JP2005250125A - 現像装置および画像形成装置および現像方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 接触現像方式とＡＣ現像方式とを併用して現像を行うに際し，機器の負荷低減と画像品質向上との両立を実現した現像装置，画像形成装置，および現像方法を提供すること。
【解決手段】 現像部材と像担持体との間の電圧を振動電圧とし，そのピーク電圧Ｖ１を，負極性トナーの場合，背景部電圧ＶＨ（負），可視部電圧ＶＬ（負，絶対値でＶＨより小）に対し，
−５００Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＬ ≦ −３５０Ｖ
−２００Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＨ ≦ −５０Ｖ
で規定し，ピーク電圧Ｖ２を，
−１５０Ｖ ≦ ＶＬ−Ｖ２ ≦ −７０Ｖ
Ｖ２ ≦ ＶＨ＋５００Ｖ
で規定した。
【選択図】 図２

Description

本発明は，トナーを用いて感光体の潜像を現像する現像装置，およびその現像装置を備えた画像形成装置，およびそれらにおける現像方法に関する。さらに詳細には，１成分非磁性のトナーを用いて接触現像方式で現像を行う現像装置および画像形成装置および現像方法に関するものである。

従来から，画像形成装置における現像装置について，種々の提案がなされている（特許文献１，２など）。現像装置の現像方式には，１成分現像方式と２成分現像方式とがある。１成分現像方式ではキャリアを含まない現像剤を用いるのに対し，２成分現像方式ではトナーの他にキャリアを含む現像剤を用いる。１成分現像方式は，現像剤を撹拌するための機構が不要なので，２成分現像方式と比較して現像装置の小形化に有利である。１成分現像方式の現像装置では一般的に，トナー担持体上のトナー層の厚さを規制する規制部材を備えている。

さらに，１成分現像方式は，現像電圧の印加方法により分類される。すなわち，現像電圧を直流成分のみとするＤＣ現像方式と，現像電圧に交流のバイアス成分を重畳するＡＣ現像方式とに分類される。また，１成分現像方式は，トナー担持体と像担持体との対向部（いわゆる現像領域）の状況によっても分類される。すなわち，トナー担持体と像担持体との間に一定の間隙を設ける非接触現像方式と，両者を当接させる接触現像方式とに分類される。

非接触現像方式は，現像領域の間隔によりエッジ効果が生じるので，ドットや細線の再現性に優れるという利点がある。その一方で，間隔が変動すると現像電界も変動し，画像ムラ等のノイズの原因となるという短所がある。このため間隔の精度を厳密に管理する必要があり，制御系への負荷が大きい。特に，ＡＣ現像方式と組み合わせた場合には電源系への負荷も大きい。高振幅な現像バイアス（ピークトゥピークで１ｋＶ以上）が必要とされるからである。

これに対し接触現像方式は，現像バイアスが比較的低くて済む。このため電源負荷では有利である。むろん，現像領域の間隔制御が不要である点も利点である。反面，エッジ効果が期待できないため，ドットや細線の再現性では不利である。特に近年では高画質化のために６００〜１２００ｄｐｉ程度の解像度が要求されるに至っている。このような状況下ではハイライト部が再現されにくく，階調性が不十分となりがちである。

そこで，接触現像方式とＡＣ現像方式とを併用することにより，機器の負荷と画像品質との両立を図ることが考えられる。このようにすることにより，接触現像でもエッジ効果を利用してドットや細線の再現性を向上させることができると考えられる。現像領域の上流および下流の非接触領域にてトナーを飛翔させることができるからである。
特開２００３−２９５０７号公報 特許第３３６３５９３号公報

しかしながら実際には，以下に説明するような難点がある。例えば，特許文献１に記載の現像装置には，ＡＣバイアスを大きくすると濃度ムラが出る傾向がある。さらに，この現像装置に接触現像方式および１成分現像方式を適用すると，像担持体と現像部材との間にリークが発生する。これは背景部のかぶりの原因となる。この現像装置では，現像バイアスのピーク電圧Ｖ１と像担持体の画像部電圧ＶＬとの差の絶対値を６００Ｖ以上としており，これが接触現像方式には高すぎるためであると考えられる。また，特許文献２に記載の現像装置には，１成分現像方式を適用すると，前述の理由によりハイライト部の再現性が劣るという問題点がある。

本発明は，前記した従来の現像装置が有する問題点を解決するためになされたものである。すなわちその課題とするところは，接触現像方式とＡＣ現像方式とを併用して現像を行うに際し，機器の負荷低減と画像品質向上との両立を実現した現像装置，画像形成装置，および現像方法を提供することにある。

この課題の解決を目的としてなされた本発明の現像装置は，像担持体に接触しつつ１成分非磁性のトナーを付与して像担持体の静電潜像を現像する現像部材と，現像部材上のトナー層の厚さを規制する規制部材と，現像部材と像担持体との間に，バイアス電圧を印加する電圧印加装置とを有するものであって，電圧印加装置が印加するバイアス電圧は，
Ｖｇ：グランド電圧
ＶＨ：像担持体の静電潜像における背景部の電圧
ＶＬ：像担持体の静電潜像における可視部の電圧，電圧Ｖｇに対しＶＨと同極性，ａｂｓ（ＶＬ−Ｖｇ）＜ａｂｓ（ＶＨ−Ｖｇ）
としたとき，

の（１）〜（３）の各条件をすべて満たし，電圧Ｖｇに対し電圧ＶＨと同極性の電圧Ｖ１と，

の（４），（５）の両条件をいずれも満たし，電圧ＶＬに対し電圧Ｖ１と逆極性の電圧Ｖ２との間で振動する電圧であるものである。

このようにすることにより本発明の現像装置では，像担持体と現像部材との間でリークが発生することがなく，かつ，像担持体と現像部材とが接触する現像領域の上下流においてトナーの飛翔によるエッジ効果を利用できる。このため，背景部のかぶりが発生しにくく，かつ，ドットや細線の再現性が高い。また，接触現像方式であるため濃度ムラが出にくい。このようにして，制御系や電源系へさほど高い負荷をかけずに高品質な画像形成ができるようにしている。なお本出願においては，ａｂｓ（＊）の表記は「＊」の絶対値を表すものとする。

ここにおいて，電圧印加装置による電圧Ｖ１は，さらに，

の条件をも満たすとよりよい。

また，電圧印加装置は，１．５〜７ｋＨｚの範囲内（より好ましくは２ｋＨｚ以上，また５ｋＨｚ以下）の周波数でバイアス電圧を振動させることが望ましい。また，電圧振動のデューティ比を，高湿時には低くし，低湿時には高くすることが望ましい。また，電圧Ｖ１と電圧ＶＬとの差を，高湿時には低くし，低湿時には高くすることが望ましい。また，電圧Ｖ２と電圧ＶＬとの差を，高湿時には高くし，低湿時には低くすることが望ましい。

本発明は，像担持体と，像担持体に接触しつつ１成分非磁性のトナーを付与して像担持体の静電潜像を現像する現像部材と，現像部材上のトナー層の厚さを規制する規制部材と，現像部材と像担持体との間に，上記の（１）〜（３）の各条件をすべて満たし，電圧Ｖｇに対し電圧ＶＨと同極性の電圧Ｖ１と，上記の（４），（５）の両条件をいずれも満たし，電圧ＶＬに対し電圧Ｖ１と逆極性の電圧Ｖ２との間で振動するバイアス電圧を印加する電圧印加装置とを有し，像担持体の静電潜像を前記現像部材により現像して画像を得る画像形成装置をも包含する。

本発明はまた，現像部材上の１成分非磁性のトナー層の厚さを規制部材で規制しつつ，現像部材を像担持体に接触させつつ現像部材から像担持体の静電潜像にトナーを付与して現像する現像方法であって，現像部材と像担持体との間のバイアス電圧を，上記の（１）〜（３）の各条件をすべて満たし，電圧Ｖｇに対し電圧ＶＨと同極性の電圧Ｖ１と，上記の（４），（５）の両条件をいずれも満たし，電圧ＶＬに対し電圧Ｖ１と逆極性の電圧Ｖ２との間で振動させる現像方法をも包含する。

本発明によれば，接触現像方式とＡＣ現像方式とを併用して現像を行うに際し，機器の負荷低減と画像品質向上との両立を実現した現像装置，画像形成装置，および現像方法が提供されている。

以下，本発明を具体化した最良の形態について，添付図面を参照しつつ詳細に説明する。本形態は，レーザービームプリンタに本発明を適用したものである。本形態のレーザービームプリンタの要部を図１に示す。図１のレーザービームプリンタは，感光体ドラム１と，帯電器２と，露光部３と，現像装置４と，転写ローラ５と，定着装置６と，クリーニング装置７と，電源部８と，環境センサ９とを有している。

感光体ドラム１は，表面に感光層１１を有する像担持体である。具体的には，アルミ等の導電性の素材を円筒形に成型したドラム基体の外周面に感光層（ここでは負極性帯電型のものとする）を形成したものである。感光体ドラム１は，矢印で示されている方向に，周速が所定のプロセススピード（ここでは１００ｍｍ／秒とする）となる回転速度で回転するようになっている。

帯電器２は，感光体ドラム１の感光層１１を所定の電圧に帯電させる装置である。露光部３は，帯電後の感光層１１に静電潜像を書き込むデバイスである。このため露光部３は，画像データに基づく時系列デジタル画素信号に対応して感光層１１にレーザービームＬＢを照射するようになっている。

現像装置４は，感光層１１に形成された静電潜像上に１成分非磁性の負極性トナーを付与して現像する装置である。このため現像装置４は，表面に所定の厚さのトナー層を担持する現像ローラ４１を有している。現像ローラ４１は，基材であるゴムローラ上に表面抵抗層（厚み：５〜３０μｍ，体積抵抗率１０¹¹〜１０¹²）を設けた構造のものである。現像ローラ４１は，感光体ドラム１と接触するように配置されている。現像ローラ４１はまた，感光体ドラム１の回転と順方向に回転するようになっている。ただし現像ローラ４１の回転は，その周速（ここでは１５０ｍｍ／秒とする）が，感光体ドラム１の周速に対し一定の速度差を持つようにされる。

現像装置４はさらに，トナー貯蔵室４２，供給ローラ４３，規制板４４，除電シール４５を有している。供給ローラ４３は，トナー貯蔵室４２に貯蔵されたトナーＤを現像ローラ４１に供給するものである。規制板４４は，現像ローラ４１上のトナー層の厚さを規制するものである。供給ローラ４３および規制板４４は，トナーを現像ローラ４１に対して付勢する方向の電界が形成されるようにバイアスが印加されている。除電シール４５は，現像ローラ４１上の現像残トナーがトナー貯蔵室４２へ回収される箇所において，トナー貯蔵室４２内のトナーＤが逆に漏れ出るのを防止するものである。また，現像残トナーを除電する役割をも有している。除電シール４５は，現像ローラ４１に対し，現像残トナーを除電する方向の電界が形成されるようにバイアスが印加されるている。あるいは，現像ローラ４１に短絡されていてもよい。

転写ローラ５は，現像して得られたトナー像を感光層１１上から転写材Ｓに転写するデバイスである。定着装置６は，転写体Ｓ上のトナー像を定着させる装置である。クリーニング装置７は，転写後に感光層１１上に残留している転写残トナーを，次回の画像形成のために除去する装置である。

電源部８は，現像装置４に現像電圧を印加する装置である。電源部８は，直流電圧ＶＤＣと矩形波形の交流電圧ＶＡＣとを重畳した振動電圧ＶＢ（＝ＶＤＣ＋ＶＡＣ）を現像ローラ４１と感光体ドラム１との間に印加するようになっている。電源部８において，直流電圧ＶＤＣの値（図２参照）と交流電圧ＶＡＣの振幅（図２中のＶｐｐ（＝ａｂｓ（Ｖ１−Ｖ２），Ｖ１およびＶ２は両ピーク電圧，Ｖ１＜Ｖ２））とは独立にコントロール可能である。また，交流電圧ＶＡＣについては，周波数（図２中のＴ１，Ｔ２を用いて「１／（Ｔ１＋Ｔ２）」で表される）やデューティ比（図２中のＴ１，Ｔ２を用いて「Ｔ１／（Ｔ１＋Ｔ２）」で表される）も，他のパラメータとは独立してコントロール可能である。なお，図２中のＴ１は，交流電圧ＶＡＣの１周期中におけるピーク電圧Ｖ１の継続時間である。Ｔ２は，交流電圧ＶＡＣの１周期中におけるピーク電圧Ｖ２の継続時間である。

なお図２中の縦軸の「０」は，グランド電圧を基準とする。図２中，ＶＨは，露光後における感光層１１の背景部の電圧である。ＶＬは，露光後における感光層１１の可視部の電圧である。また，図２より，各電圧間の次の関係がわかる。
［１］電圧Ｖ１，電圧ＶＨ，電圧ＶＤＣ，および電圧ＶＬが，グランド電圧に対し同極性であること。
［２］電圧Ｖ２が，電圧ＶＬに対し電圧Ｖ１と逆極性であること。
［３］電圧ＶＬの絶対値（グランド電圧を基準とする，以下特記しない限り同じ）より電圧ＶＨの絶対値の方が大きく，電圧Ｖ１の絶対値はさらに大きいこと。

環境センサ９は，環境値，すなわち温度および湿度の値を取得するセンサである。環境センサ９の出力信号は，電源部８に入力されるようになっている。これにより，電源部８が，環境条件に応じて上記の各パラメータをコントロールできるようになっている。

上記の構成を有する本形態のレーザービームプリンタにおける，電源部８による現像装置４への印加バイアスについて詳述する。本形態のレーザービームプリンタでは，電源部８は，前述の［１］〜［３］の関係に加えてさらに，以下の各条件を満たすように振動電圧ＶＢを印加する。
［４］電圧Ｖ１と電圧ＶＬとの差の絶対値が，３５０〜５００Ｖの範囲内にあること。
［５］電圧Ｖ１と電圧ＶＨとの差の絶対値が，５０〜２００Ｖの範囲内にあること。
［６］電圧Ｖ２と電圧ＶＬとの差の絶対値が，７０〜１５０Ｖの範囲内にあること。
［７］電圧Ｖ２と電圧ＶＨとの差の絶対値が，５００Ｖを超えないこと。

これらの各条件の理由を明らかにするため，振動電圧ＶＢの各パラメータを種々変化させて画像品質試験を行ったので，その結果を説明する。この試験では，形成画像の精細度を６００ｄｐｉとした。

まず，ピーク電圧Ｖ１，Ｖ２を種々変更する試験の結果を説明する。この試験では，振動電圧ＶＢの周波数３ｋＨｚで形成した画像について，画像濃度，ソリッド均一性，ドット均一性，かぶり，ハイライト部再現性，の各品質項目を評価した。詳細には次のように評価した。
画像濃度：ソリッド画像を出力し，その透過濃度のマクベス濃度計（ＴＤ９０４，マクベス社製）による測定値によって図３の表に従いランク評価した。
ソリッド均一性：ソリッド画像を出力し，その濃度のばらつき測定と目視評価によって図４の表に従いランク評価した。
ドット均一性：網点画像を出力し，網点径のばらつき測定と目視評価によって図４の表に従いランク評価した。
かぶり：感光層１１における背景部電圧ＶＨの箇所のトナーをテープ（ブッカーテープ：アメニティＢコート，キハラ製）剥離し，白色度７０の紙に貼り付け，色彩色差計（ＣＲ−２４１，ミノルタ社製）にてＣ^*測定し，図５の表に従いランク評価した。
ハイライト部再現性：３２段階の階調パターンを出力し，そのハイライト部１〜２段目の再現性を図６の表に従いランク評価した。
さらに，以上５つの項目の評価結果に基づいて，図７の表に従い総合評価した。

図８〜図１２は，電圧ＶＨを−３００Ｖとし，電圧ＶＬを−５０Ｖとした条件下での試験結果である。なお，これらの表中には，個々の試験時における「Ｖ１−ＶＬ」，「ＶＬ−Ｖ２」，「ＶＨ−Ｖ２」，「Ｖ１−ＶＨ」の各値をも表示している（図１３〜図２２も同様）。

図８に，Ｖｐｐ＝４００Ｖ，デューティ比４０％で試験した結果を示す。図８の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−３００Ｖから−４６０Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１００Ｖから−６０Ｖまで７段階に変更した。図８の表から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−３４０〜−４２０Ｖの範囲内では実用可ないしやや良だが，その範囲外ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４００Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−３４０〜−３８０Ｖの範囲内では特に良好だが，−４２０Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３６０Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：全般に良であり，ピーク電圧Ｖ１が−３６０Ｖ以下であれば特に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−３４０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３００Ｖではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−３８０Ｖ，−４００Ｖにおいてやや良となったが，それら以外ではいずれもやや悪であった。

図９に，Ｖｐｐ＝４５０Ｖ，デューティ比２５〜５０％で試験した結果を示す。図９の試験では，デューティ比を２５％から５０％まで４段階に変更した。さらに，デューティ比２５％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−５２５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから−７５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比３０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３８５Ｖから−４８５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を６５Ｖから−３５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比４０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−４８５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから−３５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比５０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−４２５Ｖまで５段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから２５Ｖまで５段階に変更した。

図９の表中のデューティ比２５％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以下であれば実用可ないし良だが，−３８５Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良だが，−４６５Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
かぶり：全般に良ないし実用可であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５〜−４６５Ｖの範囲内であれば特に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖにおいてやや良，−４００Ｖにおいて実用可となったが，それら以外ではいずれもやや悪であった。

図９の表中のデューティ比３０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下であれば実用可ないし良だが，−３８５Ｖではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖであれば特に良好だが，−４６５Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：全般に良ないし実用可であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖであれば特に良好である。
かぶり：全般に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下であればやや良だが，−３８５Ｖではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−４０５〜−４４５Ｖの範囲内で良，そのうち−４２５Ｖでは特に良好となったが，その範囲外ではやや悪であった。

図９の表中のデューティ比４０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−３６５〜−４４５Ｖの範囲内では実用可ないしやや良だが，その範囲外ではやや悪であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖ，−４０５Ｖであれば特に良好だが，−４８５Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
かぶり：全般に良であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以下であれば特に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下であればやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−４０５Ｖ，−４２５Ｖでは良好，−３６５Ｖ，−４４５Ｖでは実用可となったが，それら以外ではやや悪であった。

図９の表中のデューティ比５０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。画像濃度：全般に実用可ないしやや良である。
ソリッド均一性：全般に実用可ないし良であり，ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ，−４０５Ｖでは特に良好である。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖでは特に良好だが，−３６５Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：全般に良であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖであれば特に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下であればやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下ではやや良となったが，−３６５Ｖ以上ではやや悪であった。

図１０に，Ｖｐｐ＝６００Ｖ，デューティ比２５〜５０％で試験した結果を示す。図１０の試験では，デューティ比を２５％から５０％まで４段階に変更した。さらに，デューティ比２５％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで６段階に変更した。デューティ比３０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで６段階に変更した。デューティ比４０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで７段階に変更した。デューティ比５０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４００Ｖから−４８０Ｖまで５段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を２００Ｖから１２０Ｖまで５段階に変更した。

図１０の表中のデューティ比２５％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５６０Ｖであればやや良だが，−５２０Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５２０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−５２０Ｖ以上であれば実用可ないしやや良だが，−５６０Ｖではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５２０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−５００Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１０の表中のデューティ比３０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５００Ｖ以下であればやや実用可ないし良だが，−４８０Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５４０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−５４０Ｖ以上であれば実用可ないしやや良だが，−５６０Ｖではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５００Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４８０Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−５４０Ｖにおいてやや良，−５００Ｖにおいて実用可となったが，それら以外ではいずれもやや悪であった。

図１０の表中のデューティ比４０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良ないし実用可であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５２０Ｖ，−５４０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５００Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−５２０Ｖ以上であれば実用可ないしやや良だが，−５４０Ｖ以下ではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−４８０〜−５２０Ｖの範囲内で実用可ないし良，そのうち−５００Ｖでは特に良好となったが，その範囲外ではやや悪であった。

図１０の表中のデューティ比５０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良ないし実用可であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖであれば実用可だが，−４６０Ｖ以上ではいずれもやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖであれば実用可だが，−４６０Ｖ以上ではいずれもやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良ないし実用可であった。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖであれば実用可だが，それ以外ではいずれもやや悪であった。

図１１に，Ｖｐｐ＝６５０Ｖ，デューティ比４０％で試験した結果を示す。図１１の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−４８５Ｖから−６２５Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１６５Ｖから２５Ｖまで７段階に変更した。図１１の表から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−５８５Ｖ以下としたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖ以上の全範囲で実用可ないしやや良であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−５２５〜−５６５Ｖの範囲内であれば実用可ないしやや良だが，−５０５Ｖ以上ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−５２５〜−５６５Ｖの範囲内であれば実用可ないしやや良だが，−５０５Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−５２５Ｖ以上であれば実用可ないしやや良だが，−５４５Ｖ以下ではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖ以上の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖ以上の全範囲でいずれもやや悪であった。

図１２に，Ｖｐｐ＝７００Ｖ，デューティ比４５％で試験した結果を示す。図１２の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０から−５６０Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を２４０Ｖから１４０Ｖまで７段階に変更した。図１２の表から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で実用可ないしやや良であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−４８０〜−５２０Ｖの範囲内では実用可ないしやや良だが，その範囲外ではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１の全範囲でいずれもやや悪であった。

図１３〜図１７は，電圧ＶＨを−４００Ｖとし，電圧ＶＬを−５０Ｖとした条件下での試験結果である。

図１３に，Ｖｐｐ＝４００Ｖ，デューティ比４０％で試験した結果を示す。図１３の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−３００Ｖから−４６０Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１００Ｖから−６０Ｖまで７段階に変更した。図１３の表から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−３４０〜−４２０Ｖの範囲内では実用可ないしやや良だが，その範囲外ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４００Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−３４０〜−３８０Ｖの範囲内では特に良好だが，−４２０Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３６０Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：全般に良であり，ピーク電圧Ｖ１が−３６０Ｖ以下であれば特に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−４６０Ｖであればやや良だが，−４２０Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１４に，Ｖｐｐ＝４５０Ｖ，デューティ比２５〜５０％で試験した結果を示す。図１４の試験では，デューティ比を２５％から５０％まで４段階に変更した。さらに，デューティ比２５％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−５２５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから−７５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比３０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３８５Ｖから−４８５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を６５Ｖから−３５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比４０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−４８５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから−３５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比５０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−４２５Ｖまで５段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから２５Ｖまで５段階に変更した。

図１４の表中のデューティ比２５％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以下であれば実用可ないし良だが，−３８５Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良だが，−４６５Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖであればやや良で，−４２５Ｖ以下では特に良好だが，−３２５Ｖではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４２５Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１４の表中のデューティ比３０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下であれば実用可ないし良だが，−３８５Ｖではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖであれば特に良好だが，−４６５Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：全般に良ないし実用可であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖであれば特に良好である。
かぶり：全般に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以下であればやや良ないし実用可だが，−４２５Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖであれば実用可となったが，それ以外ではやや悪であった。

図１４の表中のデューティ比４０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−３６５〜−４４５Ｖの範囲内では実用可ないしやや良だが，その範囲外ではやや悪であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖ，−４０５Ｖであれば特に良好だが，−４８５Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
かぶり：全般に良であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以下であれば特に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖで実用可，−４８５Ｖでやや良だが，−４２５Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１４の表中のデューティ比５０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：全般に実用可ないしやや良である。
ソリッド均一性：全般に実用可ないし良であり，ピーク電圧Ｖ１が−４０５Ｖでは特に良好である。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖでは特に良好だが，−３６５Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：全般に良であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖであれば特に良好である。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１５に，Ｖｐｐ＝６００Ｖ，デューティ比２５〜５０％で試験した結果を示す。図１５の試験では，デューティ比を２５％から５０％まで４段階に変更した。さらに，デューティ比２５％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで６段階に変更した。デューティ比３０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで６段階に変更した。デューティ比４０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで７段階に変更した。デューティ比５０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４００Ｖから−４８０Ｖまで５段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を２００Ｖから１２０Ｖまで５段階に変更した。

図１５の表中のデューティ比２５％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５６０Ｖであればやや良だが，−５２０Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５２０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−５００Ｖ以下であればやや良だが，−４８０Ｖ以上ではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５２０Ｖ以下であればやや良だが，−５００Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−５６０Ｖであれば良好だが，それ以外はいずれもやや悪であった。

図１５の表中のデューティ比３０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５００Ｖ以下であればやや実用可ないし良だが，−４８０Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５４０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−５００Ｖにおいてやや良，−５４０Ｖ以下において特に良好となったが，−４８０Ｖ以上ではやや悪であった。

図１５の表中のデューティ比４０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良ないし実用可であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５２０Ｖ，−５４０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５００Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−５００Ｖ以下であれば実用可ないし良，そのうち−５２０Ｖでは特に良好となったが，−４８０Ｖ以上ではやや悪であった。

図１５の表中のデューティ比５０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良ないし実用可であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖであれば実用可だが，−４６０Ｖ以上ではいずれもやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖであれば実用可だが，−４６０Ｖ以上ではいずれもやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪かった。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−４６０Ｖ以下であればやや良であったが，−４４０Ｖ以上ではやや悪かった。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１６に，Ｖｐｐ＝６５０Ｖ，デューティ比４０％で試験した結果を示す。図１６の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−４８５Ｖから−６２５Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１６５Ｖから２５Ｖまで７段階に変更した。図１６の表から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−５８５Ｖ以下としたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖ以上の全範囲で実用可ないしやや良であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−５２５〜−５６５Ｖの範囲内であれば実用可ないしやや良だが，−５０５Ｖ以上ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−５２５〜−５６５Ｖの範囲内であれば実用可ないしやや良だが，−５０５Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−５４５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−５２５Ｖ以上ではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖ以上の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１が−５４５Ｖで実用可，−５６５Ｖでやや良であったが，−５２５Ｖ以上ではやや悪であった。

図１７に，Ｖｐｐ＝７００Ｖ，デューティ比４５％で試験した結果を示す。図１７の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０から−５６０Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を２４０Ｖから１４０Ｖまで７段階に変更した。図１７の表から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で実用可ないしやや良であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１の全範囲でいずれもやや悪であった。

図１８〜図２２は，電圧ＶＨを−５００Ｖとし，電圧ＶＬを−５０Ｖとした条件下での試験結果である。

図１８に，Ｖｐｐ＝４００Ｖ，デューティ比４０％で試験した結果を示す。図１８の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−３００Ｖから−４６０Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１００Ｖから−６０Ｖまで７段階に変更した。図１８の表から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−３４０〜−４２０Ｖの範囲内では実用可ないしやや良だが，その範囲外ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４００Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−３４０〜−３８０Ｖの範囲内では特に良好だが，−４２０Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３６０Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−４００Ｖ以下であればやや良だが，−３８０Ｖ以上では悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１９に，Ｖｐｐ＝４５０Ｖ，デューティ比２５〜５０％で試験した結果を示す。図１９の試験では，デューティ比を２５％から５０％まで４段階に変更した。さらに，デューティ比２５％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−５２５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから−７５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比３０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３８５Ｖから−４８５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を６５Ｖから−３５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比４０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−４８５Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから−３５Ｖまで６段階に変更した。デューティ比５０％では，ピーク電圧Ｖ１を−３２５Ｖから−４２５Ｖまで５段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１２５Ｖから２５Ｖまで５段階に変更した。

図１９の表中のデューティ比２５％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以下であれば実用可ないし良だが，−３８５Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良だが，−４６５Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以下では実用可ないしやや良だが，−４２５Ｖ以上ではやや悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１９の表中のデューティ比３０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下であれば実用可ないし良だが，−３８５Ｖではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖであれば特に良好だが，−４６５Ｖ以下ではやや悪い。
ドット均一性：全般に良ないし実用可であり，ピーク電圧Ｖ１が−４２５Ｖであれば特に良好である。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以下では実用可ないしやや良だが，−４２５Ｖ以上では悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１９の表中のデューティ比４０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−３６５〜−４４５Ｖの範囲内では実用可ないしやや良だが，その範囲外ではやや悪であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以上であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖ，−４０５Ｖであれば特に良好だが，−４８５Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−３２５Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以下では実用可ないしやや良だが，−４２５Ｖ以上では悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図１９の表中のデューティ比５０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：全般に実用可ないしやや良である。
ソリッド均一性：全般に実用可ないし良であり，ピーク電圧Ｖ１が−４０５Ｖでは特に良好である。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−４２５Ｖでは特に良好だが，−３６５Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図２０に，Ｖｐｐ＝６００Ｖ，デューティ比２５〜５０％で試験した結果を示す。図２０の試験では，デューティ比を２５％から５０％まで４段階に変更した。さらに，デューティ比２５％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで６段階に変更した。デューティ比３０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで６段階に変更した。デューティ比４０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０Ｖから−６００Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１４０Ｖから０Ｖまで７段階に変更した。デューティ比５０％では，ピーク電圧Ｖ１を−４００Ｖから−４８０Ｖまで５段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を２００Ｖから１２０Ｖまで５段階に変更した。

図２０の表中のデューティ比２５％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５６０Ｖであればやや良だが，−５２０Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５２０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５６０Ｖであればやや良だが，−５２０Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図２０の表中のデューティ比３０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５００Ｖ以下であればやや実用可ないし良だが，−４８０Ｖ以上ではやや悪い。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５４０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５４０Ｖ以下であれば実用可ないしやや良だが，−５００Ｖ以上ではやや悪い。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図２０の表中のデューティ比４０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−６００Ｖとしたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良ないし実用可であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５２０Ｖ，−５４０Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖ以下であれば実用可ないし良で，−５００Ｖでは特に良好だが，−４６０Ｖではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪であった。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図２０の表中のデューティ比５０％の部分から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良ないし実用可であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖであれば実用可だが，−４６０Ｖ以上ではいずれもやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−４８０Ｖであれば実用可だが，−４６０Ｖ以上ではいずれもやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪かった。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪かった。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図２１に，Ｖｐｐ＝６５０Ｖ，デューティ比４０％で試験した結果を示す。図２１の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−４８５Ｖから−６２５Ｖまで７段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を１６５Ｖから２５Ｖまで７段階に変更した。図２１の表から，各評価項目について次のことがわかる。なお，ピーク電圧Ｖ１を−５８５Ｖ以下としたときには放電が発生したため，評価の対象外とした。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖ以上の全範囲で実用可ないしやや良であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１が−５２５〜−５６５Ｖの範囲内であれば実用可ないしやや良だが，−５０５Ｖ以上ではやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１が−５２５〜−５６５Ｖの範囲内であれば実用可ないしやや良だが，−５０５Ｖ以上ではやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖ以上の全範囲で悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１が−５６５Ｖでやや良，−５４５Ｖで実用可であったが，−５２５Ｖ以上ではやや悪かった。
これより総合評価としては，いずれもやや悪であった。

図２２に，Ｖｐｐ＝７００Ｖ，デューティ比４５％で試験した結果を示す。図２２の試験では，ピーク電圧Ｖ１を−４６０から−５６０Ｖまで６段階に変更した。これに伴いピーク電圧Ｖ２を２４０Ｖから１４０Ｖまで７段階に変更した。図２２の表から，各評価項目について次のことがわかる。
画像濃度：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で実用可ないしやや良であった。
ソリッド均一性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
ドット均一性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや悪い。
かぶり：ピーク電圧Ｖ１の全範囲で悪い。
ハイライト部再現性：ピーク電圧Ｖ１の全範囲でやや良であった。
これより総合評価としては，ピーク電圧Ｖ１の全範囲でいずれもやや悪であった。

図８〜図２２の結果から，以下のようなことが導き出される。

かぶりに関しては，
ＶＨ−Ｖ２ ≧ −５００Ｖ かつ Ｖ１−ＶＨ ≧ −２００Ｖ
の範囲内であれば実用可能な結果が得られる（図８の全範囲，図９のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−４６５Ｖ以上の部分，同デューティ比３０％の部分の全範囲，同デューティ比４０％の部分の全範囲，同デューティ比５０％の部分の全範囲，図１０のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００Ｖ以上の部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００Ｖ以上の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００Ｖ以上の部分，同デューティ比５０％の部分の全範囲，図１１のうち電圧Ｖ１が−４８５Ｖの部分，図１２のうち電圧Ｖ１が−５００Ｖの部分，図１３の全範囲，図１４のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下の部分，同デューティ比３０％の部分の全範囲，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下の部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下の部分，図１５のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，図１６のうち電圧Ｖ１が−５６５Ｖの部分，図１８のうち電圧Ｖ１が−４００Ｖ以下の部分，図１９のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−４６５Ｖ以下の部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４６５Ｖ以下の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４８５Ｖの部分）。

上記の範囲外でかぶりが起きやすい理由は，次のように考えられる。本形態のように現像ローラ４１と感光体ドラム１とが接触する接触現像方式では，現像ローラ４１と感光体ドラム１とが接触する現像領域にて，電圧ＶＨと電圧Ｖ２との差により，現像ローラ４１上のトナー層に電荷が注入される。「ＶＨ−Ｖ２」が−５００Ｖより小さい場合，つまり電圧ＶＨと電圧Ｖ２との差の絶対値が５００Ｖより大きい場合には，電荷の注入量も多い。これによりトナーの荷電が低下しあるいは逆極性となる。このようなトナーが感光体ドラム１の背景部に付着してかぶりとなるのである。

また，「ＶＨ−Ｖ１」が−２００Ｖより小さい場合，つまり電圧ＶＨと電圧Ｖ１との差の絶対値が２００Ｖより大きい場合には，背景部へのトナーの付着量がかなり多い。このこと自体かぶりの原因となる。電圧ＶＨと電圧Ｖ２とを離すとこのトナーを回収できるのであるが，前述の電荷注入によるかぶりが発生してしまう。電圧ＶＨと電圧Ｖ２とが近ければ回収不十分となる。よって，電圧ＶＨと電圧Ｖ１とが近すぎる場合にはいずれにせよかぶりが生じやすいのである。

ソリッド均一性に関しては，
−１５０Ｖ ≦ ＶＬ−Ｖ２ ≦ −７０Ｖ かつ Ｖ１−ＶＬ ≧ −５００Ｖ
の範囲内であれば実用可能な結果が得られる（図８のうち電圧Ｖ１が−３８０Ｖ以上の部分，図９のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−３８５〜−４２５Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以上の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５〜−４２５Ｖの部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下の部分，図１０のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５２０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５４０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５４０Ｖの部分，図１３のうち電圧Ｖ１が−３８０Ｖ以上の部分，図１４のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−３８５〜−４２５Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以上の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５〜−４２５Ｖの部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下の部分，図１５のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５２０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５４０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５４０Ｖの部分，図１８のうち電圧Ｖ１が−３８０Ｖ以上の部分，図１９のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−３８５〜−４２５Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以上の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５〜−４２５Ｖの部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下の部分，図２０のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５２０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５４０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５４０Ｖの部分）。

上記の範囲外でソリッド均一性が悪くなりやすい理由は，次のように考えられる。本形態のように現像ローラ４１と感光体ドラム１とが接触する接触現像方式でも，現像領域の上下流に隣接して，現像電界によってトナーが振動する飛翔領域がある。電圧ＶＬと電圧Ｖ２とが近すぎると電界が小さいため，飛翔領域も狭い。このためトナーの振動が不十分で濃度ムラとなる。電圧ＶＬと電圧Ｖ２とが離れすぎていると，飛翔領域は十分にあるが，一旦感光体ドラム１に付着したトナーが過剰に剥離されてしまう。このためやはり濃度ムラとなる。また，電圧ＶＬと電圧Ｖ１とが離れすぎていると放電によりソリッド均一性が損なわれる。よって，電圧ＶＬと電圧Ｖ２との差，および電圧ＶＬと電圧Ｖ１との差は上記の式の範囲内が適切である。

ドット均一性に関しては，
Ｖ１−ＶＬ ≦ −３５０Ｖ かつ ＶＬ−Ｖ２ ≧ −１５０Ｖ
の範囲内であれば実用可能な結果が得られる（図８のうち電圧Ｖ１が−４００Ｖ以下の部分，図９のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以下の部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，図１０のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，図１１のうち電圧Ｖ１が−５６５Ｖの部分，図１３のうち電圧Ｖ１が−４００Ｖ以下の部分，図１４のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−４４５Ｖ以下の部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，図１５のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，図１６のうち電圧Ｖ１が−５６５Ｖの部分，図１８のうち電圧Ｖ１が−４００Ｖ以下の部分，図１９のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−４２５Ｖ以下の部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，図２０のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，図２１のうち電圧Ｖ１が−５６５Ｖの部分）。

上記の範囲外でドット均一性が悪くなりやすい理由は，次のように考えられる。そもそもドットを適切に現像するためには，ソリッド画像の場合と比較して，より強い現像電界が必要である。このため，電圧ＶＬと電圧Ｖ１とは少なくとも３５０Ｖ離れている必要がある。また，電圧ＶＬと電圧Ｖ２とが離れすぎていると，前述したソリッド均一性ばかりでなくドット均一性も悪くなる。一旦感光体ドラム１に付着したトナーの過剰剥離のためである。よって，電圧ＶＬと電圧Ｖ２との差，および電圧ＶＬと電圧Ｖ１との差は上記の式の範囲内が適切である。

ハイライト部再現性に関しては，実用可能な結果が得られるのは，
Ｖ１−ＶＨ ≦ −５０Ｖ
の範囲内に限られる（図８のうち電圧Ｖ１が−３６０Ｖ以下の部分，図９のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−３８５Ｖ以下の部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４０５Ｖ以下の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下の部分，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−３６５Ｖ以下の部分，図１０のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５２０〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５００〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−６００Ｖの部分を除く全範囲，同デューティ比５０％の部分の全範囲，図１１のうち電圧Ｖ１が−５８５Ｖ以下の部分を除く全範囲，図１２の全範囲，図１３のうち電圧Ｖ１が−４６０Ｖの部分，図１４のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−４６５Ｖ以下の部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４６５Ｖ以下の部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４８５Ｖの部分，図１５のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５２０〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４８０〜−５６０Ｖの部分，同デューティ比４０％の部分のうち電圧Ｖ１が−６００Ｖの部分を除く全範囲，同デューティ比５０％の部分のうち電圧Ｖ１が−４６０Ｖ以下の部分，図１６のうち電圧Ｖ１が−５８５Ｖ以下の部分を除く全範囲，図１７の全範囲，図２０のデューティ比２５％の部分のうち電圧Ｖ１が−５６０Ｖの部分，同デューティ比３０％の部分のうち電圧Ｖ１が−５６０Ｖの部分，図２１のうち電圧Ｖ１が−５６５Ｖの部分）。

ハイライト部を良好に再現するためには，背景部にも一旦トナーを付着させる必要がある。このため最低限Ｖ１＜ＶＨである必要があり，上記の範囲で安定して良好な結果が得られた。

以上を総合すると，１成分接触現像方式と交流バイアスとの併用において，適正濃度を確保しつつ，かぶり，ソリッド／ドット均一性，ハイライト部再現性のいずれについても良好な結果が得られる電圧設定は，次の４つの式のすべてを満たすことであることがわかる。
−５００Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＬ ≦ −３５０Ｖ
−１５０Ｖ ≦ ＶＬ−Ｖ２ ≦ −７０Ｖ
Ｖ２−５００Ｖ ≦ ＶＨ ≦ Ｖ１＋２００Ｖ
−２００Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＨ ≦ −５０Ｖ

これより電圧Ｖ１，電圧Ｖ２が満たすべき条件は，次のようになる。
電圧Ｖ１については，
−５００Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＬ ≦ −３５０Ｖ
−２００Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＨ ≦ −５０Ｖ
の２つである。電圧Ｖ２については，
−１５０Ｖ ≦ ＶＬ−Ｖ２ ≦ −７０Ｖ
Ｖ２ ≦ ＶＨ＋５００Ｖ
の２つである。

次に，交流電圧ＶＡＣの周波数を種々変更する試験の結果を説明する。この試験は，上記のようにして定められた電圧条件の範囲内で，電圧ＶＨを−３５０Ｖとし，電圧ＶＬを−５０Ｖとした条件下で行った。この試験では，粒状性，階調性，かぶり，の各品質項目を評価した。このうち，かぶりについては前述と同様に評価した。粒状性，階調性については，階調率３２段階の階調パターンを出力し，この階調パターンにより次のように評価した。
粒状性：階調パターンのＣＣＤによる読み取り値にＭＴＦ（Modulation Transfer Function）補正を考慮したフーリエ変換処理を施し，人間の比視感度にあわせたＧＩ（Graininess Index）評価を行った。詳細には，ハイライト部（Ｌ＊値＞６０）の領域でＧＩ値（小さいほどよい）の極大値により，図２３の表に従いランク評価した。ここでＧＩ値は，日本画像学会誌３９(２)，８４・９３(２０００)に掲載されている値である。
階調性：階調パターンの反射濃度（ＩＤ）を前述のマクベス濃度計で測定し，最高濃度（ＴＤ）に対し１０〜９０％の範囲内の濃度が得られる階調の数（多いほどよい）を計数し，図２４の表に従いランク評価した。

評価結果を図２５に示す。この試験は，（Ｖ１＝−５００Ｖ，Ｖ２＝＋１００Ｖ），（Ｖ１＝−４２５Ｖ，Ｖ２＝＋２５Ｖ）の２種類のバイアス条件でそれぞれ，１〜７ｋＨｚの範囲内の６水準の周波数で行った。その際のデューティ比は，画像の最高濃度（ＴＤ）が適正値（１.３２≦ＴＤ≦１.４２）となるように設定した。図２５の表から，各評価項目について次のことがわかる。

粒状性：１．５ｋＨｚ以上であれば実用可能であり，２〜５ｋＨｚの範囲内であればさらに良好である。
周波数が低すぎると，電圧Ｖ１，Ｖ２の各回の継続時間Ｔ１，Ｔ２（図２参照）が長いことになる。このため，トナーの飛翔領域（現像領域の上下流の隣接領域）においてトナーが十分に振動せず，粒状性の低下につながると考えられる。一方，周波数が高すぎると，各回の継続時間Ｔ１，Ｔ２が短いこととなる。このため，現像ローラ４１から飛翔したトナーが感光体ドラム１まで到達しにくい。したがって，実質的な飛翔領域が狭いことを意味する。このことによりトナーが十分に振動せず，粒状性の低下につながると考えられる。このため，粒状性に関する周波数の適正範囲は，下限１．５ｋＨｚ（より好ましくは２ｋＨｚ），上限７ｋＨｚ（より好ましくは５ｋＨｚ）である。

階調性：１．５ｋＨｚ以上であれば実用可能であり，２ｋＨｚ以上であればさらに良好である。
周波数が低すぎると，粒状性で述べたのと同様の理由によりトナーが十分に振動せず，階調性の低下につながると考えられる。

かぶり：１．５ｋＨｚ以上であれば実用可能であり，２ｋＨｚ以上であればさらに良好である。
周波数が低すぎると，粒状性，階調性で述べたのと同様の理由によりトナーが十分に振動せず，かぶりの悪下につながると考えられる。

上記より，１成分接触現像方式と交流バイアスとの併用において，適正濃度を確保しつつ，粒状性，階調性，かぶり，のいずれについても良好な結果が得られる周波数設定は，１.５〜７ｋＨｚ（より好ましくは２〜５ｋＨｚ）であることがわかる。

一般的に画像形成装置では，環境条件，すなわち温度および湿度に応じて画像濃度を調整する制御を行っている。環境条件によりトナーの荷電性が変化し，画像濃度に影響するからである。すなわち，低湿時にはトナーの荷電性が高まるため，現像性が過少となる傾向がある。これに対しては，デューティ比を高めたり，あるいは電圧Ｖ１と電圧ＶＬとの差の絶対値を大きくしたりすることで対処できる。一方高湿時にはトナーの荷電性が低下するため，現像性が課題となる傾向がある。これに対しては，デューティ比を低めたり，あるいは電圧Ｖ１と電圧ＶＬとの差の絶対値を小さくしたり，さらには電圧Ｖ２と電圧ＶＬとの差の絶対値を大きくしたりすることで対処できる。

本形態のレーザービームプリンタでもこのために環境センサ９を備えている。これにより，温度および湿度に応じてデューティ比や電圧Ｖ１，電圧Ｖ２を変化させ，適正な画像濃度が得られるようにしている。そこで，前述の電圧および周波数の条件の範囲内で，高温高湿環境でも低温低湿環境でも適切な画像形成ができることを確認する試験を行った。この試験の結果を図２６に示す。この試験では，電圧ＶＨを−３５０Ｖ，電圧ＶＬを−５０Ｖとし，標準状態としての中温中湿（２３℃６０％ＲＨ）の他，低温低湿（１０℃１５％ＲＨ），高温高湿（３０℃８５％ＲＨ）の各環境条件下で画像形成を行った。評価項目は，図８〜図２２の試験の場合と同じく，画像濃度，ソリッド均一性，ドット均一性，かぶり，ハイライト部再現性，とした。

中温中湿条件では，電圧Ｖ１を−４５０Ｖとし，電圧Ｖ２を＋５０Ｖとし，デューティ比を４０％として，すべての評価項目で良好な結果を得た。低温低湿条件では，中温中湿条件でのバイアス設定に対して，電圧Ｖ１のみ−５５０Ｖに変更したバイアス設定（「Ｖ１−ＶＬ」の絶対値上昇）と，デューティ比のみ５０％に変更したバイアス設定（デューティ比上昇）との２通りを試験した。どちらのバイアス設定でも，すべての評価項目で良好な結果を得た。高温高湿条件では，中温中湿条件でのバイアス設定に対して，電圧Ｖ１を−４００Ｖに変更し電圧Ｖ２を＋１００Ｖに変更したバイアス設定（「Ｖ１−ＶＬ」の絶対値低下，「ＶＬ−Ｖ２」の絶対値上昇）と，デューティ比のみ３０％に変更したバイアス設定（デューティ比低下）との２通りを試験した。どちらのバイアス設定でも，すべての評価項目で良好な結果を得た。

次に，図１に示したものと異なる構成の画像形成装置にも本発明を適用できることを示す。図２７に，クリーナレスシステムを採用した形態のレーザービームプリンタの要部を示す。図２７のレーザービームプリンタは，基本的構成において図１のレーザービームプリンタと共通である。相違点は，図１のクリーニング装置７が省かれ代わりに帯電調整部材１７が備えられている点にある。帯電調整部材１７には，トナーの帯電極性と同極性の電圧が印加される。これにより帯電調整部材１７は，転写残トナーの帯電極性を揃えるとともに帯電を付与する機能を有する。帯電極性が揃えられた転写残トナーは，感光体ドラム１の回転とともに帯電器２を通過して現像領域に至る。現像領域には前述の条件を満たす現像バイアスが印加されているため，転写残トナーは電圧ＶＨと電圧Ｖ２との差によって現像装置４に回収されるのである。このように，クリーニング装置７は必須要件ではないのである。

このようにクリーナレスシステムを採用した画像形成装置の場合には，ＡＣバイアス方式であることによって，ＤＣバイアス方式の場合よりも明らかな利点がある。すなわち，転写残トナーの現像装置４への回収が確実である。現像バイアスに交流成分が重畳されていることによって，瞬間的に現像残トナーの回収電界を大きくとることができるからである。このような画像形成装置の場合であっても，前述のようなバイアス設定を採用することにより，良好な画像形成を行うことができる。

なお，実施の形態のここまでの説明では，負極性帯電型の感光体ドラム１と負極性トナーとを用いるものとした。しかし本発明はこの場合に限らず，正極性帯電型の感光体ドラムと正極性トナーとを用いるものであっても本発明の適用が可能である。その場合，適正濃度を確保しつつ，かぶり，ソリッド／ドット均一性，ハイライト部再現性のいずれについても良好な結果が得られる電圧設定を示す式は，符号の違いにより次の４つとなる。
３５０Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＬ ≦ ５００Ｖ
７０Ｖ ≦ ＶＬ−Ｖ２ ≦ １５０Ｖ
Ｖ１−２００Ｖ ≦ ＶＨ ≦ Ｖ２＋５００Ｖ
５０Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＨ ≦ ２００Ｖ

これより，正極性帯電型の感光体ドラムと正極性トナーとを用いる場合に電圧Ｖ１，電圧Ｖ２が満たすべき条件は，次のようになる。
電圧Ｖ１については，
３５０Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＬ ≦ ５００Ｖ
５０Ｖ ≦ Ｖ１−ＶＨ ≦ ２００Ｖ
の２つである。電圧Ｖ２については，
７０Ｖ ≦ ＶＬ−Ｖ２ ≦ １５０Ｖ
ＶＨ−５００Ｖ ≦ Ｖ２
の２つである。

以上詳細に説明したように本実施の形態によれば，接触現像方式とＡＣ現像方式とを併用して現像を行いつつ，各種バイアス条件を適切に設定することにより，高品質な画像形成ができるようにした現像装置４および現像方法および現像装置４を利用するレーザービームプリンタが実現されている。したがって，非接触現像方式のような現像領域の間隔の厳密な管理が不要で制御系の負担が軽い。それでいて，現像領域の上下流の隣接領域で飛翔トナーの振動によるエッジ効果を有効に利用して高品質な画像を得ることができる。また，ＡＣ現像方式ではあるが，Ｖｐｐは最大でも６５０Ｖで，多くの場合６００Ｖ以下で済むので電源系への負荷もさほど大きくない。また，環境条件に応じてバイアス条件を変更して適切な画像形成ができるようにしている。

なお，本実施の形態は単なる例示にすぎず，本発明を何ら限定するものではない。したがって本発明は当然に，その要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良，変形が可能である。例えば，本実施の形態ではレーザービームプリンタを例に挙げて説明したが，これに限らず，コピー機，ファックス機，複合機にも適用できる。またカラー機にも適用できる。また，感光体等は必ずしもドラム状あるいはローラ状のものに限らずベルト状のものであってもよい。帯電器は，ブラシ状，コロトロン状，ローラ状，シート状，ブレード状等のいずれの形状の帯電部材を備えるものであってもよい。露光部は，レーザービームに限らずＬＥＤ方式のものやさらにはアナログ光学系を用いるものであってもよい。

さらに，交流電圧ＶＡＣは，矩形波形以外に正弦波や三角波，ノコギリ波等の波形であってもよい。その場合の電圧Ｖ１，Ｖ２は，波形の両ピーク電圧と定義すればよい。継続時間Ｔ１，Ｔ２は，直流電圧ＶＤＣを境とし，これより高圧側および低圧側にある時間と定義すればよい。デューティ比もこのようにして定義された継続時間Ｔ１，Ｔ２に基づいて定めればよい。

実施の形態に係るレーザービームプリンタの要部を示す構成図である。 実施の形態における現像装置への印加バイアスの各種パラメータを説明するグラフである。 画像の透過濃度値のランク区分を示す表である。 画像の均一性のランク区分を示す表である。 かぶりのランク区分を示す表である。 ハイライト部再現性のランク区分を示す表である。 総合評価のランク区分を示す表である。 ＶＨ＝−３００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝４００Ｖ，デューティ比４０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−３００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝４５０Ｖ，デューティ比２５〜５０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−３００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝６００Ｖ，デューティ比２５〜５０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−３００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝６５０Ｖ，デューティ比４０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−３００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝７００Ｖ，デューティ比４５％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−４００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝４００Ｖ，デューティ比４０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−４００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝４５０Ｖ，デューティ比２５〜５０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−４００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝６００Ｖ，デューティ比２５〜５０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−４００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝６５０Ｖ，デューティ比４０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−４００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝７００Ｖ，デューティ比４５％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−５００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝４００Ｖ，デューティ比４０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−５００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝４５０Ｖ，デューティ比２５〜５０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−５００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝６００Ｖ，デューティ比２５〜５０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−５００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝６５０Ｖ，デューティ比４０％での試験結果を示す表である。 ＶＨ＝−５００Ｖ，ＶＬ＝−５０Ｖ，Ｖｐｐ＝７００Ｖ，デューティ比４５％での試験結果を示す表である。 画像の粒状性のランク区分を示す表である。 画像の階調性のランク区分を示す表である。 周波数を変更して行った試験結果を示す表である。 温度および湿度に応じて現像条件を変更する試験の結果を示す表である。 別の形態に係るレーザービームプリンタの要部を示す構成図である。

符号の説明

１ 感光体ドラム
４ 現像装置
４１ 現像ローラ
４４ 規制板
８ 電源部

Claims (8)

1. 像担持体に接触しつつ１成分非磁性のトナーを付与して像担持体の静電潜像を現像する現像部材と，
   前記現像部材上のトナー層の厚さを規制する規制部材と，
   前記現像部材と像担持体との間に，
   Ｖｇ：グランド電圧
   ＶＨ：像担持体の静電潜像における背景部の電圧
   ＶＬ：像担持体の静電潜像における可視部の電圧，電圧Ｖｇに対しＶＨと同極性，ａｂｓ（ＶＬ−Ｖｇ）＜ａｂｓ（ＶＨ−Ｖｇ）
   としたとき，
   

   

   の（１）〜（３）の各条件をすべて満たし，電圧Ｖｇに対し電圧ＶＨと同極性の電圧Ｖ１と，
   

   

   の（４），（５）の両条件をいずれも満たし，電圧ＶＬに対し電圧Ｖ１と逆極性の電圧Ｖ２との間で振動するバイアス電圧を印加する電圧印加装置とを有することを特徴とする現像装置。
2. 請求項１に記載する現像装置において，
   前記電圧印加装置による電圧Ｖ１は，さらに，
   

   

   の条件をも満たすことを特徴とする現像装置。
3. 請求項１または請求項２に記載する現像装置において，
   前記電圧印加装置は，１．５〜７ｋＨｚの範囲内の周波数でバイアス電圧を振動させることを特徴とする現像装置。
4. 請求項１から請求項３のいずれか１つに記載する現像装置において，
   前記電圧印加装置は，電圧振動のデューティ比を，高湿時には低くし，低湿時には高くすることを特徴とする現像装置。
5. 請求項１から請求項４のいずれか１つに記載する現像装置において，
   前記電圧印加装置は，電圧Ｖ１と電圧ＶＬとの差を，高湿時には低くし，低湿時には高くすることを特徴とする現像装置。
6. 請求項１から請求項５のいずれか１つに記載する現像装置において，
   前記電圧印加装置は，電圧Ｖ２と電圧ＶＬとの差を，高湿時には高くし，低湿時には低くすることを特徴とする現像装置。
7. 像担持体と，
   前記像担持体に接触しつつ１成分非磁性のトナーを付与して像担持体の静電潜像を現像する現像部材と，
   前記現像部材上のトナー層の厚さを規制する規制部材と，
   前記現像部材と像担持体との間に，
   Ｖｇ：グランド電圧
   ＶＨ：像担持体の静電潜像における背景部の電圧
   ＶＬ：像担持体の静電潜像における可視部の電圧，電圧Ｖｇに対しＶＨと同極性，ａｂｓ（ＶＬ−Ｖｇ）＜ａｂｓ（ＶＨ−Ｖｇ）
   としたとき，
   

   

   の（１）〜（３）の各条件をすべて満たし，電圧Ｖｇに対し電圧ＶＨと同極性の電圧Ｖ１と，
   

   

   の（４），（５）の両条件をいずれも満たし，電圧ＶＬに対し電圧Ｖ１と逆極性の電圧Ｖ２との間で振動するバイアス電圧を印加する電圧印加装置とを有し，
   前記像担持体の静電潜像を前記現像部材により現像して画像を得る画像形成装置。
8. 現像部材上の１成分非磁性のトナー層の厚さを規制部材で規制しつつ，
   前記現像部材を像担持体に接触させつつ前記現像部材から前記像担持体の静電潜像にトナーを付与して現像する現像方法において，
   前記現像部材と像担持体との間のバイアス電圧を，
   Ｖｇ：グランド電圧
   ＶＨ：像担持体の静電潜像における背景部の電圧
   ＶＬ：像担持体の静電潜像における可視部の電圧，電圧Ｖｇに対し電圧ＶＨと同極性，ａｂｓ（ＶＬ−Ｖｇ）＜ａｂｓ（ＶＨ−Ｖｇ）
   としたとき，
   

   

   の（１）〜（３）の各条件をすべて満たし，電圧Ｖｇに対し電圧ＶＨと同極性の電圧Ｖ１と，
   

   

   の（４），（５）の両条件をいずれも満たし，電圧ＶＬに対し電圧Ｖ１と逆極性の電圧Ｖ２との間で振動させることを特徴とする現像方法。

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