DE729122C - Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren - Google Patents
Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und InterferenzverfahrenInfo
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- DE729122C DE729122C DED85232D DED0085232D DE729122C DE 729122 C DE729122 C DE 729122C DE D85232 D DED85232 D DE D85232D DE D0085232 D DED0085232 D DE D0085232D DE 729122 C DE729122 C DE 729122C
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
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Description
- Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren Zusatz zum Patent 729I2I Im Hauptpatent ist ein Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und dem Interferenzverfahren beschrieben worden, dessen Kennzeichen darin besteht, daß das zur Erbeugung des Schlierenbildes dienende Licht mit bekannten optischen Mitteln so in die Interferenzapparatur eingeleitet wird, daß es unter der Wirkung der Reflexion an deren Spiegeln bzw. des Durchganges durch diese Spiegel das Objekt in entgegengesetzter Richtung wie das zur Erzeugung des Interferenzbildes dienende Licht durchläuft. Zur Erzeugung des Interferenzbildes dient die übliche Anordnung, während das zur Erzeugung des Schlierenbildes dienende Licht an der Stelle, an der sich die beiden geteilten Strahlen büschel wieder vereinigen, eingeleitet wird und an der Teilungsplatte des Interferenzsystems wieder austritt. Es ist nun möglich, daß ein Teil des von der Lichtquelle kommenden Lichtes über den Vergleichs,strahlengang des Interferometers zu dem Beobachtungson, an dem das Schlierenbild des zu beobachtenden Objekts erscheint, gelangt, wo es an sich nicht zur Erzeugung des Schlierenbildes beiträgt.
- Um dieses Nebenlicht zu vermeiden, wird gemäß der Erfindung bei einem Verfahren gemäß Patent 729 121 die Kante der Schlierenblende so angeordnet, daß der Teil des von der Schlierenlichtquelle kommenden Lichtes, der über den Vergieichsstrahlengang des Interferometers geht. überdeckt wird.
- Ein Ausführungsbeispiel zeigen die Abb. I und Ia.
- Bei der normalen Einstellung des Interferometers sind bekanntlich die Spiegelt und e etwas gegen die parallele Ausgangslage verstellt, so daß durch die beiden Strahlengänge a-b-c-eZf und a-b-e-f von der Lichtquelle a zwei virtuelle Bilder a1 und a2 entstehen, die einen gewissen Abstand voneinander haben und die das Interferenzstreifenfeld erzeugen.
- Befindet sich in der bei der Schlierenmethode üblichen Weise hinter der Lichtquelle 11 etwa eine durch eine gerade Kante begrenzte Blende 1, so entstehen von dieser infolgedessen durch die Abbildung über den Schlierenkopf, der meist aus zwei Linsen bzw. Objektivenm 171 und n oder auch Hohlspiegeln besteht, auf den beiden Wegen e-e-b und æd-b etwa bei i zwei verschiedene reelle Bilder o und p, die etwas gegeneinander versetzt sind, wie es Abb. Ia in Richtung der Lichtstrahlen gesehen zeigt.
- Stellt man nun die Schierenbiende i an dieser Stelle parallel zu den beiden Bildern o und p der Kante so, daß dasjenige Bildp der Kante, das auf dem Wege über d steht, überdeckt wird, so wird infolgedessen das gesamte über diesen Weg gehende, von lt kommende Licht an dieser Stelle vollständig ausgeblendet und kann nicht nach k gelangen.
- Diese Anordnung läßt sich dann am besten anwenden, wenn die Kante der Blende 1 und damit auch o und p etwa senkrecht zur Verbindungslinie entsprechender Punkte der beiden Bilder o und p gestellt wird da dann der Abstand zwischen den beiden Bildern o und p der Kantel am größten ist.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH: Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nacli dem Schlierenverfahren und dem Interferenzverfahren nach Patent 729 I2I, dadurch gekennzeichnet, daß die Kante der Schlierenblende (i) so angeordnet wird daß der Teil des von der Schlierenlichtquelle kommenden Lichtes. der über den Vergleichsstrahlengang des Interferometers geht, überdeckt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DED85232D DE729122C (de) | 1941-06-13 | 1941-06-13 | Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DED85232D DE729122C (de) | 1941-06-13 | 1941-06-13 | Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE729122C true DE729122C (de) | 1942-12-10 |
Family
ID=7064229
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DED85232D Expired DE729122C (de) | 1941-06-13 | 1941-06-13 | Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE729122C (de) |
-
1941
- 1941-06-13 DE DED85232D patent/DE729122C/de not_active Expired
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