DE729122C

DE729122C - Method for the joint examination of transparent objects according to the Schlieren and interference method

Info

Publication number: DE729122C
Application number: DED85232D
Authority: DE
Inventors: Dr-Ing Erich Strauss
Original assignee: Deutsche Versuchsanstalt fuer Luftfahrt eV
Current assignee: Deutsche Versuchsanstalt fuer Luftfahrt eV
Priority date: 1941-06-13
Filing date: 1941-06-13
Publication date: 1942-12-10

Description

Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und Interferenzverfahren Zusatz zum Patent 729I2I Im Hauptpatent ist ein Verfahren zur gemeinsamen Untersuchung von durchsichtigen Objekten nach dem Schlieren- und dem Interferenzverfahren beschrieben worden, dessen Kennzeichen darin besteht, daß das zur Erbeugung des Schlierenbildes dienende Licht mit bekannten optischen Mitteln so in die Interferenzapparatur eingeleitet wird, daß es unter der Wirkung der Reflexion an deren Spiegeln bzw. des Durchganges durch diese Spiegel das Objekt in entgegengesetzter Richtung wie das zur Erzeugung des Interferenzbildes dienende Licht durchläuft. Zur Erzeugung des Interferenzbildes dient die übliche Anordnung, während das zur Erzeugung des Schlierenbildes dienende Licht an der Stelle, an der sich die beiden geteilten Strahlen büschel wieder vereinigen, eingeleitet wird und an der Teilungsplatte des Interferenzsystems wieder austritt. Es ist nun möglich, daß ein Teil des von der Lichtquelle kommenden Lichtes über den Vergleichs,strahlengang des Interferometers zu dem Beobachtungson, an dem das Schlierenbild des zu beobachtenden Objekts erscheint, gelangt, wo es an sich nicht zur Erzeugung des Schlierenbildes beiträgt.Process for the joint examination of transparent objects According to the Schlieren and Interference method, addition to patent 729I2I in the main patent is a method for the joint examination of transparent objects according to the Schlieren and the interference method have been described, their characteristics consists in the fact that the light used to diffract the streak image is known with optical means is introduced into the interference apparatus that it is under the effect of the reflection on their mirrors or the passage through these mirrors the object in the opposite direction as that for generating the interference image serving light passes through. The usual method is used to generate the interference pattern Arrangement, while the light used to generate the streak image is at the point at which the two split tufts of rays reunite, initiated and emerges again at the dividing plate of the interference system. It is now possible that part of the light coming from the light source over the comparison, beam path of the interferometer to the observation sound at which the Schlieren image of the to be observed The object appears where it does not in itself generate the streak image contributes.

Um dieses Nebenlicht zu vermeiden, wird gemäß der Erfindung bei einem Verfahren gemäß Patent 729 121 die Kante der Schlierenblende so angeordnet, daß der Teil des von der Schlierenlichtquelle kommenden Lichtes, der über den Vergieichsstrahlengang des Interferometers geht. überdeckt wird. In order to avoid this secondary light, according to the invention in a The method according to patent 729 121 arranged the edge of the Schlieren diaphragm so that the part of the light coming from the Schlieren light source that passes through the comparison beam path of the interferometer goes. is covered.

Ein Ausführungsbeispiel zeigen die Abb. I und Ia. An exemplary embodiment is shown in FIGS. I and Ia.

Bei der normalen Einstellung des Interferometers sind bekanntlich die Spiegelt und e etwas gegen die parallele Ausgangslage verstellt, so daß durch die beiden Strahlengänge a-b-c-eZf und a-b-e-f von der Lichtquelle a zwei virtuelle Bilder a1 und a2 entstehen, die einen gewissen Abstand voneinander haben und die das Interferenzstreifenfeld erzeugen. With the normal setting of the interferometer are known the mirror and e slightly adjusted against the parallel starting position, so that by the two beam paths a-b-c-eZf and a-b-e-f from the light source a two virtual Images a1 and a2 are created which are at a certain distance from one another and which generate the fringe field.

Befindet sich in der bei der Schlierenmethode üblichen Weise hinter der Lichtquelle 11 etwa eine durch eine gerade Kante begrenzte Blende 1, so entstehen von dieser infolgedessen durch die Abbildung über den Schlierenkopf, der meist aus zwei Linsen bzw. Objektivenm 171 und n oder auch Hohlspiegeln besteht, auf den beiden Wegen e-e-b und æd-b etwa bei i zwei verschiedene reelle Bilder o und p, die etwas gegeneinander versetzt sind, wie es Abb. Ia in Richtung der Lichtstrahlen gesehen zeigt.Located behind in the usual way with the Schlieren method the light source 11, for example, a diaphragm 1 delimited by a straight edge from this as a result by the figure over the Schlierenkopf, which is mostly from there is two lenses or objectives 171 and n or concave mirrors on the two Because of e-e-b and æd-b, for example, at i there are two different real images o and p that have something are offset from one another, as seen in Fig. Ia in the direction of the light rays shows.

Stellt man nun die Schierenbiende i an dieser Stelle parallel zu den beiden Bildern o und p der Kante so, daß dasjenige Bildp der Kante, das auf dem Wege über d steht, überdeckt wird, so wird infolgedessen das gesamte über diesen Weg gehende, von lt kommende Licht an dieser Stelle vollständig ausgeblendet und kann nicht nach k gelangen. If you now put the Schieren band i parallel at this point the two images o and p of the edge so that that image p of the edge that on the way over d is covered, then the whole is consequently over this Light coming away from lt is completely faded out at this point and can't get to k.

Diese Anordnung läßt sich dann am besten anwenden, wenn die Kante der Blende 1 und damit auch o und p etwa senkrecht zur Verbindungslinie entsprechender Punkte der beiden Bilder o und p gestellt wird da dann der Abstand zwischen den beiden Bildern o und p der Kantel am größten ist. This arrangement works best when the edge the aperture 1 and thus also o and p approximately perpendicular to the connecting line corresponding Points of the two images o and p are placed because then the distance between the both images o and p the scantling is largest.

Claims

PATENT CLAIM: Method for the joint examination of transparent Objects according to the Schlieren method and the interference method according to patent 729 I2I, characterized in that the edge of the Schlieren diaphragm (i) is arranged in this way becomes that part of the light coming from the Schlieren light source. the one about the Comparison beam path of the interferometer goes, is covered.