JP4395416B2 - 光情報記録装置 - Google Patents

Description

この発明は、光情報記録装置に関し、特に、ドライブとメディアの相性に応じた記録条件の最適化を行うことが可能な光情報記録装置に関する。

ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等に代表される光情報記録媒体（以下、「メディア」という）の記録においては、記録対象となるメディアと記録に使用する記録装置（以下、「ドライブ」という）との相性が個々の組み合わせにより異なる。この原因としては、メディアを構成する記録材料の種類の違いや製造時の成膜バラツキにより最適な記録条件が変化するといったメディア側の要因と、ドライブを構成するピックアップや半導体レーザの種類の違いや製造時の組立バラツキにより最適な条件が変化するといったドライブ側の要因が考えられ、実際はこれらの複合要因として各組み合わせに適した記録条件が存在する。

そこで、従来は、メディア側に当該メディアの種類がドライブ側から識別可能なＩＤ情報を格納しておくとともに、ドライブ側にはメディアの種類ごとに予め用意された記録条件を格納しておき、実際の記録を行う場合には、ドライブに装填されたメディアから当該メディアのＩＤ情報を読み込み、当該ＩＤ情報と関連づけられた記録条件（「ライトストラテジ」と称する）を使用するといった手法が使用されている。

しかし、この従来の手法では、予め検証された既知のメディアに対しては、ある程度適正のある記録条件が選択できるが、検証されていない未知のメディアに対しては、用意された記録条件では、対応しきれない場合もあり、また、既知のメディアであっても記録環境の変化、例えば、記録速度、外乱、経時変化によっては、用意された記録条件では対応できない場合があった。

このような未知メディアへの対応を図った手法としては、特許文献１および特許文献２に記載された手法が知られている。上記特許文献１の段落００２０には、「・・・記録パターン毎に、チャネルクロックとの位相誤差を検出する。記録補償パラメータ調整部１２は、位相誤差検出部１１における検出結果に基づいて、発光波形規則を最適化する。・・・」との記載があり、チャネルクロックとの比較により位相誤差を検出し補正する手法が開示されている。

また、同文献の段落００２４には、「次に、発光波形規則を決定するためのテストパターンを記録する。そして、そのテストパターンを記録した領域を再生して、予め用意した発光波形規則と位相誤差量との関係を調べる。即ち、各種マークの長さとそのマークの直前の各種スペースの長さとのそれぞれの組み合わせにおける位相誤差量を測定する。測定した位相誤差量から、位相誤差量が零となる発光波形規則を予測して、所望の発光波形規則を決定する。・・・」との記載があり、マークとスペースの組み合わせごとに位相誤差量を測定し、位相誤差量が零となる発光波形規則を予測する手法が開示されている（図８および図１２参照）。

この特許文献１に記載された手法によれば、記録パターンの位相誤差に基づく補正が行われるため、ストラテジの最適化に有効な手法である。

また、上記特許文献２の段落００４５には、「・・・３Ｔ期間に相当するトップパルスと８Ｔ期間に相当するノンマルチパルスが一体的（連続的）に生成される・・・」との記載があり、さらに、同文献の段落００４６には、「・・・ライトパルスは２段階でレーザパワーが調整されるが、レーザパワー（トップパルスの波高値）Ｐｈとレーザパワー（ノンマルチパルスの波高値）Ｐｍとの比が最適である場合に、最適パワーが得られる・・・」との記載があり、Ｐｈ／Ｐｍの比率を最適化することの有用性が示唆されている。
特開２００３−３０８３７号公報 特開２００４−１１０９９５号公報

しかし、上記特許文献１の手法では、従来と同じく、予めドライブに記憶されたストラテジの微調整を行っていることになるため、予め記憶されたストラテジに適合しないメディアに対しては、良好な記録品位を満足させることが困難であった。

また、上記特許文献２の手法では、同文献の段落００６７に記載されたように、ドライブまたはメディアに記憶された値に基づいて、ＰｈとＰｍの初期値を仮設定し、その後、Ｐｈ／Ｐｍ比率を求めているため、特許文献１の場合と同様に、仮設定の値に適合しないメディアに対しては、良好な記録品位を満足させることが困難である。

そこで、本発明は、ドライブとメディアの相性に応じた記録条件の最適化手法を提供する。

上記目的を達成するため、請求項１の発明は、トップパルスと後続パルスとで構成された記録パルスに基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアへのテスト記録を行って前記記録パルスの中の最短ピットに対応するトップパルスの条件を決定する第１の手段と、
前記トップパルスの条件を使用したテスト記録を行って前記トップパルスと前記後続パルスとのエネルギー比率を決定する第２の手段と、前記エネルギー比率を用い、前記トップパルスの条件を基準として前記後続パルスの条件を決定する第３の手段とを具備することを特徴とする。

ここで、トップパルスは、最も出現頻度が高く記録が困難な最短ピットに対応させて設定することが望ましく、例えば、ＣＤ−Ｒのように３Ｔ〜１１Ｔのピット列が定義されている場合や、ＤＶＤ−Ｒのように３Ｔ〜１１Ｔおよび１４Ｔが定義されている場合は、３Ｔピットに対応させておくことが望ましい。

また、後続パルスは、ノンマルチパルスおよびマルチパルスのいずれの形態を取ることも可能であり、ノンマルチパルスの場合は、トップパルスと後続パルスのパワー比で記録パルスの最適化を行い、マルチパルスの場合は、後続パルスを複数の分割パルスで構成し、該各分割パルスのデューティを調整することで記録パルスの最適化を行うことが望ましい。

トップパルスの条件と後続パルスの条件は、パルスパワー、パルス幅、デューティのいずれを組み合わせて定義しても良く、望ましくは、トップパルスと後続パルスの比を調整することで記録パルスの最適化を行う。

本発明では、まずトップパルスの条件を決定してから後続パルスの条件を決定することで、より安定した記録品位の実現を可能とする。即ち、記録品位への影響は、記録パルスのトップ側の方が後続側よりも大きく、特に、出現頻度の高い３Ｔパルスをトップパルスに設定した場合には、この影響が顕著に現れる。

従って、本発明では、まずトップパルスの最適条件を求めておくことで、より最適なトップパルス条件を見出すことを可能とし、その後、後続パルスの条件を求める手法を採用している。これに対し、前述の特許文献２に記載されたように、トップパルスと後続パルスの比率の最適化を先に行う手法では、トップパルスの最適解が得られない場合があり、未知メディアへの対応力が低下する。

尚、より精度を向上させるために、トップパルス条件の決定と後続パルス条件の決定を数回繰り返して行っても良い。

また、請求項２の発明は、トップパルスと後続パルスとで構成された記録パルスに基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアへのテスト記録を行って記録品位を検査する第１の手段と、前記検査の結果に基づいて記録条件を変化させながら前記記録パルスの中の最短ピットに対応するトップパルスの条件を決定する第２の手段と、前記トップパルスの条件を使用したテスト記録を行って前記トップパルスと前記後続パルスとのエネルギー比率を決定する第３の手段と、前記エネルギー比率を用い、前記トップパルスの条件を基準として前記後続パルスの条件を決定する第４の手段とを具備することを特徴とする。

ここで、記録品位の検査は、実際に書き込み対象となるメディアに対してテスト記録を行うことで、ドライブとメディアの相性を評価する手法であることが望ましく、この検査の結果得られた記録品位に基づいて、最適記録条件が得られる確率の高い領域に当たりをつけ、この領域に焦点を絞ってテスト記録を行うことで、より少ないテスト回数で最適なトップパルス条件を得ることが可能となる。このとき使用する記録条件としては、記録パルスのパワーおよび幅の両方を用いることが望ましい。

また、請求項３の発明は、トップパルスと後続パルスとで構成された記録パルスに基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアへのテスト記録を行って前記記録パルスの中の最短ピットに対応するトップパルスの条件を決定する第１の手段と、前記トップパルスの条件を使用したテスト記録を行って前記トップパルスと前記後続パルスとのエネルギー比率を決定する第２の手段と、前記エネルギー比率を用い、前記トップパルスの条件を基準として前記後続パルスの条件を決定する第３の手段と、前記トップパルスの条件および前記後続パルスの条件を使用したテスト記録を行って前記記録パルスの位相条件を決定する第４の手段とを具備することを特徴とする。

このように、順次得られた記録条件を利用しながらテスト記録を繰り返すことにより、より少ないテスト回数で最適解を導き出せる確率が高くなる。本発明では、この確率の向上に影響を与える決定順序として、トップパルス条件、後続パルス条件、記録パルスの位相条件の順を推奨する。

記録パルスの位相条件は、該記録パルスの前端および後端の位置関係として定義することが望ましく、より望ましくは、直前のランド長や後続のランド長、さらにその前のピット長等の前後関係を考慮して定義する。

また、請求項４の発明は、所定周期のクロック信号を基準とする記録パルス列に基づいてレーザ光のパルス照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、前記記録パルス列は、該記録パルス列の中で最も最短となるｍ’Ｔの長さを有するｍＴパルスと、下式で定義されるｎ’Ｔの長さを有するｎＴパルスとを含み、
ｎ’Ｔ＝ｍ’Ｔ＋（ｎ−ｍ）Ｔ
Ｔ：クロック信号の周期、ｍ’：最短パルスのクロック数、ｎ’：該当パルスのクロック数、ｍＴ：最短ピットのデータ長、ｎＴ：最短ピットよりも長いピットのデータ長、ｍ，ｎ：自然数でかつｍ＜ｎ
前記ｎＴパルスの記録条件は、前記光記録メディアへのテスト記録を伴う下記ステップの実行により決定され、
（１）ｍＴパルスの条件決定
（２）ｍ’Ｔパルスと（ｎ−ｍ）Ｔパルスとのエネルギー比率の決定
（３）ｎＴパルスの条件決定
前記情報の記録は、前記ステップを経て決定されたｍＴパルスとｎＴパルスとを用いて行われることを特徴とする。

ここで、ｎＴパルスは、ＣＤ−Ｒであれば３Ｔ〜１１Ｔまでのピットおよびランドに対応したバリエーションを有し、ＤＶＤ−Ｒであれば３Ｔ〜１１Ｔおよび１４Ｔのピットおよびランドに対応したバリエーションを有する。この場合は、３Ｔが最短長になるため、ｍＴ＝３Ｔとなる。一般の光ディスクシステムでは、ｍおよびｎは自然数、かつ、ｍ≦ｎの関係を有する。尚、上記クロック信号は、再生信号に含まれたウォブル信号やプリピット信号を利用した周知の手法により生成することが可能である。

望ましくは、ｍＴパルスをトップパルスとし、（ｎ−ｍ）Ｔパルスを該トップパルスに続く後続パルスとし、これらを連続させたパルスをｎＴパルスとする。ｍＴパルスは最短パルスとなるため、記録が最も難しく、この条件を決定することが他のパルス条件を決定することよりも優先される。

ｍＴパルスの長さは、ｍ’Ｔとして定義され、最短ピットのデータ長であるｍＴから変化させたパルスとしている。これは、最短ピットを記録したときの理想からのずれを考慮して、最適な記録パルス長を求めた結果であり、ｎＴパルスの長さもこのｍ’Ｔの影響を受けてｎ’Ｔとなる。

例えば、最短長の３Ｔデータを２Ｔの記録パルスで記録する場合は、ｍＴ＝３Ｔ、ｍ’Ｔ＝２Ｔとなるため、５Ｔのデータを記録するための記録パルスｎ’Ｔは、２Ｔ＋（５−３）Ｔ＝４Ｔとなる。

ｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率は、ｍＴパルスと（ｎ−ｍ）Ｔパルスの条件比率として定義され、例えば、ノンマルチパルスであれば、ｍＴパルスの波高値と、（ｎ−ｍ）Ｔパルスの波高値との比率で定義することが望ましく、マルチパルスであれば、ｍＴパルスの幅と（ｎ−ｍ）Ｔパルスの幅若しくは（ｎ−ｍ）Ｔパルスを構成する分割パルスのデューティ比との比率で定義することが望ましい。より望ましくは、ｍＴパルスの条件を固定した状態で、（ｎ−ｍ）Ｔパルスの条件を変化させたテスト記録を行うことでｍＴ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率を決定する。

即ち、上記比率は、両パルスのエネルギー比率、即ち、ｍ’Ｔパルスによるエネルギーと（ｎ−ｍ）Ｔパルスによるエネルギーとの比率に基づき決定することが望ましく、このエネルギー比率は、パワーおよび／またはパルス幅を用いて設定することが可能である。より望ましくは、記録パルスをマルチパルスで構成する場合はパルス長の比率で定義し、ノンマルチパルスで構成する場合はパワー比率で定義する。

ｎＴパルスの条件は、上記比率を満足するｍＴパルスの条件と、（ｎ−ｍ）Ｔパルスの条件との組み合わせて決定することが望ましく、より望ましくは、記録パルスの前端と後端の位置を定義した位相条件を考慮しておく。

また、請求項５の発明は、単位時間長Ｔを基準とする記録パルス列に基づいてレーザ光のパルス照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、前記記録パルス列は、前記メディアに記録される最短のピットを形成するためのｍＴパルスと、下式で定義されるｎ’Ｔの長さを有するｎＴパルスとを含み、
ｎ’Ｔ＝ｍ’Ｔ＋（ｎ−ｍ）Ｔ
ｍ’Ｔ：最短ピットを形成するための記録パルスの長さ、ｎ’Ｔ：最短ピットよりも長いピットを形成するための記録パルスの長さ、ｍＴ：最短ピットのデータ長、ｎＴ：最短ピットよりも長いピットのデータ長、ｍ，ｎ：自然数でかつｍ＜ｎ
前記ｎＴパルスの記録条件は、前記光記録メディアへのテスト記録を伴う下記ステップの実行により決定され、
（１）ｍＴパルスの条件決定
（２）ｍ’Ｔパルスと（ｎ−ｍ）Ｔパルスとのエネルギー比率の決定
（３）ｎＴパルスの条件決定
前記情報の記録は、前記ステップを経て決定されたｍＴパルスとｎＴパルスとを用いて行われることを特徴とする。

以上説明したように、本発明によれば、ドライブにとって未知のメディアであっても、より最適に近い記録条件を得ることが可能になる。

以下、本発明に係る光情報記録装置を添付図面を参照して詳細に説明する。尚、本発明は、以下説明する実施形態に限らず適宜変更可能である。

図１は、本発明に係る記録パルスの構成と記録条件決定の全体フローを示す概念図である。同図（ａ）に示すように、本発明に係る記録パルス１０は、該記録パルスの先端に位置するトップパルス１２と、該トップパルスに続く後続パルス１４とで構成される。

ここで、記録パルス１０の長さをｎ’Ｔとすると、トップパルス１２はｍ’Ｔの長さを有し、後続パルス１４は（ｎ−ｍ）Ｔの長さを有する。本実施形態では、ｍ＝３、ｎ＝３〜１１および１４の値をとるものとする。Ｔは光ディスクシステムにて定義された単位時間であり、その周期はクロック信号によって決定される。

記録パルス１０の条件は、同図（ｂ）に示す一連のフローを実行することによって決定される。このフローは、光情報記録装置（以下、「記録装置」または「ドライブ」という）に光情報記録媒体（以下、「メディア」または「ディスク」という）を装填した状態でのテスト記録を伴って実行される。

同図（ｂ）に示すように、記録パルス１０の条件を決定する際には、まず、ｍ’Ｔ長のパルス条件を決定し（ステップＳ１００）、その後、このｍ’Ｔ長の条件を利用して、ｍ’Ｔ長のパルス条件と（ｎ−ｍ）Ｔ長のパルス条件との比率となるｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔを求める（ステップＳ２００）。その後、この比率に基づいてｎＴパルスを構成し（ステップＳ３００）、最後に位相ずれ補正を行ってｎ’Ｔ長の記録パルスの条件を決定する（ステップＳ４００）。

図２は、本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。同図に示すように、このドライブ１００は、レーザ発振器１０３から出力されたレーザ光を用いて、メディア５０に対する情報の記録再生を行う。

メディア５０に対して情報の記録を行う場合は、所望の記録情報に対応した記録信号をエンコーダ１０１でＥＦＭ方式で符号化し、この符号化した記録データをストラテジ回路１０２に加える。

ここで、このストラテジ回路１０２には、所定のストラテジの各種設定パラメータが設定されており、該ストラテジ回路１０２は、ストラテジの各種設定パラメータを補正して、レーザ発振器１０３から出力されるレーザ光の強度やパルス幅を制御し、所望の記録状態が得られるであろう記録パルスを生成する。

ストラテジ回路１０２で形成された記録パルスは、レーザ発振器１０３に加えらえ、レーザ発振器１０３は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をレンズ１０４、ハーフミラー１０５、レンズ１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転するメディア５０に照射し、これによりメディア５０に、所望の記録データに対応したピット、ランド列からなる記録パターンが記録される。

一方、メディア５０上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザ発振器１０３から一様な再生レーザ光がレンズ１０４、ハーフミラー１０５、レンズ１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転するメディア５０に照射される。

この時、再生レーザ光は、記録時にレーザ発振器１０３から出力されるレーザ光よりも強度の弱い再生レーザ光が用いられ、この再生レーザ光によるメディア５０からの反射光は、レンズ１０６、ハーフミラー１０５、レンズ１０７を介して受光部１０８で受光され、電気信号に変換される。

受光部１０８から出力される電気信号は、メディア５０に記録されたピット、ランドからなる記録パターンに対応している。この受光部１０８から出力される電気信号は、同期信号検出回路１０９で該電気信号に含まれるウォブル成分から所定周期のクロック信号が生成され、その後、２値化回路１１０で２値化され、さらにデコーダ１１１でデコードされて再生信号として出力される。

このように、ドライブとメディアで構成された記録システムの記録品位は、ドライブの特性ばらつきとメディアの特性ばらつきに左右されるため、この影響を前述のストラテジが吸収することで記録品位の向上が図られる。尚、メディアとしては、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒに代表される色素型メディアやＣＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＷに代表される相変化型のメディア等の各種光情報記録媒体の適用が可能である。

以下、上述したドライブが実行する図１（ｂ）に示した記録パルス条件決定フローの詳細を説明する。

（ｍ’Ｔ条件の決定）
図３は、図１に示したｍ’Ｔ決定フローの詳細な実行手順を示すフローチャートである。同図に示すように、前述のドライブ１００は、該ドライブの初期設定を行うまでステップＳ１１０〜Ｓ１１４までを実行し、次に、テスト記録の条件を決めるまでのステップＳ１１６〜Ｓ１２２までを実行し、その後、決定した条件でテスト記録を行うステップＳ１２４を実行し、その結果に基づいてｍＴパルスの条件を決定するステップＳ１２６を実行する。以下、これら各ステップの詳細を説明する。

（基準条件の決定）
図３に示すステップＳ１１０では、まず、任意の標準的なメディアを用いて記録速度を変化させながらテスト記録を行い、１つのパルス幅と３つのパワー値を基準条件として求める。３つのパワー値としては、上記テスト記録の結果、ジッタが最小となった値と、その前後に位置する２つのパワー値を用いることが望ましい。前後２つのパワー値としては、ジッタ良否の基準となる閾値近傍の値を用いることが好ましい。ここで求めた基準条件が後の記録品位検査の際に利用される。

（基準閾値の決定）
後述するように、本発明ではジッタ閾値以下の領域をテスト記録条件の範囲（以下、「テスト領域」という）として設定することを意図しているため、この判断基準となる閾値を決定する必要がある。閾値の値としては、ドライブやメディアの種類に応じて標準的な値を用意しておいても良いが、ジッタの許容領域のミニマムラインを示す閾値は、図２に示したピックアップを構成する光学系部品やその他の要素の状態によって変化し、また、メディアを記録する速度によっても変化する。

従って、この閾値も実際に使用するドライブとメディアの組み合わせごとに求め、より的確な判断基準を持たせることで、より的確なテスト領域の設定を行うことが推奨される。

もっとも、この閾値をドライブとメディアの組み合わせごとに設定することは、記録工程の増加要因にもなるため、ドライブ個体ごとのバラツキが閾値変動の主要因と仮定して、ドライブ製造時に個体ごとに適した閾値を記憶領域１１５に格納しておいても良い。

図４は、図３に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。同図に示すように、基準閾値の決定は、所定の記録条件による記録再生を行い、その結果に基づいてシステムとしての基準値を決定し、該基準値から所定のマージンを確保した値をテスト領域決定の際に使用する閾値とすることで行われる。以下、各ステップを順に説明する。

まず、記録条件設定を行うステップＳ１５０を実行し、このステップでは、パルス幅、パワー、記録再生速度、記録アドレス等の記録再生に必要な条件を所定のパターン用意し、この記録条件をドライブに設定した後、該ドライブ内に基準メディアを装填する。基準メディアとしては、各種のメディアがある中から特性が標準的なものを選ぶことが望ましい。

次に、上記のステップＳ１５０で設定した記録条件で装填した基準メディアに対して、記録と再生を行うステップＳ１５２を実行し、各記録条件における記録再生特性値、例えばジッタを取得する。ここで取得する特性値としては記録品位を示す値を選択する。

続いて、上記ステップＳ１５２で取得した記録再生特性値から最良の値、例えば、ジッタの最小値を求め、これをシステム基準値とするステップＳ１５４を実行する。これにより、当該ドライブで最適値に近いと思われるジッタ値が基準値として設定される。尚、この基準値はジッタ最適点ではなく、所定の閾値と交差する２点の中間値、即ちパワーマージンの中間値としても良い。

最後に、上記ステップＳ１５４で決定したシステム基準値に対して、所定の係数α（α＞１とすることが望ましい）を掛け合わせた値を閾値として算出するステップＳ１５６を実行する。これにより、システム基準値に対して所定のマージンを持たせた形で判断が行われる。即ち、システム基準値を用いた閾値の算出は、閾値＝システム基準値×αで行われ、係数αとしては、およそ１．５程度の値を用いることが望ましい。尚、この係数αはドライブやメディアの種類に応じて適切な値を設定すれば良く、α＝０．８〜１．２のようにシステム基準値に近い値を設定しても良いし、α＝２．０〜３．０のように、大きめに設定しても良い。

図５は、図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅に対してパワーをＰ１〜Ｐ６まで変化させて、再生特性２０２−１〜２０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、パルス幅Ｗ１〜Ｗ４とパワーＰ１〜Ｐ６が記録条件となり、最も低いジッタ値が得られた再生特性１０２−３の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。尚、同図中のマトリクス内に示された矢印はテスト条件を変化させる方向を示し、以下の説明においても同様の意味で使用する。

図６は、図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅ごとにパワーの変化範囲を変えて、再生特性２０２−１〜２０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、最も低いジッタ値が得られた再生特性２０２−２の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。このように、閾値の決定は、パルス幅ごとにパワー条件を変更して求めることも可能である。

図７は、ドライブごとに閾値を求める場合の例を示す概念図である。ドライブの個体ばらつきに応じた閾値設定が所望される場合には、同図に示すように、各ドライブ１００−１〜１００−５のそれぞれで共通の基準メディア５０を記録再生し、各ドライブごとに固有の閾値１〜５を記憶させておく。

尚、閾値の設定工程を簡易化したい場合は、標準的なドライブ数個のそれぞれで共通の基準メディアを記録再生して得られた閾値１〜５の平均を取り、この平均閾値を他のドライブの閾値として使用してもよい。

このとき、平均閾値を求めるために使用したドライブは、同一設計のものでも、完全に同一設計ではなく類似設計のものであっても良い。また、これらドライブの閾値として平均閾値を使用することも可能である。さらに、一度求めた平均閾値を、以後製造される同一または類似設計のドライブの閾値として汎用的に使用しても良い。また、バラツキを持った複数台のドライブを意図的に用意し、これらの平均値を求めてもよい。

（記録装置の初期設定）
以上説明した図３のステップＳ１１０およびステップＳ１１２で求めた基準条件と基準閾値をドライブ１００内の記録領域１１５に格納するステップＳ１１４を実行する。この工程はドライブ１００の製造時に行っておくことが望ましい。

（記録対象メディアの装填）
続いて、ステップＳ１１４の初期設定が完了したドライブ１００内に、情報記録を行うメディア５０を装填するステップＳ１１６を実行する。

（基準条件による記録再生）
次に、ステップＳ１１４で設定した条件を用いて、ステップＳ１１６で装填したメディア５０に記録を行うステップＳ１１８を実行する。具体的には、基準条件として定義された１つのパルス幅と３種類のパワー値を用いて３回の記録再生を行い３点のジッタ値を得る。この３点のジッタ値をパワー軸との関係でプロットすると、ドライブ１００とメディア５０の組み合わせに応じた記録特性の傾向が明らかになる。

（記録品位の検査）
図８は、図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。同図に示すように、記録品位の検査は、前述までのステップで得られた各基準条件に対するジッタ値と閾値とを用いて行う。同図に示す例は、基準条件としてパワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３を用いたときの例であり、各パワー値で得られたジッタ値を結ぶ仮想線が谷型のパターンとなる。このような谷型のパターンが得られたときは、ステップＳ１１０で使用した基準メディアとステップＳ１１６で装填した記録対象メディアとが同感度であり、記録特性が類似していることを意味する。

ここで、同図（ａ）は谷型パターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は谷型パターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアと記録対象メディアは同感度と考えられる。このように、基準メディアと記録対象メディアが同感度であった場合は、後述するように、テスト記録で使用する条件は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で設定する。

ここで、同図（ａ）と（ｂ）とでは、各記録ポイントＰ１、Ｐ２、Ｐ３でそれぞれ得られた再生値と再生基準値との差分量、即ち、同図の例ではジッタ値とジッタ閾値との差分量が異なり、同図（ａ）の方が得られた再生値が再生基準値に近くなる。

このことは、同図（ａ）の方が同図（ｂ）よりも最適条件の発見が容易であると考えられるため、同図（ａ）の記録特性が得られたときの方が同図（ｂ）の記録特性が得られたときよりも、テスト回数を少なく設定し、より少ないテスト回数でより適した解を見出す構成としても良い。

即ち、再生値と再生基準値との差分量が少なかった場合は、最適条件が前述の基準条件に近くなり、再生値と再生基準値との差分量が多かった場合は、最適条件が前述の基準条件から遠くなるため、テスト回数をより少なくしたい場合には、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させることが望ましい。

図９は、図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が下がってゆく右下がりのパターンとなる。このような右下がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が低感度であることを意味する。

ここで、同図（ａ）は右下がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右下がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が低感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が低感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を高パワー、広パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。

また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより高パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ３よりも高パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録品位の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。

また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。

図１０は、図２のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が上がってゆく右上がりのパターンとなる。このような右上がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が高感度であることを意味する。

ここで、同図（ａ）は右上がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右上がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が高感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が高感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を低パワー、狭パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。

また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより低パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ１よりも低パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録品位の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。

また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。

（テスト領域の決定）
図１１は、図３のステップＳ１２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、谷型パターンが得られた場合は、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントをテスト記録で使用するパワーの変化領域とし、この変化領域がパワーレンジとなる。尚、本発明においては、実際にテスト記録で使用するパワーの範囲を「パワーレンジ」と定義し、ジッタが閾値以下となるパワーの範囲を「パワーマージン」と定義する。

ここで、近似曲線２０６は、パルス幅ごとに異なるため、基準条件で用いたパルス幅をＷ４とすると、このＷ４を中心としたパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれに対して、パワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３で記録し、その結果得られた近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントを確認してゆく。これにより同図のマトリクスイメージに示すように、各パルス幅ごとに閾値以下となるパワーレンジが得られ、同図のハッチで示した領域がテスト領域となる。ここで、基準条件として使用したＰ１、Ｐ２、Ｐ３のパワー３条件と、パルス幅Ｗ４をマトリクス中のイメージで示すと、同図の２０８−１、２０８−２、２０８−３となり、決定されたテスト領域は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域として設定される。

このように、パルス幅ごとにパワーレンジを求めることで、閾値以下となる領域を集中してテストすることができるため、少ないテスト回数でより適した条件を見出すことが可能になる。

尚、パワーマージンが広く取れた場合には、パワー変化のステップを大きめに設定し、パワーマージンが狭かった場合には、パワー変化のステップを小さく設定することでもテスト回数の低減を図ることができる。例えば、１０ｍＷのマージンが取れた場合には、ラフにテストしても最適値が得られるものと仮定して２ｍＷステップで５回のテストを行い、１ｍＷのマージンが取れた場合には、より精密なテストが必要と判断して０．１ｍＷステップで１０回テストするような構成も可能である。

図１２は、図３のステップＳ１２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右下がりパターンが得られた場合は、最適条件がより高パワー側にあると考えられるため、Ｐ３よりも高いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ＋のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。

ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件２０８−１、２０８−２、２０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が高パワー側にシフトされた形となる。この例では、谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右下がりパターンの場合は、低感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも広いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。

図１３は、図３のステップＳ１２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右上がりパターンが得られた場合は、最適条件がより低パワー側にあると考えられるため、Ｐ１よりも低いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ＋、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。

ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件２０８−１、２０８−２、２０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が低パワー側にシフトされた形となる。この例でも谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右上がりパターンの場合は、高感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも狭いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。

即ち、上述した手法では、各パルス幅ごとに記録品位の検査が行われ、その結果に基づいて、各パルス幅ごとにテスト回数が決定されるため、テスト回数の低減が期待できる。以上説明した記録品位の検査は、基準条件での記録によるジッタ変化をパターニングすることで行う例であり、より望ましくは、下記に示す８パターンを用いて行うことが推奨される。

図１４は、図３のステップＳ１２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。同図に示すように、パターン１は、谷型、右上がり、右下がり等のどのようなパターンであっても、ジッタの最大値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られたときは、基準メディアと同程度の感度であると見なすとともに、閾値以下となるマージンが広く取れると判断し、パワー条件を低パワー側と高パワー側のそれぞれに拡張する。即ち、このパターン１では、閾値近傍の値が取れていないため、低パワー側と高パワー側の両方に追加記録が行われることになる。

その後、この追加記録の結果得られたジッタ特性を曲線近似し、この近似曲線がジッタ閾値と交差する大小２点の間隔をパワーレンジの基準値とする。

さらに、このパターンが得られたときは、基準値±０．２Ｔのパルス幅領域をテスト領域として決定し、テスト記録時には、このテスト領域内を０．２Ｔごとに変化させて最適記録条件の検出を行う。尚、Ｔは記録ピットの単位時間長を示す。

ここで、基準値となるパルス幅をパルス条件１とし、拡張した２点をパルス条件２および３とすると、パターン１のパルス条件２および３は±０．２Ｔ拡張された後のパルス幅となる。このパルス幅の条件変更に伴って、テスト条件として使用するパワーレンジにも若干の変更を行う。

即ち、パルス幅を０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×１）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を０．２Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×２）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を−０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとする。

よって、このパターン１に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×(−２)）ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、本発明では、上記（１）に示した基準条件は、実際のテスト記録で使用しなくても良い。

パターン２は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度であると判断し、基準値±０．１Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン２に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
パターン３は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度、かつメディアの素性差が大きいと判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン３に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン４は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや低感度であると判断し、基準値、＋０．１Ｔおよび＋０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン４に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン５は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり低感度であると判断し、基準値、＋０．２Ｔおよび＋０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン５に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋４））ｍＷ
パターン６は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや高感度であると判断し、基準値、−０．１Ｔおよび−０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン６に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
パターン７は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり高感度であると判断し、基準値、−０．２Ｔおよび−０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン７に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−４））ｍＷ
パターン８は、山型パターンが得られた場合であって、ジッタの最大値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、異常パターンであると判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン８に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。

（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、以上説明した８つのパターンのうち、基準メディアに最も近くなるパターン２以外のパターンが検出された場合は、再生誤動作によるものでないことを確認するために、このパターンの基になった記録結果を再度再生し、ジッタを再検出する構成としても良い。この場合、再度の再生によりパターン２以外の特性が検出された場合は、図１４に示す条件に従って、記録条件の追加と拡張を行えば良い。

ここで、上記再生誤動作の確認を行った結果、パターン８が検出された場合は、記録誤動作の可能性が考えられるため、追加記録およびパルス幅の拡張を行う前に、パルス幅の基準値で再度記録を行う。この再記録結果を再生してもパターン８となった場合は、追加記録、即ち、パルス条件１のマージン測定を行うためのパワー拡張は行わずに、パルス条件の拡張、即ち、パルス条件２および３の拡張を行う。これらパルス条件２および３の拡張に応じたパワーの拡張は前述の手法で行えば良い。

即ち、パターン８の場合、パルス条件１ではマージンが取れず、拡張の基準となるパワーレンジを求めることができないため、初期のパワー条件範囲を基準となるパワーレンジとして設定する。

（テスト領域の決定：近似法によるパワーレンジの決定）
前述の手順を実行することにより、少ないテスト回数で最適解を得るに有効なテスト領域が決定されるが、このテスト領域決定の際に重要となるパワーレンジの決定手法について以下説明を加える。

本発明では可能な限り少ないテスト回数で最適解発見の精度を上げたいため、閾値以下の領域にテスト条件を集中させることは前述したとおりである。この考え方に基づけば、テスト記録の際に使用されるパワーレンジは、閾値に対するマージンを示す大小２点のパワー値から求めればよいこととなる。ここで、閾値に対するマージンとは、その領域であれば、閾値以下の特性値が得られる幅を意味し、大小２点のパワー値とは、このマージンの幅を決める低パワー側の値と、高パワー側の値を意味する。

ここで、各種メディアのテスト記録時間の短縮およびライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限の有るメディアのテスト領域の効率化を考えると、テスト記録に要する記録ポイントはより少ないことが望ましいが、ここで求めるパワーレンジは、最適記録条件の判断基準となる重要なパラメータであるため、高精度であることが望まれる。

このパワーレンジを精度良く求めることは、より選択された領域の集中したテストを意味するため、テスト回数の低減にも寄与する。例えば、０．１ｍＷに１回の頻度でテスト記録を行う場合には、パワーレンジが１ｍＷだと１０回のテスト記録が行われ、２ｍＷだと２０回のテスト記録が行われるため、パワーレンジを絞ることがテスト回数の低減に寄与することになる。

そこで、本発明では、記録再生信号の記録品位が記録パワーに対して最適点を極値とする２次曲線的な変化を描くことに着目し、数点の記録ポイントを用いて特性曲線を近似算出することで、求めたいマージン量を得る手法を提唱する。このような近似手法を適用することにより、数点の記録ポイントでパワーレンジを高精度かつ容易に求めることが可能になり、テスト回数の低減が図られる。

図１５は、図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。同図に示すように、近似を行うにあたっては、まず、記録特性の判断基準とするジッタ値が閾値近傍となる低パワー側のａおよび高パワー側のｃの２点と、これらの間に位置し、かつ、これらａ、ｃおよび閾値のいずれの値よりも小さなジッタ値となるｂを選択する。即ち、ここで選択されるａ、ｂ、ｃは、下記の関係を有することになる。

ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ
ここで、上記の閾値近傍は、同図に示すように、閾値からある幅を持った上限値と下限値の間として定義し、望ましくは、上限値を閾値の４０％、下限値を閾値の５％に設定する。その後、これらａ，ｂ，ｃの値を２次関数で近似し、該２次関数と閾値がクロスする大小２点の差分をパワーレンジとする。尚、閾値近傍として定義する範囲は、−５％〜＋４０％や−１０％〜３０％等、記録ポイントの間隔等を考慮して適宜変更可能である。

図１６は、図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。同図に示すように、Ａ、Ｂ、Ｃの３条件でのみでは、前述の「ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ」の条件を満たす関係が得られなかった場合、高パワー側のＤを追記することで、閾値近傍の値を得ることが望ましい。

さらに、同図に示すように、Ｂ＞Ｃの関係がある場合は、Ｂを用いずに、Ａ、Ｃ、Ｄの３点で近似式を算出することが望ましい。

このとき記録ポイント３点と閾値の関係は、「Ａ＞Ｃ、Ｄ＞Ｃ、閾値＞Ｃ」となり、近似曲線を描くに適した関係となるため、３点近似で高精度な近似曲線を得ることができる。尚、Ｄに示した追加記録条件は、追記前の記録ポイントが示すＡ＞Ｂ、Ｂ＞Ｃおよび閾値によって決定すれば良い。

また、図１５とは逆に、低パワー側に閾値近傍の値がなかった場合は、Ａより低パワー条件で追記を行えば良く、記録ポイントと閾値の関係によっては、適宜１点以上の記録条件を追加しても良い。

また、追加記録条件で用いるパワーの範囲は、所定のパワーステップに対して一定の変化を持たせても良いし、予めパワーの変動に対するジッタ変動の関係を求めておき、その関係からパワー条件を設定しても良い。

尚、上記記録条件の追加を行っても、パワーレンジを求めるに十分な記録ポイントが得られない場合は、上述と同様の手順により再度記録条件の追加を行って記録ポイントを変更する。

また、ライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限のある場合や、膨大なテスト時間の使用を回避するため、上記再度記録条件の追加回数に上限値を持たせても良く、記録条件の追加によって記録パワーがレーザ出力値を超えないように、追記パワーの上限値を持たせておいても良い。

また、上述の例では、３点近似によりパワーレンジを求めたが、最も閾値に近い２点を選択し、これら２点がそれぞれ示す大小２点のパワー値の差分よりパワーレンジを決定しても良い。

その他、閾値近傍の２点を選択する手法としては、閾値をまたぐ大小２点が見つかるまでパワーを変化させて記録し、該記録した中で最も閾値に近い２点を選択しても、この２点をそのまま選択しても良い。この方法については以下詳細な説明を加える。

（テスト領域の決定：サンプリングによるパワーレンジの決定）
図１７は、図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。同図に示す例では、前述した３点近似ではなく、閾値に近い値が得られるまでパワーを徐々に変化させて、閾値に近い大小２点のパワー値を基準にパワーレンジが求められる。

つまり、同図に示すように、記録パワーをＰ１からＰ２、Ｐ３・・・と順に増加させて記録再生を行い、閾値以上の値が得られたパワー値Ｐ６まで記録再生を繰り返す。この処理のイメージをマトリクスで示すと、パワー変化はＰ１〜Ｐ６まで行うが、パワーレンジは、閾値に最も近い低パワー側のＰ２と高パワー側のＰ６との間となる。このように、閾値をまたぐ２点を選択することによってもパワーレンジを決定することができる。

ここで、閾値に近い大小２点を選択する方法としては、下記のような形態を適宜選択して使用することができる。

１）パワーマージンを成す大小２点を選択する方法、即ち、再生基準値を満たすパワー領域内であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
２）パワーマージンのやや外にはなるが再生基準に最も近い２点を選択
３）低パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
４）高パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
５）低パワー側および高パワー側で再生基準値を跨ぐ形となる２点であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
また、上記各手法により選択した２点を用いて記録特性を近似し、再生基準値と交差する大小２点を求めても良い。

（ｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率の決定）
図１８は、図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。同図に示すように、シングルパルス１０−１およびマルチパルス１０ー２は、記録パルスの先頭に配置されたトップパルス１２と、それに続く後続パルス１４とで構成され、後続パルス１４は、記録パルスの最後尾に配置された後端パルス１４を備える。

ここで、メインパワーＰＷが示す高さで記録パルス全体のエネルギー量が規定され、トップパルス幅Ｔｔｏｐが示す長さで記録ピット先端に与える初段のエネルギー量が規定される。このメインパワーＰＷは、記録パルス１０−１、１０ー２の中で最も高い値とすることが望ましく、トップパルスの幅Ｔｔｏｐは、３Ｔの長さを有する最短記録ピットに対応した幅を有する。この最短幅の記録パルスが最も出現確率が高く、記録品位への影響が大きいため、まずは、前述したｍ’Ｔ条件決定フローによって、このトップパルス１２のパワーＰＷと幅Ｔｔｏｐの最適条件を確定させる。

続いて、ｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率決定フローによって、後続パルス１４の条件決定を行う。後続パルスの条件としては、シングルパルス１０−１の場合には、同図（ａ）に示すように、メインパワーＰＷよりもＰＷＤだけ低い低パワー領域を設け、この量を規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。同様に、マルチパルス１０−２の場合には、同図（ｂ）に示すように、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に位置する中間パルスの幅Ｔｍｐを規定するか、または、ＴｍｐとＴｓｍｐのデューティ比を規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。これら後続パルスの条件決定は、トップパルスの条件を基準として行われる。

図１９は、 図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定フローの実行手順を示すフローチャートである。同図に示すように、図２に示したドライブは、まず最初に、ストラテジ回路１０２が実行する記録ストラテジの各種パラメータを設定するために、メディア５０に対して（ｎ−ｍ）Ｔの条件を変更した複数の記録パターンによるテスト記録を行う（ステップＳ２１０）。このときｍＴパルスの条件は、前述のｍ’Ｔ条件決定フローで得られた値に固定しておく。、
その後、このテスト記録により形成された記録パターンを再生し（ステップＳ２１２）、その結果として２値化回路１１０から得られた再生２値化信号を記録ずれ検出部１１２が所定クロックに同期したカウンタで計数して（ステップＳ２１４）、該再生２値化信号に含まれたピットおよびランドの長さを計数データとして記録領域１１５に格納する（ステップＳ２１６）。

その後、記録ずれ検出部１１２は、記録領域１１５に蓄積された計数データを用いて、計数値ごとの出現頻度を示すヒストグラムを作成し（ステップＳ２１８）、このヒストグラムからピット長とランド長の判定基準となる計数結果の閾値を決定する（ステップＳ２２０）。

その後、記録ずれ検出部１１２は、前記閾値を基準に記録領域１１５に格納された計数データの中から特定のピット／ランドパターンを含む複数種の特定パターンを検索し（ステップＳ２２２）、この特定パターンに含まれた同一ピット長と思われる計数結果を平均化するとともに、同一ランド長と思われる計数結果を平均化して、特定パターンを構成する各ピットと各ランドの平均長を求める（ステップＳ２２４）。

その後、記録ずれ検出部１１２は、抽出した複数の特定パターンのうちの一つを抽出パターンに設定し、この抽出パターンに含まれる対象記録ピットの長さを基準長と比較して（ステップＳ２２６）、記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出する（ステップＳ２２８）。

その後、演算式導出部１１３は、記録ずれ検出部１１２が検出したずれ量に基づいて、最適ストラテジを決定するための演算式を導出し、ストラテジ決定部１１４は、この演算式導出部１１３が導出した演算式を用いて各種パラメータの制御結果を予測し（ステップＳ２３０）、この予測結果に基づいて、図１８に示したＰＷＤまたはＴｍｐを決定し、これをストラテジ回路１０２に設定する（ステップＳ２３２）。

図２０は、図１９に示したテスト記録から再生データの計数までの動作概念を示す概念図である。同図に示すように、まず、テスト記録が行われると、同図（ａ）に示すような記録ピットが光ディスク上に形成される。そして、この記録ピットを再生すると、同図（ｂ）に示すように、この記録ピットに対応した再生ＲＦ信号が得られる。この再生ＲＦ信号を２値化すると、同図（ｃ）に示したような再生２値化信号が得られ、この２値化信号の極性反転間のパルス長を同図（ｄ）に示すようなクロック信号で計数すると、同図（ｅ）に示したような計数結果が得られる。

図２１は、図１９に示した計数結果の格納イメージを示す概念図である。同図に示すようにクロック信号で計数された２値化信号は、極性反転部を区切りとして、その計数結果がピット、ランドの区別とともに記憶領域１１５に設けられたテーブル内に順次時系列で格納される。この同図に示すテーブルは、後に検索可能なアドレスが付された状態で格納される。

図２２は、図１９に示したヒストグラム作成のイメージを示す概念図である。同図に示すように、計数値の出現頻度をグラフ化するとヒストグラムが得られ、ピットとランドをそれぞれ区別してヒストグラムを作成すると、同図（ａ）に示したピットの計数傾向を示すピットヒストグラムと、同図（ｂ）に示したランドの計数傾向を示すランドヒストグラムの２種類を得ることができる。このように、光ディスクでは基準クロックに対する各単位長ｎＴ（ｎ＝３、４、５、・・・１４）の長さが必然的に決まるため、各単位長ｎＴに対して、出現頻度分布の山が得られることになる。

図２３は、図１９に示した閾値決定のイメージを示す概念図である。同図に示すように、ヒストグラム中の各山と山の間に形成された谷の部分が各単位長ｎＴの長さ判定閾値として使用できるため、ピットヒストグラムおよびランドヒストグラムのそれぞれについて、ピット長の判断基準となるピット長閾値と、ランド長の判断基準となるランド長閾値を設定する。

図２４は、図２３に示した手法によって得られた閾値の例を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、各ピット長の境界ごとにピット長閾値が定義され、同図（ｂ）に示すように、各ランド長の境界ごとにランド長閾値が定義される。同図（ａ）に示す例では、２Ｔと３Ｔの境界となる閾値は「計数値＝２」となり、３Ｔと４Ｔの境界となる閾値は「計数値＝９」となり、以降、１４Ｔと１５Ｔの境界まで設定される。また、同図（ｂ）に示す例では、２Ｔと３Ｔの境界となる閾値は「計数値＝２」となり、３Ｔと４Ｔの境界となる閾値は「計数値＝１０」となる。以降、１４Ｔと１５Ｔの境界まで設定される。

次に、図１９に示した特定パターンの検索（ステップＳ２２２）からずれ量の検出（ステップＳ２２８）までの各工程の詳細について説明を加える。これらの工程は、記録ずれ検出部１１２における各種ずれの検出原理に基づいて行われる。

図２５は、ピットバランスによるずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。ここで、ピットバランスとは、前述のトップパルスと後続パルスのバランスを示す。同図に示すように、ピットバランスによるずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンを含み、固定ランドＬｙＴのランド長および固定ランドＬｚＴのランド長を固定して、可変ピットＰｘＴのピット長を、同図（ｂ）から同図（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ランド長の変化は１４Ｔまで行うものとする。

ここで、この記録パターンの可変長のピットＰｙＴの長さを測定すると、この可変長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態ではそれぞれ理想のピット長に対応するはずである。

しかし、この可変長のピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｘＴのランド長およびランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この可変長のピットＰｙＴの規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する長さずれ量に対応することになる。

したがって、あるストラテジを用いてテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、同図（ｂ）〜（ｆ）に示すように、可変長のピットＰｙＴの記録結果と各ピットの基準長とを比較し、各ピット長の理想の長さからのずれ量を検出すれば、各ピット長の長さずれ量を検出することができる。

図２６は、ピットバランスずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。ピットバランスずれの検出を行う場合には、特定パターンごとに設定されたランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴに関する閾値範囲を基準に、図２の記憶領域１１５内に格納されたデータを検索し（図１９のステップＳ２２２に相当）、該閾値を満たすデータ列を抽出する。

その後、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴのぞれぞれに該当する計数結果を分別し、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴごとに平均値を求める（図１９のステップＳ２２４に相当）。この計数結果の平均値を用いて、図２５に示したパターン比較を行えば、各ピット長における前側位相ずれ量が得られる。

図２７は、計数結果の絶対比較により長さずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。同図に示すように、理想の基準長との比較でずれ量を検出する場合は、まず記憶領域内に格納されたデータ群の中から、同図（ａ）に示した特定パターンを検索抽出し、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、比較対象となる部位に対する両者の計数値を比較する。同図に示す例では、ピット３Ｔが比較部位になるため、特定パターンの計数結果である同図（ｃ）に示す「９」と、基準長に相当する計数結果である同図（ｄ）に示す「８」との差分を求め、得られた差分「１」が３Ｔピットのずれ量になる。

図２８は、図１９に示した制御量予測の実行例を示すフローチャートである。同図に示すように、制御量の予測は、記録条件の異なるＳ１とＳ２の２種以上の条件でテスト記録を行い（ステップＳ２５０）、その結果得られた記録ピットを再生し（ステップＳ２５２）、その結果得られた再生パターンの比較によって、条件Ｓ１に対応するずれ量Ｄ１と、条件Ｓ２に対応するずれ量Ｄ２とを求め（ステップＳ２５４）、これらＳ１およびＳ２とＤ１およびＤ２との関係を直線近似し（ステップＳ２５６）、該直線を用いて最適補正量を決定する（ステップＳ２５８）一連の手順を実行することによって行われる。

ところで、上記のように検出されるずれ量Ｄ１およびＤ２は、ストラテジの各種設定パラメータにより変動する。そして、このストラテジの各種設定パラメータにより変動するずれ量Ｄ１およびＤ２は、解析の結果ほぼ直線状に変化することが解明された。

すなわち、上記記録ずれ検出部１１２で検出されるそれぞれのテスト記録におけるずれ量は、最小二乗法に基づき近似された直線状の変化として捉えることができることになる。

そこで、本実施形態に係るドライブにおいては、例えば、２回のテスト記録を行った場合には、ストラテジの各種設定パラメータと検出したずれ量Ｄ１およびＤ２との直線関係に着目して最適なストラテジを決定することができる。もっとも、本発明では、直線近似に替えて曲線で近似しても良い。

即ち、シングルパルスの場合にはＰＷＤが、マルチパルスの場合はＴｍｐが記録条件Ｓ１およびＳ２で変化させる代表的なパラメータとなり、これらのパラメータをＳ１、Ｓ２と変化させて、その影響をＤ１、Ｄ２として検出し、これら４点を用いて直線近似を行い、該直線を用いてずれがキャンセルできる補正量を得る。

図２９は、ＰＷＤを変化させる場合の記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。ここで、同図（ａ）に示す記録パルスは、ＰＷＤをＳ１だけ変化させた記録パルスＳ１であり、同図（ｂ）に示す記録パルスは、ＰＷＤをＳ２だけ変化させた記録パルスＳ２であり、これらの２条件を使用してテスト記録を行う。

その結果、同図（ａ）の記録パルスに対応して同図（ａ１）に示すパターンＳ１が得られ、同図（ｂ）の記録パルスに対応して同図（ｂ１）に示すパターンＳ２が得られる。ここで、パターンＳ１は、制御量Ｓ１に対応してＤ１のすれ量が生じ、パターンＳ２は、制御量Ｓ２に対応してＤ２のずれが生じる。

制御量Ｓ１およびＳ２に対するずれ量Ｄ１およびＤ２がわかれば、どのパラメータに関してどれだけの制御量を持たせれば、どれだけのずれが生じるかが予測可能となるため、これらの関係を利用して、制御量の予測と補正値の決定を行う。

図３０は、シングルパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。当該長さずれに対する補正量ＰＷＤを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス長を基準波形ｎＴとしたとき、同図（ｂ）に示すように、ＰＷＤだけパルスの中央を欠いた波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の長さずれΔを検出する。

同図に示す例では、このＰＷＤの変化をＳ１＝＋０．３とＳ２＝＋０．１の２種類行い、その結果得られた長さずれΔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量ＰＷＤに対する制御結果Δの関係を直線で近似し、この直線を利用して長さずれがキャンセルできる補正量ＰＷＤ＝＋０．２を最適補正値として決定する。このとき、トップパルスの条件は変化させずに固定しておく。

このように、ストラテジの変化Ｓ１、Ｓ２とずれ量の変化Ｄ１、Ｄ２との関係は、変化点を少なくとも２点求めれば、直線または曲線による近似が可能になるため、この直線を用いてずれ量が零になる最適補正量を求めることができる。

具体的には、ストラテジＳを数点変化させたときのずれ量Ｄを求め、このときのストラテジＳとずれ量Ｄとの関係を一般式「Ｄ＝ａ×Ｓ＋ｂ」に代入し、連立方程式を解くことにより定数ａ、ｂを求め、最終的に理想のずれ量Ｄに対応するストラテジＳを求め、このストラテジＳを図１に示したストラテジ回路１０２に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。

例えば、図２に示した記録ずれ検出部１１２で、あるストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ１、他のストラテジＳ２を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ２であるとすると、
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
を求め、この関数に、記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する。

図３１は、マルチパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。当該長さずれに対する補正量Ｔｍｐを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス長を基準波形ｎＴとしたとき、同図（ｂ）に示すように、中間パルス長をＴｍｐとした波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の長さずれΔを検出する。このとき、トップパルスの条件は変化させずに固定しておく。

同図に示す例では、このＴｍｐの変化をＳ１＝＋０．３とＳ２＝＋０．１の２種類行い、その結果得られた長さずれΔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｍｐに対する制御結果Δの関係を直線で近似し、この直線を利用して長さずれがキャンセルできる補正量Ｔｍｐ＝＋０．２を最適補正値として決定する。

図３２は、補正量ＰＷＤとＴｍｐを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、補正量ＰＷＤおよびＴｍｐは、補正対象となるピット長ごとに定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔである場合の補正量ＰＷＤは、図中「ＰＷ３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが３Ｔである場合の補正量Ｔｍｐは、図中「Ｔｍ３」と示した領域に補正量が格納される。以下、４Ｔ、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔと同様に格納される。

図３３は、図１のステップＳ３００で実行されるｎＴパルスの構成概念を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、例えば５Ｔピットを形成する場合の記録データは、クロック信号５周期分の長さを有するｎＴの長さを有するパルス信号として出力される。この記録データに対して補正後のパルスは、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、ｍ’Ｔのトップパルスで始まり、ｎ’Ｔの長さを有するパルス信号として出力され、シングルパルスの場合は、（ｎ−ｍ）Ｔパルス内にＰＷＤが定義され、マルチパルスの場合は、（ｎ−ｍ）Ｔパルス内にＴｍｐが定義される。

このとき、ＰＷＤおよびＴｍｐは、トップパルスの条件を固定して求められた値であるため、ｍＴパルスの条件を基準とした最適ｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率に準拠した値となる。その結果、トップパルスと後続パルスとで構成されるｎＴパルスは、記録品位の向上に望ましい値となる。ただし、この時点では未だ位相条件は定義されていないため、後述する位相条件の決定に関するフローをさらに実行することで最適化されたストラテジを得る。

（位相ずれ補正）
図３４は、図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相ずれ補正で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。

同各図に示すように、シングルパルス１０−１とマルチパルス１０−２のいずれの場合も、記録パルスの位相条件として、トップパルス１２の開始位置を調整するＴｔｏｐｒと、後端パルス１６の終了位置を調整するＴｌａｓｔを設定する。これらの値を調整することで、記録後のピット長がより最適化される。尚、これらの位相条件は、前述までのフローで決定されたトップパルスの条件と後続パルスの条件とを基準としたテスト記録を行うことで決定される。

図３５は、図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相条件決定フローの実行手順を示すフローチャートである。同図に示すように、図２に示したドライブは、まず最初に、メディア５０に対して、ｍＴパルスと（ｎ−ｍ）Ｔパルスとで構成されるｎＴパルスの位相条件を変更した複数の記録パターンによるテスト記録を行う（ステップＳ４１０）。このとき、ｍＴパルスの条件および（ｎ−ｍ）Ｔパルスの条件は、前述までのフローで得られた値に固定しておく。、
その後、このテスト記録により形成された記録パターンを再生し（ステップＳ４１２）、その結果として２値化回路１１０から得られた再生２値化信号を記録ずれ検出部１１２が所定クロックに同期したカウンタで計数して（ステップＳ４１４）、該再生２値化信号に含まれたピットおよびランドの長さを計数データとして記録領域１１５に格納する（ステップＳ４１６）。

その後、記録ずれ検出部１１２は、記録領域１１５に蓄積された計数データを用いて、計数値ごとの出現頻度を示すヒストグラムを作成し（ステップＳ４１８）、このヒストグラムからピット長とランド長の判定基準となる計数結果の閾値を決定する（ステップＳ４２０）。

その後、記録ずれ検出部１１２は、前記閾値を基準に記録領域１１５に格納された計数データの中から特定のピット／ランドパターンを含む複数種の特定パターンを検索し（ステップＳ４２２）、この特定パターンに含まれた同一ピット長と思われる計数結果を平均化するとともに、同一ランド長と思われる計数結果を平均化して、特定パターンを構成する各ピットと各ランドの平均長を求める（ステップＳ４２４）。

その後、記録ずれ検出部１１２は、抽出した複数の特定パターンのうちの一つを基準パターンに設定し、この基準パターンと他のパターンとを比較して（ステップＳ４２６）、下記のずれ量をそれぞれ独立に検出する（ステップＳ４２８）。

１）記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量
２）記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量
３）熱干渉による記録パルスからのピットずれ量
その後、演算式導出部１１３は、記録ずれ検出部１１２が検出したずれ量に基づいて、最適ストラテジを決定するための演算式を導出し、ストラテジ決定部１１４は、この演算式導出部１１３が導出した演算式を用いて各種パラメータの制御結果を予測し（ステップＳ４３０）、この予測結果に基づいて、図３４に示したＴｔｏｐｒおよびＴｌａｓｔを決定し、これをストラテジ回路１０２に設定する（ステップＳ４３２）。

ここで、ステップＳ４１０のテスト記録からステップＳ４２４の平均化までの手順は、前述の図２０〜図２４までに示した手法と同様に行われるため、ここでは詳細な説明を省略する。

図３６は、各ピット長における前側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。同図に示すように、各ピット長における前側位相ずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、固定ピットＰｘＴ、固定ランドＬｙＴ、可変ピットＰｚＴが連続するパターンを含み、固定ピットＰｘＴのピット長と固定ランドＬｙＴのランド長を固定して、可変ピットＰｚＴのピット長を、同図（ｂ）から（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ピット長の変化は１４Ｔまで行うものとする。

ここで、この記録パターンの固定ランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定ランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｘＴのピット長は固定されているので、この固定ランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する前側位相ずれ量に対応することになる。

従って、可変ピットＰｚＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ランドＬｙＴの長さと、基準パターンの固定ランドＬｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する前側位相ずれ量ＦＰＳ４Ｔ〜ＦＰＳ７Ｔが得られる。

ここで、各ずれ量ＦＰＳ３Ｔ〜ＦＰＳ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの前側位相ずれ量ＦＰＳ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。

図３７は、各ピット長における後側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。同図に示すように、各ピット長における後側位相ずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、可変ピットＰｘＴ、固定ランドＬｙＴ、固定ピットＰｚＴが連続するパターンを含み、固定ランドＬｙＴのランド長と固定ピットＰｚＴのピット長とを固定して、可変ピットＰｘＴのピット長を、同図（ｂ）から（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ピット長の変化は１４Ｔまで行うものとする。

ここで、この記録パターンの固定ランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定ランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｚＴのピット長は固定されているので、この固定ランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する後側位相ずれ量に対応することになる。

従って、可変ピットＰｘＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ランドＬｙＴの長さと、基準パターンの固定ランドＬｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する後側位相ずれ量ＲＰＳ４Ｔ〜ＲＰＳ７Ｔが得られる。

ここで、各ずれ量ＲＰＳ３Ｔ〜ＲＰＳ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの後側位相ずれ量ＲＰＳ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。

図３８は、熱干渉によるピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。同図に示すように、熱干渉によるピットずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンを含み、固定ピットＰｙＴのピット長および固定ランドＬｚＴのランド長を固定して、可変ランドＬｘＴのランド長を、同図（ｂ）から同図（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ランド長の変化は１４Ｔまで行うものとする。

ここで、この記録パターンの固定ピットＰｙＴの長さを測定すると、この固定長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この固定ピットＬｙＴの理想の規定長さのずれ量は、可変ランドＬｘＴの直前に形成されたピットの熱干渉によるずれ量に対応することになる。

従って、可変ランドＬｘＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ピットＰｙＴの長さと、基準パターンの固定ピットＰｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する前側位相ずれ量ＨＩＤ３Ｔ〜ＨＩＤ７Ｔが得られる。

ここで、各ずれ量ＨＩＤ３Ｔ〜ＨＩＤ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの前側位相ずれ量ＨＩＤ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。

図３９は、ピット前位相ずれ検出と後位相ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。ピット前位相ずれの検出を行う場合には、特定パターンごとに設定されたピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴに関する同図（ａ）に示した閾値範囲を基準に、図２の記憶領域１１５内に格納されたデータを検索し（図３５のステップＳ４２２に相当）、該閾値を満たすデータ列を抽出する。

その後、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴのぞれぞれに該当する計数結果を分別し、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴごとに平均値を求める（図３５のステップＳ４２４に相当）。この計数結果の平均値を用いて、前述のパターン比較を行えば、各ピット長における前側位相ずれ量が得られる。同図（ｂ）は、ピット後位相ずれの検出を行う場合の閾値例であるが、考え方と動作は、ピット前位相ずれの検出を行う場合と同様である。

図４０は、ピット干渉ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。同図に示すように、ピット干渉ずれの検出は、図３９を用いて説明したピット前位相ずれおよび後位相ずれと同様の手法で行われる。

図４１は、計数結果の相対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。同図は、ピット前位相ずれを検出する場合の例であるが、他のずれ量を検出する場合も同様の手法で行われる。ずれ量を検出する場合は、まず記憶領域内に格納されたデータ群の中から、同図（ａ）および（ｂ）に示した基準パターンと比較パターンを検索抽出し、同図（ｃ）および（ｄ）に示すように、本来固定長であるはずの部位に対する計数値を比較する。同図に示す例では、ランドＬｙＴが比較部位になるため、基準パターンの計数結果である同図（ｃ）に示す「１２」と、比較パターンの計数結果である同図（ｄ）に示す「１１」との差分を求め、得られた差分「１」がずれ量ＦＰＳ４Ｔの値となる。

図４２は、図３５に示した制御量の予測によるＴｔｏｐｒ、Ｔｌａｓｔ決定の実行例を示すフローチャートである。同図に示すように、制御量の予測は、記録条件の異なるＳ１とＳ２の２種以上の条件でテスト記録を行い（ステップＳ４５０）、その結果得られた記録ピットを再生し（ステップＳ４５２）、その結果得られた再生パターンの比較によって、条件Ｓ１に対応するずれ量Ｄ１と、条件Ｓ２に対応するずれ量Ｄ２とを求め（ステップＳ４５４）、これらＳ１およびＳ２とＤ１およびＤ２との関係を直線近似し（ステップＳ４５６）、該直線を用いて最適なＴｔｏｐｒとＴｌａｓｔを決定する（ステップＳ４５８）一連の手順を実行することによって行われる。

図４３は、記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。同図（ａ）に示す記録パルスを「ＰｚＴ＝３Ｔ」の基準パルスとすると、比較対象となる「ＰｚＴ＝４Ｔ」の記録パルスは、ＰｚＴの先端をＳ１変化させた同図（ｂ）の記録パルスＳ１と、ＰｚＴの先端をＳ２変化させた同図（ｃ）の記録パルスＳ２の２条件でテスト記録を行う。

その結果、同図（ａ）の記録パルスに対応して同図（ａ１）に示す基準パターンが得られ、同図（ｂ）の記録パルスに対応して同図（ｂ１）に示す比較パターンＳ１が得られ、同図（ｃ）の記録パルスに対応して同図（ｃ１）に示す比較パターンＳ２が得られる。ここで、比較パターンＳ１は、制御量Ｓ１に対応してＤ１のすれ量が生じ、比較パターンＳ２は、制御量Ｓ２に対応してＤ２のずれが生じる。

制御量Ｓ１およびＳ２に対するずれ量Ｄ１およびＤ２がわかれば、どのパラメータに関してどれだけの制御量を持たせれば、どれだけのずれが生じるかが予測可能となるため、これらの関係を利用して、制御量の予測と補正値の決定を行う。

図４４は、直線近似を利用した前側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。前側位相ずれに対する補正量Ｔｔｏｐを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス位置を基準位相φとしたとき、同図（ｂ）に示すように、Ｔｔｏｐだけパルスの位置をずらした波形でテスト記録を行い（記録条件Ｓ１、Ｓ２に相当）、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の位相ずれΔφｔｏｐを検出する（ずれ量Ｄ１、Ｄ２に相当）。

同図に示す例では、このＴｔｏｐの変化をＳ１＝＋０．１とＳ２＝＋０．３の２種類行い、その結果得られた検出位相Δφｔｏｐをずれ量Ｄ１＝−０．１およびＤ２＝＋０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｔｏｐに対する制御結果Δφｔｏｐの関係を直線で近似し、この直線を利用して位相ずれがキャンセルできる補正位相Ｔｔｏｐ＝＋０．２を最適補正値として決定する。

このように、ストラテジの変化Ｓ１、Ｓ２とずれ量の変化Ｄ１、Ｄ２との関係は、変化点を少なくとも２点求めれば、直線または曲線による近似が可能になるため、この直線を用いてずれ量が零になる最適補正量を求めることができる。

具体的には、ストラテジＳを数点変化させたときのずれ量Ｄを求め、このときのストラテジＳとずれ量Ｄとの関係を一般式「Ｄ＝ａ×Ｓ＋ｂ」に代入し、連立方程式を解くことにより定数ａ、ｂを求め、最終的に理想のずれ量Ｄに対応するストラテジＳを求め、このストラテジＳを図１に示したストラテジ回路１０２に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。

例えば、図１に示した記録ずれ検出部１１２で、あるストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ１、他のストラテジＳ２を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ２であるとすると、
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
を求め、この関数に、記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する。

なお、この最適ストラテジＳを求める関数は、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔに対応して求めることができる。また、この最適ストラテジＳを求める関数は、記録速度に対応してそれぞれ求めることもできる。

図４５は、直線近似を利用した後側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。後側位相ずれに対する補正量Ｔｌａｓｔを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス位置を基準位相φとしたとき、同図（ｂ）に示すように、Ｔｌａｓｔだけパルスの位置をずらした波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の位相ずれΔφｌａｓｔを検出する。

同図に示す例では、このＴｌａｓｔの変化をＳ１＝−０．１とＳ２＝−０．３の２種類行い、その結果得られた検出位相Δφｌａｓｔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｌａｓｔに対する制御結果Δφｌａｓｔの関係を直線で近似し、この直線を利用して位相ずれがキャンセルできる補正位相Ｔｌａｓｔ＝−０．２を最適補正値として決定する。

図４６は、補正量ＴｔｏｐとＴｌａｓｔを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、補正量Ｔｔｏｐは、補正対象となるピット長ごとに、該各ピットの前方ランド長との組み合わせで定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔであり、該ピットの前方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが４Ｔであり、該ピットの前方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−４」と示した領域に補正量が格納される。以下、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔおよび４Ｔと同様に格納される。

また、同図（ｂ）に示すように、補正量Ｔｌａｓｔは、補正対象となるピット長ごとに、該各ピットの後方ランド長との組み合わせで定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔであり、該ピットの後方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが４Ｔであり、該ピットの後方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−４」と示した領域に補正量が格納される。以下、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔおよび４Ｔと同様に格納される。

図４７は、補正後のシングルパルスの例を示す概念図である。同各図に示すように、同図（ａ）に示す記録データを光ディスク上に記録する場合には、各ピット長ごとに最適な補正値が適用されたストラテジが設定される。例えば、３Ｔピットを記録する場合には、同図（ｂ）に示すように、図４６に示したテーブルより前方のランド長に応じて３Ｔピットの前端補正値Ｔｔｏｐを読み出すとともに、後方ランド長に応じて３Ｔピットの後端補正値Ｔｌａｓｔを読み出して、記録パルスの前端および後端を当該ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔで補正する。

また、４Ｔピット以上を補正する場合は、同図（ｃ）〜（ｆ）に示すように、ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔに加えて、該当ピット長のＰＷＤ補正値を図３２のテーブルから読み出し、当該ＰＷＤの値に応じたパルス形状の補正を行う。

図４８は、補正後のマルチパルスの例を示す概念図である。同各図に示すように、マルチパルスの場合には、前述の図４７に示したシングルパルスのＰＷＤ補正値に替えて、Ｔｍｐ補正値を図３２のテーブルから読み出し、当該Ｔｍｐの値に応じたパルス形状の補正を行う。その他はシングルパルスの場合と同様である。

尚、以上説明した実施形態では、最適ストラテジＳを求める関数に、ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定したが、これに替えて、上記関数から求めた補正テーブルを用意し、この補正テーブルに基づき最適ストラテジＳを決定するように構成してもよい。

また、上記最適ストラテジの設定処理は、光ディスクの種別を変更する毎に、あるいは、記録速度を変更する毎に行っても良く、さらに、上記最適ストラテジの設定処理で決定された最適ストラテジの条件を光ディスクの種別および記録速度に対応させてメモリに記憶しておき、再度同一の種別の光ディスクで記録を行う場合、あるいは、同一の記録速度で記録を行う場合は、このメモリに記憶した最適ストラテジを読み出して使用する構成としてもよい。

本発明によれば、ドライブにとって未知のメディアであっても、より最適に近い記録条件を得ることが可能になるため、より厳しい記録環境への対応が期待される。

本発明に係る記録パルスの構成と記録条件決定の全体フローを示す概念図である。 本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。 図１に示したｍＴ決定フローの詳細な実行手順を示すフローチャートである。 図３に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。 図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。 図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。 ドライブごとに閾値を求める場合の例を示す概念図である。 図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。 図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。 図２のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。 図３のステップＳ１２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。 図２のステップＳ１２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。 図３のステップＳ１２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。 図３のステップＳ１２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。 図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。 図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。 図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。 図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。 図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定フローの実行手順を示すフローチャートである。 図１９に示したテスト記録から再生データの計数までの動作概念を示す概念図である。 図１９に示した計数結果の格納イメージを示す概念図である。 図１９に示したヒストグラム作成のイメージを示す概念図である。 図１９に示した閾値決定のイメージを示す概念図である。 図２３に示した手法によって得られた閾値の例を示す概念図である。 ピットバランスによるずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。 ピットバランスずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。 計数結果の絶対比較により長さずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。 図１９に示した制御量予測の実行例を示すフローチャートである。 ＰＷＤを変化させる場合の記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。 シングルパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。 マルチパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。 補正量ＰＷＤとＴｍｐを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。 図１のステップＳ３００で実行されるｎＴパルスの構成概念を示す概念図である。 図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相ずれ補正で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。 図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相条件決定フローの実行手順を示すフローチャートである。 各ピット長における前側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。 各ピット長における後側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。 熱干渉によるピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。 ピット前位相ずれ検出と後位相ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。 ピット干渉ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。 計数結果の相対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。 図３５に示した制御量の予測によるＴｔｏｐｒ、Ｔｌａｓｔ決定の実行例を示すフローチャートである。 記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。 直線近似を利用した前側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。 直線近似を利用した後側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。 補正量ＴｔｏｐとＴｌａｓｔを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。 補正後のシングルパルスの例を示す概念図である。 補正後のマルチパルスの例を示す概念図である。

符号の説明

１０…記録パルス、１２…トップパルス、１４…後続パルス、１６…後端パルス、５０…メディア、１００…ドライブ、１０１…エンコーダ、１０２…ストラテジ回路、１０３…レーザ発振器、１０４…レンズ、１０５…ハーフミラー、１０６…レンズ、１０７…レンズ、１０８…受光部、１０９…同期信号検出回路、１１０…２値化回路、１１１…デコーダ、１１２…記録ずれ検出部、１１３…演算式導出部、１１４…ストラテジ決定部、１１５…記憶領域、２００…テスト領域、２０２…再生特性、２０４…記録条件、２０６…近似曲線、２０８…基準条件

Claims (5)

1. トップパルスと後続パルスとで構成された記録パルスに基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアへのテスト記録を行って前記記録パルスの中の最短ピットに対応するトップパルスの条件を決定する第１の手段と、
   前記トップパルスの条件を使用したテスト記録を行って前記トップパルスと前記後続パルスとのエネルギー比率を決定する第２の手段と、
   前記エネルギー比率を用い、前記トップパルスの条件を基準として前記後続パルスの条件を決定する第３の手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
2. トップパルスと後続パルスとで構成された記録パルスに基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアへのテスト記録を行って記録品位を検査する第１の手段と、
   前記検査の結果に基づいて記録条件を変化させながら前記記録パルスの中の最短ピットに対応するトップパルスの条件を決定する第２の手段と、
   前記トップパルスの条件を使用したテスト記録を行って前記トップパルスと前記後続パルスとのエネルギー比率を決定する第３の手段と、
   前記エネルギー比率を用い、前記トップパルスの条件を基準として前記後続パルスの条件を決定する第４の手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
3. トップパルスと後続パルスとで構成された記録パルスに基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアへのテスト記録を行って前記記録パルスの中の最短ピットに対応するトップパルスの条件を決定する第１の手段と、
   前記トップパルスの条件を使用したテスト記録を行って前記トップパルスと前記後続パルスとのエネルギー比率を決定する第２の手段と、
   前記エネルギー比率を用い、前記トップパルスの条件を基準として前記後続パルスの条件を決定する第３の手段と、
   前記トップパルスの条件および前記後続パルスの条件を使用したテスト記録を行って前記記録パルスの位相条件を決定する第４の手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
4. 所定周期のクロック信号を基準とする記録パルス列に基づいてレーザ光のパルス照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
   前記記録パルス列は、該記録パルス列の中で最も最短となるｍ’Ｔの長さを有するｍＴパルスと、下式で定義されるｎ’Ｔの長さを有するｎＴパルスとを含み、
   ｎ’Ｔ＝ｍ’Ｔ＋（ｎ−ｍ）Ｔ
   Ｔ：クロック信号の周期、ｍ’：最短パルスのクロック数、ｎ’：該当パルスのクロック数、ｍＴ：最短ピットのデータ長、ｎＴ：最短ピットよりも長いピットのデータ長、ｍ，ｎ：自然数でかつｍ＜ｎ
   前記ｎＴパルスの記録条件は、前記光記録メディアへのテスト記録を伴う下記ステップの実行により決定され、
   （１）ｍＴパルスの条件決定
   （２）ｍ’Ｔパルスと（ｎ−ｍ）Ｔパルスとのエネルギー比率の決定
   （３）ｎＴパルスの条件決定
   前記情報の記録は、前記ステップを経て決定されたｍＴパルスとｎＴパルスとを用いて行われることを特徴とする光情報記録装置。
5. 単位時間長Ｔを基準とする記録パルス列に基づいてレーザ光のパルス照射を行うことにより、光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
   前記記録パルス列は、前記メディアに記録される最短のピットを形成するためのｍＴパルスと、下式で定義されるｎ’Ｔの長さを有するｎＴパルスとを含み、
   ｎ’Ｔ＝ｍ’Ｔ＋（ｎ−ｍ）Ｔ
   ｍ’Ｔ：最短ピットを形成するための記録パルスの長さ、ｎ’Ｔ：最短ピットよりも長いピットを形成するための記録パルスの長さ、ｍＴ：最短ピットのデータ長、ｎＴ：最短ピットよりも長いピットのデータ長、ｍ，ｎ：自然数でかつｍ＜ｎ
   前記ｎＴパルスの記録条件は、前記光記録メディアへのテスト記録を伴う下記ステップの実行により決定され、
   （１）ｍＴパルスの条件決定
   （２）ｍ’Ｔパルスと（ｎ−ｍ）Ｔパルスとのエネルギー比率の決定
   （３）ｎＴパルスの条件決定
   前記情報の記録は、前記ステップを経て決定されたｍＴパルスとｎＴパルスとを用いて行われることを特徴とする光情報記録装置。

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