JP2001195008A - 表示装置及び表示装置の製造方法 - Google Patents
表示装置及び表示装置の製造方法Info
- Publication number
- JP2001195008A JP2001195008A JP2000266441A JP2000266441A JP2001195008A JP 2001195008 A JP2001195008 A JP 2001195008A JP 2000266441 A JP2000266441 A JP 2000266441A JP 2000266441 A JP2000266441 A JP 2000266441A JP 2001195008 A JP2001195008 A JP 2001195008A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display device
- common electrode
- organic
- upper common
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 15
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 78
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims abstract description 53
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims abstract description 19
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 73
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 36
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 28
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 23
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 22
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 abstract description 14
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 34
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 12
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 10
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 7
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C=12C=CC3=C(C=4C=CC=CC=4)C=C(C)N=C3C2=NC(C)=CC=1C1=CC=CC=C1 STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 3-methylphenylphenylamin o Chemical class 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910019015 Mg-Ag Inorganic materials 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- IYZMXHQDXZKNCY-UHFFFAOYSA-N 1-n,1-n-diphenyl-4-n,4-n-bis[4-(n-phenylanilino)phenyl]benzene-1,4-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 IYZMXHQDXZKNCY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- UOACKFBJUYNSLK-XRKIENNPSA-N Estradiol Cypionate Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H](C4=CC=C(O)C=C4CC3)CC[C@@]21C)C(=O)CCC1CCCC1 UOACKFBJUYNSLK-XRKIENNPSA-N 0.000 description 1
- 101000854908 Homo sapiens WD repeat-containing protein 11 Proteins 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 102100020705 WD repeat-containing protein 11 Human genes 0.000 description 1
- QTJOIXXDCCFVFV-UHFFFAOYSA-N [Li].[O] Chemical compound [Li].[O] QTJOIXXDCCFVFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N aluminium(3+) Chemical compound [Al+3] REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPPDFTBPZNZZRP-UHFFFAOYSA-N aluminum copper Chemical compound [Al].[Cu] WPPDFTBPZNZZRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
- H10K59/1315—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals comprising structures specially adapted for lowering the resistance
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/82—Cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/122—Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/805—Electrodes
- H10K59/8052—Cathodes
- H10K59/80522—Cathodes combined with auxiliary electrodes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
でき、表示性能の向上を図ることが可能なアクティブマ
トリックス型の表示装置を提供する。 【解決手段】 各画素a毎にパターン形成された下部電
極10と、少なくとも有機発光層を有し下部電極10を
覆う状態で設けられた有機層11R,11G,11B
と、全画素aを覆う状態で有機層11R,11G,11
B上に設けられた上部共通電極12とを備えた表示装置
において、上部共通電極12の下の各画素a間に、有機
層11R,11G,11Bをパターン形成する際に用い
られるマスクのスペーサとなるリブ14を、上部共通電
極12に接続された補助配線として設けた。これによっ
て、上部共通電極12の電圧降下を抑制すると共に、画
素a間の省スペース化を図る。
Description
て構成される有機エレクトロルミネッセンス素子を有す
る表示装置及びその製造方法に関する。
(Electroluminescence :以下ELと記す)を利用した
有機EL素子は、下部電極と上部電極との間に、有機正
孔輸送層や有機発光層を積層させてなる有機層を設けて
なり、低電圧直流駆動による高輝度発光が可能な発光素
子として注目されている。
μ秒以下であるので、これを用いて構成される有機EL
ディスプレイでは、単純マトリックスによるデューティ
ー駆動が可能である。しかし、画素数の増加に伴って高
デューティー化が進んだ場合、十分な輝度を確保するた
めには、有機EL素子に瞬間的に大電流を供給する必要
があり、素子にダメージが加わり易くなる。
各画素に薄膜トランジスタ(thin film transistor:以
下TFTと記す)と共に保持容量を形成することで信号
電圧が保持されるので、1フレームの間常に信号電圧に
応じて駆動電流を有機EL素子に印加できる。このた
め、単純マトリックスのように瞬間的に大電流を供給す
る必要がなく、有機EL素子に対するダメージを小さく
することができる。
ブマトリックス型の表示装置(すなわち有機ELディス
プレイ)は、基板上の各画素に薄膜トランジスタが設け
られ、これらの薄膜トランジスタが層間絶縁膜で覆われ
ている。そして、この層間絶縁膜上に有機EL素子が形
成されている。この有機EL素子は、薄膜トランジスタ
に接続された状態で各画素にパターン形成された下部電
極、この下部電極を覆う状態で形成された有機層、この
有機層を覆う状態で設けられた上部電極で構成されてい
る。
示装置では、上部電極が全画素を覆うベタ膜として形成
され、全画素間に共通の上部共通電極として用いられて
いる。また、このような表示装置においてカラー表示が
可能なものは、各色毎に異なる有機層が下部電極上にパ
ターン形成されている。
は、TFTが形成された基板上に絶縁膜を介して有機E
L素子が形成されるため、有機層で発生した発光光を基
板側から取り出す、いわゆる透過型の表示装置として形
成した場合には、TFTによって有機EL素子の開口面
積が狭められてしまう。
装置においては、有機EL素子の開口率を確保するため
に、基板と反対側から光を取り出す、いわゆる上面光取
り出し構造(以下、上面発光型と記す)として構成する
ことが有効になる。
表示装置を上面発光型とした場合、下部電極を反射材料
で形成し、上部共通電極を透明な材料で形成することに
なるが、インジウムとスズの酸化物(ITO)やインジ
ウムと亜鉛の酸化物(IXO)等の透明導電膜は、金属
等と比較して抵抗値が大きい。このため、上部共通電極
内において電圧勾配が発生して電圧降下が生じ易く、表
示面の各有機EL素子に印加される電圧が不均一にな
り、表示面の中央での発光強度が低下する等、表示性能
が著しく低下してしまう。
は、蒸着法またはスパッタ法によって形成される、蒸着
法では良質な膜を得ることができず、抵抗が高く透過率
も高くなる。このため、表示装置の製造工程においては
スパッタ法によって透明導電膜を形成することになる。
しかしながら、スパッタ法は、蒸着法と比較して膜形成
時に堆積する粒子のエネルギーが高く、下地にダメージ
が加わり易い。上述したように、有機EL素子は無機半
導体でのLEDと類似した基本構造をもつため、下地の
有機層にダメージが加わるとリーク電流が発生し、「滅
点」と呼ばれる非発光画素が発生する。
大きな金属を十分な光透過性を得られる程度に薄膜化し
て上部共通電極として用いることになる。しかし、この
ような金属薄膜は、薄膜化によってシート抵抗が高くな
るため、透明導電膜を上部共通電極として用いた場合と
同様に、上部共通電極内において電圧勾配が発生して電
圧降下が生じ表示性能が著しく低下してしまう。
大気中の水分や酸素の有機層への侵入を防止することが
できず、有機層の劣化を早める要因にもなる。
る上部共通電極上に透明導電膜を積層形成することにな
るが、このような構成にした場合であっても、抵抗の低
い良質な膜質の透明導電膜を形成するためには、スパッ
タ法による成膜を行う必要があるため、透明導電膜の形
成によるダメージが金属薄膜を介して下地の有機層に加
わることを完全に防止することはできない。
を確保でき、表示性能の向上を図ることが可能なアクテ
ィブマトリックス型の表示装置及び表示装置の製造方法
を提供することを目的とする。
るための本発明は、画素毎にパターン形成された下部電
極と、少なくとも有機発光材料からなる層を有し下部電
極を覆う状態で設けられた有機層と、全画素を覆う状態
でこれらの有機層上に設けられた上部共通電極とを備え
た表示装置において、上部共通電極の下の各画素間に、
上部共通電極の補助配線となるリブを設けたことを特徴
としている。このリブは、有機層をパターン形成する際
に用いられるマスクのスペーサとなるものである。
上部共通電極に対する補助配線となるリブを設けたこと
によって、この上部共通電極が高抵抗材料で構成された
場合に、上部共通電極の電圧降下が抑制され、各画素に
おける有機発光層の発光強度を維持することが可能にな
る。しかも、このリブは、有機層をパターン形成する際
に用いられるマスクのスペーサを兼ねたものであるた
め、各画素間にスペーサと補助配線とを個別に設ける必
要はなく、各画素間の省スペース化が図られ、画素面積
が確保される。
部電極上に有機層を形成し、当該有機層上に上部電極を
形成した後、これらを覆う状態で保護膜を形成する表示
装置の製造方法において、上部電極の形成と保護膜の形
成とを同一の成膜装置内で連続して行うことを特徴とし
ている。
基づいて詳しく説明する。
の一実施形態例を示す図であり、表示エリアの概略構成
を示す要部断面図である。また図2は、本発明の表示装
置の表示エリアの概略構成を示す要部平面図であり、図
1は図2のA−A’断面になっている。尚、図1には、
以下において下層側から順に説明する構成要素のうち
の、有機層11R,11G,11B、上部共通電極12及
びリブ14のみを図示した。これらの図に示す有機EL
ディスプレイは、アクティブマトリックス型のカラー表
示装置であり、以下これらの図に示す表示装置の構成
を、これらの図1及び図2と共に図3〜図7の製造工程
図に基づいてその製造手順に沿って説明する。
に、画素a毎に薄膜トランジスタ2を形成する。この薄
膜トランジスタ2のゲート電極3は、ここでの図示は省
略した走査回路に接続されている。尚、図面において
は、ボトムゲート型の薄膜トランジスタ2を示したが、
薄膜トランジスタ2はトップゲート型であっても良い。
また、この表示装置が基板1と反対側から発光光を取り
出す上面発光型である場合、基板1は透明材料からなる
ものに限定されることはない。ただし、この表示装置が
基板1側から発光光を取り出す透過型である場合には、
基板1は透明材料からなることとする。
2を覆う状態で、例えば、酸化シリコンや、酸化シリコ
ンにリンを含有させてなるPSG(Phos-silicate Glas
s)等の酸化シリコン系の材料からなる第1層間絶縁膜
4を形成する。次いで、この第1層間絶縁膜4上に接続
孔(図示省略)を形成した後、この接続孔を介して薄膜ト
ランジスタ2のソース・ドレインに接続された配線6を
第1層間絶縁膜4上にパターン形成する。この配線6
は、信号線として用いられるもので、例えばアルミニウ
ムやアルミニウム−銅合金で構成されている。
覆う第2層間絶縁膜7を第1層間絶縁膜4上に形成し、
この第2層間絶縁膜7に配線6に達する接続孔8を形成
する。この第2層間絶縁膜7は、パターン形成された配
線6を覆うため、例えばポリイミド膜のような平坦性に
優れた材料膜で構成することが望ましい。また、後の工
程で形成される有機層の水分による劣化を防止して発光
輝度を維持するため、この第2層間絶縁膜7は、吸水率
の低い膜で構成されることが望ましい。
間絶縁膜7上の各画素a部分に、有機EL素子9を形成
する。この有機EL素子9は、下層から順に下部電極1
0、有機層11R,11G,11B及び上部共通電極1
2を積層してなる。
画素a毎にパターニングされた形状を有すると共に、第
2層間絶縁膜7に形成された接続孔8を介して配線6に
接続される下部電極10を、第2層間絶縁膜7上に形成
する。この下部電極10は、アノード電極またはカソー
ド電極として用いられるもので、この表示装置が上面発
光型である場合には高反射性材料で構成され、一方この
表示装置が透過型である場合には透明に形成される。
下部電極10をアノード電極として用いることとする。
この場合、下部電極10は、クロム(Cr)、鉄(f
e)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、銅(C
u)、タンタル(Ta)、タングステン(W)、プラチ
ナ(Pt)さらには金(Au)のように、仕事関数が大
きく、かつ反射率の高い導電性材料で構成される。
極10をカソード電極として用いる場合には、下部電極
10はアルミニウム(Al),インジウム(In),マグ
ネシウム(Mg)−銀(Ag)合金,リチウム(Li)−フ
ッ素(F)化合物、リチウム-酸素(O)化合物のような
仕事関数が小さい導電性材料のうちの反射率の高いもの
で構成される。
10をアノード電極として用いる場合には、ITOやI
XOのように、仕事関数が大きくかつ透過率の高い導電
性材料で下部電極10を構成する。さらに表示装置が透
過型であり、下部電極10をカソード電極として用いる
場合には、仕事関数が小さくかつ、透過率の高い導電性
材料で下部電極10を構成する。
周縁を覆う状態で第2層間絶縁膜7上に絶縁膜13を形
成し、この絶縁膜13に形成された窓から下部電極10
を露出させる。この絶縁膜13は、例えば酸化シリコン
で構成することとする。
徴的な構成であるリブ14を形成する。このリブ14
は、例えば絶縁性材料層14a上に、導電性材料層14
bを積層してなる構造で形成され、表示エリアの全面に
亘って各画素a間に行列状に配線され(図2参照)、上
部の導電性材料層14bが後に形成される上部共通電極
12(図1参照)に接続された補助配線として用いられ
る。この際、絶縁性材料層14aとしては、例えばポリ
イミドやフォトレジスト等の有機絶縁材料や、酸化シリ
コンのような無機絶縁材料を用いることとする。また、
導電性材料層14bとしては、アルミニウム(Al)や
クロム(Cr)のような低抵抗の導電性材料を単層また
は積層させて用いることとする。
層11R,11G,11B(図1参照)の表面高さより
も高く形成されることとする。リブ14をこのように形
成することで、次の工程で説明するように、下部電極1
0上に有機層11R,11G,11Bを蒸着にてパター
ン形成する際に用いられるマスクのスペーサとして、リ
ブ14が用いられるようになる。
に成形されており、これによって上述したように、ある
程度の高さを有するリブ14を覆う上部共通電極12の
カバレッジを確保できるように構成されている。
うに、各発光色に対応させた有機層11R,11G,1
1Bを、各画素aの下部電極10上に順次パターン形成
する。この際、リブ14をスペーサとし、このリブ14
上に各発光色の画素上に開口部を有するメタルマスク2
0を載置した状態で、各有機層11R,11G,11B
を下部電極10上に順次蒸着する。また、有機層11
R,11G,11Bは、下部電極10の露出面を完全に
覆う状態で形成され、ここでは図示を省略した有機正孔
輸送層や、有機発光層、さらには必要に応じて有機電子
輸送層を下部電極10側から順次積層してなる。
成の具体的な一例を記す。
光に対応する画素a上に開口部が配置されるようにメタ
ルマスクをアライメントし、抵抗加熱により有機材料を
蒸着する。ここでは、先ず、正孔注入層として、m−M
TDATA〔4,4,4媒-tris(3-methylphenylphenylamin
o)triphenylamine〕を25nmの膜厚で蒸着させる。次
に、正孔輸送層として、α−NPD[4,4-bis(N-1-napht
hyl-N-phenylamino)biphenyl]を30nmの膜厚で蒸着
させる。さらに、電子輸送層を兼ねる発光層として、A
lq3[tris(8-quinolinolato)aluminium(III)]を50
nmの膜厚で蒸着する。これらの層は、同一の装置内で
連続して蒸着されることとする。
光に対応する画素上に開口部が配置されるようにメタル
マスクをアライメントし、抵抗加熱により有機材料を蒸
着する。ここでは、先ず、正孔注入層として、m−MT
DATAを18nmの膜厚で蒸着させる。次に、正孔輸
送層として、例えばα−NPDを30nmの膜厚で蒸着
させる。さらに、正孔ブロック層を兼ねる発光層とし
て、バソクプロイン(Bathocuproine:2,9-dimethyl-4,
7-diphenyl-1,10phenanthroline)を14nmの膜厚で
蒸着した後、発光層としてAlq3を例えば30nmの
膜厚で蒸着する。これらの層は、同一の装置内で連続し
て蒸着されることとする。
赤色の発光に対応する画素上に開口部が配置されるよう
にメタルマスクをアライメントし、抵抗加熱により有機
材料を蒸着する。ここでは、先ず、正孔注入層として、
m−MTDATAを55nmの膜厚で蒸着させる。次
に、正孔輸送層として、例えばα−NPDを30nmの
膜厚で蒸着させる。さらに、発光層として、BSB−B
CN[2,5-bis{4-(N-methoxyphenyl-N-phenylamino)styr
yl}benzene-1,4-dicarbonitrile]を蒸着した後、電子輸
送層としてAlq3を30nmの膜厚で蒸着する。これ
らの層は、同一の装置内で連続して蒸着されることとす
る。
G,11Bを形成した後、図6に示すように、表示エリ
アの全面にベタ付けにする状態で、各画素に共通の上部
共通電極12を形成する。この上部共通電極12は、側
壁が順テーパ形状に成形されたリブ14の表面を覆い、
リブ14の上部を構成する導電性材料層14bに接続さ
れる状態で形成されることとする。ただし、この上部共
通電極12は、有機層11R,11G,11B及び絶縁
膜13によって下部電極10と絶縁されたものになる。
電極またはカソード電極として用いられるもので、この
表示装置が上面発光型である場合には透明に形成され、
一方この表示装置が透過型である場合には高反射性材料
で構成される。この際、下地に対して影響を及ぼすこと
のない程度に、成膜粒子のエネルギーが小さい成膜方
法、例えば蒸着法やCVD(chemical vapor depositio
n)法によって上部共通電極12の形成を行うこととす
る。また、望ましくは、有機層11R,11G,11B
を大気に暴露することなく、有機層11R,11G,1
1Bの形成と同一の装置内において連続して上部共通電
極12の形成を行うことで、大気中の水分による有機層
11R,11G,11Bの劣化を防止する。
下部電極10をアノード電極として用いるため、上部共
通電極12はカソード電極として用いられることにな
る。この場合、上部共通電極12は、有機層11R,1
1G,11Bに対して電子を効率的に注入できるよう
に、仕事関数の小さい材料で透明に形成され、特に蒸着
法のような成膜粒子のエネルギーが小さい成膜方法によ
って形成できる金属薄膜として形成することが好まし
い。そこでここでは、Mg-Ag合金のような透過率の
高い、好ましくは透過率30%以上の金属薄膜を上部共
通電極12として用いることとし、例えばMg-Ag合
金を共蒸着によって14nmの膜厚で形成する。
れている場合には、上部共通電極12をアノード電極と
する。この場合、上部共通電極12は、仕事関数の大き
い材料を用いて透明に形成され、特に蒸着法によって形
成できる金属薄膜として形成することが好ましい
電極12をカソード電極として用いる場合には、仕事関
数が小さくかつ反射率の高い導電性材料で上部共通電極
12を構成する。さらに表示装置が透過型であり、上部
共通電極12をアノード電極として用いる場合には、仕
事関数が大きくかつ反射率の高い導電性材料で上部共通
電極12を構成する。
らなる透明な上部共通電極12上に、絶縁性または導電
性の保護膜16を設ける。この際、下地に対して影響を
及ぼすことのない程度に、成膜粒子のエネルギーが小さ
い成膜方法で、例えば蒸着法やCVD(chemical vapor
deposition)法によって保護膜16の形成を行うことと
する。また、保護膜16の形成は、上部共通電極12を
大気に暴露することなく、上部共通電極12の形成と同
一の装置内において連続して行うこととする。これによ
って、大気中の水分や酸素による有機層11R,11
G,11Bの劣化を防止しながら保護膜16を形成する
のである。
11G,11Bへの水分の到達防止を目的とし、透過水
性,吸水性の低い材料を用いて十分な膜厚で形成される
こととする。さらに、表示装置が上面発光型である場合
には、この保護膜16は有機層11R,11G,11B
で発生した光を透過する材料からなり、例えば80%程
度の透過率が確保されていることとする。
性材料によって形成する、つまり、金属薄膜からなる単
層構造の上部共通電極12上に、絶縁性の保護膜16を
直接形成するのである。
ファス性の絶縁性材料、例えばアモルファスシリコン
(α−Si),アモルファス炭化シリコン(α−Si
C),アモルファス窒化シリコン(α−Si1-xNx )さ
らにはアモルファスカーボン(α−C)等を好適に用い
ることができる。このような無機アモルファス性の絶縁
性材料は、グレインを構成しないため透水性が低く、良
好な保護膜16となるのである。
る保護膜16を形成する場合には、CVD法によって2
〜3μmの膜厚に形成されることとする。ただし、この
際、有機層11R,11G,11Bの劣化による輝度の
低下を防止するため成膜温度を常温に設定し、さらに、
保護膜16の剥がれを防止するために膜のストレスを最
小になる条件で成膜することが望ましい。
合には、ITOやIXOのような透明導電性材料が用い
られることになる。
後、図1に示したように、必要に応じて保護膜16上に
紫外線硬化樹脂17を介してガラス基板18を固着し、
表示装置を完成させる。
イでは、上部共通電極12に表示面の全面に亘って補助
配線となるリブ14を接続させたことで、表示面の全面
を覆う状態でベタ付けされた上部共通電極12の表示面
内における電圧勾配を抑え、電圧降下を抑制することが
可能になる。このため、表示面内において各画素aに設
けられた有機EL素子9の発光強度を確保することがで
きる。
機層11R,11G,11Bで発生した発光光を透過す
る金属薄膜によって上部共通電極12を構成した場合に
は、この上部共通電極12のシート抵抗は高くなる。し
かし、リブ14の導電性材料層14bがこの上部共通電
極12の補助配線となり、上部共通電極12の表示面内
における電圧勾配が抑えられ、表示面の中央付近におけ
る電圧降下を抑制することが可能になるのである。
12上に、直接絶縁性材料からなる保護膜16を直接設
けた構成にしても、表示面内において各画素aに設けら
れた有機EL素子9の発光強度を確保することができ
る。このような金属薄膜からなる上部共通電極12や絶
縁性材料からなる保護膜16は、下地に対して影響を及
ぼすことのない程度に、成膜粒子のエネルギーが小さい
成膜方法、例えば蒸着法やCVD(chemical vapor depo
sition)法によって形成することができるため、有機層
11R,11G,11Bにダメージが加わることを防止
できる。この結果、リーク電流の発生による「滅点」と
呼ばれる非発光画素の発生を防止することも可能にな
る。
用いられるだけではなく、有機層11R,11G,11
Bをパターン形成する際のマスクのスペーサを兼ねたも
のであるため、各画素a間にスペーサと補助配線とを個
別に設ける必要はなく、各画素a間の省スペース化が図
られ、画素面積が確保される。以上の結果、アクティブ
マトリックス型の上面発光有機ELディスプレイの表示
性能の向上を図ることが可能になる。
線(リブ14)を接続させたことで、消費電力を削減す
ることが可能になる。さらに、上部共通電極12の発熱
を抑制して有機層11R,11G,11Bの劣化を防止
することができるため、表示性能を維持することが可能
になる。
導電性材料層14bとを積層した二層構造としているた
め、スペーサとしての機能を持たせるためのリブ14の
高さを、絶縁性材料層14aによって確保できる。した
がって、導電性材料層14bのエッチング残りなどを生
じることなく、高さを必要とするリブ14の形成が容易
になる。
料層14a上に導電性材料層14bを積層した二層構造
として説明した。しかし、このリブ14は、図8(1)
に示すように、導電性材料層14b上に絶縁性材料層1
4aを積層してなる構造であっても良い。さらにここで
の図示は省略したが、絶縁性材料層の表面を導電性材料
層で覆った構成であっても良く、また、導電性材料のみ
で構成されたものであっても良い。リブ14を導電性材
料のみで構成した場合には、リブ14及びこれに接続さ
れた上部共通電極12をより低抵抗化することが可能に
なる。
であっても、側壁が順テーパ形状に成形されることが望
ましく、また、有機EL素子の上部共通電極12がリブ
14を構成する導電性材料層に接続され、この導電性材
料層が上部共通電極12の補助配線として構成されてい
ることは言うまでもない。さらに、リブ14は、その表
面高さが有機層11R,11G,11Bの表面高さより
も高く形成されており、これによって有機層11R,1
1G,11Bを蒸着にてパターン形成する際に用いられ
るマスク20のスペーサとしても用いられるものである
こととする。
の実施形態例を示す図であり、表示エリアの概略構成を
示す要部平面図である。この図に示す有機ELディスプ
レイと図1及び図2を用いて説明した有機ELディスプ
レイとの異なるところは、リブ14’が、島状にパター
ニングされた絶縁性材料層14a’と補助配線として用
いられる導電性材料層14bとの2層構造で構成されて
いる点にあり、その他の構成は同様であることとする。
画素a間には、導電性材料層14bが各画素a間に行列
状に配線され、行方向と列方向に延設された導電性材料
層14bの交差部分上に島状にパターニングされた絶縁
性材料層14a’が形成されている。
めのリブ14’の高さは、絶縁性材料層14a’によっ
て確保し、絶縁性材料層14a’の側壁を順テーパ形状
にすることで、この絶縁性材料層14a’を覆う上部共
通電極12のカバレッジを確保する。
有機ELディスプレイであっても、高抵抗な透明導電性
材料で構成された上部共通電極12に、表示面の全面に
亘って補助配線となる導電性材料層14bを接続させた
ことで、表示面内における上部共通電極の電圧降下を抑
制することが可能になる。このため、表示面内における
各画素aの有機EL素子の発光強度を確保することがで
きる。しかも、リブ14’は、絶縁性材料層14a’と
導電性材料層14bとの積層部分が、有機層11R,1
1G,11Bをパターン形成する際のマスクのスペーサ
となるため、各画素間にスペーサと補助配線とを個別に
設ける必要はなく、各画素a間の省スペース化が図ら
れ、画素面積が確保される。この結果、先に説明した実
施形態例の有機ELディスプレイと同様に、アクティブ
マトリックス型の上面発光有機ELディスプレイの表示
性能の向上を図ることが可能になる。
部分の高さを絶縁性材料層14a’によって確保してい
るため、高さを必要とするスペーサ部分の形成が容易に
なる。しかも、この絶縁性材料層14a’を島状にパタ
ーニングしたことで、高さを必要とする(つまりある程
度の底面積を必要とする)スペーサ部分の配置面積が縮
小されることになる。そして、各画素a間に、低抵抗材
料からなる導電性材料層14bを狭いパターン幅で形成
することで、画素面積を拡大することが可能になり、さ
らに表示性能の向上を図ることが可能になる。
状にパターン形成された絶縁性材料層14a’を形成し
た場合を説明したが、島状にパターン形成された絶縁性
材料層14a’上に、一部分を重ねる状態で導電性材料
層14bを設け、これをリブ14’としても良い。
よれば、有機層をパターン形成する際に用いられるマス
クのスペーサと、表示面の全面を覆う上部共通電極の補
助配線とを兼ねるリブを各画素間に設けたことで、表示
面の全画素における有機発光層の発光強度を維持しつ
つ、各画素間の省スペース化を図って画素面積を確保す
ることが可能になる。この結果、アクティブマトリック
ス型の表示装置における表示性能の向上を図ることが可
能になる。
面図である。
面図である。
の1)である。
の2)である。
の3)である。
の4)である。
の5)である。
る。
平面図である。
2…上部共通電極、14,14’…リブ、14a,14
a’…絶縁性材料層、14b…導電性材料層、16…保
護膜、a…画素
Claims (7)
- 【請求項1】 画素毎にパターン形成された下部電極
と、少なくとも有機発光材料からなる層を有し前記下部
電極を覆う状態で設けられた有機層と、全画素を覆う状
態で前記有機層上に設けられた上部共通電極とを備えた
表示装置において、 前記上部共通電極の下の前記各画素間には、前記有機層
をパターン形成する際に用いられるマスクのスペーサと
なるリブが、前記上部共通電極に接続された補助配線と
して設けられていることを特徴とする表示装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の表示装置において、 前記リブは、側壁が順テーパ形状に成形されていること
を特徴とする表示装置。 - 【請求項3】 請求項1記載の表示装置において、 前記リブは、絶縁性材料層と導電性材料層とからなり、
当該導電性材料層が前記補助配線として用いられている
ことを特徴とする表示装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の表示装置において、 前記絶縁性材料層は、島状にパターニングされてなるこ
とを特徴とする表示装置。 - 【請求項5】 請求項1記載の表示装置において、 前記上部共通電極は、前記有機層で発生した発光光を透
過する金属薄膜からなり、 前記上部共通電極上には、前記発光光を透過する保護膜
が設けられたことを特徴とする表示装置。 - 【請求項6】 請求項5記載の表示装置において、 前記保護膜は、絶縁性材料からなり、前記金属薄膜上に
直接設けられていることを特徴とする表示装置。 - 【請求項7】 下部電極上に有機層を形成し、当該有機
層上に上部電極を形成した後、これらを覆う状態で保護
膜を形成する表示装置の製造方法において、 前記上部電極の形成と前記保護膜の形成とを、同一の成
膜装置内で連続して行うことを特徴とする表示装置の製
造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000266441A JP3809758B2 (ja) | 1999-10-28 | 2000-09-04 | 表示装置及び表示装置の製造方法 |
TW089121749A TW471237B (en) | 1999-10-28 | 2000-10-18 | Display apparatus and method for fabricating the same |
KR1020000063758A KR20010051318A (ko) | 1999-10-28 | 2000-10-28 | 디스플레이 장치 및 그 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30624599 | 1999-10-28 | ||
JP11-306245 | 1999-10-28 | ||
JP2000266441A JP3809758B2 (ja) | 1999-10-28 | 2000-09-04 | 表示装置及び表示装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001195008A true JP2001195008A (ja) | 2001-07-19 |
JP3809758B2 JP3809758B2 (ja) | 2006-08-16 |
Family
ID=26564639
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000266441A Expired - Fee Related JP3809758B2 (ja) | 1999-10-28 | 2000-09-04 | 表示装置及び表示装置の製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3809758B2 (ja) |
KR (1) | KR20010051318A (ja) |
TW (1) | TW471237B (ja) |
Cited By (84)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002231459A (ja) * | 2001-02-05 | 2002-08-16 | Nec Corp | 発光体、発光素子、及び発光表示装置 |
JP2003068457A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法 |
JP2003142262A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、膜状部材、積層膜、低屈折率膜、多層積層膜、電子機器 |
JP2003186420A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-04 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器 |
JP2003217855A (ja) * | 2002-01-28 | 2003-07-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
JP2003257650A (ja) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法、有機エレクトロルミネッセンス素子およびマスク |
JP2003288994A (ja) * | 2002-01-24 | 2003-10-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置およびその作製方法 |
JP2003295792A (ja) * | 2002-01-29 | 2003-10-15 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 有機ledデバイスおよびその製造方法 |
JP2003316291A (ja) * | 2002-02-25 | 2003-11-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP2004006343A (ja) * | 2002-05-03 | 2004-01-08 | Lg Phillips Lcd Co Ltd | 有機電界発光素子とその製造方法 |
JP2004014366A (ja) * | 2002-06-07 | 2004-01-15 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法及び電子機器 |
JP2004031262A (ja) * | 2002-06-28 | 2004-01-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンスパネル |
JP2004039316A (ja) * | 2002-07-01 | 2004-02-05 | Korai Kagi Kofun Yugenkoshi | 有機エレクトロルミネッセント装置 |
JP2004071432A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Dainippon Printing Co Ltd | パターン形成体およびその製造方法 |
JP2004071365A (ja) * | 2002-08-07 | 2004-03-04 | Hitachi Ltd | 有機発光表示装置 |
JP2004127933A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置およびその作製方法 |
JP2004192813A (ja) * | 2002-12-06 | 2004-07-08 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 有機el表示装置 |
KR100446919B1 (ko) * | 2002-07-19 | 2004-09-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기전계 발광소자와 그 제조방법 |
JP2004281307A (ja) * | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス表示体及びその製造方法 |
JP2005158292A (ja) * | 2003-11-20 | 2005-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置および表示装置の製造方法 |
JP2005521207A (ja) * | 2002-03-20 | 2005-07-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | アクティブマトリクスエレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
JP2005340198A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-08 | Lg Electron Inc | 有機電界発光表示素子およびその製造方法 |
JP2005345976A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Casio Comput Co Ltd | 表示パネル及びその製造方法 |
JP2005352044A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Casio Comput Co Ltd | 表示パネル及びその製造方法 |
JP2006098663A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイパネル |
JP2006098977A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイパネル |
JP2006098654A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイパネル |
JP2006126817A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-05-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置、及び表示装置の作製方法 |
JP2006164973A (ja) * | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Lg Electron Inc | 有機電界発光素子およびその製法 |
JP2006278212A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Seiko Epson Corp | 発光装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
JP2006526263A (ja) * | 2003-05-30 | 2006-11-16 | ショット アクチエンゲゼルシャフト | Oledを製作するためのプロセス |
JP2007073240A (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置及び表示装置の製造方法 |
JP2007096251A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機発光素子及びその製造方法 |
US7224115B2 (en) | 2002-12-11 | 2007-05-29 | Sony Corporation | Display apparatus and method of manufacturing the same |
KR100739144B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2007-07-13 | 엘지전자 주식회사 | 전면 발광형 oled 소자 및 그 제조 방법 |
CN100339990C (zh) * | 2002-03-20 | 2007-09-26 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 有源矩阵电致发光显示装置及其制造方法 |
JP2007265756A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Seiko Epson Corp | 発光装置、その製造方法および電子機器 |
JP2007311358A (ja) * | 2000-02-25 | 2007-11-29 | Seiko Epson Corp | 有機el装置およびその製造方法 |
US7303635B2 (en) | 2003-05-12 | 2007-12-04 | Sony Corporation | Deposition mask, method for manufacturing display unit using it, and display unit |
KR100804859B1 (ko) | 2004-10-15 | 2008-02-20 | 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 표시 장치 및 어레이 기판 |
JP2008108737A (ja) * | 2007-11-16 | 2008-05-08 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器 |
JP2008134647A (ja) * | 2000-02-25 | 2008-06-12 | Seiko Epson Corp | 有機el装置 |
JP2008166258A (ja) * | 2007-01-04 | 2008-07-17 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
JP2008270117A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置 |
CN100448056C (zh) * | 2003-08-28 | 2008-12-31 | 三星Sdi株式会社 | 有机电致发光显示器 |
WO2009057689A1 (ja) * | 2007-10-30 | 2009-05-07 | Kyocera Corporation | 画像表示装置の製造方法および画像表示装置 |
JP2010034079A (ja) * | 2009-11-11 | 2010-02-12 | Idemitsu Kosan Co Ltd | アクティブ駆動型有機el発光装置およびその製造方法 |
US7692186B2 (en) | 2002-01-24 | 2010-04-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
US7714328B2 (en) | 2001-12-27 | 2010-05-11 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for manufacturing electro-optical devices |
US7719181B2 (en) | 2007-02-06 | 2010-05-18 | Seiko Epson Corporation | Organic EL device, method for producing organic EL device, and electronic apparatus |
US7750557B2 (en) | 2005-03-29 | 2010-07-06 | Fujifilm Corporation | Organic electroluminescent display device |
US7777413B2 (en) | 2005-03-17 | 2010-08-17 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic electroluminescent device having an optical resonator |
JP2010287559A (ja) * | 2009-06-09 | 2010-12-24 | Lg Display Co Ltd | 有機電界発光素子及びその製造方法 |
US7896721B2 (en) | 2008-02-26 | 2011-03-01 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing an organic electroluminescence device using a liquid droplet ejection method |
US7915816B2 (en) | 2007-05-14 | 2011-03-29 | Sony Corporation | Organic electroluminescence display device comprising auxiliary wiring |
US7944141B2 (en) | 2007-11-15 | 2011-05-17 | Sony Corporation | Organic electric field light-emitting display device |
US7956529B2 (en) | 2005-03-11 | 2011-06-07 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic electroluminescent color light-emitting apparatus with organic electroluminescent devices with adjusted optical distances between electrodes |
JP2011170358A (ja) * | 1999-12-15 | 2011-09-01 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気器具 |
KR101061882B1 (ko) * | 2002-09-11 | 2011-09-02 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광장치 및 그의 제조방법 |
US8013513B2 (en) | 2007-11-19 | 2011-09-06 | Sony Corporation | Active matrix display device |
JP2011232764A (ja) * | 2011-06-07 | 2011-11-17 | Panasonic Corp | El表示装置 |
JP2012033497A (ja) * | 2004-09-29 | 2012-02-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
JP2012138378A (ja) * | 2012-04-17 | 2012-07-19 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
US8362694B2 (en) | 2008-06-06 | 2013-01-29 | Sony Corporation | Organic light emitting device, method of manufacturing the same, display unit, and electronic device |
JP2013068964A (ja) * | 2012-11-30 | 2013-04-18 | Panasonic Corp | El表示装置 |
US8441185B2 (en) | 2005-10-17 | 2013-05-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device with improved pixel arrangement |
JP2014078014A (ja) * | 2013-11-22 | 2014-05-01 | Panasonic Corp | El表示装置 |
US8829525B2 (en) | 2009-02-16 | 2014-09-09 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting display device |
US8941142B2 (en) | 2012-11-19 | 2015-01-27 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same |
US9087964B2 (en) | 2012-10-17 | 2015-07-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US9093404B2 (en) | 2012-12-21 | 2015-07-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and method for manufacturing the same |
US9117785B2 (en) | 2013-11-22 | 2015-08-25 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method of manufacturing the same |
US9123674B2 (en) | 2013-07-19 | 2015-09-01 | Joled Inc. | Display unit, method of manufacturing display unit, and electronic apparatus |
US9209355B2 (en) | 2013-03-08 | 2015-12-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US9231042B2 (en) | 2013-02-12 | 2016-01-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US9324741B2 (en) | 2011-03-24 | 2016-04-26 | Joled Inc. | Display device, manufacturing method of display device and electronic equipment |
JP2016100339A (ja) * | 2014-11-17 | 2016-05-30 | 上海和輝光電有限公司Everdisplay Optronics (Shanghai) Limited | Oledパネルの画素薄膜蒸着方法及びoledディスプレイパネル |
US9356255B2 (en) | 2011-04-27 | 2016-05-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and manufacturing method thereof |
KR20160114496A (ko) | 2015-03-23 | 2016-10-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치 제조 방법 |
US9711576B2 (en) | 2009-12-03 | 2017-07-18 | Joled Inc. | Display, method of manufacturing display and electronic device |
US9722202B2 (en) | 2014-04-22 | 2017-08-01 | Samsung Display Co., Ltd. | Display apparatus having auxiliary line and method for manufacturing the same |
US9728693B2 (en) | 2012-10-17 | 2017-08-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device comprising partition including overhang portion |
US9929220B2 (en) | 2009-01-08 | 2018-03-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic device |
JP2020178137A (ja) * | 2002-01-25 | 2020-10-29 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100611213B1 (ko) * | 2001-08-13 | 2006-08-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 세퍼레이터를 구비한 액티브 매트릭스 타입유기전계발광소자의 제조방법 및 이에 따른유기전계발광소자 |
KR100815145B1 (ko) * | 2001-09-07 | 2008-03-19 | 삼성전자주식회사 | 유기 전계발광 디바이스 및 이의 제조방법 |
KR20040039608A (ko) * | 2002-11-04 | 2004-05-12 | 주식회사 엘리아테크 | 유기 전계 발광 표시 패널 및 그 제조 방법 |
KR100899424B1 (ko) * | 2007-08-27 | 2009-05-27 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기 전계 발광표시장치 |
KR101254748B1 (ko) * | 2009-05-06 | 2013-04-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광표시장치 및 이의 제조방법 |
-
2000
- 2000-09-04 JP JP2000266441A patent/JP3809758B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-10-18 TW TW089121749A patent/TW471237B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-10-28 KR KR1020000063758A patent/KR20010051318A/ko not_active Ceased
Cited By (151)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011170358A (ja) * | 1999-12-15 | 2011-09-01 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気器具 |
US8754577B2 (en) | 1999-12-15 | 2014-06-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | EL display device |
JP2007311358A (ja) * | 2000-02-25 | 2007-11-29 | Seiko Epson Corp | 有機el装置およびその製造方法 |
JP2008134647A (ja) * | 2000-02-25 | 2008-06-12 | Seiko Epson Corp | 有機el装置 |
JP2002231459A (ja) * | 2001-02-05 | 2002-08-16 | Nec Corp | 発光体、発光素子、及び発光表示装置 |
US7495387B2 (en) | 2001-02-05 | 2009-02-24 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Organic electroluminescent element and organic electroluminescent device including the same |
US8410687B2 (en) | 2001-02-05 | 2013-04-02 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic electroluminescent device including covered lower electrode |
US8664850B2 (en) | 2001-02-05 | 2014-03-04 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic electroluminescent device including covered lower electrode |
JP2003068457A (ja) * | 2001-08-29 | 2003-03-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法 |
JP2003142262A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、膜状部材、積層膜、低屈折率膜、多層積層膜、電子機器 |
JP2003186420A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-04 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器 |
US7714328B2 (en) | 2001-12-27 | 2010-05-11 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for manufacturing electro-optical devices |
JP2016015339A (ja) * | 2002-01-24 | 2016-01-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
US8089066B2 (en) | 2002-01-24 | 2012-01-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US9627459B2 (en) | 2002-01-24 | 2017-04-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device having sealing material |
US9312323B2 (en) | 2002-01-24 | 2016-04-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device having insulator between pixel electrodes and auxiliary wiring in contact with the insulator |
JP2003288994A (ja) * | 2002-01-24 | 2003-10-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置およびその作製方法 |
JP2014197558A (ja) * | 2002-01-24 | 2014-10-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
US8779467B2 (en) | 2002-01-24 | 2014-07-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device having a terminal portion |
US7692186B2 (en) | 2002-01-24 | 2010-04-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
JP2021144956A (ja) * | 2002-01-24 | 2021-09-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2010153397A (ja) * | 2002-01-24 | 2010-07-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP2012094538A (ja) * | 2002-01-24 | 2012-05-17 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置の作製方法 |
JP2019194996A (ja) * | 2002-01-24 | 2019-11-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
KR100979925B1 (ko) * | 2002-01-24 | 2010-09-03 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광장치 및 그 제조방법 |
JP2020178136A (ja) * | 2002-01-25 | 2020-10-29 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP2020178137A (ja) * | 2002-01-25 | 2020-10-29 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP2003217855A (ja) * | 2002-01-28 | 2003-07-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
JP2003295792A (ja) * | 2002-01-29 | 2003-10-15 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 有機ledデバイスおよびその製造方法 |
KR100899201B1 (ko) * | 2002-01-29 | 2009-05-27 | 탑폴리 옵토일렉트로닉스 코포레이션 | 유기 led 디바이스 및 이의 제조 방법 |
JP2003316291A (ja) * | 2002-02-25 | 2003-11-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP3481232B2 (ja) | 2002-03-05 | 2003-12-22 | 三洋電機株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法 |
JP2003257650A (ja) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法、有機エレクトロルミネッセンス素子およびマスク |
CN100339990C (zh) * | 2002-03-20 | 2007-09-26 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 有源矩阵电致发光显示装置及其制造方法 |
US7271409B2 (en) | 2002-03-20 | 2007-09-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Active matrix electroluminescent display devices, and their manufacture |
US7817121B2 (en) | 2002-03-20 | 2010-10-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Active matrix electroluminescent display devices, and their manufacture |
JP2005521207A (ja) * | 2002-03-20 | 2005-07-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | アクティブマトリクスエレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
JP2004006343A (ja) * | 2002-05-03 | 2004-01-08 | Lg Phillips Lcd Co Ltd | 有機電界発光素子とその製造方法 |
JP2004014366A (ja) * | 2002-06-07 | 2004-01-15 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法及び電子機器 |
JP2004031262A (ja) * | 2002-06-28 | 2004-01-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンスパネル |
JP2004039316A (ja) * | 2002-07-01 | 2004-02-05 | Korai Kagi Kofun Yugenkoshi | 有機エレクトロルミネッセント装置 |
KR100446919B1 (ko) * | 2002-07-19 | 2004-09-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기전계 발광소자와 그 제조방법 |
JP2004071365A (ja) * | 2002-08-07 | 2004-03-04 | Hitachi Ltd | 有機発光表示装置 |
JP2004071432A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Dainippon Printing Co Ltd | パターン形成体およびその製造方法 |
JP2004127933A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置およびその作製方法 |
JP2012015129A (ja) * | 2002-09-11 | 2012-01-19 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置、表示装置および照明装置 |
KR101061882B1 (ko) * | 2002-09-11 | 2011-09-02 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광장치 및 그의 제조방법 |
JP2004192813A (ja) * | 2002-12-06 | 2004-07-08 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 有機el表示装置 |
US7224115B2 (en) | 2002-12-11 | 2007-05-29 | Sony Corporation | Display apparatus and method of manufacturing the same |
US7718452B2 (en) | 2002-12-11 | 2010-05-18 | Sony Corporation | Display apparatus and method of manufacturing the same |
JP2004281307A (ja) * | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス表示体及びその製造方法 |
US7303635B2 (en) | 2003-05-12 | 2007-12-04 | Sony Corporation | Deposition mask, method for manufacturing display unit using it, and display unit |
US10522759B2 (en) | 2003-05-12 | 2019-12-31 | Sony Corporation | Method for manufacturing a display unit |
US9184225B1 (en) | 2003-05-12 | 2015-11-10 | Sony Corporation | Display unit |
US8970105B2 (en) | 2003-05-12 | 2015-03-03 | Sony Corporation | Display unit and light emitting device |
JP2006526263A (ja) * | 2003-05-30 | 2006-11-16 | ショット アクチエンゲゼルシャフト | Oledを製作するためのプロセス |
CN100448056C (zh) * | 2003-08-28 | 2008-12-31 | 三星Sdi株式会社 | 有机电致发光显示器 |
JP2005158292A (ja) * | 2003-11-20 | 2005-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置および表示装置の製造方法 |
JP2005340198A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-08 | Lg Electron Inc | 有機電界発光表示素子およびその製造方法 |
JP2005345976A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Casio Comput Co Ltd | 表示パネル及びその製造方法 |
JP2005352044A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Casio Comput Co Ltd | 表示パネル及びその製造方法 |
US7498733B2 (en) | 2004-09-29 | 2009-03-03 | Casio Computer Co., Ltd. | Display panel |
JP2012151124A (ja) * | 2004-09-29 | 2012-08-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置、表示モジュール及び電子機器 |
JP2006098663A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイパネル |
US9893130B2 (en) | 2004-09-29 | 2018-02-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US8786178B2 (en) | 2004-09-29 | 2014-07-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US9147713B2 (en) | 2004-09-29 | 2015-09-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
JP2018085338A (ja) * | 2004-09-29 | 2018-05-31 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP2006098654A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイパネル |
JP2006126817A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-05-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置、及び表示装置の作製方法 |
JP2021022567A (ja) * | 2004-09-29 | 2021-02-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP7368438B2 (ja) | 2004-09-29 | 2023-10-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
US10038040B2 (en) | 2004-09-29 | 2018-07-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
JP2022020755A (ja) * | 2004-09-29 | 2022-02-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP2012033497A (ja) * | 2004-09-29 | 2012-02-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
US10403697B2 (en) | 2004-09-29 | 2019-09-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US11778870B2 (en) | 2004-09-29 | 2023-10-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US10937847B2 (en) | 2004-09-29 | 2021-03-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
JP2024023508A (ja) * | 2004-09-29 | 2024-02-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP2015149309A (ja) * | 2004-09-29 | 2015-08-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP7117353B2 (ja) | 2004-09-29 | 2022-08-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2019114557A (ja) * | 2004-09-29 | 2019-07-11 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
US11552145B2 (en) | 2004-09-29 | 2023-01-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US9530829B2 (en) | 2004-09-29 | 2016-12-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
JP2017037857A (ja) * | 2004-09-29 | 2017-02-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
US11233105B2 (en) | 2004-09-29 | 2022-01-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
JP2014220256A (ja) * | 2004-09-29 | 2014-11-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、表示モジュール及び電子機器 |
JP2006098977A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイパネル |
KR100804859B1 (ko) | 2004-10-15 | 2008-02-20 | 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 표시 장치 및 어레이 기판 |
JP2006164973A (ja) * | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Lg Electron Inc | 有機電界発光素子およびその製法 |
TWI411350B (zh) * | 2005-03-11 | 2013-10-01 | Idemitsu Kosan Co | Organic electroluminescent light - emitting device |
KR101232592B1 (ko) | 2005-03-11 | 2013-02-12 | 이데미쓰 고산 가부시키가이샤 | 유기 전계 발광 컬러 발광 장치 |
US7956529B2 (en) | 2005-03-11 | 2011-06-07 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic electroluminescent color light-emitting apparatus with organic electroluminescent devices with adjusted optical distances between electrodes |
US7777413B2 (en) | 2005-03-17 | 2010-08-17 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic electroluminescent device having an optical resonator |
US7750557B2 (en) | 2005-03-29 | 2010-07-06 | Fujifilm Corporation | Organic electroluminescent display device |
JP2006278212A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Seiko Epson Corp | 発光装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
JP2007073240A (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置及び表示装置の製造方法 |
US7667392B2 (en) | 2005-09-28 | 2010-02-23 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Organic light emitting diode and method of fabricating the same |
KR100739144B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2007-07-13 | 엘지전자 주식회사 | 전면 발광형 oled 소자 및 그 제조 방법 |
JP2007096251A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機発光素子及びその製造方法 |
US9893325B2 (en) | 2005-10-17 | 2018-02-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having a structure that prevents defects due to precision, bending and the like of a mask without increasing manufacturing steps |
US11171315B2 (en) | 2005-10-17 | 2021-11-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having a structure which prevents a defect due to precision and bending and manufacturing method thereof |
US11770965B2 (en) | 2005-10-17 | 2023-09-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US10199612B2 (en) | 2005-10-17 | 2019-02-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having reduced upper surface shape of a partition in order to improve definition and manufacturing method thereof |
JP2013179097A (ja) * | 2005-10-17 | 2013-09-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
US9536932B2 (en) | 2005-10-17 | 2017-01-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of making a semiconductor lighting emitting device that prevents defect of the mask without increasing steps |
US8441185B2 (en) | 2005-10-17 | 2013-05-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device with improved pixel arrangement |
US9224792B2 (en) | 2005-10-17 | 2015-12-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8847483B2 (en) | 2005-10-17 | 2014-09-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US12127466B2 (en) | 2005-10-17 | 2024-10-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP2007265756A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Seiko Epson Corp | 発光装置、その製造方法および電子機器 |
JP2008166258A (ja) * | 2007-01-04 | 2008-07-17 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
US7719181B2 (en) | 2007-02-06 | 2010-05-18 | Seiko Epson Corporation | Organic EL device, method for producing organic EL device, and electronic apparatus |
JP2008270117A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置 |
US8436530B2 (en) | 2007-05-14 | 2013-05-07 | Sony Corporation | Organic electroluminescence display device |
US7915816B2 (en) | 2007-05-14 | 2011-03-29 | Sony Corporation | Organic electroluminescence display device comprising auxiliary wiring |
US8232719B2 (en) | 2007-05-14 | 2012-07-31 | Sony Corporation | Organic electroluminescence display device |
US8680761B2 (en) | 2007-05-14 | 2014-03-25 | Sony Corporation | Organic electroluminescence display device including wiring and stacked structure |
US8786185B2 (en) | 2007-05-14 | 2014-07-22 | Sony Corporation | Organic electroluminescence display device |
WO2009057689A1 (ja) * | 2007-10-30 | 2009-05-07 | Kyocera Corporation | 画像表示装置の製造方法および画像表示装置 |
JPWO2009057689A1 (ja) * | 2007-10-30 | 2011-03-10 | 京セラ株式会社 | 画像表示装置の製造方法および画像表示装置 |
US7944141B2 (en) | 2007-11-15 | 2011-05-17 | Sony Corporation | Organic electric field light-emitting display device |
JP2008108737A (ja) * | 2007-11-16 | 2008-05-08 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器 |
US8013513B2 (en) | 2007-11-19 | 2011-09-06 | Sony Corporation | Active matrix display device |
US7896721B2 (en) | 2008-02-26 | 2011-03-01 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing an organic electroluminescence device using a liquid droplet ejection method |
US8362694B2 (en) | 2008-06-06 | 2013-01-29 | Sony Corporation | Organic light emitting device, method of manufacturing the same, display unit, and electronic device |
US9929220B2 (en) | 2009-01-08 | 2018-03-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic device |
US10361258B2 (en) | 2009-01-08 | 2019-07-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic device |
US8829525B2 (en) | 2009-02-16 | 2014-09-09 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting display device |
JP2010287559A (ja) * | 2009-06-09 | 2010-12-24 | Lg Display Co Ltd | 有機電界発光素子及びその製造方法 |
JP2010034079A (ja) * | 2009-11-11 | 2010-02-12 | Idemitsu Kosan Co Ltd | アクティブ駆動型有機el発光装置およびその製造方法 |
US9711576B2 (en) | 2009-12-03 | 2017-07-18 | Joled Inc. | Display, method of manufacturing display and electronic device |
US9324741B2 (en) | 2011-03-24 | 2016-04-26 | Joled Inc. | Display device, manufacturing method of display device and electronic equipment |
US9356255B2 (en) | 2011-04-27 | 2016-05-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and manufacturing method thereof |
US9871088B2 (en) | 2011-04-27 | 2018-01-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and manufacturing method thereof |
JP2011232764A (ja) * | 2011-06-07 | 2011-11-17 | Panasonic Corp | El表示装置 |
JP2012138378A (ja) * | 2012-04-17 | 2012-07-19 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
US9728693B2 (en) | 2012-10-17 | 2017-08-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device comprising partition including overhang portion |
US9087964B2 (en) | 2012-10-17 | 2015-07-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US8941142B2 (en) | 2012-11-19 | 2015-01-27 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same |
JP2013068964A (ja) * | 2012-11-30 | 2013-04-18 | Panasonic Corp | El表示装置 |
US9093404B2 (en) | 2012-12-21 | 2015-07-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and method for manufacturing the same |
US9231042B2 (en) | 2013-02-12 | 2016-01-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US9209355B2 (en) | 2013-03-08 | 2015-12-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US9123674B2 (en) | 2013-07-19 | 2015-09-01 | Joled Inc. | Display unit, method of manufacturing display unit, and electronic apparatus |
JP2014078014A (ja) * | 2013-11-22 | 2014-05-01 | Panasonic Corp | El表示装置 |
US9117785B2 (en) | 2013-11-22 | 2015-08-25 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method of manufacturing the same |
US9722202B2 (en) | 2014-04-22 | 2017-08-01 | Samsung Display Co., Ltd. | Display apparatus having auxiliary line and method for manufacturing the same |
JP2016100339A (ja) * | 2014-11-17 | 2016-05-30 | 上海和輝光電有限公司Everdisplay Optronics (Shanghai) Limited | Oledパネルの画素薄膜蒸着方法及びoledディスプレイパネル |
KR20160114496A (ko) | 2015-03-23 | 2016-10-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치 제조 방법 |
US9786731B2 (en) | 2015-03-23 | 2017-10-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method for manufacturing same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20010051318A (ko) | 2001-06-25 |
TW471237B (en) | 2002-01-01 |
JP3809758B2 (ja) | 2006-08-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3809758B2 (ja) | 表示装置及び表示装置の製造方法 | |
US6991506B2 (en) | Display apparatus and method for fabricating the same | |
US8680761B2 (en) | Organic electroluminescence display device including wiring and stacked structure | |
JP4382381B2 (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP4089544B2 (ja) | 表示装置及び表示装置の製造方法 | |
US8062695B2 (en) | Method for manufacturing display and display | |
JP5035295B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置 | |
US8455893B2 (en) | Light-emitting apparatus and production method thereof | |
JP2004165067A (ja) | 有機電界発光パネル | |
JP2004191627A (ja) | 有機発光表示装置 | |
KR20060109840A (ko) | 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 | |
JP4517304B2 (ja) | 表示装置及び表示装置の製造方法 | |
JP4165145B2 (ja) | 有機発光表示装置 | |
JP2011154968A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置とその製造方法 | |
KR20100020570A (ko) | 발광 표시 패널 및 그의 제조 방법 | |
WO2023079680A1 (ja) | 表示装置及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051025 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060502 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060515 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100602 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100602 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110602 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120602 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120602 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130602 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |