JP2004126106A - エレクトロルミネッセンス表示装置 - Google Patents
エレクトロルミネッセンス表示装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004126106A JP2004126106A JP2002288501A JP2002288501A JP2004126106A JP 2004126106 A JP2004126106 A JP 2004126106A JP 2002288501 A JP2002288501 A JP 2002288501A JP 2002288501 A JP2002288501 A JP 2002288501A JP 2004126106 A JP2004126106 A JP 2004126106A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- thin film
- pixel
- film transistor
- display device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 title claims description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 22
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/121—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
- H10K59/1213—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
【課題】駆動トランジスタのホトカレント、しきい値電圧のばらつきを抑制し、EL表示パネルの表示品位を向上させる。
【解決手段】有機EL素子70の駆動用TFT85は、マルチゲート構造である。すなわち、絶縁性基板100上にポリシリコン層から成る能動層101が配置され、この能動層101上にゲート絶縁層102を介して、複数のゲート20がくし歯状に配置されている。等価回路でみると、ゲートが共通の複数のトランジスタが直列接続され、この共通ゲートに画素選択用トランジスタ10のソース10sが接続されている。
【選択図】 図2
【解決手段】有機EL素子70の駆動用TFT85は、マルチゲート構造である。すなわち、絶縁性基板100上にポリシリコン層から成る能動層101が配置され、この能動層101上にゲート絶縁層102を介して、複数のゲート20がくし歯状に配置されている。等価回路でみると、ゲートが共通の複数のトランジスタが直列接続され、この共通ゲートに画素選択用トランジスタ10のソース10sが接続されている。
【選択図】 図2
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はエレクトロルミネッセンス表示装置に関し、特に各画素毎に、画素選択用薄膜トランジスタと、エレクトロルミネッセンス素子を電流駆動するための駆動用薄膜トランジスタと、を有するエレクトロルミネッセンス表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:以下、「EL」と略称する)素子を用いたEL表示装置は、CRTやLCDに代わる表示装置として注目されている。特に、EL素子を駆動させるスイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:以下、「TFT」と略称する)を備えたEL表示装置が開発されている。
【0003】
図6に、有機EL表示パネル内の一画素の等価回路図を示す。実際の有機EL表示パネルでは、この画素がn行m列のマトリクスに配置されている。
【0004】
ゲート信号Gnを供給するゲート信号線50と、表示信号Dmを供給するドレイン信号線60とが互いに交差している。
【0005】
それらの両信号線の交差点付近には、有機EL素子70及びこの有機EL素子70を駆動する駆動用TFT80、画素を選択するための画素選択用TFT10が配置されている。
【0006】
駆動用TFT80のソースには、電源ライン90から正電源電圧PVddが供給されている。また、そのドレインは有機EL素子70のアノード71に接続されている。
【0007】
画素選択用TFT10のゲートにはゲート信号線50が接続されることによりゲート信号Gnが供給され、ドレイン10dにはドレイン信号線60が接続され、表示信号Dmが供給される。画素選択用TFT10のソース10sは駆動用TFT80のゲートに接続されている。ここで、ゲート信号Gnは不図示の垂直ドライバ回路から出力される。表示信号Dmは不図示の水平ドライバ回路から出力される。
【0008】
また、有機EL素子70は、アノード71、カソード72、このアノード71とカソード72の間に形成された発光素子層(不図示)から成る。カソード72には、負電源電圧CVが供給されている。
【0009】
また、駆動用TFT80のゲートには保持容量Csが接続されている。保持容量Csは表示信号Dmに応じた電荷を保持することにより、1フィールド期間、表示画素の表示信号を保持するために設けられている。
【0010】
上述した構成のEL表示装置の動作を説明する。ゲート信号Gnが一水平期間ハイレベルになると、画素選択用TFT10がオンする。すると、ドレイン信号線60から表示信号Dmが画素選択用TFT10を通して、駆動用TFT80のゲートに印加される。
【0011】
そして、そのゲートに供給された表示信号Dmに応じて、駆動用TFT80のコンダクタンスが変化し、それに応じた駆動電流が駆動用TFT80を通して有機EL素子70に供給され、有機EL素子70が点灯する。そのゲートに供給された表示信号Dmに応じて、駆動用TFT80がオフ状態の場合には、駆動用TFT80には電流が流れないため、有機EL素子70も消灯する。なお、関連する先行技術文献には、例えば以下の特許文献1がある。
【0012】
【特許文献1】
特開2002−175029号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、駆動用TFT80がオフ状態のときに、外部からの光が駆動用TFT80に入射されると、いわゆるホトカレント(光電流)が流れ、このホトカレントがリーク電流となって有機EL素子70に供給されるため、有機EL素子70がわずかに発光してしまうという問題があった。
【0014】
また、駆動用TFT80をPチャネル型で構成すると、トランジスタのチャネル領域を構成しているポリシリコン層の結晶状態の不安定性により、しきい値にばらつきが生じやすい。すると、有機EL素子70に流れる電流が画素毎に変化してしまい、表示パネルの色むらが生じるという問題があった。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、駆動用薄膜トランジスタをマルチゲート(複数ゲート構造)で構成した。つまり、各ゲート下のチャネル領域が分断され、等価回路でみると、ゲートが共通の複数のトランジスタが直列された構造となる。
【0016】
これにより、その複数の直列トランジスタ中、一つのトランジスタのチャネル領域に光が入射され、局所的にホトカレントが生じたとしても、他のトランジスタにホトカレントが同時に発生しなければ、駆動用薄膜トランジスタとしては、ホトカレントが流れることはない。
【0017】
したがって、駆動用薄膜トランジスタがオフ状態のときに、ホトカレントが発生し、このホトカレントがリーク電流となってエレクトロルミネッセンス素子に供給され、このエレクトロルミネッセンス素子が発光してしまうという不具合が防止される。
【0018】
また、駆動用薄膜トランジスタをマルチゲート(複数ゲート構造)で構成したことで、トランジスタのしきい値を決定するチャネル領域が、複数のゲート下にそれぞれ分断される。そして、それぞれのチャネル領域を構成するポリシリコンの結晶状態がランダムにばらつくことで、各トランジスタのしきい値のばらつきもランダムとなる。マルチゲートの駆動用薄膜トランジスタのしきい値は、それらの各しきい値が平均化されたものであるから、そのばらつきはシングルゲートのものに比べて小さくなる。
【0019】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。まず、第1の実施形態について図1、図2、図3を参照しながら説明する。図1は有機EL表示パネル内の一画素の等価回路図である。図2はこの一画素の平面パターン図である。また、図3は図2におけるX−X線に沿った断面図である。実際の有機EL表示パネルでは、この画素がn行m列のマトリクスに配置されている。
【0020】
有機EL素子70の駆動用TFT85は、マルチゲート構造である。すなわちガラス基板等の透明な絶縁性基板100上にポリシリコン層から成る能動層101が配置され、この能動層101上にゲート絶縁層102を介して、マルチゲート20がくし歯状に配置されている。マルチゲート20上には、層間絶縁層103が形成されている(図2,図3参照)。等価回路でみると、ゲートが共通の複数のトランジスタが直列接続され、この共通ゲートに画素選択用TFT10のソース10sが接続されている(図1参照)。
【0021】
以下、この画素構造について詳しく説明する。ゲート信号Gnを供給するゲート信号線50が行方向に延在し、表示信号Dmを供給するドレイン信号線60が行方向に延在し、これらの信号線が互いに立体的に交差している。ゲート信号線50は、クロム層若しくはモリブデン層等から成り、ドレイン信号線60はその上層のアルミニウム層等から成る。
【0022】
画素選択用TFT10において、ポリシリコン層から成る能動層15上にゲート絶縁層(不図示)が形成され、そのゲート絶縁層上に、ゲート信号線50から延びた2つのゲートがオーバーラップして、ダブルゲート構造を形成している。また、この画素選択用TFT10ソース10dは、ドレイン信号線60とコンタクト16を介して接続されている。画素選択用TFT10のドレイン10sを構成しているポリシリコン層は、保持容量領域に延在され、その上層の保持容量線11と容量絶縁膜を介してオーバーラップしており、このオーバーラップ部分で保持容量Csが形成されている。
【0023】
そして、画素選択用TFT10のドレイン10sから延びたポリシリコン層は、駆動用TFT85のマルチゲート20にアルミニウム配線17を介して接続されている。マルチゲート20は、クロム層若しくはモリブデン層等から形成されている。このマルチゲート20は、くし歯状の形状を呈しており、駆動用TFT85の能動層101上にゲート絶縁層101を介してオーバーラップしている。
【0024】
駆動用TFT85のソースはコンタクトを介して、正電源電圧PVddが供給90に接続されている。また、駆動用TFT85のドレインはコンタクトを介して有機EL素子70のアノード71に接続されている。
【0025】
上記構成によれば、有機EL素子70の駆動用TFT85をマルチゲート構造しているので、その4つの直列トランジスタ中、一つのトランジスタのチャネル領域に光が入射され、局所的にホトカレントが生じたとしても、他のトランジスタにホトカレントが同時に発生しなければ、駆動用TFT85としては、ホトカレントが流れることはない。これにより、駆動用TFT85がオフ状態のときにホトカレントが発生し、このホトカレントがリーク電流となって有機EL素子70に供給され、この有機EL素子70が発光してしまうという不具合が防止される。
【0026】
また、駆動用TFT85をマルチゲートで構成したことで、TFTのしきい値を決定するチャネル領域が、4つのゲート下にそれぞれ分断される。そして、それぞれのチャネル領域を構成するポリシリコンの結晶状態がランダムにばらつくことで、各トランジスタのしきい値のばらつきもランダムとなる。駆動用TFT85のしきい値は、それらの各しきい値が平均化されたものであるから、そのばらつきはシングルゲートのものに比べて小さくなる。
【0027】
これにより、有機EL素子70に流れる電流が画素毎に変化してしまい、表示パネルの色むらが生じるという問題が解消できる。なお、駆動用TFT85は、4つの直列トランジスタから構成しているが、その直列トランジスタの数は、適宜増減することができる。
【0028】
次に、第2の実施形態について図4、図5を参照しながら説明する。図4は、有機EL表示パネル内の一画素の等価回路図である。図5はこの一画素の平面パターン図である。なお、図5におけるX−X線に沿った断面は図3に示す断面と同じである。
【0029】
本実施形態では、駆動用TFT85を並列トランジスタで構成している。すなわち、駆動用TFT85は、ドレイン、ソース及びゲートが共通に接続された2つの並列トランジスタ85A,85Bに分けられ、それぞれの並列トランジスタ85A,85Bにマルチゲート20が入力されている。
【0030】
そして、各並列トランジスタ85A,85Bは、ソースドレイン方向に直列接続された4つの直列トランジスタから構成されている。そして、各並列トランジスタ85A,85Bの共通ソースはコンタクトを介して、正電源電圧PVddが供給された電源ライン90に接続されている。また、各並列トランジスタ85A,85Bの共通ドレインはコンタクトを介して有機EL素子70のアノード71に接続されている。
【0031】
このように、本実施形態によれば、駆動用TFT85を並列トランジスタ85A,85Bで構成しているので、一方のトランジスタが不良となった場合でも動作上問題が生じないという利点がある。並列トランジスタ85A,85Bはそれぞれ4つの直列トランジスタから構成しているが、その直列トランジスタの数は適宜増減することができる。
【0032】
また、第1の実施形態では、画素選択用TFT10をダブルゲート構造で構成しているが、本実施形態では画素選択トランジスタのようにシングルゲート構造であってもよい。
【0033】
【発明の効果】
本発明によれば、各画素毎に、画素選択用薄膜トランジスタと、エレクトロルミネッセンス素子を電流駆動するための駆動用薄膜トランジスタと、を有するエレクトロルミネッセンス表示装置において、駆動用薄膜トランジスタをマルチゲート構造としたので、ホトカレントの発生が抑止され、駆動用薄膜トランジスタがオフ状態のときにエレクトロルミネッセンス素子が発光してしまうという不具合が防止される。また同時に、駆動用薄膜トランジスタのしきい値のばらつきが小さくなるので、表示パネルの色むらを無くすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の回路図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の平面パターン図である。
【図3】図2におけるX−X線に沿った断面図である。
【図4】本発明の第2の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の回路図である。
【図5】本発明の第2の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の平面パターン図である。
【図6】従来例に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の回路図である。
【符号の説明】
10 画素選択用TFT
20 マルチゲート
50 ゲート線
60 ドレイン線
85 駆動用TFT
85A,85B 並列トランジスタ
70 有機EL素子
90 電源ライン
100 絶縁性基板
101 能動層
102 ゲート絶縁層
103 層間絶縁層
【発明の属する技術分野】
本発明はエレクトロルミネッセンス表示装置に関し、特に各画素毎に、画素選択用薄膜トランジスタと、エレクトロルミネッセンス素子を電流駆動するための駆動用薄膜トランジスタと、を有するエレクトロルミネッセンス表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:以下、「EL」と略称する)素子を用いたEL表示装置は、CRTやLCDに代わる表示装置として注目されている。特に、EL素子を駆動させるスイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:以下、「TFT」と略称する)を備えたEL表示装置が開発されている。
【0003】
図6に、有機EL表示パネル内の一画素の等価回路図を示す。実際の有機EL表示パネルでは、この画素がn行m列のマトリクスに配置されている。
【0004】
ゲート信号Gnを供給するゲート信号線50と、表示信号Dmを供給するドレイン信号線60とが互いに交差している。
【0005】
それらの両信号線の交差点付近には、有機EL素子70及びこの有機EL素子70を駆動する駆動用TFT80、画素を選択するための画素選択用TFT10が配置されている。
【0006】
駆動用TFT80のソースには、電源ライン90から正電源電圧PVddが供給されている。また、そのドレインは有機EL素子70のアノード71に接続されている。
【0007】
画素選択用TFT10のゲートにはゲート信号線50が接続されることによりゲート信号Gnが供給され、ドレイン10dにはドレイン信号線60が接続され、表示信号Dmが供給される。画素選択用TFT10のソース10sは駆動用TFT80のゲートに接続されている。ここで、ゲート信号Gnは不図示の垂直ドライバ回路から出力される。表示信号Dmは不図示の水平ドライバ回路から出力される。
【0008】
また、有機EL素子70は、アノード71、カソード72、このアノード71とカソード72の間に形成された発光素子層(不図示)から成る。カソード72には、負電源電圧CVが供給されている。
【0009】
また、駆動用TFT80のゲートには保持容量Csが接続されている。保持容量Csは表示信号Dmに応じた電荷を保持することにより、1フィールド期間、表示画素の表示信号を保持するために設けられている。
【0010】
上述した構成のEL表示装置の動作を説明する。ゲート信号Gnが一水平期間ハイレベルになると、画素選択用TFT10がオンする。すると、ドレイン信号線60から表示信号Dmが画素選択用TFT10を通して、駆動用TFT80のゲートに印加される。
【0011】
そして、そのゲートに供給された表示信号Dmに応じて、駆動用TFT80のコンダクタンスが変化し、それに応じた駆動電流が駆動用TFT80を通して有機EL素子70に供給され、有機EL素子70が点灯する。そのゲートに供給された表示信号Dmに応じて、駆動用TFT80がオフ状態の場合には、駆動用TFT80には電流が流れないため、有機EL素子70も消灯する。なお、関連する先行技術文献には、例えば以下の特許文献1がある。
【0012】
【特許文献1】
特開2002−175029号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、駆動用TFT80がオフ状態のときに、外部からの光が駆動用TFT80に入射されると、いわゆるホトカレント(光電流)が流れ、このホトカレントがリーク電流となって有機EL素子70に供給されるため、有機EL素子70がわずかに発光してしまうという問題があった。
【0014】
また、駆動用TFT80をPチャネル型で構成すると、トランジスタのチャネル領域を構成しているポリシリコン層の結晶状態の不安定性により、しきい値にばらつきが生じやすい。すると、有機EL素子70に流れる電流が画素毎に変化してしまい、表示パネルの色むらが生じるという問題があった。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、駆動用薄膜トランジスタをマルチゲート(複数ゲート構造)で構成した。つまり、各ゲート下のチャネル領域が分断され、等価回路でみると、ゲートが共通の複数のトランジスタが直列された構造となる。
【0016】
これにより、その複数の直列トランジスタ中、一つのトランジスタのチャネル領域に光が入射され、局所的にホトカレントが生じたとしても、他のトランジスタにホトカレントが同時に発生しなければ、駆動用薄膜トランジスタとしては、ホトカレントが流れることはない。
【0017】
したがって、駆動用薄膜トランジスタがオフ状態のときに、ホトカレントが発生し、このホトカレントがリーク電流となってエレクトロルミネッセンス素子に供給され、このエレクトロルミネッセンス素子が発光してしまうという不具合が防止される。
【0018】
また、駆動用薄膜トランジスタをマルチゲート(複数ゲート構造)で構成したことで、トランジスタのしきい値を決定するチャネル領域が、複数のゲート下にそれぞれ分断される。そして、それぞれのチャネル領域を構成するポリシリコンの結晶状態がランダムにばらつくことで、各トランジスタのしきい値のばらつきもランダムとなる。マルチゲートの駆動用薄膜トランジスタのしきい値は、それらの各しきい値が平均化されたものであるから、そのばらつきはシングルゲートのものに比べて小さくなる。
【0019】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。まず、第1の実施形態について図1、図2、図3を参照しながら説明する。図1は有機EL表示パネル内の一画素の等価回路図である。図2はこの一画素の平面パターン図である。また、図3は図2におけるX−X線に沿った断面図である。実際の有機EL表示パネルでは、この画素がn行m列のマトリクスに配置されている。
【0020】
有機EL素子70の駆動用TFT85は、マルチゲート構造である。すなわちガラス基板等の透明な絶縁性基板100上にポリシリコン層から成る能動層101が配置され、この能動層101上にゲート絶縁層102を介して、マルチゲート20がくし歯状に配置されている。マルチゲート20上には、層間絶縁層103が形成されている(図2,図3参照)。等価回路でみると、ゲートが共通の複数のトランジスタが直列接続され、この共通ゲートに画素選択用TFT10のソース10sが接続されている(図1参照)。
【0021】
以下、この画素構造について詳しく説明する。ゲート信号Gnを供給するゲート信号線50が行方向に延在し、表示信号Dmを供給するドレイン信号線60が行方向に延在し、これらの信号線が互いに立体的に交差している。ゲート信号線50は、クロム層若しくはモリブデン層等から成り、ドレイン信号線60はその上層のアルミニウム層等から成る。
【0022】
画素選択用TFT10において、ポリシリコン層から成る能動層15上にゲート絶縁層(不図示)が形成され、そのゲート絶縁層上に、ゲート信号線50から延びた2つのゲートがオーバーラップして、ダブルゲート構造を形成している。また、この画素選択用TFT10ソース10dは、ドレイン信号線60とコンタクト16を介して接続されている。画素選択用TFT10のドレイン10sを構成しているポリシリコン層は、保持容量領域に延在され、その上層の保持容量線11と容量絶縁膜を介してオーバーラップしており、このオーバーラップ部分で保持容量Csが形成されている。
【0023】
そして、画素選択用TFT10のドレイン10sから延びたポリシリコン層は、駆動用TFT85のマルチゲート20にアルミニウム配線17を介して接続されている。マルチゲート20は、クロム層若しくはモリブデン層等から形成されている。このマルチゲート20は、くし歯状の形状を呈しており、駆動用TFT85の能動層101上にゲート絶縁層101を介してオーバーラップしている。
【0024】
駆動用TFT85のソースはコンタクトを介して、正電源電圧PVddが供給90に接続されている。また、駆動用TFT85のドレインはコンタクトを介して有機EL素子70のアノード71に接続されている。
【0025】
上記構成によれば、有機EL素子70の駆動用TFT85をマルチゲート構造しているので、その4つの直列トランジスタ中、一つのトランジスタのチャネル領域に光が入射され、局所的にホトカレントが生じたとしても、他のトランジスタにホトカレントが同時に発生しなければ、駆動用TFT85としては、ホトカレントが流れることはない。これにより、駆動用TFT85がオフ状態のときにホトカレントが発生し、このホトカレントがリーク電流となって有機EL素子70に供給され、この有機EL素子70が発光してしまうという不具合が防止される。
【0026】
また、駆動用TFT85をマルチゲートで構成したことで、TFTのしきい値を決定するチャネル領域が、4つのゲート下にそれぞれ分断される。そして、それぞれのチャネル領域を構成するポリシリコンの結晶状態がランダムにばらつくことで、各トランジスタのしきい値のばらつきもランダムとなる。駆動用TFT85のしきい値は、それらの各しきい値が平均化されたものであるから、そのばらつきはシングルゲートのものに比べて小さくなる。
【0027】
これにより、有機EL素子70に流れる電流が画素毎に変化してしまい、表示パネルの色むらが生じるという問題が解消できる。なお、駆動用TFT85は、4つの直列トランジスタから構成しているが、その直列トランジスタの数は、適宜増減することができる。
【0028】
次に、第2の実施形態について図4、図5を参照しながら説明する。図4は、有機EL表示パネル内の一画素の等価回路図である。図5はこの一画素の平面パターン図である。なお、図5におけるX−X線に沿った断面は図3に示す断面と同じである。
【0029】
本実施形態では、駆動用TFT85を並列トランジスタで構成している。すなわち、駆動用TFT85は、ドレイン、ソース及びゲートが共通に接続された2つの並列トランジスタ85A,85Bに分けられ、それぞれの並列トランジスタ85A,85Bにマルチゲート20が入力されている。
【0030】
そして、各並列トランジスタ85A,85Bは、ソースドレイン方向に直列接続された4つの直列トランジスタから構成されている。そして、各並列トランジスタ85A,85Bの共通ソースはコンタクトを介して、正電源電圧PVddが供給された電源ライン90に接続されている。また、各並列トランジスタ85A,85Bの共通ドレインはコンタクトを介して有機EL素子70のアノード71に接続されている。
【0031】
このように、本実施形態によれば、駆動用TFT85を並列トランジスタ85A,85Bで構成しているので、一方のトランジスタが不良となった場合でも動作上問題が生じないという利点がある。並列トランジスタ85A,85Bはそれぞれ4つの直列トランジスタから構成しているが、その直列トランジスタの数は適宜増減することができる。
【0032】
また、第1の実施形態では、画素選択用TFT10をダブルゲート構造で構成しているが、本実施形態では画素選択トランジスタのようにシングルゲート構造であってもよい。
【0033】
【発明の効果】
本発明によれば、各画素毎に、画素選択用薄膜トランジスタと、エレクトロルミネッセンス素子を電流駆動するための駆動用薄膜トランジスタと、を有するエレクトロルミネッセンス表示装置において、駆動用薄膜トランジスタをマルチゲート構造としたので、ホトカレントの発生が抑止され、駆動用薄膜トランジスタがオフ状態のときにエレクトロルミネッセンス素子が発光してしまうという不具合が防止される。また同時に、駆動用薄膜トランジスタのしきい値のばらつきが小さくなるので、表示パネルの色むらを無くすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の回路図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の平面パターン図である。
【図3】図2におけるX−X線に沿った断面図である。
【図4】本発明の第2の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の回路図である。
【図5】本発明の第2の実施形態に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の平面パターン図である。
【図6】従来例に係るエレクトロルミネッセンス表示装置の回路図である。
【符号の説明】
10 画素選択用TFT
20 マルチゲート
50 ゲート線
60 ドレイン線
85 駆動用TFT
85A,85B 並列トランジスタ
70 有機EL素子
90 電源ライン
100 絶縁性基板
101 能動層
102 ゲート絶縁層
103 層間絶縁層
Claims (4)
- 複数の画素を備え、各画素は、エレクトロルミネッセンス素子と、ゲート信号に応じて各画素を選択するための画素選択用薄膜トランジスタと、前記画素選択用薄膜トランジスタを通して供給される表示信号に応じて前記エレクトロルミネッセンス素子に電流を供給する駆動用薄膜トランジスタとを有し、前記駆動用薄膜トランジスタがマルチゲートで構成されていることを特徴とするエレクトロルミネッセンス表示装置。
- 前記画素選択用薄膜トランジスタがシングルゲートで構成されていることを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
- 前記画素選択用薄膜トランジスタのゲート数が前記駆動用薄膜トランジスタのゲート数より少ないことを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
- 前記駆動用薄膜トランジスタを複数備え、これらの駆動用薄膜トランジスタは前記エレクトロルミネッセンス素子に並列に接続されていることを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002288501A JP2004126106A (ja) | 2002-10-01 | 2002-10-01 | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
TW092125164A TWI291308B (en) | 2002-10-01 | 2003-09-12 | Electroluminescence display device |
KR1020030067359A KR100558243B1 (ko) | 2002-10-01 | 2003-09-29 | 일렉트로 루미네센스 표시 장치 |
CNA031544975A CN1498040A (zh) | 2002-10-01 | 2003-09-29 | 电致发光显示装置 |
US10/674,790 US20040130262A1 (en) | 2002-10-01 | 2003-10-01 | Electroluminescent display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002288501A JP2004126106A (ja) | 2002-10-01 | 2002-10-01 | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004126106A true JP2004126106A (ja) | 2004-04-22 |
Family
ID=32280982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002288501A Pending JP2004126106A (ja) | 2002-10-01 | 2002-10-01 | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20040130262A1 (ja) |
JP (1) | JP2004126106A (ja) |
KR (1) | KR100558243B1 (ja) |
CN (1) | CN1498040A (ja) |
TW (1) | TWI291308B (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004361424A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-12-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 素子基板、発光装置及び発光装置の駆動方法 |
KR100635574B1 (ko) | 2004-11-17 | 2006-10-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계발광표시장치 |
JP2010160494A (ja) * | 2003-03-19 | 2010-07-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP5153015B2 (ja) * | 2008-07-02 | 2013-02-27 | シャープ株式会社 | 面発光表示装置 |
KR20170057367A (ko) * | 2014-09-19 | 2017-05-24 | 코핀 코포레이션 | 액티브 매트릭스 led 픽셀 구동 회로 및 레이아웃 방법 |
JP2017130466A (ja) * | 2005-01-31 | 2017-07-27 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置、電子機器、及び携帯情報端末 |
KR101814942B1 (ko) | 2013-09-12 | 2018-01-04 | 소니 주식회사 | 표시 장치, 그 제조 방법, 및 전자 기기 |
JP2018067723A (ja) * | 2005-07-22 | 2018-04-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2020038376A (ja) * | 2013-10-10 | 2020-03-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置及び発光装置 |
WO2022229790A1 (ja) * | 2021-04-30 | 2022-11-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101142994B1 (ko) | 2004-05-20 | 2012-05-08 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 및 그 구동 방법 |
US20060050031A1 (en) * | 2004-09-06 | 2006-03-09 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Display-device driving circuit suitable for inorganic electroluminescence (EL) display device |
KR20170020571A (ko) * | 2015-08-12 | 2017-02-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR20210014815A (ko) | 2019-07-30 | 2021-02-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그의 제조 방법 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000214800A (ja) * | 1999-01-20 | 2000-08-04 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2000221903A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2000221907A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2000260571A (ja) * | 1999-03-11 | 2000-09-22 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2000259098A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-09-22 | Sanyo Electric Co Ltd | アクティブ型el表示装置 |
JP2001051622A (ja) * | 1999-06-04 | 2001-02-23 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置及び電子装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3252897B2 (ja) * | 1998-03-31 | 2002-02-04 | 日本電気株式会社 | 素子駆動装置および方法、画像表示装置 |
US6822629B2 (en) * | 2000-08-18 | 2004-11-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
-
2002
- 2002-10-01 JP JP2002288501A patent/JP2004126106A/ja active Pending
-
2003
- 2003-09-12 TW TW092125164A patent/TWI291308B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-09-29 KR KR1020030067359A patent/KR100558243B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 2003-09-29 CN CNA031544975A patent/CN1498040A/zh active Pending
- 2003-10-01 US US10/674,790 patent/US20040130262A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000214800A (ja) * | 1999-01-20 | 2000-08-04 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2000221903A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2000221907A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2000259098A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-09-22 | Sanyo Electric Co Ltd | アクティブ型el表示装置 |
JP2000260571A (ja) * | 1999-03-11 | 2000-09-22 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP2001051622A (ja) * | 1999-06-04 | 2001-02-23 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置及び電子装置 |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8570256B2 (en) | 2003-03-19 | 2013-10-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Device substrate, light emitting device and driving method of light emitting device |
JP2010160494A (ja) * | 2003-03-19 | 2010-07-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
US7843408B2 (en) | 2003-03-19 | 2010-11-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Device substrate, light emitting device and driving method of light emitting device |
US8242988B2 (en) | 2003-03-19 | 2012-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Device substrate, light emitting device and driving method of light emitting device |
JP2004361424A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-12-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 素子基板、発光装置及び発光装置の駆動方法 |
KR100635574B1 (ko) | 2004-11-17 | 2006-10-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계발광표시장치 |
US11362165B2 (en) | 2005-01-31 | 2022-06-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US10573705B2 (en) | 2005-01-31 | 2020-02-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device with defective pixel correction |
JP2017130466A (ja) * | 2005-01-31 | 2017-07-27 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置、電子機器、及び携帯情報端末 |
US11910676B2 (en) | 2005-01-31 | 2024-02-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US10700156B2 (en) | 2005-01-31 | 2020-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
JP2020053704A (ja) * | 2005-07-22 | 2020-04-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
US10103270B2 (en) | 2005-07-22 | 2018-10-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP2018067723A (ja) * | 2005-07-22 | 2018-04-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP7587071B2 (ja) | 2005-07-22 | 2024-11-19 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2022177075A (ja) * | 2005-07-22 | 2022-11-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
JP7169964B2 (ja) | 2005-07-22 | 2022-11-11 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP5153015B2 (ja) * | 2008-07-02 | 2013-02-27 | シャープ株式会社 | 面発光表示装置 |
KR101814942B1 (ko) | 2013-09-12 | 2018-01-04 | 소니 주식회사 | 표시 장치, 그 제조 방법, 및 전자 기기 |
US11764074B2 (en) | 2013-10-10 | 2023-09-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP2020038376A (ja) * | 2013-10-10 | 2020-03-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置及び発光装置 |
KR102395067B1 (ko) | 2014-09-19 | 2022-05-04 | 코핀 코포레이션 | 액티브 매트릭스 led 픽셀 구동 회로 및 레이아웃 방법 |
KR20170057367A (ko) * | 2014-09-19 | 2017-05-24 | 코핀 코포레이션 | 액티브 매트릭스 led 픽셀 구동 회로 및 레이아웃 방법 |
JP2017533457A (ja) * | 2014-09-19 | 2017-11-09 | コピン コーポレーション | アクティブマトリクス型のled画素駆動回路およびレイアウト方法 |
WO2022229790A1 (ja) * | 2021-04-30 | 2022-11-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100558243B1 (ko) | 2006-03-10 |
US20040130262A1 (en) | 2004-07-08 |
TW200406135A (en) | 2004-04-16 |
TWI291308B (en) | 2007-12-11 |
CN1498040A (zh) | 2004-05-19 |
KR20040030320A (ko) | 2004-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3670941B2 (ja) | アクティブマトリクス型自発光表示装置及びアクティブマトリクス型有機el表示装置 | |
KR100489272B1 (ko) | 유기 전계발광소자 및 그의 구동방법 | |
JP4593740B2 (ja) | 表示装置 | |
CN204464284U (zh) | 显示装置 | |
CN204464281U (zh) | 薄膜晶体管基板 | |
JP4220277B2 (ja) | アクティブマトリクス有機電界発光素子 | |
KR102279392B1 (ko) | 박막 트랜지스터 기판 및 이를 이용한 표시장치 | |
KR100453635B1 (ko) | 능동행렬 유기전기발광소자 | |
JPH10214060A (ja) | 電界発光表示装置およびその駆動方法 | |
CN104867932A (zh) | 薄膜晶体管基板及利用该薄膜晶体管基板的显示装置 | |
CN111326673B (zh) | 显示装置 | |
US20120242708A1 (en) | Active matrix electroluminescent display | |
US10338424B2 (en) | Curved display apparatus | |
JP2000259098A (ja) | アクティブ型el表示装置 | |
JP2004126106A (ja) | エレクトロルミネッセンス表示装置 | |
KR20150078344A (ko) | 유기전계발광표시장치 | |
US11895890B2 (en) | Display substrate and display apparatus | |
US7903051B2 (en) | Electro-luminescence display device and driving method thereof | |
KR20050031945A (ko) | 액티브 매트릭스형 표시 장치 | |
TWI252052B (en) | Electroluminescence display device | |
JP2003108070A (ja) | 表示装置 | |
KR101319319B1 (ko) | 유기 전계발광소자 | |
KR20060096857A (ko) | 표시 장치 및 그 구동 방법 | |
KR102191823B1 (ko) | 유기발광다이오드 표시장치 및 이의 제조방법 | |
WO2024007313A1 (zh) | 显示面板及显示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050930 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060713 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070117 |