[go: up one dir, main page]

JP2002196337A - 電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置 - Google Patents

電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置

Info

Publication number
JP2002196337A
JP2002196337A JP2001212082A JP2001212082A JP2002196337A JP 2002196337 A JP2002196337 A JP 2002196337A JP 2001212082 A JP2001212082 A JP 2001212082A JP 2001212082 A JP2001212082 A JP 2001212082A JP 2002196337 A JP2002196337 A JP 2002196337A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
irradiation
ultraviolet
cleaning
alignment film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001212082A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroki Nakahara
弘樹 中原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2001212082A priority Critical patent/JP2002196337A/ja
Priority to US09/946,808 priority patent/US6893688B2/en
Priority to TW090122006A priority patent/TWI240012B/zh
Priority to CNB011326409A priority patent/CN1196956C/zh
Priority to KR10-2001-0054667A priority patent/KR100454514B1/ko
Publication of JP2002196337A publication Critical patent/JP2002196337A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1337Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers
    • G02F1/13378Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation
    • G02F1/133788Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation by light irradiation, e.g. linearly polarised light photo-polymerisation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 絶縁膜や配向膜を均一に形成することができ
る電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに配向膜
を効率的に洗浄することができる液晶パネルの製造方法
及び製造装置を提供する。 【解決手段】 基板の表面に絶縁膜又は配向膜が形成さ
れた電気光学装置を製造する方法であって、基板の表面
に紫外線を照射する工程(紫外線照射工程)と、紫外線
が照射された基板の表面に絶縁膜又は配向膜を形成する
工程(絶縁材料塗布工程又は配向膜塗布工程)とを含む
ことを特徴とする電気光学装置の製造方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板に絶縁膜又は
配向膜が形成された電気光学装置の製造方法及び製造装
置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置に関す
る。さらに詳しくは、絶縁膜や配向膜を均一に形成する
ことができる電気光学装置の製造方法及び製造装置、並
びに配向膜を効率的に洗浄することができる液晶パネル
の製造方法及び製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、携帯電話機、携帯電子端末機等の
電子機器において、文字、数字、絵柄等の情報を表示す
るために液晶装置が広く用いられている。このような液
晶装置は、一般に、内面に電極が形成された一対の液晶
基板間に液晶を封入した液晶パネルを備え、この液晶パ
ネルに封入された液晶に電圧を制御しつつ印加すること
によってその液晶の配向を制御し、液晶に入射する光を
変調させる構成を有している。
【0003】このような液晶装置において、液晶基板の
内外面(表面)には、液晶に電圧を印加するための上記
電極のほか、2層間の絶縁を確保すること等を目的とし
た絶縁膜、及び液晶の配向を形成する(液晶を所定の向
きに配向させる)ことを目的とした配向膜が、それぞれ
形成される。絶縁膜の材料として酸化金属等の無機材料
が、また、配向膜としてポリイミド等の有機材料が、そ
れぞれ一般的に用いられている。
【0004】また、上述の配向膜の表面には、いわゆる
ラビング処理(例えば、布等によって擦る処理)が施さ
れる。ラビング処理で配向膜の表面に微細な溝が形成さ
れ、液晶が溝の方向に沿って配列することにより所定の
配向が形成されるものと考えられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ガラス製の基
板の表面に直接絶縁膜や配向膜を形成する場合、絶縁膜
の材料である酸化金属等の無機材料、また配向膜の材料
であるポリイミド等の有機材料は、ガラス基板に対する
濡れ性が低く、ガラス基板の表面上に絶縁膜や配向膜を
均一に形成することが困難であるという問題があった。
【0006】また、ラビング処理の際、配向膜の表面に
布の繊維等の異物が付着することがあり、このような配
向膜表面の異物は、ラビング処理の後、純水による超音
波洗浄によって除去するのであるが、配向膜は疎水性で
あるため水をはじき易く、異物が配向膜上の気泡に集ま
って除去されずに液晶パネル内に残留する場合があり、
このような残留した異物に起因して液晶の配向性に関係
する不良が発生するという問題があった。
【0007】本発明は、絶縁膜や配向膜を基板の表面上
に均一に形成することができる電気光学装置の製造方法
及び製造装置、並びに配向膜を効率的に洗浄することが
できる液晶パネルの製造方法及び製造装置を提供するこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の電気光学装置の
製造方法は、基板の表面に絶縁膜又は配向膜が形成され
た電気光学装置を製造する方法であって、基板の表面に
紫外線を照射する工程と、紫外線が照射された前記基板
の表面に絶縁膜又は配向膜を形成する工程とを含むこと
を特徴とする。
【0009】この電気光学装置の製造方法によれば、基
板の表面に絶縁膜又は配向膜を形成する前に基板の表面
に紫外線を照射するので、基板に対する絶縁膜の材料又
は配向膜の材料の濡れ性を高めることができる。従っ
て、基板表面に形成される絶縁膜又は配向膜の均一性を
向上させることができる。
【0010】この場合、前記基板の表面に紫外線を照射
する工程の前に、前記基板の表面を洗浄する工程を含む
ものであってもよい。
【0011】このように、紫外線を照射する前に、基板
の表面を洗浄することによって、洗浄した直後の基板の
表面に絶縁膜又は配向膜を形成することができるので、
紫外線照射の効果を高めることができる。
【0012】本発明の電気光学装置の製造方法は、基板
の表面にカップリング層を形成する工程と、形成された
前記カップリング層の表面に紫外線を照射する工程と、
紫外線が照射された前記カップリング層の上に絶縁膜又
は配向膜を形成する工程とを含むことを特徴とするもの
であってもよい。
【0013】この電気光学装置の製造方法によれば、絶
縁膜又は配向膜を形成する前に、基板の表面に形成した
カップリング層の表面に紫外線を照射するので、カップ
リング層に対する絶縁膜の材料又は配向膜の材料の濡れ
性を高めることができる。従って、基板表面に形成され
る絶縁膜又は配向膜の均一性を向上させることができ
る。
【0014】前記基板の表面にカップリング層を形成す
る工程の前に、前記基板の表面を洗浄する工程を含むも
のであってもよい。
【0015】このように、基板の洗浄後にカップリング
層を形成し、さらに紫外線を照射するので、カップリン
グ層に紫外線を照射した直後に絶縁膜又は配向膜を形成
することができる。従って、紫外線照射の効果を高める
ことができる。
【0016】前記基板の材質としては、紫外線照射に対
して比較的耐性のあるガラスが好ましく、またその上に
形成される絶縁膜としては無機酸化膜であることが好ま
しい。
【0017】同様に、前記基板がガラスであり、かつ前
記配向膜がポリイミド膜であることが好ましい。この場
合も、本来、基板に対する配向膜の材料の濡れ性は低い
が、紫外線の照射により濡れ性を高めることができるた
め、配向膜の均一性を効果的に向上させることができ
る。
【0018】また、本発明の電気光学装置の製造装置
は、基板の表面を超音波で洗浄する洗浄部と、前記洗浄
部で超音波洗浄された前記基板の表面に、紫外線を照射
する紫外線照射部と、前記洗浄部及び前記紫外線照射部
を順次通過するように前記基板を搬送する搬送手段とを
備えてなることを特徴とする。
【0019】この電気光学装置の製造装置によれば、搬
送手段によって搬送される基板の洗浄及び基板への紫外
線の照射を連続的に行い基板の流れを阻害することがな
いので、製造効率を高めることができる。また、紫外線
の照射によって基板表面が活性化されるため、後工程に
おいて基板表面に形成される層の材料の基板に対する濡
れ性を高めることができる。従って、後工程において形
成される層の均一性を向上させることができる。
【0020】この場合、前記紫外線照射部で紫外線を照
射された前記基板の表面に、絶縁膜又は配向膜を形成す
る絶縁膜又は配向膜形成部をさらに備えてなるものであ
ってもよい。
【0021】このように構成することによって、紫外線
の照射によって基板に対する絶縁膜の材料又は配向膜の
材料の濡れ性を高めることができるため、絶縁膜又は配
向膜の均一性を向上させることができる。
【0022】前記基板がガラスであり、かつ前記絶縁膜
が無機酸化膜であることが好ましく、また前記基板がガ
ラスであり、かつ前記配向膜がポリイミド膜であること
が好ましいのは、前述の電気光学装置の製造方法の場合
と同様である。
【0023】本発明の液晶パネルの製造方法は、一対の
基板間に液晶が封入されてなるとともに、前記基板上に
配向膜が形成された液晶パネルを製造する方法であっ
て、基板上に形成した配向膜にラビング処理を施すラビ
ング工程と、前記ラビング処理を施した前記配向膜に紫
外線を照射する紫外線照射工程と、前記紫外線が照射さ
れた前記配向膜を洗浄する洗浄工程とを含むことを特徴
とする。
【0024】この液晶パネルの製造方法によれば、配向
膜の洗浄工程の前に配向膜に紫外線を照射するので、洗
浄工程における配向膜の濡れ性を改善することができる
ため、洗浄工程における気泡の発生を抑制して配向膜を
効率的に洗浄することができる。
【0025】この場合、前記紫外線照射工程における紫
外線の波長を254nmとし、かつその照射量を900
mJ/cm2以上とする、又は前記紫外線照射工程にお
ける紫外線の波長を365nmとし、かつその照射量を
3000mJ/cm2以上とするとともに、前記紫外線
照射工程における紫外線の照射から前記洗浄工程におけ
る洗浄までの時間を60分以内としてもよい。
【0026】このように構成することによって、洗浄に
対する紫外線照射の効果を十分に発揮させることができ
る。
【0027】また、前記紫外線照射工程における紫外線
の波長を254nmとし、かつその照射量を150mJ
/cm2以上とする、又は前記紫外線照射工程における
紫外線の波長を365nmとし、かつその照射量を50
0mJ/cm2以上とするとともに、前記紫外線照射工
程における紫外線の照射から前記洗浄工程における洗浄
までの時間を5分以内としてもよい。
【0028】このように構成することによって、洗浄に
対する紫外線照射の効果を十分に発揮させることができ
る。
【0029】また、前記紫外線照射工程における紫外線
の照射から前記洗浄工程における洗浄までの時間を長く
するに従って、前記紫外線照射工程における紫外線の照
射量を増大させてもよい。
【0030】このように構成することによって、紫外線
の照射から洗浄までの時間に応じて紫外線の照射量を適
切な値とすることができるので、いたずらに紫外線の照
射量を高めることなく、洗浄に対する紫外線照射の効果
を効率良く発揮させることができる。
【0031】本発明の液晶パネルの製造装置は、一対の
基板間に液晶が封入されてなるとともに、前記基板上に
配向膜が形成された液晶パネルを製造する装置であっ
て、前記基板上に形成した前記配向膜にラビング処理を
施すラビング部と、前記ラビング部でラビング処理を施
された前記配向膜に紫外線を照射する紫外線照射部と、
前記ラビング部から前記紫外線照射部に前記配向膜が形
成された基板(配向膜形成基板)を搬送するとともに、
前記紫外線照射部で紫外線を照射された前記配向膜形成
基板を洗浄するために排出する搬送手段とを備えること
を特徴とする。
【0032】この液晶パネルの製造装置によれば、配向
膜が形成された基板(配向膜形成基板)を洗浄する前に
配向膜に紫外線を照射するので、洗浄時における配向膜
の濡れ性を改善することができるため、洗浄時における
気泡の発生を抑制して配向膜を効率的に洗浄することが
できる。また、ラビング部と紫外線照射部とを直列に接
続することにより、基板の流れを阻害することなく紫外
線を照射することができる。なお、紫外線を照射してか
ら洗浄までの時間が短いほど紫外線を照射することによ
る効果が顕著であるため、紫外線の照射から洗浄までの
時間は60分以内とすることが好ましい。
【0033】この場合、前記紫外線照射部を経由して紫
外線を照射された前記配向膜形成基板を洗浄する洗浄部
をさらに備えるとともに、前記搬送手段が、前記ラビン
グ部から前記洗浄部に至る搬送経路に沿って、前記配向
膜形成基板を搬送するとともに、前記配向膜形成基板を
排出する構成を有するものであってもよい。
【0034】このように構成することによって、洗浄部
で洗浄する直前に配向膜に紫外線を照射するので、洗浄
部における配向膜の濡れ性を改善して、洗浄部における
気泡の発生を抑制して配向膜を効率的に洗浄することが
できる。また、ラビング部、紫外線照射部及び洗浄部を
直列に接続することにより、基板の流れを阻害すること
なく紫外線の照射及び基板の洗浄を行うことができる。
【0035】また、前記紫外線照射部における紫外線の
波長が254nmであり、かつその照射量が900mJ
/cm2以上であり、又は前記紫外線照射部における紫
外線の波長が365nmであり、かつその照射量が30
00mJ/cm2以上であるとともに、前記紫外線照射
部における紫外線の照射から前記洗浄部における洗浄ま
での時間が60分以内であるものが好ましい。
【0036】このように構成することによって、洗浄に
対する紫外線照射の効果を十分に発揮させることができ
る。
【0037】また、前記紫外線照射部における紫外線の
波長が254nmであり、かつその照射量が150mJ
/cm2以上であり、又は前記紫外線照射部における紫
外線の波長が365nmであり、かつその照射量が50
0mJ/cm2以上であるとともに、前記紫外線照射部
における紫外線の照射から前記洗浄部における洗浄まで
の時間が5分以内であるものが好ましい。
【0038】このように構成することによって、洗浄に
対する紫外線照射の効果を十分に発揮させることができ
る。
【0039】また、前記紫外線照射部における紫外線の
照射から前記洗浄部における洗浄までの時間が長くなる
に従って、前記紫外線照射部における紫外線の照射量を
増大させる制御部をさらに備えたものがさらに好まし
い。
【0040】このように構成することによって、紫外線
の照射から洗浄までの時間に応じて紫外線の照射量を適
切に制御することができるため、紫外線の照射量をいた
ずらに高めることなく、洗浄に対する紫外線照射の効果
を効率良く発揮させることができる。
【0041】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図3を参照しつつ、
本発明の電気光学装置の製造方法の一の実施の形態につ
いて具体的に説明する。
【0042】図1は、本発明の電気光学装置の製造装置
の一の実施の形態を模式的に示す説明図である。図1に
示すように、本実施の形態に用いられる電気光学装置の
製造装置100は、液晶基板10の表面を超音波で洗浄
する洗浄部1と、洗浄部1で超音波又は純水で洗浄され
た液晶基板10の表面に紫外線22を照射する紫外線照
射部2と、洗浄部1及び紫外線照射部2を順次通過する
ように液晶基板10を搬送する搬送手段3とを備えてな
るものである。
【0043】洗浄部1には、搬送手段3によって搬送さ
れる液晶基板10に向けて純水を噴射する複数のノズル
11と、液晶基板10に向けて空気を吹き付けるエアナ
イフノズル12とが設けられている。ノズル11には純
水に超音波振動を与える振動板(図示せず)が設けら
れ、振動板を振動させつつノズル11から純水を噴出す
ることにより、純水と空気とが混合された超音波励振水
をノズル11から勢いよく液晶基板10に吹き付けるこ
とができる。エアナイフノズル12からは液晶基板10
に向けて高速でエアーが吹き付けられる。これにより、
液晶基板10に付着した純水を吹き飛ばして除去するこ
とができる。
【0044】紫外線照射部2には、搬送手段3によって
搬送される液晶基板10に向けて紫外線22を照射する
紫外線ランプ21が設けられている。液晶基板10に紫
外線22を照射することにより、液晶基板10の表面に
対する配向膜材料又は絶縁膜材料に対する濡れ性を向上
させることができる。
【0045】搬送手段3として、本実施の形態において
は、図1に示すように、ベルトコンベア式の搬送手段を
用いた場合を示すが、この他に、コロコンベア式の搬送
手段、又はロボットを用いて液晶基板10を搬送する装
置等を用いてもよい。
【0046】図2は、本発明の電気光学装置の製造方法
の一の実施の形態を模式的に示す工程図である。なお、
本実施の形態においては電気光学装置としてパッシブマ
トリクス方式の液晶装置を用いた場合を示す。
【0047】図1を参照しつつ図2に示すように、電気
光学装置の製造装置100において基板を洗浄する前に
(基板洗浄工程の前に)、液晶基板10に、ITO電極
パターンを形成する(ITOのパターン形成工程)。
【0048】次に、液晶基板10は電気光学装置の製造
装置100に搬入され、搬送手段3により搬送される液
晶基板10は、順次、洗浄部1と紫外線照射部2とを通
過する(基板洗浄工程及び紫外線照射工程)。電気光学
装置の製造装置100から搬出された液晶基板10の表
面は、洗浄及び紫外線の照射により、絶縁膜材料に対す
る濡れ性が向上している。
【0049】次に、液晶基板10の表面に絶縁材料を塗
布する(絶縁材料塗布工程)。絶縁材料としては、Si
2、ZnO、ZrO2、TiO2、Sb25等の無機酸
化膜を用いることができる。絶縁材料の塗布方法として
は、スクリーン印刷、凸版印刷等の通常の方法を用いる
ことができる。
【0050】絶縁膜の形成後、絶縁膜上に配向膜を塗布
する(配向膜塗布工程)。配向膜の材料としては、ポリ
イミド等を用いることができる。次に、配向膜に対しラ
ビング処理を施す(ラビング処理工程)。ラビング処理
は、配向膜の表面を綿の布等で一方向に擦ることによ
り、微細な溝を形成する工程である。これにより液晶装
置(パネル)に封入される液晶の配向方向を制御するこ
とができる。
【0051】次に、液晶装置(パネル)を構成する一対
の基板を接着するためのシール材を印刷する(シール材
印刷工程)。
【0052】次に、シール材により一対の基板を接着す
るとともに、一対の基板間に液晶を注入して液晶パネル
を完成させる(組立工程)。
【0053】上記実施の形態においては、紫外線照射工
程の後に絶縁膜材料塗布工程を配置する例を示したが、
紫外線照射工程の後に配向膜塗布工程を配置する場合に
ついても、同様の効果を得ることができる。
【0054】図3は、本発明の電気光学装置の製造方法
の他の実施の形態を模式的に示す工程図である。なお、
本実施の形態においても電気光学装置としてパッシブマ
トリクス方式の液晶装置を用いた場合を示す。
【0055】本実施の形態においては、紫外線照射工程
の後に、絶縁膜材料塗布工程を経ることなく、配向膜塗
布工程を配置している。このように、配向膜を形成する
前に紫外線を照射することにより、配向膜を均一に形成
することができる。
【0056】この場合、配向膜材料としては、有機高分
子系配向膜材料(中でも、ポリイミド系ワニスが好まし
い)等を使用することができる。
【0057】ガラス基板は、本来、ポリイミド等の配向
膜材料に対する濡れ性が悪いが、上記のように本実施の
形態では紫外線照射によって液晶基板の表面の絶縁材料
に対する濡れ性が向上するため、配向膜を均一に形成す
ることができる。
【0058】本実施の形態においては、紫外線を照射し
てから配向膜を塗布するまでの時間が長くなると、紫外
線照射の効果が弱まるため、その時間としては30分以
内が好ましい。また、紫外線の強度としては254nm
の波長で200mJ/cm2以上とするのが好ましい。
【0059】上記実施の形態では、電気光学装置の製造
装置100を使用して液晶装置を製造する場合について
例示したが、本発明の電気光学装置の製造方法は上記の
ような装置を使用する場合に限定されることはない。ま
た、本発明の電気光学装置の製造方法は、パッシブマト
リクス方式の液晶装置への適用に限定されることはな
く、アクティブマトリクス方式の液晶装置を含むすべて
の液晶装置の他、プラズマディスプレイ装置、エレクト
ロルミネッセンス表示装置等のすべての電気光学装置を
製造する場合に適用することができる。
【0060】以下、図4〜図7を参照しつつ、本発明の
液晶パネルの製造装置の一の実施の形態について説明す
る。
【0061】図4は、本発明の液晶パネルの製造装置の
一の実施の形態を模式的に示す説明図である。なお、図
4においては、液晶パネル製造装置200として、枚葉
式の液晶パネルを製造する装置を示す。
【0062】図5は、本発明の液晶パネルの製造装置の
一の実施の形態におけるUV照射部の一例を模式的に示
す説明図である。
【0063】図4に示すように、液晶パネルの製造装置
200は、複数のパネル基板が配置された基板(マザー
基板)10上に形成した配向膜にラビング処理を施すた
めのラビング部30と、ラビング部30を経由した基板
10の配向膜が形成された面に紫外線を照射するUV照
射部40とを備えている。また、ラビング部30の手前
側には、基板10を受け入れる搬入部50が設けられて
いる。なお、符号6は洗浄部を示す。
【0064】図5に示すように、UV照射部40は、一
定間隔で配置された状態で搬送される基板10に向けて
紫外線22を照射するUVランプ21を備えている。
【0065】図6は、ラビング部30を経由した基板1
0をUV照射部40に向けて搬入するとともにUV照射
部40内で基板10を搬送する搬送手段を模式的に示す
説明図であり(図4参照)、図6(a)はベルトコンベ
ア式の搬送手段4を、図6(b)はコロコンベア式の搬
送手段4Aをそれぞれ示す。
【0066】図6(a)に示すように、ベルトコンベア
式の搬送手段4では、UVランプ21の下方を基板10
がベルト41に載せられて搬送される。基板10は配向
膜が形成された面を上に向けて搬送される。ベルト41
は駆動機構(図示せず)により駆動される。
【0067】図6(b)に示すように、コロコンベア式
の搬送手段4Aでは、複数のコロ42が基板10の搬送
経路に沿って設けられ、駆動機構(図示せず)によって
コロ42が回転されることによりコロ42に載せられた
基板10がUVランプ21の下方を搬送される。基板1
0は配向膜が形成された面を上に向けて搬送される。
【0068】図6(c)は、搬送手段として、ロボット
を用いた枚葉照射炉等を用いた場合を示しており、この
搬送手段4Bではロボット43により基板10を1枚ず
つステージ44に載置し、ステージ44の上で基板10
に対して紫外線22を照射している。基板10は配向膜
が形成された面を上に向けて載置される。紫外線の照射
後、ロボット45により基板10はステージ44から搬
出される。ステージ44には基板10を上下方向に駆動
する昇降ピン44aが設けられ、昇降ピン44aで基板
10を上昇させることにより、基板10の搬出入時にロ
ボット43のハンド43a及びロボット45のハンド4
5aが挿入される間隙を確保することができる。
【0069】図7は、UV照射部40で紫外線が照射さ
れた基板10を排出する搬送手段を模式的に示す説明図
であり(図4参照)、図7(a)は、ロボットを用いた
搬送手段5、図7(b)はコロコンベア式の搬送手段5
Aをそれぞれ示す。図7(a)に示す搬送手段5では、
ロボット51を用いて基板10をラック52に順次収納
している。ラック52に収納された基板10はラック5
2単位で洗浄部6に移動され、ラック52単位でまとめ
て(バッチ式で)洗浄される。図7(b)に示す搬送手
段5Aでは、基板10の搬送方向に沿って配列されたコ
ロ53によって基板10が、順次、洗浄部6に向けて搬
送される。この場合には、基板10が1枚ずつ洗浄部6
内に搬送されて順次洗浄される。図7(b)に示すよう
に基板10を1枚ずつ洗浄部6に搬送する場合には、液
晶パネル製造装置の一部として洗浄部6を組み込むこと
ができる。
【0070】図4に示すように、搬入部50に置かれた
液晶パネル10は、搬送手段(図示せず)によりラビン
グ部30に導かれるように構成されている。搬送手段と
して、図6(a)〜図6(c)に示すものと同様の搬送
手段を用いることができる。この搬送手段は、ラビング
部30内において基板を搬送する装置(図示せず)と共
通化してもよいし、搬入部50からUV照射部40又は
洗浄部6に至る搬送経路で搬送手段を共通化してもよ
い。
【0071】次に、本発明の液晶パネルの製造方法の一
の実施の形態について、図8を参照しつつ説明する。
【0072】図8は、本発明の液晶パネルの製造方法の
一の実施の形態における製造工程を模式的に示す工程図
である。
【0073】図8に示すように、基板10(図4参照)
の表面にITO電極パターンを形成した(ITOのパタ
ーン形成工程)後、スクリーン印刷、凸版印刷等を用い
てITO電極パターン上に配向膜を形成する(配向膜形
成工程)。配向膜の材料としては、ポリイミド等を用い
ることができる。なお、ITO電極パターンの形成後、
絶縁膜をITO電極パターン上に形成し、この絶縁膜の
上に配向膜を形成してもよい。
【0074】次に、図4を参照しつつ図8に示すよう
に、配向膜が形成された基板10を図4に示す液晶パネ
ル製造装置200の搬入部50に載置する。搬入部50
に置かれた基板10を上記搬送手段によりラビング部3
0に導入する。ラビング部30では基板10の配向膜に
対しラビング処理を行う(ラビング工程)。これにより
液晶パネルに封着される液晶の配向方向を制御すること
ができる。なお、ラビング処理としては、汎用されてい
る処理方法を用いることができる。
【0075】次に、基板10をUV照射部40に搬送し
て配向膜に紫外線を照射する(UV照射工程)。その
後、基板10を順次ラック52に収納し、又は1枚ずつ
洗浄部6に搬入する(図7参照)。
【0076】次に、基板10を洗浄部6において純水に
より超音波洗浄する(ラビング後洗浄工程)。この工程
によってラビング工程において付着した布の繊維等の配
向膜表面の異物を除去する。本実施の形態では配向膜に
紫外線を照射した後、配向膜の超音波洗浄を行っている
ので配向膜の濡れ性が改善され、洗浄効果を向上させる
ことができる。紫外線照射の効果については後述する。
【0077】配向膜を洗浄し基板10を乾燥させた後、
シール印刷を行う(シール印刷工程)。シール印刷では
シール材を基板10又は基板10と組合わされるべき基
板(マザー基板)に、個々の液晶パネルの形状に合わせ
た形状に塗布する。
【0078】次に、上記基板(マザー基板)の一対をシ
ール材により接着した後、短冊状に切断する。次に、こ
の一対の基板間に液晶を注入、封止した後、個々の液晶
パネルごとに切断することで、液晶パネルを製造するこ
とができる(組立工程)。
【0079】ラビング処理後の紫外線の照射量と、紫外
線の照射から洗浄までの放置時間との間の、紫外線照射
による洗浄効果に対する相関関係を表1(紫外線の波長
が254nmの場合)及び表2(紫外線の波長が365
nmの場合)にそれぞれ示す。
【0080】
【表1】
【0081】
【表2】
【0082】紫外線照射による洗浄結果は4段階で評価
しており、最も良好な状態はラビング後に洗浄した基板
表面に点状濡れ性欠陥がない状態(状態1:表中◎で示
す)、次いで良好な状態はラビング後に洗浄した基板表
面に点状濡れ性欠陥が10箇所未満の状態(状態2:表
中〇で示す)、その次に良好な状態は点状濡れ性欠陥が
10箇所以上確認されるがパネル点灯時の欠陥とならな
い状態(状態3:表中△で示す)、最も悪い状態はパネ
ル点灯時の欠陥を生じる状態(状態4:表中×で示す)
である。
【0083】表1からわかるように、紫外線の波長が2
54nmのとき、放置時間を5分とした場合には照射量
75mJ/cm2では状態2となるが、照射量150m
J/cm2以上では状態1となる。放置時間を10分と
した場合には照射量75mJ/cm2では状態3とな
り、照射量150mJ/cm2では状態2となり、照射
量300mJ/cm2以上では状態1となる。放置時間
を20分とした場合には照射量75mJ/cm2では状
態4となり、照射量150mJ/cm2では状態3とな
り、照射量300mJ/cm2では状態2となり、照射
量450mJ/cm2以上では状態1となる。放置時間
を30分とした場合には照射量150mJ/cm 2以下
では状態4となり、照射量300mJ/cm2及び45
0mJ/cm2では状態2となり、照射量600mJ/
cm2以上では状態1となる。放置時間を45分とした
場合には照射量150mJ/cm2以下では状態4とな
り、照射量300mJ/cm2では状態3となり、照射
量450mJ/cm2及び600mJ/cm2では状態2
となり、照射量900mJ/cm2以上では状態1とな
る。放置時間を60分とした場合には照射量300mJ
/cm2以下では状態4となり、照射量450mJ/c
2では状態3となり、照射量600mJ/cm2では状
態2となり、照射量900mJ/cm2以上では状態1
となる。放置時間を90分とした場合には照射量450
mJ/cm2以下では状態4となり、照射量600mJ
/cm2では状態3となり、照射量900mJ/cm2
上では状態2となる。放置時間を120分とした場合に
は照射量600mJ/cm2以下では状態4となり、照
射量900mJ/cm2以上では状態3となる。放置時
間を240分とした場合にはすべての照射量で状態4と
なる。
【0084】このように、放置時間を短くした場合には
紫外線の照射量が少なくても十分な洗浄効果を得ること
ができるが、放置時間を長くするに従って紫外線の照射
量を増大させる必要がある。また、放置時間を90分以
上とした場合には、紫外線の照射量を増加させても状態
1にはならず、十分な洗浄効果を得ることができない。
従って、放置時間は60分以内とすることが好ましい。
【0085】例えば、ラビング後洗浄工程をバッチ処理
としたときに発生する付帯時間により約30〜45分の
放置時間を必要とする場合には、900mJ/cm2
照射量とすれば洗浄状態が常に状態1となる。また、洗
浄工程を紫外線照射工程と連動した一連の枚葉ラインと
して組んだ場合に、例えば、放置時間を5分以内にする
ことができれば150mJ/cm2の照射量でも洗浄状
態を常に状態1とすることができる。
【0086】表2からわかるように、紫外線の波長が3
65nmのとき、放置時間を5分とした場合には照射量
250mJ/cm2では状態2となるが、照射量500
mJ/cm2以上では状態1となる。放置時間を10分
とした場合には照射量250mJ/cm2では状態3と
なり、照射量500mJ/cm2では状態2となり、照
射量1000mJ/cm2以上では状態1となる。放置
時間を20分とした場合には照射量250mJ/cm2
では状態4となり、照射量500mJ/cm2では状態
3となり、照射量1000mJ/cm2では状態2とな
り、照射量1500mJ/cm2以上では状態1とな
る。放置時間を30分とした場合には照射量500mJ
/cm2以下では状態4となり、照射量1000mJ/
cm2及び1500mJ/cm2では状態2となり、照射
量2000mJ/cm2以上では状態1となる。放置時
間を45分とした場合には照射量500mJ/cm2
下では状態4となり、照射量1000mJ/cm2では
状態3となり、照射量1500mJ/cm2及び200
0mJ/cm2では状態2となり、照射量3000mJ
/cm 2以上では状態1となる。放置時間を60分とし
た場合には照射量1000mJ/cm2以下では状態4
となり、照射量1500mJ/cm2では状態3とな
り、照射量2000mJ/cm2では状態2となり、照
射量3000mJ/cm2以上では状態1となる。放置
時間を90分とした場合には照射量1500mJ/cm
2以下では状態4となり、照射量2000mJ/cm2
は状態3となり、照射量3000mJ/cm2以上では
状態2となる。放置時間を120分とした場合には照射
量2000mJ/cm2以下では状態4となり、照射量
3000mJ/cm2以上では状態3となる。放置時間
を240分とした場合にはすべての照射量で状態4とな
る。
【0087】このように、放置時間を短くした場合には
紫外線の照射量が少なくても十分な洗浄効果を得ること
ができるが、放置時間を長くするに従って紫外線の照射
量を増大させる必要がある。また、放置時間を90分以
上とした場合には、紫外線の照射量を増加させても状態
1にはならず、十分な洗浄効果を得ることができない。
従って、放置時間は60分以内とすることが好ましい。
【0088】例えば、ラビング後洗浄工程をバッチ処理
としたときに発生する付帯時間により約30〜45分の
放置時間を必要とする場合には、3000mJ/cm2
以上の照射量とすれば洗浄状態が状態1となる。また、
洗浄工程を紫外線照射工程と連動した一連の枚葉ライン
として組んだ場合に、例えば、放置時間を5分以内にす
ることができれば500mJ/cm2の照射量でも洗浄
状態を状態1とすることができる。
【0089】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によって、
絶縁膜や配向膜を均一に形成することができる電気光学
装置の製造方法及び製造装置、並びに配向膜を効率的に
洗浄することができる液晶パネルの製造方法及び製造装
置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電気光学装置の製造装置の一の実施の
形態を模式的に示す説明図である。
【図2】本発明の電気光学装置の製造方法の一の実施の
形態を模式的に示す工程図である。
【図3】本発明の電気光学装置の製造方法の他の実施の
形態を模式的に示す工程図である。
【図4】本発明の液晶パネルの製造装置の一の実施の形
態を模式的に示す説明図である。
【図5】本発明の液晶パネルの製造装置の一の実施の形
態におけるUV照射部の一例を模式的に示す説明図であ
る。
【図6】本発明の液晶パネルの製造装置の一の実施の形
態における、ラビング部を経由した基板をUV照射部に
向けて搬入するとともにUV照射部内で基板を搬送する
搬送手段を模式的に示す説明図である。
【図7】本発明の液晶パネルの製造装置の一の実施の形
態における、UV照射部で紫外線が照射された基板を排
出する搬送手段を模式的に示す説明図である。
【図8】本発明の液晶パネルの製造方法の一の実施の形
態における製造工程を模式的に示す工程図である。
【符号の説明】
1…洗浄部 2…紫外線照射部 3…搬送手段 4…ベルトコンベア式の搬送手段 4A…コロコンベア式の搬送手段 4B…ロボットを用いた枚葉照射炉等を用いた搬送手段 10…液晶基板(基板) 21…UVランプ 22…紫外線 30…ラビング部 40…UV照射部 50…搬入部 100…電気光学装置の製造装置 200…液晶パネル製造装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/30 310 G09F 9/30 310 Fターム(参考) 2H088 FA10 FA17 FA20 FA21 FA24 FA28 FA30 HA03 MA16 MA18 2H090 HB03Y HB08Y HC05 HC13 HC15 HC17 HC18 JC09 JC19 JD08 MA04 MB01 5C094 AA43 BA43 DA15 EB02 5G435 AA17 BB12 EE33 KK05 KK10

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板の表面に絶縁膜又は配向膜が形成さ
    れた電気光学装置を製造する方法であって、 前記基板の表面に紫外線を照射する工程と、 紫外線が照射された前記基板の表面に絶縁膜又は配向膜
    を形成する工程とを含むことを特徴とする電気光学装置
    の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記基板の表面に紫外線を照射する工程
    の前に、前記基板の表面を洗浄する工程を含む請求項1
    に記載の電気光学装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 基板の表面にカップリング層を形成する
    工程と、 形成された前記カップリング層の表面に紫外線を照射す
    る工程と、 紫外線が照射された前記カップリング層の上に絶縁膜又
    は配向膜を形成する工程とを含むことを特徴とする電気
    光学装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記基板の表面にカップリング層を形成
    する工程の前に、前記基板の表面を洗浄する工程を含む
    請求項3に記載の電気光学装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記基板がガラスであり、かつ前記絶縁
    膜が無機酸化膜である請求項1又は3に記載の電気光学
    装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記基板がガラスであり、かつ前記配向
    膜がポリイミド膜である請求項1又は3に記載の電気光
    学装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 基板の表面に絶縁膜又は配向膜が形成さ
    れた電気光学装置を製造する装置であって、 前記基板の表面を超音波で洗浄する洗浄部と、 前記洗浄部で超音波洗浄された前記基板の表面に紫外線
    を照射する紫外線照射部と、 前記洗浄部及び前記紫外線照射部を順次通過するように
    前記基板を搬送する搬送手段とを備えてなることを特徴
    とする電気光学装置の製造装置。
  8. 【請求項8】 前記紫外線照射部で紫外線を照射された
    前記基板の表面に、絶縁膜又は配向膜を形成する絶縁膜
    又は配向膜形成部をさらに備えてなる請求項7に記載の
    電気光学装置の製造装置。
  9. 【請求項9】 前記基板がガラスであり、かつ前記絶縁
    膜が無機酸化膜である請求項8に記載の電気光学装置の
    製造装置。
  10. 【請求項10】 前記基板がガラスであり、かつ前記配
    向膜がポリイミド膜である請求項8に記載の電気光学装
    置の製造装置。
  11. 【請求項11】 一対の基板間に液晶が封入されてなる
    とともに、前記基板上に配向膜が形成された液晶パネル
    を製造する方法であって、 前記基板上に形成した前記配向膜にラビング処理を施す
    ラビング工程と、 前記ラビング処理を施した前記配向膜に紫外線を照射す
    る紫外線照射工程と、 前記紫外線が照射された前記配向膜を洗浄する洗浄工程
    とを含むことを特徴とする液晶パネルの製造方法。
  12. 【請求項12】 前記紫外線照射工程における紫外線の
    波長を254nmとし、かつその照射量を900mJ/
    cm2以上とする、又は前記紫外線照射工程における紫
    外線の波長を365nmとし、かつその照射量を300
    0mJ/cm 2以上とするとともに、前記紫外線照射工
    程における紫外線の照射から前記洗浄工程における洗浄
    までの時間を60分以内とする請求項11に記載の液晶
    パネルの製造方法。
  13. 【請求項13】 前記紫外線照射工程における紫外線の
    波長を254nmとし、かつその照射量を150mJ/
    cm2以上とする、又は前記紫外線照射工程における紫
    外線の波長を365nmとし、かつその照射量を500
    mJ/cm2以上とするとともに、前記紫外線照射工程
    における紫外線の照射から前記洗浄工程における洗浄ま
    での時間を5分以内とする請求項11に記載の液晶パネ
    ルの製造方法。
  14. 【請求項14】 前記紫外線照射工程における紫外線の
    照射から前記洗浄工程における洗浄までの時間を長くす
    るに従って、前記紫外線照射工程における紫外線の照射
    量を増大させる請求項11に記載の液晶パネルの製造方
    法。
  15. 【請求項15】 一対の基板間に液晶が封入されてなる
    とともに、前記基板上に配向膜が形成された液晶パネル
    を製造する装置であって、 前記基板上に形成した前記配向膜にラビング処理を施す
    ラビング部と、 前記ラビング部でラビング処理を施された前記配向膜に
    紫外線を照射する紫外線照射部と、 前記ラビング部から前記紫外線照射部に前記配向膜が形
    成された基板(配向膜形成基板)を搬送するとともに、
    前記紫外線照射部で紫外線を照射された前記配向膜形成
    基板を洗浄するために排出する搬送手段とを備えること
    を特徴とする液晶パネルの製造装置。
  16. 【請求項16】前記紫外線照射部を経由して紫外線を照
    射された前記配向膜形成基板を洗浄する洗浄部をさらに
    備えるとともに、前記搬送手段が、前記ラビング部から
    前記洗浄部に至る搬送経路に沿って、前記配向膜形成基
    板を搬送するとともに、前記配向膜形成基板を排出する
    構成を有するものである請求項15に記載の液晶パネル
    の製造装置。
  17. 【請求項17】 前記紫外線照射部における紫外線の波
    長が254nmであり、かつその照射量が900mJ/
    cm2以上であり、又は前記紫外線照射部における紫外
    線の波長が365nmであり、かつその照射量が300
    0mJ/cm 2以上であるとともに、前記紫外線照射部
    における紫外線の照射から前記洗浄部における洗浄まで
    の時間が60分以内である請求項16に記載の液晶パネ
    ルの製造装置。
  18. 【請求項18】 前記紫外線照射部における紫外線の波
    長が254nmであり、かつその照射量が150mJ/
    cm2以上であり、又は前記紫外線照射部における紫外
    線の波長が365nmであり、かつその照射量が500
    mJ/cm2以上であるとともに、前記紫外線照射部に
    おける紫外線の照射から前記洗浄部における洗浄までの
    時間が5分以内である請求項16に記載の液晶パネルの
    製造装置。
  19. 【請求項19】 前記紫外線照射部における紫外線の照
    射から前記洗浄部における洗浄までの時間が長くなるに
    従って、前記紫外線照射部における紫外線の照射量を増
    大させる制御部をさらに備えた請求項16に記載の液晶
    パネルの製造装置。
JP2001212082A 2000-09-06 2001-07-12 電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置 Withdrawn JP2002196337A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001212082A JP2002196337A (ja) 2000-09-06 2001-07-12 電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置
US09/946,808 US6893688B2 (en) 2000-09-06 2001-09-05 Method and apparatus for fabricating electro-optical device and method and apparatus for fabricating liquid crystal panel
TW090122006A TWI240012B (en) 2000-09-06 2001-09-05 Method and apparatus for fabricating electro-optical device and method and apparatus for fabricating liquid crystal panel
CNB011326409A CN1196956C (zh) 2000-09-06 2001-09-05 电光学装置以及液晶屏的制造方法及制造装置
KR10-2001-0054667A KR100454514B1 (ko) 2000-09-06 2001-09-06 전기 광학 장치의 제조 방법 및 제조 장치와 액정 패널의제조 방법 및 제조 장치

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000-270437 2000-09-06
JP2000270437 2000-09-06
JP2000-300928 2000-09-29
JP2000300928 2000-09-29
JP2000317082 2000-10-17
JP2000-317082 2000-10-17
JP2001212082A JP2002196337A (ja) 2000-09-06 2001-07-12 電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002196337A true JP2002196337A (ja) 2002-07-12

Family

ID=27481593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001212082A Withdrawn JP2002196337A (ja) 2000-09-06 2001-07-12 電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6893688B2 (ja)
JP (1) JP2002196337A (ja)
KR (1) KR100454514B1 (ja)
CN (1) CN1196956C (ja)
TW (1) TWI240012B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120190267A1 (en) * 2011-01-25 2012-07-26 Chimei Innolux Corporation Manufacturing apparatus for liquid crystal panel
KR20140027265A (ko) * 2011-04-15 2014-03-06 도요보 가부시키가이샤 적층체와 그 제조 방법 및 이 적층체를 이용한 디바이스 구조체의 작성 방법
JP2015148747A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置の製造方法および製造装置

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003270652A (ja) * 2002-03-08 2003-09-25 Lg Phillips Lcd Co Ltd 液晶拡散制御装置及び液晶表示装置の製造方法
KR20050005880A (ko) * 2003-07-07 2005-01-15 삼성전자주식회사 액정 배향 설비
KR100646981B1 (ko) * 2004-12-27 2006-11-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 표시 장치의 배향막 형성 방법
US20060266793A1 (en) * 2005-05-24 2006-11-30 Caterpillar Inc. Purging system having workpiece movement device
US8017860B2 (en) 2006-05-15 2011-09-13 Stion Corporation Method and structure for thin film photovoltaic materials using bulk semiconductor materials
KR101267528B1 (ko) * 2007-03-21 2013-05-23 엘지디스플레이 주식회사 배향막 형성방법
US20080300918A1 (en) * 2007-05-29 2008-12-04 Commercenet Consortium, Inc. System and method for facilitating hospital scheduling and support
US8071179B2 (en) 2007-06-29 2011-12-06 Stion Corporation Methods for infusing one or more materials into nano-voids if nanoporous or nanostructured materials
US8287942B1 (en) 2007-09-28 2012-10-16 Stion Corporation Method for manufacture of semiconductor bearing thin film material
US8759671B2 (en) * 2007-09-28 2014-06-24 Stion Corporation Thin film metal oxide bearing semiconductor material for single junction solar cell devices
US7998762B1 (en) 2007-11-14 2011-08-16 Stion Corporation Method and system for large scale manufacture of thin film photovoltaic devices using multi-chamber configuration
US8642138B2 (en) 2008-06-11 2014-02-04 Stion Corporation Processing method for cleaning sulfur entities of contact regions
US9087943B2 (en) * 2008-06-25 2015-07-21 Stion Corporation High efficiency photovoltaic cell and manufacturing method free of metal disulfide barrier material
US8003432B2 (en) 2008-06-25 2011-08-23 Stion Corporation Consumable adhesive layer for thin film photovoltaic material
US7855089B2 (en) * 2008-09-10 2010-12-21 Stion Corporation Application specific solar cell and method for manufacture using thin film photovoltaic materials
US8236597B1 (en) 2008-09-29 2012-08-07 Stion Corporation Bulk metal species treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8476104B1 (en) 2008-09-29 2013-07-02 Stion Corporation Sodium species surface treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8394662B1 (en) 2008-09-29 2013-03-12 Stion Corporation Chloride species surface treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8008110B1 (en) 2008-09-29 2011-08-30 Stion Corporation Bulk sodium species treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8026122B1 (en) 2008-09-29 2011-09-27 Stion Corporation Metal species surface treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8008112B1 (en) 2008-09-29 2011-08-30 Stion Corporation Bulk chloride species treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8501521B1 (en) 2008-09-29 2013-08-06 Stion Corporation Copper species surface treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US7910399B1 (en) * 2008-09-30 2011-03-22 Stion Corporation Thermal management and method for large scale processing of CIS and/or CIGS based thin films overlying glass substrates
US7863074B2 (en) * 2008-09-30 2011-01-04 Stion Corporation Patterning electrode materials free from berm structures for thin film photovoltaic cells
US7947524B2 (en) 2008-09-30 2011-05-24 Stion Corporation Humidity control and method for thin film photovoltaic materials
US8425739B1 (en) 2008-09-30 2013-04-23 Stion Corporation In chamber sodium doping process and system for large scale cigs based thin film photovoltaic materials
US8383450B2 (en) 2008-09-30 2013-02-26 Stion Corporation Large scale chemical bath system and method for cadmium sulfide processing of thin film photovoltaic materials
US8741689B2 (en) * 2008-10-01 2014-06-03 Stion Corporation Thermal pre-treatment process for soda lime glass substrate for thin film photovoltaic materials
US20110018103A1 (en) * 2008-10-02 2011-01-27 Stion Corporation System and method for transferring substrates in large scale processing of cigs and/or cis devices
US8435826B1 (en) 2008-10-06 2013-05-07 Stion Corporation Bulk sulfide species treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8003430B1 (en) 2008-10-06 2011-08-23 Stion Corporation Sulfide species treatment of thin film photovoltaic cell and manufacturing method
US8168463B2 (en) 2008-10-17 2012-05-01 Stion Corporation Zinc oxide film method and structure for CIGS cell
US8344243B2 (en) * 2008-11-20 2013-01-01 Stion Corporation Method and structure for thin film photovoltaic cell using similar material junction
KR101298358B1 (ko) * 2008-12-19 2013-08-20 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 제조용 연마장치 및 연마방법
US8241943B1 (en) 2009-05-08 2012-08-14 Stion Corporation Sodium doping method and system for shaped CIGS/CIS based thin film solar cells
US8372684B1 (en) 2009-05-14 2013-02-12 Stion Corporation Method and system for selenization in fabricating CIGS/CIS solar cells
US8507786B1 (en) 2009-06-27 2013-08-13 Stion Corporation Manufacturing method for patterning CIGS/CIS solar cells
US8398772B1 (en) 2009-08-18 2013-03-19 Stion Corporation Method and structure for processing thin film PV cells with improved temperature uniformity
US8809096B1 (en) 2009-10-22 2014-08-19 Stion Corporation Bell jar extraction tool method and apparatus for thin film photovoltaic materials
US8859880B2 (en) * 2010-01-22 2014-10-14 Stion Corporation Method and structure for tiling industrial thin-film solar devices
US8263494B2 (en) 2010-01-25 2012-09-11 Stion Corporation Method for improved patterning accuracy for thin film photovoltaic panels
US8142521B2 (en) * 2010-03-29 2012-03-27 Stion Corporation Large scale MOCVD system for thin film photovoltaic devices
US9096930B2 (en) 2010-03-29 2015-08-04 Stion Corporation Apparatus for manufacturing thin film photovoltaic devices
US8461061B2 (en) 2010-07-23 2013-06-11 Stion Corporation Quartz boat method and apparatus for thin film thermal treatment
US8628997B2 (en) 2010-10-01 2014-01-14 Stion Corporation Method and device for cadmium-free solar cells
US8998606B2 (en) 2011-01-14 2015-04-07 Stion Corporation Apparatus and method utilizing forced convection for uniform thermal treatment of thin film devices
US8728200B1 (en) 2011-01-14 2014-05-20 Stion Corporation Method and system for recycling processing gas for selenization of thin film photovoltaic materials
US8436445B2 (en) 2011-08-15 2013-05-07 Stion Corporation Method of manufacture of sodium doped CIGS/CIGSS absorber layers for high efficiency photovoltaic devices
CN103018814B (zh) * 2012-12-13 2016-03-30 京东方科技集团股份有限公司 偏光片及其制备方法、3d显示装置
CN104570496B (zh) * 2015-02-04 2017-05-10 京东方科技集团股份有限公司 一种形成有取向膜的基板的清洗方法
CN104950522B (zh) * 2015-06-24 2019-04-19 合肥鑫晟光电科技有限公司 摩擦配向方法及其装置
CN108766666B (zh) * 2018-06-07 2021-10-15 乐凯华光印刷科技有限公司 一种低阻值、高透光率的纳米银线透明导电膜及其制备方法
CN110109293A (zh) * 2019-04-04 2019-08-09 深圳市华星光电技术有限公司 液晶无机配向薄膜的制造方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6145224A (ja) * 1984-08-10 1986-03-05 Alps Electric Co Ltd 液晶表示素子の製造方法
DE3669079D1 (de) * 1985-07-10 1990-03-29 Hitachi Ltd Ferroelektrisches fluessigkristallelement und verfahren zu dessen herstellung.
JPH03215829A (ja) 1990-01-19 1991-09-20 Canon Inc 液晶素子の製造方法
JPH03254874A (ja) 1990-03-05 1991-11-13 Hitachi Ltd 洗浄装置
US5200238A (en) * 1990-06-22 1993-04-06 Loctite (Ireland) Limited Liquid crystal display devices and method of manufacture
KR930003683B1 (ko) * 1990-11-29 1993-05-08 주식회사 금성사 액정표시소자 및 그 제조방법
JPH04221925A (ja) 1990-12-25 1992-08-12 Fujitsu Ltd 液晶表示パネル用基板の製造方法および製造装置
JP3050957B2 (ja) 1991-07-26 2000-06-12 株式会社東芝 液晶表示素子製造方法
JPH0545645U (ja) * 1991-11-27 1993-06-18 シヤープ株式会社 プラスチツク液晶表示素子
US6753044B2 (en) * 1991-11-27 2004-06-22 Reveo, Inc. Coloring media having improved brightness and color characteristics
JPH05182945A (ja) 1991-12-27 1993-07-23 Hitachi Ltd 洗浄装置
JP2727481B2 (ja) * 1992-02-07 1998-03-11 キヤノン株式会社 液晶素子用ガラス基板の洗浄方法
JPH05271973A (ja) * 1992-03-25 1993-10-19 Orc Mfg Co Ltd 紫外線洗浄方法
KR950011956B1 (ko) * 1992-12-28 1995-10-12 엘지전자주식회사 액정표시소자의 러빙 방법 및 장치
US5673127A (en) * 1993-12-01 1997-09-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Display panel and display device using a display panel
JPH08101393A (ja) 1994-09-30 1996-04-16 Nissan Chem Ind Ltd 液晶配向処理方法及び液晶表示素子
US5907382A (en) * 1994-12-20 1999-05-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Transparent conductive substrate and display apparatus
US5786041A (en) * 1995-06-07 1998-07-28 International Business Machines Corporation Alignment film, a method for producing the alignment film and a liquid crystal display device using the alignment film
JP3458562B2 (ja) * 1995-10-12 2003-10-20 株式会社日立製作所 液晶表示装置及びその製造方法
US6154265A (en) * 1996-06-18 2000-11-28 Canon Kabushiki Kaisha Liquid crystal device and production process thereof
JPH1192179A (ja) 1997-09-19 1999-04-06 Sharp Corp 表面改質方法およびこれを用いた液晶表示装置の製造方法
US6281952B1 (en) * 1997-12-26 2001-08-28 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display
JP3517585B2 (ja) 1998-04-23 2004-04-12 株式会社アドバンスト・ディスプレイ 液晶表示パネルの製造方法およびこれに用いられる洗浄装置
KR100279043B1 (ko) * 1998-07-15 2001-01-15 윤종용 액정디스플레이용폴리말레이미드및폴리이미드광배향재
JP2000147507A (ja) * 1998-11-09 2000-05-26 Canon Inc 液晶表示素子及びその製造方法
JP2000147511A (ja) * 1998-11-13 2000-05-26 Fujitsu Ltd 液晶表示装置およびその製造方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120190267A1 (en) * 2011-01-25 2012-07-26 Chimei Innolux Corporation Manufacturing apparatus for liquid crystal panel
US8357022B2 (en) * 2011-01-25 2013-01-22 Innocom Technology (Schenzhen) Co., Ltd. Manufacturing apparatus for liquid crystal panel
KR20140027265A (ko) * 2011-04-15 2014-03-06 도요보 가부시키가이샤 적층체와 그 제조 방법 및 이 적층체를 이용한 디바이스 구조체의 작성 방법
KR101911574B1 (ko) 2011-04-15 2018-10-24 도요보 가부시키가이샤 적층체와 그 제조 방법 및 이 적층체를 이용한 디바이스 구조체의 작성 방법
JP2015148747A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置の製造方法および製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
TWI240012B (en) 2005-09-21
CN1196956C (zh) 2005-04-13
US20020061361A1 (en) 2002-05-23
CN1342914A (zh) 2002-04-03
KR100454514B1 (ko) 2004-11-05
KR20020020222A (ko) 2002-03-14
US6893688B2 (en) 2005-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002196337A (ja) 電気光学装置の製造方法及び製造装置、並びに液晶パネルの製造方法及び製造装置
JP4563351B2 (ja) 液晶表示パネルの切断方法及びこれを用いた液晶表示パネルの製造方法
CN100421891C (zh) 切割基板的装置及其方法
US7528341B2 (en) Scribing apparatus, substrate cutting apparatus equipped with the scribing apparatus, and substrate cutting method using the substrate cutting apparatus
CN101733258B (zh) 清洗装置
JP3521721B2 (ja) 電子部品の実装方法および装置
JP2015089546A (ja) ガラス板の洗浄装置
KR100972512B1 (ko) 액정표시패널의 절단방법 및 이를 이용한 액정표시패널의제조방법
TWI246715B (en) Method and apparatus for coating with resist
CN100470322C (zh) 液晶显示板的切割方法及使用该方法制造液晶显示板的方法
KR100414540B1 (ko) 초음파처리장치 및 이를 사용한 전자부품의 제조방법
KR101026279B1 (ko) 도포방법 및 도포장치
JP2002318545A (ja) 表示パネルの製造方法及び製造装置
CN100478765C (zh) 液晶显示器的制造方法
JP4674904B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
KR102089247B1 (ko) 세정 장치 및 이를 이용한 세정을 포함하는 디스플레이 소자의 제조 방법
KR101252481B1 (ko) 세정장치를 구비한 인-라인 현상장비 및 이를 이용한 액정표시장치의 제조방법
KR101966768B1 (ko) 기판 세정장치
JP2001170584A (ja) 超音波処理装置
JP2001007017A (ja) レジスト剥離装置
JP2001170582A (ja) 超音波処理装置およびこれを用いた電子部品の製造方法
JPH0534652A (ja) 液晶表示素子製造方法
KR20080049276A (ko) 버블젯 세정 유닛
JP2003066397A (ja) 表示パネルの製造方法
JPS62190730A (ja) 半導体装置の洗浄装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20031226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040106

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040304

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040713

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040825

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20040921

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20041022

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20070228