JP2000207742A - 情報記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 記録時毎に極力少ない試し書きで最適なスト
ラテジを決定でき、記録条件をより適正化し得る情報記
録方法を提供する。 【解決手段】 光ディスク媒体の種類が色素系メディア
の場合の発光波形が１つ以上のパルス列からなるマルチ
パルスよりなるときには、レーザ発光波形規則の要素を
マルチパルスにおける先頭加熱パルスＥのパルス幅ＴＥ
と後続マルチパルスＦのパルス幅ＴＦと記録パワーＰｗ
として光ディスク媒体の所定領域で直交表により抽出さ
れるパターンのパルス幅ＴＥ，ＴＦと記録パワーＰｗと
の組合せ（図３(ｃ)）により各々試し書きを行ない、そ
の結果に応じて記録時の記録パワーＰｗとパルス幅Ｔ
Ｅ，ＴＦとを決定することで、特にマルチパルスを用い
て記録する色素系メディアの場合に最適なレーザ発光波
形規則を用いて記録を行なうことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、記録層を有する光
ディスク媒体に対する情報記録方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】マルチメディアの普及に伴い、音楽用Ｃ
Ｄ（Ｃompact Ｄisk）やＣＤ‐ＲＯＭ等の再生専用メデ
ィアや光情報再生装置が実用化されている。最近では、
色素系メディアを用いた追記型光ディスクや、光磁気メ
ディアを用いた書換え可能なＭＯ（Ｍagnetic Ｏptica
l）ディスクや相変化型メディアなどが注目されてい
る。また、レーザ光源としての半導体レーザの短波長化
や高ＮＡ対物レンズによるスポット径の小径化や薄型基
板の採用などにより、ＤＶＤ（Ｄigital ＶersatileＤi
sk） ‐ＲＯＭ，ＤＶＤ‐Ｒ（Ｒecordable），ＤＶＤ‐
ＲＡＭ，ＤＶＤ‐ＲＷ（Ｒewritable） 等の大容量ディ
スクが実用化段階に入っている。

【０００３】何れの光ディスクの場合にも、情報を記録
する上では、半導体レーザを光源とする光ピックアップ
光学系を含む光情報記録再生装置が用いられるが、例え
ば、相変化型メディアに情報を記録するための一般的な
記録波形（発光波形）としては、ＥＦＭ（Ｅight to Ｆ
ourteen Ｍodulation）変調コード、８−１６変調コー
ドなどの記録変調方式に基づいて生成した単パルスの発
光波形がある（単パルス記録方式）。しかし、このよう
な単パルス記録方式よる場合、蓄熱により、記録マーク
が涙状に歪を生じたり、冷却速度の不足によりアモルフ
ァス相の形成が不十分となり、レーザ光に対して低反射
の記録マークが得られない等の問題がある。

【０００４】このため、色素系メディアに情報を記録す
るためのレーザ発光波形規則（以下、適宜“ストラテ
ジ”という）として、例えば、図４(c)に示すように、
先頭加熱パルスＥと後続する複数個の連続加熱パルスＦ
との組合せによるパルス列からなるマルチパルスを用い
る方式が提案されている。ここでは、データ変調方式と
して図４(ａ)(ｂ)に示すようなＥＦＭ変調コードを用い
てマークエッジ記録を行う例を示し、形成されるマーク
とスペースとのデータ長は３〜１４Ｔ（Ｔはチャネルク
ロックの１周期）とされている。この際、図４(ｄ)に示
すように、直前スペース長Ｔspと記録マーク長との組合
せにより先頭加熱パルスＥ′のパルス幅を変化させるこ
とも提案されている。さらには、図４(ｅ)に示すよう
に、ＥＦＭ変調コードなどの記録データよりも短い単パ
ルスよりなり、その単パルスが複数の記録パワーを有す
るストラテジ方式も提案されている。

【０００５】ところで、色素系メディアや相変化型メデ
ィアに対して記録を行なう際には、記録発光パワーの制
御を正しく行なうことが必要かつ重要である。ここに、
記録パワーの最適値は、周辺温度や媒体の種類や線速な
どにより変化する。このため、色素系メディアや相変化
型メディアに関しては、一般に、情報を記録する前にＯ
ＰＣ（Ｏptimum Ｐower Ｃontrol）と称される試し書き
を行なうことで記録パワーの最適化が行われている。Ｏ
ＰＣは、光ディスク媒体のＰＣＡ（Ｐower Ｃalibratio
n Ａrea）と称される所定の領域に所定の情報を記録し
再生することにより行われる。具体的には、チャネルク
ロックの周期Ｔの３倍（３Ｔ）〜１４倍（１４Ｔ）のマ
ークとスペースとからなる所定パターンのテストデータ
を用いて発光パワーを数種類変化させて記録し（試し書
き）、このテストパターンを再生して各発光パワーにお
けるＲＦ信号のＤＣモジュレーションやＡＣ結合後のＲ
Ｆ信号のアシンメトリなどを評価基準として算出する。

【０００６】モジュレーションＭは、例えば図５に示す
ようにＲＦ信号の最大振幅をＩ_P-P、最大値をＩ_maxとす
れば、 Ｍ＝Ｉ_P-P／Ｉ_max により算出される。

【０００７】また、ＡＣ結合後のアシンメトリβは、図
６に示すように、ＡＣ結合後のＲＦ信号の正側のピーク
レベルＸ₁、負側のピークレベルＸ₂を用いて、 β＝（Ｘ₁＋Ｘ₂）／（Ｘ₁−Ｘ₂） Ｘ₁＋Ｘ₂；ＡＣ結合後のＲＦ信号の正負ピークレベルの
差分 Ｘ₁−Ｘ₂；ＡＣ結合後のＲＦ信号のピークtoピーク値 として算出される。

【０００８】このように算出されるモジュレーションＭ
やＡＣ結合後のアシンメトリβに基づいて最適な記録パ
ワーを求める。このとき、例えば、特開平６−２９５４
３９号公報に示されるように、試し書きに際して発光パ
ワーではなく記録パルスの時間幅の増減により最適なア
シンメトリを求める方法も提案されている。さらには、
最適な記録条件を見つけるための評価基準として、モジ
ュレーションやＡＣ結合後のアシンメトリだけでなく、
再生信号のジッタや再生エラーレート、ＤＣのアシンメ
トリも用い得る。このようにして、最適な記録条件で記
録を行なうことで、再生時のジッタの低減とパワーマー
ジンの向上を図り得る。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の試し
書きの目的は、ＯＰＣによる記録パワーの最適化が殆ど
である。また、前述したように最適な記録条件とするた
めのパルス波形、パルス時間幅などのストラテジの要素
のうち、一部の要素のみを変化させて試し書きを行なう
例もあるが、他のストラテジの要素が変動した場合に記
録条件がどのように変化するかについては関知していな
い。周囲温度や媒体の種類などにより記録時毎に記録条
件は異なり、その時の最適なストラテジも異なるが、従
来例による場合には、各要素を総合的に考慮して最適な
ストラテジを決定することができず、不十分である。

【００１０】そこで、本発明は、極力少ない試し書き回
数にて、記録時毎に最適なレーザ発光波形規則を決定す
ることができ、記録条件をより適正化し得る情報記録方
法を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
周期Ｔのチャネルクロックに基づく記録変調方式に従っ
たデータ長ｎＴ（ｎは１以上の整数）からなる情報に応
じてレーザ光源を所定の発光波形で発光させて記録層を
有する光ディスク媒体上にレーザ光を照射して前記記録
変調方式に基づいたマーク又はスペースを形成すること
により情報を記録する情報記録方法において、前記光デ
ィスク媒体の種類に適応したレーザ発光波形規則の要素
を予め設定しておき、これらの要素について複数の水準
値を用いて前記光ディスク媒体の所定領域で各々試し書
きを行ない、前記各要素の前記各水準値に対応した所定
の評価基準の評価値から、前記評価基準に対する近似式
の特性を算出し、この近似式の極値に基づき前記光ディ
スク媒体の種類に最良となる前記水準値を算出し、算出
された水準値を演算して記録時のレーザ発光波形規則を
決定するようにした。ここに、各要素の「水準値」と
は、各要素での値を変化させる段回数を意味する。

【００１２】従って、演算される各要素の水準値として
評価基準に対する近似式の特性を算出し、この近似式の
極値に基づき最良となる水準値を算出して記録時のレー
ザ発光波形規則を決定することで、各光ディスク媒体に
最適なレーザ発光波形規則で記録を行なえる。

【００１３】請求項２記載の発明は、周期Ｔのチャネル
クロックに基づく記録変調方式に従ったデータ長ｎＴ
（ｎは１以上の整数）からなる情報に応じてレーザ光源
を所定の発光波形で発光させて記録層を有する光ディス
ク媒体上にレーザ光を照射して前記記録変調方式に基づ
いたマーク又はスペースを形成することにより情報を記
録する情報記録方法において、前記光ディスク媒体の種
類に適応したレーザ発光波形規則の要素を予め設定して
おき、これらの要素について複数の水準値を用いて前記
光ディスク媒体の所定領域で各々試し書きを行ない、こ
れらの試し書きにより算出されたレーザ発光波形規則の
各要素と各水準値とから各要素の寄与度を算出し、この
寄与度が最大となる要素の水準値がより多く設定された
レーザ発光波形規則を用いて再度試し書きを行ない、こ
の試し書き結果により得られる最良となる水準値から記
録時の最終的なレーザ発光波形規則を決定するようにし
た。

【００１４】従って、試し書きにより算出されたレーザ
発光波形規則の各要素と各水準値とから各要素の寄与度
を算出し、この寄与度が最大となる要素の水準値がより
多く設定されたレーザ発光波形規則を用いて再度試し書
きを行ない、最良となる水準値から記録時のレーザ発光
波形規則を決定することで、各光ディスク媒体に極力最
適なレーザ発光波形規則で記録を行なえる。

【００１５】請求項３記載の発明は、請求項２記載の情
報記録方法において、算出された前記寄与度が低い要素
は、初回の試し書きで評価値が最良となった水準値を用
いて記録時の最終的なレーザ発光波形規則を決定するよ
うにした。

【００１６】従って、寄与度が低い要素に関する処理が
簡単な方法にして、各光ディスク媒体に最適なレーザ発
光波形規則で記録を行なえる。

【００１７】請求項４記載の発明は、請求項２又は３記
載の情報記録方法において、レーザ発光波形規則の各要
素間の水準値同士の全ての組合せ中から、前記寄与度の
算出に必要な水準値の組合せを抽出して試し書きを行な
わせる。

【００１８】従って、極力少ない試し書き回数で最良と
なるレーザ発光波形規則を決定することができ、各光デ
ィスク媒体に最適なレーザ発光波形規則で記録を行なえ
る。

【００１９】請求項５記載の発明は、請求項１，２又は
３記載の情報記録方法において、レーザ発光波形規則の
各要素間の水準値同士の全ての組合せ中から、直交表を
なすように水準値の組合せを抽出して試し書きを行なわ
せる。

【００２０】従って、極力少ない試し書き回数で最良と
なるレーザ発光波形規則を決定することができ、各光デ
ィスク媒体に最適なレーザ発光波形規則で記録を行なえ
る。

【００２１】

【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図１
ないし図３に基づいて説明する。本実施の形態では、Ｄ
ＶＤ−ＲＯＭフォーマットのコードデータを、色素系メ
ディア（例えば、色素系光ディスク）に記録（追記）す
る光情報記録再生装置における情報記録方法の例であ
り、データ変調方式として８−１６変調コードを用いて
マークエッジ記録を行なう例とする。即ち、本実施の形
態では、このようなメディアと記録データとを用いて、
半導体レーザをマルチパルス発光させて記録マークを形
成することにより情報の記録を行なう。

【００２２】図１にその光情報記録再生装置の基本的な
構成例を示す。半導体レーザ変調回路１により駆動され
るレーザ光源としての半導体レーザ２から出射されたレ
ーザ光はコリメートレンズ３、ビームスプリッタ４を経
た後、対物レンズ５により光ディスク媒体６上に集光照
射され、情報の記録、再生或いは試し書きに供される。
光ディスク媒体６からの反射光は再び対物レンズ５を通
った後、ビームスプリッタ４により入射光と分離され、
検出レンズ７を経て受光素子８に結像される。受光素子
８による検出信号はヘッドアンプ９を介してコントロー
ラ１０中に再生信号（ＲＦ信号）等として取り込まれ
る。このコントローラ１０は半導体レーザ駆動回路１の
制御も受け持つ。

【００２３】図２にコントローラ１０の内部構成例を示
す。このコントローラ１０はＣＰＵ１１を主体とするも
ので、ヘッドアンプ９からのＲＦ信号を受けてこのＣＰ
Ｕ１１に渡すジッタ検出回路１２、モジュレーション検
出回路１３及びデータデコーダ１４が設けられている。
また、半導体レーザ変調回路１に対してパルス制御信号
を出力するためのデータエンコーダ１５及び半導体レー
ザ波形制御回路１６が設けられている。ジッタ検出回路
１２及びモジュレーション検出回路１３は後述する試し
書き時の評価値検出用のものである。

【００２４】これにより、基本的には、記録時にはこの
コントローラ１０により８−１６変調コードからなる記
録データに基づいたパルス制御信号を生成し、半導体レ
ーザ変調回路１でそのパルス制御信号に応じた駆動電流
により半導体レーザ２を駆動させることで、図４で説明
したようなマルチパルスの光を発光させ、スピンドルモ
ータにより回転中の光ディスク媒体６の記録層に集光照
射させることで、光ディスク媒体６に記録マークを形成
し情報の記録を行なう。再生時には、半導体レーザ変調
回路１により半導体レーザ２を駆動して再生パワー（リ
ードパワー）で発光させ、スピンドルモータにより回転
中の光ディスク媒体６の記録層に集光照射させ、その反
射光を受光素子８で受光して光電変換し、ヘッドアンプ
９で増幅して再生信号（ＲＦ信号）を得る。

【００２５】このような情報記録方法を基本として、本
実施の形態では、記録を行なう際に、光ディスク媒体６
の種類に応じて、予め光ディスク媒体６の所定の領域
（ＰＣＡ領域）でレーザ発光波形規則（ストラテジ）を
構成する各要素を、各々変化させて試し書きを行ない、
その結果に応じて記録時毎に最適なストラテジを決定す
るようにしたものである。

【００２６】この処理の概要を図２を参照して説明す
る。まず、複数のストラテジで試し書きを行なうため
に、ＣＰＵ１１で生成されたテストデータと、ストラテ
ジの各要素の水準値とがＣＰＵ１１からレーザ波形制御
回路１６に出力される。レーザ波形制御回路１６はスト
ラテジの各要素の水準値とテストデータとを基にパルス
制御信号を生成し、半導体レーザ変調回路１に送出して
半導体レーザ２を変調駆動し、光ディスク媒体６のＰＣ
Ａ領域に試し書きを行なう。試し書きされた記録データ
は、再生時に、ジッタ検出回路１２に送出され、ジッタ
が検出される。ジッタ検出回路１２はＲＦ信号を２値化
し、２値化したＲＦ信号のパルス時間幅を測定する。Ｃ
ＰＵ１１は、このジッタ回路１２から出力される各パル
ス時間幅の統計処理を行ない、試し書きされた領域のジ
ッタσを算出する。ＣＰＵ１１は、このような試し書き
を何回か行なって各試し書きでのジッタσの値を比較
し、最もジッタが低い状態で最適な記録が行なえた記録
条件となるストラテジを決定する。

【００２７】これらの各要素の各々の値を幾つかの水準
値で変化させた全ての組合せパターンで試し書きを行な
って最適なストラテジを決定すればよいが、この場合に
は、膨大な組合せパターンが必要となる。例えば、４つ
の要素が各々８水準ずつある場合を考えると、水準値同
士の全ての組合せパターンは８⁴ ＝４０９６通りにもな
ってしまう。そこで、本実施の形態では、これらの水準
値同士の全ての組合せパターンの内、最低限必要な一部
の組合せのみを抽出し、抽出された組合せの水準値を用
いて試し書きを行なって、最適なストラテジを決定する
ものである。

【００２８】いま、光ディスク媒体６が色素系メディア
である場合を例に採り、図３を参照して本実施の形態の
試し書き処理例を説明する。図３(ｃ)は、色素系メディ
アに対してマルチパルスにより記録する際の半導体レー
ザ２の発光例を示す。マルチパルス発光波形のマーク部
は、パルス幅ＴＥの先頭加熱パルスＥと、それに後続す
る複数個のパルス幅ＴＦの連続加熱パルスＦとからなっ
ており、記録パワーはＰｗとされている。図３(ｄ)は、
基本的なストラテジは図３(ｃ)の場合と同様であるが、
先頭加熱パルスＥ′のパルス幅ＴＥ′が、直前のスペー
スの長さＴspと自己のマーク長Ｔwdとの関係で可変とな
るストラテジの例を示している。

【００２９】光ディスク媒体６の種類が色素系メディア
の場合、ストラテジの要素として、まず、先頭加熱パル
スＥのパルス幅ＴＥと後続の連続マルチパルスＦのパル
ス幅ＴＦと記録パワーＰｗとを用いる。これらの３つの
要素に対して、各水準値を、例えば、 ＴＥ ：１．００Ｔ(ＴＥ１)、１．１０Ｔ(ＴＥ２)、
１．２０Ｔ(ＴＥ３) ＴＦ ：０．５５Ｔ(ＴＦ１)、０．６０Ｔ(ＴＦ２)、
０．６５Ｔ(ＴＦ３) Ｐｗ ：８．０ｍＷ(Ｐｗ１)、９．０ｍＷ(Ｐｗ２)、１
０．０ｍＷ(Ｐｗ３) とし、各組合せで試し書きを行ない、ジッタσが最低と
なる組合せの各要素の水準値を決定する。これらの３要
素の水準値の全ての組合せで試し書きを行なう場合は、
３³ ＝２７通りの組合せが必要になる。

【００３０】このような原則に対して、本実施の形態で
は、試し書きに用いる各要素での各水準値の組合せパタ
ーンとして、表１に示すような９通りのパターンを抽出
して用いる。

【００３１】

【表１】

【００３２】表１は直交表と呼ばれ、各パターンの組合
せは、各要素の水準値が他の全ての要素の水準値と等し
く組み合わさるように組まれている。例えば、要素ＴＥ
と要素ＴＦとの組合せは、（ＴＥ１，ＴＦ１），（ＴＥ
２，ＴＦ１），（ＴＥ３，ＴＦ１），（ＴＥ２，ＴＦ
１），（ＴＥ２，ＴＦ２），（ＴＥ２，ＴＦ３），（Ｔ
Ｅ３，ＴＦ１），（ＴＥ３，ＴＦ２），（ＴＥ３，ＴＦ
３）の９通りの組合せが全て１回ずつ含まれている。他
の要素、ＴＦとＰｗとの組合せ、ＴＥとＰｗとの組合せ
についても同様である。

【００３３】表１に示すような直交表により抽出される
組合せパターンを用いることで、全ての要素の条件（水
準値）の組合せを用いた試し書きによる評価を行なわな
くても、各要素の各水準値が各々変化したときの平均的
な評価を求めることができる。よって、本実施の形態に
よれば、全ての組合せパターンに対して用いる組合せパ
ターンを９／２７＝３３％に減らすことができる。ここ
に、抽出されたこれらの組合せパターンにて各々試し書
きを行なう際には、その都度、その試し書きの順番をラ
ンダムに変更させるようにすれば、各要素以外の外乱要
因が試し書きの度に変化した場合であっても、評価に及
ぼす影響を小さくすることができる。

【００３４】つづいて、本実施の形態では、各要素が水
準値毎にどれだけジッタσに影響を及ぼすかを調べるた
めに、各要素の各水準値における特性値Ｙを算出する。
特性値ＹTE1〜ＹTE3，ＹTF1〜ＹTF3，ＹPw1〜ＹPw3は、
各水準値に対して表１に示す直交表内の組合せで割当て
られているジッタσ１〜σ９の２乗平均を対数にとって
−１０倍することにより求められる。

【００３５】具体的には、 ＹTE1＝−１０ log｛（σ１² ＋σ２² ＋σ３²）／３｝ ＹTE2＝−１０ log｛（σ４² ＋σ５² ＋σ６²）／３｝ ＹTE3＝−１０ log｛（σ７² ＋σ８² ＋σ９²）／３｝ ＹTF1＝−１０ log｛（σ１² ＋σ４² ＋σ７²）／３｝ ＹTF2＝−１０ log｛（σ２² ＋σ５² ＋σ８²）／３｝ ＹTF3＝−１０ log｛（σ３² ＋σ６² ＋σ９²）／３｝ ＹPw1＝−１０ log｛（σ１² ＋σ６² ＋σ８²）／３｝ ＹPw2＝−１０ log｛（σ２² ＋σ４² ＋σ９²）／３｝ ＹPw3＝−１０ log｛（σ３² ＋σ５² ＋σ７²）／３｝ のように求める。ジッタσは小さいほどよい特性となる
ので、この特性値Ｙは、望小特性と呼ばれ、この特性値
Ｙが大きいほど記録条件がよいということになる。

【００３６】このように算出された各特性値Ｙをまとめ
ると表２のようになる。

【００３７】

【表２】

【００３８】この表２より、各要素において最も特性値
Ｙが大きい水準値を各々選ぶことにより、最適なストラ
テジを決定することができる。

【００３９】なお、本実施の形態では、各特性値Ｙは−
１０log｛｝なる演算式により求めるようにしたが、実
際の試し書きに際しては、単純に２乗平均を算出して特
性値Ｙを算出するようにしてもよい。

【００４０】次に、演算により求められた特性値Ｙを用
いてストラテジを構成する各要素である先頭パルスのパ
ルス幅ＴＥ、後続マルチパルスのパルス幅ＴＦ、及び、
記録パワーＰｗの内、どの要素がジッタσの変動に影響
を与えるかの寄与度Ｋを算出する。各要素に対する寄与
度ＫTE，ＫTF，ＫPwは、 ＫTE＝（ＹTE1² ＋ＹTE2² ＋ＹTE3² ）／３ ＫTF＝（ＹTE1² ＋ＹTF2² ＋ＹTF3² ）／３ ＫPw＝（ＹPw1² ＋ＹPw2² ＋ＹPw3² ）／３ のようにして求められる。

【００４１】これらの寄与度ＫTE，ＫTF，ＫPwの値の大
きな要素ほど、ジッタσの変動に影響を与えることにな
る。例えば、演算の結果、寄与度ＫTEが最も大きな値と
なった場合、先頭パルス幅の変化がジッタσの変動に最
も影響を与えていることになるので、先頭パルス幅ＴＥ
を当初の３水準よりも水準値を多くした８水準にとっ
て、再度、試し書きを行なえば、さらに最適なストラテ
ジを決定することができる。この際、寄与度ＫTF，ＫPw
の低い要素である後続マルチパルス幅ＴＦ、記録パワー
Ｐｗは、最初の試し書きで求めた最適な水準値を用いれ
ばよく、その分、処理が簡単となる。

【００４２】なお、各要素がジッタσの変動に対して何
％の変動寄与があるか（寄与率）を求める場合には、誤
差変動等の算出を行なう必要があるが、本実施の形態で
は、各要素が他の要素に比べて寄与度が大きいかどうか
を調べればよいので、簡易な演算で寄与度を求めれば十
分である。

【００４３】また、本実施の形態では、試し書きに用い
る水準値の組合せを抽出するために直交表を用いるよう
にしたが、寄与度Ｋの算出に必要な水準値の組合せを抽
出して試し書きを行なわせるようにしてもよい。

【００４４】本発明の第二の実施の形態について説明す
る。前述した第一の実施の形態では、各要素における最
適な水準値を特性値Ｙを比較することにより求めるよう
にしたが、本実施の形態では、水準値が多水準であっ
て、水準値に対する特性値Ｙ（即ち、評価基準）の変化
特性が或る式に近似的に当てはまる場合には、その近似
式の極値を求めることで、最適な特性値Ｙとそれに対応
した最適な水準値を求めるようにしたものである。

【００４５】例えば、ストラテジの或る要素が７水準あ
り、各水準値の間隔が等しいときに、その要素の特性値
Ｙが２次曲線 Ｙ＝α０＋α１＋α２ に当てはまるとした場合を考える。７水準の水準値を
（Ｘ１，Ｘ２，…，Ｘ７）＝（−３，−２，−１，０，
１，２，３）、各水準値に対する特性値Ｙの値を各々Ｙ
１，Ｙ２，…，Ｙ７とおくと、 α０＝（Ｙ１＋Ｙ２＋Ｙ３＋Ｙ４＋Ｙ５＋Ｙ６＋Ｙ７）
／７ α１＝（−３Ｙ１−２Ｙ２−Ｙ３＋Ｙ５＋２Ｙ６＋３Ｙ
７）Ｘ／２８ α２＝（５Ｙ１−３Ｙ３−４Ｙ４−３Ｙ５＋５Ｙ７）
（Ｘ²−４）／８４ となるので、特性値Ｙの近似曲線は Ｙ＝（Ｙ１＋Ｙ２＋Ｙ３＋Ｙ４＋Ｙ５＋Ｙ６＋Ｙ７）／
７−４（５Ｙ１−３Ｙ３−４Ｙ４−３Ｙ５＋５Ｙ７）／
８４＋（−３Ｙ１−２Ｙ２−Ｙ３＋Ｙ５＋２Ｙ６＋３Ｙ
７）Ｘ／２８＋（５Ｙ１−３Ｙ３−４Ｙ４−３Ｙ５＋５
Ｙ７）Ｘ²／８４ となる。そこで、この近似式の極大値（極値）を求める
ことで、最適な水準値Ｘを求めることができる。

【００４６】本発明の第三の実施の形態を図３を参照し
て説明する。本実施の形態は、前述した実施の形態の場
合とは異なるストラテジの要素を用いて試し書きを行な
う場合への適用例である。ここでは、図３(ｄ)に示した
ように、先頭加熱パルスＥのパルス幅ＴＥ′が直前のス
ペースの長さＴspと自己のマーク長Ｔwdとの関係で可変
となるストラテジの例への適用例であり、直前のスペー
スの長さＴspと自己のマーク長Ｔwdとの組合せに対応し
たパルス幅ＴＥ′を試し書きにより決定するものであ
る。

【００４７】色素系メディアの場合、直前のスペースの
長さＴspと自己のマーク長Ｔwdとに応じて先頭加熱パル
スＥのパルス幅ＴＥ′を可変とすることにより低ジッタ
となる記録を行なわせることができるが、データ長の組
合せを各々３Ｔ、≧４Ｔの２種類としても、各々の組合
せで最適なパルス幅ＴＥ′を決定するには、多くの試し
書きが必要になる。この点、本実施の形態では、例え
ば、ストラテジの各要素と各水準値とを、 条件１ （Ｔsp＝３Ｔ，Ｔwd＝３Ｔ）時にパルス幅Ｔ
Ｅ′を短くする量：０Ｔ(ΔＴＥ11)，０．０５Ｔ(ΔＴ
Ｅ12)，０．１０Ｔ(ΔＴＥ13)， 条件２ （Ｔsp＝３Ｔ，Ｔwd≧４Ｔ）時にパルス幅Ｔ
Ｅ′を短くする量： ０．０５Ｔ(ΔＴＥ21)，０．１０Ｔ(ΔＴＥ22)，０．１
５Ｔ(ΔＴＥ23)， 条件３ （Ｔsp≧４Ｔ，Ｔwd＝３Ｔ）時にパルス幅Ｔ
Ｅ′を短くする量： ０Ｔ(ΔＴＥ31)，０．０５Ｔ(ΔＴＥ32)，０．１０Ｔ
(ΔＴＥ33)， 条件４ （Ｔsp≧４Ｔ，Ｔwd≧４Ｔ）時にパルス幅Ｔ
Ｅ′を短くする量： ０Ｔ(ΔＴＥ41)，０．０５Ｔ(ΔＴＥ42)，０．１０Ｔ
(ΔＴＥ43)， として、表３に示すような直交表の組合せにより抽出さ
れる水準値を用いて試し書きを行なわせるものである。

【００４８】

【表３】

【００４９】これによれば、水準値同士の全ての組合せ
パターン３⁴ ＝８１通りに対して、表３に示すような９
通りの組合せパターンによる試し書きにより、先頭加熱
パルスＥのパルス幅ＴＥ′の最適値を求めることができ
る。

【００５０】なお、これらの実施の形態では、試し書き
の結果に関する評価基準として、ジッタ検出回路１２に
より検出されるジッタを用いたが、必ずしもジッタに限
らず、例えば、アシンメトリ、エラーレートなどを評価
基準に用いるようにしてもよい。また、試し書きにおい
て複数の水準値を用いるストラテジの要素としても、各
実施の形態で例示した要素やパラメータ（水準値）に限
らず、他の要素やパラメータを用いるようにしてもよ
い。さらには、ＰＣＡ領域において記録パワーＰｗを含
めた複数のストラテジによる試し書きを行なう例で説明
したが、従来技術で説明したように、まず、基本ストラ
テジによるＯＰＣで暫定的な最適記録パワーを求めてか
らストラテジによる試し書きを行なうようにしてもよ
い。

【００５１】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、演算され
る各要素の水準値として評価基準に対する近似式の特性
を算出し、この近似式の極値に基づき最良となる水準値
を算出して記録時のレーザ発光波形規則を決定するよう
にしたので、各光ディスク媒体に最適なレーザ発光波形
規則で記録を行なうことができる。

【００５２】請求項２記載の発明によれば、試し書きに
より算出されたレーザ発光波形規則の各要素と各水準値
とから各要素の寄与度を算出し、この寄与度が最大とな
る要素の水準値がより多く設定されたレーザ発光波形規
則を用いて再度試し書きを行ない、最良となる水準値か
ら記録時のレーザ発光波形規則を決定するようにしたの
で、各光ディスク媒体に極力最適なレーザ発光波形規則
で記録を行なうことができる。

【００５３】請求項３記載の発明によれば、請求項２記
載の情報記録方法を実現する上で、寄与度が低い要素に
関する処理が簡単な方法にして、各光ディスク媒体に最
適なレーザ発光波形規則で記録を行なうことができる。

【００５４】請求項４記載の発明によれば、請求項２又
は３記載の情報記録方法を実現する上で、極力少ない試
し書き回数で最良となるレーザ発光波形規則を決定する
ことができ、各光ディスク媒体に最適なレーザ発光波形
規則で記録を行なうことができる。

【００５５】請求項５記載の発明によれば、請求項１，
２又は３記載の情報記録方法を実現する上で、極力少な
い試し書き回数で最良となるレーザ発光波形規則を決定
することができ、各光ディスク媒体に最適なレーザ発光
波形規則で記録を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の各実施の形態で用いる光情報記録再生
装置の基本的な構成例を示す正面図である。

【図２】そのコントローラ内の構成例を示すブロック図
である。

【図３】本発明の第一及び第三の実施の形態における試
し書き処理例を説明するためのタイムチャートである。

【図４】各種ストラテジによるレーザ発光制御例を説明
するためのタイムチャートである。

【図５】モジュレーションを説明するためのＲＦ信号例
を示す波形図である。

【図６】ＡＣ結合後のアシンメトリを説明するための波
形図である。

【符号の説明】

２ レーザ光源 ６ 光ディスク媒体

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 周期Ｔのチャネルクロックに基づく記録
   変調方式に従ったデータ長ｎＴ（ｎは１以上の整数）か
   らなる情報に応じてレーザ光源を所定の発光波形で発光
   させて記録層を有する光ディスク媒体上にレーザ光を照
   射して前記記録変調方式に基づいたマーク又はスペース
   を形成することにより情報を記録する情報記録方法にお
   いて、 前記光ディスク媒体の種類に適応したレーザ発光波形規
   則の要素を予め設定しておき、これらの要素について複
   数の水準値を用いて前記光ディスク媒体の所定領域で各
   々試し書きを行ない、前記各要素の前記各水準値に対応
   した所定の評価基準の評価値から、前記評価基準に対す
   る近似式の特性を算出し、この近似式の極値に基づき前
   記光ディスク媒体の種類に最良となる前記水準値を算出
   し、算出された水準値を演算して記録時のレーザ発光波
   形規則を決定するようにしたことを特徴とする情報記録
   方法。
2. 【請求項２】 周期Ｔのチャネルクロックに基づく記録
   変調方式に従ったデータ長ｎＴ（ｎは１以上の整数）か
   らなる情報に応じてレーザ光源を所定の発光波形で発光
   させて記録層を有する光ディスク媒体上にレーザ光を照
   射して前記記録変調方式に基づいたマーク又はスペース
   を形成することにより情報を記録する情報記録方法にお
   いて、 前記光ディスク媒体の種類に適応したレーザ発光波形規
   則の要素を予め設定しておき、これらの要素について複
   数の水準値を用いて前記光ディスク媒体の所定領域で各
   々試し書きを行ない、これらの試し書きにより算出され
   たレーザ発光波形規則の各要素と各水準値とから各要素
   の寄与度を算出し、この寄与度が最大となる要素の水準
   値がより多く設定されたレーザ発光波形規則を用いて再
   度試し書きを行ない、この試し書き結果により得られる
   最良となる水準値から記録時の最終的なレーザ発光波形
   規則を決定するようにしたことを特徴とする情報記録方
   法。
3. 【請求項３】 算出された前記寄与度が低い要素は、初
   回の試し書きで評価値が最良となった水準値を用いて記
   録時の最終的なレーザ発光波形規則を決定するようにし
   たことを特徴とする請求項２記載の情報記録方法。
4. 【請求項４】 レーザ発光波形規則の各要素間の水準値
   同士の全ての組合せ中から、前記寄与度の算出に必要な
   水準値の組合せを抽出して試し書きを行なわせることを
   特徴とする請求項２又は３記載の情報記録方法。
5. 【請求項５】 レーザ発光波形規則の各要素間の水準値
   同士の全ての組合せ中から、直交表をなすように水準値
   の組合せを抽出して試し書きを行なわせることを特徴と
   する請求項１，２又は３記載の情報記録方法。