した。
テトラメトキシシラン溶液と平均粒径60nmの中空シリカゾルとを、53重量部と47重量部の割合になるように組み合わせて混合した。この混合液1molに対して1N塩酸7.5molと固形分換算で15%になるようにイソプロピルアルコールとを加え、1時間撹拌加水分解させて、低屈折率下層コーティング剤を作製した。上述の高屈折率層の上に、マイクログラビア法を用いて、作製した低屈折率下層コーティング剤を膜厚80nmで塗布し、120℃オーブンで5分間加熱硬化した。
テトラメトキシシラン溶液1molにトリデカフチルトリメトキシシラン0.03molを添加し、混合溶液を作製した。この混合溶液1molに対して1N塩酸7.5molと固形分換算で15%になるようにイソプロピルアルコールとを加え、1時間撹拌加水分解させて低屈折率上層コーティング剤を作製した。上述の低屈折率下層の上に、マイクログラビア法を用いて作製した低屈折率上層コーティング剤を膜厚20nmで塗布し、120℃オーブンで5分間加熱硬化した。
実施例1と同様に高屈折率層を作製した。
テトラメトキシシラン溶液と平均粒径60nmの中空シリカゾルとを、53重量部と47重量部の割合になるように組み合わせて混合した。この混合液1molに対して、1N塩酸7.5molと固形分換算で15%になるようにイソプロピルアルコールとを加え、1時間撹拌加水分解させて低屈折率下層コーティング剤を作製した。上述の高屈折率層の上に、マイクログラビア法を用いて作製した低屈折率下層コーティング剤を膜厚60nmで塗布し、120℃オーブンで5分間加熱硬化した。
テトラメトキシシラン溶液1molにトリデカフチルトリメトキシシラン0.03molを添加し、混合溶液を作製した。この混合溶液1molに対して1N塩酸7.5molと固形分換算で15%になるようにイソプロピルアルコールを加え、1時間撹拌加水分解させて低屈折率上層コーティング剤を作製した。上述の低屈折率下層にマイクログラビア法を用いて、作製した低屈折率上層コーティング剤を膜厚40nmで塗布し、120℃オーブンで5分間加熱硬化した。
(高屈折率層の作製)
実施例1と同様に高屈折率層を作製した。
(低屈折率層の作製)
テトラメトキシシラン溶液1molにトリデカフチルトリメトキシシラン0.015molを添加し、混合溶液を作製した。この混合溶液1molに対して1N塩酸7.5mol加えたマトリックスと平均粒径60nmの中空シリカゾルとを60重量部と40重量部の割合になるように組み合わせて調液し、固形分換算で15%になるように、イソプロピルアルコールで希釈させ、1時間撹拌加水分解させて、低屈折率層のコーティング剤を作製した。上述の高屈折率層の上に、マイクログラビア法を用いて作製した低屈折率層のコーティング剤を膜厚100nmで塗布し、120℃オーブンで5分間加熱硬化した。
1.表面粗さ
原子間力顕微鏡AFM(Digital Instruments製、NanoScope)を用い、走査範囲1μmにて測定した。
2.光学特性
・反射率:分光光度計により入射角5度で550nmにおける反射率を測定した。
・ヘイズ値および全光線透過率写像性測定器(日本電色工業(株)製、NDH−2000)を使用して測定した。
3.密着性
塗料一般試験法JIS−K5400のクロスカット密着試験方法に準じて、塗膜の残存数にて評価した。
4.指紋拭き取り性
被膜表面に指紋を付着させ、ティッシュペーパーにて拭き取り性を目視で検査した。評価は、容易に拭き取ることが可能(○)、拭き取ることが可能(△)、拭き取ることができない(×)の3段階とした。
5.耐擦傷試験
スチールウール♯0000を用い、500g/cm2の荷重で10回往復擦傷試験を実施し、目視による傷の外観を検査した。評価は、傷なし(◎)、程度が小さい傷あり(○)、相当傷つく(△)、著しく傷つく(×)の4段階とした。
Claims (7)
- 透明基材の少なくとも片面に、少なくとも低屈折率層を積層した反射防止積層体において、該低屈折率層が低屈折率下層と低屈折率上層との2層構造からなることを特徴とする反射防止積層体。
- 前記低屈折率下層の屈折率が前記低屈折率上層の屈折率よりも0.03〜0.30低いことを特徴とする請求項1に記載の反射防止積層体。
- 前記低屈折率下層と前記低屈折率上層との厚み比が、d上層/d下層=0.2〜1.5の範囲にあることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の反射防止積層体。
- 前記低屈折率上層が粒子を含有しないことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の反射防止積層体。
- 前記低屈折率層において、最表面の平均粗さRaが2.5nm以下であることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の反射防止積層体。
- 請求項1から5のいずれかに記載の反射防止積層体を有することを特徴とする偏光板。
- 請求項1から5のいずれかに記載の反射防止積層体を有することを特徴とするディスプレイ部材。
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