[go: up one dir, main page]

DE3524368C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3524368C2
DE3524368C2 DE3524368A DE3524368A DE3524368C2 DE 3524368 C2 DE3524368 C2 DE 3524368C2 DE 3524368 A DE3524368 A DE 3524368A DE 3524368 A DE3524368 A DE 3524368A DE 3524368 C2 DE3524368 C2 DE 3524368C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
measurement signal
reference signal
amplifier
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3524368A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3524368A1 (de
Inventor
Aritoshi Nagaokakyo Kyoto Jp Yoneda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Publication of DE3524368A1 publication Critical patent/DE3524368A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3524368C2 publication Critical patent/DE3524368C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/124Sensitivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Infrarot-Gasanalysator gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein derartiger Infrarot-Gasanalysator ist bereits aus Hengstenberg- Sturm-Winkler: Messen, Steuern und Regeln in der Chemischen Technik, Band II, 3. Auflage, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York 1980, Seiten 31 und 32, sowie aus der DE-PS 25 11 771 bekannt. Dieser bekannte Infrarot-Gasanalysator enthält
  • - einen Meßsignaldetektor zur Lieferung eines Meßsignals,
  • - einen Referenzsignaldetektor zur Lieferung eines vom Meßsignal getrennten Referenzsignals,
  • - einen einen Rückkopplungswiderstand aufweisenden Meßsignalverstärker zur Verstärkung des Meßsignals,
  • - einen einen Rückkopplungswiderstand aufweisenden Referenzsignalverstärker zur Verstärkung des Referenzsignals,
  • - eine Differenzbildungseinrichtung zur Erzeugung eines der Differenz von verstärktem Meßsignal und verstärktem Referenzsignal entsprechenden Ausgangssignals und
  • - eine Anzeigeeinrichtung, die in Abhängigkeit des Ausgangssignals ansteuerbar ist.
Aus der DE 32 38 179 A1 ist ein weiterer Infrarot-Gasanalysator bekannt. Er besitzt einen Hilfskanal (Elemente 4 b, 5 b, 6 b, 7 b), um Einflüsse auszuschalten, die durch Verschmutzung der Absorptionsküvette 2 und durch die sich ändernden Eigenschaften der Bauelemente Strahlungsquelle, Fotoempfänger und Verstärker entstehen. Der Hilfskanal dient also dazu, eine Meßbereichsdrift aufgrund von Veränderungen der genannten Bauteile zu kompensieren, die vor der Quotientenschaltung 8 liegen. Zur Nullpunktkalibrierung bei strömendem Nullgas (Infrarot-inaktivem Gas) dienen die Widerstände 12 und 13, während zur Meßbereichskalibrierung bei strömendem Meßgas (zu messendes Gas einer bestimmten Konzentration) der Operationsverstärker 11 und der einstellbare Rückkopplungswiderstand 16 dienen. Die Widerstände 14 und 15 dienen bei entsprechend umgelegtem Umschalter 10 zur Durchführung einer vereinfachten Meßbereichskalibrierung bei strömendem Nullgas. Mit Hilfe des Operationsverstärkers 11 und des variablen Widerstands 16 wird im vorliegenden Fall aber nicht die Meßbereichsdrift kompensiert, die aufgrund des optischen Systems hervorgerufen wird.
Weiterhin ist aus der US-PS 43 46 296 ein Infrarot-Gasanalysator bekannt, der jedoch als Einstrahlgerät ausgebildet ist. Bei diesem Infrarot-Gasanalysator dient ein variabler Widerstand als Element zur Nullpunktkalibrierung, während ein variabler Widerstand 19 als Element zur Meßbereichskalibrierung dient. Zusätzlich sind ein einstellbarer Widerstand 131 und ein Umschalter 139 vorgesehen, um die vereinfachte Meßbereichskalibrierung vorzunehmen (Meßbereichskalibrierung bei strömendem Nullgas), bei der ebenfalls auch der variable Widerstand 19 auf einen gewünschten Wert einstellbar ist. Da bei der vereinfachten Meßbereichskalibrierung (bei strömendem Nullgas) an den Verstärker 15 bei Betätigung des Schalters 139 die Referenzspannung aufgrund des vorhandenen Widerstandsnetzwerks geändert wird, ist eine genaue Kompensation der durch das optische System hervorgerufenen Meßbereichsdrift nicht möglich.
Aus der DE 28 03 369 C2 ist es zudem bekannt, eine Nullbereichskalibrierung über einen einstellbaren Widerstand bei einem Zweistrahl-Gasanalysator vorzunehmen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den eingangs genannten Infrarot-Gasanalysator so weiterzubilden, daß auch eine durch das optische System verursachte Meßbereichsdrift praktisch vollständig und ohne den Einsdatz eines Eich- bzw. Kalibriergases kompensierbar ist.
Die Lösung der gestellten Aufgabe zeichnet sich durch die Kombination folgender Merkmale aus:
  • - Zwischen dem Referenzsignaldetektor und dem Referenzsignalverstärker sowie zwischen dem Meßsignaldetektor und dem Meßsignalverstärker ist jeweils eine Reihenschaltung aus einem Vorverstärker und einem nachgeschalteten, einstellbaren Widerstand zur Nullpunktkalibrierung angeordnet,
  • - der Ausgang der Differenzbildungseinrichtung ist mit einem Eingang eines Differenzverstärkers verbunden, wobei dieser Eingang über einen einstellbaren Widerstand zur Meßbereichskalibrierung auf Referenzpotential gelegt und der andere Eingang des Differenzverstärkers mit dessen Ausgang rückgekoppelt ist, welcher mit der Anzeigeeinrichtung verbunden ist,
  • - parallel zum Rückkopplungswiderstand des Meßsignalverstärkers liegt eine Reihenschaltung aus einem einstellbaren Widerstand und einem schließbaren Schalter.
Da die Meßbereichskalibrierung nur mit Hilfe eines variierbaren Verstärkungsfaktors des Meßsignalverstärkers zur Verstärkung des Meßsignals erfolgt, ist es nicht mehr erforderlich, fortwährend ein relativ teures Eich- bzw. Kalibriergas zu verwenden. Darüber hinaus lassen sich eine Meßbereichsdrift aufgrund einer Verschlechterung der Lichtquelle, einer Verschmutzung der Meßzelle und dergleichen, leicht erfassen, so daß eine sichere Kalibrierung möglich ist.
Die Zeichnung stellt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dar. Es zeigt
Fig. 1 einen Infrarot-Gasanalysator mit einer elektronischen Kalibriereinrichtung und
Fig. 2 eine schematische Darstellung zur Erläuterung der Kalibrierung des Infrarot-Gasanalysators nach Fig. 1.
In der Fig. 1 ist ein Infrarot-Gasanalysator dargestellt, der eine Probenkammer 10 mit einem Eingang 11 zur Einführung eines Probengases in die Probenkammer 10 und mit einem Ausgang 12 zur Ausleitung des Probengases aus der Probenkammer 10 besitzt. Der Infrarot-Gasanalysator weist ferner eine Infrarotlichtquelle 20 an einem Ende der Probenkammer 10 auf, die Infrarotstrahlung in die Probenkammer 10 hineinstrahlt, sowie eine Detektoreinrichtung 30 an dem anderen und der Infrarotlichtquelle 20 gegenüberliegenden Ende der Probenkammer 10. Zwischen der Probenkammer 10 und der Infrarotlichtquelle 20 ist ein Chopper 40 angeordnet, der sich zur Modulation des Infrarotlichtes dreht. Die Detektoreinrichtung 30 umfaßt einen Referenzsignaldetektor 31 und einen Meßsignaldetektor 32, der mit einem Bandpaßfilter 32′ verbunden ist. Durch das Bandpaßfilter 32′ hindurch treffen auf den Meßsignaldetektor 32 Infrarotstrahlen mit einer Wellenlänge auf, die innerhalb des Bereiches eines bestimmten Absorptionsbandes liegt, in dem die zu bestimmende Gaskomponente innerhalb des Probengases absorbiert. Der Referenzsignaldetektor 31 ist mit einem Bandpaßfilter 31′ verbunden, durch das hindurch Infrarotstrahlen auf den Referenzsignaldetektor 31 auftreffen, die nicht im Absorptionsband der zu bestimmenden Gaskomponente innerhalb des Probengases liegen oder nur geringfügig durch die zu bestimmende Gaskomponente absorbiert werden. Im Betrieb liefert der Meßsignaldetektor 32 ein Meßsignal V S , während der Referenzsignaldetektor 31 ein Referenzsignal V R abgibt. Mit dem Ausgang des Referenzsignaldetektors 31 ist ein erster Vorverstärker 50 und mit dem Ausgang des Meßsignaldetektors 32 ein zweiter Vorverstärker 60 verbunden. Durch beide Vorverstärker 50, 60 werden die von den genannten Detektoren 31, 32 gelieferten Signale verstärkt. Der Ausgang des ersten Vorverstärkers 50 ist über einen Eingangswiderstand 71 mit einem Eingang eines Referenzsignalverstärkers 70 verbunden, dessen Ausgang mit dem genannten Eingang über einen Rückkopplungswiderstand 72 verbunden ist. Durch diesen Referenzsignalverstärker 70 wird das vorverstärkte Referenzsignal V R des Referenzsignaldetektors 31 mit einem bestimmten Verstärkungsgrad weiter verstärkt und dem Plus-Eingang eines Differenzverstärkers 90 (Differenzbildungseinrichtung) zugeführt. Der Ausgang des zweiten Vorverstärkers 60 ist über einen Eingangswiderstand 81 mit einem Eingang eines Meßsignalverstärkers 80 verbunden, dessen Ausgang über einen Rückkopplungswiderstand 82 mit dem genannten Eingang des Meßsignalverstärkers 80 verbunden ist. Durch diesen Meßsignalverstärker 80 wird das bereits vom Vorverstärker 60 vorverstärkte Meßsignal V S des Meßsignaldetektors 32 mit einem bestimmten Verstärkungsgrad verstärkt und dem Minus-Eingang des Differenzverstärkers 90 zugeführt. Ein einstellbarer Widerstand 83 und ein im Normalzustand offener Schalter 84, der mit dem Widerstand 83 in Reihe liegt, sind parallel zum Rückkopplungswiderstand 82 geschaltet. Die Rückkopplungsschaltung FB ist also so aufgebaut, daß der Verstärkungsgrad des Meßsignalverstärkers 80 frei verändert werden kann. Die Differenzbildungseinrichtung 90 ist ausgangsseitig mit einem Eingang eines weiteren Differenzverstärkers 100 verbunden, wobei dieser Eingang des Differenzverstärkers 100 ferner mit einem einstellbaren Widerstand 101 zur Veränderung des Meßbereiches verbunden ist. Der Ausgang des Differenzverstärkers 100 liefert das Signal C.
Bei der Messung der Konzentration des Probengases wird dieses zunächst in die Probenkammer 10 geleitet, wenn der Schalter 84 geöffnet ist. Anschließend wird die Infrarotlichtquelle 20 eingeschaltet, so daß das Probengas von Infrarotstrahlen bestrahlt wird. Dabei wird die Infrarotstrahlung durch den Chopper 40 moduliert. Das durch den Meßsignaldetektor 32 erhaltene Meßsignal V S und das durch den Referenzsignaldetektor 31 erhaltene Referenzsignal V R werden in geeigneter Weise verstärkt, so daß ein Konzentrationssignal C am Ausgang des Differenzverstärkers 100 erhalten wird, und zwar durch Subtraktion des Referenzsignals vom Meßsignal oder umgekehrt.
Im nachfolgenden wird die Meßbereichseinstellung des Infrarot- Gasanalysators anhand der Fig. 2 näher erläutert.
Entsprechend der Fig. 1 ist die Gesamtverstärkung des elektrischen Referenzzweiges R, der sich vom Vorverstärker 50 bis zum Ausgang des Referenzsignalverstärkers 70 erstreckt, mit l₀ bezeichnet. Dagegen ist die Gesamtverstärkung des elektrischen Meßzweiges S, der sich vom Vorverstärker 60 bis zum Ausgang des Meßsignalverstärkers 80 erstreckt, mit l₁ bezeichnet. Der Differenzvertärker 100 besitzt einen Verstärkungsgrad k₁. Gemäß der Fig. 2 ist die Energie der Infrarotstrahlen mit der Referenzwellenlänge innerhalb der von der Infrarotlichtquelle 20 ausgesandten Strahlung mit I OR bezeichnet, während die Energie der Infrarotstrahlen mit der Meßwellenlänge innerhalb der von der Infrarotlichtquelle 20 ausgesendeten Strahlung mit I OS bezeichnet ist. Die Energie der Infrarotstrahlung mit der Referenzwellenlänge, die die Probenkammer 10 und das Bandpaßfilter 31′ durchlaufen hat, sei I lR , während die Energie der Infrarotstrahlung mit der Meßwellenlänge, nachdem sie die Probenkammer 10 und das Bandpaßfilter 32′ durchsetzt hat, mit I lS bezeichnet sei.
Das Konzentrationssignal C am Ausgang des Differenzverstärkers 100 läßt sich dann durch die nachfolgende Gleichung ausdrücken:
C = k₁ (lV R -lV S ) (1)
Ist die Proportionalitätskonstante der Detektorempfindlichkeit des Referenzsignaldetektors 31 a₁ und die Proportionalitätskonstante der Detektorempfindlichkeit des Meßsignaldetektors 32 a₂, so lassen sich das Referenzsignal V R und das Meßsignal V S wie folgt ausdrücken:
V R = a₁ · I lR (2)
V S = a₂ · I lS (3)
Die Gesamtverstärkung l₀ des elektrischen Referenzzweiges R und die Gesamtverstärkung l₁ des elektrischen Meßzweiges S sind unter der Bedingung eingestellt, daß ein Nullgas durch die Probenkammer 10 fließt, so daß folgende Gleichung gilt:
k₁ (l₀ · V RZ -l₁ · V SZ ) = 0 (4)
Das Nullgas ist beispielsweise Stickstoff bzw. ein infrarot- inaktives Gas. In der Gleichung (4) bedeuten V RZ und V SZ jeweils das Ausgangssignal des Referenzsignaldetektors 31 bzw. das Ausgangssignal des Meßsignaldetektors 32, wobei die Ausgangssignale dann erhalten werden, wenn das Nullgas durch die Probenkammer 10 fließt.
Dementsprechend kann die Änderung des Verhältnisses von I lS zu I lR als sogenannte Nulldrift bezeichnet werden. Andererseits wird die Meßbereichsdrift nur dann erzeugt, wenn I lS und I lR sich bei gleichem Verhältnis ändern oder sich die Probenkammerlänge und die Meßwellenlänge gegenüber dem optimalen Wert verschieben. Obgleich es schwierig ist, eine Korrektur des zuletzt genannten Verhältnisses zu überprüfen bzw. vorzunehmen, wenn die Probenkammer nicht von einem Meßbereichs- bzw. Eichgas durchströmt wird, so ist es doch möglich, das zuerst genannte Verhältnis zu überprüfen bzw. zu korrigieren, wenn das Nullgas durch die Probenkammer strömt.
Im folgenden sei angenommen, daß das Meßbereichs- bzw. Eichgas durch die Probenkammer strömt und am Ausgang des Differenzverstärkers 100 folgendes Konzentrationssignal C erhalten wird:
C = k₁ (lV RS -lV SS ) (5)
Hierin sind V RS und V SS die Ausgangssignale des Referenzsignaldetektors 31 und des Meßsignaldetektors 32. Da V RS ungefähr gleich V RZ ist, kann die Gleichung (5) wie folgt umgeschrieben werden:
C = k₁ (l₀ · V RZ -l₁ · V SS ) (6)
Der Verstärkungsgrad m der Rückkopplungsschaltung FB des Meßsignalverstärkers 80 ist zur Meßbereichseinstellung auf einen Wert eingestellt, der kleiner als 1 ist. Die Einstellung erfolgt mit Hilfe des Schalters 84, der zu diesem Zweck geschlossen wird. Durch Schließung des Schalters 84 wird der Gesamtrückkopplungswiderstand vermindert. Wird die Einstellung so ausgeführt, daß die Beziehung V SS =m · V SZ gilt, so nimmt die obige Gleichung (6) folgende Form an:
C = k₁ (l₀ · V RZ -m · l₁ · V SZ ) (7)
Wird also bei der Meßbereichseinstellung der Verstärkungsfaktor m=V SS /V SZ mit dem Wert V SZ verknüpft, so wird ein Signal erhalten, das den Zustand bei Verwendung eines Meßbereiches bzw. Eichgases beschreibt, obwohl tatsächlich ein Nullgas durch die Probenkammer strömt.
Im folgenden sei angenommen, daß sich I lR und I lS bei gleichem Verhältnis a ändern. Der Ausdruck für das Konzentrationssignal C läßt sich dann wie folgt angeben:
C = k₁ (l₀ · a · V RS -l₁ · a · V SS ) = a · k₁ (l₀ · V RS -l₁ - V SS ) (8)
Da andererseits der korrekte Wert des Meßbereiches k₁ · (l₀ · V RS -l₁ · V RS ) ist, kann durch Vergleich der rechten Seite der obengenannten Gleichung (8) mit diesem korrekten Wert des Meßbereiches festgestellt werden, daß der zuerst genannte Ausdruck ein Vielfaches des zuletzt genannten Ausdrucks ist. Das bedeutet, daß auf diese Weise die Meßbereichsdrift erhalten wird.
Weiter unten wird beschrieben, wie diese Meßbereichsdrift beim Infrarot-Gasanalysator eingestellt bzw. kompensiert werden kann. Im folgenden sei angenommen, daß sich I lR und I lS bei gleichem Verhältnis a ändern. Es wird dann folgender Ausdruck erhalten:
C′ = k₁ (l₀ · a · V RZ -m · l₁ · a · V SZ )
= a · k₁ (l₀ · V RZ -m · l₁ · V SZ )
= a · k₁ (l₀ · V RS -l₁ · V SS ) (9)
Diese Gleichung (9) ist identisch mit der oben angegebenen Gleichung (8). Das bedeutet, daß der Zustand, in dem Meßbereichs- bzw. Eichgas durch die Probenkammer strömt, dadurch reproduziert bzw. beschrieben werden kann, daß nur der Verstärkungsfaktor des Meßsignalverstärkers 80 verändert wird, ohne daß selbst Meßbereichs- bzw. Eichgas durch die Probenkammer strömen muß. Wird unter dieser Bedingung mit Hilfe des einstellbaren Widerstandes 101 eine Verminderung der Beleuchtungsstärke aufgrund von schlechteren Betriebseigenschaften der Lichtquelle 20 kompensiert, so daß a=1 ist, wird der zuvor erwähnte korrekte Wert des Meßbereiches erhalten.
In der Praxis wird der Meßbereich wie folgt eingestellt:
Zunächst wird durch Einstellung der Widerstände 105 und 106 die Nullkalibrierung durchgeführt, wenn Nullgas durch die Probenkammer hindurchströmt. Die Einstellung erfolgt so, daß die Signalstärke im elektrischen Referenzzweig R und die Signalstärke im elektrischen Meßzweig S gleich sind und ein Ausgangssignal an der Differenzbildungseinrichtung 90 erhalten wird, das den Wert Null annimmt. Die einstellbaren Widerstände 105, 106 liegen jeweils in Reihe mit den Vorverstärkern 50, 60 und besitzen Abgriffe, die mit den jeweiligen Eingangswiderständen 71, 81 der Verstärker 70, 80 verbunden sind.
Anschließend wird der Widerstand 101 eingestellt, und zwar bei strömendem Meßbereichs- bzw. Eichgas mit bekannter Konzentration, und zwar so, daß auf einem Meßgerät die bekannte Konzentration angezeigt wird. Sind Nullkalibrierung und Meßbereichskalibrierung beendet, fließt weiter Nullgas ohne Verzögerung durch die Probenkammer, wobei der im Normalzustand offene Schalter 84 geschlossen wird, nachdem sich die Anzeige stabilisiert hat. Der zu dieser Zeit vorliegende Anzeigewert wird gespeichert. Der Widerstand 83 ist in seinem Widerstandswert veränderbar und wird so eingestellt, daß der Anzeigewert eine geeignete Größe annimmt.
In den nachfolgenden periodischen Prüfprozessen wird die Nullkalibrierung bei strömendem Nullgas durchgeführt und der im Normalzustand offene Schalter 84 geschlossen, wenn weiterhin kontinuierlich Nullgas durch die Probenkammer hindurchströmt, um den Widerstand 101 so einzustellen, daß der Anzeigewert mit dem zuvor gespeicherten Wert übereinstimmt.
Selbstverständlich kann der Infrarot-Gasanalysator auch mit zwei Probenkammern ausgestattet sein, bei denen eine Referenzkammer parallel neben einer Meßkammer liegt. Der Infrarot-Gasanalysator kann auch ein Mehrkomponenten-Analysator sein. Wichig ist, daß ein Referenzsignal und ein Meßsignal ausgegeben werden, um aus diesen Signalen ein Differenzsignal als Konzentrationssignal bilden zu können.

Claims (2)

  1. Infrarot-Gasanalysator mit
    • - einem Meßsignaldetektor (32) zur Lieferung eines Meßsignals,
    • - einem Referenzsignaldetektor (31) zur Lieferung eines vom Meßsignal getrennten Referenzsignals,
    • - einem einen Rückkopplungswiderstand (82) aufweisenden Meßsignalverstärker (80) zur Verstärkung des Meßsignals,
    • - einem einen Rückkopplungswiderstand (72) aufweisenden Referenzsignalverstärker (70) zur Verstärkung des Referenzsignals,
    • - einer Differenzbildungseinrichtung (90) zur Erzeugung eines der Differenz von verstärktem Meßsignal und verstärktem Referenzsignal entsprechenden Ausgangssignals und
    • - einer Anzeigeeinrichtung, die in Abhängigkeit des Ausgangssignals ansteuerbar ist,
  2. gekennzeichnet durch die Kombination folgender Merkmale:
    • - zwischen dem Referenzsignaldetektor (31) und dem Referenzsignalverstärker (70) sowie zwischen dem Meßsignaldetektor (32) und dem Meßsignalverstärker (80) ist jeweils eine Reihenschaltung aus einem Vorverstärker (50, 60) und einem nachgeschalteten einstellbaren Widerstand (105, 106) zur Nullpunktkalibrierung angeordnet,
    • - der Ausgang der Differenzbildungseinrichtung (90) ist mit einem Eingang (+) eines Differenzverstärkers (100) verbunden, wobei dieser Eingang (+) über einen einstellbaren Widerstand (101) zur Meßbereichskalibrierung auf Referenzpotential gelegt und der andere Eingang (-) des Differenzverstärkers (100) mit dessen Ausgang rückgekoppelt ist, welcher mit der Anzeigeeinrichtung verbunden ist,
    • - parallel zum Rückkopplungswiderstand (82) des Meßsignalverstärkers (80) liegt eine Reihenschaltung aus einem einstellbaren Widerstand (83) und einem schließbaren Schalter (84).
DE19853524368 1984-07-09 1985-07-08 Infrarot-gasanalysator mit kalibriereinrichtung Granted DE3524368A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59143169A JPS6120840A (ja) 1984-07-09 1984-07-09 赤外線分析計の校正機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3524368A1 DE3524368A1 (de) 1986-02-06
DE3524368C2 true DE3524368C2 (de) 1989-09-07

Family

ID=15332518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19853524368 Granted DE3524368A1 (de) 1984-07-09 1985-07-08 Infrarot-gasanalysator mit kalibriereinrichtung

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4673812A (de)
JP (1) JPS6120840A (de)
DE (1) DE3524368A1 (de)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3615259A1 (de) * 1986-05-06 1987-11-12 Krieg Gunther Verfahren und system zur kontinuierlichen bestimmung der konzentrationen von molekuehlverbindungen in fluessigkeiten und gasen
US4856906A (en) * 1986-09-29 1989-08-15 Circuits And Systems, Inc. Enhanced system for transmission loss comparison
DE58908485D1 (de) * 1988-06-01 1994-11-17 Hartmann & Braun Ag Kalibriereinrichtung für ein nichtdispersives Infrarot-Fotometer.
JPH0774784B2 (ja) * 1989-05-20 1995-08-09 株式会社堀場製作所 赤外線分析計
DE3918994C1 (de) * 1989-06-10 1990-06-13 Draegerwerk Ag, 2400 Luebeck, De
US5341214A (en) * 1989-09-06 1994-08-23 Gaztech International Corporation NDIR gas analysis using spectral ratioing technique
US5184017A (en) * 1989-09-12 1993-02-02 Sensors, Inc. Method and apparatus for detecting a component gas in a sample
US5060505A (en) * 1989-09-12 1991-10-29 Sensors, Inc. Non-dispersive infrared gas analyzer system
GB9013870D0 (en) * 1990-06-21 1990-08-15 Laser Monitoring Systems Limit Optical sensors
US5075550A (en) * 1990-07-12 1991-12-24 Amoco Corporation Infrared detector for hydrogen fluoride gas
US5340987A (en) * 1991-03-15 1994-08-23 Li-Cor, Inc. Apparatus and method for analyzing gas
US5332901A (en) * 1991-03-15 1994-07-26 Li-Cor, Inc. Gas analyzing apparatus and method for simultaneous measurement of carbon dioxide and water
US5227636A (en) * 1991-09-16 1993-07-13 University Corporation For Atmospheric Research Dual path ultraviolet hygrometer
US5262635A (en) * 1991-11-20 1993-11-16 Bio-Rad Laboratories, Inc. Techniques for correcting non-linearity in a photodetector using predefined calibration information
US5335534A (en) * 1992-06-08 1994-08-09 Gaztech International Corporation Functional testing method for toxic gas sensors
US5510269A (en) * 1992-11-20 1996-04-23 Sensors, Inc. Infrared method and apparatus for measuring gas concentration including electronic calibration
DE4342246C2 (de) * 1993-12-10 1997-03-20 Karl Stefan Riener Charakteristische Absorption
DE4410102A1 (de) * 1994-03-21 1995-09-28 Mannesmann Ag Verfahren zum Betrieb einer Strahlungsmeßanordnung
AU7322594A (en) * 1994-07-05 1996-01-25 Telaire Systems, Inc. Ndir gas analysis using spectral ratioing technique
FI100827B (fi) * 1995-03-22 1998-02-27 Vaisala Oy NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointilaitteisto
DE19749891B4 (de) * 1997-11-12 2004-08-26 Jürgen Dittrich Verfahren zur Messung der Konzentration eines Gases in einem Gasgemisch, insbesondere in Luft, und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US6369387B1 (en) 1999-10-15 2002-04-09 Li-Cor, Inc. Gas analyzer

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3562524A (en) * 1968-12-11 1971-02-09 Gen Electric Apparatus for measuring the concentration of alcohol vapor in alveolar air
US4040747A (en) * 1972-08-24 1977-08-09 Neotec Corporation Optical analyzer for agricultural products
DE2511771B2 (de) * 1975-03-18 1977-02-17 Adrian, Werner, Prof. Dr.-Ing., 7505 Ettlingen; Borkenstein, Robert F., Prof., Bloomington, Ind. (V.St.A.) Anordnung zum bestimmen des alkoholgehaltes im blut
DE2803369C2 (de) * 1978-01-26 1982-03-04 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Meßeinrichtung zur Bestimmung des Wasserdampfanteils in einem Gasgemisch mittels Infrarot-Absorptions-Gasanalyse
JPS5658306A (en) * 1979-10-18 1981-05-21 Nec Corp Automatic gain control circuit
US4346296A (en) * 1980-08-15 1982-08-24 Andros Analyzers Incorporated Non-dispersive infrared gas analyzer
JPS57190251A (en) * 1981-05-19 1982-11-22 Horiba Ltd Absorbance system analyzer
US4480190A (en) * 1982-05-20 1984-10-30 Andros Analyzers Incorporated Non-dispersive infrared gas analyzer
DE3238179A1 (de) * 1982-10-15 1984-04-19 Dr. Kamphausen GmbH, 1000 Berlin Anordnung zur messung der konzentration eines gases

Also Published As

Publication number Publication date
US4673812A (en) 1987-06-16
JPS6120840A (ja) 1986-01-29
DE3524368A1 (de) 1986-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3524368C2 (de)
DE2727976C3 (de) Vorrichtung zur Messung der Konzentration mindestens einer Komponente eines Gasgemisches und Verfahren zum Eichen derselben
DE3932838C2 (de) Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator
DE3937141C2 (de)
DE2114064C3 (de) Fotometer zum Bestimmen des Sauerstoffgehaltes von Blut
DE1109418B (de) Nichtdispersiver Infrarot-Analysator mit positiver Filterung
DE1773827A1 (de) Einrichtung zur Absorptionsspektralanalyse
DE69017756T2 (de) Infrarotanalyseverfahren.
DE19547787C1 (de) Zweistrahl-Gasanalysator und Verfahren zu seiner Kalibrierung
DE2363180C2 (de) Reaktionskinetisches Meßgerät
DE69315015T2 (de) Spektrophotometrische Methode und Spektrophotometer zur Druchführung der Methode
DE3524189C2 (de) Infrarot-Gasanalysator
DE2240523A1 (de) Infrarotgasanalysator
DE4111187C2 (de) Verfahren zur Messung des optischen Absorptionsvermögens von Proben unter Eliminierung des Anzeigefehlers hinsichtlich gas-physikalischer Eigenschaften und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE2255088B2 (de) Zweistrahl-lnfrarot-GasanalysatOT
DE19509822A1 (de) Ölkonzentrations-Meßgerät
EP1564545A1 (de) Infrarot-Gassensor
DE1297362B (de) Geraet zur Konzentrationsanzeige einer oder mehrerer Komponenten eines Analysengases
DE2359637A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur korrektur des messignals eines zweistrahlphotometers fuer die fluidanalyse
DE3238179C2 (de)
DE3784206T2 (de) Gasanalysiervorrichtung.
EP0020877B1 (de) Signalauswerterschaltung für ein Messgerät zur Messung der Extinktion
DE2332288C3 (de) Zweistrahl-1 nfrarol-Gasanalysator
DE1907619B2 (de) Regeleinrichtung zur regelung des verstaerkungsgrades einer gegengekoppelten verstaerkerstufe
DE2037698C3 (de) Schaltungsanordnung zum Erzeugen von Ausgangssignalen bei einem Massenspektrometer

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee