DE3715443C2 - Wiedergabeeinrichtung zum Lesen von Signalen von einem magneto-optischen Aufzeichnungsmedium - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine fotoelektrische magnetische Auf­ zeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf ein innerhalb der Einrichtung vorgesehenes op­ tisches System, das so ausgelegt ist, daß automatisch ein Wiedergabedatensignal und ein Scharfeinstellsteuersignal er­ zeugt werden.

Ein herkömmliches, optisches System in einer fotoelektrischen magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung ist in­ sofern nachteilig, als daß es eine große Anzahl Bauteile und eine komplizierte Anordnung aufweist. Daher ist es schwierig, das optische System zu miniaturisieren und die Herstellungs­ kosten sind relativ hoch.

Aus der DE 30 35 719 A1 ist eine Auslesevorrichtung zum Ausle­ sen von Signalen von einem Aufzeichnungsträger bekannt, bei der ein lichtbrechender Körper Licht von einer Lichtquelle auf eine Oberfläche einer Speicherplatte reflektiert. Das von der Speicherplatte reflektierte Licht wird durch diesen Bre­ chungskörper auf ein Lichtempfangselement gerichtet, wobei ein Astigmatismus des reflektierten Lichtstrahls hervorgeru­ fen wird.

Aus der Druckschrift "Journal of Applied Physics 53(3), März 1982, Seiten 2335-2337" ist eine Wiedergabeeinrichtung ent­ sprechend dem Oberbegriff des Anspruchs 1 bekannt. In dieser Wiedergabeeinrichtung wird von einer Speicherplatte reflek­ tiertes Licht durch einen Polarisationsstrahlteiler in zwei Strahlen unterteilt. Einer der zwei Strahlen wird über eine Astigmatismus erzeugende zylindrische Linse einem Detektor zugeleitet, der ein Scharfeinstellfehlersignal erzeugt. Das andere Signal wird zur Erzeugung eines Informationssignals einem Analysator zugeleitet. Eine der Analysatoreinrichtung gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1 entsprechende Einrichtung umfaßt die Zylinderlinse, den Polarisationsstrahlteiler und eine Polarisationsanalysatorplatte.

Eine Zielsetzung der Erfindung besteht darin, die vorbe­ schriebenen Schwierigkeiten bei einem herkömmlichen, opti­ schen System in einer fotoelektrischen magnetischen Aufzeich­ nungs- und Wiedergabeeinrichtung auszuschließen. Genauer ge­ sagt besteht eine Zielsetzung der Erfindung darin, ein opti­ sches System für eine fotoelektrische magnetische Aufzeich­ nungs- und Wiedergabeeinrichtung zu schaffen, welches eine einfache Konstruktion aufweist, indem die Anzahl der Bauteile verringert wird.

Die voranstehend erläuterte Aufgabe wird durch die im An­ spruch 1 angegebenen Merkmale gelöst.

Entsprechend dieser Erfindungslösung ist die Astigmatismus hervorrufende Analyseeinrichtung unter konstruktiver Verein­ fachung durch einen einzigen optischen Körper gebildet, wel­ che eine Polarisationsschicht enthält, die auf einer zu der Ausbreitungsrichtung des Reflexionslichtsignals geneigten Fläche angeordnet und dazu vorgesehen ist, das Reflexions­ lichtsignal zur Erzeugung des ersten Lichtsignals teilweise zu reflektieren und das Reflexionslichtsignal zur Erzeugung des zweiten Lichtsignals teilweise durchzulassen.

Bei dem optischen System kann die Polarisierungs­ richtung einer Laserstrahlquelle zum Lesen der ma­ gneto-optischen Signale und die Richtung der Auf­ zeichnungsspuren parallel oder senkrecht zueinander sein. Die Meridianfläche und die Einfallsoberfläche der den Astigmatismus hervorrufenden Analysierein­ richtung kann im wesentlichen 45° mit der Polari­ sierungsrichtung des Laserstrahls und der Richtung der Aufzeichnungsspuren bilden.

Der Erfindungsgegenstand wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt:

Fig. 1 ein Diagramm zur Erläuterung, welches die Anordnung bei einer ersten Ausfüh­ rungsform eines optischen Systems in ei­ ner fotoelektrischen magnetischen Auf­ zeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung nach der Erfindung darstellt,

Fig. 1A ein Diagramm zur Erläuterung, welches ein Beispiel der Richtungen der Polari­ sationsebene des Lichtstrahls an ver­ schiedenen Stellen in dem optischen Sy­ stem gemäß Fig. 1 zeigt,

Fig. 1B ein Diagramm zur Erläuterung, welches die Erfassungseinrichtung 29B in der Anord­ nung gemäß Fig. 1 darstellt,

Fig. 2 ein Diagramm zur Erläuterung, welches die Anordnung bei einer zweiten Ausfüh­ rungsform des optischen Systems nach der Erfindung zeigt,

Fig. 2A ein Diagramm zur Erläuterung, welches ein Beispiel der Richtung der Polari­ sationsebene des Lichtstrahls an ver­ schiedenen Stellen in dem optischen Sy­ stem gemäß Fig. 2 darstellt,

Fig. 3 eine Seitenansicht, die ein anderes Bei­ spiel einer einen Astigmatismus her­ vorrufenden Analysiereinrichtung bei der Fig. 1 oder 2 darstellt, und

Fig. 4 eine Seitenansicht, die ein wiederum an­ deres Beispiel einer einen Astigmatis­ mus hervorrufenden Analysiereinrichtung zeigt.

Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung wer­ den unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeich­ nungen beschrieben.

Fig. 1 ist ein Diagramm zur Erläuterung, welches die Anordnung eines optischen Systems in einer fo­ toelektrischen magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung nach der Erfindung bei einer ersten Ausführungsform zeigt.

In Fig. 1 sendet eine Laserstrahlquelle 21, wie ei­ ne Laserdiode einen Laserstrahl aus. Ein Kollima­ tor 22 wandelt den von der Laserstrahlquelle 21 erzeugten Laserstrahl in ein paralleles Bündel um. Ein halbdurchlässiger Spiegel 23 trennt den fortschreitenden von dem zurückkehrenden Strahl. Daten werden auf einer fotoelektrischen magneti­ schen Platte 24 durch senkrechte Magnetisierung aufgezeichnet. Ein Objektiv 25 fokussiert den La­ serstrahl auf die Aufzeichnungsoberfläche der Platte 24. Eine 1/2-Wellenlängenplatte 26 ändert die Richtung der Polarisationsebene des Strahls. Eine Linsenanordnung 27 fokussiert das Licht.

Eine einen Astigmatismus hervorrufende Analysier­ einrichtung 28 besitzt sowohl eine einen Astig­ matismus hervorrufende Funktion, um ein automati­ sches Scharfeinstellsteuersignal (Fehlersignal) zu erhalten, und eine Analysierfunktion, um ein ma­ gneto-optisches Signal zu erfassen. Die einen Astigmatismus hervorrufende Analysiereinrichtung 28 ist dadurch gebildet, daß eine Polarisations­ schicht 28a auf einer Seite einer flachen Platte gebildet wird, deren beide Seiten parallel zueinan­ der verlaufen. Die Polarisationsschicht 28a, oft auch Polarisator genannt, läßt die zu seiner Hauptdurchlaßachse linear polarisierte Lichtkompo­ nente hindurch.

Ähnlich wie in dem Fall eines Polarisationsstrahl­ teilers läßt die den Astigmatismus hervorrufende Analysiereinrichtung oder Platte 28 im wesentlichen 100% einer p-polarisierten Lichtkomponente hin­ durch und reflektiert im wesentlichen zu 100% die s-polarisierte Lichtkomponente. Deshalb wirkt die Platte 28 als eine Analysiereinrichtung zum Erfas­ sen des magneto-optischen Signals. Ferner ist die Platte 28 schräg in Bezug auf die optische Ach­ se des einfallenden Lichts angeordnet. Anders aus­ gedrückt bedeutet dies, daß ein zwischen der Ein­ fallsoberfläche der Platte 28 und der optischen Ach­ se des Lichtstrahls gebildeter Winkel θ nicht 90° beträgt. Obgleich θ in der Fig. 1 mit ungefähr 45° dargestellt ist, muß dieser Wert nicht vorliegen. Ferner ist der zu der Platte 28 gelangende Strahl bereits in einen konvergierenden Strahl durch die Linsenanordnung 27 umgewandelt worden. Da die Platte schräg in dem Lichtstrahl angeordnet ist, bildet sie für den konvergierenden Strahl ein astigmatisches Element, so daß die Platte 28 auch als ein einen Astigmatismus hervorrufendes Ele­ ment wirkt.

Gemäß Fig. 1 sind Erfassungseinrichtungen 29A und 29B zum Erfassen der aufgezeichneten Daten vorge­ sehen, indem das auf die Erfassungseinrichtungen auffallende Lichtbündel in elektrische Signale umgewandelt wird. Die Erfassungseinrichtung 29B erfaßt auch einen Scharfeinstellzustand des Bün­ dels und gibt ein Scharfeinstellfehlersignal ab. Differentialverstärker 30 und 31 verarbeiten die Ausgänge der Erfassungseinrichtungen 29A und 29B.

Die Erfassungseinrichtung 29B ist beispielsweise eine Erfassungseinrichtung mit vier Segmenten, näm­ lich den vier Elementen 29B₁, 29B₂, 29B₃ und 29B₄, wie es in Fig. 1B dargestellt ist. Die Erfassungs­ einrichtung 29B ist derart angeordnet, daß die die Lichtempfangsoberfläche 29B_a unterteilenden Linien, durch die die vier Elemente gebildet wer­ den, Winkel von 45° in Bezug zu der Fokussierungs­ linie f_s in sagittaler Richtung des Einfalls­ bündels auf die Erfassungseinrichtung 29B und die Fokussierungslinie f_m in meridionaler Richtung bil­ den.

Der Lichtfluß fällt auf die Erfassungseinrichtung 29B derart ein, daß der Lichtfluß über die Lichtempfangs­ oberfläche 29B_a verteilt wird, wie es durch die schrägen Linien in Fig. 1B dargestellt ist. Die Aus­ gangssignale der Elemente 29B₁ und 29B₃ werden durch eine Summiereinrichtung addiert, um ein Scharfein­ stellsignal A₁ zu bilden. Die Ausgangssignale der Ele­ mente 29B₂ und 29B₄ werden durch eine andere Summier­ einrichtung addiert, um das andere Scharfeinstellsi­ gnal A₂ zu bilden. Andererseits ist ein Datensignal A₃ die Summe der vier Ausgangssignale der Elemente 29B₁, 29B₂, 29B₃ und 29B₄. Das Datensignal A₃ wird beispielsweise durch Summieren der Scharfeinstellsigna­ le A₁ und A₂ mittels einer Summiereinrichtung gebil­ det.

Die zwei Scharfeinstellsignale A₁ und A₂ der Erfas­ sungseinrichtung 29B werden einem Differenzialver­ stärker 31 zugeführt, der den Unterschied zwischen den zwei Signalen A₁ und A₂ als ein Scharfeinstellfeh­ lersignal S_f ausgibt. Das Datensignal A₃ wird dem Differentialverstärker 30 zusammen mit dem von der Er­ fassungseinrichtung 29A abgegebenen Datensignal A₄ zugeführt, um das Wiedergabedatensignal S zu bilden.

Ferner kann durch Änderung des Winkels θ der zwischen der optischen Achse des einfallenden Lichts und der Einfallsoberfläche auf der Platte 28 gebildet wird, die Empfindlichkeit zum Erfassen des Scharfein­ stellfehlers eingestellt werden.

Die Arbeitsweise des derart ausgebildeten, optischen Systems wird im folgenden im einzelnen beschrieben.

Ein von einer Laserquelle 21 erzeugtes Laserstrahlen­ bündel wird durch den Kollimator 22 in ein paralleles Strahlenbündel umgewandelt. Das parallele Strahlen­ bündel wird auf der Aufzeichnungsoberfläche der foto­ elektrischen magnetischen Platte 24 nach Hindurch­ gehen durch den halbdurchlässigen Spiegel 23 mittels des Objektivs 25 fokussiert. Das von der Aufzeich­ nungsoberfläche der Platte 24 reflektierte Strahlen­ bündel wird durch den halbdurchlässigen Spiegel 23 abgetrennt und die Polarisationsebene wird durch die 1/2-Wellenlängenplatte 26 gedreht, so daß sie einen Azimuthwinkel von 45° in Bezug auf die Einfalls­ oberfläche der Platte 28 bildet. Als Ergebnis hiervon erreicht das Lichtstrahlenbündel die Einfallsober­ fläche der Platte 28 derart, daß die Polarisations­ ebene des Strahlenbündels 45° in Bezug auf die Haupt­ durchlaßachse der Polarisationsschicht 28a auf der Platte 28 bildet. Deshalb ist die Amplitude des durch die Polarisationsschicht 28a hindurchgegangenen Lichts (p-polarisierte Lichtkomponente) gleich der Amplitude des von der Polarisationsschicht 28a re­ flektierten Lichts (s-polarisierte Lichtkomponente).

Fig. 1A zeigt die Richtung der Polarisationsebene E des Lichts an verschiedenen Stellen in dem optischen System der Fig. 1 für den Fall, bei dem die Haupt­ durchlaßachse der Polarisationsschicht 28a beispiels­ weise in einer Richtung senkrecht zu der Zeichen­ ebene liegt. Fig. 1A zeigt die Richtung der Polari­ sationsebene E des Lichtstrahlenbündels an den ent­ sprechenden Abschnitten in zu der optischen Achse des hindurchgelassenen Strahlenbündels senkrechten Ebene. Fig. 1A zeigt auch die Richtung der Linien, die die Lichtempfangsoberfläche 29B_a der Erfassungseinrichtung 29 in die vier Elemente unterteilen.

Daten wurden auf der Platte 24 mit abwechselnden Magnetisierungsrichtungen aufgezeichnet. Wegen des Kerr-Effekts ist die Polarisationsebene des von der Platte 24 reflektierten Lichtstrahls etwas gemäß dem Magnetisierungszustands des Bereiches auf der Platte 24 gedreht, wo der Strahl reflektiert wurde. Deshalb ist die Richtung der Polarisationsebene des von dem Datenaufzeichnungsabschnitt auf der Platte 24 reflek­ tierten Lichtstrahls etwas gedreht und von der Rich­ tung der Polarisationsebene des von einem aufzeich­ nungsfreien Bereich reflektierten Lichts unterschied­ lich. Als Ergebnis hiervon erreicht der von dem Da­ tenaufzeichnungsbereich reflektierte Lichtstrahl die Platte 28 derart, daß die Größe des Azimuthwinkels der Polarisationsebene in Bezug auf die Einfallsober­ fläche der Platte 28 etwas gegenüber 45° verschoben ist, welches der Azimuthwinkel der Polarisationsebene des von einem aufzeichnungsfreien Bereich reflektier­ ten Strahls ist. Dies bedeutet, daß die Richtung der Polarisationsebene des Strahls etwas unter­ schiedlich von der Richtung ist, die einen Winkel von 45° in Bezug auf die Hauptdurchlaßachse der Polari­ sationsschicht 28a auf der Platte 28 bildet. Deshalb werden die Amplituden,d. h., die Intensität des durch die Platte 28 hindurchgegangenen Lichts (p-polarisier­ te Lichtkomponente) und des von der Platte 28 reflek­ tierten Lichts (s-polarisierte Lichtkomponente) ge­ genüber jenen verändert, die von Lichtstrahlen erhal­ ten werden, die von aufzeichnungsfreien Bereichen re­ flektiert werden.

Wie vorstehend erläutert wurde, wird die Intensität des durch die Platte 28 hindurchgegangenen Strahls und des von der Platte 28 reflektierten Strahls gemäß der Datenaufzeichnung auf der Platte 24 oder der Magnetisierungsrichtungen auf der Platte 24 geändert. Infolgedessen werden Aufzeichnungsdatensignale A₄ und A₃ von den Erfassungseinrichtungen 29A bzw. 29B gemäß den Magnetisierungsrichtungen auf der Platte 24 abge­ geben. Die Intensitätsänderungen der durch die Analy­ siereinrichtung 28 hindurchgegangenen und von dieser reflektierten Strahlen besitzen eine entgegengesetzte Phase. Das heißt, wenn die Polarisationsebene des Strahls gedreht wird und die Amplitude des durch die Analysiereinrichtung 28 hindurchgegangenen Strahl erhöht wird, die Amplitude des von der Analysierein­ richtung 28 reflektierten Strahls verringert wird. Wenn die Polarisationsebene des Strahls gedreht wird, um die Amplitude des durch die Analysiereinrichtung 28 hindurchgegangenen Strahls zu verringern, nimmt die Amplitude des von der Analysiereinrichtung 28 reflek­ tierten Strahls zu. Deshalb wird der Unterschied zwi­ schen den Aufzeichnungsdatensignalen A₄ und A₃, die von den Erfassungseinrichtungen 29A und 29B abge­ geben werden, gebildet und als Wiedergabedatensignale S von dem Differentialverstärker 30 ausgegeben.

Da, wie vorhergehend beschrieben wurde, das Wiederga­ bedatensignal S aus dem Unterschied zwischen den zwei Datensignalen erhalten wird, können optische Inten­ sitätsänderungen bei dem Laserstrahl, der von der La­ serstrahlquelle erzeugt wird, aufgehoben und vernach­ lässigt werden. Diese Wirkung beruht darauf, daß, da die Polarisationsebene bei ungefähr 45° in Bezug auf die Hauptdurchlaßachse der Polarisationsschicht auf der Platte liegt, die Komponenten der optischen Intensitätsänderungsstörung die gleiche Phase und die gleiche Amplitude aufweisen, so daß sie durch den Differentialverstärker 30 aufgehoben werden.

Der Strahl, der durch die Platte 28 hindurchgeht, er­ hält einen Betrag von Astigmatismus, der zum Er­ fassen eines Scharfeinstellfehlers geeignet ist. Die Erfassungseinrichtung 29B erhält den astigmati­ schen Lichtstrahl und gibt die Scharfeinstellsignale A₁ und A₂ zusammen mit dem Aufzeichnungsdatensignal A₃ ab. Die Scharfeinstellsignale A₁ und A₂ der Er­ fassungseinrichtung 29B werden dem Differentialverstär­ ker 31 zugeführt, der den Unterschied zwischen den Scharfeinstellsignalen A₁ und A₂ als ein Scharfein­ stellfehlersignal S_f ausgibt.

Wie vorhergehend beschrieben wurde, gibt die Erfassungs­ einrichtung 29B sowohl das Datensignal als auch das Scharfeinstellfehlersignal ab. Deshalb ist dann, wenn es nicht erforderlich ist, das Aufzeichnungsdatensi­ gnal aus dem Unterschied zwischen den zwei Datensigna­ len zu erhalten, die Erfassungseinrichtung 29A kein notwendiges Element für die Einrichtung.

Bei der ersten Ausführungsform des optischen Systems in der fotoelektrischen magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung ist die 1/2-Wellenlängenplat­ te 26 vor der Linsenanordnung 27 angeordnet, wie es vorstehend beschrieben ist. Jedoch kann die 1/2- Wellenlängenplatte 26 fortgelassen werden, wenn die Platte 28 derart angeordnet wird, daß der Lichtstrahl die Einfallsoberfläche der Platte 28 so erreicht, daß die Polarisationsebene des Strahls einen Azimuth­ winkel von 45° in Bezug auf die Einfallsoberfläche der Platte 28 ähnlich wie bei der Fig. 1A bildet, d. h., die Polarisationsebene des Strahls bildet einen Win­ kel von 45° in Bezug auf die Hauptdurchlaßachse der Polarisationsschicht 28a auf der Platte 28. Um die Platte 28 in der vorstehend beschriebenen Weise anzu­ ordnen, z. B., wie es Fig. 2 zeigt, verlaufen sowohl die durch den Pfeil E angedeutete Polarisationsrich­ tung des von der Laserquelle 21 erzeugten Laserstrahls und die Richtung der Aufzeichnungsspur auf dem Aufzeich­ nungsmedium, die durch den Pfeil T angedeutet ist, parallel zueinander und liegen in der Zeichenebene der Fig. 2. Ferner ist die Platte 28 derart angeord­ net, daß die Polarisationsrichtung E und die Spur­ richtung T einen Winkel von 45° mit der Einfalls­ oberfläche und der Meridianebene der Platte 28 bilden.

Die Meridianebene verläuft senkrecht zu der Einfalls­ oberfläche und enthält die Hauptdurchlaßachse. Die vorstehend beschriebene Anordnung der Platte 28 wird z. B. dadurch erhalten, daß die Platte 28 gemäß Fig. 1A um einen Winkel von 45° um die optische Achse des Lichtstrahls, der die Platte 28 erreicht, gedreht wird, so daß die Hauptdurchlaßachse der Polarisations­ schicht senkrecht zu der Zeichenebene der Fig. 1A liegt. Die Anordnung der Platte 28 ist in Fig. 2A dargestellt, die z. B. die Spurrichtung T, die Rich­ tung E der Polarisationsebene des Strahls, die Richtung der Hauptdurchlaßachse der Polarisationsschicht und die Richtungen der Linien zeigt, die die Lichtempfangs­ oberfläche der Erfassungseinrichtung 29B in die vier Elemente unterteilen.

Mit dem optischen System der vorstehend beschriebenen, zweiten Ausführungsform nach der Erfindung kann ohne Verwendung der 1/2-Wellenlängenplatte 26 ein zu­ friedenstellendes Wiedergabedatensignal S erhalten werden. Dieser Wirkung liegt zugrunde, daß, da die Po­ larisationsebene einen Winkel von ungefähr 45° mit der Hauptdurchlaßachse der Polarisationsschicht auf der Platte bildet, die Komponenten der optischen Inten­ sitätsänderungsstörung in etwa die gleiche Phase und Amplitude aufweisen, so daß sie in dem Differential­ verstärker 30 aufgehoben werden.

Gemäß Fig. 2A ist eine der Linien, die die vier Segmen­ te voneinander trennen, parallel zu der Spurrichtung Deshalb kann ein Scharfeinstellfehlersignal S_f erhalten werden, welches weniger durch eine Störung quer zur Spur beeinträchtigt ist. Dieser Wirkung liegt zugrun­ de, daß, da die Symmetrieachse eines von der Spur ge­ bildeten Lichtbeugungsmusters mit einer der Linien zusammenfällt, welche die Lichtempfangsoberfläche der Erfassungseinrichtung 29B unterteilt, wodurch der Untergrund quer zur Spur verringert wird.

Ein ähnliches Ergebnis kann erreicht werden, wenn die Polarisationsrichtung E senkrecht zu der Spurrichtung T verläuft.

In Fig. 2 sind die Differentialverstärker 30 und 31 nicht dargestellt.

Bei den vorstehend beschriebenen Beispielen besitzt die einen Astigmatismus hervorrufende Analy­ siereinrichtung 28 die Form einer flachen Platte mit zwei parallelen Seiten, wie es beschrieben wur­ de. Jedoch ist die Erfindung nicht darauf oder da­ durch begrenzt. Andere Beispiele von Analysierein­ richtungen 28, sind in den Fig. 3 und 4 ge­ zeigt.

Die in Fig. 3 gezeigte Analysiereinrichtung 28 weist die Form eines Keils mit einer Polarisationsschicht 33 auf einer seiner Oberflächen auf. Die Analysier­ einrichtung 28, die in Fig. 4 gezeigt ist, ist ein Po­ larisationsstrahlteiler in der Form eines Würfels, der dadurch gebildet wird, daß zwei Prismenelemente unterschiedlichen Brechungsindex (n₁ ≠ n₂) miteinander verbunden werden und eine Polarisationsschicht 34 zwi­ schen ihnen vorgesehen wird. Beide Analysiereinrich­ tungen können die gleichen Wirkungen wie die Analy­ siereinrichtung 28 hervorrufen, die in den Fig. 1 und 2 gezeigt sind.

Wie vorstehend beschrieben wurde, bewirkt in der foto­ elektrischen magnetischen Aufzeichnungs- und Wieder­ gabeeinrichtung zum magneto-optischen Auslesen von Signalen eine einen Astigmatismus hervorrufende Ana­ lysiereinrichtung 28 die Astigmatismus hervorrufen­ de Funktion zum Erfassen des automatischen Scharf­ einstellsteuersignals und die Analysierfunktion zum Erfassen des magneto-optischen Signals im Rahmen der Erfindung.

Anders ausgedrückt bedeutet dies, daß die fotoelektri­ sche magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabeeinrich­ tung derart ausgelegt ist, daß ein optisches Element 28 eine den Astigmatismus hervorrufende Funktion und die Analysierfunktion besitzt. Deshalb kann die Einrichtung sowohl hinsichtlich der Größe als auch der Gewichts klein ausgebildet werden, und die Anzahl der Bauteile und die Herstellungskosten können verringert werden.

Im allgemeinen beeinträchtigt bei einer fotoelektri­ schen magnetischen Wiedergabe mit kleinen, optischen Änderungen als Signaldaten der optische Intensitäts­ verlust durch die optischen Komponenten stark das Signal/Untergrund-Verhältnis. Jedoch trägt die Ver­ ringerung der Anzahl der Komponenten im Rahmen der Erfindung zur Verringerung optischer Intensitätsver­ luste und zu einer Verbesserung des Signal/Untergrund- Verhältnisses bei.

Claims (4)

1. Wiedergabeeinrichtung zum Lesen von Signalen, mit:
Mitteln (21, 23, 25, 26) zum Erzeugen eines Reflexionslicht­ signals von einem magneto-optischen Aufzeichnungsmedium (24);
einer Astigmatismus hervorrufenden Analysiereinrichtung (28) zum Empfangen und Teilen des Reflexionslichtsignals in ein erstes und zweites Lichtsignal, wobei das erste und das zwei­ te Lichtsignal unterschiedliche Polarisationen aufweisen und das zweite Lichtsignal stärker astigmatisch als das erste Lichtsignal ist;
einer das erste Lichtsignal empfangenden ersten Lichtemp­ fangseinrichtung (29A) zum Erzeugen eines ersten Datensignals (A4); und
einer das zweite Lichtsignal empfangenden zweiten Lichtemp­ fangseinrichtung (29B) zum Erzeugen eines Scharfeinstellsi­ gnals (A1, A2),
dadurch gekennzeichnet, daß die Astigmatismus hervorrufenden Analysiereinrichtung (28) ein einziger optischer Körper ist, welche eine Polarisa­ tionsschicht (28A; 33; 34) enthält, die auf einer zu der Aus­ breitungsrichtung des Reflexionslichtsignals geneigten. Fläche angeordnet und dazu vorgesehen ist, das Reflexionslichtsignal zur Erzeugung des ersten Lichtsignals teilweise zu reflektie­ ren und das Reflexionslichtsignal zur Erzeugung des zweiten Lichtsignals teilweise durchzulassen.

2. Wiedergabeeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die zweite Lichtempfangseinrichtung (29B) zusätzlich ein zweites Daten­ signal (A3) erzeugt und eine Einrichtung (30) zum Kombinieren des ersten und zweiten Datensignals (A3, A4) vorgesehen ist.

3. Wiedergabeeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Mittel zum Erzeugen eines Reflexionslichtsignals eine Laserquelle (21) umfassen, deren Licht längs einer ersten Richtung linear polarisiert ist, die im wesentlichen parallel oder senkrecht zu einer Spurrichtung des Aufzeichnungsmediums (24) verläuft, und wobei eine Einfallsoberfläche und eine Meridianoberfläche der Analysiereinrichtung (28) mit einem Winkel von im wesent­ lichen 45° zu der ersten Richtung und der Spurrichtung ausge­ bildet sind.

4. Wiedergabeeinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Analy­ siereinrichtung (28) zwei Prismen mit unterschiedlichen Bre­ chungsindizes (N1, N2) umfaßt, die an einer die Polarisati­ onsschicht (34) aufweisenden Oberfläche miteinander verbunden sind.