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DE729122C - Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren - Google Patents

Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren

Info

Publication number
DE729122C
DE729122C DED85232D DED0085232D DE729122C DE 729122 C DE729122 C DE 729122C DE D85232 D DED85232 D DE D85232D DE D0085232 D DED0085232 D DE D0085232D DE 729122 C DE729122 C DE 729122C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
schlieren
interference
objects according
transparent objects
joint examination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DED85232D
Other languages
English (en)
Inventor
Dr-Ing Erich Strauss
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Deutsche Versuchsanstalt fuer Luftfahrt eV
Original Assignee
Deutsche Versuchsanstalt fuer Luftfahrt eV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Deutsche Versuchsanstalt fuer Luftfahrt eV filed Critical Deutsche Versuchsanstalt fuer Luftfahrt eV
Priority to DED85232D priority Critical patent/DE729122C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE729122C publication Critical patent/DE729122C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren Zusatz zum Patent 729I2I Im Hauptpatent ist ein Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und dem Interferenzverfahren beschrieben worden, dessen Kennzeichen darin besteht, daß das zur Erbeugung des Schlierenbildes dienende Licht mit bekannten optischen Mitteln so in die Interferenzapparatur eingeleitet wird, daß es unter der Wirkung der Reflexion an deren Spiegeln bzw. des Durchganges durch diese Spiegel das Objekt in entgegengesetzter Richtung wie das zur Erzeugung des Interferenzbildes dienende Licht durchläuft. Zur Erzeugung des Interferenzbildes dient die übliche Anordnung, während das zur Erzeugung des Schlierenbildes dienende Licht an der Stelle, an der sich die beiden geteilten Strahlen büschel wieder vereinigen, eingeleitet wird und an der Teilungsplatte des Interferenzsystems wieder austritt. Es ist nun möglich, daß ein Teil des von der Lichtquelle kommenden Lichtes über den Vergleichs,strahlengang des Interferometers zu dem Beobachtungson, an dem das Schlierenbild des zu beobachtenden Objekts erscheint, gelangt, wo es an sich nicht zur Erzeugung des Schlierenbildes beiträgt.
  • Um dieses Nebenlicht zu vermeiden, wird gemäß der Erfindung bei einem Verfahren gemäß Patent 729 121 die Kante der Schlierenblende so angeordnet, daß der Teil des von der Schlierenlichtquelle kommenden Lichtes, der über den Vergieichsstrahlengang des Interferometers geht. überdeckt wird.
  • Ein Ausführungsbeispiel zeigen die Abb. I und Ia.
  • Bei der normalen Einstellung des Interferometers sind bekanntlich die Spiegelt und e etwas gegen die parallele Ausgangslage verstellt, so daß durch die beiden Strahlengänge a-b-c-eZf und a-b-e-f von der Lichtquelle a zwei virtuelle Bilder a1 und a2 entstehen, die einen gewissen Abstand voneinander haben und die das Interferenzstreifenfeld erzeugen.
  • Befindet sich in der bei der Schlierenmethode üblichen Weise hinter der Lichtquelle 11 etwa eine durch eine gerade Kante begrenzte Blende 1, so entstehen von dieser infolgedessen durch die Abbildung über den Schlierenkopf, der meist aus zwei Linsen bzw. Objektivenm 171 und n oder auch Hohlspiegeln besteht, auf den beiden Wegen e-e-b und æd-b etwa bei i zwei verschiedene reelle Bilder o und p, die etwas gegeneinander versetzt sind, wie es Abb. Ia in Richtung der Lichtstrahlen gesehen zeigt.
  • Stellt man nun die Schierenbiende i an dieser Stelle parallel zu den beiden Bildern o und p der Kante so, daß dasjenige Bildp der Kante, das auf dem Wege über d steht, überdeckt wird, so wird infolgedessen das gesamte über diesen Weg gehende, von lt kommende Licht an dieser Stelle vollständig ausgeblendet und kann nicht nach k gelangen.
  • Diese Anordnung läßt sich dann am besten anwenden, wenn die Kante der Blende 1 und damit auch o und p etwa senkrecht zur Verbindungslinie entsprechender Punkte der beiden Bilder o und p gestellt wird da dann der Abstand zwischen den beiden Bildern o und p der Kantel am größten ist.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nacli dem Schlierenverfahren und dem Interferenzverfahren nach Patent 729 I2I, dadurch gekennzeichnet, daß die Kante der Schlierenblende (i) so angeordnet wird daß der Teil des von der Schlierenlichtquelle kommenden Lichtes. der über den Vergleichsstrahlengang des Interferometers geht, überdeckt wird.
DED85232D 1941-06-13 1941-06-13 Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren Expired DE729122C (de)

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DED85232D DE729122C (de) 1941-06-13 1941-06-13 Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren

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Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE729122C true DE729122C (de) 1942-12-10

Family

ID=7064229

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DED85232D Expired DE729122C (de) 1941-06-13 1941-06-13 Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren

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