JP2004205517A - X線画像検出器アセンブリのための方法及び装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 20
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 13
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 13
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 8
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 6
- 238000003491 array Methods 0.000 abstract description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 12
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- AYNNSCRYTDRFCP-UHFFFAOYSA-N triazene Chemical compound NN=N AYNNSCRYTDRFCP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
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- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20182—Modular detectors, e.g. tiled scintillators or tiled photodiodes
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
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Abstract
【解決手段】少なくとも2つの画像検出器(40、42、64、66、68、70)の各々は、検出器アレイ(90)を形成するように、この少なくとも2つの画像検出器の間に実質的な内側エッジ接触を提供するための少なくとも1つの内側エッジ(57、58、78、80)を有する。この2つの画像検出器の各々は、検出器アレイの外周(56、76)を形成するような少なくとも1つの外側エッジ(44、46、48、50、52、54、72、74)を有する。本方法はさらに、検出器アレイの外周近傍のエリアを画像レセプターに結合させることを含む。
【選択図】 図2
Description
12 検出器アレイ
14 X線源
16 X線ビーム
18 エリア
20 患者
26 検出器素子、ピクセル
30 収集制御/画像処理回路
36 モニタ、陰極線管ディスプレイ
40 第1の検出器タイル
42 第2の検出器タイル
44 第1の検出器タイルの外側エッジ
46 第1の検出器タイルの外側エッジ
48 第1の検出器タイルの外側エッジ
50 第2の検出器タイルの外側エッジ
52 第2の検出器タイルの外側エッジ
54 第2の検出器タイルの外側エッジ
56 検出器アレイの外周
57 第1の検出器タイルの内側エッジ
58 第2の検出器タイルの内側エッジ
60 内部継ぎ目
64 第1の検出器タイル
66 第2の検出器タイル
68 第3の検出器タイル
70 第4の検出器タイル
72 第1の検出器タイルの外側エッジ
74 第1の検出器タイルの外側エッジ
76 検出器アレイの外周
78 第1の検出器タイルの内側エッジ
80 第1の検出器タイルの内側エッジ
82 内部継ぎ目
90 X線画像検出器アセンブリ
92 画像レセプター
94 フレックス回路
96 読み出し電子回路
110 カバー・アセンブリ
112 ハーメチックシール
Claims (10)
- 画像検出器と、
少なくとも1つの第1の検出器タイル(40、64)及び第2の検出器タイル(42、66)であって、該第1及び第2の検出器タイルの各々は少なくとも1つの内側エッジ(57、58、78、80)を有しており、該第1及び第2のタイルは検出器アレイ(12、24)を形成するように前記内側エッジに沿って互いに実質的に接触しており、該第1及び第2のタイルの各々は前記検出器アレイの外周(56、76)を形成するように少なくとも1つの外側エッジ(44、46、48、50、52、54、72、74)を有しているような少なくとも1つの第1の検出器タイル(40、64)及び第2の検出器タイル(42、66)と、
前記検出器アレイの前記外周の近傍のエリアと結合させた画像レセプター(92)と、
を備えるX線画像検出器アセンブリ(90)。 - 前記画像レセプター(92)を、該画像レセプターの対応する接続に対する前記検出器アレイ(12、24)の前記外周(56、76)近傍の前記エリアとフレックス回路(94)によって結合させている、請求項1に記載のX線画像検出器アセンブリ(90)。
- 各画像検出器の前記少なくとも1つの外側エッジ(44、46、48、50、52、54、72、74)がスキャン接続向けに構成されている、請求項1に記載のX線画像検出器アセンブリ(90)。
- 各画像検出器の前記少なくとも1つの外側エッジ(44、46、48、50、52、54、72、74)がデータ接続向けに構成されている、請求項1に記載のX線画像検出器アセンブリ(90)。
- 前記少なくとも2つの画像検出器がシリコンを含む、請求項1に記載のX線画像検出器アセンブリ(90)。
- 前記画像検出器内に、該画像検出器と前記画像レセプター(92)の間のはんだバンプ・アレイまでの貫通ビアを製作することをさらに含む請求項1に記載のX線画像検出器アセンブリ(90)。
- 少なくとも1つのシリコン結晶検出器タイルを有する画像検出器と、
前記画像検出器と結合させた画像レセプター(92)であって、その結合が前記画像検出器と該画像レセプターの間のはんだバンプ・アレイまでの前記画像検出器内にある貫通ビアによっている画像レセプター(92)と、
を備えるX線画像検出器アセンブリ(90)。 - 前記少なくとも1つのシリコン結晶検出器タイルが単一結晶の検出器タイルである、請求項7に記載のX線画像検出器(90)。
- 前記少なくとも1つのシリコン結晶検出器タイルが多結晶の検出器タイルである、請求項7に記載のX線画像検出器(90)。
- 前記画像検出器の画像受信表面に付着させたシンチレータ層をさらに備える請求項7に記載のX線画像検出器(90)。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/327,734 US6946661B2 (en) | 2002-12-23 | 2002-12-23 | Methods and apparatus for X-ray image detector assemblies |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004205517A true JP2004205517A (ja) | 2004-07-22 |
JP2004205517A5 JP2004205517A5 (ja) | 2007-02-08 |
JP4651937B2 JP4651937B2 (ja) | 2011-03-16 |
Family
ID=32468992
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003424271A Expired - Fee Related JP4651937B2 (ja) | 2002-12-23 | 2003-12-22 | X線画像検出器アセンブリ及びイメージング・システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6946661B2 (ja) |
JP (1) | JP4651937B2 (ja) |
DE (1) | DE10359430A1 (ja) |
FR (1) | FR2849210B1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004034240A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-16 | Siemens Ag | Gerät zur medizinische Bildgebung |
US7505554B2 (en) * | 2005-07-25 | 2009-03-17 | Digimd Corporation | Apparatus and methods of an X-ray and tomosynthesis and dual spectra machine |
US7687790B2 (en) * | 2007-06-07 | 2010-03-30 | General Electric Company | EMI shielding of digital x-ray detectors with non-metallic enclosures |
DE202010006468U1 (de) | 2010-05-05 | 2010-08-05 | Ziehm Imaging Gmbh | Festkörper-Röntgenbilddetektor mit kreisförmiger Detektorfläche |
DE102010019439A1 (de) | 2010-05-05 | 2011-11-10 | Ziehm Imaging Gmbh | Festkörper-Röntgenbilddetektor mit kreisförmiger Detektorfläche |
US8399847B2 (en) | 2010-11-11 | 2013-03-19 | General Electric Company | Ruggedized enclosure for a radiographic device |
US9411057B2 (en) | 2011-04-01 | 2016-08-09 | Medtronic Navigation, Inc. | X-ray imaging system and method |
US9012859B2 (en) | 2012-05-18 | 2015-04-21 | General Electric Company | Tiled X-ray imager panel and method of forming the same |
US9599723B2 (en) | 2015-08-18 | 2017-03-21 | Carestream Health, Inc. | Method and apparatus with tiled image sensors |
US10283557B2 (en) | 2015-12-31 | 2019-05-07 | General Electric Company | Radiation detector assembly |
US10686003B2 (en) | 2015-12-31 | 2020-06-16 | General Electric Company | Radiation detector assembly |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH06113214A (ja) * | 1992-09-28 | 1994-04-22 | Olympus Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
JP2000131444A (ja) * | 1998-10-28 | 2000-05-12 | Canon Inc | 放射線検出装置、放射線検出システム、及び放射線検出装置の製造方法 |
JP2001274420A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-05 | Sharp Corp | 光電変換装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW331667B (en) * | 1995-09-05 | 1998-05-11 | Canon Kk | Photoelectric converter |
US5736732A (en) * | 1996-12-23 | 1998-04-07 | General Electric Company | Induced charge prevention in semiconductor imaging devices |
US6073343A (en) * | 1998-12-22 | 2000-06-13 | General Electric Company | Method of providing a variable guard ring width between detectors on a substrate |
US6149301A (en) * | 1998-12-30 | 2000-11-21 | General Electric Company | X-ray target centering apparatus for radiographic imaging system |
US6259098B1 (en) * | 1999-05-17 | 2001-07-10 | General Electric Company | Low cost, low resolution interconnect for a solid-state x-ray detector |
US6510195B1 (en) * | 2001-07-18 | 2003-01-21 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Solid state x-radiation detector modules and mosaics thereof, and an imaging method and apparatus employing the same |
-
2002
- 2002-12-23 US US10/327,734 patent/US6946661B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-12-09 FR FR0314377A patent/FR2849210B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-17 DE DE10359430A patent/DE10359430A1/de not_active Withdrawn
- 2003-12-22 JP JP2003424271A patent/JP4651937B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0321859U (ja) * | 1989-07-12 | 1991-03-05 | ||
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JP2001274420A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-05 | Sharp Corp | 光電変換装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6946661B2 (en) | 2005-09-20 |
US20040120453A1 (en) | 2004-06-24 |
DE10359430A1 (de) | 2004-07-01 |
FR2849210A1 (fr) | 2004-06-25 |
JP4651937B2 (ja) | 2011-03-16 |
FR2849210B1 (fr) | 2012-08-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |