DE69013851T2 - Verfahren zur Herstellung einer keramischen Schaltungsplatte. - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer keramischen Schaltungsplatte.Info
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 33
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 33
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 24
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 20
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 15
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 14
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 22
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 18
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 10
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 7
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 7
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 4
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N Beryllium oxide Chemical compound O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4038—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
- H05K3/4053—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
- H05K3/4061—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in inorganic insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/486—Via connections through the substrate with or without pins
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/01—Dielectrics
- H05K2201/0104—Properties and characteristics in general
- H05K2201/0116—Porous, e.g. foam
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/12—Using specific substances
- H05K2203/128—Molten metals, e.g. casting thereof, or melting by heating and excluding molten solder
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
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Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung einer keramischen Schaltungsplatte mit einem leitenden Teil, welcher in der Lage ist, Schaltkreise elektrisch zu verbinden, die auf der vorderen und rückseitigen Oberfläche einer Isolierplatte gebildet sind.
- Seit kurzem gibt es einen ansteigend starken Bedarf für kleinformatige und hochzuverlässige elektronische Geräte. Um solchen Anforderungen zu genügen, wurden Verfahren zum Aufbau von integrierten Schaltkreisen aus Verfahren zum Aufbauen von IC-Paketen auf gedruckten Schaltungsplatten gemäß dem Stand der Technik heraus entwickelt hin zu Verfahren zum Mustern einer Leiterschicht, von Widerständen oder ähnlichem hauptsächlich in einer Struktur auf einer Oberfläche eines keramischen Isolatorbrettes beispielsweise oder zum direktem Anbringen eines IC-Chips auf einer Brettoberfläche und hermetischen Abdichten.
- Zudem sind entsprechend den Anforderungen einer großskaligen Integration oder Mehrfachfunktionalität von Schaltkreisen Entwicklungen gemacht worden, um Schaltungsplatten zu bilden, welche Schaltkreise nicht nur auf der Vorderfläche einer Isolierplatte, sondern auch auf der Rückseite derselben aufweisen, wobei eine elektrische Verbindung der Schaltkreise auf der Vorder- und der Rückseite der Platte mittels Durchgangslöchern in der Platte vorgesehen ist.
- In einer solchen Schaltungsplatte mit Schaltkreisen auf der Vorder- und Rückseite einer Isolatorplatte, die elektrisch verbunden sind, ist es insbesondere für die Teile der Durchgangslöcher in der Platte erforderlich daß
- a. die elektrische Verbindung zwischen den Schaltkreisen auf der Vorder- und Rückseite der Platte hinreichend sichergestellt ist, und
- b. eine hinreichende Luftdichtigkeit erhalten wird, so daß die Luftdichtigkeit nicht durch die Durchgangslöcher in den Fällen verloren geht, wo der Schaltkreis, der an einer der Flächen der Platte gebildet wurde, hermetisch abgedichtet ist.
- Herkömmlich wird ein Verfahren, wie es in Fig. 4 gezeigt ist, zur Bildung von leitenden Teilen in Durchgangslöchern verwendet, die in einer Platte geformt sind. Dieses Verfahren umfaßt: Bilden der vorbeschriebenen Durchgangslöcher 2 in eine Isolatorplatte 1, Pressen einer Metalpaste 4 in die Durchgangslöcher 2 unter Verwendung einer Gummipresse 3 und Trocknen und Sintern der Metallpaste in den Durchgangslöchern 2, womit metallische Leiterteile in den Durchgangslöchern 2 gebildet werden. Dann werden, wie in A von Fig. 5 gezeigt ist, Leitermuster 5, 6 auf der oberen und unteren Fläche der Leiterteile 4a durch Füllen der Durchgangslöcher 2 der Isolatorplatte 1 gebildet, wodurch die Schaltkreise auf der Vorder- und Rückseite der Isolatorplatte 1 elektrisch miteinander verbunden werden.
- Jedoch ist es schwierig das oben erwähnte Verfahren in einer Weise zu verwenden, sodaß die Durchgangslöcher vollständig aufgefüllt sind, wie es in A von Fig. 5 gezeigt ist, und es treten öfters Fehler auf, wie unten beschrieben wird. Wie beispielsweise in B von Fig. 5 gezeigt ist, bildet sich eine Lücke in einem Durchgangsloch, wodurch eine fehlerhafte Verbindung zwischen dem Leitermuster 6 auf der Vorderseite der Platte und dem Leitermuster 6 auf der Rückseite derselben entsteht; oder wie in C von Fig. 5 gezeigt ist, ist das Leitermuster 5 auf der Vorderseite und das Leitermuster 6 auf der Rückseite der Platte durch einen Leiterteil 4a verbunden, welcher mangelhaft in dem Durchgangsloch 2 verbunden ist. Daher kann dieses Verfahren die oben erwähnten Anforderungen für leitende Teile 4a der Durchgangslöcher 2, namentlich das Erfordernis, die elektrische Verbindung vollständig sicherzustellen und das Erfordernis, die Luftdichtigkeit zu erhalten, nicht vollständig befriedigen.
- Das Dokument US-4 861 641 offenbart eine Kermaikzusammensetzung, worin Durchgangslöcher mittels eines Infiltrationsverfahrens geformt werden. Für dieses Infiltrationsverfahren werden Durchgänge in dem Rohband an gewünschten Stellen gestanzt und mit einer Metallfüllung gefüllt. Danach wird das Keramiksubstrat vorgebrannt, um eine poröse Schicht in den Durchgängen zu erhalten. Nach dem Vorbrennen wird eine Nickelplattierung auf das Substrat angewendet, um eine ausreichende Benetzung des anschließend angewendeten Metalls an den Durchgängen sicherzustellen. Als nächstes wird ein Infiltrationsmetall auf das vorgebrannte Substrat direkt über den Durchgängen angewendet. Anschließend an die Anwendung des Infiltrationsmaterials wird das Komposit aufgeheizt, um den Infiltrant zu schmelzen. Die Porosität und kleine Leerräume, die in den Durchgängen vorhanden sind, werden durch Hilfsmittel und durch die Verschiebung der Porenräume durch den geschmolzenen Infiltrant entfernt.
- Es gibt ein anderes Verfahren, wie es in Fig. 6 gezeigt ist. Dieses Verfahren ist in der japanischen Patentschrift Nr. 63- 64918 offenbart. Gemäß diesem Verfahren werden zunächst vorgeschriebene Durchgangslöcher 2 in einer Isolatorplatte 1 gebildet. Danach wird ein Leitermuster 6 auf der Rückfläche der Platte 1 geformt, um eine Öffnung jedes Durchgangsloches 2 zu bedecken. Danach wird ein Metalldraht 7 mit einem Durchmesser geringfügig kleiner, als der Innendurchmesser jeden Durchgangsloches 2 und einer Länge geringfügig kürzer als die Tiefe jeden Durchgangsloches 2 in jedes Durchgangsloch 2 von der offenen Seite her eingesetzt. Danach wird ein Leitermuster 5 oben auf jeden Metalldraht 7 gebildet, um die andere Seite des Durchgangsloches 2 abzudichten.
- Jedoch hat dieses Verfahren ebenfalls einen Nachteil bei der Erhaltung der Luftdichtigkeit der Durchgangslöcher 2. Insbesondere wird die Luftdichtigkeit nur durch die Leitermuster 5, 6 gewahrt, die an den oberen und unteren Öffnungen der Durchgangslöcher 2 gebildet sind und es existiert unvermeidlich eine Lücke zwischen den entsprechenden Metalldrähten 7 und den Durchgangslöchern 2. Wenn eine kleine Lücke bei der Herstellung der Leitermuster 5, 6 entsteht, dann wird dadurch die Luftdichtigkeit verloren. Zudem ist es schwierig, die Arbeit des Einsetzens der Metalldrähte 7 in die Durchgangslöcher 2 zu automatisieren und die Effizienz dieser Arbeit ist nicht hoch.
- Eine Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zur Herstellung einer keramischen Schaltungsplatte einschließlich durchgehender Leiterteile mit guter elektrischer Verbindung und Luftdichtigkeit zu schaffen, worin insbesondere die Leiterteile die Durchgangslöcher in einer keramischen Schaltungsplatte dicht auffüllen.
- Das erfinderische Verfahren zur Herstellung einer keramischen Schaltungsplatte zur Lösung der obigen Aufgabe ist in Anspruch 1 definiert.
- Eine Metallschicht mit einem hohen Schmelzpunkt wird durch das Sintern einer Metallpaste mit hohem Schmelzpunkt in jedem der Durchgangslöcher, die in der Isolierplatte geformt sind, gebildet. Die Hochschmelzpunkt-Metallschicht wird in jedem Durchgangsloch in einem Zustand gebildet, welcher Lücken oder Hohlräume einschließt. Wenn ein kupferhaltiges Metall geschmolzen wird, um in Kontakt mit einer solchen Hochschmelzpunkt-Metallschicht zu gelangen, dringt das geschmolzene Metall in die Hochschmelzpunkt-Metallschicht durch das Kapillaritätsphänomen ein. Auf diese Weise werden Leiterteile geformt, wo Lückenbereiche der Hochschmelzpunkt-Metallschicht dichtig mit dem Kupfer oder ähnlichem ausgefüllt sind. Diese Leiterteile, welche mit der Hochschmelzpunkt-Metallschicht und dem hochleitenden Material wie Kupfer oder ähnlichem gefüllt sind, stellen eine ausreichende elektrische Verbindung zwischen der Vorder- und der Rückseite der Platte sicher. Da zudem die Durchgangslöcher dichtig ausgefüllt sind, ist die Luftdichtigkeit zwischen der Vorder- und der Rückseite der Platte sichergestellt.
- Die vorangegangene und andere Aufgaben, Merkmale, Aspekte und Vorteile der Erfindung werden deutlicher werden anhand der folgenden ausführlichen Beschreibung der Erfindung in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen.
- Fign. 1A, 1B, 1C und 1D sind Ansichten, welche Herstellungsschritte einer keramischen Schaltungsplatte gemäß einer Ausführungsform der Erfindung zeigen.
- Fig. 2 ist eine Anicht, welche eine Variante des Herstellungsschrittes zeigt, der in Fig. 1C gezeigt ist.
- Fig. 3 ist eine Querschnittsansicht eines integrierten Schaltkreises mit einer keramischen Schaltungs- Platte, die gemäß der Erfindung hergestellt wurde.
- Fig. 4 ist eine Ansicht eines Herstellungsschrittes in einem herkömmlichen Verfahren zur Bildung von leitenden Teilen in einer Schaltungsplatte.
- Fig. 5 ist eine Querschnittsansicht einer Schaltplatte, die durch das Verfahren von Fig. 4 gebildet wurde.
- Fig. 6 ist eine Querschnittsansicht einer Schaltplatte, die gemäß einem anderen konventionellen Verfahren hergestellt wurde.
- Eine Ausführungsform der Erfindung wird nun mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben.
- Mit Bezug zunächst auf Fig. 1A ist ein Durchgangsloch 2 in einem vorgeschriebenen Bereich einer Isolatorplatte 1 gebildet. Eine Platte aus Aluminiumnitrid (AlN), Aluminiumoxyd (Al&sub2;O&sub3;), Berylliumoxyd (BeO) oder ähnlichem wird verwendet als Isolatorplatte. Insbesondere wird die Platte aus Aluminiumnitrid bevorzugt, da sie eine ausgezeichnete Wärmeabstrahlung und eine niedrige Reaktivität mit Kupfer aufweist und nicht durch das Eindringen von Kupfer in einem nachfolgenden Schritt angegriffen wird.
- Als nächstes werden die folgenden zwei Verfahren beschrieben als ein Verfahren zur Bildung einer Hochschmelzpunkt-Metallschicht in dem Durchgangsloch. Gemäß dem ersten Verfahren wird ein Perforationsvorgang auf eine nichtgesinterte AlN- Lage angewendet, um ein Durchgangsloch 2 zu bilden und danach wird eine Paste aus Wolfram (W) (leitende Paste) 10 in das Durchgangsloch 2 unter Verwendung einer Gummipresse 3 eingefügt. Danach werden die AlN-Lage 1 und die Wolframpaste 10 bei einer hohen Temperatur von 1700ºC oder mehr in einer N&sub2;- haltigen Atmosphäre gesintert, wodurch eine Wolframschicht 10a gebildet wird (wie in Fig. 1B gezeigt).
- Gemäß dem zweiten Verfahren wird eine AlN-Platte 1 gesintert und ein vorgeschriebenes Durchgangsloch 2 wird gebildet und eine Paste 10 aus Wolfram oder Molybden (Mo) wird in das Durchgangsloch 2 unter Verwendung einer Gummipresse 3 eingefügt. Danach wird die Wolfram- oder Molybdenpaste 10 gesintert in einer nicht oxidierenden Atmosphäre, so daß eine Wolfram- oder Molybdenschicht 10a gebildet wird (wie in Fig. 1B gezeigt).
- Die Hochschmlezpunkt-Metallschicht 10a, die durch ein solches Verfahren gebildet wurde, enthält eine große Anzahl von Lücken, weil das Lösungsmittel in der Paste bei der Sinterung dissipiert wurde. Da es außerdem schwierig ist, genügend leitende Paste in das Durchgangsloch hineinzufüllen, enthält das Durchgangsloch 2 einige Lücken, die nicht vollständig aufgefüllt sind.
- Mit Bezug auf Fig. 1C wird eine Kupfer oder Kupferlegierung 11 auf der Unterseite der Öffnung des Durchgangsloches 2 vorgesehen und aufgeheizt und geschmolzen. Dieses Kupfer oder Kupferlegierung 11 kann von einem Plattiertyp (wie in Fig. 1C) oder einem Pulvertyp wie in Fig. 2 sein. Die Heiztemperatur ist 1100ºC oder mehr, vorzugsweise 1200ºC oder mehr wenn Kupfer verwendet wird, wodurch dieses geschmolzen wird. Der Aufheizvorgang wird in einem Strom von Wasserstoff durchgeführt.
- Mit Bezug auf Fig. 1D dringt das geschmolzene Kupfer 11 in die Lücken der Hochschmelzpunkt-Metallschicht 10a durch ein Kapillarphänomen und füllt das Durchgangsloch 2 vollständig aus. Auf diese Weise wird ein Leiterteil 4a mit elektrischer Leitfähigkeit und Luftdichtigkeit gebildet.
- Das Schaltungsbrett, das durch die oben beschriebenen Schritte hergestellt wurde, hat leitende Teile, welche die Durchgangslöcher 2 dichtig ausfüllen. Solche leitenden Teile stellen die elektrische Verbindung zwischen den Schaltkreisen sicher, welche auf der Vorder- und der Rückseite der Schaltplatte gebildet wurden, da das Hochschmelzpunktmetall oder Kupfer, das eine gute Leitfähigkeit hat, für diese Teile verwendet wird. Da außerdem die Durchgangslöcher 2 dichtig mit diesen leitenden Teilen ausgefüllt sind, ist die Luftdichtigkeit zwischen der Vorder- und der Rückseite der Schaltungsplatte hinreichend sichergestellt.
- Fig. 3 zeigt ein Beispiel einer integrierten Schaltung, welche auf einer keramischen Schaltungsplatte gebildet wurde, die gemäß der Erfindung hergestellt wurde. Dünnfilmschaltkreise 24 sind auf der Vorder- und der Rückseite einer AlN- Platte 1 gebildet. Kompakte leitende Teile 4a aus Wolfram (W) und Kupfer (Cu) werden in den jeweiligen Durchgangslöchern 2 gebildet. Der Dünnfilmschaltkreis 24, der auf der Vorderseite der AlN-Platte 1 gebildet wurde, und der Dünnfilmschaltkreis 24, der auf der Rückseite derselben gebildet wurde, sind elektrisch durch die leitenden Teile 4a verbunden. Die AlN- Platte ist 1,0 mm dick und der Innendurchmesser von jedem Durchgangsloch ist 0,1mm. Im Falle der Verwendung einer Schaltungsplatte einer solchen Größe wäre es unmöglich in einem konventionellen Verfahren die elektrische Verbindung und Luftdichtigkeit vollständig zu erhalten. Entsprechend zeigen die Schaltkreise auf beiden Flächen der Schaltungsplatte gute Eigenschaften in Hinsicht auf die elektrische Verbindung und die Luftdichtigkeit.
- Auf diese Weise wird gemäß dem Verfahren der Erfindung, wie es in Anspruch 1 spezifiziert ist, eine Hochschmelzpunkt-Metallschicht in jedem Durchgangsloch einer Isolatorplatte gebildet, geschmolzenes Kupfer füllt die Lücken oder ähnliches in der Hochschmelzpunkt-Metallschicht, um leitende Teile zu bilden, welche die Durchgangslöcher abdichten. Folglich ist es möglich eine Schaltungsplatte herzustellen, welche gute elektrische Verbindung und Luftdichtigkeit zwischen Vorderund Rückseite einer Isolatorplatte aufweist.
- Obwohl die Erfindung ausführlich beschrieben und erläutert wurde ist es selbstverständlich, daß dies nur zur Illustration und als Beispiel gedacht ist und nicht als eine Beschränkung aufzufassen ist, wobei der Rahmen der Erfindung nur durch die folgenden Patentansprüche begrenzt wird.
Claims (3)
1. Verfahren zur Herstellung einer keramischen
Schaltungsplatte einschließlich eines leitenden Teils, welcher
durch eine isolierende Platte hindurch geformt ist und
Schaltkreise elektrisch verbindet, welche an der Vorder-
und Rückseite der isolierenden Platte gebildet sind,
umfassend die Schritte:
- Bilden eines Durchgangsloches (2) an einer
vorgeschriebenen Stelle der isolierenden Platte (1),
- Bilden einer Hochschmelzpunkt-Metallschicht (10a) in
dem Durchgangsloch durch Eingeben einer
Hochschmelzpunkt-Metallpaste (10) in das Durchgangsloch und
Sintern der Paste, wodurch in der
Hochschmelzpunkt-Metallschicht eine grobe Anzahl von Lücken durch
Dissipation des Lösungsmittels in der Paste beim Sintern
gebildet werden,
- Aufbringen eines Metallmaterials, welches Kupfer
enthält, in Kontakt mit der gesinterten Paste auf der
Seite der Isolierplatte unter dem Durchgangsloch, und
- Aufheizen und Schmelzen des Metallmaterials, welches
Kupfer enthält, unter dem Durchgangsloch in einem
Strom von Wasserstoff, sodaß das geschmolzene
Metallmaterial in die Hochschmelzpunkt-Metallschicht durch
die Lücken mittels der Kapillareffekts eindringt.
2. Verfahren zur Herstellung einer keramischen
Schaltungsplatte nach Anspruch 1, worin
das Durchgangsloch (2) auf der nicht-gesinterten
isolierenden Platte (1) gebildet ist, und
die Hochschmelzpunkt-Metallschicht (10a) gebildet
wird durch Einbringen der
Hochschmelzpunkt-Metallpaste (10) in das Durchgangsloch und Sintern der
isolierenden
Platte und der Hochschmelzpunkt-Metallpaste
bei einer hohen Temperatur.
3. Verfahren zur Herstellung einer keramischen
Schaltungsplatte nach Anspruch 1, worin
das Durchgangsloch (2) in der gesinterten
isolierenden Platte (1) gebildet ist und
die Hochschmelzpunkt-Metallschicht (10a) gebildet
wird durch Einbringen der
Hochschmelzpunkt-Metallpaste (10) in das Durchgangsloch und Sintern der Paste.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29422889A JPH03154395A (ja) | 1989-11-13 | 1989-11-13 | 回路基板およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69013851D1 DE69013851D1 (de) | 1994-12-08 |
DE69013851T2 true DE69013851T2 (de) | 1995-03-09 |
Family
ID=17805000
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1990613851 Expired - Fee Related DE69013851T2 (de) | 1989-11-13 | 1990-11-09 | Verfahren zur Herstellung einer keramischen Schaltungsplatte. |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0428086B1 (de) |
JP (1) | JPH03154395A (de) |
DE (1) | DE69013851T2 (de) |
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---|---|---|---|---|
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KR20130140618A (ko) * | 2010-07-20 | 2013-12-24 | 스미토모 덴키 고교 가부시키가이샤 | 다층 프린트 배선판 및 그 제조 방법 |
KR20190048111A (ko) * | 2017-10-30 | 2019-05-09 | 주식회사 아모센스 | 양면 세라믹 기판 제조방법, 그 제조방법에 의해 제조되는 양면 세라믹 기판 및 이를 포함하는 반도체 패키지 |
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---|---|---|---|---|
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-
1989
- 1989-11-13 JP JP29422889A patent/JPH03154395A/ja active Pending
-
1990
- 1990-11-09 EP EP19900121518 patent/EP0428086B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-11-09 DE DE1990613851 patent/DE69013851T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69013851D1 (de) | 1994-12-08 |
EP0428086A3 (en) | 1992-03-18 |
EP0428086A2 (de) | 1991-05-22 |
JPH03154395A (ja) | 1991-07-02 |
EP0428086B1 (de) | 1994-11-02 |
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