[go: up one dir, main page]

DE3429135C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3429135C2
DE3429135C2 DE19843429135 DE3429135A DE3429135C2 DE 3429135 C2 DE3429135 C2 DE 3429135C2 DE 19843429135 DE19843429135 DE 19843429135 DE 3429135 A DE3429135 A DE 3429135A DE 3429135 C2 DE3429135 C2 DE 3429135C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
rolling
ionization chambers
measuring frame
chambers
rolling direction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19843429135
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE3429135A1 (de
Inventor
Des Erfinders Auf Nennung Verzicht
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Flormann Paul Ing(grad)
Mengelkamp Bernhard Ing(grad) 5628 Heiligenhaus De
Original Assignee
Flormann Paul Ing(grad)
Mengelkamp Bernhard Ing(grad) 5628 Heiligenhaus De
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Flormann Paul Ing(grad), Mengelkamp Bernhard Ing(grad) 5628 Heiligenhaus De filed Critical Flormann Paul Ing(grad)
Priority to DE19843429135 priority Critical patent/DE3429135A1/de
Priority to JP17336385A priority patent/JPS6183906A/ja
Publication of DE3429135A1 publication Critical patent/DE3429135A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3429135C2 publication Critical patent/DE3429135C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
DE19843429135 1984-08-08 1984-08-08 Vorrichtung zur dickenmessung von flachprofilen Granted DE3429135A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843429135 DE3429135A1 (de) 1984-08-08 1984-08-08 Vorrichtung zur dickenmessung von flachprofilen
JP17336385A JPS6183906A (ja) 1984-08-08 1985-08-08 平形材の厚さ測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843429135 DE3429135A1 (de) 1984-08-08 1984-08-08 Vorrichtung zur dickenmessung von flachprofilen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3429135A1 DE3429135A1 (de) 1986-02-13
DE3429135C2 true DE3429135C2 (fr) 1989-06-08

Family

ID=6242569

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19843429135 Granted DE3429135A1 (de) 1984-08-08 1984-08-08 Vorrichtung zur dickenmessung von flachprofilen

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPS6183906A (fr)
DE (1) DE3429135A1 (fr)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4243454C1 (de) * 1992-12-22 1994-03-10 Grecon Greten Gmbh & Co Kg Vorrichtung und Verfahren zur Erstellung eines Rohdichteprofils über die Dicke einer Platte
DE19947572C2 (de) * 1999-05-28 2003-02-27 Ims Messsysteme Gmbh Verfahren zur Bestimmung der Planheit eines Materialbandes

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10160398B4 (de) 2001-12-10 2004-11-11 Dieffenbacher Gmbh + Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung einer Matte aus Biomassepartikeln
DE102013017288B4 (de) 2013-10-17 2019-05-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zum Justieren eines Paars mittels elektromagnetischer Strahlung messender Messköpfe
DE102013017289B4 (de) 2013-10-17 2016-09-01 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Durchführen einer Dickenmessung an bandförmigen Materialien und an Stückgütern

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3179800A (en) * 1960-10-28 1965-04-20 United States Steel Corp Apparatus for measuring thickness variation across the width of a moving strip
DE3140714A1 (de) * 1981-10-14 1983-04-28 Paul Ing.(Grad.) Flormann Vorrichtung zur dickenmessung von flachprofilen
JPS5890112A (ja) 1981-11-26 1983-05-28 Toshiba Corp 放射線厚さ計

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4243454C1 (de) * 1992-12-22 1994-03-10 Grecon Greten Gmbh & Co Kg Vorrichtung und Verfahren zur Erstellung eines Rohdichteprofils über die Dicke einer Platte
DE19947572C2 (de) * 1999-05-28 2003-02-27 Ims Messsysteme Gmbh Verfahren zur Bestimmung der Planheit eines Materialbandes

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6183906A (ja) 1986-04-28
DE3429135A1 (de) 1986-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2521037C3 (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung und/oder Überwachung der Gleichförmigkeit der Oberfläche eines Werkstückes
EP2089670B1 (fr) Procédé et dispositif de mesure d'épaisseur
EP1241470B1 (fr) Dispositif de mesure du transfert d'impulsion lors de la diffusion élastique de quantas de rayons x dans la région d' un conteneur à inspecter
DE19912500A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften einer laufenden Materialbahn
DE102008039025B4 (de) Verfahren zum berührungslosen Messen der Geschwindigkeit und/oder der Länge eines in Längsrichtung bewegten Strangs, insbesondere eines Kabels
DE69017495T2 (de) Röntgenstrahlfilter und Gerät zur Regelung des Gewichts einer Beschichtung.
EP2112505A1 (fr) Diffractomètre à rayons X destiné au procédé de corrélation mécanique de la source, du détecteur et de la position d'échantillon
DE3429135C2 (fr)
DE102017108786A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Planheit von Bandmaterial und Bearbeitungsanlage mit einer solchen Vorrichtung
DE69408023T2 (de) Verfahren und Anordnung zum Eichen der Dickenmessanordnung des Querprofils eines flächigen Gutes
DE10048398A1 (de) Kontinuierlich abtastender Röntgenanalysator mit verbesserter Verfügbarkeit und Genauigkeit
DE3832984C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Fadenbruchanzeige in Fadenscharen
DE19913929A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen von Eigenschaften einer Materialbahn
DE3140714A1 (de) Vorrichtung zur dickenmessung von flachprofilen
EP0677739B1 (fr) Dispositif de saisie de données mesurées
DE69629482T2 (de) Verfahren und Apparat zur Volumenmessung eines Gegenstandes mittels eines Laserabtasters
DE69417376T2 (de) Hochauflösendes und Hochgeschwindigkeits-Filmdickemessverfahren und Vorrichtung dazu
DE19545340C2 (de) Vorrichtung zur Kontrolle von Flächenmassen
EP0720124A1 (fr) Dispositif pour compter et déterminer des produits suspendus à des cintres pourvus de crochets
EP0650534B1 (fr) Dispositif de recouvrement
DE69104164T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Querprofils der Dicke eines metallischen Bandes, vorzugsweise aus Stahl.
DE4025682C2 (fr)
DE8423496U1 (de) Vorrichtung zur Dickenmessung von Flachprofilen
DE3327267C2 (fr)
DE3045317C2 (fr)

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition