JP2006228323A - 記録再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 光ディスクの最適記録条件を求めるために、ＯＰＣ領域にＥＣＣブロック単位で記録条件を異ならせて記録したテスト信号の再生信号に基づく評価データを検出する場合、ＯＰＣ領域にディフェクトがあると最適な記録条件を求めることができない。
【解決手段】 ピックアップ１２は光ディスク１０のＯＰＣ領域にＥＣＣブロック単位で複数種類の記録条件を切り替えて記録されたテスト信号を再生する。制御部１５は、ＲＦ信号処理部１４からの再生テスト信号の評価データ（ジッタや変調度）を検出する。制御部１５は、１トラック当り記録される複数のＥＣＣブロックの周期で得られる評価データが、前後のＥＣＣブロックから得られる評価データよりも大きい時、その評価データをディフェクトが存在するＥＣＣブロックであると判断して、その１トラック周期の再生テスト信号による評価データ以外の、残りの評価データから最適な記録条件を求める。
【選択図】 図１

Description

本発明は記録再生装置に係り、特にＢＤ−ＲＥ規格などで定められた書き換え可能な光ディスクの最適パワーコントロール（ＯＰＣ；Optimum Power Control）領域に、記録条件（記録パワー、記録パルス幅）を複数段に変化させながら記録を行い、評価データ（ジッタ、変調度）を用いて最適な記録条件を決定する記録再生装置に関する。

ＢＤ−ＲＥ規格などで定められた書き換え可能な光ディスクでは、図６に示すように、ユーザーが任意の情報を記録再生するためのユーザーデータ領域３１の内周側に、ＯＰＣ領域３０が定められている。従来の記録再生装置では、そのＯＰＣ領域３０に記録条件（記録パワー、記録パルス幅）を複数段に変化させながら、ランダムＥＦＭデータをテスト記録し、評価データ（ジッタ、変調度）を用いて最適な記録条件を決定することが知られている（例えば、特許文献１参照）。

具体的には、ランダムＥＦＭデータであるテスト信号は、ユーザーデータ領域３１に記録されるユーザーデータと同様に、所定バイト数で所定のフォーマットの誤り訂正ブロック（ＥＣＣブロック）単位でＲＦ信号の形態でＯＰＣ領域３０に記録される。テスト信号記録後、ＯＰＣ領域３０を再生して、その再生ＲＦ信号から評価データ（ジッタや変調度）を検出し、評価データとしてジッタを用いた場合は、ジッタが最小となる記録パワーを最適記録パワー値として決定する。

特開２０００−１３７９１８号公報

しかしながら、ＢＤ−ＲＥ規格などで定められた書き換え可能な光ディスクのＯＰＣ領域３０に複数種類の記録条件を順次切り替えながら記録を行い、評価データ（変調度やジッタ）を用いて最適な記録条件（記録パワー、記録パルス幅）を求める際に、ＯＰＣ領域３０に図６に示すように、傷や指紋などのディフェクト３２が存在する場合に確からしい評価データ（変調度やジッタ）を検出することができなくなる。

すなわち、ＯＰＣ領域３０の再生ＲＦ信号から評価データ（ジッタや変調度）を検出すると、ディフェクト３２の存在するＥＣＣブロックから検出した評価データは、ディフェクト３２の無いＥＣＣブロックから検出した評価データに比べて同じ記録条件でも大きい値を検出してしまい、最適な記録条件を求めることができなくなってしまう。特に、ＯＰＣ領域３０の１ＥＣＣブロックが数トラックにも及ぶような小型ディスクの場合、ディフェクトによる影響が大きい。

また、評価データに上限値を決めている場合でも、ディフェクトの存在するＥＣＣブロックから検出された評価データが上限値を超えているものに対してしか、ディフェクトによる影響を除去することができないので、完全にディフェクトの影響を取り除くことができない。更に、ＯＰＣ領域３０において１ＥＣＣブロックが数トラックにも及ぶような小型ディスクの場合には、全ＥＣＣブロックにディフェクトが存在する可能性が大きくなるので、最適な記録条件を求めることができない可能性が高い。

本発明は以上の点に鑑みなされたもので、ＯＰＣ領域に傷や指紋などのディフェクトが存在する場合でも、ディフェクトの影響を受けている評価データ（ジッタ、変調度）を除去することにより最適な記録条件を決定し得る記録再生装置を提供することを目的とする。

上記の目的を達成するため、本発明は、書き換え可能な光ディスクにデータを記録再生する記録再生装置において、複数種類の記録条件を所定の記録単位で順次切り替えながら、テスト信号を光ディスクの予め定めたテスト領域に記録する記録手段と、光ディスクのテスト領域から再生したテスト信号に基づいて、記録条件の記録特性を評価する評価データを所定の記録単位で検出する評価データ検出手段と、テスト領域の１トラックに対する所定の記録単位の割合から求めた周期で評価データが前後の所定の記録単位の評価データより大きくなる場合は、その評価データを検出した位置にディフェクトが存在するとして、その検出した位置のアドレスを光ディスクの特定の領域に記録するディフェクト検出アドレス記録手段と、評価データ検出手段により検出された複数の評価データのうち、特定の領域に記録されているアドレスを含む所定の記録単位から検出された評価データを除去して、残りの評価データから最適な記録条件を決定する記録条件決定手段とを備えたことを特徴とする。

この発明では、１トラックに対する所定の記録単位の割合から求めた周期で評価データが前後の所定の記録単位の評価データより大きくなる場合、つまり、１トラック周期で再生される所定の記録単位のテスト信号に基づく評価データが、その直前及び直後の所定の記録単位の各テスト信号に基づく評価データよりも大きい時には、その１トラック周期で再生される所定の記録単位にディフェクトが存在すると判断して、その１トラック周期で再生される所定の記録単位のテスト信号に基づく評価データを除去して、残りの評価データから最適な記録条件を決定するようにしたため、ディフェクトによる最適な記録条件決定に対する影響を排除できる。

また、上記の目的を達成するため、本発明は、上記の記録手段を、テスト信号及び情報データの所定の記録単位である１誤り訂正ブロック単位で複数種類の記録条件を順次切り替えながら、かつ、１トラック当り複数の誤り訂正ブロックの割合でテスト信号を光ディスクの予め定めたテスト領域に記録するものとし、ディフェクト検出アドレス記録手段を、１トラックを構成する複数の誤り訂正ブロックの周期で評価データが前後の誤り検出訂正ブロックの評価データより大きくなる場合は、その複数の誤り訂正ブロックの周期の評価データを検出した位置にディフェクトが存在するとして、その検出した位置のアドレスを光ディスクの特定の領域に記録するようにしたことを特徴とする。

この発明では、１トラック当り複数の誤り訂正ブロックの割合でテスト信号をテスト領域に記録した光ディスクの当該テスト領域から再生されたテスト信号のうち、１トラックと同じ周期の複数の誤り訂正ブロックからの再生信号に基づく評価データが前後の誤り訂正ブロックの各評価データより大きくなる場合は、その評価データを検出した位置にディフェクトが存在すると判断して、その１トラック周期で再生される誤り訂正ブロック単位のテスト信号に基づく評価データを除去して、残りの評価データから最適な記録条件を決定するようにしたため、ディフェクトによる最適な記録条件決定に対する影響を排除できる。

また、上記の目的を達成するため、本発明は上記の記録手段を、テスト信号及び情報データの所定の記録単位である１誤り訂正ブロックがＮ個のセクタからなるとき、１誤り訂正ブロック単位で複数種類の記録条件を順次切り替えながら、かつ、１トラック当りＭ個（ただし、Ｍ＜Ｎ）のセクタの割合でテスト信号を光ディスクの予め定めたテスト領域に記録する構成とし、上記のディフェクト検出アドレス記録手段を、Ｍ個のセクタの周期で評価データが前後の誤り検出訂正ブロックの評価データより大きくなる場合は、そのＭ個のセクタの周期の評価データを検出した位置にディフェクトが存在するとして、その検出した位置のアドレスを光ディスクの特定の領域に記録するようにしたことを特徴とする。

この発明では、Ｎセクタからなる１誤り訂正ブロック単位で複数種類の記録条件を順次切り替えながら、かつ、１トラック当りＭ個（ただし、Ｍ＜Ｎ）のセクタの割合でテスト信号を光ディスクの予め定めたテスト領域に記録した光ディスクの当該テスト領域から再生されたテスト信号のうち、１トラックと同じ周期のＭセクタからの再生信号に基づく評価データが前後の誤り訂正ブロックの各評価データより大きくなる場合は、その評価データを検出した位置にディフェクトが存在すると判断して、その１トラック周期で再生されるＭセクタ単位のテスト信号に基づく評価データを除去して、残りの評価データから最適な記録条件を決定するようにしたため、ディフェクトによる最適な記録条件決定に対する影響を排除できる。

本発明によれば、テスト領域から再生された再生テスト信号に基づいて得た評価データ（ジッタ、変調度など）のうち、１トラック周期で再生される所定の記録単位のテスト信号に基づく評価データが、その直前及び直後の所定の記録単位の各テスト信号に基づく評価データよりも大きい時には、その１トラック周期で再生される所定の記録単位にディフェクトが存在すると判断して、その１トラック周期で再生される所定の記録単位のテスト信号に基づく評価データを除去して、残りの評価データから最適な記録条件を決定するようにしたため、テスト領域に傷や指紋などのディフェクトが存在する場合でも、ディフェクトによる最適な記録条件決定に対する影響を排除することができ、これにより最適な記録条件を正確に決定することができる。

次に、本発明の実施の形態について図面と共に説明する。図１は本発明になる記録再生装置の一実施の形態のブロック図を示す。同図において、光ディスク１０はスピンドルモータ１１により等線速度（ＣＬＶ）制御あるいは等角速度（ＣＡＶ）制御により回転している。光ディスク１０に離間対向してピックアップ１２が設けられ、ピックアップ１２から設定されている記録条件のレーザ光を出射して光ディスク１０に集光することにより、光ディスク１０にデータを記録することができる。

すなわち、データを記録する場合、記録データはエンコーダ１６で所定フォーマットにエンコードされた後、レーザ駆動部１３に供給される。レーザ駆動部１３は、エンコードされた記録データに基づき駆動信号を生成し、ピックアップ１２内の半導体レーザを、その半導体レーザから出射されるレーザ光の強度が記録データで変調されるように駆動して、レーザ光を光ディスク１０上に焦点一致して照射させることにより、データを記録する。レーザ駆動部１３における記録条件は制御部１５からの制御信号により決定される。具体的には、光ディスク１０のＯＰＣ領域において記録条件を複数段変化させてデータを記録し、その再生データの信号品質に基づき最適な記録条件が決定される。

一方、再生時は、ピックアップ１２から再生条件のレーザ光を出射して光ディスク１０に集光し、これにより光ディスク１０から反射される反射光をピックアップ１２内の検出光学系で受光して光電変換することにより、光ディスク１０の記録データを読み取ることができる。すなわち、ピックアップ１２内の検出光学系から出力された再生ＲＦ信号は、ＲＦ信号処理部１４に供給される。ＲＦ信号処理部１４は再生ＲＦ信号に対して所定の信号処理を行って得たベースバンド帯の信号をデコーダ１７に供給する。デコーダ１７は、入力信号をデコードし再生データとして出力する。

制御部１５は、データの再生信号品質に基づき最適な記録条件を決定する。すなわち、ＲＦ信号処理部１４からの再生ＲＦ信号の評価データを検出し、評価データを用いて最適な記録条件を決定する。

図２は制御部１５の一実施の形態のブロック図を示す。図２に示すように、制御部１５は、評価データ検出部１５１、ディフェクト位置検出部１５２及び最適記録条件決定部１５３から構成されている。評価データ検出部１５１は、入力された再生ＲＦ信号から評価データを検出する。評価データはディフェクト位置検出部１５２に入力され、１トラックに対するＥＣＣブロック又はセクタの割合から、ディフェクトが存在する場合にディフェクトの影響を受ける評価データの周期を求め、その周期で評価データの値が前後のデータより大きくなるパターンを見つけた時に検出元のアドレス（セクタアドレス）にディフェクトが存在するとし、そのアドレスを光ディスクのＯＰＣ領域３０及びユーザーデータ領域３１とは別に設けたＤＳＩ領域に記録する。なお、上記のアドレスは、再生ＲＦ信号から検出することができる。

最適記録条件決定部１５３は、ＤＳＩ領域に記録されているアドレスに基づいて、ディフェクトが存在するとして検出されているＥＣＣブロック単位又はセクタ単位で評価データを除去し、残りの評価データを用いて最適な記録条件を決定する。

次に、第１の実施の形態の動作原理について図を用いて説明する。図３はＥＣＣブロック単位で記録条件を変えながら９ＥＣＣブロックをＯＰＣ領域に記録し、評価データとしてジッタを用いたときの各ＥＣＣブロック毎の記録条件とジッタとの関係を示す図である。ここでは、図６に示した光ディスク上のＯＰＣ領域３０は、１トラックに３ＥＣＣブロックとする。よって、この場合はＯＰＣ領域３０に図６に示すような傷や指紋などのディフェクト３２が存在する場合、３ＥＣＣブロック毎にジッタが前後のＥＣＣブロックより検出されたジッタより大きくなることになる。ディフェクトが存在する位置は、光ディスクの特性から一周すると、通常、また同じ所にディフェクトが存在するからである。

次に、最適記録条件決定部１５３はジッタ検出を行い、ジッタをＥＣＣブロック単位でプロットし、更に検出したジッタから各ＥＣＣブロックのジッタの近似式の特性を求める。図３中、×が実際に検出したジッタであり、実線Iが実際に検出したジッタから求めた、ＯＰＣ領域内の全ＥＣＣブロックのジッタの近似式の特性を示す。

次に、最適記録条件決定部１５３は３ＥＣＣブロック毎に（すなわち、１トラック毎に）ジッタが前後のジッタより大きくなっていないか確認する。図３から記録条件３，６，９（換言すると、３番目、６番目、９番目のＥＣＣトラックにテスト信号を記録したときの各記録条件）が、それぞれ３ＥＣＣブロック周期で前後のジッタに比べて大きくなっていることがわかる。３ＥＣＣブロック周期であるのは、ディフェクトが存在する位置が、光ディスクの特性から一周すると、また同じ所にディフェクトが存在していることを示している。

よって、記録条件３，６，９で記録した位置にディフェクトが存在するとし、それらの記録位置を示すアドレスをＤＳＩ領域に記録し、それらのジッタを除去する。すなわち、記録条件３，６，９で記録した位置を示すアドレスを含むＥＣＣブロックから検出されたジッタを除去して、残りの記録条件１，２，４，５，７，８で記録した位置のジッタから近似式の特性を求める。この近似式の特性が図３の点線IIで示される。

点線IIによって表される近似式の特性は、実線Iによって表される近似式の特性に比べて、実際のジッタに近く、良い値となっている。また、実際のジッタが最小となるところで点線IIによって表される近似式のジッタも最小となっている。しかし、実線Iによって表される近似式はそうではなく、ディフェクトの影響により、最適でない記録条件を最適な記録条件として決定してしまう。ところが、点線IIによって表される近似式の特性は、ディフェクトの影響を受けず、ジッタが最小である記録条件５が最適な記録条件であると決定することができる。

次に、第２の実施の形態の動作原理を、図を用いて説明する。この実施の形態は、ＯＰＣ領域に対して１ＥＣＣブロックが４トラックであるような小型のディスクに対して、最適な記録条件を求めるときの例である。ＥＣＣブロック単位で記録条件を変えながら９ＥＣＣブロックをＯＰＣ領域に記録する。

評価データとしてジッタを用い、ＥＣＣブロック単位で求めたジッタから近似式を求め、近似式からジッタが最小となる最適記録条件を決定する。但し、図６に示したＯＰＣ領域３０は４トラックに１ＥＣＣブロックとなる小型ディスクの例である。よって、この場合、ＯＰＣ領域３０に図６で示すような傷や指紋などのディフェクト３２が存在する場合、図４に示されているように１ＥＣＣブロックが３２個のセクタからなる構成としたとき、８（＝３２／４）セクタ毎にジッタが前後のセクタより検出されたジッタより大きくなることになる。

前記第１の実施の形態のように、ＥＣＣブロック単位でジッタを検出してディフェクトが存在すると判定したＥＣＣブロックのジッタを除去すると、小型ディスクの場合は、全評価データが除去される可能性もある。そこで、この第２の実施の形態では、セクタ単位でジッタ検出を行う。

図５は上記の小型ディスクの１ＥＣＣブロック内のジッタをセクタ単位で検出した一例の図を示す。同図中、×が実際に検出したジッタである。次に、１トラック、すなわち８セクタ毎にジッタが前後のセクタのジッタより大きくなっているか確認する。図５では８セクタ周期のセクタ４、１２、２０、２８のジッタが前後のジッタに比べて大きくなっていることがわかる。

よって、制御部１５は、そのセクタ４、１２、２０、２８の付置にディフェクトが存在すると判定し、そのセクタ４、１２、２０、２８のアドレスを光ディスクに予め設けたＤＳＩ領域に記録する。その後、制御部１５は、それらセクタ４、１２、２０、２８から検出したジッタを除去して、残りの２８個のセクタから検出したジッタの平均を１ＥＣＣブロック単位のジッタとする。

これにより、本実施の形態によれば、小型ディスクの場合でも、全評価データが除去されることなく、ディフェクトによる影響のないＥＣＣブロック単位のジッタを検出することができ、検出したジッタの中で最小のジッタに対応した記録条件を最適な記録条件として決定することができる。

本発明の記録再生装置の一実施の形態のブロック図である。 図１中の制御部の構成を示す一実施の形態のブロック図である。 ジッタと記録条件が異なるＥＣＣブロックの関係の一例を示す図である。 ＥＣＣブロックとセクタの関係の一例を示すフォーマット図である。 ジッタとセクタの関係の一例を示す図である。 光ディスクのＯＰＣ領域の一例を示す図である。

符号の説明

１０ 光ディスク
１１ スピンドルモータ
１２ ピックアップアップ
１３ レーザ駆動部
１４ ＲＦ信号処理部
１５ 制御部
１６ エンコーダ
１７ デコーダ
３０ ＯＰＣ領域
３１ ユーザーデータ領域
３２ ディフェクト
１５１ 評価データ検出部
１５２ ディフェクト位置検出部
１５３ 最適記録条件決定部

Claims (3)

1. 書き換え可能な光ディスクにデータを記録再生する記録再生装置において、
   複数種類の記録条件を所定の記録単位で順次切り替えながら、テスト信号を前記光ディスクの予め定めたテスト領域に記録する記録手段と、
   前記光ディスクの前記テスト領域から再生した前記テスト信号に基づいて、前記記録条件の記録特性を評価する評価データを前記所定の記録単位で検出する評価データ検出手段と、
   前記テスト領域の１トラックに対する前記所定の記録単位の割合から求めた周期で前記評価データが前後の前記所定の記録単位の評価データより大きくなる場合は、その評価データを検出した位置にディフェクトが存在するとして、その検出した位置のアドレスを前記光ディスクの特定の領域に記録するディフェクト検出アドレス記録手段と、
   前記評価データ検出手段により検出された複数の評価データのうち、前記特定の領域に記録されている前記アドレスを含む前記所定の記録単位から検出された前記評価データを除去して、残りの前記評価データから最適な記録条件を決定する記録条件決定手段と
   を備えたことを特徴とする記録再生装置。
2. 前記記録手段は、前記テスト信号及び情報データの前記所定の記録単位である１誤り訂正ブロック単位で前記複数種類の記録条件を順次切り替えながら、かつ、１トラック当り複数の誤り訂正ブロックの割合で前記テスト信号を前記光ディスクの予め定めたテスト領域に記録し、
   前記ディフェクト検出アドレス記録手段は、前記１トラックを構成する前記複数の誤り訂正ブロックの周期で前記評価データが前後の前記誤り検出訂正ブロックの評価データより大きくなる場合は、その複数の誤り訂正ブロックの周期の評価データを検出した位置にディフェクトが存在するとして、その検出した位置のアドレスを前記光ディスクの特定の領域に記録することを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
3. 前記記録手段は、前記テスト信号及び情報データの前記所定の記録単位である１誤り訂正ブロックがＮ個のセクタからなるとき、１誤り訂正ブロック単位で前記複数種類の記録条件を順次切り替えながら、かつ、１トラック当りＭ個（ただし、Ｍ＜Ｎ）のセクタの割合で前記テスト信号を前記光ディスクの予め定めたテスト領域に記録し、
   前記ディフェクト検出アドレス記録手段は、前記Ｍ個のセクタの周期で前記評価データが前後の前記誤り検出訂正ブロックの評価データより大きくなる場合は、そのＭ個のセクタの周期の評価データを検出した位置にディフェクトが存在するとして、その検出した位置のアドレスを前記光ディスクの特定の領域に記録することを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
   

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