JP2001352014A - 半導体装置及び太陽電池モジュール - Google Patents
半導体装置及び太陽電池モジュールInfo
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 耐腐食性、耐衝撃性に優れた半導体装置、及
び太陽電池モジュールを提供する。 【解決手段】 半導体チップと、半導体チップに接続さ
れた金属端子を有する半導体装置において、前記半導体
チップの周囲に湿度の侵入を防止する為の第1保護層
と、前記第1保護層の周囲の少なくとも一部に応力を吸
収する為の第2保護層とが形成されていることを特徴と
する。
び太陽電池モジュールを提供する。 【解決手段】 半導体チップと、半導体チップに接続さ
れた金属端子を有する半導体装置において、前記半導体
チップの周囲に湿度の侵入を防止する為の第1保護層
と、前記第1保護層の周囲の少なくとも一部に応力を吸
収する為の第2保護層とが形成されていることを特徴と
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置に関
し、特に耐腐食性と耐衝撃性に優れた半導体装置に関す
る。また、これらの半導体装置をバイパスダイオードと
して使用した太陽電池モジュールに関する。
し、特に耐腐食性と耐衝撃性に優れた半導体装置に関す
る。また、これらの半導体装置をバイパスダイオードと
して使用した太陽電池モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、CO2の増加による温室効果で地
球の温暖化が生じることが予測され、CO2を排出しな
いクリーンなエネルギーの要求がますます高まってい
る。CO2を排出しないエネルギー源としては原子力発
電が挙げられるが、放射性廃棄物の問題が解決されてお
らず、より安全性の高いクリーンなエネルギーが望まれ
ている。このような状況下において、クリーンなエネル
ギーの中でも特に太陽電池は、そのクリーンさと安全性
と取扱い易さといった点から非常に注目されている。
球の温暖化が生じることが予測され、CO2を排出しな
いクリーンなエネルギーの要求がますます高まってい
る。CO2を排出しないエネルギー源としては原子力発
電が挙げられるが、放射性廃棄物の問題が解決されてお
らず、より安全性の高いクリーンなエネルギーが望まれ
ている。このような状況下において、クリーンなエネル
ギーの中でも特に太陽電池は、そのクリーンさと安全性
と取扱い易さといった点から非常に注目されている。
【0003】太陽電池の種類としては、結晶系太陽電
池、アモルファス系太陽電池、化合物半導体太陽電池
等、多種にわたる太陽電池が研究開発されているが、中
でもアモルファスシリコン太陽電池は、変換効率こそ結
晶系の太陽電池に及ばないものの、大面積化が容易で、
かつ光吸収係数が大きく、また薄膜で動作するなどの、
結晶系太陽電池には無い優れた特徴をもっており、将来
を有望視されている太陽電池の1つである。
池、アモルファス系太陽電池、化合物半導体太陽電池
等、多種にわたる太陽電池が研究開発されているが、中
でもアモルファスシリコン太陽電池は、変換効率こそ結
晶系の太陽電池に及ばないものの、大面積化が容易で、
かつ光吸収係数が大きく、また薄膜で動作するなどの、
結晶系太陽電池には無い優れた特徴をもっており、将来
を有望視されている太陽電池の1つである。
【0004】ところで、通常太陽電池を電力の供給源と
してみた場合、1枚の太陽電池セルだけでは出力電圧が
不足している。このため、複数個の太陽電池セルを直列
もしくは並列に接続して使用する必要がある。
してみた場合、1枚の太陽電池セルだけでは出力電圧が
不足している。このため、複数個の太陽電池セルを直列
もしくは並列に接続して使用する必要がある。
【0005】上記のように複数個のセルを直列接続して
動作させる場合において最大の難点は、建物の影や降雪
などにより、セルの一部が太陽光から遮られて発電しな
くなった場合、正常に発電している他の素子からの総発
生電圧が逆方向電圧という形で直接印加されることであ
る。そして、このような逆方向電圧が素子の耐圧を超え
る値になった場合には、素子の破壊が起きる可能性があ
る。そこで、このような素子の破壊を避けるためには、
直列接続した各素子ごとに、素子と並列で逆の方向にダ
イオードを結線する必要がある。このようなダイオード
は一般的にバイパスダイオードと呼ばれる。
動作させる場合において最大の難点は、建物の影や降雪
などにより、セルの一部が太陽光から遮られて発電しな
くなった場合、正常に発電している他の素子からの総発
生電圧が逆方向電圧という形で直接印加されることであ
る。そして、このような逆方向電圧が素子の耐圧を超え
る値になった場合には、素子の破壊が起きる可能性があ
る。そこで、このような素子の破壊を避けるためには、
直列接続した各素子ごとに、素子と並列で逆の方向にダ
イオードを結線する必要がある。このようなダイオード
は一般的にバイパスダイオードと呼ばれる。
【0006】バイパスダイオードを太陽電池に応用した
例としては、例えば特開平5−291602号公報や、
特開平9−82865号公報で開示されており、これら
の公報ではバイパスダイオードとしてチップダイオード
を使用した構成が提案されている。このチップダイオー
ドを使用する最大の特徴としては、厚みが300〜60
0μm程度と非常に薄いことでモジュールの平面性を保
つことができ、外観性を良くすることができると同時
に、周辺を充填する樹脂を薄くすることができ、樹脂コ
ストを下げられることにある。図4にこのようなバイパ
スダイオードの一例の概略図を示す。
例としては、例えば特開平5−291602号公報や、
特開平9−82865号公報で開示されており、これら
の公報ではバイパスダイオードとしてチップダイオード
を使用した構成が提案されている。このチップダイオー
ドを使用する最大の特徴としては、厚みが300〜60
0μm程度と非常に薄いことでモジュールの平面性を保
つことができ、外観性を良くすることができると同時
に、周辺を充填する樹脂を薄くすることができ、樹脂コ
ストを下げられることにある。図4にこのようなバイパ
スダイオードの一例の概略図を示す。
【0007】図4中、401は半導体チップ、402、
403は金属箔からなる金属端子、404は半田であ
り、半導体チップ401が半田404にて金属端子40
2、403と接続されている。
403は金属箔からなる金属端子、404は半田であ
り、半導体チップ401が半田404にて金属端子40
2、403と接続されている。
【0008】また、バイパスダイオードの設置場所の一
例を図5に示す。図5(a)は、太陽電池セル501を
封止するEVAなどの封止材503中にダイオード50
2が設置された例であり、ダイオード502はセル毎に
電気的に接続されている。図5(b)は、太陽電池モジ
ュールの端子ボックス504内にバイパスダイオード5
02が設置された例であり、この場合バイパスダイオー
ドはモジュール毎に電気的接続されている。
例を図5に示す。図5(a)は、太陽電池セル501を
封止するEVAなどの封止材503中にダイオード50
2が設置された例であり、ダイオード502はセル毎に
電気的に接続されている。図5(b)は、太陽電池モジ
ュールの端子ボックス504内にバイパスダイオード5
02が設置された例であり、この場合バイパスダイオー
ドはモジュール毎に電気的接続されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記太陽電池は屋外に
設置して使用するものであるから、その信頼性は非常に
高いレベルを追求していく必要があるが、とりわけ上述
のチップで使用するようなバイパスダイオードに関して
は、屋外での耐湿性と耐衝撃性の観点で以下に述べる懸
念点が生じていた。
設置して使用するものであるから、その信頼性は非常に
高いレベルを追求していく必要があるが、とりわけ上述
のチップで使用するようなバイパスダイオードに関して
は、屋外での耐湿性と耐衝撃性の観点で以下に述べる懸
念点が生じていた。
【0010】太陽電池モジュール全体を被覆している
封止材は、通常水分に対するバリア性が完全とは言え
ず、高温高湿環境下で水分が浸透する可能性がある。そ
の場合、ダイオードに使用されている金属部材及び半田
が徐々に酸化、腐食され、長期に安定して使用すること
に懸念がある。特に、半田部に関しては、半田中の鉛が
水分の存在で容易に水酸化鉛を作成し、徐々に絶縁化し
てしまい、やがてはオープン故障を起こすことがある。
また、ダイオードが端子ボックス内に設置されている場
合においても、端子ボックスの水分に対する気密性が完
全ではない為に、同様の懸念が存在する。
封止材は、通常水分に対するバリア性が完全とは言え
ず、高温高湿環境下で水分が浸透する可能性がある。そ
の場合、ダイオードに使用されている金属部材及び半田
が徐々に酸化、腐食され、長期に安定して使用すること
に懸念がある。特に、半田部に関しては、半田中の鉛が
水分の存在で容易に水酸化鉛を作成し、徐々に絶縁化し
てしまい、やがてはオープン故障を起こすことがある。
また、ダイオードが端子ボックス内に設置されている場
合においても、端子ボックスの水分に対する気密性が完
全ではない為に、同様の懸念が存在する。
【0011】封止材としてEVA樹脂を使用している
場合には、さらに酸化、腐食が顕著である。すなわち、
EVA樹脂中に含有される酢酸残基が水分の存在下で加
水分解を起こして酢酸が遊離する。酢酸が半田と接触し
た場合には酢酸鉛を形成し、と同様のオープン故障を
起こし、長期信頼性を確保することができない。
場合には、さらに酸化、腐食が顕著である。すなわち、
EVA樹脂中に含有される酢酸残基が水分の存在下で加
水分解を起こして酢酸が遊離する。酢酸が半田と接触し
た場合には酢酸鉛を形成し、と同様のオープン故障を
起こし、長期信頼性を確保することができない。
【0012】屋外に設置する太陽電池には、設置の際
に太陽電池が踏まれる可能性があることや、設置後にで
も雹等の落下物が直撃することを考慮に入れておく必要
があるが、このような衝撃ストレスがダイオード部を直
撃した場合には、設置場所にかかわらずダイオードチッ
プが割れる場合がある。
に太陽電池が踏まれる可能性があることや、設置後にで
も雹等の落下物が直撃することを考慮に入れておく必要
があるが、このような衝撃ストレスがダイオード部を直
撃した場合には、設置場所にかかわらずダイオードチッ
プが割れる場合がある。
【0013】このような問題点を簡単に解決する為に
は、エポキシ樹脂等で封止された市販のモールドダイオ
ードを使用する方法があり、従来出力端子ボックス内に
設置された例が公知である。しかしながら、モールドダ
イオードは厚みが数mm以上あって大きい形状をしてい
る為に、封止材内に封入することは今まで不可能であ
り、また、出力端子ボックス内に組み込もうとすると端
子ボックスの形状も大きくなってしまうという別の問題
点が生じてしまっていた。
は、エポキシ樹脂等で封止された市販のモールドダイオ
ードを使用する方法があり、従来出力端子ボックス内に
設置された例が公知である。しかしながら、モールドダ
イオードは厚みが数mm以上あって大きい形状をしてい
る為に、封止材内に封入することは今まで不可能であ
り、また、出力端子ボックス内に組み込もうとすると端
子ボックスの形状も大きくなってしまうという別の問題
点が生じてしまっていた。
【0014】そこで本発明は、小型でかつ、耐腐食性、
耐衝撃性に優れたダイオード、トランジスタ、IC、サ
イリスタ等の半導体装置を提供し、太陽電池モジュール
内に組み込んだ場合においても上記問題を起こさない構
成を提供することを目的としている。
耐衝撃性に優れたダイオード、トランジスタ、IC、サ
イリスタ等の半導体装置を提供し、太陽電池モジュール
内に組み込んだ場合においても上記問題を起こさない構
成を提供することを目的としている。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明者は上記課題を解
決するために鋭意研究開発を重ねた結果、次のような半
導体装置及び太陽電池モジュールが最良であることを見
いだした。
決するために鋭意研究開発を重ねた結果、次のような半
導体装置及び太陽電池モジュールが最良であることを見
いだした。
【0016】すなわち本発明の半導体装置は、半導体チ
ップと、該半導体チップに接続された金属端子を有する
半導体装置において、前記半導体チップの周囲に湿度の
侵入を防止する為の第1保護層と、前記第1保護層の周
囲の少なくとも一部に応力を吸収する為の第2保護層と
が形成されていることを特徴とする。かかる構成によれ
ば、半導体チップと金属端子との接合に用いる半田の腐
蝕寿命を延ばすことできると共に、耐衝撃性を高めるこ
とができる。すなわち、耐腐蝕性と耐衝撃性の両方の性
質を兼ね備えた半導体装置を提供することが可能とな
る。
ップと、該半導体チップに接続された金属端子を有する
半導体装置において、前記半導体チップの周囲に湿度の
侵入を防止する為の第1保護層と、前記第1保護層の周
囲の少なくとも一部に応力を吸収する為の第2保護層と
が形成されていることを特徴とする。かかる構成によれ
ば、半導体チップと金属端子との接合に用いる半田の腐
蝕寿命を延ばすことできると共に、耐衝撃性を高めるこ
とができる。すなわち、耐腐蝕性と耐衝撃性の両方の性
質を兼ね備えた半導体装置を提供することが可能とな
る。
【0017】また、前記第2保護層の硬度が前記第1保
護層の硬度よりも低硬度であることを特徴とする。かか
る構成によれば、第2保護層は半導体チップだけではな
く第1保護層をも衝撃から保護する機能を有することが
できる。
護層の硬度よりも低硬度であることを特徴とする。かか
る構成によれば、第2保護層は半導体チップだけではな
く第1保護層をも衝撃から保護する機能を有することが
できる。
【0018】また、前記第2保護層が、JISA硬度5
0以下の有機高分子樹脂からなることを特徴とする。か
かる構成によれば、屋外で使用される場合であっても充
分耐衝撃性の高い半導体装置を提供することが可能とな
る。
0以下の有機高分子樹脂からなることを特徴とする。か
かる構成によれば、屋外で使用される場合であっても充
分耐衝撃性の高い半導体装置を提供することが可能とな
る。
【0019】また、前記有機高分子樹脂がシリコーン樹
脂であることを特徴とする。これによりJISA硬度5
0以下の条件をクリアでき、かつ耐熱性が高く、安定し
た第2保護層が提供可能となる。
脂であることを特徴とする。これによりJISA硬度5
0以下の条件をクリアでき、かつ耐熱性が高く、安定し
た第2保護層が提供可能となる。
【0020】また、前記第1保護層がエポキシ樹脂、も
しくはフェノール樹脂、もしくはポリエステル樹脂、も
しくはアクリル樹脂、もしくはポリビニル樹脂からなる
ことを特徴とする。中でも、前記第1保護層がフェノー
ル樹脂、もしくはポリエステル樹脂からなることを特徴
とする。このような材料を用いることにより、半導体チ
ップと金属端子との接合に用いる半田の腐蝕寿命を確実
に延ばすことができ、特にフェノール樹脂、もしくはポ
リエステル樹脂を用いることによって、腐蝕寿命を4倍
以上とすることができる。
しくはフェノール樹脂、もしくはポリエステル樹脂、も
しくはアクリル樹脂、もしくはポリビニル樹脂からなる
ことを特徴とする。中でも、前記第1保護層がフェノー
ル樹脂、もしくはポリエステル樹脂からなることを特徴
とする。このような材料を用いることにより、半導体チ
ップと金属端子との接合に用いる半田の腐蝕寿命を確実
に延ばすことができ、特にフェノール樹脂、もしくはポ
リエステル樹脂を用いることによって、腐蝕寿命を4倍
以上とすることができる。
【0021】また、本発明の太陽電池モジュールは、封
止材により封止された1以上の太陽電池セルと、1以上
のバイパスダイオードと、前記太陽電池セルからの出力
を取出す為の出力端子ボックスを備えた太陽電池モジュ
ールにおいて、前記バイパスダイオードが前記本発明の
半導体装置であって、該バイパスダイオードが、前記封
止材内もしくは前記出力端子ボックス内に設置されてい
ることを特徴とする。かかる構成によれば、長期信頼性
の高い太陽電池モジュールとなる。
止材により封止された1以上の太陽電池セルと、1以上
のバイパスダイオードと、前記太陽電池セルからの出力
を取出す為の出力端子ボックスを備えた太陽電池モジュ
ールにおいて、前記バイパスダイオードが前記本発明の
半導体装置であって、該バイパスダイオードが、前記封
止材内もしくは前記出力端子ボックス内に設置されてい
ることを特徴とする。かかる構成によれば、長期信頼性
の高い太陽電池モジュールとなる。
【0022】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施態様例を詳細に
説明する。
説明する。
【0023】まず、本発明の半導体装置について、図1
を用いて詳細に説明する。図1は、本発明の半導体装置
の一例の概略図を示しており、101は半導体チップ、
102、103は金属箔(金属端子)であり、半導体チ
ップと金属箔は半田104によって電気的に接続されて
いる。また、105は第1保護層であり、半導体チップ
の周囲をモールドし、水分の侵入等を防ぎ、ろう材(半
田104)の耐腐食性を向上させる役目をする。また1
06は第2保護層であって、第1保護層の周囲に形成さ
れ、半導体チップにかかる衝撃を緩和する役目をするも
のである。尚、図1(a)は、第2保護層が第1保護層
の周囲全てに形成された場合を示しており、図1(b)
は第2保護層が第1保護層の周囲の一部に形成された場
合を示しており、状況に応じて適宜選択でき、例えば、
全体の総厚みを薄くしたい場合等には(b)の形態の方
が好適である。
を用いて詳細に説明する。図1は、本発明の半導体装置
の一例の概略図を示しており、101は半導体チップ、
102、103は金属箔(金属端子)であり、半導体チ
ップと金属箔は半田104によって電気的に接続されて
いる。また、105は第1保護層であり、半導体チップ
の周囲をモールドし、水分の侵入等を防ぎ、ろう材(半
田104)の耐腐食性を向上させる役目をする。また1
06は第2保護層であって、第1保護層の周囲に形成さ
れ、半導体チップにかかる衝撃を緩和する役目をするも
のである。尚、図1(a)は、第2保護層が第1保護層
の周囲全てに形成された場合を示しており、図1(b)
は第2保護層が第1保護層の周囲の一部に形成された場
合を示しており、状況に応じて適宜選択でき、例えば、
全体の総厚みを薄くしたい場合等には(b)の形態の方
が好適である。
【0024】本発明の半導体チップ101としては、ダ
イオード、トランジスタ、IC、サイリスタ等半導体デ
バイスであれば特に限定はなく使用することが可能であ
る。
イオード、トランジスタ、IC、サイリスタ等半導体デ
バイスであれば特に限定はなく使用することが可能であ
る。
【0025】半導体チップがダイオードである場合に
は、そのダイオードの種類としては、特に限定なく適用
可能である。また、そのチップ構造としてもメサ型、プ
レーナ型等限定なく適用可能であるが、図1に示すよう
な金属箔がほぼ平行に接続されているような場合には、
金属箔/チップ間でのショートを防止するためにメサ型
を用いる方が好適である。
は、そのダイオードの種類としては、特に限定なく適用
可能である。また、そのチップ構造としてもメサ型、プ
レーナ型等限定なく適用可能であるが、図1に示すよう
な金属箔がほぼ平行に接続されているような場合には、
金属箔/チップ間でのショートを防止するためにメサ型
を用いる方が好適である。
【0026】半導体チップ101に半田で接続される金
属箔102、103としては、ろう材との接続が可能で
あって、良好な電気導電性、小さな熱抵抗を有する材料
が好適に用いられる。例えば具体的な材料としては金、
銀、銅、ニッケルが好適である。電気抵抗を小さくする
為には、外部接続端子の厚みは大きい程好ましいが、厚
すぎると全体の厚みが厚くなってしまい、本来の薄型と
いう特徴が失せることから35〜200μm程度が好適
である。
属箔102、103としては、ろう材との接続が可能で
あって、良好な電気導電性、小さな熱抵抗を有する材料
が好適に用いられる。例えば具体的な材料としては金、
銀、銅、ニッケルが好適である。電気抵抗を小さくする
為には、外部接続端子の厚みは大きい程好ましいが、厚
すぎると全体の厚みが厚くなってしまい、本来の薄型と
いう特徴が失せることから35〜200μm程度が好適
である。
【0027】また、金属箔102、103は1種の材料
から構成されていなくても何等問題はない。例えば、第
1保護層や第2保護層との接着力を高める為に、金属箔
表面に例えばNiメッキなどの金属メッキを施しておい
ても構わないし、金属蒸着等を施しておいても何等構わ
ない。表面に他の材質を設ける場合には、金属箔の片面
に設けても構わないし、両面に設けても構わない。
から構成されていなくても何等問題はない。例えば、第
1保護層や第2保護層との接着力を高める為に、金属箔
表面に例えばNiメッキなどの金属メッキを施しておい
ても構わないし、金属蒸着等を施しておいても何等構わ
ない。表面に他の材質を設ける場合には、金属箔の片面
に設けても構わないし、両面に設けても構わない。
【0028】使用する半田104に関しては特に限定は
なく、一般に半導体装置に用いられる種々の半田を用い
ることができるが、電流が流れた際の局部的な発熱を考
えると、高温半田を用いることが望ましく、融点250
℃以上の半田が好適である。
なく、一般に半導体装置に用いられる種々の半田を用い
ることができるが、電流が流れた際の局部的な発熱を考
えると、高温半田を用いることが望ましく、融点250
℃以上の半田が好適である。
【0029】次に第1保護層105について詳述する。
【0030】本発明において、第1保護層を形成してお
く目的は、最も腐食されやすい半田の腐食寿命を延ばす
ことにある。よって、この目的を達成できる樹脂であれ
ば何を用いてもよく、特に限定はない。
く目的は、最も腐食されやすい半田の腐食寿命を延ばす
ことにある。よって、この目的を達成できる樹脂であれ
ば何を用いてもよく、特に限定はない。
【0031】腐食寿命を延ばすという観点では、樹脂自
体の耐湿性がよいことが好ましく、吸水率や水蒸気透過
率の低い樹脂が好適である。吸水率を例にとると、AS
TM−D570に準拠した吸水率の試験で0.3%以下
であることが望ましい。
体の耐湿性がよいことが好ましく、吸水率や水蒸気透過
率の低い樹脂が好適である。吸水率を例にとると、AS
TM−D570に準拠した吸水率の試験で0.3%以下
であることが望ましい。
【0032】また、樹脂と金属箔の界面から水分や腐食
性分が侵入してくることを考慮すると、金属箔と樹脂と
の密着力が良好であることも必要である。
性分が侵入してくることを考慮すると、金属箔と樹脂と
の密着力が良好であることも必要である。
【0033】また、第1保護層は、半導体チップに直接
接触するものであるから、半導体チップの電気的特性を
維持する為にも樹脂内に含有される不純物イオンは少な
い方が好ましく、ナトリウムイオン、カリウムイオン、
塩素イオンの量がそれぞれ2ppm以下のものが好まし
い。量産性を考えた場合には、樹脂はディスペンサー等
でドッテイング可能な粘度を有するものが望ましく、樹
脂の硬化前粘度は500ポイズ以上、2000ポイズ以
下であることが望ましい。
接触するものであるから、半導体チップの電気的特性を
維持する為にも樹脂内に含有される不純物イオンは少な
い方が好ましく、ナトリウムイオン、カリウムイオン、
塩素イオンの量がそれぞれ2ppm以下のものが好まし
い。量産性を考えた場合には、樹脂はディスペンサー等
でドッテイング可能な粘度を有するものが望ましく、樹
脂の硬化前粘度は500ポイズ以上、2000ポイズ以
下であることが望ましい。
【0034】上記観点を満たすものであれば第1保護層
105としては特に限定なく使用可能であるが、本発明
者の検討によれば、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹
脂、ポリビニル樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂
を主成分としたものを使用することで、腐蝕寿命を延ば
すことが可能である。また、実施例で詳述するが、これ
らの樹脂の中でもとりわけフェノール樹脂とポリエステ
ル樹脂に関しては、腐蝕寿命を4倍以上とすることがで
き、好適である。
105としては特に限定なく使用可能であるが、本発明
者の検討によれば、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹
脂、ポリビニル樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂
を主成分としたものを使用することで、腐蝕寿命を延ば
すことが可能である。また、実施例で詳述するが、これ
らの樹脂の中でもとりわけフェノール樹脂とポリエステ
ル樹脂に関しては、腐蝕寿命を4倍以上とすることがで
き、好適である。
【0035】第1保護層の厚みとしては、特に限定は無
いが、薄すぎる場合は耐湿性の機能が低下し、逆に厚い
場合は太陽電池モジュールの封止材内に組みこむ場合
に、封止材が厚くなってしまう為、状況に応じて適宜選
択されるが、数十μm〜1mm程度の厚みが好適であ
る。
いが、薄すぎる場合は耐湿性の機能が低下し、逆に厚い
場合は太陽電池モジュールの封止材内に組みこむ場合
に、封止材が厚くなってしまう為、状況に応じて適宜選
択されるが、数十μm〜1mm程度の厚みが好適であ
る。
【0036】次に第2保護層106について詳述する。
【0037】第2保護層106を形成する目的は、圧力
や衝撃力等の外力に対する半導体チップの耐性を高める
ことである。よって、その材料としては、比較的柔らか
く、クッション性に富む材料が好んで用いられ、特に限
定はないが、例えば、各種ゴム系樹脂、発泡樹脂、弾性
を有する樹脂等が用いられ、形態としては、溶融溶解し
た樹脂、フィルム、ゴム形状の樹脂、接着材、テープ形
状になっているもの等が挙げられ、各種形態を用いるこ
とができる。
や衝撃力等の外力に対する半導体チップの耐性を高める
ことである。よって、その材料としては、比較的柔らか
く、クッション性に富む材料が好んで用いられ、特に限
定はないが、例えば、各種ゴム系樹脂、発泡樹脂、弾性
を有する樹脂等が用いられ、形態としては、溶融溶解し
た樹脂、フィルム、ゴム形状の樹脂、接着材、テープ形
状になっているもの等が挙げられ、各種形態を用いるこ
とができる。
【0038】発泡樹脂としては、例えば高倍率で発泡さ
せて、弾力性を高めたものが好ましく、また、その形状
としては、テープ形状になっているものが簡単に取り付
け可能であり、好ましい。発泡樹脂の基材としては、例
えば、ポリスチレン、塩化ビニル、ポリエチレン、ポリ
ビニルアルコール、ポリウレタン、アクリル、シリコー
ン樹脂が用いられる。
せて、弾力性を高めたものが好ましく、また、その形状
としては、テープ形状になっているものが簡単に取り付
け可能であり、好ましい。発泡樹脂の基材としては、例
えば、ポリスチレン、塩化ビニル、ポリエチレン、ポリ
ビニルアルコール、ポリウレタン、アクリル、シリコー
ン樹脂が用いられる。
【0039】また、弾性を有する樹脂のような場合に
は、溶融、溶解した樹脂、あるいは接着剤形状の樹脂、
ポッティング樹脂を例えばディスペンサー等を用いてチ
ップ近傍に樹脂をドッテイングした後、例えば、熱、湿
度、紫外線等のエネルギーにより硬化させる。この中で
も、湿度硬化型の樹脂の場合には、常温放置等簡易な工
程で作成できる利点と、外部接続用端子をほとんど酸化
させることがないので、後工程で端子の半田付けが容易
等の利点があり、より好適である。
は、溶融、溶解した樹脂、あるいは接着剤形状の樹脂、
ポッティング樹脂を例えばディスペンサー等を用いてチ
ップ近傍に樹脂をドッテイングした後、例えば、熱、湿
度、紫外線等のエネルギーにより硬化させる。この中で
も、湿度硬化型の樹脂の場合には、常温放置等簡易な工
程で作成できる利点と、外部接続用端子をほとんど酸化
させることがないので、後工程で端子の半田付けが容易
等の利点があり、より好適である。
【0040】衝撃力の耐性を高める為には、樹脂の弾性
が最も効くファクターであり、弾性が高い程、耐衝撃性
は高くなる。弾性のファクターはJISAの硬度で表現
することができるが、第2保護層のJISA硬度は第1
保護層の硬度よりも低硬度であることが好適である。そ
うすることによって、第2保護層は半導体チップと第1
保護層の両方を衝撃から守る役目を持つことができる。
が最も効くファクターであり、弾性が高い程、耐衝撃性
は高くなる。弾性のファクターはJISAの硬度で表現
することができるが、第2保護層のJISA硬度は第1
保護層の硬度よりも低硬度であることが好適である。そ
うすることによって、第2保護層は半導体チップと第1
保護層の両方を衝撃から守る役目を持つことができる。
【0041】また、第2保護層自体の絶対的な硬度とし
ては、JISA硬度で5以上50以下がより好適であ
る。5未満の場合には、耐衝撃性が非常に弱まってしま
い、逆に50を超える場合には、弾性が高すぎて太陽電
池モジュールの封止材内にくみ込んだ際にモジュールの
封止材を剥離してしまう場合がある。
ては、JISA硬度で5以上50以下がより好適であ
る。5未満の場合には、耐衝撃性が非常に弱まってしま
い、逆に50を超える場合には、弾性が高すぎて太陽電
池モジュールの封止材内にくみ込んだ際にモジュールの
封止材を剥離してしまう場合がある。
【0042】第2保護層に用いる代表的な樹脂として
は、シリコーン樹脂、ウレタン樹脂、ブチルゴム等が挙
げられるがこれに限るものではない。この中でも、半導
体チップに電流が流れた際の温度上昇に対応する為に、
耐熱性の高いシリコーン樹脂がより好適である。
は、シリコーン樹脂、ウレタン樹脂、ブチルゴム等が挙
げられるがこれに限るものではない。この中でも、半導
体チップに電流が流れた際の温度上昇に対応する為に、
耐熱性の高いシリコーン樹脂がより好適である。
【0043】上記樹脂は、半導体チップに直接接触する
ものであるから、半導体チップの電気的特性を維持する
為にも樹脂内に含有される不純物イオンは少ない方が好
ましく、ナトリウムイオン、カリウムイオン、塩素イオ
ンの量がそれぞれ2ppm以下のものが好ましい。
ものであるから、半導体チップの電気的特性を維持する
為にも樹脂内に含有される不純物イオンは少ない方が好
ましく、ナトリウムイオン、カリウムイオン、塩素イオ
ンの量がそれぞれ2ppm以下のものが好ましい。
【0044】量産性を考えた場合に、上記樹脂はディス
ペンサー等でドッテイング可能な粘度を有するものが望
ましいが、粘度が高すぎる場合には厚みが必要以上に厚
くなりすぎてしまう。また、あまりに低い場合には薄く
盛られすぎて弾性が弱まってしまう。このような兼ね合
いから樹脂の硬化前粘度は500ポイズ以上2000ポ
イズ以下であることが望ましく、またできあがりの厚み
としては1mm以下程度であることが好ましい。
ペンサー等でドッテイング可能な粘度を有するものが望
ましいが、粘度が高すぎる場合には厚みが必要以上に厚
くなりすぎてしまう。また、あまりに低い場合には薄く
盛られすぎて弾性が弱まってしまう。このような兼ね合
いから樹脂の硬化前粘度は500ポイズ以上2000ポ
イズ以下であることが望ましく、またできあがりの厚み
としては1mm以下程度であることが好ましい。
【0045】次に本発明の半導体装置を太陽電池モジュ
ールのバイパスダイオードに適用した例を以下に示す。
ールのバイパスダイオードに適用した例を以下に示す。
【0046】図2、図3は本発明の太陽電池モジュール
の一例の概略図で、図2はバイパスダイオードを封止材
内に組み込んだ場合を示しており、図3はバイパスダイ
オードを出力端子ボックス内に組み込んだ場合を示して
いる。また、それぞれの図において、(a)は正面図、
(b)はXX’断面図である。
の一例の概略図で、図2はバイパスダイオードを封止材
内に組み込んだ場合を示しており、図3はバイパスダイ
オードを出力端子ボックス内に組み込んだ場合を示して
いる。また、それぞれの図において、(a)は正面図、
(b)はXX’断面図である。
【0047】図2、図3において、201は太陽電池セ
ルであり、2つの太陽電池セル201は直列部材204
にて電気的に直列接続されている。ここで本発明におい
ては太陽電池セルとしては単結晶、多結晶、アモルファ
ス等特に限定無く使用可能である。また、202は集電
電極、203は集電電極のさらなる集電の役目をするバ
スバー電極である。また、205は絶縁部材であり、バ
スバー電極203が太陽電池セルのエッジ部で短絡する
ことを防止するものであるが、必要のない場合は設ける
必要はない。
ルであり、2つの太陽電池セル201は直列部材204
にて電気的に直列接続されている。ここで本発明におい
ては太陽電池セルとしては単結晶、多結晶、アモルファ
ス等特に限定無く使用可能である。また、202は集電
電極、203は集電電極のさらなる集電の役目をするバ
スバー電極である。また、205は絶縁部材であり、バ
スバー電極203が太陽電池セルのエッジ部で短絡する
ことを防止するものであるが、必要のない場合は設ける
必要はない。
【0048】図2の太陽電池モジュールでは、各太陽電
池セルには、それぞれ図1で示したようなバイパスダイ
オード209が接続されている。このバイパスダイオー
ド209は、太陽電池セルに逆バイアスが印加されるよ
うな場合にバイパス電流を流すような形で接続される。
さらに、これらの太陽電池セル及びバイパスダイオード
は封止材206により全体が封止された構造となってい
る。尚、図2においては、バイパスダイオードは太陽電
池セルの裏面側に設置されているが、設置場所について
は特に限定がない。
池セルには、それぞれ図1で示したようなバイパスダイ
オード209が接続されている。このバイパスダイオー
ド209は、太陽電池セルに逆バイアスが印加されるよ
うな場合にバイパス電流を流すような形で接続される。
さらに、これらの太陽電池セル及びバイパスダイオード
は封止材206により全体が封止された構造となってい
る。尚、図2においては、バイパスダイオードは太陽電
池セルの裏面側に設置されているが、設置場所について
は特に限定がない。
【0049】図3の太陽電池モジュールでは、出力端子
ボックス208内に図1で示したようなバイパスダイオ
ード209が設置されている。この場合、バイパスダイ
オード209は、太陽電池セルに逆バイアスが印加され
た場合に、直列されたセル全体をバイパスするように接
続されている。
ボックス208内に図1で示したようなバイパスダイオ
ード209が設置されている。この場合、バイパスダイ
オード209は、太陽電池セルに逆バイアスが印加され
た場合に、直列されたセル全体をバイパスするように接
続されている。
【0050】本発明にかかる封止材206は、大きく分
類して最表面被覆材、充填材、最裏面被覆材の3種類に
分類される。
類して最表面被覆材、充填材、最裏面被覆材の3種類に
分類される。
【0051】最表面被覆材に要求される特性としては透
光性、耐候性があり、汚れが付着しにくいことが要求さ
れる。材料としてガラスを使用する場合や、耐候性フィ
ルム等を使用する場合が一般的ではあるが、耐候性透明
フィルムを使用した場合には、軽量化が図れ、衝撃によ
り割れない上に、フィルム表面にエンボス処理を施すこ
とで、太陽光の表面反射が眩しくないという効果も生ま
れる。この耐候性透明フィルムの材料としては、ポリエ
チレンテトラフルオロエチレン(ETFE)、ポリ3フ
ッ化エチレン、ポリフッ化ビニルなどのフッ素樹脂フィ
ルムなどを用いることができるがこれに限られたもので
はない。充填剤との接着面には、充填剤が接着しやすい
ようにコロナ放電処理などの表面処理を施すこともでき
る。
光性、耐候性があり、汚れが付着しにくいことが要求さ
れる。材料としてガラスを使用する場合や、耐候性フィ
ルム等を使用する場合が一般的ではあるが、耐候性透明
フィルムを使用した場合には、軽量化が図れ、衝撃によ
り割れない上に、フィルム表面にエンボス処理を施すこ
とで、太陽光の表面反射が眩しくないという効果も生ま
れる。この耐候性透明フィルムの材料としては、ポリエ
チレンテトラフルオロエチレン(ETFE)、ポリ3フ
ッ化エチレン、ポリフッ化ビニルなどのフッ素樹脂フィ
ルムなどを用いることができるがこれに限られたもので
はない。充填剤との接着面には、充填剤が接着しやすい
ようにコロナ放電処理などの表面処理を施すこともでき
る。
【0052】充填材に要求される特性としては、耐候
性、熱可塑性、熱接着性、光透過性が挙げられる。材料
としては、EVA(酢酸ビニル−エチレン共重合体)、
ブチラール樹脂、シリコン樹脂、エポキシ樹脂、フッ素
化ポリイミド樹脂などの透明な樹脂を使用することがで
きるがこれに限られたものではない。上記充填材に架橋
剤を添加することにより、架橋することも可能である。
また光劣化を抑制するために、紫外線吸収剤が含有され
ていることが望ましい。
性、熱可塑性、熱接着性、光透過性が挙げられる。材料
としては、EVA(酢酸ビニル−エチレン共重合体)、
ブチラール樹脂、シリコン樹脂、エポキシ樹脂、フッ素
化ポリイミド樹脂などの透明な樹脂を使用することがで
きるがこれに限られたものではない。上記充填材に架橋
剤を添加することにより、架橋することも可能である。
また光劣化を抑制するために、紫外線吸収剤が含有され
ていることが望ましい。
【0053】最裏面被覆材は、太陽電池セルの裏面側を
被覆して太陽電池セルと外部の間の電気的絶縁性を保つ
ために使用する。要求される品質は、充分な電気絶縁性
を確保でき、しかも長期耐久性に優れ、衝撃、引っ掻
き、熱膨張、熱収縮に耐えられる、柔軟性を兼ね備えた
材料が好ましい。好適に用いられる材料としてはナイロ
ン、ポリエチレンテレフタレート(PET)等のプラス
チックフィルムを使用できる。
被覆して太陽電池セルと外部の間の電気的絶縁性を保つ
ために使用する。要求される品質は、充分な電気絶縁性
を確保でき、しかも長期耐久性に優れ、衝撃、引っ掻
き、熱膨張、熱収縮に耐えられる、柔軟性を兼ね備えた
材料が好ましい。好適に用いられる材料としてはナイロ
ン、ポリエチレンテレフタレート(PET)等のプラス
チックフィルムを使用できる。
【0054】充填材だけでも電気的絶縁性を保つことは
できるが、厚さにばらつきが生じやすいため、膜厚の薄
い部分あるいはピンホール部分においては、太陽電池セ
ルと外部の間でのショートが発生する恐れがある。最裏
面被覆材はそれを防止するために使用する。
できるが、厚さにばらつきが生じやすいため、膜厚の薄
い部分あるいはピンホール部分においては、太陽電池セ
ルと外部の間でのショートが発生する恐れがある。最裏
面被覆材はそれを防止するために使用する。
【0055】また、モジュールの形態によって最裏面被
覆材に207で示すような金属鋼板を使用することも可
能である。材質は例えばステンレス板、メッキ鋼板、ガ
ルバリウム鋼板などを使用できるがこれらに限られたも
のではない。この場合、太陽電池セルと金属鋼板との間
の電気的絶縁性を保つのは困難であるため、太陽電池セ
ルと金属鋼板との間に絶縁フィルムを介在させることに
より裏面側被覆材を構成する。このときの絶縁フィルム
としては、ナイロン、ポリエチレンテレフタレート(P
ET)等のプラスチックフィルムを使用できる。
覆材に207で示すような金属鋼板を使用することも可
能である。材質は例えばステンレス板、メッキ鋼板、ガ
ルバリウム鋼板などを使用できるがこれらに限られたも
のではない。この場合、太陽電池セルと金属鋼板との間
の電気的絶縁性を保つのは困難であるため、太陽電池セ
ルと金属鋼板との間に絶縁フィルムを介在させることに
より裏面側被覆材を構成する。このときの絶縁フィルム
としては、ナイロン、ポリエチレンテレフタレート(P
ET)等のプラスチックフィルムを使用できる。
【0056】さらに、金属鋼板207の一部には端子を
取出す為の貫通穴が予め形成されており、貫通穴部分に
は出力端子ボックス208が設置されている。この出力
端子ボックス208を通じて、太陽電池モジュールの両
極の出力端子が取出されている。
取出す為の貫通穴が予め形成されており、貫通穴部分に
は出力端子ボックス208が設置されている。この出力
端子ボックス208を通じて、太陽電池モジュールの両
極の出力端子が取出されている。
【0057】
【実施例】以下、本発明について実施例に基づき詳細に
説明するが、本発明はこれらの実施例により限定される
ものではない。
説明するが、本発明はこれらの実施例により限定される
ものではない。
【0058】(実施例1)まず、図1(b)で示すよう
なバイパスダイオードを作成した。その手順を説明す
る。
なバイパスダイオードを作成した。その手順を説明す
る。
【0059】半導体チップ101、銅の箔体102、1
03を準備した。半導体チップとしては、メサ構造のP
N整流ダイオード(大きさ1.5mm□、厚み230μ
m、ピーク繰り返し逆電圧600V)を用意した。ま
た、銅の箔体102、103として、軟質銅(5mm×
15mm×100μm厚、無酸素銅C1020P)を用
意した。銅の箔体102、103は不図示の金型プレス
により打ち抜いて作成した。
03を準備した。半導体チップとしては、メサ構造のP
N整流ダイオード(大きさ1.5mm□、厚み230μ
m、ピーク繰り返し逆電圧600V)を用意した。ま
た、銅の箔体102、103として、軟質銅(5mm×
15mm×100μm厚、無酸素銅C1020P)を用
意した。銅の箔体102、103は不図示の金型プレス
により打ち抜いて作成した。
【0060】次に、これらの部材を組み立て治具中に断
面図のように順に配置し、ダイオードチップ101と外
部接続用端子102、103との間に半田ペレットを設
置した状態で、窒素リフロー炉に投入し、半田を溶融し
て、部材101、102、103を電気的に接続した。
この時の半田としては、組成比95Pb5Snのものを
使用した。
面図のように順に配置し、ダイオードチップ101と外
部接続用端子102、103との間に半田ペレットを設
置した状態で、窒素リフロー炉に投入し、半田を溶融し
て、部材101、102、103を電気的に接続した。
この時の半田としては、組成比95Pb5Snのものを
使用した。
【0061】次に、フェノール樹脂を用いて、第1保護
層105を形成した。第1保護層105は、ディスペン
サーを用い、チップの上下方向から滴下することによっ
てチップ全体を覆った後、風乾により乾燥した。形成し
たフェノール樹脂の厚みは、金属箔102上で約200
μmであった。
層105を形成した。第1保護層105は、ディスペン
サーを用い、チップの上下方向から滴下することによっ
てチップ全体を覆った後、風乾により乾燥した。形成し
たフェノール樹脂の厚みは、金属箔102上で約200
μmであった。
【0062】さらに、第1保護層105の上から、第2
保護層106としてシリコーン樹脂(硬化時JISA硬
度24)をディスペンサーにより塗付した。塗付厚みは
0.5mmの厚みで形成した。
保護層106としてシリコーン樹脂(硬化時JISA硬
度24)をディスペンサーにより塗付した。塗付厚みは
0.5mmの厚みで形成した。
【0063】以上の工程によりバイパスダイオードを1
0個作成した。作成後に、順逆方向の特性を全数検査し
たところ、10個全てのダイオードにおいて順方向電流
2アンペアでの順方向電圧Vfは0.98±0.1V、
逆方向600Vでの逆方向電流IRは1マイクロアンペ
ア以下であった。
0個作成した。作成後に、順逆方向の特性を全数検査し
たところ、10個全てのダイオードにおいて順方向電流
2アンペアでの順方向電圧Vfは0.98±0.1V、
逆方向600Vでの逆方向電流IRは1マイクロアンペ
ア以下であった。
【0064】次に、上記バイパスダイオードを使用し
て、図2に示す太陽電池モジュールを作成した。その手
順を以下に詳述する。
て、図2に示す太陽電池モジュールを作成した。その手
順を以下に詳述する。
【0065】まず、300mm×280mm、厚さ15
0μmのステンレス製基板を用意し、基板の直上には下
部電極層をスパッタ法によりAl、ZnOがそれぞれ数
千Åの厚みにて順次堆積して形成した。また非晶質シリ
コンはプラズマCVD法によりZnO側からn型、i
型、p型、n型、i型、p型、n型、i型、p型の各層
を順次堆積して形成した。また上部電極層は透明電極膜
であって、O2雰囲気中Inを抵抗加熱法にて蒸着し、
厚み約700Åの酸化インジウム薄膜を形成した。
0μmのステンレス製基板を用意し、基板の直上には下
部電極層をスパッタ法によりAl、ZnOがそれぞれ数
千Åの厚みにて順次堆積して形成した。また非晶質シリ
コンはプラズマCVD法によりZnO側からn型、i
型、p型、n型、i型、p型、n型、i型、p型の各層
を順次堆積して形成した。また上部電極層は透明電極膜
であって、O2雰囲気中Inを抵抗加熱法にて蒸着し、
厚み約700Åの酸化インジウム薄膜を形成した。
【0066】次にこうして作成された太陽電池セル20
1を、光起電力素子の外周切断時に発生する基板と透明
電極膜との短絡の悪影響を有効受光範囲に及ぼさないよ
うに、透明電極膜上にFeCl3、AlCl3等を含むエ
ッチングペーストをスクリーン印刷法により塗布し加熱
後洗浄することによって、該光起電力素子の該透明電極
膜の一部を線状に除去しエッチングラインを形成した。
1を、光起電力素子の外周切断時に発生する基板と透明
電極膜との短絡の悪影響を有効受光範囲に及ぼさないよ
うに、透明電極膜上にFeCl3、AlCl3等を含むエ
ッチングペーストをスクリーン印刷法により塗布し加熱
後洗浄することによって、該光起電力素子の該透明電極
膜の一部を線状に除去しエッチングラインを形成した。
【0067】その後、予めカーボンペーストをφ100
μmの銅ワイヤーにコートしたカーボンコートワイヤー
を5.6mmピッチで太陽電池セル201上に形成し集
電電極202とした。その後、図中205の位置に、幅
7.5mm、長さ10mm、厚み100μmのポリイミ
ド基材絶縁テープ205を貼った。この時、絶縁テープ
205を、太陽電池セル201のエッジをカバーするよ
うに、少しはみ出させて添付した。更に、前記絶縁接着
テープ205の上部で集電電極202と交差するよう
に、集電電極202の更なる集電電極であるバスバー電
極205を形成した。バスバー電極205としては、幅
5mm、長さ285mm、厚み100μmの銀メッキ銅
箔を用い、200℃、3kg/cm2、180秒の条件
で、加熱加圧固定した。
μmの銅ワイヤーにコートしたカーボンコートワイヤー
を5.6mmピッチで太陽電池セル201上に形成し集
電電極202とした。その後、図中205の位置に、幅
7.5mm、長さ10mm、厚み100μmのポリイミ
ド基材絶縁テープ205を貼った。この時、絶縁テープ
205を、太陽電池セル201のエッジをカバーするよ
うに、少しはみ出させて添付した。更に、前記絶縁接着
テープ205の上部で集電電極202と交差するよう
に、集電電極202の更なる集電電極であるバスバー電
極205を形成した。バスバー電極205としては、幅
5mm、長さ285mm、厚み100μmの銀メッキ銅
箔を用い、200℃、3kg/cm2、180秒の条件
で、加熱加圧固定した。
【0068】次に、接続部材204として同じく銀メッ
キ銅箔を用意し、一方の太陽電池セルのバスバー電極
と、もう一方の太陽電池セルの裏面側に半田付けするこ
とにより、2直列の太陽電池セルが作成できた。
キ銅箔を用意し、一方の太陽電池セルのバスバー電極
と、もう一方の太陽電池セルの裏面側に半田付けするこ
とにより、2直列の太陽電池セルが作成できた。
【0069】その後、上述のバイパスダイオードを図中
209のように太陽電池セルの裏面側に配置し、ダイオ
ードのP側に接続された外部接続用端子を太陽電池セル
の裏面側電極に、またダイオードのN側に接続された外
部接続用端子をバスバー電極204側に半田で接続し、
電気的な導通を確保した。バイパスダイオード209
は、太陽電池セル1枚に対して1個接続した。
209のように太陽電池セルの裏面側に配置し、ダイオ
ードのP側に接続された外部接続用端子を太陽電池セル
の裏面側電極に、またダイオードのN側に接続された外
部接続用端子をバスバー電極204側に半田で接続し、
電気的な導通を確保した。バイパスダイオード209
は、太陽電池セル1枚に対して1個接続した。
【0070】次に、これらの2直列の太陽電池セルを樹
脂被覆(ラミネーション)した。以下にその手順を示
す。
脂被覆(ラミネーション)した。以下にその手順を示
す。
【0071】2直列太陽電池セル、EVA(エチレン−
酢酸ビニル共重合体)シート(厚さ460μm)、片面
をプラズマ放電処理した無延伸のETFE(ポリエチレ
ンテトラフルオロエチレン)フィルム(厚さ50μ
m)、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム
(厚さ50μm)、有機不織布、ガルバリウム鋼板(厚
さ0.4mm)をETFE/EVA/有機不織布/2直
列太陽電池セル/EVA/PET/EVA/鋼板という
順に重ねて太陽電池モジュール積層体とした。次に、E
TFEの外側に、離型用テフロンフィルム(厚さ50μ
m)を介してステンレスメッシュ(40×40メッシ
ュ、線径0.15mm)を配し、積層体を真空ラミネー
ト装置を用いて加圧脱気しながら150℃で30分加熱
圧着することにより太陽電池モジュールを得た。尚、表
面被覆材表面にはメッシュにより最大30μmの高低差
の凹凸が形成された。
酢酸ビニル共重合体)シート(厚さ460μm)、片面
をプラズマ放電処理した無延伸のETFE(ポリエチレ
ンテトラフルオロエチレン)フィルム(厚さ50μ
m)、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム
(厚さ50μm)、有機不織布、ガルバリウム鋼板(厚
さ0.4mm)をETFE/EVA/有機不織布/2直
列太陽電池セル/EVA/PET/EVA/鋼板という
順に重ねて太陽電池モジュール積層体とした。次に、E
TFEの外側に、離型用テフロンフィルム(厚さ50μ
m)を介してステンレスメッシュ(40×40メッシ
ュ、線径0.15mm)を配し、積層体を真空ラミネー
ト装置を用いて加圧脱気しながら150℃で30分加熱
圧着することにより太陽電池モジュールを得た。尚、表
面被覆材表面にはメッシュにより最大30μmの高低差
の凹凸が形成された。
【0072】出力端子はあらかじめ太陽電池セル裏面側
にまわしておき、ラミネート後、ガルバリウム鋼板20
7に予め開けておいた端子取り出し口から出力が取り出
せるようにした。さらに、端子取出し口部に、出力端子
ボックス208を接続し、出力端子が出力端子ボックス
から導出するようにした。
にまわしておき、ラミネート後、ガルバリウム鋼板20
7に予め開けておいた端子取り出し口から出力が取り出
せるようにした。さらに、端子取出し口部に、出力端子
ボックス208を接続し、出力端子が出力端子ボックス
から導出するようにした。
【0073】このようにして2直列の太陽電池モジュー
ルAを5モジュール作成した。
ルAを5モジュール作成した。
【0074】(実施例2)実施例2においては、2直列
の太陽電池モジュールBを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールBを5モジュール作成した。
【0075】太陽電池モジュールBにおいては、バイパ
スダイオードの第2保護層として実施例1とは異なるシ
リコーン樹脂(硬化時JISA硬度45)を使用した点
が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例1と全
く同様に作成した。
スダイオードの第2保護層として実施例1とは異なるシ
リコーン樹脂(硬化時JISA硬度45)を使用した点
が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例1と全
く同様に作成した。
【0076】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0077】(実施例3)実施例3においては、2直列
の太陽電池モジュールCを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールCを5モジュール作成した。
【0078】太陽電池モジュールCにおいては、バイパ
スダイオードの第2保護層として実施例1及び実施例2
とは異なるシリコーン樹脂(硬化時JISA硬度53)
を使用した点が実施例1及び実施例2とは異なってお
り、それ以外は実施例1と全く同様に作成した。
スダイオードの第2保護層として実施例1及び実施例2
とは異なるシリコーン樹脂(硬化時JISA硬度53)
を使用した点が実施例1及び実施例2とは異なってお
り、それ以外は実施例1と全く同様に作成した。
【0079】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0080】(実施例4)実施例4においては、2直列
の太陽電池モジュールDを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールDを5モジュール作成した。
【0081】太陽電池モジュールDにおいては、バイパ
スダイオードの第1保護層としてエポキシ樹脂を使用し
た点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例1
と全く同様に作成した。
スダイオードの第1保護層としてエポキシ樹脂を使用し
た点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例1
と全く同様に作成した。
【0082】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0083】(実施例5)実施例5においては、2直列
の太陽電池モジュールEを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールEを5モジュール作成した。
【0084】太陽電池モジュールEにおいては、バイパ
スダイオードの第1保護層としてシリコーン樹脂を使用
した点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例
1と全く同様に作成した。
スダイオードの第1保護層としてシリコーン樹脂を使用
した点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例
1と全く同様に作成した。
【0085】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0086】(実施例6)実施例6においては、2直列
の太陽電池モジュールFを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールFを5モジュール作成した。
【0087】太陽電池モジュールFにおいては、バイパ
スダイオードの第1保護層としてポリビニル樹脂を使用
した点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例
1と全く同様に作成した。
スダイオードの第1保護層としてポリビニル樹脂を使用
した点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例
1と全く同様に作成した。
【0088】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0089】(実施例7)実施例7においては、2直列
の太陽電池モジュールGを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールGを5モジュール作成した。
【0090】太陽電池モジュールGにおいては、バイパ
スダイオードの第1保護層としてアクリル樹脂を使用し
た点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例1
と全く同様に作成した。
スダイオードの第1保護層としてアクリル樹脂を使用し
た点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施例1
と全く同様に作成した。
【0091】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0092】(実施例8)実施例8においては、2直列
の太陽電池モジュールHを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールHを5モジュール作成した。
【0093】太陽電池モジュールHにおいては、バイパ
スダイオードの第1保護層としてポリエステル樹脂を使
用した点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施
例1と全く同様に作成した。
スダイオードの第1保護層としてポリエステル樹脂を使
用した点が実施例1とは異なっており、それ以外は実施
例1と全く同様に作成した。
【0094】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0095】(比較例1)比較例1においては、2直列
の太陽電池モジュールIを5モジュール作成した。
の太陽電池モジュールIを5モジュール作成した。
【0096】太陽電池モジュールIにおいては、バイパ
スダイオードに、第1保護層及び第2保護層を全く設け
なかった点が実施例1とは異なっており、それ以外は実
施例1と全く同様に作成した。
スダイオードに、第1保護層及び第2保護層を全く設け
なかった点が実施例1とは異なっており、それ以外は実
施例1と全く同様に作成した。
【0097】尚、バイパスダイオード作成後に、順逆方
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
向の特性を全数検査したところ、10個全てのダイオー
ドにおいて順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfは
0.98±0.1V、逆方向600Vでの逆方向電流I
Rは1マイクロアンペア以下であった。
【0098】(比較実験1)上記作成した太陽電池モジ
ュールA〜Iに対して、以下の比較実験を行った。試験
は耐湿性及び耐腐食性を調査する為の試験であり、試
験は衝撃に対する耐性を調査するものである。
ュールA〜Iに対して、以下の比較実験を行った。試験
は耐湿性及び耐腐食性を調査する為の試験であり、試
験は衝撃に対する耐性を調査するものである。
【0099】HH試験 85℃85%の環境下に、各太陽電池モジュールを4個
ずつ8000時間放置した。放置したモジュールは20
00時間、4000時間、6000時間、8000時間
の段階で1モジュールずつ取出し、モジュールを分解し
てダイオードの特性を測定した。この測定においては、
順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfを測定し、初
期値の1.2倍以上のVfを示した場合については×、
それ以外は○とした。また、特性測定終了後、ダイオー
ドを光学顕微鏡にて観察し、ダイオードの半田部に外観
上さびが発生していないかどうかを確認した。さびが発
生していたものについては×、発生していなかったもの
については○とした。
ずつ8000時間放置した。放置したモジュールは20
00時間、4000時間、6000時間、8000時間
の段階で1モジュールずつ取出し、モジュールを分解し
てダイオードの特性を測定した。この測定においては、
順方向電流2アンペアでの順方向電圧Vfを測定し、初
期値の1.2倍以上のVfを示した場合については×、
それ以外は○とした。また、特性測定終了後、ダイオー
ドを光学顕微鏡にて観察し、ダイオードの半田部に外観
上さびが発生していないかどうかを確認した。さびが発
生していたものについては×、発生していなかったもの
については○とした。
【0100】ヘイルインパクト試験 各太陽電池モジュール1個ずつに対し、IEEE規格で
定められたヘイルインパクト試験を行った。各太陽電池
には、バイパスダイオードが2個設置されている為、一
方のバイパスダイオードに5発、一方のバイパスダイオ
ードには10発の雹の玉を命中させた。試験後にモジュ
ールを分解して、ダイオードの逆方向600Vでの逆方
向電流IRを測定した。測定値が、初期値の1.2倍以
上のIRを示した場合については割れていると判断して
×、それ以外は○とした。
定められたヘイルインパクト試験を行った。各太陽電池
には、バイパスダイオードが2個設置されている為、一
方のバイパスダイオードに5発、一方のバイパスダイオ
ードには10発の雹の玉を命中させた。試験後にモジュ
ールを分解して、ダイオードの逆方向600Vでの逆方
向電流IRを測定した。測定値が、初期値の1.2倍以
上のIRを示した場合については割れていると判断して
×、それ以外は○とした。
【0101】表1に上記2項目の試験結果を示す。
【0102】
【表1】
【0103】試験の結果より、太陽電池モジュールI
については、2000時間後にすでにさびが発生し、4
000時間後にはVf値がNGとなったのに対し、太陽
電池モジュールEを除く全ての他のモジュールに関して
は、モジュールIよりもさびの発生が遅く、Vf値がN
Gとなる時間も遅くなった。このことから、第1保護層
を形成しておくことにより、バイパスダイオードの信頼
性を向上できることが分かり、特にフェノール樹脂を使
用したモジュールA〜Cと、ポリエステル樹脂を使用し
たモジュールHに関しては、8000時間においてもさ
びの発生が全く無く、非常に効果的であることが分かっ
た。
については、2000時間後にすでにさびが発生し、4
000時間後にはVf値がNGとなったのに対し、太陽
電池モジュールEを除く全ての他のモジュールに関して
は、モジュールIよりもさびの発生が遅く、Vf値がN
Gとなる時間も遅くなった。このことから、第1保護層
を形成しておくことにより、バイパスダイオードの信頼
性を向上できることが分かり、特にフェノール樹脂を使
用したモジュールA〜Cと、ポリエステル樹脂を使用し
たモジュールHに関しては、8000時間においてもさ
びの発生が全く無く、非常に効果的であることが分かっ
た。
【0104】次に、試験については、保護層の全く無
い太陽電池モジュールIが、5発の段階でNGであるの
に対し、第2保護層が形成された他のモジュールはいず
れも5発の段階ではチップに割れのないOKであった。
よって、第2保護層が設けてあることによって、ダイオ
ードの耐衝撃性が向上していることが明らかとなった。
また、シリコーン樹脂の硬度を段階的に変えたモジュー
ルA〜Cについては、モジュールA及びBが10発の段
階でOKであったのに対し、モジュールCについては、
10発の段階でNGとなってしまった。このことから、
樹脂硬度50あたりを境に、耐衝撃性がさらに向上する
ことが明らかとなった。
い太陽電池モジュールIが、5発の段階でNGであるの
に対し、第2保護層が形成された他のモジュールはいず
れも5発の段階ではチップに割れのないOKであった。
よって、第2保護層が設けてあることによって、ダイオ
ードの耐衝撃性が向上していることが明らかとなった。
また、シリコーン樹脂の硬度を段階的に変えたモジュー
ルA〜Cについては、モジュールA及びBが10発の段
階でOKであったのに対し、モジュールCについては、
10発の段階でNGとなってしまった。このことから、
樹脂硬度50あたりを境に、耐衝撃性がさらに向上する
ことが明らかとなった。
【0105】以上により、耐腐蝕性と耐衝撃性の両方を
兼ね備えた半導体装置を提供できることが実験的にも証
明できた。
兼ね備えた半導体装置を提供できることが実験的にも証
明できた。
【0106】
【発明の効果】本発明の半導体装置及びそれをバイパス
ダイオードとして組み込んだ太陽電池モジュールによっ
て、耐腐蝕性に優れ、かつ耐衝撃性に優れた半導体装置
及び太陽電池モジュールを提供することができた。
ダイオードとして組み込んだ太陽電池モジュールによっ
て、耐腐蝕性に優れ、かつ耐衝撃性に優れた半導体装置
及び太陽電池モジュールを提供することができた。
【図1】本発明の実施態様例の半導体装置の概略図であ
る。
る。
【図2】本発明の実施態様例の太陽電池モジュールの概
略図である。
略図である。
【図3】本発明の実施態様例の太陽電池モジュールの概
略図である。
略図である。
【図4】従来の半導体装置の概略図である。
【図5】半導体装置の設置場所を説明する為の概略図で
ある。
ある。
101,401 半導体チップ 102,103,402,403 金属端子 104,404 半田 105 第1保護層 106 第2保護層 201,501 太陽電池セル 202 集電電極 203 バスバー電極 204 接続部材 205 絶縁部材 206,503 封止材 207 金属鋼板 208,504 出力端子ボックス 209,502 バイパスダイオード(半導体装置)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹山 祥史 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 清水 孝一 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 村上 勉 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 吉野 豪人 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 4M109 AA02 BA01 CA04 CA10 EA10 EC01 ED02 EE02 EE03 GA01 5F051 AA02 BA18 EA01 EA02 EA06 EA17 EA18 FA14 FA30 GA04 JA04
Claims (7)
- 【請求項1】 半導体チップと、該半導体チップに接続
された金属端子を有する半導体装置において、 前記半導体チップの周囲に湿度の侵入を防止する為の第
1保護層と、該第1保護層の周囲の少なくとも一部に応
力を吸収する為の第2保護層とが形成されていることを
特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 前記第2保護層の硬度が前記第1保護層
の硬度よりも低硬度であることを特徴とする請求項1に
記載の半導体装置。 - 【請求項3】 前記第2保護層が、JISA硬度50以
下の有機高分子樹脂からなることを特徴とする請求項1
又は2に記載の半導体装置。 - 【請求項4】 前記有機高分子樹脂がシリコーン樹脂で
あることを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。 - 【請求項5】 前記第1保護層がエポキシ樹脂、もしく
はフェノール樹脂、もしくはポリエステル樹脂、もしく
はポリビニル樹脂、もしくはアクリル樹脂からなること
を特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の半導体
装置。 - 【請求項6】 前記第1保護層がフェノール樹脂、もし
くはポリエステル樹脂からなることを特徴とする請求項
1乃至4のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項7】 封止材により封止された1以上の太陽電
池セルと、1以上のバイパスダイオードと、前記太陽電
池セルからの出力を取出す為の出力端子ボックスを備え
た太陽電池モジュールにおいて、 前記バイパスダイオードが請求項1乃至6のいずれかに
記載の半導体装置であって、該バイパスダイオードが、
前記封止材内もしくは前記出力端子ボックス内に設置さ
れていることを特徴とする太陽電池モジュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000168407A JP2001352014A (ja) | 2000-06-06 | 2000-06-06 | 半導体装置及び太陽電池モジュール |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000168407A JP2001352014A (ja) | 2000-06-06 | 2000-06-06 | 半導体装置及び太陽電池モジュール |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001352014A true JP2001352014A (ja) | 2001-12-21 |
Family
ID=18671415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000168407A Withdrawn JP2001352014A (ja) | 2000-06-06 | 2000-06-06 | 半導体装置及び太陽電池モジュール |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001352014A (ja) |
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-
2000
- 2000-06-06 JP JP2000168407A patent/JP2001352014A/ja not_active Withdrawn
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