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JP2000105247A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

Info

Publication number
JP2000105247A
JP2000105247A JP27460798A JP27460798A JP2000105247A JP 2000105247 A JP2000105247 A JP 2000105247A JP 27460798 A JP27460798 A JP 27460798A JP 27460798 A JP27460798 A JP 27460798A JP 2000105247 A JP2000105247 A JP 2000105247A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid level
sample
sample container
automatic analyzer
dispensing probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27460798A
Other languages
English (en)
Inventor
Norikazu Arima
紀和 有馬
Masahito Ishizawa
雅人 石沢
Akira Inagaki
晃 稲垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP27460798A priority Critical patent/JP2000105247A/ja
Publication of JP2000105247A publication Critical patent/JP2000105247A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は、サンプル容器保持手段によっ
て配置されているサンプル容器の種類とサンプル液面の
概略位置を検出した検出信号を用いて、サンプル液面を
適正に液面検出することを可能にすることができる自動
分析装置を提供することにある。 【解決手段】本発明では、液面検出時のサンプル分注プ
ローブの下降動作制御値や液面検出判定時のノイズ許容
幅等の制御値を、各サンプル容器種類及び容器内のサン
プルの液面位置に対して最適な前記の動作制御値を設定
し、制御することにより実現可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動分析装置に係
わり、特に液面検出の機能を備えた分注プローブにより
液体を一方の容器から他方の容器へ分注する機構を備え
た自動分析装置に係わる。
【0002】
【従来の技術】従来方法での自動分析装置では、分注対
象のサンプルが入ったサンプル容器は、サンプル容器保
持手段としてのサンプルディスク又はサンプルラックに
配置される。サンプル容器は、高さの種類の異なる物が
複数種類用いられる。また、小さなサンプル容器は、サ
ンプルディスク又はサンプルラックに直接配置すること
や他のサンプル容器又は補助保持具に載せてサンプルデ
ィスク又はサンプルラックに配置することもある。
【0003】上記のことから分かるようにサンプル分注
プローブの液面到達までの移動距離は、サンプル容器の
種類とサンプル液面の位置によって異なる。サンプル分
注プローブ先端の液面浸漬量は分析性能上、極力低減さ
せることが必要であるが、上記の通り、サンプル容器内
の液面位置が不明なため、サンプル分注プローブを下降
させる際は、常にサンプル容器内の液面を検出して停止
できるよう下降させる必要がある。また、サンプル液面
の有無を判定する際のノイズ許容値は、許容時間が長い
ほど幅の広いノイズに対して無視することができるた
め、耐ノイズ性が向上する。
【0004】しかし、許容時間を長くすると、サンプル
分注プローブがサンプル液面を検出した後も許容時間内
は停止せずに下降し続けるため、サンプル分注プローブ
先端の液面浸漬量が増加するため、分析性能上、悪影響
を及ぼす可能性がある。
【0005】しかし、液面検出時の分注機構の動作制御
値は、上記の通り、サンプル容器内の液面位置が不明な
ため、サンプル容器の種類及びサンプル容器内の液面位
置に関わらず常に同じ動作制御値を使用すると共に、サ
ンプル分注プローブ先端の液面浸漬量を抑制するため、
ノイズ許容幅を狭く設定するのが一般的である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の方式では、液面
検出動作中のサンプル容器とサンプル分注プローブ間の
静電気放電等による外乱ノイズ発生した時、発生するノ
イズ幅がノイズ許容値を越えて液面検知動作が適正に実
行されない可能性を有していた。
【0007】本発明の目的は、サンプル容器保持手段に
よって配置されているサンプル容器の種類とサンプル液
面の概略位置を検出した検出信号を用いて、サンプル液
面を適正に液面検出することを可能にすることができる
自動分析装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、サンプル容器
種類とサンプル容器内液面の概略位置を検出した結果を
用いて、分注機構の分注動作時の動作制御値、つまり、
液面検出時のサンプル分注プローブの下降動作制御値や
液面検出判定時のノイズ許容幅等の制御値を、各サンプ
ル容器種類及び容器内のサンプルの液面位置に対して最
適な前記の動作制御値を設定し、制御することにより実
現可能となる。
【0009】即ち、前記手段を備えることにより、分注
機構がサンプル容器保持手段に配置されているサンプル
容器内のサンプル液面検出時に、各サンプル容器の種類
及び容器内の液面位置に対応して分注機構の動作制御値
を最適化し、サンプル分注プローブ先端の液面浸漬量を
抑制する。又、サンプル容器とサンプル分注プローブ間
の静電気放電等の外乱ノイズに対するノイズ耐量を向上
させ、確実にサンプル容器内のサンプル液面の液面検出
することが可能となる。
【0010】
【発明の実施の形態】図1に一般的な自動分析装置の分
注機構周辺部概略図を示す。
【0011】サンプリング機構1上にあるサンプリング
アーム2は、上下すると共に回転する。サンプリングア
ーム2に取り付けられたサンプル分注プローブ105を
用いて、左右に回転するサンプルディスク102上に配
置されたサンプル容器101内のサンプル7をサンプル
分注プローブ105内に吸引し、反応容器106へ吐出
するように構成されている。
【0012】本図からも分かるように、サンプル容器1
01のサンプルディスク102への配置は、サンプルデ
ィスク102上に直接配置したり、試験管(図示なし)
上にサンプル容器101を載せた物を配置することも可
能なユニバーサルな配置に対応可能な構造の物が一般的
である。又、試験管の長さは、約50mmから約100mm
の物が通常使用される。
【0013】図1における自動分析装置の構成を更に説
明する。
【0014】サンプル容器101内のサンプル7を分注
する前に、サンプルディスク102外周上にあるバーコ
ードリーダ150で各サンプル容器101に付されてい
るサンプル情報を読み込みコンピュータ103が記憶す
る。
【0015】既に読み込んだサンプル容器101のサン
プル情報を基に各サンプルの分析項目は、キーボード1
21又は、CRT118等の入力装置から入力される。
この自動分析装置における各ユニットの動作は、コンピ
ュータ103により制御される。
【0016】サンプルディスク102の間欠回転に伴っ
て、サンプルディスク102上のサンプル容器101
は、サンプル吸引位置へ移送される。停止中のサンプル
容器101内にサンプル分注プローブ105が下降し、
その下降動作時にサンプル分注プローブ105の先端が
液面に接触すると、液面検出回路151から検出信号が
出力され、それに基づきコンピュータ103がサンプリ
ングアーム2の駆動部の下降動作を停止するように制御
する。
【0017】次に、サンプル分注プローブ105は、サ
ンプル用シリンジポンプ107の動作によって、サンプ
ル分注プローブ105内に所定量のサンプル7を吸引し
た後、サンプル分注プローブ105が上死点まで上昇
し、サンプリングアーム2が水平方向に旋回して反応デ
ィスク109上の反応容器106の位置で停止する。サ
ンプル分注プローブ105を下降させて反応容器106
内へサンプル分注プローブ105内に保持していたサン
プル7を吐出する。サンプル7が入った反応容器106
が試薬添加位置まで移動する。
【0018】回転自在な試薬ディスク125上には、分
析対象となる複数の分析項目に対応する試薬ボトル11
2が配置されている。試薬分注機構3に取り付けられた
試薬分注プローブ110は、該当する分析項目に対応し
た試薬ボトル112内の試薬を試薬用シリンジポンプ1
11の動作により試薬ボトル112から所定量を試薬分
注プローブ110内吸引し、反応容器106へ吐出す
る。
【0019】サンプル7及び試薬が吐出された反応容器
106内の混合液は、撹拌器113により撹拌される。
反応容器列109の移送中に複数の反応容器106が光
源114からの光軸140を横切り、各反応容器内にあ
る混合液の吸光度、あるいは発光値が測定手段としての
光度計115により測定される。
【0020】測定された吸光度信号又は発光値は、A/
D変換器116を経由し、インターフェイス104を介
してコンピュータ103に入力されて分析項目の濃度計
算が行われる。
【0021】分析結果は、インターフェイス104を介
してプリンタ117への印字出力又は、CRT118へ
画面出力すると共に、メモリ122としてのハードディ
スクに格納される。
【0022】次に、図2から図4を用いて、本発明が解
決すべき内容の具体例について説明する。
【0023】図2は、サンプル分注プローブがサンプル
容器の分注位置において、上死点位置(A)から下降開
始して試験管130内の液面位置(C)を検出するまで
の動作シーケンス図を示す。
【0024】サンプル分注プローブ105は、上死点位
置(A)から下降を開始し、試験管130の開口部付近
(B)を通過し、試験管130内のサンプル7の液面位
置(C)を液面検出回路151で検出し、検出した液面
検出信号を用い、液面位置(C)でサンプル分注プロー
ブ105を停止させる。
【0025】サンプル分注プローブ105は、試験管1
30内に収容されたサンプル7をサンプル分注プローブ
105内に吸引する分注用プローブとしての機能と、サ
ンプル容器内の液面を検出するための電気的な液面検出
用センサとしての機能を兼ねているものが殆とである。
よって、サンプル分注プローブ105の素材としては導
電性であることが要求され、ステンレス等の金属や導電
性プラスチック素材が用いられるのが周知である。
【0026】したがって、図2に示すように、試験管1
30内部に静電気が帯電している状態で、サンプル分注
プローブ105が下降して液面検出動作をした場合、サ
ンプル分注プローブ105は、前記の通り導電性である
ため、サンプル分注プローブ105と試験管130開口
部付近(B)の間で静電気放電が発生し、液面検知回路
151の検出信号には、図3のように外乱ノイズによる
液面誤検知信号が発生する。
【0027】本現象は、図2の試験管130の開口部付
近(B)とサンプル分注プローブ105間での静電気放
電による外乱ノイズを示したが、帯電電圧が高い場合
は、試験管130開口部上部付近とサンプル分注プロー
ブ105間での静電気放電による外乱ノイズが発生する
可能性もある。
【0028】図3は、前記の通り、静電気放電による外
乱ノイズが液面検出信号に重畳されて出力された状態を
示す。ノイズ幅は放電電圧に依存するが、一般的には、
数ms幅程度であるが、放電電圧によっては、十数ms
に達するノイズもごく希に発生する。
【0029】図4は、従来の分注プローブ下降動作時の
動作制御値を示す。
【0030】図4を用いて、従来の制御について、上下
駆動用アクチュエータとしてパルスモータを用いた場合
を例に取り説明する。
【0031】制御値の一つとしてサンプル分注プローブ
105の上死点位置(A)から下死点位置(D)までの
移動量、つまり総下降移動量が設定される。又、サンプ
ル分注プローブ105の起動及び停止時は、慣性モーメ
ントなどの機械的観点から起動時はスローアップ(S
U)、停止時はスローダウン(SD)制御する手法が用
いられ、低速時は300pps 、高速時は3000pps 程
度の制御値が通常用いられる。
【0032】サンプル分注プローブ105の液面検出動
作時において、下降動作のスローアップ後は、下死点位
置(D)までのどこの位置に液面位置(C)が存在する
か未知であると共に、動作時間の短縮を図るため、高速
の一定速度で下降する制御値が用いられる。下降速度が
高速の場合、液面検出信号に対するノイズ許容値を20
ms程度に設定すると、分注機構の上下駆動の分解能に
依るが、サンプル分注プローブ105の液面浸漬量は、
ノイズ許容値とスローダウンの合計で約10mm程度とな
り、クロスコンタミネーションが増加して分析性能上問
題となる。このため、ノイズ許容値を5ms程度に設定
すると共に、スローダウン量もできる限り最小値を設定
して、サンプル分注プローブ105先端の液面浸漬量が
2mmから3mm程度に抑制した制御値が用いられる。
【0033】しかし、前記の通り、試験管からの静電気
放電によるノイズ幅は数msから十数msある。よっ
て、従来の制御値では、試験管130開口部付近で前記
十数msの幅の広い外乱ノイズが発生すると、図4に示
すように液面位置(B)に到達しない位置(B′)にも
関わらず液面であると液面誤検出し、サンプル分注プロ
ーブ105の下降を停止する可能性があった。
【0034】本発明では、前記の通り、サンプル容器1
01に付されたサンプル情報の読み込みとサンプル容器
101の種類及びサンプル容器101内のサンプル液面
の概略位置を検出することを兼ねたバーコードリーダ1
50が自動分析装置の一部として装置内に組み込まれて
いる。又、サンプルディスク102上に配置されている
サンプル容器101の種類とサンプル容器101内のサ
ンプル液面の概略位置は、液面検出動作が開始される以
前に検出され、本検出結果をコンピュータ103へ出力す
るように構成される。
【0035】図6Aを用いて、バーコードリーダによる
サンプル容器の種類及びサンプル容器内の液面概略位置
を検出する検出方法を示す。
【0036】バーコードリーダ150は、従来の検体情
報が記載されているバーコード205を読み取る範囲に加
え、サンプル容器203aの高さ方向の範囲について検
出を行う。本検出で得られた検出信号を用いて、サンプ
ル容器判定レベルを越えた領域部分、すなわち、サンプ
ル容器の高さを検出して、サンプル容器203aの種類
を識別する。次に、同様の検出信号を用いて、サンプル
液量判定レベルを越えた領域部分、すなわち、サンプル
容器203a内に収容されているサンプル204a液量部分
の範囲を特定し、サンプル204aの液面概略位置を識
別する。
【0037】同様に、図6Bに示すような、形状のサン
プル容器203bについても上記と同様な検出を行い、
サンプル容器高さの検出とサンプル液量部分の範囲を特
定することにより、サンプル容器203bの種類とサン
プル容器203b内の液面概略位置を検出することが可
能となる。
【0038】図5は、本発明による分注プローブ下降時
の動作制御値を示す。
【0039】図5を用いて本発明による制御を図4と同
様に上下駆動用アクチュエータとしてパルスモータを用
いた場合を例に取り説明する。
【0040】本発明による制御法では、上記のように、
バーコードリーダ150の検出結果からサンプル容器1
01の種類とサンプル容器101内液面の概略位置をサ
ンプル分注プローブ105が上死点位置から下降してサ
ンプル容器101内の液面検出動作をする前に、サンプ
ル分注プローブ105の液面検出動作の制御値を自動的
に認識することが可能となる。
【0041】よって、自動的に設定された液面検出動作
制御値により、サンプル分注プローブ105は、サンプ
ル容器101内のサンプル液面の数mm手前でスローダウ
ンさせた後、低速の一定速度で下降する。よって、本制
御値では、液面検出信号は、必ず低速状態、つまり、単
位時間当たりの下降量が少ない状態で入力されるため、
サンプル分注プローブ105の液面に対する浸漬量を従
来の制御値と同じにした場合、ノイズ許容値を数十ms
から数百msと従来と比較して数十倍も長く設定するこ
とが可能となる。
【0042】又、前記の静電気放電による幅の広い外乱
ノイズが発生してもノイズ許容値を越え、サンプル分注
プローブ105が液面位置に到達しない位置で液面とし
て誤検出をして停止することなく、確実にサンプル容器
101内の液面を検出することが可能となる。
【0043】更に、従来は前記の機械的観点から、サン
プル分注プローブ105が液面を検出した後の高速動作
時の液面停止が不可能なため、低速動作へスローダウン
した後に停止していた。このため、スローダウン量は必
然的に必要となり、サンプル分注プローブ105先端の
液面浸漬量を抑制する上で困難な理由の一つとなってい
た。
【0044】しかし、本発明でのサンプル分注プローブ
105の液面検出時の下降動作速度は、低速で且つ一定
な速度であるため、停止時の機械的制約を受けることが
なく、従来では不可能であったサンプル分注プローブ1
05が液面検出した後、サンプル分注プローブ105の
下降動作を即停止させることが可能となる。よって、液
面検出後のサンプル分注プローブ105先端の液面浸漬
量をサンプル容器101の種類に対応した浸漬量に抑制す
ることが可能となるため、クロスコンタミネーションに
対しても有利となり、より安定した分析結果を得ること
が可能となる。又、前記の通り、従来のサンプル分注プ
ローブ105先端の液面浸漬量が3mm程度でも、サンプ
ル容器101が試験管130などの口径が広い場合、内
径がφ17mm程度ある。よって、サンプル7を収容した
場合は液面の断面積が大きいため、最小検出液量は50
0μl程度と大きな値になってしまう。しかし、サンプ
ル分注プローブ105先端の液面浸漬量を必要最小限に
設定することにより、従来では不可能であった試験管1
30等の最小検出液量を大幅に低減することが可能とな
り、制御設定値によっては、最小検出液量が50μl程
度と口径の広い試験管130でありながら、サンプル容
器101と同程度の最小検出液量の実現が可能となる。
【0045】上述は、サンプリングアーム2の上下駆動
用アクチュエータとしてパルスモータを用いた場合を例
に取り説明したが、上下駆動用アクチュエータとしてエ
ンコード機能の付加されたモータ等を用いて構成して
も、上述と同等な機能を得ることが可能となる。
【0046】次に、サンプル容器101内液面の概略位
置を検出した検出結果より、サンプル分注プローブ10
5の上死点位置からの下降動作がスローダウンしてサン
プル容器101内のサンプル液面の数mm手前に至るまで
の位置では、液面検出回路151による液面検出を行わ
ず、低速の一定速度での下降と同期して液面検出を行う
ことにより、更に外乱ノイズに対する耐量を向上させる
ことが可能となる。又、前記バーコードリーダ150に
よって、サンプル容器101内の液面概略位置を検出す
る検出信号において、図6cに示すように、気泡判別レ
ベルを設定し、サンプル容器203c内のサンプル液面
204c付近の信号変化に対して本判定レベルを越えた
検出信号のあるサンプル204cは、サンプル204c
の液面付近に気泡210があると識別する等の気泡がな
い信号変化と異なる信号の特徴を捕らえて気泡210の
有無を検出する。本検出方法を備えることにより、気泡
210の影響によって液面誤検知するサンプル容器20
3cを液面検知前に判別し、気泡210のあるサンプル
容器203cであることをアラーム出力することが可能
となるため、更に信頼性の高い液面検出機能を備えた自
動分析装置を提供することが可能となる。
【0047】
【発明の効果】以上説明したような本発明によれば、サ
ンプル容器内の液面検出動作に最適な制御値を自動的に
設定できるため、サンプル容器の種類及び容器内の液面
位置に対して液面検出時のサンプル分注プローブ先端の
液面浸漬量を最適な値に抑制できる。又、サンプル液面
検出時のサンプル容器からの静電気放電等の外乱ノイズ
に対するノイズ耐量を向上させて、確実なサンプル容器
内の液面検出が可能となる。
【0048】したがって、ノイズ耐量が高く、安定、且
つ正確な液面検知機能を備えた自動分析装置を提供する
ことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される自動分析装置の全体構成を
示す概略図。
【図2】静電気放電時の液面検出動作シーケンス図。
【図3】静電気放電時の液面検出信号波形図。
【図4】従来の液面検出制御値の特性を示す図。
【図5】本発明による液面検出制御値の特性を示す図。
【図6A】本発明による容器及び液面概略位置識別方法
を示す側断面図。
【図6B】本発明による容器及び液面概略位置識別方法
を示す側断面図。
【図6C】本発明による液面付近の気泡判別方法を示す
図。
【符号の説明】
1…サンプル分注機構、2…サンプリングアーム、3…
試薬分注機構、7…サンプル、101…サンプル容器、
102…サンプルディスク、103…コンピュータ、1
05…サンプル分注プローブ、106…反応容器、10
7…サンプル用シリンジポンプ、109…反応容器列、
110…試薬分注プローブ、111…試薬用シリンジポ
ンプ、112…試薬容器、113…攪拌機構、114…
光源、115…光度計、116…A/D変換機、117
…プリンタ、118…CRT、119…洗浄機構、12
1…キーボード、122…メモリ、125…試薬ディス
ク、130…試験管、140…光軸、150…バーコー
ドリーダ、151…液面検出回路、200…検体情報検
出領域、201…サンプル容器高さ検出領域、202…
サンプル液量検出領域、203a,203b,203c
…サンプル容器、204a,204b,204c…サン
プル、205…バーコード、206…サンプル液面判別
レベル、207…サンプル容器判別レベル、208…気
泡検出信号、209…気泡判別レベル、210…気泡。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 稲垣 晃 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内 Fターム(参考) 2F014 AB01 AB03 DA01 2G058 CB05 CD04 CE08 EA02 EA04 EA14 EB17 ED03 ED07 FA02 GA02 GB03 GB06 GB10 GC02 GD01

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】サンプル容器内に収容されたサンプルの液
    面を検知する分注プローブが電気的に接続されている液
    面検出部と、前記液面検出部の電極を兼ねた前記分注プ
    ローブを用いて前記サンプル容器から反応容器へサンプ
    ルを分注する分注機構と、前記サンプル容器に付されて
    いる検体情報を識別する識別手段を備えた自動分析装置
    において、前記サンプル容器内のサンプルが分注処理を
    受ける前に、前記識別手段が得た識別検出信号を用い
    て、前記サンプル容器の種類と前記サンプル容器内の液
    面概略位置を認識し、前記液面検出部が前記サンプルの
    液面を検出する際に、前記識別手段からのサンプル容器
    種類及び液面概略位置情報に基づいて前記分注機構を制
    御する制御手段を備えたことを特徴とする自動分析装
    置。
  2. 【請求項2】請求項1記載の自動分析装置において、前
    記サンプル容器内の液面検出時に前記識別手段によって
    検出した前記サンプル容器内の液面高さ直前で減速し、
    前記分注プローブ先端の液面浸漬量を抑制することを特
    徴とする自動分析装置。
  3. 【請求項3】請求項1記載の自動分析装置において、前
    記サンプル容器内の液面検出時に前記識別手段によって
    検出した前記サンプル容器内の液面高さ直前で減速し、
    液面直前から液面検出部の液面検出機能を有効とする制
    御手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  4. 【請求項4】請求項1記載の自動分析装置において、前
    記識別手段で検出した検出信号を用いて、前記サンプル
    容器内のサンプル液面付近にある気泡の有無を判別す
    る。本判別情報を用いて、分注機構がサンプル容器内の
    液面検出前に、気泡による液面誤検知するサンプル容器
    を判別する手段を備えたことを特徴とする自動分析装
    置。
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Cited By (6)

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