DE3742374A1 - Geaetztes glas und verfahren zu seiner herstellung - Google Patents
Geaetztes glas und verfahren zu seiner herstellungInfo
- Publication number
- DE3742374A1 DE3742374A1 DE19873742374 DE3742374A DE3742374A1 DE 3742374 A1 DE3742374 A1 DE 3742374A1 DE 19873742374 DE19873742374 DE 19873742374 DE 3742374 A DE3742374 A DE 3742374A DE 3742374 A1 DE3742374 A1 DE 3742374A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- etched
- glass
- pattern
- radiation
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/0005—Production of optical devices or components in so far as characterised by the lithographic processes or materials used therefor
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C15/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
- G11B7/252—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers
- G11B7/253—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of substrates
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
- G11B7/261—Preparing a master, e.g. exposing photoresist, electroforming
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10582—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10582—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form
- G11B11/10584—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form characterised by the form, e.g. comprising mechanical protection elements
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24479—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
- Y10T428/2457—Parallel ribs and/or grooves
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24479—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
- Y10T428/24595—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness and varying density
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Erzeugnis, das eine Glasscheibe
und ein geätztes Muster umfaßt. Die Erfindung betrifft auch
ein Verfahren zur Herstellung eines Erzeugnisses, das eine
Glasscheibe und ein geätztes Muster umfaßt.
Auf dem Gebiet der Dekorationskunst ist es bekannt,
Glasscheiben mit verschiedenen dekorativen Mustern zu ätzen,
d. h. Mustern, die normalerweise mit dem unbewaffneten Auge
wahrgenommen und untersucht werden sollen. Es ist auch auf
dem Gebiet der Glaswaren allgemein wohlbekant, eine
Herstellermarke oder ein Qualitätszeichen in eine Oberfläche
des Glases einzuätzen. Solche Ätzungen, die für das
unbewaffnete Auge sichtbar sein sollen, bestehen aus
ziemlich breiten Linien.
Es ist auch wohlbekannt, Mattglasscheiben durch
geichmäßiges Ätzen über praktisch die ganze Fläche einer
oder beider Seiten einer Glasscheibe zu erzeugen.
Es ist auch bekannt, z. B. aus der US-PS 45 44 443, eine
optische Datenträgerscheibe herzustellen, indem man
Führungsspuren auf eine Glasscheibe in Form einer Scheibe
ätzt. Solche Spuren sind notwendigerweise sehr fein, um die
Speicherung von genügend Daten auf der Scheibe zu gestatten
und sie können z. B. eine Tiefe von 50 nm und eine Breite von
etwa 1 µm haben. Jedoch gemäß der späteren europäischen
Patentpublikation der Inhaberin der obigen US-PS, EP 02 28
814 A1, wird die Glätte der Oberfläche der Glasunterlage nach
dieser US-PS durch die Ätzung deutlich verschlechtert, was
eine Zunahme im Rauschen bei der erhaltenen optischen
Datenspeicherscheibe hervorruft.
Glas ist ein sprödes und ziemlich zerbrechliches Material.
Glasscheiben können leicht zusätzliche Festigkeit und
Beständigkeit gegen Bruch erhalten, indem man sie dicker
macht, jedoch ist dies in der Praxis nicht immer möglich.
Zum Beispiel verlangt die physikalische Größe vieler zur
Verfügung stehender optischer Speicherscheibenlesegeräte
eine Scheibendicke unterhalb 2 mm. Glasscheiben mit solchen
Dicken sind recht zerbrechlich und es besteht eine
beträchtliche Gefahr, daß sie beim Handhaben beschädigt
werden. Auch wenn die Scheibe sehr rasch gedreht werden muß,
z. B. für das Lesen oder Aufzeichnen der gespeicherten Daten,
kann sie unter der erzielten Zentrifugalzugspannung brechen.
Ein hohes Verhältnis von Festigkeit/Gewicht ist auch auf
anderen Gebieten der Verwendung von geätzten Glasscheiben
erwünscht.
Ziel der Erfindung ist die Bereitstellung eines
Erzeugnisses, das eine Glasscheibe umfaßt und ein geätztes
Muster aufweist, wobei diese verbesserte Festigkeit und
Beständigkeit gegen Bruch hat.
Erfindungsgemäß wird ein Erzeugnis bereitgestellt, das eine
Glasscheibe umfaßt und ein geätztes Muster aufweist, und
dadurch gekennzeichnet ist, daß die Glasscheibe eine
chemisch gehärtete Glasscheibe ist und daß das Muster eine
oder mehrere Rillen umfaßt, die in das Erzeugnis unter
Verwendung von Fluorionen bis zu einer Tiefe von weniger als
2 µm geätzt sind.
Es ist außerordentlich überraschend, daß es möglich ist, ein
Muster von Rillen auf eine gehärtete Glasscheibe zu ätzen.
Gehärtetes Glas ist bekanntlich sehr empfindlich gegen
Oberflächenangriff, und die Bildung irgendeiner Rille in
seiner Oberfläche würde spannungserhöhend wirken. Wegen der
sehr hohen Oberflächendruckspannung, die in der Oberfläche
des Glases während der chemischen Härtung erzeugt wird und
der Art und Weise, in welcher diese Druckspannungen von der
Oberfläche in das Innere der Glasscheibe abnehmen, ist zu
erwarten, daß jeder nicht gleichmäßige Oberflächenangriff,
insbesondere ein solcher, der zu V-förmigen oder
rechteckigen Rillen führen würde, eine hohe
Wahrscheinlichkeit des Brechens oder wenigstens starken
Verzerrung der gehärteten Glasscheibe führen würde.
Überraschenderweise wurde jedoch gefunden, daß dies nicht
der Fall ist und daß, vorausgesetzt, daß die Tiefe der
Ätzung in dem gehärteten Glas auf unterhalb 2 µm
eingestellt wird, es möglich ist, ein Rillenmuster zu ätzen,
während man den Vorteil der Härte und hohen Festigkeit
beibehält und ohne die Ebenheit des gehärteten Glases zu
stören.
Die chemische Härtung von Glas ist natürlich an sich
wohlbekannt und es dürfte hier nicht notwendig sein,
chemische Härtungsverfahren im einzelnen zu beschreiben. Es
genügt daraufhinzuweisen, daß diese Härtung auf dem Ersatz
von Natriumionen in den Oberflächenschichten des Glases
durch Ionendiffusion beruht. Die Natriumionen können durch
Kaliumionen ersetzt werden, die größer sind als Natriumionen
und somit Anlaß zum Auftreten von oberflächlicher
Druckspannung geben. Bei einem anderen Verfahren werden die
Natriumionen durch Lithiumionen ersetzt, die auf der
Oberfläche des Glases einen geringeren thermischen
Ausdehnungskoeffizienten hervorrufen. Auf diese Weise werden
ebenfalls oberflächliche Druckspannungen im Glas gebildet.
Das Ätzen mit Fluorionen ist eine Behandlung, bei der im
allgemeinen eine Auslaugung der Alkaliionen erfolgt, und es
ist daher überraschend, daß der größte Teil der günstigen
Wirkung der chemischen Härtung einer Glasscheibe nicht
verloren geht, wenn sie geätzt wird. Es wurde überraschen
derweise gefunden, daß dies bei dem Erzeugnis gemäß der
Erfindung nicht der Fall ist.
Ein Erzeugnis mit der Kombination von Merkmalen gemäß der
vorliegenden Erfindung hat für eine gegebene Dicke der
Glasscheibe eine verbesserte Festigkeit und Beständigkeit
gegen Bruch und die Vorteile der Transparenz (falls
gewünscht), der leichten Erzielung eines hohen Grades an
Ebenheit, chemische Stabilität und Beständigkeit gegen
Altern und Härte, die alle für die Anwendung von Glas
wichtig sind.
Bei bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung umfaßt das
Muster nahe aneinander liegende Rillenteile, die eine Breite
von weniger als 10 µm haben und wobei der Abstand
zwischen zwei benachbarten Rillenteilen geringer als 10
µm ist.
Eine solche Glasscheibe ist besonders brauchbar, da sie
praktisch mikroskopisch kleine, geätzte Rillen bietet, die
sich für zahlreiche neue Anwendungen eignen.
Es ist überraschend, daß ein Material, das so hart wie
gehärtetes Glas ist, solche dünnen geätzten Rillen aufweisen
kann, die so nahe aneinander liegen. Es war besonders
überraschend festzustellen, daß es möglich ist, eine solche
Ätzung direkt in einer Oberfläche zu erzielen, die zumindest
die Härte von Glas hat.
Das bevorzugte Merkmal der Erfindung bietet einen sehr
beträchtlichen Vorteil gegenüber der herkömmlichen Praxis,
die das Aufbringen einer Harzschicht erfordert, um das
Rillenmuster aufzunehmen, da es eine Platte aus gehärtetem
Glas liefert, die eine sehr feine Ätzung mit hoher Auflösung
trägt, die in einer sehr harten Oberfläche ausgebildet ist.
Vorzugsweise haben die geätzten Rillenteile eine Breite von
weniger als 1,5 µm und eine Tiefe von mehr als 50 nm, und
der Abstand zwischen zwei benachbarten Rillenteilen ist
kleiner als 2 µm.
Dieses Merkmal verbessert die hohe Auflösung des geätzten
Musters und ermöglicht es, daß eine solche Glasplatte
direkt, beispielsweise zur Herstellung einer
Datenspeicherscheibe benutzt wird. Überdies ergeben solche
Tiefen einen beträchtlichen Reliefeffekt bezüglich der
Breite der Rillen, was sich als sehr deutlicher Vorteil
erweist, wenn das Muster als Führungsspur von z. B. einer
Datenspeicherplatte dienen soll.
Gemäß einigen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung
ist das Muster in eine Oberflächenschicht der gehärteten
Glasscheibe geätzt. Diese Lösung ist sehr brauchbar, da das
Glas selbst den Träger für eine sehr feine und hoch
auflösende Ätzung darstellt, und daher fehlt jedes
Fremdmaterial auf der Unterlage vollständig, was es
ermöglicht, die Vorteile der dem Glas eigenen Eigenschaften
wahrzunehmen, wie Stabilität, Oberflächenglätte, Transparenz
und dergleichen.
In gewissen Fällen jedoch macht die Kompliziertheit der
chemischen Zusammensetzung des Glases die Arbeit des Ätzens
sehr schwierig. Aus diesem Grund wird insbesondere, gemäß
anderen vorteilhaften Ausführungsformen der Erfindung,
bevorzugt, daß die geätzten Rillenteile in eine Schicht
aus anorganischem Material geätzt werden, das auf dem Glas
abgeschieden ist, wobei das Material eine Härte hat, die
praktisch gleich oder größer ist als die Härte dieses Glases.
Diese Lösung ermöglicht es, die Oberflächenqualitäten
bezüglich Härte beizubehalten und doch ein außerordentlich
feines Muster in einer Oberfläche zu erzielen, die für das
Ätzen besser geeignet ist als das Glas selbst. Dies macht es
auch z. B. möglich, gleichzeitig die Passivierung der
Oberfläche des Glases durchzuführen, um, falls dies
zweckmäßig ist, die Diffusion von Ionen, wie Natrium- oder
Kaliumionen, in Schichten zu verhindern, die für das
Aufzeichnen von Daten beabsichtigt sind und anschließend
abgeschieden werden. Durch sorgfältige Wahl einer Schicht
mit einem geeigneten Brechungsindex kann dies es auch
möglich machen, unerwünschte Reflexionen an der Grenzfläche
zwischen der Unterlage und den folgenden Schichten zu
vermindern, was z. B. im Falle des optischen Lesens von
aufgezeichneten Daten von Vorteil sein kann.
Der Ausdruck "Oberfläche, deren Härte praktisch gleich oder
größer ist als die Härte des Glases" ist hier so zu
verstehen, daß diese Oberfläche eine Härte hat, die
wenigstens von der gleichen Größenordnung ist wie die Härte
von gewöhnlichem Glas. Er bezieht sich daher auf eine
Oberfläche, die als hart bezeichnet werden kann, im
Gegensatz zu insbesondere einer Schicht von gewöhnlichem
Harz oder einem Kunststoff.
In diesem Zusammenhang können verschiedene sehr harte
Schichten in Betracht gezogen werden, jedoch sollen diese
harten Schichten vorzugsweise nur praktisch einen einzigen
Bestandteil haben. Dieses Merkmal ist sehr günstig zur
Erzielung einer hohen Qualität der Ätzung, da die Probleme,
die der Ätzung mit Fluorionen eigentümlich sind, leichter
gelöst werden, wenn das Material nur einen einzigen
Bestandteil hat als bei einem Material, das eine Mehrzahl
von Bestandteilen aufweist und aus einer Mehrzahl von
Verbindungen erhalten ist, wie dies bei den meisten
herkömmlichen Gläsern und glasartigen Materialien der Fall
ist. Wenn die Ätzung erleichtert wird, ergibt sich eine
bessere Qualität.
Oxide, wie TiO2, können insbesondere als Beispiel solcher
Schichten erwähnt werden, jedoch wird vorzugsweise SiO2
gewählt. Diese Verbindung ermöglicht die Erzielung
einheitlicher und transparenter Schichten, was ein besonders
wichtiges Merkmal ist, da sie den Vorteil der Eigenschaften
des Glases beibehalten. Die so gebildeten Schichten können
sehr kompakt sein und beeinträchtigen nicht die hohe Glätte
oder Ebenheit der Oberfläche, die beim Glas erzielbar ist.
Es ist auch möglich, sie mit verhältnismäßig größerer
Leichtigkeit zu ätzen als Glas.
Es ist recht überraschend, daß es möglich ist, eine solche
harte anorganische Schicht auf einer Scheibe aus chemisch
gehärtetem Glas zu bilden, ohne einen großen Teil der
günstigen Wirkungen der Härtungsbehandlung zu verlieren.
Bekannte Maßnahmen zur Abscheidung von Schichten aus z. B.
SiO2 umfassen unweigerlich das Erhitzen der Scheibe, und
es wäre zu erwarten, daß dieses Erhitzen die Entlastung der
im Glas durch die Härtungsbehandlung aufgebauten
oberflächlichen Druckspannungen in beträchtlichem Ausmaß
bewirken würde. Überraschenderweise ist dies nicht
notwendigerweise so.
Falls das Muster in einer harten anorganischen Schicht
geätzt wird, ist es besonders vorteilhaft, wenn die Tiefe
der geätzten Linien praktisch gleich der Dicke der
anorganischen Schicht ist. Wenn es möglich ist, die harte
anorganische Schicht in gleichmäßiger Weise abzuscheiden,
kann dieses Merkmal eine beispielhafte Gleichmäßigkeit der
Dicke der geätzten Linien des Musters insgesamt
gewährleisten, insbesondere, wenn die anorganische Schicht
aus einem Material ist, das leichter ätzbar ist als Glas,
und dies erleichtert die Bereitstellung eines Mustes von
hoher Präzision.
Vorzugsweise weist die Glasscheibe gemäß der Erfindung eine
Antireflexschicht auf. Diese Schicht macht es möglich,
unerwünschte Reflexionen zu vermeiden, wenn man das geätzte
Muster betrachtet. Diese Verbesserung ist sehr nützlich,
wenn das geätzte Muster optisch abgetastet werden soll. In
vielen Fällen ist es möglich, diesen Effekt mittels einer
Schicht zu erzielen, die einen Brechungsindex hat, der
zwischen dem der Oberfläche der Unterlage und dem des
Materials liegt, das die Seite der Unterlage bei der
Benutzung bedeckt. Dies ermöglicht es, Brechungen an dieser
Grenzfläche zu vermindern. Beispielsweise besitzt für eine
magneto-optische Scheibe die spezielle Magnetschicht, die
die Daten aufnehmen soll, im allgemeinen einen
Brechungsindex in der Größenordnung von 2. Eine Schicht, die
einen Brechungsindex zwischen 1,5 und 2 oder etwas weniger
als 2 aufweist, ergibt recht wesentliche Vorteile. Im Falle
von magneto-optischen Scheiben erhöht eine solche
Antireflexschicht den Kerr-Effekt.
Das verwendete Glas kann gezogenes Glas sein, jedoch ist in
bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung die Glasscheibe
eine Floatglasscheibe, um die Vorteile der im allgemeinen
verbesserten Oberflächenebenheit zu haben.
Die Glasscheibe kann in jeder gewünschten Dicke hergestellt
werden, jedoch zeigen sich die Vorteile der vorliegenden
Erfindung besonders ausgeprägt in einer Glasscheibe, die
eine Dicke unterhalb 2 mm hat, wie dies bevorzugt wird.
Glasscheiben solcher Dicken haben den zusätzlihen Vorteil,
daß sie als Datenspeicherscheiben brauchbar sind, die mit
bekannter und im Handel erhältlicher Einrichtung gelesen
werden können.
Bei einigen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung wird
das Muster auf einer Seite des Erzeugnisses so geätzt, daß
Rillen maschenartig unter Bildung eines Gittermusters
angeordnet sind, wobei die Abmessung bzw. Größe der Masche
weniger als 0,5 µm ist und die gesamte optische Reflexion
dieser Seite innerhalb des sichtbaren Bereiches des
Spektrums weniger als 4% beträgt. Vorzugsweise ist die
Breite der geätzten Linien praktisch die gleiche wie die
Breite der Abstände zwischen den Linien.
Es wurde überraschenderweise gefunden, daß eine transparente
Glasscheibe, die mit einem solchen Muster geätzt ist, eine
gesamte optische Durchlässigkeit aufweist, die größer ist
als die der gleichen Glasscheibe ohne Ätzung. Dies ist recht
überraschend, da Linien, die reliefartig auf der Oberfläche
der Scheibe geätzt sind, normalerweise dazu führen,
unerwünschte Reflexionen zu erzeugen, was einen recht
beträchtlichen Teil des Lichtes diffus streut, so daß die
optische Durchlässigkeit dadurch stark vermindert sein kann.
Tatsächlich ist gemäß einer möglichen Erklärung die Größe
der Masche des Gitters so klein, daß sie geringer ist als
die Wellenlänge des Lichtes, so daß so eine Diffusion
vermieden wird.
Um eine Glasscheibe mit hoher optischer Durchlässigkeit zu
erhalten, ist es bekannt, auf die Scheibe mehrere
aufeinanderfolgende durchlässige Schichten aufzubringen, die
ein antireflektierendes Interferrenzfilter mit einem
Brechungsindex liefern, der von dem dem Glas eigenen
Brechungsindex bis zu dem Brechungsindex von Luft schwankt,
das heißt: n = 1. Im Falle von gewöhnlichem Natronkalkglas
ist der Brechungsindex "n" etwa gleich 1,5. Das Ideal wäre
es, wenn n in kontinuierlicher Weise zwischen 1,5 und 1 vom
Glas zur äußeren Oberflächenschicht variiert. Dies würde
jedoch eine unendliche Anzahl von aufeinanderfolgenden
Schichten bedeuten, was offensichtlich völlig unmöglich ist.
Wegen der besonderen Ätzung in Gitterform hat die Masche
dieses Gitters eine Abmessung von weniger als 0,5 µm und
wenn zusätzlich die geätzten Rillen an der Oberfläche der
Scheibe breiter sind als am Boden, ermöglicht es die
Glasscheibe gemäß der Erfindung, diesen Idealzustand zu
simulieren, ohne daß es nötig ist, eine Schicht auf der
Scheibe abzuscheiden. Eine mögliche Erklärung dieses
Phänomens ist, daß, da die Abmessungen der Masche
außerordentlich klein sind, jedes aufeinanderfolgendes
Niveau der geätzten Oberfläche praktisch einer homogenen
Schicht gleichgesetzt werden kann. Das äußere
Oberflächenniveau enthält wenig glasartiges Material und
viel Luft und hat daher einen Brechungsindex nahe dem von
Luft. Im Gegensatz dazu kann das Niveau am Boden der Ätzung
mit einer Glasschicht im Hinblick auf den Brechungsindex
gleichgesetzt werden.
Um den besten Effekt der Kontinuität zwischen dem
Brechungsindex des Glases und dem der Luft zu erzielen,
sollten im Idealfall die Rillen, d. h. die geätzten Linien,
und die vorspringenden Teile des Gitters vorzugsweise im
Querschnitt das allgemeine Aussehen von Dreiecken haben,
wobei die Gipfelpunkte dieser Dreiecke etwas gerundet sind.
Selbst wenn jedoch die Rillen und die vorstehenden Teile des
Gitters im Querschnit ein im allgemeinen rechteckiges
Aussehen haben, wobei die Seiten praktisch senkrecht zur
Scheibe stehen, hat die Erfindung noch sehr deutlichen Wert,
da die Schicht aus geätztem Glas einen Brechungsindex
zwischen dem der Kernplatte und dem der umgebenden
Atmosphäre hat. Das zu erhaltende Ergebnis ist die
Simulierung einer Schicht mit einem mittleren Brechungsindex.
Vorzugsweise ist die Tiefe der geätzten Linien größer als
0,1 µm. Diese Tiefe macht es möglich, eine sehr deutliche
Vermindern in der optischen Reflexion der geätzten Seite zu
erhalten. Ein Bereich für ausreichende Tiefen kann zwischen
0,1 und 1 µm fetsgesetzt werden.
Die beste Abmessung der Masche des Gitters hängt im
wesentlichen von der Wellenlänge der Strahlung ab, der die
Scheibe normalerweise während der Benutzung ausgesetzt ist.
Wenn diese Strahlung im Bereich zwischen etwa Gelb und dem
nahen Infrarot liegt, ergibt eine Zahl von etwas weniger als
0,5 µm sehr deutliche Vorteile zur Erzielung einer sehr
wenig reflektierenden Fläche. Um gute Ergebnisse über den
gesamten sichtbaren Bereich zu erzielen, erhält diese Masche
eine Abmessung, die deutlich kleiner ist als 0,5 µm. In
diesem Zusammenhang ist die Abmessung der Masche des Gitters
vorzugsweise unterhalb 0,1 µm. Wegen dieser geringen
Abmessung ist es möglich, das leicht bläuliche Aussehen der
Fläche der Scheibe zu vermeiden und somit ein farbloses
Aussehen zu erhalten.
Die Erfindung erstreckt sich auch auf eine Platte, die
wenigstens eine Scheibe aus gehärtetem Glas, wie oben
beschrieben, aufweist. Diese Platte kann z. B. eine
Solarzelle bilden und eine Scheibe aufweisen, die ein
geätztes Muster in Gitterform gemäß der Erfindung aufweist.
Die Verminderung der unerwünschten Reflexion verbessert
demgemäß das Verhalten der Solarzelle.
Bei anderen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung
bilden die geätzten Rillenteile eine spiralförmige
Führungsspur, deren Steigung bzw. Ganghöhe kleiner ist als 2
µm. Alternativ bilden geätzte Rillen eine Führungsspur,
die eine Reihe von konzentrischen Kreisen ist, deren Abstand
kleiner als 2 µm ist. Vorzugsweise liegt ein solches
Erzeugnis in Form einer runden Scheibe vor.
Solche Scheiben bilden einen wertvollen Beitrag zur
Verbesserung der Qualität und der Kosten einer
Speicherscheibe für die Datenaufzeichnung. Sie ist in
gleicher Weise wertvoll für jede andere Unterlage, wo es
absolut nötig ist, eine Führungsspur oder eine aufnehmende
Rille mit einer mikrometrischen Steigung oder Ganghöhe
zu haben.
Auf dem Gebiet der Datenspeicherscheiben, insbesondere der
optisch lesbaren und/oder beschreibbaren Scheiben,
gleichgültig ob sie löschbar (wiederbeschreibbar) sind oder
nicht, wie beispielsweise optische numerische Scheiben oder
magneto-optische Scheiben, ist es im allgemeinen notwendig,
eine Spur zu haben, die das System des Aufzeichnens oder
Ablesens führt. Ein charakteristisches Beispiel, das genannt
werden kann, ist das, wo das Aufzeichen und/oder Lesen
mittels eines Laserstrahls erfolgt, der auf die Oberfläche
fokussiert wird, welcher die Information trägt und zu einem
Durchmesser von etwa 1 µm gebündelt wird. Damit man die
Information bei hoher Dichte speichern kann, ist es
notwendig, eine Spur mit einem Abstand voneinander zu
bilden, der mikrometrisch ist (also im Mikrometerbereich
liegt). Während des Lesens oder Schreibens muß die Bewegung
des Laserstrahls radial zur Scheibe so exakt sein, daß es
schwierig ist, den nötigen Grad der Genauigkeit durch ein
rein mechanisches System zu erzielen. Demgemäß trägt die
Scheibe eine Spur, die als Führung für den Laserstrahl dient
und man verwendet ein Servosystem, das elektronisch
betrieben wird. Ein solches System kann auf der Brechung des
Laserstrahls durch die geätzten Linien beruhen, insbesondere
durch die Seiten des Rillenmusters, welches ein elektrisches
Signal in Abhängigkeit von Veränderungen in der Amplitude
oder Phase des abgebeugten Strahls moduliert, um ein
Servosystem zu steuern, das die laufende Korrektur der
Position und des Fokus des Strahles bewirkt, so daß er
richtig der Führungsspur folgt.
Es ist ersichtlich, daß zur Bildung des Rillenmusters
verschiedene Möglichkeiten angewandt werden können, je nach
dem Ergebnis, das man zu erhalten wünscht. Die Spurführung
kann gesteuert werden, indem man ein Paar von geätzten
Linien abtastet oder indem man eine einzige geätzte Linie
abtastet. Die geätzten Linien können kontinuierlich sein
oder sie können unterbrochen sein, indem z. B. das Muster
durch eine regelmäßig unterbrochene Linie gebildet wird,
deren allgemeiner Verlauf trotzdem diese Spirale darstellt,
oder durch eine Mehrzahl von unterbrochenen Bögen, die die
konzentrischen Kreise darstellen. Das Rillenmuster kann so
aus einer Folge von kurzen geätzten Linien in einem Abstand
voneinander bestehen. Im Falle, wo die Spurführung durch das
Abtasten eines Paars von unterbrochenen Linien erfolgt,
können die kurzen geätzten Rillen, die einfach Löcher sein
können, die Register halten oder nicht und ihre Längen und
Abstände können gleichmäßig sein oder sie können
unterschiedliche Längen haben und kodiert sein, um
adressierende Information zu liefern.
Es wird allgemein anerkannt, daß eine Glasscheibe erhebliche
Vorteil hat, insbesondere durch Zustand und Ebenheit ihrer
Oberfläche, im wesentlichen, weil sie feuerpoliert ist. Sie
besitzt auch kaum vergleichbare chemische Stabilität. Das
Vorliegen einer Schicht von Harz auf einer solchen
Unterlage, was konventionell zur Bildung einer Führungsspur
darin der Fall ist, führt wenigstens zum teilweisen Verlust
dieser vorteilhaften Eigenschaften und kann für die Zwecke
einer Datenaufzeichnungsschicht nachteilig sein.
Die Glasscheibe gemäß der Erfindung macht diese besondere
Schicht überflüssig, da die Scheibe selbst die gewünschte
Führungsspur trägt, die auf eine ihrer Seiten geätzt ist.
Die durch die geätzten Linien auf der Fläche der Scheibe
definierte Rille bildet diese Spirale oder das Muster der
konzentrischen Kreise, was als Führungsspur für den
Laserstrahl dient und z. B. eine Tiefe von etwa 70 nm hat.
Wenn solche geätzten Linien in einer harten Schicht erzeugt
werden, die auf dem Glas abgeschieden ist, wie einer
SiO2-Schicht, hat auch diese Schicht vorzugsweise eine
Dicke von 70 nm.
Für optische digitale Scheiben oder für magneto-optische
Scheiben z. B. ist es im allgemeinen notwendig, daß die
Ganghöhe der Führungsspur 1,6 µm ist und daß die Rille
eine Breite von etwa 0,6 µm hat. Die Schicht, welche die
Daten enthalten soll, wird auf der vorgeätzten Seite
abgeschieden nach geeigneter Reinigung der Oberfläche, so
daß sie von der Feuerpolitur des Glases profitiert. Die
Daten können am Grunde einer kontinuierlich geätzten Spur
aufgezeichnet werden oder auf einer ungeätzten Oberfläche
zwischen einem Paar von diskontinuierlich geätzten Spuren.
Vorzugsweise besitzt der Boden der Rille, welche die
Führungsspur darstellt, eine Rauhigkeit Ra unterhalb 10 nm
und vorzugsweise unterhalb 5 nm. Diese Rauhigkeitszahl, die
als das arithmetische Mittel des Abweichens des
Rauhigkeitsprofils von der Mittellinie berechnet wird, kann
recht gut nahe der von gezogenem Glas oder Floatglas sein.
Im Falle der optischen Ablesung z. B. verbessert dies
beträchtlich die auf Reflexion zurückzuführenden Effekte und
vermindert parasitäre Signale oder Hintergrundrauschen
beträchtlich. Dieses Merkmal ergibt auch einen
Oberflächenzustand, der annehmbar ist zur Aufnahme einer
Schicht, die aufgezeichnete Daten aufnehmen soll, z. B. in
digitaler Form.
Vorzugsweise besitzen auch die Seiten der Rille eine
praktisch symmetrische Neigung bezüglich einer Achse
senkrecht zum Boden der Hülle. Dieses Merkmal macht es
leichter, die der Vorrichtung erteilte Bewegung zu steuern,
die dieser Rille folgen können soll, da die Signale, die vom
Abtasten dieser Seiten herrühren, so leichter zu verarbeiten
sind.
Eine solche Scheibe ist zweckmäßig für die Speicherung von
aufgezeichneten Daten angepaßt. Wenn das geätzte Muster eine
Führungsspur für eine solche Scheibe darstellt, ist dieses
Muster vorzugsweise adressenweise moduliert. Die Erfindung
liefert somit eine präformierte Datenspeicherscheibe, die
z. B. Informationen zum Synchronisieren und Adressieren von
unterschiedlichen Sektoren und Spuren tragen kann.
Bei einigen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung ist
das geätzte Muster mit einer Daten aufzeichnenden Schicht
überschichtet. Die Erfindung liefert somit eine
Datenspeicherscheibe, die vom Verbraucher beschrieben
und/oder gelesen werden kann, z. B. mittels eines Lasers.
In anderen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung ist
das geätzte Muster datenweise moduliert. Die Erfindung kann
somit dazu benutzt werden, um eine nur lesbare
Datenspeicherscheibe zu bilden, in welcher die Information
direkt auf dem Glas oder einer harten anorganischen Schicht
darauf aufgezeichnet ist, ohne das Erfordernis einer
verhältnismäßig weichen Harzschicht. Dies ist von besonderem
Wert für Archivzwecke, weil solches geätztes Muster einen
hohen Grad an Dauerhaftigkeit hat.
Die Erfindung umfaßt auch ein Verfahren zur Herstellung
eines Erzeugnisses, das eine Glasscheibe enthält und ein
geätztes Muster aufweist.
Das Verfahren gemäß der Erfindung zeichnet sich dadurch aus,
daß eine Glasscheibe chemisch gehärtet wird, eine Schicht
aus strahlungsempfindlichem Material auf wenigstens eine
Seite dieser Scheibe aufgebracht und unter Bildung eines
latenten Bildes eines gewünschten Rillenmusters Strahlung
ausgesetzt wird, wobei das strahlungsempfindliche Material
unter Bildung einer Reserve entwickelt wird und daß die
Scheibe durch die Reserve der Einwirkung von Fuorionen in
einem Ätzmedium ausgesetzt wird, um das gewünschte
Rillenmuster bis zu einer Tiefe von weniger als 2 µm zu
ätzen.
Das Ätzen mit Fluorionen ist eine Behandlung, wobei im
allgemeinen ein Auslaugen der Alkaliionen erfolgt, und es
ist daher überraschend, daß die meisten günstigen
Eigenschaften der chemisch gehärteten Glasscheibe nicht
verlorengehen, wenn sie geätzt wird. Es wurde
überraschenderweise gefunden, daß dies beim Verfahren der
Erfindung nicht der Fall ist.
Ein Verfahren mit der Kombination von Merkmalen der
vorliegenden Erfindung ergibt für eine gegebene Dicke der
Glasscheibe ein geätztes Erzeugnis mit verbesserter
Festigkeit und Beständigkeit gegen Bruch und verleiht die
Vorteile der Durchsichtigkeit (falls gewünscht), des
leichten Erzielens eines hohen Grades an Ebenheit,
chemischer Stabilität und Beständigkeit gegen Altern sowie
Härte, was alles mit der Verwendung von Glas zusammenhängt.
Die Strahlung "bedruckt" das empfindliche Material. Diese
Strahlung kann z. B. auf das empfindliche Material in Form
eines dünnen Strahls gerichtet werden, der sich gemäß dem zu
ätzenden Muster bewegt und einer Schablone folgt oder in
exakter Weise durch elektronische Mittel geführt wird, was
es ermöglicht, das gewünschte latente Bild in dem
empfindlichen Material zu bilden. Zum Beispiel kann ein
Laserstrahl verwendet werden und eine relative Bewegung
zwischen der das empfindliche Material tragenden Unterlage
und diesem Laserstrahl in solcher Weise erzeugt werden, daß
man dieses Muster zeichnet. Es ist somit möglich, im
empfindlichen Material ein Bild des zu ätzenden Musters zu
erzeugen. Je nach der Art des verwendeten empfindlichen
Material und der Art der Strahlung kann das latente Bild
selbstentwickelnd sein, z. B. weil die bestrahlten Bereiche
gefärbt werden, verdampfen oder unter dem Einfluß dieser
Strahlung verschwinden, oder das Bild kann ein latentes Bild
sein, das in einer anschließenden Entwicklungsstufe
entwickelt wird oder erscheint.
Die anschließende Entwicklung des latenten Bildes kann,
wo dies relevant ist, von der photographischen Art sein, die
einen Entwickler und ein Fixiermittel benutzt. Es ist somit
möglich, die Zonen des Musters in der Reserve zu
differenzieren, indem man ihnen eine unterschiedliche
mechanische oder chemische Beständigkeit unter der
Einwirkung der Strahlung verleiht und dann die am wenigsten
beständigen Zonen entfernt. Zum Beispiel können die
bestrahlen Zonen unter der Einwirkung der Strahlen härten,
in welchem Falle die nichtbestrahlten Zonen dann entfernt
werden, oder umgekehrt können die bestrahlten Zonen weniger
beständig sein, so daß sie entfernt werden können, ohne die
Zonen, die nicht bestrahlt sind, zu beschädigen. Je nachdem
wird diese Entfernung, z. B. durch einfaches Bürsten oder mit
Hilfe eines Lösungsmittels bewirkt.
Unter geeigneten Vorsichtsmaßnahmen ermöglicht die Anwendung
eines strahlungsempfindlichen Materials die Erzielung einer
genauen und hochauflösenden Reserve auf der Unterlage. Indem
man diese Unterlage mit der Reserve der Einwirkung eines
Ätzmediums unterwirft, das Fluorionen enthält, ist es somit
möglich, sie in einem sehr exakten Muster zu ätzen.
Zum Beispiel kann eine metallische Reserve erzeugt werden.
In diesem Falle ist es möglich, in mehreren Stufen zu
arbeiten, wobei man anfänglich eine erste Reserve erzeugt,
die im allgemeinen organischer Natur ist. Auf diese erste
Reserve kann man dann eine Metallschicht abscheiden, die an
dem Material der Fläche der Unterlage haftet, die nicht von
der organischen Reserve geschützt ist. Die dazwischenliegende
organische Reserve wird dann entfernt, um nur die
metallische Reserve zu hinterlassen, die nach der Einwirkung
des Ätzmediums auf der Unterlage in solcher Weise bleibt,
daß sie eine schützende Wirkung hat. Es ist ersichtlich, daß
die verschiedenen Reserven entweder positiv oder negativ
sein müssen, je nach dem Fall, um das beabsichtigte
Endmuster zu erzielen.
Nach der Einwirkung des Ätzmediums kann daher das noch auf
der Unterlage vorhandene empfindliche Material, das als
Reserve gedient hat, dort bleiben, um geeignetenfalls einen
anschließenden Schutz zu bilden. Vorzugsweise jedoch wird
die Reserve von der Unterlage nach der Einwirkung des
Ätzmediums entfernt. Dies ergibt ein Fertigerzeugnis ohne
alle überflüssigen Markierungen, die vom Ätzverfahren
herstammen.
Das Muster kann im Glas selbst geätzt werden, wobei das
Ätzmedium das Glas entfernt. Diese Lösung ermöglicht es,
eine Unterlage zu erzielen, die in der Masse geätzt ist, was
es ermöglicht, von den Eigenschaften des Glases beim Fehlen
jedes anderen Materials zu profitieren, und im allgemeinen
ist dies als solches recht geeignet. In anderen Fällen wird
man das Vorliegen einer anorganischen Schicht auf der Seite
des Glases vor der Abscheidung des strahlungsempfindlichen
Materials bevorzugen und das Material, das während der
Ätzung entfernt wird, ist demgemäß Material, das von dieser
anorganischen Schicht stammt. Vorzugsweise wählt man eine
anorganische Schicht mit einer Härte von der gleichen
Größenordnung wie die von Glas, was den Oberflächenzustand
und insbesondere die Oberflächenglätte des Glases nicht
beeinträchtigt und die leicht in gleichmäßiger Weise ohne
Beeinträchtigung oder Verzerrung der Unterlage abgeschieden
werden kann und die leichter zu ätzen ist als das Glas
selbst. Dies hat somit den wichtigen Vorteil, daß es die
Ätzung erleichtert, ohne die der Glasunterlage oder
glasartigen Unterlage eigentümlichen Eigenschaften zu
verschlechtern. Die Schwierigkeit beim Ätzen von Glas stammt
im allgemeinen von der Tatsache, daß es ein hartes Material
ist, das aus verschiedenen Bestandteilen gebildet ist, die
unter der Einwirkung des Ätzmediums ganz unterschiedliche
Reaktionen zeigen können. Dieses Problem wird vermieden,
wenn die glasartige Unterlage eine anorganische Schicht
trägt, die durch einen einzigen Bestandteil gebildet ist,
z. B. ein Oxid. Eine anorganische Schicht, der besondere
Aufmerksamkeit gilt, ist eine Schicht aus SiO2. Dies ist
eine sehr harte, durchsichtige Schicht, die in gleichmäßiger
Weise und in sehr dünner Schicht abgeschieden werden kann,
ohne die Oberflächenglätte des Glases zu beeinträchtigen.
Bezüglich der Ätzung haben Schichten einer
Siliciumverbindung den wichtigen Vorteil, daß sie die
flüchtige Verbindung SiF4 in Gegenwart von Fluorionen im
Ätzmedium bilden könne, was das feine und präzise Ätzen
erleichtert.
Es ist recht überraschend, daß es möglich ist, eine solche
harte anorganische Schicht auf einer Scheibe von chemisch
gehärtetem Glas zu bilden, ohne einen großen Teil der
günstigen Wirkungen der Härtungsbehandlung zu verlieren.
Bekannte Arbeitsweisen zur Abscheidung von Schichten von
beispielsweise SiO2 bedingen unweigerlich das Erhitzen der
Scheibe, und es wäre zu erwarten, daß dieses Erhitzen die
durch die Härtungsbehandlung im Glas oberflächlich
gebildeten Druckspannungen in wesentlichem Ausmaße
entspannen würden. Überraschenderweie ist dies nicht
notwendigerweise so.
Die anorganische Schicht wird vorzugsweise bis zu einer
Dicke abgeschieden, die praktisch gleich ist der Tief des
zu ätzenden Musters. Dies ermöglicht ein Maximum der
günstigen Wirkung des Vorliegens der Schicht ohne
übermäßiges Material zu erzielen. Eine Dicke von 70 nm
beispielsweise kann für eine anorganische Schicht geeignet
sein, in welcher eine Rille geätzt werden soll, die als
Führung für einen Laserstrahl dienen soll.
In diesem Fall wird die Einwirkung des Ätzmediums
vorzugsweise abgebrochen, wenn letzteres das Glas über
praktisch die gesamte Oberfläche des zu ätzenden Musters
erreicht. Dieses Verfahren ermöglicht es, ein Muster von
außerordentlicher Regelmäßigkeit der Dicke zu erzielen.
Tatsächlich ist es möglich, die Tatsache auszunutzen, daß
die Reaktionsgeschwindigkeit beim Material der anorganischen
Schicht und dem Glas verschieden ist. Es ist insbesondere
möglich, die Tatsache auszunutzen, daß dann, wenn das
Ätzmedium das Glas erreicht, eine Verbindung gebildet wird,
welche die Reaktion blockiert. Es ist somit möglich, ein
Muster bis zu einer Tiefe zu ätzen, die praktisch an allen
Punkten gleich ist der Dicke der anorganischen Schicht und
somit ausgezeichnete Regelmäßigkeit hat.
Selbst, wenn keine metallische Reserve verwendet wird, kann
das der Strahlung ausgesetzte empfindliche Material auch, wo
dies geeignet ist, zur Bildung einer intermediären Reserve
dienen, die nicht diejenige ist, welche zum Schutz des
Glases oder des Materials der Oberfläche der Unterlage gegen
die Einwirkung des Ätzmediums dient. Diese letztere Reserve
wird dann durch die intermediäre Reserve gebildet.
Vorzugsweise besteht jedoch die Reserve, welche die Seite
der Unterlage direkt während der Einwirkung des Ätzmediums
schützt, aus diesem empfindichen Material nach Belichtung
durch die Strahlung. Diese Arbeitsweise gewährleistet eine
bessere Zuverlässigkeit und bessere Präzision der Ätzung
durch die Verminderung der unmittelbaren Stufen und auch der
Preis der Ätzung wird dadurch vermindert.
Die zum Bedrucken des empfindlichen Materials verwendete
Strahlung kann z. B. eine Teilchenstrahlung sein. Dies kann
ein Neutronenstrahl sein. Es ist dann ausreichend, ein
Material zu verwenden, das gegen diese Art von Strahlung
empfindlich ist. Auch Alpha- oder Betastrahlung kann
verwendet werden.
Vorzugsweise ist die Strahlung eine elektromagnetische
Strahlung. Diese Art der Strahlung ist einfacher zu erzeugen
und anzuwenden. Es ist möglich, Röntgenstrahlung oder
Gammastrahlung zu verwenden, jedoch auch eine Strahlung von
mikrometrischer Wellenlänge.
Vorzugsweise ist jedoch das strahlungsempfindliche Material
ein phtoempfindliches bzw. lichtempfindliches Harz und die
Strahlung umfaßt optische Strahlung und vorzugsweise
Ultraviolettstrahlung. Optische Strahlenquellen sind sehr
leicht anzuwenden, und diese Art von Strahlung ermöglicht
es, bequem soagar ein sehr kompliziertes optisches System
hoher Leistungsfähigkeit zu benutzen. Überdies gibt es auf
dem Markt einen weiten Bereich von lichtempfindlichen
Harzen, die es möglich machen, eine genaue Reserve ohne
Schwierigkeiten zu erhalten. Ultraviolettstrahlung ist sehr
brauchbar zur Differenzierung von Zonen zur Bildung eines
Bildes in einem lichtempfindlichen Harz, da sie leicht eine
Wirkung auf die Polymeriation des Harzes ausüben kann. Es
gibt lichtempfindliche Harze, die als negative und solche,
die als positive bezeichnet werden, die sich in
entgegengesetzter Weise unter der Einwirkung von
Ultraviolettsttrahlung verhalten, das heißt, z. B. härten sie
durch Polymerisation unter der Einwirkung eines intensiven
Lichtes und werden in einer gewissen Anzahl von
Lösungsmitteln unlöslich oder sie werden andererseits
zerstört und werden löslich.
Im Falle der Verwendung von optischer bzw. sichtbarer
Strahlung wird die Fläche der Scheibe entgegengesetzt
derjenigen, auf welche das Muster geätzt werden soll,
vorteilhafterweise mit einer opaken Schicht vor der
Einwirkung der optischen Strahlung bedeckt. Im Falle von
Glas, das praktisch für sichtbares Licht durchlässig ist,
wie dies im allgemeinen bei der Mehrzahl der Gläser der Fall
ist, erhöht diese Vorsichtsmaßnahme die Präzision der Ätzung
und die Auflösung des erhaltenen Musters beträchtlich.
Tatsächlich hängt im Falle eines transparenten Materials die
optische Reflexion auf der entgegengesetzten Seite der
Unterlage von dem Träger ab, auf welchem die Unterlage
angeordnet wird und kann daher von einem Ort zum anderen
stark variieren je nach dem Aussehen des Trägers und seinem
Oberflächenkontakt mit dem Glas. Da die Bestrahlung des
photoempfindlichen Harzes in gleicher Weise von dem Rückweg
der Lichtstrahlung durch das Harz abhängt, d. h. von der
Reflexion auf der entgegengesetzte Fläche, besteht die
Gefahr, daß das Ergebnis von einer Stelle zur anderen in der
Unterlage stark schwankt. Die Abscheidung einer opaken
Schicht auf der entgegengesetzten Seite macht es möglich,
eine regelmäßige und gesteuerte Reflexion zu erhalten, was
zu besseren Resultaten führt.
Anstatt dieser oder in Kombination mit dieser auf der
entgegengesetzten Seite abgeschiedenen opaken Schicht ist
das photoempfindliche Harz vorzugsweise ein Harz, das gegen
optische Strahlung durchlässig ist und bei Exponieren, also
Belichten mit dieser Strahlung, absorbierend wird. Dieses
Harz vermindert den Einfluß der Reflexion von der
entgegengesetzten Seite beträchtlich.
Vorzugsweise wird eine den Kontrast erhöhende Schicht auf
dem photoempfindlichen Harz vor der Einwirkung der Strahlung
bzw. Belichtung durch die Lichtstrahlung aufgebracht. Diese
Spezialschichte haben den besonderen Vorteil, daß sie vor
der Belichtung opak sind und nach Einwirkung der Strahlung
transparent werden, was bedeutet, daß die stark belichteten
Zonen zuerst transparent werden. Die dadurch bedingte
Zunahme im Kontrast begünstigt die Erzielung eines besser
definierten Musters und daher eine präzisere Ätzung.
Vorteihafterweise wird diese Seite der Unterlage der
Einwirkung von Ionen niedriger Energie mittels eines Plasma
auf Sauerstoffbasis vor dem Ätzen unterworfen, um so diese
Seite über das zu ätzende Muster im wesentlichen zu
belichten. Diese Vorsichtsmaßnahme erleichtert die
Einwirkung des Ätzmediums und macht es möglich,
außerordentlich feine Muster zu erzeugen.
Wie oben erläutert, kann die Strahlung von einem Laserstrahl
stammen und das Muster kann mittels der relativen Bewegung
zwischen dieser Strahlung und der Unterlage erzeugt werden.
Man kann einen einzigen gebündelten Laserstrahl anwenden, der
das gewünschte Muster zeichnet oder einen
Mehrfachstrahllaser, der durch Interferenztechnik gebildet
ist. Vorzugsweise wird jedoch das strahlungsempfindliche
Material der Strahlung durch eine Maske ausgesetzt. Die
Maske stellt ein Muster dar, das durch das zu ätzende Muster
bestimmt wird. Wenn die zwischen die Strahlungsquelle und
das mit dem empfindlichen Material bedeckte Glas gebracht
wird, erreicht die Strahlung das empfindliche Material nur
an gewissen Stellen als Funktion des zu ätzenden Musters, so
daß es möglich ist, ein Bild des gewünschten Musters zu
erzeugen.
Je nach der Art des gewählten empfindlichen Materials kann
die Maske des zu ätzenden Muster in solcher Weise darstellen,
daß es die Strahlung durchgehen läßt, wo eine Ätzung
erwünscht ist oder umgekehrt in solcher Weise, daß die Maske
die Strahlung an diesen Punkten abhält.
Die Verwendung einer Maske, die in den Weg der Strahlung
gebracht wird, ermöglicht es, eine Reserve zu erzeugen, die
exakt von hoher Auflösung und leicht Reproduzierbar ist.
Gemäß einigen bevorzugten Ausführungsformen des Verfahrens
gemäß der Erfindung stellt diese Maske nur einen Teil der
Gesamtheit des zu ätzenden Musters dar, und verschiedene
Teile des empfindlichen Materials werden nacheinander durch
diese Maske belichtet, um das latente Bild zu bilden. Es ist
somit möglich, Muster von großen Abmessungen zu ätzen,
vorausgesetzt, daß sie ein sich wiederholendes Motiv
besitzen, indem man eine sehr kleine Maske benutzt, d. h.
eine Maske, die verhältnismäßig billig ist im Vergleich zu
einer Maske, welche das ganze Muster aufweist.
Gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung
stellt die Maske die Gesamtheit des zu ätzenden Musters dar.
Diese Arbeitsweise macht es möglich, genaue Muster mit sich
nicht wiederholenden Motiven zu bilden oder wo die
Verbindung zwischen den identischen Motiven keine Versetzung
bzw. Abweichung zuläßt. Dies erfordert jedoch die Anwendung
einer Maske, deren Größe diejenige des zu ätzenden Musters
ist oder die Verwendung einer Linsenvorrichtung und einer
Bestrahlungsapparatur, die ausreicht, um das gesamte Muster
aufzunehmen. Das Muster kann z. B. einen Durchmesser von 13
cm oder 30 cm haben.
Wenn eine Maske verwendet wird, um die Erzielung einer sehr
hohen Auflösung der Linien des zu ätzenden Musters zu
ermöglichen, insbesondere wenn letztere außerordentlich fein
und sehr nahe zueinander sind, ist es notwendig, die Maske
so nah wie möglich an das zu bestrahlende empfindliche
Material zu plazieren, um jede Streuung des Strahls der
Strahlung zwischen Maske und diesem Material zu vermeiden.
In einigen Fällen je nach der Feinheit und Nähe der Linien
des Musters und je nach der akzeptierten Toleranz kann es
sogar notwendig sein, die Maske gegen das zu bestrahlende
empfindliche Material zu pressen. Diese letztere
Arbeitsweise erfordert eine beständige Maske, damit sie
nicht beschädigt wird, was die Reproduzierbarkeit
beeinträchtigen würde, die von der gleichen Maske erzielbar
ist.
Vorzugsweise wird die Strahlung auf das empfindliche
Material gebündelt. Diese Arbeitsweise macht es möglich, ein
gut definiertes Bild zu erhalten. Wenn eine Maske verwendet
wird, verhindert diese Arbeitsweise den Kontakt zwischen der
Maske und dem zu bestrahlenden empfindlichen Material,
während sie eine genaue Reproduktion des zu ätzenden Musters
gewährleistet. Wenn z. B. optische Strahlung verwendet wird,
ist es möglich, gemäß dieser alternativen Ausführungsform
des Verfahrens der Erfindung ein optisches System zu
verwenden, das z. B. einen Spiegel und Linsen umfaßt, was es
möglich macht, sehr genau auf das empfindliche Material zu
fokussieren, während man jeden Kontakt mit der Maske
vermeidet. Letztere kann selbst bei einem verhältnismäßig
großen Abstand von dem zu bestrahlenden empfindlichen
Material angeordnet sein. Für gewisse andere Arten von
Strahlung kann eine Fokussierung, die auf der Einrichtung
eines magnetischen Feldes beruht, angewandt werden.
Das Ätzmedium muß so gewählt werden, daß es das Glas
angreift, ohne die Reserve zu beschädigen. Das Ätzmedium
kann ein flüssiges Medium oder ein gasörmiges oder ein
Plasmamedium sein.
Gemäß einigen bevorzugten Ausführungsformen des
erfindungsgemäßen Verfahrens ist das Ätzmedium eine
Flüssigkeit. Es ist z. B. möglich, Fluorwasserstoffsäure
und/oder ein Fluorsalz in wäßriger Lösung zu verwenden.
Diese Lösungen machen es möglich, ein Netzwerk aus
Siliciummaterial ohne Schwierigkeit anzugreifen.
Die Reaktivität des Ätzmediums gegenüber dem Glas wird
vorzugsweise derart eingestellt, daß die Dauer des Angriffes
nicht zu kurz ist, um die gewünschte Tiefe zu erhalten, z. B.
daß sie größer als 1 Minute ist. Diese Vorsichtsmaßnahme
macht es leichter, die Tiefe des Angriffes zu steuern und
somit eine gute Reproduzierbarkeit zu erhalten, da sie eine
gewisse Toleranz in der Behandlungszeit zuläßt, was nicht
gänzlich vernachlässigbar ist. Demgemäß bevorzugt man ein
Ätzmedium das ein Fluorsalz enthält, wie beispielsweise
NaF, in wäßriger Lösung und in schwacher Konzentration,
z. B. weniger als 1 Gew.-% Fluorid.
Vorzugsweise enthält das flüssige Ätzmedium auch ein
Poliermittel. Für sehr präzise und hoch auflösende Gravuren
ist es oft notwendig, daß die geätzten Bereiche eine
verhältnismäßig niedere Rauhigkeit besitzen. In gewissen
Fällen von verhältnismäßig flachen Ätzungen ist es notwendig
zu gewährleisten, daß die Rauhigkeit nicht so wird, daß sie
nicht länger im Vergleich zur Tiefe der Ätzung
vernachlässigbar wird. Indem man ein Poliermittel in das
Ätzmedium einbezieht, ist es möglich, die Rauhigkeit derart
zu vermindern, daß sie bezüglich der geätzten Tiefe
vernachlässigbar wird und ein Profil zu erhalten, das
weniger empfindlich für die Zugspannungen ist, die durch die
Härtungsbehandlung eingeführt wurden. Es ist möglich, ein
Poliermittel zuzusetzen, das auf die Größe und/oder die
Anzahl der Punkte des Angriffes wirkt und/oder die
Entfernung der Reaktionsprodukte der Ätzung von der
Ätzreaktionsstelle unterstützt. Zum Beispiel ist es
vorteilhaft, Schwefelsäure und/oder Phosphorsäure als
Poliermittel zuzusetzen.
Gemäß anderen bevorzugten Ausführungsformen des Verfahrens
der Erfindung ist das Ätzmedium ein Plasma (das Fluorionen
enthält), das einen Ionenangriff auf die Unterlage bewirken
kann. Diese Art von Angriff ermöglicht es, mit hoher
Präzision geätzte Muster zu erzielen, deren Linien
außerordentlich fein sind.
Vorzugsweise wird ein Plasma gewählt, dessen aktive Ionen
Argonionen enthalten, was einen hochgradig gerichteten
Angriff gestattet.
Dieses Plasma enthält eine fluorhaltige Verbindung zur
Bereitstellung von Fluorionen. Es ist möglich, z. B. in
dieses Plasma fluorierte Kohlenwasserstoffe, wie C2F4
und insbesondere Freone, wie CHF3 einzubringen. Diese
fluorierten Produkte sind besonders wirksam in den Fällen,
wo Silicium auf der zu ätzenden Seite vorliegt. Tatsächlich
erfolgt beim Vorliegen von Elektronen im Plasma die Bildung
von fluorierten Radikalen, die hochgradig reaktiv gegenüber
einem Netzwerk auf Siliciumbasis sind, was die korrosive
Wirkung des Plasmas gegenüber dem siliciumhaltigen Material
verstärkt. Als Ergebnis bildet sich SiF4, das flüchtig ist
und die Entfernung des Materials erleichtert. Auch dies
gestattet einen exakteren Angriff.
Vorzugsweise ist die durchschnittliche Energie, die in den
Plasmaionen induziert wird, wenn sie mit der Oberfläche in
Kontakt gelangen, geringer als 50 eV und vorzugsweise
geringer als 20 eV. Dies macht es möglich, das zu tiefe
Eindringen der Ionen in die zu ätzende Fläche zu vermeiden
und ist günstig für eine geringe Rauhigkeit. Für eine
Angriffstiefe von etwa 70 nm kann eine Energie in der Nähe
von 4 oder 5 eV als Minimum betrachtet werden. Der Druck
während des Ionenangriffes sollte nicht zu hoch sein, so daß
die mittlere freie Weglänge der Ionen erhöht wird und um
eine Ablenkung zu vermeiden und somit eine sauber geätzte
Rille mit hochgradig symmetrischen Seiten zu bilden.
Das Verfahren der Erfindung macht es möglich, jede Art von
Muster in präziser Weise auf chemisch gehärtetem Glas zu
erzeugen, z. B. eine Herstellermarke oder eine Dekoration. Es
ermöglicht auch die Erzielung sehr feiner Linien mit guter
Präzision. Linien von größenordnungsmäßig einem Zehntel
Millimeter, die durch einen Zwischenraum mit der gleichen
Größenordnung voneinander getrennt sind, können ohne
Schwierigkeit gebildet werden.
Vorzugsweise hat jedoch wenigstens eine Linie in dem zu
ätzenden Muster eine Breite von weniger als 1,5 µm und
vorzugsweise ist der Zwischenraum zwischen zwei benachbarten
Linien auf dem zu ätzenden Muster geringer als 2 µm.
Solche feinen und nahe beieinander liegenden geätzten Linien
konnten bisher aufgehärtetem Glas nicht erhalten werden. Für
diesen Fall ist die Erfindung von größtem Wert.
Gemäß bevorzugten Ausführungsformen wird das Verfahren der
Erfindung für die Herstellung von Datenspeicherscheiben
angewandt.
Bei einigen solchen Ausführungsformen wird das Rillenmuster
unter Bildung einer Reihe von konzentrischen Kreisen geätzt,
deren Abstand weniger als 2 µm beträgt, während bei
anderen solchen Ausführungsformen das Rillenmuster in Form
einer Spirale geätzt wird, deren Steigung (Ganghöhe) weniger
als 2 µm beträgt. Jede dieser Ausführungsformen ergibt
eine hohe Kapazität der Scheibe für die Datenspeicherung.
Bei solchen Ausführungsformen hat vorzugsweise der Boden des
Rillenmusters eine Rauhigkeit Ra unterhalb 10 nm und
vorzugsweise unterhalb 5 nm. Dies begünstigt ein hohes
Verhältnis von Signal zu Rauschen, was günstig für das
Auffinden der gespeicherten Daten ist. Eine solche geringe
Rauhigkeit kann leicht erhalten werden, wenn man während des
Ätzens gewisse Vorsichtsmaßnahmen ergreift, beispielsweise
indem man einen Plasmaionenangriff ziemliche niedriger
Energie oder ein Poliermittel in einem flüchtigen Ätzmedium,
wie oben beschrieben, benutzt.
Vorteilhafterweise wird das Ätzen so durchgeführt, daß die
Seiten der Rille eine praktisch symmetrische Neigung
bezüglich einer Achse senkrecht zum Boden haben. Dies
erleichtert die Verarbeitung von Signalen aufgrund von
Licht, das von der Rille reflektiert wird.
Vorzugsweise ist das Muster der geätzten Rille adressenweise
moduliert.
Bei einigen bevorzugten Ausführungsformen ist das geätzte
Rillenmuster mit einer Datenaufzeichnungsschicht
überschichtet. Alternativ ist vorzugsweise das geätzte
Rillenmuster datenweise moduliert.
Gemäß einiger anderer bevorzugter Ausführungsformen wird das
Verfahren der Erfindung auf die Herstellung von mattiertem
Glas angewandt. Solches Glas ist brauchbar zur Verminderung
oder Verhinderung von unerwünschten Reflexionen.
Bei einigen solchen bevorzugten Ausführungsformen wird die
Scheibe mit Rillen geätzt, die maschenartig unter Bildung
eines Gittermusters angeordnet sind, wobei die Abmessung der
Masche kleiner als 0,5 µm ist und wobei die gesamte
optische Reflexion der geätzten Seite innerhalb des
sichtbaren Bereichs des Spektrums geringer als 4% ist. Die
Breite der zu ätzenden Linien kann praktisch gleich sein der
Breite der Abstände zwischen den Linien. Das Verfahren der
Erfindung ist besonders vorteilhaft für das Ätzen eines
solchen Musters, dessen Maschen mikroskopisch sind. In
diesem Falle kann ein sich vollständig wiederholendes Motiv
unter Verwendung einer Maske reproduziert werden, die nur
einen Teil des Gitters darstellt und somit vielfach
wiederverwendet werden kann, um die Ätzung des gesamten
Musters zu ermöglichen.
Die Ätzung eines solchen Gittermusters, dessen Maschen
Abmessungen von weniger als einem Mikrometer besitzen, durch
ein Verfahren der Erfindung ermöglicht es, ein sehr
hochgradig nichtreflektierendes Glas zu erzeugen, d. h. ein
Glas mit hoher optischer Durchlässigkeit wie dies oben
beschrieben ist.
Um solche gewünschte optische Eigenschaften zu begünstigen,
werden die Rillen zu einer Tiefe von mehr als 0,1 µm
geätzt und/oder die Abmessung der Masche des Gitters ist
unterhalb 0,1 µm.
Vorteilhafterweise ist das zu härtende Glas ein Floatglas.
Floatglas ist leicht mit einem sehr hohen Grad an
Oberflächenebenheit zu erzeugen, da es feuerpoliert wird,
wenn es auf einem Bad aus geschmolzenem Metall, gewöhnlich
Zinn, schwimmt.
Da jedoch Floatglas durch Schwimmen auf einem Bad von
geschmolzenem Zinn erzeugt wird, kann es vorkommen, daß ein
Ungleichgewicht zwischen der Ionenmenge an entgegengesetzten
Seiten des Glases auftritt. Diese Seite, die in Kontakt mit
dem Zinnbad war, enthält Zinnionen, die in das Glas
diffundiert sind und ist ärmer an Alkaliionen als die
entgegengesetzte Seite des Glases. Als Ergebnis können
manchmal während der chemischen Härtung von Floatglas
Schwierigkeiten auftreten, insbesondere wenn das Floatglas
dünn ist, und es kann vorkommen, daß der Härtungsprozeß eine
Krümmung des Glases zur Folge hat. Es ist möglich, das
Floatglas einer Natriumionendiffusionsvorbehandlung zu
unterziehen, indem man das Glas in Kontakt mit einem Bad aus
geschmolzenem Natriumnitrat bei einer Temperatur von 350°C
bis 600°C bringt. Natriumionen aus dem Bad diffundieren in
die Oberfläche des Glases und stellen das Gleichgewicht
zwischen den Natrium- und Siliciumionen an den zwei
Oberflächen des Glases wieder her. Nach Abkühlen und Waschen
kann dann das Glas der chemischen Härtungsbehandlung
unterworfen werden, z. B. indem man es in Kontakt mit einem
Bad aus geschmolzenem Kaliumnitrat bei 470°C für eine
ausreichende Zeitspanne bringt.
Eine alternative Vorbehandlung ist das Polieren der
Zinnseite des Floatglases vor der Härtung. Ein solches
Polieren kann mechanisch oder chemisch bewirkt werden, und
da das Problem in einer dünnen Oberflächenschicht auftritt,
genügt es gewöhnlich, eine Schicht von etwa 5 µm Dicke zu
entfernen.
Es wurde nun eine viel einfachere Vorbehandlung gefunden,
die das Risiko praktisch ausschaltet, daß sich Floatglas
krümmt, wenn es einer nachfolgenden chemischen
Härtungsbehandlung unterworfen wird. Vorzugsweise wird
demgemäß vor der Härtung das Floatglas bei einer erhöhten
Temperatur gehalten, die 550°C nicht übersteigt, um die
Ionenwanderung im Glas zu begünstigen und die
Natriumionenmenge auf den zwei Seiten des Floatglases
einander mehr anzugleichen. Zum Beispiel kann das Glas 6 bis
16 Stunden bei einer Temperatur von 465°C gehalten werden.
Es ist wünschenswert, zu hohe Temperaturen während dieser
Vorbehandlung zu vermeiden, damit sich das Glas nicht unter
seinem eigenen Gewicht deformiert. Dies ist eine sehr
einfache Vorbehandlung, die die Gefahr, daß das Glas bei der
anschließenden Härtung sich krümmt, sehr beträchtlich
vermindert. Das Glas kann unmittelbar danach, ohne
Zwischenkühlung, chemisch gehärtet werden.
Die Erfindung erstreckt sich auch auf ein Erzeugnis, das
gehärtetes Glas umfaßt, das nach einem oben beschriebenen
Verfahren geätzt wurde.
Gewisse bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung werden
nun beispielsweise und unter Bezugnahme auf die
schematischen Zeichnungen beschrieben.
Fig. 1 zeigt schematisch eine Art der Belichtung von
strahlungsempfindlichem Material durch eine Maske als eine
Stufe bei der Bildung einer Reserve.
Fig. 2 zeigt eine Teilansicht einer Glasunterlage im
Schnitt, die mit einer Reserve versehen ist und fertig für
die Einwirkung eines Ätzmediums gemäß der Erfindung ist.
Fig. 3 zeigt eine Teilansicht einer Glasscheibe im Schnitt,
die ein geätztes Muster gemäß der Erfindung trägt, und
Fig. 4 zeigt eine Teilansicht einer anderen Glasscheibe im
Schnitt, die ein geätztes Muster gemäß der Erfindung trägt.
Zur größeren Deutlichkeit im Hinblick auf die
außerordentlich geringen Abmessungen der geätzten Muster
sind die Figuren nicht maßstäblich.
Fig. 1 zeigt eine Scheibe von chemisch gehärtetem Glas 1,
auf deren einer Seite eine strahlungsempfindliche Schicht
aus Material 2 abgeschieden ist. In diesem besonderen
Beispiel einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Verfahrens ist die Scheibe 1 eine Scheibe aus Natronkalkglas
von gewöhnlicher Zusammensetzung mit einer dicke von 1,3 mm,
und die Schicht 2 ist eine Schicht von HPR 204, ein
photoempfindliches Harz der Firma Olin-Hunt Chemical, und
die Strahlung 4 ist Ultraviolettstrahlung.
Die chemische Härtung wurde bewirkt, indem das Glas in
Kontakt mit geschmolzenem Kaliumnitrat bei einer Temperatur
von 465°C für eine Zeitspanne zwischen 21/2 Stunden und 8
Stunden gebracht wurde, um den gewünschten Grad an
oberflächlichen Druckspannungen von 450 bis 600 MPa in der
Oberfläche des Glases zu erzeugen. Das Glas war Floatglas,
und vor dem Tempern wurde es für eine Zeitspanne von 8
Stunden auf einer Temperatur von 465°C gehalten, um das
Gleichgewicht der Ionenmengen auf den entgegengesetzten
Oberflächenschichten des Glases wiederherzustellen. Bei
einer Abwandlung war das verwendete Glas gezogenes Glas und
diese Vorbehandlung wurde weggelassen.
Die Schicht aus empfindlichem Material 2 wird mit der
Strahlung 4 durch die Maske 3 belichtet.
Um alle Probleme bezüglich der Reflexion zu vermeiden, die
von einem Punkt zum anderen auf der Rückseite der Scheibe 1
als Funktion des Zustandes und der Form des Trägers, auf dem
die Scheibe liegt, auftreten können, und da diese
Reflexionen den Grad der Belichtung des empfindlichen
Materials 2 beeinflussen könnten, wurde diese Rückseite
vorher mit einer einheitlichen Schicht 5 bedeckt, die
gegenüber der verwendeten Strahlung opak ist. In diesem
besonderen Beispiel wurde eine Aluminiumschicht von 70 nm
Dicke benutzt. Diese Dicke wurde so gewählt, damit diese
Schicht vollständig während des Ätzens des Glases durch ein
Ätzmedium weggeätzt werden kann, das nachstehend beschrieben
ist. Aufgrund dieser einheitlichen Schicht ist die Reflexion
auf der Rückseite der Scheibe gleichmäßig und regelmäßig,
was eine regelmäßige Belichtung des empfindlichen Materials
gestattet.
Die Maske 3 wird fast in Kontakt mit der Schicht von
empfindlichem Material 2 gebracht, um eine Streuung der
Strahlung zwischen der Maske und der Schicht zu vermeiden.
Tatsächlicher Kontakt wurde jedoch vermieden, um nicht in
Gefahr zu geraten, die Maske zu beschädigen. Die Maske 3
trägt einen positiven Eindruck des Musters, das man Ätzen
will.
In dem besonderen beschriebenen Beispiel wurde die Maske 3
in folgender Weise erzeugt: Eine Quarzunterlage 6 wurde
wegen ihrer guten Transparenz gegen Ultraviolettstrahlung
und ihrer geringen thermischen Ausdehnung gewählt. Ein
opaker Film, der eine Schicht von schwach oxidiertem
schwarzem Chrom enthält, wurde auf dieser Unterlage
abgeschieden. Eine Schicht von nicht polymerisiertem
PMMA-Harz (Polymethylmethacrylat) wurde auf diesem Film
abgeschieden. Diese Unterlage wurde auf einen rotierenden
Träger montiert und das Harz mit einem Laserstrahl
"bedruckt", der sich linear in einer präzisen und
mikrometrischen Weise bewegte. Nach Entwicklung des Harzes
und ionischem Angriff der Chromschicht wurde eine Maske
erhalten, die eine Quarzscheibe 6 aufwies, die Chromstreifen
7 trägt, welche das Bild einer Spirale bilden.
Nach Entwicklung mittels des von der Firma, die das
photoempfindliche Harz liefert, ebenfalls erhältlichen
Lösungsmittel ist das, was auf dem photoempfindlichen Harz
bleibt, die Reserve, die gewisse Teile der Oberfläche des
Glases vor der Einwirkung des Ätzmediums schützt, das wie
nachfolgend beschrieben angewandt wird. Vor diesem
Arbeitsgang wurde die mit der Reserve versehene Unterlage 4
Minuten lang der Einwirkung eines Sauerstoffplasmas mit
einer Energie von 180 Watt unterworfen, um das Glas deutlich
an den zu ätzenden Punkten freizulegen.
Die mit der Reserve versehene Glasscheibe wird dann der
Einwirkung eines Ätzmediums unterworfen. Um dies zu tun,
wird es wenigstens eine Minute lang in eine Lösung aus
gefiltertem Wasser, das etwa 1% HF und 5 bis 10% H2SO4
als Poliermittel enthält, bei 18°C eingetaucht und dann
mehrere Minuten gespült. Bei einer Abänderung wurde
H3PO4 anstelle von H2SO4 benutzt. Die Reserve wird
dann entfernt, indem sie mehrere Minuten mit rauchender
HNO3 abgeätzt wird. Als Ergebnis erhielt man eine Scheibe
aus chemisch gehärtetem Glas, in die Rillen gemäß dem von
der Maske gelieferten Muster eingeätzt waren. Die Rauhigkeit
der Rillen betrug etwa 3 nm.
Die durch das chemische Härten induzierten Spannungen waren
durch die Ätzbehandlung praktisch unbeeinflußt geblieben.
Die geätzte Scheibe hatte eine Bruchfestigkeit von mehr als
350 MPa an ihren Rändern und mehr als 500 MPa in den
randfernen Bereichen.
Bei einer alternativen Ausführungsform dieses Beispiels
wurd die Exponierung des photoempfindlichen Harzes durch
die Strahlung ohne Zwischenschaltung der Maske 3
durchgeführt. Um dies zu tun, wurde ein Laserstrahl
verwendet, der genau auf das empfindliche Material
fokussiert wurde. Die Glasscheibe 1, die mit der Harzschicht
2 und der Aluminiumschicht 5 versehen war, wurde auf einen
rotierenden Träger montiert. Der Laserstrahl wurde in
gerader Linie bewegt. Die Kombination der zwei Bewegungen
ermöglicht es, Zonen im photoempfindlichen Material 2 zu
differenzieren unter Bildung einer Spirale mit einer
Ganghöhe von der Größenordnung von Mikrometern.
Bei einer anderen Ausführungsform dieses Beispiels wurde
nach der Härtung und vor der Beschichtung der Glasscheibe 11
mit dem photoempfindlichen Harz 2 eine gleichmäßige Schicht
von SiO2 mit einer dicke von 70 nm auf die Oberfläche des
Glases abgeschieden. Nach Belichtung unter Zwischenschaltung
der Maske 3, Entwicklung des lichtempfindlichen Harzes und
Freilegung des SiO2 an den zu ätzenden Stellen wie im
obigen Grundbeispiel wurde eine Unterlage wie in Fig. 2
gezeigt erhalten. In dieser Figur trägt die Glasscheibe 11
auf der Seite der zu ätzenden Flächen eine 70 nm Schicht 8
aus SiO2, auf welcher eine organische Reserve vorgesehen
ist, welche die gegeneinander versetzten Filme 9 umfaßt. Die
in Fig. 2 gezeigte Unterlage wurde dann der Einwirkung
eines Ätzmediums unterworfen.
Bei dieser alternativen Ausführungsform war das Ätzmedium
ein Plasma. Dieses Plasma enthielt Argonionen und ein
fluoriertes Produkt, wie CHF3 wurde in das Plasma
eingeführt. Die elektrische Entladung wurde in einem Gefäß
erzeugt, in dem ein Vakuum von 3 × 10-3 Torr bis 8 ×
10-2 Torr aufrechterhalten wurde. Die Spannungsdifferenz
betrug 350 V und der Abstand wurde so eingestellt, daß die
durchschnittliche Energie, die in den Plasmaionen induziert
wurde, wenn sie die anzugreifende Oberfläche trafen, etwa 18
eV betrug. An den von der Reserve nicht geschützten Stellen
wurde die SiO2 Schicht dem Ionenangriff unterworfen, was
Anlaß zur Bildung von insbesondere flüchtigem SiF4 und
somit zur Entfernung von Material gab. Wenn das Plasma die
Oberflächenschicht des Glases erreichte, bildeten sich
nichtflüchtige Verbindungen wie CaF2 und AlF3 und diese
verlangsamten die Reaktion sehr beträchtlich. Es war somit
möglich, ein geätztes Muster mit einer konstanten Dicke über
die gesamte Oberfläche zu erhalten, das sehr geringe
Rauhigkeit am Grund des Rillenmusters zeigte. Dann wurde die
Reserve in der gleichen Weise wie oben beschrieben entfernt
und die Aluminiumschicht 15 wurde ebenfalls abgeätzt.
Die Glasscheibe gemäß der Erfindung, die so erhalten wurde,
ist im Teilschnitt in Fig. 3 gezeigt. In diese Figur sind
die geätzten Linien bei 10 angedeutet und durch
vorspringende Teile 12 getrennt, die aus SiO2 gebildet
sind. In einem praktischen Beispiel stellen die Rillen 10
die Rillen einer Spirale dar, deren Steigung p 1,6 µm
ist. Die Glasscheibe besitzt die Form einer runden Scheibe
mit einem Durchmesser von 133 mm. Diese Scheibe soll als
Träger für eine Datenaufzeichnungsschicht dienen. In anderen
Beispielen des Verfahrens wurde eine solche Scheibe mit
einem Muster von konzentrischen Ringen geätzt.
Fig. 4 zeigt eine Scheibe 21 aus gewöhnlichem
Natronkalkglas, die ein Muster auf einer ihrer Seiten
eingeätzt trägt. Das Muster ist in die tatsächliche
Oberfläche des Glases eingeätzt. Dieses Muster bildet ein
Gitter, dessen Maschen eine Größe d von etwa 0,3 mm
haben. Die Ätzung hat eine Tiefe von 0,1 µm. Diese Seite
der Glasscheibe besitzt eine optische Reflexion im
sichtbaren Spektrum zwischen 350 nm und 750 nm von unterhalb
1%, nämlich etwa 0,6%, während sie etwa 4% ohne das
geätzte Muster hat. Dies macht es daher möglich, eine
Glasscheibe von hoher optischer Durchlässigkeit zu erzielen,
ohne zusätzliche Schichten speziell für diesen Zweck
vorliegen zu haben.
Claims (57)
1. Ein Erzeugnis enthaltend eine Glasscheibe mit einem
geätzten Muster, dadurch gekennzeichnet,
daß die Glasscheibe eine chemisch gehärtete Glasscheibe
ist und das Muster eine Rille oder mehrere Rillen
aufweist, die in das Erzeugnis unter Verwendung von
Fluorionen bis zu eine Tiefe von weniger als 2 µm
geätzt ist bzw. sind.
2. Erzeugnis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Muster nahe aneinander liegende Rillenteile enthält,
die eine Breite von weniger als 10 µm haben und der
Abstand zwischen zwei benachbarten Rillenteilen weniger
als 10 µm beträgt.
3. Erzeugnis nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die geätzten Rillenteile eine Breite von weniger als 1,5
µm und eine Tiefe von mehr als 50 nm haben, und daß
das Intervall zwischen zwei benachbarten Rillenteilen
kleiner als 2 µm ist.
4. Erzeugnis nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das Muster in eine
Oberflächenschicht der gehärteten Glasscheibe eingeätzt
ist.
5. Erzeugnis nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die geätzten Rillenteile in eine
Schicht von anorganischem Material geätzt sind, die auf
dem gehärteten Glas abgeschieden ist, wobei das Material
eine Härte hat, die praktisch gleich oder größer ist als
die Härte des Glases.
6. Erzeugnis nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die anorganische Schicht praktisch einen einzigen
Bestandteil hat.
7. Erzeugnis nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die anorganische Schicht eine Schicht von SiO2 ist.
8. Erzeugnis nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die Tiefe der geätzten Rillenteile
praktisch gleich der Dicke der anorganischen Schicht ist.
9. Erzeugnis nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß es eine Antireflexschicht
aufweist.
10. Erzeugnis nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Glasscheibe eine
Floatglasscheibe ist.
11. Erzeugnis nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Glasscheibe eine Dicke
unterhalb 2 mm hat.
12. Erzeugnis nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das Muster auf einer Seite
des Erzeugnisses eingeätzt ist, wobei Rillen
maschenweise unter Bildung eines Gittermusters
angeordnet sind und die Abmessungen der Masche kleiner
als 0,5 µm ist und wobei die gesamte optische
Reflexion dieser Seite innerhalb des sichtbaren
Bereiches des Spektrums weniger als 4% beträgt.
13. Erzeugnis nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß
die Tiefe der geätzten Rillen größer als 0,1 µm ist.
14. Erzeugnis nach Anspruch 12 oder 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die Abmessung der Masche des Gitters
unterhalb 0,1 µm ist.
15. Erzeugnis nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die geätzten Rillenteile eine
spiralige Führungsspur bilden, deren Ganghöhe bzw.
Abstand kleiner als 2 µm ist.
16. Erzeugnis nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die geätzten Rillen eine
Führungsspur bilden, die eine Reihe von konzentrischen
Kreisen ist, deren Abstand kleiner als 2 µm ist.
17. Erzeugnis nach Anspruch 15 oder 16, dadurch
gekennzeichnet, daß es eine runde Scheibe ist.
18. Erzeugnis nach einem der Ansprüche 15 bis 17, dadurch
gekennzeichnet, daß der Boden dieser Führungsspur eine
Rauhigkeit Ra unterhalb 10 nm und vorzugsweise unterhalb
5 nm aufweist.
19. Erzeugnis nach einem der Ansprüche 15 bis 18, dadurch
gekennzeichnet, daß die Seiten dieser Führungsspuren
eine praktisch symmetrische Neigung bezüglich einer
Achse senkrecht zum Boden der Spur haben.
20. Eine Scheibe nach Anspruch 17, 18 oder 19, dadurch
gekennzeichnet, daß die Scheibe zur Speicherung von
aufgezeichneten Daten angepaßt ist.
21. Scheibe nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß
das geätzte Muster adressenweise moduliert ist.
22. Scheibe nach Anspruch 20 oder 21, dadurch
gekennzeichnet, daß das geätzte Muster mit einer
Datenaufzeichnungsschicht überschichtet ist.
23. Scheibe nach Anspruch 20 oder 21, dadurch
gekennzeichnet, daß das geätzte Muster datenweise
moduliert ist.
24. Verfahren zur Herstellung eines Erzeugnisses, das eine
Glasscheibe aufweist und ein geätztes Muster hat,
dadurch gekennzeichnet, daß man eine Glasscheibe
chemisch härtet, eine Schicht von strahlungsempfind
lichem Material auf wenigstens eine Seite dieser Scheibe
aufbringt und unter Bildung eines latenten Bildes des
gewünschten Rillenmusters Strahlung aussetzt, wobei man
das strahlungsempfindliche Material unter Bildung einer
Reserve entwickelt und daß die Scheibe durch die Reserve
der Einwirkung von Fluorionen in einem Ätzmedium
ausgesetzt und das gewünschte Rillenmuster bis zu einer
Tiefe von weniger als 2 µm geätzt wird.
25. Verfahren nach Anspruch 24, angewandt auf die
Herstellung einer Datenspeicherscheibe.
26. Verfahren nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, daß
das Rillenmuster unter Bildung einer Spirale geätzt
wird, deren Ganghöhe weniger als 2 µm beträgt.
27. Verfahren nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß
das Rillenmuster unter Bildung einer Reihe von
konzentrischen Kreisen geätzt wird, deren Abstand
kleiner als 2 µm ist.
28. Verfahren nach einem der Ansprüche 25 bis 27, dadurch
gekennzeichnet, daß der Boden des Rillenmusters eine
Rauhigkeit Ra unterhalb 10 nm und vorzugsweise unterhalb
5 nm hat.
29. Verfahren nach einem der Ansprüche 25 bis 28, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ätzung so durchgeführt wird, daß
die Seiten der Rillen eine praktisch symmetrische
Neigung relativ zu einer Achse senkrecht zum Boden der
Rille haben.
30. Verfahren nach einem der Ansprüche 25 bis 29, dadurch
gekennzeichnet, daß das geätzte Rillenmuster
adressenweise moduliert wird.
31. Verfahren nach einem der Ansprüche 25 bis 30, dadurch
gekennzeichnet, daß das geätzte Rillenmuster mit einer
Datenaufzeichnungsschicht überschichtet wird.
32. Verfahren nach einem der Ansprüche 25 bis 30, dadurch
gekennzeichnet, daß das geätzte Rillenmuster datenweise
moduliert wird.
33. Verfahren nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, daß
es auf die Herstellung von mattiertem Glas angewandt
wird.
34. Verfahren nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet, daß
die Scheibe mit Rillen geätzt wird, die maschenweise
unter Bildung eines Gittermusters angeordnet sind, wobei
die Abmessung der Masche kleiner ist als 0,5 µm und
worin die gesamte optische Reflexion der geätzten Seite
innerhalb des sichtbaren Bereichs des Spektrums kleiner
als 4% ist.
35. Verfahren nach Anspruch 33 oder 34, dadurch
gekennzeichnet, daß die Rillen bis zu einer Tiefe von
mehr als 0,1 µm geätzt werden.
36. Verfahren nach einem der Ansprüche 33 bis 35, dadurch
gekennzeichnet, daß die Abmessung der Masche des Gitters
unterhalb 0,1 mm ist.
37. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 36, dadurch
gekennzeichnet, daß die Reserve von der Unterlage nach
Einwirkung des Ätzmediums entfernt wird.
38. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 37, dadurch
gekennzeichnet, daß eine anorganische Schicht auf einer
Seite des Glases vor der Abscheidung des strahlungs
empfindlichen Materials vorliegt und daß das während des
Ätzens entfernte Material Material enthält, das von
dieser anorganischen Schicht stammt.
39. Verfahren nach Anspruch 38, dadurch gekennzeichnet, daß
die anorganische Schicht in einer Dicke von praktisch
gleich der Tiefe des zu ätzenden Musters abgeschieden
wird.
40. Verfahren nach Anspruch 39, dadurch gekennzeichnet, daß
die Einwirkung des Ätzmediums eingestellt wird, wenn
letzteres das Glas über praktisch die gesamte Fläche des
zu ätzenden Musters erreicht.
41. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 40, dadurch
gekennzeichnet, daß die Reserve aus dem strahlungs
empfindlichen Material nach Einwirkung der Strahlung
besteht.
42. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 41, dadurch
gekennzeichnet, daß das strahlungsempfindliche Material
ein photoempfindliches Harz ist und daß die Strahlung
optische Strahlung und vorzugsweise
Ultraviolettstrahlung umfaßt.
43. Verfahren nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, daß
die Seite entgegengesetzt derjenigen, auf welcher das
Muster zu ätzen ist, vor der Einwirkung der optischen
Strahlung mit einer opaken Schicht bedeckt wird.
44. Verfahren nach Anspruch 42 oder 43, dadurch
gekennzeichnet, daß das photoempfindliche Harz ein Harz
ist, das für optische Strahlung durchlässig ist und das
bei Einwirkung dieser Strahlung absorbierend wird.
45. Verfahren nach einem der Ansprüche 42 bis 44, dadurch
gekennzeichnet, daß eine den Kontrast erhöhende Schicht
auf dem photoempfindlichen Harz vor der Einwirkung der
optischen Strahlung abgeschieden wird.
46. Verfahren nach einem der Ansprüche 42 bis 45, dadurch
gekennzeichnet, daß die zu ätzende Seite vor dem Ätzen
der Einwirkung von Ionen niedriger Energie mittels eines
Plasma auf Sauerstoffbasis unterworfen wird, so daß im
wesentlichen diese Seite über das zu ätzende Muster
exponiert wird.
47. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 46, dadurch
gekennzeichnet, daß das strahlungsempfindliche Material
dieser Strahlung durch eine Maske ausgesetzt wird.
48. Verfahren nach Anspruch 47, dadurch gekennzeichnet, daß
es auf die Herstellung von mattiertem Glas angewandt
wird, wobei diese Maske nur einen Teil des zu ätzenden
Musters dargestellt und wobei verschiedene Teile des
empfindlichen Materials nacheinander durch diese Maske
exponiert werden, um dieses latente Bild zu bilden.
49. Verfahren nach Anspruch 47, dadurch gekennzeichnet, daß
die Maske die Gesamtheit des zu ätzenden Musters
darstellt.
50. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 49, dadurch
gekennzeichnet, daß die Strahlung auf das empfindliche
Material fokussiert wird.
51. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 50, dadurch
gekennzeichnet, daß das Ätzmedium eine Flüssigkeit ist.
52. Verfahren nach Anspruch 51, dadurch gekennzeichnet, daß
das flüssige Ätzmedium auch ein Poliermittel enthält.
53. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 50, dadurch
gekennzeichnet, daß das Ätzmedium ein Plasma ist, das
Fluorionen enthält.
54. Verfahren nach Anspruch 53, dadurch gekennzeichnet, daß
die in den Plasmaionen induzierte Energie geringer als
50 eV und vorzugsweise geringer als 30 eV ist.
55. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 54, dadurch
gekennzeichnet, daß das zu härtende Glas Floatglas ist.
56. Verfahren nach Anspruch 55, dadurch gekennzeichnet, daß
vor dem Härten das Floatglas bei einer erhöhten
Temperatur von nicht über 550°C gehalten wird und so die
ionische Wanderung im Glas begünstigt und die Menge der
Natriumionen auf den zweiten Seiten des Floatglases in
höherem Maße nahezu gleich gemacht wird.
57. Erzeugnis aus gehärtetem Glas, das nach einem Verfahren
gemäß einem der Ansprüche 24 bis 56 geätzt ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
LU86722A LU86722A1 (fr) | 1986-12-23 | 1986-12-23 | Feuille en matiere vitreuse portant un dessin grave et procede pour graver un dessin sur un substrat en matiere vitreuse |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3742374A1 true DE3742374A1 (de) | 1988-07-07 |
Family
ID=19730844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873742374 Withdrawn DE3742374A1 (de) | 1986-12-23 | 1987-12-14 | Geaetztes glas und verfahren zu seiner herstellung |
Country Status (18)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4797316A (de) |
JP (1) | JPS63170249A (de) |
KR (1) | KR880007389A (de) |
CN (1) | CN1024182C (de) |
AU (1) | AU590187B2 (de) |
BE (1) | BE1003081A3 (de) |
CA (1) | CA1329507C (de) |
CH (1) | CH674201A5 (de) |
DE (1) | DE3742374A1 (de) |
DK (1) | DK685887A (de) |
ES (1) | ES2005764A6 (de) |
FR (1) | FR2608589B1 (de) |
GB (1) | GB2200595B (de) |
IE (1) | IE60072B1 (de) |
IT (1) | IT1211588B (de) |
LU (1) | LU86722A1 (de) |
NL (1) | NL8703054A (de) |
SE (1) | SE467477B (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3824889A1 (de) * | 1988-07-22 | 1990-01-25 | Leybold Ag | Optischer aufzeichnungstraeger |
DE4029099A1 (de) * | 1990-09-13 | 1992-04-09 | Technics Plasma Gmbh | Verfahren zum herstellen von spritzgussmatritzen |
DE4141869A1 (de) * | 1991-12-18 | 1993-06-24 | Agency Ind Science Techn | Verfahren zur bearbeitung von lichtempfindlichem glas |
US5374291A (en) * | 1991-12-10 | 1994-12-20 | Director-General Of Agency Of Industrial Science And Technology | Method of processing photosensitive glass |
Families Citing this family (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1313792C (en) * | 1986-02-28 | 1993-02-23 | Junji Hirokane | Method of manufacturing photo-mask and photo-mask manufactured thereby |
US4842633A (en) * | 1987-08-25 | 1989-06-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing molds for molding optical glass elements and diffraction gratings |
JPS6486344A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-31 | Victor Company Of Japan | Information recording carrier and production thereof |
JPH0770094B2 (ja) * | 1987-12-04 | 1995-07-31 | シャープ株式会社 | ディスク状光記録媒体の製造方法および製造用フォトマスク |
US5053106A (en) * | 1988-10-12 | 1991-10-01 | Occidental Chemical Corporation | Low friction, wear resistant plastic parts |
US4909818A (en) * | 1988-11-16 | 1990-03-20 | Jones William F | System and process for making diffractive contact |
JPH0692263B2 (ja) * | 1989-02-16 | 1994-11-16 | 伊藤忠商事株式会社 | 記録ディスク基板及びその製造方法 |
US5238500A (en) * | 1990-05-15 | 1993-08-24 | Semitool, Inc. | Aqueous hydrofluoric and hydrochloric acid vapor processing of semiconductor wafers |
US5357991A (en) * | 1989-03-27 | 1994-10-25 | Semitool, Inc. | Gas phase semiconductor processor with liquid phase mixing |
FR2654864B1 (fr) * | 1989-11-21 | 1995-08-04 | Digipress Sa | Procede pour la fabrication d'un disque a lecture optique et disques obtenus par ce procede. |
US6375741B2 (en) * | 1991-03-06 | 2002-04-23 | Timothy J. Reardon | Semiconductor processing spray coating apparatus |
FR2663439A1 (fr) * | 1990-06-15 | 1991-12-20 | Digipress Sa | Procede pour le traitement et en particulier la gravure d'un substrat et substrat obtenu par ce procede. |
US5246540A (en) * | 1992-04-01 | 1993-09-21 | Tru Vue, Inc. | Apparatus and method for etching glass |
EP0579399A2 (de) * | 1992-07-09 | 1994-01-19 | Pilkington Plc | Glassubstrat für eine Magnetplatte und Herstellungsverfahren dafür |
US5417799A (en) * | 1993-09-20 | 1995-05-23 | Hughes Aircraft Company | Reactive ion etching of gratings and cross gratings structures |
GB9400259D0 (en) * | 1994-01-07 | 1994-03-02 | Pilkington Plc | Substrate for a magnetic disc and manufacture thereof |
US5954911A (en) * | 1995-10-12 | 1999-09-21 | Semitool, Inc. | Semiconductor processing using vapor mixtures |
US6023318A (en) * | 1996-04-15 | 2000-02-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrode plate, process for producing the plate, liquid crystal device including the plate and process for producing the device |
DE19713014C2 (de) * | 1997-03-27 | 1999-01-21 | Heraeus Quarzglas | Bauteil aus Quarzglas für die Verwendung bei der Halbleiterherstellung |
JPH10320835A (ja) * | 1997-05-19 | 1998-12-04 | Nikon Corp | 光ディスク |
JP3938253B2 (ja) * | 1997-12-26 | 2007-06-27 | 日本板硝子株式会社 | 樹脂正立等倍レンズアレイおよびその製造方法 |
US6687197B1 (en) * | 1999-09-20 | 2004-02-03 | Fujitsu Limited | High density information recording medium and slider having rare earth metals |
JP4380004B2 (ja) * | 2000-02-28 | 2009-12-09 | ソニー株式会社 | 記録媒体の製造方法、および記録媒体製造用原盤の製造方法 |
DE60144278D1 (de) | 2000-05-03 | 2011-05-05 | Caliper Life Sciences Inc | Herstellungsprozesse für substrate mit mehreren tiefen |
US6872511B2 (en) * | 2001-02-16 | 2005-03-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for forming micropatterns |
JP4610770B2 (ja) * | 2001-03-30 | 2011-01-12 | キヤノン株式会社 | 光ディスク原盤の製造方法 |
US7666579B1 (en) * | 2001-09-17 | 2010-02-23 | Serenity Technologies, Inc. | Method and apparatus for high density storage of analog data in a durable medium |
JP2004051393A (ja) * | 2002-07-17 | 2004-02-19 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 強化ガラスの製造方法、及びこれに用いるガラス板の強制冷却設備 |
JP4994576B2 (ja) * | 2004-03-23 | 2012-08-08 | コバレントマテリアル株式会社 | シリカガラスルツボ |
CN1297504C (zh) * | 2005-05-10 | 2007-01-31 | 李守进 | 能随视角变换图案的深度刻蚀玻璃的生产方法 |
EP1891479B1 (de) * | 2005-05-10 | 2014-04-09 | Dow Corning Corporation | Submikrometer-abzieh-transferlithographie |
DE102005049280A1 (de) * | 2005-10-14 | 2007-06-14 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Verfahren zur Erzeugung einer Nanostruktur und optisches Element mit einer Nanostruktur |
JP4757339B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2011-08-24 | 長瀬産業株式会社 | 表面に凹凸が形成されたガラス、及び、その製造方法 |
CN102736294A (zh) * | 2011-04-13 | 2012-10-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种基板、液晶显示面板及其制造方法 |
TWI547455B (zh) | 2011-04-15 | 2016-09-01 | Asahi Glass Co Ltd | Antireflective glass matrix |
JP5877705B2 (ja) * | 2011-12-27 | 2016-03-08 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 微細パターン構造体の製造方法 |
US9110230B2 (en) | 2013-05-07 | 2015-08-18 | Corning Incorporated | Scratch-resistant articles with retained optical properties |
KR20170011979A (ko) * | 2015-07-24 | 2017-02-02 | (주)도 은 | 패턴을 갖는 투명 유리 |
CN105712637A (zh) * | 2016-04-11 | 2016-06-29 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 透明片材、制备方法以及电子设备 |
KR101749598B1 (ko) * | 2016-04-19 | 2017-06-22 | (주)유티아이 | 노출패턴이 구현된 카메라 윈도우의 제조방법 및 그에 의해 제조된 노출패턴이 구현된 카메라 윈도우 |
TWI821234B (zh) | 2018-01-09 | 2023-11-11 | 美商康寧公司 | 具光改變特徵之塗覆製品及用於製造彼等之方法 |
JP7234358B2 (ja) * | 2018-11-14 | 2023-03-07 | サン-ゴバン グラス フランス | ガラス基材の層又は層の積層物の選択的エッチングのための方法 |
CN114207719B (zh) | 2019-08-14 | 2023-05-16 | 陶瓷数据解决方案有限公司 | 用于长期存储信息的方法和用于长期存储信息的存储介质 |
AU2021299865A1 (en) | 2020-07-03 | 2023-02-02 | Ceramic Data Solutions GmbH | Information storage method and information storage medium with increased storage density by multi-bit coding |
CA3184431A1 (en) | 2020-07-03 | 2022-01-06 | Christian Pflaum | Increased storage capacity for a method for long-term storage of information and storage medium therefor |
US20220011478A1 (en) | 2020-07-09 | 2022-01-13 | Corning Incorporated | Textured region of a substrate to reduce specular reflectance incorporating surface features with an elliptical perimeter or segments thereof, and method of making the same |
EP3955248A1 (de) | 2020-08-11 | 2022-02-16 | Christian Pflaum | Datenaufzeichnung auf keramischem material |
EP4044182A1 (de) * | 2021-02-12 | 2022-08-17 | Ceramic Data Solutions GmbH | Ultradünner datenträger |
WO2022171522A1 (en) * | 2021-02-12 | 2022-08-18 | Ceramic Data Solutions GmbH | Ultra-thin data carrier and method of read-out |
CN116868269A (zh) | 2021-03-16 | 2023-10-10 | 陶瓷数据解决方案有限公司 | 利用超分辨率技术的数据载体、读取方法和系统 |
CN113087405A (zh) * | 2021-04-07 | 2021-07-09 | 惠州市清洋实业有限公司 | 一种钢化玻璃小r角深度刻蚀液及其刻蚀方法 |
CN113087404A (zh) * | 2021-04-07 | 2021-07-09 | 惠州市清洋实业有限公司 | 一种钢化玻璃大r角深度刻蚀液及其刻蚀方法 |
AU2021443312A1 (en) | 2021-04-29 | 2023-11-02 | Ceramic Data Solutions GmbH | Hybrid digital and analog data storage |
EP4092464A1 (de) | 2021-05-17 | 2022-11-23 | Ceramic Data Solutions GmbH | Hochgeschwindigkeitsauslesung durch kombination einer transmissiven weitwinkelansicht mit einer reflektiven fokussierungsansicht |
CN114057411A (zh) * | 2021-11-05 | 2022-02-18 | 北京理工大学 | 一种降低石英表面粗糙度至亚纳米量级的方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3817730A (en) * | 1969-12-29 | 1974-06-18 | Nippon Electric Co | Method of making optical lines in dielectric body |
CH589306A5 (de) * | 1975-06-27 | 1977-06-30 | Bbc Brown Boveri & Cie | |
US4046619A (en) * | 1976-05-03 | 1977-09-06 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of treating the surface of a glass member |
US4544443A (en) * | 1983-05-13 | 1985-10-01 | Shap Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing an optical memory element |
JPH0648546B2 (ja) * | 1984-07-14 | 1994-06-22 | 日本ビクター株式会社 | 情報記録担体の製造法 |
DE3511712C2 (de) * | 1985-03-29 | 1995-09-07 | Polygram Gmbh | Plattenförmiger Informationsträger und Verfahren zu seiner Herstellung |
JPS62128944A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-11 | Sharp Corp | 光メモリ素子 |
JPS62187143A (ja) * | 1986-02-13 | 1987-08-15 | Asahi Glass Co Ltd | ガラスの加工方法 |
-
1986
- 1986-12-23 LU LU86722A patent/LU86722A1/fr unknown
-
1987
- 1987-11-26 IE IE321787A patent/IE60072B1/en not_active IP Right Cessation
- 1987-12-03 AU AU82076/87A patent/AU590187B2/en not_active Ceased
- 1987-12-04 US US07/129,962 patent/US4797316A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-10 IT IT8768055A patent/IT1211588B/it active
- 1987-12-11 CA CA000554161A patent/CA1329507C/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-14 DE DE19873742374 patent/DE3742374A1/de not_active Withdrawn
- 1987-12-17 NL NL8703054A patent/NL8703054A/nl not_active Application Discontinuation
- 1987-12-17 KR KR870014627A patent/KR880007389A/ko not_active Application Discontinuation
- 1987-12-17 SE SE8705040A patent/SE467477B/sv not_active IP Right Cessation
- 1987-12-17 BE BE8701459A patent/BE1003081A3/fr not_active IP Right Cessation
- 1987-12-18 CH CH4961/87A patent/CH674201A5/fr not_active IP Right Cessation
- 1987-12-18 FR FR878717982A patent/FR2608589B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-22 JP JP62325173A patent/JPS63170249A/ja active Pending
- 1987-12-22 GB GB8729912A patent/GB2200595B/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-22 CN CN87108379A patent/CN1024182C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-23 DK DK685887A patent/DK685887A/da not_active Application Discontinuation
- 1987-12-23 ES ES8800191A patent/ES2005764A6/es not_active Expired
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3824889A1 (de) * | 1988-07-22 | 1990-01-25 | Leybold Ag | Optischer aufzeichnungstraeger |
DE4029099A1 (de) * | 1990-09-13 | 1992-04-09 | Technics Plasma Gmbh | Verfahren zum herstellen von spritzgussmatritzen |
US5374291A (en) * | 1991-12-10 | 1994-12-20 | Director-General Of Agency Of Industrial Science And Technology | Method of processing photosensitive glass |
DE4141869A1 (de) * | 1991-12-18 | 1993-06-24 | Agency Ind Science Techn | Verfahren zur bearbeitung von lichtempfindlichem glas |
DE4141869B4 (de) * | 1991-12-18 | 2005-11-10 | Director General Of Agency Of Industrial Science And Technology | Verfahren zur Bearbeitung von lichtempfindlichem Glas |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH674201A5 (de) | 1990-05-15 |
IE60072B1 (en) | 1994-06-01 |
IT8768055A0 (it) | 1987-12-10 |
GB8729912D0 (en) | 1988-02-03 |
CN1024182C (zh) | 1994-04-13 |
AU8207687A (en) | 1988-06-23 |
SE8705040D0 (sv) | 1987-12-17 |
CA1329507C (en) | 1994-05-17 |
JPS63170249A (ja) | 1988-07-14 |
ES2005764A6 (es) | 1989-03-16 |
SE8705040L (sv) | 1988-06-24 |
IT1211588B (it) | 1989-11-03 |
DK685887D0 (da) | 1987-12-23 |
FR2608589A1 (fr) | 1988-06-24 |
GB2200595B (en) | 1990-10-24 |
FR2608589B1 (fr) | 1992-06-19 |
BE1003081A3 (fr) | 1991-11-19 |
LU86722A1 (fr) | 1988-07-14 |
IE873217L (en) | 1988-06-23 |
AU590187B2 (en) | 1989-10-26 |
KR880007389A (ko) | 1988-08-27 |
US4797316A (en) | 1989-01-10 |
NL8703054A (nl) | 1988-07-18 |
SE467477B (sv) | 1992-07-20 |
GB2200595A (en) | 1988-08-10 |
CN87108379A (zh) | 1988-07-13 |
DK685887A (da) | 1988-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3742374A1 (de) | Geaetztes glas und verfahren zu seiner herstellung | |
DE69827604T2 (de) | Reflektierender überzug für wiederholtes beugungsgitter | |
US5285517A (en) | High energy beam sensitive glasses | |
DE69704065T2 (de) | Optische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung eines Lichtwellenleiters durch den photorefraktiven Effekt | |
KR0120740B1 (ko) | 고 에너지 빔 감광성 유리 | |
EP0629592B1 (de) | Verfahren zur Herstellung anorganischer diffraktiver Elemente und Verwendung derselben | |
DE3751348T2 (de) | Aufzeichnungsmedium vom draw-typ. | |
EP0148238B1 (de) | Für hochenergetischen strahl empfindliche gläser | |
DE2742976C2 (de) | Informationsträger und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE3852133T2 (de) | Optisches speichermedium, verfahren zu seiner herstellung und verfahren zur herstellung einer optischen speicherkarte mit einem solchen medium. | |
DE3689841T2 (de) | Hologramme mit hohem wirkungsgrad und ihr herstellungsverfahren. | |
DE3125717C2 (de) | Reflektierendes Datenspeicher- und Aufzeichungsmedium | |
DE2657090C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Echelettgittern | |
DE3425263A1 (de) | Verfahren zum einschreiben von informationen in das volumen von materialien mittels laserstrahl | |
DE3885937T2 (de) | Medium für optische Aufzeichnung und das Medium verwendendes Aufzeichnungsverfahren. | |
DE3110917C2 (de) | ||
DE3507975A1 (de) | Optischer informationsaufzeichnungstraeger | |
DE3882345T2 (de) | Verfahren und Photomaske zur Herstellung eines optischen Speicherelementes. | |
DE3781444T2 (de) | Photomaske zur herstellung von optischen aufzeichnungsplatten, verfahren zur herstellung der photomaske und verfahren zur herstellung der optischen aufzeichnungsplatte. | |
JPH0337132A (ja) | 安定なイメージを形成する高エネルギー書込み可能なガラス組成物 | |
DE3105934C2 (de) | ||
DE2934343A1 (de) | Verfahren zum vervielfaeltigen von bespielten platten | |
DE19644620A1 (de) | Vorrichtung aus einem beschichteten oder bedampften Trägermaterial | |
DE68919079T2 (de) | Methode zur herstellung einer maske für eine optische aufzeichnungskarte vom rom-typ und methode zu deren prüfung. | |
WO2006015989A1 (de) | Verfahren zur herstellung von photonischen kristallen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |