[go: up one dir, main page]

DE3408318C2 - Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms

Info

Publication number
DE3408318C2
DE3408318C2 DE3408318A DE3408318A DE3408318C2 DE 3408318 C2 DE3408318 C2 DE 3408318C2 DE 3408318 A DE3408318 A DE 3408318A DE 3408318 A DE3408318 A DE 3408318A DE 3408318 C2 DE3408318 C2 DE 3408318C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
difference
secondary windings
continuously
alternating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3408318A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3408318A1 (de
Inventor
Seigo Yokohama Kanagawa Ando
Yoshihiro Kawasaki Kanagawa Kawase
Takeo Yokohama Kanagawa Yamada
Tomohisa Kawasaki Kanagawa Yamamoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
Nippon Kokan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kokan Ltd filed Critical Nippon Kokan Ltd
Publication of DE3408318A1 publication Critical patent/DE3408318A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3408318C2 publication Critical patent/DE3408318C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/023Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/102Height gauges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

Der Abstand zwischen einer Sondenspitze und einem heißen Meßobjekt wird kontinuierlich und genau gemessen, indem die eine Primärwicklung und zwei Sekundärwicklungen aufweisende Sonde im wesentlichen senkrecht zum Meßobjekt angeordnet wird, wobei in den beiden Sekundärwicklungen je eine Wechselspannung (e1, e2) mittels eines Wechselspannung-Magnetfelds der durch eine Ausgangsspannung (eout) eines Mitkopplungs-Verstärkers erregten Primärwicklung erzeugt wird, im Meßobjekt mittels dieses Magnetfelds ein Wirbelstrom und damit ein anderes Wechselspannung-Magnetfeld in einer Richtung entgegengesetzt zu der des ersten Magnetfelds erzeugt wird, den beiden Sekundärwicklungen jeweils eine gleich große Gleichspannung aufgeprägt wird, um von ihnen je eine Gleichspannung (E1 bzw. E2) zu erfassen bzw. abzugreifen, eine Fehlerspannung (e4) entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen auf der Grundlage der Ausgangsspannung (eout) und einer Größe der Differenz (E3) zwischen den Gleichspannungen (E1 und E2) berechnet wird und eine Größe der Differenz (e3'') zwischen der Fehlerspannung (e4) und einer Größe der Differenz (e3) zwischen den Wechselspannungen (e1, e2) zum Mitkopplungs-Verstärker rückgekoppelt wird, um damit die Ausgangsspannung (eout) des Mitkopplungs-Verstärkers, in welcher der Einfluß der Temperaturdifferenz zwischen den Sekundärwicklungen beseitigt worden ist, zu bestimmen.

Description

35
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur kontinuierlichen, genauen Messung des Abstands bzw. der Entfernung zwischen einem heißen leitenden Meßobjekt und der Spitze einer eine Primärwicklung se#ie zwei auf deren beiden Seiten angeordneten Sekundärwicklungen aufweisenden Sonde auch dann, wenn durch die Wärme des heißen Meßobjekts ein Temperaturunterschied zwischen den beiden Sekundärwicklungen der Sonde hervorgerufen wird, d. h. ohne Beeinflussung durch einen solchen Temperaturunterschied.
Für die Herstellung eines von Oberflächenfehlern freien Gußstrangs mittels z. B. einer Vertikal-Stranggießmaschine ist es wesentlich, Schwankungen des Füllstands von Stahlschmekfi in einer Stranggießkokille möglichst klein zu halten. Aus diesem Grund muß die Höhe der 3tahlschmetzenoberfläche in der Stranggieß-Kokille ständig genau gemessen werden. Diese Höhe, d. h. der Füllstand, kann dadurch bestimmt werden, daß der Abstand zwischen der Spitze einer praktisch senkrecht zur Stahlschmelze in einem Abstand von dieser angeordneten Sonde und der Stahlschmelzersoberfläche gemessen wird.
Ein Beispiel für ein derartiges Verfahren ist in der JP-OS 57-192 805 beschrieben; dieses Verfahren ist nachstehend anhand von F i g. 1 erläutert.
Gemäß F i g. 1 legt eine Wechselstromquelle 1 an einen Mitkopplungs-Verstärker 2 eine Wechselspannung vorgeschriebener oder vorbestimmter Frequenz und Amplitude an. Der Mitkopplungs-Verstärker 2 weist eine Rückkopplungsstrecke aus einer Sonde 3 und einem Wechselspannungs-Verivärker 9 auf. Die Sonde 3 umfaßt eine Süule 4. eine koaxial zu letzterer in deren Mittelbereich angeordnete Primärwicklung 5 sowie zwei Sekundärwicklungen 6 und 6', die in jeweils gleichen Abständen von der Primärwicklung 5 koaxial an den Endabschnitten der Spule 4 angeordnet sind. Die Sonde 3 ist im wesentlichen senkrecht und mit einem Abstand zur Oberfläche der in einer Kokille 7 befindlichen Stahlschmelze 8 angeordnet. Die Primärwicklung 5 wird mittels der Ausgangsspannung eJm des Mitkopplungs-Verstärkers 2 erregt, wobei in den beiden Sekundärwicklungen 6 und 6' eine Wechselspannung ei bzw. eine Wechselspannung e2 induziert werden. Die beiden Sekundärwicklungen 6, 6' sind mit gleicher Windungszahl differentiell miteinander verbunden. Der Wechselspannungs-Verstärker 9 verstärkt die Größe einer Differenz e3 zwischen den in den Sekundärwicklungen 6,6' induzierten Wechselspannungen ei bzw. e2 und koppelt die so verstärkte Differenzgröße ei zum Verstärker 2 zurück.
Bei dieser bisherigen Vorrichtung wird somit eine Wechselspannung vorbestimmter Frequenz und Amplitude von der Wechselstromquelle 1 ν>τη Mitkopplungs-Verstärker 2 eingespeist, dessen Ausgangsspannung eJm der Primärwicklung 5 der Sonde 3 aufgeprägt wird.
Hierdurch erzeugt die Primärwicklung 5 ein Weehselspannungs-Magnetfeld, dessen Kraftlinien die beiden Sekunoärwicklungen 6, 6' schneiden und in diesen jeweils eine Wechselspannung ei bzw. ^ induzieren. Gleichzeitig passieren die Magnetkraftlinien die Stahlschmelze 8 unter Erzeugung eines Wirbelstroms in dieser. Hierdurch wird ein anderes Wechselspannungs-Magnetfeld in einer Richtung entgegengesetzt zum Magnetfeld der Primärwicklung 5 erzeugt. Infolgedessen wird ein Teil der die beiden Sekundärwicklungen 6, 6' schneidenden Magnetkraftlinien versetzt bzw. unterdrückt; damit wird die Zahl der Magnetkraftlinien verringert. Das Ausmaß dieser Kraftlinienverringerung ist an der unteren Sekundärwicklung 6' größer als an der oberen Sekundärwicklung 6, weil die Zahl der durch das andere Wechselspannung-Magnetfeld des Wirbelstroms erzeugten Magnetkraftlinien, welche die beiden Sel· undärwicklungen 6,6' schneiden, an der unteren Sekundärwicklung 6' größer ist als an der oberen Sekundärwicklung 6. Dies ergibt eine Differenz ?i zwischen den in den beiden Sekundärwicklungen 6,6' induzierten Wechseispannungen ei bzw. e;. Da die beiden Sekundärwicklungen 6,6' differentiel! geschaltet sind, wird die Differenzgröße ei zwischen den Sekundärwicklungen 6, 6' ständig dem Wechselspannungs-Verstärker 9 aufgeprägt und durch diesen verstärkt. Die so verstärkte Differenzgröße ei, wird ständig zum Mitkopplungs-Verstärker 2 rückgekoppelt.
Die verstärkte Differenzgröße ei variiert in Abhängigkeit vom Abstand /zwischen der Spitze der Sonde 3 und der Oberfläche der Stahlschmelze 8, und die Ausgangsspannung e«.-*des Verstärkers 2 variiert in Abhängigkeit von der verstärkten Differenzgrcße ei. Auf diese Weise kann der genannte Abstand 1 durch kontinuierliche Erfassung der Ausgangsspannung edm des Verstärkers 2 kontinuierli.h gemessen werden.
Die bisherige Anordnung ist mit folgenden Mängeln behaftet:
Wenn zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6,6' keine Temperaturdifferenz besteht, sind die durch thermische Ausdehnung bedingten Inkremente der jeweiligen Querschnittsflächen der beiden Sekundärwicklungen 6, 6' einander gleich. Die zum Mitkopplungs-Verstärker 2 rückgekoppelte verstärkte Differenzgröße e3, zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6 und 6' zeigt
daher keine Änderung. Bei der Messung der Oberflächenhöhe der Stahlschmelze 8 erwärmt sich jedoch die der Schmelzenoberfläche näher gelegene untere Sekundärwicklung 6' stärker als die obere Sekundärwicklung 6, so daß ihre Querschnittsfläche größer wird als die der oberen Sekundärwicklung 6. Die zum Mitkopplungs-Verstärker 2 rückgekoppelte verstärkte Differenzgröße e-j, variiert daher in Abhängigkeit von der Differenz der Querschnittsflächen der beiden Sekundärwicklungen 6, 6', was zu einem Meßfehler im gemessenen Abstand / führt.
Im Hinblick auf diese Gegebenheiten besteht ein Bedarf nach einem Verfahren und einer Vorrichtung, welche die genaue und kontinuierliche Messung des Abstands zwischen einem heißen, leitenden Meßobjekt und der Spitze einer Sonde mit einer Primärwicklung und zwei auf deren beiden Seiten angeordneten Sekundär-
Wärme des Meßobjekts eine Temperaturunterschied zwischen den beiden Sekundärwicklungen besteht. Ein solches Verfahren und eine solche Vorrichtung sind jedoch bisher noch nicht vorgeschlagen worden.
Aufgabe der Erfindung ist damit die Schaffung eines Verfahrens und einer Vorrichtung, welche die genaue und kontinuierliche Messung des Abstands zwischen einem heißen, leitenden Meßobjekt und der Spitze einer Sonde min einer Primärwicklung und zwei auf deren beiden Seiten angeordneten Sekundärwicklungen auch dann erlauben, wenn aufgrund der Wärme des Meßobjekts ein Temperaturunterschied zwischen den beiden Sekundärwicklungen besteht.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms, bei dem eine Sonde aus einer Spule, einer koaxial auf dieser in ihrem Mittelbereich angeordneten Primärwicklung und zwei in gleichen Abständen von letzterer koaxial auf den beiden Endabschnitten der Spule angeordneten Sekundärwicklungen praktisch senkrecht bzw. lotrecht zu einem hohe Temperatur besitzenden, leitenden Meßobjekt in einem Abstand davon angeordnet wird, die Primärwicklung mit der Ausgangsspannung eines Mitkopplungs-Verstärkers erregt wird, in den beiden Sekundärwicklungen je eine Wechselspannung mittels eines Wechselspannung-Magnetfelds der erregten Primärwicklung induziert wird, im Meßobjekt mittels des Wechselspannung-Magnetfelds der Primärwicklung ein Wirbelstrom erzeugt wird, durch den Wirbelstrom ein anderes Wechselspannung-Magnetfeld in einer Richtung entgegengesetzt zu der des Wechselspannungs-Magnetfeid der Primärwicklung erzeugt wird, kcntinuierlich eine Größe der Differenz, hervorgerufen durch das durch den Wirbelstrom erzeugte Wechselspannung-Magnetfeld, zwischen den Wechselspannungen der beiden Sekundärwicklungen erfaßt oder abgegriffen wird, die erfaßte Größe der Differenz, die in Abhängigkeit von der Änderung des Abstands zwischen der Sonden-Spitze und dem Meßobjekt varriert, kontinuierlich zum Mitkopplungs-Verstärker rückgekoppelt wird und die Ausgangsspannung des Mitkopplungs-Verstärkers kontinuierlich erfaßt oder abgegriffen wird, um damit kontinuierlich den der Ausgangsspannung des Mitkopplungs-Verstärkers entsprechenden Abstand zwischen der Sonden-Spitze und dem Meßobjekt zu messen, erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß über je einen Gleichstromoder Gleichspannungs-Widerstand jeder der beiden Se- tb kundärwicklungen je eine gleich große Gleichspannung aufgeprägt wird,
je eine Gleichspannung der beiden Sekundärwicklungen kontinuierlich erfaßt oder abgegriffen wird,
kontinuierlich eine Größe der Differenz ,zwischen den so erfaßten Gleichspannungen berechnet wird,
kontinuierlich eine Fehlerspannung entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen auf der Grundlage der Größe der Differenz zwischen den Gleichspannungen sowie der Ausgangsspannung des Mitkopplungs-Verstärkers berechnet wird,
kontinuierlich eine Größe der Differenz zwischen der berechneten Fehlerspannung entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen einerseits und der Größe der Differenz zwischen den Wechselspannungen der beiden Sekundärwicklungen andererseits berechnet wird und
die berechnete Größe der Differenz zum Mitkopplungs-Verstärker rückgekoppelt wird, um dessen Ausgangs-E^snfiun", in weicher der Einfluß der Ternnersturdiff?- renz zwischen den beiden Sekundärwicklungen beseitigt worden ist. kontinuierlich zu bestimmen und damit kontinuierlich und genau den Abstand zwischen der Sonden-Spitze und dem Meßobjekt unter Heranziehung der so bestimmten Ausgangsspannung des Mitkopplungs-Verstärkers zu messen.
Im folgenden ist eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung im Vergleich zum Stand der Technik anhand d -.r Zeichnung im einzelnen erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild zur Veranschaulichung eines bisherigen Verfahrens,
Fig.2 ein Blockschaltbild ?iner Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgernäßen Verfahrens und
F i g. 3 Wellenformdiagramme für die verschiedenen Teile oder Einheiten nach F i g. 2.
F i g. 1 ist eingangs bereits erläutert worden.
Als Ergebnis ausgedehnter Untersuchungen der Gegebenheiten beim Stand der Technik wurde folgendes gefunden: Die Querschnittsflächendifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen variiert in Abhängigkeit von ihrem Temperaturunterschied, und die Differenz im Gleichspannungswiderstand zwischen den beiden Sekundärwicklungen variiert in Abhängigkeit vom genannten Temperaturunterschied. Die erwähnte Querschnittsflächendifferenz variiert somit in Abhängigkeit von der Differenz der Gleichspannung zwischen den beiden Sekundärwicklungen. Die kontinuierliche, genaue Abstandsmessung zwischen Sonden-Spitze und heißem, leitendem Meßobjekt ist daher auch bei einem Temperaturunterschied zwischen den Sekundärwicklungen der Sonde aufgrund der Wärme des Meßobjekts und ohne Beeinflussung durch diesen Temperatu. unterschied dann möglich, wenn die erwähnte Gleichspannungsdifferenz berechnet, kontinuierlich eine Fehlerspannung entsprechend dieser Gleichspannungsdifferenz berechnet, kontinuierlich eine Differenzgröße zwischen dieser Fehlerspannung und der Differenz in der induzierten Spannung zwischen den beiden Sekundärwicklungen berechnet und die so berechnete Differenzgröße zum Mitkopplungs-Verstärker rückgekoppelt wird.
Die Erfindung beruht nun auf dieser Feststellung. Das Verfahren und die Vorrichtung zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms gemäß der Erfindung sind nachstehend näher erläutert.
Gemäß F i g. 2 prägt eine Wechselstromquelle 1 eine Wechselspannung e„ vorbestimmter Frequenz und Amplitude (vgl. A in F i g. 3) einem Mitkopplungs-Verstärker 2 auf, der eine Rückkopplungsstrecke aus einer mit einer Gleichstromquelle 11 und einem Gleichspan-
nungs-Widerstand 10,10' in Reihe geschalteten Sonde 3, einem Differentialverstärker 12. einem Tiefpaßfilter 13, einem Gleichspannungsverstärker 14, einem Wechselspannungs-Verstärker 9, einer Multiplizierstufe 15 und einer Subtrahierstufe 16 umfaßt.
Die Sonde 3 umfaßt eine Spule 4, eine koaxial zu diesfi in ihrem Mittelbereich angeordnete Primärwicklung und zwei Sekundärwicklungen 6,6' jeweils gleicher Windungszahl, die mit gleichen Abständen von der Primärwicklung 5 auf deren beiden Seiten koixial zur Spu-Ie 4 angeordnet sind. Die Sonde 3 ist im wesentlichen lotrecht in einem Abstand von der Oberfläche einer Stahlschmelze 8 in einer Kokille 7 angeordnet. Die Primärwicklung 5 wird mit der Ausgangsspannung eaU5(vgl. B in F i g. 3) des Mitkopplungs-Verstärkers 2 erregt, wobei in den Sekundärwicklungen 6 umJ 6' je eine Wechselspannung ei bzw. ei induziert wird.
Der Widerstand 10 is< in Her Reihe an die obere Sekundärwicklung 6 der beiden differentiell miteinander verbundenen Sekundärwicklungen 6, 6' angeschlossen, um eine Gleichspannung £1 zwischen den beiden Enden der oberen Sekundärwicklung 6 zu erfassen bzw. abzugreifen; der Widerstand 10' des gleichen Werts wie der Widerstand 10 ist in Reihe an die untere Sekundärwicklung 6' angeschlossen, um zwischen deren beiden Enden eine Gleichspannung £2 zu erfassen bzw. abzugreifen. Die Gleichstromquelle 11 prägt über die Widerstände 10 und 10' den beiden Sekundärwicklungen 6 und 6' gleich große Gleichspannungen auf.
D ?r Differentialverstärker 12 berechnet kontinuierlieh eine Größe der Differenz d + £3 (vgl. £in F i g. 3) zwischen einer zusammengesetzten Spannung e + £ 1 (vgl. Cin Fig.3) aus der Wechselspannung ei und der Gleichspannung £ 1 der oberen Sekundärwicklung 6 einerseits und einer zusammengesetzten Spannung ei + £2 (vgl. D in F i g. 3) aus der Wechselspannung ej und der Gleichspannung £2 der unteren Sekundärwicklung 6' andererseits. Das Tiefpaßfilter 13 läßt von der durch den Differentialverstärker 12 berechneten Differenzgröße e3 + £3 zwischen den zusammengesetzten Spannungen ei + £1 und ei + £2 nur eine Differenzgröße £3 zwischen den Gleichspannungen £1 und £2 durch.
Der Gleichspannungs-Verstärker 14 verstärkt die durch das Tiefpaßfilter 13 durchgelassene Differenzgröße £3 zwischen den Gleichspannungen £1 und £2 auf eine vorgeschriebene oder vorbestimmte Größe £3 (vgl. F in Fig.3). Die Multiplizierstufe 15 berechnet kontinuierlich eine Produktgröße aus der Differenzgröße £3', durch den Verstärker 14 verstärkt, und der Ausgangsspannung elu, des Mitkopplungs-Verstärkers 2, d. h. eine Fehlerspannung e4 (vgl. G in F i g. 3) entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6 und 6'.
Der Wechselspannungs-Verstärker 9 verstärkt nur die Differenzgröße &i zwischen den Wechselspannungen ei und ei der beiden Sekundärwicklungen 6, 6' aus der durch den Differentialverstärker 12 berechneten Differenz e% + £3 auf die vorbestimmte Größe £3' (vgl. //in F i g. 3). Die Subtrahierstufe 16 berechnet fortlaufend eine Differentialgröße ej- (vgl. / in F i g. 3) zwischen der durch die Multiplizierstufe 15 berechneten Fehlerspannung e* entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6,6' einerseits und der durch den Verstärker 9 verstärkten Differenz ey zwischen den Wechselspannungen ei und d andererseits.
Die Fehlerspannung 64 wird wie folgt mit der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6, 6' korrelliert: Es wird nur die untere Sekundärwicklung 6' auf eine vorbestimmte Temperatur erwärmt, so daß zwischen beiden Sekundärwicklungen 6, 6' eine Temperaturdifferenz besteht; die Ausgangsspannung ea„, des Mitkopplungs-Verstärkers 2 wird dabei erfaßt oder abgegriffen. Da die Temperaturdifferenz zwischen den Sekundärwicklungen 6, 6' nahezu linear auf die Ausgangsspannung eauj bezogen ist, wird der Verstärkungsgrad des Gleichspannungs-Verstärkers 14 so eingestellt, daß die Ausgangsspannung e3m der Ausgangsspannung eJUS beim Fehlen der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6 und 6' gleich wird.
Bei der beschriebenen Wirbelstrom-Meßvorrichtung speist die Wechselstromquelle 1 den Verstärker 2 mit einer Wechselspannung eo vorbestimmter Frequenz und Amplitude. Die Ausgangsspannung eJUS des Verstärkers 2 wird der Primärwicklung 5 aufgeprägt, so daß diese ein Magnetfeld erzeugt, dessen Kraftlinien die beiden Sekundärwicklungen 6,6' schneiden und damit in letzteren Wechselspannungen ei bzw. ei induzieren. Gleichzeitig passieren diese Kraftlinien von der Primärwicklung 5 die Stahlschmelze 8 unter Erzeugung eines Wirbelstroms in ihr, so daß ein weiteres Wechselspannung-Magnetfeld in einer Richtung entgegengesetzt zu der des Wechselspannung-Magnetfelds der Primärwicklung 5 entsteht. Als Ergebnis wird ein Teil der die beiden Sekundärwicklungen 6, 6' schneidenden magnetischen Kraftlinien versetzt, so daß die Zahl dieser Kraftlinien abnimmt. Das Ausmaß der Verringerung der magnetischen Kraftlinien ist, wie eingangs beschrieben, für die untere Sekundärwicklung 6' größer als für die obere Sekundärwicklung 6. Hierdurch entsteht eine Differenz zwischen den in den Sekundärwicklungen 6 und 6' induzierten Wechselspannungen ei bzw. ei.
In der oberen Sekundärwicklung 6 wird eine zusammengesetzte Spannung ei + £ 1 aus der Wechselspannung ei und der Gleichspannung £1 entsprechend der Größe des Gleichspannungs-Widerstands 10 der oberen Sekundärwicklung 6 erzeugt. In der unteren Sekundärwicklung 6' wird eine zusammengesetzte Spannung ei + £2 aus der Wechsel- und der Gleichspannung e2 bzw. £2 entsprechend der Größe des Widerstands 10' der unteren Sekundärwicklung 6' erzeugt. Diese zusammengesetzten Spannungen ei + £1 und ei + E2 werden dem Differentialverstärker 12 eingespeist, der fortlaufend eine Differenzgröße e3 + £3 zwischen den zusammengesetzten Spannungen ei + £1 und ej + £2 berechnet. Die Differenzgröße e3 + £3 wird dem Tiefpaßfilter 13 aufgeprägt, wobei nur die Differenz £3 zwischen den Gleichspannungen E\ und El durchgelassen und dem Gleichspannungs-Verstärker 14 eingespeist und durch diesen verstärkt wird. Die so verstärkte Differenz £3 und die Ausgangsspannung e,UJ des Mitkopplungs-Verstärker 2 werden der Multiplizierstufe 15 eingegeben, die kontinuierlich die Fehlerspannung e* entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6 und 6' berechnet.
Die durch den Differential verstärker 12 berechnete Differenzgröße ei + £3 wird dem Wechselspannungs-Verstärker 9 aufgeprägt, wobei nur die Differenz e3 zwischen den Wechselspannungen ei und «2 der Sekundärwicklungen 6 bzw. 6' verstärkt wird. Die durch den Verstärker S verstärkte Differenz ei, und die durch die Multiplizierstufe 15 berechnete Fehlerspannung e4 entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen 6 und 6' werden der Subtra-
hierstufe 16 eingegeben, die kontinuierlich die Differenzgröße es» zwischen.der Differenz ey und der Fehlerspannung e* berechnet. Die von der Subtrahierstufe 16 berechnete Differenzgröße es» wird zum Mitkopplungs-
ψ Verstärker 2 rückgekoppelt, dessen Ausgangsspannung
rl e,ut, in welcher der Einfluß der Temperaturdifferenz
P zwischen den Sekundärwicklungen 6, 6' beseitigt wor-
S# den ist, somit bestimmt wird, und der Abstand / zwi-
U sehen der Spitze der Sonde 3 und der Oberfläche der
m Stahlschmelze 8 wird somit unter Heranziehung der so
■ bestimmten Ausgangsspannung eaus des Verstärkers 2
kontinuierlich und genau gemessen.
·'.', Obgleich vorstehend die kontinuierliche Abstands-
;■■' messung zwischen der Sonden-Spitze und der Oberflä-
|··| ehe der in der Kokille befindlichen Stahlschmelze be-
Γ schrieben ist, ist die Erfindung offensichtlich auch auf
|) eine entsprechende Abstandsmessung bei einem von ei-
i ner Stahlschmelze verschiedenen, hohe Temperatur be-
H sitzenden, leitenden Meßobjekt anwendbar. jf Mit der Erfindung wird also die eingangs genannte
I Aufgabe voll und ganz gelöst, so daß die Erfindung dies-
I bezüglich einen großen industriellen Nutzeffekt bietet.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
25
30
40
50
55
60

Claims (2)

Patentansprüche:
1. Verfahren zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms, bei dem eine Sonde aus einer Spule, einer koaxial auf dieser in ihrem Mittelbereich angeordneten Primärwicklung und zwei in gleichen Abständen von letzterer koaxial auf den beiden Endabschnitten der Spule angeordneten Sekundärwicklungen praktisch senkrecht bzw. lotrecht zu einem hohe Temperatur besitzenden, leitenden Meßobjekt in einem Abstand davon angeordnet wird, die Primärwicklung mit der Ausgangsspannung (elm) eines Mitkopplungs-Verstärkers erregt wird, in den beiden Sekundärwicklungen je eine is Wechselspannung (et bzw. ei) mittels eines Wechselspannungs-Magnetfelds der erregten Primärwicklung induziert wird, im Meßobjekt mittels des Wechselspannung-Magnetfelds der Primärwicklung ein Wirbelstrom erzeugt wird, durch den Wirbelstrom ein anderes Wechselspannungs-Magnetfeid in einer Richtung entgegengesetzt zu der des Wechselspannungs-Magnetfelds der Primärspannung erzeugt wird, kontinuierlich eine Größe der Differenz e3), hervorgerufen durch das durch den Wirbelstrom erzeugte Wechselspannungs-Magnetfeid, zwischen den Wechselspannungen (ex, ^) der beiden Sekundärwicklungen erfaßt oder abgegriffen wird, die erfaßte Größe der Differenz ^e3), die in Abhängigkeit von der Änderung des Abstands (J) zwischen der Sonden-Spi-ze und dem Meßobjekt variiert, kontinuierlich zum Mitkopplungs- Verstärker rückgekoppelt wird und die Ausgangsspannung (elus) des Mitkopplungs-Verstärkers kontir-;ierlich erfaßt oder abgegriffen wird, um damit kontinuierlich den der Aüsgangsspannung des Mitkopplungs-Vcrstärker entsprechenden Abstand (I) zwischen der Sonden-Spitze und dem Meßobjekt zu messen, dadurch gekennzeichnet, daß über einen Gleichstromoder Gleichspannungs-Widerstand jeder der beiden Sekundärwicklungen je eine gleich große Gleichspannung aufgeprägt wird,
je eine Gleichspannung (Eh E 2) der beiden Sekundärwicklungen kontinuierlich erfaßt oder abgegriffen wird, kontinuierlich eine Größe der Differenz (E3) zwischen den so erfaßten Gleichspannungen (Ei und £"2) berechnet wird,
kontinuierlich eine Fehlerspannung (e4) entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen auf der Grundlage der Größe der Differenz (E3) zwischen den Gleichspannungen (Ei, E2) sowie der Ausgangsspannung (eaus) des Mitkopplungs-Verstärkers berechnet wird,
kontinuierlich eine Größe der Differenz (er) zwisehen der berechneten cehlerspannung (e*) entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen einerseits und der Größe der Differenz (ej) zwischen den Wechselspannungen (e\, S2) der beiden Sekundärwicklungen andererseits be- so rechnet wird und
die berechnet Größe der Differenz (ey) zum Mitkopplungs-Verstärker rückgekoppelt wird, um dessen Ausgangsspannung (ejm). in welcher der Einfluß der Tcniperaiurdifferenz zwischen den beiden Se- ^ kundärwicklungen beseitigt worden isi, kontinuierlich zu bestimmen und damit kontinuierlich und genau den Abstand (/^zwischen der Sonden-Spitze und dem Meßobjekt unier Heranziehung der so bestimmten Ausgangsspannung (elm) des Mitkopplungs-Verstärkers zu messen.
2. Vorrichtung zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels eines Wirbelstroms, umfassend eine Sonde mit einer Spule, einer koaxial auf dieser ihrem Mittelbereich angeordneten Primärwicklung und zwei in gleichen Abständen von letzterer koaxial auf den beiden Endabschnitten der Spule angeordneten Sekundärwicklungen, wobei die Sonde im wesentlichen senkrecht oder lotrecht zu einem eine hohe Temperatur besitzenden, leitenden Meßobjekt in einem Abstand davon angeordnet ist, einen Mitkopplungs-Verstärker zum Erregen der Primärwicklung mittels seiner Ausgangsspannung (e3Us), wobei je eine Wechselspannung (e, bzw. ej in den beiden Sekundärwicklungen mittels eines Wechselspannung-Magnetfelds der erregten Primärwicklung induziert, im Meßobjekt ein Wirbelstrom mittels des Wechselspannung-Magnetfelds der Primärwicklung erzeugt und durch den Wirbeistrom ein weiteres Wechseispannung-Magnetfeld in der demjenigen der Primärwicklung entgegengesetzten Richtung erzeugt werden, eine Wechselstromquelle zum Anlegen einer Wechselspannung vorgeschriebener oder vorbestimmter Frequenz und Amplitude an den Mitkopplungs-Verstärker und eine Einrichtung zum kontinuierlichen Erfassen oder Abgreifen einer Größe der Differenz Ce3), verursacht durch das durch den Wirbeistrom erzeugte Wechselspannung-Magnetfeld, zwischen den Wechselspannungen (ei, e2) der beiden Sekundärwicklungen, wobei die erfaßte Größe der Differenz (ej), die in Abhängigkeit von einer Änderung des Abstands (J) zwischen der Sonden-Spitze und dem Meßobjekt variiert, kontinuierlich zum Mitkopplungs-Verstärker rückgekoppelt wird, um damit den Abstand ß/zwischen der Sonden-Spitze und dem Meßobjekt, entsprechend der Ausgangsspannung (eam) des Mitkoyplungs-Verstärkers, durch kontinuierliche Bestimmung der Ausgangsspannung (eaUs) des Mitkopplungs-Verstärkers kontinuierlich zu messen, gekennzeichnet durch eine Gleichstromquelle (11), um über je einen Gleichstrom- oder Gleichspannungs-Widerstand (10, 10') jeweils gleicher Größe je eine gleich große Gleichspannung den beiden Sekundärwicklungen (6, 6') aufzuprägen, wobei in letzteren durch die Gleichspannung von der Gleichstromquelle (11) je eine Gleichspannung (Ei bzw. E 2) erzeugt wird,
durch einen Differentialverstärker (12) zum kontinuierlichen Berechnen einer Größe der Differenz (ei + Ej) zwischen einer zusammengesetzten Spannung (ei + £1) aus der Wechselspannung (e{) und der Gleichspannung (Ei) der einen Sekundärwicklung (6) einerseits und einer zusammengesetzten Spannung (e2 + E 2) aus der Wechselspannung (ei) und der Gleichspannung (E 2) der anderen Sekundärwicklung (6') andererseits,
durch ein Tiefpaßfilter (13) zum Durchlassen nur einer Größe der Differenz (£3) zwischen den Gleichspannungen (Ei und E2) aus der Größe der Differenz (ej + £3) zwischen den zusammengesetzten Spannungen (e\ + Ei und e2 + £2), durch einen Gleichspannungs-Verstärker (14) zu*m Verstärken der durch das Tiefpaßfilter (13) durchgelassenen Größe der Differenz (£3) zwischen den Gleichspannungen (E i und £2), durch e;ne weitere Einrichtung (15) zum kontinuierlichen Berechnen einer Fehler-
spannung fa) entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen (6, 6') auf der Grundlage der so verstärkten Größe der Differenz (E3') der Größe der Differenz (E 3) zwischen den Gleichspannungen (E 1 und E 2) sowie der ■> Ausgangsspannung (eam)des Mitkopplung«-Verstärkers (2), durch noch eine weitere Einrichtung (9) zum Durchlassen nur der Größe der Differenz (ei) zwischen den 'Vechselspannungen (e\ und ei) der beiden Sekundärwicklungen (6, 6') aus der durch den Differentialverstärker (12) berechneten Größe der Differenz (ei + £3) und
durch eine Subtrahiereinheit (16) zum kontinuierlichen Berechnen einer Größe der Differenz (ei-) zwischen der berechneten Fehlerspannung ^e4) entsprechend der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen (6,6') einerseits und der durch die weitere Einrichtung (9) durchgelassenen Größe der Differenz (ei) zwischen den Wechselspannungen (e\ und ei) der beiden Sekundärwicklungen (6, 6') andererseits, wobei die durch die Subtrahiereinheit (16) berechnete Größe der Differenz (ey) zum Mitkopplungs-Verstärker (2) rückkoppelbar ist, um dessen Ausgangsspannung (eaus). in welcher der Einfluß der Temperaturdifferenz zwischen den beiden Sekundärwicklungen (6,6') beseitigt worden ist, kontinuierlich zu bestimmen und damit den Abstand (I) zwischen der Spitze der Sonde (3) und dem Meßobjekt (8) unter Heranziehung der bestimmten Ausgangsspannungen (e,us) des Mitkopplungs-Verstärkers (2) kontinuierlich und genau zu messen.
DE3408318A 1983-03-09 1984-03-07 Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms Expired DE3408318C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58037259A JPS59166801A (ja) 1983-03-09 1983-03-09 渦電流を利用した差動帰還型距離測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3408318A1 DE3408318A1 (de) 1984-09-20
DE3408318C2 true DE3408318C2 (de) 1986-01-16

Family

ID=12492655

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3408318A Expired DE3408318C2 (de) 1983-03-09 1984-03-07 Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4567435A (de)
JP (1) JPS59166801A (de)
DE (1) DE3408318C2 (de)
FR (1) FR2548776B1 (de)
GB (1) GB2138145B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3840532A1 (de) * 1988-12-01 1990-06-07 Pepperl & Fuchs Verfahren zur induktiven erzeugung eines elektrischen messsignals zur bestimmung des weges und/oder der position im raum und/oder von materialeigenschaften eines pruefkoerpers und nach diesem verfahren aufgebauter naeherungssensor und verwendung desselben als naeherherungsschalter

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6114501A (ja) * 1984-06-30 1986-01-22 Nippon Kokan Kk <Nkk> 渦流式距離計
US4956606A (en) * 1984-10-17 1990-09-11 Mine Safety Appliances Company Non-contact inductive distance measuring system with temperature compensation
US4804912A (en) * 1987-05-14 1989-02-14 Kamyr Ab Apparatus for electromagnetically measuring the distance between two opposing grinding surfaces
EP0295609A3 (de) * 1987-06-15 1991-01-09 Kollmorgen Corporation Gedruckte Schaltungswicklungen für abgeschirmte Induktivitätssensoren, insbesondere Sensore für die Messung der Horizontalen
CH676147A5 (de) * 1988-06-17 1990-12-14 Vibro Meter Ag
US4893079A (en) * 1988-08-29 1990-01-09 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method and apparatus for correcting eddy current signal voltage for temperature effects
FR2638837A1 (fr) * 1988-11-10 1990-05-11 Phytrans Procede de detection de la derive en temperature du signal de reponse d'un capteur inductif et dispositif pour sa mise en oeuvre
US5013987A (en) * 1989-07-18 1991-05-07 Seiko Instruments Inc. Control system for magnetic bearing
JPH0654206B2 (ja) * 1989-09-05 1994-07-20 株式会社ニレコ 渦電流距離測定装置
FR2651876B1 (fr) * 1989-09-13 1991-12-13 Siderurgie Fse Inst Rech Procede pour determiner en continu l'epaisseur du laitier liquide a la surface d'un bain de metal en fusion dans un recipient metallurgique.
US5339885A (en) * 1993-05-07 1994-08-23 Wagstaff Inc. Integrated non-contact molten metal level sensor and controller
US5329416A (en) * 1993-07-06 1994-07-12 Alliedsignal Inc. Active broadband magnetic flux rate feedback sensing arrangement
US5802728A (en) * 1995-08-17 1998-09-08 Watson Industries, Inc. Liquid level and angle detector
US5644221A (en) * 1996-03-19 1997-07-01 International Business Machines Corporation Endpoint detection for chemical mechanical polishing using frequency or amplitude mode
EP1133678B1 (de) 1999-07-16 2007-02-07 POHANG IRON &amp; STEEL CO., LTD. Vorrichtung und apparatur zur messung des pegels von flüssigem metall beim elektromagnetischen stranggiessen
GB0016591D0 (en) * 2000-07-06 2000-08-23 Elcometer Instr Ltd Dual mode coating thickness measuring instrument
US7605595B2 (en) * 2006-09-29 2009-10-20 General Electric Company System for clearance measurement and method of operating the same
GB2470779A (en) * 2009-06-05 2010-12-08 Monitran Ltd Eddy current proximity probe system and method of measuring that mitigates errors due to temperature fluctuations
CN105737934B (zh) * 2016-02-22 2019-02-15 衡阳镭目科技有限责任公司 一种钠液位检测装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR916264A (fr) * 1944-06-20 1946-12-02 Foote Méthode et appareil pour jauger et mesurer
JPS53116863A (en) * 1977-03-23 1978-10-12 Hitachi Ltd Differential detector of non-contact type
JPS5430867A (en) * 1977-08-12 1979-03-07 Kawasaki Steel Corp Temperature compensating method of shape detectors
US4283680A (en) * 1979-02-26 1981-08-11 Goring Kerr Limited Electrical bridge balancing circuit
JPS57192805A (en) * 1981-05-25 1982-11-27 Nippon Kokan Kk <Nkk> Differential feedback type eddy current distance meter

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3840532A1 (de) * 1988-12-01 1990-06-07 Pepperl & Fuchs Verfahren zur induktiven erzeugung eines elektrischen messsignals zur bestimmung des weges und/oder der position im raum und/oder von materialeigenschaften eines pruefkoerpers und nach diesem verfahren aufgebauter naeherungssensor und verwendung desselben als naeherherungsschalter

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59166801A (ja) 1984-09-20
DE3408318A1 (de) 1984-09-20
GB2138145A (en) 1984-10-17
FR2548776A1 (fr) 1985-01-11
GB8405374D0 (en) 1984-04-04
FR2548776B1 (fr) 1989-05-19
GB2138145B (en) 1987-12-31
US4567435A (en) 1986-01-28
JPH0324602B2 (de) 1991-04-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3408318C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Abstandsmessung mittels Wirbelstroms
DE69321670T2 (de) Widerstandsschweissmonitor
DE3404720C2 (de)
CH625447A5 (de)
DE3872369T2 (de) Ausgleichregler fuer spinnduesen.
DE2757297A1 (de) Detektoranordnung zur messung einer bewegung
DE2928899A1 (de) Vorrichtung zum bestimmen der mitte einer schweissnaht
DE19937387C1 (de) Vorrichtung zur Überwachung eines Auftrags eines flüssigen bis pastenförmigen Mediums auf ein Substrat
EP0307442B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur regelung von widerstands- oder lichtbogen-schweissvorgängen
DE4328363C2 (de) Verfahren zur Ermittlung eines Bewertungszeitintervalles sowie Verfahren zur Qualitätsbeurteilung einer Punktschweißverbindung auf Grundlage eines Temperaturverlaufes in dem Bewertungszeitintervall
DE69635353T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur indiktiven messung von physikalischen parametern eines gegenstandes aus metall sowie deren verwendung
DE2645223B2 (de) Verfahren zum Regeln des Schweißlichtbogens
EP1641587B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur gewinnung von informationen zur beurteilung der qualität einer widerstandsschweissverbindung und/oder zur steuerung oder regelung eines widerstandsschweissverfahrens
EP2429751B1 (de) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM ERMITTELN DER SPANNUNG AN DEN ELEKTRODEN EINER PUNKTSCHWEIßZANGE
DE2558904C3 (de) Elektromagnetische Induktionsanzeigevorrichtung
DE3036164C2 (de) Längenmeßeinrichtung
DE60002706T2 (de) Stromsensor
DE1959406B2 (de) Messonde fuer wirbelstroeme
DE4203190C1 (en) Regulation and quality assessing of welding esp. spot welding - has ultrasonic detecting probe attached to welding electrode to record noise emission level at weld location
DE2142351C3 (de) Vorrichtung zur Verwechslungs- und Gefugeprüfung von ferromagnetischen Werkstoffen
DE2731014C3 (de) Einrichtung zur Regelung eines Drehstrom-Lichtbogenofens
EP0470368B1 (de) Verfahren und Schaltung zur induktiven Messung der Leitfähigkeit in Flüssigkeiten
DE3120829C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung der Übereinstimmung oder Nichtübereinstimmung eines unbekannten Werkstoffs mit einem bekannten Werkstoff
DE4226813C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Füllstandes einer Füllflüssigkeit in einem Füllgefäß
DE3409448A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung des abstandes einer magnetischen sonde von einer leitfaehigen reaktionsschiene

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: HENKEL, G., DR.PHIL. FEILER, L., DR.RER.NAT. HAENZ

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: DERZEIT KEIN VERTRETER BESTELLT