JP2006502516A - カスコードセンス増幅器及び列選択回路及び動作方法。 - Google Patents
カスコードセンス増幅器及び列選択回路及び動作方法。 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006502516A JP2006502516A JP2003550229A JP2003550229A JP2006502516A JP 2006502516 A JP2006502516 A JP 2006502516A JP 2003550229 A JP2003550229 A JP 2003550229A JP 2003550229 A JP2003550229 A JP 2003550229A JP 2006502516 A JP2006502516 A JP 2006502516A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- amplifier
- current electrode
- data path
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims abstract description 48
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 30
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/419—Read-write [R-W] circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/065—Differential amplifiers of latching type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/002—Isolation gates, i.e. gates coupling bit lines to the sense amplifier
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
Description
図の要素は、説明を簡単に又明確にするために示し、必ずしも縮尺通りに描かれていない。例えば、図の要素の寸法には、本発明による実施形態の理解促進の一助となるように
、他の要素に対して誇張しているものがある。
ンジスタ34及び38は、それぞれノード33及び35上の信号を増幅する。ノード33及び35の共通モードレベルが充分低い時、交差接続されたPチャンネルトランジスタ32及び36は、差動モードで増幅し始め、更に、ノード33及び35における増幅に寄与し、又、出力及び出力バーと名付けた出力部をそれぞれ形成するノード33及び35における最大電源電圧線路レベルを保証する。正論理の信号SEをアサートするタイミングは、適切な差動信号が、データ線対DL及びDLバー上に現れ、また、それによって、それぞれトランジスタパスゲート30及び31の導電性によってノード33及び35上に現れた後でなければならない。
ンネルトランジスタパスゲート72は、相補データ線DLバーに接続する第1端子、センスイネーブル信号SEに接続する制御端子、及びノード62に接続する第2端子を有する。
4は、供給電圧Vccを受けるための電源端子に接続するソース、トランジスタ84のゲート及びノード82に接続するゲート、並びに相補データ線DLバーに接続するソースを有する。Pチャンネルトランジスタ91は、供給電圧Vccを受けるための電源端子に接続するソース、列選択信号に接続するゲート、及びノード82に接続するドレインを有する。Pチャンネルトランジスタ95は、供給電圧Vccを受けるための電源端子に接続するソース、列選択信号に接続するゲート、及びノード86に接続するドレインを有する。Nチャンネルトランジスタ96は、データ線DLに接続するドレイン、相補データ線DLバーに接続するゲート、及び接地端子に接続するソースを有する。Nチャンネルトランジスタ98は、相補データ線DLバーに接続するドレイン、データ線DLに接続するゲート、及び接地端子に接続するソースを有する。
示を不明瞭化又は混乱させないために、上述したように必要と思われる以上に広い範囲に渡って説明しない。
Claims (9)
- センス増幅器であって、
差動データ信号を受信するためのデータ経路及び相補データ経路にそれぞれ接続する第1及び第2の入力部を有するパストランジスタ対であって、同パストランジスタ対は、センスイネーブル信号に応答して、その第1及び第2の出力部で前記データ経路及び前記相補データ経路をそれぞれ接続し、前記パストランジスタ対の第1及び第2の入力部は、前記パストランジスタ対が前記センスイネーブル信号によってディスエーブル状態になった時、その第1及び第2の出力部と電気的に同じではない前記パストランジスタ対と、
前記パストランジスタ対の第1の出力部に接続する第1の入力部、前記パストランジスタ対の第2の出力部に接続する第2の入力部、及び相補型のセンス増幅器データ信号を供給するための第1及び第2の出力部、を有する増幅器であって、前記増幅器は、前記センスイネーブル信号によって制御され、又、前記パストランジスタ対が、前記センスイネーブル信号によって非導通状態になった時のみ動作状態になる前記増幅器と、
を備えるセンス増幅器。 - 請求項1に記載のセンス増幅器であって、更に、前記増幅器は、
第1の電源端子に接続する第1の電流電極、前記増幅器の第1の入力部に接続する制御電極、及び前記増幅器の第2の入力部に接続する第2の電極、を有する第1の導電型の第1のトランジスタと、
同第1のトランジスタの第2電流電極に接続する第1の電流電極、前記増幅器の第1の入力部に接続する制御電極、及び第2の電流電極、を有する第2の導電型の第2のトランジスタと、
第1の電源端子に接続する第1の電流電極、前記増幅器の第2の入力部に接続する制御電極、及び第2電流電極、を有する第1の導電型の第3のトランジスタと、
前記増幅器の第1の入力部に接続する第1の電流電極、前記増幅器の第2の入力部に接続する電流電極、及び第2のトランジスタの第2の電流電極に接続する第2の電流電極、を有する第2の導通型の第4のトランジスタと、
第2のトランジスタの第2の電流電極及び第4のトランジスタの第2の電流電極に接続する第1電流電極、センスイネーブル信号を受信するための制御電極、及び第2の電源端子に接続する第2の電流電極、を有する第2の導通型の第5のトランジスタと、
を備えるセンス増幅器。 - 請求項1に記載のセンス増幅器であって、更に、前記増幅器には、
データ経路に接続する第1の電流電極、第1の出力部に接続する第2の電流電極、及び第2の出力部に接続する制御電極、を有する第1の導通型の第1のトランジスタと、
第1のトランジスタの第2の電流電極に接続する第1の電流電極、第2の電流電極、及び第1トランジスタの制御電極に接続する制御電極、を有する第2の導通型の第2のトランジスタと、
相補データ経路に接続する第1の電流電極、第2の出力部に接続する第2の電流電極、及び第1の出力部に接続する制御電極、を有する第1の導通型の第の3トランジスタと、
第3のトランジスタの第2の電流電極に接続する第1の電流電極、第2のトランジスタの第2の電流電極に接続する第2電流電極、及び第1の出力部に接続する制御電極、を有する第2の導通型の第4のトランジスタと、
第2のトランジスタと第4トランジスタの双方の第2の電流電極に接続する第1の電流電極、センスイネーブル信号を受信するための制御電極、及び電源端子に接続する第2の電流電極、を有する第2の導通型の第5のトランジスタと、
を備えるセンス増幅器。 - 更に、複数のトランジスタパスゲート対であって、同複数のトランジスタパスゲート対は
、各々、メモリの所定のビット線と相補ビット線対にそれぞれ接続する第1及び第2の入力部、並びにメモリデータ経路及び相補メモリデータ経路にそれぞれ接続する第1及び第2の出力部、を有する前記複数のトランジスタパスゲート対を備える請求項1に記載のセンス増幅器。 - 前記複数のトランジスタパスゲート対は、メモリの列の数に等しい請求項4に記載のセンス増幅器。
- 前記データ経路はメモリビット線である請求項1に記載のセンス増幅器。
- 前記データ経路はメモリデータ線である請求項1に記載のセンス増幅器。
- 第1のデータ経路に接続する第1の入力部、第1の相補データ経路に接続する第2の入力部、第2のデータ経路に接続する出力部、及び第2の相補データ経路に接続する相補出力部、を有するカスコード段と、
第2のデータ経路及び第2の相補データ経路に接続する第1の電流電極対、制御電極、及び第3のデータ経路及び第3の相補データ経路に接続する第2の電流電極対、を有する結合器と、
第3のデータ経路に接続する第1の入力部、第3の相補データ経路に接続する第2の入力部、第3のデータ経路に接続する制御入力部、及び第3の相補データ経路に接続する相補制御入力部を有するラッチと、
を備えるセンス増幅器。 - 入力導線対上の差動信号を検出する方法であって、
前記差動信号を受信する工程と、
センスイネーブル信号に応答して、第1の出力部及び第2の出力部に前記入力導線対を接続するためにパストランジスタ対を用いる工程であって、同パストランジスタ対の第1のパストランジスタは、前記差動信号の第1の信号に接続する入力部を有し、同イネーブル信号に応答して、第1の出力部に第1の信号を電気的に接続し、又、前記パストランジスタ対の第2のパストランジスタは、前記差動信号の第2の信号に接続する入力部を有し、前記センスイネーブル信号に応答して、第2の出力部に第2の信号を電気的に接続することと、
増幅器の第1の入力部を第1の出力部に接続し、前記増幅器の第2の入力部を第2の出力部に接続し、又、前記増幅器の第1及び第2の出力部をデータ線導線対に接続する工程であって、前記増幅器は、前記センスイネーブル信号によって制御され、又、前記パストランジスタ対が前記センスイネーブル信号によって非導通状態にされた時のみ動作状態になることと、
からなる方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/997,330 US6473349B1 (en) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | Cascode sense AMP and column select circuit and method of operation |
PCT/US2002/036388 WO2003049119A2 (en) | 2001-11-29 | 2002-11-13 | Cascode sense amp and column select circuit and method of operation |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006502516A true JP2006502516A (ja) | 2006-01-19 |
JP2006502516A5 JP2006502516A5 (ja) | 2006-03-02 |
JP4200101B2 JP4200101B2 (ja) | 2008-12-24 |
Family
ID=25543889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003550229A Expired - Fee Related JP4200101B2 (ja) | 2001-11-29 | 2002-11-13 | カスコードセンス増幅器及び列選択回路及び動作方法。 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6473349B1 (ja) |
EP (1) | EP1554731A2 (ja) |
JP (1) | JP4200101B2 (ja) |
KR (1) | KR20040073444A (ja) |
CN (1) | CN100423126C (ja) |
AU (1) | AU2002365765A1 (ja) |
TW (1) | TWI257628B (ja) |
WO (1) | WO2003049119A2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6946882B2 (en) * | 2002-12-20 | 2005-09-20 | Infineon Technologies Ag | Current sense amplifier |
US7433253B2 (en) * | 2002-12-20 | 2008-10-07 | Qimonda Ag | Integrated circuit, method of operating an integrated circuit, method of manufacturing an integrated circuit, memory module, stackable memory module |
US7251178B2 (en) * | 2004-09-07 | 2007-07-31 | Infineon Technologies Ag | Current sense amplifier |
US7075842B2 (en) * | 2004-02-13 | 2006-07-11 | Fujitsu Limited | Differential current-mode sensing methods and apparatuses for memories |
US7477551B2 (en) * | 2006-11-08 | 2009-01-13 | Texas Instruments Incorporated | Systems and methods for reading data from a memory array |
FR2985839B1 (fr) * | 2012-01-16 | 2014-02-07 | Soitec Silicon On Insulator | Circuit et procede pour detecter une difference de tension sur une paire de lignes de signal duales, en particulier par un transistor d'egalisation |
TWI537975B (zh) * | 2014-11-27 | 2016-06-11 | 常憶科技股份有限公司 | 自我時序差動放大器 |
US9473163B1 (en) * | 2015-07-29 | 2016-10-18 | Mediatek Inc. | Preamplifier circuit and SAR ADC using the same |
US9837168B1 (en) * | 2016-09-15 | 2017-12-05 | Globalfoundries Inc. | Word line voltage generator for programmable memory array |
US10290340B1 (en) * | 2018-03-29 | 2019-05-14 | Qualcomm Technologies, Incorporated | Offset-canceling (OC) write operation sensing circuits for sensing switching in a magneto-resistive random access memory (MRAM) bit cell in an MRAM for a write operation |
TWI693766B (zh) * | 2018-04-18 | 2020-05-11 | 力旺電子股份有限公司 | 靜電放電防護裝置 |
US10978139B2 (en) * | 2019-06-04 | 2021-04-13 | Qualcomm Incorporated | Dual-mode high-bandwidth SRAM with self-timed clock circuit |
US11404110B2 (en) * | 2020-07-14 | 2022-08-02 | Winbond Electronics Corp. | Sense amplification device in memory |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS615495A (ja) | 1984-05-31 | 1986-01-11 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US4658160A (en) | 1985-10-01 | 1987-04-14 | Intel Corporation | Common gate MOS differential sense amplifier |
US4796230A (en) | 1987-06-24 | 1989-01-03 | Intel Corporation | Folded-cascode configured differential current steering column decoder circuit |
US4804871A (en) * | 1987-07-28 | 1989-02-14 | Advanced Micro Devices, Inc. | Bit-line isolated, CMOS sense amplifier |
US4888503A (en) | 1987-10-13 | 1989-12-19 | Intel Corporation | Constant current biased common gate differential sense amplifier |
DE3863072D1 (de) | 1988-02-26 | 1991-07-04 | Ibm | Zweistufiger leserverstaerker fuer ram-speicher. |
KR910005601B1 (ko) * | 1989-05-24 | 1991-07-31 | 삼성전자주식회사 | 리던던트 블럭을 가지는 반도체 메모리장치 |
US5247479A (en) | 1991-05-23 | 1993-09-21 | Intel Corporation | Current sensing amplifier for SRAM |
US5297092A (en) * | 1992-06-03 | 1994-03-22 | Mips Computer Systems, Inc. | Sense amp for bit line sensing and data latching |
US5440506A (en) * | 1992-08-14 | 1995-08-08 | Harris Corporation | Semiconductor ROM device and method |
US5384503A (en) | 1992-09-09 | 1995-01-24 | Shu; Lee-Lean | SRAM with current-mode read data path |
US5834953A (en) * | 1996-11-25 | 1998-11-10 | Rockwell International Corporation | High speed current sense amplifier |
US5815452A (en) | 1997-06-12 | 1998-09-29 | Enable Semiconductor, Inc. | High-speed asynchronous memory with current-sensing sense amplifiers |
JPH11162176A (ja) * | 1997-11-27 | 1999-06-18 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
KR100322535B1 (ko) * | 1999-06-29 | 2002-03-18 | 윤종용 | 소비전력을 최소화하는 메모리 장치 및 이를 이용한 데이터 기입 및 독출방법 |
-
2001
- 2001-11-29 US US09/997,330 patent/US6473349B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-11-13 CN CNB02823684XA patent/CN100423126C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-11-13 KR KR10-2004-7008137A patent/KR20040073444A/ko not_active Ceased
- 2002-11-13 WO PCT/US2002/036388 patent/WO2003049119A2/en active Application Filing
- 2002-11-13 EP EP02804418A patent/EP1554731A2/en not_active Ceased
- 2002-11-13 AU AU2002365765A patent/AU2002365765A1/en not_active Abandoned
- 2002-11-13 JP JP2003550229A patent/JP4200101B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-11-28 TW TW091134611A patent/TWI257628B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20040073444A (ko) | 2004-08-19 |
TW200301906A (en) | 2003-07-16 |
US6473349B1 (en) | 2002-10-29 |
JP4200101B2 (ja) | 2008-12-24 |
EP1554731A2 (en) | 2005-07-20 |
WO2003049119A3 (en) | 2004-02-12 |
TWI257628B (en) | 2006-07-01 |
AU2002365765A1 (en) | 2003-06-17 |
WO2003049119A2 (en) | 2003-06-12 |
CN100423126C (zh) | 2008-10-01 |
CN1596447A (zh) | 2005-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR930000896B1 (ko) | 스태틱형 반도체 기억장치 | |
US7570529B2 (en) | Sense amplifier circuit of semiconductor memory device and method of operating the same | |
US7660150B2 (en) | Memory cell having improved write stability | |
US7414908B2 (en) | Magnetic memory device | |
KR100574181B1 (ko) | 고속기입회복을갖춘메모리장치및그에관련된기입회복방법 | |
US5966319A (en) | Static memory device allowing correct data reading | |
JP2007207406A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US5539691A (en) | Semiconductor memory device and method for reading and writing data therein | |
JP4200101B2 (ja) | カスコードセンス増幅器及び列選択回路及び動作方法。 | |
JP4368793B2 (ja) | 平衡負荷を有するメモリ及びその動作方法 | |
US5706231A (en) | Semiconductor memory device having a redundant memory cell | |
US7504695B2 (en) | SRAM memory cell and method for compensating a leakage current flowing into the SRAM memory cell | |
KR100639049B1 (ko) | 메모리 장치 및 방법 | |
KR100343290B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 입출력 감지 증폭기 회로 | |
US6584026B2 (en) | Semiconductor integrated circuit capable of adjusting input offset voltage | |
US20020003734A1 (en) | Semiconductor memory device having sense amplifier and method for driving sense amplifier | |
WO1988007290A1 (en) | Current sensing differential amplifier | |
US5715204A (en) | Sense amplifier with hysteresis | |
JP4287768B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH0883491A (ja) | データ読出回路 | |
US5305269A (en) | Differential latching inverter and random access memory using same | |
US5929659A (en) | Circuit and process for sensing data | |
JP3181759B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH0574158B2 (ja) | ||
KR19990016994A (ko) | 반도체 메모리장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051021 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051021 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080530 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080603 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080829 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080924 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081006 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111010 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121010 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131010 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |