JP2003145770A - 記録ヘッド用基板、記録ヘッド、記録装置、および記録ヘッドの製造方法 - Google Patents
記録ヘッド用基板、記録ヘッド、記録装置、および記録ヘッドの製造方法Info
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
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- B41J2202/00—Embodiments of or processes related to ink-jet or thermal heads
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- B41J2202/13—Heads having an integrated circuit
Landscapes
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 耐キャビテーション膜等を介して印加される
静電放電から半導体基板上に形成された回路素子を保護
する。 【解決手段】 耐キャビテーション膜1にアノードが接
続され、グランド電位にカソードが接続されたダイオー
ド14と、耐キャビテーション膜1にカソードが接続さ
れ、電源電位にアノードが接続されたダイオード13と
を素子基板101上に形成する。耐キャビテーション膜
1に接続されたボンディングパッド15に印加された静
電放電は、正の電圧の場合にはダイオード13を介して
電源電位に放電され、負の電圧の場合には、ダイオード
14を介してグランド電位に放電される。これにより、
耐キャビテーション膜1から保護膜3を介して素子基板
101上に形成されている回路素子が破壊される可能性
を削減できる。
静電放電から半導体基板上に形成された回路素子を保護
する。 【解決手段】 耐キャビテーション膜1にアノードが接
続され、グランド電位にカソードが接続されたダイオー
ド14と、耐キャビテーション膜1にカソードが接続さ
れ、電源電位にアノードが接続されたダイオード13と
を素子基板101上に形成する。耐キャビテーション膜
1に接続されたボンディングパッド15に印加された静
電放電は、正の電圧の場合にはダイオード13を介して
電源電位に放電され、負の電圧の場合には、ダイオード
14を介してグランド電位に放電される。これにより、
耐キャビテーション膜1から保護膜3を介して素子基板
101上に形成されている回路素子が破壊される可能性
を削減できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被記録媒体に印字
を行うための記録ヘッドに用いられ、電気エネルギーを
熱エネルギーに変換しインクに気泡を発生させることで
インクを吐出するエネルギー変換素子が形成された記録
ヘッド及びその製造方法に関し、特に、印字エネルギー
を発生させるための印字エネルギー発生素子等が形成さ
れた半導体基板である記録ヘッド用基板及びその製造方
法に関する。
を行うための記録ヘッドに用いられ、電気エネルギーを
熱エネルギーに変換しインクに気泡を発生させることで
インクを吐出するエネルギー変換素子が形成された記録
ヘッド及びその製造方法に関し、特に、印字エネルギー
を発生させるための印字エネルギー発生素子等が形成さ
れた半導体基板である記録ヘッド用基板及びその製造方
法に関する。
【0002】ここで被記録媒体への印字には、文字を印
刷する動作だけでなく記号、図形等の文字以外のものを
印刷する動作をも含むものとする。
刷する動作だけでなく記号、図形等の文字以外のものを
印刷する動作をも含むものとする。
【0003】
【従来の技術】熱等のエネルギーをインク等の液体に与
えることで、インクに急峻な体積変化(気泡の発生)を
伴う状態変化を生じさせ、この状態変化に基づく作用力
によって吐出口からインクを吐出し、これを被記録媒体
上に付着させて画像形成を行なうインクジェット記録方
法、いわゆるバブルジェット(登録商標)記録方法が従
来知られている。このバブルジェット記録方法を用いる
記録装置には、米国特許第4,723,129号明細書等
の公報に開示されているように、インクを吐出するため
の吐出口と、この吐出口に連通するインク流路と、イン
ク流路内に配されたインクを吐出するためのエネルギー
変換素子としての発熱抵抗体が一般的に配されている。
えることで、インクに急峻な体積変化(気泡の発生)を
伴う状態変化を生じさせ、この状態変化に基づく作用力
によって吐出口からインクを吐出し、これを被記録媒体
上に付着させて画像形成を行なうインクジェット記録方
法、いわゆるバブルジェット(登録商標)記録方法が従
来知られている。このバブルジェット記録方法を用いる
記録装置には、米国特許第4,723,129号明細書等
の公報に開示されているように、インクを吐出するため
の吐出口と、この吐出口に連通するインク流路と、イン
ク流路内に配されたインクを吐出するためのエネルギー
変換素子としての発熱抵抗体が一般的に配されている。
【0004】この様な記録方法によれば、品位の高い画
像を高速、低騒音で記録することができるとともに、こ
の記録方法を行うヘッドではインクを吐出するための吐
出口を高密度に配置することができるため、小型の装置
で高解像度の記録画像、さらにカラー画像をも容易に得
ることができるという多くの優れた点を有している。こ
のため、このバブルジェット記録方法は、近年、プリン
タ、複写機、ファクシミリ等の多くのオフィス機器に利
用されており、さらに、捺染装置等の産業用システムに
まで利用されるようになってきている。
像を高速、低騒音で記録することができるとともに、こ
の記録方法を行うヘッドではインクを吐出するための吐
出口を高密度に配置することができるため、小型の装置
で高解像度の記録画像、さらにカラー画像をも容易に得
ることができるという多くの優れた点を有している。こ
のため、このバブルジェット記録方法は、近年、プリン
タ、複写機、ファクシミリ等の多くのオフィス機器に利
用されており、さらに、捺染装置等の産業用システムに
まで利用されるようになってきている。
【0005】さらに、近年では、インクの有無等を検出
するためにインクに電気信号を印加してインクの有無を
検出する方法が用いられるようになっている。例えば、
特開平7−60953号公開公報では、耐キャビテーシ
ョン膜をインクに電気信号を印加するための電極として
使用し、インクタンクに設けられたインク切れ検出用電
極によりこの電気信号が検出されるか否かによりインク
の有無を検出する構成が記載されている。
するためにインクに電気信号を印加してインクの有無を
検出する方法が用いられるようになっている。例えば、
特開平7−60953号公開公報では、耐キャビテーシ
ョン膜をインクに電気信号を印加するための電極として
使用し、インクタンクに設けられたインク切れ検出用電
極によりこの電気信号が検出されるか否かによりインク
の有無を検出する構成が記載されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、印字
の高速化を計るためにヘッドの印字幅、すなわちノズル
数の増大を実施してきているが、前記に伴いヘッド上で
発生する熱も年々増加しており、熱対策が重要なポイン
トとなっている。その解決法のひとつとして、ヒータ上
の保護膜を薄くして、ヒータからインクへと伝わる熱伝
導性を向上することで発泡の効率を上げる手法がとられ
てきている。
の高速化を計るためにヘッドの印字幅、すなわちノズル
数の増大を実施してきているが、前記に伴いヘッド上で
発生する熱も年々増加しており、熱対策が重要なポイン
トとなっている。その解決法のひとつとして、ヒータ上
の保護膜を薄くして、ヒータからインクへと伝わる熱伝
導性を向上することで発泡の効率を上げる手法がとられ
てきている。
【0007】一方、前述のようにインクの状態を検出す
るために金属膜であるTa等の耐キャビテーション膜を電
極としてインクに対して電圧パルスを印加する手法も導
入されて来ており、耐キャビテーション膜に直接接続さ
れた端子がヘッドコンタクト部に露出する構成がとられ
るようになった。こうした背景の中で従来の保護膜厚
(5000Å〜10000Å)においては、上記のよう
に耐キャビテーション膜に直接電気的に接続された端子
がヘッドコンタクトに露出した状態で静電気が印加され
た場合においても保護膜によってカバーすることができ
ていた。しかしながら、前記ヒータの吐出効率を上げる
ために保護膜を薄くした構成(例えば5000Å以下、
このましくは3000Å以下)において静電気が前記耐
キャビテーション膜に印加された場合、ヒータ等の回路
が形成された記録ヘッド用基板の特に保護膜のカバーが
弱いAL等の配線段差部分において、絶縁が図られてい
る素子基板上の回路と耐キャビテーション間で絶縁破壊
が発生して、印字不良につながる問題を確認した。
るために金属膜であるTa等の耐キャビテーション膜を電
極としてインクに対して電圧パルスを印加する手法も導
入されて来ており、耐キャビテーション膜に直接接続さ
れた端子がヘッドコンタクト部に露出する構成がとられ
るようになった。こうした背景の中で従来の保護膜厚
(5000Å〜10000Å)においては、上記のよう
に耐キャビテーション膜に直接電気的に接続された端子
がヘッドコンタクトに露出した状態で静電気が印加され
た場合においても保護膜によってカバーすることができ
ていた。しかしながら、前記ヒータの吐出効率を上げる
ために保護膜を薄くした構成(例えば5000Å以下、
このましくは3000Å以下)において静電気が前記耐
キャビテーション膜に印加された場合、ヒータ等の回路
が形成された記録ヘッド用基板の特に保護膜のカバーが
弱いAL等の配線段差部分において、絶縁が図られてい
る素子基板上の回路と耐キャビテーション間で絶縁破壊
が発生して、印字不良につながる問題を確認した。
【0008】また、同時にこれまでの保護膜の厚さにお
いては特に問題がなかったヒータの抵抗値をモニタする
モニタ用抵抗(ランク抵抗)、素子基板を保温するため
のサブヒータにおいても、静電気印加により絶縁破壊が
発生して動作不良に至ることも確認した。インクジェッ
ト記録ヘッド用基板の場合、ロジック素子等の不純物に
弱い素子上に保護膜を介して耐キャビテーション膜があ
り、その上に半導体が嫌うイオンをかなり含んだインク
が存在する構成をとっており、こうしたインクジェット
記録ヘッド素子基板特有の構成において保護膜が薄くな
った場合の静電気対策は非常に重要であることを本発明
者は認識した。
いては特に問題がなかったヒータの抵抗値をモニタする
モニタ用抵抗(ランク抵抗)、素子基板を保温するため
のサブヒータにおいても、静電気印加により絶縁破壊が
発生して動作不良に至ることも確認した。インクジェッ
ト記録ヘッド用基板の場合、ロジック素子等の不純物に
弱い素子上に保護膜を介して耐キャビテーション膜があ
り、その上に半導体が嫌うイオンをかなり含んだインク
が存在する構成をとっており、こうしたインクジェット
記録ヘッド素子基板特有の構成において保護膜が薄くな
った場合の静電気対策は非常に重要であることを本発明
者は認識した。
【0009】ここで上記耐キャビテーション膜、ランク
抵抗、サブヒータに共通する特長は、静電気の逃げる場
所をもっとも体積的に大きいシリコン等の半導体基板の
ベース部分と考え、静電気という高電圧に対して、耐キ
ャビテーション膜のようにベース部分に抜けようとする
圧力を保護膜の絶縁性で耐えているもの、あるいはラン
ク抵抗、サブヒータのようにベース部分に抜けようとす
る高電圧に対して抵抗を介して少しづつ緩和するところ
に集中していることを見出した。
抵抗、サブヒータに共通する特長は、静電気の逃げる場
所をもっとも体積的に大きいシリコン等の半導体基板の
ベース部分と考え、静電気という高電圧に対して、耐キ
ャビテーション膜のようにベース部分に抜けようとする
圧力を保護膜の絶縁性で耐えているもの、あるいはラン
ク抵抗、サブヒータのようにベース部分に抜けようとす
る高電圧に対して抵抗を介して少しづつ緩和するところ
に集中していることを見出した。
【0010】本発明の目的は、静電放電により半導体基
板上に形成された回路素子が破壊されてしまう可能性を
低減することができる記録ヘッド用基板を提供すること
である。
板上に形成された回路素子が破壊されてしまう可能性を
低減することができる記録ヘッド用基板を提供すること
である。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の記録ヘッド用基板は、被記録媒体にインク
を吐出することで印字を行うためインクジェットヘッド
に用いられ、電気エネルギーを熱エネルギーに変換し前
記インクに気泡を発生させることでインクを吐出するエ
ネルギー変換素子と、気泡の成長および消滅の際に発生
する衝撃から該エネルギー変換素子を保護するための耐
キャビテーション膜と、が形成され、前記耐キャビテー
ション膜を電極として用いて前記インクに通電すること
によりインクの状態を検知する記録ヘッド用基板におい
て、前記耐キャビテーション膜にアノードが接続され、
グランド電位にカソードが接続された第1のダイオード
と、前記耐キャビテーション膜にカソードが接続され、
電源電位にアノードが接続された第2のダイオードとが
形成されていることを特徴とする。
に、本発明の記録ヘッド用基板は、被記録媒体にインク
を吐出することで印字を行うためインクジェットヘッド
に用いられ、電気エネルギーを熱エネルギーに変換し前
記インクに気泡を発生させることでインクを吐出するエ
ネルギー変換素子と、気泡の成長および消滅の際に発生
する衝撃から該エネルギー変換素子を保護するための耐
キャビテーション膜と、が形成され、前記耐キャビテー
ション膜を電極として用いて前記インクに通電すること
によりインクの状態を検知する記録ヘッド用基板におい
て、前記耐キャビテーション膜にアノードが接続され、
グランド電位にカソードが接続された第1のダイオード
と、前記耐キャビテーション膜にカソードが接続され、
電源電位にアノードが接続された第2のダイオードとが
形成されていることを特徴とする。
【0012】本発明によれば、耐キャビテーション膜に
接続されているボンディングパッドに印加された静電放
電は、正の電圧の場合には第2のダイオードを介して電
源電位に放電され、負の電圧の場合には、第1のダイオ
ードを介してグランド電位に放電されるため、ボンディ
ングパッドに印加された静電放電は第1または第2のダ
イオードを介して半導体基板に放電される。従って、耐
キャビテーション膜に印加される静電気の量を大幅に削
減することができる。これにより、耐キャビテーション
膜から保護膜を介して記録ヘッド用基板上に形成されて
いる回路素子に静電気が放電されて、その回路素子が破
壊される可能性を削減することができる。
接続されているボンディングパッドに印加された静電放
電は、正の電圧の場合には第2のダイオードを介して電
源電位に放電され、負の電圧の場合には、第1のダイオ
ードを介してグランド電位に放電されるため、ボンディ
ングパッドに印加された静電放電は第1または第2のダ
イオードを介して半導体基板に放電される。従って、耐
キャビテーション膜に印加される静電気の量を大幅に削
減することができる。これにより、耐キャビテーション
膜から保護膜を介して記録ヘッド用基板上に形成されて
いる回路素子に静電気が放電されて、その回路素子が破
壊される可能性を削減することができる。
【0013】また、耐キャビテーション膜とグランド電
位との間に、拡散層により構成された抵抗をさらに形成
するようにしてもよい。
位との間に、拡散層により構成された抵抗をさらに形成
するようにしてもよい。
【0014】本発明によれば、第1および第2のダイオ
ードを介して電源電位またはグランド電位に放電される
経路以外に、拡散抵抗および拡散抵抗による寄生ダイオ
ードを通る経路ができるので、ボンディングパッドに静
電気が印加された場合でも、第1および第2のダイオー
ドを介して放電される経路の電流量を削減することがで
き、第1および第2のダイオードのみのESD保護回路
が設けられた記録ヘッド用基板の場合と比較して大きな
電圧の静電放電に耐えることができるようになる。
ードを介して電源電位またはグランド電位に放電される
経路以外に、拡散抵抗および拡散抵抗による寄生ダイオ
ードを通る経路ができるので、ボンディングパッドに静
電気が印加された場合でも、第1および第2のダイオー
ドを介して放電される経路の電流量を削減することがで
き、第1および第2のダイオードのみのESD保護回路
が設けられた記録ヘッド用基板の場合と比較して大きな
電圧の静電放電に耐えることができるようになる。
【0015】また、一端が前記耐キャビテーション膜に
接続され、他端が配線基板と接続された際にグランド電
位となるボンディングパッドに接続され、拡散層により
構成された抵抗をさらに形成するようにしてもよい。
接続され、他端が配線基板と接続された際にグランド電
位となるボンディングパッドに接続され、拡散層により
構成された抵抗をさらに形成するようにしてもよい。
【0016】本発明によれば、記録ヘッド用基板単体で
は、拡散抵抗がグランド電位に接続されないようにし、
配線基板との間でボンディングワイヤを使用して接続さ
れて初めて拡散抵抗がグランド電位に接続されるので、
耐キャビテーション膜に電圧を印加してリーク電流を測
定することによりこの機能素子と他の回路素子との間の
絶縁の確認を行うことができる。
は、拡散抵抗がグランド電位に接続されないようにし、
配線基板との間でボンディングワイヤを使用して接続さ
れて初めて拡散抵抗がグランド電位に接続されるので、
耐キャビテーション膜に電圧を印加してリーク電流を測
定することによりこの機能素子と他の回路素子との間の
絶縁の確認を行うことができる。
【0017】また、前記耐キャビテーション膜と電源電
位との間に、拡散層により構成された抵抗をさらに形成
するようにしてもよい。
位との間に、拡散層により構成された抵抗をさらに形成
するようにしてもよい。
【0018】さらに、前記耐キャビテーション膜と前記
エネルギー変換素子との間に設けられる保護膜の膜厚が
5000Å以下好ましくは3000Å以下とするように
してもよい。
エネルギー変換素子との間に設けられる保護膜の膜厚が
5000Å以下好ましくは3000Å以下とするように
してもよい。
【0019】さらに、耐キャビテーション膜に被覆され
た温度センサ、ランク抵抗、サブヒータに対して、耐キ
ャビテーション膜に対して設けたESD保護回路と同様
な保護回路を設けるようにしてもよい。
た温度センサ、ランク抵抗、サブヒータに対して、耐キ
ャビテーション膜に対して設けたESD保護回路と同様
な保護回路を設けるようにしてもよい。
【0020】また、本発明の記録ヘッドは、上記いずれ
かの記録ヘッド用基板と、前記記録ヘッド用基板とボン
ディングワイヤを介して接続される配線基板とを有す
る。
かの記録ヘッド用基板と、前記記録ヘッド用基板とボン
ディングワイヤを介して接続される配線基板とを有す
る。
【0021】また、本発明の記録ヘッドは、液体を吐出
する複数の吐出口と前記吐出口と連通する複数の液流路
とを構成する部材を、さらに有するようにしてもよい。
する複数の吐出口と前記吐出口と連通する複数の液流路
とを構成する部材を、さらに有するようにしてもよい。
【0022】また、本発明の記録装置は、上記の記録ヘ
ッドと、該記録ヘッドを駆動するための駆動信号を前記
記録ヘッドに供給する駆動信号供給手段と、前記記録ヘ
ッドにより印字される被記録媒体を搬送する被記録媒体
搬送手段とを有する。
ッドと、該記録ヘッドを駆動するための駆動信号を前記
記録ヘッドに供給する駆動信号供給手段と、前記記録ヘ
ッドにより印字される被記録媒体を搬送する被記録媒体
搬送手段とを有する。
【0023】また、本発明の記録ヘッドの製造方法は、
液体を吐出する複数の吐出口と、前記吐出口と連通する
複数の液流路と、電気エネルギーを前記液流路内の液体
の吐出エネルギーに変換するために前記各液流路内に配
された複数のエネルギー変換素子とを有する記録ヘッド
の製造方法において、前記エネルギー変換素子と吐出エ
ネルギーを発生させる際の衝撃から前記エネルギー変換
素子を保護するための耐キャビテーション膜とを半導体
基板上に形成することにより記録ヘッド用基板を形成す
る工程と、前記耐キャビテーション膜に接続されている
ボンディングパッドに電圧を印加し、その際に流れる電
流値を測定することにより前記耐キャビテーション膜と
前記記録ヘッド用基板上に形成されている回路素子との
間の絶縁が確保されているか否かを検査する工程と、前
記記録ヘッド用基板と、配線基板との接続をワイヤボン
ディングを用いて行うことにより、前記耐キャビテーシ
ョン膜とグランド電位との間を接続する工程と、前記記
録ヘッド用基板上に、前記複数の吐出口および前記複数
の液流路とを構成する工程と、を有することを特徴とす
る。
液体を吐出する複数の吐出口と、前記吐出口と連通する
複数の液流路と、電気エネルギーを前記液流路内の液体
の吐出エネルギーに変換するために前記各液流路内に配
された複数のエネルギー変換素子とを有する記録ヘッド
の製造方法において、前記エネルギー変換素子と吐出エ
ネルギーを発生させる際の衝撃から前記エネルギー変換
素子を保護するための耐キャビテーション膜とを半導体
基板上に形成することにより記録ヘッド用基板を形成す
る工程と、前記耐キャビテーション膜に接続されている
ボンディングパッドに電圧を印加し、その際に流れる電
流値を測定することにより前記耐キャビテーション膜と
前記記録ヘッド用基板上に形成されている回路素子との
間の絶縁が確保されているか否かを検査する工程と、前
記記録ヘッド用基板と、配線基板との接続をワイヤボン
ディングを用いて行うことにより、前記耐キャビテーシ
ョン膜とグランド電位との間を接続する工程と、前記記
録ヘッド用基板上に、前記複数の吐出口および前記複数
の液流路とを構成する工程と、を有することを特徴とす
る。
【0024】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【0025】(第1の実施形態)本実施形態における記
録ヘッド用基板を用いた記録ヘッドであるインクジェッ
ト記録ヘッドの一例を図1に示す。図1に示すように、
記録ヘッド用基板401には、複数の吐出口402に連
通する液路403を形成するための流路壁部材404
と、インク供給口405を有する天板406とが取り付
けられており、各液路403とインク供給口405と
は、共通液室407を介して連通されている。また、各
液路403内には、基板401に設けられた吐出口40
2近傍の発熱部408とこの発熱部408への配線40
9とが配置されている。このように構成されたインクジ
ェット記録方式の記録ヘッド410では、インク供給口
405から注入されるインクが内部の共通液室407へ
蓄えられて各液路403へ供給され、その状態で基板4
01の発熱部408を駆動することにより吐出口402
からインクの吐出がなされる。
録ヘッド用基板を用いた記録ヘッドであるインクジェッ
ト記録ヘッドの一例を図1に示す。図1に示すように、
記録ヘッド用基板401には、複数の吐出口402に連
通する液路403を形成するための流路壁部材404
と、インク供給口405を有する天板406とが取り付
けられており、各液路403とインク供給口405と
は、共通液室407を介して連通されている。また、各
液路403内には、基板401に設けられた吐出口40
2近傍の発熱部408とこの発熱部408への配線40
9とが配置されている。このように構成されたインクジ
ェット記録方式の記録ヘッド410では、インク供給口
405から注入されるインクが内部の共通液室407へ
蓄えられて各液路403へ供給され、その状態で基板4
01の発熱部408を駆動することにより吐出口402
からインクの吐出がなされる。
【0026】尚、上記においては天板406と流路壁部
材404がそれぞれ別の部材により構成されている場合
を用いて説明したが、天板406と流路壁部材404が
一体成形された1つの部材により構成される場合もあ
る。
材404がそれぞれ別の部材により構成されている場合
を用いて説明したが、天板406と流路壁部材404が
一体成形された1つの部材により構成される場合もあ
る。
【0027】以上述べた記録ヘッド410を記録装置本
体に装着して装置本体から記録ヘッド410に信号を付
与することにより、高速記録、高画質記録を行うことが
できるインクジェット記録装置を得ることができる。
体に装着して装置本体から記録ヘッド410に信号を付
与することにより、高速記録、高画質記録を行うことが
できるインクジェット記録装置を得ることができる。
【0028】このような記録ヘッド用基板である素子基
板を記録ヘッドの支持板102上に配接した構成を図2
に示す。記録ヘッド支持板102上には、素子基板10
1と、配線基板105とが配置され、素子基板101と
配線基板105はワイヤボンディングにて接続されてい
る。そして、配線基板105には、プリンタ本体との接
続を行うためのコンタクトパッド106が設けられてい
る。
板を記録ヘッドの支持板102上に配接した構成を図2
に示す。記録ヘッド支持板102上には、素子基板10
1と、配線基板105とが配置され、素子基板101と
配線基板105はワイヤボンディングにて接続されてい
る。そして、配線基板105には、プリンタ本体との接
続を行うためのコンタクトパッド106が設けられてい
る。
【0029】次に本実施形態の記録ヘッド用基板につい
て詳細に説明する。図3は本発明の第1の実施形態の記
録ヘッド用基板である素子基板の構成を示す図である。
て詳細に説明する。図3は本発明の第1の実施形態の記
録ヘッド用基板である素子基板の構成を示す図である。
【0030】素子基板101は、GNDに接続されたP
型半導体基板6上に、発熱抵抗体である複数の発熱抵抗
体(ヒータ)2や、この発熱抵抗体を駆動するためのド
ライバや、発熱抵抗体をヘッドの温度に応じて制御する
際に用いられる温度センサおよびその駆動制御部等を構
成したものもある。
型半導体基板6上に、発熱抵抗体である複数の発熱抵抗
体(ヒータ)2や、この発熱抵抗体を駆動するためのド
ライバや、発熱抵抗体をヘッドの温度に応じて制御する
際に用いられる温度センサおよびその駆動制御部等を構
成したものもある。
【0031】具体的には、P型半導体基板6上には、図
3に示されるように、絶縁膜5を介して複数の発熱抵抗
体2が形成されている。この発熱抵抗体2は、図示され
ていない電極配線に接続され、パルス状の電圧が印加さ
れることによって発熱し、熱エネルギーを発生させ、イ
ンク路のインクに気泡12を発生させる。インクの気泡
12が発生する際には、インクの化学的反応や、気泡の
成長や消滅によって衝撃が発生する。これらの衝撃から
発熱抵抗体2を保護するためにTa(タンタル)等によ
り構成されている耐キャビテーション膜1が発熱抵抗体
2上に形成されている。耐キャビテーション膜1の下に
は、発熱抵抗体2と耐キャビテーション膜1との間の電
気的な絶縁を確保するための保護膜3が形成されてい
る。
3に示されるように、絶縁膜5を介して複数の発熱抵抗
体2が形成されている。この発熱抵抗体2は、図示され
ていない電極配線に接続され、パルス状の電圧が印加さ
れることによって発熱し、熱エネルギーを発生させ、イ
ンク路のインクに気泡12を発生させる。インクの気泡
12が発生する際には、インクの化学的反応や、気泡の
成長や消滅によって衝撃が発生する。これらの衝撃から
発熱抵抗体2を保護するためにTa(タンタル)等によ
り構成されている耐キャビテーション膜1が発熱抵抗体
2上に形成されている。耐キャビテーション膜1の下に
は、発熱抵抗体2と耐キャビテーション膜1との間の電
気的な絶縁を確保するための保護膜3が形成されてい
る。
【0032】そして、インクタンク9からインク供給管
8を介して液室7に供給されたインクが、発熱抵抗体2
によって生成された気泡12により吐出口から吐出イン
ク11として吐出される。
8を介して液室7に供給されたインクが、発熱抵抗体2
によって生成された気泡12により吐出口から吐出イン
ク11として吐出される。
【0033】ダイオード13、14は、耐キャビテーシ
ョン膜1に電気的に接続されたESD(electro
static discharge:静電気放電)対策
用の保護ダイオードである。
ョン膜1に電気的に接続されたESD(electro
static discharge:静電気放電)対策
用の保護ダイオードである。
【0034】ダイオード13は、アルミ配線4とロジッ
ク電源(VDD)との間に設けられていて、アノード側
がアルミ配線4に接続され、N型領域であるカソード側
が、図示されていないがVDDに接続されている。ダイ
オード14は、アルミ配線4とグランド(GND)との
間に設けられていて、カソード側がアルミ配線4に接続
され、P型領域であるアノード側が、図示されていない
がGNDに接続されている。
ク電源(VDD)との間に設けられていて、アノード側
がアルミ配線4に接続され、N型領域であるカソード側
が、図示されていないがVDDに接続されている。ダイ
オード14は、アルミ配線4とグランド(GND)との
間に設けられていて、カソード側がアルミ配線4に接続
され、P型領域であるアノード側が、図示されていない
がGNDに接続されている。
【0035】このような素子基板101を上部から見た
外観を図4に示す。図4を参照するとわかるように、素
子基板101上には、インクと吐出させるために用いら
れる発熱抵抗体2だけでなく、耐キャビテーション膜1
に被覆されたランク抵抗18、温度センサ19、サブヒ
ータ20等の他の回路も形成されていることがわかる。
外観を図4に示す。図4を参照するとわかるように、素
子基板101上には、インクと吐出させるために用いら
れる発熱抵抗体2だけでなく、耐キャビテーション膜1
に被覆されたランク抵抗18、温度センサ19、サブヒ
ータ20等の他の回路も形成されていることがわかる。
【0036】サブヒータ20とは、インクを吐出させる
ための発熱抵抗体(ヒータ)2とは別に設けられている
ヒータであり、インクの温度調節を行うためのヒータで
ある。温度センサ19は、インクの温度を測定するため
のセンサであり、ダイオードの順方向電圧が温度により
変化することを用いてインクの温度の測定を行ってい
る。ランク抵抗18とは、発熱抵抗体の抵抗値の製造ば
らつきを測定するために設けられた抵抗であり、他の回
路とは切り離され抵抗値を測定するためだけに設けられ
た抵抗体である。
ための発熱抵抗体(ヒータ)2とは別に設けられている
ヒータであり、インクの温度調節を行うためのヒータで
ある。温度センサ19は、インクの温度を測定するため
のセンサであり、ダイオードの順方向電圧が温度により
変化することを用いてインクの温度の測定を行ってい
る。ランク抵抗18とは、発熱抵抗体の抵抗値の製造ば
らつきを測定するために設けられた抵抗であり、他の回
路とは切り離され抵抗値を測定するためだけに設けられ
た抵抗体である。
【0037】尚、図4では、ランク抵抗18、温度セン
サ19、サブヒータ20はそれぞれ1つしか設けられて
いないが、設置場所によるばらつきを押さえるために、
通常はランク抵抗18、温度センサ19、サブヒータ2
0はそれぞれ複数設けられている。
サ19、サブヒータ20はそれぞれ1つしか設けられて
いないが、設置場所によるばらつきを押さえるために、
通常はランク抵抗18、温度センサ19、サブヒータ2
0はそれぞれ複数設けられている。
【0038】このように構成された素子基板101にお
ける耐キャビテーション膜1とボンディングパッド15
間の回路図を図5に示す。
ける耐キャビテーション膜1とボンディングパッド15
間の回路図を図5に示す。
【0039】本実施形態の素子基板101によれば、耐
キャビテーション膜1に接続されているボンディングパ
ッド15に印加された静電放電は、正の電圧の場合には
ダイオード13を介してVDDに放電され、負の電圧の
場合には、ダイオード14を介してGNDに放電され
る。そのため、ボンディングパッド15に印加された静
電放電はダイオード13またはダイオード14を介して
P型半導体基板6に放電されるため、耐キャビテーショ
ン膜1に印加される静電気の量を大幅に削減することが
できる。そのため、耐キャビテーション膜1から保護膜
3を介して素子基板101上に形成されている回路素子
に静電気が放電されて、素子基板101上に形成されて
いる回路素子が破壊される可能性を低減することができ
る。
キャビテーション膜1に接続されているボンディングパ
ッド15に印加された静電放電は、正の電圧の場合には
ダイオード13を介してVDDに放電され、負の電圧の
場合には、ダイオード14を介してGNDに放電され
る。そのため、ボンディングパッド15に印加された静
電放電はダイオード13またはダイオード14を介して
P型半導体基板6に放電されるため、耐キャビテーショ
ン膜1に印加される静電気の量を大幅に削減することが
できる。そのため、耐キャビテーション膜1から保護膜
3を介して素子基板101上に形成されている回路素子
に静電気が放電されて、素子基板101上に形成されて
いる回路素子が破壊される可能性を低減することができ
る。
【0040】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態の記録ヘッド用基板について図6、図7を参照
して説明する。
実施形態の記録ヘッド用基板について図6、図7を参照
して説明する。
【0041】本実施形態の記録ヘッド用基板は、図6に
示すように、第1の実施形態の記録ヘッド用基板に対し
て、拡散層により構成された抵抗16がボンディングパ
ッド15とGNDとの間に形成されたものである。
示すように、第1の実施形態の記録ヘッド用基板に対し
て、拡散層により構成された抵抗16がボンディングパ
ッド15とGNDとの間に形成されたものである。
【0042】ここで、拡散層を用いて抵抗を構成する方
法を図7に示す。この図7では、P型半導体基板6に、
N型エピタキシャル領域201により囲まれたP型拡散
領域202が形成されている。そして、このP型拡散領
域202が図3における拡散抵抗16となる。
法を図7に示す。この図7では、P型半導体基板6に、
N型エピタキシャル領域201により囲まれたP型拡散
領域202が形成されている。そして、このP型拡散領
域202が図3における拡散抵抗16となる。
【0043】P型拡散領域202およびN型エピタキシ
ャル領域201には、高濃度P型領域203、204お
よび高濃度N型領域205がそれぞれ設けられている。
この高濃度P型領域203、204および高濃度N型領
域205は、それぞれアルミ配線206、207、20
8とオーミックコンタクトをとるためのものである。ア
ルミ配線208にはVDDが印加されていて、P型半導
体基板6の電位は0V(GND)となっている。
ャル領域201には、高濃度P型領域203、204お
よび高濃度N型領域205がそれぞれ設けられている。
この高濃度P型領域203、204および高濃度N型領
域205は、それぞれアルミ配線206、207、20
8とオーミックコンタクトをとるためのものである。ア
ルミ配線208にはVDDが印加されていて、P型半導
体基板6の電位は0V(GND)となっている。
【0044】ここで、抵抗として使用されるP型拡散領
域202は、高濃度N型領域205とともに寄生ダイオ
ードを形成している。そのため、P型拡散領域202
は、N型エピタキシャル領域201とともにダイオード
を構成し、かつ高濃度P型領域203と高濃度P型領域
204との間の抵抗として作用する。
域202は、高濃度N型領域205とともに寄生ダイオ
ードを形成している。そのため、P型拡散領域202
は、N型エピタキシャル領域201とともにダイオード
を構成し、かつ高濃度P型領域203と高濃度P型領域
204との間の抵抗として作用する。
【0045】本実施形態の記録ヘッド用基板において
は、抵抗をP層とする寄生ダイオードのN層側は、高濃
度N型領域205、アルミ配線208を介してVDDに
接続されている。これにより、ダイオード13、14を
介してVDDまたはGNDに放電される経路以外に、拡
散抵抗16および拡散抵抗16による寄生ダイオード1
7を通る経路ができる。従って、ボンディングパッド1
5に静電気が印加された場合でも、ダイオード13、1
4を介して放電される経路の電流量を削減することがで
き、第1の実施形態の記録ヘッド用基板の場合と比較し
て大きな電圧の静電放電に耐えることができるようにな
る。
は、抵抗をP層とする寄生ダイオードのN層側は、高濃
度N型領域205、アルミ配線208を介してVDDに
接続されている。これにより、ダイオード13、14を
介してVDDまたはGNDに放電される経路以外に、拡
散抵抗16および拡散抵抗16による寄生ダイオード1
7を通る経路ができる。従って、ボンディングパッド1
5に静電気が印加された場合でも、ダイオード13、1
4を介して放電される経路の電流量を削減することがで
き、第1の実施形態の記録ヘッド用基板の場合と比較し
て大きな電圧の静電放電に耐えることができるようにな
る。
【0046】但し、このような拡散抵抗16を耐キャビ
テーション膜1とGNDとの間にただ設けるようにした
場合には、以下のような問題点が発生する。
テーション膜1とGNDとの間にただ設けるようにした
場合には、以下のような問題点が発生する。
【0047】耐キャビテーション膜1は、放熱抵抗2、
ドライバ、ロジック回路等のP型半導体基板6上に形成
されている素子と電気的に絶縁されていることが非常に
重要である。そのため、素子基板101形成時には、耐
キャビテーション膜1に電圧を印加してリーク電流の有
無を検出することにより本来接続されていないはずの他
の回路素子との間で絶縁が確保されていることの確認を
行っている。
ドライバ、ロジック回路等のP型半導体基板6上に形成
されている素子と電気的に絶縁されていることが非常に
重要である。そのため、素子基板101形成時には、耐
キャビテーション膜1に電圧を印加してリーク電流の有
無を検出することにより本来接続されていないはずの他
の回路素子との間で絶縁が確保されていることの確認を
行っている。
【0048】しかし、図3に示すような拡散抵抗16を
耐キャビテーション膜1とGNDとの間に設けると、常
時電流が流れてしまいリーク電流の測定ができなくなっ
てしまう。
耐キャビテーション膜1とGNDとの間に設けると、常
時電流が流れてしまいリーク電流の測定ができなくなっ
てしまう。
【0049】そのため、本実施形態の記録ヘッド用基板
では、図8に示すように、素子基板101単体では、拡
散抵抗16がGNDに接続されないようにし、配線基板
105との間でボンディングワイヤを使用して接続され
て初めて拡散抵抗16がGNDに接続されるような構成
としている。
では、図8に示すように、素子基板101単体では、拡
散抵抗16がGNDに接続されないようにし、配線基板
105との間でボンディングワイヤを使用して接続され
て初めて拡散抵抗16がGNDに接続されるような構成
としている。
【0050】このような構成の記録ヘッド用基板の製造
方法を図9のフローチャートに示す。
方法を図9のフローチャートに示す。
【0051】先ず、半導体基板6上に発熱抵抗体2、ド
ライバ、ロジック回路等を形成することにより素子基板
101を形成する(ステップ61)。次に、この素子基
板101に対して、発熱抵抗体2の抵抗値のチェック等
を行う(ステップ62)。次に、耐キャビテーション膜
1に対して電圧を印加して、電圧を印加した際に流れる
電流値を測定してリーク電流の有無を確認する(ステッ
プ63)。具体的には、測定された電流値が一定値以上
の場合には、耐キャビテーション膜1と素子基板101
上に形成されている回路素子との間の絶縁が確保されて
いないと判定し、電流値が一定値より小さい場合には、
耐キャビテーション膜1と素子基板101上に形成され
ている回路素子との間の絶縁が確保されていると判定す
る。
ライバ、ロジック回路等を形成することにより素子基板
101を形成する(ステップ61)。次に、この素子基
板101に対して、発熱抵抗体2の抵抗値のチェック等
を行う(ステップ62)。次に、耐キャビテーション膜
1に対して電圧を印加して、電圧を印加した際に流れる
電流値を測定してリーク電流の有無を確認する(ステッ
プ63)。具体的には、測定された電流値が一定値以上
の場合には、耐キャビテーション膜1と素子基板101
上に形成されている回路素子との間の絶縁が確保されて
いないと判定し、電流値が一定値より小さい場合には、
耐キャビテーション膜1と素子基板101上に形成され
ている回路素子との間の絶縁が確保されていると判定す
る。
【0052】この確認の際には、素子基板101はまだ
配線基板105とは接続されていないため、拡散抵抗1
6はGNDには接続されていない。このことにより、耐
キャビテーション膜1と他の回路素子との絶縁が確保さ
れている場合には電流は全く流れないはずであり、電流
が測定された場合にはその電流はリーク電流であると判
定することができる。
配線基板105とは接続されていないため、拡散抵抗1
6はGNDには接続されていない。このことにより、耐
キャビテーション膜1と他の回路素子との絶縁が確保さ
れている場合には電流は全く流れないはずであり、電流
が測定された場合にはその電流はリーク電流であると判
定することができる。
【0053】次に、検査が終了した素子基板に対して、
先ずウェハの切断を行う(ステップ64)。そして、素
子基板101と配線基板105との間の接続をボンディ
ングワイヤを使用して行う(ステップ65)。この接続
の工程において、拡散抵抗16はGNDに接続されるこ
ととなる。そして、最後に素子基板101、配線基板1
05上に吐出口、液流路等を構成することによりインク
ジェットヘッドの組立が行われインクジェットヘッドが
完成する(ステップ66)。
先ずウェハの切断を行う(ステップ64)。そして、素
子基板101と配線基板105との間の接続をボンディ
ングワイヤを使用して行う(ステップ65)。この接続
の工程において、拡散抵抗16はGNDに接続されるこ
ととなる。そして、最後に素子基板101、配線基板1
05上に吐出口、液流路等を構成することによりインク
ジェットヘッドの組立が行われインクジェットヘッドが
完成する(ステップ66)。
【0054】このように、素子基板101単体では、拡
散抵抗16がGNDに接続されないようにし、配線基板
105との間でボンディングワイヤを使用して接続され
て初めて拡散抵抗16がGNDに接続されるような構成
とすることにより、素子基板101単体で耐キャビテー
ション膜1に電圧を印加してリーク電流を測定すること
により耐キャビテーション膜1と他の回路素子との間の
絶縁の確認を行うことができる。
散抵抗16がGNDに接続されないようにし、配線基板
105との間でボンディングワイヤを使用して接続され
て初めて拡散抵抗16がGNDに接続されるような構成
とすることにより、素子基板101単体で耐キャビテー
ション膜1に電圧を印加してリーク電流を測定すること
により耐キャビテーション膜1と他の回路素子との間の
絶縁の確認を行うことができる。
【0055】(第3の実施形態)次に、本発明の第3の
実施形態の記録ヘッド用基板について図10を参照して
説明する。
実施形態の記録ヘッド用基板について図10を参照して
説明する。
【0056】本実施形態の記録ヘッド用基板は、図3に
示すように、第1の実施形態の記録ヘッド用基板に対し
て、拡散層により構成された抵抗18がボンディングパ
ッド15とVDDとの間に形成されたものである。
示すように、第1の実施形態の記録ヘッド用基板に対し
て、拡散層により構成された抵抗18がボンディングパ
ッド15とVDDとの間に形成されたものである。
【0057】本実施形態の記録ヘッド用基板のような構
成であっても、上記で説明した第2の実施形態の記録ヘ
ッド用基板と同様に、第1の実施形態の記録ヘッド用基
板の場合と比較して大きな電圧の静電放電に耐えること
ができるようになるという効果を得ることができる。
成であっても、上記で説明した第2の実施形態の記録ヘ
ッド用基板と同様に、第1の実施形態の記録ヘッド用基
板の場合と比較して大きな電圧の静電放電に耐えること
ができるようになるという効果を得ることができる。
【0058】尚、本実施形態の記録ヘッド用基板におい
ては、ボンディングパッド15を介して耐キャビテーシ
ョン膜1に電圧を印加した場合でも拡散抵抗18には電
流は流れないため、第2の実施形態の場合のように、拡
散抵抗18とVDDとの間の接続を素子基板101単体
では接続されないような構成とする必要はない。
ては、ボンディングパッド15を介して耐キャビテーシ
ョン膜1に電圧を印加した場合でも拡散抵抗18には電
流は流れないため、第2の実施形態の場合のように、拡
散抵抗18とVDDとの間の接続を素子基板101単体
では接続されないような構成とする必要はない。
【0059】上記第1から第3の実施形態では、耐キャ
ビテーション膜に接続される配線上にESD保護回路を
設けた場合を用いて説明したが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、ESD保護回路が設けられていない
場合には半導体のPN接合と接続されていない機能素子
や、上述したランク抵抗18、温度センサ19、サブヒ
ータ20等の基板側に静電気が逃げることができない他
の機能素子に対してESD保護回路を設けるようにして
もよい。
ビテーション膜に接続される配線上にESD保護回路を
設けた場合を用いて説明したが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、ESD保護回路が設けられていない
場合には半導体のPN接合と接続されていない機能素子
や、上述したランク抵抗18、温度センサ19、サブヒ
ータ20等の基板側に静電気が逃げることができない他
の機能素子に対してESD保護回路を設けるようにして
もよい。
【0060】次に、上述した記録ヘッドを搭載する記録
装置の概略について説明する。図11は、本発明の記録
ヘッドを装着して適用することのできる記録装置の一例
であるインクジェット記録装置600の概略斜視図であ
る。
装置の概略について説明する。図11は、本発明の記録
ヘッドを装着して適用することのできる記録装置の一例
であるインクジェット記録装置600の概略斜視図であ
る。
【0061】図11において、インクジェットヘッドカ
ートリッジ601は、上述した記録ヘッドとこの記録ヘ
ッドに供給するインクを保持するインクタンクとが一体
となったものである。このインクジェットヘッドカート
リッジ601は、駆動モータ602の正逆回転に連動し
て駆動力伝達ギア603、604を介して回転するリー
ドスクリュ605の螺旋溝606に対して係合するキャ
リッジ607上に搭載されており、駆動モータ602の
動力によってキャリッジ607とともにガイド608に
沿って矢印a、b方向に往復移動される。被記録媒体P
は、図示しない被記録媒体搬送手段によってプラテンロ
ーラ609上を搬送され、紙押え板610によりキャリ
ッジ607の移動方向にわたってプラテンローラ609
に対して押圧される。
ートリッジ601は、上述した記録ヘッドとこの記録ヘ
ッドに供給するインクを保持するインクタンクとが一体
となったものである。このインクジェットヘッドカート
リッジ601は、駆動モータ602の正逆回転に連動し
て駆動力伝達ギア603、604を介して回転するリー
ドスクリュ605の螺旋溝606に対して係合するキャ
リッジ607上に搭載されており、駆動モータ602の
動力によってキャリッジ607とともにガイド608に
沿って矢印a、b方向に往復移動される。被記録媒体P
は、図示しない被記録媒体搬送手段によってプラテンロ
ーラ609上を搬送され、紙押え板610によりキャリ
ッジ607の移動方向にわたってプラテンローラ609
に対して押圧される。
【0062】リードスクリュ605の一端の近傍には、
フォトカプラ611、612が配設されている。これら
はキャリッジ607のレバー607aのこの域での存在
を確認して駆動モータ602の回転方向切り換え等を行
うためのホームポジション検知手段である。
フォトカプラ611、612が配設されている。これら
はキャリッジ607のレバー607aのこの域での存在
を確認して駆動モータ602の回転方向切り換え等を行
うためのホームポジション検知手段である。
【0063】支持部材613は、上述のインクジェット
ヘッドカートリッジ601の吐出口のある前面(吐出口
面)を覆うキャップ部材614を支持するものである。
また、インク吸引手段615は、キャップ部材614の
内部にインクジェットヘッドカートリッジ601から空
吐出等されて溜まったインクを吸引するものである。こ
のインク吸引手段615によりキャップ内開口部616
を介してインクジェットヘッドカートリッジ601の吸
引回復が行われる。インクジェットヘッドカートリッジ
601の吐出口面を払拭するためのクリーニングブレー
ド617は、移動部材618により前後方向(上記キャ
リッジ607の移動方向に直交する方向)に移動可能に
設けられている。これらクリーニングブレード617及
び移動部材618は、本体支持体619に支持されてい
る。クリーニングブレード617は、この形態に限ら
ず、他の周知のクリーニングブレードであってもよい。
ヘッドカートリッジ601の吐出口のある前面(吐出口
面)を覆うキャップ部材614を支持するものである。
また、インク吸引手段615は、キャップ部材614の
内部にインクジェットヘッドカートリッジ601から空
吐出等されて溜まったインクを吸引するものである。こ
のインク吸引手段615によりキャップ内開口部616
を介してインクジェットヘッドカートリッジ601の吸
引回復が行われる。インクジェットヘッドカートリッジ
601の吐出口面を払拭するためのクリーニングブレー
ド617は、移動部材618により前後方向(上記キャ
リッジ607の移動方向に直交する方向)に移動可能に
設けられている。これらクリーニングブレード617及
び移動部材618は、本体支持体619に支持されてい
る。クリーニングブレード617は、この形態に限ら
ず、他の周知のクリーニングブレードであってもよい。
【0064】記録ヘッドの吸引回復操作にあたって、吸
引を開始させるためのレバー620は、キャリッジ60
7と係合するカム621の移動に伴って移動し、駆動モ
ータ602からの駆動力がクラッチ切り換え等の公知の
伝達手段で移動制御される。インクジェットヘッドカー
トリッジ601の記録ヘッドに設けられた発熱体に信号
を付与したり、前述した各機構の駆動制御を司ったりす
るインクジェット記録制御部は装置本体側に設けられて
おり、ここには図示しない。
引を開始させるためのレバー620は、キャリッジ60
7と係合するカム621の移動に伴って移動し、駆動モ
ータ602からの駆動力がクラッチ切り換え等の公知の
伝達手段で移動制御される。インクジェットヘッドカー
トリッジ601の記録ヘッドに設けられた発熱体に信号
を付与したり、前述した各機構の駆動制御を司ったりす
るインクジェット記録制御部は装置本体側に設けられて
おり、ここには図示しない。
【0065】上述の構成を有するインクジェット記録装
置600は、図示しない被記録媒体搬送手段によりプラ
テンローラ609上を搬送される被記録媒体Pに対し、
インクジェットヘッドカートリッジ601は被記録媒体
Pの全幅にわたって往復移動しながら被記録媒体Pにイ
ンクを付着させることで記録を行う。また、インクジェ
ット記録装置600は、図示されてはいないが、記録ヘ
ッドからインクを吐出させるための駆動信号を記録ヘッ
ドに供給する駆動信号供給手段を有している。
置600は、図示しない被記録媒体搬送手段によりプラ
テンローラ609上を搬送される被記録媒体Pに対し、
インクジェットヘッドカートリッジ601は被記録媒体
Pの全幅にわたって往復移動しながら被記録媒体Pにイ
ンクを付着させることで記録を行う。また、インクジェ
ット記録装置600は、図示されてはいないが、記録ヘ
ッドからインクを吐出させるための駆動信号を記録ヘッ
ドに供給する駆動信号供給手段を有している。
【0066】以上の説明においては、電気エネルギーを
インクを吐出するための吐出エネルギーに変換するため
のエネルギー変換素子として、熱等のエネルギーをイン
クに与える発熱抵抗体を用いた場合について説明した
が、ピエゾ素子を電気エネルギーをインクを吐出するた
めの吐出エネルギーに変換するためのエネルギー変換素
子として用いた場合でも本発明は同様に適用することが
できるものである。
インクを吐出するための吐出エネルギーに変換するため
のエネルギー変換素子として、熱等のエネルギーをイン
クに与える発熱抵抗体を用いた場合について説明した
が、ピエゾ素子を電気エネルギーをインクを吐出するた
めの吐出エネルギーに変換するためのエネルギー変換素
子として用いた場合でも本発明は同様に適用することが
できるものである。
【0067】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、耐キャ
ビテーション膜等の基板側に静電気が逃げることができ
ない機能素子に保護回路を設けることにより、静電放電
により半導体基板上に形成された回路素子が破壊されて
しまう可能性を低減することができるという効果を有す
る。
ビテーション膜等の基板側に静電気が逃げることができ
ない機能素子に保護回路を設けることにより、静電放電
により半導体基板上に形成された回路素子が破壊されて
しまう可能性を低減することができるという効果を有す
る。
【図1】本発明の記録ヘッド用基板を用いたインクジェ
ット記録ヘッドの構成の一例を示す図である。
ット記録ヘッドの構成の一例を示す図である。
【図2】素子基板101を記録ヘッドの支持板102上
に配接した構成を示す図である。
に配接した構成を示す図である。
【図3】本発明の第1の実施形態の記録ヘッド用基板で
ある素子基板の構成を示す断面図である。
ある素子基板の構成を示す断面図である。
【図4】図3中の素子基板101を上部から見た外観を
示す図である。
示す図である。
【図5】図3の記録ヘッド用基板における耐キャビテー
ション膜1とボンディングパッド15間の回路図であ
る。
ション膜1とボンディングパッド15間の回路図であ
る。
【図6】本発明の第2の実施形態の記録ヘッド用基板で
ある素子基板における耐キャビテーション膜1とボンデ
ィングパッド15間の回路図である。
ある素子基板における耐キャビテーション膜1とボンデ
ィングパッド15間の回路図である。
【図7】拡散層を用いて抵抗を構成する方法を示す図で
ある。
ある。
【図8】本発明の第1の実施形態における素子基板10
1と配線基板105との間の接続を説明するための図で
ある。
1と配線基板105との間の接続を説明するための図で
ある。
【図9】本発明の記録ヘッド用基板を用いたインクジェ
ットヘッドの製造方法を示すフローチャートである。
ットヘッドの製造方法を示すフローチャートである。
【図10】本発明の第3の実施形態の記録ヘッド用基板
である素子基板における耐キャビテーション膜1とボン
ディングパッド間の回路図である。
である素子基板における耐キャビテーション膜1とボン
ディングパッド間の回路図である。
【図11】本発明の記録ヘッドを装着して適用すること
のできる記録装置の一例であるインクジェット記録装置
の概略斜視図である。
のできる記録装置の一例であるインクジェット記録装置
の概略斜視図である。
1 耐キャビテーション膜
2 発熱抵抗体
3 保護膜
4 アルミ配線
5 絶縁膜
6 P型半導体基板
7 液室
8 インク供給管
9 インクタンク
10 インク切れ検出用電極
11 吐出インク
12 気泡
13、14 ダイオード
15 ボンディングパッド
16 拡散抵抗
17 寄生ダイオード
18 ランク抵抗
19 温度センサ
20 サブヒータ
101 素子基板
102 記録ヘッド支持板
105 配線基板
106 コンタクトパッド
201 N型エピタキシャル領域
202 P型拡散領域
203、204 高濃度P型領域
205 高濃度N型領域
206〜208 アルミ配線
401 記録ヘッド用基板
402 吐出口
403 液路
404 流路壁部材
405 インク供給口
406 天板
407 共通液室
408 発熱部
409 配線
410 記録ヘッド
600 インクジェット記録装置
601 インクジェットヘッドカートリッジ
602 駆動モータ
603、604 駆動力伝達ギア
605 リードスクリュ
606 螺旋溝
607 キャリッジ
607a レバー
608 ガイド
609 プラテンローラ
610 紙押え板
611、612 フォトカプラ
613 支持部材
614 キャップ部材
615 インク吸引手段
616 キャップ内開口部
617 クリーニングブレード
618 移動部材
619 本体支持体
620 レバー
621 カム
フロントページの続き
(72)発明者 斎藤 一郎
東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ
ノン株式会社内
(72)発明者 望月 無我
東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ
ノン株式会社内
(72)発明者 山口 孝明
東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ
ノン株式会社内
Fターム(参考) 2C057 AF93 AF99 AG83 AG85 AL14
AL25 AL40 AM24 AP21 AP82
BA03 BA13 BA14
Claims (13)
- 【請求項1】 被記録媒体にインクを吐出することで印
字を行うためインクジェットヘッドに用いられ、電気エ
ネルギーを熱エネルギーに変換し前記インクに気泡を発
生させることでインクを吐出するエネルギー変換素子
と、気泡の成長および消滅の際に発生する衝撃から該エ
ネルギー変換素子を保護するための耐キャビテーション
膜と、が形成され、前記耐キャビテーション膜を電極と
して用いて前記インクに通電することによりインクの状
態を検知する記録ヘッド用基板において、 前記耐キャビテーション膜にアノードが接続され、グラ
ンド電位にカソードが接続された第1のダイオードと、 前記耐キャビテーション膜にカソードが接続され、電源
電位にアノードが接続された第2のダイオードとが形成
されていることを特徴とする記録ヘッド用基板。 - 【請求項2】 前記耐キャビテーション膜とグランド電
位との間に、拡散層により構成された抵抗がさらに形成
されている請求項1記載の記録ヘッド用基板。 - 【請求項3】 一端が前記耐キャビテーション膜に接続
され、他端が配線基板と接続された際にグランド電位と
なるボンディングパッドに接続され、拡散層により構成
された抵抗がさらに形成されている請求項1記載の記録
ヘッド用基板。 - 【請求項4】 前記耐キャビテーション膜と電源電位と
の間に、拡散層により構成された抵抗がさらに形成され
ている請求項1記載の記録ヘッド用基板。 - 【請求項5】 前記耐キャビテーション膜と前記エネル
ギー変換素子との間に設けられる保護膜の膜厚が500
0Å以下である請求項1から4のいずれか1項記載の記
録ヘッド用基板。 - 【請求項6】 前記耐キャビテーション膜と前記エネル
ギー変換素子との間に設けられる保護膜の膜厚が300
0Å以下である請求項5記載の記録ヘッド用基板。 - 【請求項7】 被記録媒体にインクを吐出することで印
字を行うためインクジェットヘッドに用いられ、電気エ
ネルギーを熱エネルギーに変換し前記インクに気泡を発
生させることでインクを吐出するエネルギー変換素子
と、気泡の成長および消滅の際に発生する衝撃から該エ
ネルギー変換素子を保護するための耐キャビテーション
膜と、該耐キャビテーション膜に被覆された温度センサ
と、が形成された記録ヘッド用基板において、 前記温度センサにアノードが接続され、グランド電位に
カソードが接続された第1のダイオードと、 前記温度センサにカソードが接続され、電源電位にアノ
ードが接続された第2のダイオードとが形成されている
ことを特徴とする記録ヘッド用基板 - 【請求項8】 被記録媒体にインクを吐出することで印
字を行うためインクジェットヘッドに用いられ、電気エ
ネルギーを熱エネルギーに変換し前記インクに気泡を発
生させることでインクを吐出するエネルギー変換素子
と、気泡の成長および消滅の際に発生する衝撃から該エ
ネルギー変換素子を保護するための耐キャビテーション
膜と、前記エネルギー変換素子の抵抗値をモニタするた
めの該耐キャビテーション膜に被覆されたランク抵抗
と、が形成された記録ヘッド用基板において、 前記ランク抵抗にアノードが接続され、グランド電位に
カソードが接続された第1のダイオードと、 前記ランク抵抗にカソードが接続され、電源電位にアノ
ードが接続された第2のダイオードとが形成されている
ことを特徴とする記録ヘッド用基板 - 【請求項9】 被記録媒体にインクを吐出することで印
字を行うためインクジェットヘッドに用いられ、電気エ
ネルギーを熱エネルギーに変換し前記インクに気泡を発
生させることでインクを吐出するエネルギー変換素子
と、気泡の成長および消滅の際に発生する衝撃から該エ
ネルギー変換素子を保護するための耐キャビテーション
膜と、前記ヘッドの温度調整を行うための該耐キャビテ
ーション膜に被覆されたサブヒータと、が形成された記
録ヘッド用基板において、 前記サブヒータにアノードが接続され、グランド電位に
カソードが接続された第1のダイオードと、 前記サブヒータにカソードが接続され、電源電位にアノ
ードが接続された第2のダイオードとが形成されている
ことを特徴とする記録ヘッド用基板 - 【請求項10】 請求項1から9のいずれか1項記載の
記録ヘッド用基板と、 前記記録ヘッド用基板とボンディングワイヤを介して接
続される配線基板とを有する記録ヘッド。 - 【請求項11】 液体を吐出する複数の吐出口と前記吐
出口と連通する複数の液流路とを構成する部材を、さら
に有する請求項10記載の記録ヘッド。 - 【請求項12】 請求項10または11記載の記録ヘッ
ドと、該記録ヘッドを駆動するための駆動信号を前記記
録ヘッドに供給する駆動信号供給手段と、前記記録ヘッ
ドにより印字される被記録媒体を搬送する被記録媒体搬
送手段とを有する記録装置。 - 【請求項13】 液体を吐出する複数の吐出口と、前記
吐出口と連通する複数の液流路と、電気エネルギーを前
記液流路内の液体の吐出エネルギーに変換するために前
記各液流路内に配された複数のエネルギー変換素子とを
有する記録ヘッドの製造方法において、 前記エネルギー変換素子と吐出エネルギーを発生させる
際の衝撃から前記エネルギー変換素子を保護するための
耐キャビテーション膜とを半導体基板上に形成すること
により記録ヘッド用基板を形成する工程と、 前記耐キャビテーション膜に接続されているボンディン
グパッドに電圧を印加し、その際に流れる電流値を測定
することにより前記耐キャビテーション膜と前記記録ヘ
ッド用基板上に形成されている回路素子との間の絶縁が
確保されているか否かを検査する工程と、 前記記録ヘッド用基板と、配線基板との接続をワイヤボ
ンディングを用いて行うことにより、前記耐キャビテー
ション膜とグランド電位との間を接続する工程と、 前記記録ヘッド用基板上に、前記複数の吐出口および前
記複数の液流路とを構成する工程と、を有することを特
徴とする記録ヘッドの製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001350266A JP2003145770A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | 記録ヘッド用基板、記録ヘッド、記録装置、および記録ヘッドの製造方法 |
DE60233628T DE60233628D1 (de) | 2001-11-15 | 2002-11-14 | Grundplatte für Aufzeichnungskopf, Aufzeichnungskopf, Aufzeichnungsgerät und Verfahren zur Herstellung dieses Aufzeichnungskopfes |
EP02025399A EP1312477B1 (en) | 2001-11-15 | 2002-11-14 | Base plate for use of recording head, recording head, recording apparatus, and method for manufacturing recording head |
US10/293,310 US6997546B2 (en) | 2001-11-15 | 2002-11-14 | Base plate for use of recording head, recording head, recording apparatus, and method for manufacturing recording head |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001350266A JP2003145770A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | 記録ヘッド用基板、記録ヘッド、記録装置、および記録ヘッドの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003145770A true JP2003145770A (ja) | 2003-05-21 |
Family
ID=19162802
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001350266A Pending JP2003145770A (ja) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | 記録ヘッド用基板、記録ヘッド、記録装置、および記録ヘッドの製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6997546B2 (ja) |
EP (1) | EP1312477B1 (ja) |
JP (1) | JP2003145770A (ja) |
DE (1) | DE60233628D1 (ja) |
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JP2017113905A (ja) * | 2015-12-21 | 2017-06-29 | キヤノン株式会社 | 記録素子基板、記録ヘッド、及び記録装置 |
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2001
- 2001-11-15 JP JP2001350266A patent/JP2003145770A/ja active Pending
-
2002
- 2002-11-14 EP EP02025399A patent/EP1312477B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-11-14 US US10/293,310 patent/US6997546B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-11-14 DE DE60233628T patent/DE60233628D1/de not_active Expired - Lifetime
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