DE3520003C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine elektrisch programmierbare
Verknüpfungsmatrix für binäre Signale mit Signaleingängen
und Signalausgängen, zwei Zeilenleitungen für jeden
Signaleingang, wobei das dem Signaleingang zugeführte Signal
an der einen Zeilenleitung in nicht negierter Form und
an der anderen Zeilenleitung in negierter Form erzeugbar
ist, einer Spaltenleitung für jeden Signalausgang und einer
im nicht programmierten Zustand elektrisch leitenden, zum
Zweck der Programmierung unterbrechbaren Verbindung zwischen
jeder Zeilenleitung und jeder Spaltenleitung.
Eine elektrisch programmierbare Verknüpfungsmatrix der eingangs
angegebenen Art ist beispielsweise in der von der
Firma Texas Instruments hergestellten integrierten Schaltung
des Typs SN54TL16R4 enthalten. Eine Beschreibung dieser
integrierten Schaltung befindet sich in dem von dieser
Firma herausgegebenen Handbuch "ALS/AS Logic Circuit Data
Book 1983" auf S. 3/10. In der englischsprachigen Literatur
wird eine Verknüpfungsmatrix dieser Art in der Regel als
"Programmable Logic Array" (abgekürzt PLA) bezeichnet. In
einem Anwendungsfall wird eine solche Verknüpfungsmatrix
bei der Adressierung eines Speichers zur Erzielung einer
1-aus-N-Decodierung eingesetzt, aus deren Ergebnis jeweils
an eine einzelne Speicheradressierungsleitung ein
Ansteuersignal angelegt wird, wenn an einem an die Verknüpfungsmatrix
angeschlossenen Adreßbus eine bestimmte,
dieser Adressierungsleitung zugeordnete Speicheradresse
erscheint.
Damit die bekannte Verknüpfungsmatrix möglichst universell
eingesetzt werden kann, sind jedem Signaleingang
zwei Zeilenleitungen zugeordnet, wobei durch geeignete
Schaltungsmaßnahmen dafür gesorgt ist, daß an der einen
Zeilenleitung der dem Binärwert am Signaleingang entsprechende
Binärwert auftritt, während an der anderen Zeilenleitung
der negierte Binärwert auftritt. Über die elektrisch
leitenden, zu Programmierungszwecken unterbrechbaren Verbindungen
zwischen dem Zeilenleiter und den Spaltenleitern
kann somit jedem Spaltenleiter ein Eingangssignal in nicht
negierter Form oder auch in negierter Form zugeführt werden.
Im programmierten Zustand, wenn also einige der ursprünglich
elektrisch leitenden Verbindungen zwischen den
Zeilenleitern und den Spaltenleitern entsprechend der gewünschten
Dekodierfunktion unterbrochen worden sind, verhalten
sich die Spaltenleiter wie UND-Schaltungen, was bedeutet,
daß an dem mit dem Spaltenleiter verbundenen Ausgang
nur dann ein Signal mit dem Binärwert "H" erscheint,
wenn an allen mit diesem Spaltenleiter verbundenen Zeilenleitern
dieser Binärwert "H" vorhanden ist. Sobald an
einem mit diesem Spaltenleiter verbundenen Zeilenleiter
der Binärwert "L" auftritt, nimmt auch das Signal an dem
mit diesem Spaltenleiter verbundenen Ausgang den Wert "L"
an.
Sowohl auf seiten des Herstellers als auch auf seiten des
Anwenders ist es erwünscht, eine programmierbare Verknüpfungsmatrix
vor der Durchführung einer Programmierung
daraufhin zu überprüfen, ob die elektrisch leitenden
Verbindungen zwischen den Zeilenleitern und den Spaltenleitern
alle einwandfrei, also nicht unterbrochen sind.
Nur wenn im nicht programmierten Zustand zwischen jedem
Signaleingang und jedem Signalausgang eine elektrisch
leitende Verbindung vorhanden ist, ist gewährleistet, daß
die Verknüpfungsmatrix in jeder beliebigen Weise zur Erzielung
gewünschter Decodierfunktionen programmiert werden kann.
Bei der bekannten Verknüpfungsmatrix ist es
nicht möglich, die elektrischen Verbindungen zwischen
den Zeilenleitern und den Spaltenleitern einzeln zu überprüfen,
da, sobald an die Signaleingänge binäre Signale
angelegt werden, an jeden Spaltenleiter von den zwei jeweils
einem Signaleingang zugeordneten Zeilenleitern sowohl
der Binärwert "H" als auch der Binärwert "L" angelegt
wird. Da die Schaltungen, die die Signaleingänge
mit den Zeilenleitern verbinden, so ausgebildet sind, daß
ihr Ausgangssignal unabhängig von ihrem Eingangssignal
stets den Binärwert "L" annimmt, wenn ein solcher Binärwert
von einer anderen Schaltung her zu ihrem Ausgang gelangt,
treten an allen Signalausgängen stets die Binärwerte
"L" auf, welche Binärwerte den Signaleingängen auch zugeführt
werden. Die selektive Überprüfung einer elektrischen
Verbindung zwischen einem ausgewählten Zeilenleiter und
einem ausgewählten Spaltenleiter ist somit nicht möglich.
Eine weitere Verknüpfungsmatrix der eingangs geschilderten
Art ist aus der DE-PS 32 20 302 bekannt. Diese Verknüpfungsmatrix
kann vor ihrer eigentlichen Programmierung auf Funktionsfähigkeit
überprüft werden, jedoch handelt es sich bei dieser
Verknüpfungsmatrix um eine Matrix in ECL-Technik, die sehr
spezielle Schaltungsmaßnahmen erfordert und für die Durchführung
der eigentlichen Funktionsprüfung ganz spezielle
Signalpegel benötigt, die genau eingehalten werden müssen.
Diese Signalpegel sind dabei Analogspannungen mit ganz
bestimmten Werten, beispielsweise -0,8 V, -1,6 V.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Verknüpfungsmatrix
zu schaffen, bei der die im nicht programmierten Zustand
bestehenden elektrischen Verbindungen zwischen den
Zeilenleitern und den Spaltenleitern vor der Programmierung
einzeln unter Verwendung von die Binärwerte "H" und "L"
repräsentierenden Signalen geprüft werden können.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß
in die Verbindung zwischen den Signaleingängen und jedem
der diesen zugeordneten Zeilenleitern ein steuerbares
Schaltglied eingefügt ist, das durch ein ihm zugeführtes
Steuersignal derart steuerbar ist, daß sein
Ausgangssignal sich mit dem am zugehörigen Signaleingang
anliegenden Signal ändert oder unabhängig von diesem
Signal stets einen vorbestimmten Signalwert beibehält.
In der erfindungsgemäßen Verknüpfungsmatrix wird mit
Hilfe der steuerbaren Schaltglieder die Möglichkeit
geschaffen, durch Anlegen vorgewählter Signalwerte
an die Signaleingänge an allen Zeilenleitern den gleichen
ausgewählten Signalwert zu erzeugen. Eines der
beiden jeweils einem Signaleingang zugeordneten Schaltglieder
befindet sich dabei in dem Zustand, in dem sein
Ausgangssignal sich abhängig von dem dem zugehörigen
Signaleingang zugeführten Signal ändert. Eine Änderung
des einem Signaleingang zugeführten Signalwerts kann
somit an den Signalausgängen festgestellt werden, die
über die Spaltenleiter und die elektrisch leitenden
Verbindungen mit dem Zeilenleiter verbunden sind, an
dem der sich ändernde Signalwert auftritt. Nacheinander
können dadurch alle elektrischen Verbindungen zwischen
den Zeilenleitern und den Spaltenleitern auf ihre
Funktionsfähigkeit überprüft werden. Auch die Signalwege
zwischen den Signaleingängen und den zugehörigen Signalausgängen
können sowohl bezüglich ihrer Funktionsfähigkeit
als auch bezüglich ihrer Schaltgeschwindigkeit
überprüft werden.
Die Erfindung wird nun anhand der Zeichnung beispielshalber
erläutert, deren einzige Figur ein schematisches
Schaltbild des für die Erfindung wesentlichen Teils einer
elektrisch programmierbaren Verknüpfungsmatrix zeigt.
Die in der Zeichnung dargestellte Verknüpfungsmatrix 10
weist Signaleingänge A₀ bis A x und Signalausgänge Q₀ bis
Q i auf. Jedem Signaleingang sind zwei Zeilenleiter a₀ und
a₀, a₁ und a₁′ . . . a x und a x ′ zugeordnet. Ihr Signalausgang
ist mit einem Spaltenleiter q₀, q₁ . . . q i verbunden.
Im nicht programmierten Zustand der Verknüpfungsmatrix 10
befindet sich zwischen jedem Spaltenleiter a₀, a₀′ . . . a x , a x ′
und jedem Spaltenleiter q₀ bis q i eine elektrisch leitende Verbindung,
die jeweils von einer Schmelzbrücke F und einer Diode D
gebildet ist. Unter Verwendung von in der Zeichnung nicht
dargestellten Schaltungen, die an die Spaltenleiter angeschlossen
sind, und durch Anlegen spezieller Programmierungssignale
können die Schmelzbrücken zum Programmieren
der Verknüpfungsmatrix 10 in ausgewählter Weise zerstört
werden, damit die Verbindung zwischen einem ausgewählten
Zeilenleiter und einem ausgewählten Spaltenleiter unterbrochen
wird. Wie der Programmiervorgang durchgeführt
wird, ist bekannt, so daß hier keine näheren Ausführungen
darüber gemacht werden. Die Dioden D dienen der Entkopplung
der "L"- und "H"-Signale an den Spaltenleitern q₀, q₁ . . . q i .
Jeder Signaleingang A₀ bis A x ist über einen Negator N₀
bis N x an einen Eingang eines von einer NAND-Schaltung
gebildeten Schaltglieds S₀, S₁ . . . S x angeschlossen. Ferner
ist jeder Signaleingang A₀ bis A x direkt an einen Eingang
eines weiteren, ebenfalls von einer NAND-Schaltung gebildeten
Schaltglieds S₀′, S₁′ . . . S x ′ angeschlossen. Die
zweiten Eingänge der Schaltglieder S₀, S₁ . . . S x sind direkt
an einen Steuereingang C₁ angeschlossen, und die zweiten
Eingänge der Schaltglieder S₀′, S₁′ . . . S x ′ sind gemeinsam
an einen Steuereingang C₂ angeschlossen.
Wenn in der beschriebenen Verknüpfungsmatrix 10 geprüft
werden soll, ob die Schmelzbrücken F, die jeweils einen
Zeilenleiter und einen Spaltenleiter miteinander verbinden
sollen, die gewünschte Verbindung auch tatsächlich
herstellen, wird wie folgt vorgegangen:
An den Steuereingang C₁ wird ein Signal mit dem Wert "H"
angelegt, und an den Steuereingang C₂ wird ein Signal mit
dem Wert "L" angelegt. Gleichzeitig werden an alle Signaleingänge
A₀ bis A x Signale mit dem Wert "H" angelegt.
Für die weitere Erläuterung seien zunächst die Signale an
den dem Signaleingang A₀ zugeordneten Baueinheiten N₀, S₀
und S₀′ sowie an den Zeilenleitern a₀ und a₀′ näher betrachtet.
Das Signal mit dem Wert "H" am Signaleingang A₀
hat zur Folge, daß infolge der Negierung durch den Negator
N₀ an dem in der Zeichnung oben liegenden ersten Eingang
des Schaltglieds S₀ der Signalwert "L" auftritt. Am
zweiten Eingang dieses Schaltglieds S₀ liegt das bereits
erwähnte Steuersignal vom Steuereingang C₁ mit dem Wert
"H". Da das Schaltglied S₀ wie erwähnt eine NAND-Schaltung
ist, erscheint an seinem mit dem Zeilenleiter a₀ verbundenen
Ausgang ein Signal mit dem Wert "H". An beiden
Eingängen des Schaltglieds S₀′ liegen Signale mit dem
Wert "L", so daß auch dieses Schaltglied an seinem Ausgang
ein Signal mit dem Wert "H" abgibt und an den Zeilenleiter
a₀′ anlegt. Durch Anlegen des Signals mit dem Wert
"L" an den zweiten Eingang des Schaltglieds S₀′ gibt dieses
Schaltglied an seinem Ausgang den Signalwert "H" ab,
unabhängig davon, welches Signal seinem ersten Eingang
vom Signaleingang A₀ zugeführt wird. Dies bedeutet, daß
am Zeilenleiter a₀′ stets der Signalwert "H" vorhanden ist,
unabhängig vom Signal am Signaleingang A₀. Am zweiten
Eingang des Schaltglieds S₀ liegt dagegen der Signalwert
"H", was zur Folge hat, daß an seinem Ausgang und damit
auch am Zeilenleiter a₀ der Signalwert "H" oder der Signalwert
"L" erzeugt werden kann, je nachdem, ob am Signaleingang
A₀ der Signalwert "H" oder "L" anliegt. Die
bisher geschilderten Verhältnisse liegen auch an den den
weiteren Signaleingängen A₁ bis A x zugeordneten Baueinheiten
und an den entsprechenden Zeilenleitern vor.
Wie aus dem Schaltbild hervorgeht, sind die Ausgänge aller
Schaltglieder S₀, S₀′ bis S x , S x ′ über die Schmelzbrücken
F₀₀, F₀₀ bis F x 0, F x 0 parallel an den Signalausgang Q₀
angeschlossen. An diesem Ausgang Q₀ erscheint der Signalwert
"H" solange an allen Zeilenleitern ebenfalls der Signalwert
"H" vorhanden ist. Sobald jedoch an einem Zeilenleiter
der Signalwert "L" auftritt, nimmt auch das Signal
am Signalausgang Q₀ den Wert "L" an. Vom Standpunkt der
logischen Funktion aus betrachtet sind die Ausgänge der
Schaltglieder S₀, S₀′ bis S x , S x ′ jeweils über eine UND-
Verknüpfung mit den Signalausgängen Q₀ bis Q i verbunden.
Zum Prüfen des Funktionszustandes der Schmelzbrücke F₀₀
wird das Signal am Signaleingang A₀ vom Signalwert "H"
auf den Signalwert "L" umgeschaltet. Wenn das Signal am
Signalausgang Q₀ diesem Wechsel von "H" auf "L" folgt, ist
die Schmelzbrücke F₀₀ in Ordnung, d. h., sie stellt eine
Verbindung zwischen dem Zeilenleiter a₀ und dem Spaltenleiter
q₀ her. Nacheinander kann nun festgestellt werden,
ob der gleiche Wechsel von "H" auf "L" auch an den Signalausgängen
Q₁ bis Q i auftritt, wodurch nacheinander die
Schmelzbrücken F₀₁ bis F 0i geprüft werden können. Zum
Prüfen der zwischen dem Zeilenleiter a₁ und den Spaltenleitern
q₀ bis q i vorhandenen Schmelzbrücken wird nur an
den Signaleingang A₁ ein Signal mit dem Wert "L" gelegt,
und es wird festgestellt, ob der damit verbundene Wechsel
von "H" auf "L" auch an den Ausgängen Q₀ bis Q i auftritt.
Auf diese Weise können nacheinander alle zwischen den
Zeilenleitern a₀ bis a x und den Spaltenleitern q₀ bis q i
vorhandenen Schmelzbrücken auf ihren einwandfreien Zustand
geprüft werden.
Zur Überprüfung der Schmelzbrücken zwischen den Zeilenleitern
a₀′ bis a x ′ und den Spaltenleitern q₀ bis q i wird
an den Steuereingang C₁ der Signalwert "L" und an den Signaleingang
C₂ der Signalwert "H" angelegt. Wie bei der
vorher beschriebenen Prüfung werden an alle Signaleingänge
A₀ bis A x wieder Signale mit dem Wert "H" angelegt.
Dies hat zur Folge, daß an allen Zeilenleitern Signale mit
dem Wert "H" anliegen. Allerdings sind in diesem Fall die
Schaltglieder S₀ bis S x durch das Steuersignal mit dem
Wert "L" an ihrem zweiten Eingang in einen Zustand versetzt,
in dem ihr Ausgangssignal unabhängig vom Wert des
ihrem ersten Eingang zugeführten Signals stets den Wert
"H" beibehält. Die Schaltglieder S₀′ bis S x ′ reagieren
dagegen bei einem Wechsel des Signalwerts an ihrem ersten
Eingang von "H" auf "L" mit einem entsprechenden Wechsel
ihres Ausgangssignals. Wie in der oben geschilderten Weise
können nun nacheinander die zwischen den Zeilenleitern
a₀′ bis a x ′ und den Spaltenleitern q₀ bis q i vorhandenen
Schmelzbrücken durch Umschalten der Signalwerte an den
Signaleingängen A₀ bis A x von "H" auf "L" durch Feststellen
einer entsprechenden Signalwertänderung an den Signalausgängen
Q₀ bis Q i geprüft werden.
Durch Einfügen der Schaltglieder S₀, S₀′ bis S x , S x ′ in
die Verbindungen zwischen den Signaleingängen A₀ bis A x
und den Zeilenleitern a₀, a₀′ bis a x , a x ′ können in der
geschilderten Weise alle zwischen den Zeilenleitern und
den Spaltenleitern q₀ bis q i im unprogrammierten Zustand
vorhandenen Schmelzbrücken auf ihren leitenden Zustand
überprüft werden. Diese Funktionsprüfung gibt dem Anwender
die Sicherheit, daß er vor der Programmierung eine einwandfreie
Verknüpfungsmatrix 10 zur Verfügung hat, so daß
durch die durch gezieltes Unterbrechen von Schmelzbrücken
durchgeführte Programmierung auch tatsächlich die gewünschte
Funktion der Verknüpfungsmatrix erzielt werden
kann. Bei der Anwendung der Verknüpfungsmatrix im programmierten
Zustand werden an die Steuereingänge C₁, C₂
Signale mit dem Wert "H" angelegt, durch die die Schaltglieder
S₀, S₀′ bis S x , S x ′ in den Zustand versetzt
werden, in dem sie ihr Ausgangssignal in Abhängigkeit
von dem ihrem ersten Eingang zugeführten Signal ändern.
Claims (2)
1. Elektrisch programmierbare Verknüpfungsmatrix für
binäre Signale mit Signaleingängen und Signalausgängen,
zwei Zeilenleitungen für jeden Signaleingang, wobei das
dem Signaleingang zugeführte Signal an der einen Zeilenleitung
in nicht negierter Form und an der anderen Zeilenleitung
in negierter Form erzeugbar ist, einer Spaltenleitung
für jeden Signalausgang und einer im nicht
programmierten Zustand elektrisch leitenden, zum Zweck
der Programmierung unterbrechbaren Verbindung zwischen
jeder Zeilenleitung und jeder Spaltenleitung, dadurch
gekennzeichnet, daß in die Verbindung zwischen den Signaleingängen
(A₀ bis A x ) und jedem der diesen zugeordneten
Zeilenleitern (a₀, a₀ bis a x , a x ′) ein steuerbares
Schaltglied (S₀, S₀′ bis S x , S x ′) eingefügt ist,
das durch ein ihm zugeführtes Steuersignal derart
steuerbar ist, daß sein Ausgangssignal sich mit dem am
zugehörigen Signaleingang (A₀ bis A x ) anliegenden Signal
ändert oder unabhängig von diesem Signal stets
einen vorbestimmten Signalwert beibehält.
2. Verknüpfungsmatrix nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltglieder (S₀, S₀′ bis S x , S x ′)
NAND-Schaltungen sind, die zwei Eingänge aufweisen, von
denen jeweils einer mit dem zugehörigen Signaleingang in
Verbindung steht und der andere an jeweils einen von zwei
Steuereingängen (C₁, C₂) angeschlossen ist.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853520003 DE3520003A1 (de) | 1985-06-04 | 1985-06-04 | Elektrisch programmierbare verknuepfungsmatrix |
US06/846,329 US4740919A (en) | 1985-06-04 | 1986-03-31 | Electrically programmable logic array |
EP86105726A EP0207249A3 (de) | 1985-06-04 | 1986-04-25 | Elektrisch programmierbare logische Anordnung |
JP61129051A JPS61288518A (ja) | 1985-06-04 | 1986-06-03 | 電気的にプログラム可能な論理アレ− |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3520003A1 DE3520003A1 (de) | 1986-12-04 |
DE3520003C2 true DE3520003C2 (de) | 1987-11-12 |
Family
ID=6272411
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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DE (1) | DE3520003A1 (de) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3718916A1 (de) * | 1987-06-05 | 1988-12-15 | Siemens Ag | Verbindungsnetzwerk zur einstellbaren verbindung von schaltungsanordnungen, insbesondere programmierbaren schaltungsanordnungen |
DE3718915A1 (de) * | 1987-06-05 | 1988-12-15 | Siemens Ag | Programmierbare schaltungsanordnung |
US4897836A (en) * | 1987-10-20 | 1990-01-30 | Gazelle Microcircuits, Inc. | Programmable connection path circuit |
JPH01109921A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-26 | Ricoh Co Ltd | プログラマブルロジックアレイ |
JPH01191227A (ja) * | 1988-01-26 | 1989-08-01 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 故障診断機能付cmos型pla回路 |
US5452231A (en) * | 1988-10-05 | 1995-09-19 | Quickturn Design Systems, Inc. | Hierarchically connected reconfigurable logic assembly |
US5109353A (en) | 1988-12-02 | 1992-04-28 | Quickturn Systems, Incorporated | Apparatus for emulation of electronic hardware system |
US5329470A (en) * | 1988-12-02 | 1994-07-12 | Quickturn Systems, Inc. | Reconfigurable hardware emulation system |
US5369593A (en) * | 1989-05-31 | 1994-11-29 | Synopsys Inc. | System for and method of connecting a hardware modeling element to a hardware modeling system |
US5353243A (en) * | 1989-05-31 | 1994-10-04 | Synopsys Inc. | Hardware modeling system and method of use |
US5023485A (en) * | 1989-12-04 | 1991-06-11 | Texas Instruments Incorporated | Method and circuitry for testing a programmable logic device |
US5680583A (en) * | 1994-02-16 | 1997-10-21 | Arkos Design, Inc. | Method and apparatus for a trace buffer in an emulation system |
US5777489A (en) * | 1995-10-13 | 1998-07-07 | Mentor Graphics Corporation | Field programmable gate array with integrated debugging facilities |
US5841967A (en) * | 1996-10-17 | 1998-11-24 | Quickturn Design Systems, Inc. | Method and apparatus for design verification using emulation and simulation |
US6026230A (en) * | 1997-05-02 | 2000-02-15 | Axis Systems, Inc. | Memory simulation system and method |
US6009256A (en) * | 1997-05-02 | 1999-12-28 | Axis Systems, Inc. | Simulation/emulation system and method |
US6389379B1 (en) | 1997-05-02 | 2002-05-14 | Axis Systems, Inc. | Converification system and method |
US6134516A (en) * | 1997-05-02 | 2000-10-17 | Axis Systems, Inc. | Simulation server system and method |
US6421251B1 (en) | 1997-05-02 | 2002-07-16 | Axis Systems Inc | Array board interconnect system and method |
US6321366B1 (en) | 1997-05-02 | 2001-11-20 | Axis Systems, Inc. | Timing-insensitive glitch-free logic system and method |
US5960191A (en) * | 1997-05-30 | 1999-09-28 | Quickturn Design Systems, Inc. | Emulation system with time-multiplexed interconnect |
US5970240A (en) * | 1997-06-25 | 1999-10-19 | Quickturn Design Systems, Inc. | Method and apparatus for configurable memory emulation |
US6407576B1 (en) * | 1999-03-04 | 2002-06-18 | Altera Corporation | Interconnection and input/output resources for programmable logic integrated circuit devices |
US20130085302A1 (en) | 2011-10-03 | 2013-04-04 | Celanese International Corporation | Processes for Producing Acrylic Acids and Acrylates |
EP2791099B1 (de) | 2011-12-16 | 2017-02-01 | Celanese International Corporation | Herstellung von essigsäure mit höherer katalysatorstabilität |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3721964A (en) * | 1970-02-18 | 1973-03-20 | Hewlett Packard Co | Integrated circuit read only memory bit organized in coincident select structure |
US3790959A (en) * | 1972-06-26 | 1974-02-05 | Burroughs Corp | Capacitive read only memory |
US4237547A (en) * | 1979-09-17 | 1980-12-02 | Motorola, Inc. | Program decoder for shared contact eprom |
-
1985
- 1985-06-04 DE DE19853520003 patent/DE3520003A1/de active Granted
-
1986
- 1986-03-31 US US06/846,329 patent/US4740919A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-04-25 EP EP86105726A patent/EP0207249A3/de not_active Withdrawn
- 1986-06-03 JP JP61129051A patent/JPS61288518A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0207249A3 (de) | 1989-12-13 |
JPS61288518A (ja) | 1986-12-18 |
DE3520003A1 (de) | 1986-12-04 |
EP0207249A2 (de) | 1987-01-07 |
US4740919A (en) | 1988-04-26 |
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---|---|---|
DE3520003C2 (de) | ||
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