JP2007178337A - 劣化判定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】被測定装置の劣化を早期にかつ適切に判定することが可能な劣化判定装置および劣化判定方法を提供する。
【解決手段】劣化判定装置１００は、電源装置２００の出力を測定する波形測定部１１と、測定結果に基づいて電源装置２００の劣化を判定する判定部１２とを備え、判定部１２は、電源装置２００に電源が投入されてから電源装置２００の出力電圧が所定電圧値に到達するまでの間における電源装置２００の出力電圧値に基づいて電源装置２００の劣化を判定する。
【選択図】図１

Description

本発明は、劣化判定装置および劣化判定方法に関し、特に、電力系統において系統保護リレー電源に使用されている電解コンデンサの劣化判定装置および劣化判定方法に関する。

図１１は、電力を供給する送電線における系統保護リレーを説明する概念図である。
図１１を参照して、発電所１において発電された電力は送電線３を介して電力需要先に対して供給される。送電線３には、ブレーカ２が設けられる。ブレーカ２は、系統保護リレー４により制御され、事故が送電線３のある箇所において発生した場合に、過大な電力供給がなされないように電気的に遮断する。たとえば、落雷によりサージ電圧が送電線３に与えられた場合、ブレーカ２が作動し、過大な電力供給が遮断される。これにより、送電線３と接続されている電気設備の損壊を防止している。なお、本例においては、代表的に１つのブレーカ２が示されている。

ここで、系統保護リレー４は、送電線３に供給される電流／電圧を検知する電流／電圧検知器５からの指示を受けて、過大なサージ電圧が供給されているかどうかを判定する。系統保護リレー４は、過大な電力が供給されていると判定した場合には、ブレーカ２に対して遮断指令を出す。

一方、電力自由化の流れの中、設備機器の有効利用ならびに保守および点検の効率化が求められている。たとえば、設備機器などに用いられる直流安定化電源は、設備機器等の信頼性を左右する重要な要素である。このような直流安定化電源に変動または異常が生じた場合には、設備機器全体の機能に大きな影響を与える。

たとえば、図１１に示される系統保護リレー４に用いられる電源装置が経年変化等により異常となる場合には、ブレーカ２に適切な遮断指令を出すことができなくなり、送電線３と接続された電気設備に多大な損害を与えることにもなりかねない。

一般的に、電源装置には電解コンデンサが用いられており、この電解コンデンサの容量値が経年変化により劣化することが電源異常の原因となっている。

それゆえ、図１１に示される系統保護リレー４に用いられる電解コンデンサに起因する事故障害を未然に防止するため電源装置の改修が一般的に行なわれている。

従来においては、この電解コンデンサの良否および劣化進行度合いを監視する方法が種々提案されており、たとえば特許文献１においては、図１２に示されるように電解コンデンサの出力電圧波形に現われる交流電圧値すなわちリップル電圧を計測することにより、電解コンデンサの寿命を判別する方法が提案されている。

また、特許文献２には以下のような系統保護リレー電源の劣化診断方法が開示されている。すなわち、電解コンデンサを有する系統保護リレーの電源装置に電源を投入するステップと、電源投入後、電源装置からの出力電圧が所定の電圧レベルに到達するまでの時刻を計測するステップと、計測結果に基づいて、系統保護リレー電源の劣化状況を診断するステップとを備える。
特開平９−２６４９１３号公報 特開２００５−３２１２０３号公報

図１３は、電解コンデンサの容量とリップル電圧との関係を説明するグラフ図である。
図１３に示されるように、リップル電圧はある一定の値から急激に変化することがわかる。具体的には、図１３に示されるように規格値に対する電解コンデンサの容量の割合が３０％未満になってからリップル電圧が急激に増加していることがわかる。すなわち、電解コンデンサは、寿命末期においては特性変化と電解液量との関係が線形ではなくある点から急激に変化する特性を有する。

したがって、特許文献１記載の電解コンデンサの寿命を判別する方法においては、リップル電圧の計測に基づいて電解コンデンサの寿命を判別するため、電解コンデンサの寿命が末期である状態しか判別することができない。すなわち、コンデンサの寿命が末期となる前にある程度、電解コンデンサの寿命を把握することが難しいため系統保護リレーの保守および点検という観点からすれば好ましくない方法である。

また、特許文献２記載の系統保護リレー電源の劣化診断方法においては、被測定装置である電源装置の出力が所定の電圧レベルに到達するまでの時間に異常がなければ、電源装置の出力に異常がある場合でも電源装置の劣化として検出することができない。

それゆえに、本発明の目的は、被測定装置の劣化を早期にかつ適切に判定することが可能な劣化判定装置および劣化判定方法を提供することである。

上記課題を解決するために、この発明のある局面に係わる劣化判定装置は、被測定装置の出力を測定する測定部と、測定結果に基づいて被測定装置の劣化を判定する判定部とを備え、判定部は、被測定装置に電源が投入されてから被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達するまでの間における被測定装置の出力電圧値に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

好ましくは、判定部は、被測定装置が備えるコンデンサの劣化を判定する。
好ましくは、判定部は、さらに、被測定装置に電源が投入されてから被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達するまでの時間に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

好ましくは、判定部は、さらに、被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達してから所定時間経過した後の被測定装置の出力電圧値に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

好ましくは、判定部は、さらに、被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達した後の所定期間における被測定装置の出力電圧の最大値および最小値に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

上記課題を解決するために、この発明のある局面に係わる劣化判定方法は、被測定装置の出力を測定するステップと、測定結果に基づいて被測定装置の劣化を判定する判定ステップとを備え、判定ステップにおいては、被測定装置に電源が投入されてから被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達するまでの間における被測定装置の出力電圧値に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

好ましくは、判定ステップにおいては、被測定装置が備えるコンデンサの劣化を判定する。

好ましくは、判定ステップにおいては、さらに、被測定装置に電源が投入されてから被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達するまでの時間に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

好ましくは、判定ステップにおいては、さらに、被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達してから所定時間経過した後の被測定装置の出力電圧値に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

好ましくは、判定ステップにおいては、さらに、被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達した後の所定期間における被測定装置の出力電圧の最大値および最小値に基づいて被測定装置の劣化を判定する。

本発明によれば、被測定装置の劣化を早期にかつ適切に判定することができる。

以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。

図１は、本発明の実施の形態に係る劣化判定装置の構成を示す機能ブロック図である。
同図を参照して、劣化判定装置１００は、波形測定部１１と、判定部１２と、表示部１３とを備える。

波形測定部１１は、被測定装置である電源装置２００の出力波形を測定する。判定部１２は、波形測定部１１から受けた測定結果に基づいて電源装置２００の劣化を判定する。表示部１３は、判定部１２から受けた判定結果を表示する。

図２は、電源装置２００の構成を示す機能ブロック図である。
同図を参照して、電源装置２００は、入力電圧検出回路５１と、突入電流保護回路５２と、スイッチングレギュレータ回路５３と、制御回路５４と、変成器５５と、整流回路５６Ｐと、整流回路５６Ｎと、出力平滑回路５７Ｐと、出力平滑回路５７Ｎとを備える。入力電圧検出回路５１は、コンデンサＣ１を含む。スイッチングレギュレータ回路５３は、コンデンサＣ２を含む。制御回路５４は、コンデンサＣ３を含む。出力平滑回路５７Ｐは、コンデンサＣ４を含む。出力平滑回路５７Ｎは、コンデンサＣ５を含む。

入力電圧検出回路５１は、外部から入力される直流電圧を検出する。突入電流保護回路５２は、外部からの突入電流が後段の回路に流れることを防ぐ。

スイッチングレギュレータ回路５３は、突入電流保護回路５２から受けた直流電圧を交流電圧に変換する。ここで、スイッチングレギュレータ回路５３はスイッチング素子を含み、制御回路５４から受けた制御信号に基づいてスイッチング素子のオン状態およびオフ状態を切り替えることにより、交流電圧の電圧値等を調整する。

変成器５５は、スイッチングレギュレータ回路５３から交流電圧を受けて、整流回路５６Ｐおよび整流回路５６Ｎに交流電圧を出力する。

整流回路５６Ｐおよび整流回路５６Ｎは、変成器５５から受けた交流電圧をそれぞれ所定の電圧値の直流電圧に変換する。

出力平滑回路５７Ｐおよび出力平滑回路５７Ｎは、整流回路５６Ｐおよび整流回路５６Ｎから受けた直流電圧に含まれる高周波成分をそれぞれ減衰させ、減衰後の直流電圧を外部へ出力する。

制御回路５４は、出力平滑回路５７Ｐまたは出力平滑回路５７Ｎを通過した直流電圧に基づいて制御信号をスイッチングレギュレータ回路５３へ出力する。

次に、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作について説明する。

［判定方法１］
図３は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。Ａ１〜Ａ３で示す実線は、劣化が生じている場合の電源装置２００の出力波形である。Ｂで示す破線は、基準波形、すなわち劣化が生じていない場合の電源装置２００の出力波形である。

ここで、劣化しているコンデンサを充電すると、コンデンサの両端電圧がある電圧値を超えた時点で上昇が緩やかになり、コンデンサの定格電圧に到達するまでの時間が良品のコンデンサよりも長くなる。したがって、スイッチングレギュレータ回路５３、出力平滑回路５７Ｐ、または出力平滑回路５７Ｎが含むコンデンサが劣化している場合には、Ａ１のように出力波形の立ち上がりが緩やかになる場合が多い。また、制御回路５４が含むコンデンサＣ３が劣化している場合には、制御回路５４のスイッチングレギュレータ回路５３に対する制御が誤動作するかまたは制御に遅れが生じるため、Ａ３のように出力波形が上下に波打つか、またはＡ１のように出力波形の立ち上がりが緩やかになる場合が多い。さらに、コンデンサの劣化がさらに進行すると、電源装置２００の出力が目標電圧値に到達しない場合もある。

図４は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。

図３および図４を参照して、まず、判定部１２は、予め記憶している基準波形を用いて、時刻ｔ１、ｔ２およびｔ３における電圧値の中から最小値を検出し、検出した最小値を基準波形の目標電圧とする（ステップＳ１）。ここで、時刻ｔ１、ｔ２およびｔ３は、電源装置２００に電源を投入してから十分に時間が経過し、電源装置２００の出力が安定した後の時刻である。

そして、判定部１２は、基準波形の電圧値がたとえば０．０５Ｖ以上となった時刻Ｔａから目標電圧に到達する時刻Ｔｂまでの期間を基準波形の立ち上がり期間とする（ステップＳ２）。すなわち、基準波形の立ち上がり期間はＴｂ−Ｔａで表わされる。

電源装置２００に電源が投入されると、判定部１２は、電源装置２００の出力電圧が０．０５Ｖ以上となってからＴｂ−Ｔａだけ経過するまでの間、０．５ｍｓごとに電源装置２００の出力波形と基準波形とを比較する（ステップＳ３）。

判定部１２は、すべての比較時刻において電源装置２００の出力波形と基準波形との電圧差が基準波形の電圧値に対して±２０％を超えない場合には（ステップＳ４でＹＥＳ）、電源装置２００は正常であると判定する（ステップＳ５）。一方、判定部１２は、各比較時刻のうちのいずれかにおいて電源装置２００の出力波形と基準波形との電圧差が基準波形の電圧値に対して±２０％を超える場合には（ステップＳ４でＮＯ）、電源装置２００に劣化が生じていると判定する（ステップＳ６）。

したがって、比較部２は、図３に示すＡ１のような出力波形の場合に、電源装置２００に劣化が生じていると判定することができるとともに、基準波形と同様に時刻Ｔｂにおいて目標電圧に到達するＡ２およびＡ３のような出力波形の場合、すなわち電源装置２００の出力が目標電圧に到達するまでの時刻に異常がない場合でも、電源装置２００の劣化を適切に判定することができる。

なお、比較部２は、時刻Ｔａから時刻Ｔｂまでのすべての比較時刻において電源装置２００の出力波形と基準波形との電圧差が基準波形の電圧値に対して±２０％を超えない場合であっても、Ａ３のように出力波形が上下に波打つ場合には、電源装置２００の出力波形と基準波形との電圧差が時間の経過とともに大きくならないことを検出して、電源装置２００に劣化が生じていると判定する構成とすることも可能である。

次に、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の他の動作例について説明する。

［判定方法２］
図５は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。Ａ４で示す実線は、劣化が生じている場合の電源装置２００の出力波形である。ここで、Ａ４は、判定方法１では電源装置２００の劣化を判定することができない波形、すなわち、電圧値が０．０５Ｖ以上となってからＴｂ−Ｔａだけ経過するまでの間、電源装置２００の出力波形と基準波形との電圧差が基準波形の電圧値に対して±２０％を超えない波形であると仮定して説明する。図の他の見方は図３と同様であるため、ここでは説明を繰り返さない。

図６は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。

同図を参照して、ステップＳ１１およびステップＳ１２は、図４のステップＳ１およびステップＳ２と同様であるため、ここでは説明を繰り返さない。

電源装置２００に電源が投入されると、判定部１２は、電源装置２００の立ち上がり期間、すなわち電源装置２００の出力電圧が０．０５Ｖ以上となってから基準波形の目標電圧値に到達するまでの時間を計測する（ステップＳ１３）。

判定部１２は、計測した時間が、基準波形の立ち上がり期間すなわちＴｂ−Ｔａに対して±２０％を超えない場合には（ステップＳ１４でＮＯ）、電源装置２００は正常であると判定する（ステップＳ１６）。

一方、判定部１２は、計測した時間が、基準波形の立ち上がり期間すなわちＴｂ−Ｔａに対して±２０％を超える場合であって（ステップＳ１４でＹＥＳ）、寿命想定時間を超えない場合には（ステップＳ１５でＮＯ）、電源装置２００に劣化が生じていると判定する（ステップＳ１７）。

さらに、判定部１２は、計測した時間が、基準波形の立ち上がり期間すなわちＴｂ−Ｔａに対して±２０％を超える場合であって（ステップＳ１４でＹＥＳ）、寿命想定時間を超える場合には（ステップＳ１５でＹＥＳ）、電源装置２００が寿命である、たとえば電源装置２００が備えるコンデンサが寿命であると判定する（ステップＳ１８）。

ここで、寿命想定時間は、たとえば、電源装置２００が備えるコンデンサが良品コンデンサに対して３０倍の抵抗値を持つ場合において、電源装置２００の出力電圧が０．０５Ｖ以上となってから基準波形の目標電圧値に到達するまでの時間である。

したがって、比較部２は、判定方法１では電源装置２００の劣化を判定することができない波形Ａ４についても、電源装置２００の劣化を適切に判定することができる。

また、判定方法２では、電源装置２００の劣化の一種である寿命を判定する構成により、電源装置の改修を効率的に行なうことができる。すなわち、電源装置２００が寿命である場合には事故障害が起こる可能性が高いため迅速に電源装置２００の改修を行ない、また、電源装置２００に寿命がきていない場合には緊急性が低いため、たとえば年４回等の所定の時期に電源装置２００の改修を行なえばよい。

次に、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の他の動作例について説明する。

［判定方法３］
図７は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。Ａ５で示す実線は、劣化が生じている場合の電源装置２００の出力波形である。ここで、Ａ５は、判定方法１では電源装置２００の劣化を判定することができない波形であると仮定して説明する。図の他の見方は図３と同様であるため、ここでは説明を繰り返さない。

図８は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。

同図を参照して、電源装置２００に電源が投入されると、判定部１２は、時刻ｔ１、ｔ２およびｔ３における電源装置２００の出力電圧の平均値を算出し、算出した平均値を電源装置２００の定格電圧とする（ステップＳ２１）。ここで、時刻ｔ１、ｔ２およびｔ３は、電源装置２００に電源を投入してから十分に時間が経過し、電源装置２００の出力が安定した後の時刻である。

そして、判定部１２は、算出した定格電圧が、基準波形の定格電圧に対して所定範囲Ｚ内である場合には（ステップＳ２２でＹＥＳ）、電源装置２００は正常であると判定する（ステップＳ２３）。ここで、基準波形の定格電圧とは、たとえば図７に示す基準波形の目標電圧である。

一方、判定部１２は、算出した定格電圧が、基準波形の定格電圧に対して所定範囲Ｚ外である場合には（ステップＳ２２でＮＯ）、電源装置２００の定格電圧に異常があるため、電源装置２００に劣化が生じていると判定する（ステップＳ２４）。

ここで、図７に示すＡ５のように電源装置２００の定格電圧が基準波形の定格電圧に到達しない原因としては、たとえば、制御回路５４が含むコンデンサＣ３が劣化していて、制御回路５４のスイッチングレギュレータ回路５３に対する制御に遅れが生じていることが考えられる。

したがって、比較部２は、判定方法１では電源装置２００の劣化を判定することができない波形Ａ５についても、電源装置２００の劣化を適切に判定することができる。

次に、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の他の動作例について説明する。

［判定方法４］
図９は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。Ａ６で示す実線は、劣化が生じている場合の電源装置２００の出力波形である。ここでは、電源装置２００の出力にリップル波形が生じている。ここで、Ａ６は、判定方法１では電源装置２００の劣化を判定することができない波形であると仮定して説明する。図の他の見方は図３と同様であるため、ここでは説明を繰り返さない。

図１０は、劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。

同図を参照して、電源装置２００に電源が投入されると、判定部１２は、電源装置２００の出力電圧の時刻ｔ１からｔ３までの期間における最大値および最小値を算出する（ステップＳ３１）。たとえば、判定部１２は、電源装置２００の出力のサンプリング周期を２５マイクロ秒に設定し、２５マイクロ秒前の電圧値と今回サンプリングした電圧値とを比較して、電圧値の増加および減少を検出することにより出力波形の最大値および最小値を算出する。

ここで、算出した最大値および最小値は、図９においてＲ１で示すような振幅が最大となる正弦波の最大値および最小値となる場合が多い。また、時刻ｔ１、ｔ２およびｔ３は、電源装置２００に電源を投入してから十分に時間が経過し、電源装置２００の出力が安定した後の時刻である。

次に、判定部１２は、算出した最大値および最小値の差が所定値を超える場合には（ステップＳ３２でＮＯ）、電源装置２００が寿命であると判定する（ステップＳ３６）。

一方、判定部１２は、算出した最大値および最小値の差が所定値を超えない場合には（ステップＳ３２でＹＥＳ）、時刻ｔ１からｔ３までの期間における電源装置２００である出力波形の各正弦波の最大値および最小値、つまり正弦波の山および谷の電圧値を算出する。そして、判定部１２は、時刻ｔ１〜ｔ３における各正弦波の最大値の平均値、および最小値の平均値を算出する（ステップＳ３３）。

判定部１２は、算出した最大値の平均値および最小値の平均値の差が所定値を超える場合には（ステップＳ３４でＮＯ）、電源装置２００が寿命であると判定する（ステップＳ３６）。

一方、判定部１２は、算出した最大値の平均値および最小値の平均値の差が所定値を超えない場合には（ステップＳ３４でＹＥＳ）、電源装置２００は正常であると判定する（ステップＳ３５）。

ここで、図９に示すＡ６のように電源装置２００の出力にリップル波形が生じる原因としては、たとえば、出力平滑回路５７Ｐが含むコンデンサＣ４および出力平滑回路５７Ｎが含むコンデンサＣ５の少なくともいずれか一方が劣化していて、整流回路から受けた直流電圧の平滑化が十分に行なわれていないことが考えられる。

したがって、比較部２は、判定方法１では電源装置２００の劣化を判定することができない波形Ａ６についても、電源装置２００の劣化を適切に判定することができる。

ところで、特許文献１記載の電解コンデンサの寿命を判別する方法では、コンデンサの寿命が末期となる前にある程度、電解コンデンサの寿命を把握することが難しいという問題点があった。また、特許文献２記載の系統保護リレー電源の劣化診断方法では、電源装置の出力が所定の電圧レベルに到達するまでの時間に異常がなければ、電源装置の出力に異常がある場合でも電源装置の劣化として検出することができないという問題点があった。

しかしながら、本発明の実施の形態に係る劣化判定装置では、判定方法１において、電源装置２００に電源が投入された後、電源装置２００の出力電圧が０．０５Ｖ以上となってから基準波形の立ち上がり期間だけ経過するまでの間、０．５ｍｓごとに電源装置２００の出力波形と基準波形とを比較し、比較結果に基づいて電源装置２００の劣化を判定する。したがって、本発明の実施の形態に係る劣化判定装置では、電源装置２００の立ち上がり期間において電源装置２００の劣化を判定することができ、また、電源装置２００の出力が所定の電圧レベルに到達するまでの時間が正常である場合でも電源装置２００の劣化を検出することができる。

また、本発明の実施の形態に係る劣化判定装置では、判定方法１に、判定方法２〜４を適宜組み合わせて電源装置２００の劣化判定を行なうことにより、電源装置２００の劣化を総合的に判断することができ、より適切な劣化判定を行なうことができる。

また、本発明の実施の形態に係る劣化判定装置では、判定方法１において、電源装置２００に電源が投入された後、電源装置２００の出力電圧が０．０５Ｖ以上となってから基準波形の立ち上がり期間だけ経過するまでの間における電源装置２００の出力電圧値に基づいて電源装置２００の劣化を判定する構成としたが、これに限定するものではない。電源装置２００に電源が投入された後、電源装置２００の出力が所定電圧値、たとえば基準波形の目標電圧値に到達するまでの間における電源装置２００の出力電圧値に基づいて電源装置２００の劣化を判定する構成とすることができる。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

本発明の実施の形態に係る劣化判定装置の構成を示す機能ブロック図である。 電源装置２００の構成を示す機能ブロック図である。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すグラフ図である。 劣化判定装置１００が電源装置２００の劣化を判定する際の動作を示すフローチャートである。 電力を供給する送電線における系統保護リレーを説明する概念図である。 電解コンデンサの出力電圧波形に現われる交流電圧値を説明するグラフ図である。 電解コンデンサの容量とリップル電圧との関係を説明するグラフ図である。

符号の説明

１ 発電所、２ ブレーカ、３ 送電線、４ 系統保護リレー、５ 電流／電圧検知器、１１ 波形測定部、１２ 判定部、１３ 表示部、５１ 入力電圧検出回路、５２ 突入電流保護回路、５３ スイッチングレギュレータ回路、５４ 制御回路、５５ 変成器、５６Ｐ，５６Ｎ 整流回路、５７Ｐ，５７Ｎ 出力平滑回路、Ｃ１〜Ｃ５ コンデンサ、１００ 劣化判定装置、２００ 電源装置。

Claims (10)

1. 被測定装置の出力を測定する測定部と、
   前記測定結果に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する判定部とを備え、
   前記判定部は、前記被測定装置に電源が投入されてから前記被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達するまでの間における前記被測定装置の出力電圧値に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する劣化判定装置。
2. 前記判定部は、前記被測定装置が備えるコンデンサの劣化を判定する請求項１記載の劣化判定装置。
3. 前記判定部は、さらに、前記被測定装置に電源が投入されてから前記被測定装置の出力電圧が前記所定電圧値に到達するまでの時間に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する請求項１記載の劣化判定装置。
4. 前記判定部は、さらに、前記被測定装置の出力電圧が前記所定電圧値に到達してから所定時間経過した後の前記被測定装置の出力電圧値に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する請求項１記載の劣化判定装置。
5. 前記判定部は、さらに、前記被測定装置の出力電圧が前記所定電圧値に到達した後の所定期間における前記被測定装置の出力電圧の最大値および最小値に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する請求項１記載の劣化判定装置。
6. 被測定装置の出力を測定するステップと、
   前記測定結果に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する判定ステップとを備え、
   前記判定ステップにおいては、前記被測定装置に電源が投入されてから前記被測定装置の出力電圧が所定電圧値に到達するまでの間における前記被測定装置の出力電圧値に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する劣化判定方法。
7. 前記判定ステップにおいては、前記被測定装置が備えるコンデンサの劣化を判定する請求項６記載の劣化判定方法。
8. 前記判定ステップにおいては、さらに、前記被測定装置に電源が投入されてから前記被測定装置の出力電圧が前記所定電圧値に到達するまでの時間に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する請求項６記載の劣化判定方法。
9. 前記判定ステップにおいては、さらに、前記被測定装置の出力電圧が前記所定電圧値に到達してから所定時間経過した後の前記被測定装置の出力電圧値に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する請求項６記載の劣化判定方法。
10. 前記判定ステップにおいては、さらに、前記被測定装置の出力電圧が前記所定電圧値に到達した後の所定期間における前記被測定装置の出力電圧の最大値および最小値に基づいて前記被測定装置の劣化を判定する請求項６記載の劣化判定方法。

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