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JP2003318135A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

Info

Publication number
JP2003318135A
JP2003318135A JP2002124278A JP2002124278A JP2003318135A JP 2003318135 A JP2003318135 A JP 2003318135A JP 2002124278 A JP2002124278 A JP 2002124278A JP 2002124278 A JP2002124278 A JP 2002124278A JP 2003318135 A JP2003318135 A JP 2003318135A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive film
wafer
semiconductor wafer
support
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002124278A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Suzuki
一広 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
Priority to JP2002124278A priority Critical patent/JP2003318135A/ja
Publication of JP2003318135A publication Critical patent/JP2003318135A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】薄い半導体チップを高い歩留まりで得ることが
可能な半導体装置の製造方法を提供すること。 【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法では、半導
体ウエハ1の半導体素子が形成された面の裏面に第1粘
着フィルム3を介して第1支持体2の平坦面を貼り付け
た状態で半導体ウエハ1を減厚加工し、減厚加工後の半
導体ウエハ1と第1支持体2との分離は、第2支持体5
の凸状湾曲面上に第2粘着フィルム6を支持してなる剥
離部材4を、第2粘着フィルム6が第1粘着フィルム3
の半導体ウエハ1から露出した部分に接触したのちに半
導体ウエハ1に接触するように第1支持体2の平坦面上
で転動させることにより行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体パッケージには薄型化が要求され
ており、それに伴い、半導体チップにも薄型化が要求さ
れている。そのため、半導体ウエハへの半導体素子の形
成を完了したのち、研削加工などによりウエハの厚さを
例えば75μm程度以下にまで減ずる必要が生じてきて
いる。しかしながら、ウエハを薄く加工した場合、研削
加工を施したウエハを搬送する際などにウエハの破損を
生じ易くなる。
【0003】ところで、従来の半導体装置の製造プロセ
スでは、上記の研削加工時にはウエハの半導体素子を形
成した主面に粘着フィルムを貼り付けてその主面を保護
し、研削加工終了時にその粘着フィルムをウエハから剥
離していた。近年、上述した搬送時におけるウエハの破
損を防止するために、ウエハとガラス板のような補強板
とを両面粘着性の粘着フィルムを介して貼り合わせ、そ
の状態で研削加工や搬送を行うことが検討されている。
【0004】しかしながら、この方法では、搬送時にお
けるウエハの破損を抑制できるものの、ウエハを補強板
及び粘着フィルムから分離する際にウエハの破損を極め
て生じ易い。そのため、補強板を使用した上記方法で
は、薄い半導体チップを高い歩留まりで得ることは困難
であった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、薄い
半導体チップを高い歩留まりで得ることが可能な半導体
装置の製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、一方の主面に半導体素子が形成された半
導体ウエハと平坦面を有する第1支持体とを、前記半導
体ウエハの前記半導体素子が形成された主面の全体が両
面粘着性の第1粘着フィルムを介して前記第1支持体の
平坦面の一部と接するように、及び、前記第1粘着フィ
ルムが前記半導体ウエハの周囲の少なくとも一部で前記
第1支持体の前記平坦面と接触し且つ前記半導体ウエハ
から露出するように貼り合わせる工程と、前記半導体ウ
エハと前記第1支持体とを貼り合わせたまま前記半導体
ウエハの前記半導体素子が形成された主面の裏面を加工
して前記半導体ウエハの厚さを減ずる工程と、前記半導
体ウエハの厚さを減ずる工程の後に、凸状の湾曲面を有
する第2支持体と前記湾曲面に支持され且つ少なくとも
前記第2支持体側の面の裏面が粘着性である第2粘着フ
ィルムとを備えた剥離部材を、前記第2粘着フィルムが
前記第1粘着フィルムの前記半導体ウエハから露出した
部分に接触したのちに前記半導体ウエハに接触するよう
に前記第1支持体の前記平坦面上で転動させることによ
り、前記半導体ウエハを前記第2支持体の湾曲面に沿っ
て撓ませながら前記第1支持体から前記半導体ウエハを
前記第1粘着フィルムとともに前記剥離部材上へと移し
取る工程とを含んだことを特徴とする半導体装置の製造
方法を提供する。
【0007】本発明に係る方法は、半導体ウエハを移し
取る工程の後に、半導体ウエハをダイシングして複数の
半導体チップを形成する工程をさらに含むことができ
る。この場合、第2粘着フィルムを、ダイシングの際に
半導体ウエハをダイシングテーブルに固定するダイシン
グフィルムとして利用してもよい。
【0008】本発明に係る方法は、半導体ウエハを移し
取る工程の後に、半導体ウエハをダイシングして複数の
半導体チップを形成する工程と、複数の半導体チップの
それぞれをダイボンディングする工程とをさらに含むこ
とができる。この場合、第2粘着フィルムを、ダイボン
ディングの際に半導体チップを絶縁基板上に固定するダ
イボンディングフィルムとして利用してもよい。
【0009】本発明に係る方法は、半導体ウエハを移し
取る工程の後に、第1粘着フィルムと半導体ウエハと第
2粘着フィルムとの積層体を第2支持体から分離する工
程と、第2支持体から分離した積層体を第2粘着フィル
ムがダイシングテーブルと半導体ウエハとの間に介在す
るようにダイシングテーブルに固定する工程と、ダイシ
ングテーブルに固定した積層体の第1粘着フィルムを半
導体ウエハから剥離する工程と、第1粘着フィルムを剥
離した半導体ウエハをダイシングして複数の半導体チッ
プを形成する工程をさらに含むことができる。
【0010】本発明において、上記湾曲面は柱面であっ
てもよい。この場合、上記貼り合わせる工程は、第1粘
着フィルムの半導体ウエハから露出した部分が半導体ウ
エハの輪郭を取り囲む凸曲線のうち最も小さいものの外
側に位置するように行ってもよい。本発明において、第
2支持体は可撓性であってもよい。また、本発明におい
て、半導体ウエハの厚さを減ずる工程は、半導体ウエハ
の厚さが75μm以下になるように行ってもよい。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図に
おいて、同様または類似の構成要素には同一の参照符号
を付し、重複する説明は省略する。
【0012】図1(a)乃至(e)は、本発明の一実施
形態に係る半導体装置の製造プロセスの一部を概略的に
示す断面図である。本実施形態では、以下に説明する方
法により半導体装置を製造する。
【0013】まず、シリコンウエハのような半導体ウエ
ハ1の一主面に、複数の半導体チップに対応して、配線
やトランジスタのような半導体素子を形成する。
【0014】次に、図1(a)に示すように、ウエハ1
の半導体素子を形成した面と支持体2の平坦面とを両面
が粘着性の粘着フィルム3を介して貼り合わせる。この
貼り合せは、例えば、支持体2の平坦面に予め粘着フィ
ルム3を貼り付けておき、その後、ウエハ1の半導体素
子を形成した面に粘着フィルム3を貼り付けることによ
り行う。本実施形態では、支持体2の平坦面や粘着フィ
ルム3をウエハ1よりも大面積として、ウエハ1の半導
体素子を形成した面の全体を支持体2の平坦面の一部に
粘着フィルム3を介して対向させるとともに、支持体2
の平坦面上で粘着フィルム3のウエハ1との対向面を部
分的に露出させる。
【0015】支持体2としては、硬質であり且つ平坦面
を有するもの,例えばガラス板のような補強板,を使用
することができる。支持体2及び粘着フィルム3は、後
で説明する研削加工及び搬送の際にウエハ1の破損を防
止する保護部材としての役割を果たす。
【0016】支持体2に貼り合わせるウエハ1は可撓性
であってもよく或いは非可撓性であってもよい。ウエハ
1が可撓性である場合、ウエハ1を凸状に撓ませ、その
凸面を粘着フィルム3を介して支持体2の平坦面に順次
貼り付けることにより、接着面に空気が残留するのを防
止することができる。他方、ウエハ1が非可撓性である
場合、タカトリ社製のTEAM100などを利用するこ
とにより、接着面に空気を残留させることなくウエハ1
と支持体2とを粘着フィルム3を介して貼り合わせるこ
とができる。
【0017】次いで、ウエハ1と支持体2とを貼り合わ
せた状態で、ウエハ1の支持体2との対向面の裏面に研
削加工のような減厚加工を施す。これにより、図1
(b)に示すように、ウエハ1の厚さを例えば75μm
程度以下にまで減ずる。
【0018】この研削加工の後には、ウエハ1の被研削
面に対して研磨、ウェットエッチング、或いはドライエ
ッチングなどの処理を行うことが望ましい。後述するよ
うに、本実施形態では、支持体2からウエハ1を剥離す
る際にウエハ1を撓ませる。上記の処理を行った場合、
ウエハ1を撓ませた際に割れなどの破損が生じるのをよ
り効果的に防止することができる。また、この研削加工
の後に、ウエハ1の被研削面に対して金属電極層などを
形成してもよい。
【0019】その後、図1(c)乃至(e)に示すよう
に、ウエハ1が貼り付けられた支持体2上で剥離部材4
を転動させる。剥離部材4は、凸状の湾曲面を有する支
持体5とその湾曲面に支持された粘着フィルム6とを備
えている。また、粘着フィルム6の支持体5との対向面
の裏面は粘着性である。したがって、図1(c)乃至
(e)に示すように、支持体5の凸状湾曲面が粘着フィ
ルム6を介してウエハ1に接するように支持体2上の右
端から左端に向けて剥離部材4を転動させると、以下に
説明するように支持体2からウエハ1などを剥離するこ
とができる。
【0020】すなわち、上記のように剥離部材4を転動
させると、粘着フィルム6は、まず、図1(c)に示す
ように粘着フィルム3の右端の露出部に接着する。ここ
で、粘着フィルム3と粘着フィルム6との間の接着力が
粘着フィルム3と支持体2との間の接着力よりも強けれ
ば、剥離部材4の転動に伴って粘着フィルム3は支持体
2から剥離部材4上へと移行する。
【0021】剥離部材4をさらに転動させると、粘着フ
ィルム3の支持体2上から剥離部材4上への移行が進行
するとともに、粘着フィルム6はウエハ1に接着する。
研削加工後のウエハ1は可撓性であるので、図1(d)
に示すように、ウエハ1は剥離部材4の凸状湾曲面に沿
って撓みながら粘着フィルム3とともに支持体2上から
剥離部材4上へと移行する。
【0022】さらに剥離部材4を支持体2の左端まで転
動させると、図1(e)に示すように、ウエハ1及び粘
着フィルム3は支持体2上から剥離部材4上へと完全に
移行する。以上のようにして、支持体2からウエハ1及
び粘着フィルム3を剥離することができる。
【0023】この方法では、ウエハ1と支持体2との間
に介在した粘着フィルム3を巻き取るようにして支持体
2から剥離部材4上へと移行させ、それにより、ウエハ
1を支持体2から剥がし取る。そのため、この方法で
は、例えば、支持体5の凸状湾曲面を半径が十分に大き
い円筒面とするとともに剥離部材4の転動速度を適宜設
定することにより、ウエハ1を支持体2から剥離する際
に、ウエハ1に局所的な応力が加わるのを防止すること
ができる。したがって、ウエハ1の破損を抑制すること
ができ、薄い半導体チップを高い歩留まりで得ることが
可能となる。
【0024】また、上述した方法では、ウエハ1の破損
を殆ど生ずることなくウエハ1と支持体5とを分離する
ことができる。例えば、粘着フィルム6が片面のみ粘着
性を有している場合は、粘着フィルム6を吸引保持可能
な支持体4を使用すれば、ウエハ1の破損を殆ど生ずる
ことなくウエハ1と支持体5とを容易に分離することが
できる。また、本来、ウエハ1は平坦であるので、撓ん
だウエハ1を支持体5から分離する過程でウエハ1の応
力は緩和される。そのため、粘着フィルム6が両面に粘
着性を有している場合であっても、ウエハ1の破損を殆
ど生ずることなくウエハ1と支持体5とを容易に分離す
ることができる。なお、粘着フィルム6が両面に粘着性
を有している場合、支持体5の全体が可撓性であるか、
或いは、支持体5を可撓性フィルムと凸状湾曲面を有し
且つその凸状湾曲面上に可撓性フィルムを吸引保持可能
な保持部材とで構成することが望ましい。この場合、ウ
エハ1と支持体5とを容易に分離する際にウエハ1の破
損が生じるのをより効果的に防止することができる。
【0025】以上のようにして支持体2から剥離したウ
エハ1は、ダイシングして複数の半導体チップへと分割
する。その後、これら半導体チップのパッケージ化やベ
アチップ及び/または半導体パッケージの回路基板への
実装を行う。
【0026】ウエハ1を支持体2から剥離するのに使用
した粘着フィルム6は、ウエハ1をダイシングテーブル
に固定するダイシングフィルムや、チップを絶縁基板に
固定するダイボンディングフィルムなどとして利用する
ことができる。
【0027】図2(a),(b)は、図1(a)乃至
(e)に示すプロセスを採用した場合に採用可能なダイ
シング方法を概略的に示す断面図である。粘着フィルム
6をダイシングフィルムとして用いたダイシングは、例
えば、以下の方法により行う。
【0028】まず、先に説明したように、粘着フィルム
3とウエハ1と粘着フィルム6との積層体を支持体5か
ら分離する。次に、図2(a)に示すように、この積層
体を粘着フィルム6がダイシングテーブル7と接触する
ようにダイシングテーブル7に貼り付け、さらに、粘着
フィルム3上に剥離用フィルム8を貼り付ける。なお、
剥離用フィルム8としては、剥離用フィルム8と粘着フ
ィルム3との接着力が粘着フィルム3と粘着フィルム6
やウエハ1との接着力よりも強いものを使用する。次い
で、剥離フィルム8の一端を他端側に向けて引っ張るこ
とにより、剥離フィルム8を粘着フィルム3とともに粘
着フィルム6やウエハ1から剥離する。これにより、図
2(b)に示す構造を得る。その後、ウエハ1をダイシ
ングして、複数の半導体チップへと分割する。
【0029】このように粘着フィルム6をダイシングフ
ィルムとして利用した場合、ダイシングフィルムを貼り
付ける装置が不要となり、それに伴い、ウエハ1の搬送
作業が軽減される。また、消耗材の使用量を減少させる
ことができ、製造コストを低減することができる。しか
も、ダイシングフィルムとして利用した粘着フィルム6
は、さらにダイボンディングフィルムとして利用するこ
とができる。この場合、消耗材の使用量をさらに減少さ
せることが可能となる。
【0030】なお、図2(a),(b)を参照して説明
した方法では、粘着フィルム3とウエハ1と粘着フィル
ム6との積層体を支持体5から分離してダイシングを行
ったが、その積層体と支持体5とを分離せずにダイシン
グを行うことも可能である。例えば、支持体5としてア
クリロニトリル−ブタジエン−スチレン樹脂などからな
る可撓性の板状体を使用すれば、支持体5を湾曲させる
こと及び平坦化することを任意に行うことが可能であ
る。したがって、図1(c)乃至(e)に示す工程の間
は支持体5を湾曲させておき、ダイシングの際には支持
体5を平坦化して上記積層体と支持体5とを分離するこ
となくダイシングを行うことができる。
【0031】本実施形態において、支持体5の湾曲面の
曲率半径が過剰に小さい場合、ウエハ1を過度に撓ませ
ることとなり、ウエハ1の破損を生じ易くなる。通常、
支持体5の湾曲面の曲率半径がウエハ1の半径よりも大
きければ、そのような破損を防止することができる。但
し、支持体5の湾曲面の曲率半径が過剰に大きい場合、
ウエハ1を十分に撓ませることができず、ウエハ1など
の支持体2からの剥離が困難となることがある。したが
って、支持体5の湾曲面の曲率半径は、ウエハ1などを
支持体2から容易に剥離できるように適宜設定する。
【0032】本実施形態において、剥離部材4を転動さ
せている間に粘着フィルム3の上記露出部と粘着フィル
ム6との接着状態が維持されれば、図1(a)に示す幅
W,すなわち、ウエハ1への接着に先立って粘着フィル
ム6を接着させる粘着フィルム3の露出部の幅,に特に
制限はない。但し、幅Wが広い場合、ウエハ1の端部に
おける割れを防止するうえで有利である。
【0033】本実施形態において、図1(b)を参照し
て説明した研削加工により達成するウエハ1の厚さは、
研削加工後のウエハ1を上記のように撓ませることが可
能な程度に薄ければ特に制限はない。但し、従来技術で
は、粘着フィルムの剥離の際に生じるウエハ1の破損
は、研削加工によりウエハ1の厚さを75μm程度以下
にまで減じた場合に顕著である。したがって、本実施形
態に係る技術は、研削加工によりウエハ1の厚さを75
μm程度以下にまで減じた場合に特に有用である。
【0034】本実施形態に係る方法では、光や熱などに
よる粘着フィルム3,6の粘着力の変化を利用すること
なく上述した剥離や分離を行うことができる。したがっ
て、粘着フィルム3,6は、上記の方法でウエハ1を破
損することなく接着や剥離を行うことが可能な程度の粘
着力を有しているものであれば、その構造や材料に特に
制限はない。
【0035】例えば、粘着フィルム3は、粘着層のみで
構成してもよく、或いは、基材フィルムとその両面に設
けられた粘着層とで構成してもよい。また、粘着フィル
ム6は、粘着層のみで構成してもよく、基材フィルムと
一方の主面に設けられた粘着層とで構成してもよく、或
いは、基材フィルムとその両面に設けられた粘着層とで
構成してもよい。さらに、粘着フィルム3,6の粘着層
は、光や熱などにより、粘着力を低下させるものであっ
てもよく、粘着力が変化させないものであってもよい。
また、粘着フィルム3,6の粘着層は、光や熱などによ
り硬化するものであってもよい。
【0036】本実施形態では、図1(c)乃至(e)を
参照して説明したように、粘着フィルム6をウエハ1に
接着するのに先立ち、粘着フィルム6を粘着フィルム3
の露出部に接着させる。したがって、剥離部材4を用い
たウエハ1などの剥離は必ずしも任意の方向から開始可
能である訳ではない。また、支持体5の湾曲面が柱面で
ある場合には、粘着フィルム3の上記露出部はウエハ1
の輪郭を取り囲む凸曲線のうち最も小さいものの外側に
位置している必要がある。
【0037】図3(a)乃至(c)は、図1(a)乃至
(e)に示すプロセスで利用可能な粘着フィルム3の例
を示す平面図である。
【0038】図3(a)に示す粘着フィルム3は、ウエ
ハ1とほぼ相似形であり且つウエハ1よりも大きい。ま
た、図3(a)に示す配置では、ウエハ1は粘着フィル
ム3のほぼ中央に位置している。この場合、粘着フィル
ム3はウエハ1の周囲を取り囲むように露出するため、
剥離部材4を用いた剥離を任意の方向から開始すること
ができる。
【0039】図3(b)に示す粘着フィルム3は、ウエ
ハ1と直径が等しい円形状のウエハ支持部と四角形状の
耳部とで構成されている。図3(b)に示す配置では、
ウエハ1は粘着フィルム3のウエハ支持部と重なるよう
に位置しており、粘着フィルム3の耳部はウエハ1から
露出している。なお、図3(b)に示す配置では、粘着
フィルム3のウエハ支持部は、ウエハ1に設けられたノ
ッチの位置で部分的に露出している。しかしながら、支
持体5の湾曲面が柱面である場合、粘着フィルム6をウ
エハ1に接着するのに先立って粘着フィルム3のノッチ
位置で露出した部分に粘着フィルム6を接着させること
は困難である。したがって、この場合、剥離部材4を用
いた剥離は、図中、上から下に向けて行うこととなる。
【0040】図3(c)に示す粘着フィルム3は、図3
(a)に示す粘着フィルム3と同様の形状及び寸法を有
している。図3(c)に示す配置では、ウエハ1はその
輪郭が粘着フィルム3の輪郭に内接するように位置して
いる。この場合、剥離部材4を用いた剥離は、図中、下
方以外の任意の方向から開始することができる。但し、
粘着フィルム3の露出部の幅は上部で最も広いので、剥
離部材4を用いた剥離は上方から開始することが望まし
い。
【0041】上記の通り、支持体2及び粘着フィルム3
は、ウエハ1の研削加工や搬送の際にウエハ1が破損す
るのを防止する目的で使用する。また、本実施形態で
は、粘着フィルム6をウエハ1に接着するのに先立ち、
粘着フィルム6を粘着フィルム3の露出部に接着させ
る。そのため、本実施形態において、支持体2の平坦面
や粘着層3の主面はウエハ1の主面よりも広い必要があ
る。
【0042】図4(a),(b)は、図1(a)に示す
構造とその変形例とを示す断面図である。本実施形態に
おいて、支持体2の平坦面に対する粘着フィルム3の主
面の相対的な寸法に特に制限はなく、図4(a)に示す
ように支持体2の平坦面と粘着フィルム3の主面とは同
一の寸法を有していてもよく、或いは、図4(b)に示
すように支持体2の平坦面は粘着フィルム3の主面より
も大きな寸法を有していてもよい。後者の場合、粘着フ
ィルム6が粘着フィルム3とウエハ1とに順次接触する
ように剥離部材4を転動させてもよく、或いは、粘着フ
ィルム6が支持体2の露出した上面に接触したのちに粘
着フィルム3とウエハ1とに順次接触するように剥離部
材4を転動させてもよい。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、半導
体ウエハの半導体素子が形成された面の裏面に第1粘着
フィルムを介して第1支持体の平坦面を貼り付けた状態
で半導体ウエハを減厚加工する。また、本発明では、減
厚加工後の半導体ウエハと第1支持体との分離は、第2
支持体の凸状湾曲面上に第2粘着フィルムを支持してな
る剥離部材を、第2粘着フィルムが第1粘着フィルムの
半導体ウエハから露出した部分に接触したのちに半導体
ウエハに接触するように第1支持体の平坦面上で転動さ
せることにより行う。そのため、そのため、半導体ウエ
ハを第1支持体から剥離する際に、半導体ウエハに局所
的な応力が加わるのを防止することができる。したがっ
て、半導体ウエハの破損を抑制することができ、薄い半
導体チップを高い歩留まりで得ることが可能となる。す
なわち、本発明によると、薄い半導体チップを高い歩留
まりで得ることが可能な半導体装置の製造方法が提供さ
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)乃至(e)は、本発明の一実施形態に係
る半導体装置の製造プロセスの一部を概略的に示す断面
図。
【図2】(a),(b)は、図1(a)乃至(e)に示
すプロセスを採用した場合に採用可能なダイシング方法
を概略的に示す断面図。
【図3】(a)乃至(c)は、図1(a)乃至(e)に
示すプロセスで利用可能な粘着フィルムの例を示す平面
図。
【図4】(a),(b)は、図1(a)に示す構造とそ
の変形例とを示す断面図。
【符号の説明】
1…半導体ウエハ 2…支持体 3…粘着フィルム 4…剥離部材 5…支持体 6…粘着フィルム 7…ダイシングテーブル 8…剥離用フィルム

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一方の主面に半導体素子が形成された半
    導体ウエハと平坦面を有する第1支持体とを、前記半導
    体ウエハの前記半導体素子が形成された主面の全体が両
    面粘着性の第1粘着フィルムを介して前記第1支持体の
    平坦面の一部と接するように、及び、前記第1粘着フィ
    ルムが前記半導体ウエハの周囲の少なくとも一部で前記
    第1支持体の前記平坦面と接触し且つ前記半導体ウエハ
    から露出するように貼り合わせる工程と、 前記半導体ウエハと前記第1支持体とを貼り合わせたま
    ま前記半導体ウエハの前記半導体素子が形成された主面
    の裏面を加工して前記半導体ウエハの厚さを減ずる工程
    と、 前記半導体ウエハの厚さを減ずる工程の後に、凸状の湾
    曲面を有する第2支持体と前記湾曲面に支持され且つ少
    なくとも前記第2支持体側の面の裏面が粘着性である第
    2粘着フィルムとを備えた剥離部材を、前記第2粘着フ
    ィルムが前記第1粘着フィルムの前記半導体ウエハから
    露出した部分に接触したのちに前記半導体ウエハに接触
    するように前記第1支持体の前記平坦面上で転動させる
    ことにより、前記半導体ウエハを前記第2支持体の湾曲
    面に沿って撓ませながら前記第1支持体から前記半導体
    ウエハを前記第1粘着フィルムとともに前記剥離部材上
    へと移し取る工程とを含んだことを特徴とする半導体装
    置の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記半導体ウエハを移し取る工程の後
    に、前記半導体ウエハをダイシングして複数の半導体チ
    ップを形成する工程をさらに含み、 前記ダイシングの際に前記半導体ウエハをダイシングテ
    ーブルに固定するダイシングフィルムとして前記第2粘
    着フィルムを利用することを特徴とする請求項1に記載
    の半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記半導体ウエハを移し取る工程の後
    に、 前記半導体ウエハをダイシングして複数の半導体チップ
    を形成する工程と、 前記複数の半導体チップのそれぞれをダイボンディング
    する工程とをさらに含み、 前記ダイボンディングの際に前記半導体チップを絶縁基
    板上に固定するダイボンディングフィルムとして前記第
    2粘着フィルムを利用することを特徴とする請求項1に
    記載の半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記半導体ウエハを移し取る工程の後
    に、 前記第1粘着フィルムと前記半導体ウエハと前記第2粘
    着フィルムとの積層体を前記第2支持体から分離する工
    程と、 前記第2支持体から分離した前記積層体を前記第2粘着
    フィルムがダイシングテーブルと前記半導体ウエハとの
    間に介在するように前記ダイシングテーブルに固定する
    工程と、 前記ダイシングテーブルに固定した前記積層体の前記第
    1粘着フィルムを前記半導体ウエハから剥離する工程
    と、 前記第1粘着フィルムを剥離した前記半導体ウエハをダ
    イシングして複数の半導体チップを形成する工程をさら
    に含んだことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置
    の製造方法。
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