[go: up one dir, main page]

JP2001339290A - 信号電位変換回路 - Google Patents

信号電位変換回路

Info

Publication number
JP2001339290A
JP2001339290A JP2000157618A JP2000157618A JP2001339290A JP 2001339290 A JP2001339290 A JP 2001339290A JP 2000157618 A JP2000157618 A JP 2000157618A JP 2000157618 A JP2000157618 A JP 2000157618A JP 2001339290 A JP2001339290 A JP 2001339290A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
potential
signal
transistor
output node
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000157618A
Other languages
English (en)
Inventor
Takaharu Tsuji
高晴 辻
Shigeki Tomishima
茂樹 冨嶋
Tsukasa Oishi
司 大石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2000157618A priority Critical patent/JP2001339290A/ja
Priority to US09/793,997 priority patent/US6373315B2/en
Priority to KR10-2001-0025808A priority patent/KR100419816B1/ko
Publication of JP2001339290A publication Critical patent/JP2001339290A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • H03K19/01707Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
    • H03K19/01721Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018507Interface arrangements
    • H03K19/018521Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 信号電位の変換を迅速に行なうことが可能な
信号電位変換回路を提供する。 【解決手段】 DRAMの信号電位変換回路において、
ノードN6を充電するためのPチャネルMOSトランジ
スタ6にPチャネルMOSトランジスタ5を並列接続し
入力信号VIの立上がりエッジに応答してPチャネルM
OSトランジスタ5をパルス的に導通させる。また、P
チャネルMOSトランジスタ6の電流駆動力をノードN
6を放電するためのNチャネルMOSトランジスタ10
の電流駆動力の1/10程度にする。したがって、ノー
ドN6,N7を迅速に充放電させることができ、信号電
位の変換を迅速に行なうことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は信号電位変換回路
に関し、特に、その一方レベルが第1の電位であり、そ
の他方レベルが基準電位である第1の信号を、その一方
レベルが第1の電位と異なる第2の電位であり、その他
方レベルが基準電位である第2の信号に変換する信号電
位変換回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体集積回路装置には、あ
る信号電位を他の信号電位に変換するための信号電位変
換回路が設けられている。たとえばダイナミックランダ
ムアクセスメモリ(以下、DRAMと称す)では、メモ
リセルはアクセス用のNチャネルMOSトランジスタと
情報記憶用のキャパシタとを含む。キャパシタには、
「H」レベル(電源電位VDD)または「L」レベル
(接地電位GND)のデータが書込まれる。キャパシタ
のデータの書込/読出は、NチャネルMOSトランジス
タを介して行なわれる。NチャネルMOSトランジスタ
における電圧降下を防止するため、データの書込/読出
を行なう際にはNチャネルMOSトランジスタのゲート
に電源電位VDDよりも高い昇圧電位VPPが与えられ
る。データの書込/読出を行なう周辺制御回路は電源電
圧VDDで駆動されているので、周辺制御回路からメモ
リセルに信号を伝達するためには、電源電位VDDを昇
圧電位VPPに変換するための信号電位変換回路が必要
とされる。
【0003】図10は、そのような信号電位変換回路の
構成を示す回路図である。図10において、この信号電
位変換回路は、インバータ31〜33、PチャネルMO
Sトランジスタ34,35およびNチャネルMOSトラ
ンジスタ36,37を含む。
【0004】PチャネルMOSトランジスタ34,35
は、それぞれ昇圧電位VPPのラインとノードN34,
N35との間に接続され、各々のゲートはそれぞれノー
ドN35,N34に接続される。NチャネルMOSトラ
ンジスタ36,37は、それぞれノードN34,N35
と接地電位GNDのラインとの間に接続される。入力信
号VIは、インバータ31を介してNチャネルMOSト
ランジスタ36のゲートに入力されるとともに、インバ
ータ31,32を介してNチャネルMOSトランジスタ
37のゲートに入力される。ノードN35に現われる信
号は、インバータ33で反転されて出力信号VOとな
る。
【0005】インバータ31,32の各々は、電源電位
VDDのラインと接地電位GNDのラインとの間に直列
接続されたPチャネルMOSトランジスタおよびNチャ
ネルMOSトランジスタを含み、「H」レベルの信号が
入力されたことに応じて「L」レベルの信号を出力し、
「L」レベルの信号が入力されたことに応じて「H」レ
ベルの信号を出力する。
【0006】インバータ33は、昇圧電位VPPのライ
ンと接地電位GNDのラインとの間に直列接続されたP
チャネルMOSトランジスタおよびNチャネルMOSト
ランジスタを含み、昇圧電位VPPの信号が入力された
ことに応じて「L」レベルの信号を出力し、「L」レベ
ルの信号が入力されたことに応じて昇圧電位VPPの信
号を出力する。
【0007】図11は、図10に示した信号電位変換回
路の動作を示すタイムチャートである。初期状態では、
入力信号VI、インバータ32の出力信号φ32、ノー
ドN34および出力信号VOはともに「L」レベルにな
っており、インバータ31の出力信号φ31は「H」レ
ベルになり、ノードN35は昇圧電位VPPになってい
る。このとき、MOSトランジスタ35,36は導通
し、MOSトランジスタ34,37は非導通になってい
る。
【0008】ある時刻において入力信号VIが「L」レ
ベルから「H」レベルに立上げられると、信号φ31が
「L」レベルになってNチャネルMOSトランジスタ3
6が非導通になるとともに、信号φ32が「H」レベル
になってNチャネルMOSトランジスタ37が導通す
る。これに応じてノードN35の電位が徐々に低下し、
ノードN35の電位がVPP−|Vthp|(ただし、
VthpはPチャネルMOSトランジスタのしきい値電
圧である)よりも低くなると、PチャネルMOSトラン
ジスタ34が導通してノードN34が昇圧電位VPPに
なる。ノードN34が昇圧電位VPPになると、Pチャ
ネルMOSトランジスタ35が非導通になってノードN
35が「L」レベルになり、出力信号VOが昇圧電位V
PPになる。
【0009】次に、入力信号VIが「H」レベルから
「L」レベルに立下げられると、信号φ31が「H」レ
ベルになってNチャネルMOSトランジスタ36が導通
するとともに、信号φ32が「L」レベルになってNチ
ャネルMOSトランジスタ37が非導通になる。これに
応じてノードN34の電位が徐々に低下し、ノードN3
4の電位がVPP−|Vthp|よりも低くなると、P
チャネルMOSトランジスタ35が導通してノードN3
5が昇圧電位VPPになる。トランジスタN35が昇圧
電位VPPになると、PチャネルMOSトランジスタ3
4が非導通になってノードN34が「L」レベルになる
とともに、出力信号VOが「L」レベルになる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体集積
回路装置では、低消費電力化および高速化を図るため、
低電源電圧化が進められており、DRAMにおいても低
電源電圧化が進められている。しかし、メモリセルのデ
ータの読出/書込に関連する部分については、高速動作
を維持する必要があるので低電圧化を進めることはでき
ない。このため、周辺制御回路の電圧レベルとメモリセ
ルの読出/書込に関連する部分の電圧レベルとの差が大
きくなり、信号電位変換回路の入力電圧VDDと出力電
圧VPPの差が大きくなる傾向にある。
【0011】従来の信号電位変換回路では、入力信号V
Iが「L」レベルから「H」レベルに立上げられた場合
はPチャネルMOSトランジスタ35を非導通にするた
めにノードN34をVPP−|Vthp|以上に充電す
る必要があるが、昇圧電位VPPと電源電位VDDの電
位差が大きくなるとNチャネルMOSトランジスタ35
のオフレベルVPP−|Vthp|が高くなり、ノード
N34をVPP−|Vthp|に充電するのに必要な時
間が長くなる。すなわち、従来の信号電位変換回路で
は、入力電圧VDDと出力電圧VPPの差が大きくなる
と、信号電位の変換に必要な時間が長くなるという問題
がある。
【0012】なお、PチャネルMOSトランジスタ34
のゲート幅を大きくしてPチャネルMOSトランジスタ
34の電流駆動能力を大きくすればノードN34の充電
を迅速に行なうことが可能になるが、逆にノードN34
を「L」レベルに放電する時間が長くなってしまう。し
たがって、従来の信号電位変換回路では、入力信号VI
が「L」レベルから「H」レベルに立上げられる場合と
入力信号VIが「H」レベルから「L」レベルに立下げ
られる場合との両方の場合に信号電位変換時間を短縮化
することはできなかった。
【0013】それゆえに、この発明の主たる目的は、信
号電位の変換を高速に行なうことが可能な信号電位変換
回路を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】この発明に係る信号電位
変換回路は、その一方レベルが第1の電位であり、その
他方レベルが基準電位である第1の信号を、その一方レ
ベルが第1の電位と異なる第2の電位であり、その他方
レベルが基準電位である第2の信号に変換する信号電位
変換回路であって、それぞれ第2の信号およびその相補
信号を出力するための第1および第2の出力ノードと、
第1の信号が第1の電位から基準電位に変化したことに
応じて第1の出力ノードを基準電位に放電させ、第1の
信号が基準電位から第1の電位に変化したことに応じて
第2の出力ノードを基準電位に放電させる放電回路と、
各々の一方電極がともに第2の電位のラインに接続さ
れ、各々の第2の電極がそれぞれ第1および第2の出力
ノードに接続され、各々の入力電極がそれぞれ第2およ
び第1の出力ノードに接続された第1の導電形式の第1
および第2のトランジスタを含み、第1および第2の出
力ノードのうちの電位が高い方の出力ノードを第2の電
位に充電する充電回路と、第2の電位のラインと第2の
出力ノードとの間に接続された第1の導電形式の第3の
トランジスタと、第1の信号が第1の電位から基準電位
に変化したことに応じて第3のトランジスタをパルス的
に導通させる第1の制御回路とを備えたものである。
【0015】好ましくは、第1の制御回路は、第1の信
号が基準電位であり、かつ第1の出力ノードの電位が予
め定められた第3の電位よりも高い場合に第3のトラン
ジスタを導通させる。
【0016】また好ましくは、第1の制御回路は、第2
の電位のラインと第3のトランジスタの入力電極との間
に接続された第1の抵抗素子と、その第1の電極が第3
のトランジスタの入力電極に接続され、その入力電極が
第1の出力ノードに接続され、第1の出力ノードの電位
が第3の電位よりも高い場合に導通する第2の導電形式
の第4のトランジスタと、第4のトランジスタの第2の
電極と基準電位のラインとの間に接続され、第1の信号
が基準電位の場合に導通する第2の導電形式の第5のト
ランジスタとを含む。
【0017】また好ましくは、第2のトランジスタが流
し得る電流は、放電回路が流し得る電流よりも十分小さ
く設定されている。
【0018】また好ましくは、さらに、第2の電位のラ
インと第1の出力ノードとの間に接続された第1の導電
形式の第6のトランジスタと、第1の信号が基準電位か
ら第1の電位に変化したことに応じて第6のトランジス
タをパルス的に導通させる第2の制御回路とが設けられ
る。
【0019】また好ましくは、第2の制御回路は、第1
の信号が第1の電位であり、かつ第2の出力ノードの電
位が予め定められた第3の電位よりも高い場合に第6の
トランジスタを導通させる。
【0020】また好ましくは、第2の制御回路は、第2
の電位のラインと第6のトランジスタの入力電極との間
に接続された第2の抵抗素子と、その第1の電極が第6
のトランジスタの入力電極に接続され、その入力電極が
第2の出力ノードに接続され、第2の出力ノードの電位
が第3の電位よりも高い場合に導通する第2の導電形式
の第7のトランジスタと、第7のトランジスタの第2の
電極と基準電位のラインとの間に接続され、第1の信号
が第1の電位の場合に導通する第2の導電形式の第8の
トランジスタとを含む。
【0021】また好ましくは、第1の制御回路は、第1
の信号が基準電位であり、かつ第2の出力ノードの電位
が予め定められた第3の電位よりも低い場合に第3のト
ランジスタを導通させる。
【0022】また好ましくは、第1の制御回路は、第2
の電位のラインと第3のトランジスタの入力電極との間
に接続された第1の抵抗素子と、第3のトランジスタの
入力電極と基準電位のラインとの間に接続された第2の
導電形式の第4のトランジスタと、第1の信号が基準電
位であり、かつ第2の出力ノードの電位が第3の電位よ
りも低い場合に第4のトランジスタを導通させる第1の
論理回路とを含む。
【0023】また好ましくは、さらに、第2の電位のラ
インと第1の出力ノードとの間に接続された第1の導電
形式の第5のトランジスタと、第1の信号が基準電位か
ら第1の電位に変化したことに応じて第5のトランジス
タをパルス的に導通させる第2の制御回路とが設けられ
る。
【0024】また好ましくは、第2の制御回路は、第1
の信号が第1の電位であり、かつ第1の出力ノードの電
位が予め定められた第3の電位よりも低い場合に第5の
トランジスタを導通させる。
【0025】また好ましくは、第2の制御回路は、第2
の電位のラインと第5のトランジスタの入力電極との間
に接続された第2の抵抗素子と、第5のトランジスタの
入力電極と基準電位のラインとの間に接続された第2の
導電形式の第6のトランジスタと、第1の信号が第1の
電位であり、かつ第1の出力ノードの電位が第3の電位
よりも低い場合に第6のトランジスタを導通させる第2
の論理回路とを含む。
【0026】また好ましくは、第1および第2のトラン
ジスタが流し得る電流は、放電回路が流し得る電流より
も十分小さく設定されている。
【0027】また好ましくは、放電回路は、第1の出力
ノードと基準電位のラインとの間に接続され、第1の信
号が基準電位にされたことに応じて導通する第2の導電
形式の第9のトランジスタと、第2の出力ノードと基準
電位のラインとの間に接続され、第1の信号が第1の電
位にされたことに応じて導通する第2の導電形式の第1
0のトランジスタとを含む。
【0028】また好ましくは、放電回路は、第1の出力
ノードと基準電位のラインとの間に接続され、第1の信
号が基準電位にされたことに応じて導通する第2の導電
形式の第9のトランジスタと、その第1の電極が第2の
出力ノードに接続され、その第2の電極が第1の信号の
相補信号を受け、その入力電極が第1の電位を受け、第
1の信号が第1の電位になったことに応じて導通する第
2の導電形式の第10のトランジスタとを含む。
【0029】
【発明の実施の形態】[実施の形態1]図1は、この発
明の実施の形態1によるDRAMの信号電位変換回路の
構成を示す回路図である。図1において、この信号電位
変換回路は、インバータ1〜3、PチャネルMOSトラ
ンジスタ4〜7およびNチャネルMOSトランジスタ9
〜11を含む。PチャネルMOSトランジスタ4,6の
ゲート長は他のMOSトランジスタ5,7,8〜11の
ゲート長よりも長く設定されており、PチャネルMOS
トランジスタ4,6の電流駆動力は他のMOSトランジ
スタ5,7,8〜11の電流駆動力の10分の1程度に
なっている。
【0030】PチャネルMOSトランジスタ6,7は、
それぞれ昇圧電位VPPのラインとノードN6,N7と
の間に接続され、各々のゲートはそれぞれノードN7,
N6に接続される。NチャネルMOSトランジスタ1
0,11は、それぞれノードN6,N7と接地電位GN
Dのラインとの間に接続される。PチャネルMOSトラ
ンジスタ4,5は、それぞれ昇圧電位VPPのラインと
ノードN4,N6との間に接続され、各々のゲートはそ
れぞれ接地電位GNDのラインおよびノードN4に接続
される。PチャネルMOSトランジスタ4は、抵抗素子
を構成する。NチャネルMOSトランジスタ8,9は、
ノードN4と接地電位GNDのラインとの間に直列接続
される。入力信号VIは、インバータ1を介してNチャ
ネルMOSトランジスタ10のゲートに入力されるとと
もに、インバータ1,2を介してNチャネルMOSトラ
ンジスタ9,11のゲートに入力される。ノードN7に
現われる信号は、NチャネルMOSトランジスタ8のゲ
ートに入力されるとともに、インバータ3で反転されて
出力信号VOとなる。
【0031】インバータ1,2の各々は、電源電位VD
Dのラインと接地電位GNDのラインとの間に直列接続
されたPチャネルMOSトランジスタおよびNチャネル
MOSトランジスタを含み、「H」レベルの信号が入力
されたことに応じて「L」レベルの信号を出力し、
「L」レベルの信号が入力されたことに応じて「H」レ
ベルの信号を出力する。
【0032】インバータ3は、昇圧電位VPPのライン
と接地電位GNDのラインとの間に直列接続されたPチ
ャネルMOSトランジスタおよびNチャネルMOSトラ
ンジスタを含み、昇圧電位VPPの信号が入力されたこ
とに応じて「L」レベルの信号を出力し、「L」レベル
の信号が入力されたことに応じて昇圧電位VPPの信号
を出力する。
【0033】図2は、図1に示した信号電位変換回路の
動作を示すタイムチャートである。初期状態では、入力
信号VI、インバータ2の出力信号φ2、ノードN6お
よび出力信号VOはともに「L」レベルになっており、
インバータ1の出力信号φ1は「H」レベルになり、ノ
ードN4,N7はともに昇圧電位VPPになっている。
このとき、MOSトランジスタ7,8,10は導通し、
MOSトランジスタ5,6,9,11は非導通になって
いる。
【0034】ある時刻において入力信号VIが「L」レ
ベルから「H」レベルに立上げられると、信号φ1が
「L」レベルになってNチャネルMOSトランジスタ1
0が非導通になるとともに、信号φ2が「H」レベルに
なってNチャネルMOSトランジスタ9,11が導通す
る。これに応じてノードN7の電位が徐々に低下する
が、NチャネルMOSトランジスタ8はノードN7の電
位がVthn(ただし、VthnはNチャネルMOSト
ランジスタのしきい値電圧である)よりも低くなるまで
非導通にならない。このためN4の電位は昇圧電位VP
Pから「L」レベルに立下げられ、PチャネルMOSト
ランジスタ5が導通してノードN6が昇圧電位VPPに
充電される。このとき、ノードN4の電位はノードN7
の電位よりも早く立下がるので、ノードN35(ノード
N7に相当する)の電位が「L」レベルになったことに
応じてノードN34(ノードN6に相当する)を充電し
ていた従来に比べ、ノードN6(ノードN34に相当す
る)を迅速に充電することができる。
【0035】ノードN6が昇圧電位VPPになると、P
チャネルMOSトランジスタ7が非導通になってノード
N7が「L」レベルになり、出力信号VOが昇圧電位V
PPになる。また、ノードN6が昇圧電位VPPになる
とNチャネルMOSトランジスタ8が非導通になってノ
ードN4が昇圧電位VPPに充電され、PチャネルMO
Sトランジスタ5が非導通になる。
【0036】次に、入力信号VIが「H」レベルから
「L」レベルに立下げられると、信号φ1が「H」レベ
ルになってNチャネルMOSトランジスタ10が導通す
るとともに、信号φ2が「L」レベルになってNチャネ
ルMOSトランジスタ9,11が非導通になる。このと
き、PチャネルMOSトランジスタ6の電流駆動力がN
チャネルMOSトランジスタ10の電流駆動力の10分
の1程度に設定されているので、PチャネルMOSトラ
ンジスタ34とNチャネルMOSトランジスタ36の電
流駆動力が同程度に設定されていた従来に比べ、ノード
N6(ノードN34に相当する)の電位を迅速に「L」
レベルに立下げることができる。
【0037】ノードN6の電位が「L」レベルになる
と、PチャネルMOSトランジスタ7が導通し、ノード
N7が昇圧電位VPPに充電され、出力信号VOが
「L」レベルになる。なお、ノードN7の電位が昇圧電
位VPPになるとNチャネルMOSトランジスタ8が導
通するが、NチャネルMOSトランジスタ9が非導通に
なっているのでノードN4は昇圧電位VPPに保持さ
れ、PチャネルMOSトランジスタ5が非導通状態に保
持される。
【0038】この実施の形態1では、入力信号VIが
「L」レベルから「H」レベルに立上げられた場合は、
PチャネルMOSトランジスタ5をパルス的に導通させ
るので、ノードN6を迅速に充電することができる。ま
た、入力信号VIが「H」レベルから「L」レベルに立
下げられた場合は、PチャネルMOSトランジスタ6の
電流駆動力を小さく設定したので、ノードN6を迅速に
放電することができる。したがって、入力信号VIが
「L」レベルから「H」レベルに遷移する場合および入
力信号VIが「H」レベルから「L」レベルに遷移する
場合のいずれの場合も、PチャネルMOSトランジスタ
7を高速に制御することができ、信号電位の変換を迅速
に行なうことができる。
【0039】なお、この実施の形態1では、Nチャネル
MOSトランジスタ10のゲートに信号φ1を与えると
ともにそのソースを接地したが、図3に示すように、N
チャネルMOSトランジスタ10のゲートに電源電位V
DDを与えるとともにそのソースに信号φ2を与えても
よい。この場合は、図4に示すように、信号φ2によっ
てノードN6をVDD−Vthnまで直接昇圧すること
ができる。
【0040】また、図5に示すように、PチャネルMO
Sトランジスタ4を抵抗素子12で置換してもよい。抵
抗素子12は、ポリシリコン層によって構成してもよい
し、拡散層によって構成してもよい。
【0041】[実施の形態2]図6は、この発明の実施
の形態2によるDRAMの信号電位変換回路の構成を示
す回路図である。図6を参照して、この信号電位変換回
路が図1の信号電位変換回路と異なる点は、Pチャネル
MOSトランジスタ6がPチャネルMOSトランジスタ
16で置換され、PチャネルMOSトランジスタ14,
15およびNチャネルMOSトランジスタ18,19が
追加されている点である。PチャネルMOSトランジス
タ14,16のゲート長はそれぞれPチャネルMOSト
ランジスタ4,7のゲート長と同程度に設定されてお
り、PチャネルMOSトランジスタ4,14の電流駆動
力は他のMOSトランジスタ5,7〜11,15,1
6,18,19の電流駆動力の10分の1程度になって
いる。
【0042】PチャネルMOSトランジスタ16は、昇
圧電位VPPのラインとノードN6との間に接続され、
そのゲートはノードN7に接続される。PチャネルMO
Sトランジスタ14,15は、それぞれ昇圧電位VPP
のラインとノードN14,N7との間に接続され、各々
のゲートはそれぞれ接地電位GNDのラインおよびノー
ドN14に接続される。PチャネルMOSトランジスタ
14は、抵抗素子を構成する。NチャネルMOSトラン
ジスタ18,19は、ノードN14と接地電位GNDの
ラインとの間に直列接続される。NチャネルMOSトラ
ンジスタ18のゲートはノードN6に接続され、Nチャ
ネルMOSトランジスタ19のゲートは信号φ1を受け
る。
【0043】図7は、図6で示した信号電位変換回路の
動作を示すタイムチャートである。初期状態では、入力
信号VI、信号φ2、ノードN6および出力信号VOは
ともに「L」レベルになっており、信号φ1は「H」レ
ベルになり、ノードN4,N7,N14はともに昇圧電
位VPPになっている。このとき、MOSトランジスタ
7,8,10,19は導通し、MOSトランジスタ5,
9,11,15,16は非導通になっている。
【0044】ある時刻において入力信号VIが「L」レ
ベルから「H」レベルに立上げられると、信号φ1が
「L」レベルになってNチャネルMOSトランジスタ1
0,19が非導通になるとともに、信号φ2が「H」レ
ベルになってNチャネルMOSトランジスタ9,11が
導通する。これに応じてノードN7の電位が徐々に低下
するが、NチャネルMOSトランジスタ8はノードN7
の電位がVthnよりも低くなるまで非導通にならな
い。このためノードN4の電位は昇圧電位VPPから
「L」レベルに立下げられ、PチャネルMOSトランジ
スタ5が導通してノードN6が昇圧電位VPPに充電さ
れる。
【0045】ノードN6が昇圧電位VPPに充電される
と、PチャネルMOSトランジスタ7が非導通になって
ノードN7が「L」レベルになり、出力信号VOが昇圧
電位VPPになる。また、ノードN6が昇圧電位VPP
に充電されると、NチャネルMOSトランジスタ18が
導通するとともにNチャネルMOSトランジスタ8が非
導通になり、ノードN4が昇圧電位VPPに充電されて
PチャネルMOSトランジスタ5が非導通になる。
【0046】次に、入力信号VIが「H」レベルから
「L」レベルに立下げられると、信号φ1が「H」レベ
ルになってNチャネルMOSトランジスタ10,19が
導通するとともに、信号φ2が「L」レベルになってN
チャネルMOSトランジスタ9,11が非導通になる。
これに応じてノードN6の電位が徐々に低下するが、N
チャネルMOSトランジスタ18はノードN6の電位が
Vthnよりも低くなるまで非導通にならない。このた
め、ノードN14の電位が昇圧電位VPPから「L」レ
ベルに立下げられ、PチャネルMOSトランジスタ15
が導通してノードN7が昇圧電位VPPに充電され、出
力信号VOが「L」レベルになる。また、ノードN7が
昇圧電位VPPに充電されると、PチャネルMOSトラ
ンジスタ16が非導通になってノードN6が「L」レベ
ルになり、NチャネルMOSトランジスタ18が非導通
になってノードN14が昇圧電位VPPに充電され、P
チャネルMOSトランジスタ15が非導通になる。
【0047】この実施の形態2では、入力信号VIが
「L」レベルから「H」レベルに遷移する場合はPチャ
ネルMOSトランジスタ5をパルス的に導通させ、入力
信号VIが「H」レベルから「L」レベルに遷移する場
合はPチャネルMOSトランジスタ15をパルス的に導
通させるので、ノードN6,N7の充放電を迅速に行な
うことができ、信号電位の変換を迅速に行なうことがで
きる。また、入力信号VIが「L」レベルから「H」レ
ベルに遷移してから出力信号VOが「L」レベルから昇
圧電位VPPに遷移するまでの時間と入力信号VIが
「H」レベルから「L」レベルに遷移してから出力信号
VOが昇圧電位VPPから「L」レベルに遷移するまで
の時間とを等しくすることができる。
【0048】[実施の形態3]図8は、この発明の実施
の形態3によるDRAMの信号電位変換回路の構成を示
す回路図である。図8を参照して、この信号電位変換回
路が図1の信号電位変換回路と異なる点は、Nチャネル
MOSトランジスタ9が除去され、PチャネルMOSト
ランジスタ7がPチャネルMOSトランジスタ27で置
換され、NORゲート21,22、PチャネルMOSト
ランジスタ24,25およびNチャネルMOSトランジ
スタ28が追加されている点である。PチャネルMOS
トランジスタ27,24のゲート長はそれぞれPチャネ
ルMOSトランジスタ6,4のゲート長と同程度に設定
されており、PチャネルMOSトランジスタ4,6,2
4,27の電流駆動力はMOSトランジスタ5,8,1
0,11,25,28の電流駆動力の10分の1程度に
なっている。
【0049】NチャネルMOSトランジスタ8のソース
は、直接接地される。PチャネルMOSトランジスタ2
7は、昇圧電位VPPのラインとノードN7との間に接
続され、そのゲートはノードN6に接続される。Pチャ
ネルMOSトランジスタ24,25は、それぞれ昇圧電
位VPPのラインとノードN14,N7との間に接続さ
れ、各々のゲートはそれぞれ接地電位GNDのラインお
よびノードN14に接続される。NチャネルMOSトラ
ンジスタ24は、抵抗素子を構成する。NチャネルMO
Sトランジスタ28は、ノードN14と接地電位GND
のラインとの間に接続される。NORゲート21は、信
号φ1とノードN6に現われる信号とを受け、その出力
信号はNチャネルMOSトランジスタ8のゲートに入力
される。NORゲート22は、信号φ2とノードN7に
現われる信号とを受け、その出力信号はNチャネルMO
Sトランジスタ28のゲートに入力される。
【0050】図9は、図8に示した信号電位変換回路の
動作を示すタイムチャートである。初期状態では、入力
信号VI、信号φ2、ノードN6および出力信号VOは
ともに「L」レベルになっており、信号φ1は「H」レ
ベルになり、ノードN4,N7,N14はともに昇圧電
位VPPになっている。このとき、MOSトランジスタ
10,27は導通し、MOSトランジスタ5,6,8,
11,25,28は非導通になっている。
【0051】ある時刻において入力信号VIが「L」レ
ベルから「H」レベルに立上げられると、信号φ1が
「L」レベルになって信号φ2が「H」レベルになり、
NチャネルMOSトランジスタ11が導通してノードN
7が「L」レベルになり、出力信号VOは昇圧電位VP
Pになる。このとき、PチャネルMOSトランジスタ2
7の電流駆動力はPチャネルMOSトランジスタ11の
10分の1程度に設定されているので、ノードN7は迅
速に「L」レベルに立下がる。
【0052】一方、信号φ1が「L」レベルになるとN
チャネルMOSトランジスタ10が非導通になるが、P
チャネルMOSトランジスタ6の電流駆動力が小さいの
で、ノードN6の電位の上昇は遅い。このためにNOR
ゲート21の出力信号が「H」レベルになってNチャネ
ルMOSトランジスタ8が導通し、ノードN4が「L」
レベルになってPチャネルMOSトランジスタ5が導通
し、ノードN6が昇圧電位VPPに迅速に充電される。
ノードN6が昇圧電位VPPに充電されると、Pチャネ
ルMOSトランジスタ27が非導通になるとともに、N
ORゲート21の出力信号が「L」レベルになってNチ
ャネルMOSトランジスタ8が非導通になり、ノードN
4が昇圧電位VPPになってPチャネルMOSトランジ
スタ5が非導通になる。
【0053】次に、入力信号VIが「H」レベルから
「L」レベルに立下げられると、信号φ1が「H」レベ
ルになってNチャネルMOSトランジスタ10が導通す
るとともに、信号φ2が「L」レベルになってNチャネ
ルMOSトランジスタ11が非導通になる。このとき、
PチャネルMOSトランジスタ6,27の電流駆動力が
小さいので、ノードN6は迅速に「L」レベルになるが
ノードN7の電位の上昇は遅い。このためNORゲート
22の出力信号が「H」レベルになってNチャネルMO
Sトランジスタ28が導通し、ノードN14が「L」レ
ベルになってPチャネルMOSトランジスタ25が導通
し、ノードN7が迅速に充電される。ノードN7が昇圧
電位VPPに充電されると、出力信号VOが「L」レベ
ルになるとともに、NORゲート22の出力信号が
「L」レベルになってNチャネルMOSトランジスタ2
8が非導通になり、ノードN14が昇圧電位VPPにな
ってPチャネルMOSトランジスタ25が非導通にな
る。
【0054】この実施の形態3では、入力信号VIが
「L」レベルから「H」レベルに立下げられた場合は、
PチャネルMOSトランジスタ27の電流駆動力を小さ
く設定したので、ノードN7を迅速に放電することがで
きる。また、入力信号VIが「H」レベルから「L」レ
ベルに立上げられた場合は、PチャネルMOSトランジ
スタ25をパルス的に導通させるので、ノードN7を迅
速に充電することができる。したがって、入力信号VI
が「L」レベルから「H」レベルに遷移する場合および
入力信号VIが「H」レベルから「L」レベルに遷移す
る場合のいずれの場合も、信号電位の変換を迅速に行な
うことができる。
【0055】今回開示された実施の形態はすべての点で
例示であって制限的なものではないと考えられるべきで
ある。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求
の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味お
よび範囲内でのすべての変更が含まれることが意図され
る。
【0056】
【発明の効果】以上のように、この発明に係る信号電位
変換回路では、第1の信号が第1の電位から基準電位に
変化したことに応じて第2の信号を出力するための第1
の出力ノードを基準電位に放電させ、第1の信号が基準
電位から第1の電位に変化したことに応じて第2の信号
の相補信号を出力するための第2の出力ノードを基準電
位に放電させる放電回路と、各々の第1の電極がともに
第2の電位のラインに接続され、各々の第2の電極がそ
れぞれ第1および第2の出力ノードに接続され、各々の
入力電極がそれぞれ第2および第1の出力ノードに接続
された第1の導電形式の第1および第2のトランジスタ
を含み、第1および第2の出力ノードのうちの電位が高
い方の出力ノードを第2の電位に充電する充電回路と、
第2の電位のラインと第2の出力ノードとの間に接続さ
れた第1の導電形式の第3のトランジスタと、第1の信
号が第1の電位から基準電位に変化したことに応じて第
3のトランジスタをパルス的に導通させる第1の制御回
路とが設けられる。したがって、第1の信号が第1の電
位から基準電位に変化した場合は、第3のトランジスタ
がパルス的に導通するので、第2の出力ノードを迅速に
充電させることができる。また、第1の信号が基準電位
から第1の電位に変化した場合は、第3のトランジスタ
は導通しないので、第2の出力ノードを迅速に放電させ
ることができる。したがって、第2のトランジスタを迅
速に制御することができ、信号電位の変換を迅速に行な
うことができる。
【0057】好ましくは、第1の制御回路は、第1の信
号が基準電位であり、かつ第1の出力ノードの電位が予
め定められた第3の電位よりも高い場合に第3のトラン
ジスタを導通させる。この場合は、第1の信号が基準電
位になったが、第1の出力ノードの電位がまだ第3の電
位よりも高い場合に第3のトランジスタが導通する。
【0058】また好ましくは、第1の制御回路は、第2
の電位のラインと第3のトランジスタの入力電極との間
に接続された第1の抵抗素子と、その第1の電極が第3
のトランジスタの入力電極に接続され、その入力電極が
第1の出力ノードに接続され、第1の出力ノードの電位
が第3の電位よりも高い場合に導通する第2の導電形式
の第4のトランジスタと、第4のトランジスタの第2の
電極と基準電位のラインとの間に接続され、第1の信号
が基準電位の場合に導通する第2の導電形式の第5のト
ランジスタとを含む。この場合は、第1の信号が基準電
位であり、かつ第1の出力ノードの電位が第3の電位よ
りも高い場合に第4および第5のトランジスタが導通
し、第3のトランジスタの入力電極が基準電位になって
第3のトランジスタが導通する。
【0059】また好ましくは、第2のトランジスタが流
し得る電流は、放電回路が流し得る電流よりも十分小さ
く設定されている。この場合は、第1の信号が基準電位
から第1の電位に変化した場合に第2の出力ノードを一
層迅速に放電させることができる。
【0060】また好ましくは、さらに、第2の電位のラ
インと第1の出力ノードとの間に接続された第1の導電
形式の第6のトランジスタと、第1の信号が基準電位か
ら第1の電位に変化したことに応じて第6のトランジス
タをパルス的に導通させる第2の制御回路とが設けられ
る。この場合は、第1の信号が基準電位から第1の電位
に変化した場合は、第6のトランジスタがパルス的に導
通するので、第1の出力ノードを迅速に充電させること
ができる。また、第1の信号が第1の電位から基準電位
に変化した場合は、第6のトランジスタは導通しないの
で、第1の出力ノードを迅速に放電させることができ
る。したがって、第2のトランジスタを迅速に制御する
ことができ、信号電位の変換を一層迅速に行なうことが
できる。
【0061】また好ましくは、第2の制御回路は、第1
の信号が第1の電位であり、かつ第2の出力ノードの電
位が予め定められた第3の電位よりも高い場合に第6の
トランジスタを導通させる。この場合は、第2の出力ノ
ードの電位が第3の電位と第2の電位との間にある場合
に第6のトランジスタが導通する。
【0062】また好ましくは、第2の制御回路は、第2
の電位のラインと第6のトランジスタの入力電極との間
に接続された第2の抵抗素子と、その第1の電極が第6
のトランジスタの入力電極に接続され、その入力電極が
第2の出力ノードに接続され、第2の出力ノードの電位
が第3の電位よりも高い場合に導通する第2の導電形式
の第7のトランジスタと、第7のトランジスタの第2の
電極と基準電位のラインとの間に接続され、第1の信号
が第1の電位の場合に導通する第2の導電形式の第8の
トランジスタとを含む。この場合は、第1の信号が第1
の電位であり、かつ第2に出力ノードの電位が第3の電
位よりも高い場合に第7および第8のトランジスタが導
通し、第6のトランジスタの入力電極が基準電位になっ
て第6のトランジスタが導通する。
【0063】また好ましくは、第1の制御回路は、第1
の信号が基準電位であり、かつ第2の出力ノードの電位
が予め定められた第3の電位よりも低い場合に第3のト
ランジスタを導通させる。この場合は、第1の信号が基
準電位になったが、第2の出力ノードの電位がまだ第3
の電位よりも低い場合に第3のトランジスタが導通す
る。
【0064】また好ましくは、第1の制御回路は、第2
の電位のラインと第3のトランジスタの入力電極との間
に接続された第1の抵抗素子と、第3のトランジスタの
入力電極と基準電位のラインとの間に接続された第2の
導電形式の第4のトランジスタと、第1の信号が基準電
位であり、かつ第2の出力ノードの電位が第3の電位よ
りも低い場合に第4のトランジスタを導通させる第1の
論理回路とを含む。この場合は、第1の信号が基準電位
であり、かつ第2の出力ノードの電位が第3の電位より
も低い場合に第4のトランジスタが導通し、第3のトラ
ンジスタの入力電極が基準電位になって第3のトランジ
スタが導通する。
【0065】また好ましくは、さらに、第2の電位のラ
インと第1の出力ノードとの間に接続された第1の導電
形式の第5のトランジスタと、第1の信号が基準電位か
ら第1の電位に変化したことに応じて第5のトランジス
タをパルス的に導通させる第2の制御回路とが設けられ
る。この場合は、第1の信号が基準電位から第1の電位
に変化した場合は、第5のトランジスタがパルス的に導
通するので、第1の出力ノードを迅速に充電させること
ができる。また、第1の信号が第1の電位から基準電位
に変化した場合は、第5のトランジスタは導通しないの
で、第1の出力ノードを迅速に放電させることができ
る。したがって、第2のトランジスタを高速に制御する
ことができ、信号電位の変換を一層迅速に行なうことが
できる。
【0066】また好ましくは、第2の制御回路は、第1
の信号が第1の電位であり、かつ第1の出力ノードの電
位が予め定められた第3の電位よりも低い場合に第5の
トランジスタを導通させる。この場合は、第1の信号が
第1の電位になったが、第1の出力ノードの電位がまだ
第3の電位よりも低い場合に第5のトランジスタが導通
する。
【0067】また好ましくは、第2の制御回路は、第2
の電位のラインと第5のトランジスタの入力電極との間
に接続された第2の抵抗素子と、第5のトランジスタの
入力電極と基準電位のラインとの間に接続された第2の
導電形式の第6のトランジスタと、第1の信号が第1の
電位であり、かつ第1の出力ノードの電位が第3の電位
よりも低い場合に第6のトランジスタを導通させる第2
の論理回路とを含む。この場合は、第1の信号は第1の
電位であり、かつ第1の出力ノードの電位が第3の電位
よりも低い場合に第6のトランジスタが導通し、第5の
トランジスタの入力電極が基準電位になって第5のトラ
ンジスタが導通する。
【0068】また好ましくは、第1および第2のトラン
ジスタの各々が流し得る電流は、放電回路が流し得る電
流よりも十分小さく設定されている。この場合は、第1
および第2の出力ノードの放電を一層迅速に行なうこと
ができる。
【0069】また好ましくは、放電回路は、第1の出力
ノードと基準電位のラインとの間に接続され、第1の信
号が基準電位にされたことに応じて導通する第2の導電
形式の第9のトランジスタと、第2の出力ノードと基準
電位のラインとの間に接続され、第1の信号が第1の電
位にされたことに応じて導通する第2の導電形式の第1
0のトランジスタとを含む。この場合は、放電回路を容
易に構成できる。
【0070】また好ましくは、放電回路は、第1の出力
ノードと基準電位のラインとの間に接続され、第1の信
号が基準電位にされたことに応じて導通する第2の導電
形式の第9のトランジスタと、その第1の電極が第2の
出力ノードに接続され、その第2の電極が第1の信号の
相補信号を受け、その入力電極が第1の電位を受け、第
1の信号が第1の電位になったことに応じて導通する第
2の導電形式の第10のトランジスタとを含む。この場
合は、第1の信号の相補信号を第2に出力ノードに伝達
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるDRAMの信
号電位変換回路の構成を示す回路図である。
【図2】 図1に示した信号電位変換回路の動作を示す
タイムチャートである。
【図3】 実施の形態1の変更例を示す回路図である。
【図4】 図3に示した信号電位変換回路の動作を示す
タイムチャートである。
【図5】 実施の形態1の他の変更例を示す回路図であ
る。
【図6】 この発明の実施の形態2によるDRAMの信
号電位変換回路の構成を示す回路図である。
【図7】 図6に示した信号電位変換回路の動作を示す
タイムチャートである。
【図8】 この発明の実施の形態3によるDRAMの信
号電位変換回路の構成を示す回路図である。
【図9】 図8に示した信号電位変換回路の動作を示す
タイムチャートである。
【図10】 従来の信号電位変換回路の構成を示す回路
図である。
【図11】 図10に示した信号電位変換回路の動作を
示すタイムチャートである。
【符号の説明】
1〜3,31〜33 インバータ、4〜7,14〜1
6,24,25,27,34,35 PチャネルMOS
トランジスタ、8〜11,18,19,28,36,3
7 NチャネルMOSトランジスタ、12 抵抗素子、
21,22 NORゲート。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大石 司 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 5J056 AA11 AA32 BB04 BB06 BB17 CC21 DD28 EE08 FF08 GG09

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 その一方レベルが第1の電位であり、そ
    の他方レベルが基準電位である第1の信号を、その一方
    レベルが前記第1の電位と異なる第2の電位であり、そ
    の他方レベルが前記基準電位である第2の信号に変換す
    る信号電位変換回路であって、 それぞれ前記第2の信号およびその相補信号を出力する
    ための第1および第2の出力ノード、 前記第1の信号が前記第1の電位から前記基準電位に変
    化したことに応じて前記第1の出力ノードを前記基準電
    位に放電させ、前記第1の信号が前記基準電位から前記
    第1の電位に変化したことに応じて前記第2の出力ノー
    ドを前記基準電位に放電させる放電回路、 各々の第1の電極がともに前記第2の電位のラインに接
    続され、各々の第2の電極がそれぞれ前記第1および第
    2の出力ノードに接続され、各々の入力電極がそれぞれ
    前記第2および第1の出力ノードに接続された第1の導
    電形式の第1および第2のトランジスタを含み、前記第
    1および第2の出力ノードのうちの電位が高い方の出力
    ノードを前記第2の電位に充電する充電回路、 前記第2の電位のラインと前記第2の出力ノードとの間
    に接続された第1の導電形式の第3のトランジスタ、お
    よび前記第1の信号が前記第1の電位から前記基準電位
    に変化したことに応じて前記第3のトランジスタをパル
    ス的に導通させる第1の制御回路を備える、信号電位変
    換回路。
  2. 【請求項2】 前記第1の制御回路は、前記第1の信号
    が前記基準電位であり、かつ前記第1の出力ノードの電
    位が予め定められた第3の電位よりも高い場合に前記第
    3のトランジスタを導通させる、請求項1に記載の信号
    電位変換回路。
  3. 【請求項3】 前記第1の制御回路は、 前記第2の電位のラインと前記第3のトランジスタの入
    力電極との間に接続された第1の抵抗素子、 その第1の電極が前記第3のトランジスタの入力電極に
    接続され、その入力電極が前記第1の出力ノードに接続
    され、前記第1の出力ノードの電位が前記第3の電位よ
    りも高い場合に導通する第2の導電形式の第4のトラン
    ジスタ、および前記第4のトランジスタの第2の電極と
    前記基準電位のラインとの間に接続され、前記第1の信
    号が前記基準電位の場合に導通する第2の導電形式の第
    5のトランジスタを含む、請求項2に記載の信号電位変
    換回路。
  4. 【請求項4】 前記第2のトランジスタが流し得る電流
    は、前記放電回路が流し得る電流よりも十分小さく設定
    されている、請求項1から請求項3のいずれかに記載の
    信号電位変換回路。
  5. 【請求項5】 さらに、前記第2の電位のラインと前記
    第1の出力ノードとの間に接続された第1の導電形式の
    第6のトランジスタ、および前記第1の信号が前記基準
    電位から前記第1の電位に変化したことに応じて前記第
    6のトランジスタをパルス的に導通させる第2の制御回
    路を備える、請求項1から請求項3のいずれかに記載の
    信号電位変換回路。
  6. 【請求項6】 前記第2の制御回路は、前記第1の信号
    が前記第1の電位であり、かつ前記第2の出力ノードの
    電位が予め定められた第3の電位よりも高い場合に前記
    第6のトランジスタを導通させる、請求項5に記載の信
    号電位変換回路。
  7. 【請求項7】 前記第2の制御回路は、 前記第2の電位のラインと前記第6のトランジスタの入
    力電極との間に接続された第2の抵抗素子、 その第1の電極が前記第6のトランジスタの入力電極に
    接続され、その入力電極が前記第2の出力ノードに接続
    され、前記第2の出力ノードの電位が前記第3の電位よ
    りも高い場合に導通する第2の導電形式の第7のトラン
    ジスタ、および前記第7のトランジスタの第2の電極と
    前記基準電位のラインとの間に接続され、前記第1の信
    号が前記第1の電位の場合に導通する第2の導電形式の
    第8のトランジスタを含む、請求項6に記載の信号電位
    変換回路。
  8. 【請求項8】 前記第1の制御回路は、前記第1の信号
    が前記基準電位であり、かつ前記第2の出力ノードの電
    位が予め定められた第3の電位よりも低い場合に前記第
    3のトランジスタを導通させる、請求項1に記載の信号
    電位変換回路。
  9. 【請求項9】 前記第1の制御回路は、 前記第2の電位のラインと前記第3のトランジスタの入
    力電極との間に接続された第1の抵抗素子、 前記第3のトランジスタの入力電極と前記基準電位のラ
    インとの間に接続された第2の導電形式の第4のトラン
    ジスタ、および前記第1の信号が前記基準電位であり、
    かつ前記第2の出力ノードの電位が前記第3の電位より
    も低い場合に前記第4のトランジスタを導通させる第1
    の論理回路を含む、請求項8に記載の信号電位変換回
    路。
  10. 【請求項10】 さらに、前記第2の電位のラインと前
    記第1の出力ノードとの間に接続された第1の導電形式
    の第5のトランジスタ、および前記第1の信号が前記基
    準電位から前記第1の電位に変化したことに応じて前記
    第5のトランジスタをパルス的に導通させる第2の制御
    回路を備える、請求項8または請求項9に記載の信号電
    位変換回路。
  11. 【請求項11】 前記第2の制御回路は、前記第1の信
    号が前記第1の電位であり、かつ前記第1の出力ノード
    の電位が予め定められた第3の電位よりも低い場合に前
    記第5のトランジスタを導通させる、請求項10に記載
    の信号電位変換回路。
  12. 【請求項12】 前記第2の制御回路は、 前記第2の電位のラインと前記第5のトランジスタの入
    力電極との間に接続された第2の抵抗素子、 前記第5のトランジスタの入力電極と前記基準電位のラ
    インとの間に接続された第2の導電形式の第6のトラン
    ジスタ、および前記第1の信号が前記第1の電位であ
    り、かつ前記第1の出力ノードの電位が前記第3の電位
    よりも低い場合に前記第6のトランジスタを導通させる
    第2の論理回路を含む、請求項11に記載の信号電位変
    換回路。
  13. 【請求項13】 前記第1および第2のトランジスタが
    流し得る電流は、前記放電回路が流し得る電流よりも十
    分小さく設定されている、請求項10から請求項12の
    いずれかに記載の信号電位変換回路。
  14. 【請求項14】 前記放電回路は、 前記第1の出力ノードと前記基準電位のラインとの間に
    接続され、前記第1の信号が前記基準電位にされたこと
    に応じて導通する第2の導電形式の第9のトランジス
    タ、および前記第2の出力ノードと前記基準電位のライ
    ンとの間に接続され、前記第1の信号が前記第1の電位
    にされたことに応じて導通する第2の導電形式の第10
    のトランジスタを含む、請求項1から請求項13のいず
    れかに記載の信号電位変換回路。
  15. 【請求項15】 前記放電回路は、 前記第1の出力ノードと前記基準電位のラインとの間に
    接続され、前記第1の信号が前記基準電位にされたこと
    に応じて導通する第2の導電形式の第9のトランジス
    タ、およびその第1の電極が前記第2の出力ノードに接
    続され、その第2の電極が前記第1の信号の相補信号を
    受け、その入力電極が前記第1の電位を受け、前記第1
    の信号が前記第1の電位になったことに応じて導通する
    第2の導電形式の第10のトランジスタを含む、請求項
    1から請求項13のいずれかに記載の信号電位変換回
    路。
JP2000157618A 2000-05-29 2000-05-29 信号電位変換回路 Pending JP2001339290A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000157618A JP2001339290A (ja) 2000-05-29 2000-05-29 信号電位変換回路
US09/793,997 US6373315B2 (en) 2000-05-29 2001-02-28 Signal potential conversion circuit
KR10-2001-0025808A KR100419816B1 (ko) 2000-05-29 2001-05-11 신호 전위 변환 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000157618A JP2001339290A (ja) 2000-05-29 2000-05-29 信号電位変換回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001339290A true JP2001339290A (ja) 2001-12-07

Family

ID=18662219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000157618A Pending JP2001339290A (ja) 2000-05-29 2000-05-29 信号電位変換回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6373315B2 (ja)
JP (1) JP2001339290A (ja)
KR (1) KR100419816B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003103144A1 (ja) * 2002-05-30 2003-12-11 ソニー株式会社 レベルシフト回路、表示装置および携帯端末

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6734705B2 (en) * 2001-08-29 2004-05-11 Texas Instruments Incorporated Technique for improving propagation delay of low voltage to high voltage level shifters
GB2390239B (en) * 2002-06-25 2006-11-08 Micron Technology Inc Voltage level shifting circuit with improved switching speed
JP4063047B2 (ja) * 2002-10-30 2008-03-19 松下電器産業株式会社 レベルシフト回路
AU2003280645A1 (en) * 2002-10-31 2004-05-25 Nec Corporation Level converting circuit
US7282981B2 (en) * 2002-11-06 2007-10-16 Nec Corporation Level conversion circuit with improved margin of level shift operation and level shifting delays
US6819159B1 (en) * 2003-04-29 2004-11-16 International Business Machines Corporation Level shifter circuit
KR100528480B1 (ko) * 2003-12-09 2005-11-15 삼성전자주식회사 반도체장치의 전기적 퓨즈 회로
US7205820B1 (en) * 2004-07-08 2007-04-17 Pmc-Sierra, Inc. Systems and methods for translation of signal levels across voltage domains
US7151400B2 (en) * 2004-07-13 2006-12-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Boost-biased level shifter
US7038492B2 (en) * 2004-08-06 2006-05-02 Faraday Technology Corp. Programmable level shifter for wide range operation purpose
JP2006121654A (ja) * 2004-09-21 2006-05-11 Renesas Technology Corp レベル変換回路
US20070164789A1 (en) * 2006-01-17 2007-07-19 Cypress Semiconductor Corp. High Speed Level Shift Circuit with Reduced Skew and Method for Level Shifting
FR2935208B1 (fr) * 2008-08-19 2010-08-13 St Microelectronics Sa Circuit translateur de niveau
US8102199B2 (en) * 2008-11-18 2012-01-24 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Ultra-low voltage level shifting circuit
US8018251B1 (en) 2010-06-01 2011-09-13 Pmc-Sierra, Inc. Input/output interfacing with low power
US8446173B1 (en) 2010-11-03 2013-05-21 Pmc-Sierra, Inc. Scalable high-swing transmitter with rise and/or fall time mismatch compensation
CN101969305B (zh) * 2010-11-09 2012-09-05 威盛电子股份有限公司 电位转换电路
TWI403090B (zh) * 2010-11-19 2013-07-21 Via Tech Inc 電位轉換電路
WO2013085520A1 (en) * 2011-12-08 2013-06-13 Intel Corporation Voltage compensated level-shifter
TWI497914B (zh) * 2013-01-21 2015-08-21 Orise Technology Co Ltd 分時轉態轉壓器
TWI524674B (zh) * 2013-08-07 2016-03-01 立錡科技股份有限公司 電壓準位轉換電路
KR20150090945A (ko) * 2014-01-29 2015-08-07 삼성전기주식회사 레벨쉬프터를 포함한 게이트드라이버 및 그의 구동방법
EP3979498A1 (en) * 2020-09-30 2022-04-06 NXP USA, Inc. Level shifter circuit with integrated feedback circuit and dc-dc converter

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4450371A (en) * 1982-03-18 1984-05-22 Rca Corporation Speed up circuit
US4532436A (en) * 1983-09-30 1985-07-30 Rca Corporation Fast switching circuit
US4695744A (en) * 1985-12-16 1987-09-22 Rca Corporation Level shift circuit including source follower output
US5896043A (en) * 1989-02-10 1999-04-20 Fuji Electric Co., Ltd. Level shift circuit
JPH06243680A (ja) 1993-02-22 1994-09-02 Mitsubishi Electric Corp 信号レベル変換回路
KR0169157B1 (ko) * 1993-11-29 1999-02-01 기다오까 다까시 반도체 회로 및 mos-dram

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003103144A1 (ja) * 2002-05-30 2003-12-11 ソニー株式会社 レベルシフト回路、表示装置および携帯端末
US7224200B2 (en) 2002-05-30 2007-05-29 Sony Corporation Level shift circuit, display apparatus, and portable terminal

Also Published As

Publication number Publication date
US6373315B2 (en) 2002-04-16
KR100419816B1 (ko) 2004-02-25
KR20010109095A (ko) 2001-12-08
US20010045859A1 (en) 2001-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001339290A (ja) 信号電位変換回路
JP3416062B2 (ja) 連想メモリ(cam)
KR920006457B1 (ko) 반도체장치
JPH06295211A (ja) 内部電源電位発生回路
JPWO2009084272A1 (ja) 半導体装置及び表示装置
JP2786572B2 (ja) ビット線の電圧スイングが制限された半導体メモリ用センス回路
US6066975A (en) Level converter circuit
US9209797B2 (en) Semiconductor device
JP4617840B2 (ja) ブートストラップ回路及びその駆動方法並びにシフトレジスタ回路、論理演算回路、半導体装置
JP2011096950A (ja) 半導体装置、センスアンプ回路、半導体装置の制御方法及びセンスアンプ回路の制御方法
JP3927953B2 (ja) 振幅変換回路
JP2004054547A (ja) バスインタフェース回路及びレシーバ回路
US6707703B2 (en) Negative voltage generating circuit
JPH07130169A (ja) 電圧発生回路
JP3071408B2 (ja) 半導体集積回路の駆動方法及び半導体集積回路
JP2566067B2 (ja) 論理回路
JPH09326195A (ja) 半導体メモリ装置のセンスアンプ回路
JP3255159B2 (ja) 半導体集積回路
JPH07134896A (ja) 半導体メモリ装置のバッファ回路
JP2002118455A (ja) 半導体集積回路
JP3055223B2 (ja) バッファ回路
JP3255158B2 (ja) 半導体集積回路
JP3224712B2 (ja) 論理&レベル変換回路及び半導体装置
JP2868789B2 (ja) 半導体駆動回路
JPH1056373A (ja) 論理回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070416

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091023

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091104

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100302