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JP2000199780A - プリント基板の検査装置 - Google Patents

プリント基板の検査装置

Info

Publication number
JP2000199780A
JP2000199780A JP10377535A JP37753598A JP2000199780A JP 2000199780 A JP2000199780 A JP 2000199780A JP 10377535 A JP10377535 A JP 10377535A JP 37753598 A JP37753598 A JP 37753598A JP 2000199780 A JP2000199780 A JP 2000199780A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
printed circuit
circuit board
upper unit
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10377535A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Obata
修 小幡
Masatoshi Kato
正敏 加藤
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I C T KK
Original Assignee
I C T KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by I C T KK filed Critical I C T KK
Priority to JP10377535A priority Critical patent/JP2000199780A/ja
Priority to TW088112709A priority patent/TW436632B/zh
Priority to US09/429,215 priority patent/US6429673B1/en
Publication of JP2000199780A publication Critical patent/JP2000199780A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】上部ユニット30と下部ユニット40とを単一
の駆動手段で上下動させることにより、小型・軽量で、
簡潔な構造であり、且つプローブ35,45を有する上
部ユニット30の上部部材31および下部ユニット40
の上部部材41の交換が容易なプリント基板の検査装置
を提供することを目的とする。 【解決手段】空気圧シリンダー51が、上部ユニット3
0の下部部材32と下部ユニット40の下部部材42と
の間に設けられている。空気圧シリンダー51のシャフ
ト52が延びると、最初に上部ユニット30が自重によ
り下降し始める。次に、上部ユニット30がストッパー
34で制限される位置まで下降すると、下部ユニット4
0が上昇を始め、上記シャフト52が延びきる位置で下
部ユニットは停止する。この状態で、プローブ35,4
5が所定の圧力でプリント基板25に接触して、プリン
ト基板25の検査を行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プローブを用いて
プリント基板の不良を検査する検査装置に関するもので
ある。なお、検査の対象となるプリント基板は、部品が
実装されたプリント基板、部品が実装される前のプリン
ト基板のいずれでもよい。
【0002】
【従来の技術】プリント基板を上面および下面から検査
する従来の装置が、特開平10−282178号公報に
示されている。前記出願に示されている装置を簡略化し
たものを図5に示す。図を参照して従来の装置500を
説明する。支持体501にはガイドレール502が設け
られ、ガイドレール502上にはプリント基板支持板5
10が載置されている。プリント基板支持板510上の
所定の位置にプリント基板511が載置されている。プ
リント基板511の上部には、支持体501に固定され
たアクチュエータ523を介して上部検査ユニット52
1が設けられている。プリント基板511の下部には、
支持体501に固定されたアクチュエータ533を介し
て下部検査ユニット531が設けられている。
【0003】プリント基板511を検査する際には、プ
リント基板511をプリント基板支持板510上に載置
し、ガイドレール502に沿って、支持体501に搬入
する。次に、アクチュエータ523により上部検査ユニ
ット521が下降し、プローブ522がプリント基板5
11の上面に接触し、上面を押圧する。次に、アクチュ
エータ533により下部検査ユニット531が上昇し、
プローブ532がプリント基板511の下面に接触し、
下面を押圧する。各プローブ522,532は、不図示
の配線を介して不図示のテスターに接続されている。こ
の状態で、テスターはプローブ522,532を介して
プリント基板511に信号を与え、同時にプリント基板
511からの信号をプローブ522,532を介して受
ける。前記信号を解析することにより、プリント基板5
11の短絡不良や断線不良を検査する。検査が終了した
後、下部検査ユニット531が下降し、次いで上部検査
ユニット521が上昇し、その後にプリント基板511
が搬出される。
【0004】また、上部検査ユニット521と下部検査
ユニット531とは、検査されるプリント基板に固有の
ものである。したがって、別の種類のプリント基板を検
査する際には、上部検査ユニット521と下部検査ユニ
ット531とを交換しなければならない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の技術では以下の問題がある。第1に、上部検査ユニ
ットと下部検査ユニットとを上下動させるための駆動手
段であるアクチュエータを各ユニット毎に必要とする。
したがって、装置が大型化し、重くなる。また、部品点
数が多くなるので、装置の組み立て工数の増加や部品コ
ストの増加といった問題もある。
【0006】第2に、装置の上部には、上部検査ユニッ
トを上下動させるためのアクチュエータがあるため、装
置の上部の構造が複雑になる。この結果、上部検査ユニ
ットと下部検査ユニットを交換する際に、アクチュエー
タ等の装置の上部構造が交換作業の邪魔になるという問
題がある。
【0007】本発明は、上部検査ユニットと下部検査ユ
ニットとを単一の駆動手段で上下動作せることにより、
小型・軽量であり、簡潔な構造であり、且つ上部検査ユ
ニットおよび下部検査ユニットの交換が容易なプリント
基板の検査装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明においては、所定
の位置に配置されたプリント基板を前記プリント基板の
上面および下面からプローブを接触させることにより前
記プリント基板を検査するプリント基板の検査装置は、
前記プリント基板を所定の位置に保持するプリント基板
保持部を有する支持体と、前記プリント基板の上面を検
査するためのプローブを備えた上部ユニットと、前記プ
リント基板の下面を検査するためのプローブを備えた下
部ユニットと、前記上部ユニットと前記下部ユニットと
を上下動させるための単一の駆動手段を具備し、前記上
部ユニットと前記下部ユニットとは上下動可能に前記支
持体に保持されるとともに、前記駆動手段は上部ユニッ
トと前記下部ユニットとを前記支持体に対し相対的に上
下動させるように構成されている。
【0009】そして上部ユニットと下部ユニットとを駆
動する駆動手段が、支持体に対して相対的に上下動する
ように構成されているので、単一の駆動手段で上部ユニ
ットと下部ユニットとを上下動させることができる。し
たがって、検査装置を小型・軽量化することができる。
【0010】また、本発明のプリント基板の検査装置に
おいて、前記上部ユニットは前記プローブを備えた上部
部材と、前記駆動手段に結合される下部部材と、両者を
連結する連結部材とからなり、前記下部ユニットは前記
プローブを備えた上部部材と、前記駆動手段に結合され
る下部部材と、両者を連結する連結部材とからなること
を特徴としている。
【0011】したがって、連結部材が支持体に上下動可
能に保持されるので、上部ユニットおよび下部ユニット
が支持体に対し、つまりプリント基板に対して上下動
し、上部ユニットおよび下部ユニットのプローブがプリ
ント基板に接触し、プリント基板を検査できる。それゆ
え、別の種類のプリント基板を検査する際には、上部ユ
ニットの上部部材および下部ユニットの上部部材のみを
交換すればよい。また、上部ユニットの下部部材と下部
ユニットの下部部材とを装置の下部に設けた駆動手段に
より上下動させているので、検査装置の上部構造が簡潔
になる。
【0012】さらに、本発明のプリント基板の検査装置
において、前記上部ユニットの下部部材と前記下部ユニ
ットの下部部材との間隔と、前記上部ユニットの上部部
材と前記下部ユニットの上部部材との間隔との和は、前
記上部ユニットと前記下部ユニットとが上下動する過程
において一定の値となるように構成されていることを特
徴としている。
【0013】したがって、駆動手段により、上部ユニッ
トの下部部材と下部ユニットの下部部材との間隔を広く
すると、上部ユニットの上部部材と下部ユニットの上部
部材との間隔は狭くなる。つまり、上部ユニットは自重
により下降し、下部ユニットは駆動手段からの力により
持ち上げられ、プローブがプリント基板に接触し、検査
を行うことができる状態になる。
【0014】また、検査の終了後に上部ユニットの下部
部材と下部ユニットの下部部材との間隔を狭くすると、
上部ユニットの上部部材と下部ユニットの上部部材との
間隔は広くなる。つまり、下部ユニットは自重により下
降し、上部ユニットは駆動手段からの力により持ち上げ
られ、プローブがプリント基板から離れ、検査を開始す
る前の状態に戻る。
【0015】また、本発明のプリント基板の検査装置に
おいて、前記駆動手段は前記上部ユニットの下部部材と
前記下部ユニットの下部部材との間に配置され、前記駆
動手段が前記上部ユニットの下部部材と前記下部ユニッ
トの下部部材との間隔を変えることにより前記上部ユニ
ットと前記下部ユニットとを上下動させるべく構成され
ていることを特徴としている。
【0016】したがって、駆動手段により、上部ユニッ
トの下部部材と下部ユニットの下部部材との間隔を広く
すると、上部ユニットは自重により下降し、下部ユニッ
トは駆動手段からの力により持ち上げられ、プローブが
プリント基板に接触し、検査を行うことができる状態に
なる。また、検査の終了後に上部ユニットの下部部材と
下部ユニットの下部部材との間隔を狭くすると、下部ユ
ニットは自重により下降し、上部ユニットは駆動手段か
らの力により持ち上げられ、プローブがプリント基板か
ら離れ、検査を開始する前の状態に戻る。
【0017】すなわち、本発明ではプロービングの際に
上部ユニットを駆動するための専用の駆動手段が不要と
なるので、検査装置の上部構造が簡潔になり、上部ユニ
ットのプローブを備えた上部部材および下部ユニットの
プローブを備えた上部部材の交換が容易になる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明のプリント基板の検
査装置の実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に
説明する。図1は、本発明のプリント基板の検査装置1
0を正面から見た図であって、プリント基板25が検査
装置に搬入された時点での状態を示す図である。本装置
の主要な構成要素は、装置のベースとなる支持体20、
上部ユニット30と下部ユニット40、および駆動手段
である空気圧シリンダー51である。
【0019】支持体20の上部にはアルミニウム製のベ
ース板21が設けられている。プリント基板支持板25
を載置・固定するためのプリント基板支持板用支持台2
3が、ベース板21の上面に固定されている。プリント
基板支持板24上の所定の位置にはプリント基板25が
載置されている。図には示されていないが、プリント基
板支持板用支持台23の上部は、プリント基板支持板2
4をスライドさせて搬入できるように、ガイド付きのレ
ール構造となっている。プリント基板支持板24とプリ
ント基板支持板用支持台23とが、本装置のプリント基
板保持部を構成する。
【0020】上部ユニット30は、プリント基板25の
上面を検査するためのプローブ35を有する上部部材3
1と、空気圧シリンダー51が固定されている下部部材
32と、上部部材と下部部材とを連結するための4本
(図に示されているのは、手前側の2本である)の棒状
の連結部材33とから構成される。上部部材31と下部
部材32とは、それぞれネジ等により連結部材33に固
定されている。
【0021】下部ユニット40は、プリント基板の下面
を検査するためのプローブ45を有する上部部材41
と、空気圧シリンダー51のシャフト52が固定されて
いる下部部材42と、上部部材41と下部部材42とを
連結するための4本(図に示されているのは、手前側の
2本である)の棒状の連結部材43とから構成される。
上部部材41と下部部材42とは、それぞれネジ等によ
り連結部材43に固定されている。
【0022】上部ユニット30の連結部材33と下部ユ
ニット40の連結部材43とは、ベース板21に設けら
れた貫通穴26を通り、ベース板21に対して上下動可
能なように保持されている。つまり、上部ユニット30
と下部ユニット40とは、支持体20に対して上下動可
能なように保持されている。また、下部ユニット40
は、図1の状態では自重により下部ユニット支持台22
の上に載っている。
【0023】駆動手段である空気圧シリンダー51は、
上部ユニット30の下部部材32に固定されている。ま
た、空気圧シリンダー51のシャフト52は、下部ユニ
ット40の下部部材42に固定されている。空気圧シリ
ンダー51には2つの圧縮空気導入口53,54があ
り、配管55,56および開閉バルブ57,58を介し
て不図示の圧縮空気源に接続されている。下側の圧縮空
気導入口54から圧縮空気を導入すると、空気圧シリン
ダー51のシャフト52は空気圧シリンダー52から突
き出る方向に動く。また、上側の圧縮空気導入口55か
ら圧縮空気を導入すると、空気圧シリンダー51のシャ
フト52は空気圧シリンダー51に入り込む方向に動
く。したがって、開閉バルブ57,58を制御すること
により、上部ユニット30の下部部材32と下部ユニッ
ト40の下部部材42との間隔を変えることができる。
圧縮空気の供給系統に故障があった場合でも、上部ユニ
ット30が下降するのを防止するために、上部ユニット
30の下部部材32と下部ユニット40の下部部材42
とは、バネ60によって連結されている。
【0024】次に、プリント基板25を検査するときの
手順および動作について説明する。まず、プリント基板
25をプリント基板支持板24の所定の位置に載置す
る。次にプリント基板支持板24が、プリント基板支持
板用支持台23に設けられた不図示のガイド付きのレー
ルに沿って手前から搬入される。プリント基板25を検
査するためには、上部ユニット30および下部ユニット
40のプローブ35,45をプリント基板25に接触さ
せる必要がある。そこで、空気圧シリンダー51のシャ
フト52が空気圧シリンダー51から突き出る方向に動
くように開閉バルブ57,58を制御する。この結果、
上部ユニット30の下部部材32と下部ユニット40の
下部部材42との間隔を広げようとする力が発生する。
この力は、上部ユニット30を下降させるか、または下
部ユニット40を上昇させる力となる。下部ユニット4
0を上昇させるためには、上部ユニット30および下部
ユニット40の自重に抗して上昇させる力を加える必要
がある。それに対し、上部ユニット30には自重により
下降する力が働く。力学の法則にしたがって、下部ユニ
ット40は動かずに、上部ユニット30のみが下降を始
める。
【0025】さらに時間が経過すると、上部ユニット3
0のプローブ35がプリント基板25に接触する位置ま
で下降する。更に下降すると、ストッパー34により上
部ユニット30の下降が制限されるので、図2に示す状
態となる。図2の状態では、プローブ35とプリント基
板25との間で接触不良が発生しないように、図4
(A)に示すプローブ420の可動針423がプローブ
ケース422内に押し込まれており、プローブ内のバネ
421は、図4(A)に示すよりも短くなっている。上
部ユニット30には、上方に向かってプローブ420内
のバネ421による圧力がかかっている。プローブ35
が最初にプリント基板25に接触してから図2の状態に
なるまでの期間においては、プローブ35内のバネの圧
力が上部ユニット30にかかる。したがって、下部ユニ
ット40を上昇させることなく上部ユニット30を下降
させるためには、下記の式(1)を満たさなければなら
ない。 (上部ユニットの重量+下部ユニットの重量+空気圧シリンダーの重量)> 全プローブの圧力 −−−− (1) 全プローブの圧力とは、上部ユニット30に設けられて
いるプローブ35の本数とプローブ1本当たりのプロー
ブの可動ピンの圧力との積である。例えば、上部ユニッ
ト30に400本のプローブ35が設けられており、図
2の状態でのプローブ1本当たりの圧力が150g重の
場合、全プローブの圧力は60kg重となる。
【0026】また、空気圧シリンダー51の重量が比較
的小さいこと、および設計許容値を考慮して、下記の式
(2)を満たすように検査装置は設計される。 (上部ユニットの重量+下部ユニットの重量)> 全プローブの圧力 −−−− (2) また、本発明の検査装置を用いて複数種類のプリント基
板が検査されるので、最大のプローブ本数で検査をする
場合を考慮して、式(2)が満たされるように設計され
る。
【0027】図2の状態からさらに空気圧シリンダー5
1のシャフト52が延びる場合について説明する。図2
の時点で、上部ユニット30の下降は制限されるので、
下部ユニット40が上昇し始める。そして、シャフト5
1が延びきった状態、つまり図3に示す状態で下部ユニ
ット40が停止する。なお、図3の状態では、下部ユニ
ット40のプローブ45は所定の圧力でプリント基板2
5に接触している。空気圧シリンダー51に代えてスッ
テピングモータを駆動手段として用いた場合には、スッ
テッピングモータに与える駆動信号を制御することによ
り下部ユニット40の停止位置を制御できる。
【0028】図3の状態で、不図示のテスターはプロー
ブ35,45を介してプリント基板25に信号を与え、
同時にプリント基板25からの信号をプローブ35,4
5を介して受け取る。そして信号を解析することによ
り、プリント基板25の短絡不良や断線不良を検査す
る。なお、各プローブ35,45は、不図示の配線を介
して不図示のテスターに接続されている。
【0029】プリント基板25の検査が終了すると、空
気圧シリンダー51のシャフト52が空気圧シリンダー
51に入り込むように、つまり上部ユニット30の下部
部材32と下部ユニット40の下部部材42との間隔を
短くする動作をさせるように開閉バルブ57,58を制
御する。この結果、上部ユニット30を上昇させるか、
または下部ユニット40を下降させる力が発生する。下
部ユニット40には下方に自重がかかっているので、下
部ユニット40が下降を始め、下部ユニット支持台22
により下部ユニット40の下降が制限される位置まで来
ると、図2の状態となり、下部ユニット40の下降が停
止する。しかし、上部ユニット30の下部部材32と下
部ユニット40の下部部材42の間隔を短くする力が加
えられているので、次に上部ユニット30が上昇し始
め、シャフト52が空気圧シリンダー51に入りきった
位置、つまり図1に示す状態で上部ユニット30は停止
する。その後、プリント基板25は検査装置10から搬
出され、次に検査すべきプリント基板が搬入される。
【0030】以上の説明を踏まえて、本発明の特徴につ
いて述べる。図1と図2とを較べてみると、駆動手段で
ある空気圧シリンダー51が支持体20に対して相対的
に上下動していることが判る。この特徴を利用すること
により、1つの駆動手段で上部ユニット30と下部ユニ
ット40とを駆動できる。また、上部ユニット30と下
部ユニット40との重力を利用することにより、空気圧
シリンダー51のシャフト52を突き出すという1種類
の動作で、上部ユニット30の下降および下部ユニット
40の上昇という逆方向の動作を実現できる。更に、上
部ユニット30の下部部材32と下部ユニット40の下
部部材42との間隔と、上部ユニット30の上部部材3
1と下部ユニット40の上部部材41との間隔との和
は、上部ユニット30と下部ユニット40とが上下動す
る過程において一定の値となるように構成されているの
で、空気圧シリンダー51のシャフト52が突き出した
長さは、上部ユニット30の下降量と下部ユニット40
の上昇量との和になる。したがって、所定の位置で上部
ユニット30の下降動作に制限がかかるようにしておけ
ば、空気圧シリンダー51のシャフト52のストローク
量を上部ユニット30の下降量と下部ユニット40の上
昇量とに分配できる。
【0031】なお、本実施の形態では、ストローク量が
80mmの空気圧シリンダーを使用しており、図1の状
態から図3の状態に変わるとき、上部ユニット30は5
0mm下降し、下部ユニット40は30mm上昇するよ
うになっている。前記のストローク量、上部ユニットの
下降量、および下部ユニット上昇量は、前記の値に限定
されるものではなく、適宜変えて本発明を実施できる。
【0032】以上の説明では、上部ユニット30の上部
部材31および下部ユニット40の上部部材41の構造
の詳細については示されていない。そこで図4(A)を
用いて上部ユニット30の上部部材31の構造を説明す
る。なお、下部ユニット40の上部部材41も、上下が
逆になる以外は図4と同様の構成である。図4(A)に
示すように、上部ユニットの上部部材31は、プローブ
板412と取り付け板411とから構成される。取り付
け板411は、ネジ等によって上部ユニットの連結部材
33に固定されている。また、プローブ412板は、支
柱413を介してネジ等により取り付け板411に固定
されている。プローブ板411にはソケット430が圧
入されている。ソケット430にはプローブ420が挿
入されている。ソケット430と第1コネクタ441と
の間は、不図示のプリント配線またはラッピング配線等
により電気的に接続されている。第1コネクタ441に
接続されている第2コネクタ442を介して、電気信号
が不図示のテスターとの間で送受される。なお、別の種
類のプリント基板を検査する場合には、プローブ板41
2が交換される。図4(B)は取り付け板411の形状
を、図4(C)はプローブ板412の形状を示す。
【0033】図4(A)は、上部ユニットの上部部材3
1の一例を示すものであり、本発明は図4の構成の場合
に限定されるものではない。例えば、取り付け板411
を介さずにプローブ板412を直接連結部材33に固定
する構成としてもよい。
【0034】以上、プリント基板の検査装置10につい
ての実施の形態を説明したが、本発明は上記の実施の形
態に限定されるものではなく、本実施の形態の空気圧シ
リンダーに代えて、バネ内臓タイプの空気圧シリンダや
油圧シリンダーやスッテピングモータ等の他の駆動手段
を用いてもよい。
【0035】また、プリント基板の上面および下面を検
査する場合について説明したが、片面のみを検査する際
にも本発明の検査装置を使用することができる。例え
ば、プリント基板の下面のみを検査する場合には、上部
ユニット30のプローブ35の代えて、支柱が取り付け
られる。前記支柱によりプリント基板25は上面から支
持されるので、下部ユニット40のプローブ45によっ
てプリント基板25に下面から力が加わってもプリント
基板25が浮き上がることはなく、プリント基板25の
下面を検査することができる。
【0036】また、下部ユニットを上部部材と下部部材
と連結部材とで構成する例について示したが、下部部材
と連結部材とを省略し、空気圧シリンダのシャフトを直
接上部部材に接続するようにしてもよい。この場合、シ
ャフトは、シャフトの径と同じ大きさの下部部材と連結
部材とを兼ねていると考えることができる。
【0037】さらに、図1に示す装置の上下を逆にした
装置(以下、逆タイプ装置という)でも、図1の装置と
類似の動作をする。例えば、図1の装置の上部ユニット
は、逆タイプ装置の下部ユニットに相当し、図1の装置
の下部ユニットの上部部材は、逆タイプ装置の上部ユニ
ットの下部部材に相当する。
【0038】
【発明の効果】本発明のプリント基板の検査装置では、
プリント基板の上面を検査するための上部ユニットとプ
リント基板の下面を検査するための下部ユニットとを単
一の駆動手段で上下動作せることができる。この結果、
プリント基板の検査装置が小型・軽量化できる。また、
プロービングの際に上部ユニットを駆動するための専用
の駆動手段が不要となるので、検査装置の上部構造が簡
潔になり、上部ユニットのプローブを備えた上部部材お
よび下部ユニットのプローブを備えた上部部材の交換が
容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】プリント基板の検査を開始する前の検査装置の
状態を示す概略図である。
【図2】上部ユニットが下降したときの検査装置の状態
を示す概略図である。
【図3】プリント基板の検査を行っているときの検査装
置の状態を示す概略図である。
【図4】(A)は上部ユニットの上部部材の構造を示す
概略図、(B)は上部ユニットの上部部材の取り付け板
の形状を示す斜視図、(C)は上部ユニットの上部部材
のプローブ板の形状を示す斜視図である。
【図5】従来のプリント基板の検査装置を示す概略図で
ある。
【符号の説明】
10 プリント基板の検査装置 20 支持体 21 ベース板 24 プリント基板支持板 25 プリント基板 30 上部ユニット 31 上部ユニットの上部部材 32 上部ユニットの下部部材 33 上部ユニットの連結部材 40 下部ユニット 41 下部ユニットの上部部材 42 下部ユニットの下部部材 43 下部ユニットの連結部材 51 空気圧シリンダー 52 空気圧シリンダーシャフト
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G011 AA02 AA16 AB01 AC06 AC21 AE01 AF06 2G014 AA02 AA03 AB59 AC10 2G032 AA00 AD08 AF02 AF04 AK03 AL00 9A001 JJ45 KZ54

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の位置に配置されたプリント基板を
    前記プリント基板の上面および下面からプローブを接触
    させることにより前記プリント基板を検査するプリント
    基板の検査装置であって、前記プリント基板を所定の位
    置に保持するプリント基板保持部を有する支持体と、前
    記プリント基板の上面を検査するためのプローブを備え
    た上部ユニットと、前記プリント基板の下面を検査する
    ためのプローブを備えた下部ユニットと、前記上部ユニ
    ットと前記下部ユニットとを上下動させるための単一の
    駆動手段を具備し、前記上部ユニットと前記下部ユニッ
    トとは上下動可能に前記支持体に保持されるとともに、
    前記駆動手段は上部ユニットと前記下部ユニットとを、
    前記支持体に対し相対的に上下動させることを特徴とす
    るプリント基板の検査装置。
  2. 【請求項2】 前記上部ユニットは前記プローブを備え
    た上部部材と、前記駆動手段に結合される下部部材と、
    両者を連結する連結部材とからなり、前記下部ユニット
    は前記プローブを備えた上部部材と、前記駆動手段に結
    合される下部部材と、両者を連結する連結部材とからな
    ることを特徴とする請求項1に記載のプリント基板の検
    査装置。
  3. 【請求項3】 前記上部ユニットの下部部材と前記下部
    ユニットの下部部材との間隔と、前記上部ユニットの上
    部部材と前記下部ユニットの上部部材との間隔との和
    は、前記上部ユニットと前記下部ユニットとが上下動す
    る過程において一定の値となるように構成されているこ
    とを特徴とする請求項2に記載のプリント基板の検査装
    置。
  4. 【請求項4】 前記駆動手段は前記上部ユニットの下部
    部材と前記下部ユニットの下部部材との間に配置され、
    前記駆動手段が前記上部ユニットの下部部材と前記下部
    ユニットの下部部材との間隔を変えることにより前記上
    部ユニットと前記下部ユニットとを上下動させるべく構
    成されていることを特徴とする請求項2に記載のプリン
    ト基板の検査装置。
  5. 【請求項5】 前記上部ユニットの下部部材と前記下部
    ユニットの下部部材との間隔を大きくした場合には、前
    記上部ユニットが下降した後に前記下部ユニットが上昇
    すべく構成されていることを特徴とする請求項4に記載
    のプリント基板の検査装置。
  6. 【請求項6】 前記上部ユニットの下降が制限された結
    果、前記下部ユニットが上昇すべく構成されていること
    を特徴とする請求項5に記載のプリント基板の検査装
    置。
  7. 【請求項7】 前記上部ユニットの下部部材と前記下部
    ユニットの下部部材との間隔を小さくした場合には、前
    記下部ユニットが下降した後に前記上部ユニットが上昇
    すべく構成されていることを特徴とする請求項4に記載
    のプリント基板の検査装置。
  8. 【請求項8】 前記下部ユニットの下降が制限された結
    果、前記上部ユニットが上昇すべく構成されていること
    を特徴とする請求項7に記載のプリント基板の検査装
    置。
  9. 【請求項9】 前記上部ユニットの重量と前記下部ユニ
    ットの重量との和が、前記プリント基板を検査するとき
    に前記上部ユニットに設けられた全ての前記プローブに
    かかる圧力の和よりも大きいことを特徴とする請求項1
    に記載のプリント基板の検査装置。
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