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JP2002043752A - Wiring board, multilayer wiring board, and their manufacturing method - Google Patents

Wiring board, multilayer wiring board, and their manufacturing method

Info

Publication number
JP2002043752A
JP2002043752A JP2000227478A JP2000227478A JP2002043752A JP 2002043752 A JP2002043752 A JP 2002043752A JP 2000227478 A JP2000227478 A JP 2000227478A JP 2000227478 A JP2000227478 A JP 2000227478A JP 2002043752 A JP2002043752 A JP 2002043752A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
wiring
wiring board
hole
plating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000227478A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenzo Fujii
健三 藤井
Taro Hirai
太郎 平井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd, Kansai Nippon Electric Co Ltd filed Critical Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2000227478A priority Critical patent/JP2002043752A/en
Publication of JP2002043752A publication Critical patent/JP2002043752A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inexpensive, thin wiring board, a multilayer wiring board, and their manufacturing method without using a coppered board for a wiring layer in which the copper film, etc., bonded by an adhesive is not used, but with using through holes filled with conductive layers, in the wiring board in which the double-sided faces of an insulation layer have circuit layers and an inner wall of each through hole of an insulation layer has conductive layers. SOLUTION: The wiring board, multilayer wiring board, and their manufacturing method are in the process that tapered through hole 2 is formed in insulation layer 1, and after double-sided faces 1a, 1b and inner wall 2a of through hole 2 on insulation layer 1 are converted rough and palladium catalyst is added there, wiring layers 3, 4, and conductive layer 5 are made simultaneously by forming an electroless plating layer or laminating an electro plating layer on an electroless plating layer to fill in through hole 2 with conductive layer 5, and double-sided faces of conductive layer 5 are converted flat as well.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器等に用い
られる配線基板,多層配線基板およびそれらの製造方法
に関し、より詳細には、単層片面配線基板または両面配
線基板、ビルドアップ配線基板等のフィルムを多層に積
層して形成した多層配線基板と、それらの製造方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring board, a multi-layer wiring board, and a method for manufacturing the same, which are used for electronic equipment and the like. The present invention relates to a multilayer wiring board formed by laminating the above films in multiple layers, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】各種電子機器の組み立てに用いられる配
線基板として、従来はガラスエポキシ等の硬質基材に、
銅箔等の導体層を接着剤を介して接着した後、導体層を
所望の回路配線パターン形状に加工したものが使用され
てきたが、最近では樹脂フィルムを用いた配線基板が賞
用されている。そのようなフレキシブル配線基板の典型
的な二例について、以下説明する。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a wiring board used for assembling various electronic devices, a hard base material such as glass epoxy,
After bonding a conductor layer such as a copper foil with an adhesive, the conductor layer is processed into a desired circuit wiring pattern shape, but recently, a wiring board using a resin film has been awarded. I have. Two typical examples of such a flexible wiring board will be described below.

【0003】図10は第一の従来例の配線基板Dの縦断
面図である。このような配線基板は、例えば特開平10
−224014号公報に示されている。図10におい
て、51はポリイミド樹脂等からなる絶縁層で、その表
裏両面に接着剤52,53により接着された銅箔等を所
望パターンに形成してなる配線層54,55を有する。
56は前記絶縁層51をその表裏両面の配線層54,5
5とともに貫通する貫通孔である。57は前記貫通孔5
6の内壁面から前記絶縁層51の表裏両面に形成された
配線層54,55上にかけて形成されて、前記表裏両面
の配線層54,55を電気的に接続する導電層である。
58は前記導電層57の貫通孔59に充填された導電物
質または非導電物質である。60は表面側の配線層54
および導電層57を一部を残して被覆するレジスト膜で
ある。61、62は、配線層54,55の上に形成され
た金属層である。
FIG. 10 is a longitudinal sectional view of a first conventional wiring board D. Such a wiring board is disclosed in, for example,
No. 2,240,014. In FIG. 10, reference numeral 51 denotes an insulating layer made of a polyimide resin or the like, and has wiring layers 54 and 55 formed by forming a copper foil or the like adhered by adhesives 52 and 53 in a desired pattern on both surfaces.
Reference numeral 56 designates the insulating layer 51 as the wiring layers 54, 5 on the front and back surfaces thereof.
5 is a through hole penetrating therewith. 57 is the through hole 5
6 is a conductive layer formed from the inner wall surface to the wiring layers 54 and 55 formed on the front and back surfaces of the insulating layer 51 to electrically connect the wiring layers 54 and 55 on the front and back surfaces.
Reference numeral 58 denotes a conductive material or a non-conductive material filled in the through hole 59 of the conductive layer 57. 60 is a wiring layer 54 on the front side
And a resist film that covers the conductive layer 57 except for a part thereof. 61 and 62 are metal layers formed on the wiring layers 54 and 55.

【0004】図11は第二の従来例の配線基板Eの縦断
面図である。このような配線基板は、例えば特開平9−
64231号公報に記載されている。図11において、
71はポリイミド樹脂等からなる絶縁層で、その表裏両
面に接着剤72,73により接着された銅箔等を所望パ
ターンに形成してなる配線層74,75を有する。76
は前記絶縁層71をその一表面の配線層74とともに貫
通し、他方の面の配線層75に達するバイアホールまた
はヴィアホールと称される貫通孔である。77は前記表
面側の配線層74から前記貫通孔76の内壁面を経て貫
通孔76に露出した裏面の配線層75の内面(図示上
面)にかけて形成されて、前記表裏両面の配線層74,
75を電気的に接続する導電層である。78は前記導電
層77の凹部79に充填された導電物質または非導電物
質である。80は表面側の配線層74および導電層77
を一部を残して被覆するレジスト膜である。81,82
は、配線層74,75の上に形成された金属層である。
FIG. 11 is a longitudinal sectional view of a second conventional wiring board E. Such a wiring board is disclosed in, for example,
No. 64231. In FIG.
Reference numeral 71 denotes an insulating layer made of a polyimide resin or the like, and has wiring layers 74 and 75 on the front and back surfaces of which are formed copper foil and the like bonded by adhesives 72 and 73 in a desired pattern. 76
Are through holes called via holes or via holes that penetrate the insulating layer 71 together with the wiring layer 74 on one surface thereof and reach the wiring layer 75 on the other surface. 77 is formed from the wiring layer 74 on the front surface side to the inner surface (the upper surface in the drawing) of the wiring layer 75 on the back surface exposed to the through hole 76 through the inner wall surface of the through hole 76.
75 is a conductive layer that electrically connects the first and second electrodes 75 to each other. Reference numeral 78 denotes a conductive material or a non-conductive material that fills the recess 79 of the conductive layer 77. 80 denotes a wiring layer 74 and a conductive layer 77 on the front side.
Is a resist film that is coated while leaving a part of the resist film. 81, 82
Is a metal layer formed on the wiring layers 74 and 75.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の配線基板D,Eは、いずれも絶縁層51,71に
接着剤52,53または72,73で接着され、所望パ
ターンに形成された配線層54,55または74,75
を有するものであり、絶縁層51、71として、予め銅
箔等を接着した銅張り基板を使用しなければならないの
で、配線基板が高価になるのみならず、配線層54,5
5または74の上に導電層57または77を重ねて形成
するので、配線層と導電層に段差が生じて薄型化が困難
であるという問題点があった。またファインピッチ化に
伴って貫通孔56,76が小さくなる傾向にあるが、従
来構造では小さな貫通孔56,76に導電物質または非
導電物質58,78を充填することが著しく困難になっ
てくる。さらに、これらの従来構造では、貫通孔56,
76内に充填された導電物質または非導電物質58,7
8の表面が凹部となっており、その上に半導体チップを
マウントしたり、ワイヤボンデングすることができなか
った。そのため、半導体チップをマウントしたりワイヤ
ボンデングするランド部を、貫通孔56,76(導電物
質または非導電物質58,78)を避けた位置に形成し
なければならず、配線基板ないし多層配線基板の高密度
化(高集積度化)あるいは小型化が困難であった。
As described above,
Conventional wiring boards D and E are both bonded to insulating layers 51 and 71 with adhesives 52 and 53 or 72 and 73, and wiring layers 54 and 55 or 74 and 75 formed in a desired pattern.
Since a copper-clad board to which a copper foil or the like has been previously bonded must be used as the insulating layers 51 and 71, not only is the wiring board expensive, but also the wiring layers 54 and 5 are used.
Since the conductive layer 57 or 77 is formed on the conductive layer 5 or 74, there is a problem that a step is generated between the wiring layer and the conductive layer, and it is difficult to reduce the thickness. In addition, although the through holes 56 and 76 tend to be reduced with the fine pitch, it is extremely difficult to fill the small through holes 56 and 76 with the conductive material or the nonconductive material 58 and 78 in the conventional structure. . Further, in these conventional structures, the through holes 56,
Conductive or non-conductive material 58, 7 filled in 76
The surface of No. 8 was a concave portion, on which a semiconductor chip could not be mounted or wire-bonded. Therefore, land portions for mounting the semiconductor chip and wire bonding must be formed at positions avoiding the through holes 56 and 76 (conductive or nonconductive materials 58 and 78). It has been difficult to achieve high density (high integration) or miniaturization.

【0006】そこで、本発明は、銅箔等を接着剤で接着
することなく絶縁層の表裏両面および貫通孔内壁面に、
同一材料からなる配線層と導電層とを一体に、しかも貫
通孔内部の導電層が貫通孔を充填し、さらにその導電層
の表面が平坦面である配線基板を提供することを目的と
する。本発明はまた、前記の構成を有する配線基板を複
数個積層してなる多層配線基板を提供することを目的と
する。本発明はさらに、上記の配線基板および多層配線
基板の製造方法を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention provides a method of forming a film on both the front and back surfaces of an insulating layer and the inner wall surface of a through hole without bonding a copper foil or the like with an adhesive.
It is an object of the present invention to provide a wiring board in which a wiring layer and a conductive layer made of the same material are integrated, a conductive layer inside the through hole fills the through hole, and the conductive layer has a flat surface. Another object of the present invention is to provide a multilayer wiring board formed by laminating a plurality of wiring boards having the above configuration. Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing the above-mentioned wiring board and multilayer wiring board.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の配線基板は、絶
縁層が一つ以上の貫通孔と、両面に配線層と、前記貫通
孔内に前記配線層と接続された導電層とを有する配線基
板において、前記貫通孔がテーパ状で、前記導電層が貫
通孔内を充填するとともに、貫通孔の両側で平坦面とな
っていることを特徴とする配線基板である。本発明の多
層配線基板は、上記配線基板を層間絶縁層を介して複数
層積層一体化し、かつ前記各配線基板の配線層または導
電層の相互間を、層間導電体を介して接続したことを特
徴とする多層配線基板である。本発明の配線基板の製造
方法は、前記絶縁層にテーパ状の貫通孔を形成する工程
と、前記絶縁層の両面および貫通孔の内壁面をウェット
法またはドライ法で粗面化する工程と、前記粗面化され
た絶縁層の両面および貫通穴の内壁面にめっき触媒を付
与する工程と、前記めっき触媒を付与された絶縁層の両
面および貫通孔の内壁面に配線層および導電層を同時に
一体に形成し,かつ貫通孔の内部を導電層で充填する工
程とを含むことを特徴とする配線基板の製造方法であ
る。本発明の多層配線基板の製造方法は、上記の配線基
板を、配線層または金属層の相互間を層間導電体を介し
て接続するとともに層間絶縁層を介在して積層する工程
と、この積層体を真空中で加熱加圧して一体化する工程
とを含むことを特徴とする多層配線基板の製造方法であ
る。
According to the present invention, there is provided a wiring board having an insulating layer having one or more through holes, wiring layers on both surfaces, and a conductive layer connected to the wiring layer in the through holes. The wiring board is characterized in that the through hole is tapered, the conductive layer fills the through hole, and has a flat surface on both sides of the through hole. The multilayer wiring board according to the present invention is characterized in that a plurality of the wiring boards are laminated and integrated via an interlayer insulating layer, and the wiring layers or conductive layers of each of the wiring boards are connected to each other via an interlayer conductor. This is a multilayer wiring board characterized by the following. The method of manufacturing a wiring board according to the present invention includes the steps of forming a tapered through hole in the insulating layer, and roughening both surfaces of the insulating layer and inner wall surfaces of the through hole by a wet method or a dry method, A step of applying a plating catalyst to both surfaces of the roughened insulating layer and the inner wall surface of the through hole, and simultaneously forming a wiring layer and a conductive layer on both surfaces of the insulating layer provided with the plating catalyst and the inner wall surface of the through hole. And forming a through hole and filling the inside of the through hole with a conductive layer. The method for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention includes the steps of: connecting the wiring board to each other between wiring layers or metal layers via an interlayer conductor and laminating the wiring board via an interlayer insulating layer; And a process of heating and pressurizing in a vacuum to integrate them.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1記載の発明は、
絶縁層が一つ以上の貫通孔と、両面に配線層と、前記貫
通孔内に前記配線層と接続された導電層とを有する配線
基板において、前記貫通孔がテーパ状で、前記配線層お
よび導電層が同一材料で一体に形成され、前記導電層が
貫通孔内に充填されるとともに、貫通孔の両側で平坦面
となっていることを特徴とする配線基板である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
In a wiring board having an insulating layer having one or more through holes, a wiring layer on both surfaces, and a conductive layer connected to the wiring layer in the through hole, the through hole is tapered, and the wiring layer and A wiring substrate, wherein a conductive layer is integrally formed of the same material, the conductive layer is filled in the through hole, and has a flat surface on both sides of the through hole.

【0009】本発明の請求項2記載の発明は、絶縁層が
一つ以上の貫通孔と、片面に配線層と、前記貫通孔内に
前記配線層と接続された導電層とを有する配線基板にお
いて、前記貫通孔がテーパ状でかつ前記配線層に接する
側が小径部であり、前記導電層が貫通孔内に充填される
とともに、貫通孔の両側で平坦面となっていることを特
徴とする配線基板である。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a wiring board wherein the insulating layer has at least one through hole, a wiring layer on one side, and a conductive layer connected to the wiring layer in the through hole. Wherein the through hole is tapered and the side in contact with the wiring layer is a small-diameter portion, and the conductive layer is filled in the through hole and has flat surfaces on both sides of the through hole. It is a wiring board.

【0010】本発明の請求項3記載の発明は、前記テー
パ状の貫通孔の中心軸に対する傾斜角度が5〜65°、
小径側の直径Φが10〜40μm、前記配線層および導
電層の厚さtが5〜30μmであり、かつΦ≦2tの関
係に設定したことを特徴とする請求項1または2に記載
の配線基板である。
According to a third aspect of the present invention, the tapered through hole has an inclination angle of 5 to 65 ° with respect to a central axis,
The wiring according to claim 1, wherein the diameter Φ on the smaller diameter side is 10 to 40 μm, the thickness t of the wiring layer and the conductive layer is 5 to 30 μm, and Φ ≦ 2t. It is a substrate.

【0011】本発明の請求項4記載の発明は、前記配線
層および導電層が、銅または銅合金からなり、前記絶縁
層に接着剤を介することなく形成されており、かつ配線
層と導電層とが一体に形成されていることを特徴とする
請求項1ないし3のいずれかに記載の配線基板である。
According to a fourth aspect of the present invention, the wiring layer and the conductive layer are made of copper or a copper alloy, are formed on the insulating layer without an adhesive, and the wiring layer and the conductive layer 4. The wiring board according to claim 1, wherein the wiring board is integrally formed.

【0012】本発明の請求項5記載の発明は、前記配線
層および導電層が、無電解めっき層により、または無電
解めっき層の上に電解めっき層を積層して形成されてい
ることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載
の配線基板である。
The invention according to claim 5 of the present invention is characterized in that the wiring layer and the conductive layer are formed by an electroless plating layer or by laminating an electrolytic plating layer on the electroless plating layer. The wiring board according to any one of claims 1 to 4, wherein

【0013】本発明の請求項6記載の発明は、前記絶縁
層の表面と貫通孔の内壁面とが、0.1〜10μmの粗
面に形成されていることを特徴とする請求項1ないし5
のいずれかに記載の配線基板である。
According to a sixth aspect of the present invention, the surface of the insulating layer and the inner wall surface of the through hole are formed to have a rough surface of 0.1 to 10 μm. 5
A wiring board according to any one of the above.

【0014】本発明の請求項7記載の発明は、前記配線
層の上の一部または全部に、電気接続用の金属層を有す
ることを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載
の配線基板である。
The invention according to claim 7 of the present invention is characterized in that a metal layer for electrical connection is provided on a part or all of the wiring layer. It is a wiring board.

【0015】本発明の請求項8記載の発明は、前記金属
層が、金層、パラジウム層、錫層およびそれらの合金層
のいずれか、あるいはニッケル層またはニッケル合金層
の上に金層またはパラジウム層またはそれらの合金層を
積層して形成されていることを特徴とする請求項1ない
し7のいずれかに記載の配線基板である。
The invention according to claim 8 of the present invention is characterized in that the metal layer is any one of a gold layer, a palladium layer, a tin layer and an alloy layer thereof, or a gold layer or a palladium layer on a nickel layer or a nickel alloy layer. 8. The wiring board according to claim 1, wherein the wiring board is formed by laminating layers or alloy layers thereof.

【0016】本発明の請求項9記載の発明は、前記請求
項1ないし8に記載の配線基板を層間絶縁層を介して複
数層積層一体化し、かつ前記各配線基板の配線層または
導電層の相互間を、層間導電体を介して接続したことを
特徴とする多層配線基板である。
According to a ninth aspect of the present invention, a plurality of wiring boards according to the first to eighth aspects are laminated and integrated via an interlayer insulating layer, and the wiring board or the conductive layer of each of the wiring boards is integrated. A multilayer wiring board characterized by being connected to each other via an interlayer conductor.

【0017】本発明の請求項10記載の発明は、前記層
間絶縁層が、ガラス転移温度Tgが150℃以上の接着
性樹脂または熱可塑性樹脂であることを特徴とする請求
項9に記載の多層配線基板である。
The invention according to claim 10 of the present invention is characterized in that the interlayer insulating layer is an adhesive resin or a thermoplastic resin having a glass transition temperature Tg of 150 ° C or higher. It is a wiring board.

【0018】本発明の請求項11記載の発明は、前記層
間導電体が、錫,鉛,銀,銅,金,ビスマス、亜鉛、ア
ルミニウムからなる単体金属またはこれら二以上を含む
合金またはこれらを主成分とし他の金属をも含有する合
金またはそれらを含む導電ペーストからなることを特徴
とする請求項9または10に記載の多層配線基板であ
る。
According to an eleventh aspect of the present invention, the interlayer conductor is preferably composed of a single metal made of tin, lead, silver, copper, gold, bismuth, zinc, or aluminum, or an alloy containing two or more of these. 11. The multilayer wiring board according to claim 9, wherein the multilayer wiring board is made of an alloy containing another metal as a component or a conductive paste containing the alloy.

【0019】本発明の請求項12記載の発明は、前記絶
縁層にテーパ状の貫通孔を形成する工程と、前記絶縁層
の両面および貫通孔の内壁面をウェット法またはドライ
法で粗面化する工程と、前記粗面化された絶縁層の両面
および貫通穴の内壁面にめっき触媒を付与する工程と、
前記めっき触媒を付与された絶縁層の両面および貫通孔
の内壁面に配線層および導電層を同時に一体に形成し、
かつ貫通孔の内部を導電層で充填する工程とを含むこと
を特徴とする配線基板の製造方法である。
According to a twelfth aspect of the present invention, a step of forming a tapered through hole in the insulating layer, and roughening both surfaces of the insulating layer and inner wall surfaces of the through hole by a wet method or a dry method. And applying a plating catalyst to both surfaces of the roughened insulating layer and the inner wall surface of the through hole,
A wiring layer and a conductive layer are simultaneously and integrally formed on both surfaces of the insulating layer provided with the plating catalyst and the inner wall surfaces of the through holes,
And a step of filling the inside of the through hole with a conductive layer.

【0020】本発明の請求項13記載の発明は、前記配
線層および導電層を、無電解めっき法により、または無
電解めっき法に続いて電解めっき法により積層して形成
することを特徴とする請求項12に記載の配線基板の製
造方法である。
According to a thirteenth aspect of the present invention, the wiring layer and the conductive layer are formed by laminating by electroless plating or by electroplating following electroless plating. A method of manufacturing a wiring board according to claim 12.

【0021】本発明の請求項14記載の発明は、前記配
線層および導電層は、めっき触媒を付与された絶縁層両
面および貫通孔内壁面に無電解めっき法により薄膜めっ
き層を形成する工程と、前記薄膜めっき層の配線層およ
び導電層となる部分を除いてレジスト膜を形成する工程
と、前記レジスト膜で被覆されていない薄膜めっき層の
上に無電解めっき法または電解めっき法により、または
無電解めっき法に続いて電解めっき法により配線層およ
び導電層を形成する工程と、前記レジスト膜を除去する
工程と、露出した薄膜めっき層をエッチングにより除去
する工程により形成されることを特徴とする請求項12
または13に記載の配線基板の製造方法である。
According to a fourteenth aspect of the present invention, the wiring layer and the conductive layer are formed by forming a thin film plating layer on both surfaces of an insulating layer provided with a plating catalyst and inner wall surfaces of through holes by electroless plating. Forming a resist film except for the portion of the thin film plating layer that will be a wiring layer and a conductive layer, and by electroless plating or electrolytic plating on the thin film plating layer not covered with the resist film, or Forming a wiring layer and a conductive layer by an electrolytic plating method following an electroless plating method, a step of removing the resist film, and a step of removing an exposed thin film plating layer by etching. Claim 12
Or a method for manufacturing a wiring board according to item 13.

【0022】本発明の請求項15記載の発明は、前記配
線層および導電層は、めっき触媒を付与された絶縁層両
面および貫通孔内壁面に、配線層および導電層となる部
分を除いてレジスト膜を形成する工程と、前記レジスト
膜で被覆されていない絶縁層に無電解めっき法または電
解めっき法により、または無電解めっき法に続いて電解
めっき法により配線層および導電層を形成する工程と、
前記レジスト膜を除去する工程より形成されることを特
徴とする請求項12または13に記載の配線基板の製造
方法である。
According to a fifteenth aspect of the present invention, the wiring layer and the conductive layer are formed on both surfaces of the insulating layer to which the plating catalyst is applied and on the inner wall surface of the through-hole except for the portions to be the wiring layer and the conductive layer. A step of forming a film, and a step of forming a wiring layer and a conductive layer by electroless plating following electroless plating or electroless plating on an insulating layer not covered with the resist film, ,
14. The method of manufacturing a wiring board according to claim 12, wherein the wiring board is formed by removing the resist film.

【0023】本発明の請求項16記載の発明は、前記配
線層および導電層は、めっき触媒を付与された絶縁層両
面および貫通孔内壁面に無電解めっき法により薄膜めっ
き層を形成する工程と、前記薄膜めっき層の上に無電解
めっき法により、または電解めっき法により、または無
電解めっき法に続いて電解めっき法により厚膜めっき層
を形成する工程と、前記厚膜めっき層の配線層および導
電層となる部分にレジスト膜を形成する工程と、前記レ
ジスト膜で被覆されていない厚膜めっき層および薄膜め
っき層をエッチングで除去する工程と、前記レジスト膜
を除去する工程と、より形成されることを特徴とする請
求項12または13に記載の配線基板の製造方法であ
る。
[0023] The invention according to claim 16 of the present invention is characterized in that the wiring layer and the conductive layer include a step of forming a thin-film plating layer on both surfaces of an insulating layer provided with a plating catalyst and inner wall surfaces of through holes by electroless plating. Forming a thick film plating layer on the thin film plating layer by electroless plating, or by electroplating, or by electroplating following the electroless plating, and a wiring layer of the thick film plating layer. Forming a resist film in a portion to be a conductive layer, removing a thick plating layer and a thin plating layer that are not covered with the resist film by etching, and removing the resist film. The method of manufacturing a wiring board according to claim 12, wherein the method is performed.

【0024】本発明の請求項17記載の発明は、少なく
とも前記配線層および導電層となる部分にドライプロセ
スで導電薄膜を形成する工程と、導電薄膜の上に無電解
めっき法によりまたは電解めっき法によりまたは無電解
めっき法に続いて電解めっき法により配線層および導電
層を形成する工程とを含むことを特徴とする請求項14
ないし16のいずれかに記載の配線基板の製造方法であ
る。
According to a seventeenth aspect of the present invention, there is provided a method of forming a conductive thin film by a dry process on at least a portion to be the wiring layer and the conductive layer, and an electroless plating method or an electroplating method on the conductive thin film. Forming a wiring layer and a conductive layer by electroless plating or by electroplating subsequent to electroless plating.
20. A method of manufacturing a wiring board according to any one of the above items.

【0025】本発明の請求項18記載の発明は、前記貫
通孔を、レーザにより形成することを特徴とする請求項
12ないし16のいずれかに記載の配線基板の製造方法
である。
The invention according to claim 18 of the present invention is the method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 12 to 16, wherein the through hole is formed by a laser.

【0026】本発明の請求項19記載の発明は、前記貫
通孔を、強アルカリ性の液でエッチングして形成するこ
とを特徴とする請求項12ないし16のいずれかに記載
の配線基板の製造方法である。
The invention according to claim 19 of the present invention is the method of manufacturing a wiring board according to any one of claims 12 to 16, wherein the through hole is formed by etching with a strong alkaline solution. It is.

【0027】本発明の請求項20記載の発明は、前記請
求項1ないし8に記載された配線基板を、配線層または
金属層の相互間を層間導電体を介して接続するとともに
層間絶縁層を介在して積層する工程と、この積層体を真
空中で加熱加圧して一体化する工程とを含むことを特徴
とする請求項9ないし11に記載の多層配線基板の製造
方法である。
According to a twentieth aspect of the present invention, there is provided the wiring board according to the first aspect, wherein the wiring layer or the metal layer is connected to each other via an interlayer conductor and the interlayer insulating layer is formed. 12. The method for manufacturing a multilayer wiring board according to claim 9, further comprising a step of interposing and laminating, and a step of heating and pressurizing the laminate in vacuum to integrate it.

【0028】本発明の請求項21記載の発明は、前記層
間絶縁層を、液状の接着性樹脂または熱可塑性樹脂を塗
布,印刷,転写のいずれかにより形成することを特徴と
する請求項20に記載の多層配線基板の製造方法であ
る。
According to a twenty-first aspect of the present invention, the interlayer insulating layer is formed by applying, printing, or transferring a liquid adhesive resin or a thermoplastic resin. It is a manufacturing method of the multilayer wiring board described.

【0029】本発明の請求項22記載の発明は、前記層
間絶縁層を、フィルム状の接着性樹脂または熱可塑性樹
脂を熱ラミネート,真空ラミネート、真空熱ラミネート
のいずれかにより形成することを特徴とする請求項20
に記載の多層配線基板の製造方法である。
The invention according to claim 22 of the present invention is characterized in that the interlayer insulating layer is formed by heat lamination, vacuum lamination or vacuum heat lamination of a film-like adhesive resin or thermoplastic resin. Claim 20
3. The method for manufacturing a multilayer wiring board according to item 1.

【0030】[0030]

【配線基板の第一実施態様】本発明の第一実施態様の配
線基板について、以下、図面を参照して説明する。図1
は本発明における一実施例の配線基板Aの要部縦断面図
である。図1において、1は絶縁層で、従来と同様のも
のが使用できるが、好ましくは、例えば全芳香族ポリエ
ステル液晶ポリマーフィルムが用いられる。全芳香族ポ
リエステル液晶ポリマーフィルムは、例えば、K社製の
CT材で、熱膨張係数が15〜20×10-6/℃、水蒸
気透過率が0.13g・20μ/m・day(40
℃,90%RH)、吸水率が0.04%(23℃,24
H )、ガラス転移温度が315℃の諸特性を有する。
なお、このように絶縁層1として、上記の全芳香族ポリ
エステル液晶ポリマーフィルムを用いれば、後述するよ
うな各種の優れた特長が得られるが、それ以外にポリイ
ミド、エポキシ、ポリエステル等の可撓性を有する高耐
熱性樹脂フィルムを用いることができる。
[First Embodiment of Wiring Board] A wiring board according to a first embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Figure 1
1 is a longitudinal sectional view of a main part of a wiring board A according to one embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an insulating layer, which can be the same as the conventional one, but preferably, for example, a wholly aromatic polyester liquid crystal polymer film is used. The wholly aromatic polyester liquid crystal polymer film is, for example, a CT material manufactured by K Company and has a coefficient of thermal expansion of 15 to 20 × 10 −6 / ° C. and a water vapor transmission rate of 0.13 g · 20 μ / m 2 · day (40
° C, 90% RH), water absorption 0.04% (23 ° C, 24%
H), having various properties of a glass transition temperature of 315 ° C.
In addition, when the above-mentioned wholly aromatic polyester liquid crystal polymer film is used as the insulating layer 1, various excellent features as described later can be obtained. And a high heat-resistant resin film having the following.

【0031】2は前記絶縁層1を貫通する内面がテーパ
状の貫通孔である。この貫通孔2のテーパ状内面の中心
軸に対する傾斜角度θは、5〜65°に設定されてい
る。前記絶縁層1の表裏両面1a,1bおよび前記貫通
孔2の内壁面2aは、図1に示すように、その表面粗度
が0.1〜10μm,好ましくは0.5〜5μm程度の
粗面に形成されている。そして、絶縁層1の粗面化した
表裏両面1a,1bに、接着剤を介することなく、例え
ば銅等よりなる配線層3,4が形成されている。また、
前記粗面化した貫通孔2の内壁面2aに、接着剤を介す
ることなく、例えば銅等よりなる導電層5が形成されて
いる。さらに配線層3,4と導電層5とは同一材料で一
体に形成され、かつ導電層5は貫通孔2内に充填され、
しかも両面が平坦面に形成されている。
Reference numeral 2 denotes a through-hole having a tapered inner surface penetrating the insulating layer 1. The inclination angle θ of the tapered inner surface of the through hole 2 with respect to the central axis is set to 5 to 65 °. As shown in FIG. 1, the front and back surfaces 1a and 1b of the insulating layer 1 and the inner wall surface 2a of the through hole 2 have a surface roughness of 0.1 to 10 μm, preferably about 0.5 to 5 μm. Is formed. The wiring layers 3 and 4 made of, for example, copper or the like are formed on the roughened front and back surfaces 1a and 1b of the insulating layer 1 without using an adhesive. Also,
A conductive layer 5 made of, for example, copper or the like is formed on the inner wall surface 2a of the roughened through hole 2 without using an adhesive. Further, the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 are integrally formed of the same material, and the conductive layer 5 is filled in the through hole 2,
Moreover, both surfaces are formed as flat surfaces.

【0032】ここで、前記貫通孔2の小径側の直径Φ
と、配線層3,4および導電層5の厚さtとは、Φ≦2
tの関係に設定されている。例えば貫通孔2の小径側の
直径Φは、10〜40μmに設定され、前記配線層3,
4および導電層5の厚さtは、5〜30μmに設定され
ている。また、絶縁層1の表面側(図1の上側)の配線
層3および/または導電層5は一部を残してレジスト膜
6によって被覆されており、そのレジスト膜6によって
被覆されていない部分に、例えば金等よりなる金属層7
が形成されており、裏面側(図1の下側)の配線層4の
一部にも例えば金等よりなる金属層8が形成されてい
る。なお、金属層7,8は金で形成する代わりに、パラ
ジウムまたは錫で形成してもよいし、金合金,パラジウ
ム合金または錫合金で形成してもよい。あるいはニッケ
ル層またはニッケル合金層の上に金層またはパラジウム
層または錫層、またはそれらの合金層を積層形成しても
よい。
Here, the diameter Φ of the small diameter side of the through hole 2
And the thickness t of the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5, Φ ≦ 2
The relationship is set to t. For example, the diameter Φ on the small diameter side of the through hole 2 is set to 10 to 40 μm,
4 and the thickness t of the conductive layer 5 are set to 5 to 30 μm. The wiring layer 3 and / or the conductive layer 5 on the surface side (upper side in FIG. 1) of the insulating layer 1 are covered with a resist film 6 except for a part, and the portions not covered with the resist film 6 Metal layer 7 made of, for example, gold
A metal layer 8 made of, for example, gold is also formed on a part of the wiring layer 4 on the rear surface side (the lower side in FIG. 1). The metal layers 7 and 8 may be formed of palladium or tin instead of gold, or may be formed of a gold alloy, a palladium alloy, or a tin alloy. Alternatively, a gold layer, a palladium layer, a tin layer, or an alloy layer thereof may be stacked over a nickel layer or a nickel alloy layer.

【0033】すなわち、本発明における配線基板Aの特
徴の第一は、絶縁層1の表裏両面および貫通孔の内壁面
に、接着剤を介在することなく配線層3,4および導電
層5を形成していることであり、第二に貫通孔2がテー
パ状であってかつその小径側の直径Φと、配線層3,4
および導電層5の厚さtとの寸法を、上記のような特定
の関係に設定することにより、導電層5および配線層4
そのものでもって貫通孔2を閉止していることである。
第三に貫通孔2内に導電層5が充填されているととも
に、導電層5の表裏両面が平坦面になっていることであ
る。また、それに応じて、導電層5の上に形成された金
属層7、8も平坦面になっている。
That is, the first feature of the wiring board A of the present invention is that the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 are formed on both the front and back surfaces of the insulating layer 1 and on the inner wall surfaces of the through holes without interposing an adhesive. Second, the through-hole 2 is tapered and has a diameter Φ on the smaller diameter side and the wiring layers 3 and 4.
By setting the dimensions of the conductive layer 5 and the thickness t in the above-described specific relationship, the conductive layer 5 and the wiring layer 4 are formed.
That is, the through hole 2 is closed by itself.
Third, the conductive layer 5 is filled in the through hole 2 and both the front and back surfaces of the conductive layer 5 are flat. Correspondingly, the metal layers 7 and 8 formed on the conductive layer 5 are also flat surfaces.

【0034】[0034]

【作用効果】上記の構成によって、絶縁層1の表裏両面
に予め接着剤で銅箔等を接着した銅張り絶縁層を使用し
なくてよくなるのみならず、貫通孔2の孔埋めのために
例えば導電ペースト等を充填する必要がなく、製造容易
で、原価低減ができるという特長がある。また、導電層
5の表裏両面が平坦面になっていることにより、導電層
5の両面に直接、あるいは導電層5の上に形成された金
属層7、8の上に半導体チップのマウントやワイヤボン
ディングが可能になり、高蜜度化ができ、小型化ができ
るという特長がある。
According to the above configuration, not only is it unnecessary to use a copper-clad insulating layer in which a copper foil or the like is bonded to the front and back surfaces of the insulating layer 1 with an adhesive in advance, but also to fill the through hole 2 with, for example, There is no need to fill with conductive paste or the like, which is advantageous in that it is easy to manufacture and cost can be reduced. In addition, since the front and back surfaces of the conductive layer 5 are flat, the mounting of the semiconductor chip and the wires directly on the both surfaces of the conductive layer 5 or on the metal layers 7 and 8 formed on the conductive layer 5 are performed. It has the features that bonding is possible, high honey can be achieved, and miniaturization is possible.

【0035】また、図1に示す配線基板Aは、絶縁層1
の表裏両面1a,1bおよび貫通孔2の内壁面2aが粗
面化されて、その上に配線層3,4および導電層5が面
一に形成されているので、図10や図11に示すよう
な、配線層54,55と導電層57との間および配線層
74,75と導電層77との間に段差はなく、両者の段
差に起因する各種の不都合はなくなる。また、絶縁層1
の表裏両面1a,1bおよび貫通孔2の内壁面2aが粗
面化されて、その上に配線層3,4および導電層5が形
成されているので、絶縁層1と配線層3,4および導電
層5との密着強度は著しく大きく、したがって、絶縁層
1と配線層3,4の間および絶縁層1と導電層5間で剥
離が生じないという特長がある。
The wiring board A shown in FIG.
The front and back surfaces 1a, 1b and the inner wall surface 2a of the through hole 2 are roughened, and the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 are formed on the same surface. As described above, there is no step between the wiring layers 54 and 55 and the conductive layer 57 and between the wiring layers 74 and 75 and the conductive layer 77, and various inconveniences caused by the steps between them are eliminated. Also, the insulating layer 1
The front and back surfaces 1a, 1b and the inner wall surface 2a of the through hole 2 are roughened, and the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 are formed thereon. The adhesion strength with the conductive layer 5 is extremely large, and therefore, there is a feature that peeling does not occur between the insulating layer 1 and the wiring layers 3 and 4 and between the insulating layer 1 and the conductive layer 5.

【0036】[0036]

【製造方法の第一実施態様】次に、本発明における前記
配線基板Aの製造方法の第一実施態様について説明す
る。図2は本発明における配線基板Aの第一実施態様に
おける製造方法の工程ブロック図を示し、図3(a)な
いし(e)および図4(a)ないし(d)は本発明にお
ける配線基板Aの製造工程の各工程における絶縁層等の
縦断面図を示す。以下、上記図2ないし図4を用いて本
発明の配線基板の製造方法について説明する。 (a)まず、例えば液晶ポリマーフィルム等からなる絶
縁層1を用意する[図2(a)、図3(a)]。 (b)次に、絶縁層1の所定位置にテーパ状の貫通孔2
を形成する[(図2(b),図3(b))。この貫通孔
2の形成は、レーザ加工方法が精度の高い加工ができて
有利であるが、機械的加工や強アルカリ液等による化学
的加工でもよい。このテーパ状貫通孔2の小径側の直径
Φは10〜40μmに形成され、またテーパ面の中心軸
に対する傾斜角度θは5〜65°に形成される。ここ
で、貫通孔2の小径側の直径Φが10μm未満では、貫
通孔2内へのめっき液の流れが悪くなって、導電層5の
形成速度が小さくなり過ぎ、40μmを超えると貫通孔
2内に導電層5を充填することが困難になる。したがっ
て、貫通孔2の小径側の直径Φは、10〜40μmに限
定される。また、貫通孔2の中心軸に対する傾斜角度θ
が5°未満では、孔径が小さ過ぎて貫通孔2内に導電層
5の形成が困難になるとともに、貫通孔2の肩部で配線
層3と導電層5との間の接続が不安定になるし、65°
を超えると大径側の直径が大きくなり過ぎて、導電層5
の充填が困難になるばかりでなく集積密度が低くなる。
したがって、貫通孔2のテーパ面の傾斜角度θは5〜6
5°に限定される。この絶縁層1の表裏両面1a,1b
および貫通孔2の内壁面2aは平滑であるため、この表
裏両面1a,1bおよび内面2aに直接無電解銅めっき
法等で配線層3,4および導電層5を形成することはで
きない。 (c)次に、前記絶縁層1の表裏両面1a,1bおよび
貫通孔2の内壁面2aをウェットブラスト処理または液
体ホーニングと称される粗面化処理を施して、表面粗度
が0.1〜10μm程度、好ましくは0.5〜5μm程
度に粗面化する[(図2(c),図3(c))。前記粗
面化処理は、例えば粒径が5〜300μm程度で硬度が
ヌープ硬度で1300〜2500の範囲(またはモース
硬度で7〜15の範囲)の多角状の砥粒を用いて、エア
ー圧力1〜5kg/cm、砥粒と液体との比率は5〜
40vol%程度の条件で実施する。なお、上記粗面化
処理は、エアーと砥粒を用いるドライプロセス法でもよ
いし、あるいは強アルカリ液を用いるウェットエッチン
グ法で実施してもよい。 (d)次に、上記絶縁層1の粗面化した表裏両面1a,
1bおよび貫通孔2の内壁面2aの全面を、パラジウム
処理等によってめっき触媒を付与した後、直接例えば無
電解銅めっきを施して、厚さtが5〜30μmの導体層
345を形成する。前記無電解銅めっきに代えて、無電
解銅めっき層を形成した後この無電解銅めっき層の上に
電解銅めっき層を形成して、厚さtが5〜30μm程度
の導体層345を形成するようにしてもよい。このと
き、貫通孔2の小径側の直径Φと、導体層345の厚さ
tとが、Φ≦2tの関係に設定されているので、裏面の
導体層345および貫通孔2内の導体層345によっ
て、まず貫通孔2の小径側の端部が閉止され、さらにめ
っきを続けることによって貫通孔2内が導体層345で
充填されるとともに、貫通孔2内に充填された導体層3
45の両面が平坦面となる[(図2(d),図3
(d)]。 (e)次に、この表裏両面の導体層345の上に所望パ
ターンのレジスト膜9,10を形成する[図2(e),
図3(e)]。 (f)次に、前記レジスト膜9,10で被覆されていな
い導体層345をエッチングにより除去して、所望パタ
ーンの配線層3,4および導電層5を形成する[図2
(f),図4(a)]。 (g)次に、レジスト膜9,10を除去すると、所望パ
ターンの配線層3,4および導電層5が現れる[図2
(g),図4(b)]。 (h)次に、表裏両面の配線層3,4および導電層5の
上に、一部を残して所望パターンのレジスト膜11,1
2を形成する[図2(h),図4(c)]。 (i)次に、レジスト膜11,12から露出する配線層
3,4に、無電解めっき法により、または電解めっき法
により、または無電解めっき法の後に電解めっき法によ
り、金等よりなる金属層7,8を形成する[2(i),
4(d)]。この後、必要に応じて裏面の不要なレジス
ト膜12を除去する。あるいは表裏両面のレジスト膜1
1,12を一旦除去した後、新たに表面側の必要部分の
みにレジスト膜6を形成する。 以上の各工程を経て、図1に示す本発明の配線基板Aが
製作される。
[First Embodiment of Manufacturing Method] Next, a first embodiment of the method of manufacturing the wiring board A according to the present invention will be described. FIG. 2 is a process block diagram of a manufacturing method of the wiring board A according to the first embodiment of the present invention, and FIGS. 3 (a) to 3 (e) and 4 (a) to 4 (d) show the wiring board A of the present invention. FIG. 4 is a longitudinal sectional view of an insulating layer and the like in each step of the manufacturing process. Hereinafter, a method for manufacturing a wiring board according to the present invention will be described with reference to FIGS. (A) First, an insulating layer 1 made of, for example, a liquid crystal polymer film is prepared [FIGS. 2 (a) and 3 (a)]. (B) Next, a tapered through hole 2 is formed at a predetermined position of the insulating layer 1.
Is formed [(FIG. 2 (b), FIG. 3 (b)). The formation of the through holes 2 is advantageous because a laser processing method can perform processing with high precision, but mechanical processing or chemical processing using a strong alkaline liquid or the like may be used. The diameter Φ on the small diameter side of the tapered through hole 2 is formed to be 10 to 40 μm, and the inclination angle θ to the center axis of the tapered surface is formed to be 5 to 65 °. Here, if the diameter Φ on the small diameter side of the through-hole 2 is less than 10 μm, the flow of the plating solution into the through-hole 2 becomes poor, and the formation speed of the conductive layer 5 becomes too low. It becomes difficult to fill the inside with the conductive layer 5. Therefore, the diameter Φ on the small diameter side of the through hole 2 is limited to 10 to 40 μm. Also, the inclination angle θ with respect to the center axis of the through hole 2
Is less than 5 °, the hole diameter is too small to form the conductive layer 5 in the through hole 2, and the connection between the wiring layer 3 and the conductive layer 5 becomes unstable at the shoulder of the through hole 2. I see, 65 °
If the diameter exceeds, the diameter on the large diameter side becomes too large, and the conductive layer 5
Not only becomes difficult, but also the integration density decreases.
Therefore, the inclination angle θ of the tapered surface of the through hole 2 is 5-6.
Limited to 5 °. Front and back surfaces 1a, 1b of this insulating layer 1
Also, since the inner wall surface 2a of the through hole 2 is smooth, the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 cannot be formed directly on the front and back surfaces 1a, 1b and the inner surface 2a by an electroless copper plating method or the like. (C) Next, the front and back surfaces 1a and 1b of the insulating layer 1 and the inner wall surface 2a of the through-hole 2 are subjected to a wet blasting treatment or a surface roughening treatment called liquid honing so that the surface roughness is 0.1. The surface is roughened to about 10 to 10 μm, preferably about 0.5 to 5 μm (FIGS. 2C and 3C). The surface roughening treatment is performed, for example, by using polygonal abrasive grains having a particle size of about 5 to 300 μm and a hardness of 1300 to 2500 in Knoop hardness (or a range of 7 to 15 in Mohs hardness), and using an air pressure of 1 55 kg / cm 2 , ratio of abrasive to liquid is 55〜
It is carried out under the condition of about 40 vol%. The surface roughening treatment may be performed by a dry process method using air and abrasive grains, or may be performed by a wet etching method using a strong alkaline solution. (D) Next, the roughened front and back surfaces 1a,
After applying a plating catalyst to the entire surface of the inner wall 1a of the through hole 2 and the through hole 2 by, for example, electroless copper plating, a conductor layer 345 having a thickness t of 5 to 30 μm is formed. Instead of the electroless copper plating, an electroless copper plating layer is formed, and then an electrolytic copper plating layer is formed on the electroless copper plating layer to form a conductor layer 345 having a thickness t of about 5 to 30 μm. You may make it. At this time, since the diameter Φ on the smaller diameter side of the through hole 2 and the thickness t of the conductor layer 345 are set to satisfy the relationship of Φ ≦ 2t, the conductor layer 345 on the back surface and the conductor layer 345 in the through hole 2 are set. As a result, the end on the small diameter side of the through hole 2 is first closed, and further plating is continued to fill the inside of the through hole 2 with the conductor layer 345 and the conductor layer 3 filled in the through hole 2.
45 are flat surfaces [(FIG. 2D, FIG. 3
(D)]. (E) Next, resist films 9 and 10 having a desired pattern are formed on the conductor layers 345 on both front and back surfaces [FIG.
FIG. 3 (e)]. (F) Next, the conductor layer 345 not covered with the resist films 9 and 10 is removed by etching to form the wiring layers 3 and 4 and the conductive layer 5 having desired patterns [FIG.
(F), FIG. 4 (a)]. (G) Next, when the resist films 9 and 10 are removed, the wiring layers 3 and 4 and the conductive layer 5 having desired patterns appear [FIG.
(G), FIG. 4 (b)]. (H) Next, on the wiring layers 3 and 4 and the conductive layer 5 on both the front and back surfaces, the resist films 11 and 1 having a desired pattern are left partially.
2 [FIG. 2 (h) and FIG. 4 (c)]. (I) Next, the wiring layers 3 and 4 exposed from the resist films 11 and 12 are formed of a metal such as gold by electroless plating, or by electroplating, or by electroplating after electroless plating. Forming layers 7 and 8 [2 (i),
4 (d)]. Thereafter, the unnecessary resist film 12 on the back surface is removed as necessary. Or resist film 1 on both sides
After once removing 1 and 12, a resist film 6 is newly formed only on a required portion on the front side. Through the above steps, the wiring board A of the present invention shown in FIG. 1 is manufactured.

【0037】[0037]

【作用効果】以上の製造方法によれば、絶縁層1の表裏
両面1a,1bおよび貫通孔2の内壁面2aを粗面化し
めっき触媒を付与することにより、接着剤を介在するこ
となく直接無電解めっきが可能になるので、表裏両面に
接着剤を介して銅箔等を接着した銅張り基板を用いる必
要がなく、通常のポリイミドやポリマーフィルム等を用
いることができるので、絶縁層1のコストが低くて済む
特長がある。また、絶縁層1の表裏両面1a,1bおよ
び貫通孔2の内壁面2aに、配線層3,4および導電層
5を同時に形成できるので、これらを順次形成する方法
に比較して、容易かつ短時間で形成でき、製造工程およ
び製造時間を短縮できるという特長がある。さらに、上
記の製造方法によれば、表面の配線層3と導電層5は一
体に形成されているので、従来の銅箔をエッチングした
配線層54,55および74の上に導電層57,77を
積層形成するものに比較して、薄型化ができるという特
長がある。さらにまた、貫通孔56,76に導電ペース
ト等を充填する必要がないので、原価低減ができるとい
う特長がある。また、貫通孔2内に充填した導電層5の
表裏両面が平坦面であるから、その上に直接、あるいは
導電層5の上に形成した金属層7、8の上に半導体チッ
プをマウントしたり、ワイヤボンディングすることが可
能になり、高密度化ができ、配線基板の小型化ができ
る。
According to the above-mentioned manufacturing method, the front and back surfaces 1a and 1b of the insulating layer 1 and the inner wall surface 2a of the through hole 2 are roughened and a plating catalyst is applied, so that no direct adhesive is required. Since electroplating is possible, it is not necessary to use a copper-clad substrate in which copper foil or the like is adhered to both front and back surfaces with an adhesive, and a normal polyimide or polymer film can be used. Is low. Further, since the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 can be simultaneously formed on the front and back surfaces 1a, 1b of the insulating layer 1 and the inner wall surface 2a of the through hole 2, it is easier and shorter than the method of sequentially forming them. It has the advantage that it can be formed in a short time and the manufacturing process and manufacturing time can be reduced. Further, according to the above-described manufacturing method, since the wiring layer 3 and the conductive layer 5 on the surface are formed integrally, the conductive layers 57 and 77 are formed on the wiring layers 54, 55 and 74 obtained by etching the conventional copper foil. Is characterized in that the thickness can be reduced as compared with the case of forming a laminate. Furthermore, since it is not necessary to fill the through holes 56 and 76 with a conductive paste or the like, there is a feature that the cost can be reduced. In addition, since the front and back surfaces of the conductive layer 5 filled in the through hole 2 are flat surfaces, a semiconductor chip can be mounted directly on the conductive layer 5 or on the metal layers 7 and 8 formed on the conductive layer 5. Therefore, wire bonding can be performed, the density can be increased, and the size of the wiring board can be reduced.

【0038】なお、上記実施例に示したように、絶縁層
1として全芳香族ポリエステル液晶ポリマーフィルムを
用いる配線基板Aによれば、絶縁層1の吸水率が0.0
4%(23℃,24H)と、従来のポリイミド樹脂フィ
ルムの吸水率2.9%(23℃,24H)に比較して約
70分の1であり、これに伴って、配線層3,4および
導電層5の形成前における絶縁層1の表裏両面や貫通孔
2の内壁面を粗面化するためのウェットブラスト処理ま
たは液体ホーニング処理工程や、その後のエッチング工
程等のウェット処理工程における吸湿寸法変化率は4×
10-6/℃(RH)と、従来のポリイミド樹脂フィルム
の吸湿寸法変化率22×10-6/℃(RH)と比較して
約5分の1に低減でき、回路配線パターンの変形等が生
じない配線基板Aが提供できるという特長がある。しか
しながら、本発明の絶縁層1の材料としては、全芳香族
ポリエステル液晶ポリマーフィルムのみに限定されるも
のではなく、ポリイミドフィルム等の他のポリマーフィ
ルムも使用できるものである。
According to the wiring board A using a wholly aromatic polyester liquid crystal polymer film as the insulating layer 1 as described in the above embodiment, the water absorption of the insulating layer 1 is 0.0
4% (23 ° C., 24H), which is about 1/70 of the water absorption of the conventional polyimide resin film of 2.9% (23 ° C., 24H). And a moisture absorption dimension in a wet blasting process or a liquid honing process for roughening the front and back surfaces of the insulating layer 1 and the inner wall surface of the through hole 2 before the formation of the conductive layer 5 and a subsequent wet process such as an etching process. Change rate is 4 ×
10 −6 / ° C. (RH), which is about one-fifth that of the conventional polyimide resin film having a moisture absorption dimensional change rate of 22 × 10 −6 / ° C. (RH). There is a feature that a wiring board A that does not cause such a problem can be provided. However, the material of the insulating layer 1 of the present invention is not limited to the wholly aromatic polyester liquid crystal polymer film, and other polymer films such as a polyimide film can also be used.

【0039】[0039]

【製造方法の第二実施態様】上記実施例の配線基板Aの
製造方法では、絶縁層1の表裏両面1a,1bおよび貫
通孔2の内壁面2aを粗面化しパラジウム等によりめっ
き触媒を付与した後、全面に導体層345を形成して、
この導体層345をレジスト膜9,10を用いたエッチ
ングによって所望パターンの配線層3,4および導電層
5を形成する方法について説明したが、図5の工程ブロ
ック図に示す本発明の第二態様の製造方法を採用しても
よい。すなわち、図2の(a)ないし(c)までの各工
程と同様に、絶縁層1を用意し、貫通孔2を形成した
後、その表裏両面1a,1bおよび貫通孔2の内面2a
を粗面化し、さらにパラジウム等によりめっき触媒を付
与した後[図5(a)ないし(c)]、絶縁層1の表裏
両面に所望の配線層3,4および導電層5の形状に一致
する形状の開口部を有するレジスト膜13,14を形成
し[図5(d)]、このレジスト膜13,14の開口部
から露出している絶縁層1の上に、無電解めっき法によ
り、または無電解めっき法の後に続いて電解めっき法に
より配線層3,4および導電層5を形成し[図5
(e)]、レジスト膜13,14を除去し[図5
(f)]、再び所望パターンのレジスト膜15,16を
形成して[図5(g)]、金属層7,8を形成する[図
5(h)]方法を採用してもよい。
Second Embodiment of the Manufacturing Method In the method of manufacturing the wiring board A of the above embodiment, the front and back surfaces 1a and 1b of the insulating layer 1 and the inner wall surface 2a of the through hole 2 are roughened and a plating catalyst is applied with palladium or the like. After that, a conductor layer 345 is formed on the entire surface,
The method of forming the wiring layers 3 and 4 and the conductive layer 5 in a desired pattern by etching the conductive layer 345 using the resist films 9 and 10 has been described. The second embodiment of the present invention shown in the process block diagram of FIG. May be adopted. In other words, as in the respective steps (a) to (c) of FIG. 2, an insulating layer 1 is prepared, a through hole 2 is formed, and the front and back surfaces 1a and 1b and the inner surface 2a of the through hole 2 are formed.
After roughening and further applying a plating catalyst with palladium or the like [FIGS. 5 (a) to 5 (c)], the shapes of the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 on the front and back surfaces of the insulating layer 1 match the desired shapes. The resist films 13 and 14 having the openings of the shape are formed [FIG. 5D], and the insulating layers 1 exposed from the openings of the resist films 13 and 14 are formed by electroless plating or After the electroless plating method, the wiring layers 3, 4 and the conductive layer 5 are formed by the electrolytic plating method [FIG.
(E)], the resist films 13 and 14 are removed [FIG.
(F)], a method of forming resist films 15 and 16 of a desired pattern again [FIG. 5 (g)] and forming metal layers 7 and 8 [FIG. 5 (h)] may be adopted.

【0040】[0040]

【製造方法の第三実施態様】次に、本発明における配線
基板Aの第三実施態様の製造方法について説明する。図
6の工程ブロック図に示すように、図5の(a)ないし
(c)までの各工程と同様に、絶縁層1を用意し、貫通
孔2を形成した後、その表裏両面1a,1bおよび貫通
孔2の内面2aを粗面化し、さらにパラジウム等により
めっき触媒を付加した後[図6(a)ないし(c)]、
無電解銅めっき法により薄膜銅めっき層を形成し[図6
(d)]、絶縁層1の表裏両面の薄膜銅めっき層に所望
の配線層3,4および導電層5の形状に一致する形状の
開口部を有するレジスト膜17,18を形成し[図6
(e)]、このレジスト膜17,18の開口部から露出
している薄膜銅めっき層の上に、無電解めっき法によ
り、または電解めっき法により、または無電解めっき法
の後に電解めっき法により配線層3,4および導電層5
を形成し[図6(f)]、レジスト膜17,18を除去
し[図6(g)]、レジスト膜17,18に隠れていた
薄膜銅めっき層をエッチング法で除去し[図6
(h)]、再び所望パターンのレジスト膜19,20を
形成して[図6(i)]、金属層7,8を形成する[図
6(j)]方法を採用してもよい。
[Third Embodiment of Manufacturing Method] Next, a method of manufacturing the third embodiment of the wiring board A according to the present invention will be described. As shown in the process block diagram of FIG. 6, an insulating layer 1 is prepared, a through hole 2 is formed, and the front and back surfaces 1a and 1b are formed in the same manner as in each of the steps from (a) to (c) of FIG. After roughening the inner surface 2a of the through hole 2 and further adding a plating catalyst with palladium or the like [FIGS. 6 (a) to 6 (c)],
A thin copper plating layer is formed by an electroless copper plating method [FIG.
(D)], resist films 17 and 18 having openings corresponding to the shapes of desired wiring layers 3 and 4 and conductive layer 5 are formed in the thin-film copper plating layers on the front and back surfaces of insulating layer 1 [FIG.
(E)] An electroless plating method, an electrolytic plating method, or an electrolytic plating method after the electroless plating method, on the thin copper plating layer exposed from the openings of the resist films 17 and 18. Wiring layers 3 and 4 and conductive layer 5
Is formed [FIG. 6 (f)], the resist films 17 and 18 are removed [FIG. 6 (g)], and the thin copper plating layer hidden by the resist films 17 and 18 is removed by an etching method [FIG.
(H)], a method of forming resist films 19 and 20 of a desired pattern again [FIG. 6 (i)] and forming metal layers 7 and 8 [FIG. 6 (j)] may be employed.

【0041】[0041]

【多層配線基板の実施態様】上記実施例の配線基板Aは
単層で用いる場合であるが、複数個の配線基板Aを層間
絶縁層を介して積層一体化して、図7のような多層配線
基板Bとして用いることもできる。図7に示す多層配線
基板Bにおいて、A1,A2,A3はそれぞれ図1に示
すような単層の配線基板Aであり、各配線基板A1,A
2,A3相互間に層間絶縁層21,22を介在して、積
層一体化されている。ここで、上記の「図1に示すよう
な単層の配線基板」とは、厳格に同一構成のものという
ことを意味するものではなく、多層配線基板Bの要求機
能や要求特性に応じて、適宜の構成のものを用い得るこ
とはもちろんである。また、上記層間絶縁層21,22
としては、接着性樹脂または熱可塑性樹脂が用いられ
る。例えば液状の接着性樹脂または熱可塑性樹脂を、ス
ピンコート,カーテンコート,スクリーン印刷,転写等
の方法で形成して積層一体化することもできるし、ある
いはフィルム状の接着性樹脂または熱可塑性樹脂を介在
して、熱ラミネート,真空ラミネート,真空熱ラミネー
ト等の方法で、積層一体化するようにしてもよいし、熱
プレス、真空熱プレスで一括して積層一体化してもよ
い。この層間絶縁層21,22は、多層配線基板Bに半
導体チップ等をマウントするために、そのガラス化温度
Tgが150℃以上、より望ましくは200℃以上のも
のを用いる。また、図7において、23,24は層間導
電体で、この層間導電体23,24は、配線基板A1,
A2,A3相互の電気的接続を確保するために、軟質金
属,例えば錫,鉛,銀,銅,金,アルミニウム等の単体
金属、またはそれらの二種以上よりなる軟質合金、また
はそれらを主成分とし、他の金属成分をも含有する軟質
合金よりなるものである。さらに、上記層間導電体2
3,24として、上記の軟質金属または軟質合金を導電
材料として含有する導電ペーストを用いて形成してもよ
い。さらにまた、層間導電体23,24は、図7に示す
ように配線層3,4相互間を接続するもののみならず、
配線層4と導電層5との相互間を接続するようにしても
よい。
[Embodiment of Multilayer Wiring Board] Although the wiring board A of the above embodiment is used in a single layer, a plurality of wiring boards A are laminated and integrated via an interlayer insulating layer to form a multilayer wiring board as shown in FIG. It can also be used as the substrate B. In the multilayer wiring board B shown in FIG. 7, A1, A2, and A3 are single-layer wiring boards A as shown in FIG.
2 and A3 are laminated and integrated with interlayer insulating layers 21 and 22 interposed therebetween. Here, the “single-layer wiring board as shown in FIG. 1” does not mean that the wiring board has a strictly identical configuration. It is needless to say that an appropriate configuration can be used. The interlayer insulating layers 21 and 22
, An adhesive resin or a thermoplastic resin is used. For example, a liquid adhesive resin or a thermoplastic resin can be formed by a method such as spin coating, curtain coating, screen printing, transfer, or the like, and laminated and integrated. Alternatively, a film-shaped adhesive resin or a thermoplastic resin can be used. With intervening, lamination and integration may be performed by a method such as heat lamination, vacuum lamination, or vacuum heat lamination, or lamination and integration may be performed at once by a hot press or a vacuum hot press. The interlayer insulating layers 21 and 22 have a vitrification temperature Tg of 150 ° C. or more, more preferably 200 ° C. or more, for mounting a semiconductor chip or the like on the multilayer wiring board B. In FIG. 7, reference numerals 23 and 24 denote interlayer conductors.
In order to secure the electrical connection between A2 and A3, a soft metal, for example, a simple metal such as tin, lead, silver, copper, gold, or aluminum, or a soft alloy composed of two or more thereof, or a main component thereof And a soft alloy containing other metal components. Further, the above-mentioned interlayer conductor 2
The conductive pastes 3 and 24 may be formed using a conductive paste containing the above soft metal or soft alloy as a conductive material. Further, as shown in FIG. 7, the interlayer conductors 23 and 24 not only connect the wiring layers 3 and 4 to each other, but also
The wiring layer 4 and the conductive layer 5 may be connected to each other.

【0042】[0042]

【配線基板の実施例】次に、配線基板の実施例について
説明する。図8は本発明におけるCSP(Chip S
ize PackageまたはCh-ip Scale P
ackage)型のツインダイオードCで、図8(a)
はツインダイオードチップのマウント前の平面図、図8
(b)は図8(a)におけるA−A線に沿う断面図、図
8(c)は下面図である。図8(a)〜図8(c)にお
いて、31は全芳香族ポリエステル液晶ポリマーフィル
ムよりなる絶縁層で、大きさが1mm×0.8mm×6
0〜100μmの矩形状のものである。この絶縁層31
の四隅の近傍には、それぞれレーザ加工等によりテーパ
状の貫通孔32、32、32、32(以下、各
貫通孔32と総称する)が形成されている。各貫通孔3
2の中心軸に対する傾斜角度θは5〜65°であり、小
径部の直径が10〜40μmである。そして、図示はさ
れていないが、絶縁層31の表裏両面および各貫通孔3
2の内壁面は粗面化され、かつめっき触媒が付与されて
いる。絶縁層31の表裏両面における各貫通孔32の近
傍部分には、厚さが40μmの銅めっき層よりなる配線
層33、33、33および34、34、34
、34(以下、各配線層33および34と総称す
る)が形成されており、各貫通孔32の内壁面には厚さ
が60〜100の銅めっき層よりなる導電層35、3
、35、35(以下、各導電層35と総称す
る)が形成されている。ここで、貫通孔32、32
内の導電層35、35および裏面の配線層34
34共通の配線層33によって同電位になって
いる。各配線層33および34ならびに各導電層35の
上には、それぞれ厚さが3μmのニッケルめっき層より
なる第一の金属層371a、373a、374aおよび
381a、382a、383a、384a(以下、各金
属層37および38と総称する)が形成されてい
る。さらに、各第一の金属層37および38 の上に
は、厚さが0.5μmの金めっき層よりなる第二の金属
層371b、373b、374bおよび381b、38
2b、383b、384b(以下、各金属層37およ
び38と総称する)が形成されている。ここで、各導
電層35および第一の金属層37および38ならび
に第二の金属層37および38 の表面は平坦面とな
っている。このような配線基板Cの配線層371bの上
に、図示2点鎖線で示すように、ツインダイオードチッ
プ39がマウントされ、このダイオードチップ39の2
つの電極と、金属層373b、374bとの間が、それ
ぞれアルミニウム等のワイヤ40a、40bで接続され
ている。
Next, an embodiment of a wiring board will be described.
explain. FIG. 8 shows a CSP (Chip S) according to the present invention.
size Package or Ch-ip Scale P
FIG. 8A shows an example of a twin diode C of the “acquire” type.
8 is a plan view of the twin diode chip before mounting, and FIG.
FIG. 8B is a sectional view and a view taken along line AA in FIG.
FIG. 8C is a bottom view. 8 (a) to 8 (c).
31 is a wholly aromatic polyester liquid crystal polymer fill
Insulation layer consisting of 1mm x 0.8mm x 6
It has a rectangular shape of 0 to 100 μm. This insulating layer 31
Each of the four corners is tapered by laser processing, etc.
Through hole 321, 322, 323, 324(Hereafter, each
Through holes 32). Each through hole 3
2 is 5 to 65 ° with respect to the central axis,
The diameter of the diameter portion is 10 to 40 μm. And the illustration is
Although not shown, both the front and back surfaces of the insulating layer 31 and each through hole 3
2. The inner wall surface is roughened and a plating catalyst is applied.
I have. Near each through hole 32 on both front and back surfaces of the insulating layer 31
In the side part, a wiring made of a copper plating layer with a thickness of 40 μm
Layer 331, 333, 334And 341, 342, 34
3, 344(Hereinafter, they are collectively referred to as each of the wiring layers 33 and 34.
Is formed on the inner wall surface of each through-hole 32.
Is a conductive layer 35 made of a copper plating layer of 60 to 1001, 3
52, 353, 354(Hereinafter, they are collectively referred to as each conductive layer 35.
Is formed. Here, the through hole 321, 322
Conductive layer 35 in1, 352And wiring layer 34 on the back side1,
342Is,Common wiring layer 331Become the same potential
I have. Of each of the wiring layers 33 and 34 and each of the conductive layers 35
Above the 3μm thick nickel plating layer
First metal layer 371a, 373a, 374aand
381a, 382a, 383a, 384a(Hereafter, each gold
Genus 37aAnd 38aCollectively)
You. Furthermore, each first metal layer 37aAnd 38 aon top of
Is a second metal consisting of a gold plating layer having a thickness of 0.5 μm
Layer 371b, 373b, 374bAnd 381b, 38
2b, 383b, 384b(Hereinafter, each metal layer 37bAnd
And 38b) Are formed. Where
Electric layer 35 and first metal layer 37aAnd 38aLine
The second metal layer 37bAnd 38 bSurface is flat
ing. The wiring layer 37 of such a wiring board C1bupon
As shown by the two-dot chain line in FIG.
The diode 39 is mounted.
Electrode and metal layer 373b, 374bBetween
Respectively connected by wires 40a and 40b of aluminum or the like.
ing.

【0043】図9は、上記図8に示したCSP型ツイン
ダイオードCの等価回路図である。すなわち、図9
(a)は2つのダイオードD1、D2のアノードが共通
接続された型のものであり、図9(b)は2つのダイオ
ードD1、D2のカソードが共通接続された型のもので
ある。これらのいずれを採用するかは、用途に応じて選
択される。
FIG. 9 is an equivalent circuit diagram of the CSP type twin diode C shown in FIG. That is, FIG.
9A shows a type in which the anodes of two diodes D1 and D2 are commonly connected, and FIG. 9B shows a type in which the cathodes of two diodes D1 and D2 are commonly connected. Which of these is adopted is selected according to the application.

【0044】上記の構成のCSP型ツインダイオードC
において、貫通孔32内に充填された導電層35の上に
形成された金属層371bの上にツインダイオードチッ
プ39をマウントしたり、ワイヤ40をボンディングし
たりしても、図10や図11に示すように絶縁層51や
71の表面上に形成した配線層54や74上の金属層6
1や81上に半導体チップをマウントしたり、ワイヤを
ボンディングする従来構造の配線基板に比較して、何ら
不都合はなかった。
The CSP type twin diode C having the above configuration
In FIG. 10 and FIG. 11, even if the twin diode chip 39 is mounted on the metal layer 371b formed on the conductive layer 35 filled in the through hole 32 or the wire 40 is bonded. The metal layer 6 on the wiring layers 54 and 74 formed on the surfaces of the insulating layers 51 and 71 as shown in FIG.
There was no inconvenience as compared with a wiring board having a conventional structure in which a semiconductor chip was mounted on 1 or 81 and wires were bonded.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明は以上のように、絶縁層が一つ以
上の貫通孔と、両面に配線層と、前記貫通孔内に前記配
線層と接続された導電層とを有する配線基板において、
前記貫通孔がテーパ状で、前記配線層と導電層が同一材
料で一体に形成され、かつ前記導電層が貫通孔内に充填
されるとともに、貫通孔の両側で平坦面となっているこ
とを特徴とする配線基板であるから、従来の表裏両面に
接着剤を介して銅箔等を接着した銅張り基板を用いる必
要がなく、安価な配線基板が提供できるのみなず、配線
層の上に導電層を重ねて形成するものに比較して、薄型
の配線基板を提供できる。本発明の多層配線基板は、上
記の配線基板を、層間絶縁層を介して複数層積層一体化
し、かつ前記各配線基板の配線層または導電層の相互間
を層間導電体を介して接続したことを特徴とする多層配
線基板であるから、安価で薄型の多層配線基板を提供で
きる。本発明はさらに、前記絶縁層にテーパ状の貫通孔
を形成する工程と、前記絶縁層の両面および貫通孔の内
壁面をウェット法またはドライ法で粗面化する工程と、
前記粗面化された絶縁層の両面および貫通穴の内壁面に
めっき触媒を付与する工程と、前記めっき触媒を付与さ
れた絶縁層の両面および貫通孔の内壁面に配線層および
導電層を同時に一体に形成し、かつ貫通孔の内部を導電
層で充填する工程とを含むことを特徴とする配線基板の
製造方法であるから、従来の銅箔等を接着剤で接着した
銅張り基板を用いる製造方法に比較して、配線層および
導電層の密着性が良く安価かつ薄型の配線基板を低コス
トで製造できる製造方法が提供できる。本発明はさらに
また、上記の複数の配線基板を、配線層または金属層相
互間を層間導電体を介して接続するとともに層間絶縁層
を介在して積層する工程と、この積層体を真空中で加熱
加圧して一体化する工程とを含むことを特徴とする多層
配線基板の製造方法であるから、従来の銅箔等を接着剤
で接着した銅張り基板を用いる製造方法に比較して、配
線層および導電層の密着性が良く安価かつ薄型の多層配
線基板を製造できる製造方法が提供できる。
As described above, the present invention relates to a wiring board having one or more through holes having an insulating layer, wiring layers on both surfaces, and a conductive layer connected to the wiring layer in the through holes. ,
The through hole has a tapered shape, the wiring layer and the conductive layer are integrally formed of the same material, and the conductive layer is filled in the through hole and has a flat surface on both sides of the through hole. Since it is a featured wiring board, there is no need to use a conventional copper-clad board in which copper foil or the like is adhered to both front and back surfaces with an adhesive, and not only can an inexpensive wiring board be provided, but also on the wiring layer A thinner wiring board can be provided as compared with the case where conductive layers are stacked. In the multilayer wiring board of the present invention, a plurality of the wiring boards are stacked and integrated via an interlayer insulating layer, and the wiring layers or conductive layers of the wiring boards are connected to each other via an interlayer conductor. Therefore, an inexpensive and thin multilayer wiring board can be provided. The present invention further comprises a step of forming a tapered through hole in the insulating layer, and a step of roughening both surfaces of the insulating layer and inner wall surfaces of the through hole by a wet method or a dry method,
A step of applying a plating catalyst to both surfaces of the roughened insulating layer and the inner wall surface of the through hole, and simultaneously forming a wiring layer and a conductive layer on both surfaces of the insulating layer provided with the plating catalyst and the inner wall surface of the through hole. And a step of filling the inside of the through hole with a conductive layer.This method is a method for manufacturing a wiring board, and thus uses a copper-clad board to which a conventional copper foil or the like is adhered with an adhesive. As compared with the manufacturing method, it is possible to provide a manufacturing method capable of manufacturing an inexpensive and thin wiring board with good adhesion between the wiring layer and the conductive layer at low cost. The present invention still further provides a step of connecting the wiring boards or the metal layers between the wiring layers or the metal layers via an interlayer conductor and laminating them with an interlayer insulating layer interposed therebetween. A method of manufacturing a multilayer wiring board, which includes a step of integrating by heating and pressurizing, compared with a conventional manufacturing method using a copper-clad board to which a copper foil or the like is adhered with an adhesive. It is possible to provide a manufacturing method capable of manufacturing an inexpensive and thin multilayer wiring board having good adhesion between layers and conductive layers.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明における一実施例の配線基板Aの要部
拡大縦断面図
FIG. 1 is an enlarged longitudinal sectional view of a main part of a wiring board A according to one embodiment of the present invention.

【図2】 本発明における一実施例の配線基板Aを第一
の製造方法により製造する場合の工程ブロック図
FIG. 2 is a process block diagram in a case where a wiring board A of one embodiment of the present invention is manufactured by a first manufacturing method.

【図3】 本発明における一実施例の配線基板Aを第一
の製造方法により製造する場合の前半の各工程における
絶縁層等の縦断面図
FIG. 3 is a vertical cross-sectional view of an insulating layer and the like in each of the first half steps in the case where the wiring board A of one embodiment of the present invention is manufactured by the first manufacturing method.

【図4】 本発明における一実施例の配線基板Aを第一
の製造方法により製造する場合の後半の各工程における
絶縁層等の縦断面図
FIG. 4 is a vertical cross-sectional view of an insulating layer and the like in each of the latter steps in the case where the wiring board A of one embodiment of the present invention is manufactured by the first manufacturing method.

【図5】 本発明における一実施例の配線基板Aを第二
の製造方法により製造する場合の工程ブロック図
FIG. 5 is a process block diagram in the case of manufacturing a wiring board A of one embodiment of the present invention by a second manufacturing method.

【図6】 本発明における一実施例の配線基板Aを第三
の製造方法により製造する場合の工程ブロック図
FIG. 6 is a process block diagram in a case where a wiring board A of one embodiment of the present invention is manufactured by a third manufacturing method.

【図7】 本発明における一実施例の多層配線基板Bの
要部拡大縦断面図
FIG. 7 is an enlarged longitudinal sectional view of a main part of a multilayer wiring board B according to one embodiment of the present invention;

【図8】 本発明の実施例のCSP型ツインダイオード
Cにおけるツインダイオードチップのマウント前の平面
図、A−A線に沿う断面図、下面図
FIG. 8 is a plan view before mounting a twin diode chip in a CSP type twin diode C according to an embodiment of the present invention, a sectional view taken along line AA, and a bottom view.

【図9】 本発明の実施例のCSP型ツインダイオード
Cにおける等価回路図
FIG. 9 is an equivalent circuit diagram of the CSP type twin diode C according to the embodiment of the present invention.

【図10】 従来の配線基板Dの要部拡大縦断面図FIG. 10 is an enlarged longitudinal sectional view of a main part of a conventional wiring board D;

【図11】 従来の配線基板Eの要部拡大縦断面図FIG. 11 is an enlarged longitudinal sectional view of a main part of a conventional wiring board E;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A、A1、A2、A3 配線基板 B 多層配線基板 C CSP型ツインダイオード D1,D2 ダイオード 1、31 絶縁層 1a 絶縁層の表面 1b 絶縁層の裏面 2、32 貫通孔 2a 貫通孔の内壁面 3、4、33、34 配線層 5、35 導電層 6、9、10、11、12、13、14、15、16、
17、18、19、20 レジスト膜 7、8、37、38 金属層 21,22 層間絶縁層 23,24 層間導電体 37、38 金属層 39 ツインダイオードチップ 40 ワイヤ
A, A1, A2, A3 Wiring board B Multi-layer wiring board C CSP type twin diode D1, D2 Diode 1, 31 Insulating layer 1a Surface of insulating layer 1b Back surface of insulating layer 2, 32 Through hole 2a Inner wall surface of through hole 3, 4, 33, 34 wiring layer 5, 35 conductive layer 6, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16,
17, 18, 19, 20 Resist film 7, 8, 37, 38 Metal layer 21, 22 Interlayer insulating layer 23, 24 Interlayer conductor 37, 38 Metal layer 39 Twin diode chip 40 Wire

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/40 H05K 3/40 K Fターム(参考) 5E317 AA21 AA24 BB12 BB13 BB14 BB15 BB18 CC25 CC31 CD27 CD32 5E346 CC10 CC31 CC32 CC37 CC38 DD02 DD03 DD25 EE02 EE06 EE09 EE19 FF05 FF06 FF07 FF08 FF09 FF15 GG15 GG22 HH11 HH24 HH32 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H05K 3/40 H05K 3/40 K F term (Reference) 5E317 AA21 AA24 BB12 BB13 BB14 BB15 BB18 CC25 CC31 CD27 CD32 5E346 CC10 CC31 CC32 CC37 CC38 DD02 DD03 DD25 EE02 EE06 EE09 EE19 FF05 FF06 FF07 FF08 FF09 FF15 GG15 GG22 HH11 HH24 HH32

Claims (22)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】絶縁層が一つ以上の貫通孔と、両面に配線
層と、前記貫通孔内に前記配線層と接続された導電層と
を有する配線基板において、前記貫通孔がテーパ状で、
前記配線層および導電層が同一材料で一体に形成され、
前記導電層が貫通孔内に充填されるとともに、貫通孔の
両側で平坦面となっていることを特徴とする配線基板。
1. A wiring board in which an insulating layer has one or more through holes, wiring layers on both sides, and a conductive layer connected to the wiring layer in the through holes, wherein the through holes are tapered. ,
The wiring layer and the conductive layer are integrally formed of the same material,
A wiring substrate, wherein the conductive layer is filled in the through hole and has a flat surface on both sides of the through hole.
【請求項2】絶縁層が一つ以上の貫通孔と、片面に配線
層と、前記貫通孔内に前記配線層と接続された導電層と
を有する配線基板において、前記貫通孔がテーパ状でか
つ前記配線層に接する側が小径部であり、前記導電層が
貫通孔内に充填されるとともに、貫通孔の両側で平坦面
となっていることを特徴とする配線基板。
2. A wiring board having an insulating layer having at least one through hole, a wiring layer on one side, and a conductive layer connected to the wiring layer in the through hole, wherein the through hole has a tapered shape. A wiring substrate, wherein a side in contact with the wiring layer is a small diameter portion, the conductive layer is filled in the through hole, and a flat surface is formed on both sides of the through hole.
【請求項3】前記テーパ状の貫通孔の中心軸に対する傾
斜角度が5〜65°、小径側の直径Φが10〜40μ
m、前記配線層および導電層の厚さtが5〜30μmで
あり、かつΦ≦2tの関係に設定したことを特徴とする
請求項1または2に記載の配線基板。
3. The tapered through hole has an inclination angle of 5 to 65 ° with respect to a central axis, and a small diameter Φ of 10 to 40 μm.
3. The wiring board according to claim 1, wherein m, thickness t of the wiring layer and the conductive layer is 5 to 30 μm, and Φ ≦ 2t.
【請求項4】前記配線層および導電層が、銅または銅合
金からなり、前記絶縁層に接着剤を介することなく形成
されており、かつ配線層と導電層とが一体に形成されて
いることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記
載の配線基板。
4. The wiring layer and the conductive layer are made of copper or a copper alloy, are formed on the insulating layer without interposing an adhesive, and the wiring layer and the conductive layer are integrally formed. The wiring board according to any one of claims 1 to 3, wherein:
【請求項5】前記配線層および導電層が、無電解めっき
層により、または無電解めっき層の上に電解めっき層を
積層して形成されていることを特徴とする請求項1ない
し4のいずれかに記載の配線基板。
5. The method according to claim 1, wherein the wiring layer and the conductive layer are formed by an electroless plating layer or by laminating an electrolytic plating layer on the electroless plating layer. The wiring board according to any one of the above.
【請求項6】前記絶縁層の表面と貫通孔の内壁面とが、
0.1〜10μmの粗面に形成されていることを特徴と
する請求項1ないし5のいずれかに記載の配線基板。
6. The surface of the insulating layer and the inner wall surface of the through hole,
The wiring board according to claim 1, wherein the wiring board is formed on a rough surface of 0.1 to 10 μm.
【請求項7】前記配線層の上の一部または全部に、電気
接続用の金属層を有することを特徴とする請求項1ない
し6のいずれかに記載の配線基板。
7. The wiring board according to claim 1, wherein a metal layer for electrical connection is provided on a part or all of the wiring layer.
【請求項8】前記金属層が、金層、パラジウム層、錫層
およびそれらの合金層のいずれか、あるいはニッケル層
またはニッケル合金層の上に金層またはパラジウム層ま
たはそれらの合金層を積層して形成されていることを特
徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の配線基
板。
8. The metal layer may be any one of a gold layer, a palladium layer, a tin layer and an alloy layer thereof, or a gold layer, a palladium layer or an alloy layer thereof on a nickel layer or a nickel alloy layer. The wiring substrate according to claim 1, wherein the wiring substrate is formed.
【請求項9】前記請求項1ないし8に記載の配線基板を
層間絶縁層を介して複数層積層一体化し、かつ前記各配
線基板の配線層または導電層の相互間を、層間導電体を
介して接続したことを特徴とする多層配線基板。
9. The wiring board according to claim 1, wherein a plurality of layers are laminated and integrated via an interlayer insulating layer, and between the wiring layers or conductive layers of each of the wiring boards is connected via an interlayer conductor. A multilayer wiring board characterized in that the wiring board is connected by connecting.
【請求項10】前記層間絶縁層が、ガラス転移温度Tg
が150℃以上の接着性樹脂または熱可塑性樹脂である
ことを特徴とする請求項9に記載の多層配線基板。
10. The method according to claim 1, wherein the interlayer insulating layer has a glass transition temperature Tg.
10. The multilayer wiring board according to claim 9, wherein the substrate is an adhesive resin or a thermoplastic resin having a temperature of 150 ° C. or higher.
【請求項11】前記層間導電体が、錫,鉛,銀,銅,
金,ビスマス、亜鉛、アルミニウムからなる単体金属ま
たはこれら二以上を含む合金またはこれらを主成分とし
他の金属をも含有する合金またはそれらを含む導電ペー
ストからなることを特徴とする請求項9または10に記
載の多層配線基板。
11. The method according to claim 11, wherein the interlayer conductor is tin, lead, silver, copper,
11. A single metal made of gold, bismuth, zinc or aluminum, an alloy containing two or more of these, an alloy containing these as a main component and also containing other metals, or a conductive paste containing them. 2. The multilayer wiring board according to item 1.
【請求項12】前記絶縁層にテーパ状の貫通孔を形成す
る工程と、前記絶縁層の両面および貫通孔の内壁面をウ
ェット法またはドライ法で粗面化する工程と、前記粗面
化された絶縁層の両面および貫通穴の内壁面にめっき触
媒を付与する工程と、前記めっき触媒を付与された絶縁
層の両面および貫通孔の内壁面に配線層および導電層を
同時に一体に形成し、かつ貫通孔の内部を導電層で充填
する工程とを含むことを特徴とする配線基板の製造方
法。
12. A step of forming a tapered through-hole in said insulating layer, a step of roughening both surfaces of said insulating layer and an inner wall surface of said through-hole by a wet method or a dry method, Applying a plating catalyst to both surfaces of the insulating layer and the inner wall surface of the through hole, and simultaneously forming a wiring layer and a conductive layer integrally on both surfaces of the insulating layer provided with the plating catalyst and the inner wall surface of the through hole, And filling the inside of the through hole with a conductive layer.
【請求項13】前記配線層および導電層を、無電解めっ
き法により、または無電解めっき法に続いて電解めっき
法により積層して形成することを特徴とする請求項12
に記載の配線基板の製造方法。
13. The method according to claim 12, wherein the wiring layer and the conductive layer are laminated by electroless plating or by electroplating following electroless plating.
3. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1.
【請求項14】前記配線層および導電層は、めっき触媒
を付与された絶縁層両面および貫通孔内壁面に無電解め
っき法により薄膜めっき層を形成する工程と、前記薄膜
めっき層の配線層および導電層となる部分を除いてレジ
スト膜を形成する工程と、前記レジスト膜で被覆されて
いない薄膜めっき層の上に無電解めっき法または電解め
っき法により、または無電解めっき法に続いて電解めっ
き法により配線層および導電層を形成する工程と、前記
レジスト膜を除去する工程と、露出した薄膜めっき層を
エッチングにより除去する工程により形成されることを
特徴とする請求項12または13に記載の配線基板の製
造方法。
14. The wiring layer and the conductive layer, wherein a step of forming a thin-film plating layer on both surfaces of the insulating layer to which a plating catalyst is applied and the inner wall surface of the through-hole by an electroless plating method; Forming a resist film except for a portion to be a conductive layer, and electroless plating or electrolytic plating on the thin film plating layer not covered with the resist film, or electroless plating followed by electroless plating 14. The method according to claim 12, wherein the step of forming a wiring layer and a conductive layer by a method, the step of removing the resist film, and the step of removing an exposed thin-film plating layer by etching are performed. Manufacturing method of wiring board.
【請求項15】前記配線層および導電層は、めっき触媒
を付与された絶縁層両面および貫通孔内壁面に、配線層
および導電層となる部分を除いてレジスト膜を形成する
工程と、前記レジスト膜で被覆されていない絶縁層に無
電解めっき法または電解めっき法により、または無電解
めっき法に続いて電解めっき法により配線層および導電
層を形成する工程と、前記レジスト膜を除去する工程よ
り形成されることを特徴とする請求項12または13に
記載の配線基板の製造方法。
15. A step of forming a resist film on both surfaces of the insulating layer provided with a plating catalyst and on the inner wall surface of the through hole except for portions to be the wiring layer and the conductive layer; Forming a wiring layer and a conductive layer by electroless plating or electroplating on an insulating layer not covered with a film by electroless plating or electrolytic plating, or removing the resist film by The method according to claim 12, wherein the wiring board is formed.
【請求項16】前記配線層および導電層は、めっき触媒
を付与された絶縁層両面および貫通孔内壁面に無電解め
っき法により薄膜めっき層を形成する工程と、前記薄膜
めっき層の上に無電解めっき法により、または電解めっ
き法により、または無電解めっき法に続いて電解めっき
法により厚膜めっき層を形成する工程と、前記厚膜めっ
き層の配線層および導電層となる部分にレジスト膜を形
成する工程と、前記レジスト膜で被覆されていない厚膜
めっき層および薄膜めっき層をエッチングで除去する工
程と、前記レジスト膜を除去する工程と、より形成され
ることを特徴とする請求項12または13に記載の配線
基板の製造方法。
16. A method for forming a thin film plating layer on both surfaces of an insulating layer provided with a plating catalyst and inner wall surfaces of through holes by an electroless plating method, comprising the steps of: A step of forming a thick plating layer by electrolytic plating, or by electrolytic plating, or by electroplating following electroless plating, and a resist film on a portion of the thick plating layer to be a wiring layer and a conductive layer. Forming a thin film plating layer and a thin film plating layer which are not covered with the resist film by etching, and a step of removing the resist film. 14. The method for manufacturing a wiring board according to 12 or 13.
【請求項17】少なくとも前記配線層および導電層とな
る部分にドライプロセスで導電薄膜を形成する工程と、
導電薄膜の上に無電解めっき法によりまたは電解めっき
法によりまたは無電解めっき法に続いて電解めっき法に
より配線層および導電層を形成する工程とを含むことを
特徴とする請求項14ないし16のいずれかに記載の配
線基板の製造方法。
17. A step of forming a conductive thin film by a dry process at least on a portion to be the wiring layer and the conductive layer;
Forming a wiring layer and a conductive layer on the conductive thin film by an electroless plating method, by an electrolytic plating method, or by an electrolytic plating method subsequent to the electroless plating method. A method for manufacturing the wiring board according to any one of the above.
【請求項18】前記貫通孔を、レーザにより形成するこ
とを特徴とする請求項12ないし16のいずれかに記載
の配線基板の製造方法。
18. The method according to claim 12, wherein the through hole is formed by a laser.
【請求項19】前記貫通孔を、強アルカリ性の液でエッ
チングして形成することを特徴とする請求項12ないし
16のいずれかに記載の配線基板の製造方法。
19. The method according to claim 12, wherein said through hole is formed by etching with a strong alkaline solution.
【請求項20】前記請求項1ないし8に記載された配線
基板を、配線層または金属層の相互間を層間導電体を介
して接続するとともに層間絶縁層を介在して積層する工
程と、この積層体を真空中で加熱加圧して一体化する工
程とを含むことを特徴とする請求項9ないし11に記載
の多層配線基板の製造方法。
20. A step of connecting the wiring board according to claim 1 to a wiring layer or a metal layer via an interlayer conductor and laminating the wiring board or the metal layer via an interlayer insulating layer; 12. The method for manufacturing a multilayer wiring board according to claim 9, further comprising the step of heating and pressurizing the laminate in a vacuum to integrate the laminate.
【請求項21】前記層間絶縁層を、液状の接着性樹脂ま
たは熱可塑性樹脂を塗布,印刷,転写のいずれかにより
形成することを特徴とする請求項20に記載の多層配線
基板の製造方法。
21. The method according to claim 20, wherein the interlayer insulating layer is formed by applying, printing or transferring a liquid adhesive resin or a thermoplastic resin.
【請求項22】前記層間絶縁層を、フィルム状の接着性
樹脂または熱可塑性樹脂を熱ラミネート,真空ラミネー
ト、真空熱ラミネートのいずれかにより形成することを
特徴とする請求項20に記載の多層配線基板の製造方
法。
22. The multilayer wiring according to claim 20, wherein said interlayer insulating layer is formed by any one of thermal lamination, vacuum lamination and vacuum thermal lamination of a film-like adhesive resin or thermoplastic resin. Substrate manufacturing method.
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