EP0590381B1 - Verfahren und Vorrichtung zum Eichen eines Münzprüfers - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Eichen eines mindestens eine Meßsonde aufweisenden Münzprüfers nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.

Ein Münzprüfer hat die Aufgabe, eingeworfene Münzen auf Eigenschaften zu untersuchen, welche die zu akzeptierenden Münzen aufweisen sollen. Zu den Eigenschaften gehören zum Beispiel der Werkstoff, die Abmessungen wie Dicke und Durchmesser, die Transmission für Licht, die Ausbildung des Prägerandes und -bildes, das Gewicht, die Härte usw. Die Werkstoffe werden typischerweise mit induktiven Spulen geprüft, deren Feld mit dem Material der Münze in Wechselwirkung tritt. Die Münzen verursachen eine typische Dämpfung in den induktiven Sensoren, wobei das Ausmaß der Dämpfung eine Aussage enthält über den Werkstoff bzw. die Werkstoff zusammensetzung der geprüften Münze oder Scheibe. Die Lichtdurchlässigkeit einer Münze oder auch das Prägebild werden zumeist mit Hilfe optischer Sensoren geprüft. Eine Lichtquelle bestrahlt den Rand oder die Prägefläche der Münze, und ein lichtelektrischer Empfänger erhält das durchstrahlte oder reflektierte Licht, um bestimmte geometrische Eigenschaften der Münze zu prüfen. Es ist ferner bekannt, das Gewicht oder die Masse eingeworfener Scheiben zu bestimmen, und zwar mit Hilfe von Wiegevorrichtungen oder auch von Prallmessungen. Der Impuls, den ein Aufprall einer Münze auf ein Prallelement erzeugt, ist charakteristisch für die Masse und damit das Gewicht der Münze. Durch eine Aufprallmessung läßt sich auch die Härte des Münzwerkstoffs ermitteln. Der Impulsverlauf beim Auftreffen einer Münze auf ein Prallelement ist mithin auch Indikator für die Härte der Münze.

Die bekannten Münzprüfer sind bekanntlich in der Lage, eine Reihe unterschiedlicher Münzwerte zu prüfen. Sie weisen einen Mikroprozessor auf mit einem programmierbaren Speicher zur Aufnahme von mit den Meßwerten zu vergleichenden Referenzwerten. Um Toleranzen zu begegnen, ist es üblich, einen oberen und einen unteren Referenzwert pro Münzwert vorzusehen, welche ein sogenanntes Annahmeband bilden. Bevor ein Münzprüfer zum Anwender gelangt, sind die Referenzwerte einzuspeichern nach Maßgabe des Münzsatzes, den zu überprüfen das Gerät in der Lage sein soll. Es ist zwar denkbar, die Referenzwerte mathematisch zu errechnen, es zeigt sich indes in der Praxis, daß dieses Verfahren nicht genau genug ist. Die mechanischen und elektrischen Eigenschaften eines Münzprüfers unterliegen ihrerseits mehr oder weniger starken, zumeist herstellungsbedingten Schwankungen, welche in die von der Meßsonde abgegebenen Meßsignale Eingang finden. Es ist daher bisher als notwendig erachtet worden, die Referenzwerte gerätespezifisch zu ermitteln und zu programmieren.

Es ist bekannt, ein derartiges Eichverfahren mit Hilfe von sogenannten Testmünzen durchzuführen. Ausgewählte echte Münzen, deren zu prüfende Eigenschaften in gewünschter Verteilung innerhalb des Annahmebandes liegen, werden in das zu eichende Gerät eingeworfen. Mit Hilfe der gewonnenen Meßsignale erfolgt die Ermittlung und Einspeicherung der Referenzwerte. Da sich Testmünzen mit der Zeit abnutzen, müssen immer wieder neue herangezogen werden. Dies erweist sich als umständlich und schwierig. Es ist auch bekannt, anstelle von Testmünzen sogenannte Token zu verwenden, die analoge physikalische Eigenschaften aufweisen und die eigens zu Testzwecken hergestellt werden. Verfahren zur Herstellung von Token sind jedoch ebenfalls verhältnismäßig aufwendig.

Aus der EP 0 072 189 ist ein Verfahren zum Eichen von Münzprüfern bekanntgeworden, bei dem für einen Münzsatz einer bestimmten Währung nur zwei Token verwendet werden, um daraus Parametersignale zu gewinnen. Die beiden Parametersignale charakterisieren die Koordinaten eines Meßpunktes (Winkel und Länge eines Zeiger im Zeigerdiagramm für elektromagnetisches Verhalten). Die Parametersignale sind ein Indikator für das gerätespezifische mechanische und elektrische Verhalten des Münzprüfers beim Durchlauf von Münzen, unabhängig vom Münzwert. Aus den Parametersignalen werden Eichfaktoren errechnet, die auf Standardreferenzwerte angewendet werden. Mit Hilfe eines geeigneten Algorithmus werden die Standardreferenzwerte entsprechend dem Eichfaktor umgerechnet zur Ermittlung der gerätespezifischen Referenzwerte. Diese werden dann anschließend in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers geladen. Das bekannte Verfahren benötigt zwar weniger Testmünzen oder -scheiben, kommt jedoch nicht ohne ein Minimum von Münzen oder Scheiben aus. Als nachteilig kann sich ferner erweisen, daß die Referenzwerte während der Testphase in den Speicher eingelesen werden. Bei der Produktion von Münzprüfern ist zumeist noch nicht bekannt, für welche Währungen und dementsprechend für welche Münzen sie eingesetzt werden. Es bleibt daher einem späteren Herstellungsschritt überlassen, in der beschriebenen Art und Weise eine Eichung des Gerätes vorzunehmen, wenn der anzunehmende Münzsatz einer Währung bekanntgeworden ist. Es wäre daher herstellungstechnisch weitaus günstiger, wenn das Eichen des Münzprüfers bereits Teil des Produktionsprozesses sein könnte.

Aus DE-A-2 452 710 ist eine Anordnung zur Simulation von Grenzmünzen zur Einstellung elektronischer Münzprüfer bekanntgeworden. Ein Münzprüfer ist mit einer Meßspule an einem Oszillator angeschlossen. Außerhalb des Münzprüfers befindet sich eine Simulationsspule mit einem Oszillator. Zur Synchronisation ist eine Verbindung zwischen den elektrischen Schaltungen vorgesehen. Das Speisen der Spulen erfolgt durch einen Wechselstrom derselben Frequenz. Die Amplitude und Phasenlage des die Simulationsspule durchfließenden Wechselstroms ist einstellbar.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Eichen eines mindestens eine Meßsonde aufweisenden Münzprüfers anzugeben, das auf die Anwendung von Testmünzen verzichtet und auf einfache und schnelle Weise durchführbar ist.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Patentanspruchs 1.

Die Erfindung geht von dem Gedanken aus, daß die bei einem Münzprüfer zum Einsatz gelangenden Meßsonden mit der zu prüfenden durchlaufenden Münze in Wechselwirkung treten. Der Werkstoff einer Münze beeinflußt zum Beispiel das elektromagnetische Feld eines Spulenpaares. Eine Münze durchquert zum Beispiel ein oder zwei Lichtschranken. Mit Hilfe der Durchquerung von zwei beabstandeten Lichtschranken läßt sich zum Beispiel der Durchmesser einer Münze messen. Die Erfindung beruht ferner auf dem Gedanken, daß die Wirkung, die eine durch den Münzprüfer laufende Münze auf die Meßsonden ausübt, auch simuliert werden kann. Erfindungsgemäß wird daher mit Hilfe eines in den die Meßsonde enthaltenden Kanalabschnitt eingeführten Eichmoduls mindestens ein Meßsignal erzeugt. Das Eichmodul steht mit der Meßsonde in Wechselwirkung und hat diejenige physikalische Eigenschaft, auf die die Meßsonde ansprechen soll. Mit anderen Worten, das Eichmodul wird von dem Sensor wie eine Münze "gesehen", ist aber keine, sondern hat nur eine "physikalische Eigenschaft", welche der einer Münze gleicht oder ähnelt. Es ist nicht notwendig, die gleiche Wirkung wie die einer Münze zu erzeugen, denn es soll das generelle "Verhalten" des Sensors ermittelt werden, das sensortypisch und unabhängig von der das Meßsignal auslösenden "Störgröße" ist.

Es versteht sich, daß mit dem Eichmodul auch eine festgelegte Folge von Operationen erzeugt werden kann, die eine entsprechende Folge von Meßsignalen erzeugt. In jedem Fall wird aus mindestens einem Meßsignal ein für den Münzprüfer charakteristischer Bezugswert errechnet, indem z.B. ein aus dem Meßsignal gewonnener Eichfaktor ermittelt wird, mit dem ein Standard-Bezugswert multipliziert wird.

Nach einer Ausgestaltung der Erfindung entspricht das die physikalische Eigenschaft simulierende Simulationssignal in seiner Funktion von der Zeit dem zeitlichen Verlauf des von der akzeptierten Münze erzeugen Meßsignals. Das Eichmodul kann ein Simulationssignal so erzeugen, daß die Meßsonde in gleicher Weise - absolut gesehen - reagiert wie bei einer akzeptierbaren Münze. Wahlweise kann das Simulationssignal auch eine andere Größe und einen abgewandelten Verlauf aufweisen. In diesem Fall können die von der Meßsonde erzeugten Meßsignale in ähnlicher Weise verarbeitet werden, wie dies bei dem weiter oben beschriebenen Stand der Technik der Fall ist, der von der echten Münze unterschiedliche Scheiben oder Münzen verwendet. In diesem Fall bilden dann die Meßsignale Eichfaktoren zur Errechnung der Referenzwerte.

Das erfindungsgemäße Verfahren weist die gleichen Vorteile auf, wie der zuletzt erläuterte Stand der Technik und hat den weiteren Vorzug, daß Testscheiben oder -münzen überhaupt nicht mehr erforderlich sind. Es hat ferner den vorteil, daß es sehr schnell und einfach durchführbar ist. Ein weiterer Vorzug der Erfindung besteht darin, daß die naturgegebene Laufunruhe von Testmünzen oder -scheiben, die auch mehreckig sein können, keinen Einfluß hat. Diese Lauf unruhe erfordert den mehrfachen Einwurf des Testmittels, was mit einem höheren Verschleiß und Zeitaufwand verbunden ist. Ferner können mit Hilfe des Eichmoduls die Simulationssignale in beliebiger Weise verändert werden, um eine entsprechende Anpassung an das Verhalten des Münzprüfers bzw. seiner Meßsonden vornehmen zu können sowie die Eichung auf einen anderen Münzsatz.

Eine besonders bevorzugte Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, daß den Meßsignalen entsprechende Meßwerte im programmierbaren Speicher gespeichert werden, daß in einem programmierbaren Speicher einer externen Rechenvorrichtung akzeptierbaren Münzen entsprechende Korrelationsfunktionen gespeichert werden und die Rechenvorrichtung mittels einer der Korrelationsfunktionen aus dem Meßwert den Referenzwert für eine gewünschte akzeptierbare Münze errechnet und der Referenzwert anschließend in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers eingespeichert wird. Bei diesem Verfahren können alle Münzprüfer in der Produktion zunächst mit Parametersignalen programmiert werden, welche vom Eichmodul erzeugt werden. Es findet mithin eine Art normierter Eichung statt. In einem zweiten Arbeitsschritt, der räumlich und zeitlich vom ersten getrennt sein kann, können die im programmierbaren Speicher gespeicherten Werte in einen Computer eingelesen werden, der die individuellen Referenzwerte für gültige und akzeptierbare Münzen mit Hilfe einer Datenbank berechnet. In der Datenbank sind Korrelationsfunktionen gespeichert, welche zu Umrechnung der Parametersignale auf die Referenzsignale dienen. Die Datenbank erhält außerdem von außen die Information, welche Münzen der Münzprüfer in welchen Kanal annehmen soll, ob die Annahmebereiche (Annahmebänder) weit oder eng eingestellt werden sollen usw. Die Umrechnungsalgorithmen können empirisch ermittelt werden. Bei dem zuletzt beschriebenen Verfahren werden mithin alle Münzprüfer auf identische Weise programmiert und erst im zweiten Schritt erfolgt eine Anpassung auf den jeweiligen Münzsatz bzw. an die jeweilige Währung.

Üblicherweise weist ein Münzprüfer mehrere Meßsonden auf. Es wird daher erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß bei mehreren Meßsonden des Münzprüfers jeweils für jede Meßsonde mindestens ein Meßsignal erzeugt wird. Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung sieht hierzu vor, daß die zeitliche Abfolge der Meßsignale annähernd der Zeitfolge entspricht, mit der eine Münze die Meßsonden passiert.

Der Erfindung liegt ferner die Aufgabe zugrunde, eine vorrichtung zu schaffen, mit welcher ein Münzprüfer ohne die Verwendung von Testmünzen geeicht werden kann.

Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 8 gelöst.

Bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist ein Eichmodul in seinen Abmessungen so ausgelegt, daß es in den die Meßsonden aufweisenden Kanalabschnitt einführbar ist. Es hat zum Beispiel eine Breite, die annähernd der Dicke der maximal anzunehmenden Münze entspricht. Das erfindungsgemäße Eichmodul wird in einer vorgegebenen Position im Kanalabschnitt festgelegt, wobei diese Position reproduzierbar sein muß, damit für alle Münzprüfer die gleiche Lage erreicht wird. Das Eichmodul enthält mindestens einen Simulationsabschnitt, der von einem Simulationsgenerator gesteuert wird. Nach einer Ausgestaltung der Erfindung ist der Simulationsgenerator außerhalb des Kanalabschnitts, vorzugsweise außerhalb des Münzprüfers angeordnet und mit dem Simulationsabschnitt über Steuerleitungen verbunden. Vorzugsweise stimmt die Position des Simulationsabschnitts im Kanalabschnitt mit der der Meßsonde überein. Es kann jedoch nach einer Ausgestaltung der Erfindung vorteilhaft sein, wenn der Simulationsabschnitt verstellbar ist, beispielsweise um eine Eichung für Münzen mit verschieden großem Durchmesser vornehmen zu können.

Soll das elektromagnetische Verhalten einer Münze simuliert werden, sieht eine Ausgestaltung der Erfindung vor, daß der Simulationsabschnitt mindestens eine Magnetspule, vorzugsweise Luftspule, zur Erzeugung eines elektromagnetischen Feldes aufweist. Der Simulationsgenerator kann für einen derartigen Simulationsfall so ausgebildet sein, daß er nach Zeit und Amplitude unterschiedliche Signalverläufe erzeugt, zum Beispiel Sinuswelle, Rechteckwelle usw. Nach einer anderen Ausgestaltung der Erfindung kann das Steuersignal amplitudenmoduliert sein und die Modulationszeit in der Größenordnung der Durchlaufzeit einer Münze durch das elektromagnetische Feld der Magnetspule des Münzprüfers liegen.

Soll hingegen das optische Verhalten einer Münze im Hinblick auf eine optische Meßsonde simuliert werden, kann nach einer Ausgestaltung der Erfindung der Simulationsabschnitt eine verstellbare Blende aufweisen. Das Öffnen und Schließen der Blende kann mithin den Durchlauf einer Münze durch eine Lichtschranke simulieren. Des weiteren kann der Simulationsabschnitt einen verstellbaren Reflexionsabschnitt aufweisen. Der Reflexionsabschnitt simuliert dem lichtelektrischen Empfänger den Durchlauf eines bestimmten Prägebildes einer zu prüfenden Münze.

Soll die Härteprüfung einer Münze simuliert werden, kann nach einer anderen Ausgestaltung der Erfindung der Simulationsabschnitt ein verstellbares Prallelement aufweisen. Das Prallelement wird mit vorgegebener Energie gegen ein Aufprallelement bewegt entsprechend dem Vorgang bei einer echten zu prüfenden Münze. In ähnlicher Weise kann der Simulationsabschnitt ein verstellbares Masseelement aufweisen, das zum Beispiel von einer Wiegevorrichtung gewogen werden kann oder das ebenfalls mit einem Aufprallelement zusammenwirkt zwecks Massebestimmung.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines in Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.

Fig. 1

zeigt schematisch im Schnitt die Anordnung eines Eichmoduls nach der Erfindung in einem Münzkanalabschnitt.

Fig. 2

zeigt das Zusammenwirken von Spulen des Eichmoduls mit denen einer elektromagnetischen Prüfsonde.

Fig. 3

zeigt perspektivisch das Eichmodul nach Fig. 1.

In Fig. 1 ist eine Halteplatte 10 eines nicht weiter dargestellten Münzprüfers gezeigt, die mit einer Laufbahnträgerplatte 12 und einer Laufbahn 14 einen Münzkanal 16 bildet, durch den sich eingeworfene Münzen hindurchbewegen Dem Münzkanal 16 oder Münzkanalabschnitt sind mehrere Meßsonden zugeordnet, von denen in Fig. 1 eine bei 18 dargestellt ist. Sie besteht aus zwei Spulen L1 und L2, von denen jeweils eine an der Halteplatte 10 und der Laufbahnträgerplatte 12 angebracht ist. Es versteht sich, daß auch eine einseitig angeordnete Meßsonde vorgesehen sein kann.

In Fig. 1 ist ferner ein flaches Gehäuse 20 eines Eichmoduls 22 im Münzkanal 16 angeordnet. Die äußeren Abmessungen sind derart, daß das Gehäuse 20 mit ein wenig Spiel, jedoch relativ passend einsetzbar ist. Nicht gezeigte Mittel dienen dazu, das Gehäuse 20 in einer vorgegebenen Position im Kanal 16 zu halten und zu sichern. Im Gehäuse 20 sind Luftspulen L3 angeordnet. In Fig. 1 sind zwei dargestellt, in Fig. 3 drei. Jede Luftspule L3 ist einem Spulenpaar L1, L2 zugeordnet. Sie sind mittels Leitungen 24 mit einem nicht gezeigten Simulationsgenerator verbunden.

Fig. 2 gibt das Ersatzschaltbild zweier Spulenpaare L1, L2 mit einer Luftspule L3 wieder. Der Simulationsgenerator erzeugt ein Steuersignal für die Luftspulen L3, das den Hindurchlauf einer Münze durch das elektromagnetische Feld der Spulen L1 und L2 simuliert. Es handelt sich dabei um ein amplitudenmoduliertes Signal, wobei die Modulationszeit in der Größenordnung der Durchlaufzeit der Münzen durch das Feld der Spulen L1 und L2 liegt. Bei den drei Spulen L3 ist außerdem die zeitliche Abfolge der an die einzelnen Luftspulen gelegten Signale so gewählt, daß sie der Zeitfolge entspricht, in der die Münze die magnetischen Sonden passiert.

Claims (14)

1. Verfahren zum Eichen eines mindestens eine Münze akzeptierenden Münzprüfers, der mindestens eine einem Münzkanalabschnitt (16) zugeordnete Meßsonde (18) , die bei einer den Kanalabschnitt entlanglaufenden Münze ein eine physikalische Eigenschaft der Münze repräsentierendes Meßsignal erzeugt, und einen programmierbaren Speicher aufweist, in dem mindestens ein Referenzsignal gespeichert wird zum Vergleich mit einem dem Meßsignal entsprechenden Meßwert, dadurch gekennzeichnet, daß in den Kanalabschnitt (16) ein Eichmodul (22) eingeführt wird, das darin in einer vorgegebenen Position fixiert wird und das in einem Simulationsabschnitt (L3) mindestens die physikalische Eigenschaft simuliert, wobei der Simulationsabschnitt (L3), gesteuert durch ein Steuersignal eines Signalgenerators ein Signal erzeugt, das mit der Meßsonde (L1, L2) in Wechselwirkung tritt und mindestens ein Referenzwert aus dem erzeugten Meßwert der Meßsonde (L1, L2) gebildet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt (L3) des Eichmoduls (22) so ausgebildet ist, daß das Signal des Simulationsabschnitts (L3) in der Meßsonde (L1, L2) ein Meßsignal erzeugt, das in seiner Funktion von der Zeit dem zeitlichen Verlauf des von einer Münze' erzeugten Meßsignals entspricht.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt (L3) des Eichmoduls (22) die physikalische Eigenschaft einer akzeptierbaren Münze der Größe nach simuliert.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt (L3) des Eichmoduls (22) die physikalische Eigenschaft einer akzeptierbaren Münze unabhängig von ihrer Größe simuliert.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt (L3) des Eichmoduls bei mehreren Meßsonden des Münzprüfers jeweils für jede Meßsonde mindestens ein Signal erzeugt.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die zeitliche Abfolge der vom Simulationsabschnitt des Eichmoduls erzeugten Signale annähernd der Zeitfolge entspricht, mit der eine Münze die Meßsonden passiert.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der dem vom Simulationsabschnitt erzeugten Signal entsprechende Meßwert im programmierbaren Speicher des Münzprüfers gespeichert wird, daß in einem programmierbaren Speicher einer externen Rechenvorrichtung Korrelationsfunktionen gespeichert werden, die Meßwerten akzeptierbarer Münzen entsprechen, die Rechenvorrichtung mittels einer der Korrelationsfunktionen aus dem Meßwert den Referenzwert für eine gewünschte akzeptierbare Münze errechnet und daß der Referenzwert anschließend in den programmierbaren Speicher des Münzprüfers eingespeichert wird.
8. Vorrichtung zum Eichen eines mindestens eine Münze akzeptierenden Münzprüfers, der mindestens eine einem Münzkanalabschnitt zugeordnete Meßsonde aufweist, die bei einer den Kanalabschnitt entlanglaufenden Münze ein einer physikalischen Eigenschaft der Münze repräsentierendes Meßsignal erzeugt, und einem programmierbaren Speicher, in dem mindestens ein Referenzwert gespeichert ist zwecks Vergleich mit einem dem Meßsignal entsprechenden Meßwert, insbesondere zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein in den Kanalabschnitt (16) einführbarer und darin in einer vorgegebenen Position fixierbares Eichmodul (22) vorgesehen ist, das mindestens einen die physikalischen Eigenschaft simulierenden Simulationsabschnitt (L3) aufweist, das mit der Meßsonde (L1, L2) in Wechselwirkung tritt und der Simulationsabschnitt (L3) mit einem Simulationsgenerator verbunden ist, der ein Steuersignal auf den Simulationsabschnitt gibt.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Eichmodul Außenabmessungen aufweist derart, daß es passend im Kanalabschnitt (16) einsitzt.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt (L3) mindestens eine Magnetspule, vorzugsweise Luftspule, zur Erzeugung eines elektromagnetischen Feldes aufweist.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt eine verstellbare Blende aufweist.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt einen verstellbaren Reflektionsabschnitt aufweist.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt ein verstellbares Prallelement aufweist.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Simulationsabschnitt ein verstellbares Masseelement aufweist.

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