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DE69019419T2 - Testscheiben. - Google Patents

Testscheiben.

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Publication number
DE69019419T2
DE69019419T2 DE69019419T DE69019419T DE69019419T2 DE 69019419 T2 DE69019419 T2 DE 69019419T2 DE 69019419 T DE69019419 T DE 69019419T DE 69019419 T DE69019419 T DE 69019419T DE 69019419 T2 DE69019419 T2 DE 69019419T2
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DE
Germany
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semi
disk
plate
tracks
coatings
Prior art date
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DE69019419T
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English (en)
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DE69019419D1 (de
Inventor
Noriyuki Ishimura
Katsuji Yokoyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816Testing
    • G11B20/182Testing using test patterns
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/146Laser beam

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
  • Transition And Organic Metals Composition Catalysts For Addition Polymerization (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Liquid Developers In Electrophotography (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)
  • Holding Or Fastening Of Disk On Rotational Shaft (AREA)

Description

  • Die Erfindung betrifft optische Testplatten, wie sie beispielsweise in Abspielgeräten für Kompaktplatten (CD-Playern) verwendet werden.
  • Früher bereits vorgeschlagene Testplatten sind so ausgebildet, daß auf ihnen ein Musiksignal in der üblichen Form aufgezeichnet ist und auf der Informations-Auslesefläche schwarze Punkte angeordnet sind, die Fehler simulieren sollen, z.B. Fremdkörper, die beim Formpressen des Plattenmaterials eingeschlossen wurden, Fingerabdrücke, Abriebstellen oder Verschmutzungen, die beispielsweise durch wiederholtes Besprühen der Platte mit Antistatikspray entstehen.
  • Man kann mit einer solchen Testplatte prüfen, wie ein Plattenabspielgerät mit einer fehlerhaften Platte arbeitet, sie ermöglicht jedoch keine Unterscheidung der Auswirkung verschiedener Arten von Fehlern. Außerdem ist es nicht möglich, die simulierten Fehler spezifischen Spuren zuzuordnen.
  • Die veröffentlichte internationale Patentanmeldung WO 85/01 381 beschreibt eine vorformatierte diagnostische Aufzeichnungsplatte für eine Plattenspeicher- und Retrievaleinrichtung, die bei der automatischen Ausführung von Diagnoseroutinen diagnostische Informationen liefert, die eine Überprüfung der ordnungsgemäßen Funktion der Einrichtung ermöglichen. Die Platte besitzt Ablauf-Such/Takt-Spuren und mehrere Informationsspuren mit jeweils einem spezifischen Datenmuster, das so beschaffen ist, daß jeweils eine spezifische Funktion der Einrichtung getestet werden kann.
  • "Funkschau", Band 60, Nr. 23, 4. November 1988, München, Deutschland (W. Schild) beschreibt Fehlertestplatten mit schwarzen Punkten mit verschiedenen Durchmessern, die auf der Informationspur angeordnet sind. In der Informationspur einer Platte ist Musik aufgezeichnet, in der Informationspur einer anderen Platte ein Testsignal mit 400 Hz.
  • Gemäß vorliegender Erfindung ist eine optische Testplatte vorgesehen, die dadurch gekennzeichnet ist, daß die Platte an mehreren vorbestimmten Stellen auf der Informations-Auslesefläche halbdurchlässige Beschichtungen besitzt, die Fehler simulieren.
  • Durch die Anbringung halbdurchlässiger Beschichtungen lassen sich Eigenschaften simulieren, die dem Fall ähneln, daß auf der Informations-Auslesefläche der Platte tatsächlich Abriebstellen vorhanden sind oder die gesamte Oberfläche der Platte verunreinigt ist. Ausführungsbeispiele der Erfindung ermöglichen eine genaue Prüfung der durch einen spezifischen Fehler, z.B. einen Fehler vorbestimmter Größe oder einen Fehler in Form feiner Abriebstellen oder einer Verschmutzung der gesamten Plattenoberfläche, verursachten Änderungen bei der Wiedergabe.
  • Darüber hinaus kann die Wiedergabe geprüft werden, während die übrigen Bedingungen außer dem simulierten Fehler unverändert beibehalten werden.
  • Im folgenden sei die Erfindung beispielhaft anhand der Zeichnungen beschrieben, in denen gleiche Teile durchgehend mit gleichen Bezugszeichen versehen sind.
  • Fig. 1 zeigt eine Draufsicht eines Ausführungsbeispiels der Testplatte gemäß der vorliegenden Erfindung,
  • Fig. 2 und 3 zeigen ein Diagramm und eine Tabelle zur Beschreibung des Ausführungsbeispiels,
  • Fig. 4 zeigt eine geschnittene Ansicht des Ausführungsbeispiels,
  • Fig. 5A und 5B zeigen Wellenformdiagramme.
  • Fig. 1 zeigt die Informations-Auslesefläche einer Testplatte 1 nach einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Die Platte 1 hat die gleiche Form wie eine Kompaktplatte (CD) mit einem Außendurchmesser von beispielsweise 8 oder 12 cm. Auf der Platte 1 ist ein Testsignal in Form einer Reihe von Pits aufgezeichnet, wie dies bei Kompaktplatten üblich ist. Die Informations-Auslesefläche der Platte 1 weist verschiedene simulierte Fehler auf, die möglichen physikalischen Fehlern entsprechen.
  • Fig. 2 und 3 zeigen Signale, die in entsprechend numerierten Spuren der Platte 1 aufgezeichnet sind, sowie simulierte Fehler, die an vorbestimmten Positionen der betreffenden Spuren vorgesehen sind. Auf der Platte 1 von Fig. 2 und 3 ist in jeder der Spuren TN2, TN4, TN6, ..., TN30 ein Musiksignal M und den folgenden Nachbarspuren TN3, TN5, TN7, ..., TN31 ein Einfrequenzsignal f mit einer Frequenz von beispielsweise 400 Hz aufgezeichnet.
  • Auf der Informations-Auslesefläche der Platte 1 sind an Positionen, die den Spuren TN2 bis TN15 entsprechen, schwarze Streifen 2A bis 2G mit jeweils unterschiedlicher Breite vorgesehen. An Positionen, die den Spuren TN16 bis TN29 entsprechen, sind halbdurchlässige Streifen 3A bis 3G mit jeweils unterschiedlicher Breite vorgesehen. An der Position, die den Spuren TN30 und TN 31 entspricht, befindet sich ein simulierter Fingerabdruck 4.
  • Die schwarzen Streifen 2A bis 2G stellen simulierte Fehler dar, und bestehen aus einer schwarzen Schicht. Sie entsprechen Fehlern durch Fremdkörper, die beim Formpressen des Plattensubstrats eingeschlossen wurden. Wie Fig. 3 zeigt, sind die Breiten der Streifen 2A bis 2G folgendermaßen gewählt: Der Streifen 2A auf der innersten Spuren TN2 und TN3 hat eine Breite von 0,3 mm, der nächste Streifen 2B eine Breite von 0,4 mm. Die Breiten der Streifen 2C bis 2F betragen 0,5 mm, 0,6 mm, 0,7 mm, 0,8 mm, 0,9 mm bzw. 1,1 mm. Die Streifen werden also nacheinander in Richtung auf den Außenumfang immer breiter. Der Streifen 2G auf den Spuren TN14 und TN15 hat eine Breite von 1,1 mm.
  • Die halbdurchlässigen Streifen 3A bis 3G stellen simulierte Fehler dar und bestehen aus einer halbdurchlässigen Schicht z.B. aus roter Farbe. Diese Streifen 3A bis 3G entsprechen Fehlern, die auf feine Abriebstellen auf der Informations-Auslesefläche der Platte 1 zurückzuführen sind, und Fehlern, die auf eine Verschmutzung der ganzen Platte 1 zurückzuführen sind. Wie Fig. 3 zeigt, sind die Breiten der Streifen 3A bis 3G folgendermaßen gewählt: Der Streifen 3A auf den Spuren TN16 und TN17 hat eine Breite von 0,3 mm, der nächste Streifen 3B eine Breite von 0,4 mm. Die Breiten der Streifen 3C bis 3F betragen 0,5 mm, 0,6 mm, 0,7 mm, 0,8 mm, 0,9 mm bzw. 1,1 mm. Die Streifen werden also nacheinander in Richtung auf den Außenumfang immer breiter. Der Streifen 3G auf den Spuren TN28 und TN29 hat eine Breite von 1,1 mm.
  • Der Fingerabdruck 4 ist ein simulierter Fehler, der einem Fingerabdruck auf der Informations- Auslesefläche entspricht.
  • Wie Fig. 4 zeigt, sind die halbdurchlässigen Streifen 3A bis 3G durch Aufdrucken von halbdurchlässiger Tinte auf die Informations-Auslesefläche der Platte 1 hergestellt. Diese halbdurchlässige Tinte besteht beispielsweise aus weichem und hartem Vinylchlorid oder Polycarbonat, um Fehler wie Erosionen, Entfärbungen, Verformungen oder Trocknungsverzögerungen zu simulieren. In dieser Ouerschnittsansicht der Platte 1 ist eine Schutzschicht 11, eine reflektierende Aluminiumschicht 12 und ein Plattensubstrat 13 aus Polycarbonat dargestellt. Die Durchlässigkeit der halbdurchlässigen Tinte, aus der die Streifen 3A bis 3G bestehen, liegt für einen Strahl A2, der von der reflektierenden Aluminiumschicht 12 reflektiert wird, im Bereich von 30% bis 60% mit dem Zentrum bei 45%. Die Streifen 3A bis 3G haben eine ähnliche Wirkung wie Abriebstellen auf der Informations-Auslesefläche der Platte 1. Fig. 5A zeigt eine hochfrequentes Wiedergabesignal, das auftritt, wenn auf einer Platte ein solcher halbdurchlässiger Streifen mit einer Breite von 0,6 mm vorhanden ist, während Fig. 5B ein hochfrequentes Wiedergabesignal zeigt, das auftritt, wenn auf der Informations-Auslesefläche der Platte tatsächlich Abriebstellen vorhanden sind. Ein Vergleich von Fig. 5A und 5B zeigt, daß die charakteristischen Eigenschaften ähnlich sind.
  • Die halbdurchlässigen Streifen 3A bis 3G können durch Schmelzen, Verdampfen oder Kleben hergestellt werden.
  • Durch die Anordnung der halbdurchlässigen Streifen 3A bis 3G auf der Platte 1 lassen sich Eigenschaften simulieren, die ähnlich sind wie in dem Fall, daß auf der Informations-Auslesefläche der Platte Abriebstellen vorhanden sind oder die ganze Plattenoberfläche verschmutzt ist.
  • In jeder der Spuren TN2, TN4, TN6, ..., TN30 der Platte 1 ist ein Musiksignal M aufgezeichnet. Das Einfrequenzsignal f mit einer Frequenz von beispielsweise 400 Hz ist auf den nachfolgenden Spuren TN3, TNS, TN7, ..., TN31 aufgezeichnet. Infolgedessen kann ein Geräusch, das durch die Fehler verursacht wird, leicht bestätigt werden. Da den schwarzen Streifen 2A bis 2G und den halbdurchlässigen Streifen 3A bis 3G, die sich voneinander unterscheiden, ein ähnliches Einfrequenzsignal zugeordnet ist, kann das resultierende Geräusch außerdem leicht verglichen werden.
  • Da außerdem in einer gegebenen Spur nur eine Art von simuliertem Fehler vorgesehen ist, kann die Simulation der Funktion eines Plattenabspielgeräts beim Vorhandensein solcher Fehler an den gebenenen Positionen der entsprechenden Spuren unmittelbar durch die Wiedergabe bestimmter Spuren erfolgen.
  • Die Erfindung ist nicht auf eine Testplatte für eine Musik-CD beschränkt. Sie läßt sich vielmehr auch bei Testplatten für andere Plattenabspielgeräte, z.B. für ein Wiedergabegerät für CD-ROMs anwenden, auf denen digitale Daten aufgezeichnet sind.
  • Auf diese Weise kann man mit Ausführungsbeispielen der Erfindung durch das Prüfen der Wiedergabe des 400Hz-Signals die von Fehlern verursachte Änderung der Wiedergabe prüfen. Da in einer gegebenen Spur nur eine einzige Art von simulierten Fehlern vorgesehen ist, kann die Auswirkung verschiedener Fehlerarten leicht simuliert werden.

Claims (6)

1. Optische Testplatte (1), dadurch gekennzeichnet, daß die Platte (1) an mehreren vorbestimmten Stellen auf der Informations-Auslesefläche halbdurchlässige Beschichtungen (3) besitzt, die Fehler simulieren.
2. Platte (1) nach Anspruch 1, bei der die halbdurchlässigen Beschichtungen (3) halbdurchlässige Tinte aufweisen.
3. Platte (1) nach Anspruch 1 oder 2, bei der die halbdurchlässigen Beschichtungen (3) unterschiedliche Größen haben.
4. Platte (1) nach Anspruch 3, bei der die halbdurchlässigen Beschichtungen (3) in einem Kreisbogen angeordnet sind und ihre Größen vom Innen- zum Außenumfang der Platte (1) zunehmen.
5. Platte (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der die Lichtdurchlässigkeit der halbdurchlässigen Beschichtungen (3) 30 bis 60% beträgt.
6. Platte (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der ein Einfrequenzsignal in Spuren (TN17, TN19, TN21 usw.) aufgezeichnet ist, die den Informationssignalspuren (TN16, TN18, TN20 usw.) benachbart sind, in denen die halbdurchlässigen Beschichtungen (3) vorgesehen sind, wobei jede der halbdurchlässigen Beschichtungen auf der genannten Informationssignalspur und der benachbarten Einfrequenzspur ausgebildet ist.
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