DE4337418C2 - Verfahren zur Herstellung eines Biosensorelementes in Silizium-Technologie in einem Full-Wafer-Prozeß - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines Biosensorelementes in Silizium-Technologie in einem Full-Wafer-ProzeßInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung
eines Biosensorelementes in einem Full-Wafer-Prozeß.
Diese Sensorelemente dienen zur selektiven Messung
von Stoffkonzentrationen in Flüssigkeiten und können
nach dem amperometrischen oder dem potentiometrischen
Meßprinzip arbeiten. Dabei zeichnen sie sich durch
eine massenproduktionstaugliche "full-wafer"-Verkap
selung aus.
Es ist bekannt, daß Glukosesensoren mit immobilisier
tem Enzym GOD auf einer Edelmetallelektrode nach dem
Prinzip der Wasserstoffperoxiddetektion arbeiten
(vgl. Scheller, Schubert: "Biosensoren", Birkhäuser,
Basel; Boston; Berlin; 1989).
Aus der DE 41 15 414 A1 ist es bekannt, daß Chemo- und
Biosensorelemente in Siliziumtechnologie auf der
Grundlage von Containmentstrukturen hergestellt wer
den können. Dabei werden in einem Siliziumsubstrat
mit Hilfe anisotroper Ätzverfahren Hohlräume einge
bracht, die auf einer der Oberflächen des Substrates
eine große und auf der anderen eine kleine Öffnung
besitzen. Das Siliziumsubstrat wird hierbei auch mit
einer isolierenden Schicht überzogen. Auf einer Ober
fläche, die später einen Teil der Innenseite des Con
tainments bildet, wird auch ein Metallkontakt aufge
bracht. Nachteilig hierbei ist aber, daß separate
Verkapselungsmaßnahmen notwendig sind.
Aus der DE 41 31 927 A1 ist ebenfalls ein Verfahren
zur Herstellung eines Biosensorelementes in Silizium
technologie bekannt. Ein weiteres Element ist in der
US 4 592 824 beschrieben.
In der DE 42 28 344 A1 wird zur Durchführung mikroli
thographischer Strukturierungsverfahren auf dreidi
mensionalen Oberflächen das Ionensprayverfahren be
schrieben, mit dessen Hilfe ein homogener Fotolack
auftrag möglich ist.
Zur Abdeckung von Siliziumstrukturen ist das Aufbrin
gen von Glasdeckeln mit Hilfe des "Anodischen Bon
dens" bekannt (Wallis, Pommeranz; Field Assisted
Glass-Metal Sealing, Journal of Applied Physics,
V. 40; Nr. 10, 1969).
Nachteilig an den bekannten Sensorelementen und deren
Herstellungsverfahren ist die Art der Verkapselung.
Diese wird z. B. unter Verwendung von Polymeren durch
geführt, die unter Einfluß verschiedener Parameter
(z. B. UV-Bestrahlung, Temperatur, Zeit) aushärten.
Die Einbringung der Membran muß nach diesen Verfahren
vor der Verkapselung des Sensorelementes erfolgen,
wobei mögliche Verfahrenskomplikationen bei der Ver
wendung austrocknungsempfindlicher Membranmaterialien
auftreten.
Der Erfindung liegt darum die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren zur Herstellung von Biosensorelementen vor
zuschlagen, das ohne aufwendige Verkapselungen aus
kommt.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß in ein Silizi
umsubstrat mit Hilfe anisotroper Ätzverfahren Hohl
räume (Containments) eingebracht werden, die an einer
der Oberflächen des Substrates eine große und auf der
anderen Oberfläche eine kleine Öffnung besitzen, daß
ferner das Siliziumsubstrat mit einer isolierenden
Schicht aus SiO₂, Si₃N₄ oder anderen isolierenden Ma
terialien überzogen wird, daß ferner die großen Öff
nungen mit Hilfe einer dünnen Platte verschlossen
werden, und daß vor der Aufbringung dieser Platte auf
einer Oberfläche, die später einen Teil der Innensei
te des Containments bildet, mindestens ein Metallkon
takt mit Hilfe mikrolithographischer Verfahren herge
stellt wird und anschließend die Containments unter
Vakuum mit dem sensitiven Membranmaterial gefüllt
werden, daß nach der Befüllung durch UV-Bestrahlung
oder Temperatureinfluß verfestigt wird.
Das Verschließen der Hohlräume mit Hilfe einer dünnen
Platte kann dadurch erreicht werden, indem eine dünne
Glasplatte mit Hilfe des "Anodischen Bondens" aufge
bracht wird. Ebenso ist es möglich, die Hohlräume mit
Hilfe einer Kunststoff-Folie zu verschließen. Hierfür
können Trockenresist-Materialien verwendet werden,
die auf das Siliziumsubstrat auflaminiert werden.
Die Herstellung der Metallkontakte kann auf dem Si
liziumsubstrat so erfolgen, daß sich die aktiven Kon
taktflächen auf den geneigten Innenflächen des Con
tainments befinden. Ebenso ist es möglich, diese Kon
takte auf der Seite des Glasdeckels oder der Kunst
stoff-Folie oder des Trockenresistes herzustellen,
die nach dem Anodischen Aufbonden oder Auflaminieren
eine Innenseite des Containments bildet.
Für die Herstellung der sensitiven Membran und die
Immobilisierung der Biokomponente (z. B. des Enzyms)
können alle hierfür gängigen Materialien (z. B. Gela
tine, Polyvinylalkohol, Polyvinylchlorid, Polyvinyl
pyrrolidon, Polyurethan, Polyacrylamid, Cellulosetri
acetat, Kollagen u. a.) eingesetzt werden.
Besonders vorteilhaft an diesen Sensorelementen sowie
dem Verfahren ihrer Herstellung ist, daß die Verkap
selung vor der Befüllung der Containments mit dem
Membranmaterial in einem "full-wafer"-Prozeß ganzflä
chig erfolgt und die Membraneinbringung verfahrens
technisch und zeitlich unabhängig von der Chip-Her
stellung durchgeführt werden kann. Die verwendeten
technologischen Verfahren sind automatisierbar und
gewährleisten eine massenproduktionstaugliche Her
stellung von Sensorelementen mit weitestgehend glei
chen Eigenschaften.
Die weitere Ausgestaltung der Erfindung wird anhand
folgender Ausführungsbeispiele dargestellt.
Im ersten Ausführungsbeispiel wird ein Glukosesensor
beschrieben, der nach dem amperometrischen Meßprinzip
arbeitet und zunächst in Fig. 1 im Schnitt darge
stellt ist. Ausgangsmaterial bei der Herstellung ist
ein z. B. 300 µm dicker monokristalliner Siliziumwafer
1 mit (100)-Kristallorientierung. Im ersten Herstel
lungsschritt wird durch thermische Oxidation bei ei
ner Temperatur von 1200°C eine 1,5 µm Siliziumoxid
schicht aufgebracht. Mit Hilfe fotolithographischer
Verfahren und anschließender Ammoniumfluoridätzung
wird das SiO₂ entsprechend dem entworfenen Contain
mentlayout strukturiert.
Für die Strukturierung der Containments in Pyramiden
stumpfform wird ein anisotropes Ätzverfahren ange
wandt, bei dem die [111]-Kristallebenen des Siliziums
ätzbegrenzend wirken (vgl. A. Heuberger: "Mikromecha
nik", Springer, Berlin, Heidelberg, New York, 1989,
S. 127ff). Bei Anwendung 20%iger KOH-Lösung ist die
höchste Siliziumätzrate gegeben. Mit gegebener Lö
sungskonzentration und einer Ätzbadtemperatur von
80°C liegt bei (100)-Silizium die Ätzrate bei ca.
86,3 µm/h, die Ätzrate für Siliziumdioxid liegt bei
ca. 267 nm/h. Damit bestimmt sich die mindestens be
nötigte Maskierschicht (für ein maximale Waferdicke
bzw. Ätztiefe von 400 µm) auf 1,24 µm. Für zusätzli
che Sicherheit ist sie bei der thermischen Oxidation
mit einer Dicke von 1,5 µm hergestellt worden.
Bedingung für eine exakte Übereinstimmung von Layout
berechnung und Ergebnis ist eine genaue Justierung
der erzeugten Öffnungen der SiO₂-Maskierschicht be
züglich der <110<-Richtung. Anderenfalls wird die
Oxidschicht unterätzt und im Ergebnis erhält man grö
ßere Öffnungen der Containments als vom Layout vor
gegeben. Nach einer Ätzdauer von ca. 6 h ist der Wa
fer mit den Containmentstrukturen versehen und kann
für den nächsten Prozeßschritt vorbereitet werden,
indem die im Ätzprozeß angegriffene Siliziumdioxid
schicht des Wafers mit Flußsäure entfernt werden. Um
eine gleichmäßige Isolierungsschicht 2 gegenüber dem
nachfolgend aufzubringenden Elektrodenmaterial von
150 nm zu erhalten, wird der mit Containments struk
turierte Wafer erneut oxidiert.
Ähnlich den vorherigen Technologieschritten ist bei
Anwendung der nachfolgend angewandten Lift-Off-Tech
nik die Strukturierung der aufzubringenden Chrom-Pla
tinschicht (Chrom dient nur als Haftvermittler) auf
grund der hohen Ätzresistenz von Platin nur mit Hilfe
einer Maskierschicht erreichbar. Dieses Verfahren
soll hier zunächst nur kurz erläutert werden:
Eine auf den Wafer aufgebrachte Oberflächenmetalli sierung aus Aluminium wird über bekannte fotolitho graphische Verfahren entsprechend dem Metallisie rungslayout strukturiert. Anschließend wird über die se Maskierschicht zunächst eine Chrom- und dann eine Platinschicht aufgetragen. Im nächsten Schritt wird die Maskierschicht entfernt (Lift-Off), so daß einzig die Platinschicht mit der darunterliegenden Chrom schicht (in der Fig. 1 nicht mit dargestellt) ent sprechend dem Layout auf der Waferoberfläche zurück bleibt.
Eine auf den Wafer aufgebrachte Oberflächenmetalli sierung aus Aluminium wird über bekannte fotolitho graphische Verfahren entsprechend dem Metallisie rungslayout strukturiert. Anschließend wird über die se Maskierschicht zunächst eine Chrom- und dann eine Platinschicht aufgetragen. Im nächsten Schritt wird die Maskierschicht entfernt (Lift-Off), so daß einzig die Platinschicht mit der darunterliegenden Chrom schicht (in der Fig. 1 nicht mit dargestellt) ent sprechend dem Layout auf der Waferoberfläche zurück bleibt.
Diese Technik ist nachfolgend detailliert
beschrieben:
Im ersten Prozeßschritt der Lift-Off-Technik wird der Wafer mit einer 1 µm starken Aluminiumschicht verse hen, wobei die Metallisierung über bekannte PVD-Ver fahren erfolgt.
Im ersten Prozeßschritt der Lift-Off-Technik wird der Wafer mit einer 1 µm starken Aluminiumschicht verse hen, wobei die Metallisierung über bekannte PVD-Ver fahren erfolgt.
Ein Lackauftrag nach dem "Spin-On"-Verfahren führt
auf dreidimensional strukturierten Oberflächen zu
keiner homogenen Lackschicht. Eine sichere Methode
zur homogenen Belackung bietet das Ionensprayverfah
ren (vgl. DE A1 42 28 344). Diese Technik nutzt eine
elektrohydrodynamische Ionenquelle mit einer Ionen
optik zum Versprühen des Fotoresists.
Im folgenden Fotolithographieprozeß wird das Alumini
um gemäß der Metallisierungsmaske mit Hilfe bekannter
Ätztechniken strukturiert. Die freigelegten Alumini
umflächen werden im nächstfolgenden Prozeßschritt mit
Phosphorsäure entfernt. Der gesamte Wafer erhält nun
eine Chrom-Platinschicht. Nach dem Lift-Off der Alu
miniummaskierschicht mit einer Natriumhydroxid-Lösung
verbleibt die Cr/Pt-Schicht lediglich auf den vorher
freigelegten SiO₂-Flächen.
Die Verkapselung des Sensorelementes mit einer Glas
platte 4 (z. B. Pyrexglas) wird unter Einsatz des ano
dischen Bondens bei einer Temperatur von 500°C und
einer Spannung von 300 V durchgeführt. Dabei werden
für die genutzte Verbindung von Silizium und Pyrex
glas beide Oberflächen durch elektrostatische Kräfte,
hervorgerufen durch Migration von Natrium-Ionen im
Glas bei erhöhten Temperaturen und angelegter elek
trischer Gleichspannung chemisch gebunden (vgl. Bütt
genbach: "Mikromechanik", Teubner; Stuttgart 1991,
S. 135).
Nach Zersägen des Siliziumwafers oder nach Ritzen und
Brechen erhält man die einzelnen Sensorelemente für
den Einschluß der Biokomponente.
In diesem Ausführungsbeispiel ist für die Herstellung
eines Glukosesensors als Immobilisierungsmaterial
Gelatine eingesetzt worden.
Das in amperometrischen Glukosesensoren vielfach ein
gesetzte Enzym Glukoseoxidase (GOD) wird nachfolgend
in gewünschter Konzentration der noch flüssigen Gela
tine zugegeben.
In Fig. 2 ist ein Sensorelement nach Fig. 1 darge
stellt, dessen Containment mit Gelatine 6 gefüllt
ist, die das immobilisierte Enzym GOD enthält. Das
Befüllungsverfahren wird weiter unten beschrieben.
Die Gelatineoberfläche im kleinen Fenster 5 des Con
tainments bildet später die aktive Sensoroberfläche.
Fig. 3 zeigt das Sensorelement nach Fig. 2 vollstän
dig. In Fig. 3a ist die Draufsicht durch den aufge
bondeten Glasdeckel hindurch, in Fig. 3b der Schnitt
und in Fig. 3c die Ansicht von der Unterseite darge
stellt.
Der Platinfilm 3 der im Containment 9 die Arbeits
elektrode zur H₂O₂-Detektion bildet, verläuft als
dünne strukturierte Leiterbahn 8 unter dem aufgebon
deten Glasdeckel 4 bis zu einer zweiten Öffnung 7
(Kontaktöffnung) im Siliziumsubstrat. In dieser Kon
taktöffnung 7 kann der Platinfilm z. B. durch Anlöten
oder Kleben mit Leitsilber mit einem Anschlußdräht
chen verbunden werden.
Die Befüllung des Containments erfolgt wie in Fig. 4
dargestellt.
Das Sensorelement 10 wird mindestens bis zur Höhe des
zu befüllenden Containments in die mit GOD versetzte
flüssige Gelatine 12 getaucht (in der Fig. 4 ist die
kleine Containmentöffnung 5 dargestellt). Wird nun
oberhalb der flüssigen Gelatine ein Vakuum erzeugt,
so tritt die im Containment befindliche Luft durch
die kleine Öffnung 5 heraus und das Containment füllt
sich mit der Gelatine und dem Enzym. Das Sensorele
ment wird aus der flüssigen Gelatine entnommen. Nach
dem Verfestigen der Gelatine im Containment ist die
Herstellung des Sensorelementes abgeschlossen.
Die Bestimmung von Glukosekonzentrationen in flüssi
gen Meßmedien kann mit diesem Mikrosensorelement in
gleicher Weise erfolgen, wie sie für konventionelle
Sensorelemente bekannt ist (vgl. Scheller a.a.O).
Wird das Sensorelement mit der kleinen Containment
öffnung in ein Meßmedium getaucht, in dem sich eine
Referenzelektrode (z. B. im einfachsten Fall ein chlo
ridisierter Silberdraht) befindet und wird ferner
zwischen dem Anschlußpunkt 7 (vgl. Fig. 3 und der
Referenzelektrode eine elektrische Spannung von 600
mV bis 700 mV angelegt, so kann im elektrischen
Stromkreis ein Strom gemessen werden, der proportio
nal zur Glukosekonzentration in der Meßlösung ist.
Im zweiten Ausführungsbeispiel ist die Referenzelek
trode gemeinsam mit der Arbeitselektrode auf einem
Chip integriert. Dies ist in der Fig. 5 in der Drauf
sicht dargestellt. Das Sensorelement, bestehend aus
Containment 9′, Leiterbahn 8′ und Kontaktöffnung 7′,
entspricht der Darstellung in Fig. 3a.
Zusätzlich wurde auf diesem Chip ein zweites Contain
ment 15 mit einer Leiterbahn 14 sowie einer Kontakt
öffnung 13 integriert. Die Metallschicht dieser zu
sätzlichen Struktur besteht hier nicht aus Platin,
sondern aus Silber, das im Bereich des Containments
15 z. B. elektrolytisch chloridisiert ist. Das Con
tainment 9′ wird, wie im ersten Ausführungsbeispiel,
z. B. mit Gelatine (mit immobilisierter GOD) befüllt.
Das Containment 15 kann ohne Befüllung bleiben. Im
Meßbetrieb füllt es sich mit dem Meßmedium. Ebenso
kann das Containment 15 mit dem gleichen Material
(mit oder ohne Biokomponente) befüllt werden wie das
Containment 9′.
Die Messung mit Hilfe dieses Sensorelementes erfolgt
so, daß nach Eintauchen der Containments 9′ und 15 in
die Meßlösung eine elektrische Spannung (600 mV bis
700 mV) zwischen den Metallisierungsschichten in den
Kontaktöffnungen 7′ bzw. 13 angelegt und der elektri
sche Strom gemessen wird.
Es ist aber auch möglich, die Edelmetall-Arbeitselek
trode und die Referenzelektrode in einem Containment
zu integrieren. Dies ist im Ausführungsbeispiel 3
beschrieben und in Fig. 6 in der Draufsicht (durch
den Glasdeckel hindurch) dargestellt. Hier befinden
sich die Edelmetallarbeitselektrode 24 z. B. aus Pla
tin oder Gold gemeinsam mit der Referenzelektrode 21
z. B. aus chloridisiertem Silber in dem Containment,
das auch das Membranmaterial mit der immobilisierten
Biokomponente enthält. Die Elektroden des Contain
ments sind über Leiterbahnen 23 bzw. 20 mit den Kon
taktöffnungen 22 bzw. 19 verbunden.
Alle in den vorhergehenden Ausführungsbeispielen dar
gestellten Strukturen lassen sich auch so realisie
ren, daß die Metallfilme nicht an der Oberfläche des
Siliziumsubstrates, sondern vor dem Aufbonden an der
Oberfläche des Glasdeckels erzeugt werden. Im vierten
Ausführungsbeispiel ist gezeigt, wie eine Struktur
nach Fig. 3b so abgewandelt wird, daß sich der Edel
metallfilm an der inneren Oberfläche des aufgebonde
ten Glasdeckels 4 befindet und im Containment mit dem
Membranmaterial 6 die Arbeitselektrode 25 und in der
Kontaktöffnung den Anschlußkontakt 26 bildet. Dazwi
schen befindet sich die Leiterbahn.
Claims (5)
1. Verfahren zur Herstellung eines Biosensorelemen
tes in Silizium-Technologie in einem Full-Wafer-
Prozeß mit folgenden Merkmalen:
- a) Einbringen eines Containments in Form einer von der Vorderseite ausgehenden und sich zur Rückseite verjüngenden Öffnung in ein dünnes Siliziumsubstrat,
- b) Aufbringen einer Schutzschicht wenigstens im Bereich der Öffnungen des Containments,
- c) Aufbringen mindestens eines Metallkontaktes als Arbeitselektrode mit Hilfe mikrolitho graphischer Verfahren ausgehend von dem Innenbereich des Containments bis zu einer auf dem Si-Substrat zusätzlich eingebrach ten Kontaktöffnung,
- d) Verschließen der vorderseitigen Öffnung und der Kontaktöffnung mit Hilfe einer dünnen Platte,
- e) Befüllen des Containments unter Vakuum mit dem sensitiven Membranmaterial und Verfe stigung unter UV-Bestrahlung und/oder Tem peratureinfluß.
2. Verfahren zur Herstellung eines Biosensorele
ments in Silizium-Technologie in einem Full-Wa
fer-Prozeß mit folgenden Merkmalen:
- a) Einbringen eines Containments in Form einer von der Vorderseite ausgehenden und sich zur Rückseite verjüngenden Öffnung in ein dünnes Siliziumsubstrat,
- b) Aufbringen einer Schutzschicht wenigstens im Bereich der Öffnungen des Containments,
- c) Einbringen einer zusätzlichen Kontaktöff nung im Si-Substrat,
- d) Aufbringen einer dünnen Platte auf die vor derseitige Öffnung des Containments und die Kontaktöffnung, wobei die dünne Platte mit einem Metallkontakt versehen ist, so daß das Containment und die Kontaktöffnung durch den Metallkontakt verbunden werden,
- e) Befüllen des Containments unter Vakuum mit dem sensitiven Membranmaterial und Verfe stigung unter UV-Bestrahlung und/oder Tem peratureinfluß.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Öffnungen mit einer dünnen, anodisch
gebondeten Glasplatte oder einem auflaminierten
Trockenresist verschlossen werden.
4. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche
1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Si-Wafer
neben dem Biosensorelement eine Referenzelektro
de analog dem Verfahren nach mindestens einem
der Ansprüche 1 bis 3 hergestellt wird.
5. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche
1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Si-Substrat
das Biosensorelement und die Referenzelektrode
in einem Containment integriert werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934337418 DE4337418C2 (de) | 1993-11-03 | 1993-11-03 | Verfahren zur Herstellung eines Biosensorelementes in Silizium-Technologie in einem Full-Wafer-Prozeß |
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DE19934337418 DE4337418C2 (de) | 1993-11-03 | 1993-11-03 | Verfahren zur Herstellung eines Biosensorelementes in Silizium-Technologie in einem Full-Wafer-Prozeß |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE4337418A1 DE4337418A1 (de) | 1995-05-04 |
DE4337418C2 true DE4337418C2 (de) | 1997-09-18 |
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ID=6501639
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DE (1) | DE4337418C2 (de) |
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DE102006019534A1 (de) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | CiS Institut für Mikrosensorik gGmbH | Mikrosensor |
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-
1993
- 1993-11-03 DE DE19934337418 patent/DE4337418C2/de not_active Expired - Fee Related
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