DE3131232C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterringlaser gemäß dem
Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein derartiger Halbleiterlaser ist bekannt aus LASER +
Elektro-Optik, (1976) Nr. 2, S. 44.
Ein Halbleiterlaser hat im Vergleich zu Gaslasern erhebli
che Vorteile wie insbesondere kleine Abmessungen, geringes
Gewicht, niedrigen Energieverbrauch, hohen Wirkungsgrad
und niedrige Kosten. Daher werden Halbleiterlaser zuneh
mend für optische Nachrichtentechnik, Laserdrucker, Video
platten und dergleichen verwendet.
Es gibt jedoch Anwendungsfälle, bei denen bisher Halblei
terlaser nicht verwendet worden sind, nämlich z. B. als
Ringlaser-Gyroskopvorrichtung, die als Winkeldetektor bei
einer Trägheitsnavigationseinrichtung für Flugzeuge oder
dergleichen verwendet wird. Bei diesen Anwendungen ist es
bisher üblich, Helium-Neon-Gaslaser zu verwenden.
Dies gilt auch für den bekannten Halbleiterlaser, dessen
optisch geschlossener Ringresonator innerhalb des Laser
elements selbst ausgebildet ist. Ein Halbleiterlaser die
ser Art vermag nicht die für den angestrebten Verwendungs
zweck erforderliche hohe Empfindlichkeit zu erreichen.
Dies liegt offenbar auch daran, daß der Wellenleiter
bereich innerhalb der Kristallstruktur des Laserelements
selbst so angeordnet ist, daß zu einer Lichtaus
trittsfläche, durch
die das emittierte Laserlicht den Halbleiterlaser verläßt,
im folgenden kurz Spaltebene genannt, ein solcher Winkel
vorliegt, daß diese Spaltebene als Spiegel dient.
Ausgehend hiervon ist es Aufgabe der Erfindung, einen
Halbleiterlaser so auszubilden, daß er die als Winkel
detektor hoher Empfindlichkeit erforderlichen Eigen
schaften besitzt.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1
gelöst.
Die Erfindung wird durch die Merkmale des Anspruchs 2
weitergebildet.
Aus Appl. Phys. Lett, Vol. 21, 1972, Nr. 6, S. 265 bis 267, ist
ein Festkörperlaser, nämlich ein Nd-YAG-Laser bekannt, der
eine Lichtquelle zum Pumpen erfordert, wodurch diese
Laseranordnung zwangsweise sehr groß, sehr schwer und
kostspielig ist und außerdem erhebliche Leistung ver
braucht. Die Endflächen des Laserstabes dieser Laseran
ordnung sind unter dem Brewsterwinkel gegenüber der Längs
achse geneigt. Demgegenüber ist bei dem erfindungsgemäßen
Halbleiterlaser der streifenförmige Wellenleiterbereich
unter dem Brewsterwinkel gegenüber der Lichtaustritts
fläche bzw. Spaltfläche geneigt.
Die Verwendung von Faserlichtleitern als Teil eines ring
förmigen geschlossenen optischen Pfades, nämlich bei einem
ringförmigen Interferometer, ist aus der DE-OS 28 04 119
an sich bekannt.
Durch die erfindungsgemäße Ausbildung des Halbleiterlasers
wird eine zur Verwendung bei Ringlaser-Gyroskopvorrichtun
gen oder dergleichen geeignete Anordnung geschaffen, die
im Vergleich zu den bisher zu diesem Zweck verwendeten
Ring-Gaslasern kleine Größe, geringes Gewicht, niedrigen
Energieverbrauch, hohen Wirkungsgrad und niedrige Kosten
besitzt.
Die Erfindung nutzt das Prinzip des Brewsterwinkels.
Gemäß diesem Prinzip wird, wie in Fig. 1 gezeigt, bei
Einfall eines Strahls von einem Medium I mit Brechungsindex
n 1 auf ein Medium II mit davon verschiedenem Brechungsin
dex n 2, wenn der Einfallswinkel R i und
der Durchlaßwinkel R t die Bedingung R i + R t = 90°
erfüllen, der Einfallswinkel R i als Brewsterwinkel
bezeichnet, und es gilt tan R i = n 2/n 1.
Bei dieser Bedingung wird die linear polarisierte Welle des Strahls, deren
elektrischer Feldvektor parallel zur Einfallsebene liegt,
völlig reflektionsfrei. Bei der Erfindung ist in An
wendung dieses Prinzips ein Wellenleiter eines Halbleiter
lasers so angeordnet, daß der Neigungswinkel des
Wellenleiterbereichs zur Normale auf eine Spaltebene des Lasers
einen Brewsterwinkel bildet, bezüg
lich des Wellenleiters und eines Mediums, welches
der Spaltebene benachbart ist, so daß eine lineare polari
sierte Welle, deren elektrischer Feldvektor parallel zu
einer p-n-Übergangsebene liegt, an der Spaltebene
nicht reflektiert wird. Außerdem ist
ein ringförmiger optischer Pfad als Ringresonator außerhalb (extern) des Lasers
so angeordnet, daß eine Ringlaserschwingung bewirkt
wird.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend an
hand der Zeichnungen erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Diagramm zur Erläuterung des Prinzips des
Brewsterwinkels;
Fig. 2 eine perspektivische schematische Ansicht zur
Erläuterung des Aufbaus eines Ausführungsbei
spiels für einen Halbleiterlaser;
Fig. 3 eine Teil-Aufsicht
auf den Halbleiterlaser von Fig. 2;
und
Fig. 4 bis 6 Darstellungen zur Erläuterung des Aufbaus von Aus
führungsbeispielen eines Halbleiterring
lasers.
Fig. 2 zeigt ein Beispiel eines Halbleiterlasers.
Bezugszeichen 1 bezeichnet ein n-Ga-As-Substrat, Bezugs
zeichen 2 bezeichnet eine n-Al X₂ -Ga1 - X₂-As-Überzugs
schicht, Bezugszeichen 3 bezeichnet einen
-As-Wellenleiterbereich, Bezugszeichen 4 bezeichnet
eine aktive Al X₁-Ga1 - X₁-Schicht, und Bezugszeichen 5 be
zeichnet eine -As-Überzugsschicht, wobei diese
Schichten 2, 3, 4 und 5 einen streifenförmigen Mesa
abschnitt bilden, der so ausgebildet ist, daß er einen Brewster
winkel R B bezüglich einer Normalen zu jeder Lichtaustrittsfläche oder Spalt
ebene 6 aufweist. Bezugszeichen 7 bezeichnet eine
n-Al X₃-Ga1 - X₃-As-Außenschicht, Bezugszeichen 8 bezeichnet
eine SiO2-Isolierschicht, welche den oberen Bereich der
Außenschicht 7 außer dem streifenförmigen Mesaabschnitt
bedeckt, Bezugszeichen 9 bezeichnet eine Cr-Au-Metallfilm
elektrode, welche in direktem Kontakt mit der Überzugs
schicht 5 des streifenförmigen Mesaabschnitts steht und
die Isolierschicht 8 bedeckt, und Bezugszeichen 10 be
zeichnet eine AuGeNi-Au-Metallfilmelektrode.
Dieses Element wird in einem Verfahren hergestellt, bei
welchem die Überzugsschicht 2, der Wellenleiterbereich 3,
die aktive Schicht 4 und die Überzugsschicht 5 der Reihe
nach auf dem Substrat 1 gezogen werden durch ein her
kömmliches sequentielles Flüssigphasen-Aufwachsverfahren
und dann der streifenförmige Mesaabschnitt der Schichten
2, 3, 4 und 5 durch Mesa-Ätzung gebildet wird. Indem wie
derum ein Flüssigphasen-(Epitaxial-)Aufwachsverfahren
verwendet wird, wird die Außenschicht 7 auf der oberen
Fläche des Substrats 1 und auf den Seitenflächen des Mesa
abschnitts gezogen, und dann wird SiO2
niedergeschlagen, um die Oberseite der Außenschicht 7
mit Ausnahme der Oberseite des streifenförmigen Mesaab
schnitts zu überdecken. Danach wird eine thermische Diffu
sion von Zn durch ein Fenster der SiO2-Schicht ausgeführt.
Schließlich werden die Metallschichten der Elektroden 9 und 10 auf der
Ober- und der Unterseite des Laserelementes durch
eine Verdampfungsniederschlagsbehandlung gebildet (Refe
renz: K. Saito und R. Ito "Buried-Heterostructure AlGaAs
Lasers", IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol. QE-16 (Feb. 1980) Nr. 2,
S. 205-215).
Wenn der Wellenleiterbereich 3 bei
seiner Bildung so eingestellt wird, daß er einen Brewster
winkel bezüglich der Normalen auf die Spaltebene 6
bildet, kann mittels des herkömmlichen Verfahrens ein
Halbleiterlaser hergestellt werden, welcher an
seiner Spaltebene 6 keine Reflexionsfunktion aufweist.
Fig. 3 zeigt von oben eine schematische Ansicht des
Halbleiterlasers von Fig. 2, wobei die p-n-Übergangsebene des
Wellenleiterbereichs 3 zur Zeichenebene parallel ist.
Ein spezielles Beispiel für den Brewsterwinkel R B
wird folgendermaßen beschrieben: Wenn der Brechungsindex
des Wellenleiterbereichs eines AlGaAs-Laserelementes etwa n 1 = 3,5
beträgt und der Brechungsindex des umgebenden Gaskörpers
etwa n 2 = 1,0 beträgt, dann gilt
R B ≅ arc tan (1,0/3,5) ≅ 16°
Fig. 4 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung. Be
zugszeichen 11 bezeichnet den beschriebenen Halblei
terlaser, dessen Spaltebene 6 eine nichtreflek
tierende Ebene geworden ist. Der Halbleiterlaser 11 ist über
seine obere und untere Elektrode und über einen
Widerstand 12 an eine Steuer-Stromquelle 13 ange
schlossen. Das Bezugszeichen 14 bezeichnet eine Linse,
Bezugszeichen 15 bezeichnet einen Spiegel und Bezugszei
chen 15 A bezeichnet einen Strahlteiler, wodurch
ein Ringresonator mit einem ringför
migen geschlossenen optischen Pfad 16 über dieses System optischer
Teile gebildet ist. Ein Strahl 19 im Uhrzeigersinn und ein
Strahl 20 gegen den Uhrzeigersinn werden von dem Strahl
teiler 15 A abgenommen.
Wenn dieses Ausführungsbeispiel auf eine Ringlaser-
Gyroskopvorrichtung angewandt wird, wird diese so aufgebaut,
daß der Strahl 19 im Uhrzeigersinn und der Strahl
20 gegen den Uhrzeigersinn, welche den Strahlteiler 15 A
durchlaufen, unter Verwendung eines Prismas, eines Spie
gels oder dgl. (nicht gezeigt) zusammengeführt werden
können und die Frequenzdifferenz der beiden Strahlen von
einem optischen Detektor (nicht gezeigt) als Schwebungs
signal einer Veränderung des optischen Ausgangssignals
abgenommen wird.
Werden in Fig. 4 mindestens einer von den beiden Spiegeln 15
und der einzelne Strahlteiler 15 A durch ein Beugungs
gitter ersetzt, werden vorteilhaft
die Einzelfrequenz-Wahleigen
schaft und die Polarisationsebenen-Lineareigenschaft ver
bessert.
Fig. 5 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel. Bei diesem
wird der ringförmige geschlossene optische Pfad durch einen
Faserlichtleiter 17 anstelle der Spiegel 15 in Fig. 4 gebildet.
In jedem der Ausführungsbeispiele der Fig. 4 und 5
ist das Medium, welches der Spaltebene 6 benachbart ist,
ein gasförmiger Körper, wie zum Beispiel Luft oder
dgl. Wenn eine ölgetränkte Linse oder dgl. anstelle der
Linse verwendet wird, wird ein Medium wie Öl, Lichtleitkitt
oder dgl. in einen Raum zwischen dem Halbleiter
laser und der Linse gefüllt, und auch in diesem Fall
muß der Neigungswinkel des Wellenleiterbereichs des Halbleiter
lasers so eingestellt werden, daß er den Brewster
winkel entsprechend diesem Medium aufweist.
Fig. 6 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel, bei wel
chem der Halbleiterlaser 11 und
der Faserlichtleiter 17 direkt miteinander verbunden
sind, ohne ein optisches System wie eine Linse oder dgl.
einzufügen. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist der Wellen
leiterbereich 3 des Halbleiterlasers 11 so eingestellt,
daß sein Neigungswinkel bezüglich der Normalen zu der
Spaltebene 6 der Brewsterwinkel R B unter Berücksichtigung des
Laserelementmediums und des Mediums des Kerns 18 des Faser
lichtleiters 17 ist. Der Kern 18 des Faserlichtleiters
17, dessen Endfläche so geschnitten ist, daß sie den ge
nannten Winkel aufweist, und poliert ist, ist direkt mit
dem Wellenleiterbereich 3 verbunden. Auf diese Weise wird die
polarisierte Welle, welche parallel zu der p-n-Übergangs
ebene ist, an der Verbindungsfläche völlig reflexionsfrei.
Wenn der Brechungsindex des Wellenleiterbereichs 3 des Halbleiter
lasers 11 etwa 3,5 beträgt und der Brechungsin
dex des Faserlichtleiters 17 etwa 1,5 beträgt, ergibt
sich in diesem Fall folgender Brewsterwinkel R B :
R B ≅ arc tan 1,5/3,5 ≅ 23,2°
Der Halbleiterlaser dieses Ausführungsbeispiels
kann auf ähnliche Art wie oben hergestellt werden.
Der ringförmige geschlossene optische Pfad, der den Fa
serlichtleiter 17 außerhalb (extern) des Halbleiterlasers 11
umfaßt, bildet einen Ringresonator zum Bewirken
einer Ringlaser-Oszillation und ist so angeordnet, daß
ein im Uhrzeigersinn laufender Strahl 19 und ein gegen
den Uhrzeigersinn laufender Strahl 20 von den beiden Enden
eines gebogenen Abschnitts 21 des Faserlichtleiters 17
abführbar sind.
Wenn eines der Ausführungsbeispiele der Fig. 5 und 6
für eine Ringlaser-Gyroskopvorrichtung verwendet wird,
ist diese ähnlich dem Fall des in Fig. 4 gezeigten Bei
spiels so eingerichtet, daß der Strahl 19 im Uhrzeiger
sinn und der Strahl 20 gegen den Uhrzeigersinn unter Ver
wendung eines Spiegels, eines Prismas oder dgl. (nicht ge
zeigt) zusammengeführt werden können, so daß der Fre
quenzunterschied der beiden Strahlen von einem (nicht
gezeigten) optischen Detektor als Schwebungssignal einer
Veränderung des optischen Ausgangssignals abgenommen wird.
Claims (3)
1. Halbleiterringlaser, mit
- a) einem optisch geschlossenen Ringresonator und
- b) einem Wellenleiterbereich (3),
gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
- c) der Wellenleiterbereich (3) wird durch einen im Halbleiterlaser (11) gebildeten streifenförmigen Mesaabschnitt gebildet,
- d) die Längsrichtung des streifenförmigen Wellenlei terbereichs (3) ist gegenüber der Flächennormalen der Lichtaustrittsflächen (6), durch die das emittierte Laserlicht den Halbleiterlaser (11) verläßt, um den Brewsterwinkel (R B ) geneigt,
- e) der Ringresonator ist ein externer Resonator.
2. Halbleiterringlaser nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß zum Aufbau des externen Resonators ein Faserlicht
leiter (17) verwendet wird.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: KOGYO GIJUTSUIN, VERTRETEN DURCH DEN PRAESIDENTEN |
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D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |