DE3921748C2 - Lese- und Programmiertreiberschaltung für eine programmierbare Speicherfeldanordnung in integrierter Schaltungstechnik - Google Patents
Lese- und Programmiertreiberschaltung für eine programmierbare Speicherfeldanordnung in integrierter SchaltungstechnikInfo
- Publication number
- DE3921748C2 DE3921748C2 DE3921748A DE3921748A DE3921748C2 DE 3921748 C2 DE3921748 C2 DE 3921748C2 DE 3921748 A DE3921748 A DE 3921748A DE 3921748 A DE3921748 A DE 3921748A DE 3921748 C2 DE3921748 C2 DE 3921748C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- programming
- node
- transistors
- read
- potential
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 title claims description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 2
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich allgemein auf löschbare programmier
bare Logikfeldbauelemente und insbesondere auf eine Lese- und
Programmiertreiberschaltung für eine programmierbare Speicher
feldanordnung in integrierter Schaltungstechnik (EPLDs).
Aus den US-PS'n 4 609 986 und 4 617 479 sind programmierbare
Logikfeldbauelemente unter Verwendung elektrisch programmier
barer Nur-Lese-Speicher (EPROMs) bekannt. Bei diesen bekannten
EPROM-Bauelementen gibt es eine teilungsbeschränkte Zone,
in der im Interesse einer optimalen
Funktionsweise des Bauelements gewisse Schaltungen liegen
müsen. Eine teilungsbeschränkte Zone ist ein begrenzter Ab
schnitt des Bauelements, besetzt von den Speicherzellen und
zugehöriger Schaltung, die eine physikalische Anordnung in der
Nähe der Speicherzellen bedingt. Typischerweise besteht die
teilungsbeschränkte Zone aus den Speicherzellen und einer
kritischen Schaltung, die in der Nähe und nicht physikalisch
entfernt von den Speicherzellen arbeiten muß. In typischer
Ausführung müssen Lese/Programmier-Schaltungen, Architektur
schaltungen und Makrozellen zum Verarbeiten von Logikfeldaus
gaben in diesen teilungsbeschränkten Zonen liegen. Die Nähe
ist notwendig, um die Kapazität und Leiterlänge zu reduzieren
und die Operationsgschwindigkeit des Bauelements damit ent
sprechend zu erhöhen.
Ein Maßstab für die effektive Nutzung eines EPROM-Bauelements
ist die Dichte der Speicherzellen. Typischerweise ist in einem
EPROM bei dessen Benutzung in der EPLD-Technologie eine Spei
cherzellenanordnung in einem zweidimensionalen Feld vorgese
hen, das von den zugehörigen Lese- und Programmierschaltungen
begrenzt ist. Um eine höhere Dichte zu erzielen, ist bei vie
len Bauelementen vorgesehen, daß mehrere Felder in einem ein
zigen integrierten Halbleiterchip einbezogen sind.
Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm einer typischen bekannten Kon
figuration von Zeilentreibern und Logikfeldern. Zwei Speicher
felder 13 sind durch einen Lesetreiber 12 getrennt darge
stellt. Jedes Speicherfeld 13 ist typischerweise als zweidi
mensionale Matrix ausgebildet, in der die Speicherzellen in
Spalten und Zeilen angeordnet sind. Die Struktur und Funktion
dieser Felder sind bekannt. Der Lesetreiber 12 ist so angeord
net, daß er auf Zeilen der Felder 13 während der Leseoperation
des Speichers 13 zugreift. Ein einziger Zeilen-Lesetreiber 12
dient zum Zugriff auf die Zeilen beider Speicherfelder 13.
Während des Programmierens der Felder 13 dient eine Program
miereinrichtung zur Lieferung von Signalen an die Zeilen eines
Feldes 13 zum Zwecke des Programmierens der entsprechenden
Speicherzelle des Feldes 13. Ein getrennter Programmiertreiber
11 ist jedem Speicherfeld 13 des beschriebenen Standes der
Technik zugeordnet.
Wie oben gesagt, liegt ein Problem bei der Konstruktion eines
EPLDs in der teilungsbegrenzten Zone.
Die Schaltung gemäß Fig. 1 kombiniert bereits die Zeilentrei
ber, welche die Zugriffsoperation während des Lesezyklus
durchführen.
Fig. 2 zeigt ein genaueres Blockschaltbild des Bauelements
gemäß Fig. 1. Der Zeilenlesetreiber 12 grenzt an die beiden Spei
cherfelder 13. Jedes Speicherfeld 13 grenzt auch an einen
Spaltendecodierer 16, eine Architekturschaltung 17 und Makro
zellen 19 an. Vier Makrozellen 0-3 verarbeiten die Ausgaben
vom oberen Speicherfeld 13 und vier Makrozellen 4-7 ver
arbeiten die Ausgaben vom unteren Speicherfeld 13. Ein
Adreßsignal zum Zugreifen auf das Speicherfeld 13 wird als
Eingabe an die Eingangsschaltung 14 angelegt und von dort an
den Adreßdecodierer 15 sowie an den Lesetreiber 12. Der Adreß
decodierer 15 ist mit den Programmierzeilentreibern 11 und den
Spaltendecodierern 16 gekoppelt. Der Adreßdecodierer 15 deco
diert die Eingangsadreßsignale und liefert die Zeilen- und
Spalteninformation für den Zugriff und das Programmieren des
Speicherfeldes 13. Programmierschaltungen 11 sind so angeord
net, daß sie mit dem entsprechenden Spaltendecodierer 16 wäh
rend eines Programmierzyklus zusammenarbeiten.
Die Ausgaben oder Ausgänge vom Speicherfeld 13 sind mit geeig
neten Makrozellen 19 gekoppelt und werden entsprechend dem
Schaltungsaufbau der Makrozelle 19 verarbeitet. In einigen
Fällen bildet oder bilden eine oder mehrere Makrozellen 19 ein
Rückkopplungssignal zum Feld 13 zur Erzielung der Funktion
einer Folgelogikschaltung.
Ein Ausführungsbeispiel einer bekannten Schaltung ist in Fig.
3 gezeigt, die ein Schaltbild eines Lesetreibers 61 und eines
Programmiertreibers 62 ist, welche den Lese- und Programmier
teilen der Treiber 12 und 11 gemäß Fig. 1 äquivalent sind.
Diese Schaltung ist unter Verwendung der komplementären Me
talloxidhalbleitertechnologie (CMOS) implementiert. Treiber 61
dient zum Lesen eines EPROM-Feldes 72 über eine Wortleitung
36. Der Programmiertreiber 62 dient zum Programmieren des
EPROM-Feldes 72. Das Feld 72 ist sowohl mit dem Lesetreiber 61
als auch dem Programmtreiber 62 über die Wortleitung 36 gekop
pelt. Wenn zwei Speicherfelder benutzt werden, so wäre eine
zweite Gruppe aus EPROM-Feld 72 und Programmtreiber 62 mit dem
Lesetreiber 61 gekoppelt. Mehrere dieser Treiber 61 und 62
wären notwendig, und zwar einer für jede Zeile der Speicher
felder und jeder aktiviert durch ein korrespondierendes Zei
lenadreßsignal.
Der Lesetreiber 61 besteht aus Transistoren 101, 102, 103 und
104, die in Reihe zwischen VPI und VSS liegen. Ein Gate des
Transistors 104 ist mit einem Treiberaktivierungssignal ENA
gekoppelt, und das Gate des Transistors 101 ist so angeordnet,
daß es vom Komplementärwert des ENA-Signals angesteuert wird.
Ein Lesesignal wird an das Gate der Transistoren 102 und 103
angelegt. Bei dieser speziellen bekannten Schaltung sind die
Transistoren 101 und 102 p-Kanal-Transistoren und die Transi
storen 103 und 104 sind n-Kanal-Transistoren. Die Wortleitung
36 ist mit den Drain-Elektroden der Transistoren 102 und 103
verbunden; VSS ist in dem beschriebenen Beispiel Erdpoten
tial.
Der Programmiertreiber 62 hat zwei Programmieraktivierungssi
gnale PGMEN1 und PGMEN2. PGMEN1 liegt an den Gate-Elektroden
der Transistoren 109 und 111. Transistoren 109 und 111 sind
zwischen VPI und VSS in Reihe geschaltet und arbeiten als
CMOS-Treiber, wobei Transistor 109 ein p-Kanal- und 111 ein
n-Kanal-Transistor ist. Die Transistoren 106, 107 und 108
liegen in Reihe zwischen VPI und Erde. Transistor 106 ist ein
p-Kanal-Bauelement und Transistoren 107 und 108 sind n-Kanal-
Bauelemente. PGMEN2 liegt am Gate des Transistors 107, und
die Wortleitung 36 ist mit den Drain-Elektroden der Transisto
ren 106 und 107 gekoppelt. Die Gates der Transistoren 106 und
108 sind zusammen an den Verbindungspunkt der Drain-Elektroden
der Transistoren 109 und 111 angeschaltet. Mehrere Zeilen
adreßleitungen RAx sind jeweils mit den Gate-Elektroden ihrer
zugehörigen Transistoren 110 gekoppelt. Obwohl nur eine Adreß
leitung für einen Zugriff auf eine spezielle Zeile verwendet
werden kann, dienen Vielfachtransistoren in vielen bekannten
Bauelementen zur Schaffung einer selektiven Steuerung während
der Programmierzyklen. Alle Transistoren liegen in Reihe zwi
schen VSS und Verbindungspunkten der Drain-Elektroden der
Transistoren 109 und 111. Die Transistoren 110 sind alle n-Ka
nal-Transistoren. Wenn diese spezielle Zeile der Matrix 72
angesteuert werden soll, müssen alle RAx-Leitungen auf hohem
Potential sein, wodurch ein niedriges Potential an das Gate
des Transistors 106 angelegt und der Transistor 106 leitend
gemacht wird. Dadurch wird das Potential VPI auf die Wortlei
tung 36 gelegt. Wenn diese spezielle Zeile nicht angesteuert
ist, ist wenigstens eine der RAx-Leitungen auf einem niedrigen
Potential, wodurch der Transistor 108 leitend ist und ein
niedriges Potential auf der Wortleitung 36 liegt.
Während eines Lesemodus sind die Signalzustände wie folgt:
PGMEN1 = 0 (niedrig)
PGMEN2 = 0 (niedrig)
READ = 1 oder 0
ENA = 1
VPI = VCC (typischerweise +5 V)
PGMEN2 = 0 (niedrig)
READ = 1 oder 0
ENA = 1
VPI = VCC (typischerweise +5 V)
Der Leseeingang ist entweder Eins oder Null, was von dem
Strom-Eingangszustand des Bauelements abhängt, und wird von
dem durch die Transistoren 101-104 gebildeten Inverter inver
tiert. Von dem Lesetreiber 61 wird die Wortleitung 36 entweder
auf ein hohes oder ein niedriges Potential getrieben.
Zum Programmieren des EPROM werden die folgenden Signalzustän
de benutzt:
PGMEN1 = 0
PGMEN2 = 1
READ = X (Drei-Zustands-Hoch-Z)
ENA = 0
VPI = VPP (typischerweise +12 V)
PGMEN2 = 1
READ = X (Drei-Zustands-Hoch-Z)
ENA = 0
VPI = VPP (typischerweise +12 V)
Mit dieser Signalanordnung wird Transistor 108 leitend und
gibt ein niedriges Potential auf die Wortleitung 36. Wenn
jedoch die RAx-Leitungen alle Transistoren 110 leitend machen,
so wird Transistor 108 gesperrt, und der Transistor 106 wird
leitend, wodurch das Potential. VPI auf die Wortleitung 36
gelegt wird.
Bei diesen Vielfachfelder benutzenden bekannten Konstruktionen
wurden einige Schaltungen dupliziert.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, durch eine weitere Verrin
gerung der Größe der Lese- und Programmiertreiber-Schaltung die
Aufnahme zusätzlicher Speicherzellen in den teilungsbegrenzten
Zonen zu ermöglichen.
Die Erfindung integriert die Lese- und Programmierzeilentrei
berschaltungen für EPLD-Bauelemente. Durch Kombination der
Schaltung der Lese- und Programmiertreiber ist es möglich, die
physikalische Größe der zugehörigen Schaltung in einer tei
lungsbegrenzten Zone des Bauelements zu verringern. Der inte
grierte Lese- und Programmiertreiber dient zur Steuerung des
Zeilenadreßzugriffs des Bauelements, das mit einer Vielzahl
von Speicherfeldern versehen ist.
Das erfindungsgemäße Bauelement verwendet eine CMOS-Schaltung,
bei der jede Wortleitung mit dem Ausgang eines CMOS-Inverters
gekoppelt ist. Die Gates der Ausgangsinverter sind an einem
Knoten zusammengeschaltet. Dieser Knoten ist auch mit einem
Anschlußpunkt eines anderen CMOS-Inverters gekoppelt, dessen
Gate während einer Leseoperation von einem Lesesignal gesteu
ert wird. Das Lesesignal steuert die Aktivierung dieses ande
ren CMOS-Inverters, der daraufhin die entsprechenden Transi
storen der Ausgangsinverter aktiviert.
Zum Programmieren dienen mehrere Programmiertransistoren, die
in Reihe an den Knotenpunkt angeschaltet sind. Der Knotenpunkt
wird auf einen hohen Zustand angehoben. Wenn eine angesteuerte
Zeile zum Programmieren adressiert werden soll, aktivieren die
Adreßsignale die Vielzahl von Programmiertransistoren und
machen diese leitend, wodurch der Knotenpunkt auf einen niedri
gen Potentialzustand heruntergezogen wird.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
gekennzeichnet.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in der Zeichnung
schematisch dargestellten Ausführungsbeispeils näher erläu
tert. In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm einer bekannten Organisation
eines Speicherfeldes, eines Lesetreibers und
Programmiertreiber;
Fig. 2 ein genaueres Blockdiagramm mit der Gesamtar
chitektur des bekannten Bauelements unter Ein
beziehung der Architektur gemäß Fig. 1;
Fig. 3 ein schematisches Schaltbild des bekannten
Lesetreibers und Programmtreibers;
Fig. 4 ein Blockschaltbild, das die Organisation von
Logikfeldern und den Lese/Programmtreiber nach
der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 5 ein genaueres Blockschaltbild, das eine voll
ständige Architektur des Bauelements unter
Einbeziehung der Architektur gemäß Fig. 4
zeigt; und
Fig. 6 ein Schaltbild des Lese/Programmiertreibers bei
dem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfin
dung.
Beschrieben wird eine integrierte Lese- und Programmiertrei
berarchitektur und -schaltung zur Verwendung in einem EPLD. In
der folgenden Beschreibung werden zahlreiche spezielle Einzel
heiten angegeben, um das Verständnis für die Erfindung zu
erleichtern. Es ist jedoch für den Fachmann klar, daß die
Erfindung auch ohne diese speziellen Einzelheiten realisiert
werden kann. In anderen Fällen sind bekannte Verfahren und
Strukturen nicht im einzelnen beschrieben, um die Erfindung
nicht mit unnötigen Details zu belasten.
Die Erfindung stellt eine Weiterentwicklung des bekannten
Bauelements dar, das in der Beschreibungseinleitung genauer
erläutert wurde.
Fig. 4 zeigt die erfindungsgemäße Architektur, bei der ein
integrierter Lese- und Programmiertreiber 21 so angeordnet
ist, daß er das Lesen und Programmieren des Speicherfelds 22
bewirkt. Das Speicherfeld 22 ist äquivalent dem EPROM-Spei
cherfeld 13 der herkömmlichen Ausführung gemäß Fig. 1, ist
jedoch nicht auf diese entsprechende Ausbildung beschränkt.
Die beschriebene Konfiguration ist eine Verbesserung der be
kannten Schaltung gemäß Fig. 1, und zwar dergestalt, daß die
Programmier- und Lesetreiber zu einem einzigen Lese- und Pro
grammiertreiber 21 kombiniert sind, der beide Speicherfelder
22 bedient. Dadurch wird die Größe der den Speicherfeldern 22
zugeordneten Schaltung verringert. Durch Verringerung der
Größe der Lese- und Programmierschaltung in der begrenzten
Zone können zusätzliche EPROM-Zellen eingebaut und die Zellen
dichte erhöht werden. Ein anderer Gesichtspunkt bei der Kon
struktion von EPLD-Bauelementen ist die Operationsgeschwindig
keit der Lese- und Programmiertreiber. Generell ist nur die
Geschwindigkeit der Leseschaltung von Bedeutung, da das Pro
grammieren ein seltenes Ereignis darstellt. Die Leseoperation
sollte jedoch relativ rasch abgewickelt werden können, da
diese Bauelemente typischerweise in Lesemodus betrieben wer
den. Die folgende Beschreibung zeigt, daß die Geschwindigkeit
der Abwicklung der Lesefunktion bei der Erfindung zumindest
ebenso hoch wie beim Stande der Technik ist, wobei jedoch der
zusätzliche Vorteil einer Erhöhung der gesamten Schaltungs
dichte erzielt wird.
Eine genauere Blockdarstellung des erfindungsgemäßen EPLD ist
in Fig. 5 gezeigt. Wie in Fig. 5 zu sehen ist, liegt ein Lese-
und Programmierzeilentreiber 21 zwischen zwei Speicherfeldern
22. Ein Adreßsignal wird als ein Eingangssignal an die Ein
gangsschaltung 14a und über diese an einen Decodierer 15a
angelegt. Die Eingangsschaltung 14a ist auch mit dem Leseteil
des Treibers 21 gekoppelt. Der Decodierer 15a erhält ein Ein
gangssignal und liefert eine Zeilen- und Spaltenadresse. Der
Decodierer 15a ist derart mit dem Zeilentreiber 21 gekoppelt,
daß er eine decodierte Adresse an den Programmierteil des
Treibers 21 liefern kann. In ähnlicher Weise ist der Decodie
rer 15a mit dem Spaltendecodierer 16a zur Entwicklung einer
Spaltenadresse gekoppelt. Die Zeilenadresse wählt die Zeile
und die Spaltenadresse die Spalte für einen Zugriff auf eine
Zelle eines Matrixfeldes 22. Die Ausgänge der Speicherfelder
sind mit Makrozellen 19a gekoppelt. Die Funktionsweise der
Schaltungen 14a, 15a, 16a, 17a und 19a entspricht derjenigen
der mit gleichen Bezugszeichen ohne nachgestelltes "a" be
zeichneten Komponenten in Fig. 2. Die Programmiertreiber 11
für jedes der Speicherfelder 13 der Fig. 1 und 2 sind bei
der Erfindung durch einen einzigen Programmiertreiber ersetzt.
Es ist klar, daß verschiedene andere Adressier- und Decodier
schemata bei der Realisierung der Erfindung verwendet werden
können.
Ein Teil des integrierter Lese- und Programmierzeilentreibers
21 der Erfindung ist in Fig. 6 gezeigt. Die Treiberschaltung
60 der Fig. 6 wiederholt sich für jede Zeile des Speicherfel
des 22. Der Treiber 60 ist innerhalb der teilungsbegrenzten
Zone angeordnet und benutzt die CMOS-
Technologie. Von jedem Treiber 60 gehen zwei Wortleitungen 45
und 46 zu jeweils einem zugehörigen Speicherfeld, und zwar als
Ausgang von entsprechenden CMOS-Invertern, die durch Transi
storen 50 und 51 gebildet sind. Beide Transistoren 50 (50a und
50b) sind p-Kanal-Transistoren, und Transistoren 51 (51a und
51b) sind n-Kanal-Transistoren. Die Transistoren 50 und 51
jeder Gruppe liegen in Reihe zwischen VPI und VSS, welch letz
teres im beschriebenen Ausführungsbeispiel Erdpotential ist.
Ein p-Kanal-Transistor 52 und ein n-Kanal-Transistor 56 liegen
in Reihe zwischen VPIX und VSS und bilden einen CMOS-Inverter,
wobei ein Knotenpunkt 44 mit den Drain-Elektroden 52 und 56
gekoppelt ist. Eine Vielzahl von n-Kanal-Transistoren 58 sind
zwischen dem Knotenpunkt 44 und Erde derart angeordnet, daß
sie parallel zum Transistor 56 angeordnet sind. Die Gates der
Transistoren 58 sind jeweils mit Zeilen-Adressierleitungen
derart gekoppelt, daß bei Adressierung der besonderen Zeile
alle Transistoren 58 leitend sind, wodurch ein niedriges
(Erd-)Potential an den Knotenpunkt 44 angelegt wird. Die Gates
der Transistoren 52 und 56 sind so angeordnet, daß ihnen ein
Leseeingangssignal RI zugeführt wird.
Funktionell sind X1-Xm Zeilenadreßleitungen, die vom Deco
der 15a der Fig. 5 oder von anderen zugehörigen Programmier
schaltungen kommen können. Es ist für den Fachmann klar, daß
diese Leitungen auch direkt vom Adreßbus abgeleitet werden
können. Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel kommen die
Xi-Eingänge vom Decodierer 15a. Wie bei dem beschriebenen
Ausführungsbeispiel vorgesehen, ist der innerhalb des gestri
chelten Blocks dargestellte Teil des Treibers 60 in der den
X1-Transistor enthaltenden teilungsbeschränkten Zonen des
Bauelements angeordnet. Eine Anzahl von Transistoren 58 liegen
außerhalb der teilungsbeschränkten Zone, und zwar typischer
weise mit der zugehörigen Schaltung. Während einer Leseopera
tion wird wenigstens einer der X1-Eingänge auf Null gesetzt,
um den Programmierzweig des Transistors 58 zu entaktivieren,
so daß der Zustand des Leseeingangs RI entweder Transistor 52
oder 56 aktiviert und die Transistoren 51 oder 50 leitend
werden läßt. Während des Lesebetriehs ist VPI gleich VCC.
Zum Programmieren wird RI auf einen niedrigen Wert gesetzt, um
Transistor 52 zu aktivieren und dadurch VPIX auf das Potential
des Knotenpunkts 44 zu legen. Wenn diese spezielle Zeile pro
grammiert werden soll, wird X1-Xm auf ein hohes Potential
gesetzt, wodurch alle Transistoren 58 dieser Zeile leitend
geschaltet werden. Dadurch sinkt das Potential des Knoten
punkts 44. Die Transistoren 52 und 58 wirken in einem solchen
Verhältnis, daß eine längere Zeit zur Aktivierung der Transi
storen 50 zur Verfügung stehen kann. Dies liegt daran, daß der
Knotenpunkt 44 sehr nahe an Erde gebracht werden muß, damit
die Transistoren leitend werden und VPI an Wortleitungen 45
und 46 angelegt wird. VPI ist im Programmierbetrieb gleich
VPP. Obwohl der Programmierzyklus eine etwas längere Zeit
brauchen kann als bei der bekannten Schaltung gemäß Fig. 3,
ist der vor allem entscheidende Lesezyklus zeitlich nicht
beeinflußt. Wie jedoch zu erkennen ist, ist die physikalische
Größe der Lese- und Programmierschaltung in der teilungsbe
grenzten Zone wesentlich reduziert.
Es ist auch erkennbar, daß bei Ansteuerung der Zeile die Spal
tensignale die gewünschte Speicherzelle aus der angesteuerten
Zeile auswählen. Außerdem kann die zuvor beschriebene Program
miersequenz auch während der Verifizierzyklen verwendet wer
den.
Claims (8)
1. Lese- und Programmiertreiberschaltung für eine program
mierbare Speicherfeldanordnung in integrierter Schaltungstech
nik,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Wortleitung (45, 46) des Speicherfeldes (22) von einem Ausgangstreiber (50, 51) angesteuert ist, der mit einem Knotenpunkt (44) derart gekoppelt ist, daß ein an dem Knoten punkt anstehendes Potential den Betrieb des Ausgangstreibers (50, 51) steuert,
daß ein erster Transistor (52) zwischen dem Knotenpunkt (44) und einer Stromquelle (VPIX) angeordnet ist,
daß ein zweiter Transistor (56) zwischen dem Knotenpunkt (44) und einer Rückleitung (VSS) der Stromquelle angeordnet ist,
daß einer der ersten und zweiten Transistoren (52, 56) von einem an seinem Gate anstehenden Lesesteuersignal (RI) während einer Leseoperation aktivierbar ist,
daß mehrere Programmiertransistoren (58) zwischen dem Knotenpunkt und der Rückleitung in Reihe liegen und durch an ihre Gates angelegte Programmiersteuersignale aktivierbar sind, und
daß der erste Transistor (52) während des Programmierens aktiviert ist und mit den Programmiertransistoren (58) zur Steuerung des Ausgangssignals des Ausgangstreibers (50, 51) zusammenwirkt.
daß eine Wortleitung (45, 46) des Speicherfeldes (22) von einem Ausgangstreiber (50, 51) angesteuert ist, der mit einem Knotenpunkt (44) derart gekoppelt ist, daß ein an dem Knoten punkt anstehendes Potential den Betrieb des Ausgangstreibers (50, 51) steuert,
daß ein erster Transistor (52) zwischen dem Knotenpunkt (44) und einer Stromquelle (VPIX) angeordnet ist,
daß ein zweiter Transistor (56) zwischen dem Knotenpunkt (44) und einer Rückleitung (VSS) der Stromquelle angeordnet ist,
daß einer der ersten und zweiten Transistoren (52, 56) von einem an seinem Gate anstehenden Lesesteuersignal (RI) während einer Leseoperation aktivierbar ist,
daß mehrere Programmiertransistoren (58) zwischen dem Knotenpunkt und der Rückleitung in Reihe liegen und durch an ihre Gates angelegte Programmiersteuersignale aktivierbar sind, und
daß der erste Transistor (52) während des Programmierens aktiviert ist und mit den Programmiertransistoren (58) zur Steuerung des Ausgangssignals des Ausgangstreibers (50, 51) zusammenwirkt.
2. Treiberschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Ausgangstreiber aus einem CMOS-Inverter-Transistorpaar
(50, 51) besteht.
3. Treiberschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß ein zweites CMOS-Inverter-Transistorpaar (52, 56) mit dem
Knotenpunkt (44) gekoppelt ist.
4. Treiberschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da
durch gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten Transistoren
(52, 56) als CMOS-Inverterpaar ausgebildet sind, wobei das
Gate jedes der ersten und zweiten Transistoren (52, 56) mit
dem Lesesteuersignal (RI) beaufschlagbar ist.
5. Treiberschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da
durch gekennzeichnet, daß die Programmiertransistoren (58) so
angeordnet sind, daß nur einer in einer teilungsbeschränkten
Zone (60) eines EPROM-Feldes angeordnet ist.
6. Treiberschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, da
durch gekennzeichnet, daß die programmierbare Speicherfeldan
ordnung aus mehreren elektrisch programmierbaren Nur-Lese-
Speicherfeldern (EPROM) besteht, von denen jedes als Matrix
in Zeilen- und Spaltenanordnung vorgesehen und mittels Zeilen-
und Spaltenadreßsignalen zugreifbar ist.
7. Treiberschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß mehrere Ausgangsinverter (50a, 51a;
50b, 51b) vorgesehen sind, die in Abhängigkeit von dem Poten
tial am Knotenpunkt (44) gesteuert sind und eine ihnen jeweils
zugeordnete Wortleitung (45; 46) treiben, daß die ersten und
zweiten Transistoren (52, 56) mit ihren Gates derart angeord
net sind, daß sie während eines Lesezyklus ein Leseaktivie
rungssignal erhalten, aufgrund dessen einer der ersten und
zweiten Transistoren (52 oder 56) das Potential auf dem Kno
tenpunkt (44) zum Aussteuern der Ausgangsinverter bestimmt,
und daß das Gate jedes der in Reihe geschalteten Programmier
transistoren (58) mit dem Programmiersignal selektiv beauf
schlagbar ist, wobei durch Aktivierung aller Programmiersigna
le die in Reihe geschalteten Programmiertransistoren (58)
während eines Programmierzyklus leitend gemacht werden, und
wobei die Anordnung so getroffen ist, daß die Ausgangsinverter
(50a, 51a; 50b, 51b) während des Lesezyklus ein erstes Aus
gangspotential (VCC) und dessen Gegenpotential (VSS) und wäh
rend des Programmierzyklus ein zweites Ausgangspotential (VPP)
und dessen Gegenpotential erzeugen.
8. Lese- und Programmiertreiberschaltung zum Treiben der
Wortleitungen eines CMOS-löschbaren und programmierbaren Lo
gikbauelements mit zwei Speicherfeldern, insbesondere nach
einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein
erster Ausgangsinverter zwei Transistoren (50a, 51a) aufweist,
von denen ein als p-Kanal-Transistor (50a) ausgebildeter er
ster Transistor mit der Source-Elektrode an eine erste Strom
quelle (VPI), mit der Drain-Elektrode an eine erste Wortlei
tung (45) und mit der Gate-Elektrode an einen Knotenpunkt (44)
angeschaltet ist und ein erster n-Kanal-Transistor (51a) mit
der Source-Elektrode an die Stromquellenrückleitung, mit der
Drain-Elektrode an die erste Wortleitung (45) und mit der
Gate-Elektrode an den Knotenpunkt (44) angeschaltet ist, so
daß ein Potential an dem Knotenpunkt (44) den ersten Ausgangs
inverter (50a, 51a) steuert, daß ein zweiter Ausgangsinverter
ein zweites Transistorpaar (50b, 51b) mit einem zweiten p-Ka
nal-Transistor (50b) und einem zweiten n-Kanal-Transistor
(51b) aufweist, wobei der zweite p-Kanal-Transistor (50b)
Source-seitig mit der ersten Stromquelle (VPI), Drain-seitig
mit einer zweiten Wortleitung (46) und Gate-seitig mit dem
Knotenpunkt (44) verbunden ist und ein zweiter n-Kanal-Transi
stor (51b) Source-seitig mit der Stromquellenrückleitung,
Drain-seitig mit der zweiten Wortleitung (46) und Gate-seitig
mit dem Knotenpunkt (44) derart gekoppelt ist, daß das Poten
tial an dem Knotenpunkt (44) den zweiten Ausgangsinverter
(50b, 51b) steuert, daß ein dritter p-Kanal-Transistor Source-
seitig mit einer zweiten Stromquelle (VPX), Drain-seitig mit
dem Knotenpunkt (44) und Gate-seitig mit einer Lesesignallei
tung (41) gekoppelt ist, daß ein dritter n-Kanal-Transistor
(56) Source-seitig mit der Stromquellenrückleitung (VSS),
Drain-seitig mit dem Knotenpunkt (44) und Gate-seitig mit der
Lese-Signalleitung (41) gekoppelt ist, wobei das Lesesignal
(RI) entweder den dritten n-Kanal-Transistor (52) oder den
dritten p-Kanal-Transistor (56) zur Steuerung des Potentials
an dem Knotenpunkt während eines Lesezyklus aktiviert, und daß
mehrere n-Kanal-Programmiertransistoren (58) zwischen dem
Knotenpunkt (44) und der Rückleitung in Reihe und parallel zum
dritten n-Kanal-Transistor (56) geschaltet sind, wobei während
eines Programmierzyklus der dritte p-Kanal-Transistor (52)
aktiviert und der dritte n-Kanal-Transistor (56) entaktiviert
ist, so daß die Programmiertransistoren (58) das Potential auf
dem Knotenpunkt (44) steuern.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/222,408 US4875191A (en) | 1988-07-21 | 1988-07-21 | Integrated read and programming row driver |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3921748A1 DE3921748A1 (de) | 1990-01-25 |
DE3921748C2 true DE3921748C2 (de) | 1998-08-27 |
Family
ID=22832056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3921748A Expired - Lifetime DE3921748C2 (de) | 1988-07-21 | 1989-07-01 | Lese- und Programmiertreiberschaltung für eine programmierbare Speicherfeldanordnung in integrierter Schaltungstechnik |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4875191A (de) |
JP (1) | JP2737005B2 (de) |
DE (1) | DE3921748C2 (de) |
FR (1) | FR2634576B1 (de) |
GB (1) | GB2221112B (de) |
HK (1) | HK1000477A1 (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5983108A (en) | 1992-01-27 | 1999-11-09 | Highwaymaster Communications, Inc. | Method and apparatus for a nation-wide cellular telephone network |
KR100256322B1 (ko) * | 1994-03-03 | 2000-05-15 | 제니 필더 | 파울러-노드하임 프로그래밍 및 이레이즈를 이용한 저전압 단일트랜지스터 플래쉬 이이피롬셀 |
JP2004348815A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Sharp Corp | 半導体記憶装置のドライバ回路及び携帯電子機器 |
JP2004348817A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Sharp Corp | 半導体記憶装置、そのページバッファリソース割当方法及び回路、コンピュータシステム並びに携帯電子機器 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4609986A (en) * | 1984-06-14 | 1986-09-02 | Altera Corporation | Programmable logic array device using EPROM technology |
US4617479A (en) * | 1984-05-03 | 1986-10-14 | Altera Corporation | Programmable logic array device using EPROM technology |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4782247A (en) * | 1984-08-08 | 1988-11-01 | Fujitsu Limited | Decoder circuit having a variable power supply |
JPS62202398A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1988
- 1988-07-21 US US07/222,408 patent/US4875191A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-04-06 GB GB8907790A patent/GB2221112B/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-07-01 DE DE3921748A patent/DE3921748C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-07-06 JP JP17317889A patent/JP2737005B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-07-19 FR FR8909706A patent/FR2634576B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-09-16 HK HK97101795A patent/HK1000477A1/xx not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4617479A (en) * | 1984-05-03 | 1986-10-14 | Altera Corporation | Programmable logic array device using EPROM technology |
US4617479B1 (en) * | 1984-05-03 | 1993-09-21 | Altera Semiconductor Corp. | Programmable logic array device using eprom technology |
US4609986A (en) * | 1984-06-14 | 1986-09-02 | Altera Corporation | Programmable logic array device using EPROM technology |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2634576A1 (fr) | 1990-01-26 |
JPH0273596A (ja) | 1990-03-13 |
GB2221112A (en) | 1990-01-24 |
GB2221112B (en) | 1992-09-16 |
DE3921748A1 (de) | 1990-01-25 |
HK1000477A1 (en) | 1998-03-27 |
FR2634576B1 (fr) | 1993-05-07 |
US4875191A (en) | 1989-10-17 |
JP2737005B2 (ja) | 1998-04-08 |
GB8907790D0 (en) | 1989-05-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3041176C2 (de) | ||
DE2654278C2 (de) | ||
DE3839113C2 (de) | ||
DE2556275C2 (de) | Programmierbare logische Schaltung hoher Dichte | |
DE3779705T2 (de) | Integrierte speicherschaltung mit blockadressierung. | |
DE69026673T2 (de) | Bitzeile-Segmentierung in einer logischen Speicheranordnung | |
DE2742526A1 (de) | Elektrisch programmierbarer mos- festwertspeicher | |
DE2601622A1 (de) | Programmierbarer und loeschbarer festwertspeicher | |
DE4036973A1 (de) | Schaltkreis zum erzeugen einer hochspannung fuer einen halbleiterspeicherschaltkreis | |
DE2455178A1 (de) | Integrierte, programmierbare logikanordnung | |
DE69908340T2 (de) | Seitenmoduslöschverfahren in flash-speichermatrize | |
DE2001471A1 (de) | Bitorientierte Speicheranordnung | |
EP0224887B1 (de) | Gate Array Anordnung in CMOS-Technik | |
DE2625351A1 (de) | Matrixschaltung und daraus gebildeter dekoder | |
DE3921748C2 (de) | Lese- und Programmiertreiberschaltung für eine programmierbare Speicherfeldanordnung in integrierter Schaltungstechnik | |
DE69514802T2 (de) | Verfahren zum Parallel-Programmieren von Speicherwörtern und entsprechende Schaltung | |
DE2022256C2 (de) | Festwertspeicher- und Decoderanordnung | |
DE3855180T2 (de) | Programmierbarer Halbleiterspeicher | |
DE69125576T2 (de) | Speicheranordnung mit Abtastverstärkern vom Stromspiegeltyp | |
DE2544434A1 (de) | Integrierte schaltung in dynamischer cmos-technik | |
EP0066050B1 (de) | Programmierbare logische hochintegrierte Schaltungsanordnung | |
DE69800257T2 (de) | Integrierte elektrische programmierbare nichtflüchtige Speicheranordnung mit Konfigurationsregister | |
DE69029703T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung mit verbessertem "Lay-Out" | |
EP0393434A2 (de) | Statischer Speicher | |
DE4211950A1 (de) | Halbleiter-speicheranordnung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G11C 16/06 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8330 | Complete disclaimer |