[go: up one dir, main page]

EA199800047A1 - Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов и портативный рентгеновский дифрактометр для его осуществления - Google Patents

Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов и портативный рентгеновский дифрактометр для его осуществления

Info

Publication number
EA199800047A1
EA199800047A1 EA199800047A EA199800047A EA199800047A1 EA 199800047 A1 EA199800047 A1 EA 199800047A1 EA 199800047 A EA199800047 A EA 199800047A EA 199800047 A EA199800047 A EA 199800047A EA 199800047 A1 EA199800047 A1 EA 199800047A1
Authority
EA
Eurasian Patent Office
Prior art keywords
ray
portable
given wavelength
ray diffractometer
fixing
Prior art date
Application number
EA199800047A
Other languages
English (en)
Other versions
EA000345B1 (ru
Inventor
Александр Всеволодович Лютцау
Александр Викторович Котелкин
Александр Дмитриевич Звонков
Дмитрий Борисович Матвеев
Олег Иванович Агеев
Виктор Яковлевич Маклашевский
Виктор Давидович Брейгин
Всеволод Григорьевич Лютцау
Original Assignee
Александр Всеволодович Лютцау
Александр Викторович Котелкин
Александр Дмитриевич Звонков
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Александр Всеволодович Лютцау, Александр Викторович Котелкин, Александр Дмитриевич Звонков filed Critical Александр Всеволодович Лютцау
Publication of EA199800047A1 publication Critical patent/EA199800047A1/ru
Publication of EA000345B1 publication Critical patent/EA000345B1/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20016—Goniometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Radiation-Therapy Devices (AREA)

Abstract

Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов, заключающийся в размещении рентгеновского дифрактометра относительно неподвижного исследуемого изделия, облучении его одним рентгеновским пучком заданной длины волны, фиксации центров тяжести пиков интенсивности дифрагированного излучения заданной длины волны, после чего его облучают рентгеновским пучком с другой заданной длиной волны, причем дополнительное облучение рентгеновскими пучками осуществляют последовательно или одновременно с основным рентгеновским пучком, фиксируют центры тяжести пиков интенсивности дифрагированного излучения для другой длины волны и с учетом дифракции на одном и том же семействе кристаллографических плоскостей и предложенного соотношения заданных длин волн и синусов углов дифракции рентгеновского излучения этих длин волн, непосредственно определяют значения отклонения межплоскостных расстояний, по полученным отклонениям межплоскостных расстояний и известным для исследуемого материала модулям упругости и коэффициенту Пуассона оценивают величину напряжений, а по распределению рассчитанных деформаций решетки и напряжений в изделии судят о его напряженно-деформированном состоянии. Портативный рентгеновский дифрактометр (фиг. 1) содержит источник рентгеновского излучения (1), дополнительный источник рентгеновского излучения (2), позиционно-чувствительный детектор (ПЧД) рентгеновского излучения (3), расположенные на дугообразной направляющей (4) со средствами крепления и фиксации (не показаны), обеспечивающими фокусировку по Бреггу-Брентано.
EA199800047A 1996-08-30 1996-08-30 Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов и портативный рентгеновский дифрактометр для его осуществления EA000345B1 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/RU1996/000247 WO1998009157A1 (fr) 1996-08-30 1996-08-30 Procede permettant de determiner le mode de deformation d'articles de grande taille faits de materiaux cristallins, et diffractometre portable a rayons x permettant de mettre en oeuvre ce procede

Publications (2)

Publication Number Publication Date
EA199800047A1 true EA199800047A1 (ru) 1998-10-29
EA000345B1 EA000345B1 (ru) 1999-04-29

Family

ID=20130030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EA199800047A EA000345B1 (ru) 1996-08-30 1996-08-30 Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов и портативный рентгеновский дифрактометр для его осуществления

Country Status (2)

Country Link
EA (1) EA000345B1 (ru)
WO (1) WO1998009157A1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103245445A (zh) * 2013-05-17 2013-08-14 北京师范大学 一种应力仪
RU2570106C1 (ru) * 2014-05-30 2015-12-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение наук Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук Способ визуализации ротационного искривления решетки нанотонких кристаллов
RU2657330C1 (ru) * 2017-02-02 2018-06-13 федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский институт перспективных материалов и технологий" Способ определения температур фазовых переходов в пленках и скрытых слоях многослойных структур нанометрового диапазона толщин
RU2737861C1 (ru) * 2019-07-26 2020-12-03 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ исследования физических свойств и физических процессов в нанотонких пространственных диссипативных структурах

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4561062A (en) * 1983-02-18 1985-12-24 Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of Energy, Mines And Resources Stress measurement by X-ray diffractometry
US5125016B1 (en) * 1983-09-22 1998-02-24 Outokumpu Oy Procedure and measuring apparatus based on x-ray diffraction for measuring stresses
SU1767403A1 (ru) * 1988-07-11 1992-10-07 Институт Машиноведения Им.А.А.Благонравова Переносное устройство дл рентгенодифрактометрического определени напр женного состо ни крупногабаритных изделий
SU1716406A1 (ru) * 1989-10-30 1992-02-28 Институт Машиноведения Им.А.А.Благонравова Портативный рентгеновский гониометр дл определени напр жений в крупногабаритных объектах
US5148458A (en) * 1990-01-18 1992-09-15 Clayton Ruud Method and apparatus for simultaneous phase composition and residual stress measurement by x-ray diffraction

Also Published As

Publication number Publication date
EA000345B1 (ru) 1999-04-29
WO1998009157A1 (fr) 1998-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4125770A (en) Diamond identification
ATE58017T1 (de) Vorrichtung zum fuehren und sammeln von licht in der fotometrie od. dgl.
EA199800047A1 (ru) Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов и портативный рентгеновский дифрактометр для его осуществления
CA2154780A1 (en) Method for increased sensitivity of radiation detection and measurement
Wakatsuki et al. Small‐angle x‐ray scattering/diffraction system for studies of biological and other materials at the Stanford Synchrotron Radiation Laboratorya
EP1353166A3 (en) Diffraction system for biological crystal screening
Mitchell et al. The effects of radiation on the near infra-red absorption spectrum of α-quartz
KR920003050A (ko) 단결정 소재의 외부상 침전물의 검사방법
Bedzyk et al. X-ray standing wave analysis for bromine chemisorbed on germanium
US4884290A (en) Method of analyzing composition of optical fiber base material to be measured by radioactive rays
RU94044530A (ru) Способ и устройство для классификации частиц
Nakamura et al. Development of Mössbauer diffractometer by using nuclear resonant scattering at SPring-8 BL11XU
White et al. Assignment of the lattice modes in TCNQ single crystals
Rekveldt Bent perfect Si crystals as neutron reflectors
Sweet et al. Consideration in the choice of a wavelength range for white-beam Laue diffraction
Yanagihara et al. Soft x-ray emission spectrometer equipped with a multilayer rotating analyzer for study of the polarized emission
SU523649A3 (ru) "Способ передачи информации
JPH01244344A (ja) Ｘ線吸収スペクトル測定装置
Dax X-ray film thickness measurements
JPS5459193A (en) Fluorescent x-ray sulfur analytical apparatus
Hany Tools used for dental materials characterization
SU1133519A1 (ru) Способ определени структурных характеристик монокристаллов
Tucoulou et al. One and two dimensional space scannings of x-ray beams by diffraction on surface acoustic waves: Application to x-ray imaging
JPS5712354A (en) Apparatus for x-ray diffraction
Asbrink et al. Remarks on the diffraction by the diamonds of the high-pressure diamond-anvil cell

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s)

Designated state(s): AM AZ BY KZ KG MD TJ TM

MM4A Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s)

Designated state(s): RU