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DE69729017T2 - Verfahren zur Feststellung von einem chemischen Stoff und Sensor dafür - Google Patents

Verfahren zur Feststellung von einem chemischen Stoff und Sensor dafür Download PDF

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DE69729017T2
DE69729017T2 DE69729017T DE69729017T DE69729017T2 DE 69729017 T2 DE69729017 T2 DE 69729017T2 DE 69729017 T DE69729017 T DE 69729017T DE 69729017 T DE69729017 T DE 69729017T DE 69729017 T2 DE69729017 T2 DE 69729017T2
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DE
Germany
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gate electrode
surface potential
chemical
resistance
sensor
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Young Sir Gilbert Chung
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NXP USA Inc
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Motorola Inc
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403Cells and electrode assemblies
    • G01N27/414Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
    • G01N27/4141Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS specially adapted for gases
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Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft allgemein Halbleiterbauelemente und insbesondere Sensoren.
  • Chemie- bzw. Chemosensoren werden verwendet, um das Vorhandensein einer besonderen chemischen Spezies und deren Konzentrationshöhe für Personensicherheit, Verfahrenssteuerung, Gesundheit und Umweltbewusstsein zu detektieren oder zu überwachen. Die Entwicklung von Metalloxid-Halbleiter (MOS)-Chemiesensoren ist ein Thema geworden, das großes Interesse findet, weil MOS-Chemiesensoren im Vergleich zu anderen Chemiesensoren transportabel, kostengünstig und relativ einfach herzustellen sind. Jedoch weisen MOS-Chemiesensoren typischerweise eine geringe Selektivität zwischen ähnlichen chemischen Spezies auf. Weiterhin sind MOS-Chemiesensoren im Allgemeinen darauf begrenzt, einen engen Bereich von chemischen Konzentrationen zu messen.
  • Die US 4,849,798 offenbart einen Sensor vom Feldeffekt-Transistortyp, wobei ein Messmittel zwischen der Gateelektrode und dem Gateisolator angeordnet ist, und wobei eine Hilfselektrode zwischen dem Messmittel und dem Gateisolator angeordnet ist.
  • Die EP 0315790 A1 offenbart gleichermaßen einen Sensor vom Feldeffekt-Transistortyp mit einer erweiterten Gateelektrode und Abfühl- bzw. Messmembran, wobei die erweiterte Gateelektrode auf einem unterschiedlichen Substrat gebildet ist.
  • Demgemäß besteht eine Notwendigkeit für ein Verfahren zur Unterscheidung zwischen ähnlichen chemischen Spezies und zum Erfassen eines weiten Konzentrationsbereiches für eine spezifische chemische Spezies. Das Verfahren sollte einen Sensor verwenden, welcher genau, kostengünstig, transportabel und imstande ist, unter Verwendung bestehender Halbleiter-Fertigungstechniken hergestellt zu werden.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die obengenannten Probleme werden mittels eines Sensors gemäß Anspruch 7 und mittels Verfahren gemäß den Ansprüchen 1 und 4 zum Prüfen bzw. Messen einer chemischen Verbindung gemildert.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 zeigt eine Teilquerschnittsansicht einer Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Sensors; und
  • 2 und 3 zeigen Ausführungsformen des Betriebes des erfindungsgemäßen Sensors.
  • Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform
  • Für eine detailliertere Beschreibung wird auf die Figuren verwiesen, wobei 1 eine Teilquerschnittsansicht einer Ausführungsform eines Sensors oder eines Chemiesondeimpedanz-Feldeffekttransistors (CPIFET) 10 zeigt. Der Sensor 10 weist ein Halbleitersubstrat 12 auf, welches einen Halbleiter aufweist, wie zum Beispiel ein n-leitendes Silizium oder Galliumarsenid. Eine dielektrische Schicht 17 ist auf dem Halbleitersubstrat 12 gebildet oder aufgewachsen, wobei eine Oxidation oder andere Techniken verwendet werden, welche im Stand der Technik bei Halbleitern bekannt sind. Ein Source-Gebiet 14 und ein Drain-Gebiet 16 sind im Halbleitersubstrat 12 und benachbart zur Kanalregion 34 angeordnet oder gebildet, indem Ionenimplantationstechniken oder Diffusionsverfahren verwendet werden. Ein Kanalgebiet 34 ist zwischen dem Source-Gebiet 14 und dem Drain-Gebiet 16 angeordnet. Die Dotierungsdichte des Kanalgebietes 34 kann durch Ionenimplantation oder Diffusionsverfahren moduliert werden.
  • Ein Source-Kontakt 24 und ein Drain-Kontakt 26 sind so gebildet, dass sie jeweils über dem Source-Gebiet 14 und dem Drain-Gebiet 16 liegen, um für den Sensor 10 jeweils eine Source-Spannung und eine Drain-Spannung zu schaffen. Der Source-Kontakt 24 und der Drain-Kontakt 26 können ein Metall, wie zum Beispiel Aluminium Silizium, aufweisen, und sie können gebildet werden, indem Metallabscheidung und Ätzprozesse oder Silizidprozesse nach dem Stand der Technik verwendet werden.
  • Ein Gateisolator 18 ist auf einer Oberfläche 36 des Halbleitersubstrates 12 geschaffen und liegt oberhalb des Kanalgebietes 34. Der Gateisolator 18 ist ein elektrischer Isolator zwischen einer Gateelektrode 20 und einem Kanalgebiet 34. Der Gateisolator 18 kann Siliziumoxid aufweisen, das auf die Oberfläche 36 des Halbleitersubstrates 12 thermisch aufgewachsen ist, oder der Gateisolator 18 weist Siliziumnitrid oder Siliziumoxynitrid auf, welches auf die Oberfläche 36 abgeschieden ist, wobei eine chemische Dampfablagerungs-Technik verwendet wird.
  • Eine Metallschicht 38 ist auf einer Rückseite des Halbleitersubstrates 12 abgeschieden, wobei eine Zerstäubungstechnik (Sputtern), Verdampfungstechnik oder Galvanisiertechnik verwendet wird. Die Metallschicht 38 ist eine konventionelle Metallstruktur, welche dem Sensor 10 eine Substratvorspannung zuführt, wobei die Metallschicht Titan, Nickel, Silber, Gold oder Platin aufweisen kann.
  • Eine Gateelektrode 20 ist oberhalb des Kanalgebietes 34 angeordnet, so dass eine Öffnung oder ein Spalt 22 von etwa 0,01 bis 20 Mikrometer zwischen dem Gateisolator 18 und einer Oberfläche 28 der Gateelektrode 20 geschaffen wird. Die Gateelektrode 20 wird oberhalb des Kanalgebietes 34 gehalten und ist aus einem chemisch empfindlichen und elektrisch leitfähigen Material gebildet, wobei Halbleiterverarbeitungstechniken nach dem Stand der Technik verwendet werden. Zum Beispiel kann die Gateelektrode 20 eine Struktur ähnlich einem vorspringender Träger, einer Membran oder einer Luftbrücke aufweisen. Die Gateelektrode 20 weist ein Abfühl- bzw. Messmaterial auf, dessen Zusammensetzung von der vom Sensor 10 zu detektierenden, zu abzufühlenden bzw. messenden oder zu überwachenden gewünschten chemischen Spezies abhängt.
  • Wenn die Gateelektrode 20 eine Legierung aus Gold und Palladium aufweist, kann die Gateelektrode 20 sowohl Phosphin als auch Arsin wahrnehmen oder chemisch damit reagieren. Andere geeignete Materialien für die Gateelektrode 20 weisen ein Metalloxid, wie zum Beispiel Zinnoxid (SnO2) oder Titanoxid (TiO2), auf, sind jedoch nicht darauf begrenzt, oder weisen eine dünne Schicht eines Edelmetalls oder eines Übergangsmetalls, wie zum Beispiel Platin, auf. Es ist ersichtlich, dass das für die Gateelektrode 20 verwendete Material auch dotiert werden kann, um die Empfindlichkeit und die Selektivität der Gateelektrode 20 zu verbessern.
  • Die chemische Reaktivität oder die Adsorptionskinetik und Desorptionskinetik der Gateelektrode 20 hängen von der Temperatur der Gateelektrode 20 ab. Daher ist ein Heizelement 30 nahe der Gateelektrode 20 vorgesehen, um die Temperatur der Gateelektrode 20 gleichmäßig zu steuern und die Antwortzeit und Empfindlichkeit des Sensors 10 zu verbessern. In der in 1 gezeigten Ausführungsform ist das Heizelement 30 oberhalb der Gateelektrode 20 angeordnet und weist ein Material mit elektrischem Widerstand auf, wie zum Beispiel Polysilizium, eine Nickel-Chrom-Legierung, stark dotiertes Silizium, eine Tantallegierung oder Platin.
  • Wenn die Gateelektrode eine Gold- und Palladiumlegierung aufweist und vorgesehen ist, Phosphin oder Arsin zu detektieren, erwärmt das Heizelement 30 die Gateelektrode 20 auf etwa 80–120 Grad Celsius (°C), um die Empfindlichkeit des Sensors 10 für den Nachweis von Phosphin oder Arsin zu verbessern. Das Heizelement 30 kann auch verwendet werden, um die Gateelektrode 20 auf etwa 180–220°C zu erwärmen, um die Gateelektrode 20 aufzufrischen oder zu regenerieren und ihre Erholungszeit positiv zu beeinflussen, nachdem die Gateelektrode 20 das Phosphin oder Arsin wahrgenommen hat. Das Heizelement 30 kann auch verwendet werden, um den Widerstandstemperaturkoeffizienten für die Gateelektrode 20 zu modifizieren oder einzustellen, um die Empfindlichkeit des Sensors 10 zu maximieren.
  • Ein Isolator 32 ist zwischen der Gateelektrode 20 und dem Heizelement 30 vorgesehen oder angeordnet, um zwischen ihnen eine elektrische Isolation vorzusehen. Der Isolator 32 weist ein Nitrid, ein Oxid oder ein Oxynitrid auf. Ein dünnerer Isolator 32 schafft für die Gateelektrode 20 ein wirksameres Erwärmungsverhalten und reduziert den Leistungsverbrauch des Sensors 10. Daher wird die Dicke des Isolators 32 so gewählt, dass der Leistungsverbrauch minimiert wird, während die elektrische Isolation und die mechanische Stabilität beibehalten bleiben.
  • Ein Temperatursensor 40, wie im Stand der Technik bekannt, ist nahe dem Heizelement 30 vorgesehen, um die Temperatur des Heizelementes 30 zu überwachen. In der in 1 gezeigten Ausführungsform ist der Temperatursensor 40 oberhalb des Heizelementes 30 angeordnet.
  • Ein Spalt 22 ermöglicht oder erlaubt es einem Fluid oder einem Gas (nicht dargestellt), die Oberfläche 28 der Gateelektrode 20 zu kontaktieren, indem es zwischen dem Gateisolator 18 und der Gateelektrode 20 passiert. Bei einer Ausführungsform weist das Fluid oder das Gas eine Chemikalie auf, welche mit der Oberfläche 28 chemisch reagiert, und diese chemische Reaktion ändert sowohl ein Oberflächenpotenzial als auch eine elektrische Impedanz der Gatee lektrode 20. Das Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 ist im Stand der Technik auch als Austrittsarbeit bekannt und ist aufgrund der Exposition zur gemessenen Chemikalie eine Funktion der Oberflächenpolarität der Gateelektrode 20. Die elektrische Impedanz der Gateelektrode 20 ist im Stand der Technik auch als ein Widerstand bekannt, ist weiterhin eine Funktion des Diffusionsvermögens der Chemikalie auf und in die Oberfläche 28 und ist auch eine Funktion der Oberflächenzustände der Gateelektrode 20, welche durch die Chemikalienexposition geändert werden.
  • Bei einer alternativen Ausführungsform kann die chemische Reaktion zwischen der Oberfläche 28 und dem Gas oder Fluid nur das Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 ändern, während die elektrische Impedanz der Gateelektrode 20 im Wesentlichen konstant bleibt, oder umgekehrt. Wie nachfolgend detaillierter erklärt wird, bestimmen die Zusammensetzung der Gateelektrode 20, die spezifischen chemischen Spezies, welche mit der Gateelektrode 20 reagieren, und die Konzentration der spezifischen chemischen Spezies, welche vom Sensor 10 gemessen werden, ob nur das Oberflächenpotenzial, nur die elektrische Impedanz oder sowohl das Oberflächenpotenzial als auch die elektrische Impedanz sich ändern.
  • Im Betrieb werden die Gateelektrode 20, der Source-Kontakt 24 und der Drain-Kontakt 26 typischerweise jeweils bei einer im Wesentlichen konstanten Spannung unter Vorspannung gesetzt. Die im Wesentlichen konstante Spannung der Gateelektrode 20 steuert eine Stromstärke im Kanalgebiet 34. Wenn sich jedoch das Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 als eine Folge der Reaktion mit einer Chemikalie im Spalt 22 ändert, wird die Schwellenwertspannung des Transistors oder Sensors 10 geändert, und somit wird auch die Stromstärke im Kanalgebiet 34 modifiziert. Daher ändert die Oberflächenpotenzialmodulation den Strom im Kanalgebiet 34, während die Gateelektrode 20, der Source-Kontakt 24 und der Drain-Kontakt 26 jeweils bei einer im Wesentlichen konstanten Spannung unter Vorspannung gesetzt verbleiben.
  • Wenn die Stromvariation im Kanalgebiet 34 mittels des Source-Kontaktes 24 und Drain-Kontaktes 26 erfasst oder gemessen wird, kann eine Änderung im Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 von der gemessenen Stromvariation bestimmt werden, indem Techniken verwendet werden, welche im Stand der Technik bekannt sind. Aus der Änderung im Oberflächenpotenzial kann die Änderung in der Konzentration einer Chemikalie im Spalt 22 bestimmt werden.
  • Wie aus der in 1 dargestellten Ausführungsform ersichtlich ist, sind Elektroden oder elektrische Anschlüsse 42 und 44 an die Gateelektrode 20 gekoppelt. Während die Gateelektrode 20 mit der im Wesentlichen konstanten Spannung unter Vorspannung gesetzt wird, ermöglichen es die elektrischen Anschlüsse 42 und 44, die elektrische Impedanz oder den Widerstand der Gateelektrode 20 zu bestimmen oder zu messen.
  • Zum Beispiel können die elektrischen Verbindungen bzw. Anschlüsse 42 und 44 verwendet werden, um einen im Wesentlichen konstanten Strom durch die Gateelektrode 20 zu schicken, welche ein Widerstand ist. Dann können die elektrischen Anschlüsse 42 und 44 auch verwendet werden, um den Spannungsabfall entlang der Gateelektrode 20 zu messen. Die elektrische Impedanz oder der Widerstand der Gateelektrode 20 wird berechnet, indem der gemessene Spannungsabfall durch den im wesentlichen konstanten Strom, welcher durch die Gateelektrode 20 geschickt wird, dividiert wird. Während der im Wesentlichen konstante Strom durch die Gateelektrode 20 geschickt wird, kann sich die entlang der Gateelektrode 20 gemessene Spannung ändern, wenn sich aufgrund einer Reaktion mit einer gewünschten Chemikalie der Widerstand der Gateelektrode 20 ändert. Daher wird eine Änderung der entlang der Gateelektrode 20 gemessenen Spannung verwendet, um eine Änderung des Widerstandes entlang der Gateelektrode 20 zu bestimmen, wodurch eine Änderung in der Konzentration der Chemikalie angezeigt wird.
  • Um eine genauere Messung des Widerstandes der Gateelektrode 20 zu schaffen, kann eine Vierpunkt-Messtechnik verwendet werden. Zum Beispiel können die elektrischen Anschlüsse 42 und 44 und zwei zusätzliche elektrische Anschlüsse (nicht gezeigt) mit der Gateelektrode 20 gekoppelt werden. Bei diesem Beispiel schicken die zwei zusätzlichen elektrischen Anschlüsse einen im Wesentlichen konstanten Strom durch die Gateelektrode 20, während mit den elektrischen Anschlüssen 42 und 44 ein Spannungsabfall entlang der Gateelektrode 20 gemessen wird.
  • Dies bedeutet zusammengefasst, dass Variationen im Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 und Variationen in der elektrischen Impedanz der Gateelektrode 20 gemessen werden; um die Konzentration einer spezifischen chemischen Spezies zu bestimmen. Die beiden Messungen können auch verwendet werden, um den Konzentrationsmessbereich des Sensors 10 zu erweitern, wie nachfolgend erklärt wird.
  • In 2 ist eine Ausführungsform des Betriebes des Sensors 10 dargestellt. In 2 repräsentiert eine Abszisse oder X-Achse einen Graphen eine Konzentration einer Chemikalie "A" im Spalt 22, welche mit der Oberfläche 28 der Gateelektrode 20 chemisch reagiert. In 2 repräsentiert eine erste Ordinate oder Y-Achse des Graphen einen Wert eines Oberflächenpotenzials für die Gateelektrode 20. Die X-Achse weist die Einheit l/Kubikzentimeter (cm–3) auf, während die erste Y-Achse die Einheit Millivolt (mV) aufweist. Demgemäß stellt eine Kurve 201 die Konzentration der chemischen Spezies "A" im Spalt 22 in Bezug zum Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 dar. Die Kurve 201 zeigt, dass ein Zuwachs in der Konzentration der chemischen Spezies "A" eine Zunahme im Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 verursacht. Wie zuvor diskutiert worden ist, wird das Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 aus einer Messung des Stroms im Kanalgebiet 34 berechnet.
  • Der Graph in 2 weist auch eine zweite Ordinate oder Y-Achse auf, welche einen Gatewiderstand oder eine elektrische Impedanz der Gateelektrode 20 repräsentiert. Die zweite Y-Achse hat die Einheit Ohm (ω). Eine Kurve 202 zeigt, dass der Gatewiderstand der Gateelektrode 20 zunimmt, wenn die Konzentration der chemischen Spezies "A" im Spalt 22 zunimmt.
  • Werden die Kurven 201 und 202 von 2 genauer betrachtet, so ist es für den Durchschnittsfachmann ersichtlich, dass die Messungen des Oberflächenpotenzials und des elektrischen Widerstandes zusammen verwendet werden, um den Konzentrationsmessbereich des Sensors 10 auszuweiten. Das heißt, bei der in 2 dargestellten spezifischen Ausführungsform ändern kleinere Konzentrationen der chemischen Spezies "A", welche mit der Gateelektrode 20 reagieren, signifikant das Oberflächenpotenzial oder die Austrittsarbeit der Gateelektrode 20, haben jedoch keinen signifikan ten Einfluss auf den Widerstand der Gateelektrode 20. Während das Oberflächenpotenzial bei größeren Konzentrationen der chemischen Spezies "A" einen Sättigungswert erreicht, werden die Änderungen im Widerstand der Gateelektrode 20 signifikanter. Daher wird bei der in 2 dargestellten Ausführungsform die Oberflächenpotenzial-Variation verwendet, um niedrigere Konzentrationen der chemischen Spezies "A" zu erfassen oder zu überwachen, während die Variation im Gatewiderstand dazu verwendet wird, höhere Konzentrationen der chemischen Spezies "A" zu erfassen oder zu überwachen.
  • Somit kann der Sensor 10 dazu verwendet werden, eine Chemikalie über einen weiten Konzentrationsbereich zu erfassen oder zu überwachen. Dieser vergrößerte Messbereich wird, verglichen mit dem Stand der Technik, mit reduziertem Leistungsverbrauch geschaffen. Anstatt einer Mehrzahl von Heizelementen wird ein einziges Heizelement 30 verwendet, um die Betriebstemperatur zu regulieren, um sowohl die Widerstandsänderung als auch die Oberflächenpotenzialänderung zu messen. Demgemäß ist der Sensor 10 aufgrund seines reduzierten Leistungsverbrauchs für transportable Anwendungen geeignet.
  • In 3 ist eine andere Ausführungsform des Betriebes des Sensors 10 dargestellt. Ein in 3 gezeigter Graph weist eine Abszisse oder X-Achse auf, welche eine Konzentration einer chemischen Spezies "B" im Spalt 22 repräsentiert, und weist auch eine erste Ordinate oder Y-Achse auf, welche ein Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 repräsentiert. Die X-Achse weist die Einheit cm–3 und die erste Y-Achse die Einheit mV auf. Demgemäß zeigt eine Kurve 301 die Konzentration der chemischen Spezies "B" in Bezug auf das Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20, wobei eine größere oder höhere Chemikalienkonzentration ein größeres oder höheres Oberflächenpotenzial zur Folge hat.
  • Der in 3 dargestellte Graph weist auch eine zweite Ordinate oder Y-Achse auf, welche einen Widerstand der Gateelektrode 20 repräsentiert und die Einheit ω aufweist. Demgemäß wird mit der Kurve 302 die Konzentration der chemischen Spezies "B" in Bezug gesetzt zum Gatewiderstand der Gateelektrode 20, wobei eine höhere Chemikalienkonzentration einen höheren Gatewiderstand produziert.
  • Es sei angenommen, dass die chemische Spezies "A" von 2 in der Zusammensetzung ähnlich zur chemischen Spezies "B" von 3 ist. Demgemäß reagiert die chemische Spezies "B", ähnlich zur chemischen Spezies "A", auch mit der Gateelektrode 20. Wie aus 3 ersichtlich ist, ändern, oder modifizieren niedrigere oder kleinere Konzentrationen der chemischen Spezies "B" signifikant das Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20, ändern jedoch nicht signifikant den Widerstand der Gateelektrode 20. Höhere Konzentrationen der chemischen Spezies "B" beginnen, den Widerstand der Gateelektrode 20 signifikant zu verändern, das Oberflächenpotenzialsignal der Gateelektrode 20 gelangt bei höheren Konzentrationen der chemischen Spezies "B" jedoch in einen Sättigungswert.
  • Die Zusammensetzung der Gateelektrode 20 kann mit zwei ähnlichen chemischen Spezies reagieren, wie zum Beispiel Spezies "A" und "B". Jedoch können die Wirkungen der beiden ähnlichen chemischen Spezies auf das Oberflächenpotenzial und den Widerstand unterschiedlich sein, und dieser Unterschied kann verwendet werden, um zwischen den beiden ähnlichen chemischen Spezies zu unterscheiden. Wenn zum Beispiel die Graphen von 2 und 3 verglichen werden, wird der Durchschnittsfachmann erkennen, dass bei niedrigen Konzentrationen der beiden chemischen Spezies "A" und "B" sich das Oberflächenpotenzial der Gateelektrode 20 auf ähnlichen Weise verhält. Jedoch wird der Durchschnittsfachmann ebenso erkennen, dass sich der Widerstand der Gateelektrode 20 schneller ändert, wenn die Gateelektrode 20 höheren Konzentrationen der chemischen Spezies "A" im Vergleich zur chemischen Spezies "B" ausgesetzt oder exponiert ist. Demgemäß können die Oberflächenpotenzialvariationen und Gatewiderstandvariationen verglichen und einander gegenübergestellt werden, um zwischen zwei ähnlichen chemischen Spezies "A" und "B" zu unterscheiden.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung ist es daher ersichtlich, dass ein verbesserter Sensor geschaffen worden ist, welcher die im Stand der Technik bekannten Nachteile überwindet. Die vorliegende Erfindung beseitigt die Einschränkungen der Detektionsbereiche und Ungenauigkeiten von Sensoren nach dem Stand der Technik. Die vorliegende Erfindung schafft Multi-Messfähigkeiten, um den Detektions- bzw. Messbereich von Chemikalienkonzentrationen zu erweitern und um Sensorantwortzeit, -empfindlichkeit und -selektivität zu verbessern. Die vorliegende Erfindung verwendet Oberflächenpotenzialeigenschaften, um niedrigere Konzentrationen einer chemischen Spezies zu messen, und verwendet Widerstandseigenschaften, um höhere Konzentrationen der gleichen chemischen Spezies zu messen.
  • Die vorliegende Erfindung verwendet auch Oberflächenpotenzial- und Widerstandseigenschaften, um das Vorhandensein einer spezifischen chemischen Spezies zu bestimmen, und um zwischen zwei ähnlichen chemischen Spezies zu unter scheiden. Weiterhin ist die vorliegende Erfindung aufgrund ihres reduzierten Leistungsverbrauchs auch für transportable Anwendungen geeignet. Darüber hinaus ist die vorliegende Erfindung kostengünstig und kann hergestellt werden, indem konventionelle Halbleiterfertigungstechniken verwendet werden.
  • Während die Erfindung mit Bezug auf bevorzugte Ausführungsformen besonders dargestellt und beschrieben worden ist, ist es für den Durchschnittsfachmann ersichtlich, dass Änderungen in der Form und im Detail gemacht werden können, ohne den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen. Während die Graphen von 2 und 3 Chemikalienkonzentrationen versus Oberflächenpotenzial darstellen, ist es zum Beispiel ersichtlich, dass auch eine ähnliche Darstellung der Chemikalienkonzentration versus Kanalstrom verwendet werden kann.

Claims (10)

  1. Verfahren zum Prüfen einer Chemikalie, welches die Schritte aufweist: Bereitstellen eines Prüfmaterials (20); Erfassen des Oberflächenpotenzials des Prüfmaterials (20); Erfassen der elektrischen Impedanz des Prüfmaterials (20); und Vergleichen des Oberflächenpotenzials mit der elektrischen Impedanz, um das Vorhandensein einer Chemikalie zu bestimmen.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Erfassens des Oberflächenpotenzials das Erfassen einer Oberflächenpotenzialänderung umfasst.
  3. Verfahren gemäß Anspruch 1 oder Anspruch 2, welches vor dem Schritt des Vergleichens des Oberflächenpotenzials mit der elektrischen Impedanz weiterhin den Schritt des Aussetzens des Prüfmaterials (20) zu der Chemikalie aufweist, und wobei der Schritt des Vergleichens des Oberflächenpotenzials mit der elektrischen Impedanz das Bestimmen einer Konzentration der Chemikalie umfasst.
  4. Verfahren zum Prüfen einer Chemikalie, welches die Schritte aufweist: Bereitstellen eines Transistors (10) mit einer Gateelektrode (20), welche oberhalb eines Kanalgebietes (34) liegt; Verwenden der Gateelektrode (20), um einen Strom im Kanalgebiet (34) zu steuern; Messen eines Widerstandes der Gateelektrode (20); Messen einer Stromstärke; und Vergleichen des Widerstandes der Gateelektrode (20) mit der Stromstärke.
  5. Verfahren gemäß Anspruch 4, welches weiterhin das Berechnen eines Oberflächenpotenzials der Gateelektrode (20) umfasst, aus der gemessenen Stromstärke.
  6. Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei der Schritt des Vergleichens des Widerstandes der Gateelektrode (20) mit der Stromstärke ein Vergleichen des Widerstandes der Gateelektrode (20) mit dem Oberflächenpotenzial der Gateelektrode (20) umfasst.
  7. Sensor, aufweisend: ein Halbleitersubstrat (12); einen Kanal (34) in dem Halbleitersubstrat (12); eine Gateelektrode (20), welche oberhalb des Kanals (34) angeordnet ist, wobei das Halbleitersubstrat (12), der Kanal (34) und die Gateelektrode (20) einen Transistor bilden und wobei ein Spalt zwischen der Gateelektrode (20) und dem Halbleitersubstrat (12) existiert; einen ersten elektrischen Anschluss, welcher mit der Gateelektrode (20) gekoppelt ist; und einen zweiten elektrischen Anschluss, welcher mit der Gateelektrode (20) gekoppelt ist.
  8. Sensor gemäß Anspruch 7, wobei es mit dem ersten elektrischen Anschluss und dem zweiten elektrischen Anschluss möglich ist, einen Widerstand in der Gateelektrode (20) zu messen.
  9. Sensor gemäß Anspruch 7 oder Anspruch 8, welcher weiterhin ein Heizung (30) aufweist, welche mit der Gateelektrode (20) gekoppelt ist.
  10. Sensor gemäß Anspruch 9, welcher weiterhin einen Temperatursensor (40) aufweist, welcher mit der Heizung (30) gekoppelt ist.
DE69729017T 1996-02-28 1997-02-10 Verfahren zur Feststellung von einem chemischen Stoff und Sensor dafür Expired - Lifetime DE69729017T2 (de)

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