DE3815567A1 - Automatische impedanzeinstelleinheit fuer ein magnetresonanz-abbildungssystem - Google Patents
Automatische impedanzeinstelleinheit fuer ein magnetresonanz-abbildungssystemInfo
- Publication number
- DE3815567A1 DE3815567A1 DE3815567A DE3815567A DE3815567A1 DE 3815567 A1 DE3815567 A1 DE 3815567A1 DE 3815567 A DE3815567 A DE 3815567A DE 3815567 A DE3815567 A DE 3815567A DE 3815567 A1 DE3815567 A1 DE 3815567A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- impedance
- variable
- probe head
- impedance adjusting
- unit according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/32—Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
- G01R33/36—Electrical details, e.g. matching or coupling of the coil to the receiver
- G01R33/3628—Tuning/matching of the transmit/receive coil
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine automatische Impedanzeinstelleinheit
zum Einstellen der Impedanz eines Sondenkopfes
zum Aussenden und Empfangen eines Hochfrequenz- oder HF-
Signals zur Anpassung desselben an einen Wellenwiderstand
einer Speiseleitung (feeder line) in einem Magnetresonanz-
Abbildungssystem.
Ein Sondenkopf dient bei einem Magnetresonanz-Abbildungssystem
oder MRI-System als Antenne zum Aussenden eines HF-
Signals für das Anregen einer Magnetresonanz-(HF-)Erscheinung
und zum Empfangen eines HF-Signals, d. h. eines durch
die Magnetresonanz- oder MR-Erscheinung erzeugten MR-Signals.
Der Sondenkopf kann dabei von einer sowohl für Aussenden
als auch Empfangen eines HF-Signals verwendeten
Art oder von einer nur für Empfang eines HF-Signals eingesetzten
Art sein. Der Sondenkopf weist eine aus Sattelspulen
bestehende HF-Spule auf.
Fig. 1 zeigt ein Äquivalentschaltbild eines Sondenkopfes.
Dieser ist mit einem Kabel eines Wellenwiderstands Zc
(meist Zc=50 Ω) verbunden. Ein Sondenkopf für sowohl
Aussenden als auch Empfangen ist gewöhnlich in einer bestimmten
Stellung festgelegt. Ein Empfangstyp-Sondenkopf
wird dagegen entsprechend Diagnosearten in einer Vielzahl
von Stellungen angeordnet. Der durch dieses Äquivalentschaltbild
dargestellte Sondenkopf ist durch variable
oder regelbare Kondensatoren C 1V , C 2A und C 2B (wobei die
Kapazität des variablen Kondensators C 1V gleich C₁ ist
und die Kapazitäten der variablen Kondensatoren C 2A und
C 2B gleich C₂ sind), die an eine Hochfrequenz- bzw. HF-
Spule angeschlossen sind, sowie die Äquivalentinduktivität
L der HF-Spule und einen Äquivalentparallelwiderstand
R der HF-Spule gebildet. Mit Zi ist dabei die Eingangsimpedanz
des Sondenkopfes bezeichnet.
Bei Verwendung dieses Sondenkopfes muß die Eingangsimpedanz
Zi so eingestellt (angepaßt) werden, daß sie dem
Wellenwiderstand Zc eines Kabels gleich ist.
Diese Bedingung besteht aus den beiden folgenden Gründen:
1. Im Fall von Zi≠Zc tritt ein Übertragungsverlust eines
MR-Signals in einer Speiseleitung (feeder line) auf, und
der Rauschabstand (Signal/Rauschenverhältnis) verschlechtert
sich.
2. Ein in einem MRI-System verwendeter rauscharmer Verstärker
stärker ist normalerweise so ausgelegt, daß seine Eingangsimpedanz
einem normalerweise verwendeten Kabel entspricht.
Im Fall von Zi≠Zc, d. h. wenn der Verstärker
mit einer Signalquelle einer von Zc verschiedenen Signalquellenimpedanz
verbunden ist, kann eine rauscharme Komponente
nicht sichergestellt werden, weil die Störschutzzahlanpassung
verschlechtert ist.
Wenn im Äquivalentschaltbild von Fig. 1 sowohl der Widerstandswert
R als auch die Impedanz Zi reelle Zahlen sind,
lassen sich die Beziehungen zwischen den Kapazitäten C₁
und C₂ und der Impedanz Zi jeweils wie folgt ausdrücken:
(mit l=2π f; f [Hz] gleich einer Resonanzfrequenz eines
MR-Signals).
Aus Gleichungen (1) und (2) geht folgendes hervor: Wenn
die Impedanz Zi (die als Wirkwiderstand gegeben ist) zunimmt,
verringert sich die Kapazität C₂, während sich die
Kapazität C₁ vergrößert. Genauer gesagt: wenn der Wider
stand(swert) R und die Induktivität L konstant sind, kann
die Kapazität C₂ verringert werden (und die Kapazität C₁
vergrößert sich entsprechend geringfügig), so daß die Impedanz
Zi als Wirkwiderstand (pure resistance) vergrößert
werden kann.
Anhand der Gleichungen (1) und (2) kann die Impedanz Z X
eines in Fig. 1 durch gestrichelte Linien umrahmten Schaltungsteils
wie folgt berechnet werden:
Sodann gilt:
In Gleichung (3) stellt der erste Ausdruck, d. h. Zi, eine
Wirkwiderstandskomponente dar, während der zweite Ausdruck,
d. h. j , eine induktive Reaktanz bzw.
einen Blindwiderstand darstellt.
Die Impedanz Z Y eines durch zwei Kondensatoren C 2A und
C 2B gebildeten Schaltungsteils läßt sich wie folgt dar
stellen:
Wie aus den Gleichungen (3) und (4) hervorgeht, wird die
Impedanz Zi durch die Impedanz Z X , durch die Kapazität
C₁, den Widerstand R und die Induktivität L geformt, sowie
die durch die beiden Kapazitäten C₂ geformte Impedanz
Z Y gebildet. Zur Ableitung der Impedanz Zi als Wirkwiderstand
kann ein imaginärer Teil (Blindwiderstandskomponente)
in Gleichung (3) durch einen imaginären Teil (kapazitive
Reaktanzkomponente) in Gleichung (4) zu Null unterdrückt
werden.
Um auf beschriebene Weise der Bedingung Zi=Zc zu genügen,
erfolgt im Fall von Zi<Zc die Einstellung wie folgt:
Die Kapazität C₂ wird verringert, und die Kapazität C₁
wird vergrößert, um den bei Verringerung der Kapazität
C₂ entstehenden imaginären Teil aufzuheben, so daß sich
die Impedanz Zi erhöht. Im Fall von Zi<Zc geschieht die
Einstellung wie folgt: Die Kapazität C₂ wird erhöht, und
die Kapazität C₁ wird verringert, so daß sich die Impedanz
Zi verkleinert.
Der Sondenkopf selbst muß einen hohen Q-Wert (Gütefaktor)
aufweisen. Für den Fall, daß sich ein Untersuchungsobjekt
(ein menschlicher Körper) während der Abbildung dem Sondenkopf
stärker annähert, ist das Äquivalentschaltbild
als primäre Annäherung des Sondenkopfes während der tatsächlichen
Abbildung (Bildaufnahme) in Fig. 2 veranschaulicht.
Kapazitäten Cs und Cs′ sind dabei Streukapazitäten
zwischen einem Objekt und einer Spule, während ein Widerstand
Rp ein Äquivalentwiderstand des (Untersuchungs-)Objekts
ist. Da sich hierbei diese Kapazitäten Cs und Cs′
sowie der Widerstand Rp addieren, ist die Impedanz nicht
Zi, sondern Zi′. Die Anordnung nach Fig. 2 kann auf die
in Fig. 3 gezeigte Weise äquivalent transformiert werden,
und die Anordnung nach Fig. 3 kann auf die in Fig. 4 gezeigte
Weise weiter vereinfacht werden. Die Kapazität Cs′′
und der Widerstand Rp′ gemäß Fig. 3 sind jeweils eine
Äquivalentkapazität bzw. ein Äquivalentwiderstand, wenn
eine aus Kapazitäten Cs und Cs′ sowie dem Widerstand Rp
bestehende Schaltung paralleltransformiert wird. In Fig. 4
gilt:
R′ ≒ Rp′R/(Rp′ + R)
C₁′ = Cs′′ + C₁
C₁′ = Cs′′ + C₁
Im Äquivalentschaltwiderstand von Fig. 4 sind die Beziehungen
zwischen den Kapazitäten C₂ der variablen Kondensatoren
C 2A und C 2B der Kapazität C₁′ des variablen Kondensators
C 1V und der Impedanz Zc durch die folgenden Gleichungen,
basierend auf der Bedingung Zi′=Zc, im wesentlichen auf
dieselbe Weise wie in Gleichungen (1) und (2) darstellbar:
Wenn daher die Kapazitäten C₁′ und C₂ auf dieselbe Weise
wie in Fig. 1 eingestellt werden, läßt sich die Bedingung
Zi=Zc erfüllen.
Bei einem bisherigen Gerät erfolgt diese Einstellung wie
folgt: Es wird ein Oszillator mit einer Ausgangsimpedanz
Zc (Wirkwiderstand) bereitgestellt. Zwischen den Oszillator
und den Sondenkopf wird ein Richtkoppler eingeschaltet.
Eine vom Sondenkopf ausgegebene Reflexionsleistung
des Oszillators wird abgeleitet und über bzw. durch den
Richtkoppler (directional coupler) überwacht, und die
Kapazitäten C₁′ und C₂ werden so variiert, daß eine eine
Reflexionsleistung=0 ergebende Bedingung nach der Ver
such-Irrtum-Methode bzw. durch Probieren ermittelt wird.
Auf diese Weise müssen bei der bisherigen Einstellmethode
zwei variable Kondensatoren C₁′ und C₂ gleichzeitig von
Hand eingestellt oder justiert werden, was sich als umständlich
erweist. Dabei hängt die Einstellung weitgehend
von Können oder Erfahrung ab, was zu einer mangelhaften
Arbeitsleistung führt.
Anstelle der manuellen Operation ist eine automatische
Einstellmethode unter Verwendung eines Mikroprozessors
o. dgl. vorgeschlagen (worden). Der größte Teil der Einstellung
erfolgt jedoch in Abhängigkeit von der Entscheidungsfunktion
des Mikroprozessors, was ebenfalls zu einer
mangelhaften Einstellungsleistung führt.
Im Hinblick auf die oben geschilderten Gegebenheiten
liegt damit der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine automatische
Impedanzeinstelleinheit für ein MRI-System zu
schaffen, die eine wirksame und wirtschaftliche Einstellung
mit einfacher Hardware erlaubt.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 gekennzeichneten
Merkmale gelöst.
Eine erfindungsgemäße automatische Impedanzeinstelleinheit
für ein MRI-System umfaßt einen Detektor für die getrennte
Erfassung von reellen und imaginären Teilen einer Impedanz
eines Sondenkopfes und eine Steuereinheit, um dem Sondenkopf
ein Steuersignal für die optimale Einstellung von
Spannungen entsprechend den durch den Detektor gewonnenen
Signalen der reellen und imaginären Teile zu liefern.
Bei der erfindungsgemäßen automatischen Impedanzeinstelleinheit
für ein MRI-System (Magnetresonanz-Abbildungssystem)
werden reelle und imaginäre Teile der Impedanz des Sondenkopfes
getrennt erfaßt, und die Steuerung erfolgt in der
Weise, daß diese Detektions- oder Meßsignale zu Null gemacht
werden, so daß die Impedanz des Sondenkopfes gleich
einem Wellenwiderstand eingestellt wird. Die Einstellung
kann daher einfach und automatisch und ohne die Notwendigkeit
für eine manuelle Operation erfolgen, so daß eine wirksame
und wirtschaftliche Einstellung erreicht wird.
Im folgenden ist eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung
anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 ein Äquivalentschaltbild eines Sondenkopfes,
Fig. 2 ein Äquivalentschaltbild eines Sondenkopfes unter
Berücksichtigung eines Untersuchungsobjekts,
Fig. 3 ein Äquivalentschaltbild der Anordnung nach Fig. 2,
Fig. 4 ein Äquivalentschaltbild der Anordnung nach Fig. 3,
Fig. 5 ein Blockschaltbild der Grundanordnung eines Impedanzdetektors
bei einer erfindungsgemäßen automatischen
Impedanzeinstelleinheit für ein MRI-System,
Fig. 6 bis 10 Schaltbilder zur Erläuterung des Prinzips
des Impedanzdetektors nach Fig. 5,
Fig. 11 ein Blockschaltbild der Anordnung einer automatischen
Impedanzeinstelleinheit für ein MRI-System
gemäß einer Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 12 ein detailliertes Blockschaltbild der Anordnung
bzw. des Aufbaus einer Steuereinheit bei der Einstelleinheit
nach Fig. 11 und
Fig. 13 ein detailliertes Schaltbild eines Sondenkopfes
bei der Einstelleinheit nach Fig. 11.
Nachdem die Fig. 1 bis 4 eingangs bereits erläutert worden
sind, ist im folgenden das der Erfindung zugrundeliegende
Prinzip beschrieben.
Gemäß einem Artikel "A Complex Impedance Meter" (Carl G.
Lodstroem, Dow-Key Microwave Corporation) in RF expo east
(10.-12. November 1986, Boston Massachusetts) ist eine
Reihenschaltung aus vier λ/8-Kabeln 71, 72, 73 und 74 zwischen
einen Oszillator 1 einer Ausgangsimpedanz Zc und
eine Last 2 einer Impedanz Z L so geschaltet, daß reelle
und imaginäre Teile der Impedanz der Last 2 einfach und
getrennt in den Formen entsprechend Spannungen erfaßt werden
können (vgl. Fig. 5).
Insbesondere ist (gemäß Fig. 5) ein Dämpfungsglied 5 für
die genaue Einstellung einer Impedanz auf Zc (=50 Ω zwischen
den Oszillator 1 und das erste λ/8-Kabel 71 geschaltet.
Gemäß Fig. 5 ist eine Reihenschaltung aus einer Diode
D 4, einem variablen bzw. regelbaren Widerstand R₁ und einer
Diode D₂ zwischen den Knotenpunkt zwischen Dämpfungsglied
5 und erstem λ/8-Kabel 71 sowie den Knotenpunkt zwischen
zweiten und dritten λ/8-Kabeln 72 bzw. 73 geschaltet. Eine
Reihenschaltung aus einer Diode D₁, einem regelbaren Widerstand
R₂ und einer Diode D₃ ist zwischen den Knotenpunkt
zwischen ersten und zweiten λ/8-Kabeln 71 bzw. 72 sowie
den Knotenpunkt zwischen dritten und vierten λ/8-Kabeln
73 bzw. 74 geschaltet (vgl. Fig. 5). Ein Gleichspannung-
Voltmeter 3 (einer hohen Eingangsimpedanz) entsprechend
dem reellen Teil ist mit einer Schleiferklemme des regelbaren
Widerstands R₁ verbunden. Ein Gleichspannung-Voltmeter
4 (einer hohen Eingangsimpedanz) entsprechend einem
imaginären Teil ist an die Schleiferklemme des regelbaren
Widerstands R₂ angeschlossen. Die regelbaren Widerstände
oder Regelwiderstände R₁ und R₂ sind durch sog. Trimmpotentiometer
gebildet. Die Kabel 71 bis 74 besitzen jeweils
eine Kabellänge, die genau mit einer Wellenlänge λ/8 eines
Ausgangssignals vom Oszillator 1 übereinstimmt.
Bei der Anordnung gemäß Fig. 5 sei angenommen, daß die
Last 2 von Z L =Zc angeschlossen ist und die Regelwiderstände
R₁ und R₂ im voraus so eingestellt bzw. abgeglichen
sind, daß die Voltmeter 3 und 4 jeweils 0 [V] anzeigen;
damit ist ein Anfangszustand eingestellt. Wenn in diesem
Zustand der reelle Teil der Lastimpedanz Z L kleiner ist
als die Impedanz Zc, zeigt das Voltmeter 3 für den reellen
Teil eine positive Spannung an, während es im anderen Fall
eine negative Spannung anzeigt. Wenn der imaginäre Teil
der Lastimpedanz Z L induktiv ist, zeigt das Voltmeter 4
für den imaginären Teil eine positive Spannung an, während
es dann, wenn dieser Teil kapazitiv ist, eine negative Spannung
anzeigt. Durch Beobachtung der Anzeigen der Voltmeter
3 und 4 für reellen bzw. imaginären Teil kann somit eine
Abweichung bzw. ein Versatz der Größe der Lastimpedanz Z L
gegenüber dem Wellenwiderstand Zc bestimmt werden.
Der oben erwähnte Detektor ist nachstehend im einzelnen
erläutert. Bei Betrachtung insbesondere einer Schaltung
gemäß Fig. 6 ergibt sich eine Spannung V₀ am Punkt P wie
folgt:
V₀ (d) = V L cosβ (1 - d) + j(Zc/I L )sinβ (1 - d)
da hierbei b=2π/λ und Z L =V L /I L , bestimmt sich V₀ (d)
nach folgender Gleichung:
V₀ (d) = V L [cos{2π (1 - d)/λ}
+ j(Zc/Z L )sin{2π (1 - d)/λ}] (5)
Das Prinzipschaltbild des Detektors, d. h. eines komplexen
Impedanzmeters mit λ/8-Kabeln, ist in Fig. 7 veranschau
licht.
Spannungen an Punkten P₁, P₂, P₃ und P₄ in Fig. 7 sind jeweils
mit V₁, V₂, V₃ bzw. V₄ bezeichnet. Es sei angenommen,
daß eine Signalquellenimpedanz mit dem Wellenwiderstand
(charakteristische Impedanz) Zc eines λ/8-Kabels
übereinstimmt.
Da die Positionen der Punkte P₁, P₂, P₃ und P₄ jeweils
ganzzahligen Vielfachen von λ/8 entsprechen, gilt
1 - d = λ/8, 2λ/8, 3λ/8, 4λ/8 und β = 2π/λ;
sodann gilt:
β (1 - d) = ( π/4), ( π/2), (3π/4) und f.
Wenn diese Ergebnisse in Gleichung (5) eingesetzt werden,
bestimmen sich V₁, V₂, V₃ und V₄ jeweils zu:
V₁= V L {cos(π/4) + j(Z L /Zc)sin (π/4)}
= (V L /Zc)(Zc + jZ L ) V₂= V L {cos(π/2) + j(Z L /Zc)sin (π/2)}
= (V L /Zc)(jZ L ) V₃= (V L /Zc)(-Zc + jZ L ) V₄= V L
= (V L /Zc)(Zc + jZ L ) V₂= V L {cos(π/2) + j(Z L /Zc)sin (π/2)}
= (V L /Zc)(jZ L ) V₃= (V L /Zc)(-Zc + jZ L ) V₄= V L
Wenn die Punkte P₁ und P₃ (oder P₂ und P₄) gemäß Fig. 7
mit i bzw. j bezeichnet werden, läßt sich Fig. 7 auf die
in Fig. 8 gezeigte Weise ausdrücken. Fig. 8 läßt sich
durch Äquivalentschaltbilder gemäß Fig. 9 und 10 darstel
len.
Dabei gilt:
R₁ I₁ + R₂(I₁ - I₂) = E₁ - E₂
R₂(I₂ - I₁) + R₀ I₂ = E₂ (6)
Anhand von Gleichung (6) ergibt sich:
R₁ I₁ + R₀ I₂ = E₁ (7)
(R₁ + R₂)I₁ - R₂ I₂ = E₁ - E₂ (6′)
(R₁ + R₂)I₁ - R₂ I₂ = E₁ - E₂ (6′)
Gleichungen (7) und (6′) werden für den Strom I₂ wie folgt
aufgelöst:
I₂= (R₂ E₁ + R₁ E₂)/(R₁ R₂ + R₀ R₁ + R₂ R₀)
E₀= R₀ I₂
= R₀(R₂ E₁ + R₁ E₂)/{R₁ R₂ + R₀(R₁ + R₂)}
= R₀(R₂ E₁ + R₁ E₂)/{R₁ R₂ + R₀(R₁ + R₂)}
Theoretisch läßt sich R₁=R₂ gewinnen; demzufolge bestimmt
sich die Spannung E₀ zu:
E₀ = {(E₁ + E₂)R₀}/(R₁ + 2R₀)
Unter der Voraussetzung von R₁ (=R₂)«R₀ bestimmt sich
die Spannung E₀ wie folgt:
E₀ = (E₁ + E₂)/2 = ( | Vi | - | Vj | )/2
Da die Spannungen Vi und Vj durch Dioden Di und Dj gleichgerichtet
und dann durch Kapazitäten Ci und Cj geglättet
werden, nehmen sie maximale Größen an, d. h. Amplitudenspannungen
E₁ und E₂.
Wenn eine unbekannte Impedanz durch Z L =R X +jN X dargestellt
wird:
- (i) eine Spannung Vim entsprechend einem imaginären Teil bestimmt sich wie folgt: Durch Substitution erhält man: Auf diese Weise kann eine eine negative oder positive Größe von N X reflektierende Spannung erzeugt werden.
- (ii) Eine Spannung Vre entsprechend einem reellen Teil bestimmt sich zu: Unter der Voraussetzung, daß Z L =R X (N X =0) gilt, erhält man:Vre = ( | V L | /2Zc)(R X - Zc) (9)Auf oben beschriebene Weise kann eine Spannung Vim, die den imaginären Teil N X der unbekannten Lastimpedanz Z L =R X +jN X reflektiert, erhalten oder abge leitet werden. Die Lastimpedanz Z L wird zur Lieferung der Spannung Vim=0 eingestellt. Im Fall von N X =0 kann insbesondere eine Spannung Vre erhalten werden, die eine Differenz zwischen dem reellen Teil R X und dem Wellenwiderstand Zc wiedergibt.
Im folgenden ist eine für ein MRI-System vorgesehene automatische
Impedanzeinstelleinheit gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung, die auf dem oben beschriebenen Prinzip
basiert, im einzelnen erläutert.
Fig. 11 veranschaulicht in einem Blockschaltbild eine erfindungsgemäße
automatische Impedanzeinstelleinheit
(impedance adjuster) für ein MRI-System. Dabei ist ein Detektor
7 zwischen den Oszillator 1 der Ausgangsimpedanz
Zc und den Sondenkopf 6 geschaltet, während eine Steuereinheit
8 zwischen den Detektor 7 und den Sondenkopf 6 geschaltet
ist. Der Detektor 7 ist auf dieselbe Weise, wie
in Fig. 5 angegeben, durch λ/8-Kabel gebildet, so daß Spannungen
für den reellen Teil und den imaginären Teil, welche
die Impedanz Zi des Sondenkopfes 6 repräsentieren, getrennt
abgegriffen oder erfaßt werden können. Die Steuereinheit
8 besitzt den in Fig. 12 dargestellten, noch zu beschreibenden
Aufbau. Entsprechend den durch den Detektor 7 erfaßten
Spannungen Vre und Vim für reellen Teil bzw. imaginären
Teil liefert die Steuereinheit 8 Steuersignale zur Einstellung
der Spannungen auf Null zu variablen oder regelbaren
Kondensatoren C 1V , C 2A und C 2B des Sondenkopfes 6.
Die Arbeitsweise der Steuereinheit 8 ist im folgenden im
einzelnen erläutert.
Wenn eine positive Spannung für den reellen Teil durch den
Detektor 7 erfaßt wird, kann Zi<Zc nach dem der Erfindung
zugrundeliegenden Prinzip (basierend auf Gleichung (1))
diskriminiert werden. Daher wird ein Steuersignal zum Ver
kleinern der Kapazitäten C₂ des Sondenkopfes 6 zu den regelbaren
Kondensatoren C 2A und C 2B geliefert. Damit wird die
Impedanz Zi erhöht. Wenn die Impedanz Zi erhöht ist und
die dem reellen Teil entsprechende Spannung Vre zu 0 [V]
wird, wird die Zufuhr des Steuersignals zu den regelbaren
Kondensatoren C 2A und C 2B beendet.
Wenn die dem reellen Teil ensprechende negative Spannung
durch den Detektor 7 erfaßt wird, kann im Gegensatz zum
oben beschriebenen Fall bestimmt werden, daß Zi<Zc gilt.
Demzufolge wird ein Steuersignal zur Erhöhung der Kapazität
C₂ zu den regelbaren Kondensatoren C 2A und C 2B geliefert,
womit die Impedanz Zi verringert wird. Mittels dieser
Steueroperation kann die dem reellen Teil entsprechende
Spannung Vre zu 0 [V] gemacht werden.
Wenn durch den Detektor 7 die dem imaginären Teil entsprechende
positive Spannung Vim erfaßt wird, kann nach dem
oben beschriebenen Prinzip bestimmt werden, daß die Impedanz
kapazitiv ist. Demzufolge wird dem regelbaren Widerstand
C 1V ein Steuersignal zur Verkleinerung der Kapazität
C₁ zugeführt. Da hierbei der imaginäre Teil so geändert
werden kann, daß er induktiv ist, kann er aufgehoben oder
gestrichen werden. Wenn die dem imaginären Teil entsprechende
Spannung Vim zu 0 [V] wird, wird die Zufuhr des
Steuersignals zum regelbaren Kondensator C 1V beendet.
Wenn durch den Detektor 7 die dem imaginären Teil entsprechende
negative Spannung Vim erfaßt wird, kann im Gegensatz
zum obigen Fall diskriminiert werden, daß der imaginäre
Teil induktiv ist. Aus diesem Grund wird dem regelbaren
Kondensator C 1V ein Steuersignal zur Vergrößerung der Kapazität
C₁ zugeführt. Der imaginäre Teil wird damit so geändert,
daß er kapazitiv ist, so daß die dem imaginären Teil
entsprechende Spannung Vim auf 0 [V] eingestellt werden
kann.
In Abhängigkeit von den durch den Detektor 7 erfaßten, dem
reellen Teil und dem imaginären Teil entsprechenden Spannungen
Vre bzw. Vim liefert die Steuereinheit 8 Steuersignale,
d. h. negative Rückkopplungs- oder Gegenkopplungssignale,
für die Einstellung der Spannungen auf Null zu
den regelbaren Kondensatoren C 2A , C 2B und C 1V des Sondenkopfes
6. Die Impedanz kann daher so eingestellt werden,
daß sie letzlich der Bedingung Zi=Zc genügt.
Wenn jedoch Gegenkopplungssignale identischer Ansprechcharakteristika
(response properties) für die Kapazitäten
C₂ und C₁ geliefert werden, kann die Impedanz Zi schwingen,
ohne zu Zc zu konvergieren. Aus diesem Grund wird eine
Ansprechzeit der Gegenkopplung für den reellen Teil oder
den imaginären Teil kürzer gesetzt als die für den jeweiligen
anderen Teil. Sodann kann ein Teil eine Zielgröße früher
erreichen als der andere (zu Zc [Ω] oder j · 0 [Ω] werden),
so daß keine Schwingung auftritt. Demzufolge kann die Impedanz
Zi zu Zc konvergieren. In der Praxis wird bei Verwendung
des Detektors 7 gemäß Fig. 5 die Ansprechzeit der
Gegenkopplung für den imaginären Teil vorzugsweise kürzer
eingestellt als diejenige der Gegenkopplung für den reellen
Teil.
Wenn einer der dem reellen Teil und dem imaginären Teil entsprechenden
Spannungen Vre bzw. Vim zu 0 [V] wird, können
diese Spannungen einer Integration unterworfen werden, so
daß der Steuer- oder Regelzustand der Kapazität C₂ oder
C₁ aufrechterhalten werden kann. Insbesondere wird eine
dieser Spannungen integriert, und der regelbare Kondensator
C 2A , C 2B oder C 1V wird so geregelt, daß er eine 1 : 1-
Entsprechung zur integrierten Größe aufweist. Der Regelzustand
kann dabei aufrechterhalten werden, auch wenn eine
der Meßspannungen zu 0 [V] wird.
Wenn die gesamte Anpassung erreicht ist, werden die Spannungen
für sowohl den reellen Teil als auch den imaginären
Teil zu 0 [V]. In diesem Fall wird die Einstellregelung
der Kapazitäten C₂ und C₁ beendet.
Fig. 12 veranschaulicht in einem detaillierten Blockschaltbild
die Anordnung bzw. den Aufbau der Steuereinheit 8.
Diese Steuereinheit 8 umfaßt einen Steuerteil 8 A für reellen
Teil und einen Steuerteil 8 B für imaginären Teil. Diese
Steuerteile 8 A und 8 B umfassen jeweils eine Pufferstufe
9, eine Inversions/Verstärkungsstufe 10 und eine Inversions/
Integrationsstufe 11. Das Ausgangssignal von jeder Inver
sions/Integrationsstufe 11 wird einer Impedanzanpassung
unterzogen (is impedance-matched) und dann durch einen
Analog/Digital- bzw. A/D-Wandler in eine digitale Größe
umgewandelt und gehalten. Die digitale Größe wird sodann
durch einen Digital/Analog- bzw. D/A-Wandler in eine analoge
Größe umgewandelt und hierauf als Steuer- oder Regelspannung
für Kapazitäten C₁ und C₂ ausgegeben. Die Inver
sions/Integrationsstufe 11 des Steuerteils 8 A für reellen
Teil liefert eine Steuer- oder Regelspannung für die Kapazität
C₂. Die Inversions/Integrationsstufe 11 des Steuerteils
8 B für den imaginären Teil gibt eine Steuer- oder
Regelspannung für die Kapazität C₁ aus. Zur Erzielung unterschiedlicher
Ansprechzeiten in den Teilen für reellen und
imaginären Teil muß die Beziehung zwischen der Zeitkonstante
CrRr des Teils für reellen Teil und der Zeitkonstante CiRi
des Steuerteils für imaginären Teil auf CiRi»CrRr (oder
CrRr»CiRi) aufrechterhalten werden. Es ist darauf hinzuweisen,
daß ein Kabel mit einer Länge entsprechend einem
ganzzahligen Vielfachen von λ/2 (oder eine diesem äquivalente
Schaltung) zwischen den Detektor 7 und den Sondenkopf 6
geschaltet sein kann.
Fig. 13 veranschaulicht im einzelnen die Anordnung bzw.
den Aufbau des Sondenkopfes 6, bei dem Kapazitäten C₂ und
C₁ durch Dioden variabler Kapazität bestimmt werden. Die
Dioden variabler Kapazität mit den Kapazitäten C₁ bzw. C₂
nehmen jeweils Steuerspannungen von den Steuerteilen 8 A
und 8 B für reellen Teil bzw. imaginären Teil gemäß Fig. 12
ab. Je höher eine Gegenvorspannung wird, um so niedriger
wird die Kapazität der (betreffenden) Diode mit variabler
Kapazität. In Fig. 13 sind zusätzlich zu den Kapazitäten
C₁ und C₂ Kapazitäten C DC , C BAL und C B angegeben.
Die Arbeitsweise dieser Ausführungsform ist nachstehend
erläutert.
Die Initialisierung erfolgt in der Weise, daß die dem reellen
Teil und dem imaginären Teil entsprechenden Spannungen
Vre bzw. Vim des Detektors 7 zu 0 [V] werden, während eine
Bezugslast Z L einer Impedanz Zc angeschlossen ist. Der Sondenkopf
6 wird anstelle der Last Z L angeschlossen, und es
erfolgt eine automatische Impedanzeinstellung oder -anpassung
nach Maßgabe der dem reellen Teil und dem imaginären
Teil entsprechenden Spannungen Vre bzw. Vim.
Wenn die dem imaginären Teil entsprechende Spannung Vim
eine positive Spannung ist, wird die Kapazität C₁ des Sondenkopfes
6 durch die Steuereinheit 8 der Gegenkopplung
unterworfen, um verringert zu werden, so daß die Spannung
auf 0 [V] eingestellt werden kann. Wenn die dem imaginären
Teil entsprechende Spannung Vim eine negative Spannung ist,
wird die Kapazität C₁ der Gegenkopplung zur Erhöhung unterworfen,
so daß die Spannung auf 0 [V] eingestellt werden
kann.
Wenn die dem reellen Teil entsprechende Spannung Vre eine
positive Spannung ist, wird die Kapazität C₂ des Sondenkopfes 6
durch die Steuereinheit 8 einer Gegenkopplung unter
worfen, um verkleinert zu werden, so daß die Spannung auf
0 [V] eingestellt werden kann. Wenn die dem reellen Teil
entsprechende Spannung Vre eine negative Spannung ist, wird
die Kapazität C₂ zu ihrer Vergrößerung oder Erhöhung der
Gegenkopplung unterworfen, so daß die Spannung auf 0 [V]
eingestellt werden kann.
Auch wenn daher die dem reellen Teil und dem imaginären
Teil entsprechenden Spannungen Vre bzw. Vim positive oder
negative Spannung sind, können sie automatisch auf 0 [V]
eingestellt werden. Die Impedanz kann damit automatisch
eingestellt werden, um der Bedingung Zi=Zc zu genügen.
Da bei der beschriebenen Ausführungsform die Impedanz Zi
eines Sondenkopfes ohne Notwendigkeit für manuelle Operation
automatisch so eingestellt werden kann, daß sie dem
Wellenwiderstand Zc gleich ist, läßt sich die Einstellung
oder Anpassung wirksam und wirtschaftlich durchführen. Da
die Einstelleinheit einfach aufgebaut ist, läßt sie sich
kostensparend herstellen. Dementsprechend kann mittels automatischer
Impedanzeinstellung die Diagnosezeit für den Patienten
verkürzt werden.
Als variable oder regelbare Kondensatoren C 1V , C 2A und C 2B
im Sondenkopf 6 können mittels mechanischer Operation
variable Kondensatoren, wie Vakuumkondensatoren, verwendet
werden. Die Antriebsgeschwindigkeit eines Stelltriebs durch
einen Motor kann proportional zu einer erfaßten Spannung
oder Meßspannung geregelt werden. Bei dieser Anordnung kann
eine Integrationsstufe weggelassen werden. Dies ist deshalb
der Fall, weil der Drehwinkel des Stelltriebs einer integralen
Größe der Geschwindigkeit proportional ist, und der
Stelltrieb dann, wenn die Meßspannung 0 [V] erreicht, unter
Aufrechterhaltung des betreffenden Drehwinkels automatisch
abgeschaltet wird. In diesem Fall müssen offensichtlich
die Vorzeichen so eingestellt oder vorgegeben werden, daß
die Meßspannung und die Drehrichtung der Gegenkopplungsbeziehung
entsprechen.
Für einen Sende/Empfangs-Sondenkopf wird vorzugsweise ein
mechanisch variabler Kondensator, z. B. ein Vakuumkondensator,
verwendet, weil dabei eine hohe Stromleistung im Spiel
ist. Für einen Empfangs-Sondenkopf kann eine Diode variabler
Kapazität verwendet werden, weil nur eine geringe Stromleistung
angewandt wird.
Claims (12)
1. Automatische Impedanzeinstelleinheit zum Einstellen
(oder Anpassen) der Impedanz eines Sondenkopfes (6)
in einem Magnetresonanz-Abbildungs- oder MRI-System,
so daß sie einem (einer) Wellenwiderstand (charakteristischen
Impedanz) gleich ist,
gekennzeichnet durch
ein am Sondenkopf (6) vorgesehenes Impedanzeinstellelement (C 1V , C 2A , C 2B ) zur Ermöglichung einer variablen Einstellung von reellen und imaginären Teilen einer Impedanz des Sondenkopfes (6),
eine eine vorbestimmte Ausgangsimpedanz aufweisende Oszillatoreinheit (1) zur Lieferung eines Signals zum Sondenkopf,
eine zwischen Sondenkopf (6) und Oszillatoreinheit (1) geschaltete Detektoreinheit (7) zur Lieferung von Detektions- oder Meßsignalen, die jeweils den reellen bzw. imaginären Teilen der Impedanz des Sondenkopfes entsprechen, auf der Grundlage des zum Sondenkopf (6) gelieferten Ausgangssignals von der Oszillatoreinheit und
eine auf die den rellen und imaginären Teilen entsprechenden, von der Detektoreinheit (7) gelieferten Signale ansprechende Steuereinheit (8), um zum Impedanzeinstellelement (C 1V , C 2A , C 2B ) des Sondenkopfes (6) ein Steuersignal für die Einstellung der reellen und imaginären Teile der Impedanz des Sondenkopfes (6) in der Weise, daß sie einer vorbestimmten Impedanz entsprechen (bzw. entspricht), zu liefern.
ein am Sondenkopf (6) vorgesehenes Impedanzeinstellelement (C 1V , C 2A , C 2B ) zur Ermöglichung einer variablen Einstellung von reellen und imaginären Teilen einer Impedanz des Sondenkopfes (6),
eine eine vorbestimmte Ausgangsimpedanz aufweisende Oszillatoreinheit (1) zur Lieferung eines Signals zum Sondenkopf,
eine zwischen Sondenkopf (6) und Oszillatoreinheit (1) geschaltete Detektoreinheit (7) zur Lieferung von Detektions- oder Meßsignalen, die jeweils den reellen bzw. imaginären Teilen der Impedanz des Sondenkopfes entsprechen, auf der Grundlage des zum Sondenkopf (6) gelieferten Ausgangssignals von der Oszillatoreinheit und
eine auf die den rellen und imaginären Teilen entsprechenden, von der Detektoreinheit (7) gelieferten Signale ansprechende Steuereinheit (8), um zum Impedanzeinstellelement (C 1V , C 2A , C 2B ) des Sondenkopfes (6) ein Steuersignal für die Einstellung der reellen und imaginären Teile der Impedanz des Sondenkopfes (6) in der Weise, daß sie einer vorbestimmten Impedanz entsprechen (bzw. entspricht), zu liefern.
2. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Impedanzeinstellelement (C 1V ,
C 2A , C 2B ) variable oder regelbare Kondensatoreinheiten
aufweist.
3. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Impedanzeinstellelement eine
erste variable oder regelbare Kondensatoreinheit (C 1V ),
die im wesentlichen parallel zu einer Induktivität (L)
einer Spule des Sondenkopfes (6) angeordnet ist, und
zwei zweite variable oder regelbare Kondensatoreinheiten
(C 2A , C 2B ), die im wesentlichen in Reihe mit zwei
Enden der Induktivität (L) angeordnet sind, aufweist.
4. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten variablen
Kondensatoreinheiten (C 1V , C 2A , C 2B ) Dioden mit variabler
oder regelbarer Kapazität umfassen.
5. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten variablen
Kondensatoreinheiten (C 1V , C 2A , C 2B ) mechanisch variable
Kondensatoreinheiten umfassen.
6. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Steuereinheit (8) Mittel zum
Gegenkoppeln eines Steuersignals nach Maßgabe eines dem
reellen Teil entsprechenden Signals zu den zweiten variablen
Kondensatoreinheiten (C 2A , C 2B ) und zum Gegenkoppeln
eines Steuersignals nach Maßgabe des dem imaginären
Teil entsprechenden Signals zur ersten variablen
Kondensatoreinheit (C 1V ) aufweist.
7. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Detektoreinheit (7) eine Reihenschaltung
aus ersten bis vierten g/8-Kabeln (71, 72,
73, 74), die zwischen die Oszillatoreinheit (1) und
den Sondenkopf (6) geschaltet sind, einen jeweils über
Dioden (D₂, D₄) vorbestimmter Polaritäten an die beiden
Enden einer Reihenschaltung aus den ersten und zweiten
λ/8-Kabeln (71, 72) angeschlossenen ersten variablen
oder regelbaren Widerstand (R₁) und einen zweiten
variablen oder regelbaren Widerstand (R₂) aufweist,
der jeweils über Dioden (D₃, D₁) vorbestimmter Polaritäten
an die beiden Enden einer Reihenschaltung aus
den zweiten und dritten λ/8-Kabeln (72, 73) angeschlossen
ist, und Ausgangsspannungen entsprechend den reellen
und imaginären Teilen der Impedanz von Schleiferklemmen
der ersten und zweiten variablen Widerstände
(R₁ bzw. R₂) abnehmbar sind.
8. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß das Impedanzeinstellelement (C 1V ,
C 2A , C 2B ) variable oder regelbare Kondensatoreinheiten
umfaßt.
9. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß das Impedanzeinstellelement eine
erste variable oder regelbare Kondensatoreinheit (C 1V ),
die im wesentlichen parallel zu einer Induktivität (L)
einer Spule des Sondenkopfes (6) angeordnet ist, und
zwei zweite variable oder regelbare Kondensatoreinheiten
(C 2A , C 2B ), die im wesentlichen in Reihe mit zwei
Enden der Induktivität (L) angeordnet sind, aufweist.
10. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten variablen Kondensatoreinheiten
(C 1V , C 2A , C 2B ) Dioden mit variabler oder
regelbarer Kapazität umfassen.
11. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten variablen Kondensatoreinheiten
(C 1V , C 2A , C 2B ) mechanisch variable Kondensatoreinheiten
umfassen.
12. Impedanzeinstelleinheit nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß die Steuereinheit (8) Mittel zum
Gegenkoppeln eines Steuersignals nach Maßgabe eines
dem reellen Teil entsprechenden Signals zu den zweiten
variablen Kondensatoreinheiten (C 2A , C 2B ) und zum
Gegenkoppeln eines Steuersignals nach Maßgabe des dem
imaginären Teil entsprechenden Signals zur ersten
variablen Kondensatoreinheit (C 1V ) aufweist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62111942A JPS63277049A (ja) | 1987-05-08 | 1987-05-08 | Mri装置のインピ−ダンス自動調整装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3815567A1 true DE3815567A1 (de) | 1988-11-17 |
Family
ID=14574007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3815567A Ceased DE3815567A1 (de) | 1987-05-08 | 1988-05-06 | Automatische impedanzeinstelleinheit fuer ein magnetresonanz-abbildungssystem |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4882541A (de) |
JP (1) | JPS63277049A (de) |
DE (1) | DE3815567A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3903719A1 (de) * | 1988-02-08 | 1989-08-17 | Toshiba Kawasaki Kk | Automatischer impedanzeinsteller |
EP0401361A1 (de) * | 1988-12-21 | 1990-12-12 | Spectroscopy Imaging Systems Corporation | Wirksame fernabstimmung einer sonde über eine übertragungsleitung für einen apparat der magnetischen kernresonanz |
WO1995017683A1 (de) * | 1993-12-21 | 1995-06-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur automatischen impedanzanpassung einer hf-sende- oder empfangseinrichtung in einer anlage zur kernspintomographie und verfahren zum betrieb der vorrichtung |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5149931A (en) * | 1989-04-11 | 1992-09-22 | Mitsubishi Denki K.K. | Power source for electric discharge machining |
US5450011A (en) * | 1992-05-07 | 1995-09-12 | U.S. Philips Corporation | Magnetic resonance apparatus having a wideband matching network |
US5347222A (en) * | 1993-01-11 | 1994-09-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Signal/noise ratio optimization tuning system |
US5433717A (en) * | 1993-03-23 | 1995-07-18 | The Regents Of The University Of California | Magnetic resonance imaging assisted cryosurgery |
US5424691A (en) * | 1994-02-03 | 1995-06-13 | Sadinsky; Samuel | Apparatus and method for electronically controlled admittance matching network |
US5432451A (en) * | 1994-03-22 | 1995-07-11 | Northrop Grumman Corporation | Magnetic resonance imaging reflectometer tuning unit |
US6459265B1 (en) * | 1998-11-25 | 2002-10-01 | General Electric Company | Method and apparatus for reducing input impedance of a preamplifier |
US8497730B1 (en) * | 2011-06-09 | 2013-07-30 | Rockwell Collins, Inc. | System for and method of modifying impedance characteristics of circuit elements |
FR3013537A1 (fr) | 2013-11-21 | 2015-05-22 | St Microelectronics Tours Sas | Commande de condensateur bst |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0171972A2 (de) * | 1984-08-16 | 1986-02-19 | Picker International, Inc. | Hochfrequenz-Antenne für magnetischen Kernresonanzapparat |
US4602213A (en) * | 1982-12-28 | 1986-07-22 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Automatic tuning circuit for nuclear magnetic resonance apparatus |
US4633181A (en) * | 1983-08-11 | 1986-12-30 | Regents Of The University Of Calif. | Apparatus and method for increasing the sensitivity of a nuclear magnetic resonance probe |
US4638253A (en) * | 1984-10-29 | 1987-01-20 | General Electric Company | Mutual inductance NMR RF coil matching device |
EP0230168A1 (de) * | 1985-11-29 | 1987-07-29 | General Electric Cgr S.A. | Vorrichtung und Verfahren zur Justierung der Hochfrequenzantenne eines magnetischen Kernresonanzapparates |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3919644A (en) * | 1970-02-02 | 1975-11-11 | Gen Dynamics Corp | Automatic antenna coupler utilizing system for measuring the real part of the complex impedance or admittance presented by an antenna or other network |
US4028645A (en) * | 1976-06-21 | 1977-06-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Automatic impedance matching using resistive and reactive diodes |
US4356458A (en) * | 1981-08-31 | 1982-10-26 | Harry H. Leveen | Automatic impedance matching apparatus |
US4493112A (en) * | 1981-11-19 | 1985-01-08 | Rockwell International Corporation | Antenna tuner discriminator |
US4783629A (en) * | 1987-10-07 | 1988-11-08 | The Regents Of The University Of California | RF coil for MRI with self-tracking ganged coupling capacitors |
-
1987
- 1987-05-08 JP JP62111942A patent/JPS63277049A/ja active Pending
-
1988
- 1988-05-05 US US07/190,451 patent/US4882541A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-05-06 DE DE3815567A patent/DE3815567A1/de not_active Ceased
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4602213A (en) * | 1982-12-28 | 1986-07-22 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Automatic tuning circuit for nuclear magnetic resonance apparatus |
US4633181A (en) * | 1983-08-11 | 1986-12-30 | Regents Of The University Of Calif. | Apparatus and method for increasing the sensitivity of a nuclear magnetic resonance probe |
EP0171972A2 (de) * | 1984-08-16 | 1986-02-19 | Picker International, Inc. | Hochfrequenz-Antenne für magnetischen Kernresonanzapparat |
US4638253A (en) * | 1984-10-29 | 1987-01-20 | General Electric Company | Mutual inductance NMR RF coil matching device |
EP0230168A1 (de) * | 1985-11-29 | 1987-07-29 | General Electric Cgr S.A. | Vorrichtung und Verfahren zur Justierung der Hochfrequenzantenne eines magnetischen Kernresonanzapparates |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DE-B.: H. Meinke, F.W. Gundlach "Taschenbuch der Hochfrequenztechnik" Springer Verlag 1956, S. 1287-1293 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3903719A1 (de) * | 1988-02-08 | 1989-08-17 | Toshiba Kawasaki Kk | Automatischer impedanzeinsteller |
EP0401361A1 (de) * | 1988-12-21 | 1990-12-12 | Spectroscopy Imaging Systems Corporation | Wirksame fernabstimmung einer sonde über eine übertragungsleitung für einen apparat der magnetischen kernresonanz |
EP0401361A4 (en) * | 1988-12-21 | 1991-03-20 | Spectroscopy Imaging Systems Corporation | Efficient remote transmission line probe tuning for nmr apparatus |
WO1995017683A1 (de) * | 1993-12-21 | 1995-06-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur automatischen impedanzanpassung einer hf-sende- oder empfangseinrichtung in einer anlage zur kernspintomographie und verfahren zum betrieb der vorrichtung |
US5777475A (en) * | 1993-12-21 | 1998-07-07 | Siemens Aktiengesellschaft | Automatic impedance adapter for a H.F. emitter or receiver in a nuclear spin tomography installation and process for operating the device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63277049A (ja) | 1988-11-15 |
US4882541A (en) | 1989-11-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3903719C2 (de) | Verfahren zur Impedanzanpassung | |
DE102005031752B4 (de) | Elektroimpedanztomographie-Gerät mit Gleichtaktsignalunterdrückung | |
DE3629356A1 (de) | Abstimmschaltung fuer ein kernmagnetresonanz-sende- und empfangssystem | |
DE102005031751B4 (de) | Elektroimpedanztomographie-Gerät mit Gleichtaktsignalunterdrückung | |
DE69217142T2 (de) | Kernspinresonanzgerät mit entkoppelten Empfangsspulen | |
EP1455647A2 (de) | Elektrode fur biomedizinische messungen | |
DE3815567A1 (de) | Automatische impedanzeinstelleinheit fuer ein magnetresonanz-abbildungssystem | |
DE3634051C2 (de) | ||
DE4430646A1 (de) | HF-Sonde | |
DE69313914T2 (de) | Dynamische Verstimmung einer Feldspule der magnetischen Kernresonanz | |
DE3732660A1 (de) | Magnetresonanz-abbildungssystem | |
DE3826995C2 (de) | Sondenspuleneinrichtung für ein MR-Gerät | |
DE69329326T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Anpassung und Fehlanpassung der Kompensation eines Stromversorgungsnetzes | |
DE69222000T2 (de) | Instrumente zur Messung der Frequenz und der Stärke von einem Mikrowellensignal | |
EP0284546A1 (de) | Verfahren zur Prüfung von Anordnungen | |
DE3808995C2 (de) | ||
DE1303197C2 (de) | Vorrichtung zur ermittlung der durchblutungsverhaeltnisse im menschlichen oder tierischen koerper | |
DE112019003630T5 (de) | Biosensoreinrichtung | |
DE3724606A1 (de) | Spulenanordnung fuer magnetresonanzabbildung | |
DE19923975C2 (de) | Verfahren zur Bestimmung des Gradientenstromverlaufs bei MR-Tomographiegeräten und MR-Tomographiegerät | |
DE69526421T2 (de) | Gerät für die magnetische resonanz mit einem verbesserten gradientensystem | |
DE69313226T2 (de) | Kernspinresonanzgerät | |
DE3838252A1 (de) | Verfahren zum abstimmen des probenkopfes eines nmr-spektrometers und zur durchfuehrung des verfahrens ausgebildetes nmr-spektrometer | |
DE2949467C2 (de) | Verfahren zur Messung von Widerständen, Widerstandsdifferenzen und zum Fehlerorten | |
DE102023120271B4 (de) | Vorrichtung zum Überwachen eines Versorgungsnetzes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01R 33/20 |
|
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01R 33/36 |
|
8131 | Rejection |