DE3335658C2 - - Google Patents
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- DE3335658C2 DE3335658C2 DE3335658A DE3335658A DE3335658C2 DE 3335658 C2 DE3335658 C2 DE 3335658C2 DE 3335658 A DE3335658 A DE 3335658A DE 3335658 A DE3335658 A DE 3335658A DE 3335658 C2 DE3335658 C2 DE 3335658C2
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Abtastvorrichtung
gemäß dem Oberbegriff von Patentanspruch 1.
Eine solche Abtastvorrichtung findet beispielsweise
Anwendung bei der Herstellung von integrierten Schaltun
gen. Dabei müssen ein Halbleiterplättchen und eine Maske,
die die strichförmigen Marken tragen, relativ zueinander
ausgerichtet werden. Die Erfassungseinrichtung liefert
Erfassungssignale, aus deren zeitlicher Aufeinanderfolge
auf den Ausrichtzustand von Halbleiterplättchen und Maske
geschlossen werden kann, so daß diese in gewünschter
Weise relativ zueinander ausgerichtet werden können. Eine
Abtastvorrichtung mit den Merkmalen des Oberbegriffs von
Patentanspruch 1 ist bekannt (US-PS 36 83 195). Bei
dieser bekannten Abtastvorrichtung wird die Abtastfläche
mittels einer Lichtquelle beleuchtet. Die Abtastung
erfolgt in der Weise, daß zwischen der Erfassungsein
richtung und der Abtastfläche ein Band gleichsinnig
bewegt wird, das mit Schlitzen versehen ist. Diese
Schlitze haben entweder die erste Richtung oder die
zweite Richtung der zumindest einen ersten Marke bzw.
einer zweiten Marke. Dies dient dem Zweck, daß zur
Erfassungseinrichtung nur Licht gelangt, das an schlitz
förmigen Zonen der Abtastfläche reflektiert worden ist,
die entweder die erste oder die zweite Richtung haben.
Bei jedem Abtastvorgang wandert die genannte, einem
bestimmtem der Schlitze zugeordnete Zone über alle
Marken, d h. die Marken mit der ersten Richtung und
Marken mit der zweiten Richtung. Erst bei einem weiteren
Abtastvorgang kommt ein anders ausgerichteter Schlitz zur
Anwendung, wobei dann die diesem Schlitz zugeordnete,
anders ausgerichtete Zone wiederum über alle Marken
wandert. Dabei erzeugen lediglich diejenigen Marken, die
in Richtung des gerade zum Einsatz kommenden Schlitzes
verlaufen, an der Erfassungseinrichtung ein
Erfassungssignal. Um sowohl die zumindest eine Marke mit
der ersten Richtung als auch die zumindest eine Marke mit
der zweiten Richtung zu erfassen, sind somit zwei
Abtastvorgänge erforderlich.
Vorteilhaft bei der bekannten Abtastvorrichtung ist, daß
eine große Überdeckung zwischen der jeweiligen strichför
migen Marke und der beleuchteten schlitzförmigen Zone auf
der Abtastfläche besteht, so daß sich ein hohes Signal-
Rausch-Verhältnis ergibt und dadurch wiederum die
Erfassung der Marken mit hoher Genauigkeit und
Zuverlässigkeit erfolgen kann. Nachteilig bei der bekann
ten Abtastvorrichtung ist einerseits, daß die
Lichtausbeute des Beleuchtungslichtes ungünstig ist, und
andererseits, daß die Abtastung verhältnismäßig langsam
erfolgen kann. In Anbetracht dessen, daß beispielsweise
bei dem einleitend genannten Anwendungsfall der
Abtastvorrichtung beispielsweise 10 bis 100 Abtastungen
erforderlich sein können, um ein Halbleiterplättchen
vollständig zu belichten, ist jedoch eine möglichst
schnelle Abtastung wünschenswert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die gattungsge
mäße Abtastvorrichtung dahingehend weiterzubilden, daß
bei hoher Genauigkeit der Erfassung der Marken gleichzei
tig eine hohe Abtastgeschwindigkeit möglich ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die
Abtastvorrichtung gemäß Patentanspruch 1 gelöst, d. h. im
wesentlichen dadurch, daß die Abtastung mittels eines die
Abtastfläche überstreichenden Lichtstrahls erfolgt und
daß eine Strahlformeinrichtung vorgesehen ist, die dem
abtastenden Lichtstrahl einen schlitzförmigen Querschnitt
gibt, dessen Richtung auf der Abtastfläche während eines
einzigen Abtastvorganges geändert wird, und zwar jeweils
so, daß sie mit der Richtung der beleuchteten Marke über
einstimmt. Vorgesehen ist somit eine bestimmte
Strahlquerschnittsform und darüber hinaus eine Drehung
des Lichtstrahls um seine eigene Strahlachse.
Da bei der Erfindung lediglich ein abtastender
Lichtstrahl auf die Abtastfläche gerichtet wird, ist die
Beleuchtungslichtausbeute hoch. Wegen der geometrisch
ähnlichen Form und gleichen Ausrichtung von jeweiliger
Marke und Lichtstrahl-Querschnitt wird eine hohe
Überdeckung mit der Marke und somit ein hohes Signal-
Rausch-Verhältnis erreicht. Eine hohe Abtastgeschwin
digkeit wird dadurch erreicht, daß die Abtastung durch
Strahlablenkung (und nicht mittels eines mechanisch
bewegten, geschlitzten Bandes) erfolgt und insbesondere
dadurch, daß während eines einzigen Abtastvorganges die
Marken mit den beiden verschiedenen Richtungen erfaßt
werden.
Durch die US-PS 41 67 677 ist eine Abtastvorrichtung
bekannt, bei der mit strichförmigen Marken keine gleich
ausgerichteten schlitzförmigen Zonen zur Deckung gebracht
werden, sondern diese Marken mit einem aufgestrahlten
Lichtpunkt zur Deckung gebracht werden. An sich bekannt
durch diese Vorveröffentlichung ist eine Ablenkeinrich
tung, die einen von einer Lichtquelle ausgehenden
Lichtstrahl über die Abtastfläche führt.
Eine solche Ablenkeinrichtung ist auch durch die US-
PS 41 99 219 bekannt. Ferner bekannt durch diese
Vorveröffentlichung ist auch eine Strahlformeinrichtung,
die dem von einer Lichtquelle ausgehenden Lichtstrahl
einen schlitzförmigen Querschnitt gibt. Nicht bekannt
durch diese Vorveröffentlichung ist es jedoch, den
Beleuchtungslichtstrahl während der Abtastung irgendwie
zu verändern.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den
Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines
Ausführungsbeispiels in Verbindung mit der Zeichnung
näher erläutert. Bei dem Ausführungsbeispiel handelt es
sich um eine Ausrichtungs- und Belichtungsvorrichtung, die
zum Ausrichten einer Maske und eines Halbleiterplättchens
relativ zueinander sowie zum Belichten des Halbleiter
plättchens dient. Die Erfindung ist jedoch nicht auf
diesen Anwendungsfall beschränkt. Vielmehr kann sie
beispielsweise auch angewendet werden bei einer
Prüfvorrichtung für eine Halbleiterschaltung, einem
Bonder oder einer Chip-Schneidevorrichtung.
Es zeigt
Fig. 1 die Erfindung in Form einer Ausrichtungs- und
Belichtungsvorrichtung;
Fig. 2 ein Blockdiagramm von Steuerelementen der
Vorrichtung gemäß Fig. 1;
Fig. 3 Darstellungen zur Erläuterung der Arbeitsweise der
Vorrichtung, wobei Fig. 3a verschiedene Marken und Zonen
auf einer Abtastlinie zeigt, die Fig. 3b, 3c, 3e und 3f
verschiedene während eines Abtastvorgangs in zeitlicher
Aufeinanderfolge erzeugte Impulse zeigen und Fig. 3d
einen Impuls zeigt, der für eine Überprüfung benutzt
wird; und
Fig. 4 eine perspektivische, ausschnittsweise Ansicht
einer Abwandlung der Vorrichtung gemäß Fig. 1.
In Fig. 1 ist eine Abtastvorrichtung dargestellt, die als
Ausrichtungs- und Belichtungsvorrichtung ausgebildet ist,
bei der eine Maske 1 von einem nicht gezeigten
Maskenhalter gehaltert wird. Ein Wafer bzw. Plättchen 2
wird von einem Tisch 3 getragen. Die Maske 1 weist an
zwei unterschiedlichen Stellen strichförmige Marken M1
und M2 sowie M3 und M4 (s. Fig. 3a) auf, und das
Plättchen 2 besitzt ebenfalls an unterschiedlichen
Stellen entsprechende Marken W1 sowie W2. Alle Marken M1
bis M4 sowie W1 und W2 sind entweder körperlich oder als
Bild in einer gemeinsamen Abtastfläche, beispielsweise
der Ebene der Maske 1, angeordnet. Die Ausrichtungs- und
Belichtungsvorrichtung umfaßt eine Lichtquelle 10, eine
Ablenkeinheit 11, die als Lichtstrahl (L) einen
Laserstrahl aussendet, beispielsweise ein akustisch-opti
sches Element, nebeneinander angeordnete zylindrische
Linsen 12 und 13, die zueinander orthogonale Achsen auf
weisen, ein Prisma 14 und einen drehbaren polygonalen
Spiegel 15, der eine Ablenkeinrichtung bildet. Die
Ablenkeinheit 11, die zylindrischen Linsen 12 und 13 und
das Prisma 14 bilden gemeinsam eine Strahlformeinrichtung
und sind zusammen mit dem polygonalen Spiegel 15 in die
ser Reihenfolge entlang dem Weg des Lichtstrahls L, der
von der Lichtquelle 10 erzeugt wird, angeordnet. Entlang
dem Weg des von dem polygonalen Spiegel 15 reflektierten
Lichtstrahls L sind Zwischenlinsen 16 und 17 und ein
Prisma 18 angeordnet, das den Lichtstrahl in Abhängigkeit
vom Drehwinkel des Spiegels 15 in zwei zueinander entge
gengesetzte Richtungen ablenkt. An jeder Seite des
Prismas 18 sind mehrere optische Elemente angeordnet, die
gemeinsam eine Erfassungseinrichtung bilden. Diese opti
schen Elemente umfassen Halbspiegel 19a und 19b zum
Ablenken des Lichtstrahls L und zum Leiten des von der
Maske 1 und/oder dem Plättchen 2 reflektierten Lichtes zu
einem fotoelektrischen Umformer 27a und 27b,
Zwischenlinsen 20a und 20b, Blenden 21a und 21b und
Objektive 22a und 22b. Auf dem optischen Weg des von der
Maske 1 und/oder dem Plättchen 2 reflektierten Lichtes
sind nach den Halbspiegeln 19a und 19b Spiegel 23a und
23b, Abbildungslinsen 24a und 24b, einen Teil des Lichtes
ausblendende Platten 25a und 25b für Filterzwecke, die
einen mittleren lichtausblendenden Abschnitt aufweisen,
Sammellinsen 26a und 26b und die fotoelektrischen
Umformer 27a und 27b vorgesehen, die alle symmetrisch
angeordnet sind, so daß die Erfassungseinrichtung auf
symmetrische Weise aus zwei fotoelektrischen optischen
Erfassungssystemen besteht.
Nachfolgend wird die Strahlformeinrichtung erläutert, die
zwischen der Lichtquelle 10 und dem polygonalen Spiegel
15 angeordnet ist. Der Lichtstrahl L wird wahlweise mit
tels der Ablenkeinheit 11 auf eine von zwei optischen
Bahnen abgelenkt, so daß er auf eine der zylindrischen
Linsen 12 und 13 trifft, von denen jede nur in einer
Richtung als Sammellinse wirkt. Die Achse einer der
zylindrischen Linsen 12 und 13 verläuft senkrecht zu der
der anderen. Der durch eine der zylindrischen Linsen
gedrungene Lichtstrahl L besitzt einen schlitzförmigen
Querschnitt, da er nur in einer Richtung gebündelt worden
ist. Der Licht- bzw. Laserstrahl mit schlitzförmigem
Querschnitt wird durch ein Prisma 14 gebrochen, so daß er
an der Stelle B auf den polygonalen Spiegel 15 trifft,
wie in Fig. 1 gezeigt. Dies geschieht sowohl mit dem die
zylindrische Linse 12 durchdringenden Laserstrahl als
auch mit dem die zylindrische Linse 13 durchdringenden
Laserstrahl. Die Ablenkeinheit 11 wird über einen Antrieb
28 betätigt, der durch eine Steuerung 29 gesteuert wird,
die gemeinsam eine Steuereinrichtung für die Strahlform
einrichtung bilden.
Fig. 2 zeigt ein Blockdiagramm von Einrichtungen zum
Steuern der Richtung der Zonen auf der Abtastfläche, die
von dem Lichtstrahl beleuchtet werden, in Abhängigkeit
von Ausgangssignalen der fotoelektrischen Umformer 27a
und 27b. Der Ausgang der fotoelektrischen Umformer 27a
und 27b wird über eine Wellenverarbeitungsschaltung 31
und eine Zählschaltung 32 der vorstehend genannten
Steuerung 29 zugeführt. Ferner ist an die Steuerung 29
der Ausgang einer Zeitgeberschaltung 33 angeschlossen.
Die Steuerung 29 erzeugt ein Ausgangssignal für die
Ablenkeinheit 11 über den vorstehend beschriebenen
Antrieb. Die von der Wellenverarbeitungsschaltung 31
erzeugten Impulssignale werden einer Verarbeitungs
schaltung 34 zugeführt, in der der Grad der Ausrichtung
unterschieden wird. In Abhängigkeit von den Ausgangs
signalen der Verarbeitungsschaltung 34 bewegt und/oder
dreht ein Antriebsmechanismus M (Fig. 1) den Tisch 3 um
die Größe der Fehlausrichtung, die von der Verarbeitungs
schaltung 34 bestimmt wurde, um die Maske 1 und das
Plättchen 2 in einen zueinander ausgerichteten Zustand zu
bringen.
Der von der Lichtquelle 10 erzeugte Laserstrahl L durch
läuft beispielsweise die obere der von der Ablenkeinheit
11 festgelegten optischen Bahnen, wobei er auf die erste
zylindrische Linse 12 trifft und in einen schlitzförmigen
Lichtstrahl umgewandelt wird. Dieser Lichtstrahl wird
dann durch das Prisma 14 gebrochen, so daß er auf den
Ausgangspunkt B der Ablenkung auf den polygonalen Spiegel
15 trifft, durch welchen der Lichtstrahl in reflektieren
der Weise abgelenkt wird. Der vom polygonalen Spiegel 15
abgelenkte Laserstrahl L durchläuft die Zwischenlinsen 16
und 17 und erreicht die geneigte Fläche 18a des Prismas
18, über das der Lichtstrahl in Fig. 1 nach links und
dann von dem Halbspiegel 19a unter einem rechten Winkel
nach unten reflektiert wird. Der Lichtstrahl L passiert
dann die Zwischenlinse 20a, die Blende 21a und das
Objektiv 22a, so daß er auf der Maske 1 und dem Plättchen
2 abgebildet wird. Die Orientierung der ersten zylindri
schen Linse 12 ist so festgelegt, daß sich die beleuch
tete Zone, die von dem auftreffenden Lichtstrahl L auf
der Maske 1 oder dem Plättchen 2 gebildet wird, unter
einem Winkel von 45° zur Abtastlinie A erstreckt, wie mit
l in Fig. 3a bezeichnet, d. h. im wesentlichen parallel zu
den Marken M1, W1 und M2. Somit beleuchtet der
Lichtstrahl L die ersten Marken als Lichtstrahl mit
schlitzförmigem Querschnitt, der im wesentlichen parallel
zu diesen Marken, d. h. mit gleicher Richtung wie diese,
verläuft.
Wenn die schlitzförmige, beleuchtete Zone l entlang der
Abtastlinie A bewegt wird, wird der Lichtstrahl von den
Marken M1, W1 und M2 diffus reflektiert. Ein Teil des
Streulichtes wird durch das Objektiv 22a, die Blende 21a,
die Zwischenlinse 20a, den Halbspiegel 19a, die
Abbildungslinse 24a, die Teilabschirmung 25a und die
Sammellinse 26a zurückgeführt und erreicht schließlich
den fotoelektrischen Umformer 27a, der Ausgangssignale
S1, S2 und S3 erzeugt, wie in Fig. 3b gezeigt. Die von
dem Lichtstrahl erzeugte, beleuchtete schlitzförmige Zone
l überlagert sich mit jeder Marke M1, W1 und M2 über im
wesentlichen dessen gesamte Länge, so daß die
Empfindlichkeit der Markenerfassung viel größer ist als
bei einer Abtastung mit punktförmiger, beleuchteter Zone.
Auf diese Weise ist eine hohe Genauigkeit der
Markenerfassung erreicht. Der von der durch die Maske 1
und dem Plättchen 2 gebildeten Abtastfläche nicht diffus
reflektierte Strahl wird auf dem Mittelpunkt der
lichtausblendenden Platte 25a abgebildet, so daß dieser
Strahl den fotoelektrischen Umformer 27a nicht erreicht.
Die Signale S1, S2 und S3 werden der Wellenverar
beitungsschaltung 31 zugeführt und in Rechteckimpulse P1,
P2 und P3 mit gleicher Pulsbreite wie die der Signale S1,
S2 und S3, die an einer vorgegebenen Schwelle abge
schnitten sind, umgewandelt, wie in Fig. 3c gezeigt. Die
Impulse P1, P2 und P3 werden der Zählschaltung 32 und der
Verarbeitungsschaltung 34 zugeführt. Wenn eine vorgege
bene Anzahl von Impulsen gezählt worden ist (bei der
dargestellten Ausführungsform 3), wird ein Signal der
Steuerung 29 zugeführt. Ein anderes Signal T wird der
Steuerung 29 von der Zeitgeberschaltung 33 zugeführt.
Hierbei handelt es sich um ein Signal, das zu einer
vorgegebenen Zeit und mit einer vorgegebenen Zeitdauer H
abgegeben wird, wie in Fig. 3d gezeigt. Wenn der dritte
Impuls P3 innerhalb der Zeitdauer des Signals H liegt,
erzeugt die Steuerung 29 ein Signal zur Betätigung des
Antriebs 28, um über die Ablenkeinheit 11 den Lichtstrahl
L auf die andere optische Bahn umzuleiten. Dadurch trifft
der Lichtstrahl L auf die andere zylindrische Linse, d. h.
die zweite Linse 13. Wie vorstehend erwähnt, ist die
Achse der zweiten zylindrischen Linse 13 unter einem
vorgegebenen Winkel zu der Achse der ersten zylindrischen
Linse 12 geneigt. Folglich ändert sich die Richtung des
schlitzförmigen Querschnitts des Lichtstrahls L und somit
der beleuchteten Zone auf der Maske und dem Plättchen,
und es wird die in Fig. 3a mit l′ bezeichnete Zone
beleuchtet. Mit anderen Worten, die beleuchtete Zone
verläuft unter einem Winkel von 135° zur Abtastachse und
im wesentlichen in Richtung der zweiten Marken M3, W2 und
M4.
Zur gleichen Zeit wie diese Änderung ändert sich die
Richtung des auf den Spiegel 15 treffenden Lichtstrahls,
womit eine Änderung der Richtung des von dem Prisma 14
reflektierten Lichtstrahls L verbunden ist. Folglich
springt die beleuchtete Zone zum Zeitpunkt der Änderung
der optischen Bahn auf der Abtastlinie. Es wird bevor
zugt, die Entfernung zwischen den ersten und zweiten
Marken entsprechend diesem Intervall zu bestimmen oder
das Prisma 14 derart auszubilden, daß es die schlitzför
mige beleuchtete Zone nach hinten zurückversetzt.
Die Marken M3, W2 und M4 werden von der schlitzförmigen
beleuchteten Zone l′ abgetastet, deren Richtung in glei
cher Weise wie die des Lichtstrahl-Querschnitts geändert
ist. In ähnlicher Weise wie bei dem vorstehend beschrie
benen Vorgang erzeugt der fotoelektrische Umformer 27a
die Ausgangssignale S4, S5 und S6, wie in Fig. 3b
gezeigt, und die Wellenverarbeitungsschaltung 31 erzeugt
Impulse P4, P5 und P6, wie in Fig. 3c dargestellt.
Hiermit ist die Erfassung der zweiten Marken beendet.
Falls gewünscht, können die Impulse zusammen mit den vor
her erhaltenen Impulsen P1, P2 und P3 verarbeitet werden,
um den Ausrichtungszustand zu bestimmen.
Wenn demgegenüber der dritte Impuls P3 nicht während der
Zeitdauer H erzeugt wird, d. h. die Marke M2 nicht erfaßt
wird, betätigt die Steuerung den Antrieb 28 zur Änderung
der optischen Bahn des Lichtstrahls L nach dem Zeitpunkt,
bis zu dem der dritte Impuls erzeugt worden sein sollte.
Dadurch wird die Richtung der schlitzförmigen beleuchte
ten Zone selbst dann verändert, wenn der dritte Impuls
nicht erzeugt wird. In diesem Fall weisen die von der
Wellenverarbeitungsschaltung 31 zur Verarbeitungsschal
tung 34 übertragenen Impulse die in Fig. 3e gezeigte Form
auf, da der dritte Impuls fehlt.
Infolge des Vorhandenseins von Staub oder von anderen
Fremdpartikeln ist es möglich, daß eine größere Anzahl
von Impulsen als vorgegeben erzeugt wird. Ein Beispiel
hierfür ist in Fig. 3f dargestellt. Der Impuls P7 soll
dabei in anderer Weise erzeugt worden sein als von den
Marken M1 bis M4 und W1, W2. In einem solchen Fall ist es
nicht günstig, die optische Bahn zu wechseln, sobald der
dritte Impuls P7 erfaßt worden ist. Um diesen Fall zu
verhindern, ist die Zeitdauer H vorgesehen, so daß der
Wechsel der optischen Bahn nur dann stattfindet, wenn der
dritte Impuls während der Zeitdauer H erfaßt wird oder
nachdem diese Zeitdauer abgelaufen ist.
Wie aus dem vorhergehenden hervorgeht, wird die Richtung
des schlitzförmigen Lichtstrahl-Querschnitts und somit
der schlitzförmigen beleuchteten Zone während eines
Abtastvorgangs der Marken M1, M2, M3 und M4 und W1 und W2
verändert. Die Änderung findet statt, während der
Lichtstrahl L in einer Richtung abgelenkt wird. Dadurch
wird Zeit gespart, da es nicht erforderlich ist, die
Abtastung in der Weise durchzuführen, daß der Lichtstrahl
zuerst über die gesamte Abtastlinie abgelenkt wird, um
die Abtastfläche mit einer ersten schlitzförmigen,
beleuchteten Zone abzutasten, und der Lichtstrahl danach
verändert wird, um eine zweite schlitzförmige beleuchtete
Zone vorzusehen, woraufhin der Lichtstrahl wiederum einen
Abtastungsvorgang über die gesamte Länge der Abtastlinie
ausführt, um die Abtastfläche mit der zweiten schlitzför
mig beleuchteten Zone abzutasten.
Der Lichtstrahl wird weiterhin von dem polygonalen
Spiegel 15 abgelenkt. Der Lichtstrahl L erreicht die
andere geneigte Fläche 18b des Prismas 18. Danach wird
der Lichtstrahl L nach rechts reflektiert, so daß er
durch die Zwischenlinse 20b, die Blende 21b und das
Objektiv 22b verläuft und die Maske 1 und das Plättchen 2
in einem zweiten Bereich erreicht, in dem sich weitere
erste und zweite Marken befinden. Der Abtastvorgang wird
dann in ähnlicher Weise wie vorstehend beschrieben durch
geführt.
Bei einem Projektions-Ausrichtungs- und Belichtungssystem
ist eine große Projektionslinse 40 zwischen der Maske 1
und dem Plättchen 2 vorgesehen, wie in Fig. 4 gezeigt.
Der von der Lichtquelle 10 abgegebene Lichtstrahl L wird
über die Objektive 22a und 22b auf der Maske 1 und über
die Projektionslinse 40 auf dem Plättchen 2 abgebildet.
Da der Hauptstrahl des Lichtstrahls L durch den Mittel
punkt der Projektionslinse 40 dringt, wird der
Abtastvorgang zuerst im zweiten Bereich auf dem Plättchen
2 und danach im ersten Bereich durchgeführt, was im
Gegensatz zu dem vorstehend beschriebenen Fall steht, bei
dem die Maske 1 und das Plättchen 2 in Kontakt stehen.
Anstelle der Ausbildung der Ablenkeinheit 11 als aku
stisch-optisches Element kann auch eine solche als elek
trooptisches Element vorgesehen sein.
Claims (5)
1. Abtastvorrichtung zum Abtasten von zumindest zwei
in einer Abtastfläche angeordneten, strichförmigen
Marken, von denen eine erste in einer ersten Richtung und
eine zweite in einer zweiten Richtung verläuft, mit einer
Lichtquelle zum Beleuchten der Marken und einer Erfas
sungseinrichtung zum Erfassen von der Abtastfläche im
Bereich der Marken reflektierten Lichtes, wobei während
eines Abtastvorgangs die Marken zeitlich nacheinander
abgetastet werden und wobei Licht nur von solchen
schlitzförmigen Zonen der Abtastfläche zur Erfassungsein
richtung gelangt, die entweder die erste oder die zweite
Richtung haben, gekennzeichnet durch eine Ablenkein
richtung (15), die einen von der Lichtquelle (10)
ausgehenden Lichtstrahl (L) derart ablenkt, daß er
während eines Abtastvorgangs die Abtastfläche im Bereich
der ersten Marke (M1, M2, W1) und der zweiten Marke (M3,
M4, W2) überstreicht, eine steuerbare Strahlformein
richtung (11, 12, 13, 14), die dem von der Lichtquelle
(10) ausgehenden Lichtstrahl (L) einen schlitzförmigen
Querschnitt gibt, der auf der Abtastfläche entweder die
erste oder die zweite Richtung hat, und eine
Steuereinrichtung (28, 29), die die Strahlformeinrichtung
(11, 12, 13, 14) derart steuert, daß während eines
Abtastvorgangs der Lichtstrahl-Querschnitt die erste
Marke mit der ersten Richtung und die zweite Marke mit
der zweiten Richtung überstreicht.
2. Abtastvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlformeinrichtung (11, 12, 13, 14)
von der Steuereinrichtung (28, 29) derart gesteuert wird,
daß die Richtung des schlitzförmigen Querschnitts jeweils
geändert wird, wenn mittels der Erfassungseinrichtung
(19a, 19b, 21a, 21b, 22a, 22b, 23a, 23b, 24a, 24b, 25a,
25b, 26a, 26b, 27a, 27b) eine vorgegebene Anzahl von
Erfassungssignalen nach dem Beginn des Abtastvorgangs
gezählt worden ist.
3. Abtastvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Strahlformeinrichtung (11, 12,
13, 14) von der Steuereinrichtung (28, 29) derart gesteu
ert wird, daß die Richtung des schlitzförmigen Quer
schnitts jeweils geändert wird, wenn nach dem Beginn des
Abtastvorgangs eine vorgegebene Zeit verstrichen ist.
4. Abtastvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Ablenkeinrichtung (15)
den Lichtstrahl (L) derart ablenkt, daß kontinuierlich
nacheinander zwei unterschiedliche Bereiche der Abtast
fläche abgetastet werden, und daß während dessen die
Steuereinrichtung (28, 29) die Richtung, in der sich der
schlitzförmige Querschnitt erstreckt, dreimal ändert.
5. Abtastvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlformeinrichtung
(11, 12, 13, 14) eine Ablenkeinheit (11) aufweist, die
als akustisch-optisches Element ausgebildet ist.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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GB (1) | GB2131196B (de) |
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